DE10321885B4 - Arrangement and method for highly dynamic, confocal technology - Google Patents
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Abstract
Konfokale Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente mit einem Prüfobjektiv (12), wobei die brechkraftvariable, abbildende Komponente (7) auch mindestens eine diffraktive Subkomponente (7.2 und 7.4 bis 7.8) aufweisen kann, gekennzeichnet dadurch, dass eine Hauptebene der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente (7) in der dem Objekt (13) abgewandten Brennebene des Prüfobjektivs (12) oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene angeordnet ist, wobei diese Ebene auch die Pupillenebene des Gesamtsystems für die Objektbeleuchtung und -abbildung darstellt.Confocal arrangement with refractive-power-variable imaging component with a test objective (12), wherein the refractive-power-variable imaging component (7) can also have at least one diffractive subcomponent (7.2 and 7.4 to 7.8), characterized in that a main plane of the refractive-power-variable imaging component ( 7) is arranged in the focal plane of the test objective (12) facing away from the object (13) or in a plane optically conjugate to this focal plane, this plane also representing the pupil plane of the overall system for object illumination and illumination.
Description
Stand der TechnikState of the art
Die Durchfokussierung spielt bekannterweise bei der konfokalen Mikroskopie seit Marvin Minski [s. a. Patentschrift
In der Schrift
Aus dem Fachartikel „Nontranslational three-dimensional profilometry by chromatic confocal microscopy with dynamically configurable micromirror scanning” von S. Cha, P. C. Lin, L. Zhu, P.-Ch. Sun und Y. Feinman in Applied Optics, Vol. 39, No. 16 vom 1. Juni 2000, S. 2605 bis 2613 ist eine konfokale Anordnung mit einer Lichtquelle, mit einer brechkraftvariablen, abbildenden Komponente, mit einem Prüfobjektiv und mit einem Tubusobjektiv bekannt, wobei die brechkraftvariable, abbildende Komponente eine diffrraktive Subkomponente aufweist. Insbesondere wird in diesem Fachartikel die Möglichkeit aufgezeigt, mittels einer Abbildungsstufe mit einer diffraktiven Linse eine chromatische Längsaberration zu erzielen. Diese brechkraftvariable Anordnung ändert jedoch auch den Maßstab der Abbildung vom Objekt auf die Kamera. Dies ist für die messtechnische Applikation in der Regel nicht akzeptabel. Weiterhin ist im Fachartikel „3D Microinspection goes DMD” von F. Bitte, G. Dussler und T. Pfeiffer in der Fachzeitschrift Optics and Lasers in Engineering 36 (2001) 155–167 eine Möglichkeit dargestellt, das konfokale Prinzip mittels DMDs zur Erzeugung von gesteuerten Lichtquellpunkten in einem Array anzuwenden. Jedoch beträgt hierbei die Zeit für die dreidimensionale Vermessung beim Stand der Technik noch einige Minuten.From the article "Nontranslational three-dimensional profilometry by chromatic confocal microscopy with dynamically configurable micromirror scanning" by S. Cha, P.C. Lin, L. Zhu, P.-Ch. Sun and Y. Feinman in Applied Optics, Vol. 16, Jun. 1, 2000, pp. 2605-2613 discloses a confocal array having a light source, a refractive index variable imaging component, a test lens, and a barrel lens, wherein the refractive power variable imaging component comprises a diffrictive subcomponent. In particular, this article shows the possibility of achieving a longitudinal chromatic aberration by means of an imaging stage with a diffractive lens. However, this power variable array also changes the scale of the image from the object to the camera. This is usually not acceptable for metrological application. Furthermore, in the article "3D Microinspection goes DMD" by F. Please, G. Dussler and T. Pfeiffer in the journal Optics and Lasers in Engineering 36 (2001) 155-167 presented a way the confocal principle using DMDs for the generation of controlled Apply light source points in an array. However, in this case the time for the three-dimensional measurement in the prior art is still a few minutes.
Im Fachaufsatz „Twisted nematic liquid-crystal pixelated active lens” von Vincent Laude in Optics Communications vom 15. Juli 1998, S. 134 bis 152, wird auf die vielfältigen Möglichkeiten hingewiesen, durch Operationen in der Pupille mit elektronisch gesteuerten Arrays, hier LCDs, beispielsweise die Fokussierung in einem Abbildungssystem zu beeinflussen, also zu fokussieren. Bei den dargestellten Arbeiten befindet sich das LCD in der Pupillenebene des Abbildungssystems. Jedoch ändert sich durch diese Operationen in der Pupille zur Fokussierung auch die Brennweite des gesamten Abbildungssystems. Die unerwünschte Folge ist hierbei die Veränderung des Abbildungsmaßstabes der Abbildung bei einer derartigen Fokussierung. Weiterhin ändern sich die Richtungen der Lichtstrahlen im Feld bei der so beeinflussten Abbildung, beispielsweise bei der Abbildung eines Messobjektes auf eine Kamera. Dies kann, beispielsweise bei lichtstarken Abbildungssystemen mit großen Pupillen in Verbindung mit modernen Kameras mit integrierten Mikrolinsen-Arrays, welche am besten einen zumindest näherungsweise telezentrischen Strahlengang benötigen, ein Problem darstellen, da sich so neben der lateralen Verschmierung auch noch die Intensität in den Pixeln der Kamera beim Durchfokussieren ändern kann. Diese genannten Eigenschaften stellen besonders für die hochauflösende dreidimensionale Messtechnik eine nichtakzeptable Einschränkung dar, auch wenn ein Teil der Beeinflussungen durchaus noch numerisch kompensiert werden kann.The technical paper "Twisted nematic liquid crystal pixelated active lens" by Vincent Laude in Optics Communications of 15 July 1998, pp. 134 to 152, refers to the manifold possibilities, through operations in the pupil with electronically controlled arrays, here LCDs, For example, to influence the focus in an imaging system, so to focus. In the work shown, the LCD is in the pupil plane of the imaging system. However, through these operations in the pupil for focusing, the focal length of the entire imaging system also changes. The undesirable consequence here is the change in the imaging scale of the image in such a focusing. Furthermore, the directions of the light rays in the field change in the thus influenced image, for example when imaging a measurement object on a camera. This can, for example in bright imaging systems with large pupils in conjunction with modern cameras with integrated microlens arrays, which best require an at least approximately telecentric beam path, pose a problem, since in addition to the lateral smearing and the intensity in the pixels of the Camera can change when focussing. These properties, especially for high-resolution three-dimensional measurement technology, represent an unacceptable limitation, even if some of the influences can still be numerically compensated.
Ziel und Aufgabe der ErfindungAim and object of the invention
Das Ziel der Erfindung besteht in einem kostengünstigen, robusten, tiefenmessenden, konfokalen Sensor zur Bestimmung des Abstandes, der Gestalt und insbesondere des zwei- oder dreidimensionalen Mikroprofils von Messobjekten, die im Messvorgang gegebenenfalls auch bewegt werden können. Darüber hinaus können in einem zu analysierenden, mikroskopisch kleinem Probenvolumen mittels konfokalem Sensor aber auch zwei- oder dreidimensionale Transparenz- oder Reflexionsprofile der Probe ermittelt werden. Bei der erfindungsgemäßen Lösung muss es sich jedoch nicht in jedem Fall um einen mikroskopischen Strahlengang handeln, da mit konfokalen Anordnungen auf der Grundlage der Erfindung auch die Gestalt vergleichsweise großer Objekte optisch abgetastet werden soll.The object of the invention is a cost-effective, robust, depth-measuring, confocal sensor for determining the distance, the shape and, in particular, the two-dimensional or three-dimensional microprofile of measurement objects which may possibly also be moved in the measurement process. In addition, two-dimensional or three-dimensional transparency or reflection profiles of the sample can be determined in a microscopic sample volume to be analyzed by means of a confocal sensor. The solution according to the invention, however, does not always have to be a microscopic beam path, since confocal arrangements based on the Invention, the shape of comparatively large objects to be optically scanned.
Eine Aufgabe der Erfindung ist es, den Abstand einer Oberfläche zu messen oder die Oberfläche eines Objektes optisch, sehr schnell und vergleichsweise genau mit dem Verfahren der konfokalen Detektion, bzw. mit einem konfokalen Sensor auch in einem vergleichsweise großem Tiefenbereich abzutasten, insbesondere um das zwei- oder dreidimensionale Profil der Oberfläche zu erfassen. Es kann aber auch das zwei- oder dreidimensionale Transparenz- oder Reflexionsgradprofil eines Objektes mit der Erfindung bestimmt werden.An object of the invention is to measure the distance of a surface or to scan the surface of an object optically, very quickly and comparatively accurately with the method of confocal detection, or with a confocal sensor even in a comparatively large depth range, in particular by two - or to capture three-dimensional profile of the surface. However, it is also possible to determine the two-dimensional or three-dimensional transparency or reflectance profile of an object with the invention.
Diese Aufgabe wird durch eine konfokale Anordnung mit den im Anspruch 1, 2, 8 oder 9 angegebenen Merkmalen und ein konfokales Verfahren mit den im Anspruch 13, 14 oder 15 angegebenen Merkmalen gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen ergeben sich aus den Unteransprüchen.This object is achieved by a confocal arrangement having the features specified in
Beschreibung der ErfindungDescription of the invention
Es wird davon ausgegangen, dass bei einer konfokalen Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente dem zu prüfenden Objekt in allen hier betrachteten Fällen, ein Prüfobjektiv zugeordnet ist.It is assumed that in the case of a confocal arrangement with refractive-power-variable, imaging component, a test objective is assigned to the object to be tested in all the cases considered here.
Die Brechkraft stellt ganz allgemein den reziproken Wert der Brennweite eines Abbildungssystems dar und kann hier somit auch für diffraktive und spiegelnde, abbildende Komponenten verwendet werden.The refractive power generally represents the reciprocal value of the focal length of an imaging system and can thus also be used here for diffractive and reflective imaging components.
Das dem Objekt zugeordnete Prüfobjektiv kann ein Mikroskopobjektiv sein und dient dabei sowohl der Beleuchtung der Objektoberfläche als auch der Abbildung derselben. Das Prüfobjektiv kann aber auch als ein Objektiv für die makroskopische Abbildung ausgebildet sein. Weiterhin kann in bekannter Weise im Strahlengang der konfokalen Anordnung dem Prüfobjektiv ein Tubusobjektiv vorgeordnet sein. Dabei muss es sich jedoch hierbei nicht um ein Objektiv handeln, welches nach Unendlich korrigiert ist. Im Extremfall kann das Tubusobjektiv in der erfindungsgemäßen konfokalen Anordnung sogar völlig fehlen. Diesem Tubusobjektiv kann eine monochromatische oder im Fall eines chromatisch-konfokalen Verfahrens eine spektral breitbandige Quelle elektromagnetischer Strahlung vorgeordnet sein. Diese Quelle, meist eine Lichtquelle im sichtbaren Spektralbereich, kann eine Spektralverteilung mit mindestens drei unterschiedlichen Spektralbereichen aufweisen. Diese Bereiche können im Grenzfall durch drei einzelne Wellenlängen einer Laserlichtquelle dargestellt sein. Andererseits kann die Lichtquelle aber auch zumindest näherungsweise als ein Weißlicht-Strahler ausgebildet sein. Es ist auch möglich, dass die Lichtquelle selbst in bekannter Weise zeitsequenziell in der Wellenlänge durchstimmbar ausgeführt ist, beispielsweise als Ti:Sapphir Laser. Eine Weißlichtquelle kann aber auch im Zusammenwirken mit einem nachgeordneten Monochromator ausgebildet sein, wodurch das zeitsequenzielle Durchstimmen möglich ist.The test objective assigned to the object can be a microscope objective and serves both to illuminate the object surface and to image it. However, the test objective can also be designed as a lens for macroscopic imaging. Furthermore, in the known manner, a tube objective can be arranged upstream of the test object in the beam path of the confocal arrangement. However, this does not have to be a lens corrected to infinity. In extreme cases, the tube lens in the confocal arrangement according to the invention may even be completely absent. This tube objective can be preceded by a monochromatic or, in the case of a chromatic-confocal process, a spectrally broadband source of electromagnetic radiation. This source, usually a light source in the visible spectral range, can have a spectral distribution with at least three different spectral ranges. In the limiting case, these areas can be represented by three individual wavelengths of a laser light source. On the other hand, however, the light source can also be designed at least approximately as a white light emitter. It is also possible for the light source itself to be tunable in a time-sequential manner in the wavelength in a known manner, for example as a Ti: sapphire laser. However, a white light source can also be designed in cooperation with a downstream monochromator, whereby the time-sequential tuning is possible.
Im Strahlengang ist zur Realisierung des konfokalen Prinzips ein in bekannter Weise die Lichtstrahlenbündel begrenzendes System angeordnet, vorzugsweise ein feststehendes Mikrolinsen-Array mit einer in einer nachfolgenden Abbildungsstufe angeordneten Blende. Dieses Mikrolinsen-Array erzeugt eine Anzahl von Lichtquellpunkten, vorzugsweise in mindestens einer einzigen Linie, vorzugsweise in mehreren Linien oder vorzugsweise in einer Array-Anordnung. Wird anstelle eines Mikrolinsen-Arrays nur eine einzelne Mikrolinse verwendet, entsteht nur ein einzelner Lichtquellenpunkt und somit auch nur ein einzelner Abtastpunkt. Es können aber auch grundsätzlich beliebige Figuren von Lichtquellpunkten ausgebildet werden.In order to realize the confocal principle, a system limiting the light beam in a known manner is arranged in the beam path, preferably a fixed microlens array having a diaphragm arranged in a subsequent imaging stage. This microlens array produces a number of light source spots, preferably in at least one single line, preferably in multiple lines, or preferably in an array arrangement. If only a single microlens is used instead of a microlens array, only a single light source point is created, and thus only a single scanning point. In principle, however, any desired figures of light source points can also be formed.
Dem Prüfobjektiv ist in Lichtrichtung für die Beleuchtung eine brechkraftvariable, abbildende Komponente vorgeordnet. Diese Komponente soll, lateral betrachtet, stets die Wirkung eines einzelnen optischen Systems aufweisen, also vorzugsweise nur eine einzige optische Achse besitzen und somit also selbst in der Regel kein Array darstellen. Die brechkraftvariable, abbildende Komponente besitzt zumindest im Bereich ihrer optischen Achse zumindest näherungsweise eine einzige oder, wenn optische Bauelemente mit einer größeren Mittendicke eingesetzt sind, eine erste und auch eine zweite Hauptebene. Dabei ist diese Komponente vorzugsweise zentriert zum Prüfobjektiv. Diese brechkraftvariable, abbildende Komponente kann auch mindestens eine einzige diffraktive Subkomponente beinhalten. Die erste und die zweite Hauptfläche dieser brechkraftvariablen, abbildenden Komponente stellen also zumindest näherungsweise die beiden Hauptebenen eines optischen Abbildungssystems dar. Diese Hauptebenen können bei einem dünnen System auch zumindest näherungsweise in einer einzigen Ebene zusammenfallen. Erfinderisch ist hierbei, dass eine der Hauptebenen oder die gemeinsame Hauptebene der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente zumindest näherungsweise in der dem Objekt abgewandten Brennebene des Prüfobjektivs oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene angeordnet ist, wobei diese Ebene außerdem auch noch die Pupillenebene des Gesamtsystems für die Objektbeleuchtung und Objektabbildung in der konfokalen Anordnung darstellt.The test objective is preceded by a refractive-power-variable, imaging component in the light direction for the illumination. This component should, viewed laterally, always have the effect of a single optical system, so preferably have only a single optical axis and thus therefore usually do not represent an array. The refractive power variable, imaging component has at least approximately a single or at least in the region of its optical axis or, if optical components are used with a larger center thickness, a first and a second main plane. In this case, this component is preferably centered to the test objective. This refractive power variable imaging component may also include at least one single diffractive subcomponent. Thus, the first and second major surfaces of this refractive power variable imaging component represent, at least approximately, the two major planes of an optical imaging system. These major planes may also coincide, at least approximately, in a single plane in a thin system. It is inventive here that one of the main planes or the common main plane of the refractive power variable imaging component is at least approximately disposed in the focal plane of the test objective facing away from the object or in a plane optically conjugate to this focal plane, this plane also also the pupil plane of the overall system for represents the object illumination and object image in the confocal arrangement.
Genau diese hier beschriebenen Merkmale führen nun dazu, dass bei einer Veränderung der Brechkraft dieser brechkraftvariablen, abbildenden Komponente sich eine Tiefenverschiebung der durch das Prüfobjektiv erzeugten Bilder der Lichtquellpunkte im Objektraum ergibt. Dabei, und das ist das besonders Vorteilhafte, bleibt der Schwerstrahl im Objektraum in seiner Lage zumindest näherungsweise unverändert. Da die dem Objekt abgewandte Brennebene des Prüfobjektivs auch die Pupillenebene sein soll, sind die Schwerstrahlen im Objektraum stets zumindest näherungsweise telezentrisch ausgebildet. So bleibt der Abbildungsmaßstab der konfokalen Anordnung auch bei einer Variation der Brechkraft der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente konstant.Exactly these features described here now lead to a change in the refractive power of this refractive power variable, imaging Component results in a depth shift of the images produced by the test lens of the light source points in the object space. In this case, and that is the most advantageous, the heavy beam in the object space remains at least approximately unchanged in its position. Since the object facing away from the focal plane of the Prüfobjektivs should also be the pupil plane, the heavy beams are always at least approximately telecentric in the object space. Thus, the magnification of the confocal arrangement remains constant even with a variation of the refractive power of the refractive power variable, imaging component.
Dabei ist es für diese Erfindung völlig nebensächlich, ob sich die Veränderung der Brechkraft der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente über der Lichtwellenlänge ändert, das System also chromatisch ausgebildet ist, oder in anderer Weise die Brechkraft dieser Komponente verändert wird, beispielsweise durch eine vorbestimmte Steuerung.It is completely irrelevant for this invention, whether the change in refractive power of refractive power variable, imaging component changes over the wavelength of light, the system is chromatically formed, or otherwise the refractive power of this component is changed, for example by a predetermined control.
Wenn es keine gemeinsame Hauptebene der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente gibt, ist vorzugsweise die andere Hauptebene der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente zumindest näherungsweise in der Brennebene des Tubusobjektivs positioniert, welche dem Prüfobjektiv zugeordnet ist. Dann besteht vorteilhafterweise auch im Raum der Lichtquellpunkte effektiv ein telezentrischer Strahlengang, da nur der telezentrische Teil der Lichtbündel weiter verwendet wird. Die brechkraftvariable, abbildende Komponente kann aber vorzugsweise auch so dünn ausgeführt sein, dass zumindest näherungsweise dadurch nur eine einzige Hauptebene besteht und diese Hauptebene mit den beiden koplanaren Brennebenen von Tubusobjektiv und Prüfobjektiv oder in einer zu diesen Brennebenen optisch konjugierten Ebene in einer gemeinsamen Ebene zusammenfällt.If there is no common principal plane of the refractive power variable imaging component, preferably the other major plane of the refractive power variable imaging component is at least approximately positioned in the focal plane of the tube objective associated with the test objective. Then advantageously there is also a telecentric beam path in the space of the light source points, since only the telecentric part of the light beam is used further. However, the refractive-power-variable, imaging component can preferably also be made so thin that at least approximately only a single main plane exists and this main plane coincides with the two coplanar focal planes of tube objective and test objective or in a plane that is optically conjugate to these focal planes in a common plane.
Dabei kann die brechkraftvariable, abbildende Komponente unter bestimmten Bedingungen auch die Brechkraft null aufweisen.In this case, the refractive power variable, imaging component under certain conditions, the refractive power zero have.
Erstens kann sich erfindungsgemäß die Brechkraft der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente also in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Lichtes ändern. Dann ist die brechkraftvariable, abbildende Komponente ein chromatisches System, welches mit einer Lichtquelle mit mehreren Lichtwellenlängen benutzt wird. Vorzugsweise besteht diese chromatische, brechkraftvariable, abbildende Komponente aus zwei Subkomponenten. Diese weisen vorzugsweise bei einer zumindest näherungsweise mittleren Wellenlänge im verwendeten Spektrum der Lichtquelle die im Betrag zumindest näherungsweise gleiche, jedoch in der Wirkung umgekehrte Brechkraft auf, so dass von einer Subkomponente ein Lichtstrahlenbündel gesammelt und von der anderen gestreut wird. Vorzugsweise ist dabei mindestens eine dieser Subkomponenten chromatisch ausgebildet. Dabei können auch beide Subkomponenten mit zumindest teilweise diffraktiv wirkenden Mikrostrukturen ausgebildet sein. Es kann aber auch eine diffraktive Mikrostruktur ausgebildet sein, die zumindest in einem spektralen Bereich – also mindestens für einige ausgewählte Lichtwellenlängen – achromatische Eigenschaften aufweist. Diese beiden diffraktiven Subkomponenten stehen sich mit ihren diffraktiven Strukturen dabei vorzugsweise direkt gegenüber, sind also beispielsweise nur in einem Abstand von wenigen Lichtwellenlängen voneinander entfernt.First, according to the invention, the refractive power of the refractive-power-variable, imaging component can therefore change as a function of the wavelength of the light. Then, the refractive power variable imaging component is a chromatic system used with a multiple wavelength light source. Preferably, this chromatic, brechkraftvariable, imaging component consists of two subcomponents. These have preferably at an approximately at least approximately average wavelength in the spectrum of the light source used in the amount at least approximately the same, but in effect inverted refractive power, so that collected by a sub-component, a light beam and scattered by the other. Preferably, at least one of these subcomponents is formed chromatically. Both subcomponents may also be formed with microstructures that act at least partially diffractively. However, a diffractive microstructure may also be formed which has achromatic properties at least in a spectral range, that is, at least for a few selected wavelengths of light. These two diffractive subcomponents, with their diffractive structures, are preferably directly opposite one another, that is, for example, they are only separated from one another by a distance of a few wavelengths of light.
So ist dann diese chromatische brechkraftvariable, abbildende Komponente vorzugsweise diffraktiv oder zumindest teilweise diffraktiv ausgebildet. Es können aber auch beide Subkomponenten dieser brechkraftvariablen abbildenden Komponente chromatisch ausgebildet sein. Gegebenenfalls kann hier auch eine Ausbildung derselben mit entgegengesetzter chromatischer Charakteristik bestehen. Die zweite Subkomponente kann refraktiv ausgebildet sein, kann also als eine vorzugsweise dünne Linse oder als eine Linsengruppe ausgebildet sein.Thus, this chromatic refractive power variable, imaging component is preferably designed diffractive or at least partially diffractive. However, it is also possible for both subcomponents of this refractive-power-variable imaging component to be of chromatic design. Optionally, this may also be a training of the same with opposite chromatic characteristics. The second subcomponent can be designed to be refractive, ie it can be designed as a preferably thin lens or as a lens group.
Vorzugsweise ist die brechkraftvariable, abbildende, chromatische Komponente in Abhängigkeit von der Lichtwellenlänge also gleichzeitig eine fokussierende, eine mit der Brechkraft null oder eine das Lichtbündel divergierende Komponente. In jedem Fall stellt diese Komponente so ein abbildendes System mit variabler Brechkraft dar. Außerdem ist diese brechkraftvariable, abbildende Komponente vorzugsweise rotationssymmetrisch. Dies betrifft dann sowohl ihre geometrische Form als auch ihre optische Funktion. Dabei kann diese Komponente eine kreisringförmige Wirkfläche, also eine kreisringförmige Pupillenfläche, beispielsweise durch eine Mittenabschattung aufweisen. Vorzugsweise ist die brechkraftvariable, abbildende, chromatische Komponente zur optischen Achse des Prüfobjektivs zentriert.Preferably, the refractive power variable, imaging, chromatic component as a function of the wavelength of light so simultaneously a focusing, one with the refractive power zero or a light beam diverging component. In any case, this component thus constitutes a variable refractive power imaging system. In addition, this refractive power variable imaging component is preferably rotationally symmetric. This then affects both their geometric shape and their optical function. In this case, this component can have an annular active surface, that is to say an annular pupil surface, for example by a center shading. Preferably, the refractive power variable imaging chromatic component is centered to the optical axis of the inspection objective.
Durch die kreisringförmige Wirkfläche dieser Komponente oder der zum Aufbau verwendeten Subkomponenten können in einem konfokalen Aufbau auch Objektive eingesetzt werden, die in der Mitte also auf der optischen Achse, nicht oder nicht hinreichend gut korrigiert sind und so nur eine kreisringförmige Fläche in der Pupille besitzen. Die Mittenabschattung des Prüfobjektivs soll dabei mindestens 2% der gesamten Pupillenfläche desselben ausmachen. Das Zulassen einer nicht korrigierten Mitte führt bei einem Objektiv in der Regel zu einem großen Preisvorteil gegenüber den in der gesamten Pupille korrigierten Objektiven. Dies gilt vor allem für Prüfobjektive mit vergleichsweise großem Arbeitsabstand.Due to the annular active surface of this component or the subcomponents used for the construction also lenses can be used in a confocal structure, which are in the middle so on the optical axis, not or not sufficiently well corrected and so have only an annular surface in the pupil. The center shading of the test objective should make up at least 2% of the total pupil area of the same. Admitting an uncorrected center usually leads to a large price advantage in the case of an objective compared with the lenses corrected in the entire pupil. This is especially true for test lenses with a comparatively large working distance.
Wenn die einzige Hauptebene oder eine der beiden Hauptebenen der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente in der Brennebene des Prüfobjektivs oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene liegt, besteht durch diese Komponente in einer chromatisch-konfokalen Anordnung in der Regel kein zusätzlicher chromatischer Querfehler. Da das Prüfobjektiv und das erste Tubusobjektiv ebenfalls mit geringen chromatischen Queraberrationen ausgebildet sein können, besteht so der Vorteil einer geringen chromatischen Gesamt-Queraberration in der chromatisch-konfokalen Anordnung. Dabei ist es in der Regel von Vorteil, wenn für die Mitte des Tiefenbereiches Δz im Objektraum zumindest näherungsweise plane Wellenfronten in der gemeinsamen Ebene von entsprechender Hauptebene der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente, Pupillenebene und Brennebene des Prüfobjektivs bestehen. Dann fällt die Mitte des Tiefenbereiches zumindest näherungsweise mit der Brennebene des Prüfobjektivs im Objektraum zusammen. So kann ein Prüfobjektiv aus der großen Anzahl der nach Unendlich korrigierten Objektive im Bereich der besten Korrektur ausgewählt und verwendet werden. If the single major plane or one of the two major planes of the refractive power variable imaging component lies in the focal plane of the inspection objective or in a plane optically conjugate to that focal plane, this component in a chromatic-confocal arrangement will typically not result in any additional chromatic transverse error. Since the test objective and the first tube objective can likewise be designed with low transverse chromatic aberrations, there is thus the advantage of a low total chromatic transverse aberration in the chromatic-confocal arrangement. In this case, it is generally advantageous if at least approximately plane wavefronts in the common plane of the corresponding principal plane of the refractive-power-variable, imaging component, pupil plane and focal plane of the test objective exist for the middle of the depth range Δz in the object space. Then the center of the depth range coincides at least approximately with the focal plane of the test objective in the object space. Thus, a test lens from the large number of lenses corrected to infinity can be selected and used in the area of the best correction.
Es kann hier zum Vorteil eines einstufigen Aufbaus für die brechkraftvariable, abbildende Komponente führen, wenn das Tubusobjektiv zumindest näherungsweise achromatisch ausgebildet ist. Wenn sich das von einer Lichtquelle beleuchtete Mikrolinsen-Array bei Abbildung durch das Tubusobjektiv in einer intrafokalen Position befindet, entsteht nach dem Tubusobjektiv für das Licht aller Wellenlängen ein virtuelles Bild. Erst im Zusammenwirken mit der dem Tubusobjektiv nachgeordneten, brechkraftvariablen chromatischen, abbildenden Komponente, wobei letzteres dann eine positive Brechkraft aufweist, wird das Mikrolinsen-Array dann für eine Wellenlänge, etwa in der Mitte des Spektralbereiches, nach Unendlich abgebildet. So wird ein nach Unendlich korrigiertes Prüfobjektiv bei seiner besten Korrektur benutzt. Außerdem soll dabei die Hauptebene der brechkraftvariablen, chromatischen, abbildenden Komponente mit der Brennebene des Prüfobjektivs, welche sich auf der objektabgewandten Seite des Prüfobjektivs oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene befindet, zumindest näherungsweise zusammenfallen. Die brechkraftvariable, chromatische, abbildende Komponente kann dann aus einer Fresnel-Linse oder einer diffraktiven Mikrostruktur bestehen, welche die bekannte, abbildende Wirkung einer Linse oder eines Objektivs besitzt. Bei der Fresnel-Linse oder auch bei der Mikrostruktur kann durch eine kreisringförmige Blende der Mittenbereich ausgeblendet werden. So kann das Problem mit Licht aus unerwünschten Beugungsordnungen, beispielsweise mittels weiterer nachgeordneter, kreisringförmiger Blenden, verringert werden. Dies ist besonders für die optische Abtastung von vergleichsweise kleinen Objektfeldern sehr gut anwendbar.It may lead to the advantage of a single-stage structure for the refractive power variable, imaging component, if the tube lens is at least approximately achromatic. If the microlens array illuminated by a light source is in an intrafocal position when imaged through the tube objective, a virtual image is created after the tube objective for the light of all wavelengths. Only in cooperation with the tube lens subordinate, refractive power variable chromatic imaging component, the latter then has a positive refractive power, the microlens array is then mapped to infinity for a wavelength, approximately in the middle of the spectral range. Thus, an infinity corrected test lens is used at its best correction. In addition, the main plane of the refractive-power-variable, chromatic, imaging component should at least approximately coincide with the focal plane of the test objective, which is located on the object-facing side of the test objective or in a plane optically conjugate to this focal plane. The refractive power variable chromatic imaging component may then consist of a Fresnel lens or a diffractive microstructure having the known imaging effect of a lens or lens. In the case of the Fresnel lens or even in the case of the microstructure, the center region can be hidden by an annular diaphragm. Thus, the problem with light from unwanted diffraction orders, for example by means of further downstream, annular apertures, can be reduced. This is very well applicable especially for the optical scanning of comparatively small object fields.
Dabei kann die diffraktive Mikrostruktur der Subkomponente in der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente auch mittels einer die Gitterstruktur elektronisch steuernden Subkomponente, beispielsweise ein LCD, ein LCOS-Display (Liquid crystal an silicon display) oder auch ein DMD (Digital micro mirror device), zur elektronischen Generierung einer benötigten Abbildungsfunktion ausgebildet sein, um die elektronische Generierung einer benötigten Abbildungsfunktion hinsichtlich der lateralen Ausbildung derselben gezielt einstellbar zu machen. Dabei wird während eines Messvorganges die elektronisch eingestellte Mikrostruktur jedoch nicht verändert, ist also für diesen Zeitbereich fest eingestellt. Der konfokale Sensor arbeitet dabei chromatisch-konfokal mit statischen Subkomponenten. Die elektronische Einstellung der Gitterstruktur dient also nur der optimalen Anpassung des konfokalen Sensors an eine vorgegebene Messaufgabe. Beispielsweise kann, wenn ein großer Tiefenmessbereich benötigt wird, die Gitterkonstante des elektronisch steuerbaren Gitters im Mittel vergleichsweise klein gemacht werden, so dass die chromatische Aufspaltung in diesem Fall groß ist. Die voranstehenden Merkmale werden durch die Ansprüche 1 bis 5 erfasst.In this case, the diffractive microstructure of the subcomponent in the refractive-power-variable, imaging component can also be electronically controlled by means of a subcomponent that controls the grating structure, for example an LCD, a LCOS display (Liquid Crystal Display) or a DMD (Digital Micro Mirror Device) Generation of a required imaging function be designed to make the electronic generation of a required imaging function with respect to the lateral formation of the same targeted adjustable. However, the electronically set microstructure is not changed during a measurement process, so it is fixed for this time range. The confocal sensor works chromatic-confocal with static subcomponents. The electronic adjustment of the grating structure thus serves only to optimally adapt the confocal sensor to a given measuring task. For example, when a large depth-measuring range is needed, the lattice constant of the electronically-controllable lattice can be made comparatively small on the average, so that chromatic splitting is large in this case. The above features are covered by the
Das nachstehende Merkmal wird durch die Ansprüche 6 und 7 erfasst. Zweitens ist es aber erfindungsgemäß auch möglich, die brechkraftvariable, abbildende Komponente nicht als eine chromatische, sondern vorzugsweise als ein elektronisch-steuerbares System oder als Subkomponente in diesem System aufzubauen, um so die Durchfokussierung elektronisch gesteuert zu ermöglichen. Diese brechkraftvariable, abbildende Komponente auf der Basis einer, zumindest die laterale Mikrostruktur elektronisch steuernden Komponente oder Subkomponente kann vergleichsweise kompakt aufgebaut werden. Dabei kann ein LCD, ein LCOS-Display oder auch ein DMD zur elektronischen Generierung einer benötigten Abbildungsfunktion eingesetzt werden. So kann die Brechkraft insbesondere in Abhängigkeit von der lateralen Mikrostruktur eines elektronisch-steuerbaren Arrays vorbestimmt variiert werden, so dass zumindest die Ortsfrequenzen der lateralen Mikrostruktur desselben, gezielt verändert werden können. Es ist auch möglich, mit einem einzigen LCOS-Display eine brechkraftvariable, abbildende Komponente aufzubauen. Dabei ist diesem LCOS-Display in bekannter Weise ein Strahlteiler zugeordnet. Das nachstehende Merkmal wird durch den Anspruch 6 erfasst.The following feature is covered by
Bei Verwendung eines DMDs als brechkraftvariable, abbildende Komponente ist diesem vorzugsweise ein Objektiv mit einer dezentrierten, kreisförmigen Pupillenfläche und diesem vorzugsweise wiederum ein Mikrolinsen-Array mit dezentrierten Mikrolinsen vorgeordnet, um die Lichtenergie der vorgeordneten Lichtquelle optimal auszunutzen.When a DMD is used as the refractive power variable imaging component, it is preferably a lens with a decentered, circular pupil surface and this, in turn, preferably a decentered microlens array Preceded by microlenses to optimally utilize the light energy of the upstream light source.
Folgendes Merkmal ist durch den Anspruch 8 abgedeckt: Bei einer konfokalen Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente mit einem Prüfobjektiv und mit einem Tubusobjektiv, mit einer Lichtquelle kann diese Komponente auch als eine elektronisch-steuerbare Komponente ausgebildet sein, so dass die Brechkraft derselben in Abhängigkeit von einer elektronischen Steuerung geändert werden kann und erfindungsgemäß die Hauptebene dieser Komponente zumindest näherungsweise in der dem Objekt abgewandten Brennebene des Prüfobjektivs oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene angeordnet ist, wobei diese Ebene gleichzeitig zumindest näherungsweise auch die Pupillenebene des Gesamtsystems für die Objektbeleuchtung und Objektabbildung darstellt.The following feature is covered by claim 8: In a confocal arrangement with refractive power variable, imaging component with a test objective and with a tube lens, with a light source, this component may also be formed as an electronically controllable component, so that the refractive power thereof in dependence an electronic control can be changed and according to the invention the main plane of this component is arranged at least approximately in the focal plane of the test objective facing away from the object or in a plane optically conjugate to this focal plane, said plane at the same time at least approximately the pupil plane of the overall system for object illumination and object imaging represents.
Die nachstehenden Merkmale werden durch die Ansprüche 9 bis 12 erfasst. Eine konfokale Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente besteht aus einem Prüfobjektiv, in der Regel aus einem Tubusobjektiv und aus einer Lichtquelle, wobei die brechkraftvariable, abbildende Komponente auch mindestens eine diffraktive Komponente aufweist. Diese ist als eine elektronisch-steuerbare, diffraktive Komponente ausgebildet, welche als Amplituden- oder als Phasengitter ausgebildet ist und die Wirkung einer Einzellinse, eines Objektivs oder eines Spiegels nachbildet, also vorzugsweise nur eine einzige optische Achse besitzt. So kann die Brechkraft insbesondere in Abhängigkeit von der lateralen Mikrostruktur eines elektronisch-steuerbaren Arrays sehr schnell geändert werden. Dabei ist die Hauptebene der elektronisch-steuerbaren, diffraktiven Komponente zumindest näherungsweise in der dem Objekt abgewandten Brennebene des Prüfobjektivs oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene angeordnet, wobei diese Ebene gleichzeitig zumindest näherungsweise auch die Pupillenebene des Gesamtsystems für die Objektbeleuchtung und Objektabbildung darstellt. Genau diese beschriebenen Merkmale führen nun dazu, dass dann bei einer Veränderung der Brechkraft der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente sich die gewünschte Tiefenverschiebung der Bilder der Lichtquellpunkte im Objektraum zur optischen Abtastung des Objektes ergibt, wobei, und das ist das besonders Vorteilhafte, der Schwerstrahl in seiner Lage zumindest näherungsweise unverändert bleibt. Da diese Ebene sowohl die Pupillen- als auch die Brennebene darstellt, sind die Schwerstrahlen zumindest näherungsweise stets telezentrisch. Dies stellt eine optimale technische Funktionalität für die dreidimensionale optische Abtastung eines Objektes in der Tiefe dar.The following features are covered by the
Weiterhin ist bei der konfokalen Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente der elektronisch-steuerbaren, diffraktiven Subkomponente vorzugsweise mindestens eine passive, diffraktive Subkomponente mit zumindest näherungsweise im Betrag gleicher und in der Wirkung entgegengesetzter Brechkraft zugeordnet. In diesem Fall kann auch ein nach Unendlich korrigiertes Tubusobjektiv verwendet werden.Furthermore, in the case of the confocal arrangement with refractive-power-variable, imaging component of the electronically controllable, diffractive subcomponent, preferably at least one passive, diffractive subcomponent is associated with at least approximately the same amount and the opposite refractive power. In this case, an infinity-corrected tube lens can also be used.
In einer konfokalen Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente zur Bestimmung des Abstandes beziehungsweise des zwei- oder des dreidimensionalen Profils der Oberfläche eines Objektes kann die elektronisch-steuerbare diffraktive Subkomponente in der Wirkung als ein vergleichsweise stark dezentriertes Abbildungssystem ausgebildet sein. Um dies zu erreichen, sind die Mikrostrukturen auf der diffraktiven Subkomponente vorzugsweise nur vergleichsweise schwach gekrümmt, so dass sich der Hauptpunkt des effektiven Abbildungssystems vorzugsweise außerhalb der Wirkungsfläche dieser Subkomponente befindet. Das beleuchtende Lichtbündel fällt dabei vorzugsweise unter einem Einfallswinkel von einigen Grad auf diese diffraktive Subkomponente und verlässt diese Subkomponente durch Lichtbeugung mit einem Hauptstrahl etwa senkrecht zur Wirkfläche in Richtung Prüfobjektiv, wobei das Bündel mittels elektronisch-steuerbarer, diffraktive Subkomponente also elektronisch gesteuert fokussiert oder divergiert wird, um die Bilder der Lichtquellenpunkte im Objektraum in der Tiefe zur konfokalen Abtastung verschieben zu können. Zur Einkopplung des Lichtbündels ist dieser elektronisch-steuerbaren diffraktiven Subkomponente vorzugsweise eine weitere diffraktive, jedoch statisch arbeitende Subkomponente zugeordnet ist, wobei die Mikrostruktur der diffraktiven, statisch arbeitenden Subkomponente im Feld eine vorzugsweise konstante Ortsfrequenz aufweist, welche zumindest näherungsweise jener der mittleren elektronisch-steuerbaren, diffraktiven Subkomponente entspricht. Diese ist zur elektronisch-steuerbaren, diffraktiven Subkomponente vorzugsweise zumindest näherungsweise parallel angeordnet. Die statisch arbeitende Subkomponente kann aber vorzugsweise auch elektronisch-steuerbar ausgebildet sein. Bei etwa gleichen Gitterkonstanten der beiden Subkomponenten ergibt sich für die Hauptstrahlen auf dem Weg von statischer zu gesteuerter Subkomponente eine Zick-Zack-Struktur mit zueinander parallelem Ein- und Ausgangs-Bündelhauptstrahlen. So ergibt sich eine Kompensationswirkung bei den zum Hauptstrahl geneigten Strahlen im Bündel. Dabei kann vorzugsweise die diffraktive, statisch arbeitende Subkomponente auch als geblaztes Gitter ausgebildet sein, wobei dessen Mikrostruktur im Feld eine konstante Ortsfrequenz aufweist. Dies führt bei einer einzelnen Lichtwellenlänge und einer angepassten Mikrostruktur zu einem hohen Beugungswirkungsgrad.In a confocal arrangement with refractive-power-variable, imaging component for determining the distance or the two-dimensional or three-dimensional profile of the surface of an object, the electronically controllable diffractive subcomponent can be designed as a comparatively strongly decentered imaging system. In order to achieve this, the microstructures on the diffractive subcomponent are preferably curved only comparatively weakly, so that the main point of the effective imaging system is preferably outside the effective surface of this subcomponent. The illuminating light beam preferably falls on this diffractive subcomponent at an angle of incidence of a few degrees and leaves this subcomponent by light diffraction with a main beam approximately perpendicular to the active surface in the direction of the test objective, the bundle being electronically controlled or diverged by means of an electronically controllable, diffractive subcomponent in order to shift the images of the light source points in the object space in depth to the confocal scan. For coupling the light bundle, this electronically controllable diffractive subcomponent is preferably assigned a further diffractive, but statically operating subcomponent, the microstructure of the diffractive, statically operating subcomponent having a preferably constant spatial frequency in the field, which is at least approximately that of the middle electronically controllable, diffractive subcomponent. This is preferably arranged at least approximately parallel to the electronically controllable, diffractive subcomponent. However, the statically operating subcomponent can preferably also be designed to be electronically controllable. At approximately the same lattice constants of the two subcomponents, a zigzag structure with mutually parallel input and output beam main beams results for the main beams on the path from static to controlled subcomponent. This results in a compensation effect in the beams inclined to the main beam in the bundle. In this case, the diffractive, statically operating subcomponent can preferably also be designed as a blazed grid, the microstructure of which has a constant spatial frequency in the field. This results in a high diffraction efficiency for a single wavelength of light and a matched microstructure.
Weiterhin weist bei der konfokalen Anordnung mit brechkraftvariabler, abbildender Komponente die brechkraftvariable, abbildende Komponente vorzugsweise eine kreisringförmige Wirkfläche auf, so dass der Mittenbereich abgeschattet ist. Furthermore, in the case of the confocal arrangement having a refractive-power-variable, imaging component, the refractive-power-variable, imaging component preferably has an annular active area, so that the center area is shaded.
Folgendes Merkmal ist durch den Verfahrensanspruch 13 abgedeckt. Bei dem konfokalen Verfahren mit einer brechkraftvariablen, abbildenden Komponente, einem Prüfobjektiv und in der Regel auch mit auch einem Tubusobjektiv und einer Lichtquelle, wobei die brechkraftvariable, abbildende Komponente auch mindestens eine diffraktive Komponente aufweisen kann, sind vorzugsweise das Tubusobjektiv und die elektronisch-steuerbare, diffraktive Komponente so aufeinander abgestimmt, dass Licht von einem jedem Quellpunkt vor dem Tubusobjektiv die elektronisch-steuerbare, diffraktive Komponente in Form von Planwellen in Richtung Prüfobjektiv verlässt. Dies soll zumindest näherungsweise für eine mittlere, von der elektronisch-steuerbaren diffraktiven Komponente optisch gut einstellbare Ortsfrequenz erfolgen. Dabei wird also durch die Brechkraft der elektronisch-steuerbaren, diffraktiven Komponente im Zusammenwirken mit dem Tubusobjektiv eine Abbildung der Lichtquellpunkte nach Unendlich bewirkt. In Bezug auf das Tubusobjektiv besteht beispielsweise eine intrafokale Lage der Lichtquellpunkte. Durch die elektronisch-steuerbare, diffraktive Komponente wird die Brechkraft des Doppel-Systems, bestehend aus Tubusobjektiv und elektronisch-steuerbarer, diffraktiver Komponente, so erhöht, dass die Lichtquellpunkte nun in der effektiven Brennebene dieses Doppel-Systems liegen, also durch das Doppelsystem nach Unendlich abgebildet werden. Auch eine extrafokale Lage der Lichtquellpunkte kann durch Ausnutzung der lichtstreuenden Wirkung einer elektronisch-steuerbaren, diffraktiven Komponente verwendet werden. Dabei wird – wie bereits dargestellt – in der dem Objekt abgewandten Brennebene des Prüfobjektivs gleichzeitig und zumindest näherungsweise auch die Pupillenfunktion des Gesamtsystems für die Objektbeleuchtung und -abbildung realisiert. Dieses Verfahren ermöglicht so die Verschiebung von Bildern von Lichtquellpunktes entlang von Schwerstrahlen, die wegen der zumindest näherungsweisen Pupillenlage in der dem Objekt abgewandten Brennebene des Prüfobjektivs zumindest näherungsweise telezentrisch sind, über einen vergleichsweise großen Tiefenbereich. Dies ist für sehr viele messtechnische Applikationen der konfokalen Technik sehr vorteilhaft.The following feature is covered by the
Die nachstehenden Merkmale sind den Ansprüchen 14 bis 21 zugeordnet. Es wird also bei einem konfokalen Verfahren mit einer Lichtquelle und einem Prüfobjektiv mindestens das Folgende durchgeführt: Die von einem jeden Lichtquellpunkt in einer konfokalen Anordnung, beispielsweise zur Erfassung des zwei- oder dreidimensionalen Mikroprofils eines Objektes, ausgehende Wellenfront kann bereits, muss aber nicht, durch ein erstes Objektiv, in ihrem Krümmungsradius verändert werden. Dieses erste Objektiv kann hierbei ein Tubusobjektiv sein. In der Brennebene des Prüfobjektivs, welche dem Objekt abgewandt ist oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene, wobei diese Ebene auch noch die Pupillenebene des Abbildungsstrahlenganges darstellen soll, erfährt durch eine brechkraftvariable, abbildende Komponente, wobei diese ein Teil eines komplexen optischen Systems oder aber auch ein einzelnes Element sein kann, eine jede einfallende Wellenfront, weitgehend unabhängig von ihrer Ausbreitungsrichtung, eine Veränderung des Radius' der Wellenfront. Dabei soll der Radius der nach dieser Komponente entstehenden Wellenfront vorzugsweise vergleichsweise groß sein. Diese Veränderung des Radius' der Wellenfront mittels brechkraftvariabler, abbildender Komponente wird im Objektraum nach den Gesetzen der Optik stets in eine zur optischen Achse des Prüfobjektivs parallele Schiebung des jeweils zugehörigen Bildes eines Lichtquellpunktes gewandelt. So erfolgt verfahrensgemäß durch diese z-Schiebung eine optische Abtastung des Objektes in der Tiefe mit Bildern von Lichtquellpunkten in einem telezentrischen Strahlengang. Das vom Objekt rückgestreute, oder auch reflektierte Licht gelangt durch diese optische konfokale Anordnung über das bündelbegrenzende System, hier vorzugsweise ein feststehendes Mikrolinsen-Array, auf einen Detektor, in der Regel eine flächenhafte Kamera. Für konfokale Punktdetektoren sind auch Zeilen-Kameras verwendbar. Es entsteht in Abhängigkeit von der Brechkraftvariation der Komponente das bekannte konfokale Signal. Ist diese Abhängigkeit chromatisch, kann ortsaufgelöst, also in einem jeden erfassten Objektpunkt, mittels spektrometrischer Analyse das bekannte konfokale Signal in Abhängigkeit von der Lichtwellenlänge gewonnen werden, indem die Intensitätsverteilung in Abhängigkeit von der Lichtwellenlänge detektiert wird, die dann dem bekannten konfokalen Signal entspricht. Das konfokale Signal besteht also vollständig zu jedem beliebigen Zeitpunkt. Dies ermöglicht auch das zwei- oder dreidimensionale Abtasten schnell bewegter Objekte, wenn eine Kurzpuls-Lichtquelle, die Lichtimpulse beispielsweise mit einer Halbwertsbreite im Bereich von einer Mikrosekunde aussendet, oder eine Kamera mit einer kurzen Shutter-Zeit eingesetzt wird.The following features are associated with
Die spektrometrische Analyse bei einer zeilenförmigen Abtastung des Objektes vorzugsweise mit einer konfokalen Anordnung mit mindestens einer einzigen Zeile aus Mikrolinsen kann mit einem lichtzerlegenden, chromatischen Prismenkeil oder einem Diffraktionsgitter oder einer Kombination derselben im Unendlich-Strahlengang einer afokale Abbildungsstufe, die einer monochromen Kamera vorgeordnet ist, durchgeführt werden. Diese lichtzerlegende Komponente kann auch als Geradeaus-Komponente ausgebildet sein und befindet sich am besten in oder in der Nähe der gemeinsamen inneren Brennebene dieser afokalen Abbildungsstufe. Diese Komponente ist in ihrer lichtzerlegenden Wirkung so dimensioniert, dass eine an die Größe der Fläche des monochromen Kamera-Chips angepasste laterale Aufspaltung des Lichtes erzeugt wird. So kann das Licht von der Objektoberfläche in eine geeignete Lichtverteilung lateral auf dem Kamera-Chip aufspalten werden, und es kann mit einer so ausgebildeten konfokalen Anordnung ein hinreichend großer Tiefenmessbereich entlang mindestens einer einzigen Linie auf dem Objekt erfasst werden.The spectrometric analysis of a line scan of the object, preferably with a confocal array having at least a single row of microlenses, may be performed with a photochromic chromatic prism wedge or a diffraction grating or a combination thereof in the infinity beam path of an afocal imaging stage preceding a monochrome camera. be performed. This photoluminescent component can also be used as a straight line Component is and is best located in or near the common inner focal plane of this afocal imaging stage. In terms of its light-decomposing effect, this component is dimensioned such that a lateral splitting of the light adapted to the size of the surface of the monochrome camera chip is produced. Thus, the light from the object surface can be split into a suitable light distribution laterally on the camera chip, and with a confocal arrangement formed in this way, a sufficiently large depth measuring range can be detected along at least one single line on the object.
Es können zur spektrometrischen Analyse jedoch auch Mehr-Chip-Kameras eingesetzt werden, vorzugsweise eine Vier-Chip-Kamera. Dies stellt eine Möglichkeit dar, wenn das Objekt in der Tiefe und flächig, also dreidimensional, abgetastet werden soll. Dabei kann der auszuwertende spektrale Bereich durch Strahlteilung mittels kantensteilen” Farbteiler vorzugsweise in acht Spektralkanäle aufgeteilt werden. Dabei wird vorzugsweise jedem der vier Kamera-Chips je ein Köstersprisma mit einem spektral angepassten Farbteiler mit einer Kantencharakteristik vorgeordnet. So bestehen an jedem Ausgang eines Köstersprismas je zwei parallele optische Lichtbündel, die je ein Bild übertragen und so detektiert jeder Kamera-Chip je zwei nebeneinanderliegende Bilder in einem anderen spektralen Bereich. Es sind jedoch auch Kameras mit mehr als vier Kamera-Chips anwendbar. Besonders vorteilhaft für diese Applikation sind neuentwickelte volumenhafte Kamera-Chips, die in der Tiefe spektral sensitiv arbeiten. So kann eine sehr kompakte, Anordnung aufgebaut werden.However, it is also possible to use multi-chip cameras for spectrometric analysis, preferably a four-chip camera. This represents a possibility if the object is to be scanned in the depth and area, ie three-dimensional. In this case, the spectral range to be evaluated can preferably be divided into eight spectral channels by beam splitting by means of edge-sharing "color splitters. In this case, each of the four camera chips is preferably preceded by a Köstersprisma with a spectrally matched color divider with an edge characteristic. Thus, at each exit of a Köstersprismas two parallel optical light bundles, each transmitting an image and so each camera chip detects two adjacent images in a different spectral range. However, cameras with more than four camera chips are also applicable. Particularly advantageous for this application are newly developed voluminous camera chips, which operate spectrally sensitive at depth. So a very compact, arrangement can be established.
Besteht diese Abhängigkeit der Brechkraft jedoch durch Diffraktion, also durch Ausbildung von diffraktiven Strukturen eines elektronisch gesteuerten Amplituden- oder Phasengitters, entsteht das bekannte konfokale Signal in Abhängigkeit von der jeweils eingestellten mittleren Gitterkonstante, bzw. der mittleren Ortsfrequenz des Phasengitters, welche über der Zeit gesteuert verändert wird, so dass das bekannte konfokale Signal letztlich auch über der Zeit entsteht. Dieser Ansatz ist jedoch mehr für die Abtastung ruhender oder weniger schnell bewegter Objekte geeignet.However, if this dependence of the refractive power by diffraction, so by the formation of diffractive structures of an electronically controlled amplitude or phase grating, the known confocal signal arises as a function of the respectively set mean lattice constant, or the average spatial frequency of the phase grating, which controlled over time is changed, so that the known confocal signal ultimately arises over time. However, this approach is more suitable for scanning quiescent or less fast moving objects.
Die brechkraftvariable, abbildende Komponente kann auch zu unterschiedlichen Zeitpunkten eine unterschiedlich dezentrierte Linse darstellen. Im chromatischen Fall wird durch eine laterale Bewegung vorzugsweise mittels einer Schwingbewegung die optische Achse dieser Linse zur optischen Achse des Prüfobjektivs jeweils etwas ausgelenkt. So tasten die Bilder der Lichtquellpunkte das Objekt in einer noch wesentlich feineren lateralen Skala ab als durch die Abstände der Bilder der Lichtquellpunkte vorgegeben ist. So kann die laterale Auflösung der konfokalen Anordnung noch wesentlich gesteigert werden.The refractive power variable, imaging component may also represent a different decentered lens at different times. In the chromatic case, the optical axis of this lens is deflected in each case somewhat by a lateral movement, preferably by means of a swinging motion, relative to the optical axis of the test objective. Thus, the images of the light source points scan the object in a much finer lateral scale than specified by the distances of the images of the light source points. Thus, the lateral resolution of the confocal arrangement can be significantly increased.
Im Fall eines elektronisch gesteuerten Amplituden- oder Phasengitters als brechkraftvariable abbildende Komponente kann durch eine elektronische Steuerung die effektiv wirkende optische Achse dieser Komponente lateral so positioniert werden, dass die Bilder der Lichtquellpunkte auch hierbei das Objekt in einer noch feineren lateralen Skala abtasten als durch die Abstände der Bilder der Lichtquellpunkte auf dem Objekt vorgegeben ist. So kann der Krümmungsmittelpunkt der in das Prüfobjektiv eintretenden Wellenfronten vorbestimmt lateral verschoben werden, indem also die effektiv wirkende optische Achse der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente lateral und vorbestimmt verschoben wird und damit auch die laterale Position der Bilder der Lichtquellpunkte vorbestimmt durch eine elektronische Steuerung auf dem Objekt verändert wird.In the case of an electronically controlled amplitude or phase grating as a refractive power variable imaging component, the effective effective optical axis of this component can be positioned laterally so that the images of the light source points also scan the object in an even finer lateral scale than by the distances the images of the light source points on the object is given. Thus, the center of curvature of the wavefronts entering the test objective can be displaced laterally in a predetermined manner, ie the actual effective optical axis of the refractive-power-variable imaging component is laterally and predetermined displaced, and thus also the lateral position of the images of the light source points predetermined by an electronic control on the object is changed.
So kann mittels einer konfokalen Anordnung ohne bewegte Komponenten, also allein mittels brechkraftvariabler, abbildender Komponente, die dann als elektronisch gesteuertes Amplituden- oder Phasengitter ausgebildet ist, der Objektraum durch die Steuerung des Ortes der Bilder der Lichtquellpunkte zwei- oder dreidimensional und mit hoher Ortsauflösung abgetastet werden. So kann auch bei einem konfokalen Verfahren elektronisch-steuerbar die effektiv wirkende optische Achse der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente lateral positioniert werden, um das Objekt in einer noch feineren lateralen Skala abzutasten.Thus, by means of a confocal arrangement without moving components, ie solely by means of refractive-power-variable imaging component, which is then embodied as an electronically controlled amplitude or phase grating, the object space is scanned by controlling the location of the images of the light source points two- or three-dimensionally and with high spatial resolution become. Thus, even with a confocal process electronically controllable, the effectively acting optical axis of the refractive power variable, imaging component can be laterally positioned to scan the object in an even finer lateral scale.
Die chromatische, brechkraftvariable, abbildende Komponente kann präzise auf die vorhandenen chromatischen Längsaberrationen der Komponenten der konfokalen Anordnung abgestimmt werden. So kann eine angepasste, chromatische Gesamt-Längs-Aberration der konfokalen Anordnung erzeugt werden, die für eine gewünschte Skala der zwei- oder dreidimensionalen Abtastung optimal geeignet ist.The chromatic, refractive power variable, imaging component can be precisely tuned to the existing longitudinal chromatic aberrations of the components of the confocal array. Thus, an adjusted, overall chromatic longitudinal aberration of the confocal array can be generated that is optimally suited for a desired scale of the two- or three-dimensional scan.
Grundsätzlich ist es aber auch möglich, beispielsweise für die Vermessung makroskopischer Objekte in der Größenordnung von 200 mm × 200 mm × 200 mm, dass eine brechkraftvariable Anordnung als 2f1–2f2-Anordnung, bzw. als 4f-Anordnung, mit zwei Objektiven aufgebaut ist und dass die brechkraftvariable, abbildende Komponente mit mindestens einer diffraktiven Linse oder Reflektor dabei zumindest näherungsweise in der gemeinsamen inneren Brennebene angeordnet ist. Die brechkraftvariable, abbildende Komponente kann zur Durchfokussierung auch elektronisch steuerbar aufgebaut sein. Die letzte Brennebene der 2f1–2f2-Anordnung, bzw. der 4f-Anordnung, in Beleuchtungsrichtung fällt dabei zumindest näherungsweise mit der Brennebene des Prüflingsobjektivs zusammen, die dem Objekt abgewandt ist. Die Pupille ist in der inneren Brennebene der 2f1–2f2-Anordnung, bzw. der 4f-Anordnung, oder in einer zu dieser optisch konjugierten Ebene angeordnet. Möglich ist aber auch eine Anordnung der Pupillenblende in der dem Objekt zugekehrten Brennebene des Prüflingsobjektivs. Das Prüflingsobjektiv sollte im Zusammenwirken mit der 2f1–2f2-Anordnung und der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente zumindest näherungsweise beugungsbegrenzt sein, damit sich für die makroskopische konfokale Anordnung eine hohe Tiefenauflösung ergeben kann.In principle, however, it is also possible, for example, for the measurement of macroscopic objects in the order of 200 mm × 200 mm × 200 mm, that a refractive power variable arrangement is constructed as a 2f1-2f2 arrangement, or as a 4f arrangement, with two objectives, and that the refractive power variable, imaging component with at least one diffractive lens or reflector is thereby arranged at least approximately in the common inner focal plane. The refractive power variable, imaging component can also be constructed electronically controllable for focussing. The last focal plane of the 2f1-2f2 arrangement, or the 4f arrangement, falls in the illumination direction at least approximately with the focal plane of the DUT lens together, which faces away from the object. The pupil is arranged in the inner focal plane of the 2f1-2f2 arrangement, or the 4f arrangement, or in a plane which is optically conjugate to it. However, it is also possible to arrange the pupil diaphragm in the focal plane of the specimen objective facing the object. The device under test should be at least approximately diffraction-limited in cooperation with the 2f1-2f2 arrangement and the refractive power variable, imaging component, so that a high depth resolution can result for the macroscopic confocal arrangement.
Die brechkraftvariable, abbildende Komponente kann elektronisch-steuerbar diffraktiv ausgebildet sein. Durch eine elektronisch gesteuerte Ortsfrequenzvariation kann die Brechkraft der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente verändert werden. Ferner kann die effektiv wirkende optische Achse der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente elektronisch-steuerbar lateral so positioniert werden, dass die Bilder der Lichtquellpunkte hierbei das Objekt in einer lateralen Skala abtasten.The refractive power variable, imaging component may be formed electronically controllable diffractive. By an electronically controlled spatial frequency variation, the refractive power of the refractive power variable, imaging component can be changed. Furthermore, the effective-acting optical axis of the refractive-power-variable, imaging component can be laterally positioned electronically-controllable such that the images of the light source points in this case scan the object in a lateral scale.
Nachfolgendes wird durch den Anspruch 2 abgedeckt: Eine konfokale Anordnung, die insbesondere für makroskopische Objekte ausgebildet ist, weist eine brechkraftvariable, abbildende Komponente mit einem Prüfobjektiv auf, wobei die brechkraftvariable, abbildende Komponente auch mindestens eine diffraktive Subkomponente aufweisen kann. Erfindungsgemäß ist eine Hauptebene der brechkraftvariablen, abbildenden Komponente zumindest näherungsweise in der dem objektabgewandten Brennebene des Prüfobjektivs oder in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene angeordnet. Dabei stellt die dem Objekt zugewandte Brennebene des Prüfobjektivs zumindest näherungsweise die Pupillenebene des Gesamtsystems für die Objektbeleuchtung und -abbildung dar. Die Pupillenebene kann aber auch in einer zu dieser Brennebene optisch konjugierten Ebene angeordnet sein. So kann auch ein makroskopisches Objekt mit einer konfokalen Anordnung abgetastet werden. Bei dieser Anordnung besteht im Array-Raum Telezentrie und im Objektraum besteht ein zentralperspektivischer Strahlengang.The following is covered by claim 2: A confocal arrangement, which is designed in particular for macroscopic objects, has a refractive-power-variable, imaging component with a test objective, wherein the refractive-power-variable, imaging component can also have at least one diffractive subcomponent. According to the invention, a main plane of the refractive-power-variable, imaging component is arranged at least approximately in the focal plane of the test objective facing away from the object or in a plane optically conjugate to this focal plane. In this case, the focal plane of the test objective facing the object represents, at least approximately, the pupil plane of the overall system for the object illumination and illumination. However, the pupil plane can also be arranged in a plane optically conjugate to this focal plane. Thus a macroscopic object with a confocal arrangement can also be scanned. In this arrangement, there is telecentricity in the array space, and there is a central perspective beam path in the object space.
Beschreibung der FigurenDescription of the figures
Die Erfindung wird beispielhaft anhand der
In
Die
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---|---|---|---|
DE10321885.8A DE10321885B4 (en) | 2003-05-07 | 2003-05-07 | Arrangement and method for highly dynamic, confocal technology |
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---|---|---|---|
DE10321885.8A DE10321885B4 (en) | 2003-05-07 | 2003-05-07 | Arrangement and method for highly dynamic, confocal technology |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE10321885A1 DE10321885A1 (en) | 2004-12-02 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10321885.8A Expired - Fee Related DE10321885B4 (en) | 2003-05-07 | 2003-05-07 | Arrangement and method for highly dynamic, confocal technology |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10321885B4 (en) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006007170B4 (en) * | 2006-02-08 | 2009-06-10 | Sirona Dental Systems Gmbh | Method and arrangement for fast and robust chromatic confocal 3D metrology |
DE102007019267A1 (en) * | 2007-04-24 | 2008-10-30 | Degudent Gmbh | Measuring arrangement and method for three-dimensional measuring of an object |
DE102007023445A1 (en) * | 2007-05-16 | 2008-11-20 | Jenoptik Laser, Optik, Systeme Gmbh | Confocally imaging optical system for measuring instrument, has shading element designed as center screen that is formed by half nominal diameter of aperture, where shading element is designed as elliptical center screen |
DE102009001086B4 (en) | 2009-02-23 | 2014-03-27 | Sirona Dental Systems Gmbh | Hand-held dental camera and method for 3D optical measurement |
DE102009025815A1 (en) | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Degudent Gmbh | Measuring arrangement and method for three-dimensional measuring of an object |
DE102011007751B4 (en) * | 2011-04-20 | 2023-10-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Wide-field microscope and method for wide-field microscopy |
JP5834979B2 (en) * | 2012-02-03 | 2015-12-24 | オムロン株式会社 | Confocal measuring device |
JP5994504B2 (en) * | 2012-09-14 | 2016-09-21 | オムロン株式会社 | Confocal measuring device |
JP5966982B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-08-10 | オムロン株式会社 | Confocal measuring device |
EP3146291A2 (en) | 2014-05-18 | 2017-03-29 | ADOM Advanced Optical Technologies Ltd. | System for tomography and/or topography measurements of a layered object |
DE102018117470A1 (en) * | 2018-07-19 | 2020-01-23 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for determining the thickness and refractive index of a layer |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3013467A (en) * | 1957-11-07 | 1961-12-19 | Minsky Marvin | Microscopy apparatus |
DE19612846A1 (en) * | 1996-03-30 | 1997-10-02 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Arrangement for producing defined coloured longitudinal defect in confocal microscopic beam path |
-
2003
- 2003-05-07 DE DE10321885.8A patent/DE10321885B4/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3013467A (en) * | 1957-11-07 | 1961-12-19 | Minsky Marvin | Microscopy apparatus |
DE19612846A1 (en) * | 1996-03-30 | 1997-10-02 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Arrangement for producing defined coloured longitudinal defect in confocal microscopic beam path |
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
F. Bitte, G. Dussler, T. Pfeifer: 3D micro-inspection goes DMD. In: Optics and Lasers in Engineering, 36, 2001, 155--167. * |
H. J. Tiziani, H.-M. Uhde: Three-dimensional image sensing by chromatic confocal microscopy. In: APPLIED OPTICS, 33, 1 April 1994, 10, 1838--1843. * |
H. J. Tiziani, R. Achi, R. N. Krämer: Chromatic confocal microscopy with microlenses. In: Journal of Modern Optics, 43, 1996, 1, 155--163. * |
Sungdo Cha, Paul C. Lin, Lijun Zhu, Pang-Chen Sun, Yeshaiahu Fainman: Nontranslational three-dimensional profilometry by chromatic confocal microscopy with dynamically configurable micromirror scanning. In: APPLIED OPTICS, 39, 1 June 2000, 16, 2605--2613. * |
Vincent Laude: Twisted-nematic liquid-crystal pixelated active lens. In: Optics Communications, 153, 15 July 1998, 134--152. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10321885A1 (en) | 2004-12-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8122 | Nonbinding interest in granting licences declared | ||
8181 | Inventor (new situation) |
Inventor name: KOERNER, KLAUS, DR., 10245 BERLIN, DE Inventor name: RUPRECHT, AIKO, DIPL.-PHYS., 22880 WEDEL, DE |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |