DE102011003246B4 - Method for detecting radiation and associated sensor unit - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 79
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 92
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 74
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 74
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 22
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 74
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 4
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 4
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 3
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- ZIXVIWRPMFITIT-UHFFFAOYSA-N cadmium lead Chemical compound [Cd].[Pb] ZIXVIWRPMFITIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N cadmium tellanylidenezinc Chemical compound [Zn].[Cd].[Te] QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
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- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
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Abstract
Verfahren zur Detektion von Strahlung (3), insbesondere Röntgenstrahlung, mittels eines direkt-wandelnden Absorptionskörpers (2), – bei welchem ein elektrischer Injektionsstrom (IIN) in den Absorptionskörper (2) injiziert wird, – bei welchem ein Strommaß (MSUM) für den insgesamt durch den Absorptionskörper (2) fließenden Strom (ISUM) erfasst wird, – bei welchem das Strommaß (MSUM) durch Einstellung des Injektionsstroms (IIN) auf einen vorgegebenen Sollwert (M0) geregelt wird, und – bei welchem aus der Pegeländerung des Injektionsstromes (IIN) oder einer damit korrelierenden Messgröße ein Detektionsmaß (MD) für die auf den Absorptionskörper (2) fallende Strahlungsmenge bestimmt wird.Method for detecting radiation (3), in particular X-ray radiation, by means of a direct-conversion absorption body (2); in which an injection electric current (IIN) is injected into the absorption body (2); in which a current measure (MSUM) is recorded for the total current (ISUM) flowing through the absorption body (2); in which the current value (MSUM) is adjusted to a predetermined desired value (M0) by adjusting the injection current (IIN), and in which from the level change of the injection current (IIN) or a measured variable correlating therewith a detection measure (MD) for the radiation quantity falling on the absorption body (2) is determined.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Detektieren von Strahlung, insbesondere Röntgenstrahlung, mittels eines direkt-wandelnden Absorptionskörpers. Die Erfindung bezieht sich des Weiteren auf eine Sensoreinheit mit einem solchen direkt-wandelnden Absorptionskörper und einer Steuereinheit zur Ansteuerung desselben.The invention relates to a method for detecting radiation, in particular X-ray radiation, by means of a direct-conversion absorption body. The invention further relates to a sensor unit with such a direct-conversion absorption body and a control unit for controlling the same.
Zur Erfassung von Röntgenstrahlung sind unter anderem sogenannte „direkt-wandelnde” Sensoren bekannt. Diese umfassen einen in der Regel aus einem Halbleitermaterial gebildeten Absorptionskörper, durch welchen die einfallende Strahlung unmittelbar in einen strahlungs-generierten elektrischen Strom gewandelt wird. Im Unterschied hierzu wandeln sogenannte „indirekt-wandelnde” Sensoren hochenergetische elektromagnetische Strahlung (insbesondere Röntgenstrahlung und Gamma-Strahlung) oder Teilchenstrahlung zunächst in niederenergetische elektromagnetische Strahlung (sichtbares Licht, IR- oder UV-Strahlung) um, wobei diese niederenergetische Strahlung dann erst in einem zweiten Schritt in einen elektrischen Strom umgewandelt wird.Among other things, so-called "direct-converting" sensors are known for detecting X-ray radiation. These comprise an absorption body, which is generally formed of a semiconductor material, by means of which the incident radiation is converted directly into a radiation-generated electrical current. In contrast to this, so-called "indirectly-converting" sensors first convert high-energy electromagnetic radiation (in particular X-ray radiation and gamma radiation) or particle radiation into low-energy electromagnetic radiation (visible light, IR or UV radiation), this low-energy radiation then only being emitted in one second step is converted into an electric current.
Der Absorptionskörper eines direkt-wandelnden Röntgensensors besteht üblicherweise aus Halbleitermaterialien wie beispielsweise amorphem Selen oder Cadmium-Tellurid. In der Praxis zeigen solche Halbleiter-Direktwandler Effekte, die für einen guten Strahlungsdetektor abträglich sind, wie etwa Schwankungen in der Empfindlichkeit oder ein langsames Signalabklingen. Die Ursache hierfür sind unerwünschte energetische Zustände innerhalb der Halbleiterbandlücke des Absorptionskörpers, die beispielsweise von Verunreinigungen und Defekten der verwendeten Halbleitermaterialien verursacht werden.The absorption body of a direct-converting X-ray sensor usually consists of semiconductor materials such as, for example, amorphous selenium or cadmium telluride. In practice, such semiconductor direct converters exhibit effects detrimental to a good radiation detector, such as variations in sensitivity or slow signal decay. The reason for this is undesired energetic states within the semiconductor band gap of the absorption body, which are caused for example by impurities and defects of the semiconductor materials used.
Die Erzeugung von Ladungsträgern durch äußere Strahlung bewirkt im Halbleitermaterial physikalisch eine Verschiebung von sogenannten Quasi-Fermi-Niveaus von Elektronen und „Löchern” (d. h. positiven Ladungsträgern, die durch unbesetzte elektronische Zustände gebildet werden). Bei einer Verschiebung der Quasi-Fermi-Niveaus werden die unerwünschten Zustände innerhalb der Bandlücke geladen bzw. entladen. Diese unterschiedlichen Ladungszustände beeinflussen die Empfindlichkeit des Direktwandlers, beispielsweise durch Ladungsträger-Rekombination, und/oder das zeitliche Signalverhalten, etwa durch „Zwischenspeichern” von Ladungen in den unerwünschten Zuständen und erzeugen somit die vorstehend erwähnten Nachteile.The generation of charge carriers by external radiation physically causes a shift in the semiconductor material of so-called quasi-Fermi levels of electrons and "holes" (i.e., positive charge carriers formed by vacant electronic states). As the quasi-Fermi levels shift, the unwanted states within the bandgap are charged or discharged. These different charge states affect the sensitivity of the direct converter, for example by carrier recombination, and / or the temporal signal behavior, for example by "latching" charges in the undesired states, and thus produce the aforementioned disadvantages.
Um diesen Effekten entgegenzuwirken, wird meist ein hoher Aufwand betrieben, um die für Strahlungssensoren verwendeten Halbleitermaterialien mit möglichst geringer Defektdichte und möglichst hohem Reinheitsrad herzustellen. In alternativen Herstellungsverfahren wird versucht, durch spezielle Dotierung die ungewollten Zustände zu kompensieren, so dass diese nicht mehr elektrisch aktiv sind. Beide Ansätze zur Herstellung und Produktion der Halbleitermaterialien für direktwandelnde Absorptionskörper sind oft sehr kosten- und zeitintensiv.To counteract these effects, usually a high cost is operated to produce the semiconductor materials used for radiation sensors with the lowest possible defect density and the highest possible purity wheel. In alternative production methods, an attempt is made to compensate for the unwanted states by means of special doping so that they are no longer electrically active. Both approaches to the production and production of semiconductor materials for direct-conversion absorption bodies are often very costly and time-consuming.
Die Patentschriften
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Detektion von Strahlung mittels eines direkt-wandelnden Absorptionskörpers anzugeben, das mit vergleichsweise geringem Aufwand eine präzise und effektive Strahlungsdetektion ermöglicht. Der Erfindung liegt des Weiteren die Aufgabe zugrunde, eine vergleichsweise unaufwändig herstellbare, aber dennoch effektiv und präzise arbeitende Sensoreinheit zum Detektieren von Strahlung anzugeben. Insbesondere soll durch die Erfindung ermöglicht werden, unaufwändig herstellbare Halbleitermaterialien mit einer vergleichsweise hohen Dichte an unkompensierten Defekten für einen direktwandelnden Absorptionskörper verwenden zu können, ohne die damit üblicherweise verbundenen Nachteile in Kauf nehmen zu müssen.The invention has for its object to provide a method for the detection of radiation by means of a direct-changing absorption body, which allows a comparatively low cost, a precise and effective radiation detection. A further object of the invention is to provide a sensor unit which is comparatively easy to produce but nevertheless effective and precise for detecting radiation. In particular, it should be made possible by the invention to be able to use inexpensive semiconductor materials having a comparatively high density of uncompensated defects for a direct-converting absorption body, without having to accept the disadvantages usually associated therewith.
Bezüglich des Verfahrens wird diese Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Anspruchs 1. Bezüglich der Sensoreinheit wird die Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Anspruchs 5. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterführungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.With regard to the method, this object is achieved by the features of
Verfahrensgemäß werden im Betrieb einer direktwandelnden Sensoreinheit ein elektrischer Injektionsstrom in deren Absorptionskörper injiziert und ein Strommaß für den insgesamt durch den Absorptionskörper fließenden Strom erfasst. Erkanntermaßen setzt sich der insgesamt durch den Absorptionskörper fließende Strom additiv zusammen aus dem Injektionsstrom und dem durch einfallende Strahlung im Absorptionskörper generierten Strom. Der insgesamt durch den Absorptionskörper fließende Strom ist deshalb nachfolgend auch als „Summenstrom” bezeichnet. Bei dem verfahrensgemäß erhobenen „Strommaß” (nachfolgend auch als „Summenstrommaß” bezeichnet) handelt es sich es allgemein um eine beliebig definierbare Größe, aus der die Stärke des Summenstroms bestimmbar ist. Vorzugsweise ist das (Summen-)Strommaß durch eine zu der Stärke des Summenstroms proportionale Spannung gegeben. Dieses Strommaß wird verfahrensgemäß durch Einstellung des Injektionsstroms auf einen vorgegebenen Sollwert geregelt. Der Injektionsstrom wird also im Betrieb des Absorptionskörpers stets derart eingestellt, dass das Strommaß dem Sollwert bestmöglich entspricht.According to the method, during operation of a direct-converting sensor unit, an electrical injection current is injected into its absorption body and a current value for the total current flowing through the absorption body is detected. As is known, the total current flowing through the absorption body is composed additively of the injection current and the current generated by incident radiation in the absorption body. The total current flowing through the absorption body is therefore also referred to below as "total current". In accordance with the method, the "current measurement" (hereinafter also referred to as "total current measurement") is generally an arbitrarily definable variable from which the magnitude of the total current can be determined. Preferably, the (sum) current measure is proportional to the magnitude of the sum current Given tension. This current measure is regulated according to the method by setting the injection current to a predetermined desired value. The injection current is thus always set in the operation of the absorption body such that the current measure corresponds to the desired value as possible.
Aus der Pegeländerung des Injektionsstroms wird hierbei ein Detektionsmaß für die auf den Absorptionskörper fallende Strahlungsmenge bestimmt. Der Begriff „Detektionsmaß” bezeichnet dabei wiederum allgemein eine beliebig definierbare Größe, aus der die auf den Absorptionskörper fallende Strahlungsmenge bestimmbar ist. Der Begriff „Strahlungsmenge” steht hierbei generisch für die Gesamtenergie pro Zeiteinheit oder die Intensität der auf den Absorptionskörper fallenden Strahlung oder alternativ für die Anzahl der pro Zeiteinheit einfallenden Strahlungsquanten.From the change in level of the injection current, a detection measure for the amount of radiation falling on the absorption body is determined. The term "detection measure" again generally denotes an arbitrarily definable variable from which the amount of radiation falling on the absorption body can be determined. The term "radiation quantity" here stands generically for the total energy per unit time or the intensity of the radiation incident on the absorption body or alternatively for the number of radiation quanta incident per unit time.
Der mit der Erfindung erzielte Effekt besteht darin, dass durch die Bereitstellung eines zusätzlichen Injektionsstroms der durch den Absorptionskörper fließende Summenstrom – der ohne den Injektionsstrom in Abhängigkeit der Bestrahlungsintensität naturgemäß fluktuieren würde – konstant gehalten wird. Hierdurch wird auch die Lage der Quasi-Fermi-Niveaus, selbst unter wechselnden Bestrahlungsverhältnissen, stets konstant gehalten. Dadurch wiederum werden ein Umladen der unerwünschten energetischen Zustände in der Bandlücke des Absorptionskörpers und die damit verbundenen, eingangs erwähnten, Nachteile vermieden.The effect achieved with the invention is that, by providing an additional injection current, the total current flowing through the absorption body-which would naturally fluctuate without the injection current as a function of the irradiation intensity-is kept constant. As a result, the position of the quasi-Fermi levels, even under changing irradiation conditions, always kept constant. In turn, a reloading of the unwanted energetic states in the band gap of the absorption body and the associated, mentioned above, disadvantages are avoided.
Da der durch den Absorptionskörper fließende Strom nach dem erfindungsgemäßen Verfahren gezielt konstant gehalten wird, kann dieser Strom – anders als bei herkömmlichen Sensoreinheiten – nicht mehr unmittelbar zur Ermittlung der auf den Absorptionskörper fallenden Strahlungsmenge herangezogen werden. Erkanntermaßen lässt sich bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die einfallende Strahlungsmenge aber aus der Stärke des Injektionsstroms bestimmen, zumal dieser ja gerade derart geregelt wird, dass er den strahlungs-generierten Strom ausgleicht, und somit der Fluktuation des strahlungs-generierten Stroms gegenläufig folgt.Since the current flowing through the absorption body is kept deliberately constant by the method according to the invention, this current can - unlike conventional sensor units - are no longer used directly to determine the amount of radiation falling on the absorption body. As is known, however, in the method according to the invention, the incident radiation quantity can be determined from the strength of the injection current, since the latter is in fact regulated in such a way that it balances the radiation-generated current, and thus counteracts the fluctuation of the radiation-generated current.
In einer bevorzugten Ausgestaltung des Verfahrens wird durch das Detektionsmaß die Strahlungsmenge integrierend bestimmt. Es wird also – ohne Berücksichtigung der einzelnen Quantenabsorptionen – die Gesamtenergie der pro Zeiteinheit einfallenden Strahlung oder eine hiermit korrelierende Größe bestimmt. Bei geringer Strahlungsintensität und hinreichend schneller Signalverarbeitung können im Zuge des erfindungsgemäßen Verfahrens aber alternativ auch einzelne Strahlungsquanten gezählt werden.In a preferred embodiment of the method, the amount of radiation is determined integrating by the detection measure. Thus, without taking into account the individual quantum absorptions, the total energy of the radiation incident per unit time or a variable correlating therewith is determined. With low radiation intensity and sufficiently fast signal processing, however, individual radiation quanta can alternatively be counted in the course of the method according to the invention.
Der Injektionsstrom kann als analoge, und somit zeitlich kontinuierlich fluktuierende Größe erzeugt werden. In einer besonders zweckmäßigen digitalen Ausführungsform wird der Injektionsstrom aber diskontinuierlich als Folge von zeitlich diskreten Strompulsen erzeugt. Die effektive (d. h. zeitlich über eine Puls-Pausen-Sequenz gemittelte) Stärke des Injektionsstroms wird dabei zweckmäßigerweise über die Frequenz der Strompulse eingestellt. Das Detektionsmaß wird in diesem Fall vorzugsweise durch Zählung der (pro Zeiteinheit erzeugten) Strompulse des Injektionsstroms oder durch Zählung der Pulse eines damit korrelierenden Pulssignals bestimmt.The injection current can be generated as an analog, and thus temporally continuously fluctuating quantity. In a particularly useful digital embodiment, however, the injection current is generated discontinuously as a result of time-discrete current pulses. The effective (i.e., time averaged over a pulse pause sequence) of the injection current is expediently set via the frequency of the current pulses. The amount of detection in this case is preferably determined by counting the current pulses (generated per unit of time) of the injection current or by counting the pulses of a pulse signal correlated therewith.
In einer einfach realisierbaren, gleichzeitig aber besonders präzisen Ausführungsform werden die Strompulse derart erzeugt, dass durch jeden Strompuls im Wesentlichen die gleiche Ladungsmenge in den Absorptionskörper injiziert wird. Insbesondere werden die Strompulse dabei gleichförmig, d. h. im Rahmen der erreichbaren Präzision mit stets gleicher Amplitude und Dauer erzeugt.In an easily realizable but at the same time particularly precise embodiment, the current pulses are generated in such a way that substantially the same amount of charge is injected into the absorption body by each current pulse. In particular, the current pulses are uniform, d. H. generated within the achievable precision with always the same amplitude and duration.
Die erfindungsgemäße Sensoreinheit umfasst gemäß Anspruch 5 einen Absorptionskörper der vorstehend beschriebenen Art sowie eine damit gekoppelte oder koppelbare Steuereinheit zur Ansteuerung des Absorptionskörpers sowie zur Signalauswertung. Die Steuereinheit ist hierbei programm- und/oder schaltungstechnisch zur automatischen Durchführung des vorstehend beschriebenen Verfahrens in einer seiner Ausführungsformen eingerichtet.The sensor unit according to the invention comprises according to
Insbesondere ist die Steuereinheit dazu eingerichtet, einen elektrischen Injektionsstrom in den Absorptionskörper zu injizieren, ein Strommaß für den insgesamt durch den Absorptionskörper fließenden (Summen-)Strom zu erfassen, das Strommaß durch Einstellung des Injektionsstroms auf einen vorgegebenen Sollwert zu regeln, und aus der Pegeländerung des Injektionsstroms ein Detektionsmaß für die auf den Absorptionskörper fallende Strahlungsmenge zu bestimmen.In particular, the control unit is adapted to inject an electric injection current into the absorption body, to detect a current measure for the total current flowing through the absorption body, to regulate the current measure by adjusting the injection current to a predetermined desired value, and the level change the injection current to determine a detection measure for the amount of radiation falling on the absorption body.
In einer geeigneten Weiterführung ist die Steuereinheit als Halbleiterelement ausgebildet, das unmittelbar mit dem Absorptionskörper verbunden ist. In einer kompakten und für eine Massenfertigung besonders geeigneten Ausführungsvariante sind der Absorptionskörper und die Steuereinheit in einer einstückigen Baueinheit integriert. In einer vorteilhaften Ausführungsform ist eine Injektionsschicht in der Steuereinheit integriert, die an den Absorptionskörper angrenzt, und über die der Injektionsstrom in den Absorptionskörper injizierbar ist. Zur Durchführung des Verfahrens trägt die Steuereinheit zweckmäßigerweise – analoge oder digitale – elektronische Schaltkreise.In a suitable continuation, the control unit is designed as a semiconductor element which is connected directly to the absorption body. In a compact and particularly suitable for mass production variant of the absorption body and the control unit are integrated in a one-piece unit. In an advantageous embodiment, an injection layer is integrated in the control unit, which adjoins the absorption body, and via which the injection current can be injected into the absorption body. For carrying out the method, the control unit expediently carries - analog or digital - electronic circuits.
Der Absorptionskörper ist vorzugsweise der Steuereinheit – in Strahlungseinfallrichtung gesehen – vorgelagert, so dass die Steuereinheit von dem Absorptionskörper gegenüber der einfallenden Strahlung abgeschattet und somit geschützt wird. Der Absorptionskörper ist hierbei zweckmäßigerweise – je nach der Art und Eindringtiefe der zu detektierenden Strahlung – dick genug ausgebildet, dass es nicht zu einer strahlungsbedingten Beeinflussung und/oder Schädigung der Steuereinheit, beispielsweise durch Ionisationseffekte, kommt. The absorption body is preferably upstream of the control unit-seen in the direction of radiation incidence-so that the control unit is shaded by the absorption body against the incident radiation and thus protected. The absorption body is expediently formed thick enough, depending on the type and penetration depth of the radiation to be detected, that there is no radiation-related influencing and / or damage to the control unit, for example due to ionization effects.
Optional kann die Steuereinheit zusätzlich oder alternativ durch Verwendung „strahlungsharter” Materialien, z. B. Sillziumoxid anstatt der üblichen Halbleiter-Wafer geschützt sein. Zusätzlich können im Rahmen der Steuereinheit auch bipolare integrierte Schaltkreise eingesetzt werden, die sowohl Elektronen als auch Löcher im Betrieb verwenden. Solche bipolaren Schaltkreise zeigen erfahrungsgemäß eine höhere Strahlungstoleranz als gewöhnliche CMOS-Schaltungen.Optionally, the control unit additionally or alternatively by using "radiation hard" materials such. B. Sillziumoxid be protected instead of the usual semiconductor wafers. In addition, the control unit can also use bipolar integrated circuits which use both electrons and holes during operation. Such bipolar circuits have been found to exhibit higher radiation tolerance than ordinary CMOS circuits.
Die Steuereinheit umfasst in einer zweckmäßigen und einfach realisierbaren Ausführungsvariante einen Substrahierer, der eingangsseitig das (Summen-)Strommaß und der Sollwert in Form von elektrischen Spannungen zugeführt sind, und der ausgangsseitig ein Spannungssignal (nachfolgend auch Differenzsignal) ausgibt, dessen Betrag proportional zu der Abweichung des Strommaßes von dem Sollwert ist. Das Strommaß ist hierbei beispielsweise durch die Spannung gegeben, die über einem in den Summenstrompfad geschalteten Shunt-Widerstand abfällt. Der Substrahierer ist beispielsweise einen Differenzverstärker gebildet.In an expedient and easily realizable embodiment variant, the control unit comprises a subtracter which is supplied on the input side with the (sum) current measure and the desired value in the form of electrical voltages and which outputs a voltage signal (hereinafter also the difference signal) whose magnitude is proportional to the deviation of the current value of the setpoint. The current measure is in this case given, for example, by the voltage which drops across a shunt resistor connected in the summation current path. The subtractor is formed, for example, a differential amplifier.
Aus diesem Differenzsignal wird das Detektionsmaß abgeleitet. Im einfachsten Fall wird dabei das Differenzsignal unmodifiziert als Detektionsmaß herangezogen. Optional kann das Differenzsignal aber zur Bildung des Detektionsmaßes auch zeitlich gemittelt bzw. geglättet, verstärkt, invertiert und/oder auf andere Weise modifiziert werden. Das Differenzsignal wird außerdem zur Einstellung des Injektionsstroms an den Absorptionskörper bzw. die an diesen gegebenenfalls angrenzende Injektionsschicht der Steuereinheit, zurückgekoppelt.From this difference signal, the detection measure is derived. In the simplest case, the difference signal is used unmodified as a detection measure. Optionally, however, the difference signal can also be time averaged or smoothed, amplified, inverted and / or modified in another way to form the detection measure. The difference signal is also fed back to adjust the injection current to the absorption body or to this optionally adjacent injection layer of the control unit.
In einfacher Gestaltung der Erfindung kann das Detektionsmaß als analoges, d. h. kontinuierlich veränderliches Signal erzeugt werden. In einer bevorzugten Ausführungsvariante ist das analoge Differenzsignal des Substrahierers abweichend einem nachgeschalteten Analog-Digital-Wandler zugeführt, der das analoge Differenzsignal in ein gepulstes Spannungssignal (nachfolgend „Pulssignal”) umwandelt. Dieses Pulssignal wird zum Einen unmittelbar oder mittelbar zur Erzeugung eines ebenso gepulsten Injektionsstroms an den Absorptionskörper bzw. die Injektionsschicht zurückgeleitet. Zum Anderen wird aus diesem Pulssignal vorzugsweise wiederum das für die einfallende Strahlungsmenge charakteristische Detektionsmaß abgeleitet.In a simple embodiment of the invention, the detection measure as analog, d. H. be generated continuously variable signal. In a preferred embodiment, the analog differential signal of the subtractor is supplied differently to a downstream analog-to-digital converter, which converts the analog differential signal into a pulsed voltage signal (hereinafter "pulse signal"). This pulse signal is, on the one hand, returned directly or indirectly to the generation of an equally pulsed injection current to the absorption body or the injection layer. On the other hand, the detection quantity characteristic of the incident radiation quantity is preferably derived from this pulse signal.
In geeigneter Ausführung ist der Analog-Digital-Wandler durch einen Spannungs-Frequenz-Konverter (engl. VCO – Voltage-Controlled Oscillator) gebildet. Dabei handelt es sich um einen elektrischen Schwingungserzeuger, dessen Frequenz durch die Größe einer angelegten Spannung verändert wird. Das von diesem Spannungs-Frequenz-Konverter ausgegebene Pulssignal hat eine in Abhängigkeit des Differenzsignals variierende Frequenz und erzeugt einen mit gleicher Frequenz gepulsten Injektionsstrom.In a suitable embodiment, the analog-to-digital converter is formed by a voltage-frequency converter (VCO - Voltage-Controlled Oscillator). It is an electric vibrator whose frequency is changed by the magnitude of an applied voltage. The pulse signal output by this voltage-to-frequency converter has a frequency which varies as a function of the difference signal and generates a injection current pulsed at the same frequency.
Bei der vorstehend beschriebenen Ausführungsvariante der Sensoreinheit wird das Detektionsmaß vorzugsweise durch Zählung der Strompulse des Injektionsstroms oder – äquivalentermaßen – durch Zählung der Pulse des von dem Analog-Digital-Wandler ausgegebenen Pulssignals pro Zeiteinheit erfasst. Die Pulszählung erfolgt zweckmäßigerweise durch einen – vorzugsweise dem Analog-Digital-Wandler nachgeschalteten (Strom- bzw. -Spannungs-)Pulszähler.In the embodiment of the sensor unit described above, the detection amount is preferably detected by counting the current pulses of the injection current or, equivalently, by counting the pulses of the pulse signal output by the analog-to-digital converter per unit time. The pulse count is advantageously carried out by a - preferably the analog-to-digital converter downstream (current or voltage) pulse counter.
Für eine besonders präzise Regelung des Injektionsstroms ist dem Analog-Digital-Wandler eine Treiberschaltung nachgeschaltet, die das von dem Analog-Digital-Wandler ausgegebene Pulssignal vor der Rückführung an den Absorptionskörper bzw. die Injektionsschicht derart umformt, dass mit jedem Strompuls des aufgrund dieses Pulssignals erzeugten Injektionsstroms im Wesentlichen, insbesondere im Rahmen der erreichbaren Präzision möglichst exakt, die gleiche Ladungsmenge in den Absorptionskörper injiziert wird. Die effektive Stärke des Injektionsstroms wird hierdurch proportional zu der Frequenz des Pulssignals eingestellt.For a particularly precise control of the injection current, the analog-to-digital converter is followed by a driver circuit which converts the pulse signal output by the analog-to-digital converter before being returned to the absorption body or the injection layer in such a way that with each current pulse of the pulse signal generated injection current substantially, in particular within the achievable precision as accurately as possible, the same amount of charge is injected into the absorption body. The effective magnitude of the injection current is thereby set in proportion to the frequency of the pulse signal.
In einer vorteilhaften Weiterführung der Erfindung wird durch eine signaltechnische Kopplung einer Vielzahl von Sensoreinheiten der vorstehend beschriebenen Art ein ortsauflösender Strahlungsdetektor gebildet. Hierbei werden die Signale jeder einzelnen Sensoreinheit durch gemeinsame Steuer- und Auswerteelemente verarbeitet und geregelt. Die einzelnen Sensoreinheiten sind hierbei beispielsweise in einer matrixförmigen Anordnung räumlich verteilt. In einer bevorzugten Ausbildung sind die Absorptionskörper der einzelnen Sensoreinheiten einstückig miteinander ausgeführt. Die Sensoreinheiten des Strahlungsdetektors teilen sich mit anderen Worten einen gemeinsamen, einstückigen Absorptionskörper, der sich über die gesamte Detektionsfläche erstreckt.In an advantageous development of the invention, a spatially-resolving radiation detector is formed by a signal-technical coupling of a plurality of sensor units of the type described above. Here, the signals of each sensor unit are processed and controlled by common control and evaluation. The individual sensor units are spatially distributed, for example, in a matrix-like arrangement. In a preferred embodiment, the absorption bodies of the individual sensor units are formed integrally with one another. In other words, the sensor units of the radiation detector share a common, one-piece absorption body which extends over the entire detection area.
Das vorstehend beschriebene Verfahren und die zugehörige Sensoreinheit bzw. der damit ausgerüstete Strahlungsdetektor sind vorgesehen und geeignet zur Detektion von hochenergetischer elektromagnetischer Strahlung (insbesondere Röntgen- oder Gammastrahlung) sowie von Teilchenstrahlung (Korpuskularstrahlung). Ferner können das Verfahren und die zugehörige Sensoreinheit aber auch zur Messung von elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren, infraroten oder ultravioletten Spektralbereich herangezogen werden.The method described above and the associated sensor unit or the thereof Equipped radiation detectors are provided and suitable for the detection of high-energy electromagnetic radiation (in particular X-ray or gamma radiation) and of particle radiation (corpuscular radiation). Furthermore, the method and the associated sensor unit can also be used for measuring electromagnetic radiation in the visible, infrared or ultraviolet spectral range.
Der Anwendungsbereich, d. h. die Einsetzbarkeit der Sensoreinheit für eine bestimmte Strahlungsart, wird dabei hauptsächlich durch die Materialzusammensetzung und den Aufbau des Absorptionskörpers vorgegeben und kann so entsprechend an die zu detektierende Strahlungsart angepasst werden. Für die Detektion von Röntgen- und Gammastrahlung ist der Absorptionskörper beispielsweise aus Cadmium-Tellurid, Cadmium-Zink-Tellurid oder Blei-Jodid hergestellt. Ein vorteilhaftes Halbleitermaterial für die Steuerschaltung ist insbesondere Silizium, so dass Schaltungselemente der Steuereinheit in integrierter Form, z. B. als CMOS-Schaltungen ausgeführt werden können.The scope, d. H. the usability of the sensor unit for a particular type of radiation, is mainly determined by the material composition and the structure of the absorption body and can be adapted accordingly to the type of radiation to be detected. For the detection of X-ray and gamma radiation, the absorption body is made, for example, from cadmium telluride, cadmium zinc telluride or lead iodide. An advantageous semiconductor material for the control circuit is in particular silicon, so that circuit elements of the control unit in an integrated form, for. B. can be performed as CMOS circuits.
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand einer Zeichnung näher erläutert. Darin zeigen:Embodiments of the invention will be explained in more detail with reference to a drawing. Show:
Einander entsprechende Teile und Größen sind in allen Figuren stets mit den gleichen Bezugszeichen versehen.Corresponding parts and sizes are always provided with the same reference numerals in all figures.
Die Sensoreinheit
Durch die Steuereinheit
In den
Als (Energie-)Band wird hierbei – gemäß der Nomenklatur der Halbleiter-Physik – ein Kontinuum delokalisierter elektronischer (Energie-)Zustände des Halbeitermaterials des Absorptionskörpers
Das Valenzband
Variiert die Intensität der einfallenden Strahlung
Um die damit verbundenen Nachteile, wie etwa Einflüsse auf die Sensorempfindlichkeit oder das zeitliche Signalverhalten, zu vermeiden, werden durch die Steuereinheit
Die Steuereinheit
In
Ausgangsseitig gibt der Differenzverstärker
Das Differenzsignal SD wird zudem als analoges (Detektions-)Maß MD für die Intensität der einfallenden Strahlung
Anhand der
Gemäß
Das analoge Differenzsignal SD des Differenzverstärkers
Das Pulssignal SP wird andererseits an den Eingang des (Spannungs-)Pulszählers
Die Absorptionskörper
Zusammenfassend wird ein präzises und effektives, gleichzeitig aber mit einfachen Mitteln realisierbares Verfahren zur Detektion von Strahlung
Die Erfindung ist nicht auf die vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt. Vielmehr können auch andere Varianten der Erfindung von dem Fachmann hieraus abgeleitet werden, ohne den Gegenstand der Erfindung zu verlassen. Insbesondere sind ferner alle im Zusammenhang mit den verschiedenen Ausführungsbeispielen beschriebenen Einzelmerkmale auch auf andere Weise miteinander kombinierbar, ohne den Gegenstand der Erfindung zu verlassen.The invention is not limited to the embodiments described above. Rather, other variants of the invention can be derived therefrom by the person skilled in the art without departing from the subject matter of the invention. In particular, furthermore, all individual features described in connection with the various exemplary embodiments can also be combined with one another in other ways, without departing from the subject matter of the invention.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- Sensoreinheitsensor unit
- 22
- Absorptionskörperabsorbent body
- 33
- Strahlungradiation
- 44
- Fotoelektronphotoelectron
- 55
- Atomrumpfatomic core
- 66
- Bahntrain
- 77
- Elektron-Loch-PaarElectron-hole pair
- 88th
- Steuereinheitcontrol unit
- 99
- Elektronelectron
- 1010
- Valenzbandvalence
- 1111
- Leitungsbandconduction band
- 1212
- Bandlückebandgap
- 1313
- ZustandStatus
- 1414
- Fermi-NiveauFermi level
- 1515
- Elektronelectron
- 1616
- Lochhole
- 1717
- Quasi-Fermi-NiveauQuasi-Fermi level
- 1818
- Quasi-Fermi-NiveauQuasi-Fermi level
- 2222
- Injektionsschichtinjection layer
- 2424
- Schaltungcircuit
- 2525
- Differenzverstärkerdifferential amplifier
- 2828
- RückkopplungszweigFeedback path
- 3030
- Strompulscurrent pulse
- 3131
- ZeitspannePeriod of time
- 3232
- ZeitspannePeriod of time
- 3636
- Spannungs-Frequenz-KonverterVoltage-frequency converter
- 3737
- Treiberschaltungdriver circuit
- 3838
- (Spannungs-)Pulszähler(Voltage) pulse counter
- 4040
- Strahlungsdetektorradiation detector
- 4242
- Steuerungselementecontrols
- 4343
- SignalübertragungsmittelSignal transmission means
- IIN I IN
- Injektionsstrominjection current
- IRAD I RAD
- (strahlungs-generierter) Strom(radiation-generated) electricity
- ISUM I SUM
- (Summen-)Strom(Sum) Power
- M0 M 0
- Sollwertsetpoint
- MD M D
- DetektionsmaßDetektionsmaß
- MSUM M SUM
- (Summen-)Strommaß(Sum) current measurement
- SD S D
- Differenzsignaldifference signal
- SP S P
- Pulssignalpulse signal
- SPN S PN
- (normiertes) Pulssignal(normalized) pulse signal
- SR S R
- RückkopplungssignalFeedback signal
Claims (14)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE201110003246 DE102011003246B4 (en) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | Method for detecting radiation and associated sensor unit |
PCT/EP2012/050568 WO2012100998A2 (en) | 2011-01-27 | 2012-01-16 | Method for detecting radiation and associated sensor unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE201110003246 DE102011003246B4 (en) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | Method for detecting radiation and associated sensor unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102011003246A1 DE102011003246A1 (en) | 2012-08-02 |
DE102011003246B4 true DE102011003246B4 (en) | 2013-02-14 |
Family
ID=45833312
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE201110003246 Expired - Fee Related DE102011003246B4 (en) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | Method for detecting radiation and associated sensor unit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102011003246B4 (en) |
WO (1) | WO2012100998A2 (en) |
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2011
- 2011-01-27 DE DE201110003246 patent/DE102011003246B4/en not_active Expired - Fee Related
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- 2012-01-16 WO PCT/EP2012/050568 patent/WO2012100998A2/en active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012100998A2 (en) | 2012-08-02 |
DE102011003246A1 (en) | 2012-08-02 |
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