DE102016106734A1 - Support for an optoelectronic component, method for producing a support for an optoelectronic component, wafers and soldering methods - Google Patents
Support for an optoelectronic component, method for producing a support for an optoelectronic component, wafers and soldering methods Download PDFInfo
- Publication number
- DE102016106734A1 DE102016106734A1 DE102016106734.2A DE102016106734A DE102016106734A1 DE 102016106734 A1 DE102016106734 A1 DE 102016106734A1 DE 102016106734 A DE102016106734 A DE 102016106734A DE 102016106734 A1 DE102016106734 A1 DE 102016106734A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- heating
- layer arrangement
- arrangement
- carrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims abstract description 59
- 238000005476 soldering Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 title 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 175
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 109
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 65
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 15
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 claims description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 32
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 16
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 15
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 15
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 8
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/44—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/345—Arrangements for heating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/27—Manufacturing methods
- H01L2224/274—Manufacturing methods by blanket deposition of the material of the layer connector
- H01L2224/27444—Manufacturing methods by blanket deposition of the material of the layer connector in gaseous form
- H01L2224/2745—Physical vapour deposition [PVD], e.g. evaporation, or sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/27—Manufacturing methods
- H01L2224/274—Manufacturing methods by blanket deposition of the material of the layer connector
- H01L2224/2746—Plating
- H01L2224/27462—Electroplating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29005—Structure
- H01L2224/29007—Layer connector smaller than the underlying bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/291—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/291—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29144—Gold [Au] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/3201—Structure
- H01L2224/32012—Structure relative to the bonding area, e.g. bond pad
- H01L2224/32013—Structure relative to the bonding area, e.g. bond pad the layer connector being larger than the bonding area, e.g. bond pad
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/3205—Shape
- H01L2224/32057—Shape in side view
- H01L2224/32058—Shape in side view being non uniform along the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/832—Applying energy for connecting
- H01L2224/83234—Applying energy for connecting using means for applying energy being within the device, e.g. integrated heater
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83385—Shape, e.g. interlocking features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/83444—Gold [Au] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/83801—Soldering or alloying
- H01L2224/83815—Reflow soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/27—Manufacturing methods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12041—LED
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12042—LASER
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
- H01L2933/0066—Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft einen Träger für ein optoelektronisches Bauelement, umfassend: – einen Grundkörper, – wobei der Grundkörper eine erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung umfasst, – wobei auf einer ersten Seite des Grundkörpers eine erste Lötschicht zum Löten eines optoelektronischen Bauelements an den Grundkörper angeordnet ist, – wobei die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung von der ersten Lötschicht elektrisch isoliert und mit der ersten Lötschicht thermisch verbunden ist. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement. Die Erfindung betrifft des Weiteren einen Wafer und ein Lötverfahren.The invention relates to a support for an optoelectronic component, comprising: a base body, the base body comprising a first electrically conductive heating layer arrangement, a first soldering layer being arranged on a first side of the base body for soldering an optoelectronic component to the base body, wherein the first electrically conductive heating layer assembly is electrically insulated from the first solder layer and thermally connected to the first solder layer. The invention further relates to a method for producing a support for an optoelectronic component. The invention further relates to a wafer and a soldering method.
Description
Die Erfindung betrifft einen Träger für ein optoelektronisches Bauelement. Die Erfindung betrifft des Weiteren ein Verfahren zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement. Die Erfindung betrifft des Weiteren einen Wafer. Die Erfindung betrifft ferner ein Lötverfahren.The invention relates to a support for an optoelectronic component. The invention further relates to a method for producing a support for an optoelectronic component. The invention further relates to a wafer. The invention further relates to a soldering method.
Optoelektronische Bauelemente werden üblicherweise auf einen Träger gelötet. Üblicherweise weist das Bauelement respektive der Träger eine Lötschicht auf, die zwecks Verlöten erhitzt werden muss. Die hierfür notwendige thermische Energie wird zum Beispiel über ein Greifwerkzeug oder eine Heizplatte bereitgestellt.Optoelectronic devices are usually soldered to a carrier. Usually, the component or the carrier has a solder layer, which must be heated for the purpose of soldering. The thermal energy required for this purpose is provided, for example, via a gripping tool or a heating plate.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe ist darin zu sehen, ein effizientes Konzept bereitzustellen, welches ein effizientes Löten eines optoelektronischen Bauelements auf einen Grundkörper eines Trägers ermöglicht.The object on which the invention is based is to provide an efficient concept which enables an efficient soldering of an optoelectronic component to a main body of a carrier.
Diese Aufgabe wird mittels des jeweiligen Gegenstands der unabhängigen Ansprüche gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand von jeweils abhängigen Unteransprüchen.This object is achieved by means of the subject matter of the independent claims. Advantageous embodiments of the invention are the subject of each dependent subclaims.
Nach einem Aspekt wird ein Träger für ein optoelektronisches Bauelement bereitgestellt, umfassend:
- – einen Grundkörper,
- – wobei der Grundkörper eine erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung umfasst,
- – wobei auf einer ersten Seite des Grundkörpers eine erste Lötschicht zum Löten eines optoelektronischen Bauelements an den Grundkörper angeordnet ist,
- – wobei die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung von der ersten Lötschicht elektrisch isoliert und mit der ersten Lötschicht thermisch verbunden ist.
- A basic body,
- Wherein the base body comprises a first electrically conductive heating layer arrangement,
- Wherein a first soldering layer for soldering an optoelectronic component to the base body is arranged on a first side of the base body,
- - Wherein the first electrically conductive heating layer arrangement of the first solder layer is electrically insulated and thermally connected to the first solder layer.
Gemäß einem weiteren Aspekt wird ein Verfahren zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement bereitgestellt, umfassend die folgenden Schritte:
- – Bereitstellen eines Grundkörpers, wobei der Grundkörper eine erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung umfasst,
- – Bilden einer elektrischen Isolierung, einer thermischen Verbindung und einer ersten Lötschicht zum Löten eines optoelektronischen Bauelements an den Grundkörper auf einer ersten Seite des Grundkörpers derart, dass
- – die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung von der ersten Lötschicht elektrisch isoliert und mit der ersten Lötschicht thermisch verbunden ist.
- Providing a base body, wherein the base body comprises a first electrically conductive heating layer arrangement,
- - Forming an electrical insulation, a thermal connection and a first solder layer for soldering an optoelectronic component to the base body on a first side of the base body such that
- - The first electrically conductive heating layer assembly of the first solder layer is electrically insulated and thermally connected to the first solder layer.
Nach einem weiteren Aspekt wird ein Wafer bereitgestellt, der mehrere Träger umfasst.In another aspect, a wafer is provided that includes a plurality of carriers.
Gemäß einem weiteren Aspekt wird ein Lötverfahren unter Verwendung des Trägers und/oder des Wafers bereitgestellt, wobei ein optoelektronisches Bauelement mittels der ersten Lötschicht an den Grundkörper gelötet wird, indem die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung mit einer elektrischen Spannung oder einem elektrischen Strom beaufschlagt wird, so dass sich die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung erwärmt, um die erste Lötschicht zu schmelzen. According to a further aspect, a soldering method using the carrier and / or the wafer is provided, wherein an optoelectronic component is soldered to the base body by means of the first solder layer by applying an electric voltage or an electric current to the first electrically conductive heating layer arrangement in that the first electrically conductive heating layer arrangement heats up in order to melt the first soldering layer.
Die Erfindung basiert auf der Erkenntnis, dass die obige Aufgabe dadurch gelöst werden kann, dass jeder Träger mit seiner eigenen elektrisch leitfähigen Heizschichtanordnung versehen ist. Die elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung wirkt als eine elektrische Widerstandsheizung und stellt die für das Verlöten benötigte thermische Energie bereit. Aufgrund der thermischen Verbindung zwischen der ersten Lötschicht und der ersten Heizschichtanordnung wird somit in vorteilhafter Weise bewirkt, dass die thermische Energie, die mittels der ersten Heizschichtanordnung erzeugt wird, effizient zur ersten Lötschicht geleitet werden kann. Dadurch wird sich also die erste Lötschicht in vorteilhafter Weise erwärmen und letztlich bei entsprechender Temperatur schmelzen, so dass ein Verlöten des optoelektronischen Bauelements mit dem Grundkörper effizient bewirkt werden kann.The invention is based on the realization that the above object can be achieved by providing each carrier with its own electrically conductive heating layer arrangement. The electrically conductive heating layer assembly acts as an electrical resistance heater and provides the thermal energy needed for soldering. Due to the thermal connection between the first solder layer and the first heating layer arrangement, it is thus advantageously effected that the thermal energy which is generated by means of the first heating layer arrangement can be efficiently conducted to the first solder layer. As a result, therefore, the first solder layer will heat up in an advantageous manner and ultimately melt at an appropriate temperature, so that soldering of the optoelectronic component to the base body can be effected efficiently.
Dadurch also, dass der Grundkörper eine eigene elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung umfasst, muss die für das Löten benötigte thermische Energie nicht mehr über ein Greifwerkzeug oder eine Heizplatte bereitgestellt werden. Somit kann zum Beispiel auf ein solches Greifwerkzeug oder eine solche Heizplatte verzichtet werden. Dadurch können zum Beispiel Kosten eingespart werden. Insbesondere kann dadurch ein Materialaufwand reduziert werden.By virtue of the fact that the base body comprises its own electrically conductive heating layer arrangement, the thermal energy required for the brazing no longer has to be provided via a gripping tool or a heating plate. Thus, for example, can be dispensed with such a gripping tool or such a heating plate. As a result, for example, costs can be saved. In particular, this can be a material cost can be reduced.
Insbesondere ist es ermöglicht, dass die thermische Energie mit einer höheren Ortsgenauigkeit der ersten Lötschicht bereitgestellt werden kann, insofern die thermische Energie mittels der Heizschichtanordnung erzeugt wird, die vom Grundkörper umfasst ist, sich also in einem geringeren Abstand zur ersten Lötschicht befindet als eine Heizplatte, auf welcher der Grundkörper zwecks Verlöten normalerweise gemäß dem Stand der Technik aufgelegt ist.In particular, it is possible that the thermal energy can be provided with a higher spatial accuracy of the first solder layer, insofar as the thermal energy is generated by means of the heating layer arrangement, which is encompassed by the main body, ie at a smaller distance from the first solder layer than a heating plate, on which the main body is usually placed according to the prior art for soldering.
Dadurch kann also in vorteilhafter Weise eine erhöhte Prozesssicherheit bewirkt werden aufgrund eines Einbringens von thermischer Energie direkt oder näher am Lotinterface.As a result, an increased process reliability can be effected in an advantageous manner due to the introduction of thermal energy directly or closer to the solder interface.
Da somit in der Regel ein thermischer Weg für die erzeugte thermische Energie zur ersten Lotschicht kleiner ist als im bekannten Stand der Technik, wird ein Verlötungsprozess in der Regel kürzer dauern. Dadurch können zum Beispiel in vorteilhafter Weise temperaturgetriebene Schäden an den einzelnen Elementen, insbesondere am optoelektronischen Bauelement, vermieden werden. Since, as a rule, a thermal path for the generated thermal energy to the first solder layer is smaller than in the known prior art, a soldering process will generally take less time. As a result, for example, temperature-driven damage to the individual elements, in particular the optoelectronic component, can advantageously be avoided.
Insbesondere ist in vorteilhafter Weise eine effiziente Temperaturmessung über die elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung ermöglicht und gemäß einer Ausführungsform vorgesehen. Dies insbesondere dadurch, dass zum Beispiel eine elektrische Kennlinie vorgegeben ist, die zum Beispiel im Vorfeld einmal gemessen wurde. Eine solche Kennlinie gibt zum Beispiel den Zusammenhang oder die Abhängigkeit von einer an die Heizschichtanordnung angelegte elektrische Spannung und einer Temperatur der Heizschichtanordnung an. Insbesondere gibt die Kennlinie einen Zusammenhang oder eine Abhängigkeit von einem elektrischen Strom, der durch die erste Heizschichtanordnung fließt, und einer Temperatur der Heizschichtanordnung an.In particular, an efficient temperature measurement via the electrically conductive heating layer arrangement is advantageously made possible and provided according to an embodiment. This in particular by the fact that, for example, an electrical characteristic is predetermined, which has been measured once in advance, for example. Such a characteristic indicates, for example, the relationship or the dependence on an electrical voltage applied to the heating layer arrangement and a temperature of the heating layer arrangement. In particular, the characteristic indicates a relationship or dependence on an electric current flowing through the first heater layer assembly and a temperature of the heater layer assembly.
Das heißt, dass verschiedene Spannungen an die Heizschichtanordnung angelegt werden, wobei für jede der angelegten Spannungen zum Beispiel der elektrische Strom und/oder zum Beispiel die Temperatur der Heizschichtanordnung gemessen werden. Entsprechend kann dann eine Kennlinie ermittelt werden.This means that different voltages are applied to the heating layer arrangement, wherein for each of the applied voltages, for example, the electrical current and / or, for example, the temperature of the heating layer arrangement are measured. Accordingly, then a characteristic can be determined.
Insbesondere wenn die mehreren Träger von einem Wafer umfasst sind, sich also in einem Waferverbund befinden, ist es in vorteilhafter Weise ermöglicht, dass zum Beispiel gezielt nur eine erste Lötschicht eines einzelnen Trägers erhitzt wird, ohne dass hierbei die benachbarten Träger miterhitzt werden.In particular, if the plurality of carriers are encompassed by a wafer, that is to say are located in a wafer composite, it is advantageously made possible, for example, to selectively heat only a first solder layer of a single carrier, without the neighboring carriers also being heated in the process.
Die Formulierungen „thermisch verbunden“ und „thermische Verbindung“ definieren insbesondere eine Verbindung, die eine Wärmeleitfähigkeit von mindestens 1 W/(m·K), beispielsweise · von mindestens 2 W/(m·K), beispielsweise von mindestens 4 W/(m·K), beispielsweise von mindestens 8 W/(m·K), beispielsweise von mindestens 16 W/(m·K), beispielsweise von mindestens 100 W/(m·K), beispielsweise von mindestens 200 W/(m·K), beispielsweise von mindestens 300 W/(m·K), aufweist.The terms "thermally bonded" and "thermal compound" in particular define a compound having a thermal conductivity of at least 1 W / (m · K), for example · at least 2 W / (m · K), for example at least 4 W / ( m · K), for example of at least 8 W / (m · K), for example of at least 16 W / (m · K), for example of at least 100 W / (m · K), for example of at least 200 W / (m · K). K), for example of at least 300 W / (m · K).
Zum Beispiel weist der Grundkörper eine Wärmeleitfähigkeit auf, wie sie vorstehend im Zusammenhang mit den Formulierungen „thermisch verbunden“ und „thermische Verbindung“ aufgeführt sind. Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass eine Verlustwärme im Betrieb des auf den Grundkörper gelöteten optoelektronischen Bauelements effizient abgeführt werden kann. For example, the body has a thermal conductivity as listed above in the context of the formulations "thermally bonded" and "thermal compound". As a result, the technical advantage in particular that heat loss during operation of the soldered to the body optoelectronic device can be efficiently dissipated.
Die Formulierung „elektrisch verbunden“ bedeutet insbesondere „elektrisch leitfähig verbunden“.The term "electrically connected" in particular means "electrically connected".
Nach einer Ausführungsform ist das optoelektronische Bauelement ein Element aus der folgenden Gruppe von optoelektronischen Bauelementen: lichtemittierende Diode (LED, "Light Emitting Diode"), insbesondere organische oder anorganische lichtemittierende Diode, Laserdiode, Diodenchip, LED-Chip, Laserdiodenchip, Laserbarren.According to one embodiment, the optoelectronic component is an element from the following group of optoelectronic components: light-emitting diode (LED, "light emitting diode"), in particular organic or inorganic light-emitting diode, laser diode, diode chip, LED chip, laser diode chip, laser bar.
Nach einer Ausführungsform ist der Grundkörper als ein Submount ausgebildet und kann als ein solcher bezeichnet werden.According to one embodiment, the main body is designed as a submount and can be referred to as such.
Nach einer Ausführungsform ist der Träger aus einem oder mehreren der folgenden Materialien gebildet respektive umfasst ein oder mehrere der folgenden Materialien: AlN, SiC, Si.In one embodiment, the support is formed of one or more of the following materials, or comprises one or more of the following materials: AlN, SiC, Si.
Nach einer Ausführungsform umfasst die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung eine oder mehrere Schichten. Das heißt, dass die Heizschichtanordnung zum Beispiel aus mehreren Schichten gebildet ist.According to one embodiment, the first electrically conductive heating layer arrangement comprises one or more layers. That is, the heater layer assembly is formed of, for example, multiple layers.
Zum Beispiel umfasst die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung eine Titanschicht. Zum Beispiel umfasst die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung eine Platinschicht. Zum Beispiel umfasst die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung eine Goldschicht. Zum Beispiel umfasst die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung einen Schichtenstapel gebildet aus einer Titanschicht, einer Platinschicht und einer Goldschicht.For example, the first electrically conductive heating layer arrangement comprises a titanium layer. For example, the first electrically conductive heating layer arrangement comprises a platinum layer. For example, the first electrically conductive heating layer arrangement comprises a gold layer. For example, the first electrically conductive heating layer arrangement comprises a layer stack formed from a titanium layer, a platinum layer and a gold layer.
Zum Beispiel ist nach einer Ausführungsform vorgesehen, dass die Titanschicht als erste Schicht auf der ersten Seite des Grundkörpers angeordnet ist. Zum Beispiel ist vorgesehen, dass als zweite Schicht des Schichtenstapels die Platinschicht auf der Titanschicht aufgebracht oder angeordnet ist. For example, according to one embodiment, it is provided that the titanium layer is arranged as a first layer on the first side of the main body. For example, it is provided that the platinum layer is applied or arranged on the titanium layer as the second layer of the layer stack.
Zum Beispiel ist vorgesehen, dass als dritte Schicht des Schichtenstapels die Goldschicht auf der zweiten Schicht, also der Platinschicht, angeordnet ist.For example, it is provided that the gold layer is arranged on the second layer, ie the platinum layer, as the third layer of the layer stack.
Eine Dicke der ersten elektrisch leitfähigen Heizschichtanordnung beträgt zum Beispiel zwischen 15 nm und 200 nm.A thickness of the first electrically conductive heating layer arrangement is, for example, between 15 nm and 200 nm.
Das Vorsehen einer Titanschicht bewirkt in vorteilhafter Weise, dass die darauffolgende Platinschicht effizient am Grundkörper, also auf der ersten Seite des Grundkörpers, haftet. Das Vorsehen der Platinschicht bewirkt in vorteilhafter Weise, dass ein Diffundieren von Goldatomen aus der Goldschicht in den Grundkörper effizient verhindert werden kann.The provision of a titanium layer advantageously has the effect that the subsequent platinum layer adheres efficiently to the base body, that is to say on the first side of the base body. The provision of the platinum layer advantageously effects that diffusion of gold atoms from the gold layer into the main body can be effectively prevented.
Nach einer Ausführungsform ist die erste Seite des Grundkörpers als eine Oberseite des Grundkörpers ausgebildet. Das heißt, dass die erste Seite des Grundkörpers zum Beispiel die Oberseite des Grundkörpers ist. According to one embodiment, the first side of the basic body is designed as an upper side of the basic body. That is, the first side of the main body is, for example, the top of the main body.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass der Träger ein optoelektronisches Bauelement umfasst, wobei das optoelektronische Bauelement mittels der ersten Lötschicht am Grundkörper angelötet oder mit dem Grundkörper verlötet ist.According to one embodiment, it is provided that the carrier comprises an optoelectronic component, wherein the optoelectronic component is soldered to the base body or soldered to the base body by means of the first solder layer.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die erste Heizschichtanordnung mittels einer ersten elektrisch isolierenden Passivierungsschicht von der ersten Lötschicht elektrisch isoliert ist, indem die erste Passivierungsschicht zumindest teilweise auf der ersten Heizschichtanordnung angeordnet ist, wobei die erste Lötschicht zumindest mittelbar auf der ersten Passivierungsschicht angeordnet ist.According to one embodiment, it is provided that the first heating layer arrangement is electrically insulated from the first soldering layer by means of a first electrically insulating passivation layer, wherein the first passivation layer is arranged at least partially on the first heating layer arrangement, wherein the first soldering layer is arranged at least indirectly on the first passivation layer.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass eine effiziente elektrische Isolierung hergestellt werden kann. Dies insbesondere deshalb, da Passivierungsschichten mit an sich bekannten Prozessen effizient hergestellt und auf die erste Seite des Grundkörpers aufgebracht werden können.As a result, in particular the technical advantage is achieved that an efficient electrical insulation can be produced. This is particularly because passivation layers can be efficiently produced by processes known per se and applied to the first side of the base body.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die erste Passivierungsschicht eine Dicke zwischen 10 nm und 200 nm aufweist.According to one embodiment, it is provided that the first passivation layer has a thickness between 10 nm and 200 nm.
Die Formulierung, dass die erste Lötschicht zumindest mittelbar auf der ersten Passivierungsschicht angeordnet ist, bedeutet zum Beispiel, dass die erste Lötschicht nicht direkt, also unmittelbar, sondern indirekt auf der ersten Passivierungsschicht, also mittelbar, angeordnet ist. Das heißt, dass bei der mittelbaren Anordnung noch zumindest eine weitere Schicht zwischen der ersten Lötschicht und der Passivierungsschicht vorgesehen ist. Zum Beispiel ist zwischen der ersten Lötschicht und der ersten Passivierungsschicht ein Schichtenstapel vorgesehen, der aus einer Titanschicht, einer Platinschicht und einer Goldschicht gebildet ist. Zum Beispiel ist vorgesehen, dass unmittelbar auf der ersten Passivierungsschicht eine Titanschicht aufgebracht oder angeordnet ist. Auf der Titanschicht ist zum Beispiel eine Platinschicht angeordnet oder aufgebracht. Auf der Platinschicht ist zum Beispiel eine Goldschicht angeordnet oder aufgebracht. Auf der Goldschicht ist zum Beispiel die erste Lötschicht angeordnet oder aufgebracht. Eine Dicke dieses Schichtenstapels beträgt zum Beispiel zwischen 500 nm und 600 nm.The formulation that the first solder layer is arranged at least indirectly on the first passivation layer means, for example, that the first solder layer is not arranged directly, ie directly, but indirectly on the first passivation layer, ie indirectly. This means that at least one further layer is provided between the first solder layer and the passivation layer in the indirect arrangement. For example, between the first solder layer and the first passivation layer, there is provided a layer stack formed of a titanium layer, a platinum layer, and a gold layer. For example, it is provided that a titanium layer is applied or arranged directly on the first passivation layer. For example, a platinum layer is disposed or deposited on the titanium layer. For example, a gold layer is disposed or deposited on the platinum layer. For example, the first solder layer is disposed or deposited on the gold layer. A thickness of this layer stack is, for example, between 500 nm and 600 nm.
Nach einer Ausführungsform ist die erste Lötschicht eine AuSn-Schicht. Das heißt, dass die erste Lötschicht zum Beispiel aus AuSn gebildet ist.In one embodiment, the first solder layer is an AuSn layer. That is, the first solder layer is formed of AuSn, for example.
Eine Dicke der ersten Lötschicht beträgt zum Beispiel zwischen 0,5 µm und 3,5 µm.A thickness of the first solder layer is, for example, between 0.5 μm and 3.5 μm.
Die technischen Wirkungen und Vorteile für denjenigen Schichtenstapel, der sich zwischen der ersten Lötschicht und der Passivierungsschicht befindet, sind insbesondere analog zu den technischen Vorteilen des Titan-/Platin-/Gold-Schichtenstapels der ersten elektrisch leitfähigen Heizschichtanordnung zu sehen. So wird zum Beispiel mittels der Titanschicht eine effiziente Anhaftung der Lötschicht ermöglicht. Somit wird zum Beispiel mittels der Platinschicht verhindert, dass Gold aus der ersten Lötschicht in die Passivierungsschicht diffundiert. Die Goldschicht bewirkt in vorteilhafter Weise ebenfalls eine effiziente Anhaftung der ersten Lötschicht.The technical effects and advantages for the layer stack that is located between the first solder layer and the passivation layer are particularly analogous to the technical advantages of the titanium / platinum / gold layer stack of the first electrically conductive heating layer arrangement. For example, an efficient adhesion of the solder layer is made possible by means of the titanium layer. Thus, for example, by means of the platinum layer, gold is prevented from diffusing from the first solder layer into the passivation layer. The gold layer also advantageously effects an efficient adhesion of the first solder layer.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass eine von einer der ersten Seite des Grundkörpers abgewandten Oberseite der ersten Passivierungsschicht durch die erste Passivierungsschicht bis zur ersten Heizschichtanordnung verlaufende elektrische Leitung zur elektrischen Kontaktierung der ersten Heizschichtanordnung gebildet ist.According to one embodiment, it is provided that an electrical line extending from one of the first side of the main body facing away from the upper side of the first passivation layer through the first passivation layer to the first heating layer arrangement is formed for electrical contacting of the first heating layer arrangement.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass eine effiziente elektrische Kontaktierung der ersten Heizschichtanordnung bewirkt werden kann.As a result, in particular the technical advantage is brought about that an efficient electrical contacting of the first heating layer arrangement can be effected.
Nach einer anderen Ausführungsform ist vorgesehen, dass die elektrische Leitung mittels der ersten Heizschichtanordnung ausgebildet ist.According to another embodiment, it is provided that the electrical line is formed by means of the first heating layer arrangement.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass die elektrische Leitung effizient hergestellt werden kann. Denn zum Beispiel ist vorgesehen, dass die erste Heizschichtanordnung bereits derart ausgebildet wird, dass diese einen Abschnitt umfasst, der, nach dem Bilden der Passivierungsschicht, durch diese verläuft. Das heißt also, dass die erste Heizschichtanordnung zum Beispiel derart strukturiert ist respektive wird, dass nach einem Aufbringen der Passivierungsschicht die elektrische Leitung durch die Passivierungsschicht, wie vorstehend beschrieben, verläuft.As a result, the technical advantage, in particular, is achieved that the electrical line can be produced efficiently. For example, it is provided that the first heating layer arrangement is already formed such that it comprises a section which, after the formation of the passivation layer, extends through the latter. That is to say, the first heating layer arrangement is, for example, structured in such a way that, after application of the passivation layer, the electrical conduction passes through the passivation layer as described above.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die erste Heizschichtanordnung einen ersten elektrischen Kontaktierungsabschnitt, einen zweiten elektrischen Kontaktierungsabschnitt und einen zwischen der ersten Lötschicht und der ersten Seite verlaufenden Heizabschnitt aufweist, wobei der Heizabschnitt der ersten Heizschichtanordnung mittels der zwei elektrischen Kontaktierungsabschnitte der ersten Heizschichtanordnung elektrisch kontaktiert ist.According to one embodiment, it is provided that the first heating layer arrangement has a first electrical contacting section, a second electrical contacting section and a heating section extending between the first soldering layer and the first side, wherein the heating section of the first heating layer arrangement is electrically contacted by the two electrical contacting sections of the first heating layer arrangement ,
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass die erste Lötschicht effizient erwärmt werden kann. Denn dadurch, dass sich der Heizabschnitt zwischen der Lötschicht und der ersten Seite des Grundkörpers befindet, kann eine effiziente lokale Erwärmung der Lötschicht bewirkt werden.As a result, in particular, the technical advantage is achieved that the first solder layer can be heated efficiently. Because by the fact that the Heating section is located between the solder layer and the first side of the base body, an efficient local heating of the solder layer can be effected.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass der Heizabschnitt der ersten Heizschichtanordnung eine Streifenform oder eine zweidimensionale Wendelstruktur aufweist.According to one embodiment, it is provided that the heating section of the first heating layer arrangement has a strip shape or a two-dimensional helical structure.
Durch das Vorsehen einer Streifenform wird in vorteilhafter Weise bewirkt, dass der Heizabschnitt effizient und einfach hergestellt werden kann.By providing a strip shape, it is advantageously effected that the heating section can be manufactured efficiently and easily.
Durch das Vorsehen einer zweidimensionalen Wendelstruktur für den Heizabschnitt wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass eine effiziente elektrische Stromleitung bewirkt werden kann, insofern seitliche Querleitwiderstände kleiner sind verglichen zu einer Streifenform.By providing a two-dimensional helical structure for the heating section, the technical advantage, in particular, is brought about that efficient electric power conduction can be effected insofar as lateral shunt resistances are smaller compared to a strip shape.
Die Formulierung „zweidimensional“ im Zusammenhang mit der Wendelstruktur bedeutet insbesondere, dass der entsprechende Heizabschnitt flächig in einer Ebene verläuft. The wording "two-dimensional" in connection with the spiral structure means, in particular, that the corresponding heating section extends in a flat plane.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die erste Heizschichtanordnung einen frei liegenden Abschnitt aufweist, auf welchen geschmolzenes Lot der ersten Lötschicht fließen kann, um einen elektrischen Widerstand der ersten Heizschichtanordnung zu reduzieren.According to one embodiment, it is provided that the first heating layer arrangement has an exposed section, on which molten solder of the first solder layer can flow, in order to reduce an electrical resistance of the first heating layer arrangement.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass ein selbstregulierender Lötprozess ermöglicht ist. Denn so wird das Lot, wenn es schmilzt, auf dem freiliegenden Abschnitt laufen und dadurch, also aufgrund des dann entstehenden elektrischen Kontaktes, einen elektrischen Widerstand der ersten Heizschichtanordnung reduzieren. Ein Reduzieren des elektrischen Widerstands der ersten Heizschichtanordnung bewirkt dann in vorteilhafter Weise, dass eine elektrische Verlustwärme kleiner wird, so dass hierüber die Temperatur abfällt oder kleiner wird. Somit wird in vorteilhafter Weise vermieden, dass die Temperatur des Lots über eine für das optoelektronische Bauelement kritische Temperatur ansteigt. As a result, in particular the technical advantage is effected that a self-regulating soldering process is made possible. Because then the solder, when it melts, run on the exposed portion and thereby, so due to the then resulting electrical contact, reduce an electrical resistance of the first heating layer arrangement. Reducing the electrical resistance of the first heating layer arrangement then advantageously causes a loss of electrical heat to be smaller, so that the temperature drops or becomes smaller over this. Thus, it is advantageously avoided that the temperature of the solder rises above a critical temperature for the optoelectronic component.
Ferner wird dadurch zum Beispiel der technische Effekt bewirkt, dass die Schmelztemperatur des Lots nur solange aufrecht erhalten bleibt, bis das Lot auf den freiliegenden Abschnitt geflossen ist. Das heißt, dass das optoelektronische Bauelement nur diesen Zeitraum der Schmelztemperatur ausgesetzt ist. Dadurch kann zum Beispiel eine Hitzebeschädigung am Bauelement vermieden werden. Furthermore, this causes, for example, the technical effect that the melting temperature of the solder is maintained only until the solder has flowed onto the exposed portion. This means that the optoelectronic component is exposed to the melting temperature only during this period. As a result, for example, heat damage to the component can be avoided.
Das heißt also, dass zum Beispiel effizient vermieden werden kann, dass die erste Lötschicht zu stark erhitzt wird. Zu stark bedeutet hier insbesondere, dass eine Temperatur erreicht wird, die um mehr als 20 % oberhalb der Schmelztemperatur der Lötschicht liegt.This means that, for example, it can be efficiently avoided that the first solder layer is heated too much. Too much here means in particular that a temperature is reached which is more than 20% above the melting temperature of the solder layer.
Dadurch können also in vorteilhafter Weise Hitzeschäden an den einzelnen Elementen des Trägers und insbesondere an dem Bauelement vermieden werden.As a result, heat damage to the individual elements of the carrier and in particular to the component can be avoided in an advantageous manner.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass eine zweite elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Grundkörpers angeordnet ist, wobei die zweite Heizanordnung von einer auf der zweiten Seite angeordneten zweiten Lötschicht elektrisch isoliert und mit der zweiten Lötschicht thermisch verbunden ist.According to one embodiment, it is provided that a second electrically conductive heating layer arrangement is arranged on a second side of the base body opposite the first side, the second heating arrangement being electrically insulated from a second soldering layer arranged on the second side and being thermally connected to the second soldering layer.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass der Träger selbst zum Beispiel auf einen zweiten oder weiteren Träger gelötet oder verlötet werden kann.As a result, in particular, the technical advantage is achieved that the carrier itself can be soldered or soldered, for example, to a second or further carrier.
In einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass der Grundkörper mittels der zweiten Lötschicht auf einen weiteren Träger gelötet wird, indem die zweite elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung mit einer elektrischen Spannung oder einem elektrischen Strom beaufschlagt wird, so dass sich die zweite elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung erwärmt, um die zweite Lötschicht zu schmelzen. Der weitere Träger kann auch als ein Tragbauteil bezeichnet werden. In one embodiment, it is provided that the main body is soldered by means of the second solder layer to another support by the electric current or voltage is applied to the second electrically conductive Heizschichtanordnung so that the second electrically conductive heating layer assembly heats to the second To melt soldering layer. The further carrier can also be referred to as a carrying component.
Nach einer Ausführungsform ist die zweite Seite des Grundkörpers als eine Unterseite des Grundkörpers ausgebildet. Das heißt, dass zum Beispiel die zweite Seite des Grundkörpers die Unterseite des Grundkörpers ist.According to one embodiment, the second side of the main body is formed as an underside of the main body. That is, for example, the second side of the main body is the underside of the main body.
Technische Merkmale und technische Eigenschaften der zweiten Heizschichtanordnung ergeben sich zum Beispiel analog zu technischen Eigenschaften und technischen Merkmalen der ersten Heizschichtanordnung. Das heißt, dass die Ausführungen, die im Zusammenhang mit der ersten Heizschichtanordnung gemacht sind, analog für die zweite Heizschichtanordnung gelten und umgekehrt. Auf die entsprechend gemachten Ausführungen wird daher zwecks Vermeidung von Wiederholungen verwiesen.Technical features and technical properties of the second Heizschichtanordnung arise, for example, analogous to technical properties and technical features of the first Heizschichtanordnung. This means that the statements made in connection with the first heating layer arrangement apply analogously to the second heating layer arrangement and vice versa. Reference is therefore made to the statements made in order to avoid repetition.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die zweite Heizschichtanordnung mittels einer zweiten elektrisch isolierenden Passivierungsschicht von der zweiten Lötschicht elektrisch isoliert ist, indem die zweite Passivierungsschicht zumindest teilweise auf der zweiten Heizschichtanordnung angeordnet ist, wobei die zweite Lötschicht zumindest mittelbar auf der zweiten Passivierungsschicht angeordnet ist.According to one embodiment, it is provided that the second heating layer arrangement is electrically insulated from the second soldering layer by means of a second electrically insulating passivation layer in that the second passivation layer is arranged at least partially on the second heating layer arrangement, wherein the second soldering layer is at least is arranged indirectly on the second passivation layer.
Die technischen Vorteile, die sich aus der Ausführungsform umfassend die zweite Passivierungsschicht ergeben, sind analog zu den technischen Vorteilen zu sehen, wie sie sich im Zusammenhang mit Ausführungsformen umfassend die erste Passivierungsschicht ergeben. Auf die entsprechend gemachten Ausführungen wird zur Vermeidung von Wiederholungen verwiesen.The technical advantages which result from the embodiment comprising the second passivation layer are analogous to the technical advantages which result in connection with embodiments comprising the first passivation layer. Reference is made to the statements made in order to avoid repetition.
Technische Merkmale und technische Eigenschaften der zweiten Passivierungsschicht ergeben sich analog aus technischen Merkmalen und technischen Eigenschaften der ersten Passivierungsschicht. Das heißt also, dass die zweite Passivierungsschicht Eigenschaften und technische Merkmale aufweisen kann, wie sie im Zusammenhang mit der ersten Passivierungsschicht beschrieben sind.Technical features and technical properties of the second passivation layer result analogously from technical features and technical properties of the first passivation layer. This means that the second passivation layer can have properties and technical features as described in connection with the first passivation layer.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass eine von einer der zweiten Seite des Grundkörpers abgewandten Oberseite der zweiten Passivierungsschicht durch die zweite Passivierungsschicht bis zur zweiten Heizschichtanordnung verlaufende elektrische Leitung zur elektrischen Kontaktierung der zweiten Heizschichtanordnung gebildet ist.According to one embodiment, it is provided that an upper side of the second passivation layer facing away from one of the second side of the base body is formed by the second passivation layer extending to the second Heizschichtanordnung electrical line for electrically contacting the second Heizschichtanordnung.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass die zweite Heizschichtanordnung effizient elektrisch kontaktiert werden kann.As a result, in particular, the technical advantage is achieved that the second heating layer arrangement can be contacted electrically in an efficient manner.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die elektrische Leitung mittels der zweiten Heizschichtanordnung ausgebildet ist.According to one embodiment, it is provided that the electrical line is formed by means of the second heating layer arrangement.
Die sich daraus ergebenden technischen Vorteile sind analog zu den technischen Vorteilen zu sehen, wie sie sich im Zusammenhang mit der Ausführungsform, in welcher die elektrische Leitung mittels der ersten Heizschichtanordnung ausgebildet ist, ergeben haben. Auf die entsprechend gemachten Ausführungen wird zur Vermeidung von Wiederholungen verwiesen.The resulting technical advantages are analogous to the technical advantages seen in connection with the embodiment in which the electrical line is formed by means of the first heating layer arrangement have resulted. Reference is made to the statements made in order to avoid repetition.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die zweite Heizschichtanordnung einen ersten elektrischen Kontaktierungsabschnitt, einen zweiten elektrischen Kontaktierungsabschnitt und einen zwischen der zweiten Lötschicht und der zweiten Seite verlaufenden Heizabschnitt aufweist, wobei der Heizabschnitt der zweiten Heizschichtanordnung mittels der zwei elektrischen Kontaktierungsabschnitte der zweiten Heizschichtanordnung elektrisch kontaktiert ist.According to one embodiment, it is provided that the second heating layer arrangement has a first electrical contacting section, a second electrical contacting section and a heating section extending between the second soldering layer and the second side, wherein the heating section of the second heating layer arrangement is electrically contacted by the two electrical contacting sections of the second heating layer arrangement ,
Auch hier sind die technischen Vorteile analog zu den vorstehend genannten technischen Vorteilen zu sehen, wie sie sich im Zusammenhang mit der ersten Heizschichtanordnung umfassend den ersten und den zweiten elektrischen Kontaktierungsabschnitt und den ersten und zweiten elektrischen Kontaktierungsabschnitt und dem Heizabschnitt ergeben haben.Again, the technical advantages are analogous to the technical advantages mentioned above, as they have resulted in connection with the first heating layer assembly comprising the first and the second electrical contacting portion and the first and second electrical contacting portion and the heating section.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass der Heizabschnitt der zweiten Heizschichtanordnung eine Streifenform oder eine zweidimensionale Wendelstruktur aufweist.According to one embodiment, it is provided that the heating section of the second heating layer arrangement has a strip shape or a two-dimensional helical structure.
Die entsprechenden Vorteile ergeben sich analog zu den Vorteilen der Ausführungsform, gemäß welcher der Heizabschnitt der ersten Heizschichtanordnung eine Streifenform oder eine zweidimensionale Wendelstruktur aufweist.The corresponding advantages result analogously to the advantages of the embodiment according to which the heating section of the first heating layer arrangement has a strip shape or a two-dimensional helical structure.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die zweite Heizschichtanordnung mittels einer von der ersten Seite zur zweiten Seite des Grundkörpers verlaufenden elektrischen Durchkontaktierung elektrisch kontaktiert ist.According to one embodiment, it is provided that the second heating layer arrangement is electrically contacted by means of an electrical through-connection running from the first side to the second side of the main body.
Dadurch wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass die zweite Heizschichtanordnung effizient elektrisch kontaktiert werden kann. Das heißt also, dass die zweite Heizschichtanordnung zum Beispiel von der ersten Seite her, also zum Beispiel von der Oberseite des Grundkörpers, elektrisch kontaktiert wird respektive ist.As a result, in particular, the technical advantage is achieved that the second heating layer arrangement can be contacted electrically in an efficient manner. This means that the second heating layer arrangement is, for example, electrically contacted from the first side, that is, for example, from the upper side of the base body, respectively.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass der Träger mittels des Verfahrens zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement hergestellt ist respektive wird.According to one embodiment, provision is made for the carrier to be produced or to be produced by means of the method for producing a carrier for an optoelectronic component.
Nach einer Ausführungsform wird mittels des Verfahrens zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement der erfindungsgemäße Träger hergestellt.According to one embodiment, the carrier according to the invention is produced by means of the method for producing a carrier for an optoelectronic component.
Technische Funktionalitäten des Verfahrens zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement ergeben sich analog aus entsprechenden technischen Funktionalitäten des Trägers für ein optoelektronisches Bauelement und umgekehrt. Das heißt also, dass sich Verfahrensmerkmale des Verfahrens zum Herstellen eines Trägers für ein optoelektronisches Bauelement aus entsprechenden Vorrichtungsmerkmalen des Trägers für ein optoelektronisches Bauelement ergeben und umgekehrt.Technical functionalities of the method for producing a carrier for an optoelectronic component arise analogously from corresponding technical functionalities of the carrier for an optoelectronic component and vice versa. That is to say, method features of the method for producing a carrier for an optoelectronic component result from corresponding device characteristics of the carrier for an optoelectronic component and vice versa.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass die elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung, also insbesondere die erste respektive zweite Heizschichtanordnung, mittels eines Aufdampfprozesses respektive galvanischen Prozesses hergestellt ist respektive wird.According to one embodiment, it is provided that the electrically conductive heating layer arrangement, that is to say in particular the first or second heating layer arrangement, is or are produced by means of a vapor deposition process or galvanic process.
Das heißt also, dass Schichten im Sinne der vorliegenden Erfindung, also zum Beispiel Schichten der Heizschichtanordnung, erste respektive zweite Lötschicht, erste respektive zweite Passivierungsschicht, aufgedampfte Schichten respektive galvanisch aufgebrachte oder galvanisch abgeschiedene Schichten sind. This means that layers in the sense of the present invention, ie for example layers of the heating layer arrangement, are first or second solder layer, first respectively second passivation layer, vapor deposited layers respectively galvanically deposited or electrodeposited layers.
Die Formulierung "respektive" umfasst insbesondere die Formulierung "und/oder".The wording "respectively" includes in particular the wording "and / or".
Durch das Vorsehen von Aufdampfprozessen und galvanischen Abscheideprozessen wird insbesondere der technische Vorteil bewirkt, dass mit an sich bekannten Prozessverfahren die einzelnen Schichten effizient hergestellt werden können.The provision of vapor deposition processes and galvanic deposition processes has the technical advantage in particular that the individual layers can be produced efficiently by means of process methods known per se.
Nach einer Ausführungsform ist respektive sind die erste respektive zweite Heizschichtanordnung im Grundkörper integriert. According to one embodiment, respectively the first and second heating layer arrangement are integrated in the main body.
In einer Ausführungsform ist der Grundkörper als ein Submount ausgebildet respektive ist ein Submount. Ein Submount dient in vorteilhafter Weise zur effizienten Handhabung und/oder als effizienter Wärmeleiter und/oder zur effizienten Wärmespreizung und/oder zur effizienten Kompensation unterschiedlicher thermischer Ausdehnungen. Das heißt also insbesondere, dass ein Submount insbesondere für eine Handhabung und/oder für eine Wärmeleitung und/oder für eine Wärmespreizung und/oder für eine Kompensation unterschiedlicher thermischer Ausdehnungen ausgebildet ist. In one embodiment, the base body is formed as a submount, respectively, is a submount. A submount is used advantageously for efficient handling and / or as an efficient heat conductor and / or for efficient heat spreading and / or for efficient compensation of different thermal expansions. This therefore means, in particular, that a submount is designed in particular for handling and / or for heat conduction and / or for heat spreading and / or for compensation of different thermal expansions.
Das heißt also insbesondere, dass der Grundkörper respektive der Submount zum Beispiel als Wärmeleiter ausgebildet ist. Insbesondere ist der Grundkörper respektive der Submount ausgebildet, unterschiedliche thermische Ausdehnungen zu kompensieren. This means in particular that the base body or the submount, for example, is designed as a heat conductor. In particular, the base body or the submount is designed to compensate for different thermal expansions.
Die oben beschriebenen Eigenschaften, Merkmale und Vorteile dieser Erfindung sowie die Art und Weise, wie diese erreicht werden, werden klarer und deutlicher verständlich im Zusammenhang mit der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die im Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläutert werden, wobeiThe above-described characteristics, features, and advantages of this invention, as well as the manner in which they are achieved, will become clearer and more clearly understood in connection with the following description of the embodiments which will be described in connection with the drawings
Im Folgenden können für gleiche Merkmale gleiche Bezugszeichen verwendet werden. Des Weiteren kann zwecks Übersichtlichkeit vorgesehen sein, dass nicht in sämtlichen Zeichnungen sämtliche Elemente stets ein Bezugszeichen aufweisen.Hereinafter, like reference numerals may be used for like features. Furthermore, it can be provided for the sake of clarity that not all drawings have all the elements always a reference numeral.
Ein optoelektronisches Bauelement ist der Übersicht halber nicht gezeigt.An optoelectronic component is not shown for the sake of clarity.
Der Träger
Der Grundkörper
Auf der ersten Seite
Der Grundkörper
Die erste Heizschichtanordnung
Der erste elektrische Kontaktierungsabschnitt
Ferner ist eine elektrische Leitung
Die elektrische Leitung
Die erste Heizschichtanordnung
Die Passivierungsschicht umfasst zum Beispiel einen oder mehrere der folgenden Materialien respektive ist aus einem oder mehreren der folgenden Materialien gebildet:
Auf der Oberseite
On the top
Auf einer Oberseite
Die Lötschicht
Der Heizabschnitte
Um die Lötschicht
Aufgrund der verwendeten Materialien für die einzelnen Schichten ist zum einen eine thermische Verbindung zwischen der ersten Heizschichtanordnung
Aufgrund der Passivierungsschicht
Der Heizabschnitt
In der Ansicht von oben ist nun auch der zweite elektrische Kontaktierungsabschnitt
Der zweite Träger
Die erste Heizschichtanordnung
Wenn die Lötschicht
In den
Demgegenüber zeigen die
Die erste Seite
Eine zweite Seite
Die zweite Seite
Die beiden Heizabschnitte
Entsprechend ist eine elektrische Leitung
Analog zu der ersten Seite
Ausführungen, die im Zusammenhang mit der ersten Lötschicht
Die zweite Passivierungsschicht
Es ist ein Tragbauteil
Der Träger
Somit ist eine Stromzuführung über die elektrische Kontaktierungsflächen
Die zweite Heizschichtanordnung
Auch beim vierten Träger
Gemäß dem in
Eine elektrische Kontaktierung der zweiten Heizschichtanordnung
Die elektrische Durchkontaktierung
Somit entfallen die elektrischen Kontaktierungsflächen der Montagefläche
Somit ist die Montagefläche
Mittels der zweiseitig strukturierten Träger
Einer der Träger
Die Darstellung gemäß
Das optoelektronische Bauelement
Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte:
- –
Bereitstellen 1101 eines Grundkörpers, wobei der Grundkörper eine erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung umfasst, - –
Bilden 1103 einer elektrischen Isolierung, einer thermischen Verbindung und einer ersten Lötschicht zum Löten eines optoelektronischen Bauelements an den Grundkörper auf einer ersten Seite des Grundkörpers derart, dass - – die erste elektrisch leitfähige Heizschichtanordnung von der ersten Lötschicht elektrisch isoliert und mit der ersten Lötschicht thermisch verbunden ist.
- - Provide
1101 a base body, wherein the base body comprises a first electrically conductive heating layer arrangement, - -
Form 1103 an electrical insulation, a thermal connection and a first solder layer for soldering an optoelectronic component to the base body on a first side of the base body such that - - The first electrically conductive heating layer assembly of the first solder layer is electrically insulated and thermally connected to the first solder layer.
Nach einer Ausführungsform ist vorgesehen, dass ein oder mehrere der Schichten, wie sie vorstehend beschrieben sind, galvanisch abgeschieden respektive aufgedampft sind respektive werden.According to one embodiment, it is provided that one or more of the layers, as described above, are galvanically deposited or vapor-deposited respectively.
Es ist gemäß einem Schritt
Zusammenfassend wird ein effizientes technisches Konzept bereitgestellt, welches den erfindungsgemäßen Gedanken umfasst, dass ein Grundkörper eines Trägers eine elektrisch leitende Struktur aufweist, die zum Beispiel auf einer ersten respektive zweiten Seite des Grundkörpers respektive im Grundkörper selbst, gebildet ist. Diese elektrisch leitende Struktur ist hier als die erste respektive zweite Heizschichtanordnung bezeichnet. Diese elektrisch leitende Struktur ist von der Lötschicht elektrisch isoliert, aber mit dieser thermisch verbunden. Die elektrisch leitende Struktur wirkt als eine elektrische Widerstandsheizung und erzeugt die für das Löten notwendige thermische Energie. Somit wird also ein Träger für ein optoelektronisches Bauelement bereitgestellt, welches über eine eigene Heizung verfügt, um die Lötschicht oder die Lötschichten zu schmelzen.In summary, an efficient technical concept is provided, which includes the inventive concept that a base body of a carrier has an electrically conductive structure, which is formed, for example, on a first or second side of the base body or in the main body itself. This electrically conductive structure is referred to here as the first or second heating layer arrangement. This electrically conductive structure is electrically isolated from the solder layer but thermally connected thereto. The electrically conductive structure acts as an electrical resistance heater and generates the thermal energy necessary for the soldering. Thus, therefore, a support for an optoelectronic device is provided, which has its own heating to melt the solder layer or the solder layers.
Obwohl die Erfindung im Detail durch die bevorzugten Ausführungsbeispiele näher illustriert und beschrieben wurde, so ist die Erfindung nicht durch die offenbarten Beispiele eingeschränkt und andere Variationen können vom Fachmann hieraus abgeleitet werden, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen.While the invention has been further illustrated and described in detail by the preferred embodiments, the invention is not limited by the disclosed examples, and other variations can be derived therefrom by those skilled in the art without departing from the scope of the invention.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 101101
- Träger carrier
- 103103
- Grundkörper body
- 105105
- erste Seite des Grundkörpers first side of the main body
- 107107
- erste Heizschichtanordnung first heating layer arrangement
- 109109
- Heizabschnitt der ersten Heizschichtanordnung Heating section of the first heating layer arrangement
- 111111
- erster Kontaktierungsabschnitt der ersten Heizschichtanordnung first contacting section of the first heating layer arrangement
- 113113
- erste Passivierungsschicht first passivation layer
- 115115
- Oberseite der ersten Passivierungsschicht Top of the first passivation layer
- 117117
- elektrische Leitung electrical line
- 119119
- weitere Schichtanordnung further layer arrangement
- 121121
- Oberseite der weiteren Schichtanordnung Top of the further layer arrangement
- 123123
- erste Lötschicht first solder layer
- 125125
- Oberseite der ersten Lötschicht Top of the first solder layer
- 127127
- Oberseite der ersten Heizschichtanordnung Top of the first Heizschichtanordnung
- 201201
- elektrische Leitung electrical line
- 203203
- zweiter elektrischer Kontaktierungsabschnitt der ersten Heizschichtanordnung second electrical contacting portion of the first heating layer assembly
- 205205
- Abschnitt der zweidimensionalen Wendelstruktur Section of the two-dimensional spiral structure
- 207207
- Verbindungsabschnitt der zweidimensionalen Wendelstruktur Connecting portion of the two-dimensional coil structure
- 401401
- Träger carrier
- 501501
- freiliegender Abschnitt der ersten Heizschichtanordnung exposed portion of the first Heizschichtanordnung
- 701701
- Träger carrier
- 703703
- zweite Seite des Grundkörpers second side of the body
- 705705
- zweite Heizschichtanordnung second heating layer arrangement
- 707707
- Heizabschnitt der zweiten Heizschichtanordnung Heating section of the second Heizschichtanordnung
- 709709
- erster Kontaktierungsabschnitt der zweiten Heizschichtanordnung first contacting section of the second heating layer arrangement
- 711711
- elektrische Leitung electrical line
- 713713
- zweite Passivierungsschicht second passivation layer
- 715715
- Oberseite der zweiten Passivierungsschicht Top of the second passivation layer
- 717717
- weitere Schichtanordnung further layer arrangement
- 719719
- Oberseite der weiteren Schichtanordnung Top of the further layer arrangement
- 721721
- zweite Lötschicht second solder layer
- 723723
- Oberseite der zweiten Lötschicht Top of the second solder layer
- 725725
- Abschnitt der zweiten Passivierungsschicht Section of the second passivation layer
- 727727
- Tragbauteil support member
- 729729
- Montagefläche mounting surface
- 731731
- elektrische Kontaktierungsfläche electrical contact surface
- 733733
- elektrische Kontaktierungsfläche electrical contact surface
- 801801
- Träger carrier
- 803803
- elektrische Kontaktierungsfläche electrical contact surface
- 805805
- elektrische Durchkontaktierung electrical via
- 901901
- Wafer wafer
- 903903
- optoelektronisches Bauelement optoelectronic component
- 10011001
- Kante edge
- 11011101
- Bereitstellen Provide
- 11031103
- Bilden Form
- 12011201
- Beaufschlagen apply
- 12031203
- Löten soldering
Claims (17)
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/061,358 US10991853B2 (en) | 2015-12-14 | 2016-12-14 | Carrier for an optoelectronic component, method of producing a carrier for an optoelectronic component, wafer and soldering method |
DE112016005718.0T DE112016005718B4 (en) | 2015-12-14 | 2016-12-14 | CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING A CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, WAFER AND SOLDERING METHOD |
PCT/EP2016/081036 WO2017102863A1 (en) | 2015-12-14 | 2016-12-14 | Carrier for an optoelectronic component, method for producing a carrier for an optoelectronic component, wafer and soldering method |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015121711.2 | 2015-12-14 | ||
DE102015121711 | 2015-12-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102016106734A1 true DE102016106734A1 (en) | 2017-06-14 |
Family
ID=58773381
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102016106734.2A Withdrawn DE102016106734A1 (en) | 2015-12-14 | 2016-04-12 | Support for an optoelectronic component, method for producing a support for an optoelectronic component, wafers and soldering methods |
DE112016005718.0T Active DE112016005718B4 (en) | 2015-12-14 | 2016-12-14 | CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING A CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, WAFER AND SOLDERING METHOD |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112016005718.0T Active DE112016005718B4 (en) | 2015-12-14 | 2016-12-14 | CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING A CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, WAFER AND SOLDERING METHOD |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10991853B2 (en) |
DE (2) | DE102016106734A1 (en) |
WO (1) | WO2017102863A1 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4769525A (en) * | 1986-09-02 | 1988-09-06 | Hughes Aircraft Company | Circuit package attachment apparatus and method |
US5700987A (en) * | 1994-06-16 | 1997-12-23 | Lucent Technologies Inc. | Alignment and bonding techniques |
US20150373886A1 (en) * | 2011-10-18 | 2015-12-24 | Integrated Microwave Corporation | Integral heater assembly and method for host board of electronic package assembly |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2309335B (en) * | 1996-01-22 | 1998-04-08 | Northern Telecom Ltd | Thin film resistor for optoelectronic integrated circuits |
US6423939B1 (en) * | 2000-10-02 | 2002-07-23 | Agilent Technologies, Inc. | Micro soldering method and apparatus |
KR100866840B1 (en) * | 2001-01-30 | 2008-11-04 | 엠/에이-컴, 인크. | A compound semiconductor device, a using method thereof and a system comprising a compound semiconductor device |
US7269017B2 (en) * | 2004-11-19 | 2007-09-11 | Delphi Technologies, Inc. | Thermal management of surface-mount circuit devices on laminate ceramic substrate |
EP1977456A4 (en) * | 2005-12-29 | 2014-03-05 | Lam Chiang Lim | High power led housing removably fixed to a heat sink |
US9443903B2 (en) * | 2006-06-30 | 2016-09-13 | Cree, Inc. | Low temperature high strength metal stack for die attachment |
DE102007009351A1 (en) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | Noctron Holding S.A. | Lamp |
US20100309643A1 (en) | 2008-03-27 | 2010-12-09 | Rene Todt | Multi-chip hybrid-mounted device and method of manufacturing the same |
JP5418210B2 (en) * | 2009-01-16 | 2014-02-19 | 住友電気工業株式会社 | Nitride semiconductor crystal manufacturing method, AlN crystal and nitride semiconductor crystal manufacturing apparatus |
US8821042B2 (en) | 2011-07-04 | 2014-09-02 | Sumitomo Electic Industries, Ltd. | Optical module with lens assembly directly mounted on carrier by soldering and laser diode indirectly mounted on carrier through sub-mount |
US8462462B1 (en) | 2011-10-20 | 2013-06-11 | Western Digital (Fremont), Llc | Localized heating for flip chip bonding |
US20130344612A1 (en) * | 2012-06-20 | 2013-12-26 | The Research Foundation Of State University Of New York | Ultrasensitive, superfast, and microliter-volume differential scanning nanocalorimeter for direct charactization of biomolecular interactions |
US10418519B2 (en) * | 2015-12-22 | 2019-09-17 | Apple Inc. | LED sidewall processing to mitigate non-radiative recombination |
US10777764B2 (en) * | 2017-12-25 | 2020-09-15 | Epistar Corporation | Light-emitting element and light-emitting device comprising the same |
-
2016
- 2016-04-12 DE DE102016106734.2A patent/DE102016106734A1/en not_active Withdrawn
- 2016-12-14 WO PCT/EP2016/081036 patent/WO2017102863A1/en active Application Filing
- 2016-12-14 DE DE112016005718.0T patent/DE112016005718B4/en active Active
- 2016-12-14 US US16/061,358 patent/US10991853B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4769525A (en) * | 1986-09-02 | 1988-09-06 | Hughes Aircraft Company | Circuit package attachment apparatus and method |
US5700987A (en) * | 1994-06-16 | 1997-12-23 | Lucent Technologies Inc. | Alignment and bonding techniques |
US20150373886A1 (en) * | 2011-10-18 | 2015-12-24 | Integrated Microwave Corporation | Integral heater assembly and method for host board of electronic package assembly |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112016005718B4 (en) | 2022-01-27 |
DE112016005718A5 (en) | 2018-09-06 |
US10991853B2 (en) | 2021-04-27 |
WO2017102863A1 (en) | 2017-06-22 |
US20180366616A1 (en) | 2018-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102012215055B4 (en) | Process for manufacturing a power semiconductor device | |
DE102010029147B4 (en) | Method for determining the temperature of a power semiconductor | |
DE102013216709B4 (en) | SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT, METHOD FOR MANUFACTURING A NUMBER OF CHIP ASSEMBLIES AND METHOD FOR MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT | |
DE102006041575A1 (en) | Semiconductor device | |
DE102013217356B4 (en) | Method for producing a solar cell segment and method for producing a solar cell | |
DE7022778U (en) | CONNECTION FOR A SEMI-CONDUCTOR PLATE | |
DE102013101258A1 (en) | Semiconductor device using diffusion soldering | |
DE112015004794T5 (en) | Laser light source device | |
DE112018004669T5 (en) | SOLDER-FREE FLEXIBLE CONNECTOR WITH HIGH PERFORMANCE FOR PRINTED PATHWAYS | |
DE102015103779A1 (en) | Chip arrangement and method for forming a contact connection | |
DE2151632A1 (en) | Semiconductor component with fusible links | |
DE112017000841T5 (en) | SEMICONDUCTOR LASER LIGHT SOURCE DEVICE | |
DE102010033361A1 (en) | Soldering head and method for inductive soldering | |
DE102013217802B4 (en) | SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT, METHOD FOR PRODUCING A SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT AND METHOD FOR OPERATING A SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT | |
DE102013217801B4 (en) | SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT, METHOD FOR PRODUCING A NUMBER OF CHIP ASSEMBLIES, METHOD FOR PRODUCING A SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT, AND METHOD FOR OPERATING A SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT | |
DE102015013511B3 (en) | Laser radiation source and method for producing a laser radiation source and use of a soldering process | |
DE102012111520A1 (en) | A chip package and method of forming a chip package | |
DE1178519B (en) | Process for the production of semiconductor components by melting a small amount of electrode material onto a semiconducting body | |
DE102018207537A1 (en) | Composite arrangement of three stacked joining partners | |
DE7521840U (en) | ELECTRIC PRECISION RESISTOR | |
DE112016005718B4 (en) | CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING A CARRIER FOR AN OPTOELECTRONIC DEVICE, WAFER AND SOLDERING METHOD | |
WO2010083976A1 (en) | Device for soldering a conductor onto a circuit carrier | |
DE102020208360B4 (en) | Shaped wire, printed circuit board, power electronics and method of manufacturing a printed circuit board | |
EP3283671B1 (en) | Method for coating a component and use of said method | |
EP2772997A1 (en) | Laserdiode element and method for its production |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R163 | Identified publications notified | ||
R118 | Application deemed withdrawn due to claim for domestic priority |