DE102012205610A1 - Method for parameterization of voltage measuring device for detecting voltage at medium- or high voltage systems, involves determining capacitance value of primary capacitance of predetermined medium- or high voltage system - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Parametrierung eines Spannungsmessgerätes, das zur Spannungserfassung an Hochspannungsanlagen mittels Spannungsmessung an einer Sekundärkapazität eines aus der Sekundärkapazität und einer Primärkapazität bestehenden kapazitiven Spannungsteilers vorgesehen ist, und zwar zur Parametrierung auf den kapazitiven Spannungsteiler einer gegebenen Hochspannungsanlage, bei der das Spannungsmessgerät zum Einsatz kommen soll. Die Erfindung bezieht sich des Weiteren auf ein mit diesem Verfahren parametrierbares Spannungsmessgerät. The invention relates to a method for parameterizing a voltage measuring device, which is provided for voltage detection in high voltage systems by means of voltage measurement at a secondary capacitance of a capacitive voltage divider consisting of the secondary capacitance and a primary capacitance, namely for parameterization on the capacitive voltage divider of a given high voltage system, in which the Voltage measuring device is to be used. The invention further relates to a voltage measuring device that can be parameterized with this method.
Bekanntermaßen ist in heutigen Mittelspannungs-Schaltanlagen oftmals eine kapazitive Koppelelektrode zur Prüfung auf Spannungsfreiheit als konstruktiver Bestandteil integriert. Diese Koppelelektroden werden typischerweise in gasisolierten Schaltanlagen als kapazitive Beläge, vorzugsweise in Durchführungen, und in luftisolierten Schaltanlagen als sogenannte Teilerstützer ausgeführt. Die an solchen kapazitiven Koppelelektroden erhaltenen kapazitiven Messsignale werden bislang fast ausschließlich zur Prüfung auf Spannungsfreiheit eingesetzt, wobei die Messsignale meist digital weiterverarbeitet oder nur optisch angezeigt werden. Zu dieser Spannungsprüfung gibt es die Norm VDE 0682 T 415, auf die neben weiterer einschlägiger Fachliteratur hinsichtlich der vorliegend verwendeten Begrifflichkeiten verwiesen werden kann. Dabei können vorliegend die Begriffe Mittelspannung und Hochspannung, zu denen in vielen Ländern teilweise etwas unterschiedliche Definitionen der zugehörigen Spannungsbereiche vorliegen, austauschbar verwendet werden, im Gegensatz zum Begriff Niederspannung. Unter letzterem wird ein unterhalb des Mittel-/Hochspannungsbereichs liegender Spannungsbereich von bis zu 1kV verstanden, der unter anderem den Bereich üblicher Versorgungsspannungen von Stromnetzen beim Endverbraucher umfasst, wie gebräuchliche Netzspannungen von 110V und 220V bzw. 230V. Die besagte Norm schreibt für die Prüfung auf Spannungsfreiheit in Mittel- und Hochspannungsanlagen Anzeigetoleranzen zwischen 10% und 45% der Nennbetriebsspannung vor. Aufgrund dieser relativ großen Toleranzen besteht keine besonders hohe Anforderung an die Genauigkeit der kapazitiven Koppelelektroden bzw. deren Primärkapazität. Typischerweise liegt deren Fehlertoleranz bei über ±10%. As is known, in today's medium-voltage switchgear, a capacitive coupling electrode is often integrated as a constructive component for testing for voltage-free. These coupling electrodes are typically designed in gas-insulated switchgear as capacitive pads, preferably in bushings, and in air-insulated switchgear as so-called divider supports. The capacitive measuring signals obtained on such capacitive coupling electrodes have hitherto been used almost exclusively for checking for absence of voltage, with the measuring signals usually being processed further digitally or only displayed optically. For this voltage test there is the standard VDE 0682 T 415, to which reference can be made in addition to other relevant specialist literature with regard to the terminology used here. In the present case, the terms medium voltage and high voltage, to which in many countries sometimes somewhat different definitions of the associated voltage ranges are present, can be used interchangeably, in contrast to the term low voltage. The latter is understood to mean a voltage range of up to 1 kV lying below the medium / high voltage range, which inter alia covers the range of standard supply voltages of power grids at the end user, such as common mains voltages of 110V and 220V or 230V. The said standard prescribes display tolerances of between 10% and 45% of the rated operating voltage for the de-energizing test in medium and high voltage installations. Because of these relatively large tolerances, there is no particularly high requirement for the accuracy of the capacitive coupling electrodes or their primary capacitance. Typically, their fault tolerance is over ± 10%.
Die Spannungsprüfung erfolgt in diesen Systemen üblicherweise durch Messung des Spannungsabfalls an einer zur Primärkapazität der Koppelelektrode in Reihe geschalteten Sekundärkapazität. Die Sekundärkapazität des so gebildeten kapazitiven Spannungsteilers beinhaltet u.a. einen diskreten Kondensator mit einer typischen Fehlertoleranz von z.B. ±5%. Zusätzlich sind im Sekundärteil des Spannungsteilers neben der eigentlichen Sekundärkapazität auch Streukapazitäten und Leitungskapazitäten vorhanden, die gegebenenfalls zu berücksichtigen sind. Die den kapazitiven Spannungsteiler beaufschlagende Primärspannung liegt an einem Eingangsspannungsanschluss des zwischen diesem Eingangsspannungsanschluss und einem Masseanschluss eingeschleiften kapazitiven Spannungsteilers an, die an der Sekundärkapazität abfallende Spannung ist die gemessene Sekundärspannung. Im normalen Spannungsmessbetrieb ist die Primärspannung die zu überwachende bzw. zu erfassende Nennbetriebsspannung des zugehörigen Mittel-/Hochspannungsnetzes.The voltage test is usually carried out in these systems by measuring the voltage drop across a secondary capacitance connected in series to the primary capacitance of the coupling electrode. The secondary capacitance of the capacitive voltage divider thus formed includes i.a. a discrete capacitor with a typical fault tolerance of e.g. ± 5%. In addition, in the secondary part of the voltage divider in addition to the actual secondary capacitance and stray capacitances and line capacities are present, which may need to be considered. The primary voltage acting upon the capacitive voltage divider is applied to an input voltage terminal of the capacitive voltage divider connected between this input voltage terminal and a ground terminal, and the voltage dropping at the secondary capacitance is the measured secondary voltage. In normal voltage measuring operation, the primary voltage is the nominal operating voltage of the associated medium / high-voltage network to be monitored or detected.
In sogenannten Verteilnetzen werden heutzutage Messstellen benötigt, die neben einer Strommessung auch eine Spannungsmessung bereitstellen, wobei in den Verteilnetzstationen keine Spannungswandler zur Verfügung stehen. Derartige Spannungsmessungen werden beispielsweise zur Spannungsband-Überwachung (d.h. zur Überwachung auf Über-/Unterspannung), zur Nullspannungsmessung für Erdschlusserfassung (sogenannte Wattreststrommethode), zur Impedanzmessung zwecks Fehlerlokalisierung, zur Spannungsvektorerfassung zwecks Fehlerrichtungsbestimmung und zur Netzqualitätsüberprüfung gemäß
Zur Erfassung der Sekundärspannung wird üblicherweise ein eigenständiges Spannungsmessgerät an die Sekundärkapazität angekoppelt. Dieses bedarf für seinen konkreten Einsatz an einer gegebenen Hochspannungsanlage der Parametrierung, worunter vorliegend zu verstehen ist, dass festgestellt werden muss, welcher Spannungswert der den kapazitiven Spannungsteiler beaufschlagenden Primärspannung einem jeweils gemessenen Sekundärspannungswert entspricht. Ein derartiger Parametriervorgang ist als individueller Abgleich des Spannungsmessgerätes auf den jeweiligen kapazitiven Spannungsteiler einmalig oder bei Wiederholungs- oder Schutzprüfungen gegebenenfalls wiederholt erforderlich. Da die Sekundärspannung in einem festen und linearen Verhältnis zur angelegten Primärspannung steht, kommt natürlich grundsätzlich in Betracht, den von den diversen Kapazitäten abhängigen Proportionalitätsfaktor dadurch zu ermitteln, dass einmalig eine definierte Mittel-/Hochspannung als Primärspannung an den kapazitiven Spannungsteiler angelegt und die zugehörige Sekundärspannung mit dem Spannungsmessgerät gemessen wird.To detect the secondary voltage, a separate voltage measuring device is usually coupled to the secondary capacitance. For its actual use at a given high-voltage installation, this requires parameterization, which in the present case means that it must be determined which voltage value of the primary voltage acting on the capacitive voltage divider corresponds to a respectively measured secondary voltage value. Such a parameterization process is required as an individual adjustment of the voltage measuring device on the respective capacitive voltage divider once or possibly repeated or protective tests repeatedly. Since the secondary voltage is in a fixed and linear relationship to the applied primary voltage, comes naturally In principle, it is possible to determine the proportionality factor, which depends on the various capacitances, by applying a defined medium / high voltage as a primary voltage to the capacitive voltage divider once and measuring the associated secondary voltage with the voltage measuring device.
Diese Vorgehensweise ist in der Praxis jedoch oftmals nur schwierig umzusetzen. Zum einen ist es relativ schwierig, den aktuellen Wert der hierfür anzulegenden Mittel-/Hochspannung genau zu kennen bzw. zu messen, zum anderen ist die Beaufschlagung mit der Mittel-/Hochspannung zu einem derartigen Messgerät-Parametrisierungszweck mit Hochspannungsgefahren verbunden, wobei entsprechende Isolationen vorzusehen sind. Dabei erfolgt die Beaufschlagung mit der Primärspannung typischerweise bei angeschlossenem Mittelspannungskabel, denn dessen üblicherweise verwendeter Kabelstecker beeinflusst die Primärkapazität, und eine Demontage dieses Kabels, mit dem die an einer Hochspannungs-Schaltanlage bzw. Verteilstation abgenommene Mittel-/Hochspannung zu einer weiteren Hochspannungs-Schaltanlage oder einem Verteilnetztransformator weitergeleitet wird, ist oft nur schwer möglich. Zudem wird für eine solche Beaufschlagung mit Mittelspannung eine relative hohe Leistung der Primärspannungsquelle benötigt, da das angeschlossene Mittelspannungskabel mitgespeist werden muss. Die Messgenauigkeit kann des Weiteren durch den Innenwiderstand des Spannungsmessgerätes begrenzt sein. However, this procedure is often difficult to implement in practice. On the one hand, it is relatively difficult to know or measure exactly the current value of the medium / high voltage to be applied for this purpose; on the other hand, the application of the medium / high voltage to such a meter parameterization purpose is associated with high-voltage hazards, with appropriate insulation provided are. In this case, the application of the primary voltage typically occurs when the medium-voltage cable is connected, because its commonly used cable connector affects the primary capacity, and a disassembly of this cable, with which removed at a high-voltage switchgear or distribution center medium / high voltage to another high-voltage switchgear or a distribution network transformer is often difficult. In addition, for such an application with medium voltage, a relatively high power of the primary voltage source is required because the connected medium voltage cable must be fed. The measurement accuracy can be further limited by the internal resistance of the voltmeter.
Der Erfindung liegt als technisches Problem die Bereitstellung eines Spannungsgerät-Parametrisierungsverfahrens der eingangs genannten Art und eines mit diesem Verfahren parametrierbaren Spannungsmessgerätes zugrunde, mit denen sich die oben erläuterten Schwierigkeiten herkömmlicher Vorgehensweisen und Spannungsmessgeräte reduzieren oder vermeiden lassen. The invention is based on the technical problem of providing a voltage device parameterization method of the type mentioned in the introduction and a voltage measuring device that can be parameterized with this method, with which the above-explained difficulties of conventional procedures and voltage measuring devices can be reduced or avoided.
Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung eines Parametrierungsverfahrens mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie eines Spannungsmessgerätes mit den Merkmalen des Anspruchs 4. The invention solves this problem by providing a parameterization method having the features of claim 1 and a voltage measuring device having the features of claim 4.
Wenn ein Spannungsmessgerät, das zur Spannungserfassung an Mittel-/Hochspannungsanlagen mittels Spannungsmessung an einer Sekundärkapazität eines aus der Sekundärkapazität und einer Primärkapazität bestehenden, zwischen einen Eingangsspannungsanschluss und einen Masseanschluss eingeschleiften kapazitiven Spannungsteilers vorgesehen ist, erstmalig bei einer gegebenen Mittel-/Hochspannungsanlage eingesetzt werden soll, bedarf es der Parametrierung, d.h. der Anpassung an den bei der gegebenen Hochspannungsanlage aktuell vorliegenden kapazitiven Spannungsteiler. Die gleiche Notwendigkeit zur Parametrierung des Spannungsmessgerätes kann sich während eventuell erforderlicher Nachkalibrierungen im späteren Gebrauch des Spannungsmessgerätes an dieser Mittel-/Hochspannungsanlage ergeben, beispielsweise wegen sich verändernder Werte der Primärkapazität und/oder der Sekundärkapazität. Dabei wird angenommen, dass sowohl der aktuelle Wert der Primärkapazität als auch der aktuelle Wert der Sekundärkapazität, die ihrerseits jeweils mehrere elektrisch seriell oder parallel geschaltete Kapazitäten umfassen können, nicht oder jedenfalls nicht mit einer gewünschten Genauigkeit bekannt sind. Das erfindungsgemäße Verfahren löst diese Parametrierungsaufgabe, die das Auffinden des Proportionalitätsfaktors zwischen der am kapazitiven Spannungsteiler anliegenden Primärspannung und der vom Spannungsmessgerät an der Sekundärkapazität gemessenen Sekundärspannung beinhaltet, in einer besonders vorteilhaften Weise, die insbesondere keine Vorabkenntnis der aktuellen Werte der Primärkapazität und der Sekundärkapazität erfordert. When a voltage measuring device provided for voltage detection on medium / high voltage installations by means of voltage measurement at a secondary capacitance of a capacitive voltage divider consisting of a secondary capacitance and a primary capacitance, inserted between an input voltage connection and a ground connection, is to be used for the first time at a given medium / high voltage installation, it requires the parameterization, ie the adaptation to the currently existing at the given high-voltage system capacitive voltage divider. The same need to parameterize the voltmeter may arise during any required recalibrations in later use of the voltmeter on this medium / high voltage installation, for example because of changing values of the primary capacitance and / or the secondary capacitance. It is assumed that both the current value of the primary capacity and the current value of the secondary capacity, which in turn may each comprise a plurality of electrically connected in series or parallel capacities, are not or at least not known with a desired accuracy. The method according to the invention solves this parameterization task, which involves locating the proportionality factor between the primary voltage applied to the capacitive voltage divider and the secondary voltage measured by the voltage measuring device at the secondary capacitance, in a particularly advantageous manner which in particular requires no prior knowledge of the actual values of the primary capacitance and the secondary capacitance.
Hierzu sieht das erfindungsgemäße Parametrierverfahren zunächst eine Bestimmung des Kapazitätswertes der Primärkapazität durch Anlegen einer gegenüber der Mittelspannung reduzierten Spannung mit vorgegebenem Spannungswert an den Eingangsanschluss des kapazitiven Spannungsteilers und Durchführen einer die Sekundärkapazität kurzschließenden Kurzschlussstrommessung vor. Diese gegenüber Mittelspannung reduzierte Spannung sei vorliegend entsprechend ihrem Verwendungszweck als Primärkapazitätsmessspannung bezeichnet. Sie kann vorzugsweise im Niederspannungsbereich bis 1kV, in manchen Fällen aber auch noch darüber liegen. Die Verwendung einer solchen gegenüber der Mittelspannung reduzierten Primärkapazitätsmessspannung, z.B. Niederspannung, anstelle einer Mittel-/Hochspannung ermöglicht in Verbindung mit der diese Sekundärkapazität kurzschließenden Kurzschlussstrommessung eine vergleichsweise hohe Genauigkeit für die Bestimmung des Primärkapazitätswertes der gegebenen Hochspannungsanlage. Die unbekannte Sekundärkapazität geht durch das Kurzschließen nicht in diese Bestimmung des Primärkapazitätswertes ein, und eine Messung des Kurzschlussstroms durch die Primärkapazität bei anliegender Primärkapazitätsmessspannung ist mit relativ geringem Aufwand sehr genau möglich, z.B. mit einer Genauigkeit bzw. Auflösung im Bereich von 1nA bis 1μA. For this purpose, the parameterization method according to the invention first provides for a determination of the capacitance value of the primary capacitance by applying a voltage reduced with respect to the medium voltage with a predetermined voltage value to the input terminal of the capacitive voltage divider and performing a short-circuit current measurement short-circuiting the secondary capacitance. In the present case, this voltage reduced with respect to the mean voltage is referred to as the primary capacitance measuring voltage in accordance with its intended use. It may preferably be in the low voltage range up to 1kV, but in some cases even higher. The use of such a reduced medium voltage primary capacitance measurement voltage, e.g. Low voltage, instead of a medium / high voltage, in conjunction with the short-circuit current measurement short-circuiting this secondary capacity, enables a comparatively high accuracy for the determination of the primary capacitance value of the given high-voltage system. The unknown secondary capacitance does not enter into this determination of the primary capacitance value due to the short-circuiting, and a measurement of the short-circuit current through the primary capacitance when the primary capacitance measurement voltage is present can be very accurately achieved with relatively little effort, e.g. with an accuracy or resolution in the range of 1nA to 1μA.
Anschließend wird die im normalen Betrieb interessierende Mittel-/Hochspannung, d.h. die Nennbetriebsspannung der Mittel-/Hochspannungsanlage, an den Eingangsspannungsanschluss des kapazitiven Spannungsteilers angelegt, und durch eine erneute, die Sekundärkapazität kurzschließende Kurzschlussstrommessung wird unter Verwendung des zuvor bestimmten Primärkapazitätswertes der aktuelle Wert der angelegten Nennbetriebsspannung bestimmt. Subsequently, the medium / high voltage of interest in the normal operation, ie the nominal operating voltage of the medium / high voltage system, applied to the input voltage terminal of the capacitive voltage divider, and by a new, the secondary capacitor short-circuiting Short-circuit current measurement is determined using the previously determined primary capacity value, the current value of the applied nominal operating voltage.
In einem anschließenden Schritt wird bei am kapazitiven Spannungsteiler anliegender Nennbetriebsspannung eine Spannungsmessung an der Sekundärkapazität durch das zu parametrierende Spannungsmessgerät durchgeführt, wobei vorausgesetzt wird, dass die Nennbetriebsspannung mit dem durch die vorangegangene Kurschlussstrommessung bestimmten aktuellen Nennbetriebsspannungswert anliegt. Dies kann z.B. dadurch sichergestellt werden, dass diese Sekundärspannungsmessung direkt im Anschluss an die vorausgehende Kurzschlussstrommessung durchgeführt wird, so dass davon ausgegangen werden kann, dass sich der Nennbetriebsspannungswert noch nicht verändert hat. Bei Bedarf kann dies durch einmalige oder mehrmalige Wiederholung der Kurzschlussstrommessung und der direkt anschließenden Sekundärspannungsmessung jeweils bei anliegender Nennbetriebsspannung verifiziert werden. In a subsequent step, a voltage measurement on the secondary capacitance is performed by the voltage measuring device to be parameterized in the rated voltage applied to the capacitive voltage divider, it being assumed that the nominal operating voltage is present at the current nominal operating voltage value determined by the preceding short-circuit current measurement. This can e.g. This ensures that this secondary voltage measurement is carried out directly after the preceding short-circuit current measurement, so that it can be assumed that the nominal operating voltage value has not yet changed. If required, this can be verified by repeating the short-circuit current measurement once or several times and the secondary voltage measurement directly following each at rated operating voltage.
Nach diesem dritten Verfahrensschritt liegt dann durch die Sekundärspannungsmessung ein gemessener aktueller Sekundärspannungswert vor, der zum aktuell anliegenden Nennbetriebsspannungswert gehört. Damit ist der entsprechende Proportionalitätsfaktor zwischen angelegter Nennbetriebsspannung und gemessener Sekundärspannung ermittelt und die Parametrierung des Spannungsmessgerätes abgeschlossen. Der ermittelte Proportionalitätsfaktor kann z.B. in einem Speicher des Spannungsmessgerätes abgelegt werden. Wie sich aus der Schilderung des erfindungsgemäßen Verfahrens ergibt, wird für diese vorteilhafte Parametrierung keinerlei genaue Vorabkenntnis der Primärkapazität und der Sekundärkapazität einschließlich ihrer diversen Kapazitätsanteile benötigt. After this third process step, there is then a measured current secondary voltage value through the secondary voltage measurement, which belongs to the currently applied nominal operating voltage value. Thus, the corresponding proportionality factor between applied nominal operating voltage and measured secondary voltage is determined and the parameterization of the voltage measuring device is completed. The determined proportionality factor may e.g. be stored in a memory of the voltmeter. As can be seen from the description of the method according to the invention, no precise prior knowledge of the primary capacity and the secondary capacity including its various capacity shares is required for this advantageous parameterization.
In einer Weiterbildung der Erfindung wird die Primärkapazitätsmessspannung an einen Verbindungspunkt eines Mittelspannungskabels angelegt, das zu einer weiteren Hochspannungsanlage oder zu einem externen Verteiltransformator führt. Ein solches Mittelspannungskabel ist gängiger Bestandteil üblicher Hochspannungs-Schaltanlagen. Da sich dieser Verbindungspunkt außerhalb eines ebenfalls üblichen, den kapazitiven Spannungsteiler enthaltenden Gehäuses der Hochspannungsanlage befindet, ist das Anlegen der Primärkapazitätsmessspannung mit relativ geringem Aufwand möglich, ohne in dieses spannungsgeschützte Gehäuse der Hochspannungsanlage eingreifen zu müssen.In a further development of the invention, the primary capacitance measuring voltage is applied to a connection point of a medium voltage cable, which leads to a further high-voltage system or to an external distribution transformer. Such a medium voltage cable is a common part of conventional high voltage switchgear. Since this connection point is outside of a likewise usual, the capacitive voltage divider containing housing of the high voltage system, the application of the Primärkapazitätsmessspannung with relatively little effort is possible without having to intervene in this voltage protected housing of the high voltage system.
In einer Weiterbildung der Erfindung wird der im ersten Schritt des erfindungsgemäßen Verfahrens ermittelte Primärkapazitätswert in das Spannungsmessgerät als Eingangsinformation eingegeben und/oder in einem Speicher des Spannungsmessgerätes abgelegt. Diese Information wird dann für eine Nachkalibrierung des kapazitiven Spannungsteilers verwendet, beispielsweise im Rahmen späterer Wiederholungs- oder Schutzprüfungen der Hochspannungsanlage. In a further development of the invention, the primary capacitance value determined in the first step of the method according to the invention is input into the voltage measuring device as input information and / or stored in a memory of the voltage measuring device. This information is then used for recalibration of the capacitive voltage divider, for example as part of later repetition or protection tests of the high-voltage system.
Das erfindungsgemäße Spannungsmessgerät ist zur Parametrierung mit dem erfindungsgemäßen Verfahren eingerichtet. In einer Ausgestaltung der Erfindung ist es als eigenständig vorgefertigtes Messgerät ausgeführt, das an die Sekundärkapazität des kapazitiven Spannungsteilers einer gegebenen Hochspannungsanlage angekoppelt wird. The voltage measuring device according to the invention is set up for parameterization with the method according to the invention. In one embodiment of the invention, it is designed as a self-prefabricated measuring device, which is coupled to the secondary capacitance of the capacitive voltage divider of a given high-voltage system.
In einer Weiterbildung der Erfindung umfasst das Spannungsmessgerät Mittel zur Eingabe und/oder Speicherung des im zweiten Schritt des erfindungsgemäßen Parametrierverfahrens gemessenen Kurzschlussstroms bzw. einer zugehörigen Messspannung und/oder Mittel zur Eingabe des im ersten Verfahrensschritt ermittelten Primärkapazitätswertes des kapazitiven Spannungsteilers der Hochspannungsanlage und/oder Mittel zur Speicherung dieses gemessenen Kurzschlussstroms bzw. der zugehörigen Messspannung und/oder zur Speicherung dieses Primärkapazitätswertes. Dadurch verfügt das Spannungsmessgerät über die entsprechenden Informationen, um dann den Proportionalitäts- bzw. Kalibrierfaktor für die von ihm gemessene Sekundärspannung anhand dieser Informationen zu ermitteln und abgespeichert zu halten. In one development of the invention, the voltage measuring device comprises means for inputting and / or storing the short-circuit current measured in the second step of the parameterizing method according to the invention or an associated measuring voltage and / or means for inputting the primary capacitance value of the capacitive voltage divider of the high-voltage system and / or means determined in the first method step for storing this measured short-circuit current or the associated measuring voltage and / or for storing this primary capacitance value. As a result, the voltage measuring device has the corresponding information in order then to determine the proportionality or calibration factor for the secondary voltage measured by it on the basis of this information and to keep it stored.
In einer Weiterbildung der Erfindung umfasst das Spannungsmessgerät Mittel zur Speicherung des mit dem erfindungsgemäßen Parametrierverfahren ermittelten Proportionalitätsfaktors zwischen anliegender Nennbetriebsspannung der Hochspannungsanlage und der zugehörig ermittelten Sekundärspannung und/oder Mittel zur Anzeige des anhand dieses Proportionalitätsfaktors ermittelten aktuellen Wertes der Nennbetriebsspannung aus der gemessenen Sekundärspannung in einem laufenden Messbetrieb nach abgeschlossener Parametrierung. Dadurch ist vorteilhaft nach erfindungsgemäßer Parametrierung das Spannungsmessgerät zur Spannungsüberwachung bzw. Spannungserfassung im laufenden Betrieb an der gegebenen Hochspannungsanlage eingerichtet. In a further development of the invention, the voltage measuring device comprises means for storing the proportionality factor determined between the applied nominal operating voltage of the high-voltage system and the associated secondary voltage and / or means for displaying the current value of the nominal operating voltage from the measured secondary voltage in a running current value determined using this proportionality factor Measuring operation after completed parameterization. As a result, after the parameterization according to the invention, the voltage measuring device for voltage monitoring or voltage detection is advantageously set up at the given high-voltage system during operation.
Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben. Hierbei zeigen:Advantageous embodiments of the invention are illustrated in the drawings and will be described below. Hereby show:
Die in
Die Primärkapazität
Die Parametrierung des Spannungsmessgerätes
In einem ersten Schritt S10 wird eine gegenüber Mittelspannung geringere Primärkapazitätsmessspannung Un, z.B. Niederspannung, an einen externen Verbindungspunkt
An der Sekundärkapazität
In einem zweiten Schritt S20 wird die Primärkapazitätsmessspannung Un weggeschaltet und durch Schließen des Schalters
In einem vorzugsweise unmittelbar an die geschilderte zweite Kurzschlussstrommessung anschließenden Schritt S30 wird die Ankopplung des kapazitiven Spannungsteilers
In einer praktischen Ausführung kann das Verfahren so gewählt sein, dass die im ersten Schritt bestimmte Primärkapazität C1 bzw. Z1 in das zu parametrierende Spannungsmessgerät
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DE102012103929B4 (en) * | 2012-05-04 | 2019-11-14 | Dipl.-Ing. H. Horstmann Gmbh | Fault current indicator for electrical switchgear |
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Eberhard Engelmann, Speck, Joachim: Technische Universität Dresden, Institut für elektrische Energieversorgung und Hochspannungstechnik, Vorlesungsskript, Hochspannungsprüf- und messtechnik, Wintersemester 2004/2005, Kapitel 4 |
Eberhard Engelmann, Speck, Joachim: Technische Universität Dresden, Institut für elektrische Energieversorgung und Hochspannungstechnik, Vorlesungsskript, Hochspannungsprüf- und messtechnik, Wintersemester 2004/2005, Kapitel 6 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
R003 | Refusal decision now final |
Effective date: 20131108 |