DE102014225482A1 - System und Verfahren zum Programmieren von Operationen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine - Google Patents

System und Verfahren zum Programmieren von Operationen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine Download PDF

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Abstract

Es werden ein System und Verfahren zum Programmieren von Vorgängen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine bereitgestellt. Eine Bearbeitungsumgebung wird betätigt, um eine dreidimensionale Werkstückdarstellung, die ein erstes Oberflächenmerkmal eines Werkstücks (10) umfasst, anzuzeigen. Ein erstes Merkmalsoberflächen-Abtastmuster (500, 600, 700) wird erstellt, das mindestens einen Musterparameter aufweist, der angepasst wird, um einem ersten Oberflächenmerkmal des Werkstücks (10) zu entsprechen. Eine entsprechende Darstellung des Abtastmusters (500, 600, 700) umfasst brauchbare Abtastmusterstellen (PL), die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden. Benutzervorgänge in der GUI passen die Musterparameter des Abtastmusters (500, 600, 700) weiter an. Die weitere Anpassung der Musterparameter wirkt sich gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen (PL) aus. Die Abtastmusterdarstellung kann diverse Arten von brauchbaren und unbrauchbaren Abtastmusterstellen umfassen, die derart angezeigt werden können, dass man sie voneinander unterscheiden kann, wie etwa indem sie mit verschiedenen Farben, Formen oder Mustern dargestellt werden.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung betrifft Metrologiesysteme und Systeme und Verfahren zum Programmieren von Inspektionsvorgängen, wie etwa einer Berührungssonden-Messstrecke für eine Koordinatenmessmaschine.
  • HINTERGRUND
  • Bestimmte Metrologiesysteme, wie etwa Koordinatenmessmaschinen (CMM), können verwendet werden, um genaue Messungen von inspizierten Werkstücken zu erzielen, und können mindestens teilweise durch Vorgänge zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen gesteuert werden, die an einem Computer programmiert wurden. Eine beispielhafte CMM aus dem Stand der Technik wird in dem US-Patent Nr. 8.438.746 beschrieben, das hiermit zur Bezugnahme vollständig übernommen wird. Wie in dem Patent '746 beschrieben, umfasst die CMM eine Sonde zum Messen eines Werkstücks, einen Bewegungsmechanismus zum Bewegen der Sonde und einen Controller zum Steuern des Bewegungsmechanismus.
  • Eine CMM, welche die Bedienungsabtastsonde umfasst, wird in dem US-Patent. Nr. 7.652.275 (Patent '275) beschrieben, das hiermit zur Bezugnahme vollständig übernommen wird. Nach einer Abtastung wird ein dreidimensionales Profil des Werkstücks bereitgestellt. Bei einer Art von Abtastsonde wird das Werkstück von einer mechanischen Kontaktsonde (z. B. einem präzisen Kügelchen) gemessen, das die Werkstückoberfläche abtastet.
  • Einige CMMs verwenden eine optische Sonde, die ein Werkstück abtastet, ohne einen physischen Kontakt mit der Oberfläche herzustellen. Die optischen Sonden können von einer Art sein, die Lichtpunkte zum Detektieren von Oberflächenpunkten verwendet (wie etwa Triangulationssonden) oder von einer Art, die eine Videokamera verwendet, wobei die Koordinaten von geometrischen Elementen des Werkstücks anhand einer Bildverarbeitungs-Software bestimmt werden.
  • Eine „kombinierte” Koordinatenmessmaschine, die sowohl optische als auch mechanische Messungen verwendet, wird in dem US-Patent Nr. 4.908.951 beschrieben, das hiermit zur Bezugnahme vollständig übernommen wird.
  • Bei allen zuvor beschriebenen CMMs können Vorgänge zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen programmiert werden. Beispielsweise kann eine Messstrecke für die Bewegung der Messsonde während der Inspektionsvorgänge programmiert werden. Das Programmieren derartiger Messstrecken und anderer Inspektionsvorgänge bei existierenden Systemen ist jedoch typischerweise relativ ineffizient. Einige bekannte Programmierverfahren sind flexibel, erfordern jedoch arbeitsaufwendige individuelle Anpassungen der Inspektionspunkte durch einen Benutzer. Andere bekannte Programmierverfahren können komplexe Algorithmen verwenden, um automatisch zahlreiche Inspektionspunktvorgänge zu bestimmen, doch solche Programmierverfahren stellen typischerweise entweder begrenzte oder komplizierte Verfahren bereit, um Anpassungen an falsch programmierten oder unerwünschten Vorgängen, die automatisch bestimmt wurden, vorzunehmen. Es besteht Bedarf an einem System und Verfahren, die ein intuitives, effizientes, flexibles und robustes Programmieren von Vorgängen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen ermöglichen, wie etwa für eine Berührungssonden-Messstrecke für eine Koordinatenmessmaschine. Insbesondere wird ein Verfahren benötigt, das schnell, effizient, flexibel und für relativ unerfahrene Benutzer verständlich ist.
  • KURZDARSTELLUNG
  • Diese Kurzdarstellung wird bereitgestellt, um eine Auswahl von Konzepten in vereinfachter Form vorzustellen, die nachstehend in der ausführlichen Beschreibung näher beschrieben werden. Diese Kurzdarstellung ist nicht dazu gedacht, Hauptmerkmale des beanspruchten Gegenstands zu identifizieren, und ist auch nicht dazu gedacht, um als Hilfsmittel bei dem Bestimmen des Umfangs des beanspruchten Gegenstandes verwendet zu werden.
  • Ein computerumgesetztes Verfahren wird bereitgestellt, um Vorgänge zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine zu programmieren. Die Koordinatenmessmaschine kann Folgendes umfassen: einen Sensor, der verwendet wird, um Messdaten von Werkstückmerkmalen zu bestimmen; einen Arbeitstisch zum Halten eines Werkstücks, wobei sich der Sensor und der Arbeitstisch im Verhältnis zueinander bewegen können; und/oder einen CMM-Steuerabschnitt. Das Verfahren kann in einer Bearbeitungsumgebung umgesetzt werden, die Folgendes umfasst: einen Programmiersteuerabschnitt; einen Anzeigeabschnitt; eine grafische Benutzerschnittstelle (GUI); und/oder mindestens ein erstes Merkmalsoberflächen-Abtastmuster, das eine Anordnung von Abtastmusterstellen umfasst. Der Programmiersteuerabschnitt kann einen Computer und Programmiersteuerroutinen umfassen.
  • Bei diversen Umsetzungen beinhaltet das Verfahren das Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine dreidimensionale Werkstückdarstellung, die ein erstes Oberflächenmerkmal eines Werkstücks umfasst, an dem Anzeigeabschnitt anzuzeigen. Die Bearbeitungsumgebung wird ferner betätigt, um eine Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters zu erstellen, das mindestens einen Musterparameter aufweist, der angepasst ist, um dem ersten Oberflächenmerkmal des Werkstücks zu entsprechen, wozu das Anzeigen einer entsprechenden Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters an dem Anzeigeabschnitt gehört, wobei die entsprechende Darstellung brauchbare Abtastmusterstellen umfasst, die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden. Der Begriff Abtasten, wie er hier verwendet wird, bezieht sich auf eine Mess-„Abtastung” (z. B. eine dreidimensionale Oberflächenkoordinate) an einer Stelle an der Oberfläche. Die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters kann ein Element umfassen, das mindestens einen von den zugrundeliegenden Programmiervorgängen oder den Mustersteuervorgängen aufweist. Die Bearbeitungsumgebung wird ferner basierend auf Benutzereingabevorgänge in der GUI betätigt, um mindestens einen Musterparameter der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters weiter anzupassen. Die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters wirkt sich gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen in der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters aus. Die entsprechende Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters ist auch konfiguriert, um sofort auf die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters zu reagieren. In diesem Fall kann ein relativ unerfahrener Benutzer schnell einen Satz von Inspektionspunkten oder Vorgängen für ein Werkstückmerkmal basierend auf direkter visueller Rückmeldung programmieren, die es ihm ermöglicht, die Inspektionspunktverteilung auf dem Werkstückmerkmal intuitiv zu handhaben.
  • Bei diversen Umsetzungen kann die entsprechende Darstellung ferner unbrauchbare Abtastmusterstellen umfassen. Eine Art einer unbrauchbaren Abtastmusterstelle kann angeben, dass die entsprechende Musterstelle für eine aktuelle Sensorkonfiguration auf der CMM unzugänglich ist. Eine andere Art einer unbrauchbaren Abtastmusterstelle kann angeben, dass sich die entsprechende Musterstelle nicht an das erste Oberflächenmerkmal anpasst, wie etwa, wenn eine Musterstelle bei dem ersten Oberflächenmerkmal auf eine Fehlstelle oder außerhalb des ersten Oberflächenmerkmals trifft. Die Anzeige dieser unbrauchbaren Abtastmusterstellen verbessert die intuitiven Handhabungen der Abtastmusterparameter durch einen unerfahrenen Benutzer noch mehr. Sie können beispielsweise vorwegnehmen, wenn Vorgänge, die ein Muster „zusammenziehen”, unbrauchbare Abtastmusterstellen auf das Werkstückmerkmal bringen, so dass sie brauchbar werden. Mit anderen Worten können die Benutzer schneller und intuitiver nützliche Anpassungen und Alternativen von Abtastmustern vorwegnehmen und beurteilen. Die diversen Arten von brauchbaren und unbrauchbaren Abtastmusterstellen können derart angezeigt werden, dass sie sich voneinander unterscheiden, wie etwa indem sie mit verschiedenen Farben, Formen oder Mustern dargestellt werden. Es kann ein GUI-Element bereitgestellt werden, das es einem Benutzer ermöglicht auszuwählen, ob mindestens eine Art einer unbrauchbaren Stelle in der entsprechenden Darstellung zu unterdrücken (z. B. nicht anzuzeigen) ist oder nicht.
  • Bei diversen Umsetzungen werden die Benutzereingabevorgänge zum Anpassen des mindestens einen Musterparameters von mindestens einem von dedizierten GUI-Elementen, Berührungsgesten oder einem Dialogfeld bereitgestellt. Bei diversen Umsetzungen kann sich der mindestens eine Musterparameter, der angepasst wird, auf mindestens eine von einer Dichte von Abtastmusterstellen an der Oberfläche des Werkstücks oder einer Anzahl von Abtastmusterstellen in einem Bereich oder einer Dichte von Abtastmusterstellen entlang einer Abtastspur beziehen. Bei einigen der vorliegenden Gegebenheiten wird die Abtastspur auch als Spur, Streckenabschnitt, Abtastlinie oder einfach als Linie bezeichnet. Es kann auch ein GUI-Element bereitgestellt werden, das einem Benutzer mindestens eines von Drehen, Verschieben oder Ziehen der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters im Verhältnis zur Oberfläche des Werkstücks ermöglicht.
  • Bei diversen Umsetzungen kann die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters ein grafisches Inspektionspunkt-Programmierelement (GIPP-Element) umfassen, das von einem Benutzer ausgewählt und/oder angeordnet und/oder angepasst werden kann. Bei einer Umsetzung kann die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters automatisch dimensioniert und der dreidimensionalen Werkstückdarstellung überlagert werden, wenn das GIPP-Element bewegt wird oder in der Nähe der dreidimensionalen Werkstückdarstellung in dem Anzeigeabschnitt angeordnet wird. Bei einer Umsetzung kann die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters eine Abtaststrecke definieren, die Inspektionsprogrammanweisungen entspricht, die von dem GIPP-Element automatisch generiert werden. Die Abtaststrecke kann zum Bestimmen der Bewegungen eines Oberflächenpunktsensors verwendet werden, wie er von der Koordinatenmessmaschine gesteuert wird, um Oberflächenkoordinaten der Werkstückoberfläche abzutasten. Das GIPP-Element kann auch ferner eine Vielzahl von Betriebsarten für mindestens eine Art von Oberflächenmerkmal umfassen. Bei einer Umsetzung kann die Vielzahl von Betriebsarten mindestens drei Betriebsarten umfassen, die mindestens einigen von einer Vielzahl von Abtastspuren entsprechen, die jeweils in Form von Kreisen, Linien oder Spiralen vorliegen.
  • Bei diversen Umsetzungen kann das erste Oberflächenmerkmal des Werkstücks mindestens einem von einem Zylinder, einer Ebene, einer Kugel oder einem Kegel entsprechen. Das GIPP-Element kann ferner mindestens eines von einem zylindrischen GIPP-Element, das sich einer zylindrischen Merkmalsoberfläche anpasst, einem ebenen GIPP-Element, das sich einer ebenen Merkmalsoberfläche anpasst, einem kugelförmigen GIPP-Element, das sich einer kugelförmigen Merkmalsoberfläche anpasst, oder einem kegelförmigen GIPP-Element, das sich einer kegelförmigen Merkmalsoberfläche anpasst, sein.
  • Bei diversen Umsetzungen kann mindestens ein Musterparameter ein Abtastmuster-Startparameter sein, der eine Startposition der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters bestimmt. Mindestens ein Musterparameter kann auch ein Parameter für den Streckenbereich in einer ersten Richtung des Abtastmusters sein, der einen Streckenbereich in einer ersten Richtung für die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters bestimmt, und ein zweiter entsprechender Musterparameter kann ein Parameter für den Streckenbereich in einer zweiten Richtung des Abtastmusters sein, der einen Streckenbereich in einer zweiten Richtung für die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters bestimmt.
  • Bei diversen Umsetzungen kann der Parameter für den Streckenbereich in einer ersten Richtung des Abtastmusters am Ende eines ersten Vektors dargestellt sein, und der Parameter für den Streckenbereich in einer zweiten Richtung des Abtastmusters kann am Ende eines zweiten Vektors dargestellt sein. Ein Benutzer ist in der Lage, die Parameter des Streckenbereichs in einer ersten Richtung und in einer zweiten Richtung des Abtastmusters anzupassen, indem er die Größen der Vektoren und der entsprechenden Streckenbereiche in einer ersten und einer zweiten Richtung für die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters anpasst. Bei einer Umsetzung kann der zweite Vektor ein Bogen sein, dessen Länge einem mittleren Winkel des Bogens entspricht, und das erste Oberflächenmerkmal des Werkstücks kann mindestens einem von einem Zylinder, einer Kugel oder einem Kegel entsprechen. Bei einer alternativen Umsetzung kann der zweite Vektor eine Linie sein, und das erste Oberflächenmerkmal des Werkstücks kann einer Ebene entsprechen.
  • Bei diversen Umsetzungen kann der Parameter des Streckenbereichs in einer ersten Richtung des Abtastmusters die Länge von mindestens einigen von einer Vielzahl von Abtastspuren bestimmen, und der Parameter des Streckenbereichs in einer zweiten Richtung des Abtastmusters kann einen Spurabstand zwischen mindestens einigen von der Vielzahl von Abtastspuren bestimmen. Bei einer Umsetzung können die Musterparameter ferner eine Abtastmusteranzahl von Abtaststellen pro Abtastspurparameter umfassen, die eine Anzahl von Abtaststellen pro Abtastspur für mindestens einige von der Vielzahl von Abtastspuren bestimmt. Bei einer Umsetzung kann die Abtastmusteranzahl von Abtaststellen pro Abtastspurparameter als eine erste Abtaststelle aus einer Vielzahl von gleichmäßig beabstandeten Abtaststellen dargestellt sein, die auf einer ersten Abtastspur erscheinen. Ein Benutzer ist in der Lage, die Stelle der ersten Abtaststelle auf der ersten Abtastspur grafisch anzupassen, um die Beabstandung und die Anzahl von Abtaststellen anzupassen, die auf mindestens einigen der Vielzahl von Abtastspuren erscheinen.
  • Bei diversen Umsetzungen kann die Vielzahl von Abtastspuren jeweils mindestens eine Abtaststelle umfassen. Mindestens einige von der Vielzahl von Abtastspuren können auf einer durchgehenden Strecke liegen oder können diskret sein. Bei einer Umsetzung können mindestens einige von der Vielzahl von Abtastspuren jeweils eine 360-Grad-Strecke abdecken, wobei jede Abtastspur mindestens eine Abtaststelle umfasst.
  • BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Es zeigen:
  • 1 ein Diagramm, das diverse typische Komponenten eines Metrologiesystems zeigt, das eine Koordinatenmessmaschine umfasst.
  • 2 ein Blockdiagramm, das den Maschinenaufbau, den Bewegungs-Controller, eine Betätigungseinheit, einen Host-Computer und einen Bearbeitungsumgebungsabschnitt des Metrologiesystems aus 1 zeigt.
  • 3 ein Diagramm eines Werkstücks, das diverse Arten von Oberflächenmerkmalen abbildet.
  • 4 ein Diagramm eines Zustands einer Benutzerschnittstelle, die eine Ausführungsform einer Programmier- oder Bearbeitungsumgebung umfasst, die eine Ausführungsform von Benutzerschnittstellenmerkmalen umfasst, die sich auf artspezifische Abtastmuster beziehen, gemäß den hier offenbarten Grundlagen;
  • 5A, 5B und 5C Diagramme von ebenen Oberflächenabtastmustern, die nützlich sind, um eine Messstrecke an Abtastmusterstellen entlang in der Nähe eines ebenen Oberflächenmerkmals eines Werkstücks zu definieren;
  • 6A, 6B und 6C Diagramme von zylindrischen Oberflächenabtastmustern, die nützlich sind, um eine Messstrecke an Abtastmusterstellen entlang in der Nähe eines zylindrischen Oberflächenmerkmals eines Werkstücks zu definieren;
  • 7A, 7B und 7C Diagramme von kegelförmigen Oberflächenabtastmustern, die nützlich sind, um eine Messstrecke an Abtastmusterstellen entlang in der Nähe eines kegelförmigen Oberflächenmerkmals eines Werkstücks zu definieren;
  • 8A einen Zustand eines ebenen Oberflächenabtastmusters, das lineare Spuren umfasst, wobei ein Benutzer die Dichte von Musterstellen entlang seinen Spuren grafisch anpasst;
  • 8B einen Zustand eines ebenen Oberflächenabtastmusters, das lineare Spuren umfasst, wobei ein Benutzer die Dichte seiner Spuren grafisch anpasst;
  • 9A einen Zustand des ebenen Oberflächenabtastmusters, das kreisförmige Spuren umfasst, wobei ein Benutzer den Winkelbereich aller kreisförmigen Spuren gleichzeitig grafisch anpasst;
  • 9B einen Zustand des ebenen Oberflächenabtastmusters, das kreisförmige Spuren umfasst, wobei ein Benutzer die Dichte von Musterstellen entlang seinen Spuren grafisch anpasst;
  • 9C einen Zustand des ebenen Oberflächenabtastmusters, das kreisförmige Spuren umfasst, wobei ein Benutzer die Dichte der Spuren grafisch anpasst;
  • 10A einen Zustand des in 6B abgebildeten zylindrischen Oberflächenabtastmusters, wobei ein Benutzer die Dichte der Spuren anpasst;
  • 11 eine Ausführungsform eines Abschnitts der Benutzerschnittstelle einer Programmierumgebung in einem ersten Zustand, wobei erste und zweite automatisch konfigurierte ebene Abtastmuster einer Darstellung eines Werkstücks überlagert gezeigt werden;
  • 12 die Benutzerschnittstelle einer in 11 gezeigten Programmierumgebung in einem zweiten Zustand, wobei das zweite ebene Abtastmuster von einem Benutzer angepasst wurde, gemäß den hier offenbarten Grundlagen;
  • 13 ein Ablaufschema, das ein Beispiel einer Routine zum Programmieren von Vorgängen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für ein Metrologiesystem abbildet, das eine Koordinatenmessmaschine umfasst, gemäß den hier offenbarten Grundlagen.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
  • 1 ist ein Diagramm, das diverse typische Komponenten eines Metrologiesystems 1 zeigt, das eine gattungsgemäße Koordinatenmessmaschine umfasst, die einen Kontext für die Anwendung der hier offenbarten Grundlagen bereitstellt. Gewisse Aspekte des Metrologiesystems 1 werden in dem Patent '746 näher beschrieben. Das Metrologiesystem 1 kann Folgendes umfassen: einen Koordinatenmessmaschinenaufbau 2; einen Bewegungs-Controller 3, der einen Antrieb des Koordinatenmessmaschinenaufbaus 2 steuert; eine Betätigungseinheit 4 zum manuellen Betätigen des Koordinatenmessmaschinenaufbaus 2; einen Host-Computer 5, der Befehle an den Bewegungs-Controller 3 ausgibt und eine Verarbeitung ausführt, wie etwa eine Formanalyse eines Werkstücks 10 (eines zu messenden Objekts), das auf dem Koordinatenmessmaschinenaufbau 2 angeordnet ist. Eine repräsentative Eingabeeinheit 61 und eine Ausgabeeinheit 62 sind an den Host-Computer 5 angeschlossen, sowie eine Anzeigeeinheit 5D. Die Anzeigeeinheit 5D kann eine Benutzerschnittstelle einer Bearbeitungsumgebung anzeigen, wie zum Beispiel nachstehend mit Bezug auf 4 beschrieben.
  • Der Koordinatenmessmaschinenaufbau 2 umfasst: eine Sonde 21, die einen Stift 211 aufweist, der eine Oberfläche des Werkstücks 10 berühren kann, einen Bewegungsmechanismus 22, der einen dreiachsigen Schiebemechanismus 24 umfasst, der das Basisende der Sonde 21 festhält, und einen Antriebsmechanismus 25, der den Schiebemechanismus 24 antreibt.
  • 2 ist ein Blockdiagramm, das den Maschinenaufbau 2, den Bewegungs-Controller 3, die Betätigungseinheit 4 und den Host-Computer 5 des Metrologiesystems 1 aus 1 zeigt. Wie in 1 und 2 gezeigt, umfasst der Antriebsmechanismus 25 die Achsenantriebseinheiten 25Y, 25X und 25Z, welche die Komponenten des Schiebemechanismus 24 in drei Dimensionen verschieben. Obwohl dies nicht abgebildet ist, ist der Antriebsmechanismus 25 mit einer Vielzahl von Sensoren versehen, die Signale gemäß der Verlagerung des Schiebemechanismus 24 ausgeben.
  • Wie in 2 gezeigt, ist der Bewegungs-Controller 3 (Controller) versehen mit: einer Antriebssteuereinheit 31, die auf Befehl von der Betätigungseinheit 4 oder dem Host-Computer 5 funktioniert; und eine Signaldetektionseinheit 32, die das Signal detektiert, das von den Sensoren ausgegeben wird, die auf dem Antriebsmechanismus 25 bereitgestellt werden, um die dreidimensionale Verlagerung zu detektieren, und es an den Host-Computer 5 ausgeben, um die Verlagerung oder Position des Stifts 211 anzugeben.
  • Der Host-Computer 5 umfasst eine CPU (Zentraleinheit), einen Speicher und dergleichen. Der Host-Computer 5 gibt einen vorbestimmten Befehl an den Bewegungs-Controller 3 aus, um den Koordinatenmessmaschinenaufbau 2 zu steuern, damit er den Stift 211 an einer Abtaststrecke entlang bewegt, um die Oberfläche des Werkstücks 10 zu messen. Wie es nachstehend ausführlicher beschrieben wird, kann gemäß den hier offenbarten Grundlagen die Abtaststrecke des Stifts 211 entlang einer Oberfläche des Werkstücks 10 durch Vorgänge zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen gesteuert werden. Im Rahmen eines Verfahrens zum Programmieren der Vorgänge zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen zeigt eine Bearbeitungsumgebung (die z. B. durch den Bearbeitungsumgebungsabschnitt 51 auf dem Host-Computer 5 bereitgestellt wird) eine dreidimensionale Werkstückdarstellung an, die mindestens ein erstes Oberflächenmerkmal des Werkstücks 10 umfasst. Bei diversen Ausführungsformen wird ein Oberflächenabtastmuster für ein Merkmal basierend auf einem gattungsgemäßen Abtastmuster erstellt, das der Merkmalsart entspricht (z. B. Ebene, Zylinder usw.), in dem die Musterparameter angepasst werden, um den Inspektionsstellen zu entsprechen, die auf diesem Merkmal des Werkstücks 10 erwünscht sind. Eine entsprechende Darstellung des Abtastmusters kann brauchbare Abtastmusterstellen, die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden, auf dem Display umfassen. Die Benutzereingabevorgänge in der GUI passen die Musterparameter des Abtastmusters an. Bestimmte hier offenbarte Merkmale zum Anpassen der Musterparameter wirken sich gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen aus, wie es nachstehend mit Bezug auf 4A bis 9 ausführlicher beschrieben wird, was zu einem erheblich verbesserten Bearbeitungsdurchsatz und verbesserter Bedienerfreundlichkeit im Vergleich zu zuvor bekannten Verfahren führt.
  • Bei diversen Umsetzungen umfasst das Metrologiesystem 1 geeignete einzelne oder verteilte Computersysteme oder Vorrichtungen, die einen oder mehrere Prozessoren umfassen können, die Software ausführen, um die hier beschriebenen Funktionen auszuführen. Die Prozessoren umfassen programmierbare universelle oder spezielle Mikroprozessoren, programmierbare Controller, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASIC), programmierbare logische Bauteile (PLD) oder dergleichen, oder eine Kombination dieser Vorrichtungen. Die Software kann in einem Speicher, wie etwa in einem Arbeitsspeicher (RAM), einem Festspeicher (ROM), einem Flash-Speicher oder dergleichen, oder in einer Kombination dieser Komponenten gespeichert sein. Die Software kann auch in einer oder mehreren Speichervorrichtungen gespeichert sein, wie etwa in Laufwerken, Festkörperspeichern oder einem beliebigen anderen Medium zum Speichern von Daten. Die Software kann ein oder mehrere Programmmodule umfassen, das bzw. die Routinen, Programme, Objekte, Komponenten, Datenstrukturen und so weiter umfasst bzw. umfassen, die bestimmte Aufgaben ausführen oder bestimmte abstrakte Datentypen umsetzen. Bei verteilten Computerumgebungen kann die Funktionalität der Programmmodule kombiniert oder über mehrere Computersysteme oder Vorrichtungen verteilt sein und über Dienstabrufe zugänglich sein.
  • 3 ist ein Diagramm eines Werkstücks 300, das diverse Arten von Oberflächenmerkmalen abbildet. Wie in 3 gezeigt, umfasst das Werkstück 300 repräsentative ebene Oberflächenmerkmale 310A, 310B, 310C, zylindrische Oberflächenmerkmale 320A, 320B, 320C, ein kugelförmiges Oberflächenmerkmal 330 und ein kegelförmiges Oberflächenmerkmal 340. Nicht alle Oberflächenmerkmale sind identifiziert, nur einige repräsentative Beispiele. Wie hier beschrieben, kann eine Messabtaststrecke für eine Koordinatenmessmaschine (z. B. für eine Berührungssonde oder einen anderen Oberflächenstellensensor), die eine Vielzahl von Oberflächenabtaststellen umfasst, unter Verwendung eines gattungsgemäßen Abtastmusters generiert werden, das der Art des Oberflächenmerkmals entspricht, das gemessen wird, und dieses Abtastmuster automatisch an das Oberflächenmerkmal anpasst. Gemäß den hier offenbarten Grundlagen können derartige artspezifische Abtastmuster angezeigt werden, die Benutzerschnittstellenmerkmale umfassen, die es besonders intuitiv und einfach machen, die Oberflächenabtaststellen an die Eigenheiten von bestimmten individuellen Werkstückmerkmalen anzupassen, wie es nachstehend ausführlicher beschrieben wird.
  • 4 ist ein Diagramm 400 eines Zustands einer Benutzerschnittstelle, die eine Ausführungsform einer Programmierumgebung 405 (auch als Bearbeitungsumgebung bezeichnet) eines Metrologiesystems (z. B. wie sie auf dem Display 5D des Metrologiesystems 1 aus 1 gezeigt werden kann) umfasst, wozu eine Ausführungsform von bestimmten Benutzerschnittstellenmerkmalen mit Bezug auf artspezifische Abtastmuster gemäß den hier offenbarten Grundlagen gehört. Bei der in 4 gezeigten Ausführungsform umfasst die Programmierumgebung 405 eine Menüleiste 410, ein Simulationsansichtsfenster 415, ein Messebenenfenster 420 und eine Animationssteueranzeige 425, ein Programmfenster 430 und ein Fenster mit Parametern (oder Eigenschaften) zum Inspizieren von Merkmalen 440.
  • Das Simulationsansichtsfenster 415 zeigt eine Berührungssonde 21' mit einem Stift 211' und ein Werkstück 10'. In dem abgebildeten Zustand berührt der Berührungssondenstift ein Ebenen-Merkmal, das mit „972” bezeichnet ist und das angezeigte Toleranzen 972T aufweist, und die anderen Fenster der Benutzerschnittstelle werden mit dem Simulationsansichtsfenster 415 koordiniert, um Informationen anzuzeigen, die dem Ebenen-Merkmal 972 entsprechen. Beispielsweise gibt das Messebenenfenster 420 am Bezugszeichen 972A an, dass das Ebenen-Merkmal 972 ausgewählt wird (z. B. wie durch das Auswahlfeld angegeben, das seinen Kindknoten „Punktsatz 2” umgibt). Es ist ersichtlich, dass das Messebenenfenster die „Merkmalsart” des Ebenen-Merkmals 972 unter Verwendung eines Ebenen-Icons und andere Merkmalsarten je nach Bedarf unter Verwendung eines Kegel-Icons oder eines Zylinder-Icons usw. markiert. Ähnlich gibt das Programmfenster 430 am Bezugszeichen 972B an, dass das Ebenen-Merkmal 972 ausgewählt wird (z. B. wie durch das Auswahlfeld angegeben, das seinen Kindknoten „Punktsatz 2” umgibt), und markiert die „Merkmalsart” des Ebenen-Merkmals 972 unter Verwendung eines Ebenen-Icons und andere Merkmalsarten je nach Bedarf unter Verwendung eines Kegel-Icons oder eines Zylinder-Icons usw.
  • Das Fenster mit Parametern (oder Eigenschaften) zum Inspizieren von Merkmalen 440 zeigt voreingestellte und/oder aktuelle Parameter mit Bezug auf das Erheben von Messungen, die das derzeit ausgewählte Ebenen-Merkmal 972 kennzeichnen. Bei der in 4 gezeigten Ausführungsform umfassen sie ein Kontrollkästchen „Messen”, mit dem man das Messen des Merkmals ein- und ausschalten (überspringen) kann, ein Kästchen für den „Namen” des Messdatensatzes, ein Auswahlfeld für ein „Abtastverfahren”, das ein Auswahlmenü umfasst, das die diversen Sondenarten umfasst, die an dem Metrologiesystem zur Verfügung stehen, um den Messdatensatz zu erheben, und ein Auswahlfeld „Abtastmuster” 441, das ein Auswahlmenü umfasst, das die Musterspurarten umfasst, die für ebene Abtastmuster verfügbar sind. Bei diversen Ausführungsformen kann ein ebenes Abtastmuster für das derzeit ausgewählte Ebenen-Merkmal 972 automatisch gewählt werden. Musterspurarten für ein ebenes Abtastmuster können beispielsweise Linien (Geraden), Kreise und Spiralen umfassen, wie es nachstehend mit Bezug auf 5A bis 5C ausführlicher beschrieben wird. Das Fenster 440 umfasst ferner einen Definitionsabschnitt „Mess-Tool”, um zu definieren, wie eine bestimmte Sonde innerhalb der ausgewählten Sondenart für das aktuelle Merkmal zu wählen ist.
  • Das Fenster 440 umfasst ferner einen Definitionsabschnitt „Messstrecke und Punkte” 450, um voreingestellte oder aktuelle Parameter zu definieren, welche die ausgewählte Musterspurart bestimmen (z. B. die ebene Musterspurart „Linien” bei dem bestimmten Beispiel, das in 4 gezeigt wird.) Bei der in 4 gezeigten Ausführungsform umfassen sie ein Spurdichtenfeld 451, um die Dichte der Abtastspuren zu definieren, die in dem Abtastmuster zu verteilen sind, und ein Feld „Punkte auf Linie” 452, um die Dichte der Messabtaststellen zu definieren, die entlang jeder der Spuren zu verteilen sind. Bei dem in 4 gezeigten bestimmten Beispiel wird die Spurdichte dadurch definiert, dass die Anzahl der Spuren oder Linien, die in dem Abtastmuster enthalten sein sollen, eingegeben wird. Es versteht sich jedoch, dass die Dichte der Messspuren alternativ im Hinblick auf eine absolute Beabstandung zwischen den Spuren (z. B. 5 mm) oder automatisch basierend auf der Merkmalsgröße oder gegebenenfalls nach einem anderen Verfahren definiert werden kann. Ähnlich wird bei dem in 4 gezeigten bestimmten Beispiel die Messabtaststellendichte entlang einer Spur dadurch definiert, dass die Anzahl von Abtaststellen eingegeben wird, die entlang jeder Spur zu verteilen sind. Es versteht sich jedoch, dass die Dichte der Messabtaststellen entlang der Spur alternativ im Hinblick auf eine absolute Beabstandung zwischen den Abtaststellen (z. B. 5 mm) oder automatisch basierend auf der Merkmalsgröße oder gegebenenfalls auf einem anderen Verfahren definiert werden kann. Merkmale der grafischen Benutzerschnittstelle, die es besonders intuitiv und einfach machen, die Parameter anzupassen, welche die Spurdichte und die Abtaststellen entlang jeder Spur mit Bezug auf die Eigenheiten von individuellen Werkstückmerkmalen bestimmen, werden nachstehend mit Bezug auf 5 bis 12 ausführlicher beschrieben.
  • Der Definitionsabschnitt „Messstrecke und Punkte” 450 kann ferner ein Definitionsfeld „Kantenversatz” 453 umfassen, um einen zulässigen Mindestabstand (z. B. in aktuellen Einheiten, wie etwa in Millimetern) zwischen bestimmten Definitionskanten (oder Kantenabschnitten) des aktuellen Merkmals und einer nahegelegenen Messspur und/oder Abtaststelle zu definieren. Bei diversen Ausführungsformen kann dieser Parameter als Hilfsmittel verwendet werden, um eine anfängliche und/oder voreingestellte Größe und/oder Stelle einer gattungsgemäßen Abtastmusterart herzustellen, wenn er anfänglich automatisch an eine entsprechende Werkstückmerkmalsart angepasst wird. Der Definitionsabschnitt „Messstrecke und Punkte” 450 kann ferner ein Definitionsfeld „Musterrichtung” 454 umfassen, um eine Spurorientierung, und/oder wie eine Messsonde durch den Satz von Messspuren eines Abtastmusters vorrückt, zu definieren (z. B. Vorrücken nach unten entlang einer ersten Messspur und nach links, um den Anfang der zweiten Messspur zu erreichen, und so weiter, bei dem in 4 abgebildeten Beispiel). Ausführungsbeispiele von Abtastmusterspuren, und wie eine Sonde daran entlang vorrücken kann, werden nachstehend mit Bezug auf 5 bis 7 ausführlicher beschrieben.
  • 5A, 5B und 5C sind Diagramme jeweils von Oberflächenabtastmustern ebener Art 500L, 500C und 500S, die nützlich sind, um eine Messstrecke entlang Abtastmusterstellen zu definieren, die sich in der Nähe eines ebenen Oberflächenmerkmals eines Werkstücks befinden. In einigen Figuren werden zur Bezugnahme fiktive Merkmalsformen in punktierten oder gestrichelten Umrissen gezeigt. 6A, 6B und 6C sind Diagramme jeweils von Oberflächenabtastmustern zylindrischer Art 600L, 6000, und 600S, die nützlich sind, um eine Messstrecke entlang von Abtastmusterstellen zu definieren, die sich in der Nähe eines zylindrischen Oberflächenmerkmals eines Werkstücks befinden. 7A, 7B und 7C sind Diagramme jeweils von Oberflächenabtastmustern kegelförmiger Art 700L, 700C und 700S, die nützlich sind, um eine Messstrecke entlang von Abtastmusterstellen zu definieren, die sich in der Nähe eines kegelförmigen Oberflächenmerkmals eines Werkstücks befinden. Die abgebildeten Oberflächenabtastmuster 500L, 600L, 700L (L für linear); 500C, 600C, 700C (C für kreisförmig); und 500S, 600S, 700S (S für spiralförmig), können jeweils als grafische Inspektionspunkt-Programmierelemente (GIPP) oder Abtastmusterdarstellungen angesehen werden, die einen beispielhaften Satz von Benutzerschnittstellenmerkmalen abbilden, der verwendet werden kann, um das entsprechende Oberflächenabtastmuster mit Bezug auf ein Werkstückmerkmal darzustellen und/oder zu ändern, zu bearbeiten oder anzupassen (z. B. es dem Werkstückmerkmal in dem Simulationsansichtsfenster 415 überlagert wird, das in 4 gezeigt wird), wobei die Ergebnisse in einem entsprechenden Werkstück-Inspektionsprogramm ausgebildet sein sollen. Es sei darauf hingewiesen, dass die hier offenbarten ebenen, zylindrischen und kegelförmigen Abtastmuster rein beispielhaft und nicht einschränkend sind. Beispielsweise versteht es sich, dass ein kugelartiges Oberflächenabtastmuster, eine Darstellung und ein GIPP oder andere gattungsgemäße Typen (Formen) unter Verwendung der hier offenbarten Grundlagen bereitgestellt werden können.
  • Wie in 5A gezeigt, umfasst die Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500L (kurz Abtastmuster 500L) die linearen Abtastspuren TK1–TK3, die durch die durchgezogenen Spurindikatoren TKind dargestellt werden. Bei einer Umsetzung können die Abtastspuren allgemein als eine Strecke oder Linie definiert werden, die eine oder mehrere Abtastmusterstellen umfasst. Jede der Abtastspuren TK1–TK3 wird gezeigt, wie sie vier gleichmäßig beabstandete Abtastmusterstellen PL umfasst, die durch Kreise, Dreiecke oder Pfeile und ein Quadrat dargestellt werden. Voreingestellte oder aktuelle Parameter, die eine anfängliche Anzahl von Abtastspuren TK und Abtastmusterstellen PL entlang den Spuren bestimmen, können beispielsweise unter Verwendung des Definitionsabschnitts 450 „Messstrecke und Punkte”, der zuvor mit Bezug auf 4 angesprochen wurde, oder eines ähnlichen Definitionsabschnitts definiert werden. Darauf kann die Anpassung der Parameter in der Benutzerschnittstelle folgen. Wie in 5A gezeigt, können bei einer Ausführungsform Dreiecke die Spurrichtungsindikatoren TDI sein, welche die erste Messstelle entlang der Spur angeben, und in die Richtung zeigen, in der eine Sonde auf dieser Spur vorrückt. Außerdem kann ein doppeltes Dreieck ein Abtastmuster-Anfangsindikator SI sein, der die erste Messstelle in einem Abtastmuster angibt, und ein Quadrat kann ein Abtastmuster-Endindikator EI sein, der die letzte Messstelle in einem Abtastmuster angibt. Eine Sondenbewegungsstrecke durch ein Abtastmuster kann man basierend auf den zuvor angesprochenen Indikatoren verstehen. Zwei Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 (punktiert oder gestrichelt angegeben) können sich an den Enden der Spuren befinden. An den Ecken des Abtastmusters 500L sind vier Musterziehpunkte PH durch Quadrate dargestellt. Bei der abgebildeten Ausführungsform können die Musterziehpunkte PH die äußersten Spurindikatoren umranden, verfolgen und/oder anpassen und der Größe des Abtastmusters 500L entsprechen und/oder diese definieren. Bei diversen Ausführungsformen kann ein Benutzer einen Mauszeiger in der Benutzerschnittstelle verwenden, um die Musterziehpunkte PH gemäß bekannten Verfahren zu ziehen, um die Größe des Abtastmusters 500L zu ändern. Die Größe des Abtastmusters 500L kann in einem Teileprogramm nach Größen- oder Bereichsparametern R1 und R2 in jeweiligen Richtungen gekennzeichnet sein. Bei einigen Ausführungsformen müssen die Bereichsparameter nicht in dem Merkmalsinspektions-Parameterfenster 440 oder dergleichen aufgeführt sein, weil sie ursprünglich basierend auf einer Merkmalsgröße (beispielsweise kombiniert mit einem definierten Kantenversatz) automatisch bestimmt werden können und anschließend ausreichend dargestellt und unter Verwendung der Musterziehpunkte PH grafisch angepasst werden können.
  • Für das Abtastmuster 500L können diverse Abtastmusterparameter (z. B. bezüglich der Größe oder Stelle der Abtastmusterdarstellung, der Anzahl oder Beabstandung von Abtastspuren, der Anzahl oder Beabstandung von Abtastmusterstellen usw.) gemäß der Eingabe von einem Benutzer angepasst werden. Bei diversen Umsetzungen können die Benutzereingabevorgänge zum Anpassen der Musterparameter durch mindestens eines von a) der Steuerung dedizierter GUI-Elemente (wie beispielsweise der Elemente oder Steuerelemente, die gerade angesprochen wurden), Berührungsgesten, Eingaben in Dialogfelder (z. B. in das Fenster 440) usw. bereitgestellt werden. Bei einer spezifischen beispielhaften Umsetzung kann das Verwenden eines Berührungsbildschirms für das Display 5D bekannte Arten von Berührungsgesten innerhalb der Grenzen des Abtastmusters 500L verwendet werden, um die Größe des Abtastmusters, die Beabstandung der Abtastspuren, die Beabstandung der Abtaststellen usw. auseinander- oder zusammenzuziehen.
  • Zusätzlich zu dem grafischen Steuern der Stelle und/oder der Größe eines Abtastmusters durch Ziehen an den Musterziehpunkten PH, wie zuvor angesprochen, können spezifische beispielhafte Umsetzungen zum Steuern der dedizierten GUI-Elemente des Abtastmusters 500L Folgendes umfassen: Unter Verwendung einer Maus zum „Klicken und Halten” an einer beliebigen Stelle innerhalb der Grenzen des Abtastmusters, das kein spezifischen Element umfasst, kann das Abtastmuster 500L an eine neue Stelle gezogen werden. „Klicken und Halten” an anderen spezifischen Elementen kann verwendet werden, um diese zu ziehen. Vorgänge mit Bezug auf das Ziehen eines Spurindikators TKind oder eines Musterdichte-Steuerelements PDC werden nachstehend mit Bezug auf 8A, 8B, 9A bis 9C und 10 ausführlicher beschrieben. Bei einigen Ausführungsformen können spezifische Elemente ausgewählt werden (z. B. durch Auswählen mit dem Zeiger und Doppelklicken oder Schweben oder mit einem anderen bekannten GUI-Auswahlverfahren), und nach der Auswahl können sie gemäß bekannten Verfahren gezogen oder gelöscht oder dergleichen werden.
  • 6A zeigt die Darstellung des zylindrischen Oberflächenabtastmusters 600L (kurz Abtastmuster 600L), das lineare Spuren und andere Elemente umfasst, die ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das Abtastmuster 500L beschrieben wurden. Das Aussehen und die Funktionsweise des Abtastmusters 600L kann man allgemein in Analogie zu der Beschreibung des Abtastmusters 500L verstehen. Daher werden hier nur wesentliche Unterschiede ausführlich beschrieben. Kurz gesagt, umfasst das zylindrische Oberflächenabtastmuster 600L lineare Abtastspuren TK1–TK5, die jeweils vier gleichmäßig beabstandete Abtastmusterstellen PL umfassen. die Spurrichtungsindikatoren TDI, der Anfangsindikator SI und der Endindikator EI sind abgebildet. Zwei Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 (punktiert oder gestrichelt angegeben) können sich an den Enden der Spuren befinden. An den Ecken des Abtastmusters 600L können vier Musterziehpunkte PH (durch Quadrate dargestellt) die angrenzenden Spurindikatoren umranden, verfolgen und/oder anpassen (wobei die gleichmäßige Verteilung der übrigen Spuren und Musterstellen automatisch angepasst wird), um der Größe des Abtastmusters 600L zu entsprechen und/oder diese zu definieren. Die Größe des Abtastmusters 600L kann in einem Teileprogramm durch die Größen- oder Bereichsparameter R1 und R2 gekennzeichnet werden. In diesem Fall kann sich der Bereichsparameter R1 in Zylinderachsenrichtung erstrecken, und der Bereichsparameter R2 kann eine Bogenlänge oder einen Winkel um die Zylinderachse herum definieren. Bei einigen Ausführungsformen kann der Bereichsparameter R2 anfänglich basierend auf einer gleichmäßigen Verteilung von Spuren um das Merkmal herum automatisch bestimmt werden, um gegebenenfalls später unter Verwendung der Musterziehpunkte PH grafisch angepasst zu werden. Ein radialer Dimensionsparameter wird in der Benutzerschnittstelle nicht benötigt, weil das Muster konfiguriert ist, um sich automatisch an das zugrundeliegende Werkstückmerkmal anzupassen.
  • Für das Abtastmuster 600L können diverse Abtastmusterparameter (z. B. mit Bezug auf die Größe oder Stelle der Abtastmusterdarstellung, die Anzahl oder Beabstandung der Abtastspuren, die Anzahl oder Beabstandung der Abtastmusterstellen usw.) gemäß einer Eingabe von einem Benutzer angepasst werden, in Analogie zu den zuvor angesprochenen Vorgängen und/oder wie nachstehend beispielsweise mit Bezug auf 8A, 8B, 9A und 9C und 10 beschrieben.
  • 7A zeigt die Darstellung des kegelförmigen Oberflächenabtastmusters 700L, das lineare Spuren und andere Elemente umfasst, die ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das zylindrische Oberflächenabtastmuster 600L beschrieben wurden. Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 700L kann man allgemein in Analogie zu der Beschreibung des Abtastmusters 600L verstehen und müssen hier nicht näher beschrieben werden.
  • 5B zeigt die Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500C (kurz Abtastmuster 500C), das kreisförmige Spuren und andere Elemente umfasst, die ansonsten ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das Abtastmuster 500L beschrieben wurden. Kreisförmige Spuren, im Gegensatz zu linearen Spuren, können in dem Auswahlfeld „Abtastmuster” 441 des Fensters mit Merkmalsinspektionsparametern 440 ausgewählt werden, wie zuvor beispielsweise mit Bezug auf 4 angesprochen. Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 500C kann man allgemein in Analogie zur Beschreibung des Abtastmusters 500L verstehen. Deshalb werden hier nur wesentliche Unterschiede ausführlich beschrieben. Kurz gesagt, umfasst das ebene Oberflächenabtastmuster 500C die kreisförmigen Abtastspuren TK1–TK3, die jeweils vier gleichmäßig beabstandete Abtastmusterstellen PL umfassen (d. h. gleichmäßig beabstandet im Hinblick auf die Winkeltrennung entlang den kreisförmigen Spuren). Voreingestellte oder aktuelle Parameter, die eine anfängliche Anzahl von Abtastspuren TK und Abtastmusterstellen PL entlang den Spuren bestimmen, können unter Verwendung des Definitionsabschnitts „Messstrecke und Punkte” 450, der zuvor mit Bezug auf 4 angesprochen wurde, oder beispielsweise eines analogen Definitionsabschnitts definiert werden. Die Spurrichtungsindikatoren TDI, der Startindikator SI und der Endindikator EI sind abgebildet, wie zuvor angesprochen. Zwei Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 (punktiert oder gestrichelt angegeben) können sich an den Musterstellen befinden, die den Enden der Spuren am nächsten liegen. Zwei Musterziehpunkte PH (durch Quadrate dargestellt) können den äußeren kreisförmigen Spurindikator umranden, verfolgen und/oder anpassen, um der Größe und/oder Form des Abtastmusters 500C zu entsprechen und/oder diese zu definieren. Die Größe des Abtastmusters 500C kann in einem Teileprogramm durch die Größen- oder Bereichsparameter R1 und R2 gekennzeichnet werden. In diesem Fall kann sich der Bereichsparameter R1 in der radialen Richtung erstrecken, und der Bereichsparameter R2 kann eine Bogenlänge oder einen Winkel um den Mittelpunkt der kreisförmigen Spuren herum definieren (R2 wird in 9A gezeigt). Bei einigen Ausführungsformen kann der Bereichsparameter R2 anfänglich automatisch bestimmt werden, um 360° abzudecken, so dass die Musterziehpunkte PH nebeneinanderliegen oder sich überlappen, wie in 5B abgebildet, um gegebenenfalls später unter Verwendung der Musterziehpunkte PH grafisch angepasst zu werden. Die Funktionsweise der Musterziehpunkte PH und des Bereichsparameters R2 werden nachstehend beispielsweise mit Bezug auf 9A ausführlicher beschrieben. Für das Abtastmuster 500C können diverse Abtastmusterparameter (z. B. mit Bezug auf die Größe oder Stelle der Abtastmusterdarstellung, die Anzahl oder Beabstandung der Abtastspuren, die Anzahl oder Beabstandung der Abtastmusterstellen usw.) gemäß der Eingabe von einem Benutzer in Analogie zu zuvor angesprochenen Vorgängen, und/oder wie nachstehend beispielsweise mit Bezug auf 8A, 8B, 9A und 9C und 10 ausführlicher beschrieben, angepasst werden.
  • 6B zeigt die Darstellung des zylindrischen Oberflächenabtastmusters 600C (kurz Abtastmuster 600C), das kreisförmige Spuren und andere Elemente aufweist, die ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das Abtastmuster 500C beschrieben wurden. Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 600C kann man allgemein in Analogie zu der Beschreibung von Abtastmuster 500C und anderen verstehen. Deshalb werden hier nur wesentliche Unterschiede ausführlich beschrieben. Kurz gesagt, umfasst das zylindrische Oberflächenabtastmuster 600C kreisförmige Abtastspuren TK1–TK3, die jeweils vier gleichmäßig beabstandete Abtastmusterstellen PL umfassen. Die Spurrichtungsindikatoren TDI, der Anfangsindikator SI und der Endindikator EI sind abgebildet, wie zuvor angesprochen. Zwei Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 (punktiert oder gestrichelt angegeben) können sich an den Musterstellen befinden, die den Enden der oberen Spur am nächsten liegen. Zwei Musterziehpunkte PH (durch Quadrate dargestellt) können den Radius, die axiale Lage und den Winkelbereich der oberen Spur (wobei der Winkelbereich und die gleichmäßige axiale Verteilung der übrigen Spuren und Musterstellen automatisch angepasst werden) umranden, verfolgen und/oder anpassen, und ein Musterziehpunkt PH kann den Radius und die axiale Lage der unteren Spur umranden, verfolgen und/oder anpassen, alles um der Größe und/oder Form des Abtastmusters 600C zu entsprechen und/oder diese zu definieren. Die Größe des Abtastmusters 600C kann in einem Teileprogramm durch die Größen- oder Bereichsparameter R1 und R2 gekennzeichnet werden. In diesem Fall kann sich der Bereichsparameter R1 in der Richtung der Zylinderachse erstrecken, und der Bereichsparameter R2 kann eine Bogenlänge oder einen Winkel um die Zylinderachse herum definieren. Bei einigen Ausführungsformen kann der Bereichsparameter R2 anfänglich automatisch bestimmt werden, um 360° abzudecken, so dass die Musterziehpunkte PH nebeneinanderliegen oder sich überlappen, wie in 6B abgebildet, um gegebenenfalls später unter Verwendung der Musterziehpunkte PH grafisch angepasst zu werden. Die Funktionsweise der Musterziehpunkte PH und des Bereichsparameters R2 kann man analog mit Bezug auf die nachstehende 9A verstehen. Ein radialer Dimensionsparameter wird in der Benutzerschnittstelle nicht benötigt, weil das Muster konfiguriert ist, um sich automatisch an das zugrundeliegende Werkstückmerkmal anzupassen. Für das Abtastmuster 600C können diverse Abtastmusterparameter (z. B. bezüglich der Größe oder Stelle der Abtastmusterdarstellung, der Anzahl oder Beabstandung der Abtastspuren, der Anzahl oder Beabstandung der Abtastmusterstellen usw.) gemäß einer Eingabe von einem Benutzer wie bei den zuvor angesprochenen Vorgängen, und/oder wie nachstehend beispielsweise mit Bezug auf 9A und 9C und 10 beschrieben, angepasst werden.
  • 7B zeigt die Darstellung des kegelförmigen Oberflächenabtastmusters 700C, das kreisförmige Spuren und andere Elemente umfasst, die ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das zylindrische Oberflächenabtastmuster 600C beschrieben wurden. Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 700C kann man allgemein in Analogie zu der Beschreibung des Abtastmusters 600C verstehen, und müssen hier nicht weiter beschrieben werden.
  • 5C zeigt die Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500S (kurz Abtastmuster 500S), das eine spiralförmige Spur und andere Elemente umfasst, die ansonsten ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf die Abtastmuster 500L und 500C und andere beschrieben wurden, und Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 500S kann man allgemein in Analogie dazu verstehen. Deshalb werden hier nur wesentliche Unterschiede ausführlich beschrieben. Eine spiralförmige Spur, im Gegensatz zu linearen oder kreisförmigen Spuren, kann in dem Auswahlfeld „Abtastmuster” des Fensters mit Merkmalsinspektionsparametern 440 gewählt werden, wie zuvor beispielsweise mit Bezug auf 4 angesprochen. Kurz gesagt, umfasst bei dem in 5C gezeigten bestimmten Beispiel das Oberflächenabtastmuster 500S eine ebene spiralförmige Spur TK1, die drei gleichmäßig beabstandete 360° Windungen umfasst. Die spiralförmige Spur TK1 umfasst gleichmäßig beabstandete Abtastmusterstellen PL. Voreingestellte oder aktuelle Parameter, welche eine anfängliche Anzahl von Windungen und eine Anzahl von Abtastmusterstellen PL entlang der spiralförmigen Spur bestimmen, können beispielsweise unter Verwendung des Definitionsabschnitts 450 „Messstrecke und Punkte”, der zuvor mit Bezug auf 4 angesprochen wurde, oder eines analogen Definitionsabschnitts definiert werden. Der Spuranfangsindikator SI und der Endindikator EI sind abgebildet, wie zuvor angesprochen. Zwei Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 (punktiert oder gestrichelt angegeben) können sich an den Musterstellen befinden, die den Enden der spiralförmigen Spur am nächsten sind. Ein Musterziehpunkt PH (durch Quadrate dargestellt) kann den äußeren Anfangspunkt der spiralförmigen Spur umranden, verfolgen und/oder anpassen, um der radialen Größe des Abtastmusters 500S zu entsprechen und/oder diese zu definieren. Die Größe des Abtastmusters 500S kann in einem Teileprogramm durch den radialen Größen- oder Bereichsparameter R1 gekennzeichnet werden. Für das Abtastmuster 500S können diverse Abtastmusterparameter (z. B. bezüglich der Größe oder Stelle der Abtastmuster-Darstellung, der Anzahl von Windungen, der Anzahl oder Beabstandung von Abtastmusterstellen usw.) gemäß der Eingabe von einem Benutzer in Analogie zu den zuvor angesprochenen Vorgängen, und/oder wie nachstehend mit Bezug auf 8A, 8B und 9A und 9C beschrieben, angepasst werden. Beispielsweise kann der Benutzer zusätzlich zum Ziehen der Musterstelle oder des Musterziehpunkts (um die Größe zu ändern) einen beliebigen Teil des Spurindikators radial ziehen, um die Dichte der Windungen in der radialen Richtung anzupassen (wobei die gleichmäßige Verteilung von Musterstellen entlang der Spur automatisch angepasst wird). Der Benutzer kann ferner eines der Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 an der Spur entlang ziehen, um die Dichte der Musterstellen entlang der Spur anzupassen.
  • 6C zeigt die Darstellung des zylindrischen Oberflächenabtastmusters 600S (kurz Abtastmuster 600S), das eine spiralförmige Spur und andere Elemente umfasst, die ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das Abtastmuster 500S beschrieben wurden. Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 600S kann man allgemein in Analogie zu der Beschreibung von Abtastmuster 500S und anderen verstehen. Deshalb werden hier nur wesentliche Unterschiede ausführlich beschrieben. Kurz gesagt, umfasst bei dem bestimmten Beispiel, das in 6C gezeigt wird, das Oberflächenabtastmuster 600S eine schraubenförmige spiralförmige Spur TK1, die drei gleichmäßig beabstandete 360° Windungen umfasst, die sich automatisch an den zugrundeliegenden Zylinder anpassen und in der Richtung der Zylinderachse verteilt sind. Die spiralförmige Spur TK1 umfasst gleichmäßig beabstandete Abtastmusterstellen PL. Die Spurrichtungsindikatoren TDI, der Anfangsindikator SI und der Endindikator EI sind abgebildet, wie zuvor angesprochen. Zwei Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 (punktiert oder gestrichelt angegeben) können sich an den Musterstellen befinden, die den Enden der spiralförmigen Spur am nächsten liegen. Zwei Musterziehpunkte PH (durch Quadrate dargestellt) können die Anfangs- und Endpunkte der spiralförmigen Spur umranden, verfolgen und/oder anpassen, um der axialen Größe des Abtastmusters 600S zu entsprechen und/oder diese zu definieren. Die Größe des Abtastmusters 600S kann in einem Teileprogramm durch den axialen Größen- oder Bereichsparameter R1 gekennzeichnet werden. Ein radialer Dimensionsparameter wird in der Benutzerschnittstelle nicht benötigt, weil das Muster konfiguriert ist, um sich automatisch an das zugrundeliegende Werkstückmerkmal anzupassen. Für das Abtastmuster 600S können diverse Abtastmusterparameter (z. B. bezüglich der Größe oder Stelle der Abtastmuster-Darstellung, der Anzahl von Windungen, der Anzahl oder Beabstandung von Abtastmusterstellen usw.) gemäß der Eingabe von einem Benutzer in Analogie zu den zuvor angesprochenen Vorgängen, und/oder wie nachstehend mit Bezug auf 8A, 8B und 9A und 9C beschrieben, angepasst werden. Beispielsweise kann der Benutzer zusätzlich zum Ziehen der Musterstelle oder des Musterziehpunkts (um die Größe zu ändern) einen beliebigen Teil des Spurindikators axial ziehen, um die Dichte der Windungen in der axialen Richtung anzupassen (wobei die gleichmäßige Verteilung von Musterstellen entlang der Spur automatisch angepasst wird). Der Benutzer kann ferner eines der Musterdichte-Steuerelemente PDC1 und PDC2 an der Spur entlang ziehen, um die Dichte der Musterstellen entlang der Spur anzupassen.
  • 7C zeigt die Darstellung des kegelförmigen Oberflächenabtastmusters 700S, das eine spiralförmige Spur und andere Elemente umfasst, die ähnlich wie entsprechende Elemente aussehen und funktionieren, die zuvor mit Bezug auf das zylindrische Oberflächenabtastmuster 600S beschrieben wurden. Aussehen und Funktionsweise des Abtastmusters 700S kann man allgemein in Analogie zu der Beschreibung des Abtastmusters 600S verstehen und müssen hier nicht näher beschrieben werden.
  • 8A zeigt einen Zustand der Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500L, wobei das zuvor angesprochene Musterdichte-Steuerelement PDC2 von einem Benutzer gesteuert wird, der daran unter Verwendung eines Mauszeigers CSR zieht, um die Dichte der Musterstellen auf allen Spuren gleichzeitig anzupassen. Bei dem gezeigten Beispiel hat der Benutzer zuvor das Musterdichte-Steuerelement PDC2 an seiner ursprünglichen Stelle 801 ausgewählt und es an die Stelle 802 gezogen. Bei der abgebildeten Ausführungsform zieht das Musterdichte-Steuerelement PDC2 die verknüpften Musterstellendarstellungen auf den Spuren mit. Eine gleichmäßige Abstandsdistanz SD wird automatisch zwischen den Musterstellen auf den Spuren eingehalten, so dass die Abstandsdistanz SD abnimmt und die Musterstellendichte auf der Spur zunimmt. Es versteht sich, dass das Ziehen des Musterdichte-Steuerelements PDC2 in die entgegengesetzte Richtung die entgegengesetzte Wirkung auf die Abstandsdistanz SD hätte. Bei der bestimmten abgebildeten Ausführungsform wird automatisch ein fiktiver Satz von Musterstellen 803 erstellt und in der Benutzerschnittstelle angezeigt (z. B. sobald der Benutzer damit beginnt, an dem Musterdichte-Steuerelement PDC2 zu ziehen), gemäß der dynamischen Abstandsdistanz SD und wie durch den Ziehvorgang bewirkt. Falls der Satz von fiktiven Musterstellen 803 in den ursprünglichen Bereich des Abtastmusters 500L gezogen wird (wie durch die ursprüngliche Position der Musterziehpunkte PH definiert), wird bei einigen Ausführungsformen automatisch ein zusätzlicher fiktiver Satz von Musterstellen generiert. Wenn der Benutzer den Ziehvorgang beendet, werden eventuelle Musterstellen innerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 500L an ihrer endgültigen Position in dem Abtastmuster 500L gehalten. Alle fiktiven Musterstellen außerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 500L werden verworfen oder bei einigen Ausführungsformen als „unbrauchbare Stellen” eingestuft (z. B. wie nachstehend mit Bezug auf 11 angesprochen).
  • Es versteht sich, dass die Auswirkung eventueller Anpassungen, die grafisch gemäß den hier offenbarten Grundlagen vorgenommen werden, in dem sich ergebenden Teileprogramm wiedergegeben wird. Zusätzlich können alle Benutzerschnittstellenfenster, die Parameter anzeigen, die den grafischen Anpassungen entsprechen, automatisch aktualisiert werden, um die neuen Parameterwerte anzuzeigen, die den Anpassungen entsprechen.
  • 8B zeigt einen Zustand der Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500L, wobei ein Spurindikator von einem Benutzer gesteuert wird, indem er unter Verwendung eines Mauszeigers CSR daran zieht, um die Dichte der Spuren anzupassen. Bei dem gezeigten Beispiel hat der Benutzer zuvor den Spurindikator TKind an seiner ursprünglichen Stelle 811 ausgewählt und ihn bis zu der Stelle 812 gezogen. Bei der abgebildeten Ausführungsform zieht der Spurindikator die verknüpften Musterstellendarstellungen mit. Eine gleichmäßige Spurabstandsdistanz TSD wird automatisch zwischen den Spuren eingehalten, so dass die Spurabstandsdistanz TSD abnimmt und die Spurdichte in dem Abtastmuster 500L zunimmt. Es versteht sich, dass das Ziehen des Spurindikators TKind in die entgegengesetzte Richtung die entgegengesetzte Wirkung auf die Spurabstandsdistanz TSD hätte. Bei der bestimmten abgebildeten Ausführungsform wird automatisch eine fiktive Spur 813 mit Musterstellen erstellt und in der Benutzerschnittstelle angezeigt (z. B. sobald der Benutzer mit dem Ziehen des Spurindikators beginnt), gemäß der dynamischen Abstandsdistanz TSD und wie es durch den Ziehvorgang bewirkt wird. Falls die fiktive Spur 813 in den ursprünglichen Bereich des Abtastmusters 500L gezogen wird (wie durch die ursprüngliche Position der Musterziehpunkte PH definiert), wird bei einigen Ausführungsformen automatisch eine zusätzlich fiktive Spur generiert. Wenn der Benutzer den Ziehvorgang beendet, werden alle Spuren und Musterstellen innerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 500L an ihrer endgültigen Stelle in dem Abtastmuster 500L gehalten. Alle fiktiven Spuren außerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 500L werden verworfen, oder bei einigen Ausführungsformen können ihre Musterstellen als „unbrauchbare Stellen” eingestuft werden (z. B. wie nachstehend mit Bezug auf 11 angesprochen).
  • 9A zeigt einen Zustand der Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500C, das in 5B abgebildet ist, wobei ein zuvor angesprochener Musterziehpunkt PH von einem Benutzer gesteuert wird, indem er unter Verwendung eines Mauszeigers CSR daran zieht, um den Bereich R2 anzupassen, der sich gleichzeitig auf die Länge aller Spuren auswirkt. Bei dem gezeigten Beispiel hat der Benutzer zuvor den Musterziehpunkt PH an seiner ursprünglichen Stelle 901 ausgewählt und ihn an die Stelle 902 gezogen. Bei der abgebildeten Ausführungsform zieht der Musterziehpunkt PH das Musterdichte-Steuerelement PDC2 und die verknüpften Musterstellendarstellungen auf den Spuren mit. D. h. eine gleichmäßige Abstandsdistanz SD wird automatisch zwischen den Musterstellen auf den Spuren eingehalten, so dass die Abstandsdistanz SD abnimmt und die Musterstellendichte entlang der Spur zunimmt.
  • 9B zeigt einen Zustand der Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500C, das in 9A abgebildet ist, wobei das zuvor angesprochene Musterdichte-Steuerelement PDC2 von einem Benutzer gesteuert wird, indem er unter Verwendung eines Mauszeigers CSR daran zieht, um die Dichte der Musterstellen auf allen Spuren gleichzeitig anzupassen. Bei dem gezeigten Beispiel hat der Benutzer zuvor das Musterdichte-Steuerelement PDC2 an der Stelle 911 ausgewählt und es bis zu der Stelle 912 gezogen. Bei der abgebildeten Ausführungsform zieht das Musterdichte-Steuerelement PDC2 die verknüpften Musterstellendarstellungen auf den Spuren mit. Eine gleichmäßige Abstandsdistanz SD wird automatisch zwischen den Musterstellen auf den Spuren eingehalten, so dass die Abstandsdistanz SD abnimmt und die Musterstellendichte entlang der Spur zunimmt. Bei der bestimmten abgebildeten Ausführungsform wird ein Satz von Musterstellen 913 automatisch erstellt und in der Benutzerschnittstelle angezeigt (z. B. sobald der Benutzer damit beginnt, an dem Musterdichte-Steuerelement PDC2 zu ziehen), gemäß der dynamischen Abstandsdistanz SD und wie durch den Ziehvorgang bewirkt. Der Satz von fiktiven Musterstellen 913 wird innerhalb des Bereichs des Abtastmusters 500C mitgezogen (wie durch die Position der Musterziehpunkte PH definiert). Wenn der Benutzer den Ziehvorgang beendet, werden alle Musterstellen innerhalb des Bereichs des Abtastmusters 500C an ihrer endgültigen Stelle in dem Abtastmuster 500C gehalten.
  • 9C zeigt einen Zustand der Darstellung des ebenen Oberflächenabtastmusters 500C, das in 5B abgebildet ist, wobei ein Spurindikator von einem Benutzer gesteuert wird, indem er unter Verwendung eines Mauszeigers CSR daran zieht, um die Dichte der Spuren anzupassen. Bei dem gezeigten Beispiel hat der Benutzer zuvor den Spurindikator TKind an seiner ursprünglichen Stelle 921 ausgewählt und ihn an die Stelle 922 gezogen. Bei der abgebildeten Ausführungsform zieht der Spurindikator die verknüpften Musterstellendarstellungen mit. Eine gleichmäßige Spurabstandsdistanz TSD wird automatisch zwischen den Spuren eingehalten, so dass die Spurabstandsdistanz TSD abnimmt und die Spurdichte in dem Abtastmuster 500C zunimmt. Bei der bestimmten abgebildeten Ausführungsform wird automatisch eine fiktive Spur 923, die Musterstellen umfasst, erstellt und in der Benutzerschnittstelle angezeigt (z. B. sobald der Benutzer damit beginnt, an dem Spurindikator zu ziehen), gemäß der dynamischen Abstandsdistanz TSD und wie durch den Ziehvorgang bewirkt. Falls die fiktive Spur 923 in den ursprünglichen Bereich des Abtastmusters 500C gezogen wird (wie durch die ursprüngliche Position der Musterziehpunkte PH definiert), wird bei einigen Ausführungsformen automatisch eine zusätzliche fiktive Spur generiert. Wenn der Benutzer den Ziehvorgang beendet, werden Spuren und Musterstellen innerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 500C an ihrer endgültigen Stelle in dem Abtastmuster 500C gehalten. Alle fiktiven Spuren außerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 500C werden verworfen, oder bei einigen Ausführungsformen können ihre Musterstellen als „unbrauchbare Stellen” eingestuft werden (z. B. wie nachstehend mit Bezug auf 11 angesprochen).
  • 10A zeigt einen Zustand der Darstellung des zylindrischen Oberflächenabtastmusters 600C, das in 6B abgebildet ist, wobei ein Spurindikator von einem Benutzer gesteuert wird, indem er ihn unter Verwendung eines Mauszeigers CSR in der axialen Richtung des Zylinders zieht, um die Dichte der Spuren anzupassen. Bei dem gezeigten Beispiel hat der Benutzer zuvor den Spurindikator TKind an seiner ursprünglichen Stelle 1011 ausgewählt und ihn an die Stelle 1012 gezogen. Bei der abgebildeten Ausführungsform zieht der Spurindikator die verknüpften Musterstellendarstellungen mit. Eine gleichmäßige Spurabstandsdistanz TSD wird automatisch zwischen den Spuren eingehalten, so dass der Spurabstand 600C zunimmt. Bei der bestimmten abgebildeten Ausführungsform wird automatisch eine fiktive Spur 1013, die Musterstellen umfasst, erstellt und in der Benutzerschnittstelle angezeigt (z. B. sobald der Benutzer damit beginnt, an dem Spurindikator zu ziehen), gemäß der dynamischen Abstandsdistanz TSD und wie durch den Ziehvorgang bewirkt. Falls die fiktive Spur 1013 in den ursprünglichen Bereich des Abtastmusters 600C gezogen wird (wie durch die ursprüngliche Position der Musterziehpunkte PH definiert), wird bei einigen Ausführungsform automatisch eine zusätzliche fiktive Spur generiert. Wenn der Benutzer den Ziehvorgang beendet, werden alle Spuren und Musterstellen innerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 600C an ihrer endgültigen Stelle in dem Abtastmuster 600C gehalten. Alle fiktiven Spuren außerhalb des ursprünglichen Bereichs des Abtastmusters 600C werden verworfen, oder bei einigen Ausführungsformen können ihre Musterstellen als „unbrauchbare Stellen” eingestuft werden (z. B. wie nachstehend mit Bezug auf 11 angesprochen).
  • 11 ist eine Abbildung, die eine Ausführungsform eines Abschnitts einer Benutzerschnittstelle einer Programmierumgebung (z. B. wie in dem zuvor angesprochenen Simulationsansichtsfenster 415 abgebildet, das in 4 gezeigt wird) in einem ersten Zustand 1100 darstellt, wobei ein erstes ebenes Abtastmuster 500L' (analog zu dem zuvor beschriebenen Abtastmuster 500L, das lineare Spuren aufweist) und ein zweites ebenes Abtastmuster 500C' (analog zu dem zuvor beschriebenen Abtastmuster 500C, das kreisförmige Spuren aufweist) einer Darstellung eines Werkstücks 1110 überlagert gezeigt werden. Bei dem abgebildeten Beispiel befindet sich die Benutzerschnittstelle 1100 in einem Zustand, in dem das Abtastmuster 500L' automatisch konfiguriert und an das ebene Merkmal 1110P1 (d. h. die senkrechte Seite des Werkstücks), basierend auf einem entsprechenden voreingestellten Satz von Abtastmusterparametern (z. B. analog zu denjenigen, die zuvor mit Bezug auf das Fenster mit Parametern zum Inspizieren von Merkmalen 440 angesprochen wurden) angepasst wurde. Ähnlich wurde das Abtastmuster 500C' automatisch konfiguriert und an das ebene Merkmal 1110P2 (d. h. die waagerechte obere Oberfläche des Werkstücks) basierend auf einem entsprechenden voreingestellten Satz von Abtastmusterparametern angepasst.
  • Mit Bezug auf das Abtastmuster 500L', weil es automatisch dimensioniert und im Verhältnis zu gewissen bestimmenden Kanten des ebenen Merkmals 1110P1 angeordnet wurde, beispielsweise gemäß einem voreingestellten Versatzabstand EO und gemäß diversen voreingestellten Parametern, können einige Musterstellen innerhalb des Abtastmusters 500L' als unbrauchbar eingestuft werden, und ihre Anzeige in der Benutzerschnittstelle kann codiert werden, um ihre Klassifizierung anzugeben. Beispielsweise bei der abgebildeten Ausführungsform der Benutzerschnittstelle 1100 sind die Stellen IPLEV mit einer Schraffierung ausgefüllt, um anzugeben, dass sie als unbrauchbare Musterstellen eingestuft sind, die ein Kantenversatzkriterium verletzen (z. B. wie es von dem zuvor angesprochenen Kantenversatzparameter aufgestellt wird). Ähnlich sind die Stellen IPLOF leer oder mit Weiß gefüllt, um anzugeben, dass sie als unbrauchbare Musterstellen eingestuft sind, weil sie sich außerhalb des Merkmals befinden. Betriebsfähige Stellen sind einfarbig ausgefüllt, um anzugeben, dass sie als brauchbare Musterstellen eingestuft sind. Es versteht sich, dass bei einigen Ausführungsformen, sobald ein Benutzer Vorgänge ausführt, die eine endgültige Konfiguration für ein Abtastmuster annehmen, unbrauchbare Stellen von der Anzeige entfernt werden können, und diverse Elementdarstellungen sich ändern können, um die Sondenstrecke durch das Abtastmuster usw. genauer wiederzugeben. Auf jeden Fall werden bei diversen Ausführungsformen nur brauchbare Musterstellen als Inspektionsstellen verwendet, die von der Sonde in einem sich ergebenden Teileprogramm aufgesucht werden.
  • Mit Bezug auf das Abtastmuster 500C' sind die brauchbaren und unbrauchbaren Musterstellen mit Füllmustern codiert, die denjenigen entsprechen, die zuvor angesprochen wurden. Es sei zu beachten, dass der Übersichtlichkeit halber in einer Schwarz-Weiß-Abbildung bestimmte Elemente des Abtastmusters 500C' mit gestricheltem Umriss gezeigt werden, nur um eine visuelle Verwechslung mit angrenzenden Merkmalen des Werkstücks zu vermeiden. Da sie automatisch dimensioniert und im Verhältnis zu gewissen bestimmenden Kanten des ebenen Merkmals 1110P2 positioniert wurden (beispielsweise gemäß einem voreingestellten Versatzabstand und gemäß diversen voreingestellten Parametern), werden viele der Musterstellen innerhalb des Abtastmusters 500C' angegeben, um als unbrauchbare Musterstellen eingestuft zu sein, weil sie sich außerhalb des Merkmals befinden (z. B. in Schlitzen oder Löchern in dem ebenen Merkmal 1110P2). Eine Musterstelle wird als unbrauchbar angegeben, weil sie ein Kantenversatzkriterium verletzt. Eine Anpassung des Abtastmusters 500C' wird nachstehend mit Bezug auf 12 beschrieben.
  • 12 ist eine Abbildung, die eine Ausführungsform des Abschnitts der Benutzerschnittstelle einer Programmierumgebung, die in 11 gezeigt wird, in einem zweiten Zustand 1100' zeigt. Bei dem abgebildeten Beispiel befindet sich die Benutzerschnittstelle 1100' in einem Zustand, in dem das Abtastmuster 500L' unterdrückt wurde (der Übersichtlichkeit halber) und das Abtastmuster 500C'' von einem Benutzer im Verhältnis zu der Form des Abtastmusters 500C', das in 11 gezeigt wird, angepasst wurde, um die Anzahl von brauchbaren Abtastmusterstellen auf dem ebenen Merkmal 1110P2 deutlich zu vergrößern. Insbesondere versteht es sich, dass beginnend mit der in 11 gezeigten Konfiguration der Benutzer zuerst den Spurindikator TKind nach innen gezogen hat, ähnlich wie mit Bezug auf 9C beschrieben, wodurch zwei zusätzliche fiktive Spuren (für insgesamt fünf Spuren) innerhalb der ursprünglichen Größe oder des Bereichs des Abtastmusters 500C' gebildet wurden. Der Benutzer kann dann die Größe oder den Bereich leicht vergrößert haben, indem er an dem Musterziehpunkt PH zieht, so dass die Musterstellen des Spurindikators TKind' nicht das Kriterium des Kantenversatzparameters im Verhältnis zu der angrenzenden Kante verletzen. Somit hat der Benutzer unter Verwendung von nur zwei sehr einfachen und intuitiv verständlichen Vorgängen an einer grafischen Benutzerschnittstelle gemäß den hier offenbarten Grundlagen eine große Anzahl von Musterabtaststellen gleichzeitig erstellt und/oder angepasst, beginnend mit dem unteren voreingestellten Abtastmuster 500C', das in 11 gezeigt wird, und unter Bereitstellung der oberen Musterabtaststellen in dem angepassten Abtastmuster 500C'', um das ebene Merkmal 1110P2 robust abzutasten (zu messen). Es versteht sich, dass diese Beschreibung rein beispielhaft und nicht einschränkend ist. Diverse andere Benutzerschnittstellenvorgänge, die zuvor angesprochen wurden, können getrennt und/oder in einer beliebigen brauchbaren Kombination verwendet werden, um eines der hier offenbarten diversen Abtastmuster anzupassen.
  • 13 ist ein Ablaufschema, das ein Beispiel einer Routine 1300 abbildet, um Vorgänge zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für ein Metrologiesystem zu programmieren, gemäß den hier offenbarten Grundlagen. In Block 1310 wird eine Bearbeitungsumgebung betätigt, um eine dreidimensionale Werkstückdarstellung, die ein erstes Oberflächenmerkmal eines Werkstücks umfasst, an einem Anzeigeabschnitt anzuzeigen. Die Bearbeitungsumgebung umfasst den Anzeigeabschnitt; einen Programmiersteuerabschnitt; eine grafische Benutzerschnittstelle (GUI); und mindestens ein erstes Merkmalsoberflächen-Abtastmuster, das eine Anordnung von Abtastmusterstellen umfasst.
  • In Block 1320 wird die Bearbeitungsumgebung betätigt, um eine Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters zu erstellen, das mindestens einen Musterparameter aufweist, der angepasst ist, um dem ersten Oberflächenmerkmal des Werkstücks zu entsprechen. Eine entsprechende Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters wird ferner an dem Anzeigeabschnitt angezeigt. Die entsprechende Darstellung umfasst brauchbare Abtastmusterstellen, die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden.
  • In Block 1330 wird die Bearbeitungsumgebung basierend auf Benutzereingabevorgängen in der GUI betätigt, um ferner mindestens einen Musterparameter der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters anzupassen. Die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters wirkt sich gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen in der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters aus. Die entsprechende Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters ist auch konfiguriert, um sofort auf die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters zu reagieren.
  • Die zuvor beschriebenen diversen Ausführungsformen können kombiniert werden, weitere Ausführungsformen bereitzustellen. Alle US-Patente und US-Patentanmeldungen, auf die in der vorliegenden Beschreibung Bezug genommen wird, werden hiermit zur Bezugnahme vollständig übernommen. Die Aspekte der Ausführungsformen können gegebenenfalls geändert werden, um Konzepte der diversen Patente und Anmeldungen zu verwenden, um noch weitere Ausführungsformen bereitzustellen.
  • Diese und andere Änderungen können angesichts der obigen ausführlichen Beschreibung an den Ausführungsformen vorgenommen werden. Im Allgemeinen sind in den nachstehenden Ansprüchen die verwendeten Begriffe nicht als die Ansprüche auf die spezifischen Ausführungsformen einschränkend auszulegen, die in der Beschreibung und den Ansprüchen offenbart werden, sondern sind auszulegen, um alle möglichen Ausführungsformen zusammen mit dem gesamten Umfang der Äquivalente, zu denen die Ansprüche berechtigt sind, zu umfassen.
  • Die Merkmale, Komponenten und spezifischen Einzelheiten der Strukturen der zuvor beschriebenen Ausführungsformen können ausgetauscht oder kombiniert werden, um weitere Ausführungsformen zu bilden, die für die jeweilige Anwendung optimiert sind. Soweit diese Änderungen für den Fachmann ohne Weiteres ersichtlich sind, werden sie implizit durch die obige Beschreibung offenbart, ohne um der Prägnanz der vorliegenden Beschreibung willen ausdrücklich jede mögliche Kombination vorzugeben.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • US 8438746 [0002, 0035]
    • US 7652275 [0003]
    • US 4908951 [0005]

Claims (20)

  1. Computerumgesetztes Verfahren zum Programmieren von Vorgängen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine, CMM, wobei die Koordinatenmessmaschine Folgendes umfasst: einen Sensor, der verwendet wird, um Messdaten von Werkstückmerkmalen zu bestimmen; einen Arbeitstisch zum Halten eines Werkstücks (10), wobei der Sensor und der Arbeitstisch konfiguriert sind, um im Verhältnis zueinander bewegbar zu sein; und einen CMM-Steuerabschnitt (3), wobei das Verfahren in einer Bearbeitungsumgebung umgesetzt wird, die Folgendes umfasst: einen Programmiersteuerabschnitt; einen Anzeigeabschnitt (5D); eine grafische Benutzerschnittstelle, GUI; und mindestens ein erstes Merkmalsoberflächen-Abtastmuster (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S), das eine Anordnung von Abtastmusterstellen (PL) umfasst, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine dreidimensionale. Werkstückdarstellung, die ein erstes Oberflächenmerkmal des Werkstücks (10) umfasst, an dem Anzeigeabschnitt (5D) anzuzeigen; Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) zu erstellen, das mindestens einen Musterparameter aufweist, der angepasst wird, um dem ersten Oberflächenmerkmal des Werkstücks (10) zu entsprechen, einschließlich des Anzeigens einer entsprechenden Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) an dem Anzeigeabschnitt (5D), wobei die entsprechende Darstellung brauchbare Abtastmusterstellen (PL) umfasst, die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden; und Betätigen der Bearbeitungsumgebung basierend auf Benutzereingabevorgängen in der GUI, um mindestens einen Musterparameter der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) weiter anzupassen, wobei sich die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen (PL) in der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) auswirkt; und die entsprechende Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) konfiguriert ist, um sofort auf die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters zu reagieren.
  2. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 1, wobei die entsprechende Darstellung ferner unbrauchbare Abtastmusterstellen (IPLEV, IPLOF) umfasst, die mindestens eine von einer ersten Art von unbrauchbaren Abtastmusterstellen (IPLEV), bei der eine Musterstelle für eine aktuelle Sensorkonfiguration auf der CMM nicht zugänglich ist, und von einer zweiten Art von unbrauchbaren Abtastmusterstellen (IPLOF), bei der eine Musterstelle auf eine Fehlstelle in dem ersten Oberflächenmerkmal oder außerhalb des ersten Oberflächenmerkmals trifft, umfassen.
  3. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 2, wobei die Anzeige der entsprechenden Darstellung die brauchbaren Abtastmusterstellen (PL) und die unbrauchbaren Abtastmusterstellen (IPLEV, IPLOF) mit jeweiligen Erscheinungsbildern, die sich voneinander unterscheiden, darstellt.
  4. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, wobei ein GUI-Element bereitgestellt wird, das es einem Benutzer ermöglicht auszuwählen, ob mindestens eine Art von unbrauchbaren Abtastmusterstellen in der entsprechenden Darstellung zu unterdrücken ist oder nicht.
  5. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die Benutzereingabevorgänge zum Anpassen des mindestens einen Musterparameters durch mindestens eines von dedizierten GUI-Elementen, Berührungsgesten oder ein Dialogfeld bereitgestellt werden.
  6. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der mindestens eine Musterparameter, der angepasst wird, mindestens eine von einer Dichte von Abtastmusterstellen an der Oberfläche des Werkstücks (10) oder einer Anzahl von Abtastmusterstellen in einem Bereich oder einer Dichte von Abtastmusterstellen (PL) entlang einer Abtastspur (TK) betrifft.
  7. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 6, wobei ein GUI-Element bereitgestellt wird, das es einem Benutzer ermöglicht, mindestens eines vorzunehmen von Drehen, Verschieben oder Ziehen der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) im Verhältnis zu der Oberfläche des Werkstücks (10).
  8. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) ein grafisches Inspektionspunkt-Programmierelement, GIPP, umfasst.
  9. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 8, wobei die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600C, 700L, 700C, 700S) automatisch dimensioniert und der dreidimensionalen Werkstückdarstellung überlagert wird, wenn das GIPP-Element in die Nähe der dreidimensionalen Werkstückdarstellung in dem Anzeigeabschnitt (5D) bewegt wird.
  10. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, wobei die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 5005, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) eine Abtaststrecke definiert, die Inspektionsprogrammanweisungen entspricht, die automatisch von dem GIPP-Element generiert werden, und die Abtaststrecke verwendet wird, um die Bewegungen eines Oberflächenpunktsensors zu bestimmen, wie er von der Koordinatenmessmaschine zum Abtasten der Oberflächenkoordinaten der Werkstückoberfläche gesteuert wird.
  11. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10, wobei das GIPP-Element ferner mindestens drei Betriebsarten für mindestens eine Art von Oberflächenmerkmal umfasst, wobei die drei Betriebsarten mindestens einigen von einer Vielzahl von Abtastspuren entsprechen, die jeweils in Form von Kreisen, Linien oder einer Spirale vorliegen.
  12. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 11, wobei das GIPP-Element mindestens eines ist von einem zylindrischen GIPP-Element, das sich einer zylindrischen Merkmalsoberfläche anpasst, einem ebenen GIPP-Element, das sich einer ebenen Merkmalsoberfläche anpasst, einem kugelförmigen GIPP-Element, das sich einer kugelförmigen Merkmalsoberfläche anpasst, oder einem kegelförmigen GIPP-Element, das sich einer kegelförmigen Merkmalsoberfläche anpasst.
  13. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, wobei der mindestens eine Musterparameter mindestens einen von einem Abtastmuster-Startparameter, der eine Anfangsposition der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) bestimmt, oder einem Streckenbereichsparameter in der ersten Richtung des Abtastmusters, der einen Streckenbereich in einer ersten Richtung für die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) bestimmt, umfasst.
  14. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 13, wobei ein zweiter Musterparameter ein Streckenbereichsparameter in einer zweiten Richtung des Abtastmusters ist, der einen Streckenbereich in einer zweiten Richtung für die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) bestimmt.
  15. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 14, wobei der Streckenbereichsparameter in einer ersten Richtung des Abtastmusters am Ende eines ersten Vektors dargestellt wird, der einer Länge oder einem Bogen entspricht, und der Streckenbereichsparameter in einer zweiten Richtung des Abtastmusters am Ende eines zweiten Vektors dargestellt wird, der einer Länge oder einem Bogen entspricht, wobei ein Benutzer die Streckenbereichsparameter in der ersten Richtung und der zweiten Richtung des Abtastmusters anpassen kann, um die Größen der Vektoren und die entsprechenden Streckenbereiche in der ersten und zweiten Richtung für die Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) anzupassen.
  16. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 14 oder 15, wobei der Streckenbereichsparameter in der zweiten Richtung des Abtastmusters einen Spurabstand zwischen mindestens einigen von der Vielzahl von Abtastspuren bestimmt.
  17. Computerumgesetztes Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 16, wobei die Musterparameter ferner eine Abtastmusteranzahl von Abtaststellen pro Abtastspurparameter umfassen, die eine Anzahl von Abtaststellen pro Abtastspur für mindestens einige von der Vielzahl von Abtastspuren bestimmt.
  18. Computerumgesetztes Verfahren nach Anspruch 17, wobei die Abtastmusteranzahl von Abtaststellen pro Abtastspurparameter als erste Abtaststelle aus einer Vielzahl von gleichmäßig beabstandeten Abtaststellen, die auf einer ersten Abtastspur erscheinen, dargestellt wird, wobei ein Benutzer die Stelle der ersten Abtaststelle auf der ersten Abtastspur grafisch anpassen kann, um die Beabstandung und Anzahl der Abtaststellen, die auf mindestens einigen von der Vielzahl von Abtastspuren erscheinen, anzupassen.
  19. System zum Programmieren von Vorgängen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine, wobei das System Folgendes umfasst: eine Bearbeitungsumgebung, die Folgendes umfasst: einen Programmiersteuerabschnitt; einen Anzeigeabschnitt (5D); eine grafische Benutzerschnittstelle, GUI; und mindestens ein erstes Merkmalsoberflächen-Abtastmuster (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S), das eine Anordnung von Abtastmusterstellen umfasst; einen Speicher zum Speichern von programmierten Anweisungen; und einen Prozessor, der konfiguriert ist, um die programmierten Anweisungen auszuführen, um Vorgänge auszuführen, die folgende Schritte einschließen: Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine dreidimensionale Werkstückdarstellung, die ein erstes Oberflächenmerkmal eines Werkstücks (10) umfasst, an dem Anzeigeabschnitt (5D) anzuzeigen; Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine Instanz eines ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) zu erstellen, das eine Anordnung von Abtastmusterstellen umfasst und mindestens einen Musterparameter aufweist, der angepasst wird, um dem ersten Oberflächenmerkmal des Werkstücks (10) zu entsprechen, einschließlich des Anzeigens einer entsprechenden Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) an dem Anzeigeabschnitt (5D), wobei die entsprechende Darstellung brauchbare Abtastmusterstellen umfasst, die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden; und Betätigen der Bearbeitungsumgebung basierend auf Benutzereingabevorgängen in die GUI, um mindestens einen Musterparameter der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) weiter anzupassen, wobei sich die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen in der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) auswirkt; und die entsprechende Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) konfiguriert ist, um sofort auf die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters zu reagieren.
  20. Nicht vorübergehendes, computerlesbares Speichermedium, auf dem Anweisungen gespeichert sind, die, wenn sie von einem Computersystem ausgeführt werden, bewirken, dass das Computersystem ein Verfahren zum Programmieren von Vorgängen zum Inspizieren von Werkstückmerkmalen für eine Koordinatenmessmaschine ausführt, wobei das Verfahren in einer Bearbeitungsumgebung umgesetzt wird, die Folgendes umfasst: einen Programmiersteuerabschnitt; einen Anzeigeabschnitt (5D); eine grafische Benutzerschnittstelle, GUI; und mindestens ein erstes Merkmalsoberflächen-Abtastmuster (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S), das eine Anordnung von Abtastmusterstellen umfasst, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine dreidimensionale Werkstückdarstellung, die ein erstes Oberflächenmerkmal eines Werkstücks (10) umfasst, an dem Anzeigeabschnitt (5D) anzuzeigen; Betätigen der Bearbeitungsumgebung, um eine Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) zu erstellen, das mindestens einen Musterparameter aufweist, der angepasst wird, um dem ersten Oberflächenmerkmal des Werkstücks (10) zu entsprechen, einschließlich des Anzeigens einer entsprechenden Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) an dem Anzeigeabschnitt (5D), wobei die entsprechende Darstellung brauchbare Abtastmusterstellen umfasst, die sich in der Nähe des ersten Oberflächenmerkmals befinden; und Betätigen der Bearbeitungsumgebung basierend auf Benutzereingabevorgängen in der GUI, um mindestens einen Musterparameter der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) weiter anzupassen, wobei sich die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters gleichzeitig auf eine Vielzahl der Abtastmusterstellen in der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters (500L, 500C, 500S, 600L, 600C, 600S, 700L, 700C, 700S) auswirkt; und die entsprechende Darstellung der Instanz des ersten Merkmalsoberflächen-Abtastmusters konfiguriert ist, um sofort auf die weitere Anpassung des mindestens einen Musterparameters zu reagieren.
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