DE1208010B - Flat semiconductor rectifier - Google Patents

Flat semiconductor rectifier

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DE1208010B
DE1208010B DES46417A DES0046417A DE1208010B DE 1208010 B DE1208010 B DE 1208010B DE S46417 A DES46417 A DE S46417A DE S0046417 A DES0046417 A DE S0046417A DE 1208010 B DE1208010 B DE 1208010B
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semiconductor rectifier
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rectifier
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DES46417A
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Dr Phil Eberhard Spenke
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Siemens AG
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Siemens AG
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Description

Flächenhafter Halbleitergleichrichter Bekannt sind flächenhafte Halbleitergleichrichter mit einem einkristallinen Halbleiterkörper, der zwei unterschiedlich dotierte Zonen aufweist. Von dieser Art sind unter anderem die als pn-Gleichrichter bezeichneten Gleichrichter, welche aus einem Germanium- oder Silizium-Einkristall bestehen, der eine hochdotierte überschußleitende und eine hochdotierte mangelleitende Zone hat. Die beiden Zonen grenzen unmittelbar aneinander. Die Grenze zwischen beiden ist der pn-Übergang, welcher Gleichrichtereigenschaften hat. Jede der hochdotierten Zonen ist an einer von dem pn-Übergang entfernten Stelle sperrfrei kontaktiert und mit metallenen Leitungsanschlüssen versehen. Es sind auch pin- und psn-Gleichrichter be- kannt. Bei ihnen befindet sich zwischen den beiden hochdotierten Zonen noch eine eigenleitende bzw. schwachdotierte Zone. Bei der Entwicklung und Vervollkommnung der bekannten pn-, pin- und psn-Gleichrichter war bisher stets das Bestreben vorherrschend, neben guten Durchlaßeigenschaften auch eine möglichst hohe zulässige Sperrspannung zu erzielen, bei welcher der in Sperrichtung fließende Rückstrom noch einen verschwindend kleinen Wert hat. Demgegenüber beruht die vorliegende Erfindung auf der Erkenntnis, daß sich bei geringen Anforderungen an die Sperrfähigkeit durch Weglassung einer der beiden hochdotierten Zonen von einander entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp ein Gleichrichter mit verbesserten Durchlaßeigenschaften erzielen läßt.Flat semiconductor rectifier Flat semiconductor rectifiers with a monocrystalline semiconductor body which has two differently doped zones are known. Of this type are, inter alia, the rectifiers referred to as pn rectifiers, which consist of a germanium or silicon single crystal which has a highly doped excess-conductive zone and a highly doped manganese-conductive zone. The two zones are directly adjacent to one another. The boundary between the two is the pn junction, which has rectifier properties. Each of the highly doped zones is contacted without blocking at a point remote from the pn junction and is provided with metal line connections. There are also pin- and psn rectifiers known. They have an intrinsic or weakly doped zone between the two highly doped zones. In the development and improvement of the known pn, pin and psn rectifiers, efforts have so far always been predominant to achieve, in addition to good transmission properties, the highest possible permissible reverse voltage at which the reverse current flowing in the reverse direction still has a negligibly small value. In contrast, the present invention is based on the knowledge that with low requirements on the blocking capability, by omitting one of the two highly doped zones of opposite conductivity type, a rectifier with improved transmission properties can be achieved.

Demzufolge bezieht sich die Erfindung auf einen flächenhaften Halbleitergleichrichter. Dieser ist erfindungsgemäß derart ausgebildet, daß die erste Zone des einkristallinen Halbleiterkörpers eigenleitend oder schwach dotiert und die zweite Zone höher dotiert ist und daß auf der aufgerauhten Oberfläche der ersten Zone und auf der zweiten Zone je eine Metallkontaktelektrode aufgebracht ist. Dieser Gleichrichter, der als »pi-Metall-Gleichrichter« bzw. »ni-Metall-Gleichrichtere bezeichnet werden kann, hat allerdings eine geringere zulässige Sperrspannung als die obenerwähnten bekannten Gleichrichter; seine Kennlinien dürften nämlich bei größeren Sperrspannungen, schon vor dem Einsetzen von Gitter-lonisations- oder Zener-Effekten einen ohmschen Charakter annehmen, aber diese Eigenschaft wirkt sich praktisch nicht nachteilig aus, wenn die Betriebsspannung, für welche der Gleichrichter verwendet werden soll, ohnehin gering ist. Beispielsweise sind die Ladung von Autobatterien für 12 bzw. 24 V oder die Speisung von Galvanikbädern od. dgl. Anwendungsfälle, bei denen die höheren Sperrspannungen, welche bei den bekannten Germanium- oder gar bei Silizium-Flächengleichrichtern zulässig sind, gar nicht ausgenutzt werden können. In solchen Fällen können die erfindungsgemäßen Gleichrichter eingesetzt werden. Sie weisen gegenüber den bekannten den Vorteil einer wesentlich größeren Sättigungsstromdichte in Durchlaßrichtung auf. Infolgedessen ist für einen bestimmten Betriebsstrom, dessen absolute Größe bei den an sich sehr hohen Werten der zulässigen Stromdichte einkristalliner Flächengleichrichter im wesentlichen nur noch durch den wirtschaftlich tragbaren Aufwand für die Wärmeabfuhr begrenzt ist, bei Verwendung eines flächenhaften Halbleitergleichrichters der neuen Art ein weit geringerer Querschnitt erforderlich als bei den bekannten Gleichrichtern. Daraus ergibt sich eine erhebliche Ersparnis an Halbleitermaterial, das bekanntlich in aufbereitetem Zustand infolge der außerordentlich hohen Ansprüche, die an den Reinheitsgrad gestellt werden, sehr kostspielig ist In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung schematisch dargestellt. Es besteht aus einem Plättchen 2 aus eigenleitendem Germanium, auf dessen einer Seite ein Dotierungsmetall 3, z. B. Indium oder indiumhaltiges Gold für p-Dotierung bzw. Antimon oder antimonhaltiges Gold für n-Dotierung, einlegiert ist, so daß sich beim Erkalten vor dem Metall 3 im Germaniumkörper 2 ein hochdotierter Bereich 2 a gebildet hat. Auf der gegenüberliegenden Seite wird das Plättchen 2 zunächst abgeschliffen, damit die eigenleitende Schicht so dünn wie möglich und damit der Bahnwiderstand so gering wic möglich wird. Es empfiehlt sich, die Dicke der eigenleitenden Schicht mindestens eine Größenordnung kleiner zu machen als die mittlere Diffusionslänge in ihr. Die Oberfläche der abgeschliffenen Seite wird zunächst aufgerauht, z. B. durch Sandstrahlen. Dann wird ein Kontaktmetall 4 aufgebracht, z. B. aufgedampft oder elektrolytisch niedergeschlagen. Dazu können an sich behebige Metalle ohne Rücksicht auf etwaige Dotierungseigenschaften verwendet werden, wenn dafür gesorgt wird, daß eine Legierungsbildung oder Eindiffusion nicht stattfinden kann, sondern sich Metallteilchen nur in die gittergestörte Randzone einlagern. Diese Vorsieht ist nicht erforderlich bei Verwendung neutraler Kontaktmetalle, wie beispielsweise Gold, Nickel, Kupfer. Die i-Metallrandschicht weist wegen der starken Störungen ihrer Gitterstruktur eine sehr hohe Rekombination der Ladungsträger auf. Infolgedessen wird sie im Betrieb nur wenig mit Ladungsträgern angereichert, im Grenzfall hat sie die Konzentration ni der eigenleitenden Zone. An die Metallelektrode 3 und4 können die Anschlußteile angelötet werden, von denen mindestens der eine vorteilhaft als Kühlkörper ausgebildet werden kann.Accordingly, the invention relates to a planar semiconductor rectifier. This is formed according to the invention such that the first zone of the monocrystalline semiconductor body doped intrinsic or weak and the second zone is doped higher and that is applied to the roughened surface of the first zone and the second zone each have a metal contact electrode. This rectifier, which can be referred to as “pi-metal rectifier” or “ni-metal rectifier”, however, has a lower permissible reverse voltage than the above-mentioned known rectifier; Its characteristics should in fact assume an ohmic character at higher reverse voltages, even before the onset of grid ionization or Zener effects, but this property has practically no disadvantageous effect if the operating voltage for which the rectifier is to be used is low anyway is. For example, the charging of car batteries for 12 or 24 V or the supply of electroplating baths or the like are applications in which the higher blocking voltages, which are permissible with the known germanium or even silicon surface rectifiers, cannot be used at all. The rectifiers according to the invention can be used in such cases. Compared to the known ones, they have the advantage of a significantly greater saturation current density in the forward direction. As a result, for a certain operating current, the absolute size of which, given the very high values of the permissible current density of monocrystalline surface rectifiers, is essentially only limited by the economically viable cost of heat dissipation, a much smaller cross-section is required when using a planar semiconductor rectifier of the new type than with the known rectifiers. This results in a considerable saving of semiconductor material, which is known to be very expensive in the processed state due to the extraordinarily high demands placed on the degree of purity. An exemplary embodiment of the invention is shown schematically in the drawing. It consists of a plate 2 made of intrinsic germanium, on one side of which a doping metal 3, e.g. As indium or indium-gold f or p-doping or antimony or antimony-containing gold for n-type doping, is alloyed so that has formed on cooling of metal 3 in the germanium body 2 a highly doped region 2a. On the opposite side, the small plate 2 is first ground off so that the intrinsically conductive layer is as thin as possible and thus the sheet resistance is as low as possible. It is advisable to make the thickness of the intrinsic layer at least one order of magnitude smaller than the mean diffusion length in it. The surface of the abraded side is first roughened, e.g. B. by sandblasting. Then a contact metal 4 is applied, e.g. B. vapor-deposited or deposited electrolytically. For this purpose, metals which do not matter per se can be used without regard to any doping properties, if it is ensured that an alloy formation or diffusion cannot take place, but rather metal particles are only embedded in the lattice-disturbed edge zone. This provision is not necessary when using neutral contact metals such as gold, nickel, copper. The i-metal edge layer shows a very high level of recombination of charge carriers because of the strong disturbances in its lattice structure. As a result, it is only slightly enriched with charge carriers during operation; in the borderline case it has the concentration ni of the intrinsic zone. The connection parts, of which at least one can advantageously be designed as a heat sink, can be soldered to the metal electrodes 3 and 4.

Die Anwendung der Erfindung ist nicht auf das dargestellte und beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt. Statt Germanium kann beispielsweise auch Silizium oder eine Am Bv-Verbindung verwendet werden.The application of the invention is not limited to the illustrated and described exemplary embodiment. Instead of germanium, silicon or an Am Bv compound can also be used, for example.

Claims (2)

Patentansprüche: 1. Flächenhafter Halbleitergleichrichter, d adurch gekennzeichnet, daß die erste Zone des einkristallinen Halbleiterkörpers eigenleitend oder schwachdotiert und die zweite Zone höher dotiert ist und daß auf der aufgerauhten Oberfläche der ersten Zone und auf der zweiten Zone je eine Metallkontaktelektrode aufgebracht ist. Claims: 1. A laminar semiconductor rectifier, d ABy in that the first zone of the single crystal semiconductor body or lightly doped intrinsic and the second zone is doped higher and that a respective metal contact electrode is deposited on the roughened surface of the first zone and the second zone. 2. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der eigenleitenden oder schwachdotierten Zone kleiner als die mittlere Diffusionslänge der Ladungsträger in dieser Zone ist. 3. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der eigenleitenden oder schwachdotierten Zone mindestens eine Größenordnung kleiner als die mittlere Diffasionslänge der Ladungsträger in dieser Zone ist. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentanmeldung 14677 VIII c/21 g, (bekanntgemacht am 29. 5. 1952); schweizerische Patentschrift Nr. 305 544; USA.-Patentschrift Nr. 2 623 105; belgische Patentschriften Nr. 524 899, 537 839; ATM, Z 52-1, Lieferung 207, April 1953, S. 87 und 88; Proc. IRE, Bd. 40, 1952, Nr. 11, S. 1512 bis 1518. 2. Semiconductor rectifier according to claim 1, characterized in that the thickness of the intrinsically conductive or weakly doped zone is smaller than the mean diffusion length of the charge carriers in this zone. 3. Semiconductor rectifier according to claim 2, characterized in that the thickness of the intrinsically conductive or weakly doped zone is at least one order of magnitude smaller than the mean diffusion length of the charge carriers in this zone. Considered publications: German patent application 1 4677 VIII c / 21 g, (published May 29, 1952); Swiss Patent No. 305 544; U.S. Patent No. 2,623,105 ; Belgian Patent Nos. 524 899, 537 839; ATM, Z 52-1, Delivery 207, April 1953, pp. 87 and 88; Proc. IRE, Vol. 40, 1952, No. 11, pp. 1512-1518 .
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE537839A (en) * 1956-01-23
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CH305544A (en) * 1948-10-01 1955-02-28 Licentia Gmbh Electrically asymmetrically conductive system, especially dry rectifier.

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