DE102017101648A1 - transport ring - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 82
- 238000007142 ring opening reaction Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 7
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 4
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012821 model calculation Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
Images
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/458—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
- C23C16/4582—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
- C23C16/4583—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
- C23C16/4585—Devices at or outside the perimeter of the substrate support, e.g. clamping rings, shrouds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/46—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
- C30B25/12—Substrate holders or susceptors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68735—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by edge profile or support profile
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Transport eines Substrates in Form eines eine Ringöffnung zumindest teilweise umgebenden ringförmigen Körpers (1), mit einem bezogen auf die Ringöffnung radial auswärts ragenden ersten Abschnitt (2) und mit einem radial einwärts ragenden zweiten Abschnitt (3), wobei die Abschnitte (2, 3) jeweils Wärmetransporteigenschaften aufweisen, die bei einem bezogen auf eine Flächennormale der Fläche der Ringöffnung axialen Temperaturunterschied einen axialen Wärmetransport durch die Abschnitte bestimmen. Zumindest eine Wärmetransporteigenschaften, spezifische Wärmeleitfähigkeit oder Emissivität der Oberfläche, des ersten Abschnitts (2) ist derart von der Wärmetransporteigenschaft des zweiten Abschnitts (3) verschieden, dass die in Achsrichtung durch ein Einheitsflächenelement fließende Wärme im ersten Abschnitt (2) kleiner ist als im zweiten Abschnitt (3).The invention relates to a device for transporting a substrate in the form of an annular opening (1) at least partially surrounding an annular opening, having a first section (2) projecting radially outward relative to the ring opening and having a second section (3) projecting radially inwards the sections (2, 3) each have heat transport properties which determine an axial heat transfer through the sections in the case of a temperature difference which is axial with respect to a surface normal of the surface of the ring opening. At least one of the heat transfer properties, specific heat conductivity or surface emissivity of the first section (2) is different from the heat transfer characteristic of the second section (3) such that the heat flowing in the axial direction through a unitary surface element is smaller in the first section (2) than in the second section Section (3).
Description
Gebiet der TechnikField of engineering
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Transport eines Substrates in Form eines eine Ringöffnung zumindest teilweise umgebenden ringförmigen Körpers, mit einem bezogen auf die Ringöffnung radial auswärts ragenden ersten Abschnitt und mit einem radial einwärts ragenden zweiten Abschnitt, wobei die Abschnitte erste bzw. zweite spezifische Wärmetransporteigenschaften aufweisen, die bei einem bezogen auf eine Flächennormale der Fläche der Ringöffnung axialen Temperaturunterschied einen axialen Wärmetransport durch die Abschnitte bestimmen.The invention relates to a device for transporting a substrate in the form of an annular opening at least partially surrounding the annular body, with a respect to the ring opening radially outwardly projecting first portion and having a radially inwardly projecting second portion, said portions having first and second specific heat transfer properties that determine an axial heat transfer through the sections in a relative to a surface normal of the surface of the ring opening axial temperature difference.
Stand der TechnikState of the art
Aus der
Der Beschichtungsprozess erfolgt in einer Prozesskammer deren obere Wandung gekühlt ist, so dass sich zwischen dem beheizten Suszeptor und der Prozesskammerdecke ein steiler Temperaturgradient ausbildet. Der Temperaturgradient hat einen Wärmefluss vom Suszeptor zur Prozesskammerdecke zur Folge, wobei der Wärmefluss aufgrund der hohen Suszeptortemperatur von mehr als 500 Grad Celsius, bei einigen Prozessen auch mehr als 1000 Grad Celsius, durch Wärmestrahlung und über den Substrathalter und das darauf aufliegende Substrat auch über Wärmeleitung erfolgt.The coating process takes place in a process chamber whose upper wall is cooled, so that a steep temperature gradient is formed between the heated susceptor and the process chamber ceiling. The temperature gradient has a heat flow from the susceptor to the process chamber ceiling result, the heat flow due to the high susceptor temperature of more than 500 degrees Celsius, in some processes more than 1000 degrees Celsius, by heat radiation and on the substrate holder and the substrate resting thereon also via heat conduction he follows.
Eine ähnliche Vorrichtung wird in der
Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Transportring derart weiterzubilden, dass die auf dem Substrat abgeschiedene Schicht eine höhere laterale Homogenität bekommt.The invention is based on the object of further developing the transport ring in such a way that the layer deposited on the substrate acquires a higher lateral homogeneity.
Modellrechnungen haben ergeben, dass sich bei einer herkömmlichen Anordnung eines Transportrings in einem CVD-Reaktor der nach radial außen gerichtete erste Abschnitt zur Auflage auf Greifarmen eines Greifers auf eine niedrigere Temperatur aufheizt als der radial einwärts ragende zweite Abschnitt zum Untergreifen des Randes eines Substrates. Als Folge der Temperaturleitfähigkeit des Körpers, der den Transportring ausbildet, fließt vom zweiten Abschnitt Wärme zum ersten Abschnitt, was zur Folge hat, dass der Randbereich des Substrates eine niedrigere Oberflächentemperatur besitzt als der Zentralbereich des Substrates, der oberhalb einer nach oben weisenden Breitseitenfläche des Substrathalters angeordnet ist und insbesondere berührend auf dieser Breitseitenfläche aufliegt. Als Folge dieses Temperaturunterschiedes herrschen im Randbereich andere Wachstumsbedingungen als im Zentralbereich, was dazu führt, dass die stöchiometrische Zusammensetzung der auf dem Substrat abgeschiedenen Schicht, deren Schichtdicke oder deren Dotierung zumindest im Randbereich eine Inhomogenität aufweist. An den Transportring wird zum einen die Anforderung gestellt, im Bereich, der den Rand des Substrates trägt, eine hohe Wärmeleitfähigkeit aufzuweisen, damit vom Suszeptor bereitgestellte Wärme durch den Substrathalter und den Transportring hindurch bis in den Rand des Substrates fließt, um den Rand des Substrates auf dieselbe Temperatur aufzuheizen, auf die der Zentralbereich des Substrates aufgeheizt wird. Andererseits soll der Wärmeverlust aus dem den Rand des Substrates tragenden Abschnitt des Transportrings in Richtung zu dem Abschnitt des Transportrings, der zur Auflage auf den Greifer benötigt wird, minimal sein.Model calculations have shown that in a conventional arrangement of a transport ring in a CVD reactor, the radially outwardly directed first section to rest on gripping arms of a gripper heats up to a lower temperature than the radially inwardly projecting second section for engaging under the edge of a substrate. As a result of the thermal conductivity of the body forming the transport ring, heat flows from the second section to the first section, with the result that the edge region of the substrate has a lower surface temperature than the central region of the substrate above an upwardly facing broadside surface of the substrate holder is arranged and in particular rests touching on this broadside surface. As a consequence of this temperature difference, other growth conditions prevail in the edge region than in the central region, with the result that the stoichiometric composition of the layer deposited on the substrate, its layer thickness or its doping has an inhomogeneity at least in the edge region. On the transport ring, on the one hand, the requirement is made to have a high thermal conductivity in the region which supports the edge of the substrate so that heat provided by the susceptor flows through the substrate holder and the transport ring into the edge of the substrate around the edge of the substrate to heat to the same temperature to which the central region of the substrate is heated. On the other hand, the heat loss from the edge of the substrate carrying portion of the transport ring towards the portion of the transport ring, which is required for resting on the gripper, to be minimal.
Erfindungsgemäß sollen die Abschnitte des Körpers unterschiedliche Wärmetransporteigenschaften aufweisen. Zur Definition der Abstände wird von einer gedachten Achse ausgegangen, die sich in Richtung der Flächennormalen der vom Körper zumindest teilweise umschlossenen Fläche der Ringöffnung erstreckt. Der erste Abschnitt, der dazu dient von den Greifarmen des Greifers untergriffen zu werden, ist erfindungsgemäß ein radial auswärts ragender Abschnitt. Der zweite Abschnitt, der insbesondere eine dickenverminderte Stufe ausbildet, auf der der Rand des Substrates aufliegt, ist erfindungsgemäß ein radial einwärts ragender Abschnitt. Der Wärmetransport durch den Körper erfolgt in Achsrichtung, nämlich von einer nach unten weisenden Breitseite des Körpers in Richtung einer nach oben zur Prozesskammerdecke weisenden Breitseitenfläche des Körpers. Die Wärmetransporteigenschaften können insbesondere die spezifische Wärmeleitfähigkeit der Abschnitte oder die Emissivitäten der Oberflächen der Abschnitte sein. Erfindungsgemäß ist zumindest eine der Wärmetransporteigenschaften derart verschieden im ersten Abschnitt und im zweiten Abschnitt, dass die in Achsrichtung durch ein Einheitsflächenelement fließende Wärme im ersten Abschnitt kleiner ist als im zweiten Abschnitt. Der erste, radial auswärts angeordnete Abschnitt besitzt somit einen größeren Wärmeflusswiderstand als der zweite Abschnitt, der den Rand des Substrates in berührender Anlage stützt. Alternativ oder in Kombination dazu kann die Emissivität der Oberfläche des ersten Abschnitts kleiner sein als die Emissivität des zweiten Abschnitts. Der den Transportring ausbildende Körper kann ein Ring sein. Der ringförmige Körper kann einen geschlossenen oder einen offenen Ring ausbilden. Der erste Abschnitt kann unmittelbar an den zweiten Abschnitt angrenzen. Die Grenze zwischen dem ersten Abschnitt und dem zweiten Abschnitt kann im Bereich der Ringstufe des Substrathalters verlaufen, auf dem der ringförmige Körper aufliegt. Die Grenze kann aber auch unmittelbar oberhalb des Randes, also der Seitenfläche des Substrathalters liegen. Die Grenze kann aber auch in einem Bereich des ringförmigen Körpers liegen, der über den Rand des Substrathalters in Radialauswärtsrichtung hinausragt. In einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass der erste Abschnitt nicht unmittelbar an den zweiten Abschnitt angrenzt, sondern dass sich zwischen dem ersten Abschnitt und dem zweiten Abschnitt ein Zwischenabschnitt erstreckt. Dieser dritte Abschnitt kann dieselben Wärmetransporteigenschaften, also insbesondere denselben Wärmeflusswiderstand aufweisen, den der zweite Abschnitt, also der Abschnitt aufweist, auf dem das Substrat mit seinem Rand aufliegt. Die Grenze zwischen dem ersten Abschnitt und dem dritten Abschnitt kann auf der Ringstufe des Substrathalters liegen. Er kann auf dem Rand der Ringstufe oder radial außerhalb der Ringstufe liegen. Der erste Abschnitt überragt den Substrathalter in Radialauswärtsrichtung bevorzugt vollständig. Er ragt somit frei über eine Seitenfläche des Substrathalters, so dass er von der Oberfläche des Suszeptors strahlungsbeheizt wird. Die erfindungsgemäße Ausgestaltung des Transportrings hat die Folge, dass das Entweichen von Energie in Form von Wärme aus dem ringförmigen Körper gegenüber dem Stand der Technik vermindert wird. Der oben geschilderte Abkühlungseffekt wird dadurch reduziert mit der Folge, dass die Randtemperatur des Substrates weniger stark von der Zentraltemperatur des Substrates abweicht. Die verminderte Wärmeleitfähigkeit führt dazu, dass weniger Wärme vom zweiten Abschnitt, der über einen Kontakt zum Substrathalter aufgeheizt wird, zum ersten Bereich fließt, wo die Wärme im Wesentlichen durch Strahlung oder durch Wärmeleitung über das in der Prozesskammer sich befindende Gas abgeleitet wird. Es ist insbesondere vorgesehen, dass die nach oben weisende Breitseitenfläche des ersten Abschnitts eine geringe Emissivität aufweist, was auch zur Folge hat, dass die Energieabgabe in Richtung der gekühlten Prozesskammerdecke durch Strahlung vermindert wird. Der ringförmige Körper, der ein Mittel darstellt um das Substrat mit einem Greifer zu handhaben, ist bevorzugt aus mehreren Bestandteilen gefügt, wobei die Bestandteile unterschiedliche Wärmeleitfähigkeiten oder deren Oberflächen unterschiedliche Emissivitäten aufweisen. Bevorzugt wird der erste Abschnitt von einem Ringelement ausgebildet oder er wird von mehreren Ringelementen ausgebildet, die eine geringe spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweisen. Der radial äußere Abschnitt besitzt somit ein oder mehrere Ringelemente aus Quarz, Zirkonoxid oder einem anderen Werkstoff, so dass er verglichen mit dem Material des radial einwärts ragenden Abschnitts eine geringere spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweist. Der radial einwärts ragende Abschnitt kann einen Grundkörper ausbilden, der eine hohe spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweist. Dieser Grundkörper kann aus Graphit, Siliciumkarbid oder einem anderen gut wärmeleitenden Werkstoff bestehen. Die unterschiedlichen Emissivitäten können nicht nur die Materialauswahl definiert werden. Es ist auch möglich, die Oberflächen der Abschnitte unterschiedlich zu beschichten. Es ist auch vorgesehen, dass insbesondere der erste Abschnitt ein Reflexionselement aufweist. Das Reflexionselement kann ein Metallstreifen sein, der nach außen hin gekapselt ist, wobei die Kapselung durch ein transparentes Material erfolgen kann. Der erste Abschnitt kann aus ein oder mehreren Ringelementen aus einem transparenten Material und/oder mit geringer Wärmeleitfähigkeit bestehen. Die Ringelemente kapseln eine reflektierende Schicht, bei der es sich um eine Metallschicht handeln kann. Die Emissivität der Oberfläche des ersten Abschnitts kann kleiner 0,3 sein. Die Emissivität der Oberfläche des zweiten Abschnitts und/oder des dritten Abschnitts ist größer als 0,3. Relevant ist hier die zur Prozesskammerdecke weisende Oberfläche. Die spezifischen Wärmeleitfähigkeiten können sich um den Faktor 10 unterscheiden. Die spezifische Wärmeleitfähigkeit des zweiten Abschnitts ist bevorzugt mindestens 10-mal so groß wie die spezifische Wärmeleitfähigkeit des ersten Abschnitts. In einer bevorzugten Variante der Erfindung ist vorgesehen, dass sich ein Grundkörper, aus einem gut wärmeleitenden Werkstoff, beispielsweise Graphit oder Zirkonoxid über die gesamte radiale Breite des ringförmigen Körpers erstreckt. Der Grundkörper bildet somit den zweiten Abschnitt aus. Der Grundkörper bildet einen Tragabschnitt des ersten Abschnitts, auf dem ein ringförmiges Element mit geringer Wärmeleitfähigkeit und/oder einer hohen Reflektivität angeordnet ist. Der erste Abschnitt und der dritte Abschnitt bilden zusammen eine zur Prozesskammerdecke weisende Oberfläche. Der erste Abschnitt bildet ebenfalls eine zur Prozesskammerdecke weisende Oberfläche, wobei die Oberfläche des ersten Abschnitts bevorzugt mindestens doppelt so groß ist wie die Oberfläche des dritten Abschnitts. Die Grenze zwischen dem dritten Abschnitt und dem zweiten Abschnitt kann im Bereich einer Begrenzungsfläche der Auflagezone liegen, auf der der Rand des Substrates aufliegt. Der dritte Abschnitt besitzt somit bevorzugt eine größere in Achsrichtung gemessene Dicke als der zweite Abschnitt, wobei der erste Abschnitt bevorzugt dieselbe axiale Dicke aufweist wie der dritte Abschnitt. Der erste und der dritte Abschnitt unterscheiden sich aber hinsichtlich ihres Wärmeflusswiderstandes.According to the invention, the sections of the body should have different heat transport properties. To define the distances, it is assumed that an imaginary axis extends in the direction of the surface normal of the surface of the ring opening which is at least partially enclosed by the body. The first section, which serves to be engaged by the gripping arms of the gripper, is according to the invention a radially outwardly projecting section. The second section, which forms in particular a reduced-thickness stage on which the Edge of the substrate rests, according to the invention is a radially inwardly projecting portion. The heat transport through the body takes place in the axial direction, namely from a broadside of the body pointing downwards in the direction of a broad side surface of the body pointing upwards towards the process chamber ceiling. The heat transport properties may in particular be the specific heat conductivity of the sections or the emissivities of the surfaces of the sections. According to the invention, at least one of the heat transport properties is so different in the first section and in the second section that the heat flowing in the axial direction through a unitary surface element is smaller in the first section than in the second section. The first radially outwardly disposed portion thus has a greater heat flow resistance than the second portion which supports the edge of the substrate in contacting abutment. Alternatively, or in combination, the emissivity of the surface of the first portion may be smaller than the emissivity of the second portion. The transport ring forming body may be a ring. The annular body may form a closed or an open ring. The first section may immediately adjoin the second section. The boundary between the first section and the second section may extend in the region of the annular step of the substrate holder, on which the annular body rests. However, the boundary can also lie directly above the edge, ie the side surface of the substrate holder. However, the boundary may also lie in a region of the annular body which projects beyond the edge of the substrate holder in the radial outward direction. In a development of the invention, it is provided that the first section does not directly adjoin the second section, but rather that an intermediate section extends between the first section and the second section. This third section may have the same heat transfer properties, ie in particular the same heat flow resistance, which the second section, that is to say the section on which the substrate rests with its edge. The boundary between the first portion and the third portion may be on the ring stage of the substrate holder. It can be on the edge of the ring step or radially outside the ring step. The first section preferably projects completely beyond the substrate holder in the radially outward direction. It thus protrudes freely over a side surface of the substrate holder, so that it is radiantly heated by the surface of the susceptor. The inventive design of the transport ring has the consequence that the escape of energy in the form of heat from the annular body over the prior art is reduced. The above-described cooling effect is thereby reduced with the result that the edge temperature of the substrate deviates less strongly from the central temperature of the substrate. The reduced thermal conductivity causes less heat from the second portion, which is heated via contact with the substrate holder, to flow to the first region where the heat is dissipated substantially by radiation or by conduction through the gas in the process chamber. It is provided in particular that the upward-facing broadside surface of the first section has a low emissivity, which also has the consequence that the energy output in the direction of the cooled process chamber ceiling is reduced by radiation. The annular body, which is a means to handle the substrate with a gripper, is preferably made up of a plurality of components, wherein the components have different thermal conductivities or their surfaces have different emissivities. Preferably, the first portion is formed by a ring member or it is formed by a plurality of ring elements having a low specific thermal conductivity. The radially outer portion thus has one or more ring elements made of quartz, zirconium oxide or another material, so that it has a lower specific thermal conductivity compared to the material of the radially inwardly projecting portion. The radially inwardly projecting portion may form a main body having a high specific thermal conductivity. This basic body may consist of graphite, silicon carbide or another good heat-conducting material. The different emissivities can not only define the material selection. It is also possible to coat the surfaces of the sections differently. It is also provided that, in particular, the first section has a reflection element. The reflection element may be a metal strip which is encapsulated outwardly, wherein the encapsulation can be carried out by a transparent material. The first section may consist of one or more ring elements of a transparent material and / or with low thermal conductivity. The ring elements encapsulate a reflective layer, which may be a metal layer. The emissivity of the surface of the first section may be less than 0.3. The emissivity of the surface of the second section and / or the third section is greater than 0.3. Relevant here is the surface facing the process chamber ceiling. The specific thermal conductivities can differ by a factor of ten. The specific thermal conductivity of the second section is preferably at least 10 times as great as the specific thermal conductivity of the first section. In a preferred variant of the invention, it is provided that a base body, made of a good heat-conducting material, such as graphite or zirconium oxide extends over the entire radial width of the annular body. The main body thus forms the second section. The main body forms a support portion of the first section on which a annular element is arranged with low thermal conductivity and / or high reflectivity. The first section and the third section together form a surface facing the process chamber ceiling. The first section also forms a surface facing the process chamber ceiling, wherein the surface of the first section is preferably at least twice as large as the surface of the third section. The boundary between the third section and the second section may lie in the region of a boundary surface of the support zone, on which the edge of the substrate rests. The third section thus preferably has a greater thickness measured in the axial direction than the second section, wherein the first section preferably has the same axial thickness as the third section. However, the first and third sections differ in their heat flow resistance.
Figurenlistelist of figures
Im Folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 schematisch die Draufsicht auf eine Suszeptoranordnung in einem CVD-Reaktor, -
2 den Schnitt gemäß der Linie II - II in1 , -
3 eine Darstellung gemäß2 eines zweiten Ausführungsbeispiels und -
4 eine Darstellung gemäß3 eines dritten Ausführungsbeispiels.
-
1 1 is a schematic plan view of a susceptor arrangement in a CVD reactor, -
2 the section according to the line II - II in1 . -
3 a representation according to2 a second embodiment and -
4 a representation according to3 a third embodiment.
Beschreibung der AusführungsformenDescription of the embodiments
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Abscheiden kristalliner oder nicht kristalliner Schichten, insbesondere Halbleiterschichten auf einem Substrat
Oberhalb des Substrates
Nach oben hin wird die Prozesskammer durch eine Prozesskammerdecke
Die Suszeptortemperatur
Die
Zu jedem Substrathalter
Die
Ein radial nach innen ragender zweiter Abschnitt
Das Substrat
Der zweite Abschnitt
Bei dem in der
Der zweite Abschnitt
Die Materialeigenschaften des zweiten Abschnitts
Bei dem in der
Die nach oben weisenden Breitseitenflächen
Es kann aber ausreichen, wenn lediglich eine der Wärmetransporteigenschaften Wärmeleitfähigkeit, Emissionsvermögen oder Reflexionsvermögen verschieden ist.However, it may be sufficient if only one of the heat transfer properties thermal conductivity, emissivity or reflectivity is different.
Die
Auf einem Bereich des Grundkörpers
Zwischen den beiden Ringelementen
Der Metallfilm
Bei dem in der
Auf dieser Auflagefläche des ersten Abschnitts
Es ist insbesondere vorgesehen, dass die Oberflächen und insbesondere die zur gekühlten Prozesskammer weisenden Oberflächen des Transportrings
Es ist insbesondere vorgesehen, dass zwischen einem Ringelement aus gering wärmeleitfähigem Werkstoff und der Auflagefläche
In den
Die vorstehenden Ausführungen dienen der Erläuterung der von der Anmeldung insgesamt erfassten Erfindungen, die den Stand der Technik zumindest durch die folgenden Merkmalskombinationen jeweils auch eigenständig weiterbilden, wobei zwei, mehrere oder alle dieser Merkmalskombinationen auch kombiniert sein können, nämlich:The above explanations serve to explain the inventions as a whole, which in each case independently further develop the prior art, at least by the following combinations of features, wherein two, several or all of these combinations of features may also be combined, namely:
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass zumindest eine Wärmetransporteigenschaften des ersten Abschnitts
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Wärmetransporteigenschaft die spezifische Wärmeleitfähigkeit des Abschnitts ist, wobei die spezifische Wärmeleitfähigkeit des ersten Abschnitts
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Wärmetransporteigenschaft die Emissivität zumindest einer in Achsrichtung weisenden Oberfläche der Abschnitte
Eine Vorrichtung, die gekennzeichnet ist durch einen zwischen dem ersten Abschnitt
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass der zweite Abschnitt
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass der Substrathalter
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass der ringförmige Körper
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass ein oder mehrere dem ersten Abschnitt
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die voneinander verschiedenen Emissivitäten der Oberflächen durch voneinander verschiedene Oberflächenbeschichtungen oder durch zumindest ein Reflexionselement 27 bestimmt sind.A device which is characterized in that the mutually different emissivities of the surfaces are determined by mutually different surface coatings or by at least one
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass ein oder mehrere dem ersten Abschnitt
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die spezifische Wärmeleitfähigkeit des zweiten Abschnitts
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass der ringförmige Körper
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass der erste Abschnitt
Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass eine zur Prozesskammerdecke
Alle offenbarten Merkmale sind (für sich, aber auch in Kombination untereinander) erfindungswesentlich. In die Offenbarung der Anmeldung wird hiermit auch der Offenbarungsinhalt der zugehörigen/beigefügten Prioritätsunterlagen (Abschrift der Voranmeldung) vollinhaltlich mit einbezogen, auch zu dem Zweck, Merkmale dieser Unterlagen in Ansprüche vorliegender Anmeldung mit aufzunehmen. Die Unteransprüche charakterisieren mit ihren Merkmalen eigenständige erfinderische Weiterbildungen des Standes der Technik, insbesondere um auf Basis dieser Ansprüche Teilanmeldungen vorzunehmen.All disclosed features are essential to the invention (individually, but also in combination with one another). The disclosure of the associated / attached priority documents (copy of the prior application) is hereby also incorporated in full in the disclosure of the application, also for the purpose of including features of these documents in claims of the present application. The subclaims characterize with their features independent inventive developments of the prior art, in particular to make on the basis of these claims divisional applications.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- ringförmiger Körperannular body
- 22
- erster Abschnittfirst section
- 33
- zweiter Abschnittsecond part
- 44
- BreitseitenflächeBroadside surface
- 55
- Auflageflächebearing surface
- 66
- BreitseitenflächeBroadside surface
- 77
- BreitseitenflächeBroadside surface
- 88th
- dritter Abschnittthird section
- 99
- BreitseitenflächeBroadside surface
- 1010
- BreitseitenflächeBroadside surface
- 1111
- Substratsubstratum
- 1212
- Substrathaltersubstrate holder
- 1313
- Auflageflächebearing surface
- 1414
- BreitseitenflächeBroadside surface
- 1515
- Tragfläche, RingstufeWing, ring step
- 1616
- Suszeptorsusceptor
- 1717
- Oberseitetop
- 1818
- Seitenflächeside surface
- 1919
- ProzesskammerdeckeProcess chamber ceiling
- 2020
- Begrenzungsflächeboundary surface
- 2121
- Zwischenstückconnecting piece
- 22 22
- Zwischenstückconnecting piece
- 2323
- Kanalchannel
- 2424
- Grundkörperbody
- 2525
- Ringelement ring element
- 2626
- Ringelementring element
- 2727
- Reflexionselement reflection element
- Tsts
- Suszeptortemperatursusceptor
- Tctc
- Temperatur ProzesskammerdeckeTemperature process chamber ceiling
- Q1 Q 1
- Wärmewarmth
- Q2 Q 2
- Wärmeflussheat flow
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list of the documents listed by the applicant has been generated automatically and is included solely for the better information of the reader. The list is not part of the German patent or utility model application. The DPMA assumes no liability for any errors or omissions.
Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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- DE 102004058521 A1 [0004]DE 102004058521 A1 [0004]
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Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017101648.1A DE102017101648A1 (en) | 2017-01-27 | 2017-01-27 | transport ring |
TW107102746A TWI749159B (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | Transport ring |
KR1020197023693A KR102538550B1 (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | carrying ring |
CN201880016038.4A CN110536976B (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | Transport ring |
EP18702640.6A EP3574127A1 (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | Transport ring |
PCT/EP2018/051827 WO2018138197A1 (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | Transport ring |
JP2019540344A JP7107949B2 (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | carrier ring |
US16/480,596 US20190390336A1 (en) | 2017-01-27 | 2018-01-25 | Transport ring |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017101648.1A DE102017101648A1 (en) | 2017-01-27 | 2017-01-27 | transport ring |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102017101648A1 true DE102017101648A1 (en) | 2018-08-02 |
Family
ID=62842826
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102017101648.1A Pending DE102017101648A1 (en) | 2017-01-27 | 2017-01-27 | transport ring |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102017101648A1 (en) |
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