DE102017125173A1

DE102017125173A1 - Method for checking the function of a plurality of pulse-width-modulatedly controlled light sources

Info

Publication number: DE102017125173A1
Application number: DE102017125173.1A
Authority: DE
Inventors: Kevin Fritz
Original assignee: Preh GmbH
Current assignee: Preh GmbH
Priority date: 2017-10-26
Filing date: 2017-10-26
Publication date: 2019-05-02
Anticipated expiration: 2037-10-27
Also published as: DE102017125173B4

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Funktionsüberprüfung mehrerer Lichtquellen (L1, L2,...L7) mit den folgenden Schritten:Bereitstellen mehrerer Lichtquellen (L1, L2,...L7), die elektrisch parallel verschaltet aus einer Spannungsquelle (U) mittels eines Speisestroms gemeinsam gespeist werden;Bereitstellen jeweils einer Ansteuerelektronik (A1, A2,... A7) pro Lichtquelle (L1, L2,..L7); Erzeugen jeweils eines pulsweitenmodulierten Steuersignals (S1, S2,..S7) für die zugehörige Ansteuerelektronik (A1, A2,..A7), um die zugehörige Lichtquelle (L1, L2,..L7) mittels der jeweiligen Ansteuerelektronik (A1, A2,..A7) pulsweitenmoduliert mit einer Spannung der Spannungsquelle (U) zu beaufschlagen, wobeiwenigstens ein die Zeitverläufe aller Steuersignale (S1, S2,..S7) betreffendes spezifisches Diagnosezeitfenster vorgesehen ist, während dessen die Steuersignale (S1, S2,..S7) so gewählt sind, dass ausschließlich eine spezifische Lichtquelle aller Lichtquellen (L1, L2,..L7) mit Spannung der Spannungsquelle (U) beaufschlagt wird;Ermitteln, ob im spezifischen Diagnosezeitfenster jeweils der Speisestrom vorliegt, um einen Defekt der spezifischen Lichtquelle auszuschließen.The invention relates to a method for checking the function of a plurality of light sources (L1, L2,... L7) by providing a plurality of light sources (L1, L2,... L7) electrically connected in parallel from a voltage source (U) by means of a Supplying a respective drive electronics (A1, A2, ... A7) per light source (L1, L2, .. L7); Generating in each case a pulse-width-modulated control signal (S1, S2,... S7) for the associated control electronics (A1, A2,... A7) in order to generate the associated light source (L1, L2,... L7) by means of the respective control electronics (A1, A2, ..A7) pulse width modulated with a voltage of the voltage source (U) to act, at least one of the time courses of all control signals (S1, S2, .. S7) specific diagnostic window is provided, during which the control signals (S1, S2, .. S7) are selected so that only one specific light source of all light sources (L1, L2, .. L7) is supplied with voltage of the voltage source (U), determining whether in the specific diagnostic time window in each case the supply current is present in order to exclude a defect of the specific light source.

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Funktionsüberprüfung mehrerer Lichtquellen. Bisher wurden durch einen Controller gesteuerte Lichtquellen, die aus einer gemeinsamen Spannungsquelle parallelgeschaltet gespeist werden, auf Funktion überwacht, indem der aus dem Speisestrom abgezweigte, der einzelnen Lichtquelle zugeführte Teilstrom jeweils durch einen zugehörigen Controller überwacht wird oder sämtliche Teilströme mittels eines Controller mit einer der Anzahl von Lichtquellen entsprechenden Signaleingängen überwacht werden. Der damit verbundene schaltungstechnische Aufwand ist vergleichsweise hoch beziehungsweise die Controller sind vergleichsweise teuer beziehungsweise deren Auslegung, insbesondere die Anzahl der zur Verfügung stehenden Signaleingänge, ist nicht mit der Anzahl von Lichtquellen zu skalieren.The present invention relates to a method for functional testing of multiple light sources. So far, controlled by a controller light sources, which are fed in parallel from a common voltage source, monitored on function by the diverted from the supply current, the individual light source supplied partial stream is monitored in each case by an associated controller or all partial streams by means of a controller with one of the number monitored by light sources corresponding signal inputs. The associated circuitry complexity is comparatively high or the controllers are comparatively expensive or their design, in particular the number of available signal inputs, can not be scaled with the number of light sources.

Der Erfinder hat sich daher die Aufgabe gestellt, eine Verfahren zur Verfügung zu stellen, mit dem konstruktiv vereinfacht eine Funktionsüberprüfung durchgeführt werden kann, bei dem insbesondere die Funktion der Lichtquellen mit Hinblick auf die betriebsbedingt vorgesehene Lichtsteuerung und die Lichtabstrahlung möglichst nicht beeinträchtigt wird.The inventor has therefore set itself the task of providing a method with which constructively simplifies a function check can be performed, in which in particular the function of the light sources with respect to the operationally provided light control and the light emission is not affected as possible.

Vor diesem Hintergrund schafft die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur konstruktiv vereinfachten Funktionsüberprüfung mehrerer, pulsweitenmoduliert gespeister Lichtquellen. Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Eine gleichermaßen vorteilhafte Schaltung sowie eine zugehörige Verwendung sind Gegenstand der nebengeordneten Ansprüche. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind jeweils Gegenstand der abhängigen Ansprüche. Es ist darauf hinzuweisen, dass die in den Patentansprüchen einzeln aufgeführten Merkmale in beliebiger, technologisch sinnvoller Weise miteinander kombiniert werden können und weitere Ausgestaltungen der Erfindung aufzeigen. Die Beschreibung, insbesondere im Zusammenhang mit den Figuren, charakterisiert und spezifiziert die Erfindung zusätzlich.Against this background, the present invention provides a method for structurally simplified functional testing of a plurality of pulse width modulated light sources. According to the invention this object is achieved by a method having the features of claim 1. An equally advantageous circuit and an associated use are the subject of the independent claims. Advantageous embodiments are the subject of the dependent claims. It should be noted that the features listed individually in the claims can be combined with each other in any technologically meaningful manner and show further embodiments of the invention. The description, in particular in connection with the figures, additionally characterizes and specifies the invention.

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Funktionsüberprüfung mehrerer Lichtquellen, insbesondere mehrerer Leuchtdioden, wie Leuchtdioden in SMD-Bauart. Das Verfahren weist den Schritt des Bereitstellens mehrerer Lichtquellen auf, wobei die Lichtquellen elektrisch parallel verschaltet sind, um aus einer Spannungsquelle, insbesondere einer Gleichspannungsquelle, mittels eines Speisestroms gemeinsam gespeist zu werden. In einem weiteren Bereitstellungsschritt wird jeweils eine Ansteuerelektronik pro Lichtquelle bereitgestellt. In einem Schritt des Erzeugens wird pro Lichtquelle jeweils ein pulsweitenmoduliertes Steuersignal für die zugehörige Ansteuerelektronik, beispielsweise durch einen Controller erzeugt, um die zur jeweiligen Ansteuerelektronik gehörige Lichtquelle pulsweitenmoduliert mit einer Spannung der Spannungsquelle zu beaufschlagen.The invention relates to a method for functional testing of a plurality of light sources, in particular a plurality of light emitting diodes, such as light emitting diodes in SMD type. The method comprises the step of providing a plurality of light sources, wherein the light sources are electrically connected in parallel in order to be fed jointly from a voltage source, in particular a DC voltage source, by means of a feed current. In a further provision step, one control electronics per light source is provided in each case. In a step of generating, in each case one pulse-width-modulated control signal for the associated drive electronics, for example, generated by a controller, to pulse-modulated to the respective drive electronics associated light source with a voltage of the voltage source.

Erfindungsgemäß ist dabei wenigstens ein die Zeitverläufe aller Steuersignale betreffendes, spezifisches Diagnosezeitfenster vorgesehen. Die Steuersignale sind während dieses spezifischen Diagnosezeitfensters so ausgebildet, dass ausschließlich eine spezifische Lichtquelle aus allen Lichtquellen mit Spannung der Spannungsquelle beaufschlagt wird. Innerhalb des spezifischen Diagnosezeitfensters wird in einem Ermittlungsschritt ermittelt, ob in dem spezifischen Diagnosezeitfenster jeweils der Speisestrom auftritt, um einen Defekt der spezifischen Lichtquelle auszuschließen. Es wird also wenigstens qualitativ bei Vorliegen des zur Speisung aller Lichtquellen vorgesehenen Speisestroms auf die Funktion der spezifischen Lichtquelle geschlossen, da diese im Wesentlichen ausschließlich die gemeinsame Spannungsquelle belastet. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren kann somit zur Funktionsüberprüfung der spezifischen Lichtquelle auf eine Teilstrommessung unmittelbar an der spezifischen Lichtquelle zu deren Funktionsüberprüfung zugunsten einer vergleichsweise einfachen Strommessung im Stromzuführungskreis, d.h. in der alle Lichtquellen speisenden Leitung, verzichtet werden. Darüber hinaus lässt sich somit gezielt jede einzelne und in Summe alle Lichtquellen durch eine einfache Messung im Stromzuführungskreis auf Funktion überprüfen und der Defekt dahingehend lokalisieren, dass eine spezifische Leuchtdiode im Diagnosezeitfenster spezifisch adressiert und damit identifizierbar wird.According to the invention, at least one specific time window of the diagnosis of all control signals is provided. The control signals are formed during this specific diagnostic time window so that only one specific light source from all the light sources is supplied with voltage from the voltage source. Within the specific diagnostic time window, it is determined in a determination step whether the respective supply current occurs in the specific diagnostic time window in order to rule out a defect of the specific light source. It is thus closed at least qualitatively in the presence of the supply of all light sources provided for the supply current to the function of the specific light source, as this essentially exclusively loads the common voltage source. In the method according to the invention can thus for functional testing of the specific light source to a partial current measurement directly at the specific light source for their function verification in favor of a comparatively simple current measurement in the power supply circuit, i. in the all light sources feeding line, are dispensed with. In addition, it is thus possible to selectively check each individual and, in total, all the light sources by a simple measurement in the power supply circuit and localize the defect such that a specific light-emitting diode is specifically addressed in the diagnostic time window and thus identifiable.

Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung des Verfahrens sind den jeweiligen Zeitverlauf aller Steuersignale betreffende, mehrere, spezifische Diagnosefenster vorgesehen, so dass jede der Lichtquellen wenigstens einmal mit Spannung der Spannungsquelle beaufschlagt ist, um eine konstruktiv einfache Überprüfung aller Lichtquellen durchzuführen.In accordance with a preferred embodiment of the method, a plurality of specific diagnostic windows are provided for the respective time progression of all control signals, so that each of the light sources is supplied with voltage from the voltage source at least once in order to carry out a structurally simple check of all the light sources.

In einer Ausgestaltung ist beispielsweise vorgesehen, dass wenigstens zwei der spezifischen Diagnosezeitfenster, die unterschiedliche Lichtquellen betreffen, zeitlich unmittelbar aufeinander folgen. Beispielsweise ist vorgesehen, dass alle Lichtquellen in einer Abfolge von zeitlichen unmittelbar nachfolgenden Diagnosezeitfenstern auf Funktion überprüft werden.In one embodiment, it is provided, for example, that at least two of the specific diagnosis time windows, which relate to different light sources, follow one another directly in terms of time. For example, it is provided that all light sources are checked for function in a sequence of temporally immediately following diagnosis time windows.

Bevorzugt ist vorgesehen, dass die Steuersignale dieselbe Periode aufweisen, um die Ansteuerung der Lichtquellen zu vereinfachen.It is preferably provided that the control signals have the same period in order to simplify the control of the light sources.

Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung ist vorgesehen, dass wobei die Steuersignale außerhalb des oder der spezifischen Diagnosezeitfenster ausgebildet sind, mittels der zugehörigen Lichtquelle einen Schalt- oder Funktionszustand zu visualisieren, d.h. außerhalb der Diagnosezeitfenster ist eine Funktion der Visualisierung von Schalt- und Funktionszuständen gewährleistet.According to a preferred embodiment, it is provided that the control signals are outside the specific diagnostic time window or windows are designed to visualize a switching or functional state by means of the associated light source, ie a function of the visualization of switching and functional states is ensured outside the diagnostic time window.

Bevorzugt ist vorgesehen, dass die spezifischen Diagnosezeitfenster in einer der Periode der Steuersignale oder einem Mehrfachen der Periode der Steuersignale entsprechenden Abfolge vorgesehen sind. Bevorzugt ist vorgesehen, dass die Steuersignale in den Diagnosezeitfenstern so gewählt sind, dass die Lichtquellen in zyklischer Reihenfolge getestet werden.It is preferably provided that the specific diagnostic time windows are provided in a sequence corresponding to the period of the control signals or a multiple of the period of the control signals. It is preferably provided that the control signals are selected in the diagnostic time windows so that the light sources are tested in a cyclic order.

Um zu verhindern, dass sich das Diagnosefenster auf die Wahrnehmung der Lichtabstrahlung der Lichtquelle seitens eines Betrachters nachteilig als Flackern auswirkt, beträgt die Dauer des Diagnosezeitfensters maximal 10% der Periode, bevorzugt maximal 5% der Periode. Aus diesem Grund kann das Verfahren in den bestimmungsgemäßen Betrieb der Lichtquellen zur Visualisierung von Funktions- und Schaltzuständen anderer Aggregate integriert sein, und es bedarf keines zusätzlichen, vom bestimmungsgemäßen Betrieb unabhängigen Testzyklus, beispielsweise in einer Startphase oder Abschaltphase.In order to prevent the diagnostic window from adversely affecting the perception of the light emission of the light source by a viewer as a flicker, the duration of the diagnostic time window is a maximum of 10% of the period, preferably a maximum of 5% of the period. For this reason, the method can be integrated into the normal operation of the light sources for the visualization of functional and switching states of other units, and it requires no additional, independent of normal operation test cycle, for example in a start-up phase or shutdown phase.

Gemäß einer Ausgestaltung des Verfahrens unterscheiden sich wenigstens zwei Steuersignale in ihrem Tastgrad, um die Lichtabstrahlung der zugehörigen Lichtquelle anzupassen.According to one embodiment of the method, at least two control signals differ in their duty cycle in order to adapt the light emission of the associated light source.

In einer Ausgestaltung wird der Speisestrom im Diagnosezeitfenster mittels eines Messwiderstandes bestimmt, wobei optional eine quantitative Bestimmung des Speisestromes ermöglicht ist. Bevorzugt und insbesondere bei einer bevorzugt reinen qualitativen Ermittlung des Speisestromes wird dieser anhand eines Spannungsabfalls an einer Diode, bevorzugt Zenerdiode, detektiert, so dass der Stromzuführungskreis nicht zusätzlich durch eine ohmsche Last beansprucht ist.In one embodiment, the supply current is determined in the diagnostic time window by means of a measuring resistor, optionally a quantitative determination of the supply current is possible. Preferably and in particular in a preferably pure qualitative determination of the supply current of this is detected by a voltage drop across a diode, preferably Zener diode, so that the power supply circuit is not additionally claimed by a resistive load.

Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung des Verfahrens ist genau ein Controller, bevorzugt Mikrocontroller, vorgesehen, um die Schritte des Erzeugens und des Ermitteins durchzuführen. Anders ausgedrückt, es ist ein einziger Controller mit mehreren, der Anzahl an Leuchtquellen entsprechenden, Signalausgängen zur Bereitstellung der Steuersignale und wenigstens einem Signaleingang zur Zuführung des am Stromzuführungskreis abgegriffenen Potenzials zur Durchführung des Verfahrens vorgesehen. Bevorzugt ist vorgesehen, dass die Anzahl der am Controller vorgesehenen Eingänge kleiner als die Anzahl der Leuchtquellen ist. In einer Ausgestaltung weist der Mikrocontroller ferner einen Busanaschluss oder Schalteingänge auf, um beispielsweise Befehle zum Triggern der Ansteuerung der Lichtquellen zu empfangen und um beispielsweise bei der Detektion eines Defektes eine Fehlermeldung auszugeben.According to a preferred embodiment of the method, exactly one controller, preferably microcontroller, is provided in order to carry out the steps of generating and determining. In other words, a single controller is provided with a plurality of signal outputs corresponding to the number of light sources for providing the control signals and at least one signal input for supplying the potential tapped at the power supply circuit for carrying out the method. It is preferably provided that the number of inputs provided on the controller is less than the number of light sources. In one embodiment, the microcontroller further comprises a Busanaschluss or switching inputs to receive, for example, commands for triggering the control of the light sources and to output an error message, for example, in the detection of a defect.

Die Erfindung wird anhand der nachfolgenden Figuren näher erläutert. Die Figuren sind dabei nur beispielhaft zu verstehen und stellen lediglich bevorzugte Ausführungsvarianten dar. Es zeigen:

1 ein Teilschaltbild einer erfindungsgemäßen Schaltung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens;
2 ein zur 1 gehöriges Teilschaltbild der erfindungsgemäßen Schaltung.

The invention will be explained in more detail with reference to the following figures. The figures are to be understood only as an example and represent only preferred embodiments. It shows:

1 a partial circuit diagram of a circuit according to the invention for carrying out the method according to the invention;
2 one to 1 associated partial circuit diagram of the circuit according to the invention.

1 und 2 zeigen eine Ausführungsform der Schaltung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Die Schaltung umfasst mehrere als LEDs ausgebildete Leuchtquellen L1 bis L7, die parallel verschaltet aus einer gemeinsamen Spannungsquelle U gespeist werden. Die Stromentnahme der Lichtquellen L1 bis L7 und damit der sich aus dem Speisestrom aufteilende Teilstrom ist jeweils pulsweitenmoduliert. Dies wird jeweils über eine zugehörige Ansteuerelektronik A1 bis A7 erreicht. Das Schaltverhalten, wie das Tastverhalten und damit auch der Tastgrad des Teilstroms werden durch entsprechende Steuersignale S1 bis S7 eingestellt. Die pulsweitenmodulierten Steuersignale S1 bis S7 werden von einem in 2 gezeigten Mikrocontroller C generiert, um zumindest außerhalb des wenigstens einen spezifischen Diagnosezeitfensters einen von dem Controller C beispielsweise aus anderen Eingangssignalen ermittelten Funktions- oder Schaltzustand durch die zugehörige Lichtquelle L1 bis L7 zu visualisieren. 1 and 2 show an embodiment of the circuit for carrying out the method according to the invention. The circuit comprises a plurality of light sources designed as LEDs L1 to L7 connected in parallel from a common voltage source U be fed. The current drain of the light sources L1 to L7 and thus the dividing from the supply current partial current is each pulse width modulated. This is in each case via an associated control electronics A1 to A7 reached. The switching behavior, such as the tactile behavior and thus the duty cycle of the partial flow are by appropriate control signals S1 to S7 set. The pulse width modulated control signals S1 to S7 be from one in 2 shown microcontroller C generated to at least outside the at least one specific diagnostic window one of the controller C for example, determined from other input signals functional or switching state by the associated light source L1 to L7 to visualize.

Der Mikrokontroller C weist eine der Anzahl der Lichtquellen L1 bis L7 entsprechende Anzahl von Signalausgängen auf. Die Steuersignale S1 bis S7 weisen die selbe Periode auf und sind so ausgestaltet, dass mehrere spezifische Diagnosezeitfenster im Verlauf aller Steuersignale S1 bis S7 vorgesehen sind. Diese spezifischen Diagnosezeitfenster im Verlauf der Steuersignale S1 bis S7 sind so gewählt, dass jeweils lediglich eine der Lichtquellen L1 bis L7, d.h. eine spezifische Lichtquelle mit Spannung beaufschlagt, d.h. im Funktionsfall mit dem zugehörigen Teilstrom bestromt ist, während die verbleibenden aller Lichtquellen L1 bis L7 im spezifischen Diagnosezeitfenster nicht mit Spannung beaufschlagt sind. Die im spezifischen Diagnosezeitfenster erfolgende Spannungsbeaufschlagung bzw. nicht erfolgende Spannungsbeaufschlagung muss daher nicht zwingend für alle Lichtquellen dem zuvor erwähnten Funktions- oder Schaltzustand entsprechend sein.The microcontroller C indicates one of the number of light sources L1 to L7 corresponding number of signal outputs. The control signals S1 to S7 have the same period and are designed to have several specific diagnostic windows in the course of all control signals S1 to S7 are provided. These specific diagnostic windows of time in the course of the control signals S1 to S7 are chosen so that only one of the light sources L1 to L7 , ie applied to a specific light source with voltage, that is energized in the functional case with the associated partial current, while the remaining of all light sources L1 to L7 are not energized in the specific diagnostic time window. Therefore, the voltage applied in the specific diagnostic time window or non-occurring voltage application need not necessarily be the same for all light sources the aforementioned functional or switching state.

Der bei funktionierender Lichtquelle durch den Teilstrom bewirkte Spannungsabfall an der im Stromzuführungskreis befindlichen Zenerdiode Z wird durch Beaufschlagung wenigstens eines der entsprechenden Eingänge E1 bis E4 des Controllers C mit Potenzial qualitativ signalisiert und dieses Eingangssignal entsprechend durch den Controller C verarbeitet. Bei ausbleibendem Spannungsabfall wird durch den Controller C ein Defekt der im spezifischen, im spezifischen Diagnosezeitfenster überprüften Lichtquelle L1 bis L7 festgestellt und als Fehlermeldung beispielsweise an ein BUS-System übermittelt. Es sind mehrere spezifische, bevorzugt in periodischer Abfolge folgende, Diagnosezeitfenster mit Variation der zu testenden spezifischen Lichtquelle vorgesehen, bis alle Lichtquellen L1 bis L7 wenigstens einmal getestet, bevorzugt in zyklischer Abfolge mehrfach getestet wurden. Die Zeitdauer des spezifischen Diagnosezeitfensters beträgt dabei nicht mehr als 5% der Periodendauer, so dass weder das gezielte Einschalten der spezifischen Lichtquelle aus allen Lichtquellen L1 bis L7 noch das gezielte Ausschalten der verbleibenden Lichtquellen aller Lichtquellen L1 bis L7 im Diagnosezeitfenster durch das Auge eines Betrachters beispielsweise als Flackern wahrnehmbar ist.The operating voltage caused by the partial current voltage drop at the located in the power supply circuit Zener diode Z by applying at least one of the corresponding inputs E1 to E4 of the controller C with potential signaled qualitatively and this input signal accordingly by the controller C processed. In the absence of voltage drop is by the controller C a defect in the specific light source tested in the specific diagnostic window L1 to L7 determined and transmitted as an error message, for example, to a bus system. There are a plurality of specific, preferably in periodic succession following diagnostic time window provided with variation of the specific light source to be tested until all light sources L1 to L7 tested at least once, preferably in a cyclic sequence have been tested several times. The duration of the specific diagnostic time window is not more than 5% of the period, so that neither the targeted switching on the specific light source from all light sources L1 to L7 still the targeted switching off the remaining light sources of all light sources L1 to L7 in the diagnostic time window is perceived by the eye of a viewer, for example, as a flicker.

Claims

Method for checking the function of several light sources (L1, L2, ... L7) with the following steps: Providing a plurality of light sources (L1, L2, ... L7), which are electrically connected in parallel from a voltage source (U) are fed together by means of a supply current; Providing in each case one control electronics (A1, A2,... A7) per light source (L1, L2, .. L7); Generating in each case a pulse-width-modulated control signal (S1, S2,... S7) for the associated control electronics (A1, A2,... A7) in order to generate the associated light source (L1, L2,... L7) by means of the respective control electronics (A1, A2, ..A7) pulse width modulated to apply a voltage of the voltage source (U), wherein during which the control signals (S1, S2,... S7) are selected such that only one specific light source of all the light sources (L1, L2, ..L7) with voltage of the voltage source (U) is applied; Determine whether the supply current is present in the specific diagnostic time window in order to rule out a defect of the specific light source.

Method according to Claim 1 , wherein the time course of all control signals (S1, S2, .. S7) relevant, several specific diagnostic windows are provided, so that each of the light sources (L1, L2, .. L7) at least once with voltage of the voltage source (U) is applied.

Method according to the preceding claim, wherein at least two specific diagnosis time windows which relate specifically to different light sources of all light sources (L1, L2, .. L7) follow one another directly in time.

Method according to one of the preceding claims, wherein all control signals (S1, S2, .. S7) have the same period.

Method according to one of the preceding claims, wherein the control signals (S1, S2,... S7) are designed outside the specific diagnostic time window, by means of the associated light source (L1, L2, .. L7) to visualize a switching or functional state.

Method according to the preceding claim, wherein the specific diagnosis time windows are provided in a sequence corresponding to the period of the control signals or a multiple of the period of the control signals (S1, S2, .. S7).

Method according to one of the two preceding claims, wherein the duration of the diagnostic time window does not exceed 10% of the period, preferably 5% of the period, of the control signals (S1, S2, ... S7).

Method according to one of the two preceding claims, wherein at least two of the control signals (S1, S2, ... S7) differ in their duty cycle.

Method according to one of the preceding claims, wherein when determining the supply current based on a voltage drop across a diode (Z), preferably Zener diode, is detected.

Method according to one of the preceding claims, wherein exactly one controller (C) is provided to perform the steps of generating and determining.

Electrical circuit, comprising a voltage source (U), a plurality of electrically parallel to the voltage source (U) connected light sources (L1 L2, ... L7), one control electronics per light source to the respective light source by means of a pulse width modulated control signal (S1, S2 , ... S7) pulse width modulated with a voltage of the voltage source (U) to act on; a controller (C) at least for generating the plurality of control signals (S1, S2, ... S7); wherein the circuit is adapted to perform the method according to any one of the preceding claims.

Use of the electrical circuit according to the preceding claim in a motor vehicle.