DE102020210021A1 - DEVICE FOR MONITORING THE POSITION OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY - Google Patents
DEVICE FOR MONITORING THE POSITION OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY Download PDFInfo
- Publication number
- DE102020210021A1 DE102020210021A1 DE102020210021.7A DE102020210021A DE102020210021A1 DE 102020210021 A1 DE102020210021 A1 DE 102020210021A1 DE 102020210021 A DE102020210021 A DE 102020210021A DE 102020210021 A1 DE102020210021 A1 DE 102020210021A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- optical waveguide
- optical
- nano
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 76
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000005329 nanolithography Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 24
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 11
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 8
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 7
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 102000014150 Interferons Human genes 0.000 description 2
- 108010050904 Interferons Proteins 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 229940079322 interferon Drugs 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/344—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using polarisation
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70258—Projection system adjustments, e.g. adjustments during exposure or alignment during assembly of projection system
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/7085—Detection arrangement, e.g. detectors of apparatus alignment possibly mounted on wafers, exposure dose, photo-cleaning flux, stray light, thermal load
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Positionsüberwachung von Bauteilen in insbesondere optischen Anlagen für die Nano - oder Mikrolithographie, wobei die Vorrichtung eine Lichtquelle (2), die mindestens ein Lichtstrahlenbündel mit polarisiertem Licht bereitstellt, und mindestens einem polarisationserhaltendem Lichtwellenleiter (3), welcher das polarisierte Licht der Lichtquelle (2) leitet, und eine Positionserfassungseinrichtung (4) umfasst, die das polarisierte Licht von dem Lichtwellenleiter (3) empfängt, wobei zwischen Positionserfassungseinrichtung (4) und Lichtwellenleiter (3) mindestens ein Polarisator in Form eines Nano - Drahtgitters (5) angeordnet ist, welches Licht, das unterschiedlich zu dem Licht der Lichtquelle (2) polarisiert ist, reflektiert.The present invention relates to a device for monitoring the position of components in, in particular, optical systems for nano- or microlithography, the device having a light source (2) which provides at least one light beam with polarized light, and at least one polarization-maintaining optical waveguide (3) which provides the guides polarized light from the light source (2), and comprises a position detection device (4) which receives the polarized light from the optical waveguide (3), with at least one polarizer in the form of a nano wire grid (3) between the position detection device (4) and the optical waveguide (3) 5) is arranged, which reflects light that is polarized differently from the light of the light source (2).
Description
HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND OF THE INVENTION
GEBIET DER ERFINDUNGFIELD OF THE INVENTION
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Positionsüberwachung von Bauteilen in insbesondere optischen Anlagen für die Nano - oder Mikrolithographie, wie beispielsweise Proj ektionsbelichtungsanlagen oder Maskeninspektionseinrichtungen.The present invention relates to a device for monitoring the position of components in, in particular, optical systems for nano- or microlithography, such as, for example, projection exposure systems or mask inspection devices.
STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART
In Proj ektionsbelichtungsanlagen für die Mikro - oder Nanolithographie oder in Maskeninspektionseinrichtungen für entsprechende Masken ist es häufig erforderlich, dass Komponenten, wie optische Elemente, in ihrer Position und / oder Ausrichtung überwacht werden. Hierzu können optische Überwachungseinrichtungen eingesetzt werden, wie beispielsweise optische Positionskodierer (optical encoder) oder Interferometer. Derartige optische Überwachungseinrichtungen werden häufig auch mit polarisiertem Licht betrieben.In projection exposure systems for micro- or nanolithography or in mask inspection devices for corresponding masks, it is often necessary for components, such as optical elements, to be monitored in terms of their position and / or alignment. Optical monitoring devices such as optical position encoders or interferometers can be used for this purpose. Such optical monitoring devices are often also operated with polarized light.
Darüber hinaus ist es bei entsprechenden Anlagen für die Mikro - oder Nanolithographie, wie Proj ektionsbelichtungsanlagen oder Maskeninspektionseinrichtungen, häufig auch erforderlich, dass entsprechende Lichtquellen für optische Überwachungseinrichtungen entfernt von dem zu überwachenden Objekt eingesetzt werden, um beispielsweise unnötige Temperaturbelastungen innerhalb der Anlage zu vermeiden oder den Bauraum innerhalb der Anlage für andere Komponenten nutzen zu können.In addition, with corresponding systems for micro- or nanolithography, such as projection exposure systems or mask inspection devices, it is often also necessary that appropriate light sources for optical monitoring devices are used remotely from the object to be monitored, for example in order to avoid unnecessary temperature loads within the system To be able to use installation space within the system for other components.
Entsprechend müssen Teile von derartigen optischen Überwachungseinrichtungen, die mit polarisiertem Licht arbeiten, über polarisationserhaltende Lichtwellenleiter mit entsprechenden Lichtquellen verbunden werden, die entfernt von dem zu überwachenden Objekt angeordnet sind. Hierbei tritt jedoch das Problem auf, dass bei polarisationserhaltenden Lichtwellenleitern durch Temperaturbelastung oder mechanische Belastung der Lichtwellenleiter Polarisationsabweichungen bei dem im Lichtwellenleiter geleiteten Licht auftreten können, sodass aufgrund der Polarisationsänderungen die Messergebnisse der optischen Überwachungseinrichtungen beeinträchtigt werden.Correspondingly, parts of such optical monitoring devices which work with polarized light must be connected via polarization-maintaining optical waveguides to corresponding light sources which are arranged at a distance from the object to be monitored. Here, however, the problem arises that in polarization-maintaining optical waveguides, due to thermal stress or mechanical stress on the optical waveguides, polarization deviations can occur in the light guided in the optical waveguide, so that the measurement results of the optical monitoring devices are impaired due to the polarization changes.
Entsprechend besteht Bedarf, Polarisationsveränderungen von in polarisationserhaltenden Lichtwellenleitern geleitetem Licht zu vermeiden oder zu beschränken. Ein Beispiel hierfür ist in der
OFFENBARUNG DER ERFINDUNGDISCLOSURE OF THE INVENTION
AUFGABE DER ERFINDUNGOBJECT OF THE INVENTION
Entsprechend ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Vorrichtung bereitzustellen, mit der die Überwachung der Position und / oder Ausrichtung von zu überwachenden Komponenten durch optische Überwachungseinrichtungen, bei denen die Lichtquelle entfernt von dem zu überwachenden Objekt angeordnet ist, in zuverlässiger Weise sichergestellt werden kann, wobei insbesondere bei optischen Überwachungseinrichtungen, die mit polarisiertem Licht arbeiten, der Einfluss von Abweichungen in der Polarisation eines über eine bestimmte Wegstrecke geleiteten, polarisierten Lichts begrenzt wird.Accordingly, it is the object of the present invention to provide a device with which the monitoring of the position and / or alignment of components to be monitored by optical monitoring devices in which the light source is arranged remotely from the object to be monitored can be ensured in a reliable manner, wherein in particular in the case of optical monitoring devices that work with polarized light, the influence of deviations in the polarization of a polarized light guided over a certain distance is limited.
TECHNISCHE LÖSUNGTECHNICAL SOLUTION
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie mit einer Projektionsbelichtungsanlage oder Maskeninspektionsvorrichtung mit den Merkmalen nach Anspruch 9.This object is achieved by a device with the features of
Die Erfindung schlägt eine Vorrichtung zur Positionsüberwachung von Bauteilen in insbesondere optischen Anlagen für die Nano - oder Mikrolithographie, wie beispielsweise Projektionsbelichtungsanlagen oder Maskeninspektionseinrichtungen, vor, wobei die Vorrichtung eine Lichtquelle aufweist, die mindestens ein Lichtstrahlenbündel mit polarisiertem Licht bereitstellt. Ferner weist die Vorrichtung eine Positionserfassungseinrichtung auf, die über einen polarisationserhaltenden Lichtwellenleiter mit der Lichtquelle verbunden ist, um von dieser das polarisierte Licht zu erhalten. Um zu vermeiden, dass Licht mit Abweichungen der Polarisation von dem von der Lichtquelle bereitgestellten Licht in der Positionserfassungseinrichtung Verwendung findet, ist zwischen Lichtwellenleiter und Positionserfassungseinrichtung mindestens ein Polarisator in Form eines Nano - Drahtgitters vorgesehen, der das Licht, das unterschiedlich zu dem Licht der Lichtquelle polarisiert ist, reflektiert. Dadurch kann vermieden werden, dass Abweichungen in der Polarisation des in der Positionserfassungseinrichtung verwendeten Lichts zu Abweichungen in der Positionserfassung führen.The invention proposes a device for monitoring the position of components in, in particular, optical systems for nano- or microlithography, such as projection exposure systems or mask inspection devices, the device having a light source which provides at least one light beam with polarized light. The device also has a position detection device which is connected to the light source via a polarization-maintaining optical waveguide in order to receive the polarized light therefrom. In order to avoid that light with deviations in polarization from the light provided by the light source is used in the position detection device, at least one polarizer in the form of a nano-wire grid is provided between the optical waveguide and the position detection device is polarized, reflected. In this way, it can be avoided that deviations in the polarization of the light used in the position detection device lead to deviations in the position detection.
Das Nano - Drahtgitter zur Verwirklichung des Polarisators kann am Ende des Lichtwellenleiters an einer Lichtaustrittsfläche des Lichtwellenleiters bzw. jeweils an Lichtaustrittsflächen von allen Fasern eines Lichtwellenleiters ausgebildet sein und insbesondere fest bzw. vorzugsweise stoffschlüssig mit dem Lichtwellenleiter bzw, den jeweiligen optischen Fasern verbunden sein.The nano-wire grid for realizing the polarizer can be formed at the end of the optical waveguide on a light exit surface of the optical waveguide or in each case on light exit surfaces of all fibers of an optical waveguide and in particular be firmly or preferably firmly connected to the optical waveguide or the respective optical fibers.
Alternativ kann das Nano - Drahtgitter zur Ausbildung des Polarisators an einer separaten Komponente, die zwischen der Positionserfassungseinrichtung und Lichtwellenleiter angeordnet ist, aufgebracht sein, wie beispielsweise auf einer Mikrolinse oder einer transparenten Platte. Ein Beispiel für einen Nano - Drahtgitter - Polarisator, bei dem das Nano - Drahtgitter auf einer Mikrolinse aufgebracht ist, ist in der
Es können mehrere Lichtwellenleiter in Serie hintereinander angeordnet sein, wobei jeder Lichtwellenleiter an seiner Lichtaustrittsfläche entsprechende Nano - Drahtgitter aufweisen kann.Several optical waveguides can be arranged one behind the other in series, with each optical waveguide being able to have corresponding nano wire grids on its light exit surface.
Der Lichtwellenleiter kann aus einer oder mehreren optischen Fasern, beispielsweise Glasfasein, mit jeweils einem lichtleitenden Kern und einer ein - oder mehrlagigen Umhüllung gebildet sein, wobei das Nano - Drahtgitter am Kern der Lichtleiterfaser angeordnet sein kann.The optical waveguide can be formed from one or more optical fibers, for example glass fiber, each with a light-guiding core and a single- or multi-layer covering, wherein the nano-wire grid can be arranged on the core of the optical fiber.
Da das Nano - Drahtgitter am Lichtaustrittsende des Lichtwellenleiters dasjenige Licht, welches nicht die gewünschte Polarisation aufweist, reflektiert, kann am gegenüberliegenden Ende ein optischer Isolator angeordnet sein, der das von dem Nano - Drahtgitter reflektierte Licht sperrt bzw. absorbiert, sodass dieses Licht mit unerwünschter Polarisation nicht zurück in die Lichtquelle gelangen kann.Since the nano wire mesh at the light exit end of the optical waveguide reflects the light that does not have the desired polarization, an optical isolator can be arranged at the opposite end which blocks or absorbs the light reflected by the nano wire mesh, so that this light is undesired Polarization cannot get back into the light source.
Die entsprechenden Positionserfassungseinrichtungen können durch einen polarisationsbasierten optischen Positionskodierer (optical encoder) oder ein polarisationsbasiertes Interferometer gegeben sein.The corresponding position detection devices can be provided by a polarization-based optical position encoder (optical encoder) or a polarization-based interferometer.
FigurenlisteFigure list
Die beigefügten Zeichnungen zeigen in rein schematischer Weise in
-
1 eine Darstellung einer optischen Positionssensorvorrichtung (Encoder basierend auf Beugungsgitterskala), -
2 eine Darstellung einer optischen Positionssensorvorrichtung (Michelson Interferometer), -
3 einen Querschnitt durch einen Glasfaser - Lichtwellenleiter und in -
4 eine Darstellung einer Anordnung von mehreren Lichtwellenleitern.
-
1 a representation of an optical position sensor device (encoder based on diffraction grating scale), -
2 a representation of an optical position sensor device (Michelson interferometer), -
3 a cross section through a fiber optic fiber optic cable and in -
4th an illustration of an arrangement of several optical waveguides.
AUSFÜHRUNGSBEISPIELEEXEMPLARY EMBODIMENTS
Weitere Vorteile, Kennzeichen und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele ersichtlich. Allerdings ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt.Further advantages, characteristics and features of the present invention will become apparent in the following detailed description of the exemplary embodiments. However, the invention is not restricted to these exemplary embodiments.
Die
Bei der Ausgestaltung der optischen Positionssensorvorrichtung
Entsprechend weist die optische Positionssensorvorrichtung
Da der Nano - Drahtgitter - Polarisator
Der Nano - Drahtgitter - Polarisator
In der Querschnittsansicht der
Ein entsprechender Glasfaser - Lichtwellenleiter kann auch in dem Ausführungsbeispiel der
Das an das Interferometer
Die
Obwohl die vorliegende Erfindung anhand der Ausführungsbeispiele detailliert beschrieben worden ist, ist für den Fachmann selbstverständlich, dass die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt ist, sondern dass vielmehr Abwandlungen in der Weise möglich sind, dass einzelne Merkmale weggelassen oder andersartige Kombinationen von Merkmalen verwirklicht werden können, ohne dass der Schutzbereich der beigefügten Ansprüche verlassen wird. Insbesondere schließt die vorliegende Offenbarung sämtliche Kombinationen der in den verschiedenen Ausführungsbeispielen gezeigten Einzelmerkmale mit ein, sodass einzelne Merkmale, die nur in Zusammenhang mit einem Ausführungsbeispiel beschrieben sind, auch bei anderen Ausführungsbeispielen oder nicht explizit dargestellten Kombinationen von Einzelmerkmalen eingesetzt werden können.Although the present invention has been described in detail on the basis of the exemplary embodiments, it is obvious to a person skilled in the art that the invention is not limited to these exemplary embodiments, but rather that modifications are possible in such a way that individual features can be omitted or other types of combinations of features can be implemented without departing from the scope of protection of the appended claims. In particular, the present disclosure includes all combinations of the individual features shown in the various exemplary embodiments, so that individual features that are only described in connection with one exemplary embodiment can also be used in other exemplary embodiments or combinations of individual features that are not explicitly shown.
BezugszeichenlisteList of reference symbols
- 11
- optische Positionssensorvorrichtungoptical position sensor device
- 22
- Laserlaser
- 33
- polarisationserhaltender Lichtwellenleiterpolarization-maintaining optical fiber
- 44th
- AbtastkopfReadhead
- 55
- Nano - Drahtgitter - PolarisatorNano wire mesh polarizer
- 66th
- optischer Isolatoroptical isolator
- 1010
- optische Abstandsmessvorrichtungoptical distance measuring device
- 1111
- Spiegelmirror
- 1212th
- Laserlaser
- 1313th
- polarisationserhaltender Lichtwellenleiterpolarization-maintaining optical fiber
- 1414th
- Interferometer(Michelson Interferometer)Interferometer (Michelson Interferometer)
- 1515th
- Nano - Drahtgitter - PolarisatorNano wire mesh polarizer
- 1616
- LichtwellenleiteranschlussFiber optic connection
- 1717th
- KollimatorlinseCollimator lens
- 1818th
- PolarisationsstrahlteilerPolarization beam splitter
- 2020th
- GlasfaserkernFiberglass core
- 2121
- GlasfasermantelFiberglass jacket
- 2222nd
- GlasfaserbeschichtungFiberglass coating
- 2525th
- Nano - DrahtgitterNano wire mesh
- 3030th
- polarisationserhaltender Lichtwellenleiterpolarization-maintaining optical fiber
- 3131
- polarisationserhaltender Lichtwellenleiterpolarization-maintaining optical fiber
- 3232
- Laserlaser
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list of the documents listed by the applicant was generated automatically and is included solely for the better information of the reader. The list is not part of the German patent or utility model application. The DPMA assumes no liability for any errors or omissions.
Zitierte PatentliteraturPatent literature cited
- US 9810521 B2 [0005]US 9810521 B2 [0005]
- US 7113336 B2 [0010]US 7113336 B2 [0010]
Claims (9)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019215018.7A DE102019215018A1 (en) | 2019-09-30 | 2019-09-30 | DEVICE FOR POSITION MONITORING OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY |
DE102019215018.7 | 2019-09-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102020210021A1 true DE102020210021A1 (en) | 2021-04-01 |
Family
ID=68724863
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019215018.7A Withdrawn DE102019215018A1 (en) | 2019-09-30 | 2019-09-30 | DEVICE FOR POSITION MONITORING OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY |
DE102020210021.7A Pending DE102020210021A1 (en) | 2019-09-30 | 2020-08-07 | DEVICE FOR MONITORING THE POSITION OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019215018.7A Withdrawn DE102019215018A1 (en) | 2019-09-30 | 2019-09-30 | DEVICE FOR POSITION MONITORING OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (2) | DE102019215018A1 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7113336B2 (en) | 2002-12-30 | 2006-09-26 | Ian Crosby | Microlens including wire-grid polarizer and methods of manufacture |
JP2016142552A (en) | 2015-01-30 | 2016-08-08 | Dmg森精機株式会社 | Displacement detection device |
-
2019
- 2019-09-30 DE DE102019215018.7A patent/DE102019215018A1/en not_active Withdrawn
-
2020
- 2020-08-07 DE DE102020210021.7A patent/DE102020210021A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102019215018A1 (en) | 2019-12-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19821616B4 (en) | Arrangement for determining absolute physical state variables, in particular temperature and strain, of an optical fiber | |
EP0487450B1 (en) | Fiber optic force measuring devices and methods for using same | |
DE102010003157A1 (en) | Device for interferential distance measurement | |
DE102013222383A1 (en) | Optical position measuring device | |
DE102008064173A1 (en) | Method and device for measuring the concentration of substances in gaseous or fluid media by optical spectroscopy using broadband light sources | |
DE102015218539B4 (en) | Optical position measuring device | |
DE3918726C1 (en) | ||
DE102015201561A1 (en) | Measuring head of an endoscopic device and method for inspecting and measuring an object | |
DE102011076178B4 (en) | position measuring device | |
DE102012104874A1 (en) | Optical measuring system with polarization compensation and corresponding method | |
DE102015100653A1 (en) | Reflective optical coding device with a synthetic resin coding plate | |
DE3626639A1 (en) | PHOTOELECTRIC TRANSMITTER, ESPECIALLY ACCELEROMETER | |
DE102016125730A1 (en) | Device and method for measuring the torsion of a measuring object | |
DE3031961C2 (en) | Interferometric device for measuring physical quantities | |
DE102006023687B4 (en) | Displacement detector and device for detecting a fixed point | |
DE102020210021A1 (en) | DEVICE FOR MONITORING THE POSITION OF COMPONENTS IN OPTICAL SYSTEMS FOR NANO OR MICROLITHOGRAPHY | |
DE102017131388B4 (en) | Fiber optic torsion angle sensor and method of detecting a torsion angle | |
DE3415855A1 (en) | Fibre-optic measuring device for measuring a tensile stress or flexure occurring on a component | |
EP2735848B1 (en) | Optical positioning device | |
DE202010002129U1 (en) | Sensor for detecting relative movements between objects | |
DE4329627A1 (en) | Length or angle measuring device | |
EP0412309B1 (en) | Fibre optic gyroscope of the sagnac type | |
DE10025410A1 (en) | Interferometric position measuring equipment has material measure with transmissive phase grid that functions as diffraction grating | |
DE102008014720A1 (en) | Measuring device and arrangement for detecting changes in position | |
DE102006014766A1 (en) | Interferometric measuring device for e.g. optical distance measurement in quality control, has reference and modulation interferometers, and dispersive optical component that is arranged in one of optical paths of reference interferometer |