DE1198075B

DE1198075B - Sliding micrometer

Info

Publication number: DE1198075B
Application number: DEI16608A
Authority: DE
Inventors: Dr Ernst Jaeger
Original assignee: ERNST JAEGER DR
Current assignee: ERNST JAEGER DR
Priority date: 1959-06-22
Filing date: 1959-06-22
Publication date: 1965-08-05

Description

Schiebemikrometer Zusatz zum Patent: 1 156 988 Gegenstand des Hauptpatentes 1 156988 ist ein Schiebemikrometer für Längenmaße, dessen relativ verschiebbar aneinander geführten Teile aus einem Führungsteil und einem Schiebeteil bestehen, je eine Hälfte eines Meßschnabels tragen, mit einer Skala für die Ablesung der ganzzahligen Meßeinheiten (z. B. ganze Millimeter) und mit einer Skala für die Ablesung der nächstkleineren Meßeinheiten (z. B.Sliding micrometer Addition to the patent: 1,156,988 Subject of the main patent 1 156988 is a sliding micrometer for length measurements, whose relatively slidable to each other guided parts consist of a guide part and a sliding part, one half each carry a measuring beak, with a scale for reading off the integer units of measurement (e.g. whole millimeters) and with a scale for reading the next smallest Units of measurement (e.g.

Zehntelmillimeter) versehen sind und beide quer zur Verschieberichtung verlaufende Markierungslinien aufweisen, die bei dem Führungsteil sämtlich senkrecht zur Verschieberichtung verlaufen und paarweise in gleichen Abständen voneinander liegen, während bei dem Schiebeteil zu dieser senkrechten Richtung geneigt verlaufende Markierungslinien vorgesehen sind, die paarweise die seitlichen Begrenzungskanten von in der Verschieberichtung in gleichen Abständen aufeinanderfolgenden - »Fenster« genannten -Markierungsfiguren bilden, deren Abstände den Abständen der senkrechten Markierungslinien nach dem Transversalnoniusprinzip zugeordnet sind, wobei die beiden geradlinigen Begrenzungskanten jedes der einzelnen Fenster des Schiebeteils in bezug auf eine auf der Verschieberichtung senkrecht stehende Symmetrielinie zueinander geneigt sind und der Abstand jedes Paares von aufeinanderfolgenden senkrechten Markierungslinien des Führungsteiles - gemessen auf einer zur Verschieberichtung parallelen, durch den mittleren Bereich der Fenster hindurchgehenden Bezugslinie - dem Abstand der geneigten seitlichen Begrenzungskanten jedes der Fenster voneinander gleich ist, so daß die letzteren mit den senkrechten Markierungslinien nach Maßgabe des gemessenen Längenmaßes unter Bildung von Schnittlinien korrespondieren, deren relative Lage in zwei benachbarten Fenstern in Verbindung mit den senkrecht zur Bezugslinie gegebenen relativen Abständen der Schnittstellen ein Maß für die kleinsten Meßeinheiten bilden.Tenths of a millimeter) and both at right angles to the direction of movement have running marking lines, all of which are perpendicular to the guide part to the direction of displacement and in pairs at equal distances from each other while the sliding part is inclined to this perpendicular direction Marking lines are provided, the pairs of the lateral boundary edges of "windows" which follow one another at equal intervals in the direction of displacement - Form marking figures, the distances of which correspond to the distances of the vertical Marking lines are assigned according to the Transversalnoniusprinzip, the two straight boundary edges of each of the individual windows of the sliding part with respect to on a line of symmetry that is perpendicular to the direction of displacement are inclined and the spacing of each pair of successive vertical marking lines of the guide part - measured on a parallel to the direction of displacement, through the reference line passing through the central area of the window - the distance between the inclined lateral boundary edges of each of the windows is equal to one another, so that the latter with the vertical marking lines according to the measured Correspond to the length dimension with the formation of cutting lines, their relative position in two adjacent windows in conjunction with those given perpendicular to the reference line relative distances between the interfaces form a measure for the smallest units of measurement.

Bei dieser Anordnung entstehen an den Schnittstellen der seitlichen Begrenzungskanten der »Fenster« des oberen Schiebeteils und den balkenförmigen Markierungen des unteren Führungsteils des Mikrometers dreieckförmige Schnittfiguren, wobei jeweils die Spitzen dreier benachbarter Dreiecke auf einem charakteristischen Linienzug liegen. Die Ablesestelle ist hierbei dadurch definiert, daß zwei dieser Dreiecke einem »Doppelablesefenster« zugeordnet sind und ihre Spitzen im gleichen Abstand von der Bezugslinie des Fensters liegen. Da jedoch auch in anderen Fenstern dreieckförmige Schnittfiguren sichtbar werden, ist die Auffindung des markanten »Doppel- ablesefensters« oftmals schwierig, zumal sich die geneigt verlaufenden seitlichen Begrenzungskanten und die senkrechten Begrenzungskanten unter einem sehr spitzen Winkel schneiden. With this arrangement arise at the interfaces of the lateral Boundary edges of the "window" of the upper sliding part and the bar-shaped markings of the lower guide part of the micrometer triangular sectional figures, each the tips of three neighboring triangles on a characteristic line lie. The reading point is defined by the fact that two of these triangles are assigned to a "double reading window" and their tips are equally spaced from the reference line of the window. However, there are also triangular-shaped windows in other windows Cut figures become visible, is the finding of the distinctive »double reading window « often difficult, especially since the inclined lateral boundary edges and cut the vertical delimiting edges at a very acute angle.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die Ablesegenauigkeit des Schiebemikrometers des Hauptpatentes zu verbessern, so daß eine bessere Übersicht über das gesamte Ablesefeld möglich ist und das Aufsuchen der genauen Ablesestelle erleichtert ist. The invention is therefore based on the object of reading accuracy to improve the sliding micrometer of the main patent, so that a better overview is possible over the entire reading field and looking for the exact reading point is relieved.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß mindestens die seitlichen Begrenzungskanten der Fenster des oberen Schiebeteils des Mikrometers als schlitzförmige, durchsichtige Markierungslinie geringer Breite in einem sonst undurchsichtigen Material ausgebildet sind und mit den seitlichen Begrenzungslinien der darunterliegenden Markierungen des Führungsteils des Mikrometers in Draufsicht sichtbare rautenformige Schnittfiguren bilden, daß die oberen und unteren Fenster des Schiebeteils als spiegelbildlich zu einer gemeinsamen Basislinie und mit ihrer Basis aneinander angrenzende Trapeze ausgebildet sind, und daß eine Gruppe der seitlichen Begrenzungslinien eine solche gegen eine Symmetrielinie geneigte Anordnung aufweisen, daß die bei Änderung des Meßwertes um eine Einheit der kleinsten Meßgröße sich ergebenden benachbarten rautenförmigen Schnittfiguren um die Hälfte ihrer Höhe gegeneinander versetzt sind. This object is achieved according to the invention in that at least the lateral edges of the windows of the upper sliding part of the micrometer as a slit-shaped, transparent marking line of small width in an otherwise Opaque material are formed and with the lateral boundary lines of the underlying markings of the guide part of the micrometer in plan view visible diamond-shaped sectional figures that form the upper and lower windows of the sliding part as a mirror image of a common base line and with their Base adjacent trapezoids are formed, and that a group of the lateral Boundary lines have such an arrangement inclined towards a line of symmetry, that the result of changing the measured value by one unit of the smallest measured variable adjacent diamond-shaped sectional figures by half their height against each other are offset.

Durch die erfindungsgemäßen Maßnahmen entstehen an der Stelle, an der nach dem Hauptpatent die die Spitzen von Dreiecken bildenden Schnittstellen zwischen den senkrechten und den geneigten Markierungslinien liegen, nunmehr flächige Schnittfiguren in Form von kleinen Rauten, deren Mittelpunkte genau auf diesen Dreieckspitzen liegen. Auf diese Weise werden die bei flachem Schnittwinkel nicht genau definierten Schnittstellen selbst zu gut sichtbaren, flächigen Figuren, wodurch ein wesentlich leichteres Bestimmen der genauen Lage dieser Schnittstellen möglich ist. Die charakteristischen Linienzüge für die Mikrometerablesung ergeben sich dann als die Verbindung der Mittelpunkte der rautenförmigen Schnittfiguren. The measures according to the invention arise at the point according to the main patent, the intersections forming the tips of triangles lie between the vertical and the inclined marking lines, now flat Sectional figures in the form of small diamonds, their centers precisely lie on these triangle points. This way, the shallow cutting angle not precisely defined interfaces even to clearly visible, flat figures, which makes it much easier to determine the exact location of these interfaces is possible. The characteristic lines for the micrometer reading result then turns out to be the connection of the centers of the diamond-shaped sectional figures.

Durch die spiegelbildlich zu einer gemeinsamen Basislinie angeordneten oberen und unteren Fenster des Schiebeteils erscheinen auch die Schnittstellen beider Gruppen von Markierungslinien als zu der Basislinie der Fenster symmetrisch angeordnete Figuren. Die Wahl der Neigung der Markierungslinien bei vorgegebener Breite der Markierungslinien bzw. By being arranged in mirror image to a common baseline The interfaces of both also appear in the upper and lower windows of the sliding part Groups of marker lines as symmetrical to the baseline of the windows Characters. The choice of the inclination of the marking lines with a given width of the Marking lines or

Schlitze bestimmt das Maß der Relativverschiebung der Schnittfiguren zueinander beim Verschieben der Meßschnabelhälften des Mikrometers von einer Ziffer der kleinsten Meßeinheit zur nächsten.Slots determines the amount of relative displacement of the sectional figures to each other when moving the measuring jaw halves of the micrometer from a digit the smallest measuring unit to the next.

Sind beide Gruppen von Markierungslinien, also sowohl die geneigten als auch die senkrechten Markierungslinien, in Form von schlitzförmigen Durchbrechungen ausgebildet, so werden die Schnittstellen als durchscheinende oder durchsichtige rautenförmige Schnittfiguren sichtbar, so daß die Ablesung auch bei ungünstigen Lichtverhältnissen leicht möglich ist. Die Breite der Markierungslinien wählt man dabei zweckmäßig zu etw Vso mm, um noch eine gute Sichtbarkeit der Schnittstellen zu gewährleisten. Are both groups of marking lines, so both the inclined ones as well as the vertical marking lines in the form of slot-shaped openings formed, the interfaces are as translucent or transparent Diamond-shaped sectional figures visible, so that the reading even with unfavorable Light conditions is easily possible. You choose the width of the marking lines practical to about Vso mm, in order to still have good visibility of the interfaces to ensure.

Zweckmäßig besitzt die gemeinsame Basislinie der oberen und unteren Fenster des Schiebeteils des Mikrometers von jeder Bezugslinie der Fenster einen Abstand, der gleich der Hälfte der Höhe einer Schnittflgur ist, und die Höhe jedes der »Fenster« ist gleich dem Viereinhalbfachen der Höhe der Schnittfiguren. Durch diese Maßnahmen wird erreicht, daß die rautenförmigen Schnittfiguren höchstens in drei in Verschieberichtung benachbarten schlitzförmigen Markierungslinien, die die Ablesestelle für eine Meßeinheit definieren, sichtbar sind. Appropriately, the common baseline has the upper and lower Window of the sliding part of the micrometer from each reference line of the windows one Distance equal to half the height of a cut floor and the height of each the "window" is four and a half times the height of the sectional figures. By this measure is achieved that the diamond-shaped sectional figures at most in three slot-shaped marking lines adjacent in the direction of displacement, which the Define the reading point for a unit of measurement, are visible.

Die Erfindung ist in der Zeichnung an Hand eines Ausführungsbeispiels veranschaulicht; es zeigt Fig. 1 einen Ausschnitt aus dem Ablesefeld mit drei Paaren von senkrechten Markierungslinien und zugeordneten »Fenstern«, Fig. 2 a, 2 b, 2 c eine Anordnung von Schnittfiguren, wie sie sich für drei aufeinanderfolgende Ziffern der kleinsten Meßgröße ergeben, F i g. 3 eine bevorzugte Ausführungsform der Ablesefelder, und F i g. 4 eine durch die Markierungslinien A und B gebildete Schnittfigur in vergrößertem Maßstab. The invention is shown in the drawing using an exemplary embodiment illustrates; 1 shows a section of the reading field with three pairs of vertical marking lines and associated "windows", FIGS. 2 a, 2 b, 2 c an arrangement of sectional figures, as they are for three consecutive digits of the smallest measured variable, F i g. 3 a preferred embodiment of the reading fields, and F i g. 4 shows a sectional figure formed by the marking lines A and B in FIG enlarged scale.

F i g. 1 zeigt schematisch einen Ausschnitt aus dem Ablesefeld mit einem sogenannten Doppelablesefenster in der Mitte und drei Paare von senkrechten Markierungslinien A. Diese Markierungslinien A entsprechen den Begrenzungslinien der balkenförmigen Markierungen f bzw. ft des Führungsteils a des Hauptpatentes und weisen eine geringe Dicke von etwa 1/50 mm auf. Gegeneinander verlaufende Markierungslinien sind paarweise (B, B') gegen eine Symmetrielinie e geneigt angeordnet, die senkrecht zur Verschieberichtung verläuft. F i g. 1 shows schematically a section from the reading field a so-called double reading window in the middle and three pairs of verticals Marking lines A. These marking lines A correspond to the boundary lines the bar-shaped markings f and ft of the guide part a of the main patent and have a small thickness of about 1/50 mm. Marking lines running against each other are arranged in pairs (B, B ') inclined towards a line of symmetry e, which is perpendicular to the direction of displacement.

Die gegeneinander geneigt verlaufenden Markierungslinien B, B' weisen ebenfalls eine geringe Dicke von lilo mm Dicke auf und liegen auf den Begrenzungskanten o, o' der sogenannten »Fenster« d, d' nach dem Hauptpatent. Die Mittellinien der senkrechten Markierungslinien A jedes Balkens des Führungsteils sind mit m bezeichnet. Die trapezförmig ausgebildeten »Fenster« des Schiebeteils liegen mit ihrer Basis p auf einer gemeinsamen Basislinie x'-x', wobei erfindungsgemäß die Fenster nunmehr so ausgebildet sind, daß symmetrisch zu dieser Basislinie x'-x' sich jeweils zwei Fenster gegenüberliegen (Doppelablesefenster). Diese so gebildete zweite Fensterreihe ist mit d" bezeichnet und weist äußere Begrenzungskanten q auf. Die geneigt verlaufenden MarkierungslinienB und B' der »Fenster« zeigen so paarweise im ganzen einen winkelartigen Verlauf und sind als schlitzförmige Durchbrechungen von etwa los mm Stärke ausgebildet, durch die hindurch die Oberfläche des darunterliegenden Führungsteils teilweise sichtbar ist. The marking lines B, B ', which are inclined towards one another, point also have a small thickness of lilo mm and lie on the boundary edges o, o 'the so-called "window" d, d' according to the main patent. The center lines of the vertical marking lines A of each bar of the guide part are denoted by m. The trapezoidal "windows" of the sliding part lie with their base p on a common baseline x'-x ', according to the invention the windows now are designed so that symmetrically to this base line x'-x 'there are two Opposite windows (double reading window). This second row of windows thus formed is denoted by d "and has outer boundary edges q. The inclined Marking lines B and B 'of the "windows" show in pairs on the whole an angled one Course and are designed as slot-shaped openings of about loose mm thickness, partially through the surface of the underlying guide part is visible.

Da auch die senkrecht verlaufenden Markierungslinien A der balkenförmigen Markierungen des Führungsteils als Striche oder Durchbrechungen endlicher Breite (etwa i/so mm) ausgebildet sind, werden beim Übereinanderlegen des Schiebeteils und Führungsteils die senkrechten Markierungslinien A durch die darüberliegenden Markierungslinien B, B' hindurch stellenweise sichtbar, und zwar als rautenförmige Schnittfiguren R2 und R3 (weit schraffiert). Die Mittelpunkte dieser rautenförmigen Schnittfiguren liegen genau auf den Spitzen Z der beim Hauptpatent sichtbaren Dreiecke 1, 1' (eng schraffiert), wobei diese Spitzen die Höhenlage der Bezugslinien x-x definiert. Since also the vertical marking lines A of the bar-shaped Markings of the guide part as lines or openings of finite width (about i / so mm) are formed when the sliding parts are placed one on top of the other and guide part, the vertical marking lines A through the overlying ones Marking lines B, B 'visible through them in places, as diamond-shaped ones Sectional figures R2 and R3 (cross-hatched). The centers of this diamond-shaped Sectional figures lie exactly on the points Z of the triangles visible in the main patent 1, 1 '(closely hatched), these peaks representing the height of the reference lines x-x Are defined.

Zur besseren Veranschaulichung ist diese Anordnung in größerem Maßstab und mit einem anderen Neigungswinkel der Markierungslinien B gegenüberA in F i g. 4 dargestellt. For the sake of illustration, this arrangement is on a larger scale and with a different angle of inclination of the marking lines B with respect to A in FIG. 4 shown.

Wie F i g. 2 a zeigt, liegen die erfindungsgemäßen rautenförmigen Schnittfiguren Rt, R2, R3, R4 auf demselben charakteristischen Linienzug wie beim Hauptpatent, wobei die Schnittfiguren R2 und R3 in dem erfindungsgemäßen »Doppelablesefenster« erscheinen. Like F i g. 2 a shows, the diamond-shaped according to the invention lie Sectional figures Rt, R2, R3, R4 on the same characteristic line as in Main patent, whereby the sectional figures R2 and R3 in the "double reading window" according to the invention appear.

Das in F i g. 2 a dargestellte Bild zeigt die Anordnung der Schnittfiguren bei einem Meßwert von genau einer Ziffer der mittleren Meßeinheit, also z. B. von null Hundertstelmillimeter, während das in Fig. 2 b dargestellte Bild die Ablesestelle bei einem Meßwert von einem Hundertstelmillimeter und Fig. 2 c die Ablesestelle bei einem Meßwert von zwei Hundertstelmillimeter zeigt.The in Fig. Figure 2 a shows the arrangement of the sectional figures at a measured value of exactly one digit of the mean unit of measurement, so z. B. from zero hundredths of a millimeter, while the image shown in Fig. 2b is the reading point at a measured value of a hundredth of a millimeter and Fig. 2c the reading point shows at a reading of two hundredths of a millimeter.

Wie aus Fig. 2 a ersichtlich, liegen die Schnittfiguren R2, R3 genau auf der Bezugslinie x-x, und die weiteren Schnittfiguren R2, und R3' liegen auf einer durch die besondere Doppelfensteranordnung definierten zweiten Bezugslinie x"-x". Beide Bezugslinien haben von der Basislinie x'-x' den gleichen Abstand y'. As can be seen from Fig. 2a, the sectional figures R2, R3 are exactly on the reference line x-x, and the further sectional figures R2, and R3 'are on a second reference line defined by the special double window arrangement x "-x". Both reference lines have the same distance y 'from the base line x'-x'.

Bei einer Verschiebung des Meßwertes der kleinsten Meßgröße von z. B. n/oo auf'/loa mm ergibt sich das Bild einer anderen Anordnung von Schnittfiguren nach Fig. 2 b und der entsprechende charakteristische Linienzug II, auf dem die rautenförmigen Schnittfiguren R2", R3" und R4" liegen. When the measured value of the smallest measured variable is shifted from z. B. n / oo to '/ loa mm results in the picture of a different arrangement of sectional figures according to Fig. 2 b and the corresponding characteristic line II on which the diamond-shaped sectional figures R2 ", R3" and R4 "lie.

Bei einem Meßwert von zwei Hundertstelmillimeter ergibt sich ein Bild von Schnittfiguren nach F i g. 2 c. With a measured value of two hundredths of a millimeter, the result is a Image of sectional figures according to FIG. 2 c.

Hier liegen die Schnittfiguren R2,,,, R3"', R4"' auf dem charakteristsichen Linienzug III. Wie ersichtlich, verschieben sich die Schnittfiguren bei einer Veränderung des Meßwertes gegeneinander und bilden untereinander charakteristische Anordnungen. Die Verschiebung oder die Wandung gleichartiger Schnittfiguren bei unterschiedlichen Meßwerten ist durch die Verbindungslinie r angedeutet, die die Mittelpunkte der bei den unterschiedlichen Meßwerten entstehenden Schnittfiguren verbinden.Here are the sectional figures R2 ,,,, R3 "', R4"' on the characteristic Line III. As can be seen, the cut figures shift when there is a change of the measured value against each other and form characteristic arrangements among each other. The displacement or the wall of similar sectional figures at different measured values is indicated by the connecting line r, which the Centers of the sectional figures resulting from the different measured values associate.

Wie aus F i g. 2 c ersichtlich, werden bei dieser Anordnung an der Ablesestelle auch Teile von Schnittfiguren sichtbar, die mit R5 bezeichnet sind. Um solche, nicht zum Erkennen der Ablesestelle erforderlichen Teile von Schnittfiguren nicht sichtbar werden zu lassen, soll der in F i g. 2 a mit y bezeichnete Abstand zwischen den der Basislinie x'-x' benachbarten Endpunkten der Schnittfiguren (z. B. RS und R3') gleich Null werden, d. h., die einander zugekehrten Endpunkte der Schnittfiguren fallen auf der Basislinie x'-x' zusammen. Ferner soll der in F i g. 2 b mit y" bezeichnete Abstand der 21/4flachen Höhe einer rautenförmigen Schnittfigur entsprechen. Die Neigung der gegeneinander geneigten Markierungslinien B, B' ist bei einer vorgegebenen endlichen Breite (z. B. As shown in FIG. 2 c can be seen in this arrangement at the Reading point also parts of sectional figures visible, which are marked with R5. To those parts of sectional figures that are not necessary for recognizing the reading point not to be visible, the in F i g. 2 a with y designated distance between the end points of the sectional figures adjacent to the base line x'-x '(e.g. B. RS and R3 ') become equal to zero, i.e. i.e., the facing endpoints of the Sectional figures coincide on the base line x'-x '. Furthermore, the in F i G. 2 b with y "designated distance of the 21/4 flat height of a diamond-shaped sectional figure correspond. The inclination of the mutually inclined marking lines B, B 'is at a given finite width (e.g.

1/o mm) der Markierungslinien bzw. Markierungsschlitze erfindungsgemäß so gewählt, daß sich bei Änderung des Meßwertes um eine Einheit der kleinsten Meßgröße, z. B. um ein Hundertstelmillimeter, die Mittelpunkte benachbarter Schnittfiguren um einen Betrag y"' (Fig. 2b) gegeneinander verschieben, der der halben Höhe einer Schnittfigur entspricht.1 / o mm) of the marking lines or marking slots according to the invention chosen so that when the measured value changes by one unit of the smallest measured variable, z. B. by a hundredth of a millimeter, the centers of adjacent sectional figures move by an amount y "'(Fig. 2b) against each other, which is half the height of a Sectional figure corresponds.

Unter dieser Voraussetzung ergeben sich die in F i g. 3 dargestellten Anordnungen I'-X' und I" von Schnittfiguren für Meßwerte von O/loo bis 10/ios mm.Under this assumption, the results shown in FIG. 3 shown Arrangements I'-X 'and I "of sectional figures for measured values from 0 / loo to 10/10 mm.

Auf diese Weise wird ferner erreicht, daß sich an höchstens drei aufeinanderfolgenden senkrechten Markierungslinien solche in Fig. 3 schematisch als längliche Rechtecke angedeutete Schnittfiguren ergeben und sichtbar werden. An allen übrigen Stellen des gesamten Ablesefeldes erscheinen keinerlei Schnittfiguren, so daß eine leichte Zuordnung der sich ergebenden Anordnung zu der zugehörigen Einheit der mittleren Meßgröße, also ein Zehntelmillimeter, möglich ist. Die Neigung der geneigt verlaufenden Markierungslinien ist dabei so groß, daß ein gutes Auflösungsvermögen für die Ablesung der kleinsten Meßeinheit erzielt wird.In this way it is also achieved that at most three consecutive vertical marking lines those in Fig. 3 schematically as elongated rectangles indicated sectional figures result and become visible. In all other places of the entire reading field no sectional figures appear, so that a slight Assignment of the resulting arrangement to the associated unit of the middle Measured variable, so a tenth of a millimeter, is possible. The slope of the inclined The marking line is so large that a good resolution for the reading the smallest unit of measurement is achieved.

In F i g. 3 sind die Schnittfiguren jeweils so übereinander angeordnet, daß die gleichen oder sich entsprechenden Markierungslinien fluchtend übereinanderliegen. Die einander entsprechenden »Doppelablesefenster«, die nur in einigen der Meßbilder, nämlich I', V' und IX' eingetragen sind, sind mit t bzw. f' bezeichnet. In Fig. 3 the sectional figures are arranged one above the other so that that the same or corresponding marking lines are aligned one above the other. The corresponding "double reading windows", which only appear in some of the measurement images, namely I ', V' and IX 'are entered are denoted by t and f', respectively.

Die Bezifferung der Ablesestelle für die mittlere Meßeinheit, d. h. in diesem Beispiel für die Zehntelmillimeter, kann, wie in F i g. 3 bei C angedeutet, so erfolgen, daß jeweils eine Ziffer einem Doppelablesefenster zugeordnet ist oder, wie bei C' angedeutet, jeweils zwischen zwei Doppelablesefenster angeordnet ist. Wie aus Fig. 3 ersichtlich, berühren sich die Schnittfiguren bei einem Meßwert von genau O/ioo mm (s. Anordnung I' bzw. I") auf der Basislinie x'-x', während sie bei einem Meßwert von genau 5/tot mm mit ihren außenliegenden Spitzen die Begrenzungskanten q und q" berühren. Bei allen übrigen Meßwerten für die kleinste Meßeinheit sind die Schnittfiguren so angeordnet, daß sie eine nach links von '/lot bis 4/100 mm) oder nach rechts (von F/soo bis 9/ovo mm) zeigende Pfeilspitze begrenzen. The numbering of the reading point for the middle measuring unit, d. H. in this example for the tenths of a millimeter, as in FIG. 3 indicated at C, be carried out in such a way that one digit is assigned to a double reading window or, as indicated at C ', is arranged in each case between two double reading windows. As can be seen from FIG. 3, the sectional figures touch each other at a measured value of exactly 0.100 mm (see arrangement I 'or I ") on the baseline x'-x', while at a measured value of exactly 5 / tot mm with their outer tips the boundary edges Touch q and q ". For all other measured values for the smallest unit of measurement are the cut figures are arranged in such a way that they are one to the left of '/ lot to 4/100 mm) or limit the arrowhead pointing to the right (from F / soo to 9 / ovo mm).

Wie ferner aus Fig. 3 ersichtlich, wandern die Anordnungen I'-X' und I" von einem Meßwert der kleinsten Meßeinheit von z. B. null Hundertstelmilli- meter bis zu einem Meßwert von zehn Hundertstelmillimetern von einem Doppelablesefenster f in r zu dem benachbarten Doppelablesefenster f' bei I". As can also be seen from Fig. 3, the arrangements I'-X 'migrate and I "of a measured value of the smallest measuring unit of e.g. zero hundredths of a milli- meter up to a reading of ten hundredths of a millimeter from a double reading window f in r to the adjacent double reading window f 'at I ".

Selbstverständlich sind im Rahmen des Erfindungsgedankens weitere Ausführungsformen möglich. Of course, others are within the scope of the concept of the invention Embodiments possible.

So kann z. B. der feststehende Teil des Schiebemikrometers die geneigt verlaufenden Markierungslinien enthalten, während die senkrecht zur Verschieberichtung laufenden Markierungslinien auf dem darüberliegenden Schiebeteil als geradlinige, schlitzförmige Durchbrechungen ausgebildet sein können. Sind die jeweils untenliegenden Markierungslinien farbig auf dem feststehenden Teil des Schiebemikrometers ausgebildet, so werden die rautenförmigen Schnittfiguren durch die Durchbrechungen des oberen Schiebeteils des Schiebemikrometers als entsprechend farbige Markierungen sichtbar. Sind jedoch auch die in dem feststehenden Führungsteil angeordneten Markierungslinien als schlitzartige Durchbrechungen ausgebildet, so erscheinen die Schnittfiguren bei Draufsicht auf das Ablesefeld als helle Stellen im Ablesefeld. Die Sichtbarkeit dieser Schnittfiguren kann in diesem Falle dadurch verbessert werden, daß hinter dem Schiebemikrometer eine beleuchtete Mattglasscheibe oder eine selbstleuchtende Folie, z. B. mit Leuchtfarbe überzogene Folie, angebracht wird, so daß die Schnittfiguren selbst als leuchtende Markierungen im Ablesefeld sichtbar werden.So z. B. the fixed part of the sliding micrometer which is inclined running marking lines, while those perpendicular to the direction of movement running marking lines on the sliding part above as straight, slot-shaped openings can be formed. Are the respectively below Colored marking lines on the fixed part of the sliding micrometer, so are the diamond-shaped cut figures through the openings in the upper one Sliding part of the sliding micrometer visible as corresponding colored markings. However, these are also the marking lines arranged in the fixed guide part designed as slot-like openings, this is how the sectional figures appear in the case of a top view of the reading field as bright spots in the reading field. The visibility these sectional figures can in this case be improved by the fact that behind the sliding micrometer is an illuminated frosted glass pane or a self-illuminating one Slide, e.g. B. with luminescent paint coated film is attached so that the cut figures become visible even as luminous markings in the reading field.

Claims

Claims: 1. Sliding micrometer for length measurements, its relative Slidably guided parts made of a guide part and a sliding part consist, each carry one half of a measuring nose, with a scale for reading the whole number units of measurement (e.g. whole millimeters) and with a scale for the Readings of the next smallest measuring units (e.g. tenths of a millimeter) are provided and both have marking lines running transversely to the direction of displacement, which in the case of the guide part all run perpendicular to the direction of displacement and in pairs are at equal distances from each other, while the sliding part to this vertical direction inclined marking lines are provided, the in pairs the lateral boundary edges of in the direction of displacement in the same Form spacing of successive - called "windows" - marker figures, the spacing of which corresponds to the spacing of the vertical marking lines according to the Transversal Nonius principle are assigned, the two rectilinear delimiting edges of each of the individual Window of the sliding part with respect to one perpendicular to the direction of displacement standing line of symmetry are inclined to each other and the distance of each pair of successive vertical marking lines of the guide part - measured on one parallel to the direction of movement, through the middle area of the window continuous reference line - the distance between the inclined lateral boundary edges each of the windows is equal to one another, so that the latter with the perpendicular Marking lines according to the measured length dimension with the formation of cutting lines correspond, their relative position in two adjacent windows in connection with the perpendicular to the Reference line given relative distances the interfaces form a measure for the smallest units of measurement, according to patent 1 156 988, d a -characterized in that at least the lateral delimiting edges the window of the upper sliding part of the micrometer as a slit-shaped, transparent one Marking lines (B) of small width formed in an otherwise opaque material and with the lateral boundary lines (A) of the markings below of the guide part of the micrometer, diamond-shaped sectional figures visible in plan view (R) form, and that the upper and lower windows (d, dr ') of the sliding part as mirror images of a common baseline (x'-x ') and with their bases together adjacent trapezoids are formed, and that a group of the lateral boundary lines (A or B) have such an arrangement inclined with respect to a line of symmetry (e), that when the measured value changes by one unit of the smallest measured variable (e.g. t / oo mm) resulting adjacent beard diamond-shaped cut figures (R) around the Half of their height are offset from one another.

2. Sliding micrometer according to claim 1, characterized in that the two groups of the lateral boundary lines (A and B) as slit-shaped Breakthroughs are formed.

3. Sliding micrometer according to claim 1, characterized in that the width of the vertical or inclined boundary lines (A, B, B ') about' lso mm.

4. Sliding micrometer according to claim 1, characterized in that the common baseline (x'-x ') of the windows (d, d ") of each reference line (x-x) the distance between the two windows (d, d ") is equal to half the height of a sectional figure (R), and that the height of each of the windows (d, d ") is equal to that Four and a half times the height of the cut figures (R).

References considered: U.S. Patents No. 1,415 627, 2 238 718, 2 246 002, 2 360 581, 2390 122.