DE1447271A1

DE1447271A1 - Light measuring arrangement, especially for cameras

Info

Publication number: DE1447271A1
Application number: DE19641447271
Authority: DE
Inventors: Hirokazu Tanaka; Kenichi Tashiro
Original assignee: Stanley Electric Co Ltd
Current assignee: Stanley Electric Co Ltd
Priority date: 1963-06-20
Filing date: 1964-06-16
Publication date: 1969-03-27

Description

Lichtmessanordnung, insbesondere ftir Kaisras Die Erfindung betrifft eine Lichtmessanordnung, insbesondere fär Kameras, zur Ermittlung der einfallenden Strahlungsleistung in oinei grossen Messbereich mit eine Anzeigeinstrument, zwei in dessen Stromkreis liegenden, hintereinander geschalteten Serienwidcrständen, deren einer ein durch einen festen Parallewiderstand überbrückter Fotowiderstand ist, und einer Stromquelle au Betrieb des Anzeigeinstruments. Light measuring arrangement, in particular for Kaisras. The invention relates to a light measuring arrangement, in particular for cameras, to determine the incident Radiated power in a large measuring range with one display instrument, two series resistors connected in series in its circuit, one of which is a photoresistor bridged by a fixed parallel resistor is, and a power source in operation of the display instrument.

Schaltet nan in Serie zu einer Stroiquelle einen einzigen Fotowiderstand, so ist der von dem Anzeigeinetrument angezeigte Strom angenähert proportional der einfallenden Strahlungsleistung. wird die Anordnung zusammen mit einer Kamera verwendet, so ist zu berücksichtigen, dass die durch das Objektiv gelangende Strahlungsleistung proportional dos Quadrat von dessen öffnungsverhältnis ist. Die Veratellblonden fotographiascher Objektive sind bekanntlich mit einer solchen Skalenteilung versehen, dass bei Verstellung der Blende um einen Skalenteil (entsprechend einer Änderung des Öffnungsverhältnisses beispielsweise von 1 : 4 auf 1 : 5,6) die Belichtungezeit zu verdoppeln bzw. ZU halbieren ist. Diese Bedingung wird bei den bekannten Verstellblenden dadurch realisiert, dass die Skalenteilung folgender Bedingung genügt: Ö2 = (1/2)n n = wobei Ö das Öffnungeverhältris bedeutet.Connect a single photo resistor in series to a strobe source, so the current indicated by the display instrument is approximately proportional to the incident radiation power. if the arrangement is used together with a camera, so it has to be taken into account that the radiant power passing through the lens proportional to the square of its aspect ratio. The veratell blondes As is known, photographic lenses are provided with such a scale division, that when adjusting the Aperture by one division (corresponding to a change in the aperture ratio, for example from 1: 4 to 1: 5.6) the The exposure time has to be doubled or halved. This condition applies to the known adjustable diaphragms realized that the scale division of the following condition suffices: Ö2 = (1/2) n n = where Ö means the opening ratio.

Entsprechend den Werten von n ist also die Skalenteilung der Verstellblende so ausgelegt, dass das reziproke Öffnungsverhältnis (je nach Objaktiv) den Werten 2t 2,8; 4; 5, 6 8; 11; 16t 22 entspricht.The scale division of the adjustable diaphragm is corresponding to the values of n designed so that the reciprocal aperture ratio (depending on the objective) corresponds to the values 2t 2.8; 4; 5, 6 8; 11; 16t corresponds to 22.

Wird die Verstellblende als Funktion von n verstellt, so wird jedoch die Anzeige der Lichtmessanordnung nichtlinear. Öffnet nan nämlich die Verstellblende beispielsweise ton dos Wert n r 8 auf n = 7, so ergibt sich lediglich eine geringe Stromänderung in der Anordnung; öffnet man die Verstellblende dagegen von dem Wert n r 3 auf den Wert n r 2, so ergibt sich eine grosse Stromänderung.However, if the adjustable diaphragm is adjusted as a function of n the display of the light measuring arrangement is non-linear. Open the shutter for example ton dos value n r 8 to n = 7, the result is only a small one Current change in the arrangement; on the other hand, if you open the control panel from the value n r 3 to the value n r 2, there is a large change in current.

Erwünscht ist Jedoch, dass der Meßstrom der Anordnung eine lineare Funktion von n ist. Dz die einfallende $Strahlungsleistung bzw. du Quadrat des Öffnungsverhältnisses, wie oben abgeleitet wurde, eine Exponentialfunktion von n darstellt, wäre demgemäss eine logarithmische Anzeige der einfallenden Strahlungsleistung erwünscht, wobei der Anseigsstrom der Lichtmessanordnung proportional log 62 und somit proportional n wird. Zu diesem Zweck wird bei den bekannten Lichtmessanordnungen, von welchen die vorliegenae Erfindung ausgeht, eine Serienschaltung bestehend aus einen Fotowiderstand und einen Festwiderstand verwendet, wobei der Potowiderstand durch einen weiteren parallelen Festwiderstand geshuntet ist. Durch eine derartige Anordnung Lässt sich zwar keine exaktlogarithmische Charakteristik du Moßstromes erreichen, Jedoch ist bei günetiger Wahl der Werte der Festwiderstände und desFotowiderstandes eine gute Annäherung an eine derartigo Charakteristik erzielar.However, it is desirable for the measuring current of the arrangement to be linear Is function of n. Dz is the incident radiant power or du square of the aperture ratio, as was deduced above, represents an exponential function of n, would be accordingly a logarithmic display of the incident radiation power is desirable, with the display current of the light measuring arrangement is proportional to log 62 and thus becomes proportional to n. For this purpose, in the known light measuring arrangements, from which the present invention is based, a series circuit consisting of a photo resistor and a fixed resistor are used, the poto resistor is shunted by another parallel fixed resistor. By such a Arrangement It is true that no exactly logarithmic characteristic du Moßstromes can be found Achieve, however, with a favorable choice of the values of the fixed resistors and the photo resistor a good approximation of such a characteristic.

Die bckannte Lichtmessanordnung weist den Nachteil auf. dass keine Gegenlichtkompensation möglich ist. Bei Gegenlichtaufnahmen trifft nicht nur das von Objekt reflektierte Licht, sondern auoh das Gegenlicht selbst auf die Lichtmeseanordnung. Hierbei wird eine su hohe Lichtstärko vorgetäuscht, und die erzielten Bilder werden demmach unterbelichtet.The known light measuring arrangement has the disadvantage. that no Backlight compensation is possible. This is not the only thing that applies to backlit photography light reflected by the object, but also the backlight itself on the light measuring arrangement. This simulates a light intensity that is too high, and the images obtained are demmach underexposed.

Es sind bersite Lichtaessanordnungen mit zwei Fotozellen bekannt, welche unter Vorschaltung Je eines geeigneten Serienfestwiderstandes mit entgegengesstzter Polung an ein Anzeigeinstrument angeschlossen sind. Die eine Fotozelle weist hierbei eine große Fläche, jedoch nur eine kleinen Öffnungswinkel auf, und spricht daher ii wesentlichen lediglich auf das reflektierte Licht des Objektes an. Die andere Fotozelle, welche als Korrckturelement wirkt, weist eine keine Fläche und einen grossen Öffnungswinkel auf, um das Gegenlicht zu erfassen. Bei geringen Strahlungsleistungen trägt die auf das Gegenlicht ansprechende Fotozelle praktisch nichts oum Messergenis bei. Bei grossen Strahlungsleistungen und Vorliegen von Gegenlicht hingegen wird der Anzeigestrom der Lichtmessanordnung gegenüber einer logerithmischen Ans@ige redusiex@ so dass sich in@owait eine erwünscht nichtlogarithmische Charakteristik der Lichtmessanordnung ergibt. Die Verwendung von Fotczellen in einer Lichtmessanordnung bietet den Vorteil, dus eine verhältnismässig hohe Verstärkung der einfallenden Strahlungsleistung möglich ist. Andererseits int die absolute ausgangsleistung der Fotozellen verhältnismässig gewing, so dass zur Auswertung der Fotoströme empfindliche Messinetrumente Verwendatwerdenmüssen. Dies ist bei der bekannten, mit Fotozellen srb@itenden Lichtmessanordnung als nachteilig anzusehen. There are also known light arrangements with two photocells, which with an upstream connection of a suitable series fixed resistor with opposite Polarity are connected to a display instrument. The one photocell shows here a large area, but only a small opening angle, and therefore speaks ii essentially only depends on the reflected light from the object. The other Photocell, which acts as a correction element, has one no area and one large opening angle to capture the backlight. With low radiation power wear them on that Backlit photocell practically nothing oum Messergenis. With high radiation power and the presence of backlight on the other hand, the display current of the light measuring arrangement is logerithmic compared to a Ans @ ige redusiex @ so that @ owait has a desired non-logarithmic characteristic the light measuring arrangement results. The use of photocells in a light measuring arrangement offers the advantage of a relatively high amplification of the incident Radiation power is possible. On the other hand int the absolute output power of the Photocells relatively gewing, so that sensitive to the evaluation of the photocurrents Measuring instruments must be used. This is the case with the well-known one, with photocells srb @ itenden light measuring arrangement to be regarded as disadvantageous.

D@mgegenüber bietet die Verwendung von Fotowiderständen den Tor teil, dass durch Zusammenschaltung itt einer Stromquelle verhwltnismässig hohe Meßströme gewonnen werden können, welche zu. Betrieb eines unempfindlichen Anzeigeinstrumentes ausreichen.On the other hand, the use of photo resistors offers the door part, that by interconnection with a current source, relatively high measuring currents can be won which to. Operation of an insensitive display instrument sufficient.

Zweck der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung einer Lichtmessanordnung unter Verwendung von Fotowiderständen, deren ausgangswext bei niedrigen Strahlungsleistungen möglichst genau proportional den Logarithmus der Strahlungsleistung (Helligkeit) ist ond bei hohen Strahlungsleistungen zwecks Irsielung einer Gegenlichtkompensation etwas geringere Messwerte liefert, als sie einer genauen logarthmischen Anzeige entsprechen. Erreicht wird dies im wesentlichen Sadurch, dass der nicht durch den Parallelwiderstand überbrückte Serienwiderstand zumindest teilweise als Fotowiderstand ausgebildet ist und dass in an sich bekannter Weise die beiden Fotowiderstände zur Gegenlictkompensation unterschiedliche Öffnungswinkel für das oinfallende Licht aufweisen.The purpose of the present invention is to create a light measuring arrangement using photoresistors, whose output is low at low radiation levels as precisely as possible proportional to the logarithm of the radiated power (brightness) is ond at high radiant power for the purpose of backlight compensation provides slightly lower measured values than an accurate logarithmic display correspond. This is achieved essentially by the fact that the not through the Parallel resistor bridged series resistor at least partially as a photo resistor educated is and that in a known manner the two photo resistors Different opening angles for the incident light for counter-light compensation exhibit.

Weitere Einzelheiten der erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung ii Zusammonhang lit den Zeichnungen. Es zeigt: Fig. 1 ein Schaubild sur Darstellung des Verlaufes des Meßstromes verschiedener Lichtiessanordnungen als Funktion der logarithmisch aufgetragenen Strahlungsleistung bei zwei itt Fotowiderständen arbeitenden bekannten Anordnungen und einer erfindungsgemässen Anordnung, Fig. 2 eine erste Ausführungaform einer erfindungsgemässen Lichtmessanordnung, Fig. 3 eine abgeänderte Ausführungsform einer erfindungsgemässen Lichtmessanordnung, Fig. 4 eine weiter abgeänderte, Ausführungsform einer erfindungsgemässen Lichtmessanordnung, Fig. 9 ein Ausführungsbeispiol eines zwei Einzolfotowiderstände umfassenden Fotowiderstands, insbesondere zur Anwendung in einer Anordnung nach Fig. 2, Fig. 6 eine abgsänberte Ausführungsfons des Fotowiderstandes nach Fig. 5, Fig. 7 eine Ausführungsform cines dral Einzelfotowiderstände umfassenden fotowiderstandes, insbesonders zur Anwendung in einer Anordnung nach Fig. 3, ig. 8 oin. Abgeänderte Ausführungsform eines Fotowiderstandes nach Fig. 7, Fig 9@ 11 Ausführungsformen von Je drei Einzelfotowiderstände @@fass@nden Fotowiderständen, Insnbesondere zur An wendung An @@ine@ Anordnung nach Fig. 4.Further details of the invention emerge from the following Description ii Connection to the drawings. It shows: FIG. 1 a diagram sur representation of the course of the measuring current of different light emitting arrangements as a function of the logarithmically plotted radiant power with two itt photoresistors working known arrangements and an arrangement according to the invention, FIG. 2 a first embodiment of a light measuring arrangement according to the invention, FIG. 3 a modified embodiment of a light measuring arrangement according to the invention, FIG. 4 a further modified embodiment of a light measuring arrangement according to the invention, 9 shows an exemplary embodiment of a photoresistor comprising two single-pole photoresistors, in particular for use in an arrangement according to FIG. 2, Fig. 6 shows a modified embodiment of the photoresistor according to FIG. 5, FIG. 7 shows a Embodiment cines single photo resistors comprehensive photo resistor, in particular for use in an arrangement according to FIG. 3, ig. 8 oin. Modified embodiment a photo resistor according to Fig. 7, Fig 9 @ 11 embodiments of three individual photo resistors @@ grasp the photo resistors, in particular when using an @@ ine @ arrangement Fig. 4.

Auf der Abszi@se des Schaubildes nah Fig. 1 ist der Logarithmus der Strahlungsleistung anfgetragen. Zum Vergleich ist auch der Logarithmus des Quadrates des Öffnungsverhältnisses eines fctographischen Objecktive veranschaulicht. wie vorangehend bereits abgeleitet, int. da Quadrat des Öffnungaverhältnisses proportional (1/2)n; deanaca iöt der Logarithmus der durch das Objektiv trotanden Strahlungsleistung proportional n. Daher ist auf der Abszisse des Schaubildes von Fig. 1 der Wert n aufgetragen. Der Übersicht halber ist unter jedem Wort vor n noch der zugehörige Blendenwert angegeben.On the abszi @ se of the diagram near Fig. 1, the logarithm is the Radiated power requested. For comparison is also the logarithm of the square of the focal ratio of a fctographic lens. how previously derived, int. as the square of the opening ratio is proportional (1/2) n; deanaca iöt the logarithm of the radiant power trotted by the lens proportional to n. Therefore, on the abscissa of the graph of FIG. 1, the value n applied. For the sake of clarity, under each word in front of n there is the corresponding one Aperture value specified.

Die Ordinate den Schaubildes nach Fig. 1 stellt den Meßstrom bzw. den Ausschlagwiakel @ines im weeontlichen lin@aren elektrischen Anzeigoinstrumentes dar.The ordinate of the diagram according to FIG. 1 represents the measuring current or the Ausschlagwiakel @ines in the weekly lin @ aren electrical display instrument represent.

Liegt im Stromkreis einer Battexie ein fotowiderstand in Serie itt einem Anzeigeimstrument, so ergibt oich eine charakt@istik ge@äsm der gestrichelt gessich@eten Kurve a von Fig. 1, wobei die Stromanseige eine michtlimeare Funktion von n ist. Liegen in dem Stromkreis zur Eatterie ein Fotowiderstand und ein Festwiderestand 11 Serie m eines Anzeigeinstrument, wobei der Fotowiderstand noch durch einen Festwidestand überbrückt ist, so lässt sich bei gänstig@ Wahl der einselnen Widerstände 5 ine logarithmische charakteristik gemäse der Geraden b von Fig. 1 mchr oder minder gut nnäbern- soll noch eine Gegenlichtkcmpensation bei hoher Strahlungsleistung stattfindon, so ist eino Charakteristik notwendig, welche gemäse Fig. 1 bei niedrigen Strahlu@geleistungen der Geraden b und bei hohem Strahlungsleistungen sowie Gegenlicht der strichpunktierten Karve g entspricht. Zweck der vorliegedon Erfindung ist eine möglichst gute Annäherung des Meßstromes 1 an die Gerade b bei niedriger und an die Kurve q bei höherer Strahlunsleistung.If there is a photoresistor in series in the circuit of a Battexie a display instrument, this results in a character @ istik similar to the dashed line There is a curve a from FIG. 1, the current slope being a michtlimeare function of n is. There are a photo resistor and a fixed resistor in the circuit to the battery 11 Series m of a display instrument, whereby the photo resistor is still through a fixed resistor is bridged, then with the usual @ choice of the individual resistors 5 ine logarithmic characteristic according to the straight line b of Fig. 1 mchr or less good nnäbern- a backlight compensation should take place at high radiation power, so a characteristic is necessary which, according to FIG. 1, performs at low radiation levels of the straight line b and, in the case of high radiation outputs and backlighting, the dash-dotted line Karve g corresponds. The purpose of the present invention is as good an approximation as possible of the measuring current 1 to the straight line b at low and to the curve q at higher radiation power.

Die Schaltungsanordnung nach Fig. 2 enthält in den Stromkreis einer Batterie B zwei einen anseigeinstrument A in Serie vorgeschmltete Fotowiderstände P1 und P2, wobei der Fotowiderstand P1 durch eimen geeignet gewählten Festwiderstand W1 überückt ist. Der Fotowiderstand P1 weist hierbei einen grossen, der Fotowiderstand P2 hingeges einen kleinen Öffnungswinkel auf.The circuit arrangement according to FIG. 2 contains one in the circuit Battery B two photoresistors connected in series to an anseigeinstrument A P1 and P2, the photoresistor P1 being a suitably chosen fixed resistor W1 is bridged. The photoresistor P1 has a large one, the photoresistor P2, on the other hand, has a small opening angle.

Die anordnung nach Fig. 3 ergibt eine noch bessere Annäherung an die gewünschte Messwertcharakteristik und umfasst zusätzlich r der Anordnung nach Fig. 2 noch einen im Stromkreis liegenden susXtzlichen Fotowiderstand P3, welcher durch einen parallelen festwiderstand W3 überbrückt ist. Ausserdem ist der Instrument A noch ein Festwiderstand W2 vorgeschaltet. Obgleich die Widerständs in Fig. 3 teilweise mit gleichen Bezugzbezeichnungen wie in Fig. 2 verschen sind, kcnnen diese selbstvrständlich hinsichtlich ihrer Widerstandswerte und ihrer wirksamen Öffnungswinkel anders als in Fig. 2 ausgelegt sein.The arrangement of Fig. 3 gives an even better approximation of the desired measured value characteristic and also includes r the arrangement According to FIG. 2, a susXtzlichen photoresistor P3 lying in the circuit, which is bridged by a parallel fixed resistor W3. Also is the instrument A is preceded by a fixed resistor W2. Although the resistors in FIG. 3 are partially with the same reference designations as in FIG. 2, these can of course be understood with regard to their resistance values and their effective opening angle different than be designed in Fig. 2.

Bei der Anordnung nach Fig. 4 sind die Fotowiderstände P1 und P2 noch durch einen zuswtzliehen fotowiderstand P4 mit eine vorzugsweise gegenüber der Öffnungswinkel des Fotowiderstandes P1 noch grösseren Öffnungswimkel übernbrückt. Weiterhin liegt ähnlich wie in Fig. 3 vor dem Anzeigeinstrument A noch der Serienfestwiderstand W2.In the arrangement according to FIG. 4, the photoresistors P1 and P2 are still by an additional photoresistor P4 with a preferably opposite the opening angle of the photo resistor P1 bridges an even larger opening angle. Further lies Similar to FIG. 3, in front of the display instrument A, there is also the series fixed resistance W2.

Gemäss Fig. 5 sind auf einer Easisplatte C aus etoleitendem Material mehrere konzentrische ringartige Elektroden E1, E2, E3, angebracht. Zwischen den Klektroden E1 und E2 wird bei Verschaltung einer Linse ein Fotowiderstand mit verhälnismässig kleinem Öffnungswinkel gebildet, während zwischen den elektrtodem E2 und E3 ein Fotowiderstand mit vrhältnismässig grossem Öffnungswinkel entsteht. Bei Verwendung des kombinierten Fotowiderstandes nach Fig. 5 in einer Schaltungsanordnung nach Fig. 2 sind die Elektrodes 11 3 in der dort angegebenen Weise anzuschliessen. Dar kombimierte Fotowiderstand nach Fig. 5 kann jedoch auch in einer an sich bekannten Lichtmessanordnung mit nichtlogarithmischer Anzeige verwendet werden, wobei Jeweils nur zwei Elektroden über einen Umschalter an die Messanordnung angeschlossen eind. Durch Betätigung des Umechalters Lässt sich dann der Öffnungswinkel des Fotowiderstandes stufewiese verändern. Bei Einschaltung der elektroden X1 und 12 ergiht sich hierbei ein fotowiderstand Mit kleinem Öffnungswinkel, bei anschluss der Elektroden 12 und 13 ein Fotowiderstand iit grosse Öffnungswinkel.According to FIG. 5, on a base plate C made of etoconductive material several concentric ring-like electrodes E1, E2, E3 attached. Between When a lens is connected, the electrodes E1 and E2 become a photoresistor with a proportional function formed a small opening angle, while between the electrodem E2 and E3 Photoresistor with a relatively large opening angle is created. Using of the combined photoresistor according to FIG. 5 in a circuit arrangement according to 2, the electrodes 11 3 are to be connected in the manner indicated there. Dar Combined photoresistor according to FIG. 5 can, however, also be used in a per se known Light measuring arrangement with non-logarithmic display can be used, with each only two electrodes are connected to the measuring system via a switch. The opening angle of the photo resistor can then be adjusted by pressing the switch change step by step. This results when the electrodes X1 and 12 are switched on A photoresistor with a small opening angle when the electrodes 12 and are connected 13 a photoresistor with a large opening angle.

Der kckbinierte fotowiderstand nach Fig. 6 entspricht in zeinem Aufbau im wesentlichen demjenigen nach Fig. 5 und enthält auf einer quadratischen Easimplatte C' konzentrische Elektroden E1', E2', E3'. Die Anwendung dieses fotowiderstandes entspricht derjenigen des Fotowiderstandes nach Fig. 5.The built-in photoresistor according to FIG. 6 corresponds in its structure essentially that of Fig. 5 and contains on a square easim plate C 'concentric electrodes E1', E2 ', E3'. The application of this photoresistor corresponds to that of the photoresistor according to FIG. 5.

Die kombinierten Fotowiderstände nach Fig. 7 und 8 enthalten auf eier kreisförmigen bzw. rechteckigen Easis C" kreisringfötmige bzw. rechteckstreifenförmige konzentrische Elektroden E1", E2", E3", E4". Damit werden bei Vorschaltung einer Linse drei Einzelfotowiderstände von unterschiedlich gressem Öffnungswinkel gebildet, so dass die kombinierten Fotowiderstände nach lig. 7 und 8 verzngsweisw in einer Schaltunganordnung nach Fig. 3 Anwendung finden kcnnen. Jedoch ist auch eine Anwendung in einer Anordaung mit einem Umschalter möglich, in welcher lediglich ein einziger Fotowiderstand wirk@am ist, wie dies bereits im Zusammenhang mit Fig. 5 erlämtert wurde.The combined photoresistors of FIGS. 7 and 8 contain eggs circular or rectangular Easis C ″ in the shape of a circular ring or rectangular strip concentric electrodes E1 ", E2", E3 ", E4". This means that when a Lens formed three individual photo resistors with different opening angles, so that the combined photoresistors according to lig. 7 and 8 galvanized in one Circuit arrangement according to FIG. 3 can be used. However, there is also an application possible in an arrangement with a changeover switch, in which only one Photoresistor is effective, as already explained in connection with FIG. 5 became.

Die kombinierten Fotowiderstände nach Fig. 9 - 11 eathaltem auf einer fotoleitenden Basis C1 bzw, C1' bzw. C1" Elektroden E11, E12, E13 bzw. E11', E12', E13' bzw. E11", E12", E13" und sind bevorzugt zur Anwendung in einer Schaltungsanordnung mach Fig. 5 bestimmt. Werden die Elektroden F11, E12, S13 aa die im Fig. s angegebenen Punkte angeschlossen, so weisen d.r @otowiderstand P2 den kleinsten, der Fotowiderstand P4 den grössten und dar Fotowiderstand P1 einen littleren Öffnungswinkel auf.The combined photoresistors according to Fig. 9-11 are held on one photoconductive base C1 or, C1 'or C1 "electrodes E11, E12, E13 or E11', E12 ', E13 'or E11 ", E12", E13 "and are preferred for use in a circuit arrangement make Fig. 5 determined. If the electrodes F11, E12, S13 aa are the ones indicated in FIG Connected points, d.r @otowiderstand P2 has the smallest, the photoresistor P4 has the largest and the photoresistor P1 a littler opening angle.

Für die Basen C der kombinierten Fotowiderstäne gemäss Fig. 5 - 11 kann normales fotoleitendes Material, beispielsweise Cadmiumsulfid und dgl. verwendet werden.For the bases C of the combined photoresistors according to FIGS. 5-11 normal photoconductive material such as cadmium sulfide and the like can be used will.

Claims

P a t e n t a n s p r ü c h e 1. Light measurement arrangement, in particular for cameras, to determine the incident radiation output in a large Measuring range with a display instrument, two in its stroke circle, one behind the other connected series resistors, one of which is a bridged by a parallel resistor Photo resistor is, and a power source to drive the display instrument, thereby characterized that the series resistance is not bridged by the parallel resistance is at least partially designed as a photoresistor (P2), and that in itself As is known, the two photoresistors (P1, P2) for backlight compensation are different Have an opening @ angle for the incident light.

2. Arrangement according to claim 1, characterized gekennseichnet, @@@@@@ the through the parallel resistor (W1) bridged photoresistor P1 a larger opening angle than the unbridged photo resistor (P2) and that both photo resistors (P1, P2) diroh a parallel photo resistor (P4) with a nooh larger opening wi @@@@@ el than the bridged photo resistor (P1) are bridged.

3. Arrangement according to claim 1 characterized by at least two A fixed parallel resistor (W1, W3) each bridged in series Photo resistors (P1, P3) with different opening angles.

4. Arrangement according to claims 1 - 3, thereby marked, @@@@@@ the light-sensitive surfaces of the photoresistors (P1 - P4) in concentric ring-like form Zones Us a common center point of a surface base (C) are arranged.

5. Arrangement according to claim 4, characterized in that the surface base (C) to photoconductive material with several concentrically attached ring-like material Electrodes (E) is provided, whereas between the electrodes (E) formed ring-like Show the light-sensitive surfaces of the photoresistors (P) in between.

6. Arrangement according to claims 4-5, characterized in that at least one of the ring-like two-niche spaces between the flex electrodes through each other directed, interlocking electrode protrusions as a zigzag running Stripe is ana formed (Fig. 5, 6, 9, 10).

7. Arrangement according to claims 1 - 6, thereby geken @@@ eichnet, @@@@@@@ the totality of all photo resistors with different opening angles some or all can be switched on in any combination data au @@@@@@@@@@@@.