DE102020115358B4

DE102020115358B4 - MILLIMETER WAVE MATERIAL TESTING SYSTEM

Info

Publication number: DE102020115358B4
Application number: DE102020115358.9A
Authority: DE
Inventors: Alexander Krauska
Original assignee: Tektronix Inc
Current assignee: Tektronix Inc
Priority date: 2019-06-10
Filing date: 2020-06-09
Publication date: 2023-10-05
Anticipated expiration: 2040-06-10
Also published as: DE102020115358A1

Abstract

Test- und Messvorrichtung, aufweisend:
eine Referenzvorrichtung, die so strukturiert ist, dass sie mit einer ersten Oberfläche eines zu prüfenden Materials in Kontakt ist, wobei die Referenzvorrichtung eine reflektierende Komponente und eine absorbierende Komponente enthält; und
eine Prüfvorrichtung, die so strukturiert ist, dass sie in Kontakt mit einer zweiten Oberfläche des zu prüfenden Materials ist, die entgegengesetzt zur ersten Oberfläche ist, wobei die Prüfvorrichtung aufweist:
einen ersten Sender, der so konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal mit einer vorbestimmten Frequenz durch das zu prüfende Material hindurch an die reflektierende Komponente der Referenzvorrichtung ausgibt,
einen ersten Empfänger, der so konfiguriert ist, dass er ein erstes reflektiertes Signal von der reflektierenden Komponente empfängt,
einen zweiten Sender, der so konfiguriert ist, dass er ein zweites Signal mit der vorbestimmten Frequenz an die absorbierende Komponente der Referenzvorrichtung durch das zu prüfende Material hindurch ausgibt, und
einem zweiten Empfänger, der so konfiguriert ist, dass er ein zweites reflektiertes Signal von dem zu prüfenden Material empfängt.

Test and measuring device, comprising:
a reference device structured to be in contact with a first surface of a material to be tested, the reference device including a reflective component and an absorbent component; and
a testing device structured to be in contact with a second surface of the material to be tested that is opposite to the first surface, the testing device comprising:
a first transmitter configured to output a first signal at a predetermined frequency through the material to be tested to the reflective component of the reference device,
a first receiver configured to receive a first reflected signal from the reflective component,
a second transmitter configured to output a second signal at the predetermined frequency to the absorbing component of the reference device through the material to be tested, and
a second receiver configured to receive a second reflected signal from the material being tested.

Description

TECHNISCHER BEREICHTECHNICAL PART

Diese Offenbarung bezieht sich auf Systeme und Verfahren im Zusammenhang mit Test- und Messsystemen und insbesondere auf ein Millimeterwellen-Materialprüfsystem einschließlich eines Test- und Messinstruments zur Prüfung von Materialien auf Radarübertragung und Reflexionsvermögen.This disclosure relates to systems and methods related to test and measurement systems and, more particularly, to a millimeter wave materials testing system including a test and measurement instrument for testing materials for radar transmission and reflectivity.

HINTERGRUNDBACKGROUND

Viele Fahrzeuge verfügen heute über fortschrittliche Fahrerassistenzsysteme (ADAS) wie z.B. autonome Notbremsung und Spurwechselassistent. Bei diesen fortschrittlichen Fahrerassistenzsystemen wird häufig Radar eingesetzt, um zu erkennen, ob sich andere Fahrzeuge oder andere Objekte vor dem aktuellen Fahrzeug befinden und/oder vor dem aktuellen Fahrzeug abbremsen. Radar wird verwendet, indem Funkwellen ausgesendet werden und eine Reflexion der Funkwellen von einer Oberfläche eines Objekts empfangen wird, um die Entfernung, den Winkel und die Relativgeschwindigkeit von Objekten zu bestimmen. Traditionell haben viele Radarsysteme Frequenzen im 24-GHz-Band verwendet, aber viele neue Fahrzeuge verwenden Frequenzen im 77-GHz-Band.Many vehicles today have advanced driver assistance systems (ADAS) such as autonomous emergency braking and lane change assistant. These advanced driver assistance systems often use radar to detect whether other vehicles or other objects are in front of the current vehicle and/or are braking in front of the current vehicle. Radar is used by emitting radio waves and receiving a reflection of the radio waves from a surface of an object to determine the distance, angle and relative speed of objects. Traditionally, many radar systems have used frequencies in the 24 GHz band, but many new vehicles use frequencies in the 77 GHz band.

Verschiedene Komponenten von Fahrzeugen können manchmal mit der Sendefrequenz des Radars interagieren und/oder diese blockieren. Daher müssen verschiedene Komponenten des Fahrzeugs getestet werden, um sicherzustellen, dass sie in diesen gewünschten Bändern in adäquater Weise Frequenzen aussenden und empfangen. Traditionell wird zum Testen dieser Systeme ein koaxiales verkabeltes System verwendet. Koaxialkabel, die Frequenzen im 77-GHz-Band verarbeiten können, sind jedoch oft sehr teuer und zerbrechlich.Various components of vehicles can sometimes interact with and/or block the radar transmission frequency. Therefore, various components of the vehicle must be tested to ensure that they adequately transmit and receive frequencies in these desired bands. Traditionally, a coaxial wired system is used to test these systems. However, coaxial cables that can handle frequencies in the 77 GHz band are often very expensive and fragile.

Im Dokument US 5012248 A wird eine Vorrichtung zur Bestimmung der Schichtdicke einer radarabsorbierenden Schicht. Aus einem reflektierten von der Schicht reflektierten Radarsignal, welches von einem Radargerät gesendet worden ist, kann die Schichtdicke unter Auswertung der reflektierten Energie abgeleitet werden.In the document US 5012248 A is a device for determining the layer thickness of a radar-absorbing layer. The layer thickness can be derived from a radar signal reflected by the layer and sent by a radar device by evaluating the reflected energy.

Das Dokument US 2016/0187266 A1 beschreibt ein System und Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft eines Materials mittels Frequenzsignalen und eines variablen Reflektors.The document US 2016/0187266 A1 describes a system and method for determining a property of a material using frequency signals and a variable reflector.

Ausführungsformen der Offenbarung behandeln diese und andere Mängel des Stands der Technik.Embodiments of the disclosure address these and other deficiencies in the prior art.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENBRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS

Aspekte, Merkmale und Vorteile von Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung werden aus der folgenden Beschreibung von Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen ersichtlich.

1 ist eine Darstellung eines beispielhaften Millimeterwellen-Materialtesters nach einigen Ausführungsformen der Offenbarung.
2 ist eine weitere Darstellung des Millimeterwellen-Materialtesters aus 1 während des Betriebs des Millimeterwellen-Materialtesters.
3 ist ein Blockdiagramm einer Oberfläche des Millimeterwellen-Materialtesters aus 1.
4 ist ein Blockdiagramm einer Oberfläche einer Referenzkomponente des Millimeterwellen-Materialtesters aus 1.
5 ist ein Flussdiagramm, das einen Betrieb des Millimeterwellen-Materialtesters aus 1 veranschaulicht.

Aspects, features and advantages of embodiments of the present disclosure will become apparent from the following description of embodiments with reference to the accompanying drawings.

1 is an illustration of an example millimeter wave material tester according to some embodiments of the disclosure.
2 is another representation of the millimeter wave material tester 1 during the operation of the millimeter wave material tester.
3 is a block diagram of a surface of the millimeter wave material tester 1 .
4 is a block diagram of a surface of a reference component of the millimeter wave material tester 1 .
5 is a flowchart illustrating an operation of the millimeter wave material tester 1 illustrated.

BESCHREIBUNGDESCRIPTION

Hier wird eine Millimeterwellen-Materialprüfeinheit offenbart, die in der Hand gehalten werden kann, um die Automobilherstellung und -reparatur zu unterstützen. Mit der Millimeterwellen-Materialprüfeinheit können Materialien, wie z.B., aber nicht nur, Farben, Beschichtungen, Stoßstangen, Türverkleidungen usw. auf Radarübertragung und Reflexionsvermögen hin geprüft werden. Die Millimeterwellen-Materialprüfeinheit kann an den Materialien eingesetzt werden, um sicherzustellen, dass ein Radarsignal das geprüfte Material ausreichend durchstrahlt und/oder von diesem reflektiert wird.Disclosed herein is a millimeter wave material testing unit that can be handheld to aid in automobile manufacturing and repair. The millimeter wave material testing unit can be used to test materials such as, but not limited to, paints, coatings, bumpers, door panels, etc. for radar transmission and reflectivity. The millimeter wave material testing unit can be used on the materials to ensure that a radar signal sufficiently penetrates and/or is reflected from the material being tested.

1 zeigt ein Beispiel für einen Millimeterwellen-Materialtester 100 nach einigen Ausführungsformen der Offenbarung. Der Millimeterwellen-Materialtester 100 kann ein Messgerät 102 und eine Referenzeinheit 104 umfassen. Das Messgerät kann eine Anzeige 106 zur Ausgabe von Informationen über den Status eines Tests an einen Benutzer enthalten. Der Millimeterwellen-Materialtester 100 ist ein leichtes Handgerät, mit dem ein Material schnell geprüft werden kann, um sicherzustellen, dass das Material die Radarübertragung für ein Radarsystem, insbesondere ein Kfz-Radarsystem, in adäquater Weise funktionieren lässt. In einigen Ausführungsformen kann der Millimeterwellen-Materialtester 100 batteriebetrieben sein. 1 shows an example of a millimeter wave material tester 100 according to some embodiments of the disclosure. The millimeter wave material tester 100 may include a measuring device 102 and a reference unit 104. The measuring device may include a display 106 for providing information about the status of a test to a user. The millimeter wave material tester 100 is a lightweight, handheld device that can be used to quickly test a material to ensure that the material will allow radar transmission to function adequately for a radar system, particularly an automotive radar system. In some embodiments, the millimeter wave material tester 100 may be battery powered.

Der Millimeterwellen-Materialtester 100 kann auch eine oder mehrere Benutzereingaben enthalten, die z.B. eine Taste 108 zur Durchführung eines Tests und eine Taste 110 zur Durchführung einer Kalibrierung umfassen können. Die eine oder mehreren Benutzereingaben sind jedoch nicht auf die in 1 dargestellten Tasten 108 und 110 beschränkt und können beliebige Benutzereingaben sein, wie z.B. Schalter, Joysticks, ein Touchscreen, eine Tastatur usw., aber nicht darauf beschränkt.The millimeter wave material tester 100 may also include one or more user inputs, such as a button 108 to perform a test and a button 110 to perform a test Calibration may include. However, the one or more user inputs are not related to the in 1 buttons 108 and 110 shown and may be any user input such as, but not limited to, switches, joysticks, a touch screen, a keyboard, etc.

Das Messgerät 102 umfasst auch eine Sender- und Empfängerfläche 112, die mit einer entsprechenden Oberfläche (nicht in 1 dargestellt) des Referenzblocks 102 und/oder des zu prüfenden Materials interagiert. Wie der Fachmann verstehen wird, enthält das Messgerät 102 auch eine Reihe von Hardwarekomponenten, wie z.B. einen oder mehrere Prozessoren, Speichermedien, Kommunikationsschnittstellen, Stromversorgungen usw., ohne auf diese beschränkt zu sein.The measuring device 102 also includes a transmitter and receiver surface 112 which has a corresponding surface (not in 1 shown) of the reference block 102 and/or the material to be tested interacts. As those skilled in the art will understand, the measurement device 102 also includes a number of hardware components, such as, but not limited to, one or more processors, storage media, communication interfaces, power supplies, etc.

2 zeigt den Millimeterwellen-Materialtester 100, der zur Prüfung eines Materials 200 verwendet wird. Das Material 200 wird zwischen dem Messgerät 102 und der Referenzeinheit 104 platziert. Wie weiter unten ausführlicher besprochen wird, enthalten die Oberfläche 112 des Messgeräts 102 und eine entsprechende Oberfläche der Referenzeinheit 104 einen Ausrichtmechanismus, um das Messgerät 102 und die Referenzeinheit 104 durch das Material 200 hindurch zueinander auszurichten. Der Ausrichtmechanismus kann z.B. Magnete, einen entsprechenden Stift und ein Loch in den Oberflächen 112 und 400 oder irgendeinen anderen Mechanismus zum Ausrichten der Oberflächen 112 und 300 enthalten. 2 shows the millimeter wave material tester 100 used to test a material 200. The material 200 is placed between the measuring device 102 and the reference unit 104. As discussed in more detail below, the surface 112 of the gauge 102 and a corresponding surface of the reference unit 104 include an alignment mechanism to align the gauge 102 and the reference unit 104 with each other through the material 200. The alignment mechanism may include, for example, magnets, a corresponding pin and hole in surfaces 112 and 400, or some other mechanism for aligning surfaces 112 and 300.

Ein Benutzer kann den Testeingang 108 wählen oder anderweitig das Messgerät 102 anweisen, das Material 200 zwischen dem Messgerät 102 und der Referenzeinheit 102 zu prüfen. Auf der Grundlage des Testergebnisses, auf das weiter unten näher eingegangen wird, kann die Anzeige 106 dem Benutzer relevante Informationen anzeigen. Zum Beispiel gibt die Anzeige 106, wie in 2 dargestellt, aus, dass das Material 200 einen Transparenz- und Reflexionstest bestanden hat. Obwohl die Beispielanzeige 106 lediglich ausgibt, dass das Material bestanden oder nicht bestanden hat, sind Ausführungsformen der Offenbarung nicht auf diese zusammenfassende Ausgabe beschränkt, und es können weitere Informationen angezeigt werden, wie z.B. eine grafische Darstellung der Transparenz und Reflexion des Materials.A user can select the test input 108 or otherwise instruct the measuring device 102 to test the material 200 between the measuring device 102 and the reference unit 102. Based on the test result, which will be discussed in more detail below, the display 106 may display relevant information to the user. For example, the display returns 106, as in 2 shown shows that the material 200 has passed a transparency and reflection test. Although the example display 106 simply indicates that the material passed or failed, embodiments of the disclosure are not limited to this summary output, and additional information may be displayed, such as a graphical representation of the transparency and reflectance of the material.

3 zeigt ein Beispiel für eine Sender- und Empfängerfläche 112 des Messgeräts 102 nach einigen Ausführungsformen der Offenbarung. Die Sender- und Empfängerfläche 112 umfasst zwei Wandlerpaare. Jedes Wandlerpaar besteht aus einem Senderpaar 302 und einem Empfängerpaar 304. Jedes Wandlerpaar kann separat aktiviert werden. Die Empfangs- und die Sendeseiten können auf der Oberfläche 112, die eine Leiterplatte sein kann, so angeordnet werden, dass die Netto-Oberflächenwellenkopplung oder die Übertragung in der Ebene der Oberfläche 112, wie bei einer herkömmlichen Antenne, gleich Null ist und in erster Linie für Signale senkrecht zur Oberfläche 112 empfindlich sein kann. 3 shows an example of a transmitter and receiver surface 112 of the measuring device 102 according to some embodiments of the disclosure. The transmitter and receiver surface 112 includes two pairs of transducers. Each transducer pair consists of a transmitter pair 302 and a receiver pair 304. Each transducer pair can be activated separately. The receive and transmit sides may be arranged on the surface 112, which may be a printed circuit board, such that the net surface wave coupling or transmission in the plane of the surface 112 is equal to zero and primarily may be sensitive to signals perpendicular to surface 112.

Ein Schaltkreis 306 befindet sich am Rand der Sender- und Empfängerfläche 112. Der Schaltkreis 306 kann sich unter einer Schutzplatte auf der Sender- und Empfängerfläche 112 befinden. Der Schaltkreis 306 kann z.B. eine integrierte Schaltung für ein frequenzmoduliertes (FM) Dauerstrich-(CW)-Chirp-Radar enthalten, die mehrere Eingangs- und Ausgangskanäle unterstützen kann. Die Antennen des Senders 302 und des Empfängers 306 können direkt auf die Oberfläche der Sender- und Empfängerfläche 112 aufgedruckt sein.A circuit 306 is located at the edge of the transmitter and receiver surface 112. The circuit 306 may be located under a protective plate on the transmitter and receiver surface 112. For example, circuit 306 may include a frequency modulated (FM) continuous wave (CW) chirp radar integrated circuit that may support multiple input and output channels. The antennas of the transmitter 302 and the receiver 306 can be printed directly on the surface of the transmitter and receiver surface 112.

Die Sender- und Empfängerfläche 112 enthält auch einen Ausrichtmechanismus. Der Ausrichtmechanismus stellt sicher, dass die Sender- und Empfängerfläche 112 auf eine entsprechende Oberfläche der Referenzeinheit 104 ausgerichtet wird. In der in 3 dargestellten Ausführungsform kann die Sender- und Empfängerfläche 114 eine Anzahl verschiedener Magnete 308 enthalten, die sich an entsprechenden Magneten entgegengesetzter Polarität in der Referenzeinheit 104 anlagern.The transmitter and receiver surface 112 also contains an alignment mechanism. The alignment mechanism ensures that the transmitter and receiver surfaces 112 are aligned with a corresponding surface of the reference unit 104. In the in 3 In the embodiment shown, the transmitter and receiver surface 114 may contain a number of different magnets 308 that attach to corresponding magnets of opposite polarity in the reference unit 104.

4 zeigt eine Beispielfläche 400 eines Referenzblocks 104. Die Oberfläche 400 des Referenzblocks 104 enthält eine entsprechende Ausrichtstruktur, um die Sender- und Empfängerfläche 112 des Messgeräts 102 auf die Oberfläche 400 des Referenzblocks 104 auszurichten. In 4 enthält der Ausrichtmechanismus entsprechende Magnete 402 mit einer zu den Magneten auf der Sender- und Empfängerfläche 112 entgegengesetzten Polarität. 4 shows an example surface 400 of a reference block 104. The surface 400 of the reference block 104 contains a corresponding alignment structure to align the transmitter and receiver surface 112 of the measuring device 102 with the surface 400 of the reference block 104. In 4 The alignment mechanism includes corresponding magnets 402 with a polarity opposite to the magnets on the transmitter and receiver surfaces 112.

Die Oberfläche 400 enthält auch eine absorptions- oder reflexionslose Komponente 404 und eine Reflexionskomponente 406. Die Absorptionskomponente 404 absorbiert das durchgelassene Radar, damit das Messgerät 102 bestimmen kann, was direkt vom Material 200 reflektiert wird, und die Reflexionskomponente 406 reflektiert das Signal zurück zum Messgerät 102, um zu bestimmen, wie gut das zu prüfende Material das Signal überträgt.The surface 400 also includes an absorption or non-reflection component 404 and a reflection component 406. The absorption component 404 absorbs the transmitted radar to allow the meter 102 to determine what is reflected directly from the material 200, and the reflection component 406 reflects the signal back to the meter 102 to determine how well the material being tested transmits the signal.

Die Absorptionskomponente 404 kann eine beliebige Komponente und/oder Oberfläche sein, die ein transmittiertes Signal absorbiert, während die Reflexionskomponente 406 eine beliebige Komponente und/oder Oberfläche sein kann, die ein Signal reflektiert. In einigen Ausführungsformen ist die Reflexionskomponente 406 ein Eckwürfel, d.h. ein Retroreflektor, der aus drei zueinander senkrechten, interessierenden ebenen Oberflächen besteht und Wellen direkt zurück zu einer Quelle reflektiert. Eckwürfel sind wirksam für eine Situation, in der ein berührungsloses, hochreflektierendes, winkel- und ausrichtungsunabhängiges Patch benötigt wird. Ein Eckwürfel kann es einem eingehenden Signal ermöglichen, über mehrere Oberflächen aus hochreflektierendem Material, wie Aluminium, Silber, Kupfer usw., reflektiert zu werden und direkt zur Quelle zurückzukehren, selbst bei Falschausrichtung. Metallische Oberflächen, wie Aluminium, mit einer Oxidbeschichtung funktionieren gut, da die Oxidform verlustarm und durchlässig für das reflektierende Aluminium unter der Oxidbeschichtung ist.The absorption component 404 may be any component and/or surface that absorbs a transmitted signal, while the reflection component 406 may be any component and/or surface that reflects a signal. In some embodiments, the reflection component 406 is a corner cube, ie, a retroreflector, that consists of three mutually perpendicular planar surfaces of interest and reflects waves directly back to a source. corner cubes are effective for a situation where a non-contact, highly reflective, angle and orientation independent patch is required. A corner cube can allow an incoming signal to reflect across multiple surfaces made of highly reflective material, such as aluminum, silver, copper, etc., and return directly to the source, even if misaligned. Metallic surfaces, such as aluminum, with an oxide coating work well because the oxide form is low-loss and permeable to the reflective aluminum beneath the oxide coating.

Ein Eckwürfel kann aus Metall geformt und dann plattiert werden, oder, in einigen Ausführungsformen, kann der Eckwürfel aus Kunststoff hergestellt und dann plattiert werden. Der freiliegende Bereich des Eckwürfels kann mit einem dielektrischen Film bedeckt sein, der über der Oberfläche aufgehängt ist, oder die Oberfläche kann zum Schutz behandelt werden oder man lässt sie auf natürliche Weise oxidieren. Da es sich bei dem Eckwürfel um eine geformte Komponente handelt, ist er zu relativ geringen Kosten erhältlich, und die Außenkanten oder die Rückseite der Referenzeinheit 104 können erhebliche Entformungsschrägen oder einen Hohlraum aufweisen, um die Kosten für das Formen der Reflexionskomponente 406 zu reduzieren.A corner cube may be formed from metal and then plated, or, in some embodiments, the corner cube may be formed from plastic and then plated. The exposed area of the corner cube may be covered with a dielectric film suspended over the surface, or the surface may be treated for protection or allowed to oxidize naturally. Because the corner cube is a molded component, it is available at a relatively low cost, and the outer edges or back of the reference unit 104 can have significant draft angles or a cavity to reduce the cost of molding the reflective component 406.

In einigen Ausführungen sind beide Oberflächen 112 und 400 glatt und nicht abrasiv, so dass das Messgerät 102 und die Referenzeinheit 104 entlang oder über ein zu prüfendes Material gleiten können, ohne das Material zu beschädigen, um verschiedene Teile eines großen Stücks des zu prüfenden Materials, wie z.B. eines Automobilstoßfängers, zu testen.In some implementations, both surfaces 112 and 400 are smooth and non-abrasive so that the measuring device 102 and the reference unit 104 can slide along or over a material to be tested without damaging the material to different parts of a large piece of the material to be tested, such as a car bumper.

5 ist ein Flussdiagramm, das einen Beispielbetrieb des Millimeterwellen-Materialtesters 100 nach einigen Ausführungsformen der Offenbarung veranschaulicht. Zu Beginn, im optionalen Betrieb 500, kann ein Benutzer eine Kalibrierung des Messgeräts 102 durchführen. Dazu kann ein Benutzer den Referenzblock 102 direkt auf das Messgerät 102 aufsetzen, so dass der Ausrichtmechanismus sowohl des Messgeräts 102 als auch des Referenzblocks 102 die Sender- und Empfängerfläche 112 des Messgeräts mit der Oberfläche 400 des Referenzblocks ausrichtet. Der Benutzer kann dann die Taste 110 wählen, um das Messgerät 102 zu kalibrieren oder auf Null zu stellen. 5 is a flowchart illustrating an example operation of the millimeter wave material tester 100 according to some embodiments of the disclosure. Initially, in optional operation 500, a user may perform a calibration of the meter 102. To do this, a user can place the reference block 102 directly onto the measuring device 102 so that the alignment mechanism of both the measuring device 102 and the reference block 102 aligns the transmitter and receiver surface 112 of the measuring device with the surface 400 of the reference block. The user can then select button 110 to calibrate or zero meter 102.

Während des Betriebs 502 wird ein zu prüfendes Material, wie das oben besprochene Material 200, zwischen dem Messgerät 102 und der Referenzeinheit 104 platziert. Das Material 200 kann z.B. ein Kotflügel oder ein Autotürblech sein. Da das Material groß sein kann, können die Ausrichtmechanismen der Oberflächen 112 und 300 sicherstellen, dass das Messgerät 102 und die Referenzeinheit 104 ausgerichtet werden, um eine genaue Messung des Materials vorzunehmen.During operation 502, a material to be tested, such as material 200 discussed above, is placed between the measuring device 102 and the reference unit 104. The material 200 can be, for example, a fender or a car door panel. Because the material may be large, the alignment mechanisms of surfaces 112 and 300 can ensure that the gauge 102 and reference unit 104 are aligned to make an accurate measurement of the material.

Während des Betriebs 504 kann ein Eingang vom Messgerät 102 empfangen werden, um eine Prüfung des zu prüfenden Materials durchzuführen. Wenn der Eingang zur Prüfung des Materials empfangen wird, kann ein Sender 302 eines ersten Wandlerpaares im Betrieb 506 ein Signal mit einer vorbestimmten Frequenz ausgeben, und der entsprechende Empfänger 304 kann ein Rücklaufsignal messen. Im Betrieb 508 kann der Sender 302 des zweiten Wandlerpaares ein Signal mit der vorbestimmten Frequenz ausgeben, und der entsprechende Empfänger 304 kann das Rücklaufsignal messen. Wie oben erwähnt, wird ein Sendesignal in Richtung zur absorbierenden Komponente 404 ausgegeben, so dass das vom entsprechenden Empfänger 304 gemessene Rücklaufsignal jedes Signal ist, das vom Material 200 reflektiert wird. Das andere, mit der vorbestimmten Frequenz gesendete Signal wird zur Reflexionskomponente 406 hin ausgegeben, so dass das vom entsprechenden Empfänger 304 gemessene Rücklaufsignal das von der Reflexionskomponente 406 reflektierte Signal ist, zuzüglich jedes Signals, das vom Material 200 reflektiert wird. In einigen Ausführungsformen kann die vorbestimmte Frequenz einstellbar sein. In einigen Ausführungsformen kann das Messgerät 102 Prüfsignale bei mehreren diskreten vorbestimmten Frequenzen senden und messen. In einigen Ausführungen kann das Messgerät 102 einen Bereich von vorbestimmten Frequenzen durchlaufen.During operation 504, input may be received from measuring device 102 to perform an inspection of the material being tested. When input is received to test the material, a transmitter 302 of a first pair of transducers may output a signal at a predetermined frequency in operation 506 and the corresponding receiver 304 may measure a return signal. In operation 508, the transmitter 302 of the second pair of transducers may output a signal at the predetermined frequency and the corresponding receiver 304 may measure the return signal. As mentioned above, a transmit signal is output towards the absorbing component 404, so that the return signal measured by the corresponding receiver 304 is any signal reflected by the material 200. The other signal transmitted at the predetermined frequency is output to the reflection component 406 so that the return signal measured by the corresponding receiver 304 is the signal reflected by the reflection component 406 plus any signal reflected by the material 200. In some embodiments, the predetermined frequency may be adjustable. In some embodiments, the measurement device 102 may transmit and measure test signals at multiple discrete predetermined frequencies. In some implementations, the measuring device 102 may cycle through a range of predetermined frequencies.

Im Betrieb 510 kann ein Prozessor im Messgerät 102 anhand der beiden zurückgelaufenen Signale feststellen, ob das Material 200 das Signal bei der vorbestimmten Frequenz in adäquatem Maße durchlässt. In einigen Ausführungsformen kann der Prozessor im Messgerät 102 die Einfügungsdämpfung des Materials bestimmen und feststellen, ob die Einfügungsdämpfung innerhalb eines akzeptablen Bereichs liegt. Die Einfügungsdämpfung kann mit jedem bekannten Verfahren auf der Grundlage des Sendesignals und des Empfangssignals bestimmt werden. Der Prozessor kann entweder eine Bestanden/Durchgefallen-Ausgabe ausgeben, wie in 2 gezeigt, oder der Prozessor kann eine detailliertere Ausgabe ausgeben, wie z.B. die Anzeige einer grafischen Reaktion der empfangenen Signale bei der vorbestimmten Frequenz. Die vorbestimmte Frequenz kann von einem Benutzer ausgewählt oder im Speicher des Messgeräts 102 gespeichert werden. Der in 5 gezeigte Betrieb ermöglicht es dem Millimeter-Tester 100, Materialien wie Farben, Beschichtungen, Stoßstangen, Türbleche usw. auf Radarübertragung und Reflexionsvermögen zu prüfen und schnell auszugeben, ob das Material das für den Betrieb von Radarsystemen erforderliche Radar durchlässt.In operation 510, a processor in the measuring device 102 can use the two returned signals to determine whether the material 200 adequately transmits the signal at the predetermined frequency. In some embodiments, the processor in the measurement device 102 may determine the insertion loss of the material and determine whether the insertion loss is within an acceptable range. The insertion loss can be determined using any known method based on the transmit signal and the received signal. The processor can either issue a pass/fail output, as in 2 shown, or the processor may output more detailed output, such as displaying a graphical response of the received signals at the predetermined frequency. The predetermined frequency may be selected by a user or stored in the memory of the meter 102. The in 5 Operation shown allows the Millimeter Tester 100 to test materials such as paints, coatings, bumpers, door panels, etc. for radar transmission and reflectivity and quickly report whether the material passes the radar required for the operation of radar systems.

Die Referenzeinheit 104 und das Messgerät 102 können vom Material 200 getrennt und über das Material 200 geschoben oder bewegt werden, um einen anderen Teil des Materials zu testen. Der Ausrichtmechanismus, wie z.B. Magnete oder ein Stift- und Lochmechanismus, kann sicherstellen, dass die Referenzeinheit 104 und das Messgerät 102 für die nächste Ablesung auf dem Material 200 ausgerichtet sind.The reference unit 104 and the measuring device 102 can be separated from the material 200 and pushed or moved over the material 200 to test another part of the material. The alignment mechanism, such as magnets or a pin and hole mechanism, can ensure that the reference unit 104 and the gauge 102 are aligned for the next reading on the material 200.

Aspekte der Offenbarung können auf speziell geschaffener Hardware, Firmware, digitalen Signalprozessoren oder auf einem speziell programmierten Computer einschließlich eines nach programmierten Anweisungen arbeitenden Prozessors arbeiten. Die hier verwendeten Begriffe Controller oder Prozessor sollen Mikroprozessoren, Mikrocomputer, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) und dedizierte Hardware-Controller einschließen. Ein oder mehrere Aspekte der Offenbarung können in computerverwendbaren Daten und computerausführbaren Befehlen verkörpert sein, z.B. in einem oder mehreren Programmmodulen, die von einem oder mehreren Computern (einschließlich Überwachungsmodulen) oder anderen Geräten ausgeführt werden. Im Allgemeinen umfassen Programmmodule Routinen, Programme, Objekte, Komponenten, Datenstrukturen usw., die bestimmte Aufgaben ausführen oder bestimmte abstrakte Datentypen implementieren, wenn sie von einem Prozessor in einem Computer oder einem anderen Gerät ausgeführt werden. Die computerausführbaren Anweisungen können auf einem computerlesbaren Speichermedium wie einer Festplatte, einer optischen Platte, einem Wechseldatenträger, einem Festkörperspeicher, einem Arbeitsspeicher mit wahlfreiem Zugriff (RAM) usw. gespeichert werden. Wie einem Fachmann klar sein wird, kann die Funktionalität der Programmmodule in verschiedenen Aspekten beliebig kombiniert oder verteilt werden. Darüber hinaus kann die Funktionalität ganz oder teilweise in Firmware oder Hardware-Äquivalenten wie integrierten Schaltungen, FPGA und dergleichen enthalten sein. Bestimmte Datenstrukturen können verwendet werden, um einen oder mehrere Aspekte der Offenbarung effektiver zu implementieren, und solche Datenstrukturen werden im Rahmen der hier beschriebenen computerausführbaren Anweisungen und computerverwendbaren Daten in Betracht gezogen.Aspects of the disclosure may operate on specially designed hardware, firmware, digital signal processors, or on a specially programmed computer including a processor operating according to programmed instructions. The terms controller or processor as used herein are intended to include microprocessors, microcomputers, application specific integrated circuits (ASICs), and dedicated hardware controllers. One or more aspects of the disclosure may be embodied in computer-usable data and computer-executable instructions, for example, in one or more program modules executed by one or more computers (including monitoring modules) or other devices. In general, program modules include routines, programs, objects, components, data structures, etc. that perform specific tasks or implement specific abstract data types when executed by a processor in a computer or other device. The computer-executable instructions may be stored on a computer-readable storage medium such as a hard drive, an optical disk, a removable storage device, a solid-state memory, a random access memory (RAM), etc. As will be apparent to one skilled in the art, the functionality of the program modules can be arbitrarily combined or distributed in various aspects. In addition, the functionality may be included in whole or in part in firmware or hardware equivalents such as integrated circuits, FPGA and the like. Certain data structures may be used to more effectively implement one or more aspects of the disclosure, and such data structures are contemplated within the scope of the computer-executable instructions and computer-usable data described herein.

Die offenbarten Aspekte können in einigen Fällen in Hardware, Firmware, Software oder einer Kombination davon implementiert sein. Die offenbarten Aspekte können auch als Anweisungen umgesetzt werden, die von einem oder mehreren oder computerlesbaren Speichermedien übertragen oder darauf gespeichert werden, die von einem oder mehreren Prozessoren gelesen und ausgeführt werden können. Solche Anweisungen können als ein Computerprogrammprodukt bezeichnet werden. Computerlesbare Medien, wie sie hier besprochen werden, sind alle Medien, auf die von einem Computergerät zugegriffen werden kann. Computerlesbare Medien können zum Beispiel, aber nicht ausschließlich, Computerspeichermedien und Kommunikationsmedien umfassen.The disclosed aspects may, in some cases, be implemented in hardware, firmware, software, or a combination thereof. The disclosed aspects may also be implemented as instructions transmitted from or stored on one or more computer-readable storage media that may be read and executed by one or more processors. Such instructions may be referred to as a computer program product. Computer-readable media, as discussed here, is any media that can be accessed from a computing device. Computer-readable media may include, but is not limited to, computer storage media and communication media.

Computerspeichermedien sind alle Medien, die zur Speicherung computerlesbarer Informationen verwendet werden können. Als Beispiel, und nicht als Einschränkung, können Computerspeichermedien RAM, ROM, elektrisch löschbare programmierbare Festwertspeicher (EEPROM), Flash-Speicher oder andere Speichertechnologien, Compact Disc Read Only Memory (CD-ROM), Digital Video Disc (DVD) oder andere optische Plattenspeicher, Magnetkassetten, Magnetband, Magnetplattenspeicher oder andere magnetische Speichergeräte und alle anderen flüchtigen oder nicht flüchtigen, entfernbaren oder nicht entfernbaren Medien, die in beliebiger Technologie implementiert sind, umfassen. Computerspeichermedien schließen Signale an sich und vorübergehende Formen der Signalübertragung aus.Computer storage media is any media that can be used to store computer-readable information. By way of example, and not limitation, computer storage media may include RAM, ROM, electrically erasable programmable read-only memory (EEPROM), flash memory or other storage technologies, Compact Disc Read Only Memory (CD-ROM), Digital Video Disc (DVD), or other optical disk storage , magnetic cassettes, magnetic tape, magnetic disk storage or other magnetic storage devices, and any other volatile or non-volatile, removable or non-removable media implemented in any technology. Computer storage media exclude signals per se and transient forms of signal transmission.

Als Kommunikationsmedien werden alle Medien bezeichnet, die für die Übermittlung computerlesbarer Informationen verwendet werden können. Zu den Kommunikationsmedien können beispielsweise Koaxialkabel, Glasfaserkabel, Luft oder andere Medien gehören, die für die Übertragung von elektrischen, optischen, Hochfrequenz- (HF), Infrarot-, akustischen oder anderen Arten von Signalen geeignet sind, ohne darauf beschränkt zu sein.Communication media refers to all media that can be used to transmit computer-readable information. Communications media may include, but are not limited to, coaxial cable, fiber optic cable, air, or other media suitable for the transmission of electrical, optical, radio frequency (RF), infrared, acoustic, or other types of signals.

BEISPIELEEXAMPLES

Nachfolgend finden sich illustrative Beispiele für die hier offenbarten Technologien. Eine Ausführungsform der Technologien kann eine oder mehrere und jede Kombination der unten beschriebenen Beispiele umfassen.Below are illustrative examples of the technologies disclosed herein. An embodiment of the technologies may include one or more and any combination of the examples described below.

Beispiel 1 ist eine Test- und Messvorrichtung, aufweisend: eine Referenzvorrichtung, die so strukturiert ist, dass sie mit einer ersten Oberfläche eines zu prüfenden Materials in Kontakt ist, wobei die Referenzvorrichtung eine reflektierende Komponente und eine absorbierende Komponente enthält; und eine Prüfvorrichtung, die so strukturiert ist, dass sie in Kontakt mit einer zweiten Oberfläche des zu prüfenden Materials ist, die entgegengesetzt zur ersten Oberfläche ist, wobei die Prüfvorrichtung aufweist: einen ersten Sender, der so konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal mit einer vorbestimmten Frequenz durch das zu prüfende Material hindurch an die reflektierende Komponente der Referenzvorrichtung ausgibt, einen ersten Empfänger, der so konfiguriert ist, dass er ein erstes reflektiertes Signal von der reflektierenden Komponente empfängt, einen zweiten Sender, der so konfiguriert ist, dass er ein zweites Signal mit der vorbestimmten Frequenz an die absorbierende Komponente der Referenzvorrichtung durch das zu prüfende Material hindurch ausgibt, und einen zweiten Empfänger, der so konfiguriert ist, dass er ein zweites reflektiertes Signal von dem zu prüfenden Material empfängt.Example 1 is a test and measurement device comprising: a reference device structured to be in contact with a first surface of a material to be tested, the reference device including a reflective component and an absorbent component; and a testing device structured to be in contact with a second surface of the material to be tested that is opposite to the first surface, the testing device comprising: a first transmitter configured to transmit a first signal a predetermined frequency through the material to be tested to the reflective component of the reference device, a first receiver configured to receive a first reflected signal from the reflective component, a two th transmitter configured to output a second signal at the predetermined frequency to the absorbing component of the reference device through the material to be tested, and a second receiver configured to receive a second reflected signal from the to receives the material to be tested.

Beispiel 2 ist die Test- und Messvorrichtung von Beispiel 1, wobei die Prüfvorrichtung ferner einen Prozessor enthält, der so konfiguriert ist, dass er auf der Grundlage des ersten Signals, des zweiten Signals, des ersten reflektierten Signals und des zweiten reflektierten Signals bestimmt, ob das zu prüfende Material vorbestimmte Anforderungen erfüllt.Example 2 is the test and measurement device of Example 1, the test device further including a processor configured to determine based on the first signal, the second signal, the first reflected signal and the second reflected signal the material to be tested meets predetermined requirements.

Beispiel 3 ist die Test- und Messvorrichtung von Beispiel 2, wobei der Prozessor ferner dazu konfiguriert ist, auf der Grundlage des ersten reflektierten Signals zu bestimmen, ob das zu prüfende Material einen Transmissionsstandard erfüllt, und auf der Grundlage des zweiten reflektierten Signals zu bestimmen, ob das zu prüfende Material einen Reflexionsstandard erfüllt.Example 3 is the test and measurement device of Example 2, wherein the processor is further configured to determine whether the material under test meets a transmission standard based on the first reflected signal and to determine based on the second reflected signal whether the material to be tested meets a reflection standard.

Beispiel 4 ist die Test- und Messvorrichtung von Beispiel 2 oder 3, wobei die Prüfvorrichtung ferner eine Anzeige enthält, die so konfiguriert ist, dass sie die Bestimmung ausgibt, ob das zu prüfende Material vorbestimmte Anforderungen erfüllt.Example 4 is the testing and measuring apparatus of Example 2 or 3, the testing apparatus further including a display configured to make a determination as to whether the material being tested meets predetermined requirements.

Beispiel 5 ist die Test- und Messvorrichtung eines der Beispiele 1 bis 4, ferner mit einem Ausrichtmechanismus, der so konfiguriert ist, dass er eine Oberfläche der Referenzvorrichtung auf eine Oberfläche der Prüfvorrichtung ausrichtet.Example 5 is the test and measurement device of one of Examples 1 to 4, further comprising an alignment mechanism configured to align a surface of the reference device with a surface of the test device.

Beispiel 6 ist die Test- und Messvorrichtung von Beispiel 5, wobei der Ausrichtmechanismus einen Magneten auf der Oberfläche der Referenzvorrichtung und einen komplementären Magneten auf der Oberfläche der Prüfvorrichtung umfasst.Example 6 is the test and measurement device of Example 5, wherein the alignment mechanism includes a magnet on the surface of the reference device and a complementary magnet on the surface of the test device.

Beispiel 7 ist die Test- und Messvorrichtung eines der Beispiele 1 bis 6, wobei die Referenzvorrichtung ferner so aufgebaut ist, dass sie während eines Kalibriervorgangs direkt mit der Prüfvorrichtung in Kontakt steht.Example 7 is the test and measurement device of one of Examples 1 to 6, wherein the reference device is further constructed so that it is in direct contact with the test device during a calibration process.

Beispiel 8 ist die Test- und Messvorrichtung von Beispiel 7, wobei die Prüfvorrichtung einen Eingang zur Einleitung des Kalibriervorgangs enthält.Example 8 is the test and measurement device of Example 7, wherein the test device includes an input for initiating the calibration process.

Beispiel 9 ist die Test- und Messvorrichtung eines der Beispiele 1 bis 8, wobei der erste Sender und der erste Empfänger ein Wandlerpaar mit zwei ersten Sendern und zwei ersten Empfängern darstellen.Example 9 is the test and measurement device of one of Examples 1 to 8, wherein the first transmitter and the first receiver represent a transducer pair with two first transmitters and two first receivers.

Beispiel 10 ist die Test- und Messvorrichtung von Beispiel 9, wobei der zweite Sender und der zweite Empfänger ein Wandlerpaar mit zwei zweiten Sendern und zwei zweiten Empfängern darstellen.Example 10 is the test and measurement device of Example 9, wherein the second transmitter and the second receiver represent a transducer pair with two second transmitters and two second receivers.

Beispiel 11 ist die Test- und Messvorrichtung eines der Beispiele 1 bis 10, wobei die vorbestimmte Frequenz eine Frequenz für die Ausgabe eines Signals eines Radarsystems ist.Example 11 is the test and measurement apparatus of one of Examples 1 to 10, wherein the predetermined frequency is a frequency for outputting a signal of a radar system.

Beispiel 12 ist die Test- und Messvorrichtung eines der Beispiele 1 bis 11, wobei die Test- und Messvorrichtung in der Hand gehalten wird.Example 12 is the test and measurement device of one of Examples 1 to 11, wherein the test and measurement device is hand-held.

Beispiel 13 ist ein Verfahren zum Messen von Eigenschaften eines zu prüfenden Materials, umfassend: Senden eines ersten Signals mit einer vorbestimmten Frequenz zu einer absorbierenden Komponente durch ein Material hindurch; Empfangen eines ersten Antwortsignals als Antwort auf das Senden des ersten Signals; Senden eines zweiten Signals mit der vorbestimmten Frequenz zu einer reflektierenden Komponente durch das Material hindurch; Empfangen eines zweiten Antwortsignals als Antwort auf das Senden des zweiten Signals; und Bestimmen einer Einfügungsdämpfung des Materials.Example 13 is a method for measuring properties of a material to be tested, comprising: sending a first signal at a predetermined frequency to an absorbing component through a material; receiving a first response signal in response to sending the first signal; sending a second signal at the predetermined frequency to a reflective component through the material; receiving a second response signal in response to sending the second signal; and determining an insertion loss of the material.

Beispiel 14 ist das Verfahren von Beispiel 13, darüber hinaus die Bestimmung umfassend, ob die Einfügungsdämpfung des Materials vorbestimmten Anforderungen entspricht.Example 14 is the method of Example 13, further comprising determining whether the insertion loss of the material meets predetermined requirements.

Beispiel 15 ist das Verfahren von Beispiel 14, das weiterhin die Anzeige der Bestimmung umfasst, ob das zu prüfende Material vorbestimmte Anforderungen erfüllt.Example 15 is the method of Example 14, further comprising displaying the determination of whether the material being tested meets predetermined requirements.

Beispiel 16 ist das Verfahren eines der Beispiele 13 bis 15, weiterhin umfassend das Ausrichten einer Oberfläche der Referenzvorrichtung mit einer Oberfläche der Prüfvorrichtung durch einen Ausrichtmechanismus.Example 16 is the method of any of Examples 13 to 15, further comprising aligning a surface of the reference device with a surface of the test device by an alignment mechanism.

Beispiel 17 ist das Verfahren von Beispiel 16, wobei der Ausrichtmechanismus einen Magneten auf der Oberfläche der Referenzvorrichtung und einen komplementären Magneten auf der Oberfläche der Prüfvorrichtung umfasst.Example 17 is the method of Example 16, wherein the alignment mechanism includes a magnet on the surface of the reference device and a complementary magnet on the surface of the test device.

Beispiel 18 ist das Verfahren eines der Beispiele 13 bis 17, das ferner die Durchführung eines Kalibrierungsverfahrens umfasst, und zwar durch: Senden des ersten Signals bei einer vorbestimmten Frequenz zu einer absorbierenden Komponente ohne das Material; Empfangen eines dritten Antwortsignals als Antwort auf das Senden des ersten Signals; Senden des zweiten Signals mit der vorbestimmten Frequenz zu einer reflektierenden Komponente ohne das Material; und Empfangen eines vierten Antwortsignals als Antwort auf das Senden des zweiten Signals.Example 18 is the method of any of Examples 13 to 17, further comprising performing a calibration procedure by: sending the first signal at a predetermined frequency to an absorbing component without the material; receiving a third response signal in response to sending the first signal; sending the second signal at the predetermined frequency to a reflective component without the material; and receiving a fourth response signal in response to sending the second signal.

Beispiel 19 ist das Verfahren eines der Beispiele 13 bis 18, wobei ein erster Sender zum Senden des ersten Signals und ein erster Empfänger zum Empfangen des ersten Antwortsignals ein Wandlerpaar mit zwei ersten Sendern und zwei ersten Empfängern darstellen.Example 19 is the method of one of Examples 13 to 18, wherein a first transmitter for transmitting the first signal and a first receiver for receiving the first response signal constitute a transducer pair with two first transmitters and two first receivers.

Beispiel 20 ist das Verfahren eines der Beispiele 13 bis 19, wobei die vorbestimmte Frequenz eine Frequenz für eine Ausgabe eines Signals eines Radarsystems ist.Example 20 is the method of any of Examples 13 to 19, wherein the predetermined frequency is a frequency for an output of a signal of a radar system.

Die zuvor beschriebenen Versionen des offenbarten Gegenstandes haben viele Vorteile, die entweder beschrieben wurden oder für einen Fachmann offensichtlich wären. Dennoch sind diese Vorteile oder Merkmale nicht in allen Versionen der offenbarten Einrichtungen, Systeme oder Verfahren erforderlich.The previously described versions of the disclosed subject matter have many advantages that have either been described or would be obvious to one skilled in the art. However, these advantages or features are not required in all versions of the disclosed devices, systems or methods.

Zusätzlich wird in dieser schriftlichen Beschreibung auf besondere Merkmale hingewiesen. Es versteht sich von selbst, dass die Offenbarung in dieser Spezifikation alle möglichen Kombinationen dieser besonderen Merkmale umfasst. Wenn ein besonderes Merkmal im Zusammenhang mit einem bestimmten Aspekt oder Beispiel offenbart wird, kann dieses Merkmal, soweit möglich, auch im Zusammenhang mit anderen Aspekten und Beispielen verwendet werden.In addition, special features are pointed out in this written description. It goes without saying that the disclosure in this specification encompasses all possible combinations of these particular features. If a particular feature is disclosed in connection with a particular aspect or example, that feature may, where possible, also be used in connection with other aspects and examples.

Auch wenn in dieser Anmeldung auf ein Verfahren mit zwei oder mehr definierten Schritten oder Operationen Bezug genommen wird, können die definierten Schritte oder Operationen in beliebiger Reihenfolge oder gleichzeitig ausgeführt werden, es sei denn, der Kontext schließt diese Möglichkeiten aus.Although reference is made in this application to a method having two or more defined steps or operations, the defined steps or operations may be performed in any order or simultaneously unless the context precludes these possibilities.

Obwohl zur Veranschaulichung konkrete Beispiele der Erfindung illustriert und beschrieben wurden, versteht es sich von selbst, dass verschiedene Änderungen vorgenommen werden können, ohne vom Sinngehalt und Umfang der Erfindung abzuweichen. Dementsprechend sollte die Erfindung nicht eingeschränkt werden, außer durch die beigefügten Ansprüche.Although specific examples of the invention have been illustrated and described for purposes of illustration, it is to be understood that various changes may be made without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, the invention should not be limited except by the appended claims.

Claims

Test and measuring device Claim 1 , wherein the testing device further includes a processor configured to determine whether the material to be tested meets predetermined requirements based on the first signal, the second signal, the first reflected signal and the second reflected signal.

Test and measuring device Claim 2 , wherein the processor is further configured to determine whether the material under test meets a transmission standard based on the first reflected signal and to determine whether the material under test meets a reflectance standard based on the second reflected signal.

Test and measuring device Claim 2 or 3 , wherein the testing device further includes a display configured to make a determination as to whether the material being tested meets predetermined requirements.

Testing and measuring device according to one of the Claims 1 until 4 , further comprising an alignment mechanism configured to align a surface of the reference device with a surface of the test device.

Test and measuring device Claim 5 , wherein the alignment mechanism includes a magnet on the surface of the reference device and a complementary magnet on the surface of the test device.

Testing and measuring device according to one of the Claims 1 until 6 , wherein the reference device is further constructed so that it is in direct contact with the test device during a calibration process.

Test and measuring device Claim 7 , wherein the testing device contains an input for initiating the calibration process.

Testing and measuring device according to one of the Claims 1 until 8th , wherein the first transmitter and the first receiver represent a transducer pair with two first transmitters and two first receivers.

Test and measuring device Claim 9 , wherein the second transmitter and the second receiver represent a transducer pair with two second transmitters and two second receivers.

Testing and measuring device according to one of the Claims 1 until 10 , wherein the predetermined frequency is a frequency for an output of a signal of a radar system.

Testing and measuring device according to one of the Claims 1 until 11 , with the test and measurement device being held in the hand.

Method for measuring properties of a material to be tested using a testing and measuring device according to one of the Claims 1 until 12 , comprising: sending a first signal at a predetermined frequency to an absorbing component through a material; receiving a first response signal in response to sending the first signal; sending a second signal at the predetermined frequency to a reflective component through the material; receiving a second response signal in response to sending the second signal; and determining an insertion loss of the material.

Procedure according to Claim 13 , further comprising determining whether the insertion loss of the material meets predetermined requirements.

Procedure according to Claim 14 , which further includes displaying the determination of whether the material being tested meets predetermined requirements.

Procedure according to one of the Claims 13 until 15 , further comprising aligning a surface of the reference device with a surface of the test device by an alignment mechanism.

Procedure according to Claim 16 , wherein the alignment mechanism includes a magnet on the surface of the reference device and a complementary magnet on the surface of the test device.

Procedure according to one of the Claims 13 until 16 , further comprising performing a calibration method by: sending the first signal at a predetermined frequency to an absorbing component without the material; receiving a third response signal in response to sending the first signal; sending the second signal at the predetermined frequency to a reflective component without the material; and receiving a fourth response signal in response to sending the second signal.

Procedure according to one of the Claims 13 until 18 , wherein a first transmitter for transmitting the first signal and a first receiver for receiving the first response signal represent a transducer pair with two first transmitters and two first receivers.

Procedure according to one of the Claims 13 until 19 , wherein the predetermined frequency is a frequency for an output of a signal of a radar system.