DE102012202608B4 - Method for performing an x-ray examination on an x-ray machine - Google Patents

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Abstract

Verfahren zum Durchführen einer Röntgenuntersuchung mit einer Dual-Energy-Technik auf einem Röntgengerät (100), das einen AEC-Detektor aufweist, der zwischen einem zu untersuchenden Objekt und einem Röntgendetektor angeordnet ist, mit den Schritten:
- Bestimmen (S501) eines ersten Einstellungsparameters mittels einer Voraufnahme, wobei die Voraufnahme anhand eines AEC-Verfahrens durchgeführt wird;
- Aufnehmen (S503) eines ersten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer ersten Energie, d.h. als eine Niedrigenergieaufnahme, in Abhängigkeit des ersten Einstellungsparameters;
- Bestimmen (S505) eines zweiten Einstellungsparameters mittels des ersten Röntgenbildes oder Tomographiescans, indem das bei der Aufnahme (S503) des ersten Röntgenbildes in Form einer Niedrigenergieaufnahme gewonnene Röntgenbild ausgewertet wird, wobei der zweite Einstellungsparameter als Differenzwert zwischen einem Sollwert einer Schwärzung und einem Istwert der Schwärzung des ersten Röntgenbildes ermittelt wird; und wobei durch Auswertung des ersten Röntgenbildes ein Korrekturfaktor (KF) ermittelt wird, so dass sich der zweite Einstellungsparameter für ein Aufnehmen (S507) eines zweiten Röntgenbildes ergibt anhand: mAs_HE = UF*mAs_LE*KF ,

Figure DE102012202608B4_0001
wobei UF ein Umrechnungsfaktor ist, der zu jeder Anoden/Filter-Kombination zum Aufnehmen (S503) des ersten Bildes für eine Anoden/Filter-Kombination des zweiten Röntgenbildes ermittelt wird, und wobei mAs HE bzw. mAs LE das Röhrenstromzeitprodukt für eine Hochenergieaufnahme bzw. Niedrigenergieaufnahme bezeichnen;
- Aufnehmen (S507) eines zweiten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer zweiten Energie, d.h. als Hochenergieaufnahme, in Abhängigkeit des zweiten Einstellungsparameters.
Figure DE102012202608B4_0000
A method for performing an X-ray examination with a dual-energy technique on an X-ray machine (100), which has an AEC detector, which is arranged between an object to be examined and an X-ray detector, with the following steps:
- determining (S501) a first setting parameter by means of a pre-recording, wherein the pre-recording is performed by means of an AEC method;
- recording (S503) a first X-ray image or a tomographic scan with a first energy, ie as a low-energy intake, in dependence on the first adjustment parameter;
Determining (S505) a second adjustment parameter by means of the first X-ray image or tomography scan by evaluating the X-ray image obtained during the acquisition (S503) of the first X-ray image in the form of a low energy acquisition, the second adjustment parameter being a difference value between a desired value of a blackening and an actual value of the Blackening of the first X-ray image is determined; and wherein a correction factor (KF) is determined by evaluating the first X-ray image so that the second adjustment parameter for recording (S507) of a second X-ray image results from mAs_HE = UF * * KF mAs_LE .
Figure DE102012202608B4_0001
wherein UF is a conversion factor determined for each anode / filter combination for capturing (S503) the first image for an anode / filter combination of the second X-ray image, and wherein mAs HE and mAs LE are the tube current time product for a high energy intake or low energy intake;
- recording (S507) a second X-ray image or a tomography scan with a second energy, ie as a high-energy intake, as a function of the second adjustment parameter.
Figure DE102012202608B4_0000

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Durchführen einer Röntgenuntersuchung auf einem Röntgengerät, ein entsprechendes Röntgengerät sowie ein Computerprogramm für einen Computer zur Durchführung des Verfahrens.The present invention relates to a method for performing an X-ray examination on an X-ray apparatus, a corresponding X-ray apparatus and a computer program for a computer for carrying out the method.

Bei heutigen Röntgengeräten wird vor einer Röntgenaufnahme zur Kalibrierung des Röntgengerätes eine Kalibrierungsmessung durchgeführt, anhand derer ein Einstellungsparameter für die sich anschließende Röntgenaufnahme ermittelt werden kann. Werden zwei Röntgenaufnahmen durchgeführt, wird für jede dieser Röntgenaufnahmen eine jeweilige Kalibrierung durchgeführt. Daher werden bei einer Röntgenuntersuchung mit zwei Aufnahmen unterschiedlicher Energie, wie beispielsweise bei einer Dual-Energy-Tomosynthese, zwei Kalibrierungsmessungen durchgeführt. Erfolgt daneben eine Bestimmung der Kontrastmittelkinetik, ist eine weitere Kalibrierungsmessung nötig. Durch die hohe Anzahl von Kalibrierungsmessungen wird der Patient einer erhöhten Strahlenbelastung ausgesetzt.In today's x-ray devices, a calibration measurement is carried out before an x-ray image for calibrating the x-ray device, by means of which a setting parameter for the subsequent x-ray exposure can be determined. If two x-rays are taken, a calibration is performed for each of these x-rays. Therefore, in an X-ray study with two images of different energy, such as in a dual-energy tomosynthesis, two calibration measurements are performed. If, in addition, a determination of the contrast agent kinetics, a further calibration measurement is necessary. The high number of calibration measurements expose the patient to increased radiation exposure.

Die US 2010/0232669 zeigt einen Ansatz, um Einstellungen bei einer Dual-Energy Bildgebung auf Basis einer Voraufnahme zu optimieren, allerdings ohne Anwendung einer Automatic Exposure Control (AEC-) Technik.The US 2010/0232669 shows an approach to optimize settings in a dual-energy imaging based on a pre-recording, but without the use of Automatic Exposure Control (AEC) technology.

Die US 7,826,587 B1 betrifft ebenfalls ein Dual-Energy-Verfahren, wobei mittels einer Voraufnahme die Signal-Rausch-Abstände für die nachfolgenden Aufnahmen in mehreren Iterationen optimiert werden können.The US Pat. No. 7,826,587 B1 also relates to a dual-energy method, wherein by means of a pre-recording, the signal-to-noise ratios for the subsequent recordings in several iterations can be optimized.

Die US 7,657,000 B2 zeigt einen Ansatz, mit dem ein übliches CT-Gerät als Dual-Energy Gerät betrieben werden kann.The US 7,657,000 B2 shows an approach with which a conventional CT device can be operated as a dual-energy device.

Die US 2002/0075997 A1 offenbart eine optimierte Dual Energy-Bildgebung unter Anwendung der AEC-Technik und der Auswertung einer Voraufnahme, um für nachfolgende Aufnahmen die Dosisbelastung möglichst gering halten zu können.The US 2002/0075997 A1 discloses an optimized dual energy imaging using the AEC technique and the evaluation of a pre-recording in order to keep the dose burden as low as possible for subsequent recordings.

Es ist die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe, die Strahlenbelastung bei einer Röntgenuntersuchung zu senken.It is the object underlying the invention to reduce the radiation exposure during an X-ray examination.

Diese Aufgabe wird durch Gegenstände nach den unabhängigen Patentansprüchen gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in der Beschreibung, den Figuren und den Unteransprüchen angegeben.This object is achieved by objects according to the independent claims. Advantageous developments of the invention are specified in the description, the figures and the subclaims.

Gemäß einem ersten Aspekt wird die erfindungsgemäße Aufgabe durch ein Verfahren zum Durchführen einer Röntgenuntersuchung auf einem Röntgengerät gelöst, mit den Schritten eines Bestimmens eines ersten Einstellungsparameters mittels einer Voraufnahme, eines Aufnehmens eines ersten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer ersten Energie in Abhängigkeit des ersten Einstellungsparameters; und eines Aufnehmens eines zweiten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer zweiten Energie in Abhängigkeit des ersten Einstellungsparameters. Dadurch wird beispielsweise nicht nur der technische Vorteil erreicht, dass sich die Strahlenbelastung verringert, sondern auch dass sich die Untersuchungszeit verkürzt und Arbeitsabläufe vereinfacht werden.According to a first aspect, the object according to the invention is achieved by a method for carrying out an X-ray examination on an X-ray apparatus, comprising the steps of determining a first adjustment parameter by means of a pre-acquisition, taking a first X-ray image or a tomography scan with a first energy as a function of the first adjustment parameter; and recording a second x-ray image or tomography scan with a second energy in response to the first adjustment parameter. As a result, not only the technical advantage is achieved, for example, that the radiation exposure is reduced, but also that the examination time is shortened and work processes are simplified.

Das Röntgengerät ist ein Gerät zur Untersuchung von Gewebe oder eines Gegenstandes mittels Röntgenstrahlen.The X-ray machine is a device for examining tissue or an object by means of X-rays.

Der Schritt eines Bestimmens eines Einstellungsparameters ist ein technisches Ermitteln des Einstellungsparameters, beispielsweise anhand einer durch das Röntgengerät durchgeführten Messung.The step of determining a setting parameter is a technical determination of the setting parameter, for example based on a measurement performed by the X-ray machine.

Der Einstellungsparameter ist ein Parameter der zur Einstellung des Geräts bei einer Röntgenaufnahme dient. Im Allgemeinen kann der Einstellungsparameter ein mAs-Wert, ein Wert für den Röhrenstrom, ein Wert für die Röhrenspannung, ein Wert für eine Aufnahmezeit oder jeder andere technische Parameter sein, der zur Einstellung einer Röntgenaufnahme verwendet werden kann.The adjustment parameter is a parameter used to set the device during X-ray exposure. In general, the adjustment parameter may be a mAs value, a tube current value, a tube voltage value, a recording time value, or any other technical parameter that may be used to set an X-ray.

Eine Aufnahme ist eine Untersuchung des Gewebes oder des Gegenstandes mittels Röntgenstrahlen. Eine Voraufnahme kann ein Ermitteln einer Strahlungsintensität nach Durchlaufen des Gewebes oder des Gegenstandes (Transmission) anhand eines Sensors umfassen.A photograph is an examination of the tissue or the object by X-rays. A pre-acquisition may include determining a radiation intensity after passing through the tissue or the article (transmission) by means of a sensor.

Ein Röntgenbild ist die Abbildung des Gewebes oder des Gegenstandes mittels Röntgenstrahlen auf einer Bildfläche. Die Bildfläche kann durch einen Röntgenfilm oder einen Röntgendetektor gebildet sein. An X-ray image is the imaging of the tissue or the object by means of X-rays on an image surface. The image surface may be formed by an X-ray film or an X-ray detector.

Ein Tomographiescan ist ein bildgebendes Verfahren zur Untersuchung des Gewebes oder des Gegenstandes mittels Röntgenstrahlen, bei dem Schnittbilder oder Schichtaufnahmen verwendet werden, anhand derer die innere räumliche Struktur des Objektes ermittelt und in Form von Schnittbildern, Schichtbildern oder Tomogrammen dargestellt werden kann. Derartige Verfahren werden beispielsweise als Computertomographie oder Röntgentomographie bezeichnet.A tomographic scan is an imaging method for the examination of the tissue or the object by means of X-rays, in which sectional images or tomograms are used, by means of which the internal spatial structure of the object can be determined and displayed in the form of sectional images, slice images or tomograms. Such methods are referred to, for example, as computed tomography or X-ray tomography.

Eine Energie bezeichnet diejenige Energie, unter deren Einsatz das Röntgenbild aufgenommen wird.An energy refers to the energy under which the X-ray image is taken.

In einer Ausführungsform umfasst das Verfahren nach dem ersten Aspekt die Schritte eines Bestimmens eines zweiten Einstellungsparameters mittels des ersten Röntgenbildes oder Tomographiescans und eines Aufnehmens des zweiten Röntgenbildes mit einer zweiten Energie in Abhängigkeit des ersten und des zweiten Einstellungsparameters. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass sich ein besonders genauer Wert für die zweite Aufnahme ermitteln lässt, der auf einer breiteren Ausgangsdatenbasis beruht. Dadurch lässt sich die Qualität der zweiten Aufnahme verbessern.In one embodiment, the method of the first aspect includes the steps of determining a second adjustment parameter using the first x-ray image or tomography scan and taking the second x-ray image with a second energy in response to the first and second adjustment parameters. As a result, for example, the technical advantage is achieved that a particularly accurate value can be determined for the second image, which is based on a broader starting data base. This will improve the quality of the second shot.

Gemäß einem zweiten Aspekt wird die erfindungsgemäße Aufgabe durch ein Verfahren zum Durchführen einer Röntgenuntersuchung auf einem Röntgengerät gelöst, mit den Schritten eines Bestimmens eines ersten Einstellungsparameters mittels einer Voraufnahme, eines Aufnehmens eines ersten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer ersten Energie in Abhängigkeit des ersten Einstellungsparameters, eines Bestimmens eines zweiten Einstellungsparameters mittels des ersten Röntgenbildes oder Tomographiescans und eines Aufnehmens eines zweiten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer zweiten Energie in Abhängigkeit des zweiten Einstellungsparameters. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass sich mit einfachen Schritten ein Einstellungsparameter für die zweite Aufnahme bestimmen lässt.According to a second aspect, the object according to the invention is achieved by a method for carrying out an x-ray examination on an x-ray device, comprising the steps of determining a first adjustment parameter by means of a pre-acquisition, taking a first x-ray image or a tomography scan with a first energy as a function of the first adjustment parameter, determining a second adjustment parameter using the first X-ray image or tomography scan and taking a second X-ray image or a tomography scan with a second energy as a function of the second adjustment parameter. As a result, for example, the technical advantage is achieved that can be determined with simple steps, a setting parameters for the second shot.

Erfindungsgemäß ist die zweite Energie höher als die erste Energie. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass zunächst der Patient mit einer niedrigen Strahlendosis belastet wird, anhand der dann ein Einstellungsparameter für eine Aufnahme mit einer hohen Energie ermittelt wird. Dadurch wird die Sicherheit des Verfahrens verbessert.According to the invention, the second energy is higher than the first energy. As a result, for example, the technical advantage is achieved that first the patient is charged with a low radiation dose, based on the then a setting parameter for a recording with a high energy is determined. This improves the safety of the process.

In einer nicht erfindungsgemäßen Ausführungsform nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt ist die zweite Energie niedriger als die erste Energie. Durch ein mit einer hohen Energie aufgenommenes Bild wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass sich ein Einstellungsparameter besonders genau ermitteln lässt.In a non-inventive embodiment according to the first or the second aspect, the second energy is lower than the first energy. By taking a picture with a high energy image, for example, the technical advantage is achieved that a setting parameter can be determined very accurately.

In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt umfasst das Verfahren weiter den Schritt eines Einstellens eines mAs-Wertes für die Aufnahme des ersten und/oder zweiten Röntgenbilds in Abhängigkeit des ersten und/oder zweiten Einstellungsparameters. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass ein leicht zu beeinflussender und zu verändernder Wert des Röntgengerätes als Einstellungsparameter verwendet wird.In an advantageous embodiment of the invention according to the first or the second aspect, the method further comprises the step of setting a mAs value for the acquisition of the first and / or second X-ray image as a function of the first and / or second adjustment parameter. As a result, for example, the technical advantage is achieved that an easy-to-influence and to-change value of the X-ray machine is used as a setting parameter.

Der mAs-Wert ist das Produkt aus Röhrenstrom der Röntgenröhre in Milliampere (mA) und der Zeit für die Aufnahme in Sekunden (s).The mAs value is the product of X-ray tube current in milliamps (mA) and the time taken to record in seconds (s).

Erfindungsgemäß umfasst das Verfahren weiter den Schritt eines Berechnens des mAs-Wertes für die Aufnahme des zweiten Röntgenbildes durch Multiplikation des mAs-Wertes für das erste Röntgenbild mit einem Faktor. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass sich der Einstellungsparameter auf besonders einfache Weise ermitteln lässt.According to the invention, the method further comprises the step of calculating the mAs value for the acquisition of the second X-ray image by multiplying the mAs value for the first X-ray image by a factor. As a result, for example, the technical advantage is achieved that the adjustment parameter can be determined in a particularly simple manner.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt hängt der Faktor von einem bei der Aufnahme verwendeten Filter ab. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass sich der Einstellungsparameter besonders präzise unter Berücksichtigung bestimmter Untersuchungsgegebenheiten ermitteln lässt.In a further advantageous embodiment of the invention according to the first or the second aspect, the factor depends on a filter used in the recording. As a result, the technical advantage is achieved, for example, that the adjustment parameter can be determined particularly precisely taking into account certain examination conditions.

Ein Röntgenfilter oder Vorfilter kann beispielsweise eine bei der Röntgenuntersuchung zwischen Röntgenröhre und dem Objekt angebrachte Platte aus Metall sein, die bestimmte Teile des von der Röntgenröhre ausgestrahlten Spektrums absorbiert.An X-ray filter or pre-filter may be, for example, a metal plate attached to the X-ray examination between the X-ray tube and the object, which absorbs certain parts of the spectrum emitted by the X-ray tube.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt hängt der Faktor von einer bei der Aufnahme verwendeten Anode ab. Dadurch wird beispielsweise ebenfalls der technische Vorteil erreicht, dass sich der Einstellungsparameter besonders präzise unter Berücksichtigung bestimmter Untersuchungsgegebenheiten ermitteln lässt. In a further advantageous embodiment of the invention according to the first or the second aspect, the factor depends on an anode used in the recording. As a result, for example, the technical advantage is also achieved that the adjustment parameters can be determined particularly precisely taking into account certain examination conditions.

Eine Röntgenanode ist ein Teil der Röntgenröhre. Von der Röntgenkathode werden Elektronen emittiert (ausgesandt) und durch eine Hochspannung (25-150 kV) zur Anode beschleunigt. Dort dringen die Elektronen in das Anodenmaterial ein und werden abgebremst. Je nach verwendetem Anodenmaterial verändert sich das Spektrum der Röntgenstrahlung.An x-ray anode is part of the x-ray tube. From the X-ray cathode electrons are emitted (emitted) and accelerated by a high voltage (25-150 kV) to the anode. There, the electrons penetrate into the anode material and are decelerated. Depending on the anode material used, the spectrum of the X-ray radiation changes.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt hängt der Faktor von einem bei der Aufnahme applizierten Dosiswert ab. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass sich die Genauigkeit des Einstellungsparameters noch weiter verbessert.In a further advantageous embodiment of the invention according to the first or the second aspect, the factor depends on a dose value applied during the recording. As a result, for example, the technical advantage is achieved that the accuracy of the adjustment parameter improves even further.

Als Dosis wird die pro Masseneinheit absorbierte Energie bezeichnet.The dose is the energy absorbed per unit mass.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt sind die Faktoren für Filter, Anoden und/oder Dosiswerte in einem nicht-flüchtigen Speicher gespeichert. Dadurch wird beispielsweise der technische Vorteil erreicht, dass einmal abgespeicherte Werte als Grundlage für eine Einstellungsparameterbestimmung bei einer Vielzahl unterschiedlicher Messungen dienen können.In a further advantageous embodiment of the invention according to the first or the second aspect, the factors for filters, anodes and / or dose values are stored in a non-volatile memory. As a result, for example, the technical advantage is achieved that once stored values can serve as the basis for a setting parameter determination in a multiplicity of different measurements.

Ein nicht-flüchtiger Speicher (nonvolatil, zur persistenten Datenspeicherung) ist ein Speicher (oder ein Halbleiterbaustein, wie z.B. ein EPROM), der Daten über einen längeren Zeitraum ohne Datenverlust speichern kann.A nonvolatile memory (non-volatile, for persistent data storage) is a memory (or a semiconductor device, such as an EPROM) that can store data for an extended period of time without data loss.

Gemäß einem dritten Aspekt wird die erfindungsgemäße Aufgabe durch ein Röntgengerät gelöst, das eingerichtet ist, das Verfahren nach dem ersten oder zweiten Aspekt durchzuführen. Das Röntgengerät umfasst einen AEC-Detektor und einen Röntgendetektor 103. Dadurch werden die gleichen technischen Vorteile wie durch das Verfahren nach dem ersten oder zweiten Aspekt erreicht.According to a third aspect, the object according to the invention is achieved by an X-ray machine which is set up to carry out the method according to the first or second aspect. The X-ray device comprises an AEC detector and an X-ray detector 103 , This achieves the same technical advantages as the method according to the first or second aspect.

Gemäß einem vierten Aspekt wird die erfindungsgemäße Aufgabe durch ein Computerprogramm gelöst, das auf einem Datenträger oder auf einem Speicher eines Computers gespeichert ist und das von dem Computer lesbare Befehle umfasst, die zur Ausführung des Verfahrens nach dem ersten oder dem zweiten Aspekt bestimmt sind, wenn die Befehle auf dem Computer ausgeführt werden. Dadurch werden ebenfalls die gleichen technischen Vorteile wie durch das Verfahren nach dem ersten oder zweiten Aspekt erreicht.According to a fourth aspect, the object according to the invention is achieved by a computer program which is stored on a data carrier or on a memory of a computer and which comprises computer-readable instructions which are intended for carrying out the method according to the first or the second aspect, if the commands are executed on the computer. This also achieves the same technical advantages as with the method according to the first or second aspect.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden im Folgenden näher beschrieben.Embodiments of the invention are illustrated in the drawings and will be described in more detail below.

Es zeigen:

  • 1 eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Verfahrens;
  • 2 ein Diagramm für eine Röhrenausbeute bei einer niedrigen und einer hohen Energie bei unterschiedlichen Filtern;
  • 3 ein Blockdiagramm einer ersten Ausführungsform mit Teilaspekten des erfindungsgemäßen Verfahrens;
  • 4 ein Blockdiagramm einer zweiten Ausführungsform mit Teilaspekten des erfindungsgemäßen Verfahrens; und
  • 5 ein Blockdiagramm einer dritten Ausführungsform mit Teilaspekten des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Show it:
  • 1 a schematic representation of the method according to the invention;
  • 2 a diagram for a tube yield at a low and a high energy with different filters;
  • 3 a block diagram of a first embodiment with partial aspects of the method according to the invention;
  • 4 a block diagram of a second embodiment with partial aspects of the method according to the invention; and
  • 5 a block diagram of a third embodiment with partial aspects of the method according to the invention.

Stellvertretend für ein beliebiges Röntgengerät wird die vorliegende Erfindung anhand eines Röntgengerätes zur Untersuchung einer Brust dargestellt (Mammographie).Representing any X-ray device, the present invention is illustrated by means of an X-ray machine for examining a breast (mammography).

1 zeigt eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Verfahrens an dem Röntgengerät zur Untersuchung der Brust. 1 shows a schematic representation of the method according to the invention on the X-ray machine for examining the breast.

Das Röntgengerät 100 umfasst eine Röntgenröhre 101 und eine Projektionsfläche 103. Zwischen der Röntgenröhre 101 und der Projektionsfläche 103 ist ein Untersuchungsobjekt 105 angeordnet. Bei einer Mammographie-Untersuchung ist das Untersuchungsobjekt 105 eine Brust. An einer Bedienkonsole können die Hochspannungswerte (kV) und die Stromwerte (mA) zum Betrieb der Röntgenröhre reguliert werden.The X-ray machine 100 includes an x-ray tube 101 and a projection screen 103 , Between the x-ray tube 101 and the projection screen 103 is a research object 105 arranged. At a Mammography examination is the examination object 105 a breast. On a control console, the high voltage values (kV) and the current values (mA) for the operation of the X-ray tube can be regulated.

Die Röntgenröhre 101 ist eine spezielle Elektronenröhre zur Erzeugung von Röntgenstrahlen. Sie besteht in ihrer einfachsten Form aus einer Kathode und einer Anode, die in einem Vakuum innerhalb eines abgedichteten Glaskörpers eingeschmolzen sind.The x-ray tube 101 is a special electron tube for generating X-rays. It consists in its simplest form of a cathode and an anode, which are sealed in a vacuum within a sealed glass body.

Die Strahlenqualität oder -energie der aus der Röntgenröhre austretenden Primärstrahlung ist über den eingestellten Hochspannungswert gegeben. Die Strahlenintensität kann über den Röhrenstrom (mA) variiert werden. Das Produkt aus Röhrenstrom (mA) und Zeit (s) - mAs - ist ein ungefähres Maß der applizierten Dosis zur Bilderzeugung.The beam quality or energy of the primary radiation emerging from the x-ray tube is given over the set high voltage value. The radiation intensity can be varied via the tube current (mA). The product of tube current (mA) and time (s) mAs is an approximate measure of the applied dose for imaging.

Die Projektionsfläche 103 umfasst einen Detektor oder einen Film zum Erfassen der auftreffenden Röntgenstrahlen.The projection screen 103 includes a detector or film for detecting the incident X-rays.

Im ersten Schritt S101 des Verfahrens wird im Rahmen der AEC-Technik (Automatic Exposure Control - Automatische Belichtungstechnik) eine Voraufnahme durchgeführt, so dass das Röntgengerät kalibriert wird. Die Voraufnahme wird durch eine Aktivierung der Röntgenröhre 101 mit niedriger Energie durchgeführt, beispielsweise unter Verwendung eines mAs-Wertes von 5 mAs. Die bei dieser Aktivierung abgegebene Röntgenstrahlung wird von einem hinter dem Objekt 105 liegenden Sensor erfasst.In the first step S101 The method is pre-recorded in the AEC (Automatic Exposure Control) technique to calibrate the X-ray machine. The pre-recording is done by activating the X-ray tube 101 performed with low energy, for example, using a mAs value of 5 mAs. The X-radiation emitted during this activation is from behind the object 105 detected sensor.

Die AEC-Technik verwendet als Sensor einen dünnen Strahlungsionisationsdetektor (AEC-Detektor), der beispielsweise durch eine mit Gas gefüllte Ionisationskammer gebildet wird. Der Strahlungsionisationsdetektor wird zwischen dem Objekt 105 d.h. dem Patient, und dem Röntgendetektor zum Erfassen der Röntgenstrahlen angeordnet. Die von der Röntgenröhre 101 emittierten Röntgenstrahlen treffen den Strahlungsionisationsdetektor. Die Ionisationskammern des Strahlungsionisationsdetektors werden somit als Sensorelement für einen nach-geschalteten Röntgenbelichtungsautomaten verwendet.The AEC technique uses as a sensor a thin radiation ionization detector (AEC detector) formed, for example, by a gas-filled ionization chamber. The radiation ionization detector becomes between the object 105 ie, the patient, and the X-ray detector arranged to detect the X-rays. The from the x-ray tube 101 emitted X-rays hit the radiation ionization detector. The ionization chambers of the radiation ionization detector are thus used as sensor element for a post-connected X-ray exposure machine.

Der Strahlungsionisationsdetektor kann mehrere Messfelder umfassen. Die Ionisationskammern können als luftgefüllte Parallelplattenkammern (Flat-Panel-Detektoren) mit einem oder mehreren Messfeldern (z.B. 3 oder 5) aufgebaut sein und mit einem Verstärker und einer Feldanwahl versehen sein. Eine geringe Gesamtdicke dieser Anordnung ermöglicht den Einsatz in vielen Röntgenanlagen.The radiation ionization detector may comprise a plurality of measuring fields. The ionization chambers may be constructed as air-filled flat-panel detectors with one or more measuring fields (e.g., 3 or 5) and provided with an amplifier and field selection. A small overall thickness of this arrangement allows use in many X-ray systems.

Die Ionisationskammern werden mit einer miniaturisierten Elektronik geliefert, die den erzeugten Ionisationsstrom verstärkt, digitalisiert und entsprechend der gewählten Messfeldkombination verarbeitet. Die Verstärkerelektronik beinhaltet auch die Erzeugung der Ionisationskammerspannung, so dass von außen keine Hochspannung an die Kammer herangeführt wird. In einer anderen Ausführungsform kann die Elektronik auch von der Ionisationskammer entfernt angeordnet sein.The ionization chambers are supplied with miniaturized electronics that amplify the generated ionization current, digitized and processed according to the selected field combination. The amplifier electronics also includes the generation of the ionization chamber voltage, so that no high voltage is supplied to the outside of the chamber. In another embodiment, the electronics may also be located remotely from the ionization chamber.

Um eine geeignete Schwärzung oder einen Kontrast der Aufnahmen zu erhalten, wird der Strahlungsionisationsdetektor in einem Bereich eingestellt, der dem dichtesten Bereich der Brust entspricht. Dies ist in den meisten Fällen der äußere Teil der Brust.In order to obtain appropriate blackening or contrast of the images, the radiation ionization detector is set in a region corresponding to the most dense region of the breast. This is in most cases the outer part of the breast.

Die durch die Röntgenstrahlung in der Ionisationskammer erzeugte Ladung wird im Verstärker digitalisiert und an den Belichtungsautomaten übertragen, der ein Abschaltsignal für den Röntgengenerator erzeugt. Unabhängig von bestimmten Eigenschaften, wie beispielsweise der emittierten Strahlenqualität oder der Objektdicke, wird damit eine optimale und reproduzierbare Filmschwärzung garantiert.The charge generated by the X-radiation in the ionization chamber is digitized in the amplifier and transmitted to the exposure machine, which generates a shutdown signal for the X-ray generator. Regardless of certain properties, such as the emitted beam quality or the object thickness, this ensures optimal and reproducible film blackening.

Beispielsweise kann bei der AEC-Technik der mAs-Wert der Röntgenröhre 101 solange graduell erhöht werden, bis der von dem Strahlungsionisationsdetektor ausgegebene Signalwert eine vorbestimmte Schwelle überschreitet. Anhand des von dem Strahlungsionisationsdetektor gemessenen Signalwertes und eines bekannten Zielgrauwertes in einem klinisch relevanten Bildbereich, auch Region of Interest genannt, wird ein Einstellungsparameter für die nachfolgenden Aufnahmen ermittelt.For example, in the AEC technique, the mAs value of the X-ray tube 101 are gradually increased until the signal value output from the radiation ionization detector exceeds a predetermined threshold. On the basis of the signal value measured by the radiation ionization detector and a known target gray value in a clinically relevant image region, also called region of interest, a setting parameter for the subsequent images is determined.

Mit dem AEC-System ist es somit möglich, Röntgenaufnahmen mit einer zuverlässigen Intensität und Qualität zu erzeugen, indem vor den eigentlichen Röntgenaufnahmen ein Einstellungsparameter ermittelt wird.With the AEC system, it is thus possible to produce X-ray images with a reliable intensity and quality by determining a setting parameter before the actual X-ray recordings.

Bei der Dual-Energy-Technik (Zweienergietechnik) werden zwei Röntgenaufnahmen oder Tomographiesequenzen mit unterschiedlicher Energie in zeitlicher Abfolge erzeugt. Die Dual-Energy-Technik ermöglicht, die Sichtbarkeit von pathologischen Gewebeveränderungen zu verbessern und kann bei Injektion eines Kontrastmittels auch zur Darstellung des Kontrastmittelverlaufs (gewebespezifische Kontrastmittelkinetik) dienen. Die Sensitivität der Untersuchung wird erhöht, indem eine Aufnahme mit niedriger Energie und eine Aufnahme mit hoher Energie überlagert oder subtrahiert werden.In the dual-energy technique (dual energy technique) two X-ray images or tomography sequences with different energy are generated in chronological order. The dual-energy technique makes it possible to improve the visibility of pathological tissue changes and may result in injection of a Contrast also serve to represent the contrast agent course (tissue-specific contrast agent kinetics). The sensitivity of the examination is increased by superimposing or subtracting a low energy image and a high energy image.

Erfindungsgemäß wird bei der Dual-Energy-Technik der erste mAs-Wert für die erste Röntgenaufnahme mit niedriger Energie während des Schrittes S103 auf Grundlage des zuvor mit dem AEC-Verfahren bestimmten Einstellungsparameters berechnet, beispielsweise durch Multiplikation des Einstellungsparameters mit einem ersten Faktor.According to the invention, in the dual-energy technique, the first mAs value for the first low-energy X-ray image is determined during the step S103 calculated based on the adjustment parameter previously determined by the AEC method, for example, by multiplying the adjustment parameter by a first factor.

Zusätzlich wird der zweite mAs-Wert für die darauffolgende Aufnahme mit hoher Energie während des Schrittes S105 ebenfalls auf Grundlage des Einstellungsparameters berechnet, beispielsweise durch Multiplikation des Einstellungsparameters mit einem zweiten Faktor. Dabei wird die Pulslänge möglichst niedrig gehalten.In addition, the second mAs value for the subsequent high energy pickup during the step S105 also calculated on the basis of the adjustment parameter, for example by multiplying the adjustment parameter by a second factor. The pulse length is kept as low as possible.

Daher wird für die Aufnahme mit hoher Energie keine zweite mittels der AEC-Technik gewonnene Voraufnahme benötigt und die Anzahl der Kalibrierungsmessungen sinkt.Therefore, for the high-energy recording, no second AEC-acquired preliminary image is needed and the number of calibration measurements decreases.

Der mAs-Wert für Hauptaufnahmen mit hoher und niedriger Energie, wie beispielsweise 2D-Projektionsaufnahmen oder Tomographiesynthesescans, wird somit aus der zuvor erzeugten Voraufnahme abgeleitet und zwar aus:

  • - der Voraufnahme;
  • - der Voraufnahme und einer vorangehenden Hauptaufnahme; oder
  • - einer vorangegangenen Hauptaufnahme, deren Einstellungsparameter auf der Voraufnahme beruht.
The mAs value for high and low energy main scans, such as 2D projection images or tomography synthesis scans, is thus derived from the pre-scan previously generated, namely:
  • - the preview;
  • - the pre-recording and a previous main recording; or
  • - A previous main recording whose setting parameters based on the pre-recording.

Im Allgemeinen kann die Aufnahme aus einem Röntgenbild bestehen oder einen Tomographieaufnahme sein. Daneben können durch die Voraufnahme statt einem auch mehrere Einstellungsparameter bestimmt werden, die in Kombination als Grundlage für die Einstellung des Röntgengerätes bei weiteren Aufnahmen dienen.In general, the image can consist of an X-ray image or a tomography image. In addition, several setting parameters can be determined by the pre-recording instead of one, which serve in combination as a basis for the setting of the X-ray machine for further recordings.

2 zeigt ein Diagramm für eine Röhrenausbeute bei einer niedrigen und einer hohen Energie bei unterschiedlichen Anode/Filter-Kombinationen. 2 shows a diagram for a tube yield at a low and a high energy at different anode / filter combinations.

Für jede verwendete Anoden/Filter-Kombination bei der Hochenergieaufnahme der Dual-Energy-Technik wird ein Umrechnungsfaktor UF zu einer Anoden/Filter-Kombination der vorherigen Niedrigenergieaufnahme ermittelt. Zum Beispiel können Umrechnungsfaktoren für folgende Kombinationen aus Anode/Filter verwendet werden: Hochenergieaufnahme Niedrigenergieaufnahme (Anode/Filter) (Anode/Filter) W/Ti W/Rh W/Cu W/Rh W/Ti Mo/Rh W/Cu Mo/Rh W/Ti Mo/Mo W/Cu Mo/Mo For each used anode / filter combination in the high energy consumption of the dual-energy technology, a conversion factor UF is determined to an anode / filter combination of the previous low-energy intake. For example, conversion factors can be used for the following combinations of anode / filter: High energy absorption Low power consumption (Anode / filter) (Anode / filter) W / Ti W / Rh W / Cu W / Rh W / Ti Mo / Rh W / Cu Mo / Rh W / Ti Mo / Mo W / Cu Mo / Mo

Der mAs-Wert für die Hochenergieaufnahme mAs_HE berechnet sich dann aus dem Produkt des Umrechnungsfaktors UF mit dem mAs-Wert für die Niedrigenergieaufnahme mAs LE nach der Formel: mAs_HE = UF*mAs_LE

Figure DE102012202608B4_0002
The mAs value for the high-energy consumption mAs_HE is then calculated from the product of the conversion factor UF with the mAs value for the low-energy consumption mAs LE according to the formula: mAs_HE = UF * mAs_LE
Figure DE102012202608B4_0002

Der mAs-Wert für die Niedrigenergieaufnahme mAs LE wird zuvor über die AEC-Technik bestimmt.The low power mAs mAs LE is previously determined by the AEC technique.

Die oben erläuterten Umrechnungsfaktoren sind auch auf andere Anoden/Filterkombination übertragbar. Werden die Hochenergie- und die Niedrigenergieaufnahme in der Reihenfolge vertauscht können die reziproken Werte des Umrechnungsfaktors UF verwendet werden. The above-explained conversion factors can also be transferred to other anodes / filter combinations. If the high-energy and low-energy intake are reversed in the order, the reciprocal values of the conversion factor UF can be used.

Zur Bestimmung der Umrechnungsfaktoren UF können Nachschlagetabellen verwendet werden, die aus einer zuvor ermittelten oder hinterlegten Röhrenausbeute (Tube Yield) bei unterschiedlicher Röhrenspannung gewonnen werden.To determine the conversion factors UF, look-up tables can be used that are obtained from a previously determined or stored tube yield (tube yield) at different tube voltages.

Die Umrechnungsfaktoren können messtechnisch ermittelt, an ein konstantes Kontrast-zu-Rauschverhältnis CNR eines Kontrastmittels gekoppelt sein, beispielsweise für den gesamten Brustdickenbereich von typischerweise 2cm-12cm, und dann in der Nachschlagetabelle hinterlegt werden.The conversion factors can be determined by measurement, coupled to a constant contrast-to-noise ratio CNR of a contrast agent, for example for the entire breast thickness range of typically 2 cm-12 cm, and then stored in the look-up table.

Der Umrechnungsfaktor kann außerdem an die Parenchymdosis der Niedrigenergieaufnahme gekoppelt werden, die als bekannt vorliegt. Aufgrund bekannter Röhrenausbeuten kann dann ermittelt werden, zu welcher Parenchymdosis die Hochenergieaufnahmen führen.The conversion factor may also be coupled to the parenchyma dose of low energy intake that is known. Based on known tube yields, it can then be determined to which parenchymal dose the high energy intake leads.

Weiter kann anhand der applizierten Dosis der Niedrigenergieaufnahme eine Qualitätssicherung als Zusatzschritt in die Aufnahmeparameterfreigabe implementiert werden, so dass der Anwender in diesem Fall informiert wird.Furthermore, based on the applied dose of the low-energy intake, a quality assurance can be implemented as an additional step in the admission parameter release, so that the user is informed in this case.

Alle Umrechnungsfaktoren werden in dem Röntgengerät gespeichert und sind von einem Anwender über eine geeignete Schnittstelle modifizierbar und auswählbar.All conversion factors are stored in the X-ray machine and are modifiable and selectable by a user via a suitable interface.

In einer weiteren Ausführung sind die Umrechnungsfaktoren UF für eine bestimmte Anoden/Filterkombination je nach einer gewünschten Dosis und/oder einem Kontrastwert unterscheidbar und auswählbar, beispielsweise in W/Ti - hohe Dosis; W/Ti - hoher Kontrast W/Ti - normale Dosis; W/Ti - normaler Kontrast W/Ti - geringe Dosis; W/Ti - geringer Kontrast In a further embodiment, the conversion factors UF for a particular anode / filter combination are distinguishable and selectable depending on a desired dose and / or a contrast value, for example in FIG W / Ti - high dose; W / Ti - high contrast W / Ti - normal dose; W / Ti - normal contrast W / Ti - low dose; W / Ti - low contrast

Dadurch kann je nach gewünschtem Kontrast ein Umrechnungsfaktor UF ausgewählt werden, der durch Multiplikation des mAs-Wertes für die Niedrigenergieaufnahme zur Berechnung des mAs-Wertes für die Hochenergieaufnahme dient.As a result, depending on the desired contrast, a conversion factor UF can be selected which serves to calculate the mAs value for the high-energy absorption by multiplying the mAs value for the low-energy absorption.

Für Hochenergieaufnahmen wird anhand der Umrechnungsfaktoren der mAs-Wert als Einstellungsparameter ermittelt, während der Hochspannungswert beispielsweise konstant auf dem höchsten Energiewert gehalten wird, beispielsweise bei einer Mammografie bei 49keV.For high-energy recordings, the conversion factor is used to determine the mAs value as the adjustment parameter, while the high-voltage value is kept constant at the highest energy value, for example in a mammography at 49keV.

Durch Verwendung der beschriebenen Umrechnungsfaktoren kann der mAs-Wert für die Hochenergieaufnahme durch einfache Multiplikation aus dem mAs-Wert für die Niedrigenergieaufnahme gewonnen werden, der zuvor über die AEC-Technik gewonnen worden ist.By using the described conversion factors, the mAs value for high energy uptake can be obtained by simple multiplication from the mAs value for the low energy uptake previously obtained via the AEC technique.

In einer alternativen Ausführungsform kann jedoch das bei der Niedrigenergieaufnahme gewonnene Bild ausgewertet werden, beispielsweise im Rahmen eines Grauwertvergleichs, um einen zusätzlichen zweiten Einstellungsparameter zu erhalten. Die sich anschließende Hochenergieaufnahme wird dann in Abhängigkeit dieses zweiten Einstellungsparameters aufgenommen.In an alternative embodiment, however, the image obtained during the low-energy absorption can be evaluated, for example as part of a gray value comparison, in order to obtain an additional second adjustment parameter. The subsequent high-energy absorption is then recorded as a function of this second adjustment parameter.

In noch einer anderen Ausführungsform kann die sich anschließende Hochenergieaufnahme sowohl in Abhängigkeit des ersten Einstellungsparameters als auch des zweiten Einstellungsparameters gewonnen werden. Erfindungsgemäß wird anhand der Niedrigenergieaufnahme durch Bildauswertung ein Korrekturfaktor KF ermittelt so dass sich der mAs-Wert für die zweite Aufnahme anhand der Formel: mAs_HE = UF*mAs_LE*KF

Figure DE102012202608B4_0003
bestimmt. Nicht erfindungsgemäß können jedoch auch andere funktionale Zusammenhänge verwendet werden.In yet another embodiment, the subsequent high energy intake may be obtained both in dependence on the first adjustment parameter and the second adjustment parameter. According to the invention, a correction factor KF is determined on the basis of the low-energy absorption by image evaluation so that the mAs value for the second recording is determined by the formula: mAs_HE = UF * * KF mAs_LE
Figure DE102012202608B4_0003
certainly. Not according to the invention, however, other functional relationships can be used.

3 zeigt ein Blockdiagramm einer ersten Ausführungsform mit Teilaspekten des erfindungsgemäßen Verfahrens. 3 shows a block diagram of a first embodiment with partial aspects of the method according to the invention.

In Schritt S301 wird der Einstellungsparameter mittels einer Voraufnahme bestimmt, beispielsweise anhand des AEC-Verfahrens. Danach wird in Schritt S303 ein Röntgenbild oder ein Tomographiescan mit einem mAs-Wert aufgenommen, der sich aus dem gemessenen Einstellungsparameter berechnet, beispielsweise durch Multiplikation des Einstellungsparameters mit einem ersten Faktor. Im Folgenden wird in Schritt S305 ein weiteres Röntgenbild mit einem weiteren mAs-Wert aufgenommen, der sich ebenfalls aus dem gemessenen Einstellungsparameter berechnet, beispielsweise durch Multiplikation des Einstellungsparameters mit einem zweiten Faktor.In step S301 the setting parameter is determined by means of a pre-recording, for example by means of the AEC method. After that, in step S303 an x-ray image or a tomography scan with a mAs value calculated from the measured adjustment parameter, for example by multiplying the adjustment parameter by a first factor. The following will be in step S305 taken another X-ray image with a further mAs value, which is also calculated from the measured adjustment parameter, for example by multiplying the adjustment parameter with a second factor.

4 zeigt ein Blockdiagramm einer zweiten Ausführungsform mit Teilaspekten des erfindungsgemäßen Verfahrens. 4 shows a block diagram of a second embodiment with partial aspects of the method according to the invention.

In Schritt S401 wird ein erster Einstellungsparameter mittels einer Voraufnahme bestimmt, beispielsweise anhand des AEC-Verfahrens. Danach wird in Schritt S403 ein Röntgenbild oder ein Tomographiescan mit einem mAs-Wert aufgenommen, der sich aus dem gemessenen, ersten Einstellungsparameter berechnet, beispielsweise durch Multiplikation des ersten Einstellungsparameters mit einem Faktor.In step S401 a first setting parameter is determined by means of a pre-recording, for example by means of the AEC method. After that, in step S403 an X-ray image or a tomography scan is recorded with a mAs value which is calculated from the measured, first adjustment parameter, for example by multiplying the first adjustment parameter by a factor.

In Schritt S405 wird anhand des gewonnenen Röntgenbildes oder Tomographiescans ein weiterer zweiter Einstellungsparameter bestimmt. Beispielsweise kann ein Korrekturfaktor für den zuvor bestimmten, ersten Einstellungsparameter durch einen Grauwertvergleich des Röntgenbildes oder des Tomographiescans mit einer Referenzskala oder eine andere Bildauswertung erhalten werden.In step S405 an additional second adjustment parameter is determined on the basis of the acquired x-ray image or tomography scan. For example, a correction factor for the previously determined, first adjustment parameter can be obtained by a gray scale comparison of the X-ray image or the tomographic scan with a reference scale or another image evaluation.

In Schritt S407 wird ein weiteres Röntgenbild mit einem weiteren mAs-Wert aufgenommen, der sich aus beiden ermittelten Einstellungsparametern ergibt, beispielweise durch Multiplikation des ersten Einstellungsparameters mit dem Korrekturfaktor.In step S407 another X-ray image is recorded with a further mAs value which results from both determined adjustment parameters, for example by multiplying the first adjustment parameter by the correction factor.

5 zeigt ein Blockdiagramm einer dritten Ausführungsform mit Teilaspekten des erfindungsgemäßen Verfahrens. 5 shows a block diagram of a third embodiment with partial aspects of the method according to the invention.

In Schritt S501 wird der erste Einstellungsparameter mittels einer Voraufnahme bestimmt, beispielsweise anhand des AEC-Verfahrens. Danach wird in Schritt S503 ein Röntgenbild oder ein Tomographiescan mit einem mAs-Wert aufgenommen, der sich aus dem gemessenen ersten Einstellungsparameter berechnet, beispielsweise durch Multiplikation des ersten Einstellungsparameters mit einem ersten Faktor.In step S501 the first setting parameter is determined by means of a pre-recording, for example by means of the AEC method. After that, in step S503 recorded an x-ray image or tomography scan with a mAs value calculated from the measured first adjustment parameter, for example by multiplying the first adjustment parameter by a first factor.

Im Schritt S505 wird anhand des gewonnenen Röntgenbildes oder Tomographiescans ein zweiter Einstellungsparameter bestimmt. Beispielsweise kann anhand des Röntgenbildes oder Tomographiescans ein Differenzwert zwischen einem Sollwert einer Schwärzung und einem Istwert der Schwärzung ermittelt werden. In Schritt S507 wird ein weiteres Röntgenbild mit einem weiteren mAs-Wert aufgenommen, der sich aus dem zweiten Einstellungsparameter ergibt, beispielsweise durch eine Korrektur des mAs-Wertes um den bestimmten Differenzwert.In step S505 a second adjustment parameter is determined on the basis of the acquired X-ray image or tomography scan. For example, a difference value between a target value of a blackening and an actual value of the blackening can be determined on the basis of the X-ray image or tomographic scan. In step S507 another X-ray image is recorded with a further mAs value which results from the second adjustment parameter, for example by a correction of the mAs value by the determined difference value.

Der Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens zur AEC-Bestimmung von Einstellungsparametern für Dual-Energy-Aufnahmen besteht darin, dass ein Teil der Voraufnahmen entfallen, die Untersuchungszeit verkürzt wird, der Arbeitsablauf optimiert wird, eine einfache AEC-Parametrierung für Dual-Energy-Aufnahmen erzeugt wird und Sicherungsmechanismen implementiert sind, die eine zu hohe Dosisapplizierung verhindern.The advantage of the method according to the invention for AEC determination of setting parameters for dual-energy recordings is that part of the preliminary recordings are omitted, the examination time is shortened, the workflow is optimized, a simple AEC parameterization for dual-energy recordings is generated and safeguards are implemented to prevent overdose application.

Claims (9)

Verfahren zum Durchführen einer Röntgenuntersuchung mit einer Dual-Energy-Technik auf einem Röntgengerät (100), das einen AEC-Detektor aufweist, der zwischen einem zu untersuchenden Objekt und einem Röntgendetektor angeordnet ist, mit den Schritten: - Bestimmen (S501) eines ersten Einstellungsparameters mittels einer Voraufnahme, wobei die Voraufnahme anhand eines AEC-Verfahrens durchgeführt wird; - Aufnehmen (S503) eines ersten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer ersten Energie, d.h. als eine Niedrigenergieaufnahme, in Abhängigkeit des ersten Einstellungsparameters; - Bestimmen (S505) eines zweiten Einstellungsparameters mittels des ersten Röntgenbildes oder Tomographiescans, indem das bei der Aufnahme (S503) des ersten Röntgenbildes in Form einer Niedrigenergieaufnahme gewonnene Röntgenbild ausgewertet wird, wobei der zweite Einstellungsparameter als Differenzwert zwischen einem Sollwert einer Schwärzung und einem Istwert der Schwärzung des ersten Röntgenbildes ermittelt wird; und wobei durch Auswertung des ersten Röntgenbildes ein Korrekturfaktor (KF) ermittelt wird, so dass sich der zweite Einstellungsparameter für ein Aufnehmen (S507) eines zweiten Röntgenbildes ergibt anhand: mAs_HE = UF*mAs_LE*KF ,
Figure DE102012202608B4_0004
wobei UF ein Umrechnungsfaktor ist, der zu jeder Anoden/Filter-Kombination zum Aufnehmen (S503) des ersten Bildes für eine Anoden/Filter-Kombination des zweiten Röntgenbildes ermittelt wird, und wobei mAs HE bzw. mAs LE das Röhrenstromzeitprodukt für eine Hochenergieaufnahme bzw. Niedrigenergieaufnahme bezeichnen; - Aufnehmen (S507) eines zweiten Röntgenbildes oder eines Tomographiescans mit einer zweiten Energie, d.h. als Hochenergieaufnahme, in Abhängigkeit des zweiten Einstellungsparameters.
A method of performing an X-ray examination with a dual-energy technique on an X-ray apparatus (100) having an AEC detector disposed between an object to be examined and an X-ray detector, comprising the steps of: - determining (S501) a first adjustment parameter by means of a pre-recording, wherein the pre-recording is carried out by means of an AEC method; - recording (S503) a first X-ray image or a tomographic scan with a first energy, ie as a low-energy intake, in dependence on the first adjustment parameter; Determining (S505) a second adjustment parameter by means of the first X-ray image or tomography scan by evaluating the X-ray image obtained during the acquisition (S503) of the first X-ray image in the form of a low-energy acquisition, the second adjustment parameter being used as the difference value between a target value of a blackening and an actual value of the blackening of the first X-ray image is determined; and wherein a correction factor (KF) is determined by evaluating the first X-ray image so that the second adjustment parameter for recording (S507) of a second X-ray image results from mAs_HE = UF * * KF mAs_LE .
Figure DE102012202608B4_0004
wherein UF is a conversion factor determined for each anode / filter combination for capturing (S503) the first image for an anode / filter combination of the second X-ray image, and wherein mAs HE and mAs LE respectively are the tube current time product for high energy uptake Designate low-energy intake; - recording (S507) a second X-ray image or a tomography scan with a second energy, ie as a high-energy intake, as a function of the second adjustment parameter.
Verfahren nach Anspruch 1, umfassend den Schritt eines Einstellens eines mAs-Wertes für die Aufnahme des ersten und/oder zweiten Röntgenbildes in Abhängigkeit des ersten und/oder zweiten Einstellungsparameters.Method according to Claim 1 comprising the step of setting a mAs value for the acquisition of the first and / or second X-ray image as a function of the first and / or second adjustment parameter. Verfahren nach Anspruch 2, umfassend den Schritt eines Berechnens des mAs-Wertes für die Aufnahme des zweiten Röntgenbildes durch Multiplikation des mAs-Wertes für das erste Röntgenbild mit einem Faktor (UF).Method according to Claim 2 comprising the step of calculating the mAs value for the acquisition of the second X-ray image by multiplying the mAs value for the first X-ray image by a factor (UF). Verfahren nach Anspruch 3, wobei der Faktor (UF) von einem bei der Aufnahme verwendeten Filter abhängt.Method according to Claim 3 , where the factor (UF) depends on a filter used in the recording. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 oder 3, wobei der Faktor (UF) von einer bei der Aufnahme verwendeten Anode abhängt.Method according to one of Claims 2 or 3 , where the factor (UF) depends on an anode used in the recording. Verfahren nach einem der Ansprüche 3, 4 oder 5, wobei der Faktor (UF) von einem bei der Aufnahme applizierten Dosiswert abhängt.Method according to one of Claims 3 . 4 or 5 , where the factor (UF) depends on a dose value applied during the recording. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 6, wobei die Faktoren (UF, KF) für Filter, Anode(n) und/oder Dosiswerte in einem nicht-flüchtigen Speicher gespeichert sind.Method according to one of Claims 3 to 6 in which the factors (UF, KF) for filter, anode (s) and / or dose values are stored in a non-volatile memory. Röntgengerät (100), wobei das Röntgengerät (100) einen AEC-Detektor und einen Röntgendetektor umfasst und eingerichtet ist, ein Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7 durchzuführen.X-ray apparatus (100), wherein the X-ray apparatus (100) comprises an AEC detector and an X-ray detector and is arranged, a method according to one of Claims 1 to 7 perform. Computerprogramm, das auf einem Datenträger oder auf einem Speicher eines Computers gespeichert ist und das von dem Computer lesbare Befehle umfasst, die zur Ausführung des Verfahrens nach einem der vorstehenden Verfahrensansprüchen 1 bis 7 bestimmt sind, wenn die Befehle auf dem Computer ausgeführt werden.A computer program stored on a data carrier or on a memory of a computer and comprising computer readable instructions for carrying out the method according to one of the above methods claims 1 to 7 are determined when the commands are executed on the computer.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016202425B3 (en) * 2016-02-17 2017-08-10 Siemens Healthcare Gmbh Controlling a mammography device to acquire a series of mammographic images with different X-ray energies

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4454606A (en) * 1983-05-23 1984-06-12 General Electric Company Reconfigurable x-ray AEC compensation
US5751783A (en) * 1996-12-20 1998-05-12 General Electric Company Detector for automatic exposure control on an x-ray imaging system
US20020075997A1 (en) * 2000-12-18 2002-06-20 Unger Christopher David Medical diagnostic method and apparatus to control dual energy exposure techniques based on image information
US7657000B2 (en) * 2006-11-27 2010-02-02 Cmt Medical Technologies Ltd. Method and apparatus for dual energy radiography
US20100232669A1 (en) * 2006-03-29 2010-09-16 Koninklijke Philips Electronics N. V. Dynamic optimization of the signal-to-noise ratio of dual-energy attenuation data for reconstructing images
US7826587B1 (en) * 2009-09-11 2010-11-02 General Electric Company System and method of fast kVp switching for dual energy CT

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4454606A (en) * 1983-05-23 1984-06-12 General Electric Company Reconfigurable x-ray AEC compensation
US5751783A (en) * 1996-12-20 1998-05-12 General Electric Company Detector for automatic exposure control on an x-ray imaging system
US20020075997A1 (en) * 2000-12-18 2002-06-20 Unger Christopher David Medical diagnostic method and apparatus to control dual energy exposure techniques based on image information
US20100232669A1 (en) * 2006-03-29 2010-09-16 Koninklijke Philips Electronics N. V. Dynamic optimization of the signal-to-noise ratio of dual-energy attenuation data for reconstructing images
US7657000B2 (en) * 2006-11-27 2010-02-02 Cmt Medical Technologies Ltd. Method and apparatus for dual energy radiography
US7826587B1 (en) * 2009-09-11 2010-11-02 General Electric Company System and method of fast kVp switching for dual energy CT

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
STENNER, P.; KACHELRIEß, M.: Automatic Exposure Control (AEC) for Dual Energy Computed Tomography (DECT). In: 2007 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2007. 4367 – 4372. *

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