DE1298736B

DE1298736B - Application of a method for testing sheet glass and apparatus for applying this method

Info

Publication number: DE1298736B
Application number: DE1960P0033035
Authority: DE
Inventors: Shaw Jun Hugh Edward; Sleighter George Elwood; Galey William Francis
Original assignee: PPG Industries Inc
Current assignee: PPG Industries Inc
Priority date: 1959-11-02
Filing date: 1960-11-02
Publication date: 1969-07-03
Also published as: NL6603092A; DE1298306B; GB906947A; NL257509A; BE596651A; NL6603093A

Description

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Die Erfindung betrifft die Anwendung eines an gekennzeichnet und besitzt ein verhältnismäßig regelsich bekannten Verfahrens, bei welchem das Bild mäßiges Muster einer modifizierten, sinusförmigen, eines Gegenstandes in eine vorbestimmte Bildebene in der Höhe durch einen Querschnitt des Glases verprojiziert, das Bild in dieser Bildebene punktförmig laufenden Gestalt. Die Breite solcher Riefen ändert zeilenweise abgetastet und ein elektrischer Impuls in 5 sich im allgemeinen zwischen etwa 200 und etwa Abhängigkeit von der Bildhelligkeit des Abtast- 800 Mikron, während die größte Tiefe sich zwischen punktes erzeugt wird, zum Prüfen von Tafelglas, ins- ungefähr 0,1 und etwa 0,2 Mikron ändert, besondere von geschliffenem und poliertem Tafel- Die Abschälung oder Abblätterung ist durch un-The invention relates to the use of a marked on and has a relatively regular itself known method, in which the image is a moderate pattern of a modified, sinusoidal, an object is projected in a predetermined image plane in height through a cross section of the glass, the image in this image plane point-like running shape. The width of such grooves changes scanned line by line and an electrical pulse in 5 is generally between about 200 and about Depending on the image brightness of the scanning 800 microns, while the greatest depth is between point is generated, for testing sheet glass, changes to about 0.1 and about 0.2 micron, special of ground and polished table- The peeling or flaking is due to un-

glas, auf Fehler, die einen wesentlichen Anteil von regelmäßige Änderungen auf den Oberflächen des durchfallendem Licht absorbieren oder extrem kurze io Tafelglases oder durch unebene elementare Bereiche Brennweiten ergeben und/oder das Licht stark gekennzeichnet, die nicht in der gleichen Ebene wie streuen. die Hauptoberflächen des Glases liegen und die Formglas, for defects that are a significant part of regular changes on the surfaces of the absorb transmitted light or extremely short io sheet glass or through uneven elementary areas Focal lengths result and / or the light marked strongly that is not in the same plane as sprinkle. the main surfaces of the glass lie and shape

Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur von unregelmäßig verteilten, untiefen Narben oder Anwendung des obengenannten Verfahrens mit einer Grübchen mit abgerundeten Kanten und abgerun-Linsenanordnung zum Projizieren des Bildes des 15 deten Bodenflächen annehmen. Da Spiegelglas optisch Gegenstandes in einer Bildebene und mit einer Ab- eben sein oder eine unendliche Brennweite haben tastvorrichtung, vorzugsweise eine an sich bekannte muß, bilden diese elementaren Bereiche in optischer Nipkow-Scheibe, zum punktförmigen und zeilen- Hinsicht sehr kleine Linsen und haben eine Brennweisen Abtasten des Bildes in der Bildebene und mit Weitenverteilung zur Folge, die kleiner als unendlich einer photoelektrischen Einrichtung, um in Abhän- ao ist. Die Breite solcher kleinen Vertiefungen schwankt gigkeit von der Intensität das ankommende Licht in von etwa 200 bis 800 Mikron, während die Tiefe sich einen elektrischen Impuls umzusetzen. zwischen etwa 0,1 und ungefähr 2 Mikron ändert.The invention also relates to a device for irregularly distributed, shallow scars or Using the above method with a dimple with rounded edges and a rounded lens arrangement to project the image of the 15 deten floor surfaces. Because mirror glass is optical Object in one image plane and with a plane or have an infinite focal length Sensing device, preferably a must known per se, form these elementary areas in an optical way Nipkow discs, very small lenses for point and line view and have a focal mode Scanning the image in the image plane and with width distribution resulting in smaller than infinite a photoelectric device in order to be dependent on. The width of such small depressions varies The intensity of the incoming light is from about 200 to 800 microns, while the depth increases to implement an electrical impulse. changes between about 0.1 and about 2 microns.

Obwohl versucht wird, polierte Spiegelglasschei- Unzureichende Oberflächengüte, die durch unvoll-Although attempts are made to use polished mirror glass, the surface quality is insufficient due to incomplete

ben, die vollständig parallel zueinander verlaufende ständiges Polieren entsteht, hat Glas mit elementaren ebene Oberflächen haben, ohne Fehler herzustellen, 25 Bereichen, die nicht vollständig auf die Ebene der ist das heutzutage hergestellte Flach- oder Spiegel- Gesamtfläche des Glases poliert worden sind. Die glas von diesem Idealglas noch entfernt. Indessen Oberfläche ist dann wabenartig mit scharfen, unkönnen, da für verschiedene Zwecke verschiedene regelmäßige Oberflächen aufweisenden Vertiefungen Gütegrade des Glases erforderlich sind, gewisse bedeckt, die über die gesamte Oberfläche verstreut Fehler zugelassen werden, falls diese nicht zu erheb- 3° sind. Die Tiefe der durch unzureichende Oberflächenlich sind. Beispielsweise hat Spiegelglas höchster bearbeitung hervorgerufenen Narben oder Einsen-Qualität optische Erfordernisse, die weit über die Be- kungen variiert im allgemeinen zwischen etwa 0,5 dingungen hinausgehen, die an handelsübliches Schei- und etwa 10 Mikron, und die Breite schwankt zwiben- oder Flachglas gestellt werden, so daß, während sehen etwa 2 und ungefähr 40 Mikron, bestimmte nicht schwerwiegende Fehler bei Flach- 35 Die zweite Fehlerart, die hier als Fehler der Art B glas für Spiegel hoher Qualität zugelassen werden bezeichnet wird, ist im Inneren des Spiegelglases vorkönnen, andere Fehler, welche die Zurückweisung handen und ergibt sich aus der unvollständigen Vereines versilberten Spiegels zur Folge haben, für han- mengung der verschiedenen Gemengebestandteile delsübliches Flach- oder Spiegelglas annehmbar sind. während der Glasschmelz- und Frischungsarbeits-ben, which creates constant polishing completely parallel to each other, has glass with elementary flat surfaces have, without producing defects, 25 areas which are not completely on the plane of the is the flat or mirror total surface of the glass produced today has been polished. the glass still removed from this ideal glass. Meanwhile, the surface is then honeycomb with sharp, incapable, as depressions having different regular surfaces for different purposes Grades of quality of the glass are required, certain covers that are scattered over the entire surface Errors are allowed if they cannot be ascertained 3 °. The depth of the inadequate surface are. For example, mirror glass of the highest processing produced scars or ones quality optical requirements, which vary far beyond the limits, generally between about 0.5 conditions similar to commercially available disk and about 10 microns, and the width varies between or flat glass so that while seeing about 2 and about 40 microns, certain non-serious defects in flat 35 The second type of defect, which is referred to here as type B defect glass is approved for high quality mirrors, is possible inside the mirror glass, other errors that deal with the rejection and arises from the incomplete association silver-plated mirror result for the various ingredients in the batch standard flat or mirror glass are acceptable. during the glass melting and refining work

Es sind bereits Verfahren zum Nachweis des Vor- 40 gänge und erstreckt sich im allgemeinen in der Ziehhandenseins von Oberflächenfehlern und/oder inneren richtung des Glases. Solche Fehler sind Fäden-, Quer-Fehlstellen in Flach- oder Tafelglas, im besonderen schlieren und Längsschlieren. Wenn die Inhomogeschliffenem und poliertem Spiegelglas bekannt, wo- genitäten so gerichtet sind, daß ihre Länge mit der bei die Fehler auf Grund der Art und Weise klassi- Glasziehrichtung ausgerichtet ist und die Ebenen der fizierbar sind, in der sie Licht optisch beeinflussen, 45 Inhomogenitäten im allgemeinen senkrecht zu den sowie gemäß ihrer Orientierung und/oder dem Grad Ebenen der Glasoberflächen liegen, wird der Fehler ihres Auftretens und wobei Licht auf eine Ober- Querschliere genannt. Wenn die Inhomogenitäten so fläche des Glases projiziert und das resultierende, ausgerichtet sind, daß ihre Hauptachsen derart gevon dem Glas ausgehende Licht beobachtet wird, um richtet sind, daß sie sich in zu den Glasoberflächen das Vorhandensein von Fehlern zu entdecken. 50 parallelen Oberflächen erstrecken, wird der FehlerThere are already procedures for the detection of the process and generally extend to the pulling hand surface defects and / or internal direction of the glass. Such flaws are threads, transverse flaws in flat or sheet glass, especially streaks and longitudinal streaks. If the inhomoground and polished mirror glass are known, positions are directed so that their length with the in the case of the defects due to the way in which the glass drawing direction is aligned and the levels of the are ficable, in which they influence light optically, 45 inhomogeneities generally perpendicular to the as well as according to their orientation and / or the degree of planes of the glass surfaces, the error will be their occurrence and with light on an upper cross streak called. If the inhomogeneities are like that surface of the glass projected and the resulting, are aligned so that their main axes are so gevon Light emanating from the glass is observed to be directed so that it is directed in to the glass surfaces discover the presence of bugs. Extending 50 parallel surfaces will be the error

Es gibt viele Fehlerarten, die häufig im Innern Längsschliere genannt. Fäden sind verhältnismäßig oder auf der Oberfläche von Spiegelglasscheiben vor- dünne, langgestreckte gerade oder allmählich gehanden sind und die optischen Eigenschaften-des"~ wölbte Linien, die bei der langsamen Lösung eines Spiegelglases so weitgehend beeinflussen;"~daß sie großen Sand- oder Fremdstoffkornes entstehen. Wähvom menschlichen Auge schon wahrgenommen 55 rend reine Längsschlieren die optischen Eigenschaf ten werden. einer Glasplatte bei senkrechter Betrachtung ihrerThere are many types of defects, often called longitudinal streaks inside. Threads are proportionate or on the surface of mirror glass panes, thin, elongated, straight or gradual ones are and the optical properties-the "~ curved lines, which in the slow solution of a Influence mirror glass so extensively; "~ that they arise from large grains of sand or foreign matter. Wähvom the human eye can already perceive the optical properties will. a glass plate when viewed perpendicularly

Die erste Fehlerart, die als Fehler der Art A be- Oberflächen nicht beeinflussen, beeinträchtigen Querzeichnet wird, sind mikroskopische Oberflächenfehler. schlieren oder irgendeine Richtung von Inhomogeni-Diese Fehler sind nicht örtlich begrenzt, sondern täten, die eine streifenförmige Schlierenkomponente über verhältnismäßig weite Bereiche der Glasober- 60 bestimmte Größe enthalten, die optische Vollfläche verteilt und können als Fehler des Flächentyps kommenheit des Spiegelglases. Alle diese aufgezählbezeichnet werden. Diese wahrnehmbaren Fehler ten Fehler müssen festgestellt werden, bevor irgendsind Abkratzung, Abschälung oder Abblätterung und welche örtlichen Bereiche, die solche Fehler entunzureichende Oberflächenbearbeitung oder -gute. halten, in eine große Fenster- oder Spiegelglasscheibe Der als Abkratzung bezeichnete Fehler, der im allge- 65 gelangen.The first type of defect, which, as type A defects, does not affect surfaces, affect transverse drawings are microscopic surface defects. streak or any direction of inhomogeneity-these Defects are not localized, but would have a streak-like streak component Contain a certain size over relatively wide areas of the glass surface, the optical full surface distributed and can occur as a defect in the type of surface of the mirror glass. All of these listed will. These noticeable errors must be identified before any Scratching, peeling or peeling and what local areas inadequate such defects Surface treatment or good. hold in a large window or mirror glass pane The defect known as scratching that generally occurs.

meinen durch unsachgemäßes Polieren bedingt ist, Eine dritte Fehlerart, die als Fehler der Art C be-is caused by improper polishing, a third type of defect, which is classified as type C

ist durch eine Anzahl paralleler, bogenförmiger, zeichnet wird, sind Fehler des Spitzentyps, die im flacher Riefen von sich allmählich ändernder Tiefe Inneren des Glases auftreten können, d.h. zu deris characterized by a number of parallel, arcuate, are tip-type errors that appear in the shallow scores of gradually changing depth may occur inside the glass, i.e. to the

Einschlußart gehören, oder an der Glasoberfläche vorhanden sein können. Fehler der Einschlußart umfassen Steine, Glasblasen, stäbchenförmige Blasen und Poren. Steine sind feste Einschlüsse aus schwerschmelzendem Material, die in dem Glas nicht verschmolzen sind, oder werden als eine Folgeerscheinung der Glasherstellung gebildet. Glasblasen und Poren sind gasförmige Einschlüsse, wobei Poren einen Durchmesser in der Größe von 0,1 bis 0,5 mm, Gasblasen einen größeren Durchmesser haben. Stäbchenförmige Blasen sind langgestreckte Gasblasen, die gewöhnlich einen Bruchteil eines Millimeters breit und mehrere Millimeter lang sind. Oberflächenfehler des Spitzentyps sind Sandlöcher und Sandlöchergruppen. Sandlöcher sind kleine Risse in der Oberfläche, die durch den Grobschleifarbeitsgang hervorgerufen werden und durch nachfolgendes Feinschleifen nicht beseitigt worden sind und im allgemeinen 40 bis 1000 Mikron breit und etwa 10 bis etwa 250 Mikron tief sind. Sandlochgruppen können die Folge von unvollständigem Feinschleifen des Flachglases sein und werden durch eine tiefe Stelle in der Platte verursacht, die einen Teil der ursprünglichen rohen Oberfläche beibehält.Include type of inclusion, or may be present on the glass surface. Include errors of inclusion type Stones, glass bubbles, rod-shaped bubbles and pores. Stones are solid inclusions of refractory melting Material that is not fused in the glass, or will appear as a consequence formed in glass production. Glass bubbles and pores are gaseous inclusions, with pores being a Diameters on the order of 0.1 to 0.5 mm, gas bubbles have a larger diameter. Rod-shaped Bubbles are elongated gas bubbles that are usually a fraction of a millimeter wide and are several millimeters long. Tip type surface defects are sand holes and sand hole groups. Sand holes are small cracks in the surface caused by the rough grinding operation and have not been eliminated by subsequent fine grinding and in general 40 to 1000 microns wide and about 10 to about 250 microns deep. Sandhole groups can be the result of incomplete fine grinding of the flat glass and are caused by a deep spot in the plate, which retains part of the original raw surface.

Die vierte Fehlerart, die im allgemeinen als Fehlerart D bezeichnet wird, umfaßt lineare Gesamtoberflächenfehler, die in die beiden großen Gruppen Risse oder Schrammen und Feinrisse klassifiziert werden. Risse oder Schrammen, die gewöhnlich in Form einer geradlinigen oder bogenförmigen Reihe von muscheligen Bruchfäden vorliegen, sind lange, tiefe, schmale Fehler in der Glasoberfläche mit Längen zwischen einigen Millimetern und Metern, Breiten bis zu etwa 1 mm und Tiefen in der Größenordnung von mehreren 100 Mikron. Risse oder Schrammen sind unter verschiedenen Namen bekannt, wie z.B. Blockrisse, Glasscherbenschnitte, Gießtrichterschnitte und Oberflächenrisse, je nach ihrem Ursprung.The fourth type of defect, commonly referred to as defect type D, includes total linear surface defects, which are classified into the two large groups of cracks or scratches and fine cracks. Cracks or scrapes, usually in the form of a straight or arched series of scalloped Broken threads are long, deep, narrow defects in the glass surface with lengths between a few millimeters and meters, widths up to about 1 mm and depths on the order of several 100 microns. Cracks or scratches are known by different names, such as block cracks, Broken glass cuts, sprue cuts and surface cracks, depending on their origin.

Feinrisse sind sehr feine, glattwandige Vertiefungen in einer Glasoberfläche, die gewöhnlich durch ein Fremdteilchen bei dem Polierarbeitsgang entstehen. Ihre Längen können zwischen Millimetern und Metern liegen, ihre Breite kann sich zwischen etwa 10 und etwa 100 Mikron und ihre Tiefe zwischen etwa 0,5 und 2 Mikron ändern. Donut-Markierungen können entweder als Feinrisse, je nach ihrer Stärke, bezeichnet werden.Fine cracks are very fine, smooth-walled depressions in a glass surface that usually go through a foreign particle is generated in the polishing operation. Their lengths can be between millimeters and meters, their width can be between about 10 and about 100 microns and their depth between change about 0.5 and 2 microns. Donut marks can be either as fine cracks, depending on their Strength.

Gewöhnlich wird Flach- oder Spiegelglas nach dem Schleifen und Polieren von Hand und optisch kontrolliert, wobei die Kontrolleure die Fehlerstellen mit Kreide oder Zeichenkohle markieren. Dieses Verfahren ist zeitraubend und erfordert eine große Anzahl von besonders ausgebildeten Prüfern und führt infolge der Auffassungsunterschiede zwischen den Prüfern zu einem Mangel an Gleichmäßigkeit bei der Einstufungsbeurteilung des Glases.Flat or mirror glass is usually made by hand and optically after grinding and polishing controlled, whereby the inspectors mark the faults with chalk or charcoal. This Procedure is time consuming and requires a large number of specially trained examiners and leads to a lack of uniformity due to the differences of opinion between the examiners when assessing the classification of the glass.

Insbesondere sind die bekannten Verfahren zum Prüfen von Fehlern in Tafelglas bisher nicht zur Verwendung in automatischen Fertigungsstraßen geeignet. In particular, the known methods for checking defects in sheet glass have not yet been used Suitable for use in automatic production lines.

Es ist die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe, die Möglichkeit zu schaffen, Fehler der vorstehend geschilderten Fehlerarten C und D selbsttätig festzustellen und in Abhängigkeit von Lage und Größe dieser Fehler einen Steuerimpuls zu erzeugen, die eine automatische Beeinflussung der Fertigungsstraße zur Illuminierung der fehlerhaften Stelle ermöglicht. It is the object of the invention to create the possibility of eliminating errors of the above automatically detect the described error types C and D and depending on the location and Size of this error to generate a control pulse that automatically influences the production line to illuminate the defective area.

Dabei muß die Aufstellung gleichmäßiger Normen für Glaseinstufung des Glases in die einzelnen erforderlichen Qualitäten berücksichtigt werden, und das Glas muß während einer kontinuierlichen Bewegung auf der Fertigungsstraße geprüft und in der folgenden Schneidvorrichtung so gesteuert werden, daß fehlerhafte Stellen ausgeschnitten werden.The establishment of uniform standards for glass classification in the individual must be required Qualities are taken into account, and the glass must be in continuous motion checked on the production line and controlled in the following cutting device so that faulty areas are cut out.

Die Erfindung schafft diese Möglichkeit durch Anwendung des eingangs geschilderten Verfahrens zum The invention creates this possibility by using the method described above for

ίο Prüfen von Tafelglas, insbesondere von geschliffenem und poliertem Tafelglas auf Fehler, welche dadurch gekennzeichnet ist, daß Licht auf einen vorbestimmten Bereich der Glasoberfläche geworfen und das aus dem Glas austretende Licht zu dem Bild in der Bildebene projiziert und daß der der Lichtintensität entsprechende Abtastimpuls mit einem Sollwertimpuls verglichen wird.ίο Checking sheet glass, especially ground glass and polished sheet glass for defects, which is characterized in that light shines on a predetermined Area of the glass surface and the light emerging from the glass to the image in projected on the image plane and that the scanning pulse corresponding to the light intensity with a setpoint pulse is compared.

Die Vorrichtung zur Anwendung dieses Verfahrens ist gekennzeichnet durch die Kombination an sich bekannter Merkmale, die darin besteht, daß eine Einrichtung zum Führen des zu prüfenden Tafelglases im Bildfeld des Linsensatzes und eine auf der dem Linsensatz gegenüberliegenden Seite des Tafelglases angeordnete Lichtquelle zum Erzeugen eines auf die zu prüfende Fläche des Tafelglases gerichteten Lichtbündels vorgesehen sind und daß zwischen dem Linsensatz und der Abtasteinrichtung ein Bündelseparator zum Trennen von Streustrahlen und Hauptlichtstrahlen und zur Erzeugung eines zum Vergleich des Abtastsignals geeigneten Sollwertsignals angeordnet ist.The device for applying this method is characterized by the combination per se known features, which consists in the fact that a device for guiding the sheet glass to be tested in the field of view of the lens set and one on the side of the plate glass opposite the lens set arranged light source for generating a light beam directed onto the surface of the sheet glass to be tested are provided and that a bundle separator between the lens set and the scanning device for separating scattered rays and main rays of light and for generating one for comparison the sampling signal suitable setpoint signal is arranged.

Durch diese erfindungsgemäße Anordnung wird es möglich, einen Prüfimpuls zu erzeugen, der bei Auftreten von Fehlern ständig in gleichmäßigen Abständen wiederkehrende Änderungen entsprechender Länge und Amplitude in Abhängigkeit von der Größe des Fehlers erzeugt, wobei diese Impulse z. B. durch eine Zählvorrichtung summiert und für die Steuerung der Schneidvorrichtung ausgenutzt werden können.This inventive arrangement makes it possible to generate a test pulse that occurs when of errors constantly recurring changes correspondingly at regular intervals Generated length and amplitude depending on the size of the error, these pulses z. B. can be totaled by a counting device and used to control the cutting device can.

Zur selektiven Feststellung von Fehlern einer Gruppe, bei der diese Fehler langgestreckt sind und deren Längsachsen in einer Richtung liegen, umfaßt das Verfahren gewöhnlich das Abtasten des Lichtes, so daß beschränkte Teile dieses Lichtes durch eine langgestreckte Blende oder öffnung verlaufen, die so ausgerichtet ist, daß sie im wesentlichen parallel zu den Abbildungen dieser Fehler liegt. Diese Fehlergruppe gehört im allgemeinen zu der Art B, die hauptsächlich auf Grund der gemeinsamen Richtung der Fehler identifizierbar ist.For the selective detection of errors in a group in which these errors are elongated and whose long axes are in one direction, the method usually involves scanning the light, so that limited parts of this light pass through an elongated aperture or aperture that is so is oriented to be substantially parallel to the mapping of these defects. This error group generally belongs to type B, mainly due to the common direction the error is identifiable.

Zur selektiven Feststellung von Fehlern einer Gruppe, bei der diese Fehler einen wesentlichen Anteil des projizierten Lichtes absorbieren oder extrem kurze Brennweiten haben, besteht das Verfahren im allgemeinen darin, daß das von dem Glas austretende Licht durch eine Linse geschickt wird, so daß ein Bild des Glases in einer vorbestimmten Brennebene projiziert wird, während die Hauptstrahlen des Lichtes eingefangen werden, so daß das Bild ein dunkles Feld hat, auf dem die Fehler als Lichtflecke auftreten, und daß das Bild so an der Brennebene abgetastet wird, daß beschränkte Teile des Bildes durch eine verhältnismäßig kleine Blende oder Öffnung verlaufen. Diese Fehler gehören im allgemeinen zu der Art B.For the selective detection of errors in a group in which these errors make up a substantial proportion absorb the projected light or have extremely short focal lengths, the process consists of general in that the light emerging from the glass is sent through a lens so that a Image of the glass is projected in a predetermined focal plane while the chief rays of the Light are captured, so that the image has a dark field on which the errors as light spots occur and that the image is scanned at the focal plane so that limited parts of the image run through a relatively small aperture or aperture. These errors generally belong to type B.

Zur Bestimmung der Art und Weise des Schneidens des Glases in Platten kleiner Größe kann dasTo determine the manner of cutting the glass into small size slabs, the

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polierte Tafelglas, während es sich auf einer Fließ- Glases durch eine geeignete Beschriftung und einen bandstrecke befindet, durch eine Reihe Nachweisvor- Pfeil angezeigt. Die optische Achse der Vorrichtung richtungen hindurchbewegt werden, von denen jede liegt vorzugsweise unter einem Winkel von im wesenteinen anderen Typ oder eine andere Art des opti- liehen 78° zu der Ebene des Glases, um störende sehen Fehlers gemäß der Erfindung unterscheiden 5 Reflexionen zwischen der Optik der Vorrichtung und kann. Jeder Nachweisvorrichtung können Vorrich- dem zu prüfenden Glas zu vermeiden. An der andetungen zugeordnet sein, bei denen ein elektrisches ren Seite der Glasebene sind ein Objektivlinsensystem Signal, das jeden festgestellten Fehler anzeigt, einer L-3 und ein Lichtstrahlseparator BS zum Trenen der Aufzeichnungs- oder Fehlerspeichervorrichtung und Hauptlichtstrahlen und der zerstreuten Lichtstrahlen einem Rechner zugeführt wird, der die optimale io angeordnet, der vorzugsweise in Form einer trans-Schneidart des Glases bestimmt, um die verschie- parenten Glasplatte mit einem verhältnismäßig denen ermittelten Unvollkommenheiten zu beseitigen, kleinen, verspiegelten Mittelteil ausgebildet ist. Der oder es ist eine Markierungsvorrichtung vorhanden, verspiegelte Teil reflektiert den Hauptlichtstrahl in die jeden Fehler unmittelbar auf dem Glas markiert, einer zu seiner ursprünglichen Achse senkrechten so daß ein Schneiden die optimale Art zum Schnei- 15 Achse. Mit der reflektierten Achse des Hauptlichtden des Glases bestimmen kann. Strahls sind ausgerichtet eine senkrecht angeordnetePolished sheet glass, while it is on a flowing glass, indicated by a suitable lettering and a strip of tape, indicated by a series of detection arrows. The optical axis of the device can be moved through directions, each of which is preferably at an angle of substantially a different type or a different type of opti- borrowed 78 ° to the plane of the glass in order to distinguish disturbing seeing errors according to the invention 5 reflections between the Optics of the device and can. Any detection device can be used to avoid the glass to be tested. On the other hand, be assigned in which an electrical Ren side of the glass plane are an objective lens system signal indicating each detected error, an L-3 and a light beam separator BS for separating the recording or error storage device and main light beams and the scattered light beams is fed to a computer , which arranged the optimal io, which is preferably designed in the form of a trans-cutting type of the glass in order to eliminate the different glass plate with a small, mirrored middle part in comparison to the imperfections determined. The or there is a marking device, the mirrored part reflects the main light beam into which each defect marks directly on the glass, one perpendicular to its original axis, so that cutting is the optimal way to cut. With the reflected axis of the main light that can be determined by the glass. Beams are aligned a vertically arranged

Wenn Licht von einer Quelle durch fehlerfreies Platte P-2 mit einem verhältnismäßig schmalen Glas gelangt und von einer Objektivlinse aufgenom- Schlitz s-1 an der Bildebene des Glases G, die von men wird, entsteht ein projiziertes Bild des Glases, der Objektivlinse L-3 bestimmt wird, eine angrendas ein im wesentlichen gleichmäßiges helles Feld 20 zende Drehabtastvorrichtung £»-1 mit vorzugsweise hat. Wenn Fehler der Art C in oder auf dem Glas vier bogenförmigen Schlitzen, die den Schlitz s-1 vorhanden sind, werden solche Fehler als dunkle durchqueren, ein Beleuchtungslinsensystem L-4 und Flecke auf dem hellen Feld dargestellt, weil sie Licht ein lichtempfindliches Element, vorzugsweise eine absorbieren oder extrem kurze Brennweiten haben. Sekundärelektronenvervielfacherröhre oder Photo-Auch Fehler der Art D zeigen sich auf diesem Feld 25 zelle T-I. In gleicher Weise sind mit der Achse des in stark vermindertem Intensitätskontrast, weil sie zerstreuten Lichtstrahls ausgerichtet eine senkrecht die Strahlen veranlassen, das projizierte Bild in angeordnete Platte P-3 mit einem verhältnismäßig einem viel geringeren Ausmaß hervorzurufen. Fehler schmalen Schlitz 5-2, die in der Bildebene des Glases der Art D lenken einen Teil des Lichtes ab oder zer- angeordnet ist, welche von der Objektivlinse L-3 bestreuen ihn, so daß sie als sekundäre Lichtquellen auf 30 stimmt ist, eine angrenzende Drehabtastvorrichtung den Glasoberflächen wirken. Um Fehler der Art D D-2 mit gleicher Konstruktion wie D-I, ein Linsenunterscheiden und ihre Stärke bestimmen zu können, system L-S und ein lichtempfindliches Element, vorist es erforderlich, ihr Vorhandensein getrennt von zugsweise eine Sekundärelektronenvervielfacherröhre Fehlern der Art C festzustellen, so daß es notwendig oder Photozelle Γ-2. Das Linsensystem L-5 verkleiwird, die Hauptstrahlen des Lichtes, d. h. die aus der 35 nert das Objektivlinsenbild des kombinierten Systems vorgenannten Lichtquelle austretenden Lichtstrahlen, an der Röhre Γ-2, so daß das Licht von den Fehlweiche die Fehlerinformation der Art C tragen, von stellen des Linientyps (Typ D) die kleinstmögliche dem zerstreuten Licht zu trennen, das die Informa- Abmessung an der Stirnfläche der Röhre Γ-2 hat. tion für die Fehler der Art D trägt. Bei einer solchen Eine Konzentration des Lichtes ist erwünscht, weil Trennung kann die Objektivlinse so ausgebildet sein, 40 gewöhnlich die Kathoden der Röhren, wie ζ. Β. Γ-2, daß sie gleichzeitig Bilder des Glases darstellt, und nichtlineare Kennlinien über ihren Bereich haben zwar in einem Falle ein projiziertes Bild, das Fehler und nur einen kleinen Bereich der Kathode verwender Art C zeigt, und in dem zweiten Falle ein Dun- den, der eine im wesentlichen lineare Kennlinie gekelfeldbild, auf dem die zerstreuten Strahlen Fehler währleistet.When light from a source passes through flawless plate P-2 with a relatively narrow glass and is picked up by an objective lens- slit s-1 at the image plane of the glass G, which is made by men, a projected image of the glass is created, the objective lens L- 3 is determined to have a substantially uniform bright field 20 zende rotary scanning device £ »-1 with preferably. If there are four arc-shaped slits in or on the glass of the type C, which cross the slit s-1, such defects are shown as dark ones, an illumination lens system L-4 and spots on the bright field, because they light a photosensitive element, preferably an absorb or have extremely short focal lengths. Secondary electron multiplier tube or photo-faults of the type D also appear in this field 25 cell TI. Likewise, aligned with the axis of the are in greatly reduced intensity contrast because they scattered light beams cause the beams to cause the projected image to be placed in plate P-3 to a relatively much lesser extent. Error narrow slit 5-2, which in the image plane of the type D glass deflects a part of the light or is arranged, which is scattered by the objective lens L-3 so that it is correct as a secondary light source adjacent rotary scanning device act on the glass surfaces. In order to be able to distinguish defects of the type D D-2 with the same construction as DI, a lens and their power, system LS and a photosensitive element, it is necessary to determine their presence separately from, preferably, a secondary electron multiplier tube defects of the type C, so that it necessary or photocell Γ-2. The lens system L-5 diminishes the main rays of light, ie the light rays emerging from the 35 nert the objective lens image of the combined system of the aforementioned light source, at the tube Γ-2, so that the light from the deflector carry the error information of type C from set the line type (type D) to separate the smallest possible from the scattered light that has the informa- dimension at the end face of the tube Γ-2. tion for errors of type D. With such a concentration of the light is desirable, because separation, the objective lens can be designed in such a way, usually the cathodes of the tubes, such as ζ. Β. Γ-2, that it simultaneously shows images of the glass, and non-linear characteristics over its area have in one case a projected image that shows defects and only a small area of the cathode of the type C used, and in the second case a thinning , which has an essentially linear characteristic curve, on which the scattered rays ensure errors.

der Art D als helle Flecke darstellen. 45 Die Fig. IA und IB zeigen schematische Strah-type D as bright spots. 45 Figs. IA and IB show schematic jet

Diese und weitere Zwecke und Merkmale der Er- lenverläufe für den Nachweis von Fehlstellen des findung sind aus der folgenden Beschreibung im Zu- Typs C und D und entsprechen dem Teil der Fig. 1 sammenhang mit den Zeichnungen ersichtlich, in zwischen dem Glas G und den Platten P-2 bzw. P-3 denen zeigen ohne den Lichtseparator BS. These and other purposes and features of the hollow courses for the detection of defects in the invention can be seen from the following description in relation to types C and D and correspond to the part of FIG. 1 in connection with the drawings, in between the glass G and the Plates P-2 and P-3 show those without the light separator BS.

Fig. 1, IA und IB im Schnitt dargestellte Strah- 50 In Fig. IA sind, obgleich kein Lichtstrahlseparalenverläufe einer Kontrolleinrichtung zum Bestimmen tor verwendet wird, Wirkungen des Strahles des zervon Fehlern der Arten C und D, streuten Lichtes aus Fehlern des Typs D vernach-Fig. 1, IA and IB in section shown beams 50 In Fig. 1A, although not a light beam, are parallel courses A control device is used to determine tor, effects of the beam of the zervon Defects of types C and D, scattered light from defects of type D neglect

F i g. 2 eine Ansicht einer rotierenden Raster- _ lässigbar, wie zuvor erklärt wurde, scheibe und deren Lageverhältnis zu den Schlitzen In Fig. IB ermöglicht die Lichtfalle, daß nur dieF i g. 2 is a view of a rotating grid _ revelable, as previously explained, disk and its position relationship to the slots In Fig. IB, the light trap allows only the

S-I oder 5-2. 55 zerstreuten Lichtstrahlen hindurchgehen und auf die SI or 5-2. 55 scattered rays of light pass through and onto the

In Fig. 1 ist der Strahlenverlauf einer kombi- Bildebene des Glases, die von dem Objektivlinsennierten Nachweisvorrichtung für Fehler des Typs C system L-3 bestimmt wird, d. h. an der Ebene der und D dargestellt. Von links nach rechts erkennt man Platte P-3, fallen.In Fig. 1 is the beam path of a combined image plane of the glass, which is from the objective lens Detection device for type C failure system L-3 is determined, d. H. at the level of the and D. From left to right you can see plate P-3, falling.

eine Lichtquelle S, ein Prisma PM zum Ändern der Die Abtastscheiben P-I und D-2 (Fig. 2) sinda light source S, a prism PM for changing the scanning disks PI and D-2 (Fig. 2)

Richtung des Lichtes von der Quelle, ein Linsen- 60 gleichartig ausgebildet, und jede umfaßt eine kreissystemL-1 zum Fokussieren des Lichtes an einer runde Glasplatte 630 mit einer lichtundurchlässigen Stelle, an der eine Platte P-I mit einer Mittelöffnung α Emulsion 632 an einer Oberfläche mit Ausnahme von angeordnet ist und ein Kollimatorlinsensystem L-2, vier transparenten bogenförmigen Teilen 634, die wobei die Lichtquelle, das Prisma, das Linsensystem einen im wesentlichen gleichmäßigen Abtastöffnungs-L-I, die Platte P-I und das Kollimatorlinsensystem 6g bereich in Zusammenwirkung mit den Schlitzen s-1 L-2 an der einen Seite der Ebene des Glases G ange- oder s-2 bilden.Direction of the light from the source, a lens 60 similarly formed, and each comprises a circular system L-1 for focusing the light on a round glass plate 630 with an opaque point on which a plate PI with a central opening α emulsion 632 on one surface Except for is arranged and a collimator lens system L-2, four transparent arcuate parts 634, the light source, the prism, the lens system having a substantially uniform scanning aperture LI, the plate PI and the collimator lens system 6g area in cooperation with the slits s- 1 L-2 on one side of the plane of the glass G or form s-2 .

ordnet sind. Da sich das Glas vorzugsweise relativ zu Die Lichtstärkeänderungen, die von den wirk-are arranged. Since the glass is preferably relative to

der Vorrichtung bewegt, ist die Bewegungsbahn des samen Abtastöffnungen, die von den die Schlitze s-1 of the device is moved, is the path of movement of the seed sampling openings, which is determined by the slots s-1

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und 5-2 durchquerenden Abtastscheiben D-I bzw. blasen, stäbchenförmige Blasen und Poren, während D-2 gebildet werden, wahrgenommen werden, wer- Fehler des Oberflächenspitzentyps Sandlöcher und den von den lichtempfindlichen Elementen, d. h. den Sandlöchergruppen umfassen. Die Fehler des Typs D Sekundärelektronenvervielfacherröhren oder Photo- sind, wie zuvor erwähnt wurde, große lineare Oberzellen Γ-1 bzw. Γ-2 aufgenommen, die eine Span- 5 flächenfehlstellen, die grob in Schrammen und Feinnung mit sich ändernder Amplitude und Frequenz risse klassifiziert werden.and 5-2 traversing scanning disks DI or bubbles, rod-shaped bubbles and pores are detected while D-2 are being formed, defects of the surface tip type will include sand holes and those from the photosensitive members, that is, the sand hole groups. The defects of the type D secondary electron multiplier tubes or photomultiplier tubes are, as mentioned above, large linear upper cells Γ-1 and Γ-2, respectively, which classify a chip surface defect that roughly cracks in scratches and fining with changing amplitude and frequency will.

erzeugen, die in direktem Verhältnis zu der Stärke Wenn Licht von einer Quelle durch fehlerfreiesproduce that is in direct proportion to the strength when light from a source passes through faultless

des Fehlers in oder auf dem kontrollierten Glas Glas hindurchgeht und von einer Objektivlinse aufstehen. Die Gleichspannungsversorgungsquelle hoher genommen wird, entsteht ein projiziertes Bild des Spannung liefert die Spannung für die Dynoden der io Glases, das ein im wesentlichen gleichmäßig helles Röhren und die erforderliche Anodenspannung. Die Feld aufweist. Wenn Fehler des Typs C in und auf von den Röhren T-I und Γ-2 erzeugten Signale, dem Glas vorhanden sind, zeigen sich solche Fehler deren Verläufe auf den Schirmen der entsprechenden als dunkle Flecke auf dem hellem Feld, weil sie Licht Oszilloskope beobachtet werden können, werden auf absorbieren oder extrem kurze Brennweiten haben, einen gewünschten Pegel von den Vorverstärkern 15 Der Grad des Fehlers wird durch die Stärke und verstärkt, die vorzugsweise sehr nahe an den Röhren Größe dieser dunklen Flecke angezeigt. Wenn Fehler T-I und Γ-2 angeordnet sind, um die Signale mit des Typs D vorhanden sind, lenken sie einen Teil niedrigem Pegel zu verstärken, bevor die äußeren des Lichtes ab oder zerstreuen einen Teil des Lichtes Störungen, wie z. B. Streuspannungen, unterworfen und stellen sich auf diesem hellen Feld in stark verwerden. Vorzugsweise wird ein Vorverstärker des 20 mindertem Intensitätskontrast dar, weil sie die das Kathodenverstärkertyps verwendet, so daß die Signale projizierte Bild erzeugenden Strahlen in viel gerinüber lange Leitungen übertragen werden können, gerem Maße beeinflussen. Daher ist es notwendig, ohne daß die Gefahr des Hochfrequenzverlustes in- die Existenz und die Stärke von Fehlern des Typs D folge der Leitungskapazität besteht. Die Verwen- getrennt nachzuweisen, und es wird erforderlich, die dung des Kathodenverstärkers vermindert auch die »5 Hauptstrahlen des Lichtes von den zerstreuten oder Möglichkeit der Aufnahme von Streuwechselspan- abgeleiteten Lichtstrahlen zu trennen. Wenn eine nungen und des Auftretens von Nebensprechen. solche Trennung erfolgt, kann die Objektivlinse soof the defect in or on the inspected glass passes through glass and stand up from an objective lens. If the DC voltage supply source is taken higher, a projected image is created of the voltage that supplies the voltage for the dynodes of the io glass, which has an essentially uniformly bright tube and the required anode voltage. The field has. If there are errors of type C in and on signals generated by the tubes TI and Γ-2, the glass, such errors appear on the screens of the corresponding ones as dark spots on the bright field, because they can be observed with light oscilloscopes , will absorb or have extremely short focal lengths, a desired level by the preamplifiers 15. The degree of error is indicated by the strength and amplification, which is preferably very close to the tube size of these dark spots. If errors TI and Γ-2 are arranged to present the D-type signals, they deflect a portion of the low level to amplify before the outside of the light or diffuse a portion of the light from disturbances such as e.g. B. stray voltages, and are subject to strong bewerden on this bright field. Preferably, a preamplifier of reduced intensity contrast is used because it uses the cathodic amplifier type so that the projected image-generating beams can be transmitted in much smaller amounts over long lines. Therefore, it is necessary without the risk of high frequency loss in the existence and magnitude of D-type errors due to line capacitance. It is necessary to prove the use separately, and the use of the cathode amplifier also reduces the main rays of the light to be separated from the scattered or the possibility of picking up the scattered alternating voltage. If there is any noise and the occurrence of crosstalk. such separation occurs, the objective lens may so

Die Phasenumkehrschaltung ist mit einem Vorver- ausgebildet werden, daß gleichzeitig Bilder des stärker in dem zum Nachweis von Fehlern des Glases entstehen, von denen das eine Fehler des Typs D bestimmten Abschnitt der kombinierten Ab- 30 Typs C und das andere Fehler des Typs D zeigt. Im tastanordnung verbunden. Wie zuvor festgestellt Gegensatz zu dem von dem Hauptlichtstrahl gebilwurde, zeigen sich Fehler des Typs D an der Ebene deten Bild hat das Fehler des Typs D zeigende Bild der Abtastscheibe D-2 als helle Flecke auf einem ein dunkles Feld, auf dem gegebenenfalls Fehler des dunklen Feld, wodurch negative Spannungen erzeugt Typs D als helle Flecke erscheinen,
werden. Die Phasenumkehrschaltung setzt zur nach- 35 Die Trennung des Hauptlichtes von dem abgeleifolgenden Verwendung die negativen Spannungen in teten oder zerstreuten Licht wird in der bevorzugten positive Spannungen um. Ausführungsform durch die Verwendung des Licht-The phase reversal circuit is designed with a precondition that at the same time images of the stronger in the area for the detection of defects of the glass are produced, of which one section of the combined type C and the other of type D shows defects of type D . Connected in the button arrangement. As previously noted, unlike the gebilwurde from the main light beam, errors indicate the type D to the plane Deten picture, the error of type D displayed image of the scanning disc D-2 as the bright spots on a dark field in which, if appropriate, error of the dark Field, whereby negative voltages generated type D appear as bright spots,
will. The phase-reversal circuit converts the negative voltages into second or scattered light into the preferred positive voltages for subsequent use. Embodiment through the use of the light

Diskriminatoren erhalten die Spannungen von den Strahlseparators erreicht, der in Form der Glasplatte beiden Abtastabschnitten und liefern die Informa- mit dem verspiegelten Mittelteil ausgebildet ist, wotion an eine oder mehrere Vorrichtungen zwecks Be- 40 bei der Hauptlichtstrahl von dem Spiegel reflektiert Stimmung des optimalen Schneidens des Glases in wird, während abgeleitetes oder zerstreutes Licht handelsübliche Scheibengrößen. Da es drei Glas- durch die Glasplatte hindurchgeht,
qualitäten gibt, d. h. Spiegelglas, Fensterglas und Die Schlitze s-1 und s-2 sind quer zu dem Glas aus-Discriminators receive the voltages achieved by the beam separator, which is in the form of the glass plate in both scanning sections and provides the information with the mirrored central part, wotion to one or more devices for the purpose of determining the main light beam reflected by the mirror, the optimum cutting of the mood Glass in becomes commercially available pane sizes while diverted or diffused light. As there are three glass panels going through the glass plate,
qualities, ie mirror glass, window glass and The slots s-1 and s-2 are made across the glass.

Ausschußglas, muß der Diskriminator die Informa- gerichtet, und die Scheiben D-I und D-2 durchtion hinsichtlich der Fehlerstärke liefern. Daher er- 45 queren die Schlitze s-1 bzw. s-2, wobei nur ein Teil folgt die abgegebene Information in Form von Signa- der Lichtstrahlen hindurchgehen und auf die Röhren len, welche eine Spiegelglaszurückweisungsqualität T-I und T-2 auftreffen kann. Die Verwendung der und eine Gesamtzurückweisungsqualität anzeigen. Schlitze s-1 und s-2 und der Abtastscheiben D-I und Die Anzeige der höchsten Stärke von einem Ab- D-2 verbessert das Signal zu Geräuschverhältnis und schnitt der kombinierten Abtastanordnung bestimmt 50 führt zu einem praktisch verwendbaren System,
die Klassifizierung des betrachteten Glases. Die Vervielfacherröhren oder Photozellen setzenRejected glass, the discriminator must provide the information, and the disks DI and D-2 supply throughtion with regard to the severity of the error. Therefore, the slits cross s-1 and s-2, only part of which follows the information given in the form of signals - the light beams pass through and onto the tubes len, which a mirror glass rejection quality TI and T-2 can impinge. Show the usage of and an overall rejection quality. Slots s-1 and s-2 and the scanning disks DI and The display of the highest strength of a D-2 improves the signal to noise ratio and section of the combined scanning arrangement definitely leads to a practically usable system,
the classification of the considered glass. Set the multiplier tubes or photocells

Zur Herstellung der gewünschten Information er- Licht in nutzbare elektrische Energie um, die dem hält der Diskriminator Vergleichsschaltungen, welche Licht direkt proportional ist, das von der Kombinadie daran von jedem Abschnitt der kombinierten An- tion der Schlitze und Scheiben übertragen wird.
Ordnung zugeführten Signale mit voreingestellten 55 Die elektrische Energie in Form von Signalen mit Spannungen vergleichen, welche die gradbedingten sich abhängig von der Fehlerstärke ändernder Am-Zurückweisungspegel darstellen. Die Aufstellung der plitude und Frequenz werden verstärkt und als posivoreingestellten Spannungen wird auf Grund von tive Signale dem Diskriminator zugeführt, der Signale Pegeln für annehmbare Qualität bestimmt. liefert, die für die Glasqualität kennzeichnend sind.In order to produce the desired information, light is converted into usable electrical energy, which the discriminator keeps comparison circuits, which light is directly proportional to the light transmitted from the combination to it from each section of the combined anion of the slots and discs.
Order-fed signals with preset 55 Compare the electrical energy in the form of signals with voltages, which represent the degree-dependent Am rejection level that changes depending on the severity of the error. The list of the amplitude and frequency are amplified and, as positive preset voltages, are fed to the discriminator based on tive signals, which determines the signal levels for acceptable quality. supplies that are characteristic of the glass quality.

60 Die letztgenannten Signale werden einer oder mehre-Arbeitsfunktion ^ren Vorrichtungen zugeführt, um sie endgültig zur60 The latter signals are supplied to devices ^ren one or several work function in order permanently to

zum Nachweisen von Fehlern des Typs C und D Bestimmung des optimalen Schneidens des Glases zuto detect errors of type C and D, determine the optimal cutting of the glass

verwenden. Eine solche Vorrichtung oder solche Vor-use. Such a device or such

Die Fehler des Typs C gehören, wie zuvor fest- richtungen kann bzw. können Aufzeichnungs- oder gestellt wurde, zu dem Spitzentyp, der in dem Glas 65 Speichermittel enthalten, welche die Information bei vorhanden sein kann, d. h. zum Einschlußtyp gehört, Anforderung einer Rechen- oder Markiervorrichtung oder der an der Oberfläche des Glases auftreten zuführen, die Fehlerbereiche direkt auf dem Glas kann. Fehler des Einschlußtyps sind Steine, Gas- markiert.The errors of the type C belong, as previously fixed, can or can be recording or was placed on the type of tip contained in the glass 65 storage means, which the information at may be present, d. H. belonging to the inclusion type, requirement of a calculating or marking device or that occur on the surface of the glass, the defect areas directly on the glass can. Errors of the inclusion type are stones, gas-marked.

In dem gesamten System sind mehrere Abtastanordnungen quer zu dem Glas angeordnet, von denen jede die Information hinsichtlich der Glasqualität in einem mit Bezug auf die Glaskanten festgelegten Längsbereich liefert. Die Anzahl solcher Anordnungen in dem System hängt von mechanischen Erwägungen und vorzugsweise von solchen Überlegungen ab, die dem verlangten endgültigen Zweck entsprechen, d. h. der Bestimmung des Fehlergrades und der örtlichen Lage in einer Matrix einer gewünschten, gewöhnlich vorbestimmten Größe, die im allgemeinen in einer Beziehung zu den anerkannten Glasschneidverfahren steht.In the entire system several scanning assemblies are arranged across the glass, one of which each the information regarding the glass quality in a fixed manner with respect to the glass edges Longitudinal area supplies. The number of such arrangements in the system depends on mechanical considerations and preferably from such considerations as are consistent with the ultimate purpose required, d. H. the determination of the degree of error and the local position in a matrix of a desired, usually predetermined size, generally related to accepted glass cutting techniques stands.

Zum Kontrollieren eines Glasbandes oder einer Glasplatte von 3,32 m Breite, die sich auf einem Forderband mit einer Geschwindigkeit von 9,14 oder 12,7 cm/Sek. bewegt, was von der Glasdicke abhängt, d. h. 6,35 oder 3,18 mm, wird eine Anzahl Abtasteinheiten verwendet, die quer zu dem Förderband und der Glasbahn angeordnet ist. Es ist eine Abtasteinheit für Fehler des Typs C und D für jede Matrixbreite oder eine Abtastanordnung (nebeneinanderliegende Abtasteinheiten) für jedes Paar Matrixbreiten vorhanden. For checking a glass ribbon or a glass plate of 3.32 m width that is on a conveyor belt at a speed of 9.14 or 12.7 cm / sec. moves, which depends on the thickness of the glass, d. H. 6.35 or 3.18 mm, a number of scanning units are used across the conveyor belt and the glass sheet is arranged. There is a type C and D defect sensing unit for each Matrix width or a scanning arrangement (adjacent scanning units) for each pair of matrix widths.

Für jede Abtasteinheit zum Nachweisen von Fehlern des Typs C ist die Platte P-2 mit einem 0,457 mm breiten und 51,94 mm langen Schlitz versehen, während für jede Abtasteirmeit zum Nachweis von Fehlern des Typs D die Platte P-3 mit einem 0,457 mm breiten und 51,82 mm langen Schlitz versehen ist. Diese Schlitze sind radial von den Achsen der Abtastscheiben D-I und D-2 angeordnet und so ausgerichtet, daß ihre Länge senkrecht zu der Glasfließrichtung verläuft. Die fixierten Schlitze s-1 und s-2 arbeiten mit jeder Abtastscheibe D-I und D-2 derart zusammen, daß eine einzige Scheibe mit zwei Schlitzen zusammenarbeiten kann. Jeder feststehende Schlitz 5-1 oder s-2 ist von einer Abtastscheibe um angenähert 0,178 mm getrennt, und die Scheiben D-I und D-2 rotieren jeweils mit angenähert 8600 Umdr./ Min. Die transparenten bogenförmigen Teile jeder Abtastscheibe sind kongruente Abschnitte einer logarithmischen Spirale, und es sind vier solcher Teile vorhanden, die in Abständen von 90° auf jeder Scheibe angeordnet sind. Die Grundgleichung für die logarithmische Spirale ist:For each scanning unit for detecting type C errors, plate P-2 is provided with a 0.457 mm wide and 51.94 mm long slot, while for each scanning unit for detecting type D errors, plate P-3 is provided with a 0.457 mm wide and 51.82 mm long slot. These slots are located radially from the axes of the scanning disks DI and D-2 and are oriented so that their length is perpendicular to the direction of glass flow. The fixed slots s-1 and s-2 cooperate with each scanning disc DI and D-2 so that a single disc with two slots can cooperate. Each fixed slot 5-1 or s-2 is separated by a scanning disc by approximately 0.178 mm, and discs DI and D-2 each rotate at approximately 8600 rpm. The transparent arcuate portions of each scanning disc are congruent sections of a logarithmic spiral , and there are four such pieces spaced 90 degrees apart on each disk. The basic equation for the logarithmic spiral is:

P = Ke™, P = Ke ™,

a = 0,71662, a = 0.71662,

K - 0,9806, K - 0.9806,

e = 2,7183, e = 2.7183,

e ist in Winkelgrad ausgedrückt.e is expressed in degrees.

Die transparenten Spiralteile jeder Scheibe sind mit Bezug auf die feststehenden Schlitze so angeordnet, daß die sich ergebende Öffnung im wesentlichen konstante Flächengröße unabhängig von ihrer radialen Verschiebung gegen die Rotationsachse jeder Scheibe hat.The transparent spiral parts of each disc are arranged with respect to the fixed slots so that that the resulting opening is substantially constant area size regardless of its radial Has displacement against the axis of rotation of each disc.

Wie zuvor erwähnt wurde, kann jede der in der bevorzugten Ausführungsform kombinierten Abtastvorrichtungen als getrennte Einheit ausgebildet werden. Für die Vorrichtung, die zum Bestimmen der örtlichen Lage und Stärke von Fehlern lediglich des Typs C dient, würde kein Lichtstrahlseparator wegen der vernachlässigbaren Wirkung verwendet werden, die zerstreute Lichtstrahlen auf das System haben. Für die Vorrichtung zum Bestimmen der örtlichenAs previously mentioned, any of the scanning devices combined in the preferred embodiment be designed as a separate unit. For the device used to determine the The location and magnitude of errors of type C is only used, there would be no light beam separator because of the negligible effect that scattered light rays have on the system. For the device for determining the local

Lage und der Stärke von Fehlern des Typs D würde der Spiegel durch eine Lichtfalle ersetzt werden, um auf diese Weise den Hauptlichtstrahl auszuschalten. Wie in den Patentanmeldungen P 25958IX a/42 h und Trennakte II dazu vorgeschlagen ist, werden die Vorrichtungen für die Fehler des Typs A und B gewöhnlich auf den gleichen Brücken .B angeordnet. Die Brücken B und B¹, welche die Vorrichtungen zum Nachweis von Fehlern des Typs A und B bzw. des Typs C und D tragen, sind gewöhnlich in Längsrichtung des Förderbandes C an der Kontrollstelle abwechselnd angeordnet.Depending on the location and strength of type D defects, the mirror would be replaced by a light trap in order to switch off the main light beam in this way. As proposed in patent applications P 25958IX a / 42 h and separating file II, the devices for errors of type A and B are usually arranged on the same bridges .B. The bridges B and B ¹ , which carry the devices for detecting defects of type A and B or types C and D, are usually arranged alternately in the longitudinal direction of the conveyor belt C at the control point.

Die Erfindung ist unter besonderer Bezugnahme auf die Prüfung von geschliffenem und poliertem Flach- oder Tafelglas zwecks Bestimmung der örtlichen Lage und der Stärke der verschiedenen aufgezählten Fehler beschrieben, worden. Die Erfindung kann jedoch zur örtlichen Auffindung von Fehlern gleicher Art, d. h. Größe, Verteilung, optische Eigenschaften usw., verwendet werden, welche die Qualität anderer Stoffe, z. B. Scheiben- oder Fensterglas, Kunststoffe oder andere Materialien verschiedener Gestalt und Ausführungsform, beeinträchtigen können.The invention is with particular reference to the testing of ground and polished Flat or sheet glass to determine the location and thickness of the different ones listed Error has been described. However, the invention can be used to locate errors locally of the same kind, d. H. Size, distribution, optical properties, etc., are used which determine the quality other substances, e.g. B. pane or window glass, plastics or other materials of different Shape and embodiment, can affect.

Claims

Patent claims:

1. Use of a method known per se, in which the image of an object projected into a predetermined image plane, the image in this image plane point-like line by line scanned and an electrical pulse depending on the image brightness of the scanning point is generated, for testing sheet glass, especially ground and polished sheet glass, for defects that absorb a significant portion of the light transmitted or extremely result in short focal lengths and / or strongly scatter the light, characterized in that that light is thrown onto a predetermined area of the glass surface and that off the light exiting the glass is projected to the image in the image plane and that of the light intensity corresponding sampling pulse is compared with a setpoint pulse.

2. Apparatus for applying the method according to claim 1 with a lens arrangement for projecting the image of the object in an image plane and a scanning device, preferably a known Nipkow disk, for point-by-point and line-by-line scanning of the image in the image plane and with a photoelectric device in order to convert the incoming light into an electrical impulse as a function of the intensity, characterized by the combination of features known per se, which consists in the fact that a device for guiding the sheet glass to be tested (G) in the image field of the lens set (L-3) and a light source (S) arranged on the side of the sheet glass opposite the lens set for generating a light beam directed onto the surface of the sheet glass to be inspected and that between the lens set (L-3) and the scanning device (DI, D-2) Bundle separator (BS) for separating scattered rays

and main light rays and for generating a desired value signal suitable for comparing the scanning signal is arranged.

3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that errors of the second mentioned Kinds that appear as light spots on the rasterized focal plane by fading out of the main rays of light are made clear, so that the gridded focal plane is a dark field having.

4. The method according to claim 2 or 3 for the optional determination of both types of errors, characterized in that when fading out the main light rays along an optical Axis different from the optical axis from which the surface defects arise resulting light rays are deflected, so that a separate image corresponding to each type of errors is projected and these separate images are rasterized independently of each other, so

5. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that successive Sections of the glass panel are tested simultaneously in the same way and separately, the grid pattern running linearly over the corresponding sections of the glass.

6. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the on the light projected from the glass panel is essentially collimated.

7. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the Glass sheet is advanced along a path in one direction and that the main grid paths check the glass at right angles to its direction of advance.

8. Apparatus for detecting defects in sheet glass, in particular cut and polished sheet glass, which are such that they absorb a substantial part of the incident light or have an extremely short focal length and / or are of a type which strongly scatters the light, wherein the device comprises a light source for emitting a light beam and a device which holds the glass in this light beam in such a way that the surface of the glass intersects the light beam, characterized by an objective lens (L-3) for displaying an image of the glass cut by the light beam in a predetermined focal plane, a raster device (DI, D-2) which lies in the plane of the image represented by the lens and only allows the scanning of successive sections of the rastered image by means of an associated photosensitive element (T) , and by a Arrangement for comparison of the through the photosensitive element (T) emitted pulses with a pulse of a predetermined height to detect sudden deviations in the light intensity as a function of the errors mentioned.

9. The device according to claim 8, characterized by a bundle separator (BS) between the objective lens (L-3) and the raster device (DI, DZ) for separating the main light rays from any scattered rays of light.

10. The device according to claim 9, characterized in that the bundle separator (BS) deflects the optical axes of the main light rays in a direction deviating from the optical axes of the scattered light rays and separate grid arrangements (DI; D-2) and light-sensitive elements (Γ-1 ; Γ-2) are provided for the corresponding figures.

11. Apparatus according to claim 10, characterized in that the bundle separator (BS) includes a transparent member (516) having a reflective portion (518), the transparent member (516) being arranged to allow the passage of scattered ones Allows rays of light and the reflective portion is arranged so that it reflects the basic rays of light.

12. Device according to one of claims 8 to 11, characterized in that the grid device (DI, D-2) includes a fixed slot (SI, 5-2) and a rotatable disc (630) which has an elongated opening (634) which traverses the slot such that a successive linear grid pattern is formed over a portion of the glass sheet.

13. Device according to one of claims 8 to 12, characterized by a conveyor (C) for advancing the glass sheet and a scanning device (E) through which the light source (S), the raster devices (DI, D-2) and the photosensitive element (T) is moved transversely to the conveying direction as a function of changes in the transverse position of the glass and thereby ensures continuous raster scanning of a predetermined longitudinal section of the glass sheet.

14. Device according to one of claims 8 to 13, characterized in that a number of groups of light sources (S) and photosensitive elements (T) and raster devices (DI, D-2) are arranged on a bridge (B ') which transversely to the path of advance of the glass, each of these groups being arranged to detect the presence of defects in a predetermined length of the glass sheet.

1 sheet of drawings