DE102018205722A1 - Distance measurement by reflectometry in optical waveguides - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung schafft eine Sensoranordnung zur Abstandsmessung und ein Verfahren zum Betreiben einer solchen Sensoranordnung. Zwei teilreflektierende Bereiche eines Lichtwellenleiters werden an zwei Punkten, deren Abstand zu messen ist, fixiert. Durch reflektometrische Messverfahren kann der Abstand zwischen den teilreflektierenden Bereichen und somit zwischen den beiden Punkten präzise und akkurat gemessen werden.Hierzu ist die Sensoranordnung ausgebildet mit: einem Lichtwellenleiter (20) mit einer ersten partiellen Lichtreflektoreinrichtung (21) und einer zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung (22), welcher zwischen der ersten Position und der zweiten Position vorgespannt ist;einer Lichteinleitungseinrichtung (12) zum Einleiten von intensitätsmoduliertem Licht in den Lichtwellenleiter (20); undeiner Auswerteeinrichtung (19) zum Bestimmen eines Frequenzspektrums von an der ersten und der zweiten partielle Lichtreflektoreinrichtung (21, 22) reflektiertem Licht;wobei die Auswerteeinrichtung (19) ferner dazu ausgelegt ist,ein Ausgabesignal basierend auf dem bestimmten Frequenzspektrum auszugeben.The invention provides a sensor arrangement for distance measurement and a method for operating such a sensor arrangement. Two partial reflecting portions of an optical waveguide are fixed at two points whose distance is to be measured. By means of reflectometric measuring methods, the distance between the partially reflecting areas and thus between the two points can be measured precisely and accurately. For this purpose, the sensor arrangement is formed with: an optical waveguide (20) having a first partial light reflector device (21) and a second partial light reflector device (22) biased between the first position and the second position; light introducing means (12) for introducing intensity-modulated light into the optical waveguide (20); andan evaluation device (19) for determining a frequency spectrum of light reflected at the first and second partial light reflector means (21, 22); wherein the evaluation means (19) is further adapted to output an output signal based on the determined frequency spectrum.
Description
Technisches Gebiet der ErfindungTechnical field of the invention
Die Erfindung betrifft eine Sensoranordnung zu Abstandsmessung mittels Reflektometrie in Lichtwellenleitern sowie ein Verfahren zum Betreiben einer Sensoranordnung zur Abstandsmessung mittels Reflektometrie in Lichtwellenleitern.The invention relates to a sensor arrangement for distance measurement by means of reflectometry in optical waveguides and to a method for operating a sensor arrangement for distance measurement by means of reflectometry in optical waveguides.
Stand der TechnikState of the art
In vielen industriellen und energietechnischen Anwendungen müssen Abstände berührungslos und sehr präzise gemessen werden. Dabei muss häufig eine relative Verschiebung von Maschinenteilen im Betrieb relativ zueinander bestimmt werden. Insbesondere in schwer zugänglichen Bereichen, bei hohen Temperaturen und bei Maschinenteilen auf Hochspannungspotenzial stoßen konventionelle elektrische Sensoren auf der Basis z.B. kapazitiver oder induktiver Messprinzipien an ihre Grenzen.In many industrial and energy applications, distances must be measured without contact and very precisely. Frequently, a relative shift of machine parts in operation relative to each other must be determined. In particular in hard-to-reach areas, at high temperatures and in machine parts at high-voltage potential, conventional electrical sensors based on e.g. Capacitive or inductive measuring principles to their limits.
Ein Beispiel für solche Messmethoden ist eine Verschiebung einer Statorwicklung einer großen elektrischen Maschine gegen ein Gehäuse bzw. gegen ein Blechpaket. In solchen Situationen müssen mitunter bei absoluten Abständen von 10 Metern in Messbereichen von +/- 20 Millimetern Verschiebungen mit Auflösungen von +/- 10 Mikrometern gemessen werden können.An example of such measuring methods is a displacement of a stator winding of a large electric machine against a housing or against a laminated core. In such situations it may sometimes be necessary to measure displacements with resolutions of +/- 10 micrometres at absolute distances of 10 meters in measuring ranges of +/- 20 millimeters.
Bekannt sind verschiedene optische Technologien zur Abstandsmessung. Optische Triangulationssensoren sind vergleichsweise genau und für verschiedene Messebereiche erhältlich, weisen jedoch Nachteile in rauen Umgebungen auf, da die optoelektronische Sende- und Empfangselektronik mitunter empfindlich gegenüber äußeren Einflüssen ist. Zudem ist der Sensorkopf solche Triangulationssensoren relativ groß.Various optical technologies for distance measurement are known. Optical triangulation sensors are comparatively accurate and available for various measuring ranges, but have disadvantages in harsh environments, since the optoelectronic transmitting and receiving electronics is sometimes sensitive to external influences. In addition, the sensor head such triangulation sensors is relatively large.
Bekannte Verfahren zur interferometrischen Abstandsmessung sind häufig sehr aufwändig und können keine absoluten, sondern nur relative Messungen durchführen.Known methods for interferometric distance measurement are often very expensive and can not perform absolute, but only relative measurements.
Weiterhin existieren Abstandssensoren, die die Laufzeit eines gerichteten Lichtpulses zwischen einem Sensor und einem Messobjekt ermitteln (optische Zeitbereichsreflektometrie, engl. „optical time domain reflectrometry“ OTDR). Für große Abstände werden teilweise laseroptische Freistrahl-Sensoren eingesetzt, welche auf interferometrischer Basis oder auf der Messung der Lichtlaufzeit basieren.Furthermore, distance sensors exist, which determine the propagation time of a directed light pulse between a sensor and a measurement object (optical time domain reflectometry, OTDR). For large distances partially laser optical free-jet sensors are used, which are based on interferometric basis or on the measurement of the light transit time.
Bekannt ist außerdem die optische Frequenzbereichsreflektormetrie (engl. „optical frequency domain reflectometry“, OFDR). OFDR arbeitet nicht wie die OTDR-Technik im Zeitbereich, sondern im Frequenzbereich. Man erhält beim OFDR-Verfahren eine Aussage über den örtlichen Temperaturverlauf, wenn das während der gesamten Messzeit detektierte Rückstreusignal als Funktion der Frequenz und somit komplex gemessen (komplexe Übertragungsfunktion) und anschließend fouriertransformiert wird.Also known is the optical frequency domain reflectometry (OFDR). OFDR does not work like the OTDR technology in the time domain but in the frequency domain. In the OFDR method, a statement about the local temperature profile is obtained if the backscatter signal detected during the entire measuring time is measured as a function of the frequency and thus complex (complex transfer function) and then Fourier-transformed.
Ein OFDR-Verfahren ist beispielsweise in der
Gegenüber den bekannten Verfahren löst die vorliegende Erfindung die Aufgabe, eine besonders akkurate und präzise Messmethode für absolute Abstände auch unter schwierigen Umweltbedingungen bereitzustellen.Compared to the known methods, the present invention solves the problem of providing a particularly accurate and accurate measurement method for absolute distances even under difficult environmental conditions.
Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gemäß einem ersten Aspekt gelöst durch eine Sensoranordnung zur Abstandsmessung, mit: einem ersten Lichtwellenleiter mit einer ersten partiellen Lichtreflektoreinrichtung an einer ersten Position innerhalb des Lichtwellenleiters und einer zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung an einer zweiten Position innerhalb des Lichtwellenleiters;
wobei der Lichtwellenleiter zumindest zwischen der ersten Position und der zweiten Position vorgespannt ist;
einer Lichteinleitungseinrichtung zum Einleiten von Licht in den Lichtwellenleiter;
einer Auswerteeinrichtung zum Bestimmen eines Frequenzspektrums von an der ersten partiellen Lichtreflektoreinrichtung reflektiertem Licht und von an der zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung reflektiertem Licht;
wobei die Auswerteeinrichtung ferner dazu ausgelegt ist, ein Ausgabesignal basierend auf dem bestimmten Frequenzspektrum auszugeben.According to a first aspect of the invention, this object is achieved by a sensor arrangement for distance measurement, comprising: a first optical waveguide having a first partial light reflector device at a first position within the optical waveguide and a second partial optical reflector device at a second position within the optical waveguide;
wherein the optical fiber is biased at least between the first position and the second position;
a light-emitting device for introducing light into the optical waveguide;
an evaluation device for determining a frequency spectrum of light reflected at the first partial light reflector means and light reflected at the second partial light reflector means;
wherein the evaluation device is further configured to output an output signal based on the determined frequency spectrum.
Unter einer partiellen Lichtreflektoreinrichtung ist ein jeglicher Bereich, oder ein jegliches Element, innerhalb eines Lichtwellenleiters, zu verstehen, welcher bzw. welches dazu in der Lage ist, in den Lichtwellenleiter eingeleitetes licht partiell, d.h. teilweise, zu reflektieren und partiell zu transmittieren.By a partial light reflector device is meant any region, or any element, within an optical waveguide capable of partially transmitting light introduced into the optical waveguide, i. partially, to reflect and to partially transmit.
Die Lichteinleitungseinrichtung kann eine Lichtquelle wie z.B. eine Laserdiode, zum Erzeugen von Licht aufweisen. Das von der Lichteinleitungseinrichtung bereitgestellte Licht ist auch als Lichtsignal, als Testsignal oder als Probesignal bezeichenbar.The light-emitting device may comprise a light source, such as a light source. a laser diode for generating light. The light provided by the light-emitting device can also be labeled as a light signal, as a test signal or as a probe signal.
Das Ausgabesignal kann insbesondere einen Abstand zwischen der ersten und der zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung indizieren, z.B. indem das Ausgabesignal eine Nachricht über einen Lichtlaufzeitunterschied oder direkt über einen Abstand trägt. Eine Auswertung des Ausgabesignals zum tatsächlichen Bestimmen des Abstands in Abstandsmessungseinheiten kann beispielsweise nachgelagert durch eine externe Berechnungseinheit erfolgen.In particular, the output signal can indicate a distance between the first and the second partial light reflector device, for example by the output signal carrying a message over a light transit time difference or directly over a distance. An evaluation of the output signal for Actual determination of the distance in distance measuring units can for example be carried out downstream by an external calculation unit.
Bei der Auswerteeinrichtung kann es sich insbesondere um einen Mikrokontroller oder ein anwendungsspezifische integrierte Schaltung („application-specific integrated circuit“, ASIC), handeln.In particular, the evaluation device may be a microcontroller or an application-specific integrated circuit (ASIC).
Weiterhin wird gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung ein Verfahren zum Betreiben einer Sensoranordnung gemäß dem ersten Aspekt der Erfindung bereitgestellt, mit den Schritten:
- - Einleiten von intensitätsmoduliertem Licht in den ersten Lichtwellenleiter;
- - Empfangen von an der ersten partiellen Lichtreflektoreinrichtung reflektiertem Licht;
- - Empfangen von an der zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung reflektiertem Licht;
- - Bestimmen eines Frequenzspektrums des von der ersten und der zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung reflektierten Lichts;
- - Bestimmen eines Abstands zwischen der ersten partiellen Lichtreflektoreinrichtung und der zweiten partiellen Lichtreflektoreinrichtung basierend auf dem bestimmten Frequenzspektrum.
- - introducing intensity-modulated light into the first optical waveguide;
- Receiving light reflected at the first partial light reflector means;
- Receiving light reflected at the second partial light reflector means;
- Determining a frequency spectrum of the light reflected by the first and second partial light reflector means;
- Determining a distance between the first partial light reflector means and the second partial light reflector means based on the determined frequency spectrum.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung sowie das erfindungsgemäße Verfahren erlauben es, einen Abstand mittels eines OFDR-Verfahrens zu bestimmen, wobei selbst bei großen absoluten Abständen kleine Abstandsveränderungen präzise und akkurat messbar sind.The device according to the invention as well as the method according to the invention make it possible to determine a distance by means of an OFDR method, wherein even with large absolute distances small changes in distance can be precisely and accurately measured.
Weitere Vorteile und Varianten ergeben sich aus den Unteransprüchen sowie aus der Beschreibung unter Bezugnahme auf die Figuren.Further advantages and variants will become apparent from the dependent claims and from the description with reference to the figures.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen umfasst die Sensoranordnung mindestens eine weitere partielle Lichtreflektoreinrichtung an mindestens einer weiteren Position innerhalb des ersten Lichtwellenleiters. Auch die reflektierten Lichtsignale dieser mindestens einen weiteren, z.B. dritten, partiellen Lichtreflektoreinrichtung, können ausgewertet und zum Bestimmen des Abstands und/oder zum Erzeugen des Ausgabesignals verwendet werden. Beispielsweise können die reflektierten Lichtsignale der mindestens einen weiteren partiellen Lichtreflektoreinrichtung zum Plausibilisieren oder zum noch genaueren Bestimmen des Abstands verwendet werden.According to some advantageous embodiments, the sensor arrangement comprises at least one further partial light reflector device at at least one further position within the first optical waveguide. Also, the reflected light signals of these at least one other, e.g. third, partial light reflector means may be evaluated and used to determine the distance and / or to generate the output signal. For example, the reflected light signals of the at least one further partial light reflector device can be used for plausibility checking or for even more accurate determination of the distance.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen ist mindestens eine der partiellen Lichtreflektoreinrichtungen als ein Luftspalt realisiert. Ein geringer Luftspalt führt zur so genannten Fresnel-Reflexion und liefert einen Rückreflex von einigen Prozent des einfallenden Lichtes bzw. Lichtsignals.According to some advantageous embodiments, at least one of the partial light reflector means is realized as an air gap. A small air gap leads to the so-called Fresnel reflection and provides a back reflection of a few percent of the incident light or light signal.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen ist mindestens eine der partiellen Lichtreflektoreinrichtungen als eine mit einem Laser eingeschriebene Struktur mit anderer Brechzahl realisiert, insbesondere als ein Faser-Bragg-Gitter ausgebildet.According to some advantageous embodiments, at least one of the partial light reflector devices is realized as a structure inscribed with a laser with a different refractive index, in particular as a fiber Bragg grating.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen ist mindestens eine der partiellen Lichtreflektoreinrichtungen als ein in den ersten Lichtwellenleiter eingespleißtes Lichtwellenleiterstück anderer Brechzahl ausgebildet.According to some advantageous embodiments, at least one of the partial light reflector means is formed as an optical waveguide piece of different refractive index spliced into the first optical waveguide.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen umfasst die Sensoranordnung ein Schutzrohr, in welchem der erste Lichtwellenleiter zumindest bereichsweise verläuft. Durch das Schutzrohr ist der Lichtwellenleiter zumindest bereichsweise gegen äußere Einflüsse geschützt. Vorteilhaft ist das Schutzrohr bei dem Aufspannen des Lichtwellenleiters mechanisch von diesem entkoppelt.According to some advantageous embodiments, the sensor arrangement comprises a protective tube, in which the first optical waveguide extends at least in regions. Through the protective tube, the optical waveguide is at least partially protected against external influences. Advantageously, the protective tube is mechanically decoupled from the optical waveguide when it is stretched open.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen weist der Lichtwellenleiter eine polymere optische Faser (engl. POF für „polymeric optical fiber“ oder auch „plastic optical fibre“) auf oder besteht aus einer oder mehreren polymeren optischen Fasern. Lichtwellenleiter aus solchen Fasern erlauben eine höhere mechanische Dehnung als Lichtwellenleiter beispielsweise aus Quarzglas.According to some advantageous embodiments, the optical waveguide comprises a polymeric optical fiber ("POF" or "plastic optical fiber") or consists of one or more polymeric optical fibers. Optical fibers made of such fibers allow a higher mechanical strain than optical fibers, for example of quartz glass.
Gemäß einigen vorteilhaften Ausführungsformen sind die Lichteinleitungseinrichtung und die Auswerteeinrichtung an eine Mehrzahl von Lichtwellenleitern mit jeweils mindestens zwei partiellen Lichtreflektoreinrichtungen an unterschiedlichen Positionen innerhalb des jeweiligen Lichtwellenleiters angeschlossen. Die Auswerteeinrichtung kann zum Bestimmen des Frequenzspektrums des an den jeweiligen partiellen Lichtreflektoreinrichtungen jedes Lichtwellenleiters reflektierten Lichts und zum Ausgeben mindestens eines darauf basierenden Ausgabesignals ausgebildet sein. Somit kann mit geringem Aufwand in Hardware eine Vielzahl von Abständen bestimmt werden. Besonders vorteilhaft sind hierbei alle partiellen Lichtreflektoreinrichtungen in unterschiedlichen absoluten optischen Abständen innerhalb der Lichtwellenleiter von der Auswerteeinrichtung angeordnet, sodass die Lichtsignale zeitmultiplext werden können.According to some advantageous embodiments, the light introduction device and the evaluation device are connected to a plurality of optical waveguides each having at least two partial light reflector devices at different positions within the respective optical waveguide. The evaluation device can be designed to determine the frequency spectrum of the light reflected at the respective partial light reflector devices of each optical waveguide and to output at least one output signal based thereon. Thus, with little effort in hardware, a plurality of distances can be determined. In this case, all partial light reflector devices in different absolute optical distances within the optical waveguides are particularly advantageously arranged by the evaluation device, so that the light signals can be time-multiplexed.
Figurenlistelist of figures
Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend anhand der in den schematischen Figuren angegebenen Ausführungsbeispiele näher erläutert. Es zeigen dabei:
-
1 ein schematisches Blockdiagramm einer Sensoranordnung gemäß einer Ausführungsform des ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung; -
2 eine schematische Schrägansicht eines Teils einer Sensoranordnung gemäß einer weiteren Ausführungsform des ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung; und -
3 ein schematisches Flussdiagramm zum Erläutern eines Verfahrens gemäß einer Ausführungsform des zweiten Aspekts der vorliegenden Erfindung.
-
1 a schematic block diagram of a sensor arrangement according to an embodiment of the first aspect of the present invention; -
2 a schematic oblique view of a portion of a sensor arrangement according to another embodiment of the first aspect of the present invention; and -
3 a schematic flowchart for explaining a method according to an embodiment of the second aspect of the present invention.
Die beiliegenden Figuren sollen ein weiteres Verständnis der Ausführungsformen der Erfindung vermitteln. Sie veranschaulichen Ausführungsformen und dienen im Zusammenhang mit der Beschreibung der Erklärung von Prinzipien und Konzepten der Erfindung. Andere Ausführungsformen und viele der genannten Vorteile ergeben sich im Hinblick auf die Zeichnungen. Die Elemente der Zeichnungen sind nicht notwendigerweise maßstabsgetreu zueinander gezeigt.The accompanying figures are intended to convey a further understanding of the embodiments of the invention. They illustrate embodiments and, together with the description, serve to explain principles and concepts of the invention. Other embodiments and many of the stated advantages will become apparent with reference to the drawings. The elements of the drawings are not necessarily shown to scale to each other.
In den Figuren der Zeichnung sind gleiche, funktionsgleiche und gleich wirkende Elemente, Merkmale und Komponenten - sofern nichts anderes ausgeführt ist - jeweils mit denselben Bezugszeichen versehen.In the figures of the drawing are the same, functionally identical and same-acting elements, features and components - unless otherwise stated - each provided with the same reference numerals.
Detaillierte Beschreibung der AusführungsbeispieleDetailed description of the embodiments
Die Sensoranordnung
In dem Lichtwellenleiter
Die beiden partiellen Lichtreflektoreinrichtungen
Wie im Voranstehenden bereits erläutert wurde, können die partiellen Lichtreflektoreinrichtungen
Die erste und die zweite partielle Lichtreflektoreinrichtung
Bevorzugt ist der Lichtwellenleiter
Die Sensoranordnung
Durch ein optisches Element
Über eine Fotodiode
Von der Auswerteeinrichtung
Nachfolgend kann die Frequenzantwort Fourier-transformiert werden um eine Ergebnis in der Zeitdomäne bzw. Zeitbereichsinformationen zu erhalten, welches wiederum einen Rückschluss auf den Abstand L der partiellen Lichtreflektoreinrichtungen
Einer oder mehrere der oben beschriebenen Schritte können optional auch durch ein Endgerät
Es versteht sich, dass die Sensoranordnung
In diesem Falle ist es vorteilhaft, wenn alle partiellen Lichtreflektoreinrichtungen unterschiedliche absolute optische Abstände zu der Auswerteeinrichtung
Die mehreren Lichtwellenleiter
Die Sensoranordnung
In
Das Verfahren gemäß
In einem Schritt
In einem Schritt
In einem Schritt
In einem Schritt
In der vorangegangenen detaillierten Beschreibung sind verschiedene Merkmale zur Verbesserung der Stringenz der Darstellung in einem oder mehreren Beispielen zusammengefasst worden. Es sollte dabei jedoch klar sein, dass die obige Beschreibung lediglich illustrativer, keinesfalls jedoch beschränkender Natur ist. Sie dient der Abdeckung aller Alternativen, Modifikationen und Äquivalente der verschiedenen Merkmale und Ausführungsbeispiele. Viele andere Beispiele werden dem Fachmann aufgrund seiner fachlichen Kenntnisse in Anbetracht der obigen Beschreibung sofort und unmittelbar klar sein.In the foregoing detailed description, various features have been summarized to improve the stringency of the illustration in one or more examples. It should be understood, however, that the above description is merely illustrative and not restrictive in nature. It serves to cover all alternatives, modifications and equivalents of the various features and embodiments. Many other examples will be immediately and immediately apparent to one of ordinary skill in the art, given the skill of the art in light of the above description.
Die Ausführungsbeispiele wurden ausgewählt und beschrieben, um die der Erfindung zugrundeliegenden Prinzipien und ihre Anwendungsmöglichkeiten in der Praxis bestmöglich darstellen zu können. Dadurch können Fachleute die Erfindung und ihre verschiedenen Ausführungsbeispiele in Bezug auf den beabsichtigten Einsatzzweck optimal modifizieren und nutzen.The exemplary embodiments have been selected and described in order to represent the principles underlying the invention and their possible applications in practice in the best possible way. As a result, those skilled in the art can optimally modify and utilize the invention and its various embodiments with respect to the intended use.
Ein einfacher Gedanke der Erfindung kann wie folgt zusammengefasst werden: Zwei teilreflektierende Bereiche eines Lichtwellenleiters werden an zwei Punkten, deren Abstand zu messen ist, fixiert. Durch reflektometrische Messverfahren kann der Abstand zwischen den teilreflektierenden Bereichen und somit zwischen den beiden Punkten präzise und akkurat gemessen werden.A simple idea of the invention can be summarized as follows: Two partial reflecting areas of an optical waveguide are fixed at two points whose distance is to be measured. Reflectometric measuring methods allow a precise and accurate measurement of the distance between the partially reflecting areas and thus between the two points.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 1010
- Sensoranordnungsensor arrangement
- 1212
- LichteinleitungseinrichtungLight introducing means
- 1313
- Laserdiodelaser diode
- 1414
- LichtmodulationseinrichtungLight modulator device
- 1616
- optisches Elementoptical element
- 1818
- Diodediode
- 1919
- Auswerteeinrichtungevaluation
- 2020
- erster Lichtwellenleiterfirst optical fiber
- 2121
- erste Lichtreflektoreinrichtungfirst light reflector device
- 2222
- zweite Lichtreflektoreinrichtungsecond light reflector means
- 3131
- erste Fixierungseinrichtungfirst fixing device
- 3232
- zweite Fixierungseinrichtungsecond fixing device
- 4040
- Schutzrohrthermowell
- 5050
- Endgerätterminal
- S10S10
- Einleiten eines LichtsignalsInitiate a light signal
- S11S11
- Erzeugen von LichtGenerating light
- S12S12
- Intensitätsmodulieren von LichtIntensity modulating light
- S20S20
- Empfangen von reflektiertem LichtReceiving reflected light
- S30S30
- Empfangen von reflektiertem LichtReceiving reflected light
- S40S40
- Bestimmen des FrequenzspektrumsDetermining the frequency spectrum
- S50S50
- Bestimmen eines AbstandsDetermining a distance
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- US 7515276 B2 [0008]US 7515276 B2 [0008]
Claims (10)
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---|---|---|---|
DE102018205722.2A DE102018205722A1 (en) | 2018-04-16 | 2018-04-16 | Distance measurement by reflectometry in optical waveguides |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE102018205722.2A DE102018205722A1 (en) | 2018-04-16 | 2018-04-16 | Distance measurement by reflectometry in optical waveguides |
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DE102018205722.2A Withdrawn DE102018205722A1 (en) | 2018-04-16 | 2018-04-16 | Distance measurement by reflectometry in optical waveguides |
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---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110823262A (en) * | 2019-11-26 | 2020-02-21 | 电子科技大学 | High-sensitivity fiber grating sensing method and system based on light quantum technology |
Citations (3)
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US7515276B2 (en) | 2006-07-26 | 2009-04-07 | Luna Innovations Incorporated | High resolution interferometric optical frequency domain reflectometry (OFDR) beyond the laser coherence length |
DE102009058520A1 (en) * | 2009-12-16 | 2011-06-30 | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 12205 | Apparatus and method for rapid strain measurement |
-
2018
- 2018-04-16 DE DE102018205722.2A patent/DE102018205722A1/en not_active Withdrawn
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