DE102013113108A1 - Solar cell manufacturing process - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Solarzellenherstellungsverfahren bei dem eine Metallisierungspaste (2) auf einer Oberfläche (11) eines Substrates (1) aufgebracht und aus der Metallisierungspaste eine Metallisierungsschicht (21) erzeugt wird, indem das Substrat einem Feuerschritt ausgesetzt wird, der eine Aufheizphase (51a, 52a), während dessen das Substrat entlang eines Temperaturverlaufs (51, 52) auf eine Maximaltemperatur aufgeheizt wird, und eine nachfolgende Abkühlphase (51b, 52b) umfasst, während dessen das Substrat entlang des Temperaturverlaufs (51, 52) von der Maximaltemperatur herunter gekühlt wird, dadurch gekennzeichnet, dass der Temperaturverlauf (51, 52) des Substrates während des Feuerschrittes in der Aufheizphase (51a, 52a) und/oder in der Abkühlphase (51b, 52b) eine maximale Steigung von 100 Kelvin pro Sekunde (K/s), von 70 K/s, von 50 K/s oder von 30 K/s aufweist.The invention relates to a solar cell production method in which a metallization paste (2) is applied to a surface (11) of a substrate (1) and a metallization layer (21) is produced from the metallization paste by subjecting the substrate to a firing step comprising a heating phase (51a, 52a), during which the substrate is heated to a maximum temperature along a temperature profile (51, 52) and a subsequent cooling phase (51b, 52b) during which the substrate is cooled down along the temperature profile (51, 52) from the maximum temperature , characterized in that the temperature profile (51, 52) of the substrate during the firing step in the heating phase (51a, 52a) and / or in the cooling phase (51b, 52b) a maximum slope of 100 Kelvin per second (K / s), of 70 K / s, 50 K / s or 30 K / s.
Description
Die Erfindung betrifft ein Solarzellenherstellungsverfahren. The invention relates to a solar cell production process.
Bei gegenwärtigen Solarzellenstrukturen kann eine Degradation auftreten, die sich durch einen plötzlichen Leistungs- beziehungsweise Effizienzabfall der Solarzelle bemerkbar macht. Diese Degradation findet in der Regel während des Betriebs der Solarzelle statt, wobei Betriebsparameter wie beispielsweise die Beleuchtungsstärke des einfallenden Lichts und die Betriebstemperatur für die Auslösung der Degradation eine wichtige Rolle spielen können. Die Degradation wird also im Betrieb der Solarzelle ausgelöst. In current solar cell structures, a degradation can occur, which is noticeable by a sudden power or efficiency decrease of the solar cell. This degradation usually takes place during operation of the solar cell, with operating parameters such as the illuminance of the incident light and the operating temperature for triggering the degradation can play an important role. The degradation is thus triggered during operation of the solar cell.
Als eine mögliche Ursache für Solarzellen-Degradation wurden unlängst rekombinationsaktive Defekte ermittelt, die sich aufgrund der Lichteinstrahlung im Inneren des Siliziums bilden. Dieser Effekt wird deshalb auch als lichtinduzierte Degradation (LID – light induced degradation) bezeichnet und tritt auf, weil sich insbesondere im kristallinen Siliziumvolumen Bor-Sauerstoff-Komplexe bilden. Dem kann bekannterweise vorgebeugt werden, indem für die Solarzellenherstellung Siliziumwafer mit geringen Anteilen an Bor und Sauerstoff verwendet werden. As a possible cause of solar cell degradation recently recombination-active defects were detected, which form due to the light irradiation inside the silicon. This effect is therefore also referred to as light-induced degradation (LID) and occurs because boron-oxygen complexes form in particular in the crystalline silicon volume. This can be prevented, as is known, by using silicon wafers with small amounts of boron and oxygen for the production of solar cells.
Aber selbst bei Solarzellen aus derart in ihrem Bor- und Sauerstoffgehalt reduzierten Siliziumwafern treten weiterhin Degradationseffekte auf, beziehungsweise traten und treten weiterhin derartige Degradationseffekte bei Solarzellendesigns und in Ausmaßen auf, die sich nicht anhand des genannten Bor-Sauerstoff-Effektes erklären lassen. Dass es neben dem mittlerweile bekannten Bor-Sauerstoff-Degradationseffekt (BO-Degradation oder LID) einen weiteren Degradationseffekt gibt, kann beispielsweise aus der Veröffentlichung
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Solarzellenherstellungsverfahren bereitzustellen, mit der auf zuverlässige Weise Solarzellen herstellbar sind, welche eine geringere oder gar keine Anfälligkeit für eine spätere Degradation aufweisen. It is an object of the invention to provide a solar cell manufacturing method with which solar cells can be produced in a reliable manner, which have less or no susceptibility to subsequent degradation.
Die Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch ein Solarzellenherstellungsverfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen aufgeführt. The object is achieved according to the invention by a solar cell production method having the features of
Um den hier relevanten Degenerationseffekt von dem mit LID bezeichneten Degradationsmechanismus abzugrenzen, wird nachfolgend von einem sogenannten eLID die Rede sein. Diese Bezeichnung soll für einen erweiterten lichtinduzierten Degradationseffekt stehen (eLID – enhanced light induced degradation). Wenngleich eLID auch bei Standardsolarzellen auftreten kann, tritt sie insbesondere auch bei auf multikristallinen Si-Halbleitern basierenden Solarzellen auf, die bekannterweise einen geringeren Sauerstoffgehalt aufweisen und somit eine geringere LID-Anfälligkeit zeigen. Hohe eLID-Anfälligkeit weisen insbesondere neuere Solarzellenkonzepte auf, wie beispielsweise PERC-Solarzellen oder andere Solarzellenkonzepte mit Oberflächenpassivierungen, insbesondere auch solche Solarzellen, bei denen die Kontaktierung durch die Passivierschicht lokal erfolgt. In order to delimit the relevant degeneration effect from the degradation mechanism designated by LID, a so-called eLID will be mentioned below. This term is intended to stand for an extended light-induced degradation effect (eLID - enhanced light induced degradation). Although eLID can also occur in standard solar cells, it also occurs, in particular, in solar cells based on multicrystalline Si semiconductors, which, as is known, have a lower oxygen content and thus show lower LID susceptibility. High eLID susceptibility in particular has newer solar cell concepts, such as PERC solar cells or other solar cell concepts with surface passivations, especially those solar cells in which the contacting takes place locally through the passivation layer.
Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, dass die Anfälligkeit einer Solarzelle für die hier beschriebene Degradation, also ihre eLID-Anfälligkeit, zu einem sehr wesentlichen Grad von Herstellungsparametern bei der Solarzellenherstellung abhängt. Durch die Erfinder wurde also zunächst herausgefunden, dass die Degradation auf einen weiteren Degradationsmechanismus beruht, der von der bekannten Bor-Sauerstoff-Degradation abzugrenzen ist. Darüber hinaus ist es den Erfindern gelungen, ein Verfahren zur wesentlichen Verringerung oder sogar Vermeidung dieser eLID-Anfälligkeit vorzuschlagen. The invention is based on the finding that the susceptibility of a solar cell to the degradation described here, ie its susceptibility to eLID, depends on a very substantial degree of production parameters in solar cell production. The inventors thus discovered that the degradation is based on a further degradation mechanism, which is to be distinguished from the known boron-oxygen degradation. In addition, the inventors have succeeded in proposing a method for substantially reducing or even avoiding this eLID susceptibility.
Ähnlich wie eine LID-Anfälligkeit führt eine eLID-Anfälligkeit dazu, dass die so hergestellte Solarzelle nach einer Bestrahlung oder Bestromung mit hoher Wahrscheinlichkeit eine Degradation erfährt. Während in den Begriffen LID bzw. eLID der Ausdruck „lichtinduziert“ steckt, kann die Degradation auch aufgrund einer Bestromung erfolgen, also indem an der Solarzelle eine Spannung angelegt und somit ein Strom in Durchlassrichtung induziert wird. Welche Beleuchtungsstärke oder welche Stromdichte notwendig ist, damit eine Degradation erfolgt, hängt hierbei unter anderem von der Betriebstemperatur, der Dauer der Bestrahlung oder Bestromung und von anderen Betriebs- und Herstellungsparametern der Solarzelle ab. Similar to an LID susceptibility, an eLID susceptibility leads to the fact that the solar cell thus produced undergoes a high degree of degradation after irradiation or energization. While the term "light-induced" is used in the terms LID and eLID, the degradation can also be due to an energization, ie by applying a voltage to the solar cell and thus inducing a current in the forward direction. Which illuminance or which current density is necessary in order for a degradation to take place depends, inter alia, on the operating temperature, the duration of the irradiation or energization and on other operating and production parameters of the solar cell.
Ein wesentlicher Erfindungsaspekt liegt in der Erkenntnis, dass der Feuerprozess oder Feuerschritt ein wichtiger Faktor in der eLID-Anfälligkeit einer Solarzelle ist. Um eine Pastenmetallisierung durchzuführen, wird eine Metallisierungspaste auf einer Oberfläche eines Substrates aufgebracht und aus der Metallisierungspaste eine Metallisierungsschicht erzeugt, indem das Substrat einem Feuerschritt ausgesetzt wird. Dieser Feuerschritt ist es, der sehr häufig die spätere Solarzelle anfälliger für eLID macht. Es ist zum gegenwärtigen Zeitpunkt noch nicht klar, welcher Effekt für eLID verantwortlich ist. Während der Degradationsmechanismus bei LID auf die Ausbildung eines BO-Komplexes beruht, sind beim eLID möglicherweise mehrere unterschiedliche Mechanismen gleichzeitig am Werk. Vorliegend wurde jedoch erkannt, dass der Feuerschritt nicht vordergründig aufgrund der erreichten Maximaltemperatur, der das Substrat ausgesetzt wird, zu einer eLID-Anfälligkeit führt, sondern eher aufgrund von während des Feuerschritts durchlaufenen Temperaturgradienten. An essential aspect of the invention lies in the knowledge that the fire process or fire step is an important factor in the eLID susceptibility of a solar cell. To perform a paste metallization, a metallization paste is applied to a surface of a substrate and a metallization layer is formed from the metallization paste by exposing the substrate to a firing step. It is this firing step that very often makes the later solar cell more susceptible to eLID. It is not yet clear which effect is responsible for eLID. While the degradation mechanism in LID is based on the formation of a BO complex, the eLID may have several different mechanisms at work simultaneously. In the present case, however, it has been recognized that the firing step does not ostensibly lead to eLID susceptibility due to the achieved maximum temperature to which the substrate is exposed, but rather due to temperature gradients passed during the firing step.
Die eLID selbst zeigt sich in einem Abfall des Wirkungsgrades der Solarzelle um mehrere Prozent, teilweise um mindestens 3%, 5%, 7%, 9% oder mehr. Dieser Wirkungsgradverfall geht üblicherweise mit einer Verminderung der Ladungsträgerlebensdauer um mindestens die Hälfte oder sogar um eine Größenordnung einher. Beispielsweise kann sich die Ladungsträgerlebensdauer von einigen hundert µs auf einige zehn µs verkürzen. Die Messung der Ladungsträgerlebensdauer an einem Substrat erfolgt vor einer Kontaktierung beziehungsweise einer Metallisierung des Substrates. The eLID itself shows itself in a drop in the efficiency of the solar cell by several percent, in part by at least 3%, 5%, 7%, 9% or more. This degradation in efficiency is usually associated with a reduction in carrier lifetime by at least half or even an order of magnitude. For example, the carrier lifetime can be shortened from a few hundred μs to a few tens of μs. The charge carrier lifetime is measured on a substrate before contacting or metallization of the substrate.
Der Feuerschritt, dem das Substrat ausgesetzt wird, weist eine Aufheizphase und eine Abkühlphase auf. Während der Aufheizphase wird das Substrat entlang eines Temperaturverlaufs auf eine Maximaltemperatur aufgeheizt. Während der nachfolgenden Abkühlphase wird das Substrat entlang des Temperaturverlaufs von der Maximaltemperatur herunter gekühlt, vorzugsweise bis auf eine Ausgangstemperatur, an dem die Aufheizphase begann oder auf eine Raum- oder Umgebungstemperatur. Der Temperaturverlauf des Substrates während des Feuerschrittes weist in der Aufheizphase und/oder in der Abkühlphase eine maximale Steigung von 100 Kelvin pro Sekunde (K/s) auf, vorzugsweise von 70 K/s, von 50 K/s, von 40 K/s oder von 30 K/s. Es kann in bestimmten Ausführungsformen von Vorteil sein, wenn die Aufheizphase eine maximale Steigung von 100 K/s, von 70 K/s, von 50 K/s, von 40 K/s oder von 30 K/s aufweist, während die Abkühlphase eine andere maximale Steigung von 100 K/s, von 70 K/s, von 50 K/s, von 40 K/s oder von 30 K/s aufweist. Es ist an dieser Stelle wichtig zu betonen, dass es sich hierbei um den Absolutwert der maximalen Steigung handelt, insbesondere in der Abkühlphase, wo ansonsten die Steigung als negativ angesehen würde. The firing step to which the substrate is exposed has a heating-up phase and a cooling-down phase. During the heating phase, the substrate is heated along a temperature profile to a maximum temperature. During the subsequent cooling phase, the substrate is cooled along the temperature profile from the maximum temperature, preferably to an initial temperature at which the heating phase began or to a room or ambient temperature. The temperature profile of the substrate during the firing step has in the heating phase and / or in the cooling phase a maximum slope of 100 Kelvin per second (K / s), preferably 70 K / s, 50 K / s, 40 K / s or from 30 K / s. It may be advantageous in certain embodiments if the heating phase has a maximum slope of 100 K / s, 70 K / s, 50 K / s, 40 K / s or 30 K / s, while the cooling phase has a other maximum slope of 100 K / s, 70 K / s, 50 K / s, 40 K / s or 30 K / s. It is important to emphasize at this point that this is the absolute value of the maximum slope, especially in the cool down phase, where otherwise the slope would be considered negative.
Dadurch, dass die zeitliche Temperaturänderung am Substrat unterhalb eines bestimmten Wertes bleibt, wird die eLID-Anfälligkeit der im Herstellungsverfahren hergestellten Solarzelle wesentlich verringert oder gänzlich verhindert. Der zeitliche Temperaturverlauf kann hierbei mit einem räumlichen Temperaturverlauf einhergehen, wenn beispielsweise das Substrat in einem Raum mit variierender Temperatur bewegt wird. Insbesondere kann der gesamte Feuerschritt ausgeführt werden, indem das Substrat einen Durchlaufofen durchläuft. The fact that the temporal temperature change at the substrate remains below a certain value, the eLID susceptibility of the solar cell produced in the manufacturing process is substantially reduced or completely prevented. The temporal temperature profile may in this case be accompanied by a spatial temperature profile, for example when the substrate is moved in a room with varying temperature. In particular, the entire firing step can be carried out by the substrate passing through a continuous furnace.
Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung ist vorgesehen, dass die Maximaltemperatur größer ist, als 400°C, 450°C, 500°C, 600°C oder 700°C. Eine höhere Maximaltemperatur während des Feuerschrittes kann zu einer innigeren Verbindung zwischen der Substratoberfläche und der hierbei entstehenden Metallschicht führen. Außerdem erlaubt es die höhere Maximaltemperatur, den Parameterbereich für die Herstellung der Pastenmetallisierung besser zu nutzen. Beispielsweise kann vorgesehen sein, dass der Temperaturverlauf des Substrates während des Feuerschrittes in der Aufheizphase und/oder in der Abkühlphase jeweils ein oder mehrere Plateaus aufweist, an denen der zeitliche Temperaturgradient annähernd null ist. Eine oder mehrerer derartiger Plateaus können aber auch unabhängig von einer gewählten Maximaltemperatur vorgesehen sein. According to a preferred embodiment, it is provided that the maximum temperature is greater than 400 ° C, 450 ° C, 500 ° C, 600 ° C or 700 ° C. A higher maximum temperature during the firing step can lead to a more intimate bond between the substrate surface and the resulting metal layer. In addition, the higher maximum temperature allows better use of the parameter range for making the paste metallization. For example, it can be provided that the temperature profile of the substrate during the firing step in the heating phase and / or in the cooling phase in each case one or more plateaus, where the temporal temperature gradient is approximately zero. However, one or more of such plateaus may also be provided independently of a selected maximum temperature.
Das Aufheizen der Solarzelle kann mittels auf die Substratoberfläche gerichteter Heizenergie erfolgen. Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen, dass eine während der Aufheizphase auf das Substrat treffende Heizenergie eine maximale Leistungsdichte von 30 Watt pro Quadratzentimeter (W/cm2), von 25 W/cm2, von 20 W/cm2 oder von 15 W/cm2 nicht überschreitet. Mittels einer derartigen Beschränkung der Heizenergie kann sichergestellt werden, dass die Steigung des Temperaturverlaufs des Substrates einen gewünschten oder vorgegebenen Wert nicht überschreitet. The heating of the solar cell can be done by means of directed to the substrate surface heating energy. In a preferred embodiment it is provided that a heating energy striking the substrate during the heating phase has a maximum power density of 30 watts per square centimeter (W / cm 2 ), 25 W / cm 2 , 20 W / cm 2 or 15 W / cm 2 does not exceed. By means of such a limitation of the heating energy can be ensured that the slope of the temperature profile of the substrate does not exceed a desired or predetermined value.
In einer vorteilhaften Weiterbildung ist vorgesehen, dass das Substrat während der Aufheizphase einseitig bestrahlt wird, um das Substrat zu erwärmen. Hierbei kann vorgesehen sein, dass das Substrat von einer mit Metallisierungspaste bedeckten Seite oder von einer der Metallisierungspaste gegenüberliegenden Seite her bestrahlt wird, um das Substrat zu erwärmen. Alternativ kann das Substrat jedoch auch beidseitig bestrahlt werden, um es während der Aufheizphase zu erwärmen. Um das Substrat ausschließlich oder zusätzlich von einer Unterseite zu bestrahlen, kann es auf einer Transportvorrichtung angeordnet sein, die nur an Randbereichen des Substrates angreift. In an advantageous development it is provided that the substrate is irradiated on one side during the heating phase in order to heat the substrate. In this case, it can be provided that the substrate is irradiated by a side covered with metallization paste or by a side opposite the metallization paste, in order to heat the substrate. Alternatively, however, the substrate can also be irradiated on both sides in order to heat it during the heating phase. In order to irradiate the substrate exclusively or additionally from a lower side, it can be arranged on a transport device which engages only on edge regions of the substrate.
Bei einer zweckmäßigen Ausführungsform ist vorgesehen, dass das Substrat einseitig oder beidseitig mit einer oberflächenpassivierenden Passivierschicht bedeckt ist. Die Passivierschicht kann insbesondere auf der Substratoberfläche angeordnet sein, auf der die Metallpaste aufgebracht wird, um die Pastenmetallisierung zu erzeugen. In diesem Fall kann vor oder nach dem Feuerschritt zusätzlich eine Laserkontaktierung erfolgen (LFC). Als Passivierschichten kommen insbesondere Schichten aus Aluminiumoxid, Aluminiumoxynitrid, Siliziumoxid und/oder Siliziumnitrid in Frage. Es können auch mehrere Passivierschichten übereinander vorgesehen sein, beispielsweise eine chemisch passivierende und eine feldeffektpassivierende Passivierschicht. In an expedient embodiment it is provided that the substrate on one side or covered on both sides with a passivation layer passivating. In particular, the passivation layer may be disposed on the substrate surface on which the metal paste is applied to produce the paste metallization. In this case, before or after the firing step, additional laser contacting can take place (LFC). Suitable passivation layers are, in particular, layers of aluminum oxide, aluminum oxynitride, silicon oxide and / or silicon nitride. It is also possible to provide a plurality of passivation layers one above the other, for example a passivation layer that chemically passivates and a field effect passivating one another.
Derartige Passivierschichten eignen sich als Rückseitenpassivierung und/oder als Vorderseitenpassivierung, wobei als Rückseitenpassivierung insbesondere Schichten aus Aluminiumoxid, Aluminiumoxynitrid und/oder Schichtstapel aus Aluminiumoxid, Aluminiumoxynitrid, Siliziumoxynitrid und/oder Siliziumnitrid in Frage kommen, während sich als Vorderseitenpassivierung und/oder als Antireflexionsbeschichtung Schichten aus Siliziumoxynitrid oder Siliziumnitrid eignen. Such passivation layers are suitable as backside passivation and / or as front side passivation, in particular layers of alumina, aluminum oxynitride and / or layer stacks of alumina, aluminum oxynitride, silicon oxynitride and / or silicon nitride being suitable as backside passivation, while layers are formed as front side passivation and / or as antireflection coating Silicon oxynitride or silicon nitride are suitable.
Bevorzugterweise ist vorgesehen, dass beim Feuerschritt ein Rückseitenfeld (Back Surface Field, BSF) unterhalb der Metallisierungsschicht gebildet wird, dies gilt insbesondere bei einer rückseitig erzeugten Metallisierungsschicht. Die Metallpaste kann hierbei einseitig oder beidseitig auf dem Substrat aufgebracht sein. Eine rückseitige Pastenmetallisierung kann die Substratoberfläche vorzugsweise im Wesentlichen vollständig bedecken. Demgegenüber sollte eine vorderseitige Pastenmetallisierung strukturiert gebildet sein, beispielsweise in Form eines Metallgitters. It is preferably provided that during the firing step a back surface field (BSF) is formed below the metallization layer, this applies in particular to a metallization layer produced on the back side. The metal paste may in this case be applied to one or both sides of the substrate. A backside paste metallization may preferably substantially completely cover the substrate surface. In contrast, a front paste metallization should be structured, for example in the form of a metal grid.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen, dass das Substrat aus einem mono-, poly- oder multikristallinem Halbleiter gebildet ist. Das Substrat kann insbesondere aus Silizium gebildet sein. In a preferred embodiment it is provided that the substrate is formed from a mono-, poly- or multicrystalline semiconductor. The substrate may in particular be formed from silicon.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Figuren erläutert. Hierbei zeigen: The invention will be explained below with reference to embodiments with reference to the figures. Hereby show:
Die
Der hier dargestellte Durchlaufofen
Die
Anschließend durchläuft das Substrat
Die
Die beiden Temperaturverläufe
Hinsichtlich einer eLID-Anfälligkeit wesentlich vorteilhafter sind die beiden anderen in der
Eine noch geringere maximale Steigung zumindest in der Aufheizphase zeigt der in
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 1 1
- Substrat substratum
- 11 11
- Oberfläche des Substrates Surface of the substrate
- 2 2
- Metallisierungspaste metallizing
- 21 21
- Metallisierungsschicht metallization
- 22 22
- Back-Surface-Field Back-surface field
- 3 3
- Durchlaufofen Continuous furnace
- 30 30
- Eingangsbereich entrance area
- 31 31
- erster Temperaturbereich first temperature range
- 32 32
- zweiter Temperaturbereich second temperature range
- 33 33
- dritter Temperaturbereich third temperature range
- 34 34
- Ausgangsbereich output range
- 41 41
- erster Temperaturverlauf first temperature profile
- 42 42
- zweiter Temperaturverlauf second temperature profile
- 51 51
- eLID-verhindernder Temperaturverlauf eLID-preventing temperature profile
- 51a 51a
- Aufheizphase heating phase
- 51b 51b
- Abkühlphase cooling phase
- 52 52
- weiterer eLID-verhindernder Temperaturverlauf further eLID-preventing temperature profile
- 52a 52a
- weitere Aufheizphase further heating phase
- 52b 52b
- weitere Abkühlphase further cooling phase
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature
- „Light Induced Degradation of Rear Passicated mc-Si Solar Cells“, K. Ramspeck et al., in Proc. 27th EUPVSEC 2012 [0004] "Light Induced Degradation of Rear Passaged mc-Si Solar Cells", K. Ramspeck et al., In Proc. 27th EUPVSEC 2012 [0004]
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5698451A (en) * | 1988-06-10 | 1997-12-16 | Mobil Solar Energy Corporation | Method of fabricating contacts for solar cells |
US20120152344A1 (en) * | 2010-12-16 | 2012-06-21 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Aluminum paste compositions comprising calcium oxide and their use in manufacturing solar cells |
Family Cites Families (9)
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---|---|---|---|---|
US20100203668A1 (en) * | 2007-09-11 | 2010-08-12 | Centrotherm Photovoltaics Ag | Method and apparatus for thermally converting metallic precursor layers into semiconducting layers, and also solar module |
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US8232134B2 (en) * | 2008-09-30 | 2012-07-31 | Stion Corporation | Rapid thermal method and device for thin film tandem cell |
KR101133028B1 (en) * | 2008-11-18 | 2012-04-04 | 에스에스씨피 주식회사 | Manufacturing Method For Solar Cell's Electrode, Solar Cell And Its Substrate Used Thereby |
CN102024875A (en) * | 2009-09-11 | 2011-04-20 | 思阳公司 | Device for thin film overlying photovoltaic and quick thermal treatment method |
DE102009053532B4 (en) * | 2009-11-18 | 2017-01-05 | Centrotherm Photovoltaics Ag | Method and apparatus for producing a compound semiconductor layer |
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US20130183795A1 (en) | 2012-01-16 | 2013-07-18 | E I Du Pont De Nemours And Company | Solar cell back side electrode |
DE202013012849U1 (en) | 2013-06-26 | 2020-07-03 | Universität Konstanz | Device for treating a silicon substrate for a photovoltaic element with a stabilized efficiency and method-produced photovoltaic element |
-
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- 2014-11-25 CN CN201410693113.4A patent/CN104681664B/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5698451A (en) * | 1988-06-10 | 1997-12-16 | Mobil Solar Energy Corporation | Method of fabricating contacts for solar cells |
US20120152344A1 (en) * | 2010-12-16 | 2012-06-21 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Aluminum paste compositions comprising calcium oxide and their use in manufacturing solar cells |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
"Light Induced Degradation of Rear Passicated mc-Si Solar Cells", K. Ramspeck et al., in Proc. 27th EUPVSEC 2012 |
RTC radiant technology corporation: Spezifikation PV-600 Series Solar Cell Firing Furnaces. 2005. Bita Elektronik Svenska AB, POB 3434, SE-10368 Stockholm, Schweden. - Firmenschrift * |
Also Published As
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