DE102023000154B3 - Device for recycling diffuse electromagnetic radiation - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung bestehend aus einer Detektionssensorik 9, welche einen Akzeptanzwinkel für elektromagnetische Strahlung hat, sowie einer materiellen Begrenzung 1 eines Detektionsstrahlengangs 8 elektromagnetischer Strahlung, welche mit einer Probe 12 interagiert hat, Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe 12 enthält und diffus aus einer Messöffnung 4 aus der Probe 12 austritt. Die materielle Begrenzung 1 weist einen Körper 2 mit einer Aushöhlung 3 auf, die für den Detektionsstrahlengang 8 zwei Öffnungen an gegenüberliegenden Seiten des Körpers 2 besitzt, die größere Öffnung ist die Messöffnung 4, die kleinere Öffnung ist eine Strahlungsaustrittsöffnung 5. Die Mantelfläche 7 der Aushöhlung 3 ist hochreflektierend für die elektromagnetische Strahlung und so ausgebildet, diffus aus der Probe 12 heraustretende, Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe 12 enthaltene Strahlung zur erneuten Interaktion in die Probe 12 zurück zu reflektieren. Die vorzugsweise in einer Stufe 6 mit einem Tritt 6a und einer Steigung 6b ausgebildete Mantelfläche 7 ist in beiden Flächen 6a, 6b hochreflektierend und kann Strahlungsrückreflektionen in die Probe 12 nach Einfachreflektion, beispielsweise 22, oder Mehrfachreflektionen, beispielsweise 23, ermöglichen. Die materielle Begrenzung 1 wirkt in einem Messkopf 10 zumindest mit einer Quelle 13 elektromagnetischer Strahlung, einem Beleuchtungsstrahlengang 14 und der Detektionssensorik 9 zusammen.The invention relates to a device consisting of a detection sensor 9, which has an acceptance angle for electromagnetic radiation, and a material boundary 1 of a detection beam path 8 of electromagnetic radiation, which has interacted with a sample 12, contains information on analytical properties of the sample 12 and diffusely exits the sample 12 from a measuring opening 4. The material boundary 1 has a body 2 with a cavity 3, which has two openings on opposite sides of the body 2 for the detection beam path 8, the larger opening is the measuring opening 4, the smaller opening is a radiation exit opening 5. The lateral surface 7 of the cavity 3 is highly reflective for the electromagnetic radiation and is designed to reflect radiation diffusely exiting the sample 12 and containing information on analytical properties of the sample 12 back into the sample 12 for renewed interaction. The lateral surface 7, which is preferably formed in a step 6 with a step 6a and a slope 6b, is highly reflective in both surfaces 6a, 6b and can enable radiation to be reflected back into the sample 12 after single reflection, for example 22, or multiple reflections, for example 23. The material boundary 1 interacts in a measuring head 10 with at least one source 13 of electromagnetic radiation, an illumination beam path 14 and the detection sensor system 9.
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einer Detektionssensorik sowie einer materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs elektromagnetischer Strahlung, welche diffus aus einer Messöffnung einer Probe heraustritt, durch vorhergehende Interaktion mit der Probe Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe enthält und vermittels des Detektionsstrahlengangs der Detektionssensorik zugeführt wird. Die Erfindung betrifft weiterhin einen Messkopf, welcher neben dem Detektionsstrahlengang einschließlich dessen materieller Begrenzung zumindest eine Quelle elektromagnetischer Strahlung, eine Beleuchtungsstelle, an der die elektromagnetische Strahlung in die Probe eintritt, und eine Detektionssensorik aufweist. Die Detektionssensorik erfasst die analytischen Eigenschaften der Probe und kann beispielsweise ein Spektrometer enthalten.The invention relates to a device with a detection sensor and a material limitation of a detection beam path of electromagnetic radiation, which diffusely emerges from a measuring opening of a sample, contains information on analytical properties of the sample through previous interaction with the sample and is fed to the detection sensor by means of the detection beam path. The invention further relates to a measuring head which, in addition to the detection beam path including its material limitation, has at least one source of electromagnetic radiation, an illumination point at which the electromagnetic radiation enters the sample, and a detection sensor. The detection sensor records the analytical properties of the sample and can, for example, contain a spectrometer.
Der Stand der Technik enthält unterschiedliche Anordnungen zur Interaktion elektromagnetischer Strahlung mit der Probe, beispielsweise Durchstrahl-Anordnungen insbesondere für gasförmige und/oder flüssige Proben. ist eine derartige Anordnung, zum Beispiel bei nicht durchstrahlbaren Volumenströmen oder Festkörpern, physikalisch nicht möglich, sind Reflexions-Anordnungen bekannt, bei welchen neben der möglichst tief in die Probe eintretenden elektromagnetischen Strahlung eine Wechselwirkung der elektromagnetischen Strahlung mit der Probenoberfläche an der Beleuchtungsstelle in Form von reflektierter Strahlung auftritt, die keine analytischen Eigenschaften der Probe enthält und eine Störung für die Detektionssensorik zur Ermittlung der analytischen Eigenschaften der Probe darstellt. Die Oberflächenwechselwirkung elektromagnetischer Strahlung ist durch das bekannte Reflexionsgesetz beschreibbar, wobei wegen zumeist vorhandener Oberflächenrauheit neben einer gerichteten Reflexion, auch als Glanz bezeichnet, eine gestreute Reflexion in Form sogenannter Streukeulen auftreten kann. Insbesondere die Intensität des Glanzes ist in der Regel um mehrere Größenordnungen größer als die diffuse elektromagnetische Strahlung aus der Probe. Der Messkopf ist generell so eingerichtet, dass die aus der Oberflächenreflexion stammende elektromagnetische Strahlung die Detektionssensorik nicht oder zumindest nur mit stark abgeschwächter Intensität erreicht. Hierbei ist ein kleiner Akzeptanzwinkel der der Detektionssensorik zugeführten elektromagnetischen Strahlung vorteilhaft.The state of the art contains different arrangements for the interaction of electromagnetic radiation with the sample, for example transmission arrangements, particularly for gaseous and/or liquid samples. If such an arrangement is not physically possible, for example with non-transmissible volume flows or solids, reflection arrangements are known in which, in addition to the electromagnetic radiation penetrating as deeply as possible into the sample, an interaction of the electromagnetic radiation with the sample surface at the illumination point occurs in the form of reflected radiation, which does not contain any analytical properties of the sample and represents a disturbance for the detection sensors for determining the analytical properties of the sample. The surface interaction of electromagnetic radiation can be described by the well-known law of reflection, whereby, due to the mostly existing surface roughness, in addition to a directed reflection, also known as gloss, a scattered reflection in the form of so-called scattering lobes can occur. In particular, the intensity of the gloss is usually several orders of magnitude greater than the diffuse electromagnetic radiation from the sample. The measuring head is generally set up in such a way that the electromagnetic radiation originating from the surface reflection does not reach the detection sensors or at least only with greatly reduced intensity. In this case, a small acceptance angle of the electromagnetic radiation fed to the detection sensors is advantageous.
Es ist weiterhin bekannt, dass bei der Reflexions-Anordnung die Interaktion der elektromagnetischen Strahlung mit der Probe wesentlich geringer ist, als in Durchstrahl-Anordnung.It is also known that in the reflection arrangement the interaction of the electromagnetic radiation with the sample is significantly lower than in the transmission arrangement.
Im Stand der Technik sind Messköpfe offenbart, die die Informationen zu den analytischen Eigenschaften der Probe durch gezielte Unterdrückung der keine Information enthaltenen Störstrahlung der Reflexions-Anordnung verbessern.The prior art discloses measuring heads that improve the information on the analytical properties of the sample by deliberately suppressing the interference radiation of the reflection arrangement that does not contain any information.
Kommerzielle Spektrometer-Module und -Systeme werden von verschiedenen Firmen entwickelt und hergestellt. Viele dieser Produkte sind eingerichtet für Messungen in Reflexions-Anordnung und weisen einen beispielsweise durch eine fasergekoppelte Spektrometereinheit als Bestandteil der Detektionssensorik vorgegebenen Akzeptanzwinkel für die diffuse, aus der Probe austretenden elektromagnetische Strahlung vorzugsweise im VIS- und/oder NIR-Bereich auf. Störstrahlung aus der Oberflächenwechselwirkung, aber auch signifikante Anteile der diffus aus der Probe austretende Strahlung, welche außerhalb des Akzeptanzwinkels liegen, werden durch Zusatzeinrichtungen absorbiert, beispielsweise durch nichtreflektierende Schichten an der Innenseite des Gehäuses der Module und Systeme.Commercial spectrometer modules and systems are developed and manufactured by various companies. Many of these products are set up for measurements in a reflection arrangement and have an acceptance angle for the diffuse electromagnetic radiation emerging from the sample, preferably in the VIS and/or NIR range, which is specified, for example, by a fiber-coupled spectrometer unit as part of the detection sensor system. Interference radiation from the surface interaction, but also significant portions of the diffuse radiation emerging from the sample, which lie outside the acceptance angle, are absorbed by additional devices, for example by non-reflective layers on the inside of the housing of the modules and systems.
Nachteil der Reflexions-Anordnungen ist, dass die mit der Probe interagierte, diffus aus der Probe austretende und Informationen zu analytischen Eigenschaften enthaltene elektromagnetische Strahlung nur innerhalb des geringen Akzeptanzwinkels der Detektionssensorik erfasst wird und die nicht erfassten diffusen Anteile der aus der Probe austretenden elektromagnetischen Strahlung für die Erfassung analytischer Eigenschaften der Probe verloren sind.The disadvantage of the reflection arrangements is that the electromagnetic radiation that interacts with the sample, diffusely exits the sample and contains information on analytical properties is only detected within the small acceptance angle of the detection sensors and the undetected diffuse parts of the electromagnetic radiation exiting the sample are lost for the detection of analytical properties of the sample.
Ein Ansatz zur Überwindung genannten Nachteils besteht durch Mehrfachanordnungen von Baugruppen, insbesondere mehrerer Detektionssensoriken und zugehöriger Beleuchtungspunkte und/oder Detektionsstrahlengängen in dem Messkopf.One approach to overcoming this disadvantage is to use multiple arrangements of components, in particular multiple detection sensors and associated illumination points and/or detection beam paths in the measuring head.
Bei
In
Ausgehend vom Stand der Technik kann als Aufgabe der vorliegenden Erfindung gesehen werden, einen Messkopf mit einem Minimum an Bauteilen bereit zu stellen, dessen Detektionsstrahlengang eingerichtet ist, eine höhere Intensität der einer Detektionssensorik zugeführten und mit der Probe zuvor interagierenden elektromagnetische Strahlung, zu erzeugen.Based on the prior art, the object of the present invention can be seen as providing a measuring head with a minimum of components, the detection beam path of which is designed to generate a higher intensity of the electromagnetic radiation fed to a detection sensor and previously interacting with the sample.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass die elektromagnetische Strahlung, welche von der Probe remittiert wird, aber nicht direkt durch die Detektionssensorik erfasst werden kann, weder umgeleitet noch unterdrückt wird, sondern auf die Probe zurück geworfen wird. Die Lösung besteht aus einer materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs gemäß Anspruch 1 und einer Integration der materiellen Begrenzung des Detektionsstrahlengangs in einen Messkopf gemäß Anspruch 10.This problem is solved in that the electromagnetic radiation which is remitted by the sample but cannot be directly detected by the detection sensor is neither redirected nor suppressed, but is reflected back onto the sample. The solution consists of a material limitation of a detection beam path according to
Anders ausgedrückt ist die Lösung folgende: Jede Art optischer Detektionssensorik hat nur einen begrenzten Akzeptanzwinkel. Diffuse emittierte, reflektierte oder gestreute elektromagnetische Strahlung einer Probe füllt in der Regel einen deutlich größeren Raumwinkel aus, als den korrespondierenden Akzeptanzwinkel zur Detektion. Um die elektromagnetische Strahlung außerhalb des Akzeptanzwinkels zu nutzen, wird eine Hülse um den Akzeptanzwinkel des Detektionsstrahlengangs platziert. Die zuvor ungenutzte Strahlung trifft die innere Mantelfläche der Hülse. Die Mantelfläche ist so beschaffen, dass die Strahlung auf die Probe zurück reflektiert wird, statt die Strahlung umzuleiten oder zu absorbieren. Die anderenfalls ungenutzte elektromagnetische Strahlung wird auf diese Weise recycelt.In other words, the solution is as follows: Every type of optical detection sensor has only a limited acceptance angle. Diffuse emitted, reflected or scattered electromagnetic radiation from a sample usually fills a much larger solid angle than the corresponding acceptance angle for detection. In order to use the electromagnetic radiation outside the acceptance angle, a sleeve is placed around the acceptance angle of the detection beam path. The previously unused radiation hits the inner surface of the sleeve. The surface is designed in such a way that the radiation is reflected back to the sample instead of redirecting or absorbing the radiation. The otherwise unused electromagnetic radiation is recycled in this way.
Die erfindungsgemäße materielle Begrenzung des Detektionsstrahlengangs ist ein wesentlicher funktionsbestimmender Bestandteil eines Messkopfes zur Ermittlung analytischer Eigenschaften einer Probe. Die Eigenschaften der Probe werden durch eine Veränderung einer in die Probe eingestrahlten elektromagnetische Strahlung, deren Charakter je nach Anwendung beispielsweise kontinuierlich oder gepulst, monochromatisch oder breitbandig und in einem ausgewählten Spektralbereich liegend sein kann, messtechnisch bestimmt. Die Veränderung wird generiert durch eine Interaktion der elektromagnetischen Strahlung mit Bestandteilen der Probe. Beispiele für die Veränderung sind Absorption und/oder Fotolumineszenz, ausgebildet beispielsweise als Fluoreszenz und/oder als Phosphorenszenz. Die nach der Interaktion emittierte elektromagnetische Strahlung ist generell diffus, die bekanntermaßen im Idealfall als Lambertscher Flächenstrahler aus der Probe austritt und über den Detektionsstrahlengang einer Detektionssensorik zugeführt werden kann.The material limitation of the detection beam path according to the invention is an essential functional component of a measuring head for determining analytical properties of a sample. The properties of the sample are determined by a change in a The electromagnetic radiation emitted, the nature of which can be continuous or pulsed, monochromatic or broadband and in a selected spectral range depending on the application, is determined by measurement. The change is generated by an interaction of the electromagnetic radiation with components of the sample. Examples of the change are absorption and/or photoluminescence, for example in the form of fluorescence and/or phosphorescence. The electromagnetic radiation emitted after the interaction is generally diffuse, which, as is known, ideally emerges from the sample as a Lambertian surface radiator and can be fed to a detection sensor via the detection beam path.
Neben der emittierten, Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe enthaltenden diffusen Strahlung kommt es insbesondere an Oberflächen der Probe als Ganzes oder ihrer Bestandteile zu gerichteten und/oder gestreuten Reflexionen der eingestrahlten elektromagnetischen Strahlung, die wenig Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe enthält und in der Regel als Störstrahlung für die Detektionssensorik wirkt. Die als remittierte Strahlung bezeichnete Summe aus reflektierter und emittierter Strahlung aus einer Probe ist zumeist außerhalb der Probe technisch nicht mehr in ihre Bestandteile zerlegbar, womit über den Detektionsstrahlengang der Detektionssensorik ein Signal mit einem begrenzten Nutzsignal-Störsignal-Abstand zugeführt wird.In addition to the emitted diffuse radiation containing information on the analytical properties of the sample, there are directed and/or scattered reflections of the incident electromagnetic radiation, particularly on the surfaces of the sample as a whole or its components, which contain little information on the analytical properties of the sample and usually act as interference radiation for the detection sensors. The sum of reflected and emitted radiation from a sample, known as remitted radiation, can usually no longer be technically broken down into its components outside the sample, meaning that a signal with a limited useful signal-interference signal ratio is fed to the detection sensors via the detection beam path.
Bei einer für prozessmesstechnische Anwendungen bevorzugten Reflexions-Anordnung für in der Regel nichttransparente Volumenströme wie Gülle oder unregelmäßig geformte landwirtschaftliche Erzeugnisse, beispielsweise Getreide, kann der Anteil reflektierter Strahlung um Größenordnungen größer sein als der Anteil emittierter elektromagnetischer Strahlung. Das Verhältnis von Nutzsignal zu Störsignal ist entsprechend ungünstig.In a reflection arrangement preferred for process measurement applications for generally non-transparent volume flows such as liquid manure or irregularly shaped agricultural products, such as grain, the proportion of reflected radiation can be orders of magnitude greater than the proportion of emitted electromagnetic radiation. The ratio of useful signal to interference signal is accordingly unfavorable.
Eine Verbesserung der Ermittlung der analytischen Eigenschaften aus der aus der Probe heraustretenden, im allgemeinen remittierten elektromagnetischen Strahlung kann auf verschiedenen Wegen erfolgen: durch eine Erhöhung des emittierten Strahlungsanteils oder durch eine Reduzierung des reflektierten Strahlungsanteils. Ziel ist in jedem Fall, das Verhältnis zu Gunsten des Nutzsignals zu verbessern. In der vorliegenden Offenbarung werden beide Wege gemeinsam umgesetzt, so dass Strahlung, unabhängig davon ob sie Nutzsignal oder Störsignal enthält, die nicht von der Detektionssensorik erfasst werden kann, recycelt wird, um anschließend mehr Nutzsignal zu erzeugen.An improvement in the determination of the analytical properties from the generally remitted electromagnetic radiation emerging from the sample can be achieved in various ways: by increasing the proportion of emitted radiation or by reducing the proportion of reflected radiation. In each case, the aim is to improve the ratio in favor of the useful signal. In the present disclosure, both ways are implemented together so that radiation, regardless of whether it contains useful signal or interference signal that cannot be detected by the detection sensor, is recycled in order to subsequently generate more useful signal.
Die materielle Begrenzung des Detektionsstrahlengangs besteht aus einem nichttransparenten Körper, der eine Aushöhlung aufweist, die vorzugsweise eine elliptisch oder eine eckige, polyedrische Stumpfform oder eine Kombination davon aufweist, deren Grundfläche eine Messöffnung für die aus der Probe heraustretende remittierte elektromagnetische Strahlung bildet. Die Deckfläche des Stumpfes stellt eine Strahlaustrittsöffnung des in der Aushöhlung befindlichen Detektionsstrahlengangs dar, durch welche die auszuwertende elektromagnetische Strahlung der Detektionssensorik zugeführt wird. Die Detektionssensorik weist als inhärente Eigenschaft einen Akzeptanzwinkel auf, an welchem sich der Öffnungswinkel der Aushöhlung orientiert.The material limitation of the detection beam path consists of a non-transparent body that has a cavity that preferably has an elliptical or angular, polyhedral truncated shape or a combination thereof, the base of which forms a measuring opening for the remitted electromagnetic radiation emerging from the sample. The cover surface of the stump represents a beam exit opening of the detection beam path located in the cavity, through which the electromagnetic radiation to be evaluated is fed to the detection sensor. The detection sensor has an acceptance angle as an inherent property, which the opening angle of the cavity is based on.
Die Aushöhlung und der Körper weisen als Übergang eine Mantelfläche auf, die strukturiert und hochreflektierend ausgebildet ist. Die Strukturierung ist vorzugsweise in Stufen mit Steigungsflächen und Trittflächen gestaltet, wobei vorzugsweise alle Teilflächen der Strukturierung der Mantelfläche mit einer hochreflektierenden Beschichtung versehen sind. Dadurch trifft die außerhalb des Akzeptanzwinkels der Detektionssensorik, respektive Öffnungswinkel der Aushöhlung, liegende remittierte Strahlung auf die Mantelfläche und kann nach Einfach- oder Mehrfachreflektion wieder über die Messöffnung in die Probe eintreten, mit Bestandteilen der Probe interagieren und zumindest teilweise erneut im Messfenster aus der Probe austreten und in den Detektionsstrahlengang eintreten. Eine erneute Interaktion in der Probe des emittierten Anteils der diffusen Strahlung kann zur direkten Erhöhung des emittierten Strahlungsanteils führen, beispielhaft zur Verstärkung der Absorption, deren sogenannte charakteristische Banden „geschärft“ werden. Die erneute Interaktion in der Probe des reflektierten Anteils der aus der Probe heraustretenden Strahlung kann ebenfalls zur Erhöhung des emittierten Strahlungsanteils führen bei gleichzeitiger Verringerung des reflektierten Strahlungsanteils im Detektionsstrahlengang.The cavity and the body have a lateral surface as a transition, which is structured and highly reflective. The structuring is preferably designed in steps with rising surfaces and treads, whereby preferably all partial surfaces of the structuring of the lateral surface are provided with a highly reflective coating. As a result, the remitted radiation lying outside the acceptance angle of the detection sensor, or the opening angle of the cavity, hits the lateral surface and, after single or multiple reflection, can re-enter the sample via the measuring opening, interact with components of the sample and at least partially exit the sample again in the measuring window and enter the detection beam path. A renewed interaction in the sample of the emitted portion of the diffuse radiation can lead to a direct increase in the emitted radiation portion, for example to an increase in the absorption, whose so-called characteristic bands are "sharpened". The renewed interaction in the sample of the reflected portion of the radiation emerging from the sample can also lead to an increase in the emitted radiation portion while simultaneously reducing the reflected radiation portion in the detection beam path.
Die Aushöhlung des Körpers der materiellen Begrenzung des Detektionsstrahlenganges ist vorzugsweise gerade und symmetrisch ausgebildet, kann aber auch geometrisch schief und/oder asymmetrisch gestaltet sein.The hollow of the body of the material limitation of the detection beam path is preferably straight and symmetrical, but can also be geometrically oblique and/or asymmetrical.
Die gewünschte signifikante Unterdrückung des reflektierten Strahlungsanteils im Detektionsstrahlengang wird unterstützt durch eine Anordnung wesentlicher Bauteile des Messkopfes. Der Körper der materiellen Begrenzung des Detektionsstrahlengangs ist intransparent für außerhalb der Probe generierte und/oder reflektierte elektromagnetische Strahlung. Des Weiteren sind in Ausführungsvarianten Detektionsstrahlengang und ein Beleuchtungsstrahlengang für die in die Probe eingestrahlte elektromagnetischen Strahlung einer Quelle voneinander beabstandet.The desired significant suppression of the reflected radiation component in the detection beam path is supported by an arrangement of essential components of the measuring head. The body of the material limitation of the detection beam path is non-transparent for electromagnetic radiation generated and/or reflected outside the sample. Furthermore, in design variants, a detection beam path and an illumination beam path for the electromagnetic radiation radiated into the sample are provided. magnetic radiation from a source.
Durch die mit der Anordnung der materiellen Begrenzung des Detektionsstrahlengangs und des Messkopfes erreichte Verbesserung der der Detektionssensorik zugeführten elektromagnetischen Strahlung zur Ermittlung analytischer Eigenschaften aus dem remittierten Signal der Probe ergibt sich ein Minimum an wesentlichen, funktionsbestimmenden Bauteilen für den Messkopf ohne Notwendigkeit einer Mehrfachanordnung einzelner Bauteile.The improvement of the electromagnetic radiation supplied to the detection sensor system for determining analytical properties from the remitted signal of the sample, achieved by arranging the material limitation of the detection beam path and the measuring head, results in a minimum of essential, function-determining components for the measuring head without the need for a multiple arrangement of individual components.
Ein zusätzlicher Vorteil der Erfindung ist, dass die materielle Abgrenzung die Bedingungen für im Strahlenverlauf des Detektionsstrahlengangs nachfolgende Elemente verbessert werden. Gewöhnlich muss das optische System, welches der Detektionssensorik zugehörig ist gegen Strahlung geschützt werden, die außerhalb des Akzeptanzwinkels eintritt. Die vorliegende Erfindung verhindert für einen Großteil der Strahlung außerhalb des Akzeptanzwinkels ein Eintreten in die Optik der Detektionssensorik. Sie verbessert somit nicht nur das Nutzsignal der Probe, sie reduziert auch Störquellen für die nachgelagerte Detektionssensorik.An additional advantage of the invention is that the material delimitation improves the conditions for elements following the beam path of the detection beam. Usually, the optical system associated with the detection sensor must be protected against radiation that enters outside the acceptance angle. The present invention prevents a large part of the radiation outside the acceptance angle from entering the optics of the detection sensor. It therefore not only improves the useful signal of the sample, it also reduces sources of interference for the downstream detection sensor.
Weitere vorteilhafte Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus einem nachfolgend anhand der beigefügten Zeichnungen beschriebenen und erläuterten Ausführungsbeispielen der Erfindung. In der Zeichnung zeigen:
- •
1 eine schematische Darstellung einer materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs elektromagnetischer Strahlung neben weiteren wesentlichen Bestandteilen eines Messkopfes, - •
2a eine schematische Darstellung einer geraden materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs und - •
2b eine schematische Darstellung einer schiefen materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs, - •
3a eine schematische Darstellung einer materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs mit Beleuchtungsstrahlengang durch eine Ausnehmung in der Begrenzung, - •
3b eine schematische Darstellung einer materiellen Begrenzung eines Detektionsstrahlengangs mit Beleuchtungsstrahlengang zwischen der Begrenzung und der Probe.
- •
1 a schematic representation of a material limitation of a detection beam path of electromagnetic radiation along with other essential components of a measuring head, - •
2a a schematic representation of a straight material boundary of a detection beam path and - •
2 B a schematic representation of an oblique material boundary of a detection beam path, - •
3a a schematic representation of a material limitation of a detection beam path with illumination beam path through a recess in the limitation, - •
3b a schematic representation of a material boundary of a detection beam path with illumination beam path between the boundary and the sample.
Aus der Strahlungsaustrittsöffnung 5 und der Messöffnung 4 ergibt sich ein Öffnungswinkel der Aushöhlung 3, der mit dem Akzeptanzwinkel der Detektionssensorik 9 derart korrespondiert, dass der Öffnungswinkel etwa gleich dem oder größer als der Akzeptanzwinkel der Detektionssensorik 9 ausgebildet ist. Wenn beispielsweise der Akzeptanzwinkel der Detektionssensorik in Meridional- und Sagittalebene gleich groß und rotationssymmetrisch ist, wäre der Öffnungswinkel der Aushöhlung vorzugsweise kegelförmig. Andere räumliche Geometrien für die Aushöhlung sind entsprechend zu bevorzugen, wenn der Akzeptanzwinkel andersartig ist.The
Die Messöffnung 4 als Öffnung der Aushöhlung 3 ist in ihrer Umrandung polygonal, vorzugsweise rechteckförmig mit dem Sonderfall quadratisch, oder elliptisch mit dem Sonderfall kreisförmig oder in beliebiger Kombination davon ausgebildet. Vorzugsweise ändert sich die Umrandungsform der Messöffnung 4 bis zur Strahlungsaustrittsöffnung 5 nicht, womit die Aushöhlung 3 vorzugsweise als Pyramidenstumpf oder als Kegelstumpf ausgebildet ist.The
Die Aushöhlung 3 bildet eine Mantelfläche 7 zum Körper 2 der materiellen Begrenzung 1 aus. Die Mantelfläche 7 weist eine hochreflektierende Beschichtung vorzugsweise eine metallische Beschichtung auf. Dadurch werden Anteile der diffusen elektromagnetischen Strahlung, die vom Detektionsstrahlengang 8 innerhalb der Aushöhlung 3 nicht direkt von der Messöffnung 4 zur Strahlungsaustrittsöffnung 5 führen, also außerhalb des Akzeptanzwinkels der Detektionssensorik 9 liegen, an der Mantelfläche 7 reflektiert und können durch die Messöffnung 4 hindurch zurück in die Probe 12 zur erneuten Interaktion geführt werden wie beispielsweise 2, zumindest teilweise wieder aus der Probe 12 heraustreten und in der Messöffnung 4 diffus in den Detektionsstrahlengang 8 eintreten. Die Rückführung der elektromagnetischen Strahlung in die Probe 12 kann auch nach einer Mehrfachreflexion an der Mantelfläche 7 erfolgen wie beispielsweise 23.The
Die Mantelfläche 7 ist in Richtung der Strahlungsaustrittsöffnung 5 vorzugsweise in Stufen 6 ausgebildet, welche aus einem Tritt 6a und einer Steigung 6b bestehen. Tritt 6a und Steigung 6b weisen gleichermaßen eine hochreflektierende Beschichtung auf, wobei die letzte Steigung nahe der Strahlungsaustrittsöffnung 5 nicht hochreflektierend ausgeführt wird. Der Winkel zwischen Steigung 6b und Tritt 6a ist vorzugsweise ein rechter Winkel.The
Darüber hinaus sind in
Die elektromagnetische Strahlung dringt zumindest teilweise in die Probe 12 ein und interagiert im Probeninnern, vorzugsweise in unterschiedlichen Tiefen, an Interaktionspunkten 20, die z.B. durch Streuung ihrerseits Quellen diffuser elektromagnetischer Strahlung, welche Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe enthält, sind. Die an mehreren Interaktionspunkten 20 generierte diffuse elektromagnetische Strahlung tritt zumindest teilweise in Richtung der vorzugsweise genau einen Messöffnung 4 aus der Probe 12 heraus und in den vorzugsweise genau einen Detektionsstrahlengang 8 ein.The electromagnetic radiation penetrates at least partially into the
Die Probe 12 ist vorzugsweise ein Volumenstrom, der vom Messkopf 10 durch ein Trennelement 11 getrennt wird. Zur Beaufschlagung der Probe 12 mit elektromagnetischer Strahlung der Quelle 13 und zum Austritt der diffusen, Informationen über analytische Eigenschaften der Probe 12 enthaltenden und in den Detektionsstrahlengang 8 eintretenden elektromagnetischen Strahlung ist das Trennelement 11 zumindest im Bereich des Detektionsstrahlengangs 14 und in Richtung der Messöffnung 4 transparent.The
Die Erfindung betrifft eine materielle Begrenzung 1 eines Detektionsstrahlengangs 8 elektromagnetischer Strahlung, welche mit einer Probe 12 interagiert hat, Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe 12 enthält und diffus aus einer Messöffnung 4 aus der Probe 12 austritt. Die materielle Begrenzung 1 weist einen Körper 2 mit einer Aushöhlung 3 auf, die für den Detektionsstrahlengang 8 zwei Öffnungen an gegenüberliegenden Seiten des Körpers 2 besitzt, die größere Öffnung ist die Messöffnung 4, die kleinere Öffnung ist eine Strahlungsaustrittsöffnung 5. Die Mantelfläche 7 der Aushöhlung 3 ist hochreflektierend für die elektromagnetische Strahlung und somit ausgebildet, diffus aus der Probe 12 heraustretende, Informationen zu analytischen Eigenschaften der Probe 12 enthaltene Strahlung zur erneuten Interaktion in die Probe 12 zurück zu reflektieren. Die vorzugsweise in einer Stufe 6 mit einem Tritt 6a und einer Steigung 6b ausgebildete Mantelfläche 7 ist in beiden Flächen 6a, 6b hochreflektierend und kann Strahlungsrückreflektionen in die Probe 12 nach Einfachreflektion, beispielsweise 22, oder Mehrfachreflektionen, beispielsweise 23, ermöglichen. Zusätzlich zur Mantelfläche 7 ist es vorteilhaft weitere, der Probe 12 zugewandten Flächen hochreflektierend auszubilden, beispielsweise die Unterseite des Körper 2. Statt hochreflektierend kann es ebenso sinnvoll sein, die Oberfläche mit spektral angepasstem Refelxionsverhalten auszustatten. Die materielle Begrenzung 1 wirkt in einem Messkopf 10 zumindest mit einer Quelle 13 elektromagnetischer Strahlung, einem Beleuchtungsstrahlengang 14 und einer Detektionssensorik 9 zusammen.The invention relates to a
Mit dem Begriff „Akzeptanzwinkel“ ist der Winkel gemeint, unter dem einfallende elektromagnetische Strahlung durch die Detektionssensorik erfasst werden kann. In Analogie zu einem Foto-Objektiv ist der Bildwinkel gemeint.The term “acceptance angle” refers to the angle at which incoming electromagnetic radiation can be detected by the detection sensor. Analogous to a photo lens, this refers to the angle of view.
Mit dem Begriff „hochreflektierend“ ist gemeint, dass die Oberfläche, oder die Beschichtung der Oberfläche über das gesamte Spektrum, welches für die Analyseaufgabe von Interesse ist, einen hohen spektralen Reflexionsgrad aufweist, vorzugsweise über 80%.The term “highly reflective” means that the surface, or the coating of the surface, has a high spectral reflectance, preferably over 80%, over the entire spectrum of interest for the analysis task.
Mit dem Begriff „angepasstes Reflexionsverhalten“ ist gemeint, dass es für die Messaufgabe vorteilhaft sein kann, dass der spektrale Reflexionsgrad nicht über das gesamte Spektrum, welches für die Analyseaufgabe von Interesse ist, gleichmäßig hoch ist. Eine Anpassung könnte beispielsweise sein, in Spektralbereichen hoher Empfindlichkeit der Detektionsensorik den Refelxionsgrad zu verringern und in Spektralbereichen niedriger Empfindlichkeit den Refelxionsgrad zu erhöhen. Damit könnte der Dynamikumfang der Detektionsensorik besser ausgenutzt werden.The term "adapted reflection behavior" means that it can be advantageous for the measurement task if the spectral reflectance is not uniformly high across the entire spectrum that is of interest for the analysis task. One adaptation could be, for example, to reduce the reflectance in spectral ranges of high sensitivity of the detection sensor and to increase the reflectance in spectral ranges of low sensitivity. This would allow the dynamic range of the detection sensor to be better utilized.
Bezugszeichenliste:List of reference symbols:
- 11
- Materielle BegrenzungMaterial limitation
- 22
- KörperBody
- 33
- AushöhlungHollowing out
- 44
- MessöffnungMeasuring opening
- 55
- StrahlungsaustrittsöffnungRadiation exit opening
- 66
- Stufe, bestehend aus:Level consisting of:
- 6a6a
- TrittStep
- 6b6b
- Steigungpitch
- 77
- MantelflächeShell surface
- 88th
- DetektionsstrahlengangDetection beam path
- 99
- DetektionssensorikDetection sensors
- 1010
- MesskopfMeasuring head
- 1111
- TrennelementSeparating element
- 1212
- Probesample
- 1313
- Quelle elektromagnetischer StrahlungSource of electromagnetic radiation
- 1414
- BeleuchtungsstrahlengangIllumination beam path
- 1616
- Linie beispielhaft für die Achse des AkzeptanzwinkelsLine exemplary for the axis of the acceptance angle
- 2020
- InteraktionspunktInteraction point
- 2121
- elektromagnetische Welle innerhalb des Akzeptanzwinkelselectromagnetic wave within the acceptance angle
- 2222
- einfach zurückreflektierte elektromagnetische Wellesimply reflected electromagnetic wave
- 2323
- mehrfach zurückreflektierte elektromagnetische Welleelectromagnetic wave reflected multiple times
- 2424
- Öffnungswinkel / AkzeptanzwinkelOpening angle / acceptance angle
- 2525
- Ausnehmung für BeleuchtungRecess for lighting
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-
2023
- 2023-01-17 DE DE102023000154.6A patent/DE102023000154B3/en active Active
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