DE102019207907B3

DE102019207907B3 - Shimabhängige Spoilergradienten

Info

Publication number: DE102019207907B3
Application number: DE102019207907.5A
Authority: DE
Inventors: Uwe Böttcher
Original assignee: Siemens Healthcare GmbH
Current assignee: Siemens Healthineers Ag De
Priority date: 2019-05-29
Filing date: 2019-05-29
Publication date: 2020-07-30
Anticipated expiration: 2039-05-30
Also published as: US11041924B2; US20200379069A1

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten einer MR-Anlage. Mindestens ein Shim-Parameter wird empfangen, welcher ein Shim-Magnetfeld zum Ausgleichen von BO-Magnetfeld-Inhomogenitäten in einem Messvolumen der MR-Anlage definiert. In Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter wird mindestens ein Spoiler-Parameter, welcher einen Spoilergradienten zum Löschen einer Transversal-Magnetisierung definiert, bestimmt. Der Spoiler-gradient wird in einer Messung der MR-Anlage zusammen mit dem Shim-Magnetfeld angelegt.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Magnetresonanz (MR) - Verfahren zum Bestimmen von Spoilergradienten, insbesondere ein Verfahren zum shimabhängigen Bestimmen der Vorzeichen von Spoilergradienten, weiterhin werden eine entsprechende MR-Anlage und ein Computerprogramm bereitgestellt.
Bei MR-Verfahren, wie beispielsweise bildgebenden MR-Verfahren oder der lokalisierten Spektroskopie, werden neben Gradienten zur Ortsselektion auch sogenannte Spoilergradienten benutzt um unerwünschte Echos zu unterdrücken, so dass nur ein gewolltes Echo im Aufnahmezeitraum der Datenauslese ein Signal liefert. Gelingt es nicht mittels dieser Spoilergradienten, die unerwünschten Echos zu unterdrücken, tauchen im Spektrum Störsignale auf, die die Auswertung ganz oder teilweise unmöglich machen. In MR-Messsequenzen wird daher versucht, die Spoilergradienten ausreichend stark zu machen. In der Realität reichen die möglichen Spoilergradienten in manchen Fällen nicht aus, da längere Spoilergradienten notwendige kurze Echozeiten verhindern würden.
Weiterhin stellen MR-Verfahren hohe Anforderungen an die Homogenität des Grund-Magnetfeldes B0. Durch sogenannte Shim-Magnetfelder können BO-Feld Inhomogenitäten kompensiert werden. Beispielsweise werden lineare Terme über statische Offsetströme der drei Gradientenspulen erzeugt, wobei wegen des linearen Feldverlaufs entlang der Gradientenrichtung von Shimkanälen erster Ordnung, oder Shimgradienten, gesprochen wird. Zudem können MR-Anlagen über dedizierte Shimspulen verfügen, da bei dem Homogenisieren des Magnetfeldes im Messvolumen zusätzliche Gradienten und teilweise auch Shimfelder höherer Ordnung notwendig sind, um Inhomogenitäten im Messvolumen möglichst auszugleichen. In der Nähe von Bereichen, wo sich die Suszeptibilität stark ändert, sind diese Shimfelder von besonderer Bedeutung. Dieser Effekt nimmt zudem mit stärker werdendem Magnetgrundfeld linear zu.
Die Shimfelder können in Bereichen des Objektes, die Signale beitragen können, die Spoilergradienten ganz oder teilweise kompensieren, so dass unerwünschte Signale nicht unterdrückt werden und unter Umständen detektiert werden.
Die Druckschrift STARCK, G., CARLSSON, A., LJUNGBERG, M., FORSELL-ARONSSON E. k-space analysis of point-resolved spectroscopy (PRESS) with regard to spurious echoes in in vivo 1H MRS. NMR in Biomedicine, 2009, 22 Jg, Nr. 2 S. 137-47 beschäftigt sich mit störenden Echo-Artefakten.
Es besteht Bedarf an verbesserten MR-Techniken zum unterdrücken unerwünschter Signale, die zumindest einige der genannten Einschränkungen und Nachteile überwinden oder abmildern.
Diese Aufgabe wird mit den Merkmalen der unabhängigen Ansprüche gelöst. In den abhängigen Ansprüchen sind weitere vorteilhafte Ausführungsbeispiele der Erfindung beschrieben.
Im Folgenden wird die erfindungsgemäße Lösung in Bezug auf die beanspruchten Verfahren, als auch in Bezug auf eine beanspruchte MR-Anlage und ein Computerprogramm beschrieben. Merkmale, Vorteile und alternative Ausführungsbeispiele können den jeweils anderen beanspruchten Objekten zugeordnet werden, und umgekehrt. In anderen Worten, die Ansprüche für die MR-Anlage können durch Merkmale verbessert werden, die im Rahmen der Verfahren beschrieben oder beansprucht werden. In diesem Fall können die funktionellen Merkmale des Verfahrens durch operative Einheiten der MR-Anlage ausgeführt werden.
Ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten einer MR-Anlage umfasst die folgenden Schritte.
In einem Schritt wird mindestens ein Shim-Parameter empfangen, oder in anderen Worten aus einer MR-Anlage ausgelesen, welcher ein Shim-Magnetfeld einer MR-Anlage zum Ausgleichen von BO-Magnetfeldinhomogenitäten in einem Messvolumen der MR Anlage definiert.
Im Allgemeinen sind durch den mindestens einen Shim-Parameter Eigenschaften eines Shim-Magnetfeldes, insbesondere eines Shimgradienten, welche zum Ausgleichen von Inhomogenitäten des B0-Magnetfeldes in einem Messvolumen der MR Anlage verwendet werden, definiert. Die Shim-Parameter der MR-Anlage für das Shim-Magnetfeld legen somit die Eigenschaften des Shim-Magnetfeldes fest und können in einer Justage optimiert werden. Zum Beispiel kann der mindestens eine Shim-Parameter eine Magnetfeldstärke, einen räumlichen Verlauf der Magnetfeldstärke innerhalb der MR-Anlage, ein Vorzeichen oder eine Steigung eines Gradienten, eine Ordnung des Shim-Magnetfeldes, oder auch eine zeitliche Variation des Shim-Magnetfeldes, bestimmen. Das Shim-Magnetfeld kann ein Shimgradient sein, welcher entlang einer bestimmten räumlichen Richtung ausgebildet sein kann.
In einem weiteren Schritt wird, in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter, mindestens ein Spoiler-Parameter bestimmt, welcher einen Spoilergradienten zum Unterdrücken von unerwünschten Signalen aus einem Untersuchungsobjekt, insbesondere zum Löschen einer Transversalmagnetisierung in dem Untersuchungsobjekt, definiert. In anderen Worten, basierend auf einem Shim-Magnetfeld wird ein Spoilergradient bestimmt. Zum Beispiel wird, basierend auf einer Eigenschaft das Shim-Magnetfeldes, welche durch einen Shim-Parameter festgelegt ist, in Abhängigkeit von dem Shim-Parameter, eine Eigenschaft eines Spoilergradienten, welche durch einen Spoiler-Parameter festgelegt ist, bestimmt. Der mindestens eine Spoiler-Parameter wird somit in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter bestimmt, so dass zwischen dem Shim-Magnetfeld und dem Spoilergradienten eine konstruktive Überlagerung stattfindet.
Allgemein ausgedrückt, kann der mindestens eine Spoiler-Parameter in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Magnetfeld, oder in anderen Worten unter Verwenden des mindestens einen Shim-Parameters, basierend auf dem mindestens einen Shim-Parameter, und/oder unter Berücksichtigung des mindestens einen Shim-Parameters, bestimmt werden, so dass die Polarität des Shim-Magnetfeldes und die Polarität des Spoilergradienten übereinstimmen. In anderen Worten, so dass der Shimgradient und der Spoilergradient innerhalb des Gradientensystems die gleiche Polarität haben, in anderen Worten an gleichen Raumpunkten die gleiche Polarität aufweisen. Dabei können beide Magnetfelder, oder Gradienten, im Zentrum des Gradientensystems, einen Nulldurchgang, d.h. den Wert 0 aufweisen. Somit kann der mindestens eine Shim-Parameter, insbesondere ein Wert des mindestens einen Shim-Parameters, verwendet, oder berücksichtigt werden, um basierend darauf den mindestens einen Spoiler-Parameter, insbesondere einen Wert des mindestens einen Spoiler-Parameters zu bestimmen, insbesondere zu berechnen, oder durch eine vordefinierte Zuordnung, beispielsweise eine vordefinierte Lookup-Tabelle, zuzuordnen bzw. festzulegen.
Im Allgemeinen kann der mindestens eine Shim-Parameter derart bestimmt sein, dass das Shim-Magnetfeld und der Spoiler-Gradient die gleiche Polarität, bzw. das gleiche Vorzeichen, aufweisen, d.h. sich durch Überlagerung bzw. Superposition innerhalb des Gradientensystems der MR-Anlage, verstärken und konstruktiv überlagern.
Im Allgemeinen kann der mindestens eine Shim-Parameter derart bestimmt, oder ausgewählt, sein, dass das Shim-Magnetfeld und der Spoiler-Gradient sich innerhalb und außerhalb des Messvolumens, bzw. dem Field-Of-View (FOV), also in allen Bereichen des Untersuchungsobjekts, in denen unerwünschte Signale erzeugt werden können, die gleiche Polarität haben, d.h. sich, z.B. durch Superposition konstruktiv überlagern. Somit wird können durch den Spoilergradienten in allen Bereichen in der MR-Anlage effektiv unerwünschte Signale unterdrückt werden.
In einigen Beispielen kann der mindestens eine Shim-Parameter derart bestimmt werden, dass eine Magnetfeldstärke des Spoilergradienten über einem vordefinierten Schwellenwert einer Magnetfeldstärke liegt, welche notwendig ist, um die Transversalmagnetisierung zu löschen. Der vordefinierte Schwellenwert für die Magnetfeldstärke des Spoilergradienten ist dabei typisch für eine MR-Messsequenz und dem Fachmann bekannt. Es ist zu verstehen, dass eine Überlagerung mehrerer Shim-Magnetfelder in einem zu betrachtenden Bereich vorhanden sein kann, wobei der Spoilergradient unter Berücksichtigung mehrerer Shim-Felder derart bestimmt werden kann, dass sich der Spoilergradient mit dem (aus der Überlagerung) resultierenden Magnetfeld konstruktiv überlagert.
In einigen Ausführungsformen ist denkbar, dass bei den erfindungsgemäßen Techniken die konstruktive Überlagerung insbesondere in einem Grenzbereich, oder eine Grenze des Messvolumens 4, vorliegen soll. Somit kann der Spoilergradient derart bestimmt werden, dass in allen zu betrachtenden Volumina des Untersuchungsobjektes innerhalb und außerhalb des Messvolumens, und/oder in einem an das Messvolumen direkt angrenzenden Volumen, und/oder in einem Grenzvolumen, welches die Grenze des Messvolumens umfasst, welche in manchen Beispielen eine Ausdehnung von 100%, 50%, oder 20% des Messvolumens haben können und welche Signalbeiträge zur Messung liefern, eine verstärkende Überlagerung des mindestens einen Shim-Magnetfeldes und des Spoilergradienten vorliegt.
Weiterhin ist möglich, dass zunächst ein Shim-Magnetfeld bestimmt wird, wobei mindestens ein Shim-Parameter bestimmt werden kann, und danach, in Abhängigkeit von dem Shim-Parameter, der Spoiler-Gradient einer MR-Messsequenz festgelegt wird, d.h. mindestens der Spoiler-Parameter in Abhängigkeit von dem Shim-Parameter bestimmt wird. Insbesondere kann dabei ein Parameter des Spoilergradienten derart bestimmt werden, dass der Spoilergradient in jedem Fall, und/oder an allen Punkten in der MR-Anlage oder in einem zu betrachtenden Bereich die gleiche Polarität wie das Shim-Magnetfeld aufweist. Dabei ist zu verstehen, dass gemäß der Erfindung ein Parameter des Spoilergradienten, insbesondere das Vorzeichen, d.h. die Steigung, planmäßig so ausgewählt wird, dass er einem Parameter des Shim-Gradienten entspricht. In anderen Worten, wird mindestens ein Parameter des Spoilergradienten derart ausgewählt, oder bestimmt, dass eine verstärkende Überlagerung mit dem vorbestimmten Shim-Feld stattfindet.
In einem weiteren Schritt wird der Spoilergradient, beispielsweise bei dem Durchführen einer Messung durch der MR-Anlage, während einer MR-Messsequenz, zeitgleich, d.h. zusammen, mit dem Shim-Magnetfeld angelegt bzw. ausgespielt, um unerwünschte Signale bei der MR-Messung zu unterdrücken.
Vorzugsweise werden gemäß der MR-Messsequenz Magnetresonanzsignale aufgenommen. Vorzugsweise werden aus den aufgenommenen Magnetresonanzsignale MR-Bilder rekonstruiert. Die MR-Bilder können beispielsweise in elektronischer Form gespeichert werden und/oder auf einem Monitor angezeigt werden.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren können unerwünschte Signale unterdrückt werden, und die Spoilergradienten in der Sequenz müssen nicht vergrößert werden, um durch Shimgradienten nicht kompensiert zu werden. Dadurch ist es nicht notwendig, zu einer längeren Echozeit oder stärkeren Gradienten überzugehen. Kürzere Echozeiten können realisiert werden, da die Spoilergradienten mit einer optimalen, und damit minimal nötigen, Amplitude angewandt werden können, wodurch letztlich genauere MR-Spektroskopie-Messungen und zuverlässigere medizinische Diagnosen in klinischen Anwendungen ermöglicht werden.
Eine MR-Anlage ist ausgebildet, ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten durchzuführen. Die MR-Anlage umfasst eine MR-Steuereinheit und eine Speichereinheit, wobei die Speichereinheit von der MR-Steuereinheit ausführbare Steuerinformationen speichert, und wobei die MR-Anlage ausgebildet ist, bei der Ausführung der Steuerinformationen in der MR-Steuereinheit folgende Schritte auszuführen.
In einem ersten Schritt wird mindestens ein Shim-Parameter empfangen, welcher ein Shim-Magnetfeld zum Ausgleichen von BO-Magnetfeld-Inhomogenitäten in einem Messvolumen der MR-Anlage definiert. In einem weiteren Schritt wird in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter mindestens ein Spoiler-Parameter bestimmt, welcher einen Spoilergradienten zum Löschen einer Transversal-Magnetisierung definiert. In einem weiteren Schritt wird der Spoilergradient zusammen mit dem Shim-Magnetfeld in einer MR-Messsequenz angewendet.
Die MR-Anlage kann weiter konfiguriert sein, um ein beliebiges anderes Verfahren oder eine beliebige Kombination von Verfahren gemäß der vorliegenden Offenbarung durchzuführen.
Ein Computerprogramm, oder Computerprogrammprodukt, welches direkt in einen Speicher einer MR-Steuereinheit einer MR-Anlage ladbar ist, umfasst Befehle, die bei der Ausführung des Programms durch eine Steuereinheit einer MR-Anlage diese veranlassen, die Schritte eines beliebigen Verfahren gemäß der vorliegenden Offenbarung auszuführen.
Ein elektronisch lesbarer Datenträger umfasst darauf gespeicherten elektronisch lesbaren Steuerinformationen, welche derart ausgestaltet sind, dass sie bei Ausführung in einer MR-Steuereinheit einer MR-Anlage diese veranlassen, die Schritte eines beliebigen Verfahren gemäß der vorliegenden Offenbarung auszuführen.
Für eine solche MR-Anlage, ein Computerprogramm und einen elektronisch lesbaren Datenträger können technische Effekte erzielt werden, die den technischen Effekten für die Verfahren gemäß der vorliegenden Offenbarung entsprechen.
Obwohl die in der obigen Zusammenfassung und der folgenden detaillierten Beschreibung beschriebenen spezifischen Merkmale im Zusammenhang mit spezifischen Ausführungsbeispielen beschrieben werden, ist zu verstehen, dass die Merkmale nicht nur in den jeweiligen Kombinationen verwendet werden können, sondern auch isoliert verwendet werden können, und Merkmale aus verschiedenen Beispielen für die Verfahren, MR-Anlagen, Computerprogramme und elektronisch lesbare Datenträger miteinander kombiniert werden können und miteinander korrelieren, sofern nicht ausdrücklich anders angegeben.
Die obige Zusammenfassung soll daher nur einen kurzen Überblick über einige Merkmale einiger Ausführungsformen und Implementierungen geben und ist nicht als Einschränkung zu verstehen. Andere Ausführungsformen können andere als die oben beschriebenen Merkmale umfassen.
Figurenliste
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert.

1 zeigt schematisch eine MR-Anlage, mit der ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten erfindungsgemäß durchgeführt werden kann.
2 zeigt schematisch eine MR-Messsequenz und Shim-Magnetfelder einer MR-Anlage, gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.
3 zeigt schematisch eine Benutzeroberfläche mit Shim-Parametern einer MR-Anlage, gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.
4 zeigt einen Vergleich von Messergebnissen eines herkömmlichen MR-Verfahrens (oben) mit Messergebnissen eines erfindungsgemäßen MR-Verfahrens (unten).
5 zeigt ein Flussdiagramm mit Schritten zum Bestimmen eines Spoilergradienten einer MR-Anlage, gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.

Detaillierte Beschreibung
Die vorstehend genannten Elemente, Merkmale, Schritte und Konzepte der vorliegenden Offenbarung werden aus der folgenden detaillierten Beschreibung von exemplarischen Ausführungsbeispielen, die unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen erläutert werden, ersichtlich.
Die Zeichnungen sind als schematische Darstellungen zu betrachten und die in den Zeichnungen dargestellten Elemente sind nicht unbedingt maßstabsgetreu dargestellt. Vielmehr werden die verschiedenen Elemente so dargestellt, dass ihre Funktion und ihr allgemeiner Zweck für einen Fachmann ersichtlich werden. Jede Verbindung oder Kopplung zwischen Funktionsblöcken, Vorrichtungen, Komponenten oder anderen physikalischen oder funktionellen Einheiten, die in den Zeichnungen oder hierin beschrieben sind, kann auch durch eine indirekte Verbindung oder Kopplung realisiert werden. Eine Kopplung zwischen den Komponenten kann auch über eine drahtlose Verbindung hergestellt werden. Funktionsblöcke können in Hardware, Firmware, Software oder einer Kombination davon implementiert werden.
Im Folgenden werden Ausführungsbeispiele unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen ausführlich beschrieben. Es ist zu beachten, dass die folgende Beschreibung der Ausführungsbeispiele nicht in einem engen Sinne zu verstehen ist. Der Umfang der Erfindung soll nicht durch die im Folgenden beschriebenen Ausführungsbeispiele oder durch die Zeichnungen eingeschränkt werden, die nur zur Veranschaulichung dienen.
Beispiele der vorliegenden Offenbarung betreffen ein Magnetresonanz (MR) -Verfahren zum shimabhängigen Bestimmen von Spoilergradienten, insbesondere ein Verfahren zum Bestimmen eines Vorzeichens eines Spoilergradienten in Abhängigkeit des Vorzeichens eines Shimgradienten.
Die Unterdrückung unerwünschter Signalbeiträge spielt eine wichtige Rolle in der MR-Spektroskopie und MR-Bildgebung. Zum Beispiel sollen Signale aus bestimmten Bereichen oder bestimmten Spin-Spezies unterdrückt, oder ausgelöscht, werden. Zum Beispiel besteht bei MR-Sequenzen, die kurze Repetitionszeiten aufweisen, oft noch Signal von einer vorhergehenden Anregung, welches beispielsweise bei einem Tl-gewichteten Kontrast vor der nächsten Anregung gelöscht werden muss. Das kann durch eine Dephasierung von Spins geschehen, wobei spezielle Gradienten- oder Hochfrequenz (HF) -Pulse eingesetzt werden. Entsprechend können zur Unterdrückung von Signalen ein oder mehrere HF-Anregungspulse eingesetzt werden, mit denen das zu unterdrückende Signal gezielt angeregt, d. h. eine Longitudinal- zu einer Transversalmagnetisierung angeregt wird. Alternativ oder zusätzlich kann ein oder mehrere Gradientenpulse verwendet werden, mit denen eine Transversalmagnetisierung derart dephasiert wird, dass sie einen stark reduzierten oder keinen Beitrag bei den folgenden Messungen liefert. Dies wird auch als so genanntes „Gradienten-Spoiling“ oder „Spoiling“ bezeichnet.
Insbesondere in der lokalisierten Spektroskopie werden neben den Gradienten zur Ortsselektion auch Spoilergradienten benutzt um unerwünschte Echos zu unterdrücken, so dass nur das gewollte Echo im Aufnahmezeitraum der Datenauslese Signal liefert. Gelingt es diesen Spoilergradienten nicht, die unerwünschten Echos zu unterdrücken, tauchen im Spektrum Störsignale auf, die die Auswertung ganz oder teilweise unmöglich machen.
In MR-Messsequenzen wird versucht die Spoilergradienten ausreichend stark zu machen. In der Realität reichen die möglichen Spoilergradienten unter Umständen nicht aus, da längere Spoilergradienten die Ermöglichung notwendiger kurzer Echozeiten verhindern würden.
Im Allgemeinen stellt ein Magnet der MR-Anlage ein Gleichstrommagnetfeld bereit, das als B0-Magnetfeld, BO-Feld oder Grund-Magnetfeld B0, bezeichnet werden kann, und das eine geringe Feldstärke nahe 0 oder eine hohe Stärke von bis zu 20 Tesla (T), oder mehr, entlang seiner Längsachse aufweisen kann. Das BO-Feld richtet die Magnetisierung von Spins eines zu untersuchenden Objekts entlang der Richtung des BO-Feldes, d.h. entlang seiner Längsachse aus. Für viele MRT-Anwendungen ist die Homogenität des magnetischen BO-Feldes in einem Messvolumen, aus dem MR-Messsignale gewonnen werden, entscheidend für die Qualität der MR-Messung.
MR-Verfahren, wie zum Beispiel MR-Bildgebungsverfahren oder Spektroskopie-Anwendungen, stellen hohe Anforderungen an die Homogenität des Grund- oder Polarisationsfeldes B0. Zum Beispiel auch der individuelle Körper eines jeden Patienten und andere innerhalb der MR-Anlage 1 bewegliche Vorrichtungen verformen das lokale B0 Feld. Um die genannten Methoden trotzdem anwenden zu können führt man das sogenannte „Shimming“ durch. Hierbei wird bei herkömmlichen Verfahren zunächst das lokale BO-Feld in der Untersuchungsregion gemessen, zur Erstellung einer sogenannte B0-Karte oder Grundfeldkarte (engl. „B0-map“), und anschließend werden anhand der B0-Karte DC-Offset Ströme für die drei Gradientenspulen zum Erzeugen von Shimgradienten, Ströme für Shim-Magnetfelder höherer Ordnung, sowie Ströme für spezielle Shimspulen berechnet, derart, dass die lokalen Feldverzerrungen innerhalb des Messvolumens 4 bestmöglich kompensiert werden. Ein Shimfeld liegt üblicherweise permanent an, wobei ein oder mehrere Spoilergradienten innerhalb einer MR-Messsequenz ausgespielt, oder zugeschaltet werden.
Die Feinheit, mit der lokale BO-Feld Inhomogenitäten kompensiert werden, hängt von der Zahl und Ordnung der Shimkanäle ab. Bei MR-Anlage 1 werden die linearen Terme x, y, und z beispielsweise über statische Offsetströme der drei Gradientenspulen erzeugt. Wegen des linearen Feldverlaufs entlang der Gradientenrichtung spricht man auch von den Shimkanälen erster Ordnung, oder Shimgradienten. Zudem kann MR-Anlage 1 über dedizierte Shimspulen verfügen. Beim Homogenisieren des Magnetfeldes sind im Messvolumen 4 zusätzliche Gradienten und teilweise auch Shimfelder höherer Ordnung notwendig, um Inhomogenitäten im Messvolumen 4 auszugleichen. In der Nähe von Bereichen, wo sich die Suszeptibilität stark ändert, sind diese Shimfelder von besonderer Bedeutung. Dieser Effekt nimmt zudem mit stärker werdendem Magnetgrundfeld linear zu.
Zusammenfassend werden, um eine Inhomogenität des BO-Feldes auszugleichen, Shim-Magnetfelder angelegt, die durch Shim-Spulen, die in einer Gradientenspule oder lokalen Spulen enthalten sein können, erzeugt werden. Um optimale Ergebnisse zu erzielen, wird der Strom durch die Shim-Spulen so optimiert, dass das BO-Feld im Messvolumen so homogen wie möglich wird. Diese Shim-Magnetfelder bewirken also eine Homogenisierung des BO-Felders innerhalb des Messvolumens, wirken jedoch auf das gesamte Untersuchungsobjekt. Dabei ist denkbar, dass ein Shim-Magnetfeld statisch ist, oder während einer Messsequenz zeitlich variiert werden kann. Das Shim-Magnetfeld liegt üblicherweise permanent und unabhängig von der Messsequenz an.
Diese Shim-Magnetfelder 3 können beispielsweise in Bereichen des Objektes außerhalb des Messvolumens 4, die Signale zur Messung beitragen können, die Spoilergradienten ganz oder teilweise kompensieren, beispielsweise durch Überlagerung, d.h. Superposition, so dass in diesen Bereichen die unerwünschten Signale nicht unterdrückt und damit detektiert werden.
Im Allgemeinen sehen Beispiele der vorliegenden Offenbarung eine Vielzahl von Schaltungen, Datenspeichern, Schnittstellen oder elektrische Verarbeitungsvorrichtungen z.B. Prozessoren vor. Alle Verweise auf diese Einheiten und andere elektrische Geräte sowie die von ihnen bereitgestellte Funktionen sind nicht auf das beschränkt, was veranschaulicht und beschrieben wird. Während den verschiedenen Schaltkreisen oder anderen offenbarten elektrischen Geräten bestimmte Bezeichnungen zugeordnet werden können, sind diese Bezeichnungen nicht dazu bestimmt, den Funktionsumfang der Schaltkreise und der anderen elektrischen Geräte einzuschränken. Diese Schaltkreise und andere elektrische Geräte können je nach der gewünschten Art der elektrischen Ausführung miteinander kombiniert und/oder voneinander getrennt werden. Es ist zu verstehen, dass jede offenbarte Schaltung oder andere elektrische Vorrichtung eine beliebige Anzahl von Mikrocontrollern, eine Grafikprozessoreinheit (GPU), integrierte Schaltungen, Speichervorrichtungen, z.B. FLASH, Arbeitsspeicher(RAM), Read Only Memory (ROM), elektrisch programmierbarer Read Only Memory (EPROM), elektrisch löschbarer programmierbarer Read Only Memory (EEPROM), oder beliebige andere geeignete Ausführungsformen derselben umfassen können, sowie Software, welche miteinander zusammenarbeiten, um die hierin offenbarten Verfahrensschritte durchzuführen. Darüber hinaus kann jede der elektrischen Vorrichtungen konfiguriert sein, um Programmcode auszuführen, der in einem computerlesbaren Datenträger enthalten ist, und der konfiguriert ist, um eine beliebige Anzahl von Schritten gemäß den Verfahren der vorliegenden Offenbarung auszuführen.
1 zeigt schematisch eine MR-Anlage 1, mit der ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten 2 erfindungsgemäß durchgeführt werden kann.
Eine Untersuchungsperson 12, oder allgemeiner ein Untersuchungsobjekt, ist in den Tunnel der Anlage 1 gefahren. Die Magnetresonanzanlage 1 weist einen Magneten 10 zur Erzeugung eines Grundfeldes B0 auf, wobei eine auf einer Liege 11 angeordnete Untersuchungsperson 12 in das Zentrum des Magneten gefahren wird, um dort ortscodierte Magnetresonanzsignale aus einem Messvolumen 4 aufzunehmen. Durch Einstrahlen von Hochfrequenzpulsfolgen und Schalten von Magnetfeldgradienten kann die durch das Grundfeld B0 erzeugte Magnetisierung durch Auslenkung der Kernspins aus der Gleichgewichtslage gestört werden, und die bei der Rückkehr in die Gleichgewichtslage in Empfangsspulen induzierten Ströme können in Magnetresonanzsignale umgewandelt werden. Die allgemeine Funktionsweise zur Erstellung von MR-Bildern unter Verwenden von Shimspulen und Spoilergradienten 2, und die Detektion der Magnetresonanzsignale sind dem Fachmann bekannt, sodass auf eine detaillierte Erläuterung hiervon verzichtet wird.
Die Magnetresonanzanlage 1 weist weiterhin eine MR-Steuereinheit 13 auf, die zur Steuerung des MR-Geräts verwendet wird. Die zentrale MR-Steuereinheit 13, welche derart ausgebildet ist, dass die das unten beschriebene Verfahren für ein shimabhängiges Bestimmen der Vorzeichen von Spoilergradienten 2 durchführt, weist eine Gradientensteuerung 14 zur Steuerung und Schaltung der Magnetfeldgradienten und Spoilergradienten 2 auf und eine HF-Steuerung 15 zur Steuerung und Einstrahlung der HF-Pulse zur Auslenkung der Kernspins aus der Gleichgewichtlage. In einer Speichereinheit 16 können beispielsweise die für die Aufnahme der MR-Bilder notwendigen Bildgebungssequenzen abgespeichert werden, sowie alle Programme, die zum Betrieb der MR-Anlage 1 notwendig sind. Eine Aufnahmeeinheit 17 steuert die Bildaufnahme und steuert damit in Abhängigkeit von den gewählten Bildgebungssequenzen die Abfolge der Magnetfeldgradienten, und HF-Pulse, sowie die Empfangsintervalle von MR-Signalen. Somit steuert die Aufnahmeeinheit 17 auch die Gradientensteuerung 14 und die HF-Steuerung 15, insbesondere die Amplitude und die Vorzeichen von Spoilergradienten 2 in der MR-Messsequenz. In einer Recheneinheit 20 können MR-Bilder berechnet werden, die auf eine Anzeige 18 angezeigt werden können, wobei eine Bedienperson über eine Eingabeeinheit 19 die MR-Anlage 1 bedienen kann. Die Speichereinheit 16 kann MR-Messsequenzen und Programmmodule aufweisen, die bei Ausführung in der Recheneinheit 20 von einem der gezeigten Module, das erfindungsgemäße Verfahren durchführen. Die MR-Steuereinheit 13 kann weiterhin ausgebildet sein, ein Bestimmen der Vorzeichen von Spoilergradienten 2 basierend auf Shimfeldern 3, insbesondere den Vorzeichen der Shimfelder 3, zu verbessern wie nachfolgend im Detail erläutert wird.
Insbesondere speichert die Speichereinheit 16 dazu von der MR-Steuereinheit 13 ausführbare Steuerinformationen. Weiter ist die Aufnahmeeinheit 17 derart ausgebildet, dass sie die nachfolgend beschriebene Bestimmung von Spoilergradienten 2 durchführen kann. Somit ist die MR-Anlage 1 der 1 dazu ausgebildet, ein Verfahren zum shimabhängigen Bestimmen von Spoilergradienten 2 erfindungsgemäß auszuführen.
Im Allgemeinen kann ein Empfangen von Shim-Parametern ein Empfangen gespeicherter Shim-Parameter aus einem internen oder externen Speicher eines Computers oder einer MR-Anlage 1, und/oder das Übertragen oder von Shim-Parametern von einer MR-Anlage 1 oder einer anderen Rechenvorrichtung umfassen, wobei im Allgemeinen eine beliebige Art zum Senden und Empfangen von Daten implementiert werden kann.
In einigen Beispielen kann anstatt des Empfangens des mindestens einen Shim-Parameters, der mindestens eine Shim-Parameter aus Einstellungen einer MR-Anlage ausgelesen werden. Dabei kann der mindestens eine Shim-Parameter, insbesondere einen Wert des Shim-Parameters, oder ein Vorzeichen des Shim-Magnetfelds, bestimmt werden.
Im Allgemeinen bezieht sich der Begriff Parameter auf Parameter einer MR-Anlage 1, d.h. auf Einstellungen, bzw. Werte für Einstellungen einer MR-Anlage 1, welche die MR-Anlage 1 dazu veranlassen, eine bestimmte Funktionalität, insbesondere Shim-Magnetfelder 3 und Spoilergradienten 2 mit bestimmten Eigenschaften, auszubilden.
Erfindungsgemäß wird die Polarität der Spoilergradienten 2 in solcher Weise gewählt, dass die angelegten Spoilergradienten 2 durch Magnetfelder, die zum Shimmen des BO-Feldes innerhalb des Messvolumens 4 notwendig sind, in ihrer Wirkung nicht vermindert werden, sondern im Gegenteil verstärkt werden.
In einigen Beispielen kann zur Wahl des richtigen Vorzeichens der Spoilergradienten 2 eine Information über Vorzeichen von Shimgradienten der Sequenz bekannt sein, und die Spoilergradienten 2 entsprechend ausgespielt werden. Mit dieser Vorgehensweise können die unerwünschten Signale unterdrückt werden, und die Spoilergradienten 2 in der Sequenz müssen nicht vergrößert werden, um durch Shimgradienten nicht kompensiert zu werden. Dadurch ist es nicht notwendig, zu einer längeren Echozeit oder stärkeren Gradienten überzugehen.
Erfindungsgemäß werden Vorzeichen der Spoilergradienten 2 derart gesteuert, dass eine ausreichende Unterdrückung unerwünschter Signale ermöglicht wird, ohne die Spoilergradienten 2 stärker machen zu müssen und damit die möglicherweise einhergehenden Nachteile zu bewirken. Letztendlich können kürzere Echozeiten realisiert werden, da die Spoilergradienten 2 mit einer optimalen, und damit minimal nötigen, Amplitude angewandt werden können.
2 zeigt schematisch eine MR-Messsequenz und Shim-Magnetfelder 3 einer MR-Anlage 1, gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.
In 2 ist schematisch eine Spektroskopiesequenz (eine sog. Single Voxel PRESS Sequenz) abgebildet, dabei verläuft die Zeitachse von links nach rechts. Die Magnetfeldgradienten Gx 7, Gy 6 und Gz 5 sind Magnetfeldgradienten für die Volumenselektion in den drei Raumrichtungen, d.h. Koordinatenachsen der MR-Anlage 1. Die Spoilergradienten 2 entlang jeder der Koordinatenachsen, weisen jeweils ein positives Vorzeichen auf. In 2 zusätzlich abgebildet sind Shim-Magnetfelder 3 der MR-Anlage 1 in jeder der drei Raumrichtungen x, y und z. Die Shim-Magnetfelder liegen üblicherweise permanent und unabhängig von der MR-Messsequenz an, es ist jedoch denkbar, dass diese in einigen Beispielen zeitlich variieren, wobei die Shim-Parameter entsprechend der zeitlichen Variation bestimmt werden.
3 zeigt schematisch eine Benutzeroberfläche zum Einstellen von Shim-Parameter 8 einer MR-Anlage 1, welche durch Justagen bestimmt werden, gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.
In 3 zu sehen ist beispielhaft ein User-Interface für manuelles Shimmen. Hier sind die aktuellen Shim-Parameter 8 für die Shim-Magnetfelder 3 zu erkennen, wobei beispielhaft der x-Shimgradient ein negatives Vorzeichen hat, während der y- und z-Shimgradient positive Vorzeichen haben.
4 zeigt einen Vergleich von Messergebnissen eines herkömmlichen MR-Verfahrens in dem oberen Diagramm mit Messergebnissen eines erfindungsgemäßen MR-Verfahrens in dem unteren Diagramm.
In 4 ist eine Eliminierung des unerwünschten Echos zu sehen. Das obere Diagramm zeigt eine reguläre MR-Messung, wobei durch eine Ellipse das Signal des unerwünschten Echos markiert ist. In dem unteren Diagramm ist eine erfindungsgemäße Messung an gleicher Voxelposition mit erfindungsgemäßen Spoilergradientenvorzeichen zu sehen, wobei, wiederum durch eine Ellipse hervorgehoben, das unerwünschte Signal nicht detektiert wird.
5 zeigt ein Flussdiagramm mit Schritten zum Bestimmen eines Spoilergradienten 2 einer MR-Anlage 1, gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.
Das Verfahren beginnt mit Schritt S10. In Schritt S20 wird mindestens ein Shim-Parameter empfangen, welcher ein Shim-Magnetfeld 3 zum Ausgleichen von BO-Magnetfeld-Inhomogenitäten in einem Messvolumen 4 der MR-Anlage 1 definiert. In Schritt S30 wird in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter mindestens ein Spoiler-Parameter bestimmt, welcher einen Spoilergradienten 2 zum Löschen einer Transversal-Magnetisierung definiert. In Schritt S40 wird der Spoilergradient 2 mit dem Shim-Magnetfeld 3 in einer MR-Messsequenz angelegt. Das Verfahren endet in Schritt S50.
Aus dem oben Gesagten lassen sich einige allgemeine Schlussfolgerungen ziehen:

Das Shim-Magnetfeld 3 und der Spoilergradient 2 können Gradienten in, oder entlang, der gleichen Raumrichtung sein, in anderen Worten entlang der gleichen Raumrichtung angelegt, oder variiert, werden. Dabei können die Magnetfelder 2, 3 derart bestimmt sein, dass sie das gleiche Vorzeichen, d.h. in einem linearen Gradientensystem die gleiche Steigung, und somit an gleichen Punkten oder Koordinaten entlang der Raumrichtung die gleiche Polarität aufweisen.

Das Shim-Magnetfeld 3 kann ein Shimgradient sein. Die Raumrichtung kann eines sein von der x-Koordinatenachse, der y-Koordinatenachse, oder der z-Koordinatenachse eines Koordinatensystems der MR-Anlage 1. Somit kann das Shim-Magnetfeld 3 ein Shimgradient entlang einer der Achsen des Koordinatensystems der MR-Anlage 1 sein, d.h. ein Shimgradient in x-Richtung, ein Shimgradient in y-Richtung, oder ein Shimgradient in z-Richtung.
Entsprechend kann der der Spoilergradient 2 ein Spoilergradient 2 entlang einer der Achsen des Koordinatensystems der MR-Anlage 1 sein, d.h. ein Spoilergradient 2 in x-Richtung, ein Spoilergradient 2 in y-Richtung, oder ein Spoilergradient 2 in z-Richtung.
Dabei ist zu verstehen, dass die Magnetfeldgradienten 2,3 in einer beliebigen Raumrichtung angelegt werden können, welche einer beliebigen Kombination der x-, y- und z-Richtungen bzw. Magnetfeldkomponenten entspricht. Dabei sind die x-, y- und z-Richtungen typischerweise zueinander orthogonale Raumtichtungen.
Ein Koordinatensystem der MR-Anlage 1 kann eine x-, y-, und eine z-Achse umfassen, wobei Messvolumina eines Untersuchungsobjektes, deren Ausrichtung und Ausformung je nach Anwendung variieren kann, angeregt werden. Die Messvolumina können in einigen Beispielen beliebige Orientierungen im Raum haben. Die z-Koordinatenachse der MR-Anlage 1 kann der Patientenachse, Verschiebungsachse des Patiententisches oder Längsachse des (Patienten-) Tunnels entsprechen.
Der mindestens eine Shim-Parameter kann ein Vorzeichen des Shimgradienten 2 sein. Der mindestens eine Spoiler-Parameter kann ein Vorzeichen des Spoilergradienten 2 sein.
Shim-Magnetfelder 3, insbesondere Shimgradienten, und Spoilergradienten 2 können mit einer bestimmten Steigung angelegt, bzw. ausgespielt werden. Ein Vorzeichen eines Gradienten beschreibt die Steigung, d.h. entlang einer Raumrichtung ansteigend (positives Vorzeichen) oder abfallend (negatives Vorzeigen) des Gradienten, d.h. der linearen Veränderung der Magnetfeldstärke. Dabei haben die Magnetfeldgradienten einen gemeinsamen Nulldurchgang in der Mitte des Magneten, d.h. in der Mitte des Gradientensystems, in anderen Worten im Isozentrum. Somit wird durch das Vorzeichen des Gradienten, die Steigung des Gradienten, und somit auch die Polarität des Gradienten bestimmt. In anderen Worten, der Shimgradient 3 und der Spoilergradient 2 können beide ein positives Vorzeichen oder ein negatives Vorzeichen aufweisen, wobei sie an allen Punkten entlang einer gemeinsamen Raumrichtung die gleiche, d.h. eine positive oder eine negative, Polarität aufweisen. Dadurch kann die Polarität der Gradientenfelder, d.h. des Shimgradienten 3 und des Spoilergradienten 2, innerhalb der MR-Anlage 1, insbesondere entlang der Raumrichtung gleich sein. Beispielsweise kann das Vorzeichen des Spoilergradienten 2 derart bestimmt werden, dass es dem Vorzeichen des Shim-Magnetfeldes 3 entspricht.
In einigen Beispielen werden mehrere Spoilergradienten 2 in einer Raumrichtung ausgespielt, wobei die mehreren Spoilergradienten 2 das gleiche Vorzeichen wie der Shim-Gradient aufweisen.
In einigen Beispielen kann der mindestens eine Shim-Parameter eine zeitliche Änderung Shim-Magnetfeldes 3 während einer MR-Messung der MR-Anlage 1 umfassen, d.h. kann zeitlich variieren oder in anderen Worten die zeitliche Variation definieren. Der mindestens eine Spoiler-Parameter kann eine zeitliche Änderung Spoilergradienten 2 während einer MR-Messung der MR-Anlage 1 umfassen, d.h. kann zeitlich variieren, oder in anderen Worten die zeitliche Variation definieren. Der mindestens eine Shim-Parameter kann einen räumlichen Verlauf des Shim-Magnetfeldes 3 in der MR-Anlage 1 umfassen, bzw. definieren. Der mindestens eine Spoiler-Parameter kann einen räumlichen Verlauf, definiert durch Vorzeichen und/oder Stärke und/oder Steigung des Spoilergradienten 2 in der MR-Anlage 1 umfassen, bzw. definieren.
Der mindestens eine Parameter des Spoilergradienten 2 kann in Abhängigkeit von dem Shim-Magnetfeld 3, d.h. unter Verwenden des mindestens einen Shim-Parameters, derart bestimmt werden, dass sich eine verstärkende, oder in anderen Worten positive, oder konstruktive Überlagerung des Shim-Magnetfeldes 3 und des Spoilergradienten 2 im Messvolumen 4, ergibt, wodurch die unerwünschte Signale aus diesen Bereichen durch den Spoilergradienten 2 vollständig unterdrückt werden können.
In einigen Beispielen kann das Vorzeichen des Spoilergradienten 2 in einer Raumrichtung der MR-Anlage 1 in Abhängigkeit des Vorzeichens des Shimgradienten 3, in der gleichen Raumrichtung bestimmt werden, so dass das Vorzeichen des Spoilergradienten 2 und das Vorzeichen des Shimgradienten 3 in der Raumrichtung gleich sind. Dadurch weisen der Shimgradient 3 und der Spoilergradient 2, die gleiche Polarität auf, insbesondere an jedem Punkt innerhalb des Gradientensystems, so dass sie sich konstruktiv überlagern, insbesondere der Spoilergradient 2 nicht durch den Shim-Gradienten geschwächt wird.
Zum Beispiel können Spoiler-Parameter, insbesondere das Vorzeichen eines Spoilergradienten 2, in Abhängigkeit von einer Vielzahl sich überlagernder Shim-Magnetfelder 3 bestimmt werden. Dabei können die Shim-Parameter der sich überlagernden Shim-Magnetfelder 3, insbesondere das Vorzeichen des Shim-Magnetfeldes 3, oder des durch die Überlagerung resultierenden Magnetfeldes, entsprechend der oben beschriebenen Verfahren verwendet werden.
Zusammenfassend wird ein Verfahren zum shimabhängigen Bestimmen eines Spoilergradienten einer MR-Anlage bereitgestellt. Basierend auf dem Vorzeichen eines Shimgradienten in einer Raumrichtung, wird das Vorzeichen eines Spoilergradienten in der gleichen Raumrichtung derart bestimmt, dass beide Gradienten das gleiche Vorzeichen, und somit innerhalb des Gradientensystems die gleiche Polarität haben.
Erfindungsgemäß wird dadurch ein Spoilergradient derart bestimmt, dass eine ausreichende Unterdrückung unerwünschter Signale aus dem Untersuchungsobjekt ermöglicht wird, ohne den Spoilergradient stärker machen zu müssen und damit die möglicherweise einhergehenden Nachteile zu bewirken. Letztendlich können kürzere Echozeiten realisiert werden, da die Spoilergradienten mit einer optimalen, und damit minimal nötigen, Amplitude angewandt werden können.
Obwohl die Erfindung in Bezug auf bestimmte bevorzugte Ausführungsbeispiele gezeigt und beschrieben wurde, werden Äquivalente und Änderungen durch Fachleute nach dem Lesen und Verstehen der Beschreibung vorgenommen. Die vorliegende Erfindung umfasst alle derartigen Äquivalente und Änderungen und ist nur durch den Umfang der beiliegenden Ansprüche begrenzt.

Claims

Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten (2) einer MR-Anlage (1), umfassend die folgenden Schritte: - Empfangen mindestens eines Shim-Parameters, welcher ein Shim-Magnetfeld (3) zum Ausgleichen von BO-Magnetfeld-Inhomogenitäten in einem Messvolumen (4) der MR-Anlage (1) definiert; - Bestimmen mindestens eines Spoiler-Parameters, welcher einen Spoilergradienten (2) zum Löschen einer Transversal-Magnetisierung definiert, in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter; und - Anwenden des Spoilergradienten (2) in einer MR-Messsequenz der MR-Anlage (1).
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Shim-Magnetfeld (3) ein Shimgradient ist.
Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei das Shim-Magnetfeld (3) und der Spoilergradient (2) Gradienten in der gleichen Raumrichtung sind.
Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, wobei der mindestens eine Shim-Parameter ein Vorzeichen des Shim-Gradienten (3) umfasst, und wobei der mindestens eine Spoiler-Parameter ein Vorzeichen des Spoilergradienten (2) umfasst.
Verfahren nach Anspruch 4, wobei das Vorzeichen des Spoilergradienten (2) in einer Raumrichtung der MR-Anlage (1) in Abhängigkeit des Vorzeichens des Shim-Magnetfeldes (3) in der Raumrichtung bestimmt wird, so dass das Vorzeichen des Spoilergradienten (2) und das Vorzeichen des Shim-Magnetfeldes (3) in der Raumrichtung gleich sind.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Shim-Magnetfeld (3) während einer MR-Messsequenz zeitlich variiert wird, und der mindestens eine Shim-Parameter entsprechend der zeitlichen Variation des Shim-Magnetfeldes (3) bestimmt wird.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der mindestens eine Spoiler-Parameter in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter derart bestimmt wird, dass sich das Shim-Magnetfeld und der Spoilergradient in der MR-Anlage (1) konstruktiv überlagern.
MR-Anlage (1), welche ausgebildet ist, ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten (2) durchzuführen, wobei die MR-Anlage (1) eine MR-Steuereinheit (13) und eine Speichereinheit (16) aufweist, wobei die Speichereinheit (16) von der MR-Steuereinheit (13) ausführbare Steuerinformationen speichert, und wobei die MR-Anlage ausgebildet ist, bei der Ausführung der Steuerinformationen in der MR-Steuereinheit (13) folgende Schritte auszuführen: - Empfangen mindestens eines Shim-Parameters, welcher ein Shim-Magnetfeld (3) zum Ausgleichen von BO-Magnetfeld-Inhomogenitäten in einem Messvolumen (4) der MR-Anlage (1) definiert; - Bestimmen mindestens eines Spoiler-Parameters, welcher einen Spoilergradienten (2) zum Löschen einer Transversal-Magnetisierung definiert, in Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter; und - Anwenden des Spoilergradienten (2) in einer Messung der MR-Anlage (1).
MR-Anlage, welche ausgebildet ist, eines der Verfahren gemäß den Ansprüchen 2-7 durchzuführen.
Computerprogramm, das direkt in einen Speicher einer MR-Steuereinheit (13) einer MR-Anlage (1) ladbar ist und Befehle umfasst, die bei der Ausführung des Programms durch die Steuereinheit (13) der MR-Anlage (1) diese veranlassen, das Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7 durchzuführen.