DE102016004085A1 - METHOD FOR PRODUCING AN ELECTRICALLY FUNCTIONALIZED SEMICONDUCTOR ELEMENT AND SUCH A SEMICONDUCTOR ELEMENT - Google Patents

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Abstract

Um kostengünstig Halbleiterelemente herstellen zu können, die insbesondere für den Einsatz in Solarzellen mit hohen Effizienzen geeignet sind, ist erfindungsgemäß ein Verfahren zur Herstellung eines elektrisch 5 funktionalisierten Halbleiterelements (1) vorgesehen, wobei das Halbleiterelement (1) einen Korngrenzen (12) aufweisenden Grundkörper (2) aus einem eine erste Bandlücke aufweisenden ersten Halbleitermaterial umfasst und wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: – Erzeugen eines Ausgangsprodukts des ersten Halbleitermaterials; – Einbringen von mindestens einem Stoff in das Ausgangsprodukt oder bei dessen Erzeugung, wobei als Stoff ein zweites Halbleitermaterial gewählt wird oder ein Stoff, der mit dem ersten Halbleitermaterial das zweite Halbleitermaterial bilden kann, wobei das zweite Halbleitermaterial eine zweite Bandlücke aufweist, die sich um mindestens 0,5 eV von der ersten Bandlücke unterscheidet, und wobei das zweite Halbleitermaterial zur Ausbildung von einer Vielzahl von elektrisch leitenden Strukturen (5) im Bereich der Korngrenzen (12) des Grundkörpers (2) vorgesehen ist; – Kristallisieren oder Rekristallisieren des Ausgangsprodukts zum Grundkörper (2).In order to be able to produce semiconductor elements which are particularly suitable for use in solar cells with high efficiencies, a method for producing an electrically functionalized semiconductor element (1) is provided according to the invention, wherein the semiconductor element (1) has a main body () having grain boundaries (12). 2) comprises a first semiconductor material having a first bandgap, and wherein the method comprises the steps of: - producing a starting product of the first semiconductor material; Introducing at least one substance into the starting product or during its production, wherein a second semiconductor material is selected as the substance or a substance which can form the second semiconductor material with the first semiconductor material, wherein the second semiconductor material has a second band gap which is at least 0.5 eV is different from the first band gap, and wherein the second semiconductor material for forming a plurality of electrically conductive structures (5) in the region of the grain boundaries (12) of the base body (2) is provided; Crystallizing or recrystallizing the starting product to the main body (2).

Description

GEBIET DER ERFINDUNG FIELD OF THE INVENTION

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements. The present invention relates to a method for producing an electrically functionalized semiconductor element.

Weiters betrifft die vorliegende Erfindung ein elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement. Furthermore, the present invention relates to an electrically functionalized semiconductor element.

Schließlich betrifft die vorliegende Erfindung die Verwendung eines erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements. Finally, the present invention relates to the use of an electrically functionalized semiconductor element according to the invention.

STAND DER TECHNIK STATE OF THE ART

Aktuell ist in der kristallinen Photovoltaik, insbesondere in der mit Halbleiterelementen auf Si-Basis arbeitenden Photovoltaik, ein Trend dahingehend zu beobachten, Solarzellen mit hohen Effizienzen so zu produzieren, dass Verunreinigungen des Halbleiterelements gering gehalten werden und die Kristallgüte möglichst hoch ist. Indem wenig Verunreinigungen und wenig Kristalldefekte bzw. (dekorierte) Korngrenzen im Halbleiterelement vorhanden sind, kann ein hoher Anteil der generierten Minoritätsladungsträger bis zum Emitter diffundieren. Insbesondere Korngrenzen bieten diesbezüglich, speziell in Verbindung mit Verunreinigungen, Zentren, an denen es häufig zur Rekombination der Minoritätsladungsträger mit Majoritätsladungsträgern kommt, womit die generierten Minoritätsladungsträger verloren sind. Currently, in crystalline photovoltaics, especially in the photovoltaic device using Si-based semiconductor elements, there is a trend to produce solar cells with high efficiencies so that impurities of the semiconductor element are kept low and the crystal quality is as high as possible. Since there are few impurities and little crystal defects or (decorated) grain boundaries in the semiconductor element, a high proportion of the generated minority carriers can diffuse to the emitter. In particular, grain boundaries in this regard, especially in conjunction with impurities, offer centers where recombination of the minority carriers with majority carriers often occurs, thus losing the generated minority carriers.

Die aus dem Stand der Technik bekannten Lösungen, die auf die Verbesserung der Kristallqualität in Form von möglichst wenig Verunreinigungen und Korngrenzen des verwendeten Halbleiterelements abzielen, sind als relativ aufwendig anzusehen. Hierbei wird versucht, bekannte Kristall-Herstellungsverfahren weiter zu optimieren. Im Czochralski-Verfahren sowie im Vertical Gradient Freeze(VGF)-Verfahren wird z.B. versucht über Nachchargierungsverfahren die Standzeiten zu verkürzen, und es wird versucht auf aufwendige magnetische bzw. akustische Verfahren zurückzugreifen, um eine bessere Durchmischung der Schmelze zu bewirken, wodurch höhere Kristallisationsgeschwindigkeiten und eine höhere Kristallgüte erzielt werden können. Um im letzteren Verfahren (VGF) einen monokristallinen Block ohne Korngrenzen zu erhalten, werden Anstrengungen unternommen, die Kristallisation mit einem im Tiegel befindlichen monokristallinen Seedkristall durchzuführen. Bemühungen gibt es auch dahingehend, einen tiegelfreien Zonenschmelzprozess mit Kristalldurchmessern von 6‘‘ und größer für die Photovoltaik zu etablieren. Im relativen Vergleich zu den obigen Verfahren hat das Ribbon-Growth-on-Substrate(RGS)-Verfahren bezüglich der Marktdurchdringung an Bedeutung verloren. Auch metallurgische Aufbereitungsverfahren haben aufgrund der stark gefallenen Si-Preise nicht den erhofften Durchbruch erzielt. Dies liegt einerseits an der Konkurrenz der kostenreduzierten Gasphasenabscheideverfahren und andererseits an den hohen Ansprüchen der Solarzellenhersteller. Die geringfügigen Preisunterschiede werden oft durch die geringeren Effizienzen der Solarzellen rasch wettgemacht. Höhere Reinheitsgrade bei Upgraded-Metallurgical-Grade(UMG)-Si können auch sehr schnell die Kosten der dafür notwendigen metallurgischen Verfahrensschritte in die Höhe treiben. The solutions known from the state of the art, which aim at improving the crystal quality in the form of the least possible impurities and grain boundaries of the semiconductor element used, are considered to be relatively expensive. In this case, attempts are being made to further optimize known crystal production methods. In the Czochralski method as well as in the Vertical Gradient Freeze (VGF) method, e.g. attempts to shorten the service lives by Nachchargierungsverfahren, and it is trying to resort to complex magnetic or acoustic methods to effect a better mixing of the melt, whereby higher crystallization rates and a higher crystal quality can be achieved. In order to obtain a monocrystalline block without grain boundaries in the latter method (VGF), efforts are made to carry out the crystallization with a monocrystalline seed crystal in the crucible. Efforts are also being made to establish a crucible-free zone melting process with crystal diameters of 6 "and larger for photovoltaics. Relative to the above methods, the Ribbon Growth-on-Substrates (RGS) method has lost importance in terms of market penetration. Even metallurgical treatment processes have not achieved the hoped-for breakthrough due to the sharp drop in Si prices. On the one hand, this is due to the competition of cost-reduced gas-phase deposition processes and, on the other hand, to the high demands of solar cell manufacturers. The slight price differences are often quickly offset by the lower efficiencies of the solar cells. Higher degrees of purity in upgraded metallurgical grade (UMG) Si can also very quickly drive up the costs of the metallurgical process steps required for this purpose.

Aus H.J. Möller et al., „Growth of Silicon Carbide Filaments in Multicrystalline Silicon for Solar Cells‘‘, Solid State Phenomena 156–158, 35 (2010) sowie aus S. Köstner et al.; „Structural Analysis of Longitudinal Si-C-N Precipitates in Multicrystalline Silicon‘‘, Proc. 8th IEEE PVSC 2, 1 (2012) ist es bekannt, dass SiC- bzw. Si3N4 Filamente in multikristallinem Si zufällig aufgrund von Verunreinigungen des Sie entstehen können. Diese Filamente werden jedoch als störend beschrieben, da sie in Solarzellen zu schwerwiegenden Kurzschlüssen führen können. Out HJ Moller et al., "Growth of Silicon Carbide Filaments in Multicrystalline Silicon for Solar Cells", Solid State Phenomena 156-158, 35 (2010) as well as out S. Köstner et al .; "Structural Analysis of Longitudinal Si-CN Precipitates in Multicrystalline Silicon", Proc. 8th IEEE PVSC 2, 1 (2012) It is known that SiC or Si 3 N 4 filaments in multicrystalline Si happen to be random due to impurities of them. However, these filaments are described as disturbing because they can lead to serious short circuits in solar cells.

AUFGABE DER ERFINDUNG OBJECT OF THE INVENTION

Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, Mittel zur Verfügung zu stellen, die eine kostengünstige Herstellung von Halbleiterelementen erlauben, welche insbesondere für den Einsatz in Solarzellen mit hohen Effizienzen geeignet sind, sowie solche Halbleiterelemente. Letztere können auch Anwendung finden für Detektorelemente, insbesondere ohne dem Anlegen einer dafür notwendigen Verarmungsspannung (depleteion voltage). It is therefore an object of the present invention to provide means that allow a cost-effective production of semiconductor elements, which are particularly suitable for use in solar cells with high efficiencies, and such semiconductor elements. The latter can also be used for detector elements, in particular without the application of a depleteion voltage required for this purpose.

DARSTELLUNG DER ERFINDUNG PRESENTATION OF THE INVENTION

Kern der Erfindung ist die Idee, ein Halbleiterelement, das einen Körner und Korngrenzen aufweisenden Grundkörper aus einem ersten Halbleitermaterial umfasst, elektrisch zu funktionalisieren, indem Strukturen aus einem zweiten Halbleitermaterial zur Sammlung und Leitung von Ladungen im Grundkörper insbesondere im Bereich der Korngrenzen erzeugt werden. Ermöglicht wird dies durch die Erkenntnis, dass die Phasengrenze zwischen den beiden Halbleitermaterialien elektrisch leitend wird und ladungssammelnde Eigenschaften besitzt, wenn die beiden Halbleitermaterialien eine hinreichend unterschiedlich große Bandlücke aufweisen. Die an der Grenze bzw. Phasengrenze zwischen den beiden Halbleitermaterialien auftretende Bandverbiegung spielt eine wesentliche Rolle für die auftretende elektrische Leitfähigkeit. Desweiteren sorgt die Bandverbiegung für eine zusätzliche Ladungsseparation im Volumen des Halbleiters und einer Feldeffektpassivierung der Korngrenzen, was wesentlich zur Verbesserung der Lebensdauern der Ladungsträger im Halbleitermaterial beiträgt. The core of the invention is the idea of electrically functionalizing a semiconductor element which comprises a body having grains and grain boundaries of a first semiconductor material by generating structures of a second semiconductor material for collecting and conducting charges in the body, in particular in the region of the grain boundaries. This is made possible by the realization that the phase boundary between the two semiconductor materials becomes electrically conductive and has charge-collecting properties if the two semiconductor materials have a sufficiently different bandgap. The band bending occurring at the boundary or phase boundary between the two semiconductor materials plays an essential role for the electrical conductivity that occurs. Furthermore, the band bending ensures additional charge separation in the volume of the semiconductor and a field effect passivation of the grain boundaries, which is essential contributes to the improvement of the lifetime of the charge carriers in the semiconductor material.

Die leitenden Strukturen erstrecken sich dabei idealerweise bis zu einer Oberseite des Grundkörpers bzw. kontaktieren die Oberseite elektrisch. Auf diese Weise können Ladungen aus dem Volumen des Grundkörpers zur Oberseite geleitet werden. Insbesondere beim Einsatz eines erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements in einer Solarzelle können auf diese Weise Minoritätsladungsträger aus dem Volumen gesammelt und zu einem Emitter bzw. Emitterkontakt, der die Oberseite elektrisch kontaktiert, geleitet werden. Die Minoritätsladungsträger müssen dabei lediglich einen relativ geringen Diffusionsweg bis zur nächsten elektrisch leitenden Struktur bzw. bis zur nächsten Korngrenze, die mit elektrisch leitenden Strukturen dekoriert ist, im Volumen zurücklegen. Eine Rekombination der Minoritätsladungsträger mit Majoritätsladungsträgern an den Korngrenzen findet nicht länger statt. Es ist davon auszugehen, dass sich an der Phasengrenze innerhalb der Korngrenze eine Ladungswolke bildet, die zu einer Absättigung der jeweiligen Zustände an etwaigen Defekt- bzw. Rekombinationszentren führt. Es sei bemerkt, dass für die Ausbildung dieser Ladungswolke bzw.Inversionsschicht generell keine metallischen Anreicherungen, Ausscheidungen oder Anlagerungen an der Sekundärphasengrenze nötig sind. The conductive structures ideally extend up to an upper side of the main body or contact the upper side electrically. In this way, charges can be conducted from the volume of the body to the top. In particular, when using an electrically functionalized semiconductor element according to the invention in a solar cell, minority carriers can be collected from the volume in this manner and conducted to an emitter or emitter contact, which makes electrical contact with the upper side. In this case, the minority charge carriers merely have to cover in volume a relatively small diffusion path up to the next electrically conductive structure or up to the next grain boundary, which is decorated with electrically conductive structures. Recombination of the minority carriers with majority carriers at the grain boundaries no longer takes place. It can be assumed that a charge cloud forms at the phase boundary within the grain boundary, which leads to a saturation of the respective states at any defect or recombination centers. It should be noted that for the formation of this charge cloud or inversion layer generally no metallic accumulations, precipitations or deposits on the secondary phase boundary are necessary.

Man kann daher auch von einer aktiven Passivierung der Korngrenzen durch die elektrisch leitenden Strukturen aus dem zweiten Halbleitermaterial sprechen. Die Gettereigenschaften der Korngrenzen werden dabei nicht negativ beeinflusst. D.h. die dekorierten Korngrenzen können – wie undekorierte Korngrenzen – weiterhin effektiv als Getterstellen für Verunreinigungen fungieren und damit zur Erhöhung der Materialgüte des Grundkörpers beitragen, was wiederum dessen elektrische Eigenschaften verbessert. One can therefore speak of an active passivation of the grain boundaries by the electrically conductive structures of the second semiconductor material. The getter properties of the grain boundaries are not adversely affected. That The decorated grain boundaries, like undecorated grain boundaries, can continue to function effectively as gettering sites for contaminants, thereby enhancing the material quality of the body, which in turn improves its electrical properties.

Ähnliches gilt für den Bau von Halbleiterdetektoren. Hierbei ist davon auszugehen, dass das eingeprägte Feld an der Phasengrenze bereits reicht, um eine Ladungsseparation zu bewirken, ohne externes Feld dafür anlegen zu müssen. The same applies to the construction of semiconductor detectors. It can be assumed that the embossed field at the phase boundary already suffices to effect a charge separation without having to create an external field for it.

Die leitenden Strukturen können insbesondere in Form von im Wesentlichen eindimensionalen Filamenten vorliegen oder in Form von netzartigen Gebilden oder in Form von im Wesentlichen zweidimensionalen Wänden. The conductive structures may in particular be in the form of substantially one-dimensional filaments or in the form of net-like structures or in the form of essentially two-dimensional walls.

Das Gesagte lässt sich insbesondere auf Halbleiterelemente aus Halbleitermaterialien wie Si anwenden – ein Material welches großflächigen Einsatz in der Photovoltaik und Halbleitertechnologie findet. Es ist aber selbstverständlich eine Vielzahl von anderen Halbleitermaterialien statt Si als erstes Halbleitermaterial denkbar, beispielsweise GaAs, CdTe, Perovskite oder Cu(InGa)Se2. Bringt man Sekundärphasen bzw. das zweite Halbleitermaterial mit unterschiedlicher Bandlücke in den Korngrenzen in Form von den Grundkörper durchsetzenden Strukturen in das Material ein, können diese die gewünschten Effekte erzielen. Die durchgeführten Experimente lassen schließen, dass der Bandlückenunterschied mindestens 0,5 eV betragen muss. D.h. die Bandlücke des zweiten Halbleitermaterials muss um mindestens 0,5 eV größer oder kleiner als die Bandlücke des ersten Halbleitermaterials sein. Hier und im Folgenden sind dabei die Bandlücken stets bei Raumtemperatur zu verstehen. The above can be applied in particular to semiconductor elements made of semiconductor materials such as Si - a material which is used extensively in photovoltaics and semiconductor technology. Of course, a multiplicity of other semiconductor materials is conceivable instead of Si as the first semiconductor material, for example GaAs, CdTe, perovskite or Cu (InGa) Se 2 . If one introduces secondary phases or the second semiconductor material with different band gaps in the grain boundaries in the form of structures penetrating the base body into the material, these can achieve the desired effects. The experiments carried out indicate that the bandgap difference must be at least 0.5 eV. That is, the band gap of the second semiconductor material must be at least 0.5 eV larger or smaller than the band gap of the first semiconductor material. Here and below, the band gaps are always to be understood at room temperature.

Tendenziell wird die elektrische Funktionalisierung umso besser erreicht, je größer der Bandlückenunterschied ist. Vorzugsweise beträgt der Bandlückenunterschied daher mindestens 1 eV, besonders bevorzugt mindestens 2 eV, insbesondere mindestens 4 eV. The larger the bandgap difference, the better the electrical functionalization is achieved. The bandgap difference is therefore preferably at least 1 eV, particularly preferably at least 2 eV, in particular at least 4 eV.

Insbesondere im Falle von Si (Bandlücke ca. 1,1 eV) als erstem Halbleitermaterial hat es sich gezeigt, dass mit Si3N4 (Bandlücke größer gleich 5 eV) als zweitem Halbleitermaterial besonders gute Ergebnisse erzielt werden – obgleich es sich bei Si3N4 an sich um einen elektrischen Isolator handelt. In der wissenschaftlichen Literatur wird sogar üblicherweise die Meinung vertreten, dass Si3N4 in Si keine elektrische Leitung zeigt. In particular, in the case of Si (band gap about 1.1 eV) as the first semiconductor material, it has been shown that with Si 3 N 4 (band gap greater than or equal to 5 eV) as the second semiconductor material particularly good results are achieved - although it is Si 3 N 4 itself is an electrical insulator. In the scientific literature, it is even commonly believed that Si 3 N 4 does not show electrical conduction in Si.

Das Erzeugen der leitenden Strukturen geschieht vorzugsweise bei der Kristallisation des Grundkörpers, insbesondere indem die Bildung von Ausscheidungen des zweiten Halbleitermaterials ermöglicht wird, oder davor. D.h. Das zweite Halbleitermaterial kann im ersten Halbleitermaterial insbesondere in Form von Ausscheidungen vorliegen. Es können dabei unterschiedlichste bekannte Kristallisationsverfahren zur Erzeugung erfindungsgemäßer elektrisch funktionalisierter Halbleiterelemente verwendet werden. Dabei ist lediglich sicherzustellen, dass mindestens ein Stoff in ein Ausgangsprodukt, insbesondere in eine Schmelze des ersten Halbleitermaterials oder bei der Erzeugung des Ausgangsprodukts eingebracht wird, bei welchem Stoff es sich bereits um das zweite Halbleitermaterial handelt oder welcher Stoff mit dem ersten Halbleitermaterial das zweite Halbleitermaterial bilden kann. Im Falle von leitenden Strukturen aus Si3N4 in einem Grundkörper aus Si kann zur Bildung von Si3N4 gezielt Stickstoff in die Schmelze eingebracht werden, z.B. indem diese einer Stickstoffatmosphäre, vorzugsweise bei Drücken größer als 5 bar, besonders bevorzugt größer gleich 6 bar, ausgesetzt wird. Falls die Schmelze sich beispielsweise in einem Tiegel befindet, kann dieser alternativ oder zusätzlich z.B. gezielt mit einer ausreichenden Menge von SiN beschichtet werden, um eine hinreichende Menge an Stickstoff in die Schmelze einzubringen. Weiters kann die Tiegelform so angepasst werden, dass das Verhältnis von Volumen zu Oberflächen der Schmelze den Eintrag von Sekundärmaterial positiv beeinflusst. Weiters können zusätzliche Plattenelemente aus dem Stoff in die Schmelze eingebracht bzw. eingetaucht werden, um den Stoff in die Schmelze einzubringen. Besonders effektiv und quantitativ leicht einstellbar gestaltet sich das direkte und eventuell kontinuierlich angepasste Einbringen des Sekundärmaterials in die Schmelze in etwa derselben Beschaffenheit wie dies für Tiegelbeschichtungen vorliegt, allerdings in getrockneter Form. The production of the conductive structures preferably takes place during the crystallization of the main body, in particular by the formation of precipitates of the second semiconductor material being made possible, or in front of it. That is, the second semiconductor material may be present in the first semiconductor material, in particular in the form of precipitates. A wide variety of known crystallization processes can be used to produce electrically functionalized semiconductor elements according to the invention. It is merely necessary to ensure that at least one substance is introduced into a starting product, in particular into a melt of the first semiconductor material or during the production of the starting product, which substance is already the second semiconductor material or which substance with the first semiconductor material is the second semiconductor material can form. In the case of conductive structures made of Si 3 N 4 in a Si base body, nitrogen can be introduced into the melt in a targeted manner to form Si 3 N 4 , for example by subjecting it to a nitrogen atmosphere, preferably at pressures greater than 5 bar, particularly preferably greater than or equal to 6 bar, is suspended. If, for example, the melt is in a crucible, it can alternatively or additionally, for example, be coated in a targeted manner with a sufficient amount of SiN in order to obtain a sufficient amount of nitrogen to introduce into the melt. Furthermore, the crucible shape can be adjusted so that the ratio of volume to surface of the melt positively influences the entry of secondary material. Furthermore, additional plate elements can be introduced or dipped from the substance into the melt, in order to introduce the substance into the melt. Particularly effective and quantitatively easily adjustable, the direct and possibly continuously adapted introduction of the secondary material into the melt has approximately the same properties as for crucible coatings, but in dried form.

Ein besonders kostengünstiges Verfahren ist das Aufbringen eines Slurry-Gemisches auf eine PET-Trägerfolie, welche nach dem Trocknen wieder entfernt werden kann. Dieser Prozessschritt kann auch als Roll-to-Roll-Verfahren realisiert werden. Nach dem Trocknen und Ausgasen des Lösungsmittels kann mit relativ geringem Aufwand ein Wafering durchgeführt werden und die einzelnen Wafer einem dem Sintern ähnlichen Prozessschritt zugeführt werden. Dabei können im Vergleich zu anderen Verfahren sehr dünne Wafer hergestellt werden, die einem Rekristallisationsprozess zugeführt werden können. Korngrenzen mit hohem Sekundärmaterialanteil können dabei in einem dem Siebdruck ähnlichem Verfahren vordefiniert werden. Dabei kann je einmal ein postiver und je einmal ein negativer Druck durchgeführt werden. Bei einem Verfahren ohne der Verwendung von Masken ist das Abfallgemisch des Siliziumsägeprozesses (Si/SiC-Slurry) vermengt mit SiN Partikeln besonders vorteilhaft. A particularly cost-effective method is the application of a slurry mixture onto a PET carrier film, which can be removed again after drying. This process step can also be realized as a roll-to-roll process. After drying and outgassing of the solvent, wafering can be carried out with relatively little effort and the individual wafers are fed to a process step similar to sintering. In this case, in comparison with other methods, very thin wafers can be produced, which can be fed to a recrystallization process. Grain boundaries with a high secondary material content can be predefined in a process similar to screen printing. One positive and one negative pressure can be performed once each. In a process without the use of masks, the waste mixture of the silicon cutting process (Si / SiC slurry) mixed with SiN particles is particularly advantageous.

Daher ist erfindungsgemäß ein Verfahren zur Herstellung eines elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, wobei das Halbleiterelement einen Korngrenzen aufweisenden Grundkörper aus einem ersten Halbleitermaterial, insbesondere Si, umfasst, welches erste Halbleitermaterial eine erste Bandlücke aufweist, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst:

  • – Erzeugen eines Ausgangsprodukts, insbesondere einer Schmelze, des ersten Halbleitermaterials;
  • – Einbringen von mindestens einem Stoff in das Ausgangsprodukt oder bei dessen Erzeugung, wobei als Stoff ein zweites Halbleitermaterial gewählt wird oder ein Stoff, der mit dem ersten Halbleitermaterial das zweite Halbleitermaterial bilden kann, wobei das zweite Halbleitermaterial eine zweite Bandlücke aufweist, die sich um mindestens 0,5 eV von der ersten Bandlücke unterscheidet, und wobei das zweite Halbleitermaterial zur Ausbildung von einer Vielzahl von elektrisch leitenden Strukturen im Bereich der Korngrenzen des Grundkörpers vorgesehen ist, welche Strukturen jeweils eine Oberseite des Grundkörpers elektrisch kontaktieren und sich von der Oberseite in Richtung einer der Oberseite gegenüberliegenden Unterseite erstrecken;
  • – Kristallisieren oder Rekristallisieren des Ausgangsprodukts zum Grundkörper.
Therefore, according to the invention, a method is provided for producing an electrically functionalized semiconductor element, wherein the semiconductor element comprises a grain boundary of a first semiconductor material, in particular Si, which first semiconductor material has a first band gap, the method comprising the following steps:
  • - generating a starting product, in particular a melt, of the first semiconductor material;
  • Introducing at least one substance into the starting product or during its production, wherein a second semiconductor material is selected as the substance or a substance which can form the second semiconductor material with the first semiconductor material, wherein the second semiconductor material has a second band gap which is at least 0.5 eV is different from the first band gap, and wherein the second semiconductor material is provided for forming a plurality of electrically conductive structures in the region of the grain boundaries of the base body, which structures each electrically contact an upper side of the base body and from the upper side in the direction of the upper side opposite underside extend;
  • Crystallizing or recrystallizing the starting product to the main body.

Weiters ist erfindungsgemäß ein funktionalisiertes Halbleiterelement erhältlich durch ein erfindungsgemäßes Verfahren vorgesehen. Furthermore, a functionalized semiconductor element obtainable by a method according to the invention is provided according to the invention.

Analog zum oben Gesagten ist erfindungsgemäß ein elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement vorgesehen, umfassend einen Korngrenzen aufweisenden Grundkörper aus einem ersten Halbleitermaterial, vorzugsweise aus Si, wobei das erste Halbleitermaterial eine erste Bandlücke aufweist, wobei der Grundkörper eine Oberseite und eine der Oberseite gegenüberliegende Unterseite aufweist, wobei im Bereich der Korngrenzen des Grundkörpers eine Vielzahl von elektrisch leitenden Strukturen vorliegt, welche Strukturen jeweils die Oberseite elektrisch kontaktieren und sich von der Oberseite in Richtung der Unterseite erstrecken, wobei die Strukturen durch ein zweites Halbleitermaterial ausgebildet sind, das eine zweite Bandlücke aufweist, und wobei sich die zweite Bandlücke um mindestens 0,5 eV von der ersten Bandlücke unterscheidet. Analogously to the above, an electrically functionalized semiconductor element is provided according to the invention, comprising a body having a grain boundary of a first semiconductor material, preferably of Si, wherein the first semiconductor material has a first band gap, wherein the base body has a top side and a bottom side opposite the top, wherein In the region of the grain boundaries of the base body there is a multiplicity of electrically conductive structures, which structures each electrically contact the upper side and extend from the upper side towards the lower side, the structures being formed by a second semiconductor material having a second band gap, and wherein the second bandgap differs by at least 0.5 eV from the first bandgap.

Unter dem ersten bzw. zweiten Halbleitermaterial ist natürlich auch ein negativ oder positiv dotiertes Halbleitermaterial zu verstehen. Z.B. kann Si als erstes Halbleitermaterial selbstverständlich auch negativ oder positiv dotiert sein. Außerdem kann die Dotierung im Grundkörper lokal unterschiedlich sein. Z.B. kann, insbesondere wenn das erfindungsgemäße Halbleiterelement in Solarzellen verwendet wird, der Grundkörper einen Emitter aufweisen, der anders als der restliche Grundkörper dotiert ist. Desweiteren gilt als erfindungsgemäß das Einbringen von Schottkybarrieren, welche ebenfalls für eine Ladungsseparation sorgen. Under the first and second semiconductor material is of course also a negative or positively doped semiconductor material to understand. For example, Of course, Si as the first semiconductor material can also be doped negatively or positively. In addition, the doping in the body may be different locally. For example, can, in particular when the semiconductor element according to the invention is used in solar cells, the base body having an emitter which is doped differently than the rest of the base body. Furthermore, the invention provides the introduction of Schottkybarrieren, which also provide a charge separation.

Entsprechend dem oben Gesagten ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass das Ausgangsprodukt eine Schmelze ist. In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform wird das Ausgangsprodukt direkt aus der Gasphase abgeschieden. Ebenso ist es entsprechend dem oben Gesagten bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass das Einbringen des mindestens einen Stoffs in die Schmelze das Einbringen eines gasförmigen Stoffs umfasst, vorzugsweise indem die Schmelze einer Atmosphäre ausgesetzt wird, welche Atmosphäre den gasförmigen Stoff enthält. Der gasförmige Stoff könnte aber auch z.B. in die Schmelze eingeblasen werden. According to the above, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that the starting material is a melt. In a further preferred embodiment, the starting material is deposited directly from the gas phase. Likewise, in accordance with the above, in a preferred embodiment of the method according to the invention, the introduction of the at least one substance into the melt comprises the introduction of a gaseous substance, preferably by exposing the melt to an atmosphere which contains the gaseous substance. However, the gaseous substance could also be e.g. be blown into the melt.

Besonders kostengünstig kann das Einbringen des mindestens einen Stoffes im Slurry-Gemisch des Roll-to-Roll Verfahrens erfolgen oder strukturiert in einem Siebdruckverfahren realisiert werden. Die Folien werden danach gesintert und einer Rekristallisation zugeführt. Wird dabei eine gewisse Dicke nicht überschritten, bleibt das kristallisierte Silizium elastisch. The introduction of the at least one substance in the slurry mixture of the roll-to-roll process can be carried out or structured in a particularly cost-effective manner be realized in a screen printing process. The films are then sintered and recrystallized. If a certain thickness is not exceeded, the crystallized silicon remains elastic.

Für das Kristallisieren kann auf unterschiedlichste an sich bekannte Kristallisationsverfahren zurückgegriffen werden. Insbesondere ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass das Kristallisieren mittels des Ribbon-Growth-on-Substrate(RGS)-Verfahrens oder mittels des Vertical-Gradient-Freeze(VGF)-Verfahrens erfolgt oder dem Rekristatllisieren der dünnen Folienmaterialien. For crystallization can be made of a variety of known per se crystallization process. In particular, in a preferred embodiment of the method according to the invention, it is provided that the crystallization takes place by means of the Ribbon Growth-on-Substrates (RGS) process or by means of the Vertical Gradient Freeze (VGF) process or the recrystallization of the thin film materials.

Generell wird beim Kristallisieren der Schmelze die Ausbildung von Ausscheidungen begünstigt, wenn das Kristallisieren rasch erfolgt. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass das Kristallisieren mit einer Kristallisationsgeschwindigkeit größer gleich 4 mm/h, bevorzugt größer gleich 6 mm/h, besonders bevorzugt größer gleich 8 mm/h erfolgt. Dabei bezeichnet die Kristallisationsgeschwindigkeit jene Geschwindigkeit, mit der die Front des bereits auskristallisierten erstarrten Bereichs des Grundkörpers fortschreitet. Bei Blockerstarrungsverfahren wie dem VGF-Verfahren bewegt sich diese Erstarrungsfront typischerweise von unten nach oben. Generally, crystallization of the melt favors the formation of precipitates when crystallization is rapid. Therefore, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that crystallization takes place at a crystallization rate greater than or equal to 4 mm / h, preferably greater than or equal to 6 mm / h, particularly preferably greater than or equal to 8 mm / h. The rate of crystallization refers to the rate at which the front of the already crystallized solidified region of the body progresses. In block solidification processes such as the VGF process, this solidification front typically moves from bottom to top.

Um die Kristallisation andererseits nicht zu schnell werden zu lassen und so nicht eine zu hohe Zahl an Kristalldefekten, insbesondere Versetzungen einzubauen, ist es vorzugsweise vorgesehen, dass die Kristallisationsgeschwindigkeit kleiner als 20 mm/h, besonders bevorzugt kleiner als 15 mm/h ist. Das Einbringen des mindestens einen Stoffs in das Ausgangsprodukt kann grundsätzlich auf unterschiedlichste Arten realisiert werden: Beispielsweise können Platten aus dem Stoff in der Schmelze angeordnet werden oder Platten, die mit dem Stoff beschichtet sind. In letzterem Fall wirken die Platten wie zusätzliche beschichtete Tiegelwände, wenn sich die Schmelze in einem Tiegel befindet. Liegt die Schmelze in einem Tiegel vor, kann z.B. die Oberfläche des Tiegels mit einer den Stoff umfassenden Beschichtung versehen werden. Weiters kann der Tiegel selbst aus dem mindestens einen Stoff hergestellt sein oder diesen enthalten. On the other hand, in order not to let the crystallization become too fast and thus not to incorporate too high a number of crystal defects, in particular dislocations, it is preferably provided that the crystallization rate is less than 20 mm / h, more preferably less than 15 mm / h. The introduction of the at least one substance into the starting product can in principle be realized in a wide variety of ways: for example, plates can be arranged from the substance in the melt or plates which are coated with the substance. In the latter case, the panels act like additional coated crucible walls when the melt is in a crucible. If the melt is present in a crucible, e.g. the surface of the crucible is provided with a coating comprising the substance. Furthermore, the crucible itself may be made of or contain at least one substance.

Weiters kann der Stoff grundsätzlich auch in Partikelform, z.B. in Pulverform in die Schmelze eingebracht werden, wobei ein besonderes Augenmerk auf möglicherweise unterschiedlich hohe Schmelztemperaturen des Stoffs und des ersten Halbleitermaterials zu legen ist. Ist letzteres der Fall, ist darauf zu achten, dass keine zu großen Stücke des Stoffs der Schmelze beigemengt werden, d.h. die Partikel bzw. das Pulver müssen hinreichend fein sein. Furthermore, the substance may in principle also be in particulate form, e.g. be placed in the melt in powder form, with particular attention to be set to possibly different high melting temperatures of the material and the first semiconductor material. If the latter is the case, care must be taken not to add too large pieces of the substance to the melt, i. the particles or the powder must be sufficiently fine.

Statt eines Pulvers können auch Klumpen des Ausgangsmaterials für die Schmelze des ersten Halbleitermaterials mit verwendet werden, indem diese Klumpen, die manchmal auch als Feedstock bezeichnet werden, mit dem mindestens einen Stoff versehen, vorzugsweise beschichtet werden. Diese modifizierten Klumpen können in die Schmelze eingebracht werden und/oder mit Klumpen aus dem reinen ersten Halbleitermaterial gemeinsam aufgeschmolzen werden. In ersterem Fall wird der mindestens eine Stoff in die Schmelze eingebracht. In letzterem Fall wird der mindestens eine Stoff bei der Erzeugung der Schmelze eingebracht. Instead of a powder and lumps of the starting material for the melt of the first semiconductor material can be used by these lumps, which are sometimes referred to as a feedstock, provided with the at least one substance, preferably coated. These modified lumps can be introduced into the melt and / or melted together with lumps of the pure first semiconductor material. In the former case, the at least one substance is introduced into the melt. In the latter case, the at least one substance is introduced during the production of the melt.

Eine weitere Möglichkeit für die Einbringung des mindestens einen Stoffs bei der Erzeugung der Schmelze bietet sich beim sogenannten Silicon Sheets from Powder(SSP)-Verfahren. Hierbei kann einem Pulver des ersten Halbleitermaterials Pulver des mindestens einen Stoffs beigemengt werden. Die Pulverkörner können dabei in unterschiedlichsten geometrischen Formen vorliegen. So sind beispielsweise Pulverkörner in Form kleiner Kügelchen möglich. Der Durchmesser der Kügelchen wirkt sich in der Folge auf die Oberflächenbeschaffenheit des erzeugten Wafers aus. Bei einer Dicke des Wafers von typischerweise 140 •m bis 220 •m, bevorzugt von 170 •m bis 190 •m, besonders bevorzugt 180 •m sind typische Durchmesser der Kügelchen zwischen 20 •m und 50 •m. Grundsätzlich sind aber natürlich auch deutlich größere Durchmesser der Kügelchen, z.B. bis zu 1 mm, möglich. Another possibility for the introduction of the at least one substance in the production of the melt is the so-called Silicon Sheets from Powder (SSP) method. In this case, powder of the at least one substance can be added to a powder of the first semiconductor material. The powder grains can be present in a wide variety of geometric shapes. For example, powder grains in the form of small beads are possible. The diameter of the beads consequently affects the surface quality of the wafer produced. With a thickness of the wafer of typically 140 • m to 220 • m, preferably from 170 • m to 190 • m, more preferably 180 • m, typical diameters of the beads are between 20 • m and 50 • m. In principle, however, clearly larger diameters of the beads, e.g. up to 1 mm, possible.

Das gemischte Pulver wird auf ein Substrat aufgebracht. Als Substrat kann insbesondere ein Si-Wafer mit geätzter Oberfläche verwendet werden, wobei das Ätzen eine löchrige Oberfläche erzeugt, die wiederum ein leichtes Ablösen bzw. Abreißen des Grundkörpers vom Substrat erlaubt. Weiters begünstigt dies das Übertragen der Kornstruktur des Substrats auf den Grundkörper. Das gemischte Pulver kann direkt am Substrat mittels Laser oder Elektronenstrahl aufgeschmolzen werden. Der mindestens eine Stoff kann dabei bereits das zweite Halbleitermaterial sein oder kann das Wachstum von Sekundärphasen aus dem zweiten Halbleitermaterial begünstigen. Die Ausbildung einer Kornstruktur kann auch anderweitig beeinflusst werden. Beispielsweise können unterhalb des Substrats eine Kühlspirale oder Kühlschlange oder Kühlrippen angeordnet werden, die vorzugsweise größer als das Substrat sind. Entsprechend wird das Substrat lokal abgekühlt, wobei sich im Wesentlichen linienförmige Kühlsenken ergeben. An diesen Stellen setzt die Kristallisation der Schmelze ein, und Kristallisationsfronten laufen von den Kühlsenken in entgegengesetzten Richtungen weg. Die Kristallisationsfronten, die von einander gegenüberliegenden bzw. benachbarten Kühlsenken ausgehen treffen in der Folge aufeinander und bilden eine Korngrenze. Die Segregation sorgt dabei dafür, dass das die Sekundärphase bzw. die leitenden Strukturen ausbildende Material in die Konrngrenzen transportiert wird, sodass sich die leitenden Strukturen gezielt in den Korngrenzen bilden. The mixed powder is applied to a substrate. In particular, an etched-surface Si wafer may be used as the substrate, wherein the etching produces a holey surface which in turn allows easy detachment of the body from the substrate. Furthermore, this promotes the transfer of the grain structure of the substrate to the base body. The mixed powder can be melted directly on the substrate by means of laser or electron beam. The at least one substance may already be the second semiconductor material or may favor the growth of secondary phases of the second semiconductor material. The formation of a grain structure can also be influenced in another way. For example, a cooling coil or cooling coil or cooling ribs can be arranged below the substrate, which are preferably larger than the substrate. Accordingly, the substrate is cooled locally, resulting in substantially linear cooling sinks. At these points crystallization of the melt commences and crystallization fronts run away from the cooling sinks in opposite directions. The crystallization fronts, which emanate from opposing or adjacent cooling sinks meet each other in sequence and form a grain boundary. The segregation takes care of it that the material forming the secondary phase or the conductive structures is transported into the confines, so that the conductive structures are formed selectively in the grain boundaries.

Statt beim Kristallisationsprozess lokal zu kühlen, kann aber erfindungsgemäß auch lokal geheizt werden. Erfindungsgemäß besteht eine besonders elegante Methode dabei darin, die Schmelze beim Abkühlen mit Laserstrahlen oder Elektronenstrahlen zu bestrahlen, wobei die Strahlen ein bestimmtes geometrisches Muster auf der Schmelze ausbilden können. Aufgrund der Verwendung von Lasertrahlen oder Elektronenstrahlen können hierbei auf einfachste Art und Weise beliebige Muster vorgegeben werden. Entsprechend diesem Muster stellt sich eine ungleichmäßige Temperaturverteilung in der Schmelze ein, wobei die bestrahlten Bereiche eine höhere Temperatur aufweisen als die unbestrahlten Bereiche. Da die Kristallisation in den kühleren Bereichen einsetzt, wandern Kristallisationsfronten aus den kühleren Bereichen in Richtung der wärmeren Bereiche und stoßen dort aufeinander, wodurch Korngrenzen gebildet werden. D.h. durch die Bestrahlung mit einem bestimmten Muster kann die Korngrenzenstruktur gezielt manipuliert werden. Im Idealfall kann dies soweit gehen, dass die erzeugte Korngrenzenstruktur im Wesentlichen dem Muster, mit dem die Schmelze bestrahlt wird, entspricht. Wiederum kommt es aufgrund der Segregation dazu, dass eine Anreicherungszone des die Sekundärphase ausbildenden Materials vor jeder Wachstums- bzw. Kristallisationsfront hergeschoben wird, bis die Kristallisationsfronten aufeinander treffen. Beim Auskristallisieren wird die Sekundärphase gebildet, d.h. die leitenden Strukturen bilden sich gezielt in den Korngrenzen. Instead of cooling locally during the crystallization process, but can also be locally heated according to the invention. According to the invention, a particularly elegant method is to irradiate the melt with laser beams or electron beams during cooling, wherein the beams can form a specific geometric pattern on the melt. Due to the use of laser beams or electron beams, any desired patterns can be predetermined in the simplest manner. According to this pattern, an uneven temperature distribution in the melt sets in, wherein the irradiated areas have a higher temperature than the unexposed areas. As crystallization begins in the cooler regions, crystallization fronts migrate from the cooler regions towards the warmer regions and collide there, forming grain boundaries. That By irradiation with a specific pattern, the grain boundary structure can be manipulated specifically. Ideally, this can go so far that the grain boundary structure produced essentially corresponds to the pattern with which the melt is irradiated. Again, because of the segregation, an enrichment zone of the secondary phase forming material is shuffled in front of each growth or crystallization front until the fronts of crystallization meet. Upon crystallization, the secondary phase is formed, i. the conductive structures are formed selectively in the grain boundaries.

Das oben gesagte gilt auch für das Aufbringen eines Slurrys auf ein Folienmaterial bzw. auf einen vorgeätzten Wafer und das darauffolgende Kristallisieren bzw. Sintern. The above also applies to the application of a slurry on a sheet material or on a pre-etched wafer and the subsequent crystallization or sintering.

Diese Art, die Struktur der Korngrenzen zu gestalten, funktioniert natürlich auch dann, wenn die Schmelze nicht erst auf dem Substrat gebildet wird, sondern auch wenn die Schmelze direkt auf das Substrat aufgetragen wird, wie dies beim RGS Verfahren der Fall ist. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass beim Kristallisieren oder Rekristallisieren des Ausgangsprodukts das Ausgangsprodukt mittels Laser oder Elektronen bestrahlt wird, wobei die Bestrahlung ein geometrisches Muster auf dem Ausgangsprodukt ausbildet, um eine geometrische Struktur der Korngrenzen einzustellen. Of course, this way of structuring the grain boundaries also works if the melt is not first formed on the substrate, but also if the melt is applied directly to the substrate, as is the case with the RGS process. Therefore, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that when crystallizing or recrystallizing the starting product, the starting material is irradiated by laser or electrons, wherein the irradiation forms a geometric pattern on the starting product to set a geometric structure of the grain boundaries.

Generell kann die Ausbildung von Korngrenzen bei unterschiedlichen Kristallisationsverfahren, insbesondere beim VGF-Verfahren, durch die Verwendung eines polykristallinen Seed-Kristalls begünstigt oder sogar erzwungen werden. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass ein polykristalliner Keimkristall zur Kristallisation des Grundkörpers verwendet wird, um eine gewisse Kornstruktur des Grundkörpers zu erzwingen. Entsprechend wird auch sichergestellt, dass Korngrenzen vorhanden sind, in deren Bereich sich die leitenden Strukturen ausbilden können. Es sei bemerkt, dass es im Hinblick auf die weitere Prozessierung, insbesondere Kontaktierung, als vorteilhaft anzusehen ist, wenn Körner mit im Wesentlichen parallel verlaufenden Korngrenzen vorliegen. In general, the formation of grain boundaries in different crystallization processes, in particular in the VGF process, can be favored or even enforced by the use of a polycrystalline seed crystal. Therefore, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that a polycrystalline seed crystal is used for crystallization of the base body in order to force a certain grain structure of the base body. Accordingly, it is also ensured that grain boundaries are present, in the region of which the conductive structures can form. It should be noted that with regard to the further processing, in particular contacting, it is to be regarded as advantageous if grains having substantially parallel grain boundaries are present.

Ein weiteres Beispiel für die Einbringung des mindestens einen Stoffs bereits bei der Erzeugung des Ausgangsprodukts – wobei das Ausgangsprodukt jedoch keine Schmelze ist – besteht darin, auf ein Substrat, vorzugsweise aus Si, in an sich bekannter Weise wandartige Strukturen aus dem zweiten Halbleitermaterial, insbesondere aus Si3N4, aufzubringen. Dies kann beispielsweise mittels Chemical Vapour Deposition (CVD) oder mittels Sputtern jeweils unter Einsatz von entsprechenden Masken zur Erzeugung der Wandstrukturen erfolgen. Nun wird das erste Halbleitermaterial aufgebracht, beispielsweise durch direktes Abscheiden aus der Gasphase bzw. CVD. Anschließend wird der so erzeugte Grundkörper durch thermische Behandlung rekristallisiert. Der so erhaltene Grundkörper weist Körner auf, wobei die Wände aus dem zweiten Halbleitermaterial die Korngrenzen definieren. D.h. der Grundkörper wird grundsätzlich durch Kristallisieren oder Rekristallisieren des Ausgangsprodukts erhalten. Another example of the incorporation of the at least one substance already in the production of the starting product - wherein the starting material is not a melt - is, on a substrate, preferably made of Si, in a conventional manner, wall-like structures of the second semiconductor material, in particular Si 3 N 4 , to apply. This can be done for example by means of chemical vapor deposition (CVD) or by sputtering in each case using appropriate masks for generating the wall structures. Now, the first semiconductor material is applied, for example by direct deposition from the gas phase or CVD. Subsequently, the basic body thus produced is recrystallized by thermal treatment. The base body thus obtained has grains, wherein the walls of the second semiconductor material define the grain boundaries. That is, the main body is basically obtained by crystallizing or recrystallizing the starting product.

Um eine optimale Funktion des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements sicherzustellen, ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass das Einbringen so dosiert wird, dass mindestens 50%, bevorzugt mindestens 80%, besonders bevorzugt mindestens 90% aller Korngrenzen mit den Strukturen aus dem zweiten Halbleitermaterial dekoriert sind. Wenn das zweite Halbleitermaterial bei gegebenem ersten Halbleitermaterial bekannt ist, kann die für die gewünschte Dekorationsfraktion notwendige Dosierung z.B. durch routinemäßige Versuche ermittelt werden. In order to ensure optimal functioning of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that the introduction is metered so that at least 50%, preferably at least 80%, more preferably at least 90% of all grain boundaries with the structures the second semiconductor material are decorated. If the second semiconductor material is known for a given first semiconductor material, the dosage necessary for the desired decoration fraction may be e.g. be determined by routine experimentation.

Wenn das zweite Halbleitermaterial in Form von Ausscheidungen vorliegt, ergibt sich die Dosierung insbesondere aus der Löslichkeit von mindestens einem Konstituenten der Ausscheidungen im ersten Halbleitermaterial, wobei das Verhältnis der Korngrenzengröße zur Korngröße sowie die Stöchiometrie der Ausscheidungen zu berücksichtigen sind. Beispielsweise kann zur Erzeugung von Si3N4-Ausscheidungen in Si die Konzentration von N entsprechend geringfügig unter der Löslichkeitsgrenze für N in Si, die bei ca. 6 × 1018 cm–3 liegt, in der Schmelze justiert werden, ggf. unter Nachchargierung. In den Korngrenzen bildet sich dann aufgrund von Segregation eine erhöhte Konzentration, die zur Bildung von Si3N4-Ausscheidungen führt. When the second semiconductor material is in the form of precipitates, the dosage results in particular from the solubility of at least one constituent of the precipitates in the first semiconductor material, taking into account the ratio of the grain boundary size to the grain size and the stoichiometry of the precipitates. For example, to produce Si 3 N 4 precipitates in Si, the concentration of N may be slightly below the solubility limit for N in Si, which is about 6 × 10 18 cm -3 , be adjusted in the melt, possibly with Nachchargierung. In the grain boundaries is then due to segregation an increased concentration, which leads to the formation of Si 3 N 4 precipitates.

Analog zum oben Gesagten ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass mindestens 50%, bevorzugt mindestens 80%, besonders bevorzugt mindestens 90% aller Korngrenzen mit den Strukturen aus dem zweiten Halbleitermaterial dekoriert sind. Bei einem Einsatz in einer Solarzelle garantiert dieser hohe Anteil an mit leitenden Strukturen dekorierten Korngrenzen, dass die Minoritätsladungsträger optimal aus dem Volumen zum Emitter geleitet werden können und dass die Korngrenzen hinreichend passiviert sind. Selbiges gilt auf für Detektoren. Analogous to the above, it is provided in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element that at least 50%, preferably at least 80%, more preferably at least 90% of all grain boundaries are decorated with the structures of the second semiconductor material. When used in a solar cell, this high proportion of grain boundaries decorated with conductive structures ensures that the minority carriers can be optimally conducted from the volume to the emitter and that the grain boundaries are sufficiently passivated. The same applies to detectors.

Um eine besonders zuverlässige und große elektrische Leitung der leitenden Strukturen, insbesondere im Hinblick auf den Einsatz in einer Solarzelle, sicherzustellen, ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass im Bereich von zumindest einer der Korngrenzen des Grundkörpers der mittlere Abstand zwischen zwei unmittelbar benachbarten Strukturen kleiner gleich 5 •m, bevorzugt kleiner gleich 2 •m, besonders bevorzugt kleiner gleich 1 •m ist. Dabei kann der mittlere Abstand in einer Schnittebene bestimmt werden, die parallel zur Oberseite und/oder Unterseite ist. Durch diese Auslegung des Halbleiterelements wird eine ausgezeichnete aktive Passivierung der Korngrenzen erreicht im Falle von Solarzellen und eine hohe Ladungssammeleffizienz im Falle von Detektoren/Sensoren. In order to ensure a particularly reliable and large electrical conduction of the conductive structures, in particular with regard to use in a solar cell, it is provided in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element that in the region of at least one of the grain boundaries of the base body, the average distance between two immediately adjacent structures less than or equal to 5 • m, preferably less than or equal to 2 • m, more preferably less than or equal to 1 • m. In this case, the average distance can be determined in a sectional plane which is parallel to the top and / or bottom. This design of the semiconductor element achieves excellent active passivation of the grain boundaries in the case of solar cells and high charge collection efficiency in the case of detectors / sensors.

Durch die elektrische Funktionalisierung ist eine Kornstruktur bzw. sind Korngrenzen im elektrisch funktionalisierten Halbleiterelement nicht nur kein Problem, sondern sogar erwünscht, da die Korngrenzen mit den leitenden Strukturen dekoriert werden können. Um für Anwendungen in der Praxis, insbesondere für Anwendungen in Solarzellen, eine hinreichend große Menge an Korngrenzen dekorierenden leitenden Strukturen zur Verfügung stellen zu können, ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass im Grundkörper zumindest in einer Richtung der mittlere Abstand eines Korns zu einem anderen, dessen übernächsten Nachbar bildenden Korn, kleiner gleich 2 mm, bevorzugt kleiner gleich 1 mm, besonders bevorzugt kleiner gleich 0,5 mm ist. Auf diese Weise wird außerdem sichergestellt, dass die Korngrenzen bzw. die leitenden Strukturen zumindest in einer Richtung relativ homogen über den Grundkörper verteilt sind. Dies wirkt sich insbesondere bei der Anwendung für Solarzellen positiv aus, wobei typische laterale Abmessungen des Grundkörpers in diesem Fall zwischen 100 mm × 100 mm und 450 mm × 450 mm, insbesondere 156 mm × 156 mm betragen bzw. weist der Grundkörper typischerweise einen Durchmesser zwischen 100 mm und 450 mm, insbesondere 156 mm bzw. zwischen 6‘‘ und 8‘‘ auf. Due to the electrical functionalization, a grain structure or grain boundaries in the electrically functionalized semiconductor element is not only not a problem but even desirable because the grain boundaries can be decorated with the conductive structures. In order to be able to provide a sufficiently large amount of grain boundaries decorating conductive structures for applications in practice, in particular for solar cell applications, it is provided in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element that in the base body at least in one direction, the average distance one grain to another, the next neighbor forming grain, less than or equal to 2 mm, preferably less than or equal to 1 mm, more preferably less than or equal to 0.5 mm. In this way, it is also ensured that the grain boundaries or the conductive structures are distributed relatively homogeneously over the base body at least in one direction. This has a positive effect, in particular in the application for solar cells, with typical lateral dimensions of the main body in this case being between 100 mm × 100 mm and 450 mm × 450 mm, in particular 156 mm × 156 mm, or the basic body typically has a diameter between 100 mm and 450 mm, in particular 156 mm or between 6 '' and 8 '' on.

Wie bereits erwähnt, ist für das Erzeugen von elektrisch leitenden Strukturen im ersten Halbleitermaterial der Unterschied der Bandlücken zwischen erstem und zweitem Halbleitermaterial ausschlaggebend. Entsprechend große Unterschiede lassen sich umso leichter gewährleisten, je größer die Bandlücke des zweiten Halbleitermaterials ist. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass die zweite Bandlücke größer gleich 1,7 eV, bevorzugt größer gleich 3 eV, besonders bevorzugt größer gleich 3,6 eV, insbesondere größer gleich 5 eV ist. Ebenso ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass die zweite Bandlücke größer gleich 1,7 eV, bevorzugt größer gleich 3 eV, besonders bevorzugt größer gleich 3,6 eV, insbesondere größer gleich 5 eV ist. As already mentioned, the difference in the band gaps between the first and second semiconductor material is decisive for the generation of electrically conductive structures in the first semiconductor material. The larger the band gap of the second semiconductor material, the easier it is to ensure correspondingly large differences. It is therefore provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that the second band gap is greater than or equal to 1.7 eV, preferably greater than or equal to 3 eV, more preferably greater than or equal to 3.6 eV, in particular greater than or equal to 5 eV. It is likewise provided in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element that the second bandgap is greater than or equal to 1.7 eV, preferably greater than or equal to 3 eV, particularly preferably greater than or equal to 3.6 eV, in particular greater than or equal to 5 eV.

Nitride eignen sich aufgrund ihrer großen Bandlücken besonders gut als zweites Halbleitermaterial. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um ein Nitrid oder Carbonitrid handelt, vorzugsweise um AlN, GaN, BN, InN, TiN oder Si3N4. Ebenso ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um ein Nitrid oder Carbonitrid handelt, vorzugsweise um AlN, GaN, BN, InN, TiN oder Si3N4. Nitrides are particularly suitable as a second semiconductor material due to their large band gaps. It is therefore provided in a preferred embodiment of the method according to the invention that the second semiconductor material is a nitride or carbonitride, preferably AlN, GaN, BN, InN, TiN or Si 3 N 4 . Likewise, in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention, it is provided that the second semiconductor material is a nitride or carbonitride, preferably AlN, GaN, BN, InN, TiN or Si 3 N 4 .

Kovalente Nitride können insbesondere III-V-Halbleiter bilden. Selbstverständlich kann es sich beim zweiten Halbleitermaterial aber auch um andere III-V-Halbleiter oder aber auch II-VI-Halbleiter handeln. Dabei gibt es keine Einschränkung auf binäre Systeme, d.h. beim zweiten Halbleitermaterial kann es sich beispielsweise auch um ein ternäres oder quaternäres System handeln. Entsprechend ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um einen II-VI-Halbleiter oder einen III-V-Halbleiter handelt, wobei es sich insbesondere um eine binäre, bevorzugt um eine ternäre, besonders bevorzugt um eine quaternäre Verbindung handelt. Covalent nitrides can in particular form III-V semiconductors. Of course, the second semiconductor material may also be other III-V semiconductors or even II-VI semiconductors. There is no limitation to binary systems, i. The second semiconductor material may, for example, also be a ternary or quaternary system. Accordingly, in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention, it is provided that the second semiconductor material is an II-VI semiconductor or a III-V semiconductor, which is in particular is a binary, preferably a ternary, more preferably a quaternary compound.

Im Hinblick auf II-VI-Halbleiter sei bemerkt, dass statt Be auch Pb als Konstituent einer Verbindung Verwendung finden kann, obgleich Pb nicht in derselben Hauptgruppe wie Be ist. With regard to II-VI semiconductors, it should be noted that instead of Be also Pb as a constituent of a Connection, although Pb is not in the same main group as Be.

Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um eine binäre Verbindung aus zwei chemischen Elementen handelt, wobei das erste chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Zn, Cd, Pb, Mg, Ca, Sr und Ba und wobei das zweite chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus O, S, Se und Te. Entsprechend ergeben sich grundsätzlich die folgenden Möglichkeiten für chemische Verbindungen für ein solches zweites Halbleitermaterial: ZnO, CdO, PbO, MgO, CaO, SrO, BaO, ZnS, CdS, PbS, MgS, CaS, SrS, BaS, ZnSe, CdSe, PbSe, MgSe, CaSe, SrSe, BaSe, ZnTe, CdTe, PbTe, MgTe, CaTe, SrTe, BaTe. Analog ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um eine ternäre Verbindung aus drei chemischen Elementen handelt, wobei das erste chemische Element und das zweite chemische Element ausgewählt sind aus der Gruppe bestehend aus Zn, Cd, Pb, Mg, Ca, Sr und Ba und wobei das dritte chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus O, S, Se und Te. Entsprechend ergeben sich grundsätzlich die folgenden Möglichkeiten für chemische Verbindungen für ein solches zweites Halbleitermaterial: ZnZnO, CdZnO, PbZnO, MgZnO, CaZnO, SrZnO, BaZnO, ZnCdO, CdCdO, PbCdO, MgCdO, CaCdO, SrCdO, BaCdO, ZnPbO, CdPbO, PbPbO, MgPbO, CaPbO, SrPbO, BaPbO, ZnMgO, CdMgO, PbMgO, MgMgO, CaMgO, SrMgO, BaMgO, ZnCaO, CdCaO, PbCaO, MgCaO, CaCaO, SrCaO, BaCaO, ZnSrO, CdSrO, PbSrO, MgSrO, CaSrO, SrSrO, BaSrO, ZnBaO, CdBaO, PbBaO, MgBaO, CaBaO, SrBaO, BaBaO, ZnZnS, CdZnS, PbZnS, MgZnS, CaZnS, SrZnS, BaZnS, ZnCdS, CdCdS, PbCdS, MgCdS, CaCdS, SrCdS, BaCdS, ZnPbS, CdPbS, PbPbS, MgPbS, CaPbS, SrPbS, BaPbS, ZnMgS, CdMgS, PbMgS, MgMgS, CaMgS, SrMgS, BaMgS, ZnCaS, CdCaS, PbCaS, MgCaS, CaCaS, SrCaS, BaCaS, ZnSrS, CdSrS, PbSrS, MgSrS, CaSrS, SrSrS, BaSrS, ZnBaS, CdBaS, PbBaS, MgBaS, CaBaS, SrBaS, BaBaS, ZnZnSe, CdZnSe, PbZnSe, MgZnSe, CaZnSe, SrZnSe, BaZnSe, ZnCdSe, CdCdSe, PbCdSe, MgCdSe, CaCdSe, SrCdSe, BaCdSe, ZnPbSe, CdPbSe, PbPbSe, MgPbSe, CaPbSe, SrPbSe, BaPbSe, ZnMgSe, CdMgSe, PbMgSe, MgMgSe, CaMgSe, 5SrMgSe, BaMgSe, ZnCaSe, CdCaSe, PbCaSe, MgCaSe, CaCaSe, SrCaSe, BaCaSe, ZnSrSe, CdSrSe, PbSrSe, MgSrSe, CaSrSe, SrSrSe, BaSrSe, ZnBaSe, CdBaSe, PbBaSe, MgBaSe, CaBaSe, SrBaSe, BaBaSe, ZnZnTe, CdZnTe, PbZnTe, MgZnTe, CaZnTe, SrZnTe, BaZnTe, ZnCdTe, CdCdTe, PbCdTe, MgCdTe, CaCdTe, SrCdTe, BaCdTe, ZnPbTe, CdPbTe, PbPbTe, MgPbTe, CaPbTe, SrPbTe, BaPbTe, ZnMgTe, CdMgTe, PbMgTe, MgMgTe, CaMgTe, SrMgTe, BaMgTe, ZnCaTe, CdCaTe, PbCaTe, MgCaTe, CaCaTe, SrCaTe, BaCaTe, ZnSrTe, CdSrTe, PbSrTe, MgSrTe, CaSrTe, SrSrTe, BaSrTe, ZnBaTe, CdBaTe, PbBaTe, MgBaTe, CaBaTe, SrBaTe, BaBaTe. It is therefore provided in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention that the second semiconductor material is a binary compound of two chemical elements, wherein the first chemical element is selected from the group consisting of Zn, Cd, Pb, Mg, Ca, Sr and Ba and wherein the second chemical element is selected from the group consisting of O, S, Se and Te. Accordingly, there are basically the following possibilities for chemical compounds for such a second semiconductor material: ZnO, CdO, PbO, MgO, CaO, SrO, BaO, ZnS, CdS, PbS, MgS, CaS, SrS, BaS, ZnSe, CdSe, PbSe, MgSe, CaSe, SrSe, BaSe, ZnTe, CdTe, PbTe, MgTe, CaTe, SrTe, BaTe. Analogously, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention that the second semiconductor material is a ternary compound of three chemical elements, wherein the first chemical element and the second chemical element are selected from the group consisting of Zn, Cd, Pb, Mg, Ca, Sr and Ba and wherein the third chemical element is selected from the group consisting of O, S, Se and Te. Accordingly, there are basically the following possibilities for chemical compounds for such a second semiconductor material: ZnZnO, CdZnO, PbZnO, MgZnO, CaZnO, SrZnO, BaZnO, ZnCdO, CdCdO, PbCdO, MgCdO, CaCdO, SrCdO, BaCdO, ZnPbO, CdPbO, PbPbO, MgPbO, CaPbO, SrPbO, BaPbO, ZnMgO, CdMgO, PbMgO, MgMgO, CaMgO, SrMgO, BaMgO, ZnCaO, CdCaO, PbCaO, MgCaO, CaCaO, SrCaO, BaCaO, ZnSrO, CdSrO, PbSrO, MgSrO, CaSrO, SrSrO, BaSrO, ZnBaO, CdBaO, PbBaO, MgBaO, CaBaO, SrBaO, BaBaO, ZnZnS, CdZnS, PbZnS, MgZnS, CaZnS, SrZnS, BaZnS, ZnCdS, CdCdS, PbCdS, MgCdS, CaCdS, SrCdS, BaCdS, ZnPbS, CdPbS, PbPbS, MgPbS, CaPbS, SrPbS, BaPbS, ZnMgS, CdMgS, PbMgS, MgMgS, CaMgS, SrMgS, BaMgS, ZnCaS, CdCaS, PbCaS, MgCaS, CaCaS, SrCaS, BaCaS, ZnSrS, CdSrS, PbSrS, MgSrS, CaSrS, SrSrS, BaSrS, ZnBaS CdBaS, PbBaS, MgBaS, CABAS, SrBaS, Baba, ZnZnSe, CdZnSe, PbZnSe, MgZnSe, CaZnSe, SrZnSe, BaZnSe, ZnCdSe, CdCdSe, PbCdSe, MgCdSe, CaCdSe, SrCdSe, BaCdSe, ZnPbSe, CdPbSe, PbPbSe, MgPbSe, CaPbSe, SrPbSe, BaPbSe, ZnM gSe, CdMgSe, PbMgSe, MgMgSe, CaMgSe, 5SrMgSe, BaMgSe, ZnCaSe, cdcase, PbCaSe, MgCaSe, CaCaSe, SrCaSe, BaCaSe, ZnSrSe, CdSrSe, PbSrSe, MgSrSe, CaSrSe, SrSrSe, BaSrSe, ZnBaSe, CdBaSe, PbBaSe, MgBaSe, CaBaSe, SrBaSe, Babase, ZnZnTe, CdZnTe, PbZnTe, MgZnTe, CaZnTe, SrZnTe, BaZnTe, ZnCdTe, CdCdTe, PbCdTe, MgCdTe, CaCdTe, SrCdTe, BaCdTe, ZnPbTe, CdPbTe, PbPbTe, MgPbTe, CaPbTe, SrPbTe, BaPbTe, ZnMgTe, CdMgTe, PbMgTe, MgMgTe, CaMgTe, SrMgTe, BaMgTe, ZnCaTe, CdCaTe, PbCaTe, MgCaTe, Cacate, SrCaTe, BaCaTe, ZnSrTe, CdSrTe, PbSrTe, MgSrTe, CaSrTe, SrSrTe, BaSrTe, ZnBaTe, CdBaTe, PbBaTe, MgBaTe, CaBaTe, SrBaTe, BaBaTe.

Analog ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um eine quaternäre Verbindung aus vier chemischen Elementen handelt, wobei das erste chemische Element, das zweite chemische Element und das dritte chemische Element ausgewählt sind aus der Gruppe bestehend aus Zn, Cd, Pb, Mg, Ca, Sr und Ba und wobei das vierte chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe aus O, S, Se und Te. Entsprechend ergeben sich grundsätzlich die folgenden Möglichkeiten für chemische Verbindungen für ein solches zweites Halbleitermaterial: ZnZnZnO, CdZnZnO, PbZnZnO, MgZnZnO, CaZnZnO, SrZnZnO, BaZnZnO, ZnCdZnO, CdCdZnO, PbCdZnO, MgCdZnO, CaCdZnO, SrCdZnO, BaCdZnO, ZnPbZnO, CdPbZnO, PbPbZnO, MgPbZnO, CaPbZnO, SrPbZnO, BaPbZnO, ZnMgZnO, CdMgZnO, PbMgZnO, MgMgZnO, CaMgZnO, SrMgZnO, BaMgZnO, ZnCaZnO, CdCaZnO, PbCaZnO, MgCaZnO, CaCaZnO, SrCaZnO, BaCaZnO, ZnSrZnO, CdSrZnO, PbSrZnO, MgSrZnO, CaSrZnO, SrSrZnO, BaSrZnO, ZnBaZnO, CdBaZnO, PbBaZnO, MgBaZnO, CaBaZnO, SrBaZnO, BaBaZnO, ZnZnCdO, CdZnCdO, PbZnCdO, MgZnCdO, CaZnCdO, SrZnCdO, BaZnCdO, ZnCdCdO, CdCdCdO, PbCdCdO, MgCdCdO, CaCdCdO, SrCdCdO, BaCdCdO, ZnPbCdO, CdPbCdO, PbPbCdO, MgPbCdO, CaPbCdO, SrPbCdO, BaPbCdO, ZnMgCdO, CdMgCdO, PbMgCdO, MgMgCdO, CaMgCdO, SrMgCdO, BaMgCdO, ZnCaCdO, CdCaCdO, PbCaCdO, MgCaCdO, CaCaCdO, SrCaCdO, BaCaCdO, ZnSrCdO, CdSrCdO, PbSrCdO, MgSrCdO, CaSrCdO, SrSrCdO, BaSrCdO, ZnBaCdO, CdBaCdO, PbBaCdO, MgBaCdO, CaBaCdO, SrBaCdO, BaBaCdO, ZnZnPbO, CdZnPbO, PbZnPbO, MgZnPbO, CaZnPbO, SrZnPbO, BaZnPbO, ZnCdPbO, CdCdPbO, PbCdPbO, MgCdPbO, CaCdPbO, SrCdPbO, BaCdPbO, ZnPbPbO, CdPbPbO, PbPbPbO, MgPbPbO, CaPbPbO, SrPbPbO, BaPbPbO, ZnMgPbO, CdMgPbO, PbMgPbO, MgMgPbO, CaMgPbO, SrMgPbO, BaMgPbO, ZnCaPbO, CdCaPbO, PbCaPbO, MgCaPbO, CaCaPbO, SrCaPbO, BaCaPbO, ZnSrPbO, CdSrPbO, PbSrPbO, MgSrPbO, CaSrPbO, SrSrPbO, BaSrPbO, ZnBaPbO, CdBaPbO, PbBaPbO, MgBaPbO, CaBaPbO, SrBaPbO, BaBaPbO, ZnZnMgO, CdZnMgO, PbZnMgO, MgZnMgO, CaZnMgO, SrZnMgO, BaZnMgO, ZnCdMgO, CdCdMgO, PbCdMgO, MgCdMgO, CaCdMgO, SrCdMgO, BaCdMgO, ZnPbMgO, CdPbMgO, PbPbMgO, MgPbMgO, CaPbMgO, SrPbMgO, BaPbMgO, ZnMgMgO, CdMgMgO, PbMgMgO, MgMgMgO, CaMgMgO, SrMgMgO, BaMgMgO, ZnCaMgO, CdCaMgO, PbCaMgO, MgCaMgO, CaCaMgO, SrCaMgO, BaCaMgO, ZnSrMgO, CdSrMgO, PbSrMgO, MgSrMgO, CaSrMgO, SrSrMgO, BaSrMgO, ZnBaMgO, CdBaMgO, PbBaMgO, MgBaMgO, CaBaMgO, SrBaMgO, BaBaMgO, ZnZnCaO, CdZnCaO, PbZnCaO, MgZnCaO, CaZnCaO, SrZnCaO, BaZnCaO, ZnCdCaO, CdCdCaO, PbCdCaO, MgCdCaO, CaCdCaO, SrCdCaO, BaCdCaO, ZnPbCaO, CdPbCaO, PbPbCaO, MgPbCaO, CaPbCaO, SrPbCaO, BaPbCaO, ZnMgCaO, CdMgCaO, PbMgCaO, MgMgCaO, CaMgCaO, SrMgCaO, BaMgCaO, ZnCaCaO, CdCaCaO, PbCaCaO, MgCaCaO, CaCaCaO, SrCaCaO, BaCaCaO, ZnSrCaO, CdSrCaO, PbSrCaO, MgSrCaO, CaSrCaO, SrSrCaO, BaSrCaO, ZnBaCaO, CdBaCaO, PbBaCaO, MgBaCaO, CaBaCaO, SrBaCaO, BaBaCaO, ZnZnSrO, CdZnSrO, PbZnSrO, MgZnSrO, CaZnSrO, SrZnSrO, BaZnSrO, ZnCdSrO, CdCdSrO, PbCdSrO, MgCdSrO, CaCdSrO, SrCdSrO, BaCdSrO, ZnPbSrO, CdPbSrO, PbPbSrO, MgPbSrO, CaPbSrO, SrPbSrO, BaPbSrO, ZnMgSrO, CdMgSrO, PbMgSrO, MgMgSrO, CaMgSrO, SrMgSrO, BaMgSrO, ZnCaSrO, CdCaSrO, PbCaSrO, MgCaSrO, CaCaSrO, SrCaSrO, BaCaSrO, ZnSrSrO, CdSrSrO, PbSrSrO, MgSrSrO, CaSrSrO, SrSrSrO, BaSrSrO, ZnBaSrO, CdBaSrO, PbBaSrO, MgBaSrO, CaBaSrO, SrBaSrO, BaBaSrO, ZnZnBaO, CdZnBaO, PbZnBaO, MgZnBaO, CaZnBaO, SrZnBaO, BaZnBaO, ZnCdBaO, CdCdBaO, PbCdBaO, MgCdBaO, CaCdBaO, SrCdBaO, BaCdBaO, ZnPbBaO, CdPbBaO, PbPbBaO, MgPbBaO, CaPbBaO, SrPbBaO, BaPbBaO, ZnMgBaO, CdMgBaO, PbMgBaO, MgMgBaO, CaMgBaO, SrMgBaO, BaMgBaO, ZnCaBaO, CdCaBaO, PbCaBaO, MgCaBaO, CaCaBaO, SrCaBaO, BaCaBaO, ZnSrBaO, CdSrBaO, PbSrBaO, MgSrBaO, CaSrBaO, SrSrBaO, BaSrBaO, ZnBaBaO, CdBaBaO, PbBaBaO, MgBaBaO, CaBaBaO, SrBaBaO, BaBaBaO, ZnZnZnS, CdZnZnS, PbZnZnS, MgZnZnS, CaZnZnS, SrZnZnS, BaZnZnS, ZnCdZnS, CdCdZnS, PbCdZnS, MgCdZnS, CaCdZnS, SrCdZnS, BaCdZnS, ZnPbZnS, CdPbZnS, PbPbZnS, MgPbZnS, CaPbZnS, SrPbZnS, BaPbZnS, ZnMgZnS, CdMgZnS, PbMgZnS, MgMgZnS, CaMgZnS, SrMgZnS, BaMgZnS, ZnCaZnS, CdCaZnS, PbCaZnS, MgCaZnS, CaCaZnS, SrCaZnS, BaCaZnS, ZnSrZnS, CdSrZnS, PbSrZnS, MgSrZnS, CaSrZnS, SrSrZnS, BaSrZnS, ZnBaZnS, CdBaZnS, PbBaZnS, MgBaZnS, CaBaZnS, SrBaZnS, BaBaZnS, ZnZnCdS, CdZnCdS, PbZnCdS, MgZnCdS, CaZnCdS, SrZnCdS, BaZnCdS, ZnCdCdS, CdCdCdS, PbCdCdS, MgCdCdS, CaCdCdS, SrCdCdS, BaCdCdS, ZnPbCdS, CdPbCdS, PbPbCdS, MgPbCdS, CaPbCdS, SrPbCdS, BaPbCdS, ZnMgCdS, CdMgCdS, PbMgCdS, MgMgCdS, CaMgCdS, SrMgCdS, BaMgCdS, ZnCaCdS, CdCaCdS, PbCaCdS, MgCaCdS, CaCaCdS, SrCaCdS, BaCaCdS, ZnSrCdS, CdSrCdS, PbSrCdS, MgSrCdS, CaSrCdS, SrSrCdS, BaSrCdS, ZnBaCdS, CdBaCdS, PbBaCdS, MgBaCdS, CaBaCdS, SrBaCdS, BaBaCdS, ZnZnPbS, CdZnPbS, PbZnPbS, MgZnPbS, CaZnPbS, SrZnPbS, BaZnPbS, ZnCdPbS, CdCdPbS, PbCdPbS, MgCdPbS, CaCdPbS, SrCdPbS, BaCdPbS, ZnPbPbS, CdPbPbS, PbPbPbS, MgPbPbS, CaPbPbS, SrPbPbS, BaPbPbS, ZnMgPbS, CdMgPbS, PbMgPbS, MgMgPbS, CaMgPbS, SrMgPbS, BaMgPbS, ZnCaPbS, CdCaPbS, PbCaPbS, MgCaPbS, CaCaPbS, SrCaPbS, BaCaPbS, ZnSrPbS, CdSrPbS, PbSrPbS, MgSrPbS, CaSrPbS, SrSrPbS, BaSrPbS, ZnBaPbS, CdBaPbS, PbBaPbS, MgBaPbS, CaBaPbS, SrBaPbS, BaBaPbS, ZnZnMgS, CdZnMgS, PbZnMgS, MgZnMgS, CaZnMgS, SrZnMgS, BaZnMgS, ZnCdMgS, CdCdMgS, PbCdMgS, MgCdMgS, CaCdMgS, SrCdMgS, BaCdMgS, ZnPbMgS, CdPbMgS, PbPbMgS, MgPbMgS, CaPbMgS, SrPbMgS, BaPbMgS, ZnMgMgS, CdMgMgS, PbMgMgS, MgMgMgS, CaMgMgS, SrMgMgS, BaMgMgS, ZnCaMgS, CdCaMgS, PbCaMgS, MgCaMgS, CaCaMgS, SrCaMgS, BaCaMgS, ZnSrMgS, CdSrMgS, PbSrMgS, MgSrMgS, CaSrMgS, SrSrMgS, BaSrMgS, ZnBaMgS, CdBaMgS, PbBaMgS, MgBaMgS, CaBaMgS, SrBaMgS, BaBaMgS, ZnZnCaS, CdZnCaS, PbZnCaS, MgZnCaS, CaZnCaS, SrZnCaS, BaZnCaS, ZnCdCaS, CdCdCaS, PbCdCaS, MgCdCaS, CaCdCaS, SrCdCaS, BaCdCaS, ZnPbCaS, CdPbCaS, PbPbCaS, MgPbCaS, CaPbCaS, SrPbCaS, BaPbCaS, ZnMgCaS, CdMgCaS, PbMgCaS, MgMgCaS, CaMgCaS, SrMgCaS, BaMgCaS, ZnCaCaS, CdCaCaS, PbCaCaS, MgCaCaS, CaCaCaS, SrCaCaS, BaCaCaS, ZnSrCaS, CdSrCaS, PbSrCaS, MgSrCaS, CaSrCaS, SrSrCaS, BaSrCaS, ZnBaCaS, CdBaCaS, PbBaCaS, MgBaCaS, CaBaCaS, SrBaCaS, BaBaCaS, ZnZnSrS, CdZnSrS, PbZnSrS, MgZnSrS, CaZnSrS, SrZnSrS, BaZnSrS, ZnCdSrS, CdCdSrS, PbCdSrS, MgCdSrS, CaCdSrS, SrCdSrS, BaCdSrS, ZnPbSrS, CdPbSrS, PbPbSrS, MgPbSrS, CaPbSrS, SrPbSrS, BaPbSrS, ZnMgSrS, CdMgSrS, PbMgSrS, MgMgSrS, CaMgSrS, SrMgSrS, BaMgSrS, ZnCaSrS, CdCaSrS, PbCaSrS, MgCaSrS, CaCaSrS, SrCaSrS, BaCaSrS, ZnSrSrS, CdSrSrS, PbSrSrS, MgSrSrS, CaSrSrS, SrSrSrS, BaSrSrS, ZnBaSrS, CdBaSrS, PbBaSrS, MgBaSrS, CaBaSrS, SrBaSrS, BaBaSrS, ZnZnBaS, CdZnBaS, PbZnBaS, MgZnBaS, CaZnBaS, SrZnBaS, BaZnBaS, ZnCdBaS, CdCdBaS, PbCdBaS, MgCdBaS, CaCdBaS, SrCdBaS, BaCdBaS, ZnPbBaS, CdPbBaS, PbPbBaS, MgPbBaS, CaPbBaS, SrPbBaS, BaPbBaS, ZnMgBaS, CdMgBaS, PbMgBaS, MgMgBaS, CaMgBaS, SrMgBaS, BaMgBaS, ZnCaBaS, CdCaBaS, PbCaBaS, MgCaBaS, CaCaBaS, SrCaBaS, BaCaBaS, ZnSrBaS, CdSrBaS, PbSrBaS, MgSrBaS, CaSrBaS, SrSrBaS, BaSrBaS, ZnBaBaS, CdBaBaS, PbBaBaS, MgBaBaS, CaBaBaS, SrBaBaS, BaBaBaS, ZnZnZnSe, CdZnZnSe, PbZnZnSe, MgZnZnSe, CaZnZnSe, SrZnZnSe, BaZnZnSe, ZnCdZnSe, CdCdZnSe, PbCdZnSe, MgCdZnSe, CaCdZnSe, SrCdZnSe, BaCdZnSe, ZnPbZnSe, CdPbZnSe, PbPbZnSe, MgPbZnSe, CaPbZnSe, SrPbZnSe, BaPbZnSe, ZnMgZnSe, CdMgZnSe, PbMgZnSe, MgMgZnSe, CaMgZnSe, SrMgZnSe, BaMgZnSe, ZnCaZnSe, CdCaZnSe, PbCaZnSe, MgCaZnSe, CaCaZnSe, SrCaZnSe, BaCaZnSe, ZnSrZnSe, CdSrZnSe, PbSrZnSe, MgSrZnSe, CaSrZnSe, SrSrZnSe, BaSrZnSe, ZnBaZnSe, CdBaZnSe, PbBaZnSe, MgBaZnSe, CaBaZnSe, SrBaZnSe, BaBaZnSe, ZnZnCdSe, CdZnCdSe, PbZnCdSe, MgZnCdSe, CaZnCdSe, SrZnCdSe, BaZnCdSe, ZnCdCdSe, CdCdCdSe, PbCdCdSe, MgCdCdSe, CaCdCdSe, SrCdCdSe, BaCdCdSe, ZnPbCdSe, CdPbCdSe, PbPbCdSe, MgPbCdSe, CaPbCdSe, SrPbCdSe, BaPbCdSe, ZnMgCdSe, CdMgCdSe, PbMgCdSe, MgMgCdSe, CaMgCdSe, SrMgCdSe, BaMgCdSe, ZnCaCdSe, CdCaCdSe, PbCaCdSe, MgCaCdSe, CaCaCdSe, SrCaCdSe, BaCaCdSe, ZnSrCdSe, CdSrCdSe, PbSrCdSe, MgSrCdSe, CaSrCdSe, SrSrCdSe, BaSrCdSe, ZnBaCdSe, CdBaCdSe, PbBaCdSe, MgBaCdSe, CaBaCdSe, SrBaCdSe, BaBaCdSe, ZnZnPbSe, CdZnPbSe, PbZnPbSe, MgZnPbSe, CaZnPbSe, SrZnPbSe, BaZnPbSe, ZnCdPbSe, CdCdPbSe, PbCdPbSe, MgCdPbSe, CaCdPbSe, SrCdPbSe, BaCdPbSe, ZnPbPbSe, CdPbPbSe, PbPbPbSe, MgPbPbSe, CaPbPbSe, SrPbPbSe, BaPbPbSe, ZnMgPbSe, CdMgPbSe, PbMgPbSe, MgMgPbSe, CaMgPbSe, SrMgPbSe, BaMgPbSe, ZnCaPbSe, CdCaPbSe, PbCaPbSe, MgCaPbSe, CaCaPbSe, SrCaPbSe, BaCaPbSe, ZnSrPbSe, CdSrPbSe, PbSrPbSe, MgSrPbSe, CaSrPbSe, SrSrPbSe, BaSrPbSe, ZnBaPbSe, CdBaPbSe, PbBaPbSe, MgBaPbSe, CaBaPbSe, SrBaPbSe, BaBaPbSe, ZnZnMgSe, CdZnMgSe, PbZnMgSe, MgZnMgSe, CaZnMgSe, SrZnMgSe, BaZnMgSe, ZnCdMgSe, CdCdMgSe, PbCdMgSe, MgCdMgSe, CaCdMgSe, SrCdMgSe, BaCdMgSe, ZnPbMgSe, CdPbMgSe, PbPbMgSe, MgPbMgSe, CaPbMgSe, SrPbMgSe, BaPbMgSe, ZnMgMgSe, CdMgMgSe, PbMgMgSe, MgMgMgSe, CaMgMgSe, SrMgMgSe, BaMgMgSe, ZnCaMgSe, CdCaMgSe, PbCaMgSe, MgCaMgSe, CaCaMgSe, SrCaMgSe, BaCaMgSe, ZnSrMgSe, CdSrMgSe, PbSrMgSe, MgSrMgSe, CaSrMgSe, SrSrMgSe, BaSrMgSe, ZnBaMgSe, CdBaMgSe, PbBaMgSe, MgBaMgSe, CaBaMgSe, SrBaMgSe, BaBaMgSe, ZnZnCaSe, CdZnCaSe, PbZnCaSe, MgZnCaSe, CaZnCaSe, SrZnCaSe, BaZnCaSe, ZnCdCaSe, CdCdCaSe, PbCdCaSe, MgCdCaSe, CaCdCaSe, SrCdCaSe, BaCdCaSe, ZnPbCaSe, CdPbCaSe, PbPbCaSe, MgPbCaSe, CaPbCaSe, SrPbCaSe, BaPbCaSe, ZnMgCaSe, CdMgCaSe, PbMgCaSe, MgMgCaSe, CaMgCaSe, SrMgCaSe, BaMgCaSe, ZnCaCaSe, CdCaCaSe, PbCaCaSe, MgCaCaSe, CaCaCaSe, SrCaCaSe, BaCaCaSe, ZnSrCaSe, CdSrCaSe, PbSrCaSe, MgSrCaSe, CaSrCaSe, SrSrCaSe, BaSrCaSe, ZnBaCaSe, CdBaCaSe, PbBaCaSe, MgBaCaSe, CaBaCaSe, SrBaCaSe, BaBaCaSe, ZnZnSrSe, CdZnSrSe, PbZnSrSe, MgZnSrSe, CaZnSrSe, SrZnSrSe, BaZnSrSe, ZnCdSrSe, CdCdSrSe, PbCdSrSe, MgCdSrSe, CaCdSrSe, SrCdSrSe, BaCdSrSe, ZnPbSrSe, CdPbSrSe, PbPbSrSe, MgPbSrSe, CaPbSrSe, SrPbSrSe, BaPbSrSe, ZnMgSrSe, CdMgSrSe, PbMgSrSe, MgMgSrSe, CaMgSrSe, SrMgSrSe, BaMgSrSe, ZnCaSrSe, CdCaSrSe, PbCaSrSe, MgCaSrSe, CaCaSrSe, SrCaSrSe, BaCaSrSe, ZnSrSrSe, CdSrSrSe, PbSrSrSe, MgSrSrSe, CaSrSrSe, SrSrSrSe, BaSrSrSe, ZnBaSrSe, CdBaSrSe, PbBaSrSe, MgBaSrSe, CaBaSrSe, SrBaSrSe, BaBaSrSe, ZnZnBaSe, CdZnBaSe, PbZnBaSe, MgZnBaSe, CaZnBaSe, SrZnBaSe, BaZnBaSe, ZnCdBaSe, CdCdBaSe, PbCdBaSe, MgCdBaSe, CaCdBaSe, SrCdBaSe, BaCdBaSe, ZnPbBaSe, CdPbBaSe, PbPbBaSe, MgPbBaSe, CaPbBaSe, SrPbBaSe, BaPbBaSe, ZnMgBaSe, CdMgBaSe, PbMgBaSe, MgMgBaSe, CaMgBaSe, SrMgBaSe, BaMgBaSe, ZnCaBaSe, CdCaBaSe, PbCaBaSe, MgCaBaSe, CaCaBaSe, SrCaBaSe, BaCaBaSe, ZnSrBaSe, CdSrBaSe, PbSrBaSe, MgSrBaSe, CaSrBaSe, SrSrBaSe, BaSrBaSe, ZnBaBaSe, CdBaBaSe, PbBaBaSe, MgBaBaSe, CaBaBaSe, SrBaBaSe, BaBaBaSe, ZnZnZnTe, CdZnZnTe, PbZnZnTe, MgZnZnTe, CaZnZnTe, SrZnZnTe, BaZnZnTe, ZnCdZnTe, CdCdZnTe, PbCdZnTe, MgCdZnTe, CaCdZnTe, SrCdZnTe, BaCdZnTe, ZnPbZnTe, CdPbZnTe, PbPbZnTe, MgPbZnTe, CaPbZnTe, SrPbZnTe, BaPbZnTe, ZnMgZnTe, CdMgZnTe, PbMgZnTe, MgMgZnTe, CaMgZnTe, SrMgZnTe, BaMgZnTe, ZnCaZnTe, CdCaZnTe, PbCaZnTe, MgCaZnTe, CaCaZnTe, SrCaZnTe, BaCaZnTe, ZnSrZnTe, CdSrZnTe, PbSrZnTe, MgSrZnTe, CaSrZnTe, SrSrZnTe, BaSrZnTe, ZnBaZnTe, CdBaZnTe, PbBaZnTe, MgBaZnTe, CaBaZnTe, SrBaZnTe, BaBaZnTe, ZnZnCdTe, CdZnCdTe, PbZnCdTe, MgZnCdTe, CaZnCdTe, SrZnCdTe, BaZnCdTe, ZnCdCdTe, CdCdCdTe, PbCdCdTe, MgCdCdTe, CaCdCdTe, SrCdCdTe, BaCdCdTe, ZnPbCdTe, CdPbCdTe, PbPbCdTe, MgPbCdTe, CaPbCdTe, SrPbCdTe, BaPbCdTe, ZnMgCdTe, CdMgCdTe, PbMgCdTe, MgMgCdTe, CaMgCdTe, SrMgCdTe, BaMgCdTe, ZnCaCdTe, CdCaCdTe, PbCaCdTe, MgCaCdTe, CaCaCdTe, SrCaCdTe, BaCaCdTe, ZnSrCdTe, CdSrCdTe, PbSrCdTe, MgSrCdTe, CaSrCdTe, SrSrCdTe, BaSrCdTe, ZnBaCdTe, CdBaCdTe, PbBaCdTe, MgBaCdTe, CaBaCdTe, SrBaCdTe, BaBaCdTe, ZnZnPbTe, CdZnPbTe, PbZnPbTe, MgZnPbTe, CaZnPbTe, SrZnPbTe, BaZnPbTe, ZnCdPbTe, CdCdPbTe, PbCdPbTe, MgCdPbTe, CaCdPbTe, SrCdPbTe, BaCdPbTe, ZnPbPbTe, CdPbPbTe, PbPbPbTe, MgPbPbTe, CaPbPbTe, SrPbPbTe, BaPbPbTe, ZnMgPbTe, CdMgPbTe, PbMgPbTe, MgMgPbTe, CaMgPbTe, SrMgPbTe, BaMgPbTe, ZnCaPbTe, CdCaPbTe, PbCaPbTe, MgCaPbTe, CaCaPbTe, SrCaPbTe, BaCaPbTe, ZnSrPbTe, CdSrPbTe, PbSrPbTe, MgSrPbTe, CaSrPbTe, SrSrPbTe, BaSrPbTe, ZnBaPbTe, CdBaPbTe, PbBaPbTe, MgBaPbTe, CaBaPbTe, SrBaPbTe, BaBaPbTe, ZnZnMgTe, CdZnMgTe, PbZnMgTe, MgZnMgTe, CaZnMgTe, SrZnMgTe, BaZnMgTe, ZnCdMgTe, CdCdMgTe, PbCdMgTe, MgCdMgTe, CaCdMgTe, SrCdMgTe, BaCdMgTe, ZnPbMgTe, CdPbMgTe, PbPbMgTe, MgPbMgTe, CaPbMgTe, SrPbMgTe, BaPbMgTe, ZnMgMgTe, CdMgMgTe, PbMgMgTe, MgMgMgTe, CaMgMgTe, SrMgMgTe, BaMgMgTe, ZnCaMgTe, CdCaMgTe, PbCaMgTe, MgCaMgTe, CaCaMgTe, SrCaMgTe, BaCaMgTe, ZnSrMgTe, CdSrMgTe, PbSrMgTe, MgSrMgTe, CaSrMgTe, SrSrMgTe, BaSrMgTe, ZnBaMgTe, CdBaMgTe, PbBaMgTe, MgBaMgTe, CaBaMgTe, SrBaMgTe, BaBaMgTe, ZnZnCaTe, CdZnCaTe, PbZnCaTe, MgZnCaTe, CaZnCaTe, SrZnCaTe, BaZnCaTe, ZnCdCaTe, CdCdCaTe, PbCdCaTe, MgCdCaTe, CaCdCaTe, SrCdCaTe, BaCdCaTe, ZnPbCaTe, CdPbCaTe, PbPbCaTe, MgPbCaTe, CaPbCaTe, SrPbCaTe, BaPbCaTe, ZnMgCaTe, CdMgCaTe, PbMgCaTe, MgMgCaTe, CaMgCaTe, SrMgCaTe, BaMgCaTe, ZnCaCaTe, CdCaCaTe, PbCaCaTe, MgCaCaTe, CaCaCaTe, SrCaCaTe, BaCaCaTe, ZnSrCaTe, CdSrCaTe, PbSrCaTe, MgSrCaTe, CaSrCaTe, SrSrCaTe, BaSrCaTe, ZnBaCaTe, CdBaCaTe, PbBaCaTe, MgBaCaTe, CaBaCaTe, SrBaCaTe, BaBaCaTe, ZnZnSrTe, CdZnSrTe, PbZnSrTe, MgZnSrTe, CaZnSrTe, SrZnSrTe, BaZnSrTe, ZnCdSrTe, CdCdSrTe, PbCdSrTe, MgCdSrTe, CaCdSrTe, SrCdSrTe, BaCdSrTe, ZnPbSrTe, CdPbSrTe, PbPbSrTe, MgPbSrTe, CaPbSrTe, SrPbSrTe, BaPbSrTe, ZnMgSrTe, CdMgSrTe, PbMgSrTe, MgMgSrTe, CaMgSrTe, SrMgSrTe, BaMgSrTe, ZnCaSrTe, CdCaSrTe, PbCaSrTe, MgCaSrTe, CaCaSrTe, SrCaSrTe, BaCaSrTe, ZnSrSrTe, CdSrSrTe, PbSrSrTe, MgSrSrTe, CaSrSrTe, SrSrSrTe, BaSrSrTe, ZnBaSrTe, CdBaSrTe, PbBaSrTe, MgBaSrTe, CaBaSrTe, SrBaSrTe, BaBaSrTe, ZnZnBaTe, CdZnBaTe, PbZnBaTe, MgZnBaTe, CaZnBaTe, SrZnBaTe, BaZnBaTe, ZnCdBaTe, CdCdBaTe, PbCdBaTe, MgCdBaTe, CaCdBaTe, SrCdBaTe, BaCdBaTe, ZnPbBaTe, CdPbBaTe, PbPbBaTe, MgPbBaTe, CaPbBaTe, SrPbBaTe, BaPbBaTe, ZnMgBaTe, CdMgBaTe, PbMgBaTe, MgMgBaTe, CaMgBaTe, SrMgBaTe, BaMgBaTe, ZnCaBaTe, CdCaBaTe, PbCaBaTe, MgCaBaTe, CaCaBaTe, SrCaBaTe, BaCaBaTe, ZnSrBaTe, CdSrBaTe, PbSrBaTe, MgSrBaTe, CaSrBaTe, SrSrBaTe, BaSrBaTe, ZnBaBaTe, CdBaBaTe, PbBaBaTe, MgBaBaTe, CaBaBaTe, SrBaBaTe, BaBaBaTe. Analogously, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element that the second semiconductor material is a quaternary compound of four chemical elements, wherein the first chemical element, the second chemical element and the third chemical element are selected from the group consisting of Zn, Cd, Pb, Mg, Ca, Sr and Ba, and wherein the fourth chemical element is selected from the group consisting of O, S, Se and Te. Accordingly, there are basically the following possibilities for chemical compounds for such a second semiconductor material: ZnZnZnO, CdZnZnO, PbZnZnO, MgZnZnO, CaZnZnO, SrZnZnO, BaZnZnO, ZnCdZnO, CdCdZnO, PbCdZnO, MgCdZnO, CaCdZnO, SrCdZnO, BaCdZnO, ZnPbZnO, CdPbZnO, PbPbZnO, MgPbZnO, CaPbZnO, SrPbZnO, BaPbZnO, ZnMgZnO, CdMgZnO, PbMgZnO, MgMgZnO, CaMgZnO, SrMgZnO, BaMgZnO, ZnCaZnO, CdCaZnO, PbCaZnO, MgCaZnO, CaCaZnO, SrCaZnO, BaCaZnO, ZnSrZnO, CdSrZnO, PbSrZnO, MgSrZnO, CaSrZnO, SrSrZnO, BaSrZnO, ZnBaZnO, CdBaZnO, PbBaZnO, MgBaZnO, CaBaZnO, SrBaZnO, BaBaZnO, ZnZnCdO, CdZnCdO, PbZnCdO, MgZnCdO, CaZnCdO, SrZnCdO, BaZnCdO, ZnCdCdO, CdCdCdO, PbCdCdO, MgCdCdO, CaCdCdO, SrCdCdO, BaCdCdO, ZnPbCdO, CdPbCdO, PbPbCdO, MgPbCdO, CaPbCdO, SrPbCdO, BaPbCdO, ZnMgCdO, CdMgCdO, PbMgCdO, MgMgCdO, CaMgCdO, SrMgCdO, BaMgCdO, ZnCaCdO, CdCaCdO, PbCaCdO, MgCaCdO, CaCaCdO, SrCaCdO, BaCaCdO, ZnSrCdO, CdSrCdO, PbSrCdO, MgSrCdO, CaSrCdO, SrSrCdO, BaSrCdO, ZnBaCdO, CdBaCdO, PbBaCdO, MgBaCdO, Ca BaCdO, SrBaCdO, BaBaCdO, ZnZnPbO, CdZnPbO, PbZnPbO, MgZnPbO, CaZnPbO, SrZnPbO, BaZnPbO, ZnCdPbO, CdCdPbO, PbCdPbO, MgCdPbO, CaCdPbO, SrCdPbO, BaCdPbO, ZnPbPbO, CdPbPbO, PbPbPbO, MgPbPbO, CaPbPbO, SrPbPbO, BaPbPbO, ZnMgPbO, CdMgPbO, PbMgPbO, MgMgPbO, CaMgPbO, SrMgPbO, BaMgPbO, ZnCaPbO, CdCaPbO, PbCaPbO, MgCaPbO, CaCaPbO, SrCaPbO, BaCaPbO, ZnSrPbO, CdSrPbO, PbSrPbO, MgSrPbO, CaSrPbO, SrSrPbO, BaSrPbO, ZnBaPbO, CdBaPbO, PbBaPbO, MgBaPbO, CaBaPbO, SrBaPbO, BaBaPbO, ZnZnMgO, CdZnMgO, PbZnMgO, MgZnMgO, CaZnMgO, SrZnMgO, BaZnMgO, ZnCdMgO, CdCdMgO, PbCdMgO, MgCdMgO, CaCdMgO, SrCdMgO, BaCdMgO, ZnPbMgO, CdPbMgO, PbPbMgO, MgPbMgO, CaPbMgO, SrPbMgO, BaPbMgO, ZnMgMgO, CdMgMgO, PbMgMgO, MgMgMgO, CaMgMgO, SrMgMgO, BaMgMgO, ZnCaMgO, CdCaMgO, PbCaMgO, MgCaMgO, CaCaMgO, SrCaMgO, BaCaMgO, ZnSrMgO, CdSrMgO, PbSrMgO, MgSrMgO, CaSrMgO, SrSrMgO, BaSrMgO, ZnBaMgO, CdBaMgO, PbBaMgO, MgBaMgO, CaBaMgO, SrBaMgO, BaBaMgO, ZnZnCaO, CdZnCaO, PbZnCaO, MgZnCaO, CaZnCaO, SrZnCaO, BaZnCaO, ZnCdCaO, CdCdCaO, PbCdCaO, MgCdCaO, CaCdCaO, SrCdCaO, BaCdCaO, ZnPbCaO, CdPbCaO, PbPbCaO, MgPbCaO, CaPbCaO, SrPbCaO, BaPbCaO, ZnMgCaO, CdMgCaO, PbMgCaO, MgMgCaO, CaMgCaO, SrMgCaO, BaMgCaO, ZnCaCaO, CdCaCaO, PbCaCaO, MgCaCaO, CaCaCaO, SrCaCaO, BaCaCaO, ZnSrCaO, CdSrCaO, PbSrCaO, MgSrCaO, CaSrCaO, SrSrCaO, BaSrCaO, ZnBaCaO, CdBaCaO, PbBaCaO, MgBaCaO, CaBaCaO, SrBaCaO, BaBaCaO, ZnZnSrO, CdZnSrO, PbZnSrO, MgZnSrO, CaZnSrO, SrZnSrO, BaZnSrO, ZnCdSrO, CdCdSrO, PbCdSrO, MgCdSrO, C aCdSrO, SrCdSrO, BaCdSrO, ZnPbSrO, CdPbSrO, PbPbSrO, MgPbSrO, CaPbSrO, SrPbSrO, BaPbSrO, ZnMgSrO, CdMgSrO, PbMgSrO, MgMgSrO, CaMgSrO, SrMgSrO, BaMgSrO, ZnCaSrO, CdCaSrO, PbCaSrO, MgCaSrO, CaCaSrO, SrCaSrO, BaCaSrO, ZnSrSrO, CdSrSrO, PbSrSrO, MgSrSrO, CaSrSrO, SrSrSrO, BaSrSrO, ZnBaSrO, CdBaSrO, PbBaSrO, MgBaSrO, CaBaSrO, SrBaSrO, BaBaSrO, ZnZnBaO, CdZnBaO, PbZnBaO, MgZnBaO, CaZnBaO, SrZnBaO, BaZnBaO, ZnCdBaO, CdCdBaO, PbCdBaO, MgCdBaO, CaCdBaO, SrCdBaO, BaCdBaO, ZnPbBaO, CdPbBaO, PbPbBaO, MgPbBaO, CaPbBaO, SrPbBaO, BaPbBaO, ZnMgBaO, CdMgBaO, PbMgBaO, MgMgBaO, CaMgBaO, SrMgBaO, BaMgBaO, ZnCaBaO, CdCaBaO, PbCaBaO, MgCaBaO, CaCaBaO, SrCaBaO, BaCaBaO, ZnSrBaO, CdSrBaO, PbSrBaO, MgSrBaO, CaSrBaO, SrSrBaO, BaSrBaO, ZnBaBaO, CdBaBaO, PbBaBaO, MgBaBaO, CaBaBaO, SrBaBaO, BaBaBaO, ZnZnZnS, CdZnZnS, PbZnZnS, MgZnZnS, CaZnZnS, SrZnZnS, BaZnZnS, ZnCdZnS, CdCdZnS, PbCdZnS, MgCdZnS, CaCdZnS, SrCdZnS, BaCdZnS, ZnPbZnS, CdPbZnS, PbPbZnS, MgPbZnS, CaPbZnS, SrPbZnS, BaPbZnS, ZnMgZnS, CdMgZnS, PbMgZnS, Mg MgZnS, CaMgZnS, SrMgZnS, BaMgZnS, ZnCaZnS, CdCaZnS, PbCaZnS, MgCaZnS, CaCaZnS, SrCaZnS, BaCaZnS, ZnSrZnS, CdSrZnS, PbSrZnS, MgSrZnS, CaSrZnS, SrSrZnS, BaSrZnS, ZnBaZnS, CdBaZnS, PbBaZnS, MgBaZnS, CaBaZnS, SrBaZnS, BaBaZnS, ZnZnCdS, CdZnCdS, PbZnCdS, MgZnCdS, CaZnCdS, SrZnCdS, BaZnCdS, ZnCdCdS, CdCdCdS, PbCdCdS, MgCdCdS, CaCdCdS, SrCdCdS, BaCdCdS, ZnPbCdS, CdPbCdS, PbPbCdS, MgPbCdS, CaPbCdS, SrPbCdS, BaPbCdS, ZnMgCdS, CdMgCdS, PbMgCdS, MgMgCdS, CaMgCdS, SrMgCdS, BaMgCdS, ZnCaCdS, CdCaCdS, PbCaCdS, MgCaCdS, CaCaCdS, SrCaCdS, BaCaCdS, ZnSrCdS, CdSrCdS, PbSrCdS, MgSrCdS, CaSrCdS, SrSrCdS, BaSrCdS, ZnBaCdS, CdBaCdS, PbBaCdS, MgBaCdS, CaBaCdS, SrBaCdS, BaBaCdS, ZnZnPbS, CdZnPbS, PbZnPbS, MgZnPbS, CaZnPbS, SrZnPbS, BaZnPbS, ZnCdPbS, CdCdPbS, PbCdPbS, MgCdPbS, CaCdPbS, SrCdPbS, BaCdPbS, ZnPbPbS, CdPbPbS, PbPbPbS, MgPbPbS, CaPbPbS, SrPbPbS, BaPbPbS, ZnMgPbS, CdMgPbS, PbMgPbS, MgMgPbS, CaMgPbS, SrMgPbS, BaMgPbS, ZnCaPbS, CdCaPbS, PbCaPbS, MgCaPbS, CaCaPbS, SrCaPbS, BaCaPbS, ZnSrPbS, CdSrPbS, PbS RPBS, MgSrPbS, CaSrPbS, SrSrPbS, BaSrPbS, ZnBaPbS, CdBaPbS, PbBaPbS, MgBaPbS, CaBaPbS, SrBaPbS, BaBaPbS, ZnZnMgS, CdZnMgS, PbZnMgS, MgZnMgS, CaZnMgS, SrZnMgS, BaZnMgS, ZnCdMgS, CdCdMgS, PbCdMgS, MgCdMgS, CaCdMgS, SrCdMgS, BaCdMgS, ZnPbMgS, CdPbMgS, PbPbMgS, MgPbMgS, CaPbMgS, SrPbMgS, BaPbMgS, ZnMgMgS, CdMgMgS, PbMgMgS, MgMgMgS, CaMgMgS, SrMgMgS, BaMgMgS, ZnCaMgS, CdCaMgS, PbCaMgS, MgCaMgS, CaCaMgS, SrCaMgS, BaCaMgS, ZnSrMgS, CdSrMgS, PbSrMgS, MgSrMgS, CaSrMgS, SrSrMgS, BaSrMgS, ZnBaMgS, CdBaMgS, PbBaMgS, MgBaMgS, CaBaMgS, SrBaMgS, BaBaMgS, ZnZnCaS, CdZnCaS, PbZnCaS, MgZnCaS, CaZnCaS, SrZnCaS, BaZnCaS, ZnCdCaS, CdCdCaS, PbCdCaS, MgCdCaS, CaCdCaS, SrCdCaS, BaCdCaS, ZnPbCaS, CdPbCaS, PbPbCaS, MgPbCaS, CaPbCaS, SrPbCaS, BaPbCaS, ZnMgCaS, CdMgCaS, PbMgCaS, MgMgCaS, CaMgCaS, SrMgCaS, BaMgCaS, ZnCaCaS, CdCaCaS, PbCaCaS, MgCaCaS, CaCaCaS, SrCaCaS, BaCaCaS, ZnSrCaS, CdSrCaS, PbSrCaS, MgSrCaS, CaSrCaS, SrSrCaS, BaSrCaS, ZnBaCaS, CdBaCaS, PbBaCaS, MgBaCaS, CaBaCaS, SrBaCaS, BaBaCaS, ZnZnSrS, CdZn SrS, PbZnSrS, MgZnSrS, CaZnSrS, SrZnSrS, BaZnSrS, ZnCdSrS, CdCdSrS, PbCdSrS, MgCdSrS, CaCdSrS, SrCdSrS, BaCdSrS, ZnPbSrS, CdPbSrS, PbPbSrS, MgPbSrS, CaPbSrS, SrPbSrS, BaPbSrS, ZnMgSrS, CdMgSrS, PbMgSrS, MgMgSrS, CaMgSrS, SrMgSrS, BaMgSrS, ZnCaSrS, CdCaSrS, PbCaSrS, MgCaSrS, CaCaSrS, SrCaSrS, BaCaSrS, ZnSrSrS, CdSrSrS, PbSrSrS, MgSrSrS, CaSrSrS, SrSrSrS, BaSrSrS, ZnBaSrS, CdBaSrS, PbBaSrS, MgBaSrS, CaBaSrS, SrBaSrS, BaBaSrS, ZnZnBaS, CdZnBaS, PbZnBaS, MgZnBaS, CaZnBaS, SrZnBaS, BaZnBaS, ZnCdBaS, CdCdBaS, PbCdBaS, MgCdBaS, CaCdBaS, SrCdBaS, BaCdBaS, ZnPbBaS, CdPbBaS, PbPbBaS, MgPbBaS, CaPbBaS, SrPbBaS, BaPbBaS, ZnMgBaS, CdMgBaS, PbMgBaS, MgMgBaS, CaMgBaS, SrMgBaS, BaMgBaS, ZnCaBaS, CdCaBaS, PbCaBaS, MgCaBaS, CaCaBaS, SrCaBaS, BaCaBaS, ZnSrBaS, CdSrBaS, PbSrBaS, MgSrBaS, CaSrBaS, SrSrBaS, BaSrBaS, ZnBaBaS, CdBaBaS, PbBaBaS, MgBaBaS, CaBaBaS, SrBaBaS, BaBaBaS, ZnZnZnSe, CdZnZnSe, PbZnZnSe, MgZnZnSe, CaZnZnSe, SrZnZnSe, BaZnZnSe, ZnCdZnSe, CdCdZnSe, PbCdZnSe, MgCdZnSe, CaCdZnSe, SrCdZnSe, BaCdZnSe, ZnPbZnSe, CdPbZnSe, PbPbZnSe, MgPbZnSe, CaPbZnSe, SrPbZnSe, BaPbZnSe, ZnMgZnSe, CdMgZnSe, PbMgZnSe, MgMgZnSe, CaMgZnSe, SrMgZnSe, BaMgZnSe, ZnCaZnSe, CdCaZnSe, PbCaZnSe, MgCaZnSe, CaCaZnSe, SrCaZnSe, BaCaZnSe, ZnSrZnSe, CdSrZnSe, PbSrZnSe, MgSrZnSe, CaSrZnSe, SrSrZnSe, BaSrZnSe, ZnBaZnSe, CdBaZnSe, PbBaZnSe, MgBaZnSe, CaBaZnSe, SrBaZnSe, BaBaZnSe, ZnZnCdSe, CdZnCdSe, PbZnCdSe, MgZnCdSe, CaZnCdSe, SrZnCdSe, BaZnCdSe, ZnCdCdSe, CdCdCdSe, PbCdCdSe, MgCdCdSe, CaCdCdSe, SrCdCdSe, BaCdCdSe, ZnPbCdSe, CdPbCdSe, PbPbCdSe, MgPbCdSe, CaPbCdSe, SrPbCdSe, BaPbCdSe, ZnMgCdSe, CdMgCdSe, PbMgCdSe, MgMgCdSe, CaMgCdSe, SrMgCdSe, BaMgCdSe, ZnCaCdSe, CdCaCdSe, PbCaCdSe, MgCaCdSe, CaCaCdSe, SrCaCdSe, BaCaCdSe, ZnSrCdSe, CdSrCdSe, PbSrCdSe, MgSrCdSe, CaSrCdSe, SrSrCdSe, B aSrCdSe, ZnBaCdSe, CdBaCdSe, PbBaCdSe, MgBaCdSe, CaBaCdSe, SrBaCdSe, BaBaCdSe, ZnZnPbSe, CdZnPbSe, PbZnPbSe, MgZnPbSe, CaZnPbSe, SrZnPbSe, BaZnPbSe, ZnCdPbSe, CdCdPbSe, PbCdPbSe, MgCdPbSe, CaCdPbSe, SrCdPbSe, BaCdPbSe, ZnPbPbSe, CdPbPbSe, PbPbPbSe, MgPbPbSe, CaPbPbSe, SrPbPbSe, BaPbPbSe, ZnMgPbSe, CdMgPbSe, PbMgPbSe, MgMgPbSe, CaMgPbSe, SrMgPbSe, BaMgPbSe, ZnCaPbSe, CdCaPbSe, PbCaPbSe, MgCaPbSe, CaCaPbSe, SrCaPbSe, BaCaPbSe, ZnSrPbSe, CdSrPbSe, PbSrPbSe, MgSrPbSe, CaSrPbSe, SrSrPbSe, BaSrPbSe, ZnBaPbSe, CdBaPbSe, PbBaPbSe, MgBaPbSe, CaBaPbSe, SrBaPbSe, BaBaPbSe, ZnZnMgSe, CdZnMgSe, PbZnMgSe, MgZnMgSe, CaZnMgSe, SrZnMgSe, BaZnMgSe, ZnCdMgSe, CdCdMgSe, PbCdMgSe, MgCdMgSe, CaCdMgSe, SrCdMgSe, BaCdMgSe, ZnPbMgSe, CdPbMgSe, PbPbMgSe, MgPbMgSe, CaPbMgSe, SrPbMgSe, BaPbMgSe, ZnMgMgSe, CdMgMgSe, PbMgMgSe, MgMgMgSe, CaMgMgSe, SrMgMgSe, BaMgMgSe, ZnCaMgSe, CdCaMgSe, PbCaMgSe, MgCaMgSe, CaCaMgSe, SrCaMgSe, BaCaMgSe, ZnSrMgSe, CdSrMgSe, PbSrMgSe, MgSrMgSe, CaSrMgSe, SrSrMgSe, BaSrMgSe, ZnBaMgSe, C dBaMgSe, PbBaMgSe, MgBaMgSe, CaBaMgSe, SrBaMgSe, BaBaMgSe, ZnZnCaSe, CdZnCaSe, PbZnCaSe, MgZnCaSe, CaZnCaSe, SrZnCaSe, BaZnCaSe, ZnCdCaSe, CdCdCaSe, PbCdCaSe, MgCdCaSe, CaCdCaSe, SrCdCaSe, BaCdCaSe, ZnPbCaSe, CdPbCaSe, PbPbCaSe, MgPbCaSe, CaPbCaSe, SrPbCaSe, BaPbCaSe, ZnMgCaSe, CdMgCaSe, PbMgCaSe, MgMgCaSe, CaMgCaSe, SrMgCaSe, BaMgCaSe, ZnCaCaSe, CdCaCaSe, PbCaCaSe, MgCaCaSe, CaCaCaSe, SrCaCaSe, BaCaCaSe, ZnSrCaSe, CdSrCaSe, PbSrCaSe, MgSrCaSe, CaSrCaSe, SrSrCaSe, BaSrCaSe, ZnBaCaSe, CdBaCaSe, PbBaCaSe, MgBaCaSe, CaBaCaSe, SrBaCaSe, BaBaCaSe, ZnZnSrSe, CdZnSrSe, PbZnSrSe, MgZnSrSe, CaZnSrSe, SrZnSrSe, BaZnSrSe, ZnCdSrSe, CdCdSrSe, PbCdSrSe, MgCdSrSe, CaCdSrSe, SrCdSrSe, BaCdSrSe, ZnPbSrSe, CdPbSrSe, PbPbSrSe, MgPbSrSe, CaPbSrSe, SrPbSrSe, BaPbSrSe, ZnMgSrSe, CdMgSrSe, PbMgSrSe, MgMgSrSe, CaMgSrSe, SrMgSrSe, BaMgSrSe, ZnCaSrSe, CdCaSrSe, PbCaSrSe, MgCaSrSe, CaCaSrSe, SrCaSrSe, BaCaSrSe, ZnSrSrSe, CdSrSrSe, PbSrSrSe, MgSrSrSe, CaSrSrSe, SrSrSrSe, BaSrSrSe, ZnBaSrSe, CdBaSrSe, PbBaSrSe, M gBaSrSe, CaBaSrSe, SrBaSrSe, BaBaSrSe, ZnZnBaSe, CdZnBaSe, PbZnBaSe, MgZnBaSe, CaZnBaSe, SrZnBaSe, BaZnBaSe, ZnCdBaSe, CdCdBaSe, PbCdBaSe, MgCdBaSe, CaCdBaSe, SrCdBaSe, BaCdBaSe, ZnPbBaSe, CdPbBaSe, PbPbBaSe, MgPbBaSe, CaPbBaSe, SrPbBaSe, BaPbBaSe, ZnMgBaSe, CdMgBaSe, PbMgBaSe, MgMgBaSe, CaMgBaSe, SrMgBaSe, BaMgBaSe, ZnCaBaSe, CdCaBaSe, PbCaBaSe, MgCaBaSe, CaCaBaSe, SrCaBaSe, BaCaBaSe, ZnSrBaSe, CdSrBaSe, PbSrBaSe, MgSrBaSe, CaSrBaSe, SrSrBaSe, BaSrBaSe, ZnBaBaSe, CdBaBaSe, PbBaBaSe, MgBaBaSe, CaBaBaSe, SrBaBaSe, BaBaBaSe, ZnZnZnTe, CdZnZnTe, PbZnZnTe, MgZnZnTe, CaZnZnTe, SrZnZnTe, BaZnZnTe, ZnCdZnTe, CdCdZnTe, PbCdZnTe, MgCdZnTe, CaCdZnTe, SrCdZnTe, BaCdZnTe, ZnPbZnTe, CdPbZnTe, PbPbZnTe, MgPbZnTe, CaPbZnTe, SrPbZnTe, BaPbZnTe, ZnMgZnTe, CdMgZnTe, PbMgZnTe, MgMgZnTe, CaMgZnTe, SrMgZnTe, BaMgZnTe, ZnCaZnTe, CdCaZnTe, PbCaZnTe, MgCaZnTe, CaCaZnTe, SrCaZnTe, BaCaZnTe, ZnSrZnTe, CdSrZnTe, PbSrZnTe, MgSrZnTe, CaSrZnTe, SrSrZnTe, BaSrZnTe, ZnBaZnTe, CdBaZnTe, PbBaZnTe, MgBaZnTe, CaBaZnTe, S rBaZnTe, BaBaZnTe, ZnZnCdTe, CdZnCdTe, PbZnCdTe, MgZnCdTe, CaZnCdTe, SrZnCdTe, BaZnCdTe, ZnCdCdTe, CdCdCdTe, PbCdCdTe, MgCdCdTe, CaCdCdTe, SrCdCdTe, BaCdCdTe, ZnPbCdTe, CdPbCdTe, PbPbCdTe, MgPbCdTe, CaPbCdTe, SrPbCdTe, BaPbCdTe, ZnMgCdTe, CdMgCdTe, PbMgCdTe, MgMgCdTe, CaMgCdTe, SrMgCdTe, BaMgCdTe, ZnCaCdTe, CdCaCdTe, PbCaCdTe, MgCaCdTe, CaCaCdTe, SrCaCdTe, BaCaCdTe, ZnSrCdTe, CdSrCdTe, PbSrCdTe, MgSrCdTe, CaSrCdTe, SrSrCdTe, BaSrCdTe, ZnBaCdTe, CdBaCdTe, PbBaCdTe, MgBaCdTe, CaBaCdTe, SrBaCdTe, BaBaCdTe, ZnZnPbTe, CdZnPbTe, PbZnPbTe, MgZnPbTe, CaZnPbTe, SrZnPbTe, BaZnPbTe, ZnCdPbTe, CdCdPbTe, PbCdPbTe, MgCdPbTe, CaCdPbTe, SrCdPbTe, BaCdPbTe, ZnPbPbTe, CdPbPbTe, PbPbPbTe, MgPbPbTe, CaPbPbTe, SrPbPbTe, BaPbPbTe, ZnMgPbTe, CdMgPbTe, PbMgPbTe, MgMgPbTe, CaMgPbTe, SrMgPbTe, BaMgPbTe, ZnCaPbTe, CdCaPbTe, PbCaPbTe, MgCaPbTe, CaCaPbTe, SrCaPbTe, BaCaPbTe, ZnSrPbTe, CdSrPbTe, PbSrPbTe, MgSrPbTe, CaSrPbTe, SrSrPbTe, BaSrPbTe, ZnBaPbTe, CdBaPbTe, PbBaPbTe, MgBaPbTe, CaBaPbTe, SrBaPbTe, BaBaPbTe, ZnZnMgTe, CdZnMgTe, PbZnMgTe, MgZnMgTe, CaZnMgTe, SrZnMgTe, BaZnMgTe, ZnCdMgTe, CdCdMgTe, PbCdMgTe, MgCdMgTe, CaCdMgTe, SrCdMgTe, BaCdMgTe, ZnPbMgTe, CdPbMgTe, PbPbMgTe, MgPbMgTe, CaPbMgTe, SrPbMgTe, BaPbMgTe, ZnMgMgTe, CdMgMgTe, PbMgMgTe, MgMgMgTe, CaMgMgTe, SrMgMgTe, BaMgMgTe, ZnCaMgTe, CdCaMgTe, PbCaMgTe, MgCaMgTe, CaCaMgTe, SrCaMgTe, BaCaMgTe, ZnSrMgTe, CdSrMgTe, PbSrMgTe, MgSrMgTe, CaSrMgTe, SrSrMgTe, BaSrMgTe, ZnBaMgTe, CdBaMgTe, PbBaMgTe, MgBaMgTe, CaBaMgTe, SrBaMgTe, BaBaMgTe, ZnZnCaTe, CdZnCaTe, PbZnCaTe, MgZnCaTe, CaZnCaTe, SrZnCaTe, BaZnCaTe, ZnCdCaTe, CdCdCaTe, PbCdCaTe, MgCdCaTe, CaCdCaTe, SrCdCaTe, BaCdCaTe, ZnPbCaTe, CdPbCaTe, PbPbCaTe, MgPbCaTe, CaPbCaTe, SrPbCaTe, BaPbCaTe, ZnMgCaTe, CdMgCaTe, PbMgCaTe, MgMgCaTe, CaMgCaTe, SrMgCaTe, BaMgCaTe, ZnCaCaTe, CdCaCaTe, PbCaCaTe, MgCaCaTe, CaCaCaTe, SrCaCaTe, BaCaCaTe, ZnSrCaTe, CdSrCaTe, PbSrCaTe, MgSrCaTe, CaSrCaTe, SrSrCaTe, BaSrCaTe, ZnBaCaTe, CdBaCaTe, PbBaCaTe, MgBaCaTe, CaBaCaTe, SrBaCaTe, BaBaCaTe, ZnZnSrTe, CdZnSrTe, PbZnSrTe, MgZnSrTe, CaZnSrTe, SrZnSrTe, BaZnSrTe, ZnCdSrTe, CdCdSrTe, PbCdSrTe, MgCdSrTe, CaCdSrTe, SrCdSrTe, BaCdSrTe, ZnPbSrTe, CdPbSrTe, PbPbSrTe, MgPbSrTe, CaPbSrTe, SrPbSrTe, BaPbSrTe, ZnMgSrTe, CdMgSrTe, PbMgSrTe, MgMgSrTe, CaMgSrTe, SrMgSrTe, BaMgSrTe, ZnCaSrTe, CdCaSrTe, PbCaSrTe, MgCaSrTe, CaCaSrTe, SrCaSrTe, BaCaSrTe, ZnSrSrTe, CdSrSrTe, PbSrSrTe, MgSrSrTe, CaSrSrTe, SrSrSrTe, BaSrSrTe, ZnBaSrTe, CdBaSrTe, PbBaSrTe, MgBaSrTe, CaBaSrTe, SrBaSrTe, BaBaSrTe, ZnZnBaTe, CdZnBaTe, PbZnBaTe, MgZnBaTe, CaZnBaTe, SrZnBaTe, BaZnBaTe, ZnCdBaTe, CdCdBaTe, PbCdBaTe, MgCdBaTe, CaCdBaTe, SrCdBaTe, BaCdBaTe, ZnPbBaTe, CdPbBaTe, PbPbBaTe, MgPbBaTe, CaPbBaTe, SrPbBaTe, BaPbBaTe, ZnMgBaTe, CdMgBaTe, PbMgBaTe, MgMgBaTe, CaMgBaTe, SrMgBaTe, BaMgBaTe, ZnCaBaTe, CdCaBaTe, PbCaBaTe, MgCaBaTe, CaCaBaTe, SrCaBaTe, BaCaBaTe, ZnSrBaTe, CdSrBaTe, PbSrBaTe, MgSrBaTe, CaSrBaTe, SrSrBaTe, BaSrBaTe, ZnBaBaTe, CdBaBaTe, PbBaBaTe, MgBaBaTe, CaBaBaTe, SrBaBaTe, BaBaBaTe.

Im Hinblick auf II-VI-Halbleiter ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um eine binäre Verbindung aus zwei chemischen Elementen handelt, wobei das erste chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus B, Al, Ga, In, Tl, Sc und Y und wobei das zweite chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus N, P, As, Sb und Bi. Entsprechend ergeben sich grundsätzlich die folgenden Möglichkeiten für chemische Verbindungen für ein solches zweites Halbleitermaterial: BN, AlN, GaN, InN, TlN, ScN, YN, BP, AlP, GaP, InP, TlP, ScP, YP, BAs, AlAs, GaAs, InAs, TlAs, ScAs, YAs, BSb, AlSb, GaSb, InSb, TlSb, ScSb, YSb, BBi, AlBi, GaBi, InBi, 5TlBi, ScBi, YBi. With regard to II-VI semiconductors, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention that the second semiconductor material is a binary compound composed of two chemical elements chemical element is selected from the group consisting of B, Al, Ga, In, Tl, Sc and Y and wherein the second chemical element is selected from the group consisting of N, P, As, Sb and Bi the following possibilities for chemical compounds for such a second semiconductor material: BN, AlN, GaN, InN, TlN, ScN, YN, BP, AlP, GaP, InP, TlP, ScP, YP, BAs, AlAs, GaAs, InAs, TlAs, ScAs , YAs, Bsb, AlSb, GaSb, InSb, TlSb, ScSb, YSb, BBi, AlBi, GaBi, InBi, 5TlBi, ScBi, YBi.

Analog ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um eine ternäre Verbindung aus drei chemischen Elementen handelt, wobei das erste chemische Element und das zweite chemische Element ausgewählt sind aus der Gruppe bestehend aus B, Al, Ga, In, Tl, Sc und Y und wobei das dritte chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus N, P, As, Sb und Bi. Entsprechend ergeben sich grundsätzlich die folgenden Möglichkeiten für chemische Verbindungen für ein solches zweites Halbleitermaterial: BBN, AlBN, GaBN, InBN, TlBN, ScBN, YBN, BAlN, AlAlN, GaAlN, InAlN, TlAlN, ScAlN, YAlN, BGaN, AlGaN, GaGaN, InGaN, TlGaN, ScGaN, 20 YGaN, BInN, AlInN, GaInN, InInN, TlInN, ScInN, YInN, BTlN, AlTlN, GaTlN, InTlN, TlTlN, ScTlN, YTlN, BScN, AlScN, GaScN, InScN, TlScN, ScScN, YScN, BYN, AlYN, GaYN, InYN, TlYN, ScYN, YYN, BBP, AlBP, GaBP, InBP, TlBP, ScBP, YBP, BAlP, AlAlP, GaAlP, InAlP, TlAlP, ScAlP, YAlP, BGaP, AlGaP, GaGaP, InGaP, 25 TlGaP, ScGaP, YGaP, BInP, AlInP, GaInP, InInP, TlInP, ScInP, YInP, BTlP, AlTlP, GaTlP, InTlP, TlTlP, ScTlP, YTlP, BScP, AlScP, GaScP, InScP, TlScP, ScScP, YScP, BYP, AlYP, GaYP, InYP, TlYP, ScYP, YYP, BBAs, AlBAs, GaBAs, InBAs, TlBAs, ScBAs, YBAs, BAlAs, AlAlAs, GaAlAs, InAlAs, TlAlAs, ScAlAs, 30 YAlAs, BGaAs, AlGaAs, GaGaAs, InGaAs, TlGaAs, ScGaAs, YGaAs, BInAs, AlInAs, GaInAs, InInAs, TlInAs, ScInAs, YInAs, BTlAs, AlTlAs, GaTlAs, InTlAs, TlTlAs, ScTlAs, YTlAs, BScAs, AlScAs, GaScAs, InScAs, TlScAs, ScScAs, YScAs, BYAs, AlYAs, GaYAs, InYAs, TlYAs, ScYAs, YYAs, BBSb, AlBSb, GaBSb, InBSb, TlBSb, ScBSb, YBSb, BAlSb, AlAlSb, GaAlSb, InAlSb, TlAlSb, ScAlSb, YAlSb, BGaSb, AlGaSb, GaGaSb, InGaSb, TlGaSb, ScGaSb, YGaSb, BInSb, AlInSb, GaInSb, InInSb, TlInSb, ScInSb, YInSb, BTlSb, AlTlSb, GaTlSb, InTlSb, TlTlSb, ScTlSb, YTlSb, BScSb, AlScSb, GaScSb, InScSb, TlScSb, ScScSb, YScSb, BYSb, AlYSb, GaYSb, InYSb, TlYSb, ScYSb, YYSb, BBBi, AlBBi, GaBBi, InBBi, TlBBi, ScBBi, YBBi, BAlBi, AlAlBi, GaAlBi, InAlBi, TlAlBi, ScAlBi, YAlBi, BGaBi, AlGaBi, GaGaBi, InGaBi, TlGaBi, ScGaBi, YGaBi, BInBi, AlInBi, GaInBi, InInBi, TlInBi, ScInBi, YInBi, BTlBi, AlTlBi, GaTlBi, InTlBi, TlTlBi, ScTlBi, YTlBi, BScBi, AlScBi, GaScBi, InScBi, TlScBi, ScScBi, YScBi, BYBi, AlYBi, GaYBi, InYBi, TlYBi, ScYBi, YYBi. Analogously, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention that the second semiconductor material is a ternary compound of three chemical elements, wherein the first chemical element and the second chemical element are selected from the group consisting of B, Al, Ga, In, Tl, Sc and Y and wherein the third chemical element is selected from the group consisting of N, P, As, Sb and Bi. Accordingly, the following possibilities arise in principle for chemical compounds for such a second semiconductor material: BBN, AlBN, GaBN, InBN, TlBN, ScBN, YBN, BAlN, AlAlN, GaAlN, InAlN, TlAlN, ScAlN, YAlN, BGaN, AlGaN, GaGaN, InGaN, TlGaN, ScGaN, 20 YGaN, BInN, AlInN, GaInN, InInN, TlInN, ScInN, YInN, BTlN, AlTlN, GaTlN, InTlN, TlTlN, ScTlN, YTlN, BScN, AlScN, GaScN, InScN, TlScN, ScScN, YScN, B YN, AlYN, GaYN, InYN, TlYN, ScYN, YYN, BBP, AlBP, GaBP, InBP, TlBP, ScBP, YBP, BAlP, AlAlP, GaAlP, InAlP, TlAlP, ScAlP, YAlP, BGaP, AlGaP, GaGaP, InGaP, 25 TlGaP, ScGaP, YGaP, BInP, AlInP, GaInP, InInP, TlInP, ScInP, YInP, BTlP, AlTlP, GaTlP, InTlP, TlTlP, ScTlP, YTlP, BScP, AlScP, GaScP, InScP, TlScP, ScScP, YScP, BYP , AlYP, GaYP, InYP, TlYP, ScYP, YYP, BBAs, AlBAs, GaBAs, InBAs, TlBAs, ScBAs, YBAs, BAlAs, AlAlAs, GaAlAs, InAlAs, TlAlAs, ScAlAs, 30YAlAs, BGaAs, AlGaAs, GaGaAs, InGaAs, TlGaAs, ScGaAs, YGaAs, BInAs, AlInAs, GaInAs, InInAs, TlInAs, ScInAs, YInAs, BTlAs, AlTlAs, GaTlAs, InTlAs, TlTlAs, ScTlAs, YTlAs, BScAs, AlScAs, GaScAs, InScAs, TlScAs, ScScAs, YScAs, ByAs, AlYAs, GaYAs, InYAs, TlYAs, ScYAs, YYAs, BBSb, AlBSb, GaBSb, InBSb, TlBSb, ScBSb, YBSb, BAlSb, AlAlSb, GaAlSb, InAlSb, TlAlSb, ScAlSb, YAlSb, BGaSb, AlGaSb, GaGaSb, InGaSb, TlGaSb ScGaSb, YGaSb, BInSb, AlInSb, GaInSb, InInSb, TInInsb, ScInSb, YInSb, BTlSb, AlTlSb, GaTlSb, InTlSb, TlTlSb, ScTlSb, YTlSb, BScSb, AlScSb , GaScSb, InScSb, TlScSb, ScScSb, YScSb, BYSb, AlYSb, GaYSb, InYSb, TlYSb, ScYSb, YYSb, BBBi, AlBBi, GaBBi, InBBi, TlBBi, ScBBi, YBBi, BAlBi, AlAlBi, GaAlBi, InAlBi, TlAlBi, ScAlBi , YAlBi, BGaBi, AlGaBi, GaGaBi, InGaBi, TlGaBi, ScGaBi, YGaBi, BInBi, AlInBi, GaInBi, InInBi, TlInBi, ScInBi, YInBi, BTlBi, AlTlBi, GaTlBi, InTlBi, TlTlBi, ScTlBi, YTlBi, BScBi, AlScBi, GaScBi, InScBi, TlScBi, ScScBi, YScBi, BYBi, AlYBi, GaYBi, InYBi, TlYBi, ScYBi, YYBi.

Analog ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. bei einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um eine quaternäre Verbindung aus vier chemischen Elementen handelt, wobei das erste chemische Element, das zweite chemische Element und das dritte chemische Element ausgewählt sind aus der Gruppe bestehend aus B, Al, Ga, In, Tl, Sc und Y und wobei das vierte chemische Element ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus N, P, As, Sb und Bi. Entsprechend ergeben sich grundsätzlich die folgenden Möglichkeiten für chemische Verbindungen für ein solches zweites Halbleitermaterial: BBBN, AlBBN, GaBBN, InBBN, TlBBN, ScBBN, YBBN, BAlBN, AlAlBN, GaAlBN, InAlBN, TlAlBN, ScAlBN, YAlBN, BGaBN, AlGaBN, GaGaBN, InGaBN, TlGaBN, ScGaBN, YGaBN, BInBN, AlInBN, GaInBN, InInBN, TlInBN, ScInBN, YInBN, BTlBN, AlTlBN, GaTlBN, InTlBN, TlTlBN, ScTlBN, YTlBN, BScBN, AlScBN, GaScBN, InScBN, TlScBN, ScScBN, YScBN, BYBN, AlYBN, GaYBN, InYBN, TlYBN, ScYBN, YYBN, BBAlN, AlBAlN, GaBAlN, InBAlN, TlBAlN, ScBAlN, YBAlN, BAlAlN, AlAlAlN, GaAlAlN, InAlAlN, TlAlAlN, ScAlAlN, YAlAlN, BGaAlN, AlGaAlN, GaGaAlN, InGaAlN, TlGaAlN, ScGaAlN, YGaAlN, BInAlN, AlInAlN, GaInAlN, InInAlN, TlInAlN, ScInAlN, YInAlN, BTlAlN, AlTlAlN, GaTlAlN, InTlAlN, TlTlAlN, ScTlAlN, YTlAlN, BScAlN, AlScAlN, GaScAlN, InScAlN, TlScAlN, ScScAlN, YScAlN, BYAlN, AlYAlN, GaYAlN, InYAlN, TlYAlN, ScYAlN, YYAlN, BBGaN, AlBGaN, GaBGaN, InBGaN, TlBGaN, ScBGaN, YBGaN, BAlGaN, AlAlGaN, GaAlGaN, InAlGaN, TlAlGaN, ScAlGaN, YAlGaN, BGaGaN, AlGaGaN, GaGaGaN, InGaGaN, TlGaGaN, ScGaGaN, YGaGaN, BInGaN, AlInGaN, GaInGaN, InInGaN, TlInGaN, ScInGaN, YInGaN, BTlGaN, AlTlGaN, GaTlGaN, InTlGaN, TlTlGaN, ScTlGaN, YTlGaN, BScGaN, AlScGaN, GaScGaN, InScGaN, TlScGaN, ScScGaN, YScGaN, BYGaN, AlYGaN, GaYGaN, InYGaN, TlYGaN, ScYGaN, YYGaN, BBInN, AlBInN, GaBInN, InBInN, TlBInN, ScBInN, YBInN, BAlInN, AlAlInN, GaAlInN, InAlInN, TlAlInN, ScAlInN, YAlInN, BGaInN, AlGaInN, GaGaInN, InGaInN, TlGaInN, ScGaInN, YGaInN, BInInN, AlInInN, GaInInN, InInInN, TlInInN, ScInInN, YInInN, BTlInN, AlTlInN, GaTlInN, InTlInN, TlTlInN, ScTlInN, YTlInN, BScInN, AlScInN, GaScInN, InScInN, TlScInN, ScScInN, YScInN, BYInN, AlYInN, GaYInN, InYInN, TlYInN, ScYInN, YYInN, BBTlN, AlBTlN, GaBTlN, InBTlN, TlBTlN, ScBTlN, YBTlN, BAlTlN, AlAlTlN, GaAlTlN, InAlTlN, TlAlTlN, ScAlTlN, YAlTlN, BGaTlN, AlGaTlN, GaGaTlN, InGaTlN, TlGaTlN, ScGaTlN, YGaTlN, BInTlN, AlInTlN, GaInTlN, InInTlN, TlInTlN, ScInTlN, YInTlN, BTlTlN, AlTlTlN, GaTlTlN, InTlTlN, TlTlTlN, ScTlTlN, YTlTlN, BScTlN, AlScTlN, GaScTlN, InScTlN, TlScTlN, ScScTlN, YScTlN, BYTlN, AlYTlN, GaYTlN, InYTlN, TlYTlN, ScYTlN, YYTlN, BBScN, AlBScN, GaBScN, InBScN, TlBScN, ScBScN, YBScN, BAlScN, AlAlScN, GaAlScN, InAlScN, TlAlScN, ScAlScN, YAlScN, BGaScN, AlGaScN, GaGaScN, InGaScN, TlGaScN, ScGaScN, YGaScN, BInScN, AlInScN, GaInScN, InInScN, TlInScN, ScInScN, YInScN, BTlScN, AlTlScN, GaTlScN, InTlScN, TlTlScN, ScTlScN, YTlScN, BScScN, AlScScN, GaScScN, InScScN, TlScScN, ScScScN, YScScN, BYScN, AlYScN, GaYScN, InYScN, TlYScN, ScYScN, YYScN, BBYN, AlBYN, GaBYN, InBYN, TlBYN, ScBYN, YBYN, BAlYN, AlAlYN, GaAlYN, InAlYN, TlAlYN, ScAlYN, YAlYN, BGaYN, AlGaYN, GaGaYN, InGaYN, TlGaYN, ScGaYN, YGaYN, BInYN, AlInYN, GaInYN, InInYN, TlInYN, ScInYN, YInYN, BTlYN, AlTlYN, GaTlYN, InTlYN, TlTlYN, ScTlYN, YTlYN, BScYN, AlScYN, GaScYN, InScYN, TlScYN, ScScYN, YScYN, BYYN, AlYYN, GaYYN, InYYN, TlYYN, ScYYN, YYYN, BBBP, AlBBP, GaBBP, InBBP, TlBBP, ScBBP, YBBP, BAlBP, AlAlBP, GaAlBP, InAlBP, TlAlBP, ScAlBP, YAlBP, BGaBP, AlGaBP, GaGaBP, InGaBP, TlGaBP, ScGaBP, YGaBP, BInBP, AlInBP, GaInBP, InInBP, TlInBP, ScInBP, YInBP, BTlBP, AlTlBP, GaTlBP, InTlBP, TlTlBP, ScTlBP, YTlBP, BScBP, AlScBP, GaScBP, InScBP, TlScBP, ScScBP, YScBP, BYBP, AlYBP, GaYBP, InYBP, TlYBP, ScYBP, YYBP, BBAlP, AlBAlP, GaBAlP, InBAlP, TlBAlP, ScBAlP, YBAlP, BAlAlP, AlAlAlP, GaAlAlP, InAlAlP, TlAlAlP, ScAlAlP, YAlAlP, BGaAlP, AlGaAlP, GaGaAlP, InGaAlP, TlGaAlP, ScGaAlP, YGaAlP, BInAlP, AlInAlP, GaInAlP, InInAlP, TlInAlP, ScInAlP, YInAlP, BTlAlP, AlTlAlP, GaTlAlP, InTlAlP, TlTlAlP, ScTlAlP, YTlAlP, BScAlP, AlScAlP, GaScAlP, InScAlP, TlScAlP, ScScAlP, YScAlP, BYAlP, AlYAlP, GaYAlP, InYAlP, TlYAlP, ScYAlP, YYAlP, BBGaP, AlBGaP, GaBGaP, InBGaP, TlBGaP, ScBGaP, YBGaP, BAlGaP, AlAlGaP, GaAlGaP, InAlGaP, TlAlGaP, ScAlGaP, YAlGaP, BGaGaP, AlGaGaP, GaGaGaP, InGaGaP, TlGaGaP, ScGaGaP, YGaGaP, BInGaP, AlInGaP, GaInGaP, InInGaP, TlInGaP, ScInGaP, YInGaP, BTlGaP, AlTlGaP, GaTlGaP, InTlGaP, TlTlGaP, ScTlGaP, YTlGaP, BScGaP, AlScGaP, GaScGaP, InScGaP, TlScGaP, ScScGaP, YScGaP, BYGaP, AlYGaP, GaYGaP, InYGaP, TlYGaP, ScYGaP, YYGaP, BBInP, AlBInP, GaBInP, InBInP, TlBInP, ScBInP, YBInP, BAlInP, AlAlInP, GaAlInP, InAlInP, TlAlInP, ScAlInP, YAlInP, BGaInP, AlGaInP, GaGaInP, InGaInP, TlGaInP, ScGaInP, YGaInP, BInInP, AlInInP, GaInInP, InInInP, TlInInP, ScInInP, YInInP, BTlInP, AlTlInP, GaTlInP, InTlInP, TlTlInP, ScTlInP, YTlInP, BScInP, AlScInP, GaScInP, InScInP, TlScInP, ScScInP, YScInP, BYInP, AlYInP, GaYInP, InYInP, TlYInP, ScYInP, YYInP, BBTlP, AlBTlP, GaBTlP, InBTlP, TlBTlP, ScBTlP, YBTlP, BAlTlP, AlAlTlP, GaAlTlP, InAlTlP, TlAlTlP, ScAlTlP, YAlTlP, BGaTlP, AlGaTlP, GaGaTlP, InGaTlP, TlGaTlP, ScGaTlP, YGaTlP, BInTlP, AlInTlP, GaInTlP, InInTlP, TlInTlP, ScInTlP, YInTlP, BTlTlP, AlTlTlP, GaTlTlP, InTlTlP, TlTlTlP, ScTlTlP, YTlTlP, BScTlP, AlScTlP, GaScTlP, InScTlP, TlScTlP, ScScTlP, YScTlP, BYTlP, AlYTlP, GaYTlP, InYTlP, TlYTlP, ScYTlP, YYTlP, BBScP, AlBScP, GaBScP, InBScP, TlBScP, ScBScP, YBScP, BAlScP, AlAlScP, GaAlScP, InAlScP, TlAlScP, ScAlScP, YAlScP, BGaScP, AlGaScP, GaGaScP, InGaScP, TlGaScP, ScGaScP, YGaScP, BInScP, AlInScP, GaInScP, InInScP, TlInScP, ScInScP, YInScP, BTlScP, AlTlScP, GaTlScP, InTlScP, TlTlScP, ScTlScP, YTlScP, BScScP, AlScScP, GaScScP, InScScP, TlScScP, ScScScP, YScScP, BYScP, AlYScP, GaYScP, InYScP, TlYScP, ScYScP, YYScP, BBYP, AlBYP, GaBYP, InBYP, TlBYP, ScBYP, YBYP, BAlYP, AlAlYP, GaAlYP, InAlYP, TlAlYP, ScAlYP, YAlYP, BGaYP, AlGaYP, GaGaYP, InGaYP, TlGaYP, ScGaYP, YGaYP, BInYP, AlInYP, GaInYP, InInYP, TlInYP, ScInYP, YInYP, BTlYP, AlTlYP, GaTlYP, InTlYP, TlTlYP, ScTlYP, YTlYP, BScYP, AlScYP, GaScYP, InScYP, TlScYP, ScScYP, YScYP, BYYP, AlYYP, GaYYP, InYYP, TlYYP, ScYYP, YYYP, BBBAs, AlBBAs, GaBBAs, InBBAs, TlBBAs, ScBBAs, YBBAs, BAlBAs, AlAlBAs, GaAlBAs, InAlBAs, TlAlBAs, ScAlBAs, YAlBAs, BGaBAs, AlGaBAs, GaGaBAs, InGaBAs, TlGaBAs, ScGaBAs, YGaBAs, BInBAs, AlInBAs, GaInBAs, InInBAs, TlInBAs, ScInBAs, YInBAs, BTlBAs, AlTlBAs, GaTlBAs, InTlBAs, TlTlBAs, ScTlBAs, YTlBAs, BScBAs, AlScBAs, GaScBAs, InScBAs, TlScBAs, ScScBAs, YScBAs, BYBAs, AlYBAs, GaYBAs, InYBAs, TlYBAs, ScYBAs, YYBAs, BBAlAs, AlBAlAs, GaBAlAs, InBAlAs, TlBAlAs, ScBAlAs, YBAlAs, BAlAlAs, AlAlAlAs, GaAlAlAs, InAlAlAs, TlAlAlAs, ScAlAlAs, YAlAlAs, BGaAlAs, AlGaAlAs, GaGaAlAs, InGaAlAs, TlGaAlAs, ScGaAlAs, YGaAlAs, BInAlAs, AlInAlAs, GaInAlAs, InInAlAs, TlInAlAs, ScInAlAs, YInAlAs, BTlAlAs, AlTlAlAs, GaTlAlAs, InTlAlAs, TlTlAlAs, ScTlAlAs, YTlAlAs, BScAlAs, AlScAlAs, GaScAlAs, InScAlAs, TlScAlAs, ScScAlAs, YScAlAs, BYAlAs, AlYAlAs, GaYAlAs, InYAlAs, TlYAlAs, ScYAlAs, YYAlAs, BBGaAs, AlBGaAs, GaBGaAs, InBGaAs, TlBGaAs, ScBGaAs, YBGaAs, BAlGaAs, AlAlGaAs, GaAlGaAs, InAlGaAs, TlAlGaAs, ScAlGaAs, YAlGaAs, BGaGaAs, AlGaGaAs, GaGaGaAs, InGaGaAs, TlGaGaAs, ScGaGaAs, YGaGaAs, BInGaAs, AlInGaAs, GaInGaAs, InInGaAs, TlInGaAs, ScInGaAs, YInGaAs, BTlGaAs, AlTlGaAs, GaTlGaAs, InTlGaAs, TlTlGaAs, ScTlGaAs, YTlGaAs, BScGaAs, AlScGaAs, GaScGaAs, InScGaAs, TlScGaAs, ScScGaAs, YScGaAs, BYGaAs, AlYGaAs, GaYGaAs, InYGaAs, TlYGaAs, ScYGaAs, YYGaAs, BBInAs, AlBInAs, GaBInAs, InBInAs, TlBInAs, ScBInAs, YBInAs, BAlInAs, AlAlInAs, GaAlInAs, InAlInAs, TlAlInAs, ScAlInAs, YAlInAs, BGaInAs, AlGaInAs, GaGaInAs, InGaInAs, TlGaInAs, ScGaInAs, YGaInAs, BInInAs, AlInInAs, GaInInAs, InInInAs, TlInInAs, ScInInAs, YInInAs, BTlInAs, AlTlInAs, GaTlInAs, InTlInAs, TlTlInAs, ScTlInAs, YTlInAs, BScInAs, AlScInAs, GaScInAs, InScInAs, TlScInAs, ScScInAs, YScInAs, BYInAs, AlYInAs, GaYInAs, InYInAs, TlYInAs, ScYInAs, YYInAs, BBTlAs, AlBTlAs, GaBTlAs, InBTlAs, TlBTlAs, ScBTlAs, YBTlAs, BAlTlAs, AlAlTlAs, GaAlTlAs, InAlTlAs, TlAlTlAs, ScAlTlAs, YAlTlAs, BGaTlAs, AlGaTlAs, GaGaTlAs, InGaTlAs, TlGaTlAs, ScGaTlAs, YGaTlAs, BInTlAs, AlInTlAs, GaInTlAs, InInTlAs, TlInTlAs, ScInTlAs, YInTlAs, BTlTlAs, AlTlTlAs, GaTlTlAs, InTlTlAs, TlTlTlAs, ScTlTlAs, YTlTlAs, BScTlAs, AlScTlAs, GaScTlAs, InScTlAs, TlScTlAs, ScScTlAs, YScTlAs, BYTlAs, AlYTlAs, GaYTlAs, InYTlAs, TlYTlAs, ScYTlAs, YYTlAs, BBScAs, AlBScAs, GaBScAs, InBScAs, TlBScAs, ScBScAs, YBScAs, BAlScAs, AlAlScAs, GaAlScAs, InAlScAs, TlAlScAs, ScAlScAs, YAlScAs, BGaScAs, AlGaScAs, GaGaScAs, InGaScAs, TlGaScAs, ScGaScAs, YGaScAs, BInScAs, AlInScAs, GaInScAs, InInScAs, TlInScAs, ScInScAs, YInScAs, BTlScAs, AlTlScAs, GaTlScAs, InTlScAs, TlTlScAs, ScTlScAs, YTlScAs, BScScAs, AlScScAs, GaScScAs, InScScAs, TlScScAs, ScScScAs, YScScAs, BYScAs, AlYScAs, GaYScAs, InYScAs, TlYScAs, ScYScAs, YYScAs, BBYAs, AlBYAs, GaBYAs, InBYAs, TlBYAs, ScBYAs, YBYAs, BAlYAs, AlAlYAs, GaAlYAs, InAlYAs, TlAlYAs, ScAlYAs, YAlYAs, BGaYAs, AlGaYAs, GaGaYAs, InGaYAs, TlGaYAs, ScGaYAs, YGaYAs, BInYAs, AlInYAs, GaInYAs, InInYAs, TlInYAs, ScInYAs, YInYAs, BTlYAs, AlTlYAs, GaTlYAs, InTlYAs, TlTlYAs, ScTlYAs, YTlYAs, BScYAs, AlScYAs, GaScYAs, InScYAs, TlScYAs, ScScYAs, YScYAs, BYYAs, AlYYAs, GaYYAs, InYYAs, TlYYAs, ScYYAs, YYYAs, BBBSb, AlBBSb, GaBBSb, InBBSb, TlBBSb, ScBBSb, YBBSb, BAlBSb, AlAlBSb, GaAlBSb, InAlBSb, TlAlBSb, ScAlBSb, YAlBSb, BGaBSb, AlGaBSb, GaGaBSb, InGaBSb, TlGaBSb, ScGaBSb, YGaBSb, BInBSb, AlInBSb, GaInBSb, InInBSb, TlInBSb, ScInBSb, YInBSb, BTlBSb, AlTlBSb, GaTlBSb, InTlBSb, TlTlBSb, ScTlBSb, YTlBSb, BScBSb, AlScBSb, GaScBSb, InScBSb, TlScBSb, ScScBSb, YScBSb, BYBSb, AlYBSb, GaYBSb, InYBSb, TlYBSb, ScYBSb, YYBSb, BBAlSb, AlBAlSb, GaBAlSb, InBAlSb, TlBAlSb, ScBAlSb, YBAlSb, BAlAlSb, AlAlAlSb, GaAlAlSb, InAlAlSb, TlAlAlSb, ScAlAlSb, YAlAlSb, BGaAlSb, AlGaAlSb, GaGaAlSb, InGaAlSb, TlGaAlSb, ScGaAlSb, YGaAlSb, BInAlSb, AlInAlSb, GaInAlSb, InInAlSb, TlInAlSb, ScInAlSb, YInAlSb, BTlAlSb, AlTlAlSb, GaTlAlSb, InTlAlSb, TlTlAlSb, ScTlAlSb, YTlAlSb, BScAlSb, AlScAlSb, GaScAlSb, InScAlSb, TlScAlSb, ScScAlSb, YScAlSb, BYAlSb, AlYAlSb, GaYAlSb, InYAlSb, TlYAlSb, ScYAlSb, YYAlSb, BBGaSb, AlBGaSb, GaBGaSb, InBGaSb, TlBGaSb, ScBGaSb, YBGaSb, BAlGaSb, AlAlGaSb, GaAlGaSb, InAlGaSb, TlAlGaSb, ScAlGaSb, YAlGaSb, BGaGaSb, AlGaGaSb, GaGaGaSb, InGaGaSb, TlGaGaSb, ScGaGaSb, YGaGaSb, BInGaSb, AlInGaSb, GaInGaSb, InInGaSb, TlInGaSb, ScInGaSb, YInGaSb, BTlGaSb, AlTlGaSb, GaTlGaSb, InTlGaSb, TlTlGaSb, ScTlGaSb, YTlGaSb, BScGaSb, AlScGaSb, GaScGaSb, InScGaSb, TlScGaSb, ScScGaSb, YScGaSb, BYGaSb, AlYGaSb, GaYGaSb, InYGaSb, TlYGaSb, ScYGaSb, YYGaSb, BBInSb, AlBInSb, GaBInSb, InBInSb, TlBInSb, ScBInSb, YBInSb, BAlInSb, AlAlInSb, GaAlInSb, InAlInSb, TlAlInSb, ScAlInSb, YAlInSb, BGaInSb, AlGaInSb, GaGaInSb, InGaInSb, TlGaInSb, ScGaInSb, YGaInSb, BInInSb, AlInInSb, GaInInSb, InInInSb, TlInInSb, ScInInSb, YInInSb, BTlInSb, AlTlInSb, GaTlInSb, InTlInSb, TlTlInSb, ScTlInSb, YTlInSb, BScInSb, AlScInSb, GaScInSb, InScInSb, TlScInSb, ScScInSb, YScInSb, BYInSb, AlYInSb, GaYInSb, InYInSb, TlYInSb, ScYInSb, YYInSb, BBTlSb, AlBTlSb, GaBTlSb, InBTlSb, TlBTlSb, ScBTlSb, YBTlSb, BAlTlSb, AlAlTlSb, GaAlTlSb, InAlTlSb, TlAlTlSb, ScAlTlSb, YAlTlSb, BGaTlSb, AlGaTlSb, GaGaTlSb, InGaTlSb, TlGaTlSb, ScGaTlSb, YGaTlSb, BInTlSb, AlInTlSb, GaInTlSb, InInTlSb, TlInTlSb, ScInTlSb, YInTlSb, BTlTlSb, AlTlTlSb, GaTlTlSb, InTlTlSb, TlTlTlSb, ScTlTlSb, YTlTlSb, BScTlSb, AlScTlSb, GaScTlSb, InScTlSb, TlScTlSb, ScScTlSb, YScTlSb, BYTlSb, AlYTlSb, GaYTlSb, InYTlSb, TlYTlSb, ScYTlSb, YYTlSb, BBScSb, AlBScSb, GaBScSb, InBScSb, TlBScSb, ScBScSb, YBScSb, BAlScSb, AlAlScSb, GaAlScSb, InAlScSb, TlAlScSb, ScAlScSb, YAlScSb, BGaScSb, AlGaScSb, GaGaScSb, InGaScSb, TlGaScSb, ScGaScSb, YGaScSb, BInScSb, AlInScSb, GaInScSb, InInScSb, TlInScSb, ScInScSb, YInScSb, BTlScSb, AlTlScSb, GaTlScSb, InTlScSb, TlTlScSb, ScTlScSb, YTlScSb, BScScSb, AlScScSb, GaScScSb, InScScSb, TlScScSb, ScScScSb, YScScSb, BYScSb, AlYScSb, GaYScSb, InYScSb, TlYScSb, ScYScSb, YYScSb, BBYSb, AlBYSb, GaBYSb, InBYSb, TlBYSb, ScBYSb, YBYSb, BAlYSb, AlAlYSb, GaAlYSb, InAlYSb, TlAlYSb, ScAlYSb, YAlYSb, BGaYSb, AlGaYSb, GaGaYSb, InGaYSb, TlGaYSb, ScGaYSb, YGaYSb, BInYSb, AlInYSb, GaInYSb, InInYSb, TlInYSb, ScInYSb, YInYSb, BTlYSb, AlTlYSb, GaTlYSb, InTlYSb, TlTlYSb, ScTlYSb, YTlYSb, BScYSb, AlScYSb, GaScYSb, InScYSb, TlScYSb, ScScYSb, YScYSb, BYYSb, AlYYSb, GaYYSb, InYYSb, TlYYSb, ScYYSb, YYYSb, BBBBi, AlBBBi, GaBBBi, InBBBi, TlBBBi, ScBBBi, YBBBi, BAlBBi, AlAlBBi, GaAlBBi, InAlBBi, TlAlBBi, ScAlBBi, YAlBBi, BGaBBi, AlGaBBi, GaGaBBi, InGaBBi, TlGaBBi, ScGaBBi, YGaBBi, BInBBi, AlInBBi, GaInBBi, InInBBi, TlInBBi, ScInBBi, YInBBi, BTlBBi, AlTlBBi, GaTlBBi, InTlBBi, TlTlBBi, ScTlBBi, YTlBBi, BScBBi, AlScBBi, GaScBBi, InScBBi, TlScBBi, ScScBBi, YScBBi, BYBBi, AlYBBi, GaYBBi, InYBBi, TlYBBi, ScYBBi, YYBBi, BBAlBi, AlBAlBi, GaBAlBi, InBAlBi, TlBAlBi, ScBAlBi, YBAlBi, BAlAlBi, AlAlAlBi, GaAlAlBi, InAlAlBi, TlAlAlBi, ScAlAlBi, YAlAlBi, BGaAlBi, AlGaAlBi, GaGaAlBi, InGaAlBi, TlGaAlBi, ScGaAlBi, YGaAlBi, BInAlBi, AlInAlBi, GaInAlBi, InInAlBi, TlInAlBi, ScInAlBi, YInAlBi, BTlAlBi, AlTlAlBi, GaTlAlBi, InTlAlBi, TlTlAlBi, ScTlAlBi, YTlAlBi, BScAlBi, AlScAlBi, GaScAlBi, InScAlBi, TlScAlBi, ScScAlBi, YScAlBi, BYAlBi, AlYAlBi, GaYAlBi, InYAlBi, TlYAlBi, ScYAlBi, YYAlBi, BBGaBi, AlBGaBi, GaBGaBi, InBGaBi, TlBGaBi, ScBGaBi, YBGaBi, BAlGaBi, AlAlGaBi, GaAlGaBi, InAlGaBi, TlAlGaBi, ScAlGaBi, YAlGaBi, BGaGaBi, AlGaGaBi, GaGaGaBi, InGaGaBi, TlGaGaBi, ScGaGaBi, YGaGaBi, BInGaBi, AlInGaBi, GaInGaBi, InInGaBi, TlInGaBi, ScInGaBi, YInGaBi, BTlGaBi, AlTlGaBi, GaTlGaBi, InTlGaBi, TlTlGaBi, ScTlGaBi, YTlGaBi, BScGaBi, AlScGaBi, GaScGaBi, InScGaBi, TlScGaBi, ScScGaBi, YScGaBi, BYGaBi, AlYGaBi, GaYGaBi, InYGaBi, TlYGaBi, ScYGaBi, YYGaBi, BBInBi, AlBInBi, GaBInBi, InBInBi, TlBInBi, ScBInBi, YBInBi, BAlInBi, AlAlInBi, GaAlInBi, InAlInBi, TlAlInBi, ScAlInBi, YAlInBi, BGaInBi, AlGaInBi, GaGaInBi, InGaInBi, TlGaInBi, ScGaInBi, YGaInBi, BInInBi, AlInInBi, GaInInBi, InInInBi, TlInInBi, ScInInBi, YInInBi, BTlInBi, AlTlInBi, GaTlInBi, InTlInBi, TlTlInBi, ScTlInBi, YTlInBi, BScInBi, AlScInBi, GaScInBi, InScInBi, TlScInBi, ScScInBi, YScInBi, BYInBi, AlYInBi, GaYInBi, InYInBi, TlYInBi, ScYInBi, YYInBi, BBTlBi, AlBTlBi, GaBTlBi, InBTlBi, TlBTlBi, ScBTlBi, YBTlBi, BAlTlBi, AlAlTlBi, GaAlTlBi, InAlTlBi, TlAlTlBi, ScAlTlBi, YAlTlBi, BGaTlBi, AlGaTlBi, GaGaTlBi, InGaTlBi, TlGaTlBi, ScGaTlBi, YGaTlBi, BInTlBi, AlInTlBi, GaInTlBi, InInTlBi, TlInTlBi, ScInTlBi, YInTlBi, BTlTlBi, AlTlTlBi, GaTlTlBi, InTlTlBi, TlTlTlBi, ScTlTlBi, YTlTlBi, BScTlBi, AlScTlBi, GaScTlBi, InScTlBi, TlScTlBi, ScScTlBi, YScTlBi, BYTlBi, AlYTlBi, GaYTlBi, InYTlBi, TlYTlBi, ScYTlBi, YYTlBi, BBScBi, AlBScBi, GaBScBi, InBScBi, TlBScBi, ScBScBi, YBScBi, BAlScBi, AlAlScBi, GaAlScBi, InAlScBi, TlAlScBi, ScAlScBi, YAlScBi, BGaScBi, AlGaScBi, GaGaScBi, InGaScBi, TlGaScBi, ScGaScBi, YGaScBi, BInScBi, AlInScBi, GaInScBi, InInScBi, TlInScBi, ScInScBi, YInScBi, BTlScBi, AlTlScBi, GaTlScBi, InTlScBi, TlTlScBi, ScTlScBi, YTlScBi, BScScBi, AlScScBi, GaScScBi, InScScBi, TlScScBi, ScScScBi, YScScBi, BYScBi, AlYScBi, GaYScBi, InYScBi, TlYScBi, ScYScBi, YYScBi, BBYBi, AlBYBi, GaBYBi, InBYBi, TlBYBi, ScBYBi, YBYBi, BAlYBi, AlAlYBi, GaAlYBi, InAlYBi, TlAlYBi, ScAlYBi, YAlYBi, BGaYBi, AlGaYBi, GaGaYBi, InGaYBi, TlGaYBi, ScGaYBi, YGaYBi, BInYBi, AlInYBi, GaInYBi, InInYBi, TlInYBi, ScInYBi, YInYBi, BTlYBi, AlTlYBi, GaTlYBi, InTlYBi, TlTlYBi, ScTlYBi, YTlYBi, BScYBi, AlScYBi, GaScYBi, InScYBi, TlScYBi, ScScYBi, YScYBi, BYYBi, AlYYBi, GaYYBi, InYYBi, TlYYBi, ScYYBi, YYYBi. Analogously, it is provided in a preferred embodiment of the method according to the invention or in a preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element that the second semiconductor material is a quaternary compound of four chemical elements, wherein the first chemical element, the second chemical element and the third chemical element are selected from the group consisting of B, Al, Ga, In, Tl, Sc, and Y, and wherein the fourth chemical element is selected from the group consisting of N, P, As, Sb, and Bi basically the following possibilities for chemical compounds for such a second semiconductor material: BBBN, AlBBN, GaBBN, InBBN, TlBBN, ScBBN, YBBN, BAlBN, AlAlBN, GaAlBN, InAlBN, TlAlBN, ScAlBN, YAlBN, BGaBN, AlGaBN, GaGaBN, InGaBN, TlGaBN, ScGaBN, YGaBN, BInBN, AlInBN, GaInBN, InInBN, TlInBN, ScInBN, YInBN, BTlBN, AlTlBN, GaTlBN, InTlBN, TlTlBN , ScTlBN, YTlBN, BScBN, AlScBN, GaScBN, InScBN, TlScBN, ScScBN, YScBN, BYBN, AlYBN, GaYBN, InYBN, TlYBN, ScYBN, YYBN, BBAlN, AlBAlN, GaBlN, InBlN, TlBAlN, ScBAlN, YbaIn, BAlAlN, AlAlAlN , GaAlAlN, InAlAlN, TlAlAlN, ScAlAlN, YAlAlN, BGaAlN, AlGaAlN, GaGaAlN, InGaAlN, TlGaAlN, ScGaAlN, YGaAlN, BInAlN, AlInAlN, GaInAlN, InInAlN, TlInAlN, ScInAlN, YInAlN, BTlAlN, AlTlAlN, GaTlAlN, InTlAlN, TlTlAlN, ScTlAlN , YTlAlN, BScAlN, AlScAlN, GaScAlN, InScAlN, TlScAlN, ScScAlN, YScAlN, BYAlN, AlYAlN, GaYAlN, InYAlN, TlYAlN, ScYAlN, YYAlN, BBGaN, AlBGaN, GaBGaN, InBGaN, TlBGaN, ScBGaN, YBGaN, Balgan, AlAlGaN, GaAlGaN , InAlGaN, TlAlGaN, ScAlGaN, YAlGaN, BGaGaN, AlGaGaN, GaGaGaN, InGaGaN, TlGaGaN, ScGaGaN, YGaGaN, BInGaN, AlInGaN, GaInGaN, InInGaN, TlInGaN, ScInGaN, Yingan, BTlGaN, AlTlGaN, GaTlGaN, InTlGaN, TlTlGaN, ScTlGaN, YTlGaN , BScGaN, AlScGaN, GaScGaN, InScGaN, TlScGaN, ScScGaN, YScGaN, BYGaN, AlYGaN, GaYGaN, InYGaN, TlYGaN, ScYGaN, YYGaN, BBnN, AlBInN, GaBInN, InBInN, TlBInN, ScBInN, YBInN, BA lInN, AlAlInN, GaAlInN, InAlInN, TlAlInN, ScAlInN, YAlInN, BGaInN, AlGaInN, GaGaInN, InGaInN, TlGaInN, ScGaInN, YGaInN, BInInN, AlInInN, GaInInN, InInInN, TlInInN, ScInInN, YInInN, BTlInN, AlTlInN, GaTlInN, InTlInN, TlTlInN, ScTlInN, YTlInN, BScInN, AlScInN, GaScInN, InScInN, TlScInN, ScScInN, YScInN, ByInN, AlYInN, GaYInN, InYInN, TlYInN, ScYInN, YYInN, BBTlN, AlBtlN, GaBTlN, InBtlN, TlBTlN, ScBtlN, YBtlN, BaLTlN, AlAlTlN, GaAlTlN, InAlTlN, TlAlTlN, ScAlTlN, YAlTlN, BGaTlN, AlGaTlN, GaGaTlN, InGaTlN, TlGaTlN, ScGaTlN, YGaTlN, BInTlN, AlInTlN, GaInTlN, InInTlN, TlInTlN, ScInTlN, YInTlN, BTlTlN, AlTlTlN, GaTlTlN, InTlTlN, TlTlTlN, ScTlTlN, YTlTlN, BScTlN, AlScTlN, GaScTlN, InScTlN, TlScTlN, ScScTlN, YScTlN, BYTlN, AlYTlN, GaYTlN, InYTlN, TlYTlN, ScYTlN, YYTlN, BBScN, AlBScN, GaBScN, InBScN, TlBScN, ScBScN, YBScN, BAlScN, AlAlScN, GaAlScN, InAlScN, TlAlScN, ScAlScN, YAlScN, BGaScN, AlGaScN, GaGaScN, InGaScN, TlGaScN, ScGaScN, YGaScN, BInScN, AlInScN, GaInScN, InInScN, TlInScN, ScInScN, Y InScN, BTlScN, AlTlScN, GaTlScN, InTlScN, TlTlScN, ScTlScN, YTlScN, BScScN, AlScScN, GaScScN, InScScN, TlScScN, ScScScN, YScScN, BYScN, AlYScN, GaYScN, InYScN, TlYScN, ScYScN, YYScN, BBYN, ALBYN, GaBYN, InBYN, TlBYN, ScBYN, YBYN, BAlYN, AlAlYN, GaAlYN, InAlYN, TlAlYN, ScAlYN, YAlYN, BGaYN, AlGaYN, GaGaYN, InGaYN, TlGaYN, ScGaYN, YGaYN, BInYN, AlInYN, GaInYN, InInYN, TlInYN, ScInYN, YInYN, BTlYN, AlTlYN, GaTlYN, InTlYN, TlTlYN, ScTlYN, YTlYN, BScYN, AlScYN, GaScYN, InScYN, TlScYN, ScScYN, YScYN, BYYN, AlYYN, GaYYN, InYYN, TlYYN, ScYYN, YYYN, BBBP, AlBBP, GaBBP, InBBP, TlBBP, ScBBP, YBBP, BAlBP, AlAlBP, GaAlBP, InAlBP, TlAlBP, ScAlBP, YAlBP, BGaBP, AlGaBP, GaGaBP, InGaBP, TlGaBP, ScGaBP, YGaBP, BInBP, AlInBP, GaInBP, InInBP, TlInBP, ScInBP, YInBP, BTlBP, AlTIBP, GaTlBP, InTlBP, TlTlBP, ScTlBP, YTlBP, BScBP, AlScBP, GaScBP, InScBP, TlScBP, ScScBP, YScBP, BYBP, AlYBP, GaYBP, InYBP, TlYBP, ScYBP, YYBP, BBAlP, AlBAlP, GaBAlP, InBlAlP, TlBAlP, ScBAlP, YbaIP, BAlAlP, AlAlAlP, GaAlAlP, InAlAlP, TlAlAlP, ScAlAlP, YAlAlP, BGaAlP, AlGaAlP, GaGaAlP, InGaAlP, TlGaAlP, ScGaAlP, YGaAlP, BInAlP, AlInAlP, GaInAlP, InInAlP, TlInAlP, ScInAlP, YInAlP, BTlAlP, AlTlAlP, GaTlAlP, InTlAlP, TlTlAlP, ScTlAlP, YTlAlP, BScAlP, AlScAlP, GaScAlP, InScAlP, TlScAlP, ScScAlP, YScAlP, BYAlP, AlYAlP, GaYAlP, InYAlP, TlYAlP, ScYAlP, YYAlP, BBGaP, AlBGaP, GaBGaP, InBGaP, TlBGaP, ScBGaP, YBGaP, BAlGaP, AlAlGaP, GaAlGaP, InAlGaP, TlAlGaP, ScAlGaP, YAlGaP, BGaGaP, AlGaGaP, GaGaGaP, InGaGaP, TlGaGaP, ScGaGaP, YGaGaP, BInGaP, AlInGaP, GaInGaP, InInGaP, TlInGaP, ScInGaP, YInGaP, BTlGaP, AlTlGaP, GaTlGaP, InTlGaP, TlTlGaP, ScTlGaP, YTlGaP, BScGaP, AlScGaP, GaScGaP, InScGaP, TlScGaP, ScScGaP, YScGaP, BYGaP, AlYGaP, GaYGaP, InYGaP, TlYGaP, ScYGaP, YYGaP, BBInP, AlBInP, GaBInP, InBInP, TlBInP, ScBInP, YBInP, BAlInP, AlAlInP, GaAlInP, InAlInP, TlAlInP, ScAlInP, YAlInP, BGaInP, AlGaInP, GaGaInP, InGaInP, TlGaInP, ScGaInP, YGaInP, BInInP, AlInInP, GaInInP, InInInP, TlInInP, ScInInP, YInInP, BTlInP, AlTlInP, GaTlInP, InTlInP, TlTlInP, ScTlInP, YTlInP, BScInP, AlScInP, GaScInP, InScInP, TlScInP, ScScInP, YScInP, 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ScAlInBi, YAlInBi, BGaInBi, AlGaInBi, GaGaInBi, InGaInBi, TlGaInBi, ScGaInBi, YGaInBi, BInInBi, AlInInBi, GaInInBi, InInInBi, TlInInBi, ScInInBi, YInInBi, BTlInBi, AlTlInBi, GaTlInBi, InTlInBi, TlTlInBi, ScTlInBi, YTlInBi, BScInBi, AlScInBi, GaScInBi, InScInBi, TlScInBi, ScScInBi, YScInBi, BYInBi, AlYInBi, GaYInBi, InYInBi, TlYInBi, ScYInBi, YYInBi, BBTlBi, AlBTlBi, GaBTlBi, InBTlBi, TlBTlBi, ScBTlBi, YBTlBi, BAlTlBi, AlAlTlBi, GaAlTlBi, InAlTlBi, TlAlTlBi, ScAlTlBi, YAlTlBi, BGaTlBi, AlGaTlBi, GaGaTlBi, InGaTlBi, TlGaTlBi, ScGaTlBi, YGaTlBi, BInTlBi, AlInTlBi, GaInTlBi, InInTlBi, TlInTlBi, ScInTlBi, YInTlBi, BTlTlBi, AlTlTlBi, GaTlTlBi, InTlTlBi, TlTlTlBi, ScTlTlBi, YTlTlBi, BScTlBi, AlScTlBi, GaScTlBi, InScTlBi, TlScTlBi, ScScTlBi, YScTlBi, BYTlBi, AlYTlBi, GaYTlBi, InYTlBi, TlYTlBi, ScYTlBi, YYTlBi, BBScBi, AlBScBi, GaBScBi, InBScBi, TlBScBi, ScBScBi, YBScBi, BAlScBi, AlAlScBi, GaAlScBi, InAlScBi, TlAlScBi, ScAlScBi, YAlScBi, BGaScBi, AlGaScBi, GaGaScBi, InGaScBi, TlGaScBi, ScGaScBi, YGaScBi, BInScBi, AlInScBi, GaInScBi, InInScBi, TlInScBi, ScInScBi, YInScBi, BTlScBi, AlTlScBi, GaTlScBi, InTlScBi, TlTlScBi, ScTlScBi, YTlScBi, BScScBi, AlScScBi, GaScScBi, InScScBi, TlScScBi, ScScScBi, YScScBi, BYScBi, AlYScBi, GaYScBi, InYScBi, TlYScBi, ScYScBi, YYScBi, BBYBi, AlBYBi, GaBYBi, InBYBi, TlBYBi, ScBYBi, YBYBi, BAlYBi, AlAlYBi, GaAlYBi, InAlYBi, TlAlYBi, ScAlYBi, YAlYBi, BGaYBi, AlGaYBi, GaGaYBi, InGaYBi, TlGaYBi, ScGaYBi, YGaYBi, BInYBi, AlInYBi, GaInYBi, InInYBi, TlInYBi, ScInYBi, YInYBi, BTlYBi, AlTlYBi, GaTlYBi, InTlYBi, TlTlYBi, ScTlYBi, YTlYBi, BScYBi, AlScYBi, GaScYBi, InScYBi, TlScYBi, ScScYBi, YScYBi, BYYBi, AlYYBi, GaYYBi, InYYBi, TlYYBi, ScYYBi, YYYBi.

Um geeignete zweite Halbleitermaterialien zu realisieren, ist es bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass der mindestens eine Stoff ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Diamant, Graphit, GeC und BC. Insbesondere eignen sich diese Stoffe zum Einbringen, wenn es sich beim ersten Halbleitermaterial um Si handelt. Weiters ist es bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements vorgesehen, dass es sich beim zweiten Halbleitermaterial um ein Material ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Diamant, GeC, ZnO, ZnS, SnC, GaP, InP, GaAs, AlGaAs, AlInAs, GaInP, BP, AlP, AlAs, GaP, CdSe, CdS, ZnO, ZnSe, ZnS, ZnTe, CuCl, SnS2, TiO2, Cu2O, SnO2, BaTiO3, SrTiO2, LiNbO3, GaSe, La2CuO4, NiO, InGaP, AlInAs, GaAsP, AlGaN, AlGaP, InGaN, CdZnTe, HgZnTe, GaInSb, GaInAsP, GaInAs, AlAs, ZnSe und Cu(In, Ga)Se2 handelt. In order to realize suitable second semiconductor materials, it is provided in a particularly preferred embodiment of the method according to the invention that the at least one substance is selected from the group consisting of diamond, graphite, GeC and BC. In particular, these substances are suitable for introduction when the first semiconductor material is Si. Furthermore, in a particularly preferred embodiment of the electrically functionalized semiconductor element according to the invention, it is provided that the second semiconductor material is a material selected from the group consisting of diamond, GeC, ZnO, ZnS, SnC, GaP, InP, GaAs, AlGaAs, AlInAs, GaInP, BP, AlP, AlAs, GaP, CdSe, CdS, ZnO, ZnSe, ZnS, ZnTe, CuCl, SnS 2 , TiO 2 , Cu 2 O, SnO 2 , BaTiO 3 , SrTiO 2 , LiNbO 3 , GaSe, La 2 CuO 4 , NiO, InGaP, AlInAs, GaAsP, AlGaN, AlGaP, InGaN, CdZnTe, HgZnTe, GaInSb, GaInAsP, GaInAs, AlAs, ZnSe, and Cu (In, Ga) Se 2 .

Wie bereits festgehalten, eignet sich das erfindungsgemäße elektrisch funktionalisierte Halbleiterelement für den Einsatz in Solarzellen und Detektoren. Dabei können die leitenden Strukturen sicherstellen, dass Minoritätsladungsträger aus dem Volumen des Grundkörpers zu einem Emitterkontakt, welcher einen Emitter elektrisch kontaktiert, geleitet werden. Der Grundkörper weist den Emitter vorzugsweise im Bereich der Oberseite auf. Der Emitter kann in an sich bekannter Weise durch geeignete Dotierung hergestellt werden. Der restliche Bereich des Grundkörpers, der aus dem ersten Halbleitermaterial besteht, bildet eine Basis der Solarzelle. Da die leitenden Strukturen die Oberseite elektrisch kontaktieren, muss der Emitterkontakt lediglich die Oberseite elektrisch kontaktieren. Vorzugsweise ist der Emitterkontakt dabei selbst auf der Oberseite angeordnet. As already stated, the electrically functionalized semiconductor element according to the invention is suitable for use in solar cells and detectors. In this case, the conductive structures can ensure that minority charge carriers from the volume of the main body are conducted to an emitter contact, which electrically contacts an emitter. The main body preferably has the emitter in the region of the upper side. The emitter can be produced in a manner known per se by suitable doping. The remaining area of the main body, which consists of the first semiconductor material, forms a base of the solar cell. Since the conductive structures contact the top electrically, the emitter contact only has to electrically contact the top. Preferably, the emitter contact is arranged even on the top.

Entsprechend ist erfindungsgemäß eine Solarzelle vorgesehen, umfassend ein erfindungsgemäßes elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement, wobei ein die Oberseite elektrisch kontaktierender Emitterkontakt vorgesehen ist, der vorzugsweise auf der Oberseite angeordnet ist. Ein wichtiger Punkt bei erfindungsgemäßen Solarzellen ist es, Kurzschlüsse zwischen Basis und Emitter durch die elektrisch leitenden Strukturen aus dem zweiten Halbleitermaterial auszuschließen. Bzw. ist sicherzustellen, dass die Minoritätsladungsträger über die leitenden Strukturen nur zum Emitter und nicht zur Basis fließen können. Dabei sind unter Minoritätsladungsträger jene im ersten Halbleitermaterial zu verstehen, da wie bereits ausgeführt, diese Minoritätsladungsträger in der sich durch die leitendenden Strukturen aus dem zweiten Halbleitermaterial ausbildenden Ladungswolke zu Majoritätsladungsträger werden können. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass auf der Unterseite eine Isolationsschicht angeordnet ist, die zumindest für Minoritätsladungsträger im ersten Halbleitermaterial elektrisch isolierend ist, und dass ein Basiskontakt vorgesehen ist, der abschnittsweise auf der Isolationsschicht, der Unterseite gegenüberliegend angeordnet ist. Durch die Isolationsschicht wird also eine elektrische Leitung der Minoritätsladungsträger vom Emitter zu den Basiskontakten unterbunden. Eine derartige Isolationsschicht kann mit wenig Aufwand hergestellt werden, was sich günstig auf die Produktionskosten einer derartigen erfindungsgemäßen Solarzelle auswirkt. Grundsätzlich kann die Isolationsschicht dabei sowohl für die Minoritätsladungsträger als auch für die Majoritätsladungsträger elektrisch isolierend sein. Accordingly, a solar cell according to the invention is provided, comprising an inventive electrically functionalized semiconductor element, wherein an upper side electrically contacting emitter contact is provided, which is preferably arranged on the upper side. An important point in solar cells according to the invention is to exclude short circuits between base and emitter by the electrically conductive structures of the second semiconductor material. Respectively. ensure that the minority carriers can flow through the conductive structures only to the emitter and not to the base. Here, minority charge carriers are to be understood as those in the first semiconductor material, since, as already explained, these minority charge carriers can become majority carriers in the charge cloud forming from the second semiconductor material through the conductive structures. Therefore, it is provided in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention that on the underside an insulating layer is arranged, which is electrically insulating at least for minority charge carriers in the first semiconductor material, and that a base contact is provided which is arranged in sections on the insulating layer, the underside opposite , Thus, an electrical conduction of the minority charge carriers from the emitter to the base contacts is prevented by the insulating layer. Such an insulating layer can be produced with little effort, which has a favorable effect on the production costs of such a solar cell according to the invention. In principle, the insulation layer can be electrically insulating both for the minority charge carriers and for the majority charge carriers.

Eine besonders elegante Möglichkeit, gezielt den Fluss von Minoritätsladungsträgern zur Basis zu unterbinden, besteht darin, eine an sich bekannte Abfolge von intrinsischen und dotierten Heteroschichten als Isolationsschicht vorzusehen. Typischerweise können solche Heteroschichten im CVD-Verfahren hergestellt bzw. auf die Unterseite aufgebracht werden. Z.B. kann als Heteroschicht eine amorphe Si-Schicht erzeugt werden. Die Heteroschicht schirmt unerwünschte Minoritätsladungsträger ab und verhindert somit die Rekombination und damit den Verlust von Ladungsträgern. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass es sich bei der Isolationsschicht um eine Heteroschicht handelt, welche sowohl mit dem ersten Halbleitermaterial als auch mit dem zweiten Halbleitermaterial einen Heteroübergang ausbildet. A particularly elegant way of deliberately preventing the flow of minority carriers to the base is to provide a known sequence of intrinsic and doped hetero layers as the isolation layer. Typically, such heterolayers can be produced by CVD or applied to the bottom. For example, can be generated as a hetero layer, an amorphous Si layer. The heterolayer shields unwanted minority carriers and thus prevents recombination and thus the loss of charge carriers. Therefore, in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention, it is provided that the insulating layer is a heterolayer which forms a heterojunction with both the first semiconductor material and the second semiconductor material.

Um jedenfalls einen elektrischen Kontakt zwischen Basis und dem Grundkörper sicherstellen zu können, ohne dass die elektrisch leitenden Strukturen von der Basis kontaktiert werden, ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass lokale Verbindungskontakte vorgesehen sind, die die Isolationsschicht (z.B. Si0 oder Si3N4) durchsetzen und die Unterseite des Grundkörpers elektrisch nur an solchen Stellen kontaktieren, die aus dem ersten Halbleitermaterial bestehen, wobei die lokalen Verbindungskontakte mit dem Basiskontakt elektrisch verbunden sind. In any case, in order to be able to ensure an electrical contact between the base and the main body without contacting the electrically conductive structures of the base, it is provided in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention, that local connection contacts are provided, the insulating layer (eg Si0 or Si 3 N 4 ) and electrically contact the underside of the base body only at those points which consist of the first semiconductor material, wherein the local connection contacts are electrically connected to the base contact.

Eine einfache Möglichkeit zur Herstellung solcher Kontakte besteht darin, mittels Laser die Isolationsschicht lokal aufzuschmelzen und somit eine Kontaktierung der Unterseite durch den Basiskontakt zu ermöglichen. Derartig mittels Laser erzeugte Kontakte werden auch als Laser Fired Contacts (LFC) bezeichnet. Erfindungsgemäß wird der Laser nur außerhalb der Bereiche von Korngrenzen eingesetzt bzw. werden die lokalen Kontakte nur außerhalb der Bereiche von Korngrenzen erzeugt, um die Kontaktierung von leitenden Strukturen zu unterbinden. Entsprechend ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass die lokalen Verbindungskontakte Teil des Basiskontakts sind. Eine weitere Möglichkeit, die Kontaktierung der leitenden Strukturen durch die Basis weitgehend zu vermeiden, wobei jedoch ein geringer Prozentsatz von solchen unerwünschten Kontaktierungen in Kauf genommen wird, besteht darin, die lokalen Verbindungskontakte zufällig über die Unterseite zu verteilen. Wenn eine Isolationsschicht vorhanden ist, so wird diese – entsprechend der zufälligen Verteilung der lokalen Verbindungskontakte – an zufällig verteilten Stellen durch die lokalen Verbindungskontakte durchbrochen. Auf diese Weise werden zwar einige Verbindungskontakte auch über Korngrenzen angeordnet sein und damit leitende Strukturen kontaktieren, jedoch wird in der Regel eine große Mehrheit der Verbindungskontakte keine Korngrenzen bzw. leitenden Strukturen kontaktieren. Der große Vorteil dieser Art der Anordnung der Verbindungskontakte liegt im geringen Aufwand und entsprechend den geringen Herstellungskosten, da die konkret vorliegende Kornstruktur des Grundkörpers bewusst völlig unberücksichtigt bleibt. Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass eine Vielzahl von lokalen Verbindungskontakten vorgesehen ist, welche Verbindungskontakte zufällig verteilt auf der Unterseite angeordnet sind und die Unterseite elektrisch mit einem Basiskontakt verbinden. A simple possibility for producing such contacts is to locally melt the insulation layer by means of a laser and thus to allow a contacting of the underside by the base contact. Such laser generated contacts are also referred to as Laser Fired Contacts (LFC). According to the invention, the laser is used only outside the regions of grain boundaries or the local contacts are generated only outside the regions of grain boundaries in order to prevent the contacting of conductive structures. Accordingly, it is provided in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention that the local connection contacts are part of the base contact. Another way of largely avoiding contact of the conductive structures with the base, but with a small percentage of such undesired contacts, is to randomize the local interconnect contacts across the bottom. If an isolation layer is present, it will be broken through the local interconnect contacts at random locations according to the random distribution of the local interconnect contacts. In this way, although some connection contacts will be arranged on grain boundaries and thus contact conductive structures, but usually a large majority of the connection contacts will not contact grain boundaries or conductive structures. The great advantage of this type of arrangement of the connection contacts is the low cost and corresponding to the low production costs, since the concrete present grain structure of the body remains deliberately completely disregarded. It is therefore provided in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention that a plurality of local connection contacts is provided, which connection contacts are arranged randomly distributed on the bottom and connect the bottom electrically to a base contact.

Eine weitere Methode, um das Abfließen von Minoritätsladungsträgern über die leitenden Strukturen zum Basiskontakt zu unterbinden, ist die gezielte Unterbrechung der leitenden Strukturen im Bereich der Unterseite bzw. in Richtung von der Oberseite zur Unterseite gesehen knapp vor der Unterseite. Dies ist z.B. durch gezielten Beschuss des Grundkörpers an den Stellen der leitenden Strukturen mittels Laser möglich. Hierbei schmilzt der Laser den Grundkörper samt leitenden Strukturen lokal auf, wobei der Grundkörper lokal rekristallisiert. Entsprechend ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass ein Basiskontakt vorgesehen ist, der die Unterseite elektrisch kontaktiert, wobei die leitenden Strukturen zwischen der Unterseite und der Oberseite durch lokal rekristallisierte Bereiche unterbrochen sind. Auf eine Isolationsschicht kann hierbei verzichtet werden. Andererseits wird Information darüber benötigt, wo die leitenden Strukturen im Grundkörper vorliegen, was mit Durchleuchtungsverfahren im Infrarotbereich gewährleistet werden kann. Another method to prevent the flow of minority carriers through the conductive structures to the base contact, is the targeted interruption of the conductive structures in the region of the bottom or in the direction of the top to bottom viewed just before the bottom. This is e.g. by targeted bombardment of the body at the points of the conductive structures by means of laser possible. In this case, the laser locally melts the main body together with conductive structures, whereby the basic body recrystallizes locally. Accordingly, it is provided in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention, that a base contact is provided, which electrically contacts the bottom, wherein the conductive structures between the bottom and the top are interrupted by locally recrystallized areas. On an insulating layer can be omitted here. On the other hand, information is needed about where the conductive structures are in the body, which can be ensured with fluoroscopy in the infrared range.

Keine Information darüber, wo die leitenden Strukturen im Grundkörper vorliegen, ist nötig, wenn eine Ätztinktur aufgetragen wird, die speziell die Phasengrenze zwischen den beiden Halbleitermaterialien angreift und so die Leitung zum Basiskontakt zu nichte macht. No information as to where the conductive structures are in the body is needed when applying an etching tincture that specifically attacks the phase boundary between the two semiconductor materials, thus negating the line to the base contact.

Es sei bemerkt, dass erfindungsgemäße elektrisch funktionalisierte Halbleiterelemente selbstverständlich nicht nur für Solarzellen verwendet werden können, sondern auch für andere Anwendungen von Halbleiterelementen von Interesse sind, z.B. in Detektoren und Transistoren. Dabei kann es auch von Interesse sein, dass die leitenden Strukturen nicht nur die Oberseite, sondern auch die Unterseite elektrisch kontaktieren. It should be noted that electrically functionalized semiconductor elements according to the invention can of course not only be used for solar cells, but are also of interest for other applications of semiconductor elements, e.g. in detectors and transistors. It may also be of interest that the conductive structures contact not only the upper side but also the lower side electrically.

Erfindungsgemäß lassen sich die leitenden Strukturen in Solarzellen auch ideal als elektrische Vias einsetzen, insbesondere um mehrere Emitter miteinander zu verbinden. Dies ist z.B. dann möglich, wenn im Grundkörper zwei einander gegenüberliegende Emitter vorgesehen sind – ein Emitter im Bereich der Oberseite, der andere Emitter im Bereich der Unterseite. Entsprechend ist erfindungsgemäß eine Solarzelle vorgesehen, umfassend ein erfindungsgemäßes elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement, wobei im Grundkörper ein Emitter im Bereich der Oberseite und ein weiterer Emitter im Bereich der Unterseite vorgesehen sind sowie eine zwischen den Emittern angeordnete Basis, wobei die Emitter der beiden Seiten durch die leitenden Strukturen miteinander elektrisch leitend verbunden sind. According to the invention, the conductive structures in solar cells can also be used ideally as electrical vias, in particular in order to connect a plurality of emitters to one another. This is e.g. possible if two opposite emitters are provided in the main body - one emitter in the region of the upper side, the other emitter in the region of the lower side. According to the invention, a solar cell is provided, comprising an inventive electrically functionalized semiconductor element, wherein in the base body an emitter in the region of the top and a further emitter are provided in the region of the bottom and arranged between the emitters base, wherein the emitters of the two sides by the conductive Structures are electrically connected to each other.

Dies ermöglicht es insbesondere, Emitterkontakte, nur an einer Seite der Solarzelle vorzusehen, wobei die Emitterkontakte nur einen Emitter direkt elektrisch kontaktieren brauchen. Die elektrische Verbindung zum anderen Emitter wird über die leitenden Strukturen garantiert. Insbesondere können somit die Emitterkontakte auf derselben Seite der Solarzelle angeordnet werden wie die Basiskontakte, was eine verbesserte elektrische Anschlussmöglichkeit der Solarzelle bewirkt. Die dieser Seite gegenüberliegende Seite der Solarzelle wird zudem nicht verschattet, da weder Basis- noch Emitterkontakte dort angeordnet sind, was sich für den Wirkungsgrad der Solarzelle günstig auswirkt. Es ist lediglich sicherzustellen, dass die Basiskontakte nur die Basis kontaktieren und keinen der Emitter. Letzteres kann z.B. durch lokale Isolierungen, insbesondere aus SiO2 und Si3N4, gewährleistet werden. This makes it possible in particular to provide emitter contacts, only on one side of the solar cell, wherein the emitter contacts need only contact an emitter directly electrically. The electrical connection to the other emitter is guaranteed by the conductive structures. In particular, the emitter contacts can thus be arranged on the same side of the solar cell as the base contacts, which results in an improved electrical connection possibility of the solar cell. In addition, the side of the solar cell opposite this side is not shaded, since neither base nor emitter contacts are arranged there, which has a favorable effect on the efficiency of the solar cell. It's just to make sure that the base contacts only contact the base and not the emitter. The latter can be ensured, for example, by means of local insulations, in particular of SiO 2 and Si 3 N 4 .

Eine weitere durch die elektrischen Vias geschaffene Möglichkeit besteht darin, mehrere über die leitenden Strukturen elektrisch miteinander verbundene Emitter im Grundkörper vorzusehen und die Anordnung von Emitterkontakten und Basiskontakten im Hinblick auf eine möglichst gleiche Abschattung auf gegenüberliegenden Seiten der Solarzelle zu optimieren. Auf diese Weise kann die erfindungsgemäße Solarzelle als Bifacial-Solarzelle ausgeführt werden, d.h. die Solarzelle liefert bei Beleuchtung von einander gegenüberliegenden Seiten Strom. Um die Last der Abschattung möglichst gleichmäßig zu verteilen, sind die Emitterkontakte und Basiskontakte vorzugsweise an gegenüberliegenden Seiten der Solarzelle angeordnet. Another possibility provided by the electrical vias is to provide a plurality of emitters electrically connected to one another in the base body via the conductive structures and to optimize the arrangement of emitter contacts and base contacts with respect to shading on opposite sides of the solar cell. In this way, the solar cell according to the invention can be designed as a bifacial solar cell, i. the solar cell provides power when illuminated from opposite sides. In order to distribute the burden of shading as evenly as possible, the emitter contacts and base contacts are preferably arranged on opposite sides of the solar cell.

Daher ist es bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle vorgesehen, dass mindestens ein Emitterkontakt vorgesehen ist, der die Oberseite oder die Unterseite elektrisch kontaktiert und auf einer Seite der Solarzelle im Bereich der Oberseite oder der Unterseite des Grundkörpers angeordnet ist, und dass mindestens ein Basiskontakt vorgesehen ist, der nur die Basis elektrisch kontaktiert und auf derselben Seite der Solarzelle wie der mindestens eine Emitterkontakt angeordnet ist oder auf einer gegenüberliegenden Seite der Solarzelle. Therefore, it is provided in a preferred embodiment of the solar cell according to the invention that at least one emitter contact is provided which electrically contacts the top or the bottom and is disposed on one side of the solar cell in the region of the top or bottom of the base body, and that at least one base contact is provided, which only electrically contacts the base and on the same side of the solar cell as the at least one emitter contact is arranged or on an opposite side of the solar cell.

Wie bereits erwähnt, scheint die Verbiegung der Bandkanten, zu welcher es an der Grenze zwischen erstem und zweitem Halbleitermaterial kommt in hohem Maße für die Leitfähigkeit der Strukturen aus einem zweiten Halbleitermaterial, welches im Allgemeinen nicht elektrisch leitend ist, im ersten Halbleitermaterial verantwortlich zu sein. Damit einhergehend ist eine Ansammlung elektrischer Ladung im Bereich der Grenzfläche zwischen erstem und zweitem Halbleitermaterial. Hierbei können sich lokal so hohe elektrische Ladungen ansammeln, dass die damit einhergehenden elektrischen Felder für weitere Anwendungen genutzt werden können, z.B. für die Manipulation bzw. Modulation von Licht. Daher ist erfindungsgemäß die Verwendung eines erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements in einem Lichtwellenleiter vorgesehen. Durch den Lichtleiter geleitete Lichtsignale werden somit durch die angesammelten Ladungen bzw. durch die durch die Ladungen erzeugten elektrischen Felder moduliert. As already mentioned, the bending of the band edges, which occurs at the boundary between the first and second semiconductor material, seems to be highly responsible for the conductivity of the structures of a second semiconductor material, which is generally not electrically conductive, in the first semiconductor material. Accompanying this is an accumulation of electrical charge in the area of the interface between the first and second semiconductor material. In this case, locally high electrical charges can accumulate so that the associated electric fields can be used for further applications, eg for the manipulation or modulation of light. Therefore, the invention provides the use of an electrically functionalized semiconductor element according to the invention in an optical waveguide. Light signals conducted through the light guide are thus modulated by the accumulated charges or by the electric fields generated by the charges.

KURZE BESCHREIBUNG DER FIGUREN BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES

Die Erfindung wird nun anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Die Zeichnungen sind beispielhaft und sollen den Erfindungsgedanken zwar darlegen, ihn aber keinesfalls einengen oder gar abschließend wiedergeben. The invention will now be explained in more detail with reference to exemplary embodiments. The drawings are exemplary and are intended to illustrate the inventive idea, but in no way restrict it or even reproduce it.

Dabei zeigt: Showing:

1 eine schematische Aufsicht auf einen Ausschnitt eines Körner und damit auch Korngrenzen aufweisenden Grundkörpers eines erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements 1 a schematic plan view of a section of a grain and thus also grain boundaries having basic body of an electrically functionalized semiconductor element according to the invention

2 eine schematische Schnittansicht einer erfindungsgemäßen Solarzelle 2 a schematic sectional view of a solar cell according to the invention

3 eine schematische Schnittansicht einer weiteren Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle 3 a schematic sectional view of another embodiment of the solar cell according to the invention

4 eine schematische Schnittanischt einer weiteren Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Solarzelle mit Emitter- und Basiskontakten auf derselben Seite 4 a schematic Schnittanischt another embodiment of a solar cell according to the invention with emitter and base contacts on the same side

5 eine schematische Schnittanischt einer weiteren Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Solarzelle, die als Bifacial-Solarzelle ausgebildet ist 5 a schematic Schnittanischt another embodiment of a solar cell according to the invention, which is designed as a bifacial solar cell

WEGE ZUR AUSFÜHRUNG DER ERFINDUNG WAYS FOR CARRYING OUT THE INVENTION

1 zeigt eine schematische Ansicht eines Ausschnitts eines Grundkörpers 2 eines erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements 1 in Aufsicht. Der Grundkörper 2 ist aus einem ersten Halbleitermaterial, z.B. Si, wobei das erste Halbleitermaterial lokal unterschiedlich dotiert sein kann. Wie in 1 erkennbar ist, ist der Grundkörper 2 kein Einkristall, sondern weist Körner 11, 11‘, 11‘‘ und somit auch Korngrenzen 12 auf, wobei die Korngrenzen 12 in 1 strichliert angedeutet sind. Die Körner 11‘ sind in 1 die nächsten Nachbarn des Korns 11. Die Körner 11‘‘ sind in 1 die übernächsten Nachbarn des Korns 11. Die Korngrenzen 12 sind mit elektrisch leitenden Strukturen 5 (vgl. 2 und 3) aus einem zweiten Halbleiterelement, beispielsweise mit Ausscheidungen aus Si3N4, dekoriert. Aufgrund der stark unterschiedlichen Bandlücken – Si: ca. 1,1 eV, Si3N4: größer gleich 5 eV – zwischen dem ersten und zweiten Halbleitermaterial kommt es zu einer starken Bandverbiegung an der Phasengrenze. Die Bandverbiegung spielt dabei eine wesentliche Rolle dafür, dass es zur elektrischen Leitfähigkeit der Strukturen 5 im Bereich der Phasengrenze kommt. D.h. entgegen der bislang bekannten, fälschlich vertretenen Ansicht, wonach Si3N4 – insbesondere in Si – nicht leitend ist, sind die Strukturen 5 aus Si3N4 – insbesondere in Si – sehr wohl elektrisch leitend. 1 shows a schematic view of a section of a base body 2 an electrically functionalized semiconductor element according to the invention 1 in supervision. The main body 2 is made of a first semiconductor material, for example Si, wherein the first semiconductor material may be locally differently doped. As in 1 is recognizable, is the main body 2 not single crystal, but has grains 11 . 11 ' . 11 '' and thus also grain boundaries 12 on, with the grain boundaries 12 in 1 are indicated by dashed lines. The grains 11 ' are in 1 the nearest neighbors of the grain 11 , The grains 11 '' are in 1 the next but one neighbor of the grain 11 , The grain boundaries 12 are with electrically conductive structures 5 (see. 2 and 3 ) of a second semiconductor element, for example with precipitates of Si 3 N 4 , decorated. Due to the very different band gaps - Si: about 1.1 eV, Si 3 N 4 : greater than or equal to 5 eV - there is a strong band bending at the phase boundary between the first and second semiconductor material. The band bending plays an essential role in ensuring the electrical conductivity of the structures 5 comes in the phase boundary. That is, contrary to the previously known, erroneously represented view that Si 3 N 4 - especially in Si - is not conductive, are the structures 5 of Si 3 N 4 - especially in Si - very well electrically conductive.

Die leitenden Strukturen 5 werden erzeugt, indem ein Ausgangsprodukt, insbesondere eine Schmelze des ersten Halbleitermaterials erzeugt wird und mindestens ein Stoff, bei dem es sich um das zweite Halbleitermaterial handelt oder der mit dem ersten Halbleitermaterial das zweite Halbleitermaterial bilden kann, in das Ausgangsprodukt oder bei dessen Erzeugung eingebracht wird. Beispielsweise kann in eine Si-Schmelze gezielt Stickstoff eingebracht werden, indem diese einer Stickstoffatmosphäre, vorzugsweise bei Drücken größer als 5 bar, besonders bevorzugt größer gleich 6 bar, ausgesetzt wird. Falls die Schmelze sich beispielsweise in einem Tiegel befindet, kann dieser alternativ oder zusätzlich z.B. gezielt mit einer ausreichenden Menge von SiN beschichtet werden, um eine hinreichende Menge an Stickstoff in die Schmelze einzubringen. Weiters ist es alternativ oder zusätzlich möglich, SiN bzw. das Material, welches auch für die Beschichtung des Tiegels verwendet werden kann, direkt der Schmelze kontinuierlich zuzuführen bzw. nachzuchargieren, z.B. durch das kontinuierliche Einbringen in Pulverform. In einer weiteren Ausführungsform werden beide Halbleitermaterialien als Slurry auf eine Folie aufgetragen, getrocknet und gesintert, um sie dann einem gezielten Schmelzvorgang zuzuführen. The conductive structures 5 are generated by a starting product, in particular a melt of the first semiconductor material is produced and at least one substance which is the second semiconductor material or which can form the second semiconductor material with the first semiconductor material is introduced into the starting product or during its production , For example, nitrogen can be deliberately introduced into an Si melt by exposing it to a nitrogen atmosphere, preferably at pressures greater than 5 bar, more preferably greater than or equal to 6 bar. If, for example, the melt is in a crucible, it can alternatively or additionally, for example, be purposefully coated with a sufficient amount of SiN in order to introduce a sufficient amount of nitrogen into the melt. Furthermore, it is alternatively or additionally possible, SiN or the material, which can also be used for the coating of the crucible, continuously fed directly to the melt or nachzuchargieren, for example by the continuous introduction in powder form. In a further embodiment, both semiconductor materials are applied as a slurry to a film, dried and sintered, in order then to supply them to a targeted melting process.

Schließlich wird das Ausgangsprodukt, insbesondere die Schmelze, kristallisiert bzw. rekristallisiert, wobei z.B. an sich bekannte Kristallisationsverfahren verwendet werden können. Im Falle des Beispiels von Strukturen 5 aus Si3N4 in Si bilden sich im Zuge des Erstarrens bzw. Kristallisierens der Schmelze Si3N4-Ausscheidungen, insbesondere in den Korngrenzen 12, wenn hinreichend viel Stickstoff der Schmelze zugeführt wurde. Finally, the starting material, in particular the melt, is crystallized or recrystallized, it being possible to use, for example, crystallization processes known per se. In the case of the example of structures 5 Si 3 N 4 in Si are formed in the course of solidification or crystallization of the melt Si 3 N 4 precipitates, especially in the grain boundaries 12 if sufficient nitrogen was added to the melt.

Dabei wird das Einbringen des mindestens einen Stoffs so dosiert, dass mindestens 50%, bevorzugt mindestens 80%, besonders bevorzugt mindestens 90% aller Korngrenzen 12 mit den Strukturen 5 dekoriert sind. Die leitenden Strukturen 5 durchziehen somit den gesamten Grundkörper 2, insbesondere von einer Oberseite 3 des Grundkörpers 2, besonders bevorzugt bis zu einer Unterseite 4 des Grundkörpers 2. Entsprechend können Ladungen, insbesondere Minoritätsladungsträger aus dem Volumen des Grundkörpers 2 über die Strukturen 5 geleitet werden, insbesondere zur Oberseite 3. In this case, the introduction of the at least one substance is metered so that at least 50%, preferably at least 80%, particularly preferably at least 90% of all grain boundaries 12 with the structures 5 are decorated. The conductive structures 5 thus permeate the entire body 2 , in particular from an upper side 3 of the basic body 2 , more preferably up to a bottom 4 of the basic body 2 , Correspondingly, charges, in particular minority charge carriers, can originate from the volume of the basic body 2 about the structures 5 be directed, in particular to the top 3 ,

Damit die leitenden Strukturen 5 den Grundkörper 2 zumindest in einer Richtung gesehen möglichst homogen verteilt durchziehen, kann die Kornstruktur beim Kristallisieren, z.B. durch Einsatz eines eine geeignete Kornstruktur aufweisenden Keimkristalls, entsprechend eingestellt werden. Insbesondere kann die Kornstruktur so eingestellt werden, dass zumindest in der einen Richtung der mittlere Abstand zwischen einem Korn 11 und seinen übernächsten Nachbarn 11‘‘ kleiner gleich 2 mm, bevorzugt kleiner gleich 1 mm, besonders bevorzugt kleiner gleich 0,5 mm ist. Eine hohe Dichte von Korngrenzen 12 hilft außerdem die Kristallgüte des Grundkörpers 2 insoweit zu verbessern, dass in entsprechenden folgenden Annealingschritten Versetzungen und metallische Verunreinigungen zu den Korngrenzen 12 wandern können. Weiters kann das Vorhandensein von Korngrenzen 12 auch beim Abbau von thermischen Spannungen während des Kristallisationsvorgangs beitragen. So that the conductive structures 5 the main body 2 The grain structure can be adjusted accordingly during crystallization, for example by using a seed crystal having a suitable grain structure, as seen in at least one direction. In particular, the grain structure can be adjusted so that at least in one direction, the average distance between a grain 11 and his neighbors next door 11 '' less than or equal to 2 mm, preferably less than or equal to 1 mm, more preferably less than or equal to 0.5 mm. A high density of grain boundaries 12 also helps the crystal quality of the body 2 to improve insofar that in corresponding subsequent annealing steps dislocations and metallic impurities to the grain boundaries 12 can walk. Furthermore, the presence of grain boundaries 12 also contribute to the reduction of thermal stresses during the crystallization process.

Besonders bevorzugt wird das Einbringen des mindestens einen Stoffes so dosiert, dass zwei unmittelbar benachbarte leitenden Strukturen 5 im Bereich einer Korngrenze 12 einen mittleren Abstand kleiner gleich 5 •m, bevorzugt kleiner gleich 2 •m, besonders bevorzugt kleiner gleich 1 •m aufweisen. Hierdurch wird eine besonders gute Leitfähigkeit durch die leitenden Strukturen 5 sichergestellt und eine ausgezeichnete aktive Passivierung der Korngrenzen 12 erreicht, da hierdurch eine Rekombination der Minoritätsladungsträger mit Majoritätsladungsträgern an den Korngrenzen 12 unterbunden wird. In Versuchen konnte gezeigt werden, dass leitende Strukturen 5 aus Si3N4 in Si Korngrenzen 12 sogar lückenlos auskleiden können. Particularly preferably, the introduction of the at least one substance is metered so that two immediately adjacent conductive structures 5 in the range of a grain boundary 12 a mean distance less than or equal to 5 • m, preferably less than or equal to 2 • m, more preferably less than or equal to 1 • m. This results in a particularly good conductivity through the conductive structures 5 ensured and an excellent active passivation of grain boundaries 12 achieved, as a result, a recombination of the minority carriers with majority charge carriers at the grain boundaries 12 is prevented. In experiments it could be shown that conductive structures 5 of Si 3 N 4 in Si grain boundaries 12 even be able to undress completely.

2 zeigt den Einsatz eines erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements 1 in einer Solarzelle 6. Im Bereich der Oberseite 3 weist der Grundkörper 2 einen Emitter 13 auf, der insbesondere durch nachträgliche Dotierung in an sich bekannter Weise hergestellt werden kann. Z.B. kann es sich bei dem ersten Halbleitermaterial um Si handeln, das im Grundkörper 2 im Wesentlichen als p-dotiertes Si vorliegt. Der Emitter 13 wird dann durch einen n-dotierten Bereich des Grundkörpers 2 bzw. des ersten Halbleitermaterials ausgebildet. Der Bereich des Grundkörpers 2 aus dem ersten Halbleitermaterial außerhalb des Emitters 13 (im genannten Beispiel also p-dotiertes Si) bildet eine Basis 16 der Solarzelle 6. 2 shows the use of an electrically functionalized semiconductor element according to the invention 1 in a solar cell 6 , In the area of the top 3 indicates the basic body 2 an emitter 13 on, which can be prepared in particular by subsequent doping in a conventional manner. For example, the first semiconductor material may be Si, that in the main body 2 is present essentially as p-doped Si. The emitter 13 is then passed through an n-doped region of the main body 2 or of the first semiconductor material. The area of the main body 2 from the first semiconductor material outside the emitter 13 (So in the example mentioned p-doped Si) forms a base 16 the solar cell 6 ,

Auf der Oberseite 3 ist ein Emitterkontakt 7 angeordnet, der den Emitter 13 elektrisch kontaktiert. Die leitenden Strukturen 5, die die Oberseite 3 oder zumindest den Emitter 13 elektrisch kontaktieren und weit ins Volumen des Grundkörpers 2 hineinreichen bilden gewissermaßen eine dreidimensionale Emitterstruktur aus. Die Minoritätsladungsträger müssen also nur einen kurzen Diffusionsweg im Grundkörper 2 zurücklegen, bis sie an die nächste Korngrenze 12 stoßen und dort über die leitenden Strukturen 5 zum Emitter 13 geleitet werden können. Damit die leitenden Strukturen 5 keinen Kurzschluss zwischen dem Emitter 13 bzw. dem Emitterkontakt 7 und einem Basiskontakt 9 der Solarzelle 6 herstellen ist sicherzustellen, dass der Basiskontakt 9 die leitenden Strukturen 5 möglichst nicht elektrisch kontaktiert, sondern nur die Basis 16. Ein Weg die potentiellen Kurzschlüsse zu verhindern, besteht darin, dass man mittels Infrarotdurchleuchtung die dekorierten Korngrenzen 12 identifiziert, oder die Lage der dekorierten Korngrenzen ist von vornherein bekannt. Anschließend wird eine isolierende Passivierungsschicht bzw. eine Isolationsschicht 8 auf die Unterseite 4 aufgetragen und erst auf diese der Basiskontakt 9, sodass der Basiskontakt 9 zunächst völlig elektrisch isoliert vom Grundkörper 2 ist. Hierauf wird der Basiskontakt 9 entsprechend einer anhand der Infrarotaufnahme erstellten Maske punktuell mit lokalen Verbindungskontakten 10 mit dem Grundkörper 2 in Verbindung gebracht. Die lokalen Verbindungskontakte 10 können dabei durch gezielten Laser-Beschuss unter Verwendung der Maske als sogenannte Laser Fired Contacts (LFC) hergestellt werden. Da somit keine leitenden Strukturen 5 getroffen werden, kommt es auch zu keinem ohmschen Kontakt. D.h. die durch die leitenden Strukturen 5 geschaffene dreidimensionale Emitterstruktur kann Minoritätsladungsträger nach bereits geringen Diffusionswegen optimal aufsammeln. On the top 3 is an emitter contact 7 arranged the emitter 13 electrically contacted. The conductive structures 5 that the top 3 or at least the emitter 13 electrically contact and far into the volume of the body 2 reaching out to a certain extent form a three-dimensional emitter structure. The minority carriers therefore only need a short diffusion path in the main body 2 Go back to the next grain boundary 12 butt and there over the conductive structures 5 to the emitter 13 can be directed. So that the conductive structures 5 no short circuit between the emitter 13 or the emitter contact 7 and a basic contact 9 the solar cell 6 make sure that the base contact 9 the conductive structures 5 preferably not electrically contacted, but only the base 16 , One way to prevent potential short circuits is to use infrared transmission to illuminate the decorated grain boundaries 12 identified or the location of the decorated grain boundaries is known from the beginning. Subsequently, an insulating passivation layer or an insulating layer 8th on the bottom 4 applied and only on this the basic contact 9 so the base contact 9 initially completely electrically isolated from the body 2 is. This will be the basic contact 9 according to a mask created on the basis of the infrared image selectively with local connection contacts 10 with the main body 2 connected. The local connection contacts 10 can be produced by targeted laser bombardment using the mask as so-called laser fired contacts (LFC). Because there are no conductive structures 5 there are no ohmic contacts. That is through the conductive structures 5 created three-dimensional emitter structure can optimally pick up minority carriers after already small diffusion paths.

In der Ausführungsform der 3 wiederum wird eine elektrische Kontaktierung zwischen den leitenden Strukturen 5 und dem Basiskontakt 9 durch eine Isolationsschicht 8 verhindert, die als Heteroschicht ausgeführt ist, welche 10 gezielt den Fluss von Minoritätsladungsträgern unterbindet. Diese Heteroschicht kann z.B. mittels Chemical Vapour Deposition (CVD) als eine amorphe Siliziumschicht aufgedampft werden, die entsprechend dotiert ist. Dabei muss die Heteroschicht dick genug erzeugt werden, um ein Durchtunneln von Minoritätsladungsträgern zu verhindern. Der restliche Solarzellenprozess verläuft analog zu aktuell am Solarmarkt etablierten Prozessen. In the embodiment of the 3 in turn, an electrical contact between the conductive structures 5 and the basic contact 9 through an insulation layer 8th prevented, which is designed as a heterolayer, which 10 deliberately prevents the flow of minority carriers. This hetero-layer can be evaporated, for example by means of chemical vapor deposition (CVD) as an amorphous silicon layer, which is doped accordingly. The hetero layer must be made thick enough to prevent tunneling through minority carriers. The remainder of the solar cell process is analogous to the processes currently established on the solar market.

In der schematischen Schnittansicht der 4 ist eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle 6 mit einem erfindungsgemäßen elektrisch funktionalisierten Halbleiterelement 1 dargestellt, wobei die Basiskontakte 9 und die Emitterkontakte 7 auf derselben Seite der Solarzelle 6 angeordnet sind. Im dargestellten Ausführungsbeispiel entspricht diese Seite der Solarzelle 6 der Unterseite 4 des Halbleiterelements 1. In der praktischen Verwendung erleichtert diese Anordnung von Emitterkontakten 7 und Basiskontakten 9 den elektrischen Anschluss der Solarzelle 6 und verhindert eine Verschattung durch eine Kontaktierung an der Oberseite 3. In the schematic sectional view of 4 is an embodiment of the solar cell according to the invention 6 with an electrically functionalized semiconductor element according to the invention 1 shown, with the base contacts 9 and the emitter contacts 7 on the same side of the solar cell 6 are arranged. In the illustrated embodiment, this page corresponds to the solar cell 6 the bottom 4 of the semiconductor element 1 , In practical use, this arrangement facilitates emitter contacts 7 and base contacts 9 the electrical connection of the solar cell 6 and prevents shading by a contact on the top 3 ,

Möglich wird dies durch die leitenden Strukturen 5, die den Emitter 13 im Bereich der Oberseite 3 und einen weiteren Emitter 13‘ im Bereich der Unterseite 4 elektrisch miteinander verbinden. D.h. die elektrischen Strukturen 5 fungieren als elektrische Vias zwischen den Emittern 13, 13‘. Im dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Basis 16 aus einem p-dotiertem Si, die Emitter 13, 13‘ sind negativ dotiert. Bei den leitenden Strukturen 5 handelt es sich vorzugsweise um Si3N4. This is made possible by the conductive structures 5 that the emitter 13 in the area of the top 3 and another emitter 13 ' in the area of the bottom 4 connect electrically. That is, the electrical structures 5 act as electrical vias between the emitters 13 . 13 ' , In the illustrated embodiment, the base 16 from a p-doped Si, the emitter 13 . 13 ' are negatively doped. In the conductive structures 5 it is preferably Si 3 N 4 .

Die Emitterkontakte 7 sind z.B. aus Ag gefertigt. Um die Leitfähigkeit unterhalb der Emitterkontakte 7 zu erhöhen und den mit der Solarzelle 6 erzeugten Strom somit besser abführen zu können, ist der Emitter 13‘ in Bereichen n++, wo der jeweilige Emitterkontakt 7 die Unterseite 4 kontaktiert, lokal stärker negativ dotiert als im restlichen Emitter 13‘. Die Basiskontakte 9 sind z.B. aus Al gefertigt und kontaktieren nur die Basis 16, wobei sie den Emitter 13‘ durchdringen. Um eine Kontaktierung des Emitters 13‘ zu vermeiden, sind die Basiskontakte 9 im Bereich des Emitters 13‘ von einer lokalen Isolierung 15 umgeben, die beispielsweise durch SiO2 ausgebildet ist. D.h. es besteht kein elektrischer Kontakt zwischen den Basiskontakten 9 und dem Emitter 13‘. The emitter contacts 7 are made of Ag, for example. To the conductivity below the emitter contacts 7 to increase and with the solar cell 6 To be able to dissipate the current thus generated better is the emitter 13 ' in areas n ++ where the respective emitter contact 7 the bottom 4 contacted, locally more negatively doped than in the remaining emitter 13 ' , The base contacts 9 are made of Al and only contact the base 16 , being the emitter 13 ' penetrate. To contact the emitter 13 ' to avoid are the base contacts 9 in the area of the emitter 13 ' from a local isolation 15 surrounded, which is formed for example by SiO 2 . That is, there is no electrical contact between the base contacts 9 and the emitter 13 ' ,

Weiterhin weist die Solarzelle 6 der 4 zur Steigerung von deren Wirkungsgrad eine Antireflexschicht 14, beispielsweise aus SiN, auf, die auf der Oberseite 3 und auf der Unterseite 4 angebracht ist. Neben einer Anpassung der Brechungsindizes bewirkt die Antireflexschicht 14 eine elektrische Passivierung der Oberseite 3 und der Unterseite 4. Furthermore, the solar cell 6 of the 4 to increase their efficiency an antireflection coating 14 , for example, SiN, on, on the top 3 and on the bottom 4 is appropriate. In addition to an adjustment of the refractive indices causes the antireflection layer 14 an electrical passivation of the top 3 and the bottom 4 ,

In der schematischen Schnittansicht der 5 ist eine weitere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Solarzelle 6 dargestellt, die im Wesentlichen völlig analog zur Ausführungsform der 4 aufgebaut ist, sodass grundsätzlich auf das oben Gesagte verwiesen wird. Im Unterschied zur Ausführungsform der 4 sind die Emitterkontakte 7 und die Basiskontakte 9 jedoch nicht auf derselben Seite der Solarzelle 6, sondern auf gegenüberliegenden Seiten der Solarzelle 6 angeordnet. Dies garantiert eine gleichmäßige und nicht vollständige Beschattung der Solarzelle 6 an beiden Seiten, sodass die Solarzelle 6 als Bifacial-Solarzelle verwendet werden kann. In the schematic sectional view of 5 is another embodiment of the solar cell according to the invention 6 shown, which is essentially completely analogous to the embodiment of the 4 is constructed so that in principle referred to the above. In contrast to the embodiment of 4 are the emitter contacts 7 and the base contacts 9 but not on the same side of the solar cell 6 but on opposite sides of the solar cell 6 arranged. This guarantees a uniform and not complete shading of the solar cell 6 on both sides, so the solar cell 6 can be used as a bifacial solar cell.

In 5 kontaktieren die Emitterkontakte 7 die Oberseite 3. Entsprechend ist der Emitter 13 in Bereichen n++, wo der jeweilige Emitterkontakt 7 die Oberseite 3 kontaktiert, lokal stärker negativ dotiert als im restlichen Emitter 13. In 5 contact the emitter contacts 7 the top 3 , Accordingly, the emitter 13 in areas n ++ where the respective emitter contact 7 the top 3 contacted, locally more negatively doped than in the remaining emitter 13 ,

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

11
Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement  Electrically functionalized semiconductor element
22
Grundkörper  body
33
Oberseite des Grundkörpers  Top of the body
44
Unterseite 5 des Grundkörpers bottom 5 of the basic body
55
Leitende Struktur  Leading structure
66
Solarzelle  solar cell
77
Emitterkontakt  emitter contact
88th
Isolationsschicht  insulation layer
99
Basiskontakt  base contact
1010
Lokaler Verbindungskontakt  Local connection contact
11, 11‘, 11‘‘11, 11 ', 11' '
Korn  grain
1212
Korngrenze  grain boundary
13, 13‘13, 13 '
Emitter  emitter
1414
Antireflexschicht  Anti-reflective coating
1515
Lokale Isolierung  Local isolation
1616
Basis  Base
pp
p-dotiertes Si  p-doped Si
n++n ++
Bereich erhöhter n-Dotierung  Range of increased n-doping

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

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Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature

  • H.J. Möller et al., „Growth of Silicon Carbide Filaments in Multicrystalline Silicon for Solar Cells‘‘, Solid State Phenomena 156–158, 35 (2010) [0006] HJ Moller et al., "Growth of Silicon Carbide Filaments in Multicrystalline Silicon for Solar Cells", Solid State Phenomena 156-158, 35 (2010) [0006]
  • S. Köstner et al.; „Structural Analysis of Longitudinal Si-C-N Precipitates in Multicrystalline Silicon‘‘, Proc. 8th IEEE PVSC 2, 1 (2012) [0006] S. Köstner et al .; "Structural Analysis of Longitudinal Si-CN Precipitates in Multicrystalline Silicon", Proc. 8th IEEE PVSC 2, 1 (2012) [0006]

Claims (27)

Verfahren zur Herstellung eines elektrisch funktionalisierten Halbleiterelements (1) mit einem Korngrenzen (12) aufweisenden Grundkörper (2) aus einem ersten Halbleitermaterial, insbesondere Si, welches eine erste Bandlücke aufweist, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: – Erzeugen eines Ausgangsprodukts, insbesondere einer Schmelze, des ersten Halbleitermaterials; – Einbringen von mindestens einem Stoff in das Ausgangsprodukt oder bei dessen Erzeugung, wobei als Stoff ein zweites Halbleitermaterial gewählt wird oder ein Stoff, der mit dem ersten Halbleitermaterial das zweite Halbleitermaterial bilden kann, wobei das zweite Halbleitermaterial eine zweite Bandlücke aufweist, die sich um mindestens 0,5 eV von der ersten Bandlücke unterscheidet, und wobei das zweite Halbleitermaterial zur Ausbildung von einer Vielzahl von elektrisch leitenden Strukturen (5) im Bereich der Korngrenzen (12) des Grundkörpers (2) vorgesehen ist, welche Strukturen (5) jeweils eine Oberseite (3) des Grundkörpers (2) elektrisch kontaktieren und sich von der Oberseite (3) in Richtung einer der Oberseite (3) gegenüberliegenden Unterseite (4) erstrecken, und wobei das Einbringen so dosiert wird, dass mindestens 50%, bevorzugt mindestens 80%, besonders bevorzugt mindestens 90% aller Korngrenzen (12) mit den Strukturen (5) aus dem zweiten Halbleitermaterial dekoriert sind; – Kristallisieren oder Rekristallisiere des Ausgangsprodukts zum Grundkörper (2). Method for producing an electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) with a grain boundary ( 12 ) having basic body ( 2 ) of a first semiconductor material, in particular Si, which has a first bandgap, the method comprising the following steps: - producing a starting product, in particular a melt, of the first semiconductor material; Introducing at least one substance into the starting product or during its production, wherein a second semiconductor material is selected as the substance or a substance which can form the second semiconductor material with the first semiconductor material, wherein the second semiconductor material has a second band gap which is at least 0.5 eV from the first band gap, and wherein the second semiconductor material for forming a plurality of electrically conductive structures ( 5 ) in the area of grain boundaries ( 12 ) of the basic body ( 2 ), which structures ( 5 ) each have a top side ( 3 ) of the basic body ( 2 ) electrically contact and from the top ( 3 ) towards one of the top ( 3 ) opposite underside ( 4 ) and wherein the introduction is metered in such a way that at least 50%, preferably at least 80%, particularly preferably at least 90% of all grain boundaries ( 12 ) with the structures ( 5 ) are decorated from the second semiconductor material; Crystallizing or recrystallizing the starting product to the main body ( 2 ). Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Bandlücke größer gleich 1,7 eV, bevorzugt größer gleich 3 eV, besonders bevorzugt größer gleich 3,6 eV, insbesondere größer gleich 5 eV ist. A method according to claim 1, characterized in that the second band gap is greater than or equal to 1.7 eV, preferably greater than or equal to 3 eV, more preferably greater than or equal to 3.6 eV, in particular greater than or equal to 5 eV. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Ausgangsprodukt eine Schmelze ist. Method according to one of claims 1 to 2, characterized in that the starting material is a melt. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Kristallisieren mittels des Ribbon-Growth-on-Substrate-Verfahrens oder mittels des Vertical-Gradient-Freeze-Verfahrens erfolgt. Method according to one of claims 1 to 3, characterized in that the crystallization by means of the ribbon growth-on-substrate method or by means of the vertical gradient freeze method. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Kristallisieren mit einer Kristallisationsgeschwindigkeit größer gleich 4 mm/h, bevorzugt größer gleich 6 mm/h, besonders bevorzugt größer gleich 8 mm/h erfolgt. Method according to one of claims 1 to 4, characterized in that the crystallization takes place with a crystallization rate greater than or equal to 4 mm / h, preferably greater than or equal to 6 mm / h, particularly preferably greater than or equal to 8 mm / h. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass beim Kristallisieren oder Rekristallisieren des Ausgangsprodukts sich geordnete Wärmesenken ausbilden, um eine geometrische Struktur der Korngrenzen (12) einzustellen. Process according to one of Claims 1 to 5, characterized in that, upon crystallization or recrystallization of the starting product, ordered heat sinks form to provide a geometric structure of the grain boundaries ( 12 ). Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um ein Nitrid oder Carbonitrid handelt, vorzugsweise um AlN, GaN, BN, InN, TiN oder Si3N4. Method according to one of Claims 1 to 6, characterized in that the second semiconductor material is a nitride or carbonitride, preferably AlN, GaN, BN, InN, TiN or Si 3 N 4 . Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um einen II-VI-Halbleiter oder einen III-V-Halbleiter handelt, wobei es sich insbesondere um eine binäre, bevorzugt um eine ternäre, besonders bevorzugt um eine quaternäre Verbindung handelt. Method according to one of claims 1 to 6, characterized in that it is the second semiconductor material is a II-VI semiconductor or a III-V semiconductor, wherein it is in particular a binary, preferably a ternary, particularly preferred is a quaternary compound. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens eine Stoff ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Diamant, Graphit, GeC, SiC und BC. Method according to one of claims 1 to 6, characterized in that the at least one substance is selected from the group consisting of diamond, graphite, GeC, SiC and BC. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass ein Slurry-Gemisch auf ein Trägersubstrat aufgetragen wird, mit oder ohne klar definierten Korngrenzen, getrocknet, gesintert und rekristallisiert wird. A method according to claim 1, characterized in that a slurry mixture is applied to a carrier substrate, with or without clearly defined grain boundaries, dried, sintered and recrystallized. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) erhältlich durch ein Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, insbesondere nach Anspruch 10. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) obtainable by a process according to one of claims 1 to 9, in particular according to claim 10. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) umfassend einen Korngrenzen (12) aufweisenden Grundkörper (2) aus einem ersten Halbleitermaterial, vorzugsweise aus Si, wobei das erste Halbleitermaterial eine erste Bandlücke aufweist, wobei der Grundkörper (2) eine Oberseite (3) und eine der Oberseite (3) gegenüberliegende Unterseite (4) aufweist, wobei im Bereich der Korngrenzen (12) des Grundkörpers (2) eine Vielzahl von elektrisch leitenden Strukturen (5) vorliegt, welche Strukturen (5) jeweils die Oberseite (3) elektrisch kontaktieren und sich von der Oberseite (3) in Richtung der Unterseite (4) erstrecken, wobei die Strukturen (5) durch ein zweites Halbleitermaterial ausgebildet sind, das eine zweite Bandlücke aufweist, und wobei sich die zweite Bandlücke um mindestens 0,5 eV von der ersten Bandlücke unterscheidet. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) comprising a grain boundary ( 12 ) having basic body ( 2 ) of a first semiconductor material, preferably of Si, wherein the first semiconductor material has a first bandgap, wherein the main body ( 2 ) an upper side ( 3 ) and one of the top ( 3 ) opposite underside ( 4 ), wherein in the region of the grain boundaries ( 12 ) of the basic body ( 2 ) a plurality of electrically conductive structures ( 5 ), which structures ( 5 ) each the top ( 3 ) electrically contact and from the top ( 3 ) towards the bottom ( 4 ), the structures ( 5 ) are formed by a second semiconductor material having a second bandgap, and wherein the second bandgap differs by at least 0.5 eV from the first bandgap. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens 50%, bevorzugt mindestens 80%, besonders bevorzugt mindestens 90% aller Korngrenzen (12) mit den Strukturen (5) aus dem zweiten Halbleitermaterial dekoriert sind. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to any one of claims 11 to 12, characterized in that at least 50%, preferably at least 80%, particularly preferably at least 90% of all grain boundaries ( 12 ) with the structures ( 5 ) are decorated from the second semiconductor material. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Bandlücke größer gleich 1,7 eV, bevorzugt größer gleich 3 eV, besonders bevorzugt größer gleich 3,6 eV, insbesondere größer gleich 5 eV ist. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 13, characterized in that the second band gap is greater than or equal to 1.7 eV, preferably greater than or equal to 3 eV, more preferably greater than or equal to 3.6 eV, in particular greater than or equal to 5 eV. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass im Bereich von zumindest einer der Korngrenzen (12) des Grundkörpers (2) der mittlere Abstand zwischen zwei unmittelbar benachbarten Strukturen (5) kleiner gleich 5 •m, bevorzugt kleiner gleich 2 •m, besonders bevorzugt kleiner gleich 1 •m ist. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to any one of claims 11 to 14, characterized in that in the region of at least one of the grain boundaries ( 12 ) of the basic body ( 2 ) the mean distance between two immediately adjacent structures ( 5 ) less than or equal to 5 • m, preferably less than or equal to 2 • m, more preferably less than or equal to 1 • m. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass im Grundkörper (2) zumindest in einer Richtung der mittlere Abstand eines Korns (11) zu einem anderen, dessen übernächsten Nachbar bildenden Korn (11‘‘), kleiner gleich 2 mm, bevorzugt kleiner gleich 1 mm, besonders bevorzugt kleiner gleich 0,5 mm ist. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 15, characterized in that in the basic body ( 2 ) at least in one direction the mean distance of a grain ( 11 ) to another, whose next neighbor forming grain ( 11 '' ), less than or equal to 2 mm, preferably less than or equal to 1 mm, more preferably less than or equal to 0.5 mm. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um ein Nitrid oder Carbonitrid handelt, vorzugsweise um AlN, GaN, BN, InN, TiN oder Si3N4. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 16, characterized in that the second semiconductor material is a nitride or carbonitride, preferably AlN, GaN, BN, InN, TiN or Si 3 N 4 . Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem zweiten Halbleitermaterial um einen II-VI-Halbleiter oder einen III-V-Halbleiter handelt, wobei es sich insbesondere um eine binäre, bevorzugt um eine ternäre, besonders bevorzugt um eine quaternäre Verbindung handelt. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 16, characterized in that it is the second semiconductor material is a II-VI semiconductor or a III-V semiconductor, wherein it is in particular a binary, preferably a ternary, particularly preferred is a quaternary compound. Elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass es sich beim zweiten Halbleitermaterial um ein Material ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Diamant, GeC, SiC, ZnO, ZnS, SnC, GaP, InP, GaAs, AlGaAs, AlInAs, GaInP, BP, AlP, AlAs, GaP, CdSe, CdS, ZnO, ZnSe, ZnS, ZnTe, CuCl, SnS2, TiO2, Cu2O, SnO2, BaTiO3, SrTiO2, LiNbO3, GaSe, La2CuO4, NiO, InGaP, AlInAs, GaAsP, AlGaN, AlGaP, InGaN, CdZnTe, HgZnTe, GaInSb, GaInAsP, GaInAs, AlAs, ZnSe und Cu(In, Ga)Se2 handelt. Electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to any one of claims 11 to 16, characterized in that the second semiconductor material is a material selected from the group consisting of diamond, GeC, SiC, ZnO, ZnS, SnC, GaP, InP, GaAs, AlGaAs, AlInAs, GaInP , BP, AlP, AlAs, GaP, CdSe, CdS, ZnO, ZnSe, ZnS, ZnTe, CuCl, SnS 2 , TiO 2 , Cu 2 O, SnO 2 , BaTiO 3 , SrTiO 2 , LiNbO 3 , GaSe, La 2 CuO 4 , NiO, InGaP, AlInAs, GaAsP, AlGaN, AlGaP, InGaN, CdZnTe, HgZnTe, GaInSb, GaInAsP, GaInAs, AlAs, ZnSe, and Cu (In, Ga) Se 2 . Solarzelle (6) umfassend ein elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 19, besonders bevorzugt hergestellt mit einem Verfahren nach Anspruch 10, wobei ein die Oberseite (3) elektrisch kontaktierender Emitterkontakt (7) vorgesehen ist, der vorzugsweise auf der Oberseite (3) angeordnet ist. Solar cell ( 6 ) comprising an electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 19, particularly preferably produced by a method according to claim 10, wherein a top side ( 3 ) electrically contacting emitter contact ( 7 ) is provided, which is preferably on the top ( 3 ) is arranged. Solarzelle (6) nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Unterseite (4) eine Isolationsschicht (8) angeordnet ist, die zumindest für Minoritätsladungsträger im ersten Halbleitermaterial elektrisch isolierend ist, und dass ein Basiskontakt (9) vorgesehen ist, der abschnittsweise auf der Isolationsschicht (8), der Unterseite (4) gegenüberliegend angeordnet ist. Solar cell ( 6 ) according to claim 19, characterized in that on the underside ( 4 ) an insulation layer ( 8th ), which is electrically insulating, at least for minority charge carriers in the first semiconductor material, and in that a base contact ( 9 ) is provided, the sections on the insulation layer ( 8th ), the underside ( 4 ) is arranged opposite one another. Solarzelle (6) nach Anspruch 20 und 21, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der Isolationsschicht (8) um eine Heteroschicht handelt, welche sowohl mit dem ersten Halbleitermaterial als auch mit dem zweiten Halbleitermaterial einen Heteroübergang ausbildet. Solar cell ( 6 ) according to claim 20 and 21, characterized in that it is in the insulating layer ( 8th ) is a hetero-layer which forms a heterojunction with both the first semiconductor material and the second semiconductor material. Solarzelle nach (6) nach einem der Ansprüche 20 bis 22, dadurch gekennzeichnet, dass lokale Verbindungskontakte (10) vorgesehen sind, die die Isolationsschicht (8) durchsetzen und die Unterseite (4) des Grundkörpers (2) elektrisch nur an solchen Stellen kontaktieren, die aus dem ersten Halbleitermaterial bestehen, wobei die lokalen Verbindungskontakte (10) mit dem Basiskontakt (9) elektrisch verbunden sind. Solar cell according to ( 6 ) according to one of claims 20 to 22, characterized in that local connection contacts ( 10 ) are provided, the insulating layer ( 8th ) and the underside ( 4 ) of the basic body ( 2 ) electrically contact only at those locations which consist of the first semiconductor material, wherein the local connection contacts ( 10 ) with the basic contact ( 9 ) are electrically connected. Solarzelle (6) umfassend ein elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 19, insbesondere hergestellt durch das Verfahren nach Anspruch 10, wobei im Grundkörper (2) ein Emitter (13) im Bereich der Oberseite (3) und ein weiterer Emitter (13‘) im Bereich der Unterseite (4) vorgesehen sind sowie eine zwischen den Emittern (13, 13‘) angeordnete Basis (16), wobei die Emitter (13, 13‘) durch die leitenden Strukturen (5) miteinander elektrisch leitend verbunden sind. Solar cell ( 6 ) comprising an electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 19, in particular produced by the process according to claim 10, wherein in the main body ( 2 ) an emitter ( 13 ) in the area of the upper side ( 3 ) and another emitter ( 13 ' ) in the area of the underside ( 4 ) and between the issuers ( 13 . 13 ' ) base ( 16 ), the emitters ( 13 . 13 ' ) through the conductive structures ( 5 ) are electrically connected to each other. Solarzelle (6) nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Emitterkontakt (7) vorgesehen ist, der die Oberseite (3) oder die Unterseite (4) elektrisch kontaktiert und auf einer Seite der Solarzelle (6) im Bereich der Oberseite (3) oder der Unterseite (4) des Grundkörpers (2) angeordnet ist, und dass mindestens ein Basiskontakt (9) vorgesehen ist, der nur die Basis (16) elektrisch kontaktiert und auf derselben Seite der Solarzelle (6) wie der mindestens eine Emitterkontakt (7) angeordnet ist oder auf einer gegenüberliegenden Seite der Solarzelle (6). Solar cell ( 6 ) according to claim 24, characterized in that at least one emitter contact ( 7 ) is provided, the top ( 3 ) or the underside ( 4 ) electrically contacted and on one side of the solar cell ( 6 ) in the area of the upper side ( 3 ) or the underside ( 4 ) of the basic body ( 2 ) and that at least one base contact ( 9 ), which is only the basis ( 16 ) and electrically contacted on the same side of the solar cell ( 6 ) like the at least one emitter contact ( 7 ) or on an opposite side of the solar cell ( 6 ). Detektor umfassend ein elektrisch funktionalisiertes Halbleiterelement (1) nach einem der Ansprüche 11 bis 19, insbesondere hergestellt mit einem Verfahren nach Anspruch 10, wobei ein die Oberseite (3) elektrisch kontaktierender Emitterkontakt (7) vorgesehen ist, der vorzugsweise auf der Oberseite (3) angeordnet ist. Detector comprising an electrically functionalized semiconductor element ( 1 ) according to one of claims 11 to 19, in particular produced by a method according to claim 10, wherein a top side ( 3 ) electrically contacting emitter contact ( 7 ) is provided, which is preferably on the top ( 3 ) is arranged. Detektor nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontakte am Emitter ausgeführt sind durch kleine quadratische nicht miteinander verbundene Kontakte (Pixel) mi einer Seitenlänge, die je nach Anwendungsgebiet eingestellt werden kann, bevorzugt kleiner 2 mm, besonders bevorzugt kleiner 0,5 mm, insbesondere kleiner 200 Mikrometer. Detector according to Claim 26, characterized in that the contacts on the emitter are made up of small square unconnected contacts (pixels) of one side length which can be adjusted according to the field of application, preferably less than 2 mm, more preferably less than 0.5 mm, in particular less than 200 micrometers.
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