DE102020212151A1 - Method for manufacturing a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope, and a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope - Google Patents

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Abstract

Um ein Verfahren zur Herstellung einer Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop, bereitzustellen, welches kostengünstig, großserientauglich und skalierbar ist, wird ein Verfahren (100) zum Herstellen einer Dampfzelle (10), insbesondere für ein NMR-Gyroskop, vorgeschlagen, umfassend die Schritte:- Bereitstellen eines ersten Wafers (11),- Anordnen eines zweiten Wafers (13) auf dem ersten Wafer (11), wobei der zweite Wafer (13) Durchbrüche (17) aufweist, wobei die Durchbrüche (17) des zweiten Wafers (13) an einer Unterseite (18) von dem ersten Wafer (11) abgedeckt werden und Kavitäten (19) bilden,- Anordnen eines Abstandshalters (27) auf dem zweiten Wafer (13),- Anordnen eines dritten, flexiblen Wafers (23) auf dem Abstandshalter (21), sodass der dritte Wafer (23) unter Ausbildung eines Spalts (25) in einem Abstand oberhalb des zweiten Wafers (13) angeordnet ist, wobei die Kavitäten (19) über den Spalt (25) fluidisch miteinander in Verbindung stehen,- Befüllen der Kavitäten (19) mit einem Gas (33),- Anpressen des dritten Wafers (23) an den zweiten Wafer (13), sodass der Spalt (25) zumindest im Bereich der Kavitäten (19) geschlossen wird,- Verbinden des dritten Wafers (23) mit dem zweiten Wafer (13).In order to provide a method for producing a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope, which is inexpensive, suitable for mass production and scalable, a method (100) for producing a vapor cell (10), in particular for an NMR gyroscope, is proposed, comprising the Steps: - providing a first wafer (11), - arranging a second wafer (13) on the first wafer (11), the second wafer (13) having openings (17), the openings (17) of the second wafer ( 13) are covered on an underside (18) by the first wafer (11) and form cavities (19), - arranging a spacer (27) on the second wafer (13), - arranging a third, flexible wafer (23). the spacer (21), so that the third wafer (23) is arranged at a distance above the second wafer (13), forming a gap (25), the cavities (19) being fluidically connected to one another via the gap (25). ,- Filling the cavities (19) with a gas (33), - pressing the third wafer (23) against the second wafer (13) so that the gap (25) is closed at least in the area of the cavities (19), - connecting the third wafer (23) to the second wafers (13).

Description

Stand der TechnikState of the art

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop. Ferner betrifft die vorliegende Erfindung eine Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop.The present invention relates to a method for manufacturing a vapor cell, particularly for an NMR gyroscope. Furthermore, the present invention relates to a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope.

Technologischer HintergrundTechnological background

NMR-Gyroskope (Nuclear Magnetic Resonance) bieten besondere Vorteile gegenüber MEMS-Gyroskopen (Micro Electro Mechanical Systems). So weisen NMR-Gyroskope beispielsweise eine bis zu 50-fach bessere Bias-Drift-Stabilität auf. Im Rahmen der Weiterentwicklung von NMR-Gyroskopen sind jedoch große Herausforderungen zu überwinden. So ist die Gewinnung der benötigten isotopenreinen Gase, beispielsweise 129Xe und 131Xe, mit sehr hohen Kosten verbunden. Weitere Herausforderungen stellen sich in der Miniaturisierung der magnetischen Abschirmung und der Begrenzung des Stromverbrauchs von NMR-Gyroskopen.NMR (Nuclear Magnetic Resonance) gyroscopes offer particular advantages over MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) gyroscopes. For example, NMR gyroscopes have up to 50 times better bias-drift stability. However, as part of the further development of NMR gyroscopes, major challenges have to be overcome. The production of the isotopically pure gases required, for example 129 Xe and 131 Xe, is associated with very high costs. Further challenges arise in miniaturizing the magnetic shielding and limiting the power consumption of NMR gyroscopes.

Die Dampfzelle, die die Atome enthält, ist das Herzstück eines NMR-Gyroskops und stellt eine besondere Herausforderung an das Packaging dar. Die Dampfzelle darf nicht mit den in der Dampfzelle befindlichen Atomen reagieren und muss den Zugang zum Licht zu und von den Atomen ermöglichen. Sie muss ferner hohen Temperaturen standhalten, darf nicht magnetisch sein und muss zudem dauerhaft hermetisch dicht sein. Eine großseriengeeignete Implementierung von NMR-Gyroskopen, beispielsweise im Automobilbau, hängt insbesondere stark von den Endkosten der Dampfzelle ab.The vapor cell, which contains the atoms, is the heart of an NMR gyroscope and presents a particular packaging challenge. The vapor cell must not react with the atoms inside the vapor cell and must allow access for light to and from the atoms. It must also withstand high temperatures, must not be magnetic and must also be permanently hermetically sealed. A large-scale implementation of NMR gyroscopes, for example in automotive engineering, depends heavily on the final costs of the vapor cell.

Offenbarung der ErfindungDisclosure of Invention

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Herstellung einer Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop, bereitzustellen, welches kostengünstig, großserientauglich und skalierbar ist.The present invention is based on the object of providing a method for producing a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope, which is inexpensive, suitable for large-scale production and scalable.

Zur Lösung der der Erfindung zugrundeliegenden Aufgabe wird ein Verfahren zum Herstellen einer Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop, vorgeschlagen, wobei das Verfahren die Schritte aufweist,

  • - Bereitstellen eines ersten Wafers,
  • - Anordnen eines zweiten Wafers auf dem ersten Wafer, wobei der zweite Wafer Durchbrüche aufweist, wobei die Durchbrüche des zweiten Wafers an einer Unterseite von dem ersten Wafer abgedeckt werden und Kavitäten bilden,
  • - Anordnen eines Abstandhalters auf dem zweiten Wafer,
  • - Anordnen eines dritten, flexiblen Wafers auf dem Abstandshalter, sodass der dritte Wafer unter Ausbildung eines Spalts in einem Abstand oberhalb des zweiten Wafers angeordnet ist, wobei die Kavitäten über den Spalt fluidisch miteinander in Verbindung stehen,
  • - Befüllen der Kavitäten mit einem Gas,
  • - Anpressen des dritten Wafers an den zweiten Wafer, sodass der Spalt zumindest im Bereich der Kavitäten geschlossen wird,
  • - Verbinden des dritten Wafers mit dem zweiten Wafer.
In order to achieve the object on which the invention is based, a method for producing a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope, is proposed, the method having the steps
  • - providing a first wafer,
  • - arranging a second wafer on the first wafer, the second wafer having openings, the openings of the second wafer being covered on a lower side by the first wafer and forming cavities,
  • - placing a spacer on the second wafer,
  • - arranging a third, flexible wafer on the spacer, so that the third wafer is arranged at a distance above the second wafer, forming a gap, the cavities being fluidically connected to one another via the gap,
  • - filling the cavities with a gas,
  • - pressing the third wafer onto the second wafer so that the gap is closed at least in the area of the cavities,
  • - Bonding the third wafer to the second wafer.

Unter einem Wafer wird im Rahmen der vorliegenden Erfindung eine beispielsweise kreisrunde oder quadratische und insbesondere dünne Scheibe bezeichnet. Die Wafer können aus geeigneten Gläsern, Silizium oder anderen geeigneten Materialien bestehen.Within the scope of the present invention, a wafer is referred to as a disk that is, for example, circular or square and, in particular, thin. The wafers can consist of suitable glasses, silicon or other suitable materials.

Beim Anordnen des zweiten Wafers auf dem ersten Wafer liegt der erste Wafer von unten an einer Unterseite des zweiten Wafers an, sodass die, insbesondere durchgehenden, Durchbrüche im zweiten Wafer durch den untenliegenden ersten Wafer abgedeckt und insbesondere verschlossen werden. Die von unten abgedeckten Durchbrüche bilden die Kavitäten zur Aufnahme eines Gases, insbesondere von isotopenreinem 129Xe und 131Xe.When arranging the second wafer on the first wafer, the first wafer bears against an underside of the second wafer from below, so that the openings, in particular continuous ones, in the second wafer are covered and in particular closed by the first wafer underneath. The openings covered from below form the cavities for receiving a gas, in particular isotopically pure 129 Xe and 131 Xe.

Die Durchbrüche des zweiten Wafers sind bevorzugt als durchgehende Durchbrüche ausgebildet und können auch als Löcher oder Bohrungen oder Aussparungen bezeichnet werden. Insbesondere bevorzugt weist der zweite Wafer eine Vielzahl solcher Durchbrüche auf, sodass durch Anordnen des zweiten Wafers auf dem ersten Wafer eine Vielzahl von Kavitäten gebildet wird.The openings in the second wafer are preferably in the form of continuous openings and can also be referred to as holes or bores or recesses. The second wafer particularly preferably has a multiplicity of such openings, so that a multiplicity of cavities are formed by arranging the second wafer on the first wafer.

Der dritte flexible Wafer ist bevorzugt dünner ausgebildet als der erste und/oder als der zweite Wafer und wird derart auf dem Abstandshalter angeordnet, dass die Unterseite des dritten Wafers unter Ausbildung eines Spalts einen Abstand zu der Oberseite des zweiten Wafers aufweist. Über den Spalt stehen die Kavitäten fluidisch miteinander in Verbindung, sodass ein Gas durch den Spalt von einer Kavität in die andere strömen kann.The third flexible wafer is preferably thinner than the first and/or the second wafer and is arranged on the spacer in such a way that the underside of the third wafer is at a distance from the top side of the second wafer, forming a gap. The cavities are in fluid communication with one another via the gap, so that a gas can flow through the gap from one cavity into the other.

Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass das Gas, insbesondere mit hohen Herstellungskosten verbundenes isotopenreines 129Xe oder 131Xe, sehr präzise und mit geringen Befüllungsverlusten in alle Kavitäten gleichzeitig und somit effizient eingebracht werden kann. Diese Befüllungsmethode trägt stark zur Skalierfähigkeit der Dampfzellen bei minimalen Herstellungskosten bei.A particular advantage of the invention is that the gas, in particular isotopically pure 129 Xe or 131 Xe, which is associated with high production costs, can be introduced very precisely and with low filling losses into all cavities simultaneously and thus efficiently. This filling method contributes greatly to scalability of the steam cells with minimal manufacturing costs.

Zum Verschließen der einzelnen Kavitäten wird der dritte Wafer an den zweiten Wafer angedrückt oder angepresst, wobei die Flexibilität des dritten Wafers ausgenutzt wird. Die Unterseite des dritten Wafers kommt zumindest im Bereich der Kavitäten auf der Oberseite des zweiten Wafers zu liegen, wodurch der Spalt zumindest im Bereich der Kavitäten geschlossen wird. Anschließend wird der dritte Wafer mit dem zweiten Wafer verbunden, sodass die einzelnen Kavitäten voneinander fluidisch isoliert und gasdicht abgeschlossen sind.To close the individual cavities, the third wafer is pressed or pressed against the second wafer, the flexibility of the third wafer being used. The underside of the third wafer comes to rest on the top side of the second wafer, at least in the area of the cavities, as a result of which the gap is closed at least in the area of the cavities. The third wafer is then connected to the second wafer, so that the individual cavities are fluidically isolated from one another and sealed in a gas-tight manner.

Die einzelnen Kavitäten können anschließend voneinander separiert werden. Jede einzelne der gasgefüllten und verschlossenen Kavitäten bildet dann eine Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop.The individual cavities can then be separated from one another. Each of the gas-filled and sealed cavities then forms a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope.

Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht in der Ausnutzung der Flexibilität des dritten Wafers beim Verschließen der Kavitäten. Der dritte Wafer kann wird zunächst derart auf dem Abstandshalter und über dem zweiten Wafer angeordnet werden, dass alle Kavitäten über den Spalt in einem Schritt mit einem Gas befüllt werden können. Zum Verschließen der Kavitäten kann der dritte Wafer zumindest im Bereich der Kavitäten an den zweiten Wafer angepresst oder angedrückt werden, sodass alle Kavitäten gleichzeitig geschlossen werden. Der Abstandshalter braucht dafür nicht entfernt zu werden. Die Herstellungskosten können somit gesenkt werden. Zudem ist das Verfahren für die Großserie skalierbar.A particular advantage of the invention is the utilization of the flexibility of the third wafer when sealing the cavities. The third wafer can first be arranged on the spacer and above the second wafer in such a way that all the cavities can be filled with a gas in one step via the gap. In order to close the cavities, the third wafer can be pressed or pushed against the second wafer at least in the area of the cavities, so that all cavities are closed at the same time. The spacer does not need to be removed for this. The manufacturing cost can thus be reduced. In addition, the process is scalable for large series.

Die Dampfzelle ist insbesondere für den Einsatz in einem Nuclear Magnetic Resonance Gyroskop (NMR-Gyroskop) geeignet.The vapor cell is particularly suitable for use in a Nuclear Magnetic Resonance Gyroscope (NMR gyroscope).

Der erste Waver und/oder der zweite Wafer und/oder der dritte Wafer können strukturierte Wafer sein.The first wafer and/or the second wafer and/or the third wafer can be structured wafers.

Das Gas ist bevorzugt, insbesondere isotopenreines, 129Xe und 131Xe.The gas is preferred, especially isotopically pure, 129 Xe and 131 Xe.

Mit Vorteil kann vorgesehen sein, dass der erste Wafer ein lichtdurchlässiger Wafer, bevorzugt ein Glas-Wafer, ist, und/oder dass der erste Wafer mindestens zwei Löcher zur Durchleitung eines Gases aufweist.Advantageously, it can be provided that the first wafer is a translucent wafer, preferably a glass wafer, and/or that the first wafer has at least two holes for the passage of a gas.

Ein lichtdurchlässiger erster Wafer ermöglicht den Zugang von Licht von und zu den in den Kavitäten befindlichen Atomen des Gases.A translucent first wafer allows access of light from and to the atoms of the gas located in the cavities.

Mit weiterem Vorteil ist vorgesehen, dass der zweite Wafer ein Si-Wafer ist, und/oder dass der zweite Wafer mindestens zwei Löcher zur Durchleitung eines Gases aufweist, wobei bevorzugt die Löcher des zweiten Wafers fluchtend zu den Löchern des ersten Wafers angeordnet werden, sodass mindestens ein Einlasskanal für ein Gas und mindestens ein Auslasskanal für das Gas gebildet wird.Another advantage is that the second wafer is an Si wafer and/or that the second wafer has at least two holes for conducting a gas, the holes in the second wafer preferably being aligned with the holes in the first wafer, so that at least one inlet channel for a gas and at least one outlet channel for the gas is formed.

Die Löcher des ersten Wafers und/oder des zweiten Waders verlaufen insbesondere durchgehend von einer Oberseite zu einer Unterseite des ersten Wafers und/oder des zweiten Wafers.The holes in the first wafer and/or the second wafer run in particular continuously from an upper side to an underside of the first wafer and/or the second wafer.

Der zweite Wafer ist bevorzugt ein Si-Wafer und reagiert daher chemisch kaum oder überhaupt nicht mit den Atomen des in die Kavitäten geleiteten Gases. Ein Siliziumwafer hält zudem hohen Temperaturen stand.The second wafer is preferably an Si wafer and therefore hardly reacts chemically or not at all with the atoms of the gas fed into the cavities. A silicon wafer can also withstand high temperatures.

Werden die Löcher des zweiten Wafers fluchtend zu den Löchern des ersten Wafers angeordnet, so bilden die fluchtend angeordneten Löcher mindestens einen Einlasskanal und einen Auslasskanal. Somit kann ein Gas von der Unterseite des ersten Wafers durch eines der Löcher im ersten Wafer und durch ein fluchtend mit dem Loch im ersten Wafer angeordnetes Loch im zweiten Wafer, d.h. durch den Einlasskanal, in den Spalt zwischen dem zweiten Wafer und dem dritten Wafer eingeleitet werden.If the holes in the second wafer are aligned with the holes in the first wafer, the aligned holes form at least one inlet channel and one outlet channel. Thus, a gas can be introduced from the underside of the first wafer through one of the holes in the first wafer and through a hole in the second wafer aligned with the hole in the first wafer, ie through the inlet channel, into the gap between the second wafer and the third wafer will.

Das eingeleitete Gas kann sich dann über den Spalt in alle Kavitäten ausbreiten. Durch den aus einem Loch des ersten Wafers und einem zu dem Loch des ersten Wafers fluchtend angeordneten Loch des zweiten Wafers gebildeten Auslasskanal kann zuvor in dem Spalt befindliches Gas herausgeleitet werden. Insbesondere kann der Spalt evakuiert werden.The introduced gas can then spread through the gap into all cavities. Gas previously located in the gap can be conducted out through the outlet channel formed from a hole in the first wafer and a hole in the second wafer arranged in alignment with the hole in the first wafer. In particular, the gap can be evacuated.

Der mindestens eine Einlasskanal und der mindestens eine Auslasskanal enden bevorzugt in dem Spalt zwischen dem zweiten Wafer und dem dritten Wafer. Der Spalt wird ferner bevorzugt umfangsseitig von dem Abstandshalter begrenzt.The at least one inlet channel and the at least one outlet channel preferably end in the gap between the second wafer and the third wafer. The gap is also preferably delimited on the peripheral side by the spacer.

Mit weiterem Vorteil ist vorgesehen, dass der dritte Wafer ein lichtdurchlässiger Wafer, bevorzugt ein Glas-Wafer, ist.With a further advantage it is provided that the third wafer is a translucent wafer, preferably a glass wafer.

Da der erste Wafer und der dritte Wafer unterhalb und oberhalb des zweiten Wafers angeordnet sind, kann ein Zugang von Licht zu und von den in den Kavitäten angeordneten Atomen durch den ersten lichtdurchlässigen Wafer und den dritten lichtdurchlässigen Wafer ermöglicht werden.Since the first wafer and the third wafer are arranged below and above the second wafer, access of light to and from the atoms arranged in the cavities can be allowed through the first light-transmissive wafer and the third light-transmissive wafer.

Mit Vorteil ist vorgesehen, dass der zweite Wafer mit dem ersten Wafer durch ein Anodisches-Bonding-Verfahren verbunden wird.Provision is advantageously made for the second wafer to be connected to the first wafer by an anodic bonding method.

Mit weiterem Vorteil kann vorgesehen sein, dass der Abstandshalter ringförmig ausgebildet ist, und/oder dass der Abstandshalter randseitig auf dem zweiten Wafer angeordnet wird, und/oder, dass der Abstandshalter aus einem Kunststoff, insbesondere aus einem Polymer, besteht. Alternativ oder zusätzlich kann der Abstandshalter auf dem zweiten Wafer durch selektives Schleifen des zweiten Wafers hergestellt werden. Es bleibt so ein randseitiger Abstandshalter übrig.With a further advantage, it can be provided that the spacer is ring-shaped and/or that the spacer is arranged at the edge on the second wafer and/or that the spacer consists of a plastic, in particular a polymer. Alternatively or additionally, the spacer can be produced on the second wafer by selectively grinding the second wafer. A spacer at the edge remains.

Durch die randseitige, und weiter bevorzugt umlaufende, Anordnung des Abstandshalters auf dem zweiten Wafer kann durch Anordnung des dritten Wafers auf dem Abstandshalter der dritte Wafer in einem kleinem Abstand von der Oberseite des zweiten Wafers angeordnet werden, sodass sich zwischen dem zweiten Wafer und dem dritter Wafer ein Spalt ausbildet. Randseitig wird der Spalt von dem Abstandshalter begrenzt. Durch Einleiten eines Gases durch den Einlasskanal in den Spalt können sämtliche Kavitäten gleichzeitig befüllt werden.By arranging the spacer on the edge, and more preferably circumferentially, on the second wafer, the third wafer can be arranged at a small distance from the top side of the second wafer by arranging the third wafer on the spacer, so that between the second wafer and the third Wafer forms a gap. At the edge, the gap is delimited by the spacer. All of the cavities can be filled at the same time by introducing a gas through the inlet channel into the gap.

Mit weiterem Vorteil kann vorgesehen sein, dass bevorzugt vor dem Anordnen des dritten Wafers auf dem Abstandshalter, weiter bevorzugt pulverförmiges, Rubidium in die Kavitäten eingefüllt wird.With a further advantage, provision can be made for rubidium, more preferably in powder form, to be filled into the cavities, preferably before the arrangement of the third wafer on the spacer.

Mit weiterem Vorteil kann vorgesehen sein, dass der dritte Wafer mit dem Abstandshalter verbunden wird, sodass der Spalt randseitig gasdicht verschlossen wird.With a further advantage, it can be provided that the third wafer is connected to the spacer, so that the gap is closed in a gas-tight manner at the edge.

Bevorzugt ist vorgesehen, dass der erste Wafer auf einer Aufspannvorrichtung angeordnet wird, wobei die Aufspannvorrichtung mindestens einen Zuleitungskanal für ein Gas und mindestens einen Rückleitungskanal für ein Gas aufweist, wobei der Zuleitungskanal fluidisch mit dem Einlasskanal, welcher weiter bevorzugt aus den fluchtend angeordneten Löchern des ersten Wafers und des zweiten Wafers gebildet wird, verbunden wird, und wobei der Rückleitungskanal fluidisch mit dem Auslasskanal, welcher weiter bevorzugt durch aus weiteren fluchtend angeordneten Löchern des ersten Wafers und des zweiten Wafers gebildet wird, verbunden wird.Provision is preferably made for the first wafer to be arranged on a clamping device, the clamping device having at least one supply channel for a gas and at least one return channel for a gas, the supply channel fluidically connected to the inlet channel, which more preferably consists of the aligned holes of the first Wafer and the second wafer is formed, is connected, and wherein the return line channel is fluidly connected to the outlet channel, which is more preferably formed by further aligned holes of the first wafer and the second wafer is formed.

Die Aufspannvorrichtung kann auch als „bonding chuck“ bezeichnet werden.The clamping device can also be referred to as a "bonding chuck".

Der Zuleitungskanal und der Rückleitungskanal sind insbesondere im Inneren der Aufspannvorrichtung ausgebildet.The supply channel and the return channel are formed in particular inside the clamping device.

Durch den Zuleitungskanal kann ein Gas zu dem aus den fluchtend angeordneten Löchern des ersten Wafers und des zweiten Wafers gebildeten Einlasskanal und weiter in den Spalt zwischen dem zweiten Wafer und dem dritten Wafer geleitet werden. Entsprechend kann ein Gas aus dem Spalt zwischen dem zweiten Wafer und dem dritten Wafer durch den Auslasskanal, gebildet aus den weiteren fluchtend ausgerichteten Löchern des ersten Wafers und des zweiten Wafers, in den Rückleitungskanal in der Aufspannvorrichtung geleitet und abgeführt werden.A gas can be conducted through the supply channel to the inlet channel formed by the aligned holes of the first wafer and the second wafer and further into the gap between the second wafer and the third wafer. Accordingly, a gas from the gap between the second wafer and the third wafer can be guided and discharged into the return passage in the chuck through the exhaust passage formed of the other aligned holes of the first wafer and the second wafer.

Mit weiterem Vorteil ist vorgesehen, dass die Aufspannvorrichtung ein Befestigungsmittel, insbesondere Kanäle für ein Vakuumsystem, aufweist.With a further advantage, it is provided that the clamping device has a fastening means, in particular channels for a vacuum system.

Mit dem Befestigungsmittel kann eine sichere Positionierung und Ausrichtung des Zuleitungskanals und des Rückleitungskanals der Aufspannvorrichtung zu dem Einlasskanal und dem Auslasskanal in dem ersten Wafer und dem zweiten Wafer gewährleistet werden.With the fastening means, a secure positioning and alignment of the supply channel and the return channel of the clamping device can be ensured with respect to the inlet channel and the outlet channel in the first wafer and the second wafer.

Umfasst das Befestigungsmittel Kanäle für ein Vakuumsystem, so sind diese insbesondere in Richtung der auf der Aufspannvorrichtung angeordneten Unterseite des ersten Wafers offen, sodass der erste Wafer durch Erzeugen eines Vakuums an der Aufspannvorrichtung fixiert werden kann.If the fastening means includes channels for a vacuum system, these are open in particular in the direction of the underside of the first wafer arranged on the clamping device, so that the first wafer can be fixed to the clamping device by generating a vacuum.

Bevorzugt ist vorgesehen, dass das Verfahren den Schritt des Befüllens der Kavitäten mit einem Gas, bevorzugt mit einem Xe-Isotop, weiter bevorzugt mit 129Xe und 131Xe, durch den mindestens einen Zuleitungskanal der Aufspannvorrichtung und den aus den fluchtend ausgerichteten Löchern des ersten Wafers und des zweiten Wafers gebildeten mindestens einen Einlasskanal umfasst.It is preferably provided that the method includes the step of filling the cavities with a gas, preferably with a Xe isotope, more preferably with 129 Xe and 131 Xe, through the at least one supply channel of the clamping device and the aligned holes of the first wafer and the second wafer formed at least one inlet channel.

Der Schritt des Anordnens des ersten Wafers auf der Aufspannvorrichtung kann der erste Verfahrensschritt sein. Ferner kann der Schritt des Anordnens des ersten Wafers auf dem zweiten Wafer zu jedem Zeitpunkt vor dem Befüllen der Kavitäten mit einem Gas erfolgen.The step of placing the first wafer on the chuck may be the first step of the method. Furthermore, the step of arranging the first wafer on the second wafer can take place at any time before the cavities are filled with a gas.

Bevorzugt erfolgt das Anpressen des dritten Wafers an den zweiten Wafer mittels eines Spannfutters.The third wafer is preferably pressed onto the second wafer by means of a chuck.

Weiter bevorzugt ist vorgesehen, dass der dritte Wafer mit dem zweiten Wafer durch ein Anodisches-Bonding-Verfahren verbunden wird.Provision is also preferably made for the third wafer to be connected to the second wafer by an anodic bonding method.

Durch das Anpressen des dritten Wafers an den zweiten Wafer liegt der dritte Wafer an der Oberseite des zweiten Wafers an und verschließt sämtliche im zweiten Wafer gebildeten Kavitäten. Durch das anschließende Verbinden des dritten Wafers mit dem zweiten Wafer, beispielsweise mit einem Anodischen-Bonding-Verfahren, werden die Kavitäten hermetisch gasdicht abgeschlossen.By pressing the third wafer against the second wafer, the third wafer rests on the upper side of the second wafer and closes all of the cavities formed in the second wafer. By subsequently connecting the third wafer to the second wafer, for example using an anodic bonding method, the cavities are sealed off in a hermetically gas-tight manner.

In einem weiteren Verfahrensschritt wird die Aufspannvorrichtung bevorzugt entfernt.In a further method step, the clamping device is preferably removed.

Bevorzugt ist der Schritt des Beschneidens der miteinander verbundenen Wafer, insbesondere des ersten Wafers, des zweiten Wafers und des dritten Wafers, mittels eines Wafer-Dicing-Verfahrens vorgesehen.The step of cutting the interconnected wafers, in particular the first wafer, the second wafer and the third wafer, by means of a wafer dicing method is preferably provided.

Somit wird der Block gebildet aus dem ersten Wafer, dem zweiten Wafer und dem dritten Wafer beschnitten, sodass die mit Gas gefüllten Kavitäten voneinander getrennt oder separiert werden.Thus, the block formed from the first wafer, the second wafer and the third wafer is trimmed so that the cavities filled with gas are separated or separated from one another.

Jede der einzelnen separierten Kavitäten kann eine Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop, bilden.Each of the individual, separated cavities can form a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope.

Eine weitere Lösung der der Erfindung zugrundeliegenden Aufgabe besteht in der Bereitstellung einer Dampfzelle, insbesondere für ein NMR-Gyroskop, herstellbar oder hergestellt mit einem vorbeschriebenen Verfahren.A further solution to the problem on which the invention is based consists in providing a vapor cell, in particular for an NMR gyroscope, which can be produced or produced using a method described above.

Eine noch weitere Lösung der der Erfindung zugrundeliegenden Aufgabe besteht in der Bereitstellung eines NMR-Gyroskops mit einer vorbeschriebenen Dampfzelle.Yet another solution to the problem underlying the invention consists in providing an NMR gyroscope with a vapor cell as described above.

Die Erfindung wird nachstehend näher anhand der beigefügten Figuren erläutert. Es zeigen

  • 1 einen ersten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 2 einen zweiten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 3 einen dritten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 4 einen vierten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 5 einen fünften Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 6 einen sechsten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 7 einen siebten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle,
  • 8 einen achten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle, und
  • 9 einen neunten Schritt eines Verfahrens zur Herstellung einer Dampfzelle.
The invention is explained in more detail below with reference to the accompanying figures. Show it
  • 1 a first step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 2 a second step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 3 a third step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 4 a fourth step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 5 a fifth step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 6 a sixth step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 7 a seventh step of a method for manufacturing a vapor cell,
  • 8th an eighth step of a method of manufacturing a vapor cell, and
  • 9 a ninth step of a method of manufacturing a vapor cell.

In den 1 bis 9 werden die Schritte eines Verfahrens 100 zur Herstellung einer Dampfzelle 10 (9), insbesondere für ein NMR-Gyroskop, gezeigt.In the 1 until 9 the steps of a method 100 for manufacturing a vapor cell 10 ( 9 ), in particular for an NMR gyroscope.

In einem ersten Verfahrensschritt nach 1 wird ein erster Wafer 11, welcher als strukturierter Glas-Wafer 11a ausgebildet ist, bereitgestellt. Der strukturierte Glaswafer 11a weist randseitig zwei Löcher 12 auf.In a first step of the process 1 a first wafer 11, which is designed as a structured glass wafer 11a, is provided. The structured glass wafer 11a has two holes 12 at the edge.

In einem zweiten Verfahrensschritt nach 2 wird ein zweiter Wafer 13, welcher als Si-Wafer 13a ausgebildet ist, auf dem ersten Wafer 11 angeordnet. Der Si-Wafer 13a weist ebenfalls mindestens zwei randseitige Löcher 14 auf, welche fluchtend mit den Löchern 12 im ersten Wafer 11 ausgerichtet werden. In a second process step 2 a second wafer 13, which is in the form of a Si wafer 13a, is arranged on the first wafer 11. The Si wafer 13a also has at least two holes 14 on the edge, which are aligned with the holes 12 in the first wafer 11 .

Durch die fluchtende Ausrichtung bilden die Löcher 12, 14 mindestens einen Einlasskanal 15 für ein Gas und mindestens einen Auslasskanal 16 für ein Gas.Due to the alignment, the holes 12, 14 form at least one inlet channel 15 for a gas and at least one outlet channel 16 for a gas.

Der zweite Wafer 13 weist ferner Durchbrüche 17 auf, welche beim Anordnen des zweiten Wafers 13 auf dem ersten Wafer 11 von der Unterseite 18 von dem ersten Wafer 11 verschlossen werden und Kavitäten 19 bilden. Der zweite Wafer 13 wird auf dem ersten Wafer 11 mittels eines Anodischen- Bonding-Verfahrens befestigt.The second wafer 13 also has openings 17 which, when the second wafer 13 is arranged on the first wafer 11 , are closed by the underside 18 of the first wafer 11 and form cavities 19 . The second wafer 13 is attached to the first wafer 11 by means of an anodic bonding method.

In einem weiteren dritten Schritt nach 3 wird in die im vorangegangenen Schritt gebildeten Kavitäten 19 eine Menge, insbesondere bevorzugt pulverförmigen Rubidiums 20, eingefüllt.In a further third step after 3 is in the formed in the previous step cavities 19 a quantity, particularly preferably powdery rubidium 20, filled.

In einem vierten Verfahrensschritt nach 4 wird ein ringförmiger Abstandshalter 21 randseitig auf der Oberseite 22 des zweiten Wafers 13 angeordnet. Der Abstandshalter 21 ist insbesondere aus einem Polymer ausgebildet. Alternativ kann der Abstandshalter schon bei der Herstellung des zweiten Wafers 13 durch selektives Schleifen hergestellt werden.In a fourth step after 4 an annular spacer 21 is arranged at the edge on the upper side 22 of the second wafer 13 . The spacer 21 is formed in particular from a polymer. Alternatively, the spacer can already be produced during the production of the second wafer 13 by selective grinding.

Auf dem Abstandshalter 21 wird in einem fünften Verfahrensschritt nach 5 ein flexibler, insbesondere dünner, dritter Wafer 23 angeordnet, welcher ebenfalls als Glas-Wafer 23a ausgebildet ist. Der dritte Wafer 23 wird auf dem Abstandshalter 21 derart angeordnet und befestigt, dass zwischen der Oberseite 22 des zweiten Wafers 13 und der Unterseite 24 des dritten Wafers 23 ein Spalt 25 entsteht. Über den Spalt 25 stehend die einzelnen Kavitäten 19 in einer fluidischen Verbindung miteinander. Der Spalt 25 wird von dem zweiten Wafer 13, dem dritten Wafer 23 und dem Abstandshalter 21 begrenzt, wobei der Einlasskanal 15 und der Auslasskanal 16 in den Spalt 25 münden.On the spacer 21 is in a fifth step after 5 a flexible, in particular thin, third wafer 23 is arranged, which is also designed as a glass wafer 23a. The third wafer 23 is arranged and fastened on the spacer 21 in such a way that a gap 25 is formed between the upper side 22 of the second wafer 13 and the lower side 24 of the third wafer 23 . The individual cavities 19 are in fluid communication with one another via the gap 25 . The gap 25 is delimited by the second wafer 13 , the third wafer 23 and the spacer 21 , the inlet channel 15 and the outlet channel 16 opening into the gap 25 .

In einem sechsten Verfahrensschritt nach 6 wird der Block 26 umfassend den ersten Wafer 11, den zweiten Wafer 13, den Abstandshalter 21 und den dritten Wafer 23 auf einer Aufspannvorrichtung 27 angeordnet. Die Aufspannvorrichtung 27 weist einen Zuleitungskanal 28 für ein Gas und einen Rückleitungskanal 29 für ein Gas auf. Dabei wird der Zuleitungskanal 28 so angeordnet, dass dieser fluidisch mit dem Einlasskanal 15 in Verbindung steht. In a sixth step after 6 the block 26 comprising the first wafer 11, the second wafer 13, the spacer 21 and the third wafer 23 is presented on a chuck direction 27 arranged. The clamping device 27 has a feed channel 28 for a gas and a return channel 29 for a gas. In this case, the feed channel 28 is arranged in such a way that it is fluidically connected to the inlet channel 15 .

Der Rückleitungskanal 29 steht in einer fluidischen Verbindung mit dem Auslasskanal 16. Ferner umfasst die Aufspannvorrichtung 27 ein Befestigungsmittel 30, welches Kanäle 31 für ein nicht näher dargestelltes Vakuumsystem aufweist. Die Kanäle 31 sind zu der Unterseite 32 des auf der Aufspannvorrichtung 27 angeordneten ersten Wafers 11 offen. Durch Erzeugung eines Vakuums in den Kanälen 31 kann der erste Wafer 11 mitsamt dem zweiten Wafer 13, dem Abstandshalter 21 und dem dritten Wafer 23 auf der Aufspannvorrichtung 27 fixiert werden.The return line duct 29 is in fluid communication with the outlet duct 16. The clamping device 27 also includes a fastening means 30, which has ducts 31 for a vacuum system, not shown in detail. The channels 31 are open to the underside 32 of the first wafer 11 arranged on the clamping device 27 . By generating a vacuum in the channels 31, the first wafer 11 together with the second wafer 13, the spacer 21 and the third wafer 23 can be fixed on the clamping device 27.

In einem siebten Verfahrensschritt nach 7 werden der Spalt 25 und die Kavitäten 19 über den Auslasskanal 16 und den Rückleitungskanal 29 zunächst evakuiert. Anschließend wird ein Gas 33, beispielsweise isotopenreines 129Xe und 131Xe, durch den Zuleitungskanal 28 und den Einlasskanal 15 in den Spalt 25 geleitet, sodass die Kavitäten 19 mit dem Gas 33 befüllt werden.In a seventh step after 7 the gap 25 and the cavities 19 are first evacuated via the outlet channel 16 and the return line channel 29 . A gas 33 , for example isotopically pure 129 Xe and 131 Xe, is then conducted through the feed channel 28 and the inlet channel 15 into the gap 25 , so that the cavities 19 are filled with the gas 33 .

In einem achten Verfahrensschritt nach 8 wird der flexible dritte Wafer 23 mittels eines Spannfutters 34 an die Oberseite 22 des zweiten Wafers 13 angepresst, sodass der Spalt 25 im Bereich der Kavitäten 19 geschlossen wird. Die Kavitäten 19 sind nicht mehr fluidisch miteinander verbunden. Dabei wird insbesondere die Flexibilität des dritten Wafers 23 ausgenutzt.In an eighth process step 8th the flexible third wafer 23 is pressed against the upper side 22 of the second wafer 13 by means of a chuck 34, so that the gap 25 in the region of the cavities 19 is closed. The cavities 19 are no longer fluidly connected to one another. In this case, the flexibility of the third wafer 23 is used in particular.

Anschließend wird in einem neunten Verfahrensschritt nach 9 die Aufspannvorrichtung 27 entfernt. Ferner werden mit einem Wafer-Dicing-Verfahren die einzelnen Kavitäten 19 voneinander getrennt. Die voneinander getrennten Kavitäten 19 bilden jeweils einzelne Dampfzellen 10, insbesondere für ein NMR-Gyroskop.Subsequently, in a ninth method step 9 the jig 27 removed. Furthermore, the individual cavities 19 are separated from one another using a wafer dicing method. The separate cavities 19 each form individual vapor cells 10, in particular for an NMR gyroscope.

Claims (10)

Verfahren (100) zum Herstellen einer Dampfzelle (10), insbesondere für ein NMR-Gyroskop, umfassend die Schritte: - Bereitstellen eines ersten Wafers (11), - Anordnen eines zweiten Wafers (13) auf dem ersten Wafer (11), wobei der zweite Wafer (13) Durchbrüche (17) aufweist, wobei die Durchbrüche (17) des zweiten Wafers (13) an einer Unterseite (18) von dem ersten Wafer (11) abgedeckt werden und Kavitäten (19) bilden, - Anordnen eines Abstandshalters (27) auf dem zweiten Wafer (13), - Anordnen eines dritten, flexiblen Wafers (23) auf dem Abstandshalter (21), sodass der dritte Wafer (23) unter Ausbildung eines Spalts (25) in einem Abstand oberhalb des zweiten Wafers (13) angeordnet ist, wobei die Kavitäten (19) über den Spalt (25) fluidisch miteinander in Verbindung stehen, - Befüllen der Kavitäten (19) mit einem Gas (33), - Anpressen des dritten Wafers (23) an den zweiten Wafer (13), sodass der Spalt (25) zumindest im Bereich der Kavitäten (19) geschlossen wird, - Verbinden des dritten Wafers (23) mit dem zweiten Wafer (13).Method (100) for producing a vapor cell (10), in particular for an NMR gyroscope, comprising the steps: - providing a first wafer (11), - Arranging a second wafer (13) on the first wafer (11), the second wafer (13) having openings (17), the openings (17) of the second wafer (13) on an underside (18) of the first Wafer (11) are covered and form cavities (19), - arranging a spacer (27) on the second wafer (13), - Arranging a third, flexible wafer (23) on the spacer (21) so that the third wafer (23) is arranged at a distance above the second wafer (13) to form a gap (25), the cavities (19) are in fluid communication with one another via the gap (25), - filling the cavities (19) with a gas (33), - pressing the third wafer (23) onto the second wafer (13), so that the gap (25) is closed at least in the area of the cavities (19), - Connecting the third wafer (23) to the second wafer (13). Verfahren (100) nach Anspruch 1, wobei der erste Wafer (11) ein lichtdurchlässiger Wafer, bevorzugt ein Glas-Wafer (IIa), ist, und/oder wobei der erste Wafer (11) mindestens zwei Löcher (12) zur Durchleitung eines Gases (33) aufweist, und/oder wobei der zweite Wafer (13) ein Si-Wafer (13a) ist, und/oder wobei der zweite Wafer (13) mindestens zwei Löcher (14) zur Durchleitung eines Gases (33) aufweist, wobei bevorzugt die Löcher (14) des zweiten Wafers (13) fluchtend zu den Löchern (12) des ersten Wafers (11) angeordnet werden, so dass mindestens ein Einlasskanal (15) für ein Gas (33) und mindestens ein Auslasskanal (16) für ein Gas (33) gebildet werden.Method (100) according to claim 1 , wherein the first wafer (11) is a translucent wafer, preferably a glass wafer (IIa), and/or wherein the first wafer (11) has at least two holes (12) for the passage of a gas (33), and/ or wherein the second wafer (13) is a Si wafer (13a), and/or wherein the second wafer (13) has at least two holes (14) for the passage of a gas (33), the holes (14) of the second wafer (13) aligned with the holes (12) of the first wafer (11), so that at least one inlet channel (15) for a gas (33) and at least one outlet channel (16) for a gas (33) are formed . Verfahren (100) nach Anspruch 1 oder 2, wobei der dritte Wafer (23) ein lichtdurchlässiger Wafer, bevorzugt ein Glas-Wafer (23a), ist und/oder wobei der zweite Wafer (13) mit dem ersten Wafer (11) durch ein Anodisches-Bonding-Verfahren verbunden wird.Method (100) according to claim 1 or 2 , wherein the third wafer (23) is a translucent wafer, preferably a glass wafer (23a), and/or wherein the second wafer (13) is connected to the first wafer (11) by an anodic bonding method. Verfahren (100) nach einem der vorgenannten Ansprüche, wobei der Abstandshalter (21) ringförmig ausgebildet ist, und/oder wobei der Abstandshalter (21) randseitig auf dem zweiten Wafer (13) angeordnet wird, und/oder wobei der Abstandshalter (21) aus einem Kunststoff, insbesondere aus einem Polymer, besteht, und/oder wobei der Abstandshalter (21) durch selektives Schleifen des zweiten Wafers (13) hergestellt wird.The method (100) according to any one of the preceding claims, wherein the spacer (21) is ring-shaped, and/or wherein the spacer (21) is arranged at the edge on the second wafer (13), and/or wherein the spacer (21) consists of consists of a plastic, in particular a polymer, and/or wherein the spacer (21) is produced by selective grinding of the second wafer (13). Verfahren (100) nach einem der vorgenannten Ansprüche, wobei der dritte Wafer (23) mit dem Abstandshalter (21) verbunden wird, sodass der Spalt (25) randseitig gasdicht verschlossen wird.Method (100) according to one of the preceding claims, wherein the third wafer (23) is connected to the spacer (21) so that the gap (25) is closed in a gas-tight manner at the edge. Verfahren (100) nach einem der Ansprüche 2 bis 5, ferner umfassend den Schritt - Anordnen des ersten Wafers (11) auf einer Aufspannvorrichtung (27), wobei die Aufspannvorrichtung (27) mindestens einen Zuleitungskanal (28) für ein Gas (33) und mindestens einen Rückleitungskanal (29) für ein Gas (33) aufweist, wobei der Zuleitungskanal (28) fluidisch mit dem Einlasskanal (15) verbunden wird, und wobei der Rückleitungskanal (29) fluidisch mit dem Auslasskanal (16) verbunden wird, wobei bevorzugt vorgesehen ist, dass die Aufspannvorrichtung (27) Befestigungsmittel (30), insbesondere Kanäle (31) für ein Vakuumsystem, aufweist.Method (100) according to any one of claims 2 until 5 , further comprising the step - arranging the first wafer (11) on a clamping device (27), wherein the clamping device (27) has at least one supply channel (28) for a gas (33) and at least one return channel (29) for a gas (33 ) has, wherein the supply line channel (28) is fluidically connected to the inlet channel (15), and wherein the return line channel (29) is fluidly connected to the outlet channel (16), it being preferably provided that the clamping device (27) has fastening means (30), in particular channels (31) for a vacuum system. Verfahren (100) nach Anspruch 6, ferner umfassend den Schritt - Befüllen der Kavitäten (19) mit einem Gas (33), bevorzugt mit einem Xe-Isotop, durch den mindestens einen Zuleitungskanal (28) der Aufspannvorrichtung (27) und den aus den fluchtend ausgerichteten Löchern (12, 14) des ersten Wafers (11) und des zweiten Wafers (13) gebildeten mindestens einen Einlasskanal (15).Method (100) according to claim 6 , further comprising the step of - filling the cavities (19) with a gas (33), preferably with a Xe isotope, through the at least one supply channel (28) of the clamping device (27) and through the aligned holes (12, 14 ) of the first wafer (11) and the second wafer (13) formed at least one inlet channel (15). Verfahren (100) nach einem der vorgenannten Ansprüche, wobei das Anpressen des dritten Wafers (23) an den zweiten Wafer (13) mittels eines Spannfutters (34) erfolgt, und/oder wobei der dritte Wafer (23) mit dem zweiten Wafer (13) durch ein Anodisches-Bonding-Verfahren verbunden wird.Method (100) according to one of the preceding claims, wherein the pressing of the third wafer (23) onto the second wafer (13) takes place by means of a chuck (34), and/or wherein the third wafer (23) is connected to the second wafer (13 ) is connected by an anodic bonding process. Verfahren (100) nach einem der vorgenannten Ansprüche, umfassend ein Beschneiden der miteinander verbundenen Wafer (11, 13, 23), insbesondere des ersten Wafers (11), des zweiten Wafers (13) und des dritten Wafers (23), mittels eines Wafer-Dicing-Verfahrens.Method (100) according to one of the preceding claims, comprising cutting the interconnected wafers (11, 13, 23), in particular the first wafer (11), the second wafer (13) and the third wafer (23), by means of a wafer -Dicing procedure. Dampfzelle (10), insbesondere für ein NMR-Gyroskop, herstellbar oder hergestellt mit einem Verfahren (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 9.Vapor cell (10), in particular for an NMR gyroscope, which can be produced or produced using a method (100) according to one of Claims 1 until 9 .
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