DE102014108925A1 - Substrate coating device and vapor deposition method - Google Patents
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Abstract
Der Erfindung, die eine Substratbeschichtungseinrichtung und ein Bedampfungsverfahren zum Beschichten eines Substrates durch Transfer von abzuscheidendem Material von einer Maske auf das Substrat betrifft, umfassend einen Substratträger zur Aufnahme des Substrates in einer Substrataufnahmeebene, einen Maskenträger zur Aufnahme der Maske in einer Maskenaufnahmeebene sowie eine Verdampfungseinrichtung zur lokalen Verdampfung des abzuscheidenden Materials von der Maske auf das Substrat, wobei die Verdampfungseinrichtung auf der dem Substratträger gegenüberliegenden Seite der Maskenaufnahmeebene angeordnet ist, liegt die Aufgabe zugrunde die Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht auf dem Substrat als auch das Schichtwachstum während der Bedampfung zu verbessern. Die Aufgabe wird durch eine Substratbeschichtungseinrichtung gelöst, bei der auf der dem Maskenträger gegenüberliegenden Seite der Substrataufnahmeebene eine Substratheizeinrichtung angeordnet ist. Die Aufgabe wird durch ein Bedampfungsverfahren gelöst, bei dem Substrat während des Abscheidens des Materials auf dem Substrat eine im Vergleich zur Umgebung erhöhte Temperatur aufweist.The invention relates to a substrate coating device and a vapor deposition method for coating a substrate by transferring material to be deposited from a mask onto the substrate, comprising a substrate carrier for receiving the substrate in a substrate receiving plane, a mask carrier for receiving the mask in a mask receiving plane and an evaporation device for local evaporation of the material to be deposited from the mask to the substrate, wherein the evaporation device is arranged on the substrate carrier opposite side of the mask receiving plane, the object underlying the properties of the deposited layer on the substrate as well as to improve the layer growth during the evaporation. The object is achieved by a substrate coating device in which a substrate heating device is arranged on the side of the substrate mounting plane opposite the mask carrier. The object is achieved by a vapor deposition method in which the substrate has a higher temperature than the environment during the deposition of the material on the substrate.
Description
Die Erfindung betrifft eine Substratbeschichtungseinrichtung zum Beschichten eines Substrates durch Transfer von abzuscheidendem Material von einer Maske auf das Substrat, wobei die Substratbeschichtungseinrichtung insbesondere zuverlässig unter Vakuumbedingungen funktioniert. Die Substratbeschichtungseinrichtung umfasst hierzu einen Substratträger zur Aufnahme des Substrates in einer Substrataufnahmeebene, einen Maskenträger zur Aufnahme der Maske in einer Maskenaufnahmeebene sowie eine Verdampfungseinrichtung zur lokalen Verdampfung des abzuscheidenden Materials von der Maske auf das Substrat, wobei die Verdampfungseinrichtung auf der dem Substratträger gegenüberliegenden Seite der Maskenaufnahmeebene angeordnet ist. The invention relates to a substrate coating device for coating a substrate by transferring material to be deposited from a mask onto the substrate, wherein the substrate coating device in particular functions reliably under vacuum conditions. The substrate coating device comprises for this purpose a substrate carrier for receiving the substrate in a substrate receiving plane, a mask carrier for receiving the mask in a mask receiving plane and an evaporation device for local evaporation of the material to be deposited from the mask to the substrate, wherein the evaporation device on the substrate carrier opposite side of the mask receiving plane is arranged.
Die Erfindung betrifft zudem ein Bedampfungsverfahren zum Beschichten eines Substrates durch Transfer von abzuscheidendem Material von einer Maske auf das Substrat, indem das auf dem Substrat abzuscheidende Material mittels Energieeintrag in die Maske zumindest abschnittsweise von dieser verdampft wird und sich lokal auf dem der Maske gegenüberliegenden Substrat abscheidet. The invention also relates to a vapor deposition method for coating a substrate by transferring material to be deposited from a mask to the substrate by at least partially vapor depositing the material to be deposited on the substrate by introducing energy into the mask and depositing it locally on the substrate opposite the mask ,
Im Sinne dieser Anmeldung kann unter einer Maske zum Beispiel ein flacher Gegenstand verstanden werden, der nahezu beliebige Formen annehmen kann. So kann die Maske zum Beispiel eine flächige Kreisscheibe oder ein flächiger Quader sein. Die Verwendung von Masken ist für verschiedene subtraktive und additive Verfahren bekannt. Während bei den subtraktiven Verfahren, z.B. in der Fotolithografie, eine auf dem Substrat vollflächig abgeschiedene Schicht durch verschiedene Verfahren unter Verwendung von Masken nachträglich strukturiert wird, eignen sich als Transfermasken bezeichnete Masken insbesondere zur additiven, d. h. Material hinzufügenden Ausbildung der Strukturen auf dem Substrat. Aufgrund der mit diesen Verfahren abzuscheidenden Schichtdicken im Bereich einiger 100 nm ist ein impulsartiger Energieeintrag häufig ausreichend für die Verdampfung. Die Bedampfung mittels Transfermasken ist auch im Rahmen eines kontinuierlichen Durchlaufverfahrens möglich, insbesondere in Vakuum-Durchlaufbeschichtungsanlagen. For the purposes of this application, a mask may, for example, be understood to mean a flat object which can assume almost any shape. For example, the mask can be a flat circular disk or a planar cuboid. The use of masks is known for various subtractive and additive methods. While in the subtractive methods, e.g. In photolithography, a layer deposited on the substrate over the entire surface is subsequently structured by various methods using masks, masks called transfer masks are suitable in particular for additive, d. H. Material adding formation of the structures on the substrate. Due to the layer thicknesses to be deposited with these methods in the range of a few 100 nm, a pulse-like energy input is often sufficient for the evaporation. The vapor deposition by means of transfer masks is also possible in the context of a continuous flow process, in particular in continuous flow coating plants.
Aus der
Alternativ zu Transfermasken mit strukturierten Reflektor- und/oder Absorberschichten ist es auch bekannt, den Energieeintrag in die Absorber mittels Schattenmasken lokal differenziert vorzunehmen, bei denen nur an den unbeschatteten Bereichen die Absorberschicht ausreichend erwärmt wird, um dort das Material der Verdampfungsschicht zu verdampfen. As an alternative to transfer masks with structured reflector and / or absorber layers, it is also known to locally differentiate the energy input into the absorbers by means of shadow masks, in which only at the unshaded areas the absorber layer is heated sufficiently to vaporize the material of the evaporation layer.
Bei den bekannten Verfahren kommen überwiegend flache Substrate zum Einsatz. So werden in der Halbleiterindustrie beispielsweise Silizium-Scheiben strukturiert, um integrierte Schaltkreise herzustellen. Ferner ist für die Herstellung von Bildschirmen auf Basis von organischen Materialien bekannt, Trägermaterialien beispielsweise aus Glas zu verwenden, auf denen lokal Materialien abgeschieden wird. Zudem sind auch flexible Substrate, beispielsweise aus Kunststoff, Metall oder auch alkalifreies Borosilikatglas, bekannt. In the known methods predominantly flat substrates are used. For example, in the semiconductor industry, silicon wafers are patterned to produce integrated circuits. Furthermore, it is known for the production of screens based on organic materials to use support materials, for example made of glass, on which materials are deposited locally. In addition, flexible substrates, such as plastic, metal or alkali-free borosilicate glass, are known.
Substratbeschichtungseinrichtungen zur Durchführung der benannten Bedampfungsverfahren sind bekannt. Typischerweise sind solche Substratbeschichtungseinrichtungen in Vakuum-Beschichtungsanlagen, insbesondere auch in Vakuum-Durchlaufbeschichtungsanlagen verwendbar. Es ist bekannt, dass Substratbeschichtungseinrichtungen einen Substratträger zur Aufnahme des Substrates in einer Substrataufnahmeebene aufweisen. Weiterhin ist ein Maskenträger zur Aufnahme der Maske in einer Maskenaufnahmeebene vorgesehen. Unter Aufnahme soll eine lösbare Verbindung von Substrat und Substratträger sowie Maske und Maskenträger verstanden werden, wobei keine Relativbewegung zwischen Substrat und Substratträger sowie Maske und Maskenträger möglich sein soll. Substrate coating devices for carrying out the mentioned vapor deposition methods are known. Typically, such substrate coating devices are useful in vacuum coating equipment, particularly in continuous flow coating equipment. It is known that substrate coating devices have a substrate carrier for receiving the substrate in a substrate receiving plane. Furthermore, a mask carrier is provided for receiving the mask in a mask receiving plane. Under recording a releasable connection of substrate and Substrate support and mask and mask support are understood, with no relative movement between the substrate and the substrate support and mask and mask wearer should be possible.
Zur lokalen Verdampfung des abzuscheidenden Materials von der Maske auf das Substrat ist eine Verdampfungseinrichtung vorgesehen, wobei die Verdampfungseinrichtung auf der dem Substratträger gegenüberliegenden Seite der Maskenaufnahmeebene angeordnet ist. Die Maske ist mithin zwischen dem Substrat und der Verdampfungseinrichtung angeordnet. Die Verdampfungseinrichtung ist geeignet zum Erzeugen eines Energieeintrags in die Maske. Zum Abscheiden dünner Schichten auf dem Substrat hat sich gezeigt, dass hierzu bereits der Energieeintrag einer Blitzlampe, mithin ein zeitlich relativ kurzer Energieeintrag in Form eines Impulses, ausreichend ist. Verdampfungseinrichtungen können jedoch auch anders, beispielsweise als Spiralheizer oder auch als Kassettenheizer, ausgebildet sein. For local evaporation of the material to be deposited from the mask to the substrate, an evaporation device is provided, wherein the evaporation device is arranged on the side opposite the substrate carrier side of the mask receiving plane. The mask is therefore arranged between the substrate and the evaporation device. The evaporation device is suitable for generating an energy input into the mask. For depositing thin layers on the substrate, it has been found that for this purpose the energy input of a flash lamp, and thus a relatively short energy input in the form of a pulse, is sufficient. However, evaporation devices can also be designed differently, for example as spiral heaters or as cassette heaters.
Nachteilig an den bekannten Bedampfungsverfahren und Substratbeschichtungseinrichtungen ist dabei, dass sowohl die Eigenschaften der auf dem Substrat abgeschiedenen Schicht als das Schichtwachstum während der Bedampfung mit der Temperatur des Substrates schwanken. Diese Temperaturschwankungen können beispielsweise auftreten, wenn sich während des Betriebs einer Substratbeschichtungseinrichtung einer Vakuum-Beschichtungsanlag noch keinen thermisch stationären Zustand eingestellt hat. A disadvantage of the known vapor deposition methods and substrate coating devices is that both the properties of the layer deposited on the substrate and the layer growth during vapor deposition vary with the temperature of the substrate. These temperature fluctuations can occur, for example, if a thermally stationary state has not yet set during the operation of a substrate coating device of a vacuum coating system.
Eine Aufgabe der Erfindung besteht demnach darin eine Substratbeschichtungseinrichtung und ein Bedampfungsverfahren anzugeben, mit denen die Eigenschaften der abgeschiedenen Schicht auf dem Substrat als auch das Schichtwachstum während der Bedampfung verbessert werden. It is therefore an object of the invention to provide a substrate coating device and a vapor deposition method with which the properties of the deposited layer on the substrate as well as the layer growth during the vapor deposition are improved.
Zur Lösung der Aufgabe wird eine Substratbeschichtungseinrichtung zum Beschichten eines Substrates durch Transfer von abzuscheidendem Material von einer Maske auf das Substrat vorgeschlagen, umfassend einen Substratträger zur Aufnahme des Substrates in einer Substrataufnahmeebene, einen Maskenträger zur Aufnahme der Maske in einer Maskenaufnahmeebene sowie eine Verdampfungseinrichtung zur lokalen Verdampfung des abzuscheidenden Materials von der Maske auf das Substrat, wobei die Verdampfungseinrichtung auf der dem Substratträger gegenüberliegenden Seite der Maskenaufnahmeebene angeordnet ist. To achieve the object, a substrate coating device for coating a substrate by transferring material to be deposited from a mask to the substrate is proposed, comprising a substrate carrier for receiving the substrate in a substrate receiving plane, a mask carrier for receiving the mask in a mask receiving plane and an evaporation device for local evaporation of the material to be deposited from the mask on the substrate, wherein the evaporation device is arranged on the opposite side of the substrate support of the mask receiving plane.
Die Substratbeschichtungseinrichtung zeichnet sich dadurch aus, dass auf der dem Maskenträger gegenüberliegenden Seite der Substrataufnahmeebene eine Substratheizeinrichtung angeordnet ist. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben. The substrate coating device is characterized in that a substrate heating device is arranged on the side of the substrate mounting plane opposite the mask carrier. Advantageous embodiments and further developments are specified in the dependent claims.
Die Substratheizeinrichtung ist dabei so angeordnet, dass sich das in der Substrataufnahmeebene angeordnete Substrat im Wirkbereich der Substratheizeinrichtung befindet. Zweckmäßig ist es dabei, wenn die Substratheizeinrichtung flächig ausgebildet ist und zumindest mit den Bereichen des Substrates deckungsgleich ist, in denen während der Bedampfung Material auf dem Substrat abgeschieden wird. Es hat sich gezeigt, dass es besonders vorteilhaft ist, wenn die Temperatur des Substrates zwischen einschließlich 60 °C bis einschließlich 120 °C bevorzugt zwischen einschließlich 80 °C bis einschließlich 100 °C beträgt. In this case, the substrate heating device is arranged such that the substrate arranged in the substrate receiving plane is in the effective range of the substrate heating device. In this case, it is expedient for the substrate heating device to have a planar configuration and to be congruent at least with the regions of the substrate in which material is deposited on the substrate during the vapor deposition. It has been found that it is particularly advantageous if the temperature of the substrate between and including 60 ° C to 120 ° C inclusive is preferably between and including 80 ° C up to and including 100 ° C.
Durch die so erreichte Vorwärmung des Substrates können zum einen die Schichteigenschaften der auf dem Substrat abgeschiedenen Schicht als auch das Schichtwachstum für jedes zu beschichtende Substrat verbessert werden, zum anderen können aber auch die Unterschiede der Schichteigenschaften nacheinander beschichteter Substrate minimiert werden. Mithin kann erfindungsgemäß eine Verbesserung der Schichteigenschaften eines Einzelnen Substrates als auch eine Vergleichmäßigung der Schichteigenschaften von nacheinander beschichteten Substraten erreicht werden. By thus achieved preheating of the substrate, on the one hand, the layer properties of the layer deposited on the substrate as well as the layer growth for each substrate to be coated can be improved, on the other hand, the differences in the layer properties of successively coated substrates can be minimized. Thus, according to the invention, an improvement of the layer properties of a single substrate as well as a homogenization of the layer properties of successively coated substrates can be achieved.
In einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung ist vorgesehen, die Substratheizeinrichtung an einer Substratbeschichtungsvorrichtung anzuordnen, die geeignet ist, einen Keilfehler auszugleichen. Als Keilfehler bezeichnet man eine nicht parallele Ausrichtung der zu beschichtenden Oberfläche des Substrates und jener Ebene der Maske, die der zu beschichtenden Oberfläche des Substrates zugewandt ist. In an embodiment according to the invention, it is provided to arrange the substrate heating device on a substrate coating device which is suitable for compensating for a wedge error. Wedge defects are defined as a non-parallel alignment of the surface of the substrate to be coated and that plane of the mask which faces the surface of the substrate to be coated.
Erfindungsgemäß ist die Substratbeschichtungseinrichtung in dieser Ausgestaltung so ausgebildet, dass der Substratträger an einem Substratpositionierungsmittel angeordnet ist, welches entlang einer Achse senkrecht zur Maskenaufnahmeebene bewegbar ist, wobei Substratträger und Substratpositionierungsmittel mittels komplementärer Kontaktflächen relativ zueinander bewegbar sind. Ferner ist der Maskenträger mittels eines Maskenpositionierungsmittels parallel zur Maskenaufnahmeebene bewegbar und um eine Achse senkrecht zur Maskenaufnahmeebene drehbar. Dabei ist vorgesehen, dass die Substratheizeinrichtung am Substratpositionierungsmittel angeordnet ist. According to the invention, the substrate coating device is designed in this embodiment such that the substrate carrier is arranged on a substrate positioning means, which is movable along an axis perpendicular to the mask receiving plane, substrate carrier and substrate positioning means are movable relative to each other by means of complementary contact surfaces. Furthermore, the mask carrier is movable parallel to the mask receiving plane by means of a mask positioning means and is rotatable about an axis perpendicular to the mask receiving plane. It is provided that the substrate heating device is arranged on the substrate positioning means.
Zum Ausgleich des Keilfehlers ist vorgesehen, eine Substratkontaktfläche des Substrates und eine Maskenkontaktfläche der Maske miteinander in Kontakt zubringen. Hierzu ist der Substratträger lösbar mit dem Substratpositionierungsmittel verbunden und mittels der komplementären Kontaktflächen schwenkbar und drehbar an diesem angeordnet. Das Substrat und die Maske werden durch ein Absetzen des Substratträgers mit dem daran angeordneten Substrat auf der Maske mittels des Substratpositionierungsmittels in Kontakt gebracht und mithin parallelisiert. Zur Durchführung einer Beschichtung des Substrates im sogenannten proximity-Modus, d. h. mit einer zur Maske beabstandeten zu beschichteten Oberfläche des Substrates, kann der Substratträger mit dem daran angeordneten Substrat mittels des Substratpositionierungsmittels wieder von der Maske angehoben werden. Eine Beschichtung eines auf der Maske aufliegenden Substrates kann jedoch auch vorgesehen sein. To compensate for the wedge error, it is provided to bring a substrate contact surface of the substrate and a mask contact surface of the mask into contact with one another. For this purpose, the substrate carrier is detachable with the substrate positioning means connected and arranged by means of the complementary contact surfaces pivotally and rotatably on this. The substrate and the mask are brought into contact and thus parallelized by depositing the substrate carrier with the substrate arranged thereon on the mask by means of the substrate positioning means. In order to carry out a coating of the substrate in the so-called proximity mode, ie with a surface of the substrate which is spaced apart from the mask, the substrate carrier with the substrate arranged thereon can be lifted from the mask again by means of the substrate positioning means. However, a coating of a substrate resting on the mask can also be provided.
Zur Minimierung der Belastung der Maske während des Absetzens des Substratträgers mit dem daran angeordneten Substrat, ist es erfindungsgemäß vorteilhaft, die Substratheizeinrichtung am Substratpositionierungsmittel anzuordnen. Hierdurch wirkt die Masse der Substratheizung nicht zusätzlich auf die Maske ein, sondern wird vielmehr von dem Substratpositionierungsmittel gehalten. In order to minimize the load on the mask during settling of the substrate carrier with the substrate arranged thereon, it is advantageous according to the invention to arrange the substrate heating device on the substrate positioning means. As a result, the mass of the substrate heating does not additionally act on the mask, but rather is held by the substrate positioning means.
In einer weiteren erfindungsgemäßen Ausgestaltung ist vorgesehen, dass die Substratheizeinrichtung, unter Freilassen von Bereichen die zur Substrataufnahmeebene hin gerichtet sind, von einem Strahlungsschirm umgeben ist. In a further embodiment according to the invention, provision is made for the substrate heating device to be surrounded by a radiation shield while leaving free areas which are directed toward the substrate receiving plane.
Dies hat erfindungsgemäß den Vorteil, dass hierdurch im Wesentlichen das Substrat beheizt wird. Eine Erwärmung anderer Bestandteile der Substratbeschichtungseinrichtung kann minimiert werden. Der Strahlungsschirm ist vorzugsweise als Strahlungsblech oder als Strahlungsblechpaket ausgebildet. Bei einem Strahlungsblechpaket sind mehrere Strahlungsbleche beabstandet zueinander angeordnet, so dass zwischen den Strahlungsblechen stets ein Spalt frei bleibt. This has the advantage according to the invention that in this way substantially the substrate is heated. Heating of other constituents of the substrate coating device can be minimized. The radiation shield is preferably designed as a radiation plate or as a radiation plate package. In a radiation laminated core, a plurality of radiation plates are arranged at a distance from one another, so that a gap always remains free between the radiation plates.
In einer weiteren erfindungsgemäßen Ausgestaltung ist vorgesehen, dass am Substratträger zwischen Substratheizeinrichtung und Substrataufnahmeebene ein Temperaturhomogenisierungsmittel angeordnet ist. In a further embodiment according to the invention, it is provided that a temperature homogenizing means is arranged on the substrate carrier between substrate heating device and substrate receiving plane.
Homogen ist im Sinne von einheitlich zu verstehen. Das Temperaturhomogenisierungsmittel ist mithin geeignet zunächst die Energie der Substratheizeinrichtung, beispielsweise in Form von Strahlung, Leitung oder Konvektion, aufzunehmen. Die von der Substratheizeinrichtung abgegebene Energie kann dabei im zu beschichtenden Bereich des Substrates heterogen, d.h. ungleichförmig verteilt sein, so dass das Substrat ohne ein Temperaturhomogenisierungsmittel auch ungleichmäßig erwärmt werden würde. Durch das Temperaturhomogenisierungsmittel wird die Energie der Substratheizeinrichtung jedoch zunächst aufgenommen, vereinheitlicht und sodann homogen an das Substrat abgegeben wird. Mithin kann die Temperaturverteilung des zu erwärmenden Substrates homogenisiert, also vereinheitlicht werden, was wiederum zu einer Vergleichmäßigung der Schichteigenschaften der auf dem Substrat abgeschiedenen Schicht führt. Homogenous is to be understood in the sense of uniform. The temperature homogenizing agent is therefore suitable initially to receive the energy of the substrate heating device, for example in the form of radiation, conduction or convection. The energy emitted by the substrate heater can be heterogeneous in the region of the substrate to be coated, i. be distributed unevenly, so that the substrate would be heated unevenly without a temperature homogenizer. However, the energy of the substrate heater is first received by the temperature homogenizer, unified and then released homogeneously to the substrate. Consequently, the temperature distribution of the substrate to be heated can be homogenized, that is unified, which in turn leads to a homogenization of the layer properties of the deposited on the substrate layer.
Hierzu kann weiterhin vorgesehen sein, dass das Temperaturhomogenisierungsmittel Kupfer umfasst. Kupfer weist eine mit Silber vergleichbar gute Wärmeleitfähigkeit auf. Diese beschreibt das Vermögen eines Stoffes, thermische Energie mittels Wärmeleitung zu transportieren. Erfindungsgemäß vorteilhaft sind Stoffe die eine möglichst große Wärmeleitfähigkeit aufweisen, da sie die von der Substratheizeinrichtung abgegebene Energie relativ schnell durch thermische Ausgleichsvorgänge vereinheitlichen, mithin homogenisieren können. For this purpose, it can further be provided that the temperature homogenizing agent comprises copper. Copper has a comparable thermal conductivity with silver. This describes the ability of a substance to transport thermal energy by means of heat conduction. According to the invention, substances which have the greatest possible thermal conductivity are advantageous, since they can uniformly homogenize the energy emitted by the substrate heating device by means of thermal compensation processes, and thus homogenize it.
Hierzu kann weiterhin vorgesehen sein, dass das Temperaturhomogenisierungsmittel auf seiner der Substratheizeinrichtung zugewandten Seite eine strahlungsabsorbierende Beschichtung aufweist. Dadurch kann beispielsweise im Fall von Energiestrahlung der Anteil der vom Temperaturhomogenisierungsmittel absorbierten Strahlung im Verhältnis zur reflektierten Strahlung verbessert werden, so dass sich das Temperaturhomogenisierungsmittel schneller erwärmt. For this purpose, it can furthermore be provided that the temperature homogenizing agent has a radiation-absorbing coating on its side facing the substrate heating device. As a result, for example, in the case of energy radiation, the proportion of the radiation absorbed by the temperature homogenizing agent in relation to the reflected radiation can be improved, so that the temperature homogenizing agent heats up more quickly.
In einer weiteren erfindungsgemäßen Ausgestaltung kann vorgesehen sein, dass der Substratträger einen vom Substratträger lösbaren Abschnitt aufweist, wobei der lösbare Abschnitt die Substrataufnahmeebene aufweist. In a further embodiment according to the invention, it can be provided that the substrate carrier has a section detachable from the substrate carrier, wherein the detachable section has the substrate receiving plane.
Erfindungsgemäß wird es hierdurch möglich, das Substrat entfernt von der Substratbeschichtungseinrichtung, beispielsweise außerhalb einer Vakuum-Beschichtungsanlage und mithin ohne die Gefahr einer Beschädigung des Substrates am Substratträger anzuordnen. Das Substrat kann außerhalb der Vakuum-Beschichtungsanlage am lösbaren Abschnitt des Substratträgers angeordnet, d.h. lösbar mit dem abnehmbaren Abschnitt des Substratträgers verbunden werden, beispielsweise durch eine Klemmung. Das Verbringen des Substrates zur Substratbeschichtungseinrichtung kann sodann dadurch erfolgen, dass der lösbare Abschnitt des Substratträgers gemeinsam zur Substratbeschichtungseinrichtung verbracht wird, wobei das Substrat von dem dafür verwendeten Mittel nicht berührt wird. According to the invention, this makes it possible to arrange the substrate away from the substrate coating device, for example outside a vacuum coating system and thus without the risk of damaging the substrate on the substrate carrier. The substrate may be placed outside the vacuum coater at the releasable portion of the substrate support, i. be releasably connected to the removable portion of the substrate carrier, for example by a clamp. The transfer of the substrate to the substrate coating device can then take place by bringing the detachable section of the substrate carrier together to the substrate coating device, wherein the substrate is not touched by the means used therefor.
Hierzu kann weiterhin vorgesehen sein, dass der lösbare Abschnitt des Substratträgers das Temperaturhomogenisierungsmittel umfasst. For this purpose, it can furthermore be provided that the detachable section of the substrate carrier comprises the temperature homogenizing agent.
Vorteilhaft dabei ist, dass die Substratbeschichtungseinrichtung hierdurch flexibel einsetzbar ist. Sollten Substrate beschichtet werden, bei deren Beschichtung ein Temperaturhomogenisierungsmittel womöglich nicht notwendig oder sogar nachteilig ist, muss das Temperaturhomogenisierungsmittel hierfür nicht von der Substratbeschichtungseinrichtung demontiert werden, wenn es am abnehmbaren Abschnitt des Substratträgers angeordnet ist. It is advantageous in this case that the substrate coating device can be used flexibly as a result is. If substrates are coated in the coating of which a temperature homogenizer may not be necessary or even disadvantageous, the temperature homogenizer need not be disassembled from the substrate coating device for this purpose if it is arranged on the removable portion of the substrate carrier.
In einer weiteren erfindungsgemäßen Ausgestaltung ist vorgesehen, dass die Substratheizeinrichtung ein keramisches Heizelement aufweist. In a further embodiment according to the invention, it is provided that the substrate heating device has a ceramic heating element.
Vorteilhaft an der Verwendung eines keramischen Heizelementes sind vor allem die hohe Temperaturbeständigkeit bis über 1000 °C, eine sehr gute Korrosionsbeständigkeit, die geringe thermische Ausdehnung und die hohe Wärmeleitfähigkeit. Advantageous in the use of a ceramic heating element are above all the high temperature resistance up to over 1000 ° C, a very good corrosion resistance, low thermal expansion and high thermal conductivity.
Einerseits kann vorgesehen sein, dass das keramische Heizelement einen metallischen Heizleiter umfasst, welcher durch Anlegen eines elektrischen Stromes als Folge seines elektrischen Widerstandes Wärme an die ihn umgebende Keramik abgibt. On the one hand, it can be provided that the ceramic heating element comprises a metallic heating conductor, which emits heat to the surrounding ceramic by applying an electric current as a result of its electrical resistance.
Anderseits kann auch vorgesehen sein, ein elektrisches Heizelement zu verwenden, was aus einem vollkeramischen Werkstoff besteht. Einige Keramikwerkstoffe sind elektrisch halbleitend und können deshalb direkt über einen elektrischen Stromfluss beheizt werden. Im Vergleich zu metallischen Heizleitern können sehr hohe Energiedichten erreicht werden. Zusätzlich verändern sich Festigkeit und Steifigkeit von Keramiken auch bei extrem hohen Temperaturen kaum. Es können Keramiken aus speziellen SiC-Werkstofftypen auf der Basis von S-SiC (Drucklos gesintertes Siliciumcarbid), LPS-SiC (Flüssigphasengesintertes Siliciumcarbid) und Si-SiC (Reaktionsgebundenes siliciuminfiltriertes Siliciumcarbid) vorgesehen sein. On the other hand, it can also be provided to use an electric heating element, which consists of a full ceramic material. Some ceramic materials are electrically semiconductive and can therefore be heated directly via an electrical current flow. Compared to metallic heating conductors, very high energy densities can be achieved. In addition, the strength and rigidity of ceramics hardly change even at extremely high temperatures. Ceramics made of special SiC materials based on S-SiC (pressureless sintered silicon carbide), LPS-SiC (liquid-phase sintered silicon carbide) and Si-SiC (reaction-bound silicon-infiltrated silicon carbide) may be provided.
Zur Lösung der Aufgab wird außerdem ein Bedampfungsverfahren zum Beschichten eines Substrates durch Transfer von abzuscheidendem Material von einer Maske auf das Substrat vorgeschlagen. Bei dem Bedampfungsverfahren wird das auf dem Substrat abzuscheidende Material mittels Energieeintrag in die Maske zumindest abschnittsweise von dieser verdampft und scheidet sich lokal auf dem der Maske gegenüberliegenden Substrat ab. To solve the problem, a vapor deposition method for coating a substrate by transferring material to be deposited from a mask to the substrate is also proposed. In the vapor deposition method, the material to be deposited on the substrate is at least partially vaporized from it by means of energy input into the mask and deposits locally on the substrate opposite the mask.
Das erfindungsgemäße Bedampfungsverfahren zeichnet sich dadurch aus, dass das Substrat während des Abscheidens des Materials auf dem Substrat eine im Vergleich zur Umgebung erhöhte Temperatur aufweist. The vapor deposition method according to the invention is characterized in that the substrate during the deposition of the material on the substrate has a higher temperature compared to the environment.
Es kann vorgesehen sein für das Bedampfungsverfahren eine erfindungsgemäße Substratbeschichtungsvorrichtung zu verwenden. It can be provided for the vapor deposition method to use a substrate coating device according to the invention.
Durch die so erreichte Vorwärmung des Substrates können zum einen die Schichteigenschaften der auf dem Substrat abgeschiedenen Schicht als auch das Schichtwachstum für jedes zu beschichtende Substrat verbessert werden, zum anderen können aber auch die Unterschiede der Schichteigenschaften nacheinander beschichteter Substrate minimiert werden. Mithin kann erfindungsgemäß eine Verbesserung der Schichteigenschaften eines Einzelnen Substrates als auch eine Vergleichmäßigung der Schichteigenschaften von nacheinander beschichteten Substraten erreicht werden. By thus achieved preheating of the substrate, on the one hand, the layer properties of the layer deposited on the substrate as well as the layer growth for each substrate to be coated can be improved, on the other hand, the differences in the layer properties of successively coated substrates can be minimized. Thus, according to the invention, an improvement of the layer properties of a single substrate as well as a homogenization of the layer properties of successively coated substrates can be achieved.
In einer Ausgestaltung des Bedampfungsverfahrens ist vorgesehen, die Temperatur des Substrates in einem Temperaturbereich zwischen einschließlich 60 °C bis einschließlich 120 °C bevorzugt zwischen einschließlich 80 °C bis einschließlich 100 °C liegt. In one embodiment of the vapor deposition method is provided, the temperature of the substrate in a temperature range between 60 ° C inclusive up to and including 120 ° C preferably between 80 ° C inclusive and 100 ° C inclusive.
Die Erfindung soll nachfolgend anhand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert werden. In der zugehörigen Zeichnung zeigt The invention will be explained in more detail with reference to an embodiment. In the accompanying drawing shows
Die in
Die Substratbeschichtungseinrichtung des Ausführungsbeispiels kann Bestandteil einer Batch-Anlage, zur gleichzeitigen Beschichtung einer Charge umfassend mehrere Substrate in einer Vakuumkammer; einer Cluster-Anlage zur Beschichtung von Substraten oder Chargen von Substraten in mehreren Vakuumkammer oder einer Inline-Anlage zur Beschichtung von Substraten oder Chargen von Substraten in mehreren entlang eines Transportpfades hintereinander angeordneten Vakuumkammern sein. The substrate coating device of the embodiment may be part of a batch plant for simultaneously coating a batch comprising a plurality of substrates in a vacuum chamber; a cluster system for coating substrates or batches of substrates in a plurality of vacuum chamber or an inline system for coating substrates or batches of substrates in a plurality along a transport path successively arranged vacuum chambers.
Bezüglich
In
zum Ausrichten des Substrates und der Maske zueinander, wird zunächst das Substrat in der Substrataufnahmeebene
Weiterhin wird eine Maske in der Maskenaufnahmeebene
Um diesen Keilfehler auszugleichen, ist in dem Ausführungsbeispiel vorgesehen, dass der Substratträger
Das Substratpositionierungsmittel
Der Substratträger
Nachdem das Substratpositionierungsmittel
Das Fixiermittel
Das magnetische Fixiermittel
Der mindestens eine Elektromagnet kann an einem von dem Substratträger
Wie in
Das magnetische Fixiermittel
Dieser Abschnitt ist im vorliegenden Fall von dem Substratpositionierungsmittel
Hier ist der magnetisch anziehbare Abschnitt zumindest von einem Teil des Substratträgers
Ferner ist es möglich, das gesamte Substratpositionierungsmittel
Daran anschließend wird das Substrat mittels des Substratpositionierungsmittels
Der Maskenträger
Nachdem der Keilfehler zwischen der Substratkontaktfläche und der Maskenkontaktfläche ausgeglichen ist sowie Maske und Substrat zueinander ausgerichtet sind, kann die eigentliche Beschichtung des Substrates durch Bedampfung erfolgen. After the wedge error between the substrate contact surface and the mask contact surface is compensated and the mask and the substrate are aligned with each other, the actual coating of the substrate can be effected by vapor deposition.
Hierzu kann vorgesehen sein, dass das Substrat entweder wieder in Kontakt mit der Maske gebracht wird (Kontakt-Modus) oder, dass das Substrat zur Maske beabstandet (proximity-Modus) behandelt bzw. beschichtet wird. For this purpose, it may be provided that the substrate is either brought back into contact with the mask (contact mode) or that the substrate is treated or coated at a distance from the mask (proximity mode).
Hierzu wird das Beschichtungsmaterial vor dem Verbringen der Maske zur Substratbeschichtungseinrichtung vollflächig in einer Verdampfungsschicht auf der Maske, als Transfermaske bezeichnet, abgeschieden. Hierzu können auch mehrere, auch unterschiedliche Beschichtungsmaterialen als Verdampfungsschicht abgeschieden werden, die anschließend jedoch nur an den gewünschten Orten verdampft werden. Dazu weist die Transfermaske auf ihrem Zwischenträger reflektierende und absorbierende Bereiche in einer erforderlichen Struktur auf. Ist die Transfermaske über, unter oder auf dem Substrat positioniert, so erfolgt ein Energieeintrag durch Energiestrahlung und damit eine Verdampfung nur in den Bereichen, in denen das Beschichtungsmaterial infolge der Reflektor- und Absorberstruktur der Transfermaske ausreichend Energie aufnimmt, um zu verdampfen. For this purpose, the coating material is deposited over the whole area in an evaporation layer on the mask, referred to as a transfer mask, before the mask is brought to the substrate coating device. For this purpose, several, even different coating materials can be deposited as evaporation layer, which are then evaporated but only at the desired locations. For this purpose, the transfer mask has on its intermediate carrier reflecting and absorbing areas in a required structure. If the transfer mask is positioned above, below or on the substrate, energy is introduced by energy radiation and hence evaporation only in the areas in which the coating material absorbs sufficient energy to evaporate as a result of the reflector and absorber structure of the transfer mask.
Zur Erzeugung des Energieeintrages ist eine Verdampfungseinrichtung
Zur Verbesserung der Schichteigenschaften der auf dem Substrat abzuscheidenden Schicht sowie zur Verbesserung des Schichtwachstums während des Abscheidens der Schicht auf dem Substrat ist erfindungsgemäß eine Substratheizeinrichtung
Es hat sich gezeigt, dass eine Vorwärmung des Substrates in einem Bereich von einschließlich 60 °C bis einschließlich 120 °C bevorzugt zwischen einschließlich 80 °C bis einschließlich 100 °C vorteilhaft ist. It has been found that preheating the substrate in a range of from 60 ° C to 120 ° C inclusive, preferably between 80 ° C to 100 ° C inclusive, is advantageous.
Grundsätzlich ist vorgesehen die Substratheizeinrichtung
Zum Verhindern einer unnötigen Erwärmung der Substratbeschichtungseinrichtung in Bereichen in denen eine Erwärmung nicht erwünscht ist, ist die Substratheizeinrichtung
Der elektrische Anschluss der Substratheizeinrichtung
Ferner ist im Ausführungsbeispiel ein Temperaturhomogenisierungsmittel
Das Temperaturhomogenisierungsmittel
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 1 1
- Substratträger substrate carrier
- 11 11
- lösbarer Abschnitt detachable section
- 12 12
- Substrataufnahmeebene Substrate holding plane
- 13 13
- Kontaktfläche contact area
- 2 2
- Substratpositionierungsmittel Substrate positioning means
- 21 21
- Kontaktfläche contact area
- 3 3
- Fixiermittel fixer
- 4 4
- Maskenträger mask support
- 41 41
- Maskenaufnahmeebene Mask holding plane
- 42 42
- Maskenpositionierungsmittel Mask positioning means
- 43 43
- Öffnung opening
- 5 5
- Verdampfungseinrichtung Evaporation device
- 6 6
- Substratheizeinrichtung substrate heater
- 61 61
- keramisches Heizelement ceramic heating element
- 62 62
- Strahlungsschirm radiation shield
- 7 7
- TemperaturhomogenisierungsmittelTemperaturhomogenisierungsmittel
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- DE 102012111329 A1 [0004] DE 102012111329 A1 [0004]
Claims (11)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE102014108925.1A DE102014108925A1 (en) | 2014-06-25 | 2014-06-25 | Substrate coating device and vapor deposition method |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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ID=54839539
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DE102014108925.1A Withdrawn DE102014108925A1 (en) | 2014-06-25 | 2014-06-25 | Substrate coating device and vapor deposition method |
Country Status (1)
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DE (1) | DE102014108925A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109898060A (en) * | 2017-12-11 | 2019-06-18 | 株式会社爱发科 | Evaporation coating device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69622823T2 (en) * | 1995-11-28 | 2003-04-30 | Applied Materials Inc | wafer heater assembly |
US20090142510A1 (en) * | 2007-11-29 | 2009-06-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Evaporation Donor Substrate and Method for Manufacturing Light-Emitting Device |
US20100084676A1 (en) * | 2008-10-08 | 2010-04-08 | Hitachi Displays, Ltd. | Organic el display device and manufacturing method thereof |
US20110058150A1 (en) * | 2009-08-27 | 2011-03-10 | Schaper Charles D | Molecular transfer lithography apparatus and method for transferring patterned materials to a substrate |
-
2014
- 2014-06-25 DE DE102014108925.1A patent/DE102014108925A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69622823T2 (en) * | 1995-11-28 | 2003-04-30 | Applied Materials Inc | wafer heater assembly |
US20090142510A1 (en) * | 2007-11-29 | 2009-06-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Evaporation Donor Substrate and Method for Manufacturing Light-Emitting Device |
US20100084676A1 (en) * | 2008-10-08 | 2010-04-08 | Hitachi Displays, Ltd. | Organic el display device and manufacturing method thereof |
US20110058150A1 (en) * | 2009-08-27 | 2011-03-10 | Schaper Charles D | Molecular transfer lithography apparatus and method for transferring patterned materials to a substrate |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109898060A (en) * | 2017-12-11 | 2019-06-18 | 株式会社爱发科 | Evaporation coating device |
CN109898060B (en) * | 2017-12-11 | 2021-06-25 | 株式会社爱发科 | Evaporation plating device |
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