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Die
Erfindung betrifft eine Sensorvorrichtung. Des Weiteren betrifft
die Erfindung ein Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung.
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Stand der Technik
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Eine
Sensorvorrichtung zum Bestimmen einer physikalischen/chemischen
Größe und/oder
zum Ausgeben einer entsprechenden Information an eine Fahrzeugkomponente
weist in der Regel einen Sensorchip mit mindestens einem bezüglich der
physikalischen/chemischen Größe sensitiven
Element auf. Eine derartige Sensorvorrichtung ist manchmal dazu ausgelegt,
zum Überprüfen ihrer
internen Strukturen, insbesondere der Mikromechanik des sensitiven
Elements, einen Selbsttest auszuführen.
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1 zeigt
eine schematische Darstellung einer beispielhaften Sensorvorrichtung.
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Die
in 1 dargestellte Sensorvorrichtung 10 umfasst
ein Sensormodul 12 mit mindestens einem Sensorchip 14 und
ein Kontrollmodul 16. Das Sensormodul 12 ist über eine
Schnittstelle 18 mit dem Kontrollmodul 16 verbunden.
Auf dem Sensorchip 14 ist mindestens ein sensitives Element 20 ausgebildet.
Mindestens eine Eigenschaft des sensitiven Elements 20,
beispielsweise eine Stellung des sensitiven Elements 20 in
Bezug auf ein Gehäuse
der Sensorvorrichtung 10, ist bei einer Änderung
mindestens einer Größe in einer
räumlichen
Umgebung des Sensorchips 14 veränderbar. Die Sensorvorrichtung 10 ist
so ausgelegt, dass die veränderte
Eigenschaft des sensitiven Elements 20 erfassbar und ein
der Größe entsprechendes
Sensorsignal durch die Sensorvorrichtung 10 ausgebbar ist.
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Auf
dem Kontrollmodul 16 ist eine Selbsttestlogikeinheit 22 angeordnet,
auf welcher mindestens ein Selbsttestprogramm abgespeichert ist. Über die Schnittstelle 18 kann
die Selbsttestlogikeinheit 22 das Sensormodul 12,
bzw. den Sensorchip 14, mittels eines Steuersignals 24 so
ansteuern, dass eine Selbsttestgröße auf das sensitive Element 20 ausgeübt wird.
Das Steuersignal 24 wird über die Schnittstelle 18 von
der Selbsttestlogikeinheit 22 an das Sensormodul 12 übertragen.
Bei einem Selbsttest wird das Sensormodul 12, bzw. der
Sensorchips 14, von außen
angesteuert. Zum Messen der Reaktion des Sensorchips 14 kann
anschließend
eine Ist-Selbsttestantwort 26 des sensitiven Elements 20 durch
den Sensorchip 14 erfasst werden.
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Über die
Schnittstelle 18 wird auch eine Ist-Selbsttestantwort 26 an
eine auf dem Kontrollmodul 16 angeordnete Selbsttestauswerteeinheit 28 bereitgestellt.
Die Selbsttestauswerteeinheit 28 ist dazu ausgelegt, die
Ist-Selbsttestantwort 26 mit mindestens einer vorgegebenen
Soll-Selbsttestantwort zu vergleichen und eine entsprechende Vergleichsinformation 30 auszugeben.
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Offenbarung der Erfindung
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Die
Erfindung schafft eine Sensorvorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs
1 und ein Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung mit
den Merkmalen des Anspruchs 10.
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Vorteilhafte
Weiterbildungen der Sensorvorrichtung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
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Vorzugsweise
ist das an der Leiterplatte angebrachte Sensormodul eine kompakte
Einheit. Die Leiterplatte ist bevorzugterweise eine Platine. Das Sensormodul
kann beispielsweise eine Verkapselung oder ein an der Leiterplatte
befestigbares Gehäuse
aufweisen. Das Sensormodul kann mindestens einen Chip umfassen.
In einer möglichen
Ausführungsform
können
das sensitive Element auf einem Sensorchip des Sensormoduls und
die Vergleichseinheit auf einem Steuerchip, insbesondere einem ASIC,
ausgebildet sein. Die Mikromechanik des sensitiven Elements kann
jedoch auch in den Steuerchip integriert sein.
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Bevorzugterweise
ist das Kontrollmodul beabstandet von dem Sensormodul an der Leiterplatte, z.
B. einer Platine, angebracht. Das Kontrollmodul kann beispielsweise
ein Mikrokontroller (μC)
sein. Das mit dem Sensormodul zusammenwirkende Kontrollmodul kann
jedoch auch extern von der Sensorvorrichtung bereitgestellt werden.
In diesem Fall umfasst die Sensorvorrichtung eine Datenübertragungsvorrichtung,
welcher derart ausgelegt ist, dass Signale/Daten zwischen der Datenübertragungsvorrichtung
und dem externen Kontrollmodul übertragbar sind.
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Unter
einer Selbsttestgröße ist beispielsweise
eine Selbsttestkraft, wie sie über
einen elektrischen Stimulus auf ein sensitives Element ausgeübt wird,
zu verstehen. Die Größe, bezüglich welcher
das sensitive Element eine Zustandsänderung durchführt, kann
mindestens eine physikalische Größe und/oder
eine chemische Größe sein.
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Die
vorliegende Erfindung beruht auf der Erkenntnis, dass eine Integration
der Bewertungslogik für
einen automatisch ausführbaren
Selbsttest auf einem getrennt von dem Sensormodul angeordneten Kontrollmodul
wesentliche Ressourcen des Kontrollmodul erfordert. Zusätzlich hängt in diesem
Fall die Dauer der Auswertung eines Selbsttests signifikant von
der Geschwindigkeit einer Schnittstelle, über welche das Sensormodul
mit dem Kontrollmodul verbunden ist, sowie von der Geschwindigkeit
des Kontrollmoduls selbst ab. Dies kann die Auswertezeit nachteilig
beeinflussen. Demgegenüber
ermöglicht die
vorliegende Erfindung ein sensorinternes Bewertungskonzept, durch
welches Ressourcen auf dem Kontrollmodul, beispielsweise einen Mikrocontroller, einsparbar
sind. Dies ermöglicht
die Verwendung eines kostengünstigeren
und/oder weniger Bauraum benötigenden
Kontrollmoduls.
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Auch
eine Integration der Ansteuerlogik für einen automatisch ausführbaren
Selbsttest auf einem getrennt von dem Sensormodul angeordneten Kontrollmodul
benötigt
wesentliche Ressourcen aus dem Kontrollmodul. Die Dauer eines Selbsttests
wird auch in diesem Fall signifikant von der Geschwindigkeit der
Schnittstelle und der Geschwindigkeit des Kontrollmoduls beeinträchtigt.
Dies führt
in der Regel dazu, dass automatisch ausführbare Selbsttests eine vergleichsweise
lange Zeit benötigen.
Zusätzlich kann
der Selbsttest bei einer derartigen Auslegung des Sensormoduls und
des Kontrollmoduls erst gestartet werden, wenn beide Module initialisiert
sind. Die Verantwortung für
die richtige Ausführung
und Bewertung des automatisch ausführbaren Selbsttests liegt in
diesem Fall bei dem Kontrollmodul. Fehlbedienungen oder falsche
Bewertungen können
somit nicht von dem Sensormodul verhindert werden. Um diesen Nachteil
zu umgehen, ermöglicht
eine Weiterbildung der Erfindung eine sensorinterne Selbsttestansteuerung,
welche keine Ressourcen auf dem Kontrollmodul verbraucht. Bei einem
kombinierten sensorinternen Ansteuer- und Bewertungskonzept kann
ein Selbsttest bereits vor dem Initialisieren des Kontrollmoduls
gestartet werden. Da die Geschwindigkeit des Selbsttests nicht durch
eine Schnittstelle beeinträchtigt
wird, ist eine schnellere Ausführung
der Selbsttests möglich.
Zusätzlich
kann eine Fehlbedienung des Sensor- und Auswertemoduls in diesem
Fall nicht zu einer falschen Ausführung des automatischen Selbsttests
führen,
was die Robustheit der Sensorvorrichtung verbessert.
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Die
in den oberen Absätzen
beschriebenen Vorteile einer Sensorvorrichtung sind auch bei einem entsprechenden
Herstellungsverfahren gewährleistet.
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Die
Erfindung ermöglicht
auch eine Sensorvorrichtung mit einem sensitiven Element, einer Selbstteststeuereinrichtung
(Selbsttestablaufsteuereinrichtung) und einer Selbsttestausführeinrichtung, wobei
die Selbstteststeuereinrichtung und die Selbsttestausführeinrichtung
auf einem gemeinsamen Chip angeordnet sind. Dabei ist auf der Selbstteststeuereinrichtung
mindestens ein Selbsttestprogramm implementiert. Vorzugsweise ist
das mindestens eine Selbsttestprogramm so auf der Selbstteststeuereinrichtung
implementiert, dass mindestens zwei (Selbsttest-)Steuerzustände des
sensitiven Elements und ein zeitlicher Ablauf/eine zeitliche Reihenfolge der
mindestens zwei (Selbsttest-)Steuerzustände durch das implementierte
Selbsttestprogramm festgelegt sind. Man kann dies auch so bezeichnen,
dass die Selbstteststeuereinrichtung derart ausgebildet ist, dass
die Ausführung
mindestens eines Selbsttestprogramms mit mindestens zwei (Selbsttest-)Steuerzustände in einem
festgelegten zeitlichen Ablauf durch die Selbstteststeuereinrichtung
steuerbar ist. Zusätzlich
ist die Selbstteststeuereinrichtung derart ausgebildet, dass mindestens
ein Steuersignal unter Berücksichtigung
des mindestens einen implementierten Selbsttestprogramms an die
Selbsttestausführeinrichtung
mittels der Selbstteststeuereinrichtung aufgebbar ist. Die Selbsttestausführeinrichtung ist
derart ausgebildet, dass unter Berücksichtigung eines von der
Selbstteststeuereinrichtung ausgegebenen Steuersignals mindestens
eine physikalische oder chemische Selbsttestgröße (z. B. ein physikalischer
Stimulus) mittels der Selbsttestausführeinrichtung auf das sensitive
Element ausübbar
ist. Die Sensorvorrichtung kann zusätzlich eine Ermittlungseinheit,
welche so ausgebildet ist, dass mittels der Ermittlungseinheit eine
aufgrund der ausgeübten Selbsttestgröße veränderte Eigenschaft
des sensitiven Elements ermittelbar und unter Berücksichtigung der
veränderten
Eigenschaft eine Ist-Selbsttestantwort bereitstellbar ist und/oder
eine Vergleichseinheit, welche so ausgebildet ist, dass mittels
der Vergleichseinheit die Ist-Selbsttestantwort mit mindestens einer
vorgegebenen Soll-Selbsttestantwort vergleichbar und unter Berücksichtigung
des Vergleichs der Ist-Selbsttestantwort mit der mindestens einen Soll-Selbsttestantwort
eine Vergleichsinformation bereitstellbar ist, umfassen.
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Die
in den Unteransprüchen
beschriebenen Merkmale sind auch auf die in dem vorhergehenden Absatz
beschriebene Sensorvorrichtung anwendbar, um die unten genannten
Vorteile zu realisieren. Ebenso ermöglicht die vorliegende Erfindung
ein Herstellungsverfahren für
eine derartige Sensorvorrichtung.
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Kurze Beschreibung der Zeichnungen
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Weitere
Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend
anhand der Figuren erläutert.
Es zeigen:
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1 eine
schematische Darstellung einer beispielhaften Sensorvorrichtung;
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2 eine
schematische Darstellung einer ersten Ausführungsform der Sensorvorrichtung;
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3 ein
Koordinatensystem zum Darstellen einer zweiten Ausführungsform
der Sensorvorrichtung; und
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4 ein
Flussdiagramm zum Darstellen einer Ausführungsform des Herstellungsverfahrens
für eine
Sensorvorrichtung.
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Ausführungsformen der Erfindungen
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2 zeigt
eine schematische Darstellung einer ersten Ausführungsform der Sensorvorrichtung.
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Die
in 2 schematisch wiedergegebene Sensorvorrichtung 50 ist
zum Festlegen einer Information bezüglich mindestens einer Größe ausgelegt. Die
Größe, für welche
eine Information durch die Sensorvorrichtung 50 festlegbar/ermittelbar
ist, kann mindestens eine physikalische Größe und/oder eine chemische
Größe sein.
Insbesondere kann die Sensorvorrichtung 50 dazu ausgelegt
sein, einen Messwert für
die Größe zu bestimmen.
Die durch die Sensorvorrichtung 50 bestimmbare Größe kann
beispielsweise eine Beschleunigung, eine Drehrate, eine Temperatur,
eine Stoffkonzentration und/oder ein Druck sein. Es wird jedoch
darauf hingewiesen, dass die im Weiteren beschriebene Sensorvorrichtung 50 nicht
auf das Bestimmen einer derartigen Größe beschränkt ist. Die Sensorvorrichtung 50 kann auch
zum Bestimmen einer anderen Größe ausgelegt
sein.
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Die
Sensorvorrichtung 50 umfasst eine Platine 51 und
ein an der Platine 51 angebrachtes Sensormodul 52.
Das Sensormodul weist vorzugsweise mindestens einen Chip, beispielsweise
den Sensorchip 54, auf. Die Platine 51 kann eine
Hauptplatine der Sensorvorrichtung 50 sein. Das Sensormodul 52 kann
ein Verkapselung oder ein eigenes Gehäuse haben, in welchem der mindestens
eine Sensorchip 54 angeordnet ist. Vorzugsweise ist unter
dem Sensormodul 52 eine kompakte Einheit zu verstehen, welche
vor einem Befestigen des Sensormoduls 52 an der Platine 51 bereits
einstückig
ausgebildet ist. Die Sensorvorrichtung 50 ist nicht auf
eine Verwendung eines einzigen Sensorchips 54 beschränkt. Die Sensorvorrichtung 50 kann
auch mehrere Sensorchips 54 aufweisen, welche vorzugsweise
in dem gemeinsamen Sensormodul 52 angeordnet sind. Zusätzlich zu
dem mindestens einen Sensorchip 54 kann noch mindestens
ein andere Chip, beispielsweise ein Steuerchip, auf oder in dem
Sensormodul 52 angeordnet sein.
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Bei
der hier beschriebenen Ausführungsform wird
die Platine 51 als Leiterplatte verwendet. Es wird jedoch
darauf hingewiesen, dass die im Weiteren beschriebenen Sensorvorrichtung 50 nicht
auf eine als Platine 51 ausgebildete Leiterplatte beschränkt ist. Als
Alternative oder als Ergänzung
zu der Platine 51 kann die Sensorvorrichtung 50 mindestens
eine andere Leiterplatte umfassen.
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Auf
dem mindestens einen Sensorchip 54 ist mindestens ein sensitives
Element 56 ausgebildet. Das sensitive Element 56 kann
beispielsweise mikromechanisch ausgebildet sein. Unter einem sensitiven Element 56 wird
eine Untereinheit des Sensorchips 54 verstanden, bei welcher
mindestens eine Eigenschaft durch die mittels der Sensorvorrichtung 50 zu bestimmende
mindestens eine physikalische und/oder chemische Größe veränderbar
ist. Die durch die Größe veränderbare
Eigenschaft des sensitiven Elements 56 ist beispielsweise
seine Stellung in Bezug auf eine unverstellbare Einheit des Sensorchips 54 und/oder
eines Gehäuses
der Sensorvorrichtung 50. Das mindestens eine sensitive
Element 56 kann beispielsweise mindestens eine seismische Masse
und/oder mindestens eine Druckkammer umfassen. Die Sensorvorrichtung 50 ist
jedoch nicht auf ein derartiges sensitives Element 56 beschränkt. Die Sensorvorrichtung 50 kann
somit auch ein anders ausgebildetes sensitives Element 56 umfassen.
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Das
Sensormodul 52 ist bei der dargestellten Ausführungsform über eine
Schnittstelle 60 mit einem an der Platine 51 angebrachten
Kontrollmodul 62 verbunden. Das Kontrollmodul 62 und/oder
das Sensormodul 52 können
beispielsweise an der Platine 51 festgelötet und/oder
festgesteckt sein.
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Die
Schnittstelle 60 kann beispielsweise eine digitale Schnittstelle 60 sein, über welche
ein elektrischer PIN und/oder ein digitales Kommando übertragbar
sind. Auf dem Kontrollmodul 62 können Komponenten zum Steuern
des Sensormoduls 52 und/oder zum Auswerten von einer an
dem Sensormodul 52 erfassten Information ausgebildet sein.
Das auch als Controller bezeichenbare Kontrollmodul 62 kann
ein (externer) Prozessor oder ein (externer) Mikrocontroller sein.
Das Kontrollmodul 62 kann beispielsweise mindestens einen
Chip umfassen, auf welchem mindestens eine Schaltung zum Steuern des
Sensormoduls 52 und/oder zum Auswerten von einer an dem
Sensormodul 52 erfassten Information ausgebildet ist.
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Es
wird darauf hingewiesen, dass die beschriebene Sensorvorrichtung 50 nicht
auf eine Ausbildung mit dem Kontrollmodul 62 beschränkt ist.
Die von dem Kontrollmodul ausgeführten
Funktionen können
auch von einem externen Kontrollmodul ausgeführt werden. In diesem Fall
kann die Sensorvorrichtung 50 eine Datenübertragungseinrichtung
für eine
Datenübertragung
mit dem externen Kontrollmodul aufweisen. Das externe Kontrollmodul
kann beispielsweise Bestandteil eines zentralen fahrzeugeigenen
Steuer- und/oder Auswertegeräts
sein. Die Sensorvorrichtung ist somit auf einfache Weise mit einem
vergleichsweise niedrigen Bauraumbedarf ausführbar.
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Die
Sensorvorrichtung 50 kann eine (nicht dargestellte) Sensor-
und Auswerteeinrichtung umfassen, welche dazu ausgelegt ist, die
aufgrund einer zeitlichen Änderung
der Größe veränderte Eigenschaft
des sensitiven Elements 56 zu erfassen und unter Berücksichtigung
der erfassten veränderten
Eigenschaft die Information bezüglich
der Größe festzulegen.
In einer beispielhaften Ausführungsform kann
mindestens eine in dem Sensormodul 52 angeordnete (nicht
skizzierte) Untereinheit der Sensor- und Auswerteeinrichtung die
veränderte
Eigenschaft des sensitiven Elements 56 erfassen und ein
entsprechendes Sensorsignal 58 ausgeben. Vorzugsweise ist
das Sensorsignal 58 ein elektrisch auswertbares Signal.
Das Sensorsignal 58 kann anschließend durch mindestens eine
weitere (nicht skizzierte) Untereinheit der Sensor- und Auswerteeinrichtung, welche
beispielsweise auf dem Kontrollmodul 62 oder auf einem
externen Kontrollmodul angeordnet ist, ausgewertet werden. In diesem
Fall wird das Sensorsignal 58 über die Schnittstelle 60 an
das Kontrollmodul 62 oder an die Datenübertragungseinrichtung ausgegeben.
Das Kontrollmodul 62 kann zusätzlich zu dem Festlegen der
Information bezüglich
der Größe auch
dazu ausgelegt, unter Berücksichtigung
des empfangenen Sensorsignals 58, bzw. der festgelegten
Information bezüglich
der Größe, eine
Fahrzeugkomponente und/oder eine fahrzeugeigene Anzeigeeinrichtung
zum Anzeigen der gemessenen Größe zu steuern.
Das Kontrollmodul 62 kann die festgelegte Information bezüglich der
Größe auch
an eine weitere Komponente ausgeben.
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Die
im Weiteren beschriebene Sensorvorrichtung 50 ist nicht
auf eine Ausbildung der Sensor- und Auswerteeinrichtung entsprechend
dem vorhergehenden Absatz beschränkt.
Die einzelnen Komponenten der Sensor- und Auswerteeinrichtung können beispielsweise
auch auf anderen Komponenten der Sensorvorrichtung 50 angeordnet
sein.
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Die
in 2 schematisch dargestellte Sensorvorrichtung 50 ist
zum Ausführen
eines Selbsttests ausgelegt. Vorzugsweise erfolgt das Ausführen des
Selbsttests durch die Sensorvorrichtung 50 automatisch.
Bei dem Selbsttest können
die internen Strukturen des Sensormoduls 52 und/oder des
Sensorchips 54, insbesondere die Mikromechanik des sensitiven
Elements 56, bezüglich
einer möglichen Beschädigung während des
Betriebs der Sensorvorrichtung 50 und/oder eines möglichen
Alterungsschadens untersucht werden.
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Zum
(automatischen) Ausführen
des Selbsttests weist die Sensorvorrichtung 50 eine Selbstteststeuereinheit 63 auf.
Die Selbstteststeuereinheit 63 ist dazu ausgelegt, während des
Selbsttests unter Berücksichtigung
mindestens eines vorgegebenen Selbsttestprogramms eine Selbsttestgröße 64 auf das
sensitive Element 56 auszuüben. Die Selbsttestgröße 64 kann
eine Selbsttestkraft sein. Die während des
Ausführens
des Selbsttestprogramms ausgeübte Selbsttestgröße 64 kann
zeitlich konstant sein oder mit einen nicht-konstanten Soll-Zeitverlauf
aufweisen. Das Ausüben
der Selbsttestgröße 64 kann
beispielsweise ein Ausüben
mindestens eines elektrischen Stimulus auf das sensitive Element 56 umfassen.
Dabei ist die eine auf das sensitive Element 56 ausgeübte Selbsttestgröße 64 so
gewählt,
dass mittels einer Ermittlungseinheit 65 aufgrund der ausgeübten Selbsttestgröße 64 veränderte Eigenschaft des
sensitiven Elements 56, beispielsweise eine Stellungsänderung,
erfassbar und eine entsprechende Ist-Selbsttestantwort 66 bereitstellbar
ist.
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Unter
der Ist-Selbsttestantwort 66 ist eine Information über eine
aufgrund der ausgeübten
Selbsttestgröße 64 veränderte Eigenschaft
des sensitiven Elements 56 zu verstehen. Sofern das sensitive
Element 56 eine seismische Masse ist, kann ein Teil des sensitiven
Elements 56 als Aktor-Elektrode, welche durch die Selbsttestgröße 64 gegenüber einer
fest mit dem Sensorchip 54 verbundenen Stator-Elektrode
verstellbar ist, ausgebildet sein. Somit kann die Ist-Selbsttestantwort 66 beispielsweise
eine Kapazitätsänderung
eines aus den beiden Elektroden gebildeten Kondensators sein.
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Die
Selbstteststeuereinheit 63 umfasst eine als Steuerlogikuntereinheit 63a bezeichenbare
Untereinheit, auf welcher das mindestens eine Selbsttestprogramm
implementiert ist. Unter einem Implementieren des mindestens einen
Selbsttestprogramms kann auch ein Abspeichern des mindestens einen
Selbsttestprogramms auf der Steuerlogikuntereinheit 63a verstanden
werden. Vorzugsweise ist die Steuerlogikuntereinheit 63a auf
oder in dem Sensormodul 52 ausgebildet. In einer besonders
vorteilhaften Ausführungsform
ist die Selbstteststeuereinheit 63, insbesondere als kompakte
Einheit, auf oder in dem Sensormodul 52 ausgebildet.
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Ein
von der Selbstteststeuereinheit 63 ausgeführtes Selbsttestprogramm
kann einen Einzeltest, eine Testsequenz und/oder mehrere Testsequenzen umfassen.
Eine Testsequenz kann beispielsweise einen positiven Selbsttest,
einen Null-Selbsttest
(kein Selbsttest-Stimulus) und einen negativen Selbsttest in einer
beliebigen Reihenfolge umfassen. Somit ist eine große Vielfalt
von Selbsttestprogrammen bei der hier beschriebenen Sensorvorrichtung 50 automatisch
ausführbar.
Auf Beispiele für
einen ausführbaren
Selbsttest wird bei der Beschreibung der 3 noch genauer
eingegangen.
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Vorzugsweise
ist mindestens eines der Selbsttestprogramme so auf der Steuerlogikuntereinheit 63a des
Sensormoduls 52 implementiert, dass für das Selbsttestprogramm mindestens
zwei Teilprogramme mit voneinander abweichenden Soll-Zeitverläufen der
auf das sensitive Element 56 ausgeübten Selbsttestgröße 64 und
mit einer Soll-Reihenfolge der mindestens zwei Teilprogramme beim
Ausführen des
Selbsttestprogramms auf der Untereinheit implementiert sind. Das
betreffende Testprogramm umfasst somit mehrere Verfahrensschritte,
in welchen die Selbsttestgröße 64 gezielt
von mindestens einem Anfangs-Sollwert zu einem End-Sollwert verändert wird.
Dabei ist unter dem Anfangs-Sollwert und dem End-Sollwert bevorzugterweise
jeweils eine von der Selbstteststeuereinheit 63 aufzubringende
Selbsttestgröße 64 und
nicht eine aufgrund einer Deaktivierung oder einer Aktivierung der
Selbstteststeuereinheit 63 sich einstellende Kraft zu verstehen.
Beispielsweise kann die Selbsttestgröße 64 sich in einem
ersten Teilprogramm zu einem positiven Maximalwert und in einem
zweiten Teilprogramm zu einem negativen Maximalwert steigern. Das
implementierte Programm legt dabei auch die zeitliche Reihenfolge
der mindestens zwei Verfahrensschritte fest. Beispielweise legt
das implementierte Programm die zeitliche Reihenfolge von mehreren
auf das sensitive Element 56 ausgeübten (elektrischen) Stimuli
fest.
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Zur
Auswertung der von der Ermittlungseinheit 65 bereitgestellten
Ist-Selbsttestantwort 66 ist eine
Vergleichseinheit 68 auf oder in dem Sensormodul 52 ausgebildet.
Die Vergleichseinheit 68 ist an eine Speichereinheit 70 gekoppelt,
auf welcher mindestens eine vorgegebene Soll-Selbsttestantwort implementiert/abgespeichert
ist. Die Speichereinheit 70 ist vorzugsweise ebenfalls
auf oder in dem Sensormodul 52 ausgebildet. In diesem Fall
muss die mindestens eine für
die Auswertung der Ist-Selbsttestantwort 66 verwendete
Soll-Selbsttestantwort nicht über
eine Schnittstelle 60 an die Vergleichseinheit 68 bereitgestellt
werden. Dies beschleunigt die Auswertung der Ist-Selbsttestantwort 66.
Insbesondere kann die Speichereinheit 70 eine Untereinheit
der Vergleichseinheit 68 sein.
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Die
Vergleichseinheit 68 ist dazu ausgebildet, die mindestens
eine Ist-Selbstantwort 66 mit
der mindestens einen bereitgestellten Soll-Selbsttestantwort zu
vergleichen und unter Berücksichtigung
des Vergleichs der Ist-Selbsttestantwort 66 mit
der mindestens einen Soll-Selbsttestantwort eine Vergleichsinformation 71 bereitzustellen.
Vorzugsweise ist die Vergleichseinrichtung 68 dazu ausgelegt,
sofern die mindestens eine erfasste Ist-Selbsttestantwort 66 um mindestens
eine vorgegebene Mindestabweichung von der mindestens einen bereitgestellten Soll-Selbsttestantwort
abweicht, eine entsprechende Fehlermeldung als Vergleichsinformation 71 auszugeben.
Das Ausgeben der Vergleichsinformation 71 kann beispielsweise über die
Schnittstelle 60 an das Kontrollmodul 62 erfolgen.
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Anstelle
einer Fehlermeldung kann auch nach jedem Vergleich und/oder nach
einer vorgegebenen Anzahl von Vergleichen ein Vergleichsergebnis
als Vergleichsinformation 71 an das Kontrollmodul 62 ausgegeben
werden. Die Fehlermeldung und/oder die Vergleichsergebnisse können auf
einem externen Speicher hinterlegt werden, welcher von einer Werkstatt
abfragbar ist.
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Die
mindestens eine auf der Speichereinheit 70 abgespeicherte/implementierte
Soll-Selbsttestantwort, welche beispielsweise mindestens ein Zielwert
sein kann, kann vor der Inbetriebnahme für den jeweiligen Sensormoduls 52 spezifisch
auf der Speichereinheit 70 abgespeichert werden. Besonders vorteilhaft
ist es, wenn die mindestens eine Soll-Selbsttestantwort abhängig von
mindestens einer Eigenschaft des Sensormoduls 52 und/oder
des zugehörigen
Sensorchips 54, bzw. des zu untersuchenden sensitiven Elements 56,
vorgegeben wird. Dies ist gewährleistet,
indem bei der Herstellung des Sensormoduls 52 mindestens
eine gemessene Ist-Selbsttestantwort 66 oder ein Mittelwert
aus gemessenen Ist-Selbsttestantworten 66 als
die mindestens eine Soll-Selbsttestantwort auf der Speichereinheit 70 abgespeichert
wird. Entsprechend kann auch die Mindestabweichung (Toleranz) für auf jedem Sensormodul 52 spezifisch
vorgegebenen werden.
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Als
Alternative zu einem Abspeichern der mindestens einen Soll-Selbsttestantwort
und/oder der Mindestabweichung bei der Herstellung des Sensormoduls 52 kann
zumindest einer dieser Vergleichswerte auch von einer Vorgabeeinrichtung,
beispielsweise einem Benutzer der Sensorvorrichtung 50 oder
einem internen Controller, der Vergleichseinheit 68 vorgegeben
werden, bzw. auf der Speichereinheit 70 abgespeichert werden.
Dies kann bei jedem Starten des Sensormoduls 52 oder einmalig
erfolgen. Insbesondere kann die Vorgabeeinrichtung dazu ausgelegt
sein, die mindestens eine Soll-Selbsttestantwort
und/oder die Mindestabweichung unter Berücksichtigung eines Zustands
der Sensorvorrichtung 50, des zugehörigen Fahrzeugs, einer Verkehrssituation
und/oder einer Umgebungsbedingung bereitzustellen. In diesem Fall
können diese
Faktoren bei der Auswertung der Ist-Selbsttestantwort 66 berücksichtigt
werden.
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Ein
von der Selbstteststeuereinheit 63 ausgeführtes Selbsttestprogramm
kann beispielsweise durch ein von dem Kontrollmodul 62 über die
Schnittstelle 60 ausgegebenes Startsignal 72 gestartet
werden. Man kann dies auch so bezeichnen, dass die Selbstteststeuereinheit 63 durch
das Startsignal 72 von einem Inaktivmodus in einen Selbsttestmodus geschaltet
wird. Die hier beschriebene Sensorvorrichtung 50 ist jedoch
nicht auf eine Initialisierung eines Selbsttests durch ein derartiges
Startsignal 72 beschränkt.
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In
einer besonders vorteilhaften Ausführungsform ist die Selbstteststeuereinheit 63 dazu ausgelegt,
sich selbst zum Ausführen
eines Selbsttest zu initialisieren. In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform
kann auch eine andere Komponente des Sensormoduls 52 die
Selbstteststeuereinheit 63 zu einem vorgegebenen Zeitpunkt
zum Ausführen eines
Selbsttest initialisieren. Vorteilhafterweise liegt der vorgegebene
Zeitpunkt innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls/nach dem vorgegebenen
Zeitintervall kurz nach einem Erkennen eines Einschaltens/Aktivierens
des Sensormoduls 52, bzw. des Sensorchips 54 durch
die Selbstteststeuereinheit 63 oder die andere Komponente
des Sensormoduls 52. In diesem bevorzugten Fall ist die
Sensorvorrichtung 50 so ausgelegt, dass bei einem Aktivieren
des Sensormoduls 52, bzw. des Sensorchips 54,
die Selbstteststeuereinheit 63 automatisch mindestens einen Selbsttest
ausführt.
Auf diese Weise kann schon vor einer Nutzung des Sensormoduls 52,
insbesondere des sensitiven Elements 56, überprüft werden,
ob die gewünschte
Funktionalität
bei der Nutzung gewährleistet
ist.
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In
einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform ist die Selbstteststeuereinheit 63 dazu
ausgelegt, in einem vorgegebenen Rhythmus oder unter Berücksichtigung
eines vorgegebenen Selbsttestzwischenintervalls, beispielsweise
alle zwei Sekunden, einen Selbsttest auszuführen. Insbesondere kann die Selbstteststeuereinheit 63 einen
Signaleingang aufweisen, über
welchen ein vorteilhafter Rhythmus/ein bevorzugtes Selbsttestzwischenintervall
zum Ausführen
von nacheinander folgenden Selbsttesten von einer fahrzeugeigenen
Zustandserfassungseinrichtung vorgegeben wird. Der Rhythmus oder
das Selbsttestzwischenintervall, mit welchem insbesondere der Zustand
des sensitiven Elements 56 automatisch überprüft wird, kann somit unter Berücksichtigung
eines Zustands der Sensorvorrichtung 50, des zugehörigen Fahrzeugs,
einer Verkehrssituation und/oder einer Umgebungsbedingung festgelegt werden.
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Die
hier beschriebene Sensorvorrichtung 50 kann somit anhand
von automatischem Selbsttest, bzw. internen Überprüfungen (Statusflags), angeben, wann
sie fertig initialisiert und betriebsbereit ist. Insbesondere kann
das Sensormodul 52 erkennen, wann ein vorteilhafter Zustand
zum Ausführen
eines Selbsttests gewährleistet
ist. Dabei ermöglicht
das Koppeln eines Starts des Selbsttests mit einer Initialisierung
des Sensormoduls 52 einen schnellstmöglichen Start des Sensormoduls 52 inklusive
mindestens eines ausgeführten
Selbsttests.
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Auch
eine Kombination der in den oberen Absätzen beschriebenen Ausführungsformen
ist möglich.
Beispielsweise kann, nachdem ein erfolgreicher Start des Sensors
festgestellt wird, ein vorgegebenes Zeitintervall eingehalten werden,
bevor eine Selbsttestsequenz gestartet wird. Diese kann innerhalb
eines vorgegebenen Rhythmus, wie z. B. alle zwei Sekunden, wiederholt
werden.
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Abhängig von
der Auswertung einer Ist-Selbsttestantwort 66 durch die
Vergleichseinheit 68 kann der gerade ausgeführte Selbsttest
wiederholt und/oder ein anderer Selbsttest gestartet werden. Dies
ist realisierbar, indem die Vergleichseinheit 68 beispielsweise
dazu ausgelegt wird, nach einem Feststellen eines Abweichens einer
Ist-Selbsttestantwort 66 von der mindestens einen Soll-Selbsttestantwort
um mehr als die vorgegebene Mindestabweichung die Selbstteststeuereinheit 63 zu
einem Wiederholen des gerade ausgeführten Selbsttests und/oder
zum Ausführen
eines anderen Selbsttests anzusteuern. Kurzzeitige Störungen,
beispielsweise durch externe Störeinflüsse wie
eine mechanische Überlast,
können
somit nicht zu einem Fehlschlagen der Selbsttests insgesamt führen. Erkennt
die Vergleichseinheit 68, dass die Ist-Selbsttestantwort 66 oder eine
vorgegebene Anzahl von Ist-Selbsttestantworten 66 innerhalb
der vorgegebenen Mindestabweichungen mit der mindestens einen Soll-Selbsttestantwort übereinstimmt,
so kann die Wiederholungen der Selbsttests abgeschlossen werden.
Ebenso können
die Wiederholungen der Selbstteste abgebrochen werden, sobald eine
vorgegebene maximale Anzahl von nacheinander auszuführenden
Selbsttesten überschritten
wird.
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In
einer bevorzugten Ausführungsform
der Sensorvorrichtung 50 sind die Komponenten 63, 65, 66 und 70 auf
oder in dem Sensormodul 52 ausgebildet. Zum Ausführen der
einzelnen Verfahrensschritte eines Selbsttest ist somit kein Weiterleiten
eines Signals über
die Schnittstelle 60 erforderlich. Somit können alle
Verfahrensschritte des Selbsttests in einer vergleichsweise kurzen
Zeit ausgeführt
werden. Vorzugsweise ist die für
die Selbsttestausführung
vorgegebene Zeit so bemessen, dass aufgrund ihrer Kürze bereits
die erste korrekte Antwort eines Selbsttests bewertbar ist. Auf
diese Weise kann die Gesamtdauer einer Selbsttest-Sequenz und/oder
mehrerer Selbsttest-Sequenzen
vergleichsweise kurz gehalten werden. Der gesamte Selbsttestprozess
ist somit innerhalb einer kurzen Zeitdauer ausführbar. Bei der bevorzugten
Ausführungsform
kann eine Ist-Selbsttestantwort 66 aufgrund ihrer vergleichsweise
geringen Zeitdauer einfach aus den Nutzsignalen gefiltert werden,
beispielsweise durch einen Tiefpassfilter.
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In
einer vorteilhaften Weiterbildung ist das Sensormodul 52 zusätzlich dazu
ausgelegt, einen Selbsttest-Zustand über die Schnittstelle 60 anzeigen
solange ein Selbsttest ausgeführt
wird dem Kontrollmodul 62. In diesem Fall verfügt das Kontrollmodul 62 während eines
ausgeführten
Selbsttests über eine
Information, dass die momentan bereitgestellten Sensorsignale 58 möglicherweise
von dem gerade durchgeführten
Selbsttest beeinträchtigt
sind. Vor allem bei einer automatischen Initialisierung eines Selbsttest
durch eine Komponente des Sensormoduls 52 ist dies vorteilhaft.
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Bei
der dargestellten Ausführungsform
der Sensorvorrichtung 50 sind die Komponenten 63, 65, 66, 68 und 70 auf
dem Sensorchip 54 angeordnet/ausgebildet. Das hier beschriebene
Sensormodul 52 ist jedoch nicht auf eine derartige Ausbildung
beschränkt.
Die Komponenten 63, 65, 66, 68 und 70 können beispielsweise
auch auf einem Steuerchip des Sensormoduls 52 angeordnet/ausgebildet
sein. Der Steuerchip kann ein ASIC sein. Auf dem Sensorchip 54 kann
das mittels des Steuerchips steuerbare sensitive Element 56 ausgebildet
sein. Der besseren Übersichtlichkeit
wegen ist der Steuerchip jedoch in 2 nicht
dargestellt.
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Der
Sensorchip 52 kann als Mikromechanik auch in den, beispielsweise
als ASIC ausgebildeten Steuerchip integriert sein. Auch diese Ausführungsform
gewährleistet
die oben schon beschriebenen Vorteile.
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Bei
der in 2 schematisch dargestellten Sensorvorrichtung 50 werden
keine Ressourcen des Kontrollmoduls 62 zum Steuern eines
Selbsttests oder zum Implementieren einer Ausführungslogik für einen
Selbsttest verbraucht. Die Ressourcen des Kontrollmoduls 62 können somit
für eine
Vielzahl von weiteren Verwendungsmöglichkeiten der Sensorvorrichtung 50 verwendet
werden.
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Die
in den oberen Absätzen
beschriebene Sensorvorrichtung 50 ist vorzugsweise ein
kombinierter Drehraten- und Beschleunigungssensor mit einer digitalen
seriellen Schnittstelle 60, welche als SPI ausgebildet
ist. Somit kann eine derartige Sensorvorrichtung 50 durch
die oben beschriebene konkrete Implementierung für eine automatische Selbsttestsequenz
mit sensorinterner Steuerung und Bewertung ausgelegt werden.
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Anhand
der 2 ist auch eine Sensorvorrichtung mit einem sensitiven
Element, einer Selbstteststeuereinrichtung (Selbsttestablaufsteuereinrichtung)
und einer Selbsttestausführeinrichtung,
wobei die Selbstteststeuereinrichtung und die Selbsttestausführeinrichtung
auf einen gemeinsamen Chip angeordnet sind, nahegelegt. Die die
Selbstteststeuereinrichtung und die Selbsttestausführeinrichtung können beispielsweise
Komponenten der Selbstteststeuereinheit 63 sein. Insbesondere
kann die Selbstteststeuereinrichtung als Steuerlogikuntereinheit 63a ausgebildet
sein. Auf eine derartige Sensorvorrichtung wird deshalb hier nicht
weiter eingegangen.
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3 zeigt
ein Koordinatensystem zum Darstellen einer zweiten Ausführungsform
der Sensorvorrichtung.
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Die
anhand des Koordinatensystems der 3 wiedergegebene
Sensorvorrichtung kann einen Aufbau entsprechend der 2 haben.
Auf den Aufbau der Sensorvorrichtung wird deshalb hier nicht eingegangen.
Die Sensorvorrichtung ist dazu ausgelegt, den in dem Koordinatensystem
der 3 wiedergegebenen Verlauf von drei Selbsttestensequenzen 80 bis 84 auszuführen. Die
Abszisse des Koordinatensystems entspricht der Zeitachse t (in Millisekunden).
Die Ordinate des Koordinatensystems gibt die zu den jeweiligen Zeiten
ermittelten Signalstärken I
der Ist-Selbsttestantwort an.
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Die
im Weiteren beschriebenen Selbsttestsequenzen 80 bis 84 weisen
jeweils eine Zeitdauer Sges von 24 ms auf. Für die von einer Sensorvorrichtung
automatisch ausgeführten
Selbsttestsequenzen 80 bis 84 können aber
auch kürzere
und längere
Zeitdauern Sges gewählt
werden.
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Zu
einem Zeitpunkt t0 wird eine erste Selbsttestsequenz 80 gestartet.
Das Starten der ersten Selbsttestsequenz 80 kann beispielsweise
nach einem Aktivieren eines Sensormoduls/Sensorchips durch eine
Komponente des Sensormoduls/Sensorchips initialisiert werden.
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Innerhalb
eines ersten Schritts 86 der ersten Selbsttestsequenz 80 mit
einer Zeitdauer s0 von 8 ms wird eine erste Selbsttestgröße auf das
sensitive Element aufgebracht. Die erste Selbsttestgröße ist so
festgelegt, dass eine Eigenschaft des sensitiven Elements in eine
erste (positive) Richtung ausgelenkt wird. Sofern das sensitive
Element korrekt auf die erste Selbsttestgröße reagiert, ist nach dem ersten Schritt 86 zum
Zeitpunkt t1 ein maximales positives Selbsttestantwortsignal I1
von der Ermittlungseinheit erfassbar.
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In
einem zweiten Verfahrensschritt 88 der ersten Selbsttestsequenz 80 wird
die auf das sensitive Element ausgeübte Selbsttestgröße reduziert.
Der zweite Verfahrensschritt 88 kann vorzugsweise die Zeitdauer
s0 haben. Nach dem zweiten Verfahrensschritt 88 zum Zeitpunkt
t2 ist somit ein Null-Selbsttestsignal I2 erfassbar, sofern sich
das sensitive Element korrekt verhält.
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Während eines
dritten Verfahrensschritts 90 der ersten Selbsttestsequenz 80 wird
eine von der ersten Selbsttestgröße abweichende
zweite Selbsttestgröße auf das
sensitive Element ausgeübt.
Die zweite Selbsttestgröße ist so
ausübbar,
dass die Eigenschaft des sensitiven Elements in eine zweite (negative)
Richtung ausgelenkt wird. Auch der dritte Verfahrensschritt 90 kann
die Zeitdauer s0 haben. Zu einem Zeitpunkt t3, welcher den dritten
Verfahrensschritt 90 beendet, ist vorzugsweise ein maximales negatives
Selbsttestantwortsignal I3 erfassbar.
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Die
Ermittlungseinheit ist dazu ausgelegt, eine erste Differenz d1 aus
dem Null-Selbsttestsignal I2
und dem positiven Selbsttestsignal I1 und eine zweite Differenz
d2 aus dem negativen Selbsttestsignal I3 und dem Null-Selbsttestsignal
I2 festzulegen und als Ist-Selbsttestantwort an die Vergleichseinheit auszugeben.
Die Differenzen d1 und d2 werden von der Vergleichseinheit mit mindestens
einem als Soll-Selbsttestantwort bereitgestellten Vergleichswert
verglichen. Anhand dieser Vergleiche kann die Funktionsfähigkeit
des Sensormoduls und/oder des Sensorchips, insbesondere des sensitiven
Elements, überprüft werden.
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Sofern
die Bewertungen der Differenzen d1 und d2 kein Abweichen über einer
Mindestabweichung von dem vorgegebenen Vergleichswert ergeben, so
gilt der Selbsttest als bestanden. Werden Abweichungen der Differenzen
d1 und d2 von dem vorgegebenen Vergleichswert um mehr als die vorgegebenen
Toleranzen festgestellt, so kann die erste Selbsttestsequenz 80 mindestens
einmal wiederholt werden. Sofern auch bei einer zweiten Selbsttestsequenz 82 und
bei einer dritten Selbsttestsequenz 84 keine zufriedenstellendes Übereinstimmen
der Differenzen d1 und d2 mit dem vorgegebenen Vergleichswert festgestellt
wird, so kann eine Fehlermeldung und/oder ein negatives Statusflag
an eine Einrichtung der Sensorvorrichtung, beispielsweise an das Kontrollmodul,
ausgegeben werden. Als Alternative oder als Ergänzung dazu kann auch eine Fehlermeldung
und/oder ein negatives Statusflag an ein externes Gerät ausgegeben
werden.
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Eine
Ausführung
der hier beschriebenen Selbsttestsequenzen 80 bis 84 ist
in Kombination mit der vergleichsweise kurzen Ausführbarkeit
der einzelnen Selbsttests durch die bevorzugte Anordnung der Selbstteststeuereinheit
und der Vergleichseinheit auf oder in dem Sensormodul mit dem Vorteil
verbunden, dass niederfrequente (sich langsam ändernde) Störungen keine signifikanten
Einflüsse
auf die Selbsttestbewertung haben. Obwohl die niederfrequenten Störungen die
positive Selbsttestantwort (positives Selbsttestsignal I1), die
negative Selbsttestantwort (negatives Selbsttestsignal I3) und die Null-Selbsttestantwort
(Null-Selbsttestsignal I2) möglicherweise
verändern
können,
ist durch die Differenzbildung diese Veränderung verlässlich herausfilterbar.
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In
einer Weiterbildung kann die Sensorvorrichtung mehrere Sensorkanäle, beispielsweise
mindestens einen Beschleunigungskanal und mindestens einen Drehratenkanal
umfassen. Für
jeden der Kanäle
kann mit der hier beschriebenen Methode unter Realisierung der genannten
Vorteile ein Selbsttest ausgeführt
werden. Insbesondere können
die in den oberen Absätzen
beschriebenen Methoden auf den mehreren Kanälen gleichzeitig, zeitlich
versetzt oder nacheinander angewandt werden. Die Abläufe der ausgeführten Selbsttests
können
dabei gleich oder invers sein. Eine Ausführungsmöglichkeit umfasst einen ersten
Selbsttest für
einen ersten Kanal mit einem positiven Selbsttest, einem Null-Selbsttest
und einem anschließend
ausgeführten
negativen Selbsttest und mindestens einen zweiten Selbsttest für einen
zweiten Kanal mit einem negativen Selbsttest, einem Null-Selbsttest
und einem abschließenden
positiven Selbsttest.
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4 zeigt
ein Flussdiagramm zum Darstellen einer Ausführungsform des Herstellungsverfahrens
für eine
Sensorvorrichtung.
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In
einem Verfahrensschritt S1 wird ein Sensormodul an einer Platine
der Sensorvorrichtung angebracht. Das Anbringen des Sensormoduls
erfolgt so, dass mindestens ein bezüglich mindestens einer physikalischen
und/oder chemischen Größe sensitives
Element aufgrund der mindestens einen Größe eine Eigenschaft ändern kann,
und dass bei einem Betrieb der Sensorvorrichtung ein der Größe entsprechendes
Sensorsignal aufgrund der Reaktion des sensitiven Elements auf eine Änderung
der Größe ausgebbar
ist.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt S2 wird eine Selbstteststeuereinheit,
auf welcher mindestens ein Selbsttestprogramm implementiert wird,
ausgebildet. Unter dem Ausbilden kann ein Bilden der Selbstteststeuereinheit
oder an Anordnen der fertigen Selbstteststeuereinheit in der Sensorvorrichtung verstanden
werden. Die Implementierung des Selbsttestprogramms kann auch ein
Abspeichern des Selbsttestprogramms auf einer Speichervorrichtung sein.
Beispiele für
ein geeignetes Selbsttestprogramm sind bei der Beschreibung der
vorhergehenden Figuren bereits aufgezählt. Die Selbstteststeuereinheit
wird so ausgebildet, dass bei einem Selbsttest der Sensorvorrichtung
eine Selbsttestgröße von der Selbstteststeuereinheit
unter Berücksichtigung
des mindestens einen Selbsttestprogramms auf das sensitive Element
ausgeübt
wird. Vorzugsweise wird die in dem Verfahrensschritt S2 gebildete
Selbstteststeuereinheit auf oder in dem Sensormodul angeordnet.
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Eine
Ermittlungseinheit wird in einem Verfahrensschritt S3 so ausgebildet,
dass bei dem Selbsttest der Sensorvorrichtung eine aufgrund der
ausgeübten
Selbsttestgröße veränderte Eigenschaft
des sensitiven Elements von der Ermittlungseinheit ermittelt und
unter Berücksichtigung
der veränderten
Eigenschaft eine Ist-Selbsttestantwort von der Ermittlungseinheit
bereitgestellt wird. Die veränderte
Eigenschaft kann beispielsweise eine aufgrund der ausgeübten Selbsttestgröße veränderte Stellung
des sensitiven Elements sein. Die Ermittlungseinheit kann auf oder
in dem Sensormodul gebildet oder angeordnet werden.
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Zusätzlich wird
in einem Verfahrensschritt S4 eine Vergleichseinheit ausgebildet,
welche so ausgelegt wird, dass die Vergleichseinheit bei dem Selbsttest
der Sensorvorrichtung die Ist-Selbsttestantwort mit mindestens einer
vorgegebenen Soll-Selbsttestantwort vergleicht und unter Berücksichtigung
des Vergleichs der Ist-Selbsttestantwort mit der mindestens einen
Soll-Selbsttestantwort eine Vergleichsinformation bereitstellt.
Die in dem Verfahrensschritt S4 ausgebildete Vergleichseinheit wird
auf oder in dem Sensormodul angeordnet. Dadurch sind die oben schon
genannten Vorteile realisierbar.
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In
einem optionalen Verfahrensschritt S5 kann eine Speichereinheit
ausgebildet werden. Auch die in dem Verfahrensschritt S5 ausgebildete
Speichereinheit kann auf oder in dem Sensormodul angeordnet werden.
Die Speichereinheit wird so an die Vergleichseinheit gekoppelt,
dass bei dem Selbsttest der Sensorvorrichtung mindestens eine auf
der Speichereinheit abgespeicherte Vergleichsinformation als mindestens
eine Soll-Selbsttestantwort der Vergleichseinheit vorgegeben wird.
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In
einem weiteren optionalen Verfahrensschritt S6 kann bei einer Festlegung
der mindestens einen Soll-Selbsttestantwort mindestens eine ermittelte
Ist-Selbsttestantwort
als Vergleichsinformation auf der Speichereinheit abgespeichert
werden. Die Soll-Selbsttestantwort ist somit auf einfache Weise spezifisch
für das
bei dem Selbsttest zu überprüfende sensitive
Element festlegbar.
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Die
in den oberen Absätzen
beschriebenen Verfahrensschritte S1 bis S6 sind in einer beliebigen Reihenfolge
ausführbar.
Die Nummerierungen legen keine Reihenfolge der Verfahrensschritte
S1 bis S6 fest.
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Anhand
der 4 ist auch Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung
mit einem sensitiven Element, einer Selbstteststeuereinrichtung (Selbsttestablaufsteuereinrichtung)
und einer Selbsttestausführeinrichtung,
wobei die Selbstteststeuereinrichtung und die Selbsttestausführeinrichtung
auf einen gemeinsamen Chip angeordnet werden, erläutert. Auf
ein derartiges Herstellungsverfahren wird deshalb hier nicht weiter
eingegangen.