DE10206073B4 - Device for detecting power-driven electromagnetic pulses - Google Patents
Device for detecting power-driven electromagnetic pulses Download PDFInfo
- Publication number
- DE10206073B4 DE10206073B4 DE2002106073 DE10206073A DE10206073B4 DE 10206073 B4 DE10206073 B4 DE 10206073B4 DE 2002106073 DE2002106073 DE 2002106073 DE 10206073 A DE10206073 A DE 10206073A DE 10206073 B4 DE10206073 B4 DE 10206073B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- housing
- pulses
- pulse
- waveguide
- line element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0878—Sensors; antennas; probes; detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0842—Measurements related to lightning, e.g. measuring electric disturbances, warning systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
Vorrichtung zur Erfassung leitungsgeführter elektromagnetischer Pulse, umfassend ein die Vorrichtung (10) im wesentlichen durchquerendes Leitungselement (12) und ein das Leitungselement (12) umgebendes Gehäuse (13), wobei das Leitungselement (12) und das Gehäuse (13) einen Wellenleiter (14) bilden, auf den die zu erfassenden Pulse (11) geführt werden, und daß im Bereich (15) zwischen Gehäuse (13) und Leitungselement (12) ein Sensorelement (16) angeordnet ist, das die im Wellenleiter (14) geführte, den Puls (11) mit kurzen Anstiegzeiten bis in den Bereich von 10–12 s und mit Spannungsamplituden bis in den Bereich von 104 V charakterisierende Größe (Zeit, Amplitude) in Form einer vom Wellenleiter (14) in eine elektromagnetische Feldgröße umgewandelten Größe erfaßt, wobei die Vorrichtung (10) Teil einer Schaltung ist, deren Ansprechverhalten in bezug auf die Pulse (11) erfaßbar und meßbar ist.Device for detecting conducted electromagnetic pulses, comprising a line element (12) essentially traversing the device (10) and a housing (13) surrounding the line element (12), wherein the line element (12) and the housing (13) comprise a waveguide (14 ), on which the pulses to be detected (11) are guided, and that in the region (15) between the housing (13) and line element (12), a sensor element (16) is arranged, the guided in the waveguide (14), the Detecting pulse (11) with short rise times in the range of 10 -12 s and magnitude (time, amplitude) characterized by voltage amplitudes within the range of 10 4 V in the form of a variable converted into an electromagnetic field quantity by the waveguide (14), the device (10) being part of a circuit whose response with respect to the pulses (11) is detectable and measurable.
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Erfassung leitungsgeführter elektromagnetischer Pulse.The The invention relates to a device for detecting conducted electromagnetic Pulse.
Wesentlicher Anteil moderner Informations- oder Kommunikationssysteme sind elektronische Bauteile und Schaltungen, die aber auch in nahezu allen gewerblichen Bereichen wie elektronischen Steuer- und Regelsystemen in allen denkbaren Anwendungsgebieten eingesetzt werden und beispielsweise auch in der modernen Luftfahrttechnik, bei der sich immer stärker lediglich elektrische bzw. elektronisch gesteuertes Fluggerät (fly-by-wire) durchsetzt. Dieses gilt gleichermaßen auch für die verschiedensten wehrtechnischen Bereiche. Alle diese Systeme sind mehr oder weniger in bezug auf Funktionsstörungen aufgrund von außen einwirkender elektrischer Störungen gemäß bestehender EMV-Normen mehr oder weniger gesichert, soweit diese Störungen, beispielsweise elektromagnetische Spannungsimpulse, im Folgenden kurz Pulse genannt, niedrigfrequent sind, eine kleine Spannungsamplitude aufweisen und große Pulsanstiegszeiten, d.h. geringe Pulssteilheiten, aufweisen.essential Share of modern information or communication systems are electronic components and circuits, but also in almost all commercial sectors like electronic control systems in every conceivable way Application areas are used and, for example, in of modern aviation technology, in which more and more only electric or electronically controlled aircraft (fly-by-wire) interspersed. This applies equally to the most diverse defense technology Areas. All of these systems are more or less related to dysfunction on the outside acting electrical interference according to existing EMC standards more or less assured, as far as these disturbances, For example, electromagnetic voltage pulses, below short called pulses, low frequency, a small voltage amplitude exhibit and great Pulse rise times, i. low pulse slopes, have.
Die bisherigen elektronischen Systeme der eingangs beispielhaft beschriebenen Art sind aber mehr oder weniger schutzlos sogenannten transienten Störungen bestimmter Art ausgesetzt. Die besagten transienten Störungen stellen im Rahmen der elektromagnetischen Verträglichkeit EMV eine besondere Klasse von Störungen dar und können bei Elektronikkomponenten der besagten Systeme je nach Energieinhalt zu kurzfristigen Störungen aber auch zu einer vollständigen Zerstörung und auch zum Ausfall des Systems in seiner Gesamtheit führen. Transiente Störungen weisen zudem vielfach nicht nur einen unipolaren sondern auch einen bipolaren Verlauf auf, was ihre Beherrschbarkeit noch stärker erschwert. Neben einmalig auftretenden Störungen zählen im Allgemeinen auch sogenannte "bursts", bei denen es sich um periodische wiederkehrende Puls- oder Schwingungspakete handelt, dazu. Typisch bipolare Transiente sind zum Beispiel exponentiell abklingende harmonische Funktionen. Transiente elektromagnetische Störungen werden auch elektromagnetische Pulse EMP genannt.The Previous electronic systems of the initially described by way of example Species are more or less defenseless so-called transient disorders of a certain kind. Put the said transient disturbances in the context of electromagnetic compatibility EMC a special Class of disorders can and can in electronic components of said systems depending on the energy content to short-term disturbances but also to a complete one destruction and also lead to the failure of the system in its entirety. transient disorders In addition, in many cases not only have a unipolar but also one bipolar development, which makes their controllability even more difficult. In addition to one-time disturbances counting In general, so-called "bursts", which are are periodic recurrent pulse or vibration packets, in addition. For example, bipolar transients are exponentially decaying harmonic functions. Transient electromagnetic interference will also called electromagnetic pulses EMP.
Typische in der elektromagnetischen Verträglichkeit relevante Quellen für transiente Störungen sind neben Blitzen (LEMP: Ligthning electromagnetic Pulse) und nuklearen elektromagnetischen Pulsen (NEMP: Nuclear electromagnetic Pulse) elektrostatische Entladungen (ESD) und Schalthandlungen in Anlagen der elektrischen Energietechnik und Leistungselektronik. Ebenfalls können im Kurzschlußfall entsprechende Schmelzsicherungen zu nicht unerheblichen transienten Störungen auf Leitungen führen. Neben den erwähnten klassischen elektromagnetischen Pulsen (EMP) ist auch die Klasse der sogenannten Ultra-wide-band-pulse von besonderer Bedeutung im Hinblick auf die schädigende bzw. zerstörende Wirkung elektronischer Systeme. Dennoch stellen die UWB-Pulse für Systeme, deren Einkopplungspfade über typische Längen von einigen Zentimetern bis wenige Meter betragen, eine deutlich höhere Bedrohung dar als ein NEM-Puls gleicher Feldstärke. Da es sich beim NEMP um einen waffentechnisch hergestellten Puls handelt, spricht man im Zusammenhang mit UWB-Pulsen auch von NNEMP (Nonnuclear-EMP), um diese Verwandtheit zu zeigen.typical in electromagnetic compatibility relevant sources for transient disturbances are in addition to lightning (LEMP: Ligthning electromagnetic Pulse) and nuclear electromagnetic pulses (NEMP: nuclear electromagnetic pulse) Electrostatic discharges (ESD) and switching operations in plants electrical power engineering and power electronics. Also can in Short circuit appropriate fuses to not insignificant transients disorders lead on lines. In addition to the mentioned Classical electromagnetic pulses (EMP) is also the class the so-called ultra-wide-band-pulse of particular importance in the Regard to the harmful or destructive Effect of electronic systems. Nevertheless, the UWB pulses for systems their coupling paths over typical lengths from a few centimeters to a few meters, one clearly higher Threat as a NEM pulse of the same field strength. Because the NEMP is around is a weapon manufactured pulse, one speaks in the Also related to UWB pulses from NNEMP (Nonnuclear-EMP) to show this kinship.
Der UWB-Puls hat typischerweise eine Anstiegzeit von deutlich kleiner 1 ns und eine Dauer von 2,5 ns. Als UWB-Pulse werden dementsprechend Pulse mit extrem kurzen Anstiegzeiten und entsprechend breitbandigen Spektren bezeichnet. Die Steilheit dieser Pulse, die auch synthetisch als waffentechnisch generierte Pulse vorliegen können, liegen um Größenordnungen über denen anderer Pulse wie den besagten Blitz-Pulsen bzw. LEMPs oder sogenannten Electrical Fast Transiences, die bei Schalthandlungen über Versorgungsleitungen eingekoppelt werden können und als klassische zivile Bedrohung vorliegen.Of the UWB pulse typically has a rise time of significantly less 1 ns and a duration of 2.5 ns. As UWB pulses are accordingly pulses with extremely short rise times and corresponding broadband spectra designated. The steepness of these pulses, which is also synthetic Weapons technically generated pulses may be orders of magnitude above those other pulses such as the said flash pulses or LEMPs or so-called Electrical Fast Transiences used in switching operations via supply lines can be coupled and as a classic civil threat.
Bisher lassen sich mit Hilfe von nichtlinearen Schutzschaltungen leitungsgeführte Transiente (LEMP und NEMP) wirksam unterdrücken bzw. ausreichend dämpfen.So far With the aid of non-linear protective circuits, conducted transients (LEMP and NEMP) or sufficiently dampen.
Aufgrund des möglichen, sehr unterschiedlichen Charakters transienter Störungen ist eine für alle möglichen Fälle geeignete universelle Schutzschaltung bisher nicht realisierbar. Da aber eine Realisierbarkeit derartiger Schutzschaltungen von außerordentlicher Bedeutung ist, die sogar zukünftig einen noch größeren Stellenwert haben wird, ist es zwingend erforderlich, Mittel zur Verfügung zu haben, mit denen das transiente Ansprechverhalten einer Schutzschaltung erfaßt bzw. gemessen werden kann. Dazu muß beispielsweise eine transiente Überspannung in das System eingespeist werden, die Messung der Spannung des transienten Pulses vor und hinter der Schutzschaltung durchgeführt werden und gegebenenfalls in der Schutzschaltung selbst.by virtue of the possible, very different character of transient disturbances is one for all possible ones Cases appropriate Universal protection circuit previously not feasible. But there is one Realizability of such protective circuits of extraordinary Meaning is that even in the future even more important it is imperative to have funds available too have with which the transient response of a protection circuit detected or can be measured. This must, for example, a transient overvoltage be fed into the system, measuring the voltage of the transient Pulses are performed in front of and behind the protection circuit and optionally in the protection circuit itself.
Bisher wurden beispielsweise leitungsgeführte transiente Pulse mit sogenannten Hochspannungstastköpfen, sogenannten Stromzangen (Stromzangen sind aufgrund ihrer speziellen Bauweise bzw. ihres Funktionsprinzips derart genannte Stromsensoren; engl.: current probe) oder Dämpfungsgliedern bzw. Spannungsteilern durchgeführt. Hochspannungstastköpfe und Stromzangen haben aber den grundsätzlichen Nachteil, daß ihr Einsatz, bedingt durch ihre Bauweise, auf einen Frequenzbereich von < 500 MHz bzw. < 3 GHz beschränkt ist. Sollen jedoch Anstiegzeiten im Bereich von 100 pico-Sekunden unverfälscht gemessen werden können, sind Bandbreiten von ca. 8 GHz erforderlich und somit deutlich höhere Bandbreiten als sie Hochspannungstastköpfe und Stromzangen aufweisen können. Bei Stromzangen kommt es zusätzlich zu einer Fehlanpassung durch den Sensor an sich und somit zu einer Verfälschung des zu messenden Pulses.So far, for example, conducted transient pulses with so-called high-voltage probes, so-called current clamps (current clamps are so-called current sensors) or attenuators or voltage dividers are performed on account of their special construction or operating principle. However, high-voltage probes and current probes have the fundamental disadvantage that their use, due to their design, is limited to a frequency range of <500 MHz or <3 GHz. However, if rise times in the range of 100 pico-seconds can be measured unadulterated, bandwidths of about 8 GHz are required and thus significantly higher bandwidths than they can have high voltage probes and current clamps. With current clamps, there is in addition to a mismatch by the sensor itself and thus to a distortion of the measured pulse.
Grundsätzlich stehen auch Dämpfungsglieder und Spannungsteiler zur Verfügung, sie weisen jedoch ebenfalls Nachteile auf. So verfügen Dämpfungsglieder nur über bestimmte maximale Energieabsorptionen, d.h. es muß vor der Messung ganz genau bekannt sein, in welcher Größenordnung die zu messende Größe liegen wird. Eine galva nische Entkopplung ist nicht möglich. Dadurch kann im Zuge der Pulsmessung eine empfindliche und hochwertige Meßelektronik selbst zerstört werden. Die Herstellung von Dämpfungsgliedern, die auch noch im Bereich von einigen GHz linear sind, ist zudem äußerst aufwendig. Zusätzlich haben Dämpfungsglieder eine Anstiegzeit in der Größenordnung von 10 ps (pico-Sekunden). Bei der gegebenenfalls notwendigen Kaskadierung ist eine Gesamtanstiegszeit in der Größenordnung der Anstiegzeiten der zu messenden Signale erwartbar, so daß Dämpfungsglieder zur Erfassung der fraglichen Pulse ausscheiden.Basically also attenuators and voltage dividers available, However, they also have disadvantages. So have attenuators only over certain maximum energy absorptions, i. it must be before the Measurement be known exactly, in which order of magnitude to be measured Size are becomes. Galvanic decoupling is not possible. This can be done in the course of Pulse measurement a sensitive and high-quality measuring electronics themselves are destroyed. The production of attenuators, which are also linear in the range of a few GHz, is also extremely expensive. additionally have attenuators a rise time in the order of magnitude of 10 ps (pico-seconds). In case of any necessary cascading is an overall rise time in the order of the rise times expected to be measured signals so that attenuators for detection excrete the pulses in question.
Aus der Publikation "AEG-Telefunken: "TEM-Zellen", Firmenschrift "AEG-Telefunken Hochfrequenztechnik EMV/EMP-Zentrum, A1E161 09.85, Prospekt, 1985, Seiten 1–6" ist eine Einrichtung in Form einer Meßkammer bekannt, die für die Prüfung der Stör-/Zerstörfestigkeit von Bauelementen, Geräten und Funktionseinheiten durch elektrische Felder mit CW (Beeinflussungsuntersuchungen im Rahmen der EMV) bestimmt ist. Mit dieser Einrichtung soll die Stör-/Zerstörfestigkeit von Bauelementen, Geräten und Funktionseinheiten gegen elektromagnetische Feldimpulse aller Art (EMB) und die Kalibrierung von Feldstärke-Meßgeräten sowie Feldsensoren (EMV und EMP) dadurch bewerkstelligt werden können, daß die Testobjekte, d.h. Bauelemente, Geräte und Funktionseinheiten, in die bekannte Meßkammer zur Ausführung der Messung eingebracht werden.Out the publication "AEG-Telefunken:" TEM cells ", company publication" AEG-Telefunken high frequency technology EMC / EMP-center, A1E161 09.85, brochure, 1985, pages 1-6 "is a device in the form of a measuring chamber known for the examination of Error / surge immunity of components, devices and functional units by electric fields with CW (influencing investigations within the scope of the EMC). With this device, the Stör- / Zerstörfestigkeit should of components, devices and Functional units against electromagnetic field pulses of all kinds (EMB) and the calibration of field strength meters and field sensors (EMC and EMP) can be accomplished by having the test objects, i. components, equipment and functional units, in the known measuring chamber for carrying out the Measurement are introduced.
Aus der Publikation "MISLAN J.D.: "Comparison of Failure Mode Criteria in Electromagnetic Environments", IN: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. IN-34/4, Dez. 1985, S. 581–584" ist eine Einrichtung bekannt, die der elektromagnetischen Beaufschlagung von Funktionseinheiten, Geräten und Bauelementen dienen soll, d.h. allgemein Objekten, die in bezog auf ihre Stör-/Zerstörfestigkeit untersucht werden sollen und dazu mit elektromagnetischen Feldern beaufschlagt werden.Out the publication "MISLAN J.D .: "Comparison of Failure Mode Criteria in Electromagnetic Environments ", IN: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. IN-34/4, Dec. 1985, pages 581-584 "is a device known that the electromagnetic loading of functional units, devices and components, i. e. generally objects that referred in on their interference / destruction resistance to be investigated and to do so with electromagnetic fields be charged.
Es ist somit Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zur Erfassung elektromagnetischer Pulse der Eingangs genannten Art zu schaffen, die die Nachteile der bisher für diese Zwecke bekannten, voraufgeführten Systeme nicht hat.It Thus, it is an object of the present invention to provide a device for Detection of electromagnetic pulses of the type mentioned above create the disadvantages of the previously known for this purpose, pre-listed systems does not have.
Gelöst wird die Aufgabe durch eine Vorrichtung nach Anspruch 1. Is solved the object by a device according to claim 1.
Vorteilhafte Ausgestaltungen werden in den Unteransprüche angegeben.advantageous Embodiments are specified in the subclaims.
Die erfindungsgemäße Lösung schafft eine koaxiale TEM-Zelle, auf die die zu untersuchende transiente Störung in Form eines leitungsgeführten elektromagnetischen Pulses geführt wird. Im Inneren der Vorrichtung wird dann die elektromagnetische Feldgröße erfaßt. Dadurch kommt es faktisch zu keiner Beeinflussung des zu messenden Pulses und eine galvanische Isolierung zwischen dem Leitungselement der Vorrichtung und dem Sensorelement der Vorrichtung ist gewährleistet. Das Sensorelement wird dabei vorteilhalfterweise derart gewählt, daß es äußerst breitbandig ist, mit der Folge, daß die Bandbreite der Vorrichtung Pulsanstiegzeiten, wie angestrebt, im pico-Sekundenbereich zu erfassen ermöglicht. Die Konzeption der Vorrichtung gemäß der erfindungsgemäßen Lösung macht es möglich, daß der erfindungsgemäße TEM-Wellenleiter beispielsweise als 50 Ohm-System ausgelegt werden kann. Ein 50 Ohm-System wird regelmäßig dann gewählt, wenn der gesamte Meßaufbau (Generator, Kabel etc.) auch auf einem 50 Ohm-System basiert. Grundsätzlich ist aber auch z.B. ein 75 Ohm- oder 100 Ohm-System möglich.The creates solution according to the invention a coaxial TEM cell, to which the transient disturbance to be investigated in the form of a conducted electromagnetic Pulse guided becomes. Inside the device, the electromagnetic field size is then detected. Thereby In fact, there is no influence on the pulse to be measured and a galvanic insulation between the line element of Device and the sensor element of the device is ensured. The sensor element is thereby advantageously halved so that it is extremely broadband is, with the result that the Bandwidth of the device Pulse rise times as aimed at pico seconds range. The conception of Device according to the inventive solution makes it is possible that the TEM waveguide according to the invention for example, can be designed as a 50 ohm system. A 50 ohm system will be regular then selected if the entire measurement setup (Generator, cables, etc.) are also based on a 50 ohm system. Basically but also e.g. a 75 ohm or 100 ohm system possible.
Ein erfindungsgemäßer Vorteil ist auch, daß mit der gleichen Vorrichtung auch wesentlich kleinere Spannungen, also auch über mehrere Dekaden, gemessen werden können, beispielsweise von einer Spannungsamplitude von ca. 5–10 V an, ohne daß der Aufbau der Vorrichtung geändert werden muß, was gleichermaßen auch für den Meßaufbau unter Einschluß der Vorrichtung gilt.One Advantage according to the invention is also that with the same device also much smaller voltages, ie also over several decades, can be measured, for example, from a voltage amplitude from about 5-10 V on without the Structure of the device changed must be what equally also for the measurement setup including the Device applies.
Vorteilhafterweise kann als Feldgröße die elektrische Feldgröße des Pulses erfaßt werden, es ist aber auch möglich, vorzugsweise als Feldgröße die magnetische Feldgröße des Pulses zu erfassen. Das heißt mit anderen Worten, daß die Sensorelemente E-Feldsensoren sein können, es ist aber auch möglich, H-Feldsensoren als Sensorelemente einzusetzen oder aber auch in der Vorrichtung sowohl einen E-Feldsensor als auch einen H-Feldsensor einzusetzen.advantageously, can be used as field size the electric Field size of the pulse detected but it is also possible preferably as field size the magnetic Field size of the pulse capture. This means in other words, that the Sensor elements E-field sensors may be, but it is also possible H-field sensors to use as sensor elements or in the device to use both an E-field sensor and an H-field sensor.
Um eine äußerst kompakte Bauweise der Vorrichtung zu schaffen, ist es vorteilhaft, das Gehäuse mit einem Dielektrikum zu füllen, d.h. einen TEM-Wellenleiter mit Dielektrikum auszubilden.Around an extremely compact To create a construction of the device, it is advantageous to use the housing to fill a dielectric, i.e. form a TEM waveguide with dielectric.
Äußerst vorteilhaft ist es, das Innere des Gehäuses mit einem Dielektrikum ϵr ≥ 1 zu wählen, d.h. zur Erhöhung der Spannungsfestigkeit beispielsweise ϵr ≥ 2, so daß das Dielektrikum in diesem Falle nicht einfach Isolator ist, sondern vielmehr die Meßgröße "enthält".It is extremely advantageous to choose the interior of the housing with a dielectric ε r ≥ 1, ie to increase the dielectric strength, for example, ε r ≥ 2, so that the dielectric in this case is not simply an insulator, but rather "contains" the measured variable.
Vorzugsweise ist das Sensorelement für die Erfassung einer elektrischen Feldgröße in Form eines konischen Monopols ausgebildet. Diese Art des Sensorelementes weist eine extreme Bandbreite von typischerweise 10 GHz auf.Preferably is the sensor element for the detection of an electric field size in the form of a conical Monopols trained. This type of sensor element has an extreme Bandwidth of typically 10 GHz.
Um die Vorrichtung schnell vor bzw. hinter die beispielhaft zu untersuchende Schutzschaltung bzw. gegebenenfalls auch schnell in die zu untersuchende Schutzschaltung selbst einfügen zu können, ist es vorteilhaft, die Vorrichtung mit einem Eingangsverbindungselement und einem Ausgangsverbindungselement zu versehen, wobei diese Verbindungselemente die an sich in der HF-Technik bekannten N-Stecker oder 7/16-Stecker bzw. Steckverbindungen sein können.Around the device quickly before or after the example to be examined Protection circuit or possibly also quickly into the examined Insert protection circuit yourself to be able to it is advantageous, the device with an input connector and to provide an output connector, said connectors the N-type plug or 7/16 plug known per se in HF technology or plug connections can be.
Um die Vorrichtung so kompakt wie möglich auszubilden, ist es vorteilhaft, das Gehäuse derart konisch auszubilden, daß es sich zu den Verbindungselementen hin verjüngt. Die konische Ausgestaltung hat auch den Vorteil, daß damit ein reflexionsfreies 50-Ohm-System geschaffen werden kann, denn jeder Sprung oder Knick (Diskontinuität) würde Reflexion verursachen. Deshalb werden die Übergangsbereiche bzw. Knicke zwischen konischem Teil und nicht-konischem Teil vorzugsweise auch abgerundet.Around to make the device as compact as possible It is advantageous to the housing so conical that it tapers towards the fasteners. The conical design also has the advantage that with it A reflection-free 50 ohm system can be created because any crack or crease (discontinuity) would cause reflection. That's why the transition areas or kinks between conical part and non-conical part preferably also rounded.
Es sei aber darauf hingewiesen, daß alternativ oder zusätzlich zu den vorangehend aufgeführten Maßnahmen zur Kompensation von Diskontinuitäten der Vorrichtung auch andere Techniken möglich sind, beispielsweise eine Kompensation von Sprungstellen durch zusätzliche, bauformbedingte Induktivitäten. Auch diese Maßnahmen können dem Ziel der Verwirklichung einer reflexionsarmen Vorrichtung dienen, um das zu messende Signal möglichst gering zu beeinflussen.It but it should be noted that alternatively or additionally to the measures listed above to compensate for discontinuities of the device also others Techniques possible are, for example, a compensation of discontinuities by additional, Construction-related inductances. These measures too can aim at the realization of a low-reflection device, as possible to the signal to be measured low influence.
Aus dem gleichen Grunde ist es vorteilhaft, daß das Leitungselement selbst sich zu dessen beidseitigen Anschlüssen hin konisch verjüngt ausgebildet ist.Out For the same reason, it is advantageous that the conduit element itself formed conically tapered to its two-sided connections is.
Schließlich ist es aus Gründen der vereinfachten Fertigung der Vorrichtung und aus Gründen der Montage bzw. Demontage für Wartungs- und Reparaturzwecke und auch gegebenenfalls zum vereinfachten Austausch des einen Dielektrikums gegen ein anderes Dielektrikum vorteilhaft, das Gehäuse mehrteilig auszubilden, beispielsweise zwei- oder dreiteilig, so daß, wie angestrebt, eine Demontage bzw. Montage auf einfache Weise möglich ist.Finally is it for reasons the simplified manufacture of the device and for the sake of Assembly or disassembly for Maintenance and repair purposes and also, if necessary, to the simplified Replacing one dielectric with another dielectric advantageous, the housing in several parts form, for example, two or three parts, so that, as desired, disassembly or assembly is possible in a simple manner.
Die Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf die nachfolgenden schematischen Zeichnungen anhand eines Ausführungsbeispieles im Einzelnen beschrieben. Darin zeigen:The Invention will now be with reference to the following schematic Drawings using an exemplary embodiment described in detail. Show:
Zunächst wird
Bezug genommen auf die Darstellungen der Vorrichtung
Grundsätzlich kann
die Vorrichtung
Der
Innenleiter, d.h. das Leitungselement
In
Das
Gehäuse
Das
im Gehäuse
In
- ω:
- Kreisfrequenz
- ϵ0:
- Permittivitätskonstante
- AE:
- effektive Sensorfläche
- RL:
- Wellenwiderstand der angeschlossenen Messleitung.
- ω:
- angular frequency
- ε 0 :
- permitivity
- A E :
- effective sensor surface
- R L :
- Characteristic impedance of the connected measuring cable.
- 1010
- Vorrichtungcontraption
- 1111
- Puls/ImpulsPulse / Pulse
- 1212
- Leitungselementline element
- 120120
- konischer Bereichconical Area
- 1313
- Gehäusecasing
- 130130
- Gehäuseteilhousing part
- 131131
- Gehäuseteilhousing part
- 1414
- Wellenleiterwaveguides
- 1515
- BereichArea
- 1616
- Sensorelementsensor element
- 1717
- Dielektrikumdielectric
- 1818
- EingangsverbindungselementDoor link
- 1919
- AusgangsverbindungselementOutput connector
- 2020
- AnschlußConnection
- 2121
- AnschlußConnection
- 2222
- Oszillographoscillograph
- 2323
- Impulsgeneratorpulse generator
Claims (11)
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2002106073 DE10206073B8 (en) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | Device for detecting conducted electromagnetic pulses |
PCT/DE2003/000228 WO2003069361A1 (en) | 2002-02-13 | 2003-01-29 | Device for the detection of electromagnetic pulses having short rise times and high voltage amplitudes |
AU2003206645A AU2003206645A1 (en) | 2002-02-13 | 2003-01-29 | Device for the detection of electromagnetic pulses having short rise times and high voltage amplitudes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2002106073 DE10206073B8 (en) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | Device for detecting conducted electromagnetic pulses |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10206073A1 DE10206073A1 (en) | 2003-08-21 |
DE10206073B4 true DE10206073B4 (en) | 2006-03-30 |
DE10206073B8 DE10206073B8 (en) | 2006-09-14 |
Family
ID=27618675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2002106073 Expired - Fee Related DE10206073B8 (en) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | Device for detecting conducted electromagnetic pulses |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AU (1) | AU2003206645A1 (en) |
DE (1) | DE10206073B8 (en) |
WO (1) | WO2003069361A1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0089786A2 (en) * | 1982-03-24 | 1983-09-28 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | High frequency current inducing means |
DE3513091A1 (en) * | 1985-03-07 | 1986-09-11 | BBC Aktiengesellschaft Brown, Boveri & Cie., Baden, Aargau | Device for testing electrical or electronic systems using electromagnetic pulses |
DE3731165C2 (en) * | 1987-09-17 | 1993-07-22 | Deutsche Aerospace Ag, 8000 Muenchen, De | |
EP0280799B1 (en) * | 1982-05-19 | 1993-10-13 | Unisys Corporation | Antenna system for wide bandwidth signals |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2478007A (en) * | 1942-09-05 | 1949-08-02 | Emi Ltd | Apparatus for measuring voltages or electric field intensities in high-frequency electrical transmission lines and wave guides |
US5994891A (en) * | 1994-09-26 | 1999-11-30 | The Boeing Company | Electrically small, wideband, high dynamic range antenna having a serial array of optical modulators |
EP0897786B1 (en) * | 1997-08-21 | 2006-03-22 | Kistler Holding AG | Regulation process for an injection moulding machine for plastics |
US6380725B1 (en) * | 2000-02-15 | 2002-04-30 | Nxtphase Corporation | Voltage sensor |
-
2002
- 2002-02-13 DE DE2002106073 patent/DE10206073B8/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-01-29 AU AU2003206645A patent/AU2003206645A1/en not_active Abandoned
- 2003-01-29 WO PCT/DE2003/000228 patent/WO2003069361A1/en not_active Application Discontinuation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0089786A2 (en) * | 1982-03-24 | 1983-09-28 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | High frequency current inducing means |
EP0280799B1 (en) * | 1982-05-19 | 1993-10-13 | Unisys Corporation | Antenna system for wide bandwidth signals |
DE3513091A1 (en) * | 1985-03-07 | 1986-09-11 | BBC Aktiengesellschaft Brown, Boveri & Cie., Baden, Aargau | Device for testing electrical or electronic systems using electromagnetic pulses |
DE3731165C2 (en) * | 1987-09-17 | 1993-07-22 | Deutsche Aerospace Ag, 8000 Muenchen, De |
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
AEG-Telefunken: "TEM-Zellen", Firmenschrift AEG- Telefunken Hochfrequenztechnik EMV/EMP-Zentrum,A1E 161 09.85, Prospekt, 1985, S. 1-6 |
AEG-Telefunken: "TEM-Zellen", Firmenschrift AEG- Telefunken Hochfrequenztechnik EMV/EMP-Zentrum,A1E161 09.85, Prospekt, 1985, S. 1-6 * |
DVORAK S.L.: "Exact, Closed-Form Expressions for Transient Fields in Homogeneously Filled Wavegui- des", IN: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 42/11, Nov.1994, S.2164-2170 * |
MISLAN J.D.: "Comparsion of Faillure Mode Criteria in Electromagnetic Environments", IN: IEEE Trans- actions on Instrumentation and Measurement, Vol.IM -34/4, Dez. 1985, S.581-584 |
MISLAN J.D.: "Comparsion of Faillure Mode Criteria in Electromagnetic Environments", IN: IEEE Trans-actions on Instrumentation and Measurement, Vol.IM-34/4, Dez. 1985, S.581-584 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10206073A1 (en) | 2003-08-21 |
AU2003206645A1 (en) | 2003-09-04 |
DE10206073B8 (en) | 2006-09-14 |
WO2003069361A1 (en) | 2003-08-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4123725C2 (en) | Device for checking the insulation of an electrical conductor for defects | |
DE2404223C3 (en) | Method for measuring the electrical charge of partial discharges and for locating faults in the insulation of insulated conductors | |
DE2349982A1 (en) | CIRCUIT FOR THE SUPPRESSION OF NOISE SIGNALS AND PROCEDURES FOR CALIBRATING THE CIRCUIT | |
AT523525B1 (en) | Electrical circuit arrangement | |
EP2264472B1 (en) | Device for measuring the loss factor | |
DE102010061605A1 (en) | Fiber optic sensor and measuring device with a fiber optic sensor | |
EP0464021B1 (en) | Measuring device with auxiliary electrode for a gas-insulated, encased high-voltage installation | |
DE10206073B4 (en) | Device for detecting power-driven electromagnetic pulses | |
DE3513091A1 (en) | Device for testing electrical or electronic systems using electromagnetic pulses | |
WO2003075020A1 (en) | Device for the detection of electromagnetic pulses with short rise times and high voltage amplitudes | |
DE102018106493A1 (en) | PROTECTION FOR OSCILLOSCOPE CHANNEL | |
DE20202228U1 (en) | Device for the detection of electromagnetic pulses with short rise times and high voltage amplitudes | |
DE3708731C1 (en) | Electrical circuit arrangement for detecting noise pulses in high-voltage systems | |
DD214461B1 (en) | MEASURING PROBE FOR THE ELECTRICAL DETECTION OF IMPULSE SOFT PARTIAL DISCHARGES | |
DE60113037T2 (en) | Partition passage for electrical high-voltage cable | |
CH699465B1 (en) | Optical voltage measuring device. | |
DE19515068A1 (en) | Arrangement for partial discharge detection in high voltage cables and connection elements | |
AT522128B1 (en) | Checking sheath voltage limiters | |
CH714225A2 (en) | Galvanically isolated measuring system with high common mode rejection. | |
DE3615281A1 (en) | Flexible signal line (cable, lead) having a high level of interference immunity with respect to rapidly changing interference currents and rapidly changing electromagnetic interference fields | |
EP3438626A1 (en) | Sensor cable | |
DE102020005941A1 (en) | Automatically changing termination for cables and wires | |
DE20301824U1 (en) | High voltage cable leakage measurement coupler has rigid coupling capacitor link | |
DE4210185A1 (en) | DEVICE FOR GENERATING SHORT PARTICLE JET PULSES | |
DE2806592A1 (en) | Current discharge monitor for HV insulation tester - uses specialised transformer coupling to display monitor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: TECHNISCHE UNIVERSITAET HAMBURG-HARBURG, 21073 HAMB Owner name: TUTECH INNOVATION GMBH, 21079 HAMBURG, DE |
|
8396 | Reprint of erroneous front page | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20120901 |