DE102019133387A1

DE102019133387A1 - Test holder for a printed circuit board

Info

Publication number: DE102019133387A1
Application number: DE102019133387.3A
Authority: DE
Inventors: Christof Schmuck; Holger Koch
Original assignee: Buerkert Werke GmbH and Co KG
Current assignee: Buerkert Werke GmbH and Co KG
Priority date: 2018-12-11
Filing date: 2019-12-06
Publication date: 2020-06-18
Also published as: DE202018107066U1

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Testhalterung (1) für eine Leiterplatte (2), mit zwei relativ zueinander verstellbaren Wandelementen (14, 16), die jeweils Führungsgestaltungen (26) für eine Leiterplatte (2) aufweisen, und mindestens einer Führungsplatte (10), die an den beiden Wandelementen (14, 16) lösbar montiert ist.The invention relates to a test holder (1) for a printed circuit board (2), with two wall elements (14, 16) that can be adjusted relative to one another, each of which has guide configurations (26) for a printed circuit board (2), and at least one guide plate (10) is detachably mounted on the two wall elements (14, 16).

Description

Die Erfindung betrifft eine Testhalterung für eine Leiterplatte.The invention relates to a test holder for a printed circuit board.

Leiterplatten, die mit elektrischen und/oder elektronischen Bauteilen bestückt sind, werden oft von Hand geprüft. Dabei werden verschiedene Stellen der Leiterplatte mit Prüfspitzen, also Prüfkontakten, kontaktiert, die mit einem Messgerät verbunden sind. Hierbei liegt die Leiterplatte beispielsweise auf einem Labortisch, und die Prüfspitzen werden von einer Person von Hand auf die unterschiedlichen Kontaktstellen der Leiterplatte gedrückt.Printed circuit boards that are equipped with electrical and / or electronic components are often checked by hand. Various points on the circuit board are contacted with test probes, i.e. test contacts, which are connected to a measuring device. Here, the circuit board lies, for example, on a laboratory table, and the test probes are pressed by hand onto the different contact points of the circuit board by one person.

Das Problem hierbei besteht darin, dass bestückte Leiterplatten meist eine unebene Unterseite haben, da sich entweder auf der Unterseite Bauteile befinden oder Kontaktstifte von Bauteilen, die auf der Oberseite der Leiterplatte angeordnet und in Öffnungen der Leiterplatte eingesteckt und dort verlötet sind. Diese Kontaktstifte stehen auf der Unterseite unterschiedlich weit über. Somit liegt die Leiterplatte nicht stabil auf, sondern kann kippen und unter Umständen seitlich wegrutschen. Dies erschwert es, die Prüfspitzen auf die gewünschten Kontakte aufzusetzen.The problem here is that printed circuit boards usually have an uneven underside, since there are either components on the underside or contact pins of components that are arranged on the top of the circuit board and inserted into openings in the circuit board and soldered there. These contact pins protrude to different degrees on the underside. Thus, the circuit board is not stable, but can tip over and possibly slip away to the side. This makes it difficult to place the test probes on the desired contacts.

Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, das Durchmessen einer Leiterplatte zu erleichtern.The object of the invention is to facilitate measuring a circuit board.

Zur Lösung dieser Aufgabe ist eine Testhalterung für eine Leiterplatte vorgesehen, mit zwei relativ zueinander verstellbaren Wandelementen, die jeweils Führungsgestaltungen für eine Leiterplatte aufweisen, und mindestens einer Führungsplatte, die an den beiden Wandelementen lösbar montiert ist. Die Erfindung beruht auf dem Grundgedanken, mit den beiden relativ zueinander verstellbaren Wandelementen einen „Rahmen“ für die Leiterplatte zu schaffen, der mit geringstem Aufwand an unterschiedliche Abmessungen der Leiterplatte angepasst werden kann. Die an den Wandelementen angebrachte Führungsplatte weist geeignete Ausgestaltungen auf, mit denen die Prüfspitzen geführt werden. Dies erleichtert es dem Benutzer, die gewünschten Kontakte zu treffen.To solve this problem, a test holder for a printed circuit board is provided, with two wall elements which are adjustable relative to one another, each having guide configurations for a printed circuit board, and at least one guide plate which is detachably mounted on the two wall elements. The invention is based on the basic idea of using the two wall elements which can be adjusted relative to one another to create a “frame” for the printed circuit board, which can be adapted to different dimensions of the printed circuit board with minimal effort. The guide plate attached to the wall elements has suitable configurations with which the test probes are guided. This makes it easier for the user to make the desired contacts.

Die Führungsgestaltungen können beispielsweise aus Nuten in den Wandelementen gebildet sein, in die die Leiterplatten eingeschoben werden können, sodass sie zuverlässig fixiert sind.The guide designs can be formed, for example, from grooves in the wall elements into which the circuit boards can be inserted, so that they are reliably fixed.

Die Führungsplatten bestehen vorzugsweise aus transparentem, elektrisch isolierendem Kunststoff. Ein Benutzer kann somit durch die Führungsplatte hindurch sehr gut sehen, wo die Prüfspitzen aufgesetzt werden müssen.The guide plates are preferably made of transparent, electrically insulating plastic. A user can thus see very clearly through the guide plate where the test probes have to be placed.

Die Führungsplatte kann auch als Vergrößerungslinse ausgeführt sein, was es einem Benutzer weiter erleichtert, die gewünschten Kontakte mit den Prüfspitzen zu treffen.The guide plate can also be designed as a magnifying lens, which further makes it easier for a user to make the desired contacts with the test probes.

Vorzugsweise bestehen auch die Wandelemente aus elektrisch isolierendem Kunststoff, sodass keinerlei Gefahr eines elektrischen Kurzschlusses besteht.The wall elements are preferably also made of electrically insulating plastic, so that there is no risk of an electrical short circuit.

In den Wandelementen sind vorzugsweise Zugangsöffnungen für Anschlusskabel vorgesehen, sodass die zu testende Leiterplatte mit Strom versorgt werden kann.Access openings for connection cables are preferably provided in the wall elements, so that the circuit board to be tested can be supplied with current.

In der Führungsplatte sind gemäß einer bevorzugten Ausführungsform eine Vielzahl von nebeneinander angeordneten Aussparungen für Prüfspitzen eines Messgeräts vorgesehen. Ein Benutzer kann dann die Prüfspitze durch die jeweils am besten geeignete Aussparung hindurchstecken, wobei die Ränder der Aussparungen dazu dienen, die Prüfspitzen zu führen oder abzustützen.According to a preferred embodiment, the guide plate has a plurality of cutouts arranged next to one another for test probes of a measuring device. A user can then insert the test probe through the most suitable recess in each case, the edges of the recesses serving to guide or support the test probes.

Jedes Wandelement kann aus einem Seitenteil und einem Stirnseitenteil bestehen, die im rechten Winkel zueinander angeordnet sind. Hierdurch sind zwei L-förmige Wandelemente gebildet, bei denen die Stirnseitenteile in einem variablen Abstand voneinander angebracht werden können. Somit können Leiterplatten unterschiedlicher Größe aufgenommen werden, ohne dass die Testhalterung für jede neue Leiterplatte umgebaut werden muss.Each wall element can consist of a side part and an end part which are arranged at right angles to one another. As a result, two L-shaped wall elements are formed, in which the end face parts can be attached at a variable distance from one another. This enables PCBs of different sizes to be accommodated without having to convert the test holder for each new PCB.

Um dennoch zu ermöglichen, die Abmessungen der Testhalterung in größeren Maßstäben zu verändern und Leiterplatten unterschiedlicher Größen testen zu können, kann vorgesehen sein, dass das Seitenteil und das Stirnseitenteil miteinander lösbar verbunden sind. Dies ermöglicht es, mit Seitenteilen und Stirnseitenteilen unterschiedlicher Größe nach Art eines Baukastensystems unterschiedliche Testhalterungen zusammenzubauen. Vorzugsweise sind dabei das Seitenteil und das Stirnseitenteil miteinander verschraubt.In order nevertheless to enable the dimensions of the test holder to be changed on a larger scale and to be able to test printed circuit boards of different sizes, it can be provided that the side part and the end part are releasably connected to one another. This makes it possible to assemble different test holders with side parts and end parts of different sizes in the manner of a modular system. The side part and the end part are preferably screwed together.

Um die Wandelemente leicht relativ zueinander verstellen zu können, ist vorzugsweise in einem Stirnseitenteil eines Wandelements eine Gewindebohrung vorgesehen, in die eine Verstellschraube eingreift, die sich durch einen Längsschlitz erstreckt, der im Seitenteil des anderen Wandelements vorgesehen ist. Die Verstellschraube kann eine Knebelschraube oder eine Handschraube sein, also eine Schraube, die ein ohne Werkzeug zu greifendes und zu betätigendes Bedienende aufweist. Es ist in diesem Fall kein Werkzeug erforderlich, um die Verstellschraube so zu öffnen, dass die Wandelemente relativ zueinander auf den gewünschten Abstand gebracht werden können, und anschließend die Verstellschraube wieder zu schließen.In order to be able to easily adjust the wall elements relative to one another, a threaded bore is preferably provided in an end face part of a wall element, into which a adjusting screw engages, which extends through a longitudinal slot which is provided in the side part of the other wall element. The adjusting screw can be a toggle screw or a hand screw, that is to say a screw which has an operating end which can be gripped and operated without tools. In this case, no tools are required to open the adjusting screw in such a way that the wall elements can be brought to the desired distance relative to one another, and then to close the adjusting screw again.

Die Führungsgestaltungen der Wandelemente sind vorzugsweise durch Nuten gebildet, die sich auf dem Seitenteil und dem Stirnseitenteil befinden und ineinander übergehen. Hierdurch ist es möglich, die Leiterplatten nicht nur entweder in den einander gegenüberliegenden Nuten der Seitenteile oder der Stirnseitenteile zu führen, sondern in allen vier Bauteilen. The guide designs of the wall elements are preferably formed by grooves which are located on the side part and the end part and merge into one another. This makes it possible not only to guide the printed circuit boards either in the mutually opposite grooves of the side parts or the front side parts, but in all four components.

Gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Seitenteile der beiden Wandelemente identisch miteinander ausgeführt sind und dass die Stirnseitenteile der beiden Wandelemente identische miteinander ausgeführt sind. Hierdurch wird die Anzahl an unterschiedlichen Bauteilen verringert, die für die Testhalterung erforderlich sind.According to an embodiment of the invention, it is provided that the side parts of the two wall elements are designed identically to one another and that the end parts of the two wall elements are designed identically to one another. This reduces the number of different components that are required for the test holder.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand einer Ausführungsform beschrieben, die in den beigefügten Zeichnungen dargestellt ist. In diesen zeigen:

- 1 in einer perspektivischen Ansicht eine Testhalterung mit darin aufgenommener Leiterplatte und einer Prüfspitze; und
- 2 in einer perspektivischen Ansicht eine Testhalterung, wobei ein Wandelement entfernt wurde.

The invention is described below with reference to an embodiment which is illustrated in the accompanying drawings. In these show:

- 1 a perspective view of a test holder with the circuit board accommodated therein and a test probe; and
- 2nd a perspective view of a test holder, wherein a wall element has been removed.

In den 1 und 2 ist eine Testhalterung 1 gezeigt, in der eine Leiterplatte 2 aufgenommen werden kann, um sie zu testen. „Testen“ bedeutet hierbei, dass einzelne der Kontakte oder Leiter 3 der Leiterplatte 2 mit Prüfspitzen 4 (in 1 ist lediglich eine einzige dargestellt) kontaktiert werden, um anhand der erhaltenen Messwerte überprüfen zu können, ob Bauteile in der gewünschten Weise arbeiten und/oder in der gewünschten Weise elektrisch kontaktiert sind.In the 1 and 2nd is a test holder 1 shown in the a circuit board 2nd can be included to test them. “Testing” here means that some of the contacts or conductors 3rd the circuit board 2nd with test probes 4th (in 1 only one is shown) can be contacted in order to be able to check on the basis of the measured values obtained whether components work in the desired manner and / or are electrically contacted in the desired manner.

Die Testhalterung 1 dient allgemein ausgedrückt dafür, die Leiterplatte 2 in einer definierten Position zu halten, sodass die Prüfspitzen 4 möglichst einfach auf die Kontakte, Leiterbahnen und/oder Bauteile geführt werden können. Die Testhalterung 1 nimmt dabei die Leiterplatte 2 in ihrem Inneren auf so auf, dass die Unterseite der Leiterplatte frei ist.The test holder 1 Generally speaking, serves the circuit board 2nd hold in a defined position so that the test probes 4th can be guided as easily as possible onto the contacts, conductor tracks and / or components. The test holder 1 takes the circuit board 2nd inside so that the bottom of the circuit board is free.

An der Testhalterung 1 ist mindestens eine und hier zwei Führungsplatten 10 vorgesehen, in denen mehrere nebeneinanderliegende Ausnehmungen 12 ausgebildet sind, durch die hindurch dann die Prüfspitzen 4 auf die zu kontaktierenden Stellen der Leiterplatte geführt werden können.On the test holder 1 is at least one and here two guide plates 10th provided in which several adjacent recesses 12 are formed, through which the test probes 4th can be guided to the points of the circuit board to be contacted.

Die Führungsplatten 10 bilden hier die Oberseite und die Unterseite der Testhalterung. Die vier Seitenwände sind gebildet durch zwei L-förmige Wandelemente, die jeweils aus einem Seitenteil 14 und einem Stirnseitenteil 16 bestehen. Jeweils ein Seitenteil 14 und ein Stirnseitenteil 16 sind lösbar miteinander verbunden. Im gezeigten Ausführungsbeispiel werden hierfür zwei Schrauben 18 verwendet.The guide plates 10th here form the top and bottom of the test holder. The four side walls are formed by two L-shaped wall elements, each consisting of a side part 14 and a front part 16 consist. One side part each 14 and a front part 16 are releasably connected. In the exemplary embodiment shown, two screws are used for this 18th used.

Die beiden L-förmigen Wandelemente, gebildet durch die miteinander verbundenen Bauteile 14, 16, werden so aneinandergesetzt, dass sie einen Raum mit rechteckiger Grundfläche umgeben. Um die Wandelemente 14, 16 aneinander zu befestigen, ist in jedem Stirnseitenteil 16 auf der Seite, die entgegengesetzt zu den Schraubenlöchern für die Schrauben 18 sind, eine Gewindebohrung 20 vorgesehen, in die eine Verstellschraube 22 eingeschraubt werden kann.The two L-shaped wall elements, formed by the interconnected components 14 , 16 , are put together so that they surround a room with a rectangular base. Around the wall elements 14 , 16 to be attached to each other is in each end part 16 on the side opposite to the screw holes for the screws 18th are a threaded hole 20th provided in the one adjusting screw 22 can be screwed in.

Die Verstellschraube 22 erstreckt sich durch einen Längsschlitz 24 hindurch, sodass das entsprechende Seitenteil 14, wenn die Verstellschraube 22 angezogen wird, gegen das Stirnseitenteil 16 des anderen Wandelements gespannt wird.The adjustment screw 22 extends through a longitudinal slot 24th through so that the corresponding side panel 14 when the adjusting screw 22 is tightened against the front part 16 the other wall element is tensioned.

Die Verstellschrauben 22 haben einen Handgriff oder eine ähnliche Gestaltung am Kopf, sodass sie von Hand geöffnet und auch wieder geschlossen werden können.The adjustment screws 22 have a handle or a similar design on the head so that they can be opened and closed by hand.

Weiterhin hat die Verstellschraube 22 angrenzend an den Handgriff einen kurzen gewindefreien Schaft, so dass der Längsschlitz 24 nicht beschädigt wird.Furthermore, the adjustment screw 22 a short thread-free shaft adjacent to the handle, so that the longitudinal slot 24th is not damaged.

Wenn die beiden Verstellschrauben 22 geöffnet sind, können die Wandelemente 14, 16 relativ zueinander verschoben werden, wodurch der Abstand der Stirnseitenteile 16 voneinander eingestellt wird.If the two adjusting screws 22 are open, the wall elements 14 , 16 can be moved relative to each other, causing the distance between the end parts 16 is set from each other.

Die Seitenteile 14 und die Stirnseitenteile 16 sind auf ihrer zum Innenraum der Testhalterung hin gewandten Seite mit Führungsgestaltungen 26 versehen. Diese sind hier als Nuten ausgeführt, die parallel zu den längeren Seitenrändern der Seitenteile 14 ausgeführt sind. Die Nuten 26 in den Stirnseitenteilen 16 erstrecken sich dabei jeweils auf demselben Niveau wie die Nuten 26 der Seitenteile 14, sodass, wenn die Testhalterung geschlossen ist, auf verschiedenen Niveaus innerhalb der Testhalterung jeweils vollständig umlaufende Nuten gebildet sind. Die Breite der Nuten ist mindestens so groß wie die übliche Dicke einer Leiterplatte.The side parts 14 and the front parts 16 are on their side facing the interior of the test holder with guide designs 26 Mistake. These are designed as grooves that are parallel to the longer side edges of the side parts 14 are executed. The grooves 26 in the front parts 16 each extend at the same level as the grooves 26 of the side parts 14 , so that when the test holder is closed, completely circumferential grooves are formed at different levels within the test holder. The width of the grooves is at least as large as the usual thickness of a printed circuit board.

Die Seitenteile 14 sind höher ausgeführt als die Stirnseitenteile 16, sodass die Seitenteile 14 oben und unten über die Stirnseitenteile 16 hinausstehen. Im überstehenden Bereich sind zwei Einschubnuten 28 vorgesehen, in die die Führungsplatten 10 eingeschoben werden können.The side parts 14 are higher than the front parts 16 so that the side panels 14 above and below over the front parts 16 stand out. In the protruding area there are two slots 28 provided in which the guide plates 10th can be inserted.

Jedes Seitenteil 14 ist mit mehreren Zugangsöffnungen 30 versehen, durch die Anschlusskabel in das Innere der Testhalterung 1 hineingeführt werden können.Every side part 14 is with multiple access openings 30th provided, through the connection cable into the interior of the test holder 1 can be introduced.

Die Führungsplatten 10, die Seitenteile 14 und die Stirnseitenteile 16 bestehen aus elektrisch isolierendem Kunststoff. Die Führungsplatten 10 sind vorzugsweise transparent, sodass ein Benutzer die im Inneren der Testhalterung angeordnete Leiterplatte sehen kann. Es ist auch möglich, dass die Führungsplatte 10 nach Art einer Lupe mit Vergrößerungsfunktion ausgeführt ist.The guide plates 10th who have favourited side panels 14 and the front parts 16 consist of electrically insulating plastic. The guide plates 10th are preferably transparent so that a user can see the circuit board located inside the test holder. It is also possible that the guide plate 10th is designed like a magnifying glass with a magnifying function.

Die Testhalterung 1 kann durch Austausch der Stirnseitenteile 16 an unterschiedlich breite Leiterplatten angepasst werden. In Längsrichtung erfolgt eine Anpassung der Testhalterung dadurch, dass die Stirnseitenteile 16 unterschiedlich weit aufeinander zugeschoben werden und anschließend die Verstellschraube 22 festgezogen wird.The test holder 1 can be done by replacing the front parts 16 can be adapted to PCBs of different widths. The test holder is adjusted in the longitudinal direction in that the end parts 16 are pushed towards each other at different distances and then the adjusting screw 22 is tightened.

Es ist nicht notwendig, für jede Leiterplatte ein individuell angepasstes Stirnseitenteil 16 zu verwenden. Voraussetzung zur Aufnahme der Leiterplatte 2 ist lediglich, dass die Leiterplatte 2 nicht breiter als die Stirnseitenteile 16 ist. Falls sie schmäler ist, kann sie in den Nuten 26 der Stirnseitenteile 16 aufgenommen werden, während sie entweder von beiden Seitenteilen 14 beabstandet ist oder so weit seitlich verschoben ist, dass sie auf einer Seite von den Nuten 26 des entsprechenden Seitenteils 14 gestützt wird.It is not necessary to have an individually adapted front part for each circuit board 16 to use. Prerequisite for mounting the circuit board 2nd is just that the circuit board 2nd not wider than the front parts 16 is. If it is narrower, it can be in the grooves 26 of the front parts 16 can be included while either side panels 14 is spaced or laterally displaced so far that it is on one side of the grooves 26 of the corresponding side part 14 is supported.

Um eine Leiterplatte 2 in die Testhalterung einzubringen, wird mindestens eine Führungsplatte 10 entfernt, und die beiden Stirnseitenteile 16 werden so weit auseinandergeschoben, dass die Leiterplatte 2 in das Innere der Testhalterung 1 eingesetzt werden kann. Dabei kann die Testhalterung 1 auf eines der Seitenteile 14 gekippt werden, sodass die Leiterplatte in die dort vorgesehenen Nuten 26 eingesetzt werden kann und anschließend in die eine oder andere Richtung so weit verschoben wird, bis sie auch in die Nuten 26 eines Stirnseitenteils 16 eingreift. Anschließend werden die beiden Verstellschrauben 22 festgezogen, und die Führungsplatte 10 wird wieder eingeschoben. Anschließend können die zu prüfenden Kontakte, Leiterbahnen und/oder Bauteile mit den Prüfspitzen 4 kontaktiert werden, die durch die Ausnehmungen 12 hindurch auf die Leiterplatte gedrückt werden können. Dabei dienen die Ränder der Ausnehmungen 12 dazu, die Prüfspitzen 4 zu führen.To a circuit board 2nd at least one guide plate 10th removed, and the two front parts 16 are pushed so far apart that the circuit board 2nd inside the test holder 1 can be used. The test holder 1 on one of the side parts 14 be tilted so that the circuit board into the grooves provided there 26 can be used and then moved in one or the other direction until it also in the grooves 26 of a front part 16 intervenes. Then the two adjustment screws 22 tightened, and the guide plate 10th is inserted again. The contacts, conductor tracks and / or components to be tested can then be connected to the test probes 4th to be contacted by the recesses 12 can be pressed onto the circuit board. The edges of the recesses serve here 12 to the test probes 4th respectively.

Claims

Test holder (1) for a printed circuit board (2), with two wall elements (14, 16) which are adjustable relative to one another, each having guide configurations (26) for a printed circuit board (2), and at least one guide plate (10) attached to the two wall elements (14, 16) is detachably mounted.

Test holder after Claim 1 , characterized in that the guide designs (26) are formed from grooves in the wall elements (14, 16).

Test holder according to one of the preceding claims, characterized in that the wall elements (14, 16) are provided with an insertion groove (28) for the guide plate (10).

Test holder according to one of the preceding claims, characterized in that the guide plate (10) consists of transparent, electrically insulating plastic.

Test holder after Claim 4 , characterized in that the guide plate (10) is designed as a magnifying lens.

Test holder according to one of the preceding claims, characterized in that the wall elements (14, 16) consist of electrically insulating plastic.

Test holder according to one of the preceding claims, characterized in that access openings (30) for connecting cables are provided in the wall elements (14, 16).

Test holder according to one of the preceding claims, characterized in that in the guide plate (10) a plurality of recesses (12) arranged next to one another are provided for test tips (4) of a measuring device.

Test holder according to one of the preceding claims, characterized in that each wall element (14, 16) consists of a side part (14) and an end part (16) which are arranged at right angles to one another.

Test holder after Claim 9 , characterized in that the side part (14) and the front side part (16) are detachably connected together.

Test holder after Claim 10 , characterized in that the side part (14) and the front side part (16) are screwed together.

Test holder according to one of the Claims 9 to 11 , characterized in that a threaded bore (20) is provided in an end face part (16) of a wall element, into which engages an adjusting screw (22) which extends through a longitudinal slot (24) provided in the side part (14) of the other wall element is.

Test holder according to one of the Claims 9 to 12 , characterized in that the guide designs (26) are formed by grooves that extend on the side part (14) and the front side part (16) are located and merge.