DE102022112132A1 - PROCESS AND DEVICE FOR PLASMA ASSISTED ATOMIC LAYER DEPOSITION - Google Patents

PROCESS AND DEVICE FOR PLASMA ASSISTED ATOMIC LAYER DEPOSITION Download PDF

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung sowie ein entsprechendes Verfahren, wobei die Vorrichtung eine Beschichtungskammer (1) aufweist, die von einer Kammerwand (2) begrenzt wird, wobei die Vorrichtung mindestens einen Gaseinlass (3,10) zum Einführen von Prozessgas In die Beschichtungskammer (1) aufweist, wobei außerhalb der Beschichtungskammer eine Plasmaerzeugungseinrichtung (4) so angeordnet ist, dass innerhalb der Beschichtungskammer (1) ein Plasma (16) erzeugt werden kann, wobei innerhalb der Beschichtungskammer (1) mindestens eine Bauteilaufnahme (14) zur Aufnahme des zu beschichtenden Bauteils (15) angeordnet ist, und wobei die Vorrichtung eine Magnetfelderzeugungseinrichtung (18) umfasst, mit der im Bereich der Bauteilaufnahme (14) ein Magnetfeld erzeugbar ist, und / oder innerhalb der Beschichtungskammer (1) mindestens ein Abschirmelement (11, 11', 11'') angeordnet ist, welches die Bauteilaufnahme (14) gegenüber dem mindestens einen Gaseinlass (3,10) und / oder der Plasmaerzeugungseinrichtung (4) mechanisch und / oder elektrisch abschirmt.The present invention relates to a device for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition and a corresponding method, the device having a coating chamber (1) which is delimited by a chamber wall (2), the device having at least one gas inlet (3,10) for introducing process gas In the coating chamber (1), with a plasma generating device (4) being arranged outside the coating chamber in such a way that a plasma (16) can be generated inside the coating chamber (1), with at least one component holder (14 ) for receiving the component (15) to be coated, and wherein the device comprises a magnetic field generating device (18) with which a magnetic field can be generated in the region of the component receptacle (14), and/or at least one shielding element within the coating chamber (1). (11, 11', 11'') is arranged, which ge the component holder (14). mechanically and/or electrically shields from the at least one gas inlet (3,10) and/or the plasma generating device (4).

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND OF THE INVENTION

GEBIET DER ERFINDUNGFIELD OF THE INVENTION

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung sowie ein entsprechendes Verfahren hierzu.The present invention relates to a device for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition and a corresponding method for this.

STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART

Zur Abscheidung von extrem dünnen Schichten, bis hin zu atomaren Monolagen, ist aus dem Stand der Technik die Atomlagenabscheidung (atomic layer deposition, ALD) bekannt. Bei diesem Verfahren handelt sich um ein chemisches Gasphasenabscheidungs Verfahren mit ein oder mehr zyklisch durchgeführten selbstbegrenzenden Oberflächenreaktionen. Hierzu wird zunächst ein Prozessgas, das das abzuscheidende Material enthält, in eine Beschichtungskammer eingelassen. Danach wird ein Reaktant, z.B. über ein Prozessgas oder Plasma zugeführt. Dies kann zyklisch wiederholt werden. Zwischen den Gaseinlässen der Prozessgase wird die Beschichtungskammer normalerweise mit einem Spülgas, z.B. einem Inertgas, wie Argon, gespült. Auf diese Weise werden die Teilreaktionen klar voneinander getrennt und auf die Oberfläche begrenzt. Wesentliches Merkmal der Atomlagenabscheidung ist der selbstbegrenzende Charakter der ersten Teilreaktionen, das heißt, der Ausgangsstoff dieser Teilreaktion reagiert nicht mit sich selbst, was das Schichtwachstum dieser Teilreaktion im Idealfall bei beliebig langer Zeit und Gasmenge auf maximal eine Monolage begrenzt bzw. im Realfall zumindest sehr stark einschränktFor the deposition of extremely thin layers, up to and including atomic monolayers, atomic layer deposition (ALD) is known from the prior art. This process is a chemical vapor deposition process with one or more cyclically performed self-limiting surface reactions. For this purpose, a process gas containing the material to be deposited is first admitted into a coating chamber. A reactant is then added, e.g. via a process gas or plasma. This can be repeated cyclically. Between the gas inlets of the process gases, the coating chamber is normally purged with a purge gas, e.g., an inert gas such as argon. In this way, the partial reactions are clearly separated from one another and limited to the surface. An essential feature of atomic layer deposition is the self-limiting character of the first partial reactions, i.e. the starting material of this partial reaction does not react with itself, which ideally limits the layer growth of this partial reaction to a maximum of one monolayer for any length of time and amount of gas, or in the real case at least very strongly restricts

Während und / oder nach und / oder vor einer Behandlung des zu beschichtenden Bauteils mit einem Reaktant kann eine Plasmabehandlung durchgeführt werden, um die chemische Reaktion zu unterstützen.A plasma treatment can be carried out during and/or after and/or before a treatment of the component to be coated with a reactant in order to support the chemical reaction.

Derartige Verfahren zur plasmagestützten Atomlagenabscheidung werden insbesondere auch zur Beschichtung von optischen Elementen, wie beispielsweise Spiegeln oder optischen Linsen, beispielsweise für optische Anlagen für die Mikrolithographie eingesetzt.Such methods for plasma-assisted atomic layer deposition are also used in particular for coating optical elements, such as mirrors or optical lenses, for example for optical systems for microlithography.

Es hat sich gezeigt, dass bei diesen extrem dünnen und exakt abzuscheidenden Schichten teilweise Probleme mit der Haftung auftreten können. Zusätzlich sind bei der plasmagestützten Atomlagenabscheidung auch die Bildung von Bläschen, Löchern oder vergleichbaren Fehlstellen beobachtet worden. Dies ist jedoch für entsprechende Bauteile, die beispielsweise in der Mikrolithographie eingesetzt werden sollen, nicht akzeptabel.It has been shown that with these extremely thin and precisely deposited layers, problems with adhesion can sometimes occur. In addition, the formation of bubbles, holes or similar defects has also been observed in plasma-enhanced atomic layer deposition. However, this is unacceptable for corresponding components that are to be used, for example, in microlithography.

OFFENBARUNG DER ERFINDUNGDISCLOSURE OF THE INVENTION

AUFGABE DER ERFINDUNGOBJECT OF THE INVENTION

Es ist deshalb Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zur plasmagestützten Atomlagenabscheidung bereitzustellen, welche die im Stand der Technik auftretenden Probleme hinsichtlich der Schichthaftung und der Ausbildung von Fehlstellen in der Beschichtung beseitigen oder zumindest reduzieren. Gleichzeitig soll das Verfahren zuverlässig und einfach durchführbar und eine entsprechende Vorrichtung effizient betreibbar sein, um reproduzierbare Beschichtungsergebnisse zu erzielen.It is therefore the object of the present invention to provide a method and a device for plasma-assisted atomic layer deposition which eliminate or at least reduce the problems occurring in the prior art with regard to layer adhesion and the formation of defects in the coating. At the same time, the method should be reliable and easy to carry out and a corresponding device should be able to be operated efficiently in order to achieve reproducible coating results.

TECHNISCHE LÖSUNGTECHNICAL SOLUTION

Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 11. Vorteilhafte Ausgestaltung sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.This object is achieved by a device having the features of claim 1 and a method having the features of claim 11. Advantageous configurations are the subject matter of the dependent claims.

Zur Lösung der Aufgabe schlägt die Erfindung eine Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung sowie ein entsprechendes Verfahren vor, wobei die Vorrichtung eine Beschichtungskammer aufweist, die von einer Kammerwand begrenzt wird und in der die Beschichtung eines zu beschichtenden Bauteils erfolgt. Zur aufeinander folgenden Bereitstellung der Prozessgase und / oder von Spülgasen zwischen den einzelnen Beschichtungsschritten weist die Vorrichtung mindestens einen Gaseinlass zum Einführen von Prozess - und / oder Spülgasen In die Beschichtungskammer auf. Zusätzlich umfasst die Vorrichtung innerhalb oder außerhalb der Beschichtungskammer, beispielsweise in einem an die Beschichtungskammer angrenzenden oder in der Beschichtungskammer durch eine Trennwand abgetrennten Raum eine Plasmaerzeugungseinrichtung, die so angeordnet ist, dass innerhalb der Beschichtungskammer ein Plasma zur Unterstützung der Atomlagenabscheidung erzeugt werden kann. Zur Aufnahme des zu beschichtenden Bauteils ist innerhalb der Beschichtungskammer mindestens eine Bauteilaufnahme angeordnet, die ein oder mehrere zu beschichtende Bauteile aufnehmen kann.To achieve the object, the invention proposes a device for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition and a corresponding method, the device having a coating chamber which is delimited by a chamber wall and in which the coating of a component to be coated takes place. For the successive provision of the process gases and/or flushing gases between the individual coating steps, the device has at least one gas inlet for introducing process and/or flushing gases into the coating chamber. In addition, the device comprises a plasma generating device inside or outside the coating chamber, for example in a room adjacent to the coating chamber or in the coating chamber separated by a partition wall, which is arranged in such a way that a plasma can be generated inside the coating chamber to support the atomic layer deposition. At least one component holder, which can accommodate one or more components to be coated, is arranged inside the coating chamber to accommodate the component to be coated.

Darüber hinaus umfasst die Vorrichtung in einer ersten Alternative eine Magnetfelderzeugungseinrichtung, mit der im Bereich der Bauteilaufnahme ein Magnetfeld erzeugbar ist, sodass geladene Teilchen, wie Elektronen und / oder Ionen, durch das Magnetfeld daran gehindert werden können das oder die zu beschichtenden Bauteile in der Bauteilaufnahme zu erreichen. Es hat sich nämlich gezeigt, dass Haftungsprobleme bei der Beschichtung oder Fehlstellen in der Beschichtung vermieden oder zumindest reduziert werden können, wenn verhindert wird, dass das zu beschichtende Bauteil und die Beschichtung mit geladenen Teilchen, wie Elektronen oder Ionen, beaufschlagt oder beschossen werden, was durch eine Potenzialdifferenz des Bauteils zum Plasma bzw. zur Plasmaerzeugungseinrichtung verursacht werden kann.In addition, in a first alternative, the device comprises a magnetic field generating device with which a magnetic field can be generated in the area of the component holder, so that charged particles, such as electrons and/or ions, can be prevented by the magnetic field from entering the component or components to be coated to achieve recording. It has been shown that adhesion problems in the coating or defects in the coating can be avoided or at least reduced if the component to be coated and the coating are prevented from being impacted or bombarded with charged particles such as electrons or ions can be caused by a potential difference between the component and the plasma or the plasma generating device.

Alternativ oder zusätzlich kann innerhalb der Beschichtungskammer mindestens ein Abschirmelement angeordnet sein, welches die Bauteilaufnahme und das Bauteil gegenüber der Plasmaerzeugungseinrichtung mechanisch und / oder elektrisch abschirmt, um so ebenfalls zu verhindern, dass unerwünschte Teilchen in Richtung des zu beschichtenden Bauteils bewegt oder beschleunigt werden können. Entsprechend kann an das Abschirmelement ein elektrisches Potenzial anlegbar sein, um die elektrische Abschirmung zu ermöglichen.Alternatively or additionally, at least one shielding element can be arranged within the coating chamber, which mechanically and/or electrically shields the component holder and the component from the plasma generating device in order to also prevent unwanted particles from being moved or accelerated in the direction of the component to be coated. Correspondingly, an electrical potential can be applied to the shielding element in order to enable electrical shielding.

Zur Erzeugung eines Plasmas kann jede geeignete Plasmaerzeugungseinrichtung eingesetzt werden. Beispielsweise kann die Plasmaerzeugungseinrichtung Elektroden oder Elektrodenplatten zur elektrostatischen oder elektromagnetischen Anregung eines Plasmas oder mindestens eine Anregungsspule zur induktiven Anregung aufweisen. Auch ein Vorsehen eines Magnetrons zur Anregung eines Plasmas durch Mikrowellen ist denkbar. Die Anordnung der Plasmaerzeugungseinrichtung außerhalb der Beschichtungskammer ist vorteilhaft, da dadurch eine Beschichtung der Plasmaerzeugungseinrichtung oder von Teilen davon vermieden werden kann.Any suitable plasma generating device can be used to generate a plasma. For example, the plasma generating device can have electrodes or electrode plates for electrostatic or electromagnetic excitation of a plasma or at least one excitation coil for inductive excitation. It is also conceivable to provide a magnetron for exciting a plasma using microwaves. The arrangement of the plasma generating device outside of the coating chamber is advantageous, since this means that coating of the plasma generating device or parts thereof can be avoided.

Um die elektrische Feldstärke auf Grund einer Potenzialdifferenz zwischen Bauteil und Plasmaerzeugungseinrichtung, die eine Beschleunigung geladener Teilchen in Richtung des zu beschichtenden Bauteils bewirken kann, möglichst klein zu halten soll die Elektrodenoberfläche von Elektroden oder Elektrodenplatten der Plasmaerzeugungseinrichtung möglichst groß gehalten werden. Entsprechend kann die Elektrodenoberfläche von Elektroden oder Elektrodenplatten der Plasmaerzeugungseinrichtung, die in Richtung des Bauteils bzw. auf eine Trennwand, die die Plasmaerzeugungseinrichtung von der Beschichtungskammer abtrennt, ausgerichtet sind, im Bereich von mindestens 2 % der Fläche der Trennwand oder Kammerwand, insbesondere mehr als 5 % oder vorzugsweise mehr als 10 % der Fläche der Trennwand oder der Kammerwand liegen.In order to keep the electric field strength as small as possible due to a potential difference between the component and the plasma generating device, which can cause charged particles to accelerate in the direction of the component to be coated, the electrode surface of electrodes or electrode plates of the plasma generating device should be kept as large as possible. Correspondingly, the electrode surface of electrodes or electrode plates of the plasma generation device, which are aligned in the direction of the component or on a partition wall that separates the plasma generation device from the coating chamber, can be in the range of at least 2% of the area of the partition wall or chamber wall, in particular more than 5 % or preferably more than 10% of the area of the partition wall or the chamber wall.

Das Abschirmelement kann zwischen der mindestens einen Bauteilaufnahme und der Plasmaerzeugungseinrichtung, insbesondere einer Elektrode davon, angeordnet sein, um eine direkte und geradlinige Bewegung von geladenen Teilchen zum zu beschichtenden Bauteil zu verhindern.The shielding element can be arranged between the at least one component holder and the plasma generating device, in particular an electrode thereof, in order to prevent charged particles from moving in a straight line to the component to be coated.

Alternativ oder zusätzlich kann das Abschirmelement an der Seite der Bauteilaufnahme angeordnet sein, die von der Plasmaerzeugungseinrichtung und / oder dem mindestens einen Gaseinlass abgewandt ist, wenn die Abschirmung beispielsweise durch ein elektrisches Potenzial bewirkt wird, das an dem Abschirmelement anliegt.Alternatively or additionally, the shielding element can be arranged on the side of the component holder that faces away from the plasma generating device and/or the at least one gas inlet if the shielding is effected, for example, by an electrical potential applied to the shielding element.

Da das Abschirmelement einen Beschuss des zu beschichtenden Bauteils mit geladenen Teilchen bzw. eine Bewegung geladener Teilchen zum zu beschichtenden Bauteil verhindern soll, kann das Abschirmelement in seiner Form und / oder Position an das oder die zu beschichtenden Bauteile angepasst sein. Entsprechend kann das mindestens eine Abschirmelement nur in einem Teilbereich der Trennwand oder der Kammerwand, vorzugsweise variabel einstellbar oder verschiebbar angeordnet sein. Bevorzugt wird dabei die Sichtline zwischen der Elektrode / den Elektroden und dem Bauteil / den Bauteilen unterbrochen.Since the shielding element is intended to prevent the component to be coated from being bombarded with charged particles or a movement of charged particles to the component to be coated, the shape and/or position of the shielding element can be adapted to the component or components to be coated. Correspondingly, the at least one shielding element can be arranged in only a partial area of the partition wall or the chamber wall, preferably in a variably adjustable or displaceable manner. In this case, the line of sight between the electrode/electrodes and the component/components is preferably interrupted.

Das Abschirmelement kann als Platte oder Scheibe, vorzugsweise mit Durchlässen, insbesondere Löchern oder Schlitzen, für das Prozess - oder Spülgas oder als Gitterstruktur ausgebildet sein.The shielding element can be designed as a plate or disc, preferably with passages, in particular holes or slits, for the process gas or flushing gas, or as a lattice structure.

Das Abschirmelement kann aus einem Isolierstoff, insbesondere aus Glas oder Keramik, oder aus einem leitfähigen Material, insbesondere einem Metall gebildet sein.The shielding element can be formed from an insulating material, in particular glass or ceramic, or from a conductive material, in particular a metal.

Entsprechend wird bei einem Verfahren zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung, insbesondere unter Verwendung einer Vorrichtung wie sie oben beschrieben worden ist, während oder nach einem Beschichtungsschritt, bei welchem Prozessgas in die Beschichtungskammer eingeleitet wird, im Bereich des zu beschichtenden Bauteils ein Plasma erzeugt, um die Beschichtung zu unterstützen.Accordingly, in a method for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition, in particular using a device as described above, during or after a coating step in which process gas is introduced into the coating chamber, a plasma is generated in the area of the component to be coated in order to support coating.

Zumindest teilweise während der Plasmabehandlung wird durch eine Magnetfelderzeugungseinrichtung im Bereich der Bauteilaufnahme ein Magnetfeld erzeugt, um geladene Teilchen abzulenken und sie am Erreichen des oder der zu beschichtenden Bauteile zu hindern.At least partially during the plasma treatment, a magnetic field generating device generates a magnetic field in the area of the component holder in order to deflect charged particles and prevent them from reaching the component or components to be coated.

Alternativ oder zusätzlich wird durch ein Abschirmelement innerhalb der Beschichtungskammer eine Bauteilaufnahme mit dem oder den zu beschichtenden Bauteilen insbesondere gegenüber einer Plasmaerzeugungseinrichtung mechanisch und / oder elektrisch abgeschirmt, um ebenfalls das zu beschichtende Bauteil zu schützen.Alternatively or additionally, a component holder with the component or components to be coated is mechanically and/or electrically shielded by a shielding element within the coating chamber, in particular from a plasma generating device, in order to also protect the component to be coated.

Entsprechend kann das Abschirmelement mit einem elektrischen Potenzial beaufschlagt werden, sodass geladene Teilchen, insbesondere negativ geladene Teilchen, nicht in die Beschichtungskammer und / oder nicht zu dem zu beschichtenden Bauteil gelangen können.Accordingly, an electric potential can be applied to the shielding element, so that charged particles, in particular negatively charged particles, cannot get into the coating chamber and/or cannot reach the component to be coated.

Das Plasma kann wiederum durch alle geeigneten Verfahren erzeugt werden, z.B. durch ein elektrostatisches Feld mit Hilfe elektrischer Gleichspannung zwischen Elektroden oder durch kapazitive elektrische Anregung mit Hilfe elektrischer Wechselspannung an Elektrodenplatten sowie durch einen hochfrequenten Wechselstrom durch eine Anregungsspule.The plasma can in turn be generated by any suitable method, e.g. by an electrostatic field using electrical DC voltage between electrodes or by capacitive electrical excitation using electrical AC voltage at electrode plates and by high-frequency alternating current through an excitation coil.

Mit Wechselspannung betriebene Elektroden oder Elektrodenplatten oder eine mit von Wechselstrom durchflossene Anregungsspule der Plasmaerzeugungseinrichtung können auf eine positive elektrische Grundspannung, eine sogenannte Vorspannung oder Bias - Spannung eingestellt werden, sodass negativ geladene Teilchen in Richtung der Elektroden oder der Anregungsspule bewegt werden anstatt in Richtung des Plasmas und des oder der zu beschichtenden Bauteile.Electrodes or electrode plates operated with AC voltage or an excitation coil of the plasma generating device through which alternating current flows can be set to a positive electrical basic voltage, a so-called bias voltage, so that negatively charged particles are moved in the direction of the electrodes or the excitation coil instead of in the direction of the plasma and the component(s) to be coated.

Eine Reduzierung oder Vermeidung des Beschusses des zu beschichtenden Bauteils mit geladenen Teilchen kann auch erreicht werden, wenn der Druck des Prozessgases so eingestellt wird, dass die Potenzialdifferenz zwischen dem Bauteil / den Bauteilen und der Elektrode / den Elektroden minimiert wird. Hierzu wird zunächst bei einem beliebigen Prozessdruck das Plasma so eingestellt, dass die Schicht die gewünschten Eigenschaften, aber möglicherweise noch Defekte zeigt. Dann wird der Prozessdruck im Bereich von 0,01 bis 100 Pa, bevorzugt zwischen 0,1 und 10 Pa variiert und gleichzeitig die Potenzialdifferenz gemessen. Als Prozessdruck wird dann der Druck gewählt, bei dem die Potenzialdifferenz minimal ist, das Plasma aber noch stabil existiert. Zur Zündung des Plasmas kann auch ein davon abweichender Druck eingestellt werden.The bombardment of the component to be coated with charged particles can also be reduced or avoided if the pressure of the process gas is adjusted in such a way that the potential difference between the component/components and the electrode/electrodes is minimized. For this purpose, the plasma is first adjusted at any desired process pressure in such a way that the layer shows the desired properties but possibly still has defects. The process pressure is then varied in the range from 0.01 to 100 Pa, preferably between 0.1 and 10 Pa, and the potential difference is measured at the same time. The pressure at which the potential difference is minimal but the plasma still exists in a stable manner is then selected as the process pressure. A different pressure can also be set to ignite the plasma.

Eine weitere Möglichkeit besteht darin, die Plasmaleistung zu reduzieren und stattdessen eine längere Dauer der Plasmabehandlung vorzusehen. Entsprechend kann die zur Herstellung einer Beschichtung erforderlich Energiezufuhr zur Erzeugung eines Plasmas erfasst werden, das zu den gewünschten Schichteigenschaften führt, bei dem aber noch Defekte in der Schicht erzeugt werden. Aus dieser Gesamtheit der notwendigen Energie, die zur Erzeugung der Beschichtung bzw. der Plasmabehandlung notwendig ist, kann die Dauer der Energiezufuhr bestimmt werden, wenn die Energiezufuhr pro Zeiteinheit minimiert wird, sodass die zugeführte Energie insgesamt konstant gehalten werden kann.Another possibility is to reduce the plasma power and instead provide a longer duration of the plasma treatment. Accordingly, the supply of energy required to produce a coating can be recorded in order to generate a plasma that leads to the desired layer properties, but in which defects are still generated in the layer. The duration of the energy supply can be determined from this total of the energy required to produce the coating or the plasma treatment, if the energy supply per unit of time is minimized so that the energy supplied can be kept constant overall.

Die Kombination der Einstellung von Prozessdruck und Plasmaleistung bzw. Dauer der Plasmabehandlung sollte dann dazu führen, dass die Potenzialdifferenz zwischen Elektroden und dem oder den zu beschichtenden Bauteilen kleiner als 100 V, bevorzugt kleiner 50 V, besonders bevorzugt kleiner 30 V liegt. Falls es sich um ein zu beschichtendes Bauteil handelt, das elektrisch nicht leitfähig ist und im Plasma floatet, so kann stattdessen die Potenzialdifferenz zwischen den Elektroden und der Anlagenmasse bzw. der Erdung der Beschichtungsvorrichtung, z.B. der Kammerwand, gemessen werden.The combination of setting the process pressure and plasma power or duration of the plasma treatment should then result in the potential difference between the electrodes and the component or components to be coated being less than 100 V, preferably less than 50 V, particularly preferably less than 30 V. If the component to be coated is not electrically conductive and floats in the plasma, the potential difference between the electrodes and the system ground or the ground of the coating device, e.g. the chamber wall, can be measured instead.

Weiterhin kann die Plasmaerzeugung noch an einen Ort außerhalb der eigentlichen Beschichtungskammer verlagert werden oder über eine Trennwand abgekoppelt werden. Die angeregten Atome / Ionen können dann über Flansche oder Spalte in der Trennwand eingelassen werden.Furthermore, the plasma generation can be shifted to a location outside of the actual coating chamber or be decoupled via a partition. The excited atoms/ions can then be let in via flanges or gaps in the partition.

Figurenlistecharacter list

Die beigefügten Zeichnungen zeigen in rein schematischer Weise in

  • 1 eine Darstellung einer ersten Ausführungsform einer erfindungsgenäßen Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung,
  • 2 eine Darstellung einer zweiten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung,
  • 3 eine Darstellung einer dritten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung und in
  • 4 eine Darstellung einer vierten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung.
The accompanying drawings show, purely diagrammatically,
  • 1 a representation of a first embodiment of a device according to the invention for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition,
  • 2 a representation of a second embodiment of a device according to the invention for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition,
  • 3 a representation of a third embodiment of a device according to the invention for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition and in
  • 4 a representation of a fourth embodiment of a device according to the invention for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition.

AUSFÜHRUNGSBEISPIELEEXEMPLARY EMBODIMENTS

Weitere Vorteile, Kennzeichen und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele ersichtlich. Allerdings ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt.Further advantages, characteristics and features of the present invention become apparent in the following detailed description of the exemplary embodiments. However, the invention is not limited to these exemplary embodiments.

Die 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung mit einer Beschichtungskammer 1, die von einer umgebenden Kammerwand 2 begrenzt wird. In der Beschichtungskammer 1 ist eine Bauteilaufnahme 14 angeordnet, an der ein oder mehrere zu beschichtende Bauteile 15 befestigt werden können, um durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung beschichtet zu werden. Hierzu weist die erfindungsgemäße Vorrichtung eine Gaszufuhr 3 auf, mit welcher abwechselnd unterschiedliche Prozess - und / oder Spülgase in die Beschichtungskammer 1 eingeführt werden können, sodass die Prozessgase in der Beschichtungskammer mit dem zu beschichtenden Bauteil 15 und / oder miteinander reagieren und sich auf dem zu beschichtenden Bauteil 15 ablagern können. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel der 1 werden die Prozess - und / oder Spülgase von der Gaszufuhr 3 über einen abgetrennten Raum 8, der von dem eigentlichen Beschichtungsraum der Beschichtungskammer 1 über eine Trennwand 9 abgetrennt ist, und in der Trennwand 9 angeordnete Gaseinlassdüsen 10 in die Beschichtungskammer 1 eingeführt. Die Trennwand 9 kann auch, wie 2 zeigt, auch weggelassen werden, so dass sich z.B. die Elektroden, das Bauteil, die Bauteilaufnahme und die Gasdüsen sich alle innerhalb einer Beschichtungskammer befindenthe 1 shows a first exemplary embodiment of a device according to the invention for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition with a coating chamber 1 which is delimited by a surrounding chamber wall 2 becomes. A component holder 14 is arranged in the coating chamber 1, to which one or more components 15 to be coated can be attached in order to be coated by plasma-enhanced atomic layer deposition. For this purpose, the device according to the invention has a gas supply 3, with which different process and/or rinsing gases can be introduced into the coating chamber 1 in alternation, so that the process gases in the coating chamber react with the component 15 to be coated and/or with each other and move towards the coating component 15 can deposit. In the embodiment shown 1 the process and/or flushing gases are introduced into the coating chamber 1 from the gas supply 3 via a separate space 8, which is separated from the actual coating space of the coating chamber 1 via a partition 9, and gas inlet nozzles 10 arranged in the partition 9. The partition 9 can also, like 2 12 can also be omitted so that, for example, the electrodes, the component, the component holder and the gas nozzles are all located within one coating chamber

Beispielsweise kann zunächst ein erstes Prozessgas mit einem ersten Reaktanten in die Beschichtungskammer 1 eingeleitet werden, sodass der erste Reaktant mit der Oberfläche des zu beschichtenden Bauteils 15 reagieren kann. Danach kann die Beschichtungskammer 1 evakuiert werden und / oder ein Spülgas eingeführt werden, um nicht reagiertes Gas des ersten Reaktanten und mögliche nicht abgeschiedene Reaktionsprodukte zu entfernen. Danach kann ein zweites Prozessgas mit einem zweiten Reaktanten in die Beschichtungskammer 1 eingeführt werden sodass der zweite Reaktant mit dem bereits an der Oberfläche des zu beschichtenden Bauteils 15 anhaftenden ersten Reaktanten oder Reaktionsprodukt zu reagieren.For example, a first process gas with a first reactant can first be introduced into the coating chamber 1 so that the first reactant can react with the surface of the component 15 to be coated. Thereafter, the coating chamber 1 may be evacuated and/or a purge gas introduced to remove unreacted first reactant gas and possible unreacted reaction products. A second process gas with a second reactant can then be introduced into the coating chamber 1 so that the second reactant can react with the first reactant or reaction product already adhering to the surface of the component 15 to be coated.

Während und / oder nach dem Einführen eines Prozessgases kann in der Beschichtungskammer 1, ein Plasma 16 insbesondere im Bereich der Bauteilaufnahme 14 und der zu beschichtenden Bauteile 15 erzeugt werden, um die Reaktion der Reaktanten und die Abscheidung der Beschichtung zu unterstützen.During and/or after the introduction of a process gas, a plasma 16 can be generated in the coating chamber 1, in particular in the area of the component holder 14 and the components 15 to be coated, in order to support the reaction of the reactants and the deposition of the coating.

Zur Erzeugung des Plasmas 16 ist eine Plasmaerzeugungseinrichtung 4 vorgesehen, von der zumindest Teile in der Beschichtungskammer 1 bzw. einem durch eine Trennwand 9 abgetrennten Raum 8 angeordnet sind. Bei dem in 1 gezeigten Ausführungsbeispiel umfasst die Plasmaerzeugungseinrichtung 4 mehrere Elektroden 5, mit deren Hilfe ein elektrisches Wechselfeld erzeugt werden kann, sodass bei einem hochfrequenten Wechselfeld geladene Teilchen mit der Frequenz des Wechselfeld oszillieren (Hochfrequenzanregung). Zur Vermeidung einer Aufladung der Kammerwand ist diese mit einer Erdung 17 verbunden.A plasma generating device 4 is provided for generating the plasma 16 , at least parts of which are arranged in the coating chamber 1 or in a space 8 separated by a partition wall 9 . At the in 1 In the exemplary embodiment shown, the plasma generating device 4 comprises a plurality of electrodes 5, with the aid of which an alternating electric field can be generated, so that charged particles oscillate with the frequency of the alternating field in the case of a high-frequency alternating field (high-frequency excitation). To avoid charging the chamber wall, it is connected to ground 17 .

Um zu vermeiden, dass geladene Teilchen, wie beispielsweise Elektronen oder negativ geladene Ionen, aufgrund einer Spannungsdifferenz zwischen dem Bauteil 15 und den Elektroden 5 der Plasmaerzeugungseinrichtung 4 in Richtung des zu beschichtenden Bauteils 15 beschleunigt werden und dort die Ausbildung der Schicht bzw. die abgeschiedene Beschichtung beeinträchtigen oder beschädigen, sind bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur plasmagestützten Atomlagenabscheidung verschiedene Maßnahmen getroffen worden.In order to prevent charged particles, such as electrons or negatively charged ions, from being accelerated in the direction of the component 15 to be coated due to a voltage difference between the component 15 and the electrodes 5 of the plasma generating device 4 and the formation of the layer or the deposited coating there impair or damage, various measures have been taken in the inventive device for plasma-enhanced atomic layer deposition.

Zum einen ist zwischen den Elektroden 5 und der Bauteilaufnahme 14 bzw. dem zu beschichtenden Bauteil 15 eine Abschirmplatte 11 angeordnet, mit welcher mechanisch die Beschleunigung von unerwünschten Teilchen in Richtung des Plasmas 16 zumindest teilweise verhindert werden kann. Die Abschirmplatte 11 weist eine Vielzahl von Durchlässen 12 auf oder ist in einer Gitterstruktur ausgebildet, um den Gaszufluss in die Beschichtungskammer 1 nicht zu beeinträchtigen. Gleichwohl verhindert die Anordnung der Abschirmplatte 11 die ungehinderte, direkte Beschleunigung von unerwünschten Teilchen in Richtung des Bauteils 15, insbesondere wenn die Abschirmplatte 11 mit den Durchlässen 12 so angeordnet ist, dass keine Sichtlinie zwischen den Elektroden 5 und dem Bauteil 15 besteht.On the one hand, a shielding plate 11 is arranged between the electrodes 5 and the component holder 14 or the component 15 to be coated, with which the acceleration of undesired particles in the direction of the plasma 16 can be at least partially prevented mechanically. The shielding plate 11 has a multiplicity of passages 12 or is formed in a lattice structure in order not to impair the flow of gas into the coating chamber 1 . Nevertheless, the arrangement of the shielding plate 11 prevents the unimpeded, direct acceleration of undesired particles in the direction of the component 15, in particular if the shielding plate 11 with the openings 12 is arranged in such a way that there is no line of sight between the electrodes 5 and the component 15.

Der Abschirmeffekt kann noch dadurch verstärkt werden, dass die Abschirmplatte 11 auf ein bestimmtes elektrisches Potenzial eingestellt wird, wozu die Abschirmplatte 11 mit einer Potenzialquelle 13 verbunden ist. Beispielsweise kann durch Einstellung eines positiven elektrischen Potenzials an der Abschirmplatte 11 verhindert werden, dass negativ geladenen Teilchen die Durchlässe 12 passieren können.The shielding effect can be further enhanced by setting the shielding plate 11 to a specific electrical potential, for which purpose the shielding plate 11 is connected to a potential source 13 . For example, setting a positive electrical potential on the shielding plate 11 can prevent negatively charged particles from being able to pass through the openings 12 .

Eine weitere Maßnahme zur Verringerung der Beschleunigung bzw. Bewegung von unerwünschten geladenen Teilchen in Richtung des Plasmas 16 bzw. der zu beschichtenden Bauteile 15 ist dadurch verwirklicht, dass auch die Elektroden 5 der Plasmaerzeugungseinrichtung 4 mit einer Potenzialquelle 7 verbunden sind, um die Elektroden 5 auf ein bestimmtes Grundpotenzial, eine sogenannte Vorspannung oder Bias - Spannung, einzustellen. Damit kann erreicht werden, dass geladene Teilchen, wie beispielsweise Elektronen oder negativ geladene Ionen bei einer positiven Grundspannung der Elektroden 5 nicht in Richtung des Plasmas 16 beschleunigt werden, sondern in Richtung der Elektroden 5 der Plasmaerzeugungseinrichtung 4.Another measure to reduce the acceleration or movement of unwanted charged particles in the direction of the plasma 16 or the components to be coated 15 is realized in that the electrodes 5 of the plasma generating device 4 are connected to a potential source 7 to the electrodes 5 a certain basic potential, a so-called bias voltage, to set. It can thus be achieved that charged particles, such as electrons or negatively charged ions, are not accelerated in the direction of the plasma 16 when the basic voltage of the electrodes 5 is positive, but in the direction of the electrodes 5 of the plasma generating device 4.

Ferner ist die Elektrodenoberfläche 6 der Elektroden 5 so gewählt, dass eine möglichst große Elektrodenoberfläche 6 aller Elektroden 5 in Richtung des zu erzeugenden Plasmas 16 gegeben ist, sodass der Potenzialunterschied zwischen dem Plasma 16 und den Elektrodenoberflächen 6 der Elektroden 5 auf eine große Elektrodenoberfläche 6 verteilt ist, was wiederum die Beschleunigung von geladenen Teilchen in Richtung des zu beschichtenden Bauteils 15 verringert.Furthermore, the electrode surface 6 of the electrodes 5 is chosen so that the largest possible Electrode surface 6 of all electrodes 5 is given in the direction of the plasma 16 to be generated, so that the potential difference between the plasma 16 and the electrode surfaces 6 of the electrodes 5 is distributed over a large electrode surface 6, which in turn accelerates charged particles in the direction of the component to be coated 15 decreased.

Des Weiteren kann zur Reduzierung negativer Einflüsse auf die Beschichtung durch unerwünschten Beschuss mit geladenen Teilchen so vorgegangen werden, dass bei den verwendeten Prozessgasen der Druck des Gases in der Beschichtungskammer 1 derart optimiert wird, dass die Potenzialdifferenz zwischen Bauteil 15 und Elektroden 5 minimiert wird.Furthermore, to reduce negative influences on the coating due to unwanted bombardment with charged particles, the procedure can be such that the pressure of the gas in the coating chamber 1 is optimized for the process gases used such that the potential difference between component 15 and electrodes 5 is minimized.

Die Energie der geladenen Teilchen ist mit der momentan eingekoppelte Plasmaleistung verknüpft. D.h. die Energie der Teilchen - und damit ihr Potenzial die Schicht zu beschädigen - steigt mit der eingekoppelten Plasmaleistung an. Daher besteht eine weitere Maßnahme zur Reduzierung negativer Einflüsse von auf die Beschichtung beschleunigten, geladenen Teilchen darin, dass die für die Plasmaerzeugung zugeführte Energie pro Zeiteinheit minimiert wird, aber im Gegenzug die Plasmabehandlung und somit die Dauer der Energiezufuhr für die Plasmaerzeugung verlängert wird, sodass also die Plasmaleistung minimiert und die Dauer der Plasmabehandlung entsprechend verlängert wird, vorzugsweise so, dass die Energiezufuhr insgesamt konstant gehalten wird. Hierzu kann zunächst der Energiebedarf, also die gesamte Energiezufuhr, ermittelt werden, welche nötig ist, um ein Plasma zu erzeugen, mit dem die gewünschte Beschichtung hergestellt werden kann. Anschließend kann die Energiezufuhr pro Zeiteinheit so weit gesenkt werden, dass gerade noch ein Plasma gezündet werden kann, aber dieses wird dann so lange aufrechterhalten, bis der vorher festgestellte Energiebedarf über der Zeit erreicht wird.The energy of the charged particles is linked to the momentarily injected plasma power. This means that the energy of the particles - and thus their potential to damage the layer - increases with the injected plasma power. Therefore, another measure to reduce negative effects of charged particles accelerated onto the coating is that the energy supplied for plasma generation per unit of time is minimized, but in return the plasma treatment and thus the duration of the energy supply for plasma generation is extended, so that the plasma power is minimized and the duration of the plasma treatment is extended accordingly, preferably in such a way that the energy supply is kept constant overall. For this purpose, the energy requirement, ie the total energy supply, can first be determined, which is necessary to generate a plasma with which the desired coating can be produced. The energy supply per unit of time can then be reduced to such an extent that a plasma can just about be ignited, but this is then maintained until the previously determined energy requirement over time is reached.

Die 2 zeigt eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Beschichtung mittels plasmagestützter Atomlagenabscheidung, wobei die Vorrichtung der 2 weitgehend mit der Vorrichtung der 1 übereinstimmt, sodass auf eine wiederholte Beschreibung identischer Komponenten zur Vermeidung von Wiederholungen verzichtet wird. Die Ausführungsform der 2 unterscheidet sich dahingehend von der Ausführungsform der 1, dass auf eine Trennwand 9 zwischen dem Raum mit der Bauteilaufnahme 14 und dem Raum mit den Komponenten der Plasmaerzeugungseinrichtung bzw. den Elektroden 5 verzichtet wird.the 2 shows a further embodiment of a device according to the invention for coating by means of plasma-enhanced atomic layer deposition, the device of FIG 2 largely with the device of 1 agrees, so that a repeated description of identical components is dispensed with to avoid repetition. The embodiment of 2 differs from the embodiment of the 1 that a partition wall 9 between the space with the component holder 14 and the space with the components of the plasma generating device or the electrodes 5 is dispensed with.

Die 3 zeigt eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Beschichtung mittels plasmagestützter Atomlagenabscheidung, wobei die Vorrichtung der 3 weitgehend mit den Vorrichtungen der 1 und 2 übereinstimmt, sodass auf eine wiederholte Beschreibung identischer Komponenten zur Vermeidung von Wiederholungen verzichtet wird. Die Ausführungsform der 3 unterscheidet sich dahingehend von der Ausführungsform der 1, dass eine unterschiedliche Abschirmplatte 11' Verwendung findet. Die Abschirmplatte 11' weist zwar ebenfalls Durchlässe 12 auf, aber die Abschirmplatte 11' ist lediglich in einem Teilbereich vorgesehen, der auf das beschichtete Bauteil abgestimmt ist. Entsprechend wird darauf verzichtet, über den gesamten Bereich der Gaseinlassdüsen 10 oder der Elektroden 5 eine entsprechende Abschirmplatte 11' vorzusehen, sondern der Bereich der Anordnung der Abschirmplatte 11' ist auf den Bereich des zu schützenden Bauteils 15 abgestimmt.the 3 shows a further embodiment of a device according to the invention for coating by means of plasma-enhanced atomic layer deposition, the device of FIG 3 largely with the devices of 1 and 2 agrees, so that a repeated description of identical components is dispensed with to avoid repetition. The embodiment of 3 differs from the embodiment of the 1 that a different shielding plate 11' is used. Although the shielding plate 11' also has openings 12, the shielding plate 11' is only provided in a partial area which is matched to the coated component. Accordingly, a corresponding shielding plate 11′ is not provided over the entire area of the gas inlet nozzles 10 or the electrodes 5, but the area of the arrangement of the shielding plate 11′ is matched to the area of the component 15 to be protected.

Entsprechend kann auch vorgesehen sein, dass die Abschirmplatte 11' beweglich gelagert ist und je nach Bedarf in verschiedenen Bereichen der Beschichtungskammer 1 angeordnet werden kann, wobei die Anordnung der Abschirmplatte 11' insbesondere auf die Anordnung des zu beschichtenden Bauteils 15 abgestellt sein kann.Correspondingly, it can also be provided that the shielding plate 11′ is movably mounted and can be arranged in different areas of the coating chamber 1 as required, wherein the arrangement of the shielding plate 11′ can be geared in particular to the arrangement of the component 15 to be coated.

Darüber hinaus unterscheidet sich die Abschirmplatte 11' gegenüber der Abschirmplatte 11 der 1 und 2 dadurch, dass an die Abschirmplatte 11' kein elektrisches Potenzial angelegt werden kann, sondern die Abschirmplatte 11' ist aus einem nicht leitfähigen Material, wie beispielsweise Glas oder Keramik, gefertigt, wohingegen die Abschirmplatte 11 der 1 und 2 beispielsweise aus einem metallischen Material gefertigt sein kann. Auch bei der Ausführungsform der 3 kann, ohne dass dies explizit gezeigt ist, auf eine Anordnung der Trennwand 9 verzichtet werden.In addition, the shielding plate 11' differs from the shielding plate 11 of FIG 1 and 2 characterized in that the shielding plate 11 'no electric potential can be applied, but the shielding plate 11' is made of a non-conductive material such as glass or ceramics, whereas the shielding plate 11 of 1 and 2 can be made of a metallic material, for example. Also in the embodiment of 3 an arrangement of the partition wall 9 can be dispensed with, without this being explicitly shown.

Die 4 zeigt eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur plasmagestützten Atomlagenabscheidung, die wiederum zu den vorangegangenen Ausführungsformen identische Komponenten aufweist, die nicht noch einmal beschrieben werden. Auch bei dieser Ausführungsform der 4 kann auf die Trennwand 9 verzichtet werden.the 4 FIG. 12 shows a further embodiment of a device according to the invention for plasma-enhanced atomic layer deposition, which in turn has identical components to the previous embodiments, which are not described again. Also in this embodiment 4 the partition wall 9 can be dispensed with.

Die Ausführungsform der 4 ist dadurch gekennzeichnet, dass zum einen die Bauteilaufnahme 14 so ausgestaltet ist, dass das zu beschichtende Bauteil 15 nicht zentral in der Bauteilaufnahme 14 und / oder zentral in der Beschichtungskammer 1 angeordnet ist, sondern versetzt dazu. Darüber hinaus unterscheidet sich die Ausführungsform der 3 durch eine weitere Variante einer Abschirmplatte 11'', die nicht zwischen dem Plasma 16 bzw. der Bauteilaufnahme 14 oder dem zu beschichtenden Bauteil 15 einerseits und der Trennwand 9 mit dem Gaseinlassdüsen 10 bzw. der Plasmaerzeugungseinrichtung 4 andererseits angeordnet ist, sondern auf einer Seite der Bauteilaufnahme 14, die abgewandt zur Gaseinlassseite bzw. der Plasmaerzeugungseinrichtung 4 ist. Die Abschirmplatte 11'' ist als metallische Platte ausgeführt, die wiederum mit einer Potenzialquelle 13 verbunden ist, wobei die Abschirmplatte 11'' in diesem Fall auf ein negatives elektrisches Potenzial eingestellt ist, um ein Gegenfeld für negativ geladene Teilchen, wie Elektronen oder negativ geladene Ionen zu bilden und diese entsprechend von dem zu beschichtenden Bauteil 15 abzuhalten.The embodiment of 4 is characterized in that, on the one hand, the component holder 14 is designed in such a way that the component 15 to be coated is not arranged centrally in the component holder 14 and/or centrally in the coating chamber 1, but offset thereto. In addition, the embodiment differs 3 by another variant of a shield plate 11'', which is not arranged between the plasma 16 or the component holder 14 or the component 15 to be coated on the one hand and the partition 9 with the gas inlet nozzle 10 or the plasma generating device 4 on the other hand, but on the side of the component holder 14 that faces away to the gas inlet side or the plasma generation device 4 is. The shielding plate 11'' is designed as a metallic plate, which in turn is connected to a potential source 13, the shielding plate 11'' in this case being set to a negative electrical potential in order to create an opposing field for negatively charged particles, such as electrons or negatively charged To form ions and keep them accordingly from the component 15 to be coated.

Darüber hinaus weist die Vorrichtung der 4 eine Magnetfelderzeugungseinrichtung 18 zur Erzeugung eines Magnetfeldes im Bereich der Bauteilaufnahme 14 bzw. des zu beschichtenden Bauteils 15 auf, sodass durch das Magnetfeld ebenfalls verhindert oder zumindest eingeschränkt werden kann, dass geladene Teilchen das zu beschichtende Bauteil 15 erreichen und die Beschichtung beschädigen oder zerstören können.In addition, the device of 4 a magnetic field generating device 18 for generating a magnetic field in the area of the component holder 14 or the component 15 to be coated, so that the magnetic field can also prevent or at least restrict charged particles from reaching the component 15 to be coated and being able to damage or destroy the coating.

Obwohl die vorliegende Erfindung anhand der Ausführungsbeispiele detailliert beschrieben worden ist, ist für den Fachmann selbstverständlich, dass die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt ist, sondern dass vielmehr Abwandlungen in der Weise möglich sind, dass einzelne Merkmale weggelassen oder andersartige Kombinationen von Merkmalen verwirklicht werden können, ohne dass der Schutzbereich der beigefügten Ansprüche verlassen wird. Insbesondere schließt die vorliegende Offenbarung sämtliche Kombinationen der in den verschiedenen Ausführungsbeispielen gezeigten Einzelmerkmale mit ein, sodass einzelne Merkmale, die nur in Zusammenhang mit einem Ausführungsbeispiel beschrieben sind, auch bei anderen Ausführungsbeispielen oder nicht explizit dargestellten Kombinationen von Einzelmerkmalen eingesetzt werden können.Although the present invention has been described in detail on the basis of the exemplary embodiments, it is self-evident for the person skilled in the art that the invention is not limited to these exemplary embodiments, but rather that modifications are possible in such a way that individual features are omitted or other types of combinations of features can be implemented without departing from the scope of the appended claims. In particular, the present disclosure includes all combinations of the individual features shown in the various exemplary embodiments, so that individual features that are only described in connection with one exemplary embodiment can also be used in other exemplary embodiments or combinations of individual features that are not explicitly shown.

BezugszeichenlisteReference List

11
Beschichtungskammercoating chamber
22
Kammerwandchamber wall
33
Gaszufuhrgas supply
44
Plasmaerzeugungseinrichtungplasma generating device
55
Elektrodenelectrodes
66
Elektrodenoberflächeelectrode surface
77
Potenzialquellesource of potential
88th
abgetrennter Raumseparated room
99
Trennwandpartition wall
1010
Gaseinlassdüsegas inlet nozzle
11, 11', 11''11, 11', 11''
Abschirmplatteshielding plate
1212
Durchlasspassage
1313
Potenzialquellesource of potential
1414
Bauteilaufnahmecomponent recording
1515
zu beschichtendes Bauteilcomponent to be coated
1616
Plasmaplasma
1717
Erdunggrounding
1818
Magnetfelderzeugungseinrichtungmagnetic field generating device

Claims (18)

Vorrichtung zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung mit einer Beschichtungskammer (1), die von einer Kammerwand (2) begrenzt wird, wobei die Vorrichtung mindestens einen Gaseinlass (3,10) zum Einführen von Prozessgas in die Beschichtungskammer (1) aufweist, wobei eine Plasmaerzeugungseinrichtung (4) so angeordnet ist, dass innerhalb der Beschichtungskammer (1) ein Plasma (16) erzeugt werden kann, und wobei innerhalb der Beschichtungskammer (1) mindestens eine Bauteilaufnahme (14) zur Aufnahme des zu beschichtenden Bauteils (15) angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung eine Magnetfelderzeugungseinrichtung (18) umfasst, mit der im Bereich der Bauteilaufnahme (14) ein Magnetfeld erzeugbar ist, und / oder dass innerhalb der Beschichtungskammer (1) mindestens ein Abschirmelement (11, 11',11'') angeordnet ist, welches die Bauteilaufnahme (14) gegenüber dem mindestens einen Gaseinlass (3,10) und / oder der Plasmaerzeugungseinrichtung (4) mechanisch und / oder elektrisch abschirmt.Device for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition, having a coating chamber (1) which is delimited by a chamber wall (2), the device having at least one gas inlet (3,10) for introducing process gas into the coating chamber (1), a plasma generating device ( 4) is arranged in such a way that a plasma (16) can be generated inside the coating chamber (1), and wherein at least one component holder (14) for receiving the component (15) to be coated is arranged inside the coating chamber (1), characterized in that that the device comprises a magnetic field generating device (18) with which a magnetic field can be generated in the area of the component holder (14), and/or that at least one shielding element (11, 11', 11'') is arranged inside the coating chamber (1). , which the component holder (14) against the at least one gas inlet (3.10) and / or the plasma generating device (4) mechanically and / or electrically shields. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmaerzeugungseinrichtung (4) Elektroden (5) oder Elektrodenplatten zur elektrostatischen oder elektromagnetischen Anregung eines Plasmas (16) oder mindestens eine Anregungsspule zur induktiven Anregung oder ein Magnetron zur Anregung eines Plasmas durch Mikrowellen aufweist.device after claim 1 , characterized in that the plasma generating device (4) has electrodes (5) or electrode plates for electrostatic or electromagnetic excitation of a plasma (16) or at least one excitation coil for inductive excitation or a magnetron for excitation of a plasma by microwaves. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Elektroden (5) oder Elektrodenplatten der Plasmaerzeugungseinrichtung (4) auf die Bauteilaufnahme (14) zuweisende Elektrodenoberflächen (6) aufweisen, die eine Fläche im Bereich von mindestens 2 % der Fläche der Kammerinnenfläche, insbesondere mehr als 5 % oder vorzugsweise mehr als 10 % der Kammerinnenfläche aufweisen.device after claim 2 , characterized in that the electrodes (5) or electrode plates of the plasma generating device (4) have electrode surfaces (6) facing the component holder (14) which have an area in the range of at least 2% of the area of the chamber inner surface, in particular more than 5% or preferably more than 10% of the chamber inner surface. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11, 11', 11'') zwischen dem mindestens einen Gaseinlass (3,10) und der mindestens einen Bauteilaufnahme (14) im Gasströmungspfad angeordnet ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the shielding element (11, 11', 11'') is arranged between the at least one gas inlet (3, 10) and the at least one component holder (14) in the gas flow path. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11,11') zwischen der Plasmaerzeugungseinrichtung (4), insbesondere einer Elektrode (5) davon, und der Bauteilaufnahme (14) angeordnet ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the shielding element (11, 11') is arranged between the plasma generating device (4), in particular an electrode (5) thereof, and the component holder (14). Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11'') an der Seite der Bauteilaufnahme (14) angeordnet ist, die von der Plasmaerzeugungseinrichtung (4) und / oder dem mindestens einen Gaseinlass (3,10) abgewandt ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the shielding element (11'') is arranged on the side of the component holder (14) which faces away from the plasma generating device (4) and/or the at least one gas inlet (3, 10). . Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11') in der Beschichtungskammer (1) vorzugsweise variabel verstellbar oder verschiebbar angeordnet ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the shielding element (11') is arranged in the coating chamber (1) in a preferably variably adjustable or displaceable manner. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass an das Abschirmelement (11, 11',11'') ein elektrisches Potenzial anlegbar ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that an electrical potential can be applied to the shielding element (11, 11', 11''). Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11, 11', 11'') als Platte oder Scheibe, vorzugsweise mit Durchlässen (12), insbesondere Löchern oder Schlitzen, für das Prozessgas oder als Gitterstruktur ausgebildet ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the shielding element (11, 11', 11'') is designed as a plate or disc, preferably with passages (12), in particular holes or slots, for the process gas or as a lattice structure. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11, 11', 11'') aus einem Isolierstoff, insbesondere aus Glas oder Keramik, ist oder aus einem leitfähigen Material, insbesondere einem Metall ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the shielding element (11, 11', 11'') is made of an insulating material, in particular glass or ceramic, or is made of a conductive material, in particular a metal. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmaerzeugungseinrichtung (4) vollständig oder teilweise außerhalb der Beschichtungskammer (1) oder durch eine Trennwand (9) von der Bauteilaufnahme (14) getrennt angeordnet ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the plasma generating device (4) is arranged completely or partially outside the coating chamber (1) or separated from the component holder (14) by a partition wall (9). Verfahren zur Beschichtung durch plasmagestützte Atomlagenabscheidung, insbesondere unter Verwendung einer Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem eine Beschichtungskammer (1) bereitgestellt wird, die von einer Kammerwand (2) begrenzt wird, wobei in der Beschichtungskammer (1) mindestens ein Bauteil (15), das beschichtet wird, in einer Bauteilaufnahme (14) angeordnet wird, wobei durch die Kammerwand (2) durch mindestens einen Gaseinlass (3,10) nacheinander verschiedene Prozessgase in die Beschichtungskammer (1) eingeleitet werden, um die Beschichtung des Bauteils (15) vorzunehmen, wobei eine Plasmaerzeugungseinrichtung (4) so angeordnet ist, dass innerhalb der Beschichtungskammer (1) im Bereich des Bauteils (15) zumindest teilweise während des Beschichtens ein Plasma (16) erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet, dass durch eine Magnetfelderzeugungseinrichtung (18) zumindest teilweise während des Beschichtens im Bereich der Bauteilaufnahme (14) ein Magnetfeld erzeugt wird und / oder dass innerhalb der Beschichtungskammer (1) ein Abschirmelement (11, 11', 11'') angeordnet wird, welches die Bauteilaufnahme (14) gegenüber dem mindestens einen Gaseinlass (3,10) und / oder der Plasmaerzeugungseinrichtung (4) mechanisch und / oder elektrisch abschirmt und / oder dass die Prozessparameter Anlagendruck und / oder Plasmaleistung so optimiert werden, dass die Potenzialdifferenz zwischen zu beschichtendem Bauteil (15) und Plasmaerzeugungseinrichtung (4) bei stabilem Plasma minimiert wird.Method for coating by plasma-enhanced atomic layer deposition, in particular using a device according to one of the preceding claims, in which a coating chamber (1) is provided which is delimited by a chamber wall (2), wherein in the coating chamber (1) at least one component (15 ) that is to be coated is arranged in a component holder (14), different process gases being successively introduced into the coating chamber (1) through the chamber wall (2) through at least one gas inlet (3,10) in order to start the coating of the component (15 ), a plasma generating device (4) being arranged in such a way that a plasma (16) is generated at least partially during the coating process within the coating chamber (1) in the region of the component (15), characterized in that a magnetic field generating device (18) at least partially during the coating in the region of the component holder (14), a magnetic field ores and/or that a shielding element (11, 11', 11'') is arranged inside the coating chamber (1), which shields the component holder (14) from the at least one gas inlet (3,10) and/or the plasma generating device (4 ) shields mechanically and/or electrically and/or that the process parameters of the system pressure and/or plasma power are optimized in such a way that the potential difference between the component (15) to be coated and the plasma generating device (4) is minimized when the plasma is stable. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Plasma (16) durch ein elektrostatisches Feld mit Hilfe elektrischer Gleichspannung zwischen Elektroden oder durch kapazitive elektrische Anregung mit Hilfe elektrischer Wechselspannung an Elektrodenplatten (5) oder durch einen hochfrequenten Wechselstrom durch eine Anregungsspule erzeugt wird.procedure after claim 12 , characterized in that the plasma (16) is generated by an electrostatic field using electrical DC voltage between electrodes or by capacitive electrical excitation using electrical AC voltage at electrode plates (5) or by a high-frequency alternating current through an excitation coil. Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass das Abschirmelement (11, 11'') mit einem elektrischen Potenzial beaufschlagt wird, sodass geladene Teilchen, insbesondere negativ geladene Teilchen, nicht in die Beschichtungskammer (1) und / oder nicht zu dem zu beschichtenden Bauteil (15) gelangen können.procedure after claim 12 or 13 , characterized in that the shielding element (11, 11'') is subjected to an electrical potential, so that charged particles, in particular negatively charged particles, do not get into the coating chamber (1) and/or do not reach the component (15) to be coated be able. Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die mit Wechselspannung betriebenen Elektroden (5) oder Elektrodenplatten oder eine mit von Wechselstrom durchflossene Anregungsspule der Plasmaerzeugungseinrichtung auf eine positive elektrische Grundspannung eingestellt werden.Procedure according to one of Claims 12 until 14 , characterized in that the electrodes (5) or electrode plates operated with alternating voltage or an excitation coil of the plasma generating device through which alternating current flows are set to a positive electrical basic voltage. Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Druck des Prozessgases im Bereich von 0,01 bis 100 Pa, bevorzugt zwischen 0,1 und 10 Pa gehalten wird.Procedure according to one of Claims 12 until 15 , characterized in that the pressure of the process gas is kept in the range from 0.01 to 100 Pa, preferably between 0.1 and 10 Pa. Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass die zur Herstellung einer Beschichtung erforderlich Energiezufuhr zur Erzeugung eines Plasmas (16) erfasst wird, wobei die Energiezufuhr pro Zeiteinheit minimiert und die Dauer der Energiezufuhr entsprechend angepasst wird, sodass die zugeführte Energie konstant gehalten wird.Procedure according to one of Claims 12 until 16 , characterized in that the energy supply required to produce a coating for generating a plasma (16) is detected, the energy supply per unit of time being minimized and the duration of the energy supply being adjusted accordingly, so that the energy supplied is kept constant. Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Potenzialdifferenz zwischen Bauteil und Elektroden oder Anlagenmasse und Elektroden kleiner als 100 V, bevorzugt kleiner 50 V, besonders bevorzugt kleiner 30 V ist.Procedure according to one of Claims 12 until 17 , characterized in that the potential difference between component and electrodes or system ground and electrodes is less than 100 V, preferably less than 50 V, particularly preferably less than 30 V.
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