DE1473461C

DE1473461C - Circuit arrangement for non-destructive material testing using eddy currents

Info

Publication number: DE1473461C
Authority: DE
Inventors: Kümo Hitachi Ono (Japan)
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Publication date: 1971-02-11

Description

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Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungs- Ausführungsbeispiel für eine erfindungsgemäßeThe invention relates to a circuit embodiment for an inventive

anordnung für die zerstörungsfreie Materialprüfung Schaltungsanordnung näher beschrieben, das in derarrangement for the non-destructive testing of materials. Circuit arrangement described in more detail in the

mit einem abwechselnd ein hochfrequentes und ein Zeichnung veranschaulicht ist. In dieser Zeichnungwith an alternating high frequency and a drawing is illustrated. In this drawing

niederfrequentes Prüfsignal erzeugenden Prüfsignal- zeigtlow-frequency test signal generating test signal shows

generator, mindestens einer mit den Prüfsignalen 5 F i g. 1 ein Blockschaltbild für eine erfindungs-generator, at least one with the test signals 5 F i g. 1 is a block diagram for an inventive

gespeisten und dadurch in einem Prüfling Wirbel- gemäße Anordnung,fed and thus vortex-like arrangement in a test object,

ströme erzeugenden Erregerspule, einer diese Wirbel- F i g. 2 eine Darstellung der an verschiedenencurrents generating excitation coil, one of these eddy F i g. 2 shows a representation of the various

ströme in Meßspannungen umsetzenden Meßspule Stellen der Schaltung von F i g. 1 auftretendencurrents in the measuring coil converting measuring voltages. 1 occurring

und mindestens einem Meßkanal mit einem In- Signalformen,and at least one measuring channel with an In waveform,

strument zur getrennten Anzeige der von den beiden io F i g. 3 a und 3 b Darstellungen eines beim Be-Instrument for the separate display of the two io F i g. 3 a and 3 b representations of a

Prüfsignalen verursachten Meßspannungen. triebe der Anordnung nach Fig. 1 verwendbarenTest signals caused measurement voltages. drives of the arrangement of FIG. 1 usable

Derartige Anordnungen dienen der zerstörungs- gedämpften niederfrequenten und eines ebensolchenSuch arrangements are used for the damage-damped low-frequency and one similar

freien Untersuchung von elektrisch leitfähigen Ma- hochfrequenten Prüfsignales undFree investigation of electrically conductive Ma- high-frequency test signals and

terialien und geben insbesondere über Inhomogeni- F i g. 4 a und 4 b Darstellungen entsprechendermaterials and give in particular about inhomogeneity. 4 a and 4 b representations corresponding

täten in der Materialstruktur oder sonstige Ände- 15 ungedämpfter niederfrequenter bzw. hochfrequenterwould be done in the material structure or other changes - 15 undamped lower frequency or higher frequency

rungen im elektrischen Verhalten der untersuchten Prüfsignale.ments in the electrical behavior of the test signals examined.

Materialien und deren Lage Aufschluß. Die in F i g. 1 schematisch dargestellte Schaltungs-Beispiele für Anordnungen der oben erwähnten anordnung enthält einen Prüfsignalgenerator mit Art finden sich insbesondere in der USA.-Patent- einem Generator 1 zur Erzeugung eines rechteckigen schrift 2 965 840 und mit gewissen Abwandlungen 20 Synchronisiersignales, das einer ersten Differenzierauch in den USA.-Patentschriften 2 423 891, stufe 2 und einer zweiten Differenzierstufe 3, deren 2 744 233 und 2 992 390 sowie in der deutschen Ausgangsimpuls in seiner Phase gegenüber dem Aus- ί Patentschrift 885 489. Allen diesen bekannten An- gangsimpuls der ersten Differenzstufe umgekehrt ist,-Ordnungen ist der Umstand geineinsam, daß zur zugeführt wird. Ein erster Impulsgenerator 4, der nur Trennung der auf die verschiedenen Prüfsignale 25 auf die positiven Impulse am Ausgang der ersten zurückgehenden Meßspannungen in dem bzw. den Differenzierstufe 2 anspricht und gedämpfte nieder-Meßkanälen Filter vorgesehen sind, die jeweils nur frequente Schwingungszüge liefert, und ein zweiter für Signale einer ganz bestimmten Frequenz bzw. Impulsgenerator 5, der nur auf die positiven Impulse eines eng begrenzten Frequenzbereiches durchlässig am Ausgang der zweiten Differenzierstufe 3 ansind. Damit ist man bei den bekannten Anordnungen 30 spricht und hochfrequente gedämpfte Schwingungsjedoch hinsichtlich der Frequenz der einzusetzenden züge liefert, speisen ein Spulensystem 6.
Prüfsignale von vornherein festgelegt. Dies wirkt sich Das Spulensystem 6 enthält eine erste Erregerinsofern nachteilig aus, als die Frequenz der Prüf- spule 7, die bei einem niederfrequenten Ausgangssignale für deren Eindringtiefe in das zu unter- signal des ersten Impulsgenerators 4 in einem Prüfsuchende Material bestimmend ist und man also bei 35 ling 10 Wirbelströme erzeugt, weiterhin eine zweite fest vorgegebener Prüfsignalfrequenz gleichzeitig Erregerspule 8, die bei einem hochfrequenten Ausauch Begrenzungen hinsichtlich der jeweils erreich- gangssignal des zweiten Impulsgenerators 5 in dem baren Eindringtiefe unterworfen ist. Eine Änderung Prüfling 10 Wirbelströme erzeugt, und schließlich der Eindringtiefe für eine bestimmte Messung ist so eine Meßspule 9 zur Feststellung des von den Wirbelbei den bekannten Anordnungen nur durch einen 40 strömen hervorgerufenen Magnetfeldes.
Umbau in der Weise zu erreichen, daß die ver- Die Schaltungsanordnung enthält weiterhin eine wendeten Filter durch andere ersetzt werden. Außer- an den Generator 1 angeschlossene Verzögerungsdem haftet den bekannten Anordnungen infolge der stufe 11, die Ausgangsimpulse liefert, die in ihrer ( Trennung der einzelnen* Meßspannungen mit Hilfe Phase gegenüber den Impulsen des Generators 1 um von Filtern noch ein weiterer Nachteil insofern an, 45 einen vorgegebenen Wert verzögert sind und zwei als die für die Messungen verwendeten Frequenzen Torschaltungen 12 und 13 betätigen Verstärker 14, nicht beliebig nahe beieinander liegen dürfen, da 15, Gleichrichterstufen 16,17 und Registrier- bzw. andernfalls ihre einwandfreie Trennung mit Hilfe Anzeigeinstrumente 18 zur Aufzeichnung bzw. An-» eines tragbaren Aufwandes an Filtern nicht gewähr- zeige des von den Gleichrichterstufen 16 bzw. 17 leistet werden kann. 5° gelieferten Ausgangssignales bilden die beiden Meß-Ausgehend von diesem bekannten Stande der kanäle. Die Torschaltung 12 wird so gesteuert, daß Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, sie nur den niederfrequenten Anteil des von der eine Schaltungsanordnung anzugeben, mit deren Meßspule 9 gelieferten Ausgangssignales durchläßt, Hilfe sich eine zerstörungsfreie Materialprüfung während die Torschaltung 13 nur den hochfrequenten mittels Wirbelströmen bei zwei verschiedenen 55 Anteil dieses Ausgangssignales durchläßt.
Frequenzen durchführen läßt, ohne daß irgendwelche Als nächstes sei im folgenden an Hand von F i g. 2 Einschränkungen hinsichtlich der Wahl der Meß- auf die Wirkungsweise der vorstehend in ihrem Auffrequenzen hinzunehmen sind. bau erläuterten Anordnung näher eingegangen:Materials and their location information. The in F i g. 1 schematically illustrated circuit examples for arrangements of the above-mentioned arrangement contains a test signal generator with type can be found in particular in the USA the USA patents 2,423,891, stage 2 and a second differentiation stage 3, its 2,744,233 and 2,992,390 as well as in the German output pulse in its phase compared to the original ί patent 885,489 Differential stage is reversed, -Orders is common to the fact that to is supplied. A first pulse generator 4, which only responds to the separation of the different test signals 25 to the positive pulses at the output of the first measuring voltages in the differentiating stage or the differentiating stage 2 and damped low-measuring channels filters are provided, each of which only supplies frequency oscillations, and a the second for signals of a very specific frequency or pulse generator 5, which is only permeable to the positive pulses of a narrowly limited frequency range at the output of the second differentiating stage 3. This is the case with the known arrangements 30 and high-frequency damped vibrations are supplied, however, with regard to the frequency of the trains to be used, feed a coil system 6.
Test signals defined in advance. The coil system 6 contains a first exciter in that it has a disadvantageous effect than the frequency of the test coil 7, which in the case of a low-frequency output signal determines its depth of penetration into the sub-signal of the first pulse generator 4 in a test-seeking material 35 ling 10 generated eddy currents, a second fixed test signal frequency at the same time excitation coil 8, which is subject to a high-frequency Ausauch limitations with regard to the respective output signal of the second pulse generator 5 in the barable penetration depth. A change in the test object 10 generates eddy currents, and finally the penetration depth for a specific measurement is a measuring coil 9 for determining the magnetic field caused by the vortices in the known arrangements only by a 40 current.
Remodeling in such a way that the used filters are replaced by others. In addition to the delay dem connected to the generator 1, the known arrangements have a further disadvantage as a result of the stage 11, which delivers output pulses, which in their (separation of the individual * measuring voltages with the help of phase compared to the pulses of the generator 1 by filters) have another disadvantage in this respect, 45 are delayed a predetermined value and two gates 12 and 13 actuating the frequencies used for the measurements, amplifiers 14, must not be arbitrarily close to each other, since 15, rectifier stages 16, 17 and registration or otherwise their proper separation with the help of display instruments 18 for The recording or application of an affordable amount of filters does not guarantee that the rectifier stages 16 or 17. The output signals supplied form the two measurement starting from this known state of the channels. The gate circuit 12 is controlled in this way that technology, the invention is based on the object, they only the low-frequency Specify the proportion of the output signal supplied by the measuring coil 9 with the aid of a non-destructive material test while the gate circuit 13 only lets through the high-frequency part of this output signal by means of eddy currents at two different 55 parts.
Frequencies can be carried out without any. 2 Restrictions regarding the choice of measurement to the mode of action of the frequencies above are to be accepted. construction explained in more detail:

Diese Aufgabe wird ausgehend von einer An- Der Generator 1 liefert Rechteckimpulse, die inThis task is based on an input The generator 1 supplies square-wave pulses that are in

Ordnung der eingangs erwähnten Art erfindungs- 60 F i g. 2 a veranschaulicht sind. Diese Impulse werdenOrder of the type mentioned at the beginning of the invention. 2a are illustrated. These impulses will be

gemäß in der Weise gelöst, daß der Meßkanal zwei durch die Differenzierstufe 2 differenziert, so daßaccording to solved in such a way that the measuring channel differentiates two by the differentiating stage 2, so that

mit ihren Steuereingängen über eine Verzögerungs- sich die Wellenform von F i g. 2 b ergibt, die demwith their control inputs via a delay the waveform of F i g. 2 b results in the

stufe an den Prüfsignalgenerator angeschlossene Tor- Niederfrequenz-Impulsgenerator 4 zugeführt wird,stage connected to the test signal generator gate low-frequency pulse generator 4 is supplied,

Schaltungen enthält, die abwechselnd jeweils die zu der Impulse gemäß F i g. 2 d liefert. F i g. 3 a zeigtContains circuits that alternate in each case to the pulses according to FIG. 2 d supplies. F i g. 3 a shows

einem der beiden Prüfsignale gehörigen Meßspan- 65 einen dieser Impulse aus F i g. 2 d in vergrößertemmeasuring span 65 belonging to one of the two test signals, one of these pulses from FIG. 2 d in enlarged

nungen durchlassen. Maßstab. Diese Impulse werden der Erregerspule 7let through. Scale. These pulses are sent to the excitation coil 7

Zur weiteren Erläuterung der Merkmale und Vor- zugeführt, die in dem Prüfling 10 entsprechendeFor further explanation of the features and pre-supplied, the corresponding in the test item 10

teile der Erfindung wird im folgenden ein mögliches Wirbelströme erzeugt.parts of the invention, a possible eddy currents are generated below.

Die Differenzierstufe 3 liefert Impulse, die den von der Differenzierstufe 2 erzeugten Impulsen ähnlich sind, jedoch die umgekehrte Phase aufweisen (in F i g. 2 c veranschaulicht). Diese Impulse werden dem Hochfrequenz-Impulsgenerator 5 zugeführt und von diesem in gedämpfte hochfrequente Schwingungszüge (F i g. 2 e) umgeformt, die der zweiten Erregerspule 8 zugeführt werden. F i g. 3 b zeigt einen dieser hochfrequenten Impulse in vergrößertem Maßstab. Wie man aus der Zeichnung sieht, sind die hochfrequenten gedämpften Oszillatorimpulse (F i g. 2 e) zeitlich gegenüber den niederfrequenten Oszillatorimpulsen (F i g. 2 d) verschoben.The differentiating stage 3 supplies pulses which correspond to the pulses generated by the differentiating stage 2 are similar but have the reverse phase (illustrated in Figure 2c). These impulses will be fed to the high-frequency pulse generator 5 and from this in damped high-frequency oscillation trains (F i g. 2 e), which are fed to the second excitation coil 8. F i g. 3 b shows one these high-frequency pulses on an enlarged scale. As you can see from the drawing, are the high-frequency damped oscillator pulses (FIG. 2 e) in terms of time compared to the low-frequency ones Oscillator pulses (Fig. 2 d) shifted.

Die niederfrequenten und die hochfrequenten gedämpften Schwingungszüge werden infolgedessen den jeweils zugehörigen Erregerspulen 7 bzw. 8 abwechselnd zugeführt. Die von diesen Spulen erzeugten Magnetfelder rufen daher abwechselnd niederfrequente und hochfrequente Wirbelströme im »Prüfling 10 hervor. Die Meßspule 9 liegt infolgedessen in einem Magnetfeld, das abwechselnd von niederfrequenten und hochfrequenten Wirbelströmen erzeugt wird (vgl. F i g. 2 f). Sie liefert demgemäß ) eine diesem wechselnden Magnetfeld entsprechende Ausgangsspannung. Die Meßspule 9 kann dabei entweder eine einfache Spule oder eine Differenzspule sein.As a result, the low-frequency and high-frequency damped vibrations become the respectively associated excitation coils 7 and 8 alternately supplied. Those generated by these coils Magnetic fields therefore alternately call low-frequency and high-frequency eddy currents in the »Test item 10 emerges. The measuring coil 9 is as a result in a magnetic field that alternates from low-frequency and high-frequency eddy currents is generated (see FIG. F i g. 2 f). It delivers accordingly ) an output voltage corresponding to this changing magnetic field. The measuring coil 9 can either be a simple coil or a differential coil.

Das von der Meßspule 9 gelieferte Ausgangssignal wird durch die Torschaltungen 12 und 13 in seine niederfrequenten und hochfrequenten Bestandteile zerlegt. Die Torschaltungen 12 und 13 werden durch die in F i g. 2 g und 2 h veranschaulichten Rechteckimpulse gesteuert. Diese Rechteckimpulse sind durch die Verzögerungsstufe 11 gegenüber dem Ausgangssignal des Generators 1 (F i g. 2 a) verzögert. Die Torschaltungen 12 und 13 lassen die von der Meßspule 9 kommenden Signale nur dann durch, wenn sich die der betreffenden Torschaltung zugeführte Ausgangsspannung der Verzögerungsstufe 11 auf ihrem oberen Wert befindet. Fig. 2i und 2j zeigen die jeweiligen Ausgangsspannungen der Torschaltungen 12 und 13, die den Verstärkern 14 und 15 zugeführt werden.The output signal supplied by the measuring coil 9 is passed through the gate circuits 12 and 13 into his low-frequency and high-frequency components are broken down. The gates 12 and 13 are through the in F i g. 2 g and 2 h illustrated square-wave pulses. These square pulses are through the delay stage 11 is delayed with respect to the output signal of the generator 1 (FIG. 2 a). the Gate circuits 12 and 13 let the signals coming from the measuring coil 9 only pass if the output voltage of the delay stage 11 supplied to the gate circuit concerned its upper value. Figures 2i and 2j show the respective output voltages of the gate circuits 12 and 13, the amplifiers 14 and 15 are fed.

Durch die erste Gleichrichterstufe 16 erfolgt eine Dimodulation und Gleichrichtung des Ausgangssignales des Verstärkers 14; Fig. 2 k und 2 m veranschaulichen die demodulierten Impulse bzw. das Ausgangssignal des Gleichrichters 16. Die zweite Gleichrichterstufe 17 bewirkt die Demodulation und Gleichrichtung des Ausgangssignales des Verstärkers 15. F i g. 21 zeigt die demodulierten Impulse und F i g. 2 η das Ausgangssignal der Gleichrichterstufe 17. Die Ausgangssignale der beiden Gleichrichterstufen 16 und 17 werden den Registrier- bzw. Anzeigeinstrumenten 18 und 19 zugeführt. Wenn der Prüfling 10 einen Fehler aufweist, so zeigt sich dies an den Registrierinstrumenten 18 bzw. 19 in einer dem Fehler entsprechenden Spitze.The first rectifier stage 16 dimodulates and rectifies the output signal of amplifier 14; Figures 2k and 2m illustrate the demodulated pulses and the, respectively Output signal of the rectifier 16. The second rectifier stage 17 effects the demodulation and Rectification of the output signal of the amplifier 15. F i g. 21 shows the demodulated pulses and F i g. 2 η the output signal of the rectifier stage 17. The output signals of the two rectifier stages 16 and 17 are fed to the registration or display instruments 18 and 19. If the If the test item 10 has an error, this is shown by the recording instruments 18 and 19 in a tip corresponding to the error.

Die in den F i g. 3 a und 3 b dargestellten niederfrequenten und hochfrequenten gedämpften Schwingungszüge lassen sich ohne Schwierigkeit durch plötzliches Anlegen einer Gleichspannung an einen geeigneten LC-Resonanzkreis erzeugen. In diesem Falle entspricht die Schwingungsfrequenz etwa der Resonanzfrequenz des LC-Kreises. Werden einem Prüfling zwei Signale zugeführt, von denen das eine ein niederfrequentes und das andere ein hochfrequentes Signal ist, so läßt sich mit dem hochfrequenten Signal jeder Fehler im Oberflächenbereich des Prüflings und mit dem niederfrequenten Signal jeder Fehler im Innern des Prüflings feststellen.
Beim Betrieb der erfindungsgemäßen Anordnung,The in the F i g. 3 a and 3 b illustrated low-frequency and high-frequency damped oscillation trains can be generated without difficulty by suddenly applying a DC voltage to a suitable LC resonant circuit. In this case the oscillation frequency corresponds approximately to the resonance frequency of the LC circuit. If two signals are fed to a test piece, one of which is a low-frequency signal and the other a high-frequency signal, the high-frequency signal can be used to determine any defect in the surface area of the test piece and the low-frequency signal can be used to detect any defect inside the test piece.
When operating the arrangement according to the invention,

ίο bei der durch Verwendung hochfrequenter und niederfrequenter gedämpfter Schwingungszüge zwei gesonderte Fehlersignale erhalten werden, zeigt daher eine Spitze im Registrierwert des Registrierinstruments 19 einen Fehler im Oberflächenbereich des Prüflings 10 und eine Spitze im Anzeige wert des Registrierinstruments 18 einen Fehler im Innern des Prüflings 10 an.ίο when using high frequency and low-frequency damped oscillation trains two separate error signals are obtained, therefore shows a peak in the registration value of the registration instrument 19 an error in the surface area of the test object 10 and a peak in the display value of the registration instrument 18 an error inside the Test item 10.

Während bei dem vorstehend erläuterten Ausführungsbeispiel gedämpfte Schwingungszüge vorgesehen sind, können auch ungedämpfte Oszillatorimpulse, wie sie in F i g. 4 a und F i g. 4 b veranschaulicht sind, benutzt werden. Die Verwendung derartiger gedämpfter Schwingungszüge vermindert · den Temperaturanstieg in den Spulen.While damped vibration trains are provided in the exemplary embodiment explained above are, undamped oscillator pulses, as shown in FIG. 4 a and F i g. 4b illustrates are to be used. The use of such damped vibration trains reduces the temperature rise in the coils.

Während ferner bei dem Ausführungsbeispiel gemäß F i g. 1 die Meßspule 9 über dem Prüfling 10 angeordnet ist, sind auch Lösungen möglich, bei denen der Prüfling in die Meßspule 9 eingeführt wird. Ist der Prüfling ein Hohlkörper, so kann die Meßspule 9 auch in dem Prüfling angeordnet werden. An Stelle der beim Ausführungsbeispiel gemäß F i g. 1 vorgesehenen zwei Spulen 7 und 8 kann auch eine einzige Spule zur Wirbelstromerzeugung Verwendung finden, solange die dieser Spule zugeführten hochfrequenten und niederfrequenten Oszillatorimpulse zeitlich gegeneinander verschoben sind.Furthermore, while in the embodiment according to FIG. 1, the measuring coil 9 is arranged above the test object 10 is, solutions are also possible in which the test item is inserted into the measuring coil 9. is If the test piece is a hollow body, the measuring coil 9 can also be arranged in the test piece. Instead of in the embodiment according to FIG. 1 provided two coils 7 and 8 can also be a single one Coil to generate eddy currents are used as long as the high frequency supplied to this coil and low-frequency oscillator pulses are shifted from one another in time.

Ein Vorteil der erfindungsgemäßen Anordnung besteht auch darin, daß alle Störeinflüsse, die im Raum zwischen dem Prüfling und den Prüfspulen vorhanden sind, durch einen Vergleich zwischen dem hochfrequenten und dem niederfrequenten Bestandteil des Ausgangssignales der Meßspule erfaßt werden können.An advantage of the arrangement according to the invention is that all interference that occurs in the Space between the device under test and the test coils are present by comparing between the Detected high-frequency and the low-frequency component of the output signal of the measuring coil can be.

Claims

Claim:

Circuit arrangement for non-destructive material testing with an alternating one high-frequency and a low-frequency test, signal generating test signal generator, at least one fed with the test signals and thereby generating eddy currents in a test object Excitation coil, a measuring coil which converts these eddy currents into measuring voltages and at least one measuring channel with an instrument for the separate display of the measurement voltages caused by the two test signals, characterized in that the measuring channel two with its control inputs via a delay stage (11) to the test signal generator (1 to 5) contains connected gate circuits (12 and 13) which alternately each belong to one of the two test signals Let measurement voltages through.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings