DE102015110975B4 - Contacting structure and a method for detecting an offset between metallization on photovoltaic modules - Google Patents
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Abstract
Kontaktierungsstruktur zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen auf einer Rückseite eines Photovoltaikmoduls (700), mit folgenden Merkmalen:
eine erste Metallisierungsstruktur (110), die in zumindest einem Bereich (112) auf der Rückseite des Photovoltaikmoduls (700) ausgebildet ist und die, in einer Längsrichtung (L), eine längliche Form mit einer ersten geradlinigen Begrenzung (131) in der Längsrichtung (L) aufweist, wobei die erste geradlinige Begrenzung (131) nicht-orthogonal zu der Längsrichtung (L) ist;
eine zweite Metallisierungsstruktur (120), die zumindest eine längliche Öffnung (122) in der Längsrichtung (L) aufweist, wobei die längliche Öffnung (122) eine zweite geradlinige Begrenzung (132) in der Längsrichtung (L) aufweist und senkrecht zu der Längsrichtung (L) die erste Metallisierungsstruktur (110) und die zweite Metallisierungsstruktur (120) in zumindest einem Überlappungsbereich (125) einander überlappen; und
zumindest einen Spalt (130), der in der Längsrichtung (L) zwischen der ersten geradlinigen Begrenzung (131) und der zweiten geradlinigen Begrenzung (132) ausgebildet ist, sodass ein Versatz zwischen der ersten Metallisierungsstruktur (110) und der zweiten Metallisierungsstruktur (120) senkrecht zur Längsrichtung (L) aus einer Formänderung des Spaltes (130) feststellbar ist.
Contacting structure for detecting an offset between metallization structures on a back side of a photovoltaic module (700), having the following features:
a first metallization structure (110) which is formed in at least one region (112) on the back side of the photovoltaic module (700) and which, in a longitudinal direction (L), has an elongated shape with a first rectilinear boundary (131) in the longitudinal direction ( L), wherein the first rectilinear boundary (131) is non-orthogonal to the longitudinal direction (L);
a second metallization structure (120) having at least one elongated opening (122) in the longitudinal direction (L), the elongated opening (122) having a second rectilinear boundary (132) in the longitudinal direction (L) and perpendicular to the longitudinal direction (L) L) the first metallization structure (110) and the second metallization structure (120) overlap one another in at least one overlap area (125); and
at least one gap (130) formed in the longitudinal direction (L) between the first rectilinear boundary (131) and the second rectilinear boundary (132) such that an offset between the first metallization structure (110) and the second metallization structure (120) perpendicular to the longitudinal direction (L) from a change in shape of the gap (130) is detectable.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Kontaktierungsstruktur und ein Verfahren zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen auf einer Rückseite eines Photovoltaikmoduls und insbesondere auf ein Rückseiten-Layout zur effektiven Druck-Drift-Bestimmung parallel und senkrecht zu Lötband-Ausrichtungen in Rückseiteninspektionssystemen.The present invention relates to a contacting structure and method for detecting an offset between metallization structures on a back side of a photovoltaic module, and more particularly to a backside layout for effective pressure drift determination parallel and perpendicular to solder band orientations in backside inspection systems.
Hintergrundbackground
An der Rückseite von Photovoltaikmodulen wird eine im Allgemeinen ganzflächige Metallbeschichtung vorgenommen, wobei die Metallisierung in der Regel mehrere Schichten umfasst und an Kontaktflächen oder Kontaktbereichen kontaktiert wird (beispielsweise über sogenannte Lötbänder). Diese Kontaktflächen sind über die Rückseite des Photovoltaikmoduls verteilt und weisen beispielsweise Silber auf, welches eine gute Lötkontaktierung erlaubt.On the back of photovoltaic modules, a generally full-surface metal coating is made, the metallization usually comprises several layers and is contacted at contact surfaces or contact areas (for example via so-called solder strips). These contact surfaces are distributed over the back of the photovoltaic module and have, for example, silver, which allows a good Lötkontaktierung.
Auch aus Kostengründen wird das silberhaltige Material jedoch nicht ganzflächig auf der Rückseite von Photovoltaikmodulen aufgebracht, sondern lediglich an jenen Stellen, wo eine Kontaktierung vorgesehen ist. Die verbleibende Fläche wird typischerweise mit einer aluminiumhaltigen Schicht überzogen. Diese Schichten können beispielsweise in einem Siebdruck unter Nutzung entsprechender Pasten (d.h. aluminiumhaltige bzw. silberhaltige Paste) aufgetragen werden, wobei der Aluminium druck jene Stellen freilässt, an welchen Lötkontaktierungen (über die Silberbereiche) vorgesehen sind.However, for cost reasons, the silver-containing material is not applied over the entire surface on the back of photovoltaic modules, but only in those places where a contact is provided. The remaining area is typically coated with an aluminum-containing layer. For example, these layers may be screen printed using appropriate pastes (i.e., aluminum-containing paste), the aluminum print leaving exposed those locations where solder bumps (over the silver areas) are provided.
Dazu werden in konventionellen Systemen zunächst die Silberkontaktbereiche auf der Rückseite des Photovoltaikmoduls ausgebildet und anschließend eine Aluminiumbeschichtung vorgenommen, die in den Bereichen, wo das Silber aufgebracht wurde, Öffnungen enthält. Für eine zuverlässige Funktionsweise des Photovoltaikmoduls ist es jedoch wichtig, dass die Aluminiumschicht den Silberbereich möglichst beidseitig kontaktiert. Wenn beispielsweise lediglich eine einseitige Kontaktierung des Silberbereiches durch das Aluminium erfolgt, kann dies zu einer erhöhten Degradation der Photovoltaikzelle führen, was verhindert werden soll.For this purpose, in conventional systems, first the silver contact areas are formed on the back side of the photovoltaic module and then an aluminum coating is carried out, which contains openings in the areas where the silver was applied. For a reliable operation of the photovoltaic module, however, it is important that the aluminum layer contacts the silver region on both sides as far as possible. If, for example, only one-sided contacting of the silver region by the aluminum takes place, this can lead to an increased degradation of the photovoltaic cell, which should be prevented.
Aus diesem Grund ist es wichtig, dass bei dem Schichtauftrag kein Versatz (oder Drift) zwischen der Silberschicht und der Aluminiumschicht auftritt. Bei einem prozessgerechten Auftrag soll der Silberbereich beidseitig von der Aluminiumschicht kontaktiert werden.For this reason, it is important that no offset (or drift) occurs between the silver layer and the aluminum layer during the layer application. In a process-oriented order, the silver area should be contacted by the aluminum layer on both sides.
Um dies während der Herstellung der Photovoltaikmodule zu überwachen, erfolgt bei konventionellen Rückseiteninspektionssystemen eine Drift-Bestimmung mittels Dreiecksformen, die einen relativen Versatz/Drift bei der Bildung der Schichten anzeigen. Wenn ein solcher Versatz an den Dreiecksstrukturen festgestellt wird, besteht die Gefahr, dass der erforderliche Aluminium-Silber-Überlapp nicht ausreichend vorhanden ist und der Herstellungsprozess kann entsprechend geändert werden.To monitor this during fabrication of the photovoltaic modules, in conventional backside inspection systems, a drift determination using triangular shapes indicating a relative offset / drift in the formation of the layers occurs. When such an offset is detected on the triangular structures, there is a risk that the required aluminum-silver overlap is insufficient and the manufacturing process can be changed accordingly.
In der
Die
Die
Zur Bestimmung des Versatzes werden die beiden Randkanten
Diese konventionelle Vorgehensweise ist jedoch fehleranfällig. Wenn beispielsweise die Aluminiumschicht
Die
Die
Zwei dreiecksförmige Randstrukturen
In dem in der
Die relativ weite Entfernung der Dreiecksstrukturen am Rand zu den eigentlich zu überprüfenden Kontaktbereichen in Innern kann somit bei konventionellen Systemen zu weiteren Fehlern führen. Daher sind die bisherigen Systeme zur Feststellung einer Drift zwischen den beiden Metallisierungsschichten unzureichend und Alternativen sind wünsehenswert. The relatively long distance of the triangular structures at the edge to the actually to be examined contact areas in the interior can thus lead to further errors in conventional systems. Therefore, the prior systems for detecting drift between the two metallization layers are inadequate and alternatives are desirable.
Der vorliegenden Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, eine Kontaktierungsstruktur und ein Verfahren zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen zu schaffen, die eine zuverlässige Abbildung des erforderlichen Überlapps zwischen den beiden Metallisierungsstrukturen erlauben.The present invention is therefore based on the object of providing a contacting structure and a method for detecting an offset between metallization structures, which allow a reliable imaging of the required overlap between the two metallization structures.
ZusammenfassungSummary
Die oben genannte technische Aufgabe wird durch eine Kontaktierungsstruktur nach Anspruch 1, ein Verfahren zu deren Herstellung nach Anspruch 9 und ein Verfahren zur Feststellung eines Versatzes nach Anspruch 10 gelöst.The above-mentioned technical object is achieved by a contacting structure according to
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Kontaktierungsstruktur zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen auf einer Rückseite eines Photovoltaikmoduls. Die Kontaktierungsstruktur umfasst eine erste Metallisierungsstruktur, die in zumindest einem Bereich auf der Rückseite des Photovoltaikmoduls ausgebildet ist und die, in einer Längsrichtung, eine längliche Form mit einer ersten geradlinigen Begrenzung in der Längsrichtung aufweist, wobei die erste geradlinige Begrenzung nicht-orthogonal zu der Längsrichtung ist. Die Kontaktierungsstruktur umfasst weiter eine zweite Metallisierungsstruktur, die zumindest eine längliche Öffnung in der Längsrichtung aufweist, wobei die längliche Öffnung eine zweite geradlinige Begrenzung in der Längsrichtung aufweist und senkrecht zu der Längsrichtung die erste Metallisierungsstruktur und die zweite Metallisierungsstruktur in zumindest einem Überlappungsbereich einander überlappen. Außerdem umfasst die Kontaktierungsstruktur zumindest einen Spalt, der in der Längsrichtung zwischen der ersten geradlinigen Begrenzung und der zweiten geradlinigen Begrenzung ausgebildet ist, sodass ein Versatz zwischen der ersten Metallisierungsstruktur und der zweiten Metallisierungsstruktur senkrecht zur Längsrichtung aus einer Formänderung des Spaltes feststellbar ist.The present invention relates to a contacting structure for detecting an offset between metallization structures on a back side of a photovoltaic module. The contacting structure comprises a first metallization structure formed in at least a portion on the back side of the photovoltaic module and having, in a longitudinal direction, an elongate shape having a first linear boundary in the longitudinal direction, the first rectilinear boundary being non-orthogonal to the longitudinal direction is. The contacting structure further comprises a second metallization structure having at least one elongated opening in the longitudinal direction, the elongate opening having a second rectilinear boundary in the longitudinal direction and perpendicular to the longitudinal direction the first metallization structure and the second metallization structure in FIG overlap at least one overlap area. In addition, the contacting structure comprises at least one gap formed in the longitudinal direction between the first rectilinear boundary and the second rectilinear boundary, so that an offset between the first metallization structure and the second metallization structure perpendicular to the longitudinal direction can be determined from a change in the shape of the gap.
Der Begriff Metallisierungsstruktur soll im Rahmen der vorliegenden Erfindung weit ausgelegt werden. Insbesondere kann die Metallisierungsstruktur als eine Schicht ausgebildet sein. Es sollen aber auch jene Fälle umfasst sein, wo die Metallisierungsstruktur mehrere Abschnitte oder Teile umfasst, die direkt oder indirekt (über weitere Metallisierungen) miteinander verbunden sind oder die keine elektrische Verbindung zueinander aufweisen. Die erste Metallisierungsstruktur und die zweite Metallisierungsstruktur können insbesondere schichtförmig mit Schichtdicken ausgebildet werden, die in einem Bereich von beispielsweise 10 µm bis einigen 100 µm liegen können. Die Schichten können beispielsweise mit Hilfe eines Siebdruckes oder einer anderen Dickfilmtechnologie auf die Rückseite des Photovoltaikmoduls aufgebracht werden. Die erste Metallisierungsstruktur kann beispielsweise mittels einer silberhaltigen Siebdruckpaste und die zweite Metallisierungsstruktur mittels einer aluminiumhaltigen Siebdruckpaste auf die Rückseite aufgedruckt werden.The term metallization structure is intended to be interpreted broadly in the context of the present invention. In particular, the metallization structure may be formed as a layer. But it should also be included those cases where the metallization structure comprises several sections or parts that are directly or indirectly (via other metallizations) connected to each other or have no electrical connection to each other. The first metallization structure and the second metallization structure may in particular be formed in layer form with layer thicknesses which may be in a range of, for example, 10 μm to a few 100 μm. For example, the layers may be applied to the back of the photovoltaic module using screen printing or other thick film technology. The first metallization structure can, for example, be printed on the reverse side by means of a silver-containing screen printing paste and the second metallization structure by means of an aluminum-containing screen printing paste.
Die längliche Form des Bereiches der ersten Metallisierungsstruktur kann beispielsweise derart definiert werden, dass der Bereich eine Längsrichtung und eine dazu orthogonale Querrichtung aufweist, wobei die Längsrichtung länger ist als die Querrichtung (oder zumindest doppelt so lang ist wie die Querrichtung).The elongated shape of the region of the first metallization structure may be defined, for example, such that the region has a longitudinal direction and a transverse direction orthogonal thereto, wherein the longitudinal direction is longer than the transverse direction (or at least twice as long as the transverse direction).
Die Verwendung von Geraden bei den Begrenzungen erlaubt eine leichte und schnelle Bestimmung durch den Computer. Gekrümmte Linien, wie sie beispielsweise von konventionellen Systemen genutzt werden (die obere/untere Begrenzung in der
Die zweite geradlinige Begrenzung kann orthogonal oder nicht-orthogonal zu der Längsrichtung verlaufen. Bei weiteren Ausführungsbeispielen verlaufen beide geradlinigen Begrenzungen mit einem definierten Abstand parallel zueinander (und nicht-orthogonal zu der Längsrichtung).The second rectilinear boundary may be orthogonal or non-orthogonal to the longitudinal direction. In further embodiments, both rectilinear boundaries extend at a defined distance parallel to each other (and non-orthogonal to the longitudinal direction).
Optional kann ein Randbereich (in der Längsrichtung) der ersten Metallisierungsstruktur zumindest eine erste Dreiecksform aufweisen und ein Randbereich (in der Längsrichtung) der zweiten Metallisierungsstruktur zumindest eine zweite Dreiecksform aufweisen. Der zumindest eine Spalt kann zwischen der ersten Dreiecksform und der zweiten Dreiecksform ausgebildet sein, sodass Dreiecksspitzen beider Dreiecksformen bei einem vorhandenen Versatz zwischen der ersten Metallisierungsstruktur und der zweiten Metallisierungsstruktur (z.B. quer zur Längsrichtung = horizontal) zueinander versetzt sind.Optionally, an edge region (in the longitudinal direction) of the first metallization structure may have at least a first triangular shape and an edge region (in the longitudinal direction) of the second metallization structure may have at least a second triangular shape. The at least one gap may be formed between the first triangular shape and the second triangular shape so that triangle peaks of both triangular shapes are offset from each other at an existing offset between the first metallization structure and the second metallization structure (e.g., transverse to the longitudinal direction = horizontal).
Beispielsweise sind beidseitig von den Dreiecksspitzen der ersten Dreiecksform und der zweiten Dreiecksform jeweils Schenkel ausgebildet, die einen Winkel einschließen, der beispielsweise so gewählt ist, dass die Schenkel der ersten Dreiecksform parallel verlaufen zu den Schenkeln der zweiten Dreiecksform. Die Versatzbestimmung kann entweder durch eine Bestimmung des Abstandes der parallel verlaufenden Schenkel erfolgen, wobei eine Abweichung von einem vorbestimmten Abstand der Schenkel einen Versatz anzeigt, oder die relative Positionen der Dreiecksspitzen der ersten Dreiecksform und der zweiten Dreiecksform kann genutzt werden, um einen relativen Versatz zwischen der ersten Metallisierungsstruktur und der zweiten Metallisierungsstruktur festzustellen. Dabei kann sowohl ein vertikaler Abstand zwischen den Dreiecksspitzen als auch ein relativer horizontaler Versatz der beiden Dreiecksspitzen ermittelt werden, um einen Versatz zuverlässig zu detektieren.For example, on both sides of the triangular tips of the first triangular shape and the second triangular shape each leg is formed, which include an angle, for example, is selected so that the legs of the first triangular shape parallel to the legs of the second triangular shape. The offset determination may be either by determining the distance of the parallel legs, wherein a deviation from a predetermined distance of the legs indicates an offset, or the relative positions of the triangle peaks of the first triangular shape and the second triangular shape may be used to provide a relative offset between determine the first metallization structure and the second metallization structure. In this case, both a vertical distance between the triangular points and a relative horizontal offset of the two triangular points can be determined in order to reliably detect an offset.
Bei weiteren Ausführungsbeispielen kann der zumindest eine Spalt einen ersten Spalt und einen zweiten Spalt umfassen, wobei der erste Spalt und der zweite Spalt an gegenüberliegenden Seiten des zumindest einen Bereichs der ersten Metallisierungsstruktur und der zumindest einen länglichen Öffnung der zweiten Metallisierungsstruktur ausgebildet sind. Das Vorhandensein von zwei Spalten an gegenüberliegenden Seiten bietet den Vorteil, dass beide Spalten genutzt werden können, um einen relativen Versatz zwischen den Metallisierungsstrukturen festzustellen. Die zweite Messung erhöht entweder die Feststellgenauigkeit (z.B. über eine Mittelung der Ergebnisse) oder kann genutzt werden, um ebenfalls eine relative Drehung zwischen der ersten und der zweiten Metallisierungsstruktur festzustellen.In further embodiments, the at least one gap may include a first gap and a second gap, wherein the first gap and the second gap are formed on opposite sides of the at least one portion of the first metallization structure and the at least one elongated aperture of the second metallization structure. The presence of two columns on opposite sides offers the advantage that both columns can be used to detect a relative offset between the metallization structures. The second measurement either increases the detection accuracy (e.g., via an averaging of the results) or can be used to also detect relative rotation between the first and second metallization structures.
Bei weiteren Ausführungsbeispielen kann der zumindest eine Bereich der ersten Metallisierungsstruktur zumindest vier Bereiche umfassen und die zweite Metallisierungsstruktur kann zumindest vier Öffnungen umfassen, wobei an jedem der vier Bereiche und der zumindest vier Öffnungen jeweils zumindest ein Spalt ausgebildet ist. Bei weiteren Ausführungsbeispielen kann die erste Metallisierungsstruktur weitere Bereiche umfassen und die zweite Metallisierungsstruktur kann ebenfalls weitere Öffnungen umfassen, wobei an den weiteren Bereichen und den weiteren Öffnungen keine Spalte mit geradlinigen Begrenzungen ausgebildet sind.In further embodiments, the at least one region of the first metallization structure may comprise at least four regions, and the second metallization structure may comprise at least four openings, wherein at least one gap is formed at each of the four regions and the at least four openings. In further embodiments, the first metallization structure may comprise further regions and the second metallization structure may also comprise further openings, wherein at the further regions and the further openings no column are formed with rectilinear boundaries.
Die zumindest vier Bereiche können beispielsweise entlang von Stromzuführungsschienen (sogenannte Busbars) ausgebildet sein, wobei die Stromzuführungsschienen parallel zueinander verlaufen und durch mehrere getrennte Kontaktbereiche definiert werden können. Beispielsweise können auf der Rückseite des Photovoltaikmoduls drei Busbarlinien ausgebildet sein, entlang derer beispielsweise jeweils 6 Kontaktbereiche ausgebildet sein können. So ergeben sich insgesamt 18 Kontaktbereiche, von denen beispielsweise vier genutzt werden, um eine Untersuchung hinsichtlich des relativen Versatzes der ersten und zweiten Metallisierungsstruktur durchzuführen. Bei weiteren Ausführungsbeispielen ist es ebenfalls möglich, mehr als vier oder weniger als vier Kontaktbereiche zu untersuchen. Ebenso möglich ist es, dass alle Kontaktbereiche, die geradlinigen Begrenzungen aufweisen und eine Auswerteeinheit beispielhaften aus den Kontaktbereichen eine Anzahl von zu untersuchenden Bereichen auswählt, die hinsichtlich des Versatzes untersucht werden. Somit kann mit einem möglichst geringen Rechenaufwand trotzdem eine hohe Zuverlässigkeit bei der Feststellung des Versatzes erreicht werden.The at least four regions can be formed, for example, along power supply rails (so-called busbars), wherein the power supply rails run parallel to one another and can be defined by a plurality of separate contact regions. For example, three busbar lines can be formed on the back side of the photovoltaic module, along which, for example, 6 contact regions can be formed in each case. This results in a total of 18 contact areas, of which four are used, for example, to conduct a study regarding the relative offset of the first and second metallization structure. In further embodiments, it is also possible to examine more than four or less than four contact areas. It is also possible that all contact areas which have rectilinear boundaries and an evaluation unit selects, for example from the contact areas, a number of areas to be examined, which are examined with regard to the offset. Thus, with a minimum of computational effort nevertheless a high reliability can be achieved in the determination of the offset.
Die erste Metallisierungsstruktur kann beispielsweise Silber und die zweite Metallisierungsstruktur kann beispielsweise Aluminium aufweisen. Der zumindest eine Bereich kann einen Lötbereich für eine Rückseitenkontaktierung des Photovoltaikmoduls bilden.The first metallization structure may be, for example, silver and the second metallization structure may, for example, comprise aluminum. The at least one area may form a soldering area for back contact of the photovoltaic module.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich ebenfalls auf ein Photovoltaikmodul mit zumindest einer in einem Halbleitersubstrat ausgebildeten Photovoltaikzelle und einer der zuvor beschriebenen Kontaktierungsstruktur.The present invention also relates to a photovoltaic module having at least one photovoltaic cell formed in a semiconductor substrate and one of the contacting structure described above.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich ebenfalls auf ein Verfahren zur Herstellung einer Kontaktierungsstruktur für eine Rückseite eines Photovoltaikmoduls. Das Verfahren umfasst ein Ausbilden einer ersten Metallisierungsstruktur in zumindest einem Bereich auf der Rückseite des Photovoltaikmoduls, wobei die erste Metallisierungsstruktur eine längliche Form in einer Längsrichtung und eine erste geradlinige Begrenzung in der Längsrichtung aufweist, wobei die erste geradlinige Begrenzung nicht-orthogonal zur Längsrichtung ist. Außerdem umfasst das Verfahren ein Ausbilden einer zweiten Metallisierungsstruktur mit zumindest einer länglichen Öffnung, wobei die längliche Öffnung eine zweite geradlinige Begrenzung in der Längsrichtung aufweist. Das Ausbilden der ersten Metallisierungsstruktur und der zweiten Metallisierungsstruktur erfolgt derart, dass senkrecht zur Längsrichtung die erste Metallisierungsstruktur und die zweite Metallisierungsstruktur in zumindest einem Überlappungsbereich einander überlappen und zumindest ein Spalt in der Längsrichtung zwischen der ersten geradlinigen Begrenzung und der zweiten geradlinigen Begrenzung ausgebildet wird.The present invention also relates to a method for producing a contacting structure for a back side of a photovoltaic module. The method comprises forming a first metallization structure in at least one region on the back side of the photovoltaic module, wherein the first metallization structure has an elongate shape in a longitudinal direction and a first linear boundary in the longitudinal direction, wherein the first rectilinear boundary is non-orthogonal to the longitudinal direction. In addition, the method includes forming a second metallization structure having at least one elongate opening, the elongate opening having a second rectilinear boundary in the longitudinal direction. The first metallization structure and the second metallization structure are formed such that, perpendicular to the longitudinal direction, the first metallization structure and the second metallization structure overlap one another in at least one overlap region and at least one gap is formed in the longitudinal direction between the first straightline boundary and the second rectilinear boundary.
Beispielsweise kann die erste Metallisierungsstruktur mittels eines Siebdruckverfahrens unter Nutzung einer silberhaltigen Paste aufgebracht werden. Die zweite Metallisierungsstruktur kann unter Nutzung einer aluminiumhaltigen Paste ebenfalls mittels eines Siebdruckverfahrens auf der Rückseite des Photovoltaikmoduls aufgebracht werden. Beispielsweise kann zunächst die silberhaltige Paste aufgebracht werden, um zunächst die erste Metallisierungsstruktur zu bilden. Daran anschließend kann die zweite Metallisierungsstruktur unter Nutzung der aluminiumhaltigen Paste aufgebracht wird.For example, the first metallization structure can be applied by means of a screen printing process using a silver-containing paste. The second metallization structure can also be applied by means of a screen-printing process on the back of the photovoltaic module using an aluminum-containing paste. For example, the silver-containing paste may first be applied to first form the first metallization structure. Subsequently, the second metallization structure can be applied using the aluminum-containing paste.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich ebenfalls auf ein Verfahren zum Feststellen eines relativen Versatzes zwischen einer ersten Metallisierungsstruktur einer Rückseitenmetallisierung eines Photovoltaikmoduls und einer zweiten Metallisierungsstruktur. Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte: Bestimmen einer ersten Begrenzungslinie der ersten Metallisierungsstruktur; Bestimmen einer zweiten Begrenzungslinie einer zweiten Metallisierungsstruktur; Ermitteln eines Abstandes zwischen der ersten Begrenzungslinie der ersten Metallisierungsstruktur und der zweiten Begrenzungslinie der zweiten Metallisierungsstruktur; und Feststellen eines relativen Versatzes zwischen der ersten Metallisierungsstruktur und der zweiten Metallisierungsstruktur basierend auf dem ermittelten Abstand. Dieses Verfahren kann auf einem Computer (oder allgemein eine Auswerteeinheit) implementiert sein.The present invention also relates to a method for determining a relative offset between a first metallization structure of a backside metallization of a photovoltaic module and a second metallization structure. The method comprises the following steps: determining a first boundary line of the first metallization structure; Determining a second boundary line of a second metallization structure; Determining a distance between the first boundary line of the first metallization structure and the second boundary line of the second metallization structure; and determining a relative offset between the first metallization structure and the second metallization structure based on the determined distance. This method can be implemented on a computer (or generally an evaluation unit).
Die vorliegende Erfindung bezieht sich ebenfalls auf ein Computerprogrammprodukt mit einem darauf gespeicherten Computerprogramm, welches ausgebildet ist, um das Verfahren zum Feststellen eines relativen Versatzes zwischen einer ersten und einer zweiten Metallisierungsstruktur auszuführen, wenn es auf einem Computer läuft.The present invention also relates to a computer program product having a computer program stored thereon configured to perform the method of determining a relative offset between a first and a second metallization structure when running on a computer.
Figurenlistelist of figures
Die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden besser verstanden von der folgenden detaillierten Beschreibung und den beiliegenden Zeichnungen der unterschiedlichen Ausführungsbeispiele, die jedoch nicht so verstanden werden sollten, dass sie die Offenbarung auf die spezifischen Ausführungsformen einschränkt, sondern lediglich der Erklärung und dem Verständnis dienen.
-
1 zeigt eine Kontaktierungsstruktur zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen auf der Rückseite von Photovoltaikmodulen gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. -
2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel mit beidseitigen Dreieckstrukturen in Endbereichen einer länglichen Öffnung in der zweiten Metallisierungsstruktur. -
3 zeigt ein Ausführungsbeispiel für eine Vielzahl von Kontaktbereichen auf der Rückseite eines Photovoltaikmoduls. -
4 zeigt ein Flussdiagram eines Verfahrens zur Herstellung einer Kontaktierungsstruktur nach einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. -
5 zeigt ein Flussdiagram eines Verfahrens zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen auf der Rückseite von Photovoltaikmodulen gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. -
6A-C veranschaulichen eine Fehlinterpretation bei der Nutzung von konventionellen Dreiecksstrukturen zur Feststellung eines Versatzes zwischen Metallisierungsstrukturen. -
7 veranschaulicht eine weitere Fehlinterpretation bei konventionellen Systemen.
-
1 shows a contacting structure for detecting an offset between metallization structures on the back of photovoltaic modules according to an embodiment of the present invention. -
2 shows a further embodiment with triangular structures on both sides in end regions of an elongated opening in the second metallization structure. -
3 shows an embodiment for a plurality of contact areas on the back of a photovoltaic module. -
4 shows a flowchart of a method for producing a contacting structure according to an embodiment of the present invention. -
5 FIG. 12 shows a flow diagram of a method for detecting an offset between metallization structures on the back side of photovoltaic modules according to an exemplary embodiment of the present invention. -
6A-C illustrate a misinterpretation in the use of conventional triangular structures to detect an offset between metallization structures. -
7 illustrates another misinterpretation in conventional systems.
Detaillierte BeschreibungDetailed description
Die
Der Spalt
Bei dem in der
Die Winkel relativ zur Horizontalen (senkrecht zur Längsrichtung
Der Spalt an der gegenüberliegenden Seite kann beliebig sein (beispielsweise wie in der
Die genutzten geradlinigen Begrenzungen sind vorteilhaft, da Geraden mittels einer computerisierten Auswertung (z.B. unter Nutzung einer Mustererkennung) leicht feststellbar sind. Außerdem ist ein Abstand zwischen Geraden leichter definierbar, als relativ zu gekrümmten Begrenzungslinien.The straight-line limitations used are advantageous because straight lines are easily detectable by computerized evaluation (e.g., using pattern recognition). In addition, a distance between straight lines is easier to define than relative to curved boundary lines.
Die oberen geradlinigen Begrenzungen
Die Dreiecke können beispielsweise derart gebildet werden, dass deren Spitzen
Eine horizontale Verschiebung der zweiten Metallisierungsstruktur
Die gegenüberliegende zweite, untere Dreiecksstruktur ist in der
Der eingeschlossene Winkel zwischen der ersten (zweiten) und dritten (vierten) unteren geradlinigen Begrenzung
Die gezeigten beidseitigen Dreiecksstrukturen an der länglichen Öffnung
Die Überlappungsbereiche
Bei weiteren Ausführungsbeispielen können aber auch sämtliche Kontaktbereiche
Das Material der ersten Metallisierungsschicht
Dieses Verfahren definiert eine Rückseiteninspektion und kann beispielsweise auf einem Computer (oder allgemein eine Auswerteeinheit) implementiert sein. Der Computer kann beispielsweise zumindest einen Prozessor, einen nicht-volatilen Speicher (zum Speichern eines entsprechenden Computerprogramms), einen Bus zur Datenübertragung und eine Eingabe/Ausgabeschnittstelle (zum Ein- und Ausgeben von Daten) aufweisen.This method defines a backside inspection and can be done, for example, on a computer (or generally an evaluation unit). be implemented. For example, the computer may include at least one processor, a nonvolatile memory (for storing a corresponding computer program), a bus for data transmission, and an input / output interface (for inputting and outputting data).
Um dieses Verfahren zur Rückseiteninspektion umzusetzen, können beispielsweise automatisch Bilder der Kontaktbereiche während der Fertigung aufgenommen werden. Die Auswerteeinheit wertet die aufgenommen Bilder aus. Bei der Untersuchung kann eine Mustererkennung eingesetzt werden, die gezielt die geradlinigen Begrenzungslinien
Alle in den Figuren beschriebenen Merkmale der Kontaktierungsstruktur können ebenfalls in dem Herstellungsverfahren bzw. in dem Verfahren zur Feststellung eines relativen Versatzes als weitere optionale Schritte implementiert werden. Auf eine erneute Beschreibung ist hier nicht erforderlich.All of the features of the contacting structure described in the figures can also be implemented in the manufacturing method and in the method for determining a relative offset as further optional steps. On a re-description is not required here.
Vorteile von Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung können wie folgt zusammengefasst werden.Advantages of embodiments of the present invention may be summarized as follows.
Einerseits ist eine lokale Feststellung einer Drift zwischen der beispielhaften Aluminiumschicht und der Silberschicht feststellbar. Insbesondere muss nicht von einer Drift in einem Randbereich auf einen Innenbereich geschlossen werden. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass vorhandene Unregelmäßigkeiten in einem Randbereich nicht zu einer Fehlfeststellung führen können, wie sie beispielsweise in der
Somit ist der Nachteil der konventionellen Systeme, der zu Falschaussagen wegen Unebenheiten in dem Randbereich der Aluminiumschicht führte, durch die vorliegende Erfindung überwunden, da der Rand nicht untersucht zu werden braucht.Thus, the disadvantage of the conventional systems, which led to false statements due to unevenness in the edge region of the aluminum layer, is overcome by the present invention, since the edge need not be examined.
Aspekte der vorliegenden Erfindung können auch wie folgt zusammengefasst werden.Aspects of the present invention may also be summarized as follows.
Die Druckversatzbestimmung erfolgt durch zwei parallele Kanten am Rückdruck
Das neue Rückseiten-Layout an den beispielhaften vier Kontaktbereichen (Pads) lässt sich durch eine einfache Anpassung des Druckes auf der Rückseite umsetzen und erlaubt eine zuverlässige, effektive und kostenneutrale Print-Drift-Bestimmung. Weitere Vorteile bestehen darin, dass eine Bestimmung des Versatzes direkt dort geschieht, wo kein Versatz vorliegen darf und wo der Überlapp sichergestellt werden soll und nicht, wie es bei konventionellen Systemen der Fall ist, in einem Bereich, der in einer gewissen Entfernung von dem Kontaktbereich (Pads) liegt und der keine zuverlässige Aussage erlaubt. Beispielweise können Drucksiebverzerrungen (oder Dehnungen des Siebes) zu einem falschen Resultat führen.The new rear-side layout on the exemplary four contact areas (pads) can be implemented by simply adjusting the pressure on the back and allows a reliable, effective and cost-neutral print drift determination. Further advantages are that a determination of the offset occurs directly where no offset is allowed and where the overlap is to be ensured and not, as is the case with conventional systems, in an area which is at a certain distance from the contact area (Pads) and the no reliable statement allowed. For example, printing screen distortions (or strains of the screen) can lead to a wrong result.
Die in der Beschreibung, den Ansprüchen und den Figuren offenbarten Merkmale der Erfindung können sowohl einzeln als auch in beliebiger Kombination für die Verwirklichung der Erfindung wesentlich sein.The features of the invention disclosed in the description, the claims and the figures may be essential for the realization of the invention either individually or in any combination.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 110110
- erste Metallisierungsstrukturfirst metallization structure
- 112112
- Bereich(e) der ersten MetallisierungsstrukturRegion (s) of the first metallization structure
- 120120
- zweite Metallisierungsstruktursecond metallization structure
- 122122
- längliche Öffnung(en) der zweiten Metallisierungsstrukturelongate opening (s) of the second metallization structure
- 125125
- Überlappungsbereicheoverlapping areas
- 130130
- Spaltgap
- 131, ... , 134131, ..., 134
- geradlinige Begrenzungen des Spaltesrectilinear boundaries of the gap
- 135, 136135, 136
- Dreiecksspitzentriangular points
- 610610
- Substratsubstratum
- 620620
- Aluminiumschichtaluminum layer
- 622622
- längliche Öffnung(en) der Aluminiumschichtelongated opening (s) of the aluminum layer
- 623, 624623, 624
- Randkanten der AluminiumschichtEdge edges of the aluminum layer
- 626626
- dreiecksförmige Randstruktur(en)triangular edge structure (s)
- 630630
- dreiecksförmige Randabschnitte der Silberschichttriangular edge portions of the silver layer
- 632632
- Randkante(n) der SilberschichtEdge edge (s) of the silver layer
- 633633
- Kontaktflächecontact area
- 641,642641.642
- Begrenzungslinienboundary lines
- 700700
- Photovoltaikmodulphotovoltaic module
- LL
- Längsrichtunglongitudinal direction
Claims (11)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE102015110975.1A DE102015110975B4 (en) | 2015-07-07 | 2015-07-07 | Contacting structure and a method for detecting an offset between metallization on photovoltaic modules |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015110975.1A DE102015110975B4 (en) | 2015-07-07 | 2015-07-07 | Contacting structure and a method for detecting an offset between metallization on photovoltaic modules |
Publications (2)
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DE102015110975A1 DE102015110975A1 (en) | 2017-01-12 |
DE102015110975B4 true DE102015110975B4 (en) | 2019-05-09 |
Family
ID=57583530
Family Applications (1)
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DE102015110975.1A Active DE102015110975B4 (en) | 2015-07-07 | 2015-07-07 | Contacting structure and a method for detecting an offset between metallization on photovoltaic modules |
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100252102A1 (en) | 2009-04-06 | 2010-10-07 | Armand Bettinelli | Method for printing a conductor in two superimposed layers by screen-printing |
US20120048132A1 (en) | 2009-02-23 | 2012-03-01 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for screen printing a multiple layer pattern |
-
2015
- 2015-07-07 DE DE102015110975.1A patent/DE102015110975B4/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US20100252102A1 (en) | 2009-04-06 | 2010-10-07 | Armand Bettinelli | Method for printing a conductor in two superimposed layers by screen-printing |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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