DE102008022680A1 - Method for time-resolved detection of photons for analyzing processes of semiconductor structures, involves continuously or discontinuously changing acceleration of electrons in z-direction between beginnings of consecutive linear images - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zeitaufgelösten Detektion von Photonen, ein Verfahren zur statistischen Untersuchung eines elektromagnetischen Feldes, eine Streck-Kamera sowie eine Messanordnung zur zeitaufgelösten Untersuchung eines elektromagnetischen Feldes.The The invention relates to a method for the time-resolved detection of photons, a method for the statistical investigation of an electromagnetic Feldes, a stretching camera and a measuring arrangement for time-resolved examination an electromagnetic field.
Die Untersuchung von elektromagnetischen Emissionen wird in vielen Bereichen der Physik genutzt, um Erkenntnisse über das emittierende Objekt und darin ablaufende Prozesse zu gewinnen. In jüngerer Zeit werden hierbei zunehmend Untersuchungsmethoden wichtiger, die zum einen eine hohe Empfindlichkeit, bis hin zur Detektion einzelner Photonen, zum anderen eine hohe Zeitauflösung bieten. Letztere ist z. B. für die Untersuchung von Prozessen in Halbleiterstrukturen wie Quantenfäden oder Quantenpunkten interessant, da dort Prozesse wie Elektron-Loch-Rekombinationen auf einer Zeitskala im ps-Bereich ablaufen. Um aus den hierbei emittierten Photonen Erkenntnisse über die zugrunde liegenden Prozesse zu gewinnen, ist es daher notwendig, eine Messmethode anzuwenden, die eine Zeitauflösung in der genannten Größenordnung erlaubt.The Examination of electromagnetic emissions will be in many areas The physics used to gain knowledge about the emitting object and in this process to win. More recently, this is increasingly important investigation methods, which on the one hand have a high sensitivity, up to the detection of single photons, on the other hand a high one time resolution Offer. The latter is z. For example the investigation of processes in semiconductor structures like quantum filaments or Interesting quantum dots because there are processes such as electron-hole recombination Expire on a timescale in the ps range. To get out of the emitted photons Findings about to gain the underlying processes, it is therefore necessary to apply a measurement method that has a time resolution of the order of magnitude allowed.
In
diesem wie auch in anderen Bereichen ist ein Objekt besonderen Interesses
das statistische Verhalten der Emissionen, das sich insbesondere durch
die Intensitäts-Autokorrelationsfunktion
oder Korrelationsfunktion 2. Ordnung beschreiben lässt. Diese
ist definiert als
Hier bezeichnet I(t) die Intensität zum Zeitpunkt t. Aus obiger Korrelationsfunktion lassen sich prinzipiell quantenmechanische Effekte wie das „Bunching” bzw. „Anti- Bunching”, d. h. die Tendenz zum paarweisen bzw. einzelnen Eintreffen von Photonen, ablesen. Diese Effekte lassen sich auch aus der Photonenzahlkorrelationsfunktion ablesen, die, statt der Intensität, die Zahl der detektierten Photonen zum Zeitpunkt t mit derjenigen zum Zeitpunkt t + τ korreliert. Im statistischen Grenzfall gehen die beiden Funktionen im Wesentlichen ineinander über, da die Intensität quantenmechanisch als Detektionswahrscheinlichkeit zu interpretieren ist. Aus diesem Grund wird im Folgenden begrifflich nicht zwischen den beiden Funktionen unterschieden. Messtechnisch geht es um die Detektion einzelner Photonen bei hoher Zeitauflösung. Diese bildet jedoch in der Regel die Grundlage einer statistischen Erfassung einer Vielzahl von Photonen, was der Bestimmung von Intensitäten entspricht.Here I (t) denotes the intensity at time t. From the above correlation function can be in principle quantum mechanical effects such as "bunching" or "anti-bunching", d. H. the tendency to pairwise or single arrival of photons, read. Leave these effects also read from the photon number correlation function, which instead the intensity, the number of detected photons at time t with that correlated at the time t + τ. In the statistical limit case, the two functions essentially go into each other, because the intensity quantum mechanically interpreted as detection probability is. For this reason in the following conceptually not between the two functions. Metrology is about the detection single photons at high time resolution. However, this forms in usually the basis of a statistical coverage of a variety of photons, which corresponds to the determination of intensities.
Nach dem Stand der Technik wird die Intensitäts-Autokorrelationsfunktion typischerweise mit dem HBT-Aufbau (nach HANBURY BROWN und TWISS) bestimmt. Ein derartiger Aufbau erlaubt jedoch nur zeitliche Auflösungen im Bereich ca. 500 ps, was für die Aufdeckung kurzzeitiger Korrelationen völlig unzureichend ist. Es ist in diesem Zusammenhang zu beachten, dass zwar grundsätzlich durch statistische Auswertung einer Vielzahl von Einzelmessungen der resultierende Fehler herabgesetzt werden kann, viele Messungen jedoch Zeit benötigen. Je länger die Messungen jedoch andauern, desto schwieriger sind äußere Parameter, die die Messung beeinflussen, stabil zu halten. Daher ist eine zeitaufgelöste Untersuchung eines elektromagnetischen Feldes und insbesondere die Ermittlung seiner Intensitäts-Autokorrelationsfunktion mit einer Auflösung von wenigen Pikosekunden nach dem Stand der Technik nicht möglich.To The state of the art is the intensity autocorrelation function typically with the HBT structure (after HANBURY BROWN and TWISS) certainly. Such a structure, however, only allows temporal resolutions in the Range about 500 ps, what for the detection of short-term correlations is completely inadequate. It is be noted in this context that, although in principle by statistical Evaluation of a large number of individual measurements of the resulting Error can be reduced, but many measurements take time. ever longer but the measurements continue, the more difficult are external parameters, which influence the measurement, keep it stable. Therefore, a time-resolved investigation an electromagnetic field and in particular the determination its intensity autocorrelation function with a resolution of a few picoseconds according to the prior art not possible.
Vor diesem Hintergrund ist es Aufgabe der Erfindung, Maßnahmen vorzuschlagen, um die Messung der Zeitabhängigkeit eines elektromagnetischen Feldes auf einer Zeitskala von einigen Pikosekunden zu ermöglichen.In front In this background, it is the object of the invention to take measures propose to measure the time dependence of an electromagnetic Field on a timescale of a few picoseconds.
Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren nach Anspruch 1 und Anspruch 16, durch eine Streck-Kamera nach Anspruch 19 sowie durch eine Messanordnung nach Anspruch 23.The Task is solved by a method according to claim 1 and claim 16, by a stretching camera according to claim 19 and by a measuring arrangement according to claim 23.
Der Begriff des elektromagnetischen Feldes bezeichnet hier insbesondere Lichtfelder, ebenso wie der Begriff Photon insbesondere Lichtteilchen bezeichnet. Die im Folgenden vorge stellten Verfahren und Vorrichtungen lassen sich aber prinzipiell auch auf andere Frequenzbereiche anwenden.Of the Term of the electromagnetic field refers in particular here Light fields, as well as the term photon, in particular light particles designated. The methods and devices presented in the following can be applied in principle to other frequency ranges.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren zur zeitaufgelösten Detektion von Photonen werden innerhalb eines Abbildungszeitraums eine Mehrzahl von Linearabbildungen erstellt. Abbildungszeitraum bezeichnet hierbei den Zeitraum vom Beginn der ersten Linearabbildung bis zum Ende der letzten Linearabbildung. Jede Linearabbildung beinhaltet hierbei eine Detektion der Photonen mittels eines Photomultipliers. Als Photomultiplier wird in diesem Zusammenhang jede Vorrichtung bezeichnet, aus der durch Einstrahlen eines Photons eine Mehrzahl von Elektronen ausgelöst wird. Derartige Vorrichtungen sind aus dem Stand der Technik bekannt und umfassen typischerweise eine Photokatode, aus der mittels des Photoeffekts wenigstens ein primäres Elektron gelöst wird, sowie einen Sekundärelektronenvervielfacher, bei dem durch sukzessives Herausschlagen weiterer Elektronen die Anzahl derselben stark erhöht wird. Der Verstärkungsfaktor liegt typischerweise in der Größenordnung von 1000. In diesem ersten Verfahrensschritt führt also ein eintreffendes Photon zur Freisetzung von wenigstens einigen hundert Elektronen.At the inventive method to the time-resolved Detection of photons become within one imaging period created a plurality of linear images. Figure period refers to the period from the beginning of the first linear illustration until the end of the last linear illustration. Each linear illustration includes in this case a detection of the photons by means of a photomultiplier. As a photomultiplier in this context, each device denotes, from the by irradiation of a photon a plurality triggered by electrons becomes. Such devices are known in the art and typically comprise a photocathode from which by means of the photoeffect at least a primary one Electron is dissolved, and a secondary electron multiplier by successively knocking out further electrons the number the same greatly increased becomes. The amplification factor is typically of the order of magnitude of 1000. In this first process step, therefore, an incoming one Photon to release at least a few hundred electrons.
Die aus dem Photomultiplier ausgelösten Elektronen werden nach dem Auslösen in einer ersten Richtung (im Folgenden: x-Richtung) sowie einer zweiten Richtung (im Folgenden: y-Richtung) beschleunigt. Die Beschleunigung erfolgt bevorzugt in einem elektrischen Feld, das durch wenigstens einen Kondensator pro x- bzw. y-Richtung erzeugt wird. Das Feld und somit die Beschleunigung der Elektronen kann hierbei durch die am Kondensator anliegende Spannung gesteuert werden.The triggered from the photomultiplier After being triggered, electrons are accelerated in a first direction (hereinafter: x-direction) and in a second direction (in the following: y-direction). The acceleration preferably takes place in an electric field that is generated by at least one capacitor per x or y direction. The field and thus the acceleration of the electrons can be controlled by the voltage applied to the capacitor.
Wesentlich ist, dass die Beschleunigung in y-Richtung als Funktion der Zeit verändert wird. Eine typische Veränderung erfolgt kontinuierlich, insbesondere linear, aber es sind auch andere, z. B. diskontinuierliche, Verläufe denkbar. Entscheidend ist jedoch, dass der zeitliche Verlauf der Veränderung bekannt ist. Die Beschleunigung in x-Richtung wird bevorzugt zeitlich konstant gehalten, eine zeitliche Veränderung derselben ist aber denkbar.Essential is that the acceleration in y-direction as a function of time changed becomes. A typical change takes place continuously, in particular linearly, but there are also other z. B. discontinuous, gradients conceivable. However, it is crucial that the time course of the Change known is. The acceleration in the x direction preferably becomes constant over time held, a temporal change the same is conceivable.
Die auf diese Weise beschleunigten Elektronen werden anschließend räumlich aufgelöst detektiert. Die Detektion erfolgt mittels eines Abbildungselements, das in x-Richtung vom Photomultiplier beabstandet ist und das sich in y-Richtung sowie in einer dritten Richtung (im Folgenden: z-Richtung) erstreckt. Erfindungsgemäß schließen die x-, y- und z-Richtung untereinander jeweils einen Winkel zwischen 10° und 170° ein, d. h. keine zwei der genannten Richtungen fallen auch nur annähernd zusammen. Die Beabstandung des Abbildungselements vom Photomultiplier sorgt dafür, dass die Elektronen vor dem Auftreffen auf das Abbildungselement eine Ablenkung in y-Richtung erfahren, welche aufgrund der zeitabhängigen Beschleunigung ebenfalls zeitabhängig ist, je nach dem, zu welchem Zeitpunkt die Elektronen ausgelöst wurden.The Electrons accelerated in this way are subsequently detected spatially resolved. Detection takes place by means of an imaging element which is in the x-direction is spaced from the photomultiplier and that in the y-direction as well in a third direction (hereinafter: z-direction). According to the invention include x-, y- and z-direction each with an angle between 10 ° and 170 °, d. H. no two of these directions even come close together. The spacing of the imaging element from the photomultiplier provides for this, that the electrons before hitting the imaging element undergo a deflection in the y-direction, which due to the time-dependent acceleration also time-dependent is, depending on when the electrons were triggered.
Als Abbildungselement wird hierbei jedes Bauteil bezeichnet, das beim Auftreffen der Elektronen ein räumlich lokalisierbares Signal, insbesondere optisch oder elektrisch, erzeugt. Hierzu weist ein solches Bauteil bevorzugt eine zur Detektion dienende Oberfläche auf, also eine Art Detektionsschirm.When Imaging element in this case each component is called, the Impact of the electrons a spatial localizable signal, in particular optically or electrically generated. For this purpose, such a component preferably has a serving for detection surface on, so a kind of detection screen.
Dass sich das Abbildungselement in der y- und z-Richtung erstreckt, bedeutet nicht zwangsläufig, dass es eine zur Detektion dienende Oberfläche aufweist, die in der durch die genannten Richtungen aufgespannten yz-Ebene liegt. Eine solche Oberfläche kann auch von der genannten Ebene abweichen und kann insbesondere gewölbt ausgebildet sein. Eine Ausrichtung in der yz-Ebene ist allerdings bevorzugt.That the imaging element extends in the y and z directions, means not necessarily, that it has a detection surface serving in the by the said directions spanned yz plane lies. Such surface may also differ from the said level and may in particular domed be educated. However, an alignment in the yz plane is prefers.
Weiterhin wird durch das Abbildungselement ein Detektionsmuster wenigstens während der Aufnahmezeit gespeichert. Der Begriff „speichern” bedeutet in diesem Zusammenhang, dass die Punkte auf dem Abbildungselement, an denen Elektronen detektiert werden, am Ende der Aufnahmezeit noch anhand des Zustands des Abbildungselements feststellbar sind. Hierunter fällt insbesondere ein Nachleuchten eines Abbildungselements, das durch das Auftreffen der Elektronen zum Leuchten angeregt wird.Farther At least one detection pattern will be detected by the imaging element while the recording time. The term "store" in this context means the points on the imaging element at which electrons are detected at the end of the recording time, based on the state of the imaging element are detectable. This falls in particular, an afterglow of an imaging element, by the impact of the electrons is excited to shine.
Die Bezeichnung „Linearabbildung” soll keinen linearen Zusammenhang im mathematischen Sinn suggerieren, sondern rührt daher, dass die zeitlich veränderliche Ablenkung in y-Richtung zu einer Verschiebung des Detektionspunktes auf dem Abbildungselement entlang einer Linie führt.The Designation "Linearabbildung" should not linear relationship in the mathematical sense suggest, but therefore, that the time variable Deflection in the y-direction to a shift of the detection point on the imaging element along a line.
Erfindungsgemäß wird nun zwischen dem Beginn jeweils zweier aufeinander folgender Linearabbildungen eine Beschleunigung der Elektronen in z-Richtung verändert. Dies kann wie bei der Beschleunigung in x- und y-Richtung mittels des elektrischen Feldes eines Kondensators erfolgen. Hierbei kann die Beschleunigung kontinuierlich oder diskontinuierlich verändert werden. Eine diskontinuierliche Veränderung kann insbesondere zwischen dem Ende einer Linearabbildung und dem Anfang der darauffolgenden Linearabbildung erfolgen. In jedem Fall ist es bevorzugt, dass die Änderung der Beschleunigung jeweils in der gleichen Richtung (d. h. entweder stets Erhöhung oder stets Verringerung der Beschleunigung) und weiterhin bevorzugt jeweils um den gleichen Betrag erfolgt.According to the invention will now between the beginning of two successive linear images an acceleration of the electrons in the z-direction changed. This can as in the acceleration in the x and y direction by means of the electrical Field of a capacitor made. This can be the acceleration be changed continuously or discontinuously. A discontinuous change can in particular between the end of a linear illustration and the Beginning of the subsequent linearabbildung done. In any case it is preferable that the change acceleration in the same direction (ie either always increase or always reducing the acceleration) and still preferred each time by the same amount.
Durch dieses Vorgehen wird im Verlauf der Aufnahmezeit die yz-Ebene in z-Richtung abgetastet, d. h. Elektronen, die zum gleichen Zeitpunkt, gemessen am Beginn der jeweiligen Linearabbildung, aber innerhalb verschiedener Linearabbildungen ausgelöst wurden, treffen das Abbildungselement nicht am gleichen Punkt, sondern in z-Richtung gegeneinander versetzt.By this procedure will be in the course of recording time the yz level in scanned z direction, d. H. Electrons that at the same time, measured at the beginning of each linearab, but within various linear images were triggered hit the picture element not offset at the same point, but in the z-direction against each other.
Somit ergibt sich ein insgesamt flächiges Detektionsmuster, bei dem in y-Richtung der Ablauf jeweils einer Linearabbildung ersichtlich ist, während in z-Richtung aufeinander folgend nebeneinander die Detektionsmuster der einzelnen Linearabbildungen angeordnet sind. Das Detektionsmuster weist also einen zeilenartigen Aufbau auf, bei dem die einzelnen Zeilen jeweils einer Linearabbildung entsprechen.Consequently results in a total areal Detection pattern, in which in the y-direction of the sequence one each Linear illustration is apparent while in the z direction each other next to each other arranged the detection pattern of the individual linear images are. The detection pattern thus has a line-like structure on, in which the individual lines of each linear illustration correspond.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es möglich, eine zeitlich hoch aufgelöste Detektion von Photonen durchzuführen. Mit geeigneten Abbildungselementen lassen sich zeitliche Auflösungen von unter 10 ps, bevorzugt sogar unter 5 ps, besonders bevorzugt unter 3 ps erreichen. Hierfür ist zum einen eine ausreichende räumliche Auflösung des Abbildungselements erforderlich, zum anderen eine ausreichend schnelle Änderung der Beschleunigung in y-Richtung. Eine Linearabbildung kann hierbei z. B. innerhalb von einigen 10 Pikosekunden bis zu wenigen Nanosekunden durchgeführt werden, was mit derzeitigen Bauteilen zu bewerkstelligen ist.With the method according to the invention, it is possible to carry out a temporally high-resolution detection of photons. With suitable imaging elements, temporal resolutions of less than 10 ps, preferably even less than 5 ps, particularly preferably less than 3 ps, can be achieved. For this purpose, on the one hand a sufficient spatial resolution of the imaging element is required, on the other hand, a sufficiently rapid change in the acceleration in the y-direction. A linear illustration can here z. B. within a few 10 picoseconds to we nanoseconds, which can be done with current components.
Entscheidender Vorteil des Verfahrens ist jedoch, dass bei hoher Zeitauflösung ein längerer zeitlicher Verlauf der durchgeführten Messung auf dem Abbildungselement gespeichert wird. D. h., wenn beispielsweise bei einer Zeitauflösung von 5 ps eine Linearabbildung 3 ns dauert und 20 Linearabbildungen erstellt werden, ist am Ende der Aufnahmezeit die In formation aus einem Zeitraum von 60 ns bei der genannten Zeitauflösung auf dem Abbildungselement gespeichert. Der genannte Zeitraum muss nicht zusammenhängend sein. Dies hängt davon ab, ob die Linearabbildungen ohne Unterbrechung aufeinander folgen. In jedem Fall stehen Daten aus einem Zeitraum zur Verfügung, der gemessen an der Zeitauflösung lang, gemessen an der Zeitskala, auf der sich äußere Parameter verändern, jedoch sehr kurz ist. Daher sind die auf diese Weise gewonnenen Daten durch äußere Parameteränderungen unbeeinflusst.critical Advantage of the method, however, is that at high time resolution longer chronological course of the carried out Measurement is stored on the imaging element. That is, if for example, at a time resolution of 5 ps, a linear image 3 ns takes and 20 linear images are created, is at the end the recording time the information from a period of 60 ns at the time resolution mentioned stored on the imaging element. The mentioned period must not connected be. This depends depending on whether the linear illustrations follow each other without interruption. In any case, data from a period that is available measured by the time resolution long, as measured by the time scale on which external parameters change, however is very short. Therefore, the data obtained in this way are due to external parameter changes unaffected.
Es ist beim erfindungsgemäßen Verfahren unnötig, das entstandene Detektionsmuster mit der gleichen Geschwindigkeit auszuwerten, mit der es entsteht. Vielmehr kann eine Auswertung nach dem Ende der letzten Linearabbildung erfolgen. Dies stellt einen weiteren Vorteil dar, da ein kontinuierliches Auslesen auch mit moderner Elektronik nicht mit der angegebenen Geschwindigkeit möglich wäre.It is unnecessary in the process according to the invention, the to evaluate the resulting detection patterns at the same speed, with which it arises. Rather, an evaluation may be after the end the last linearab education done. This represents another Advantage is because a continuous reading even with modern Electronics would not be possible with the specified speed.
Das Verfahren vereinfacht sich deutlich, wenn die Beschleunigungen in den drei genannten Richtungen und die resultierenden Ablenkungen unabhängig voneinander erfolgen. Dies ist erfüllt, wenn die drei Richtungen näherungsweise orthogonal aufeinander stehen. Daher schließen in einer bevorzugten Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens die x-, y- und z-Richtung untereinander jeweils einen Winkel zwischen 80° und 100°, bevorzugt zwischen 89° und 91° ein.The Procedure simplifies significantly when the accelerations in the three directions mentioned and the resulting distractions independently done from each other. This is fulfilled when the three directions approximately orthogonal to each other. Therefore, in a preferred embodiment the method according to the invention the x, y and z directions in each case an angle between 80 ° and 100 °, preferably between 89 ° and 91 °.
Wie bereits erläutert, ist ein großer Vorteil des Verfahrens die Länge des Zeitraums, der aufgrund der Mehrzahl der Linearabbildungen auf dem Abbildungselement wiedergegeben werden kann. Die Länge dieses Zeitraums steigt mit der Anzahl der Linearabbildungen. Andererseits müssen die einzelnen „Zeilen” räumlich voneinander trennbar sein, was die Zahl der Linearabbildungen beschränkt. Daher ist es vorteilhaft, dass innerhalb eines Abbildungszeitraums zwischen 10 und 100, bevorzugt zwischen 20 und 70, besonders bevorzugt zwischen 30 und 60 Linearabbildungen erstellt werden.As already explained, is a big Advantage of the procedure the length of the period due to the majority of the linear illustrations can be reproduced the imaging element. The length of this Period increases with the number of linear figures. on the other hand have to the individual "lines" spatially from each other be separable, which limits the number of linear images. Therefore it is advantageous that within a mapping period between 10 and 100, preferably between 20 and 70, more preferably between 30 and 60 linear images are created.
Der Zeitraum, innerhalb dem eine Linearabbildung erstellt wird, kann beim erfindungsgemäßen Verfahren innerhalb eines relativ weiten Bereichs variiert werden. Jedoch steigt aufgrund der durch das Abbildungselement vorgegebenen räumlichen Auflösung durch eine kurze Linearabbildungsdauer die zeitliche Auflösung. Daher wird vorteilhaft eine Li nearabbildung jeweils innerhalb von 20 ps bis 20 ns, bevorzugt innerhalb von 1 ns und 5 ns, erstellt.Of the Period within which a linear drawing is created can in the method according to the invention be varied within a relatively wide range. however increases due to the spatial given by the imaging element resolution by a short linear imaging time the temporal resolution. Therefore Advantageously, a Li nearabbildung each within 20 ps to 20 ns, preferably within 1 ns and 5 ns.
Eine besondere Variante des Verfahrens ergibt sich, wenn die Reaktion eines Mediums auf eine Anregung untersucht wird. In diesem Fall lassen sich die Photonen, die vom Medium innerhalb eines kurzen Zeitraums, typischerweise von einigen Nanosekunden, nach der Anregung emittiert werden, mit hoher Zeitauflösung detektieren. Hierbei ist es besonders vorteilhaft, dass die Anregung eines Mediums synchronisiert mit wenigstens einer Linearabbildung durchgeführt wird. Hierbei bedeutet „synchronisiert” nicht zwangsläufig, dass Beginn oder Ende der Anregung und der Beginn der genannten Linearabbildung zeitlich zusammenfallen. In diesem Zusammenhang ist insbesondere zu berücksichtigen, dass innerhalb eines Zeitraums von 1 ps ein Photon ebenso wie ein elektrisches Signal in einer Schaltung lediglich 0,3 mm zurücklegt, weshalb die Laufzeiten hier unbedingt zu berücksichtigen sind. Eine diesbezügliche Abstimmung vorzunehmen ist jedoch eine Aufgabe, die der Fachmann aufgrund seines Wissens lösen kann. In jedem Fall bezeichnet der Begriff „synchronisiert” jedoch, dass der zeitliche Abstand zwischen Anfang (bzw. Ende) der Anregung und Anfang wenigstens einer Linearabbildung festgelegt und bekannt ist. Hierbei können auf eine Anregung eine oder mehrere Linearabbildungen folgen, d. h. es ist z. B. denkbar, jeweils eine Anregung mit jeder zweiten, dritten usw. Linearabbildung synchronisiert durchzuführen. Eine Möglichkeit der Synchronisation besteht darin, dass die Linearabbildung nach Beginn der Anregung gestartet wird, und zwar um die Laufzeit versetzt, die Photonen für die Strecke vom angeregten Medium zum Photomultiplier benötigen.A special variant of the method results when the reaction of a medium is examined for a suggestion. In this case let the photons be separated from the medium within a short time Period, typically of a few nanoseconds, after the stimulation be detected with high time resolution detect. Here is It is particularly advantageous that the excitation of a medium synchronized is performed with at least one linear image. Here, "synchronized" does not mean inevitably, the beginning or end of the suggestion and the beginning of the said Linearabbildung coincide in time. In this context is especially to consider within a 1 ps period, a photon as well as an electrical one Signal in a circuit travels only 0.3 mm, which is why the transit times to be considered here are. A vote on this However, to carry out a task that the expert due to his Can solve knowledge. In any case, however, the term "synchronized" means that the time interval between the beginning (or end) of the suggestion and beginning of at least one linearablet set and known is. Here you can following a suggestion one or more linear images, d. H. it is Z. B. conceivable, in each case an excitation with every second, third etc. synchronized linear imaging performed. A possibility the synchronization is that the linear representation after Start of the suggestion is started, and offset by the duration, the photons for need the distance from the excited medium to the photomultiplier.
Für besonders kurzzeitige Prozesse ist es in diesem Zusammenhang bevorzugt, dass synchronisiert mit jeder Linearabbildung jeweils eine Anregung des Mediums durchgeführt wird. Hierbei entspricht dann jede „Zeile” des Detektionsmusters den Emissionen, die als Reaktion auf eine einzelne Anregung erfolgt sind. Die Auswertung aller aufgenommenen Linearabbildungen kann für eine statistische Untersuchung genutzt werden.For special short-term processes it is preferred in this context that synchronized with each linear illustration each a suggestion of Medium performed becomes. Here then corresponds to each "line" of the detection pattern the Emissions that occur in response to a single stimulus are. The evaluation of all recorded linear images can for one be used for statistical analysis.
Aufgrund der sehr hohen Zeitauflösung und des damit verbundenen kurzen Abbildungszeitraums eignet sich das Verfahren insbesondere bei Anregungen, die ihrerseits sehr kurzzeitig erfolgen. Eine solche Anregung lässt sich insbesondere mittels eines gepulsten Lasers durchführen. Mit derartigen Lasern lassen sich Pulsdauern im Bereich von Femtosekunden (und darunter) erzeugen, wodurch sie hervorragend für kurzzeitige Anregungen geeignet sind.by virtue of the very high time resolution and the associated short imaging period is suitable the procedure especially for suggestions, which in turn very short time respectively. Such a suggestion leaves in particular by means of a pulsed laser perform. With Such lasers can be pulse durations in the range of femtoseconds (and below), which makes it ideal for short-term suggestions are.
Bevorzugt wird bei dem vorliegenden Verfahren ein Abbildungselement verwendet, das ein Phosphorelement umfasst. Hierbei bezeichnet Phosphorelement ein Bauteil, das beim Auftreffen von schnellen Elektronen zur Emission eines Lichtsignals angeregt wird. Derartige Phosphorelemente sind aus dem Stand der Technik bekannt und haben gewöhnlich einen zweidimensional-flächigen Aufbau. Sie zeigen typischerweise nach der Anregung durch Elektronen während einer Abklingzeit ein Nachleuchten, das während der für das Verfahren charakteristischen Abbildungszeiträume andauert. Auf diese Weise gewährleistet ein derartiges Element eine Speicherung des Detektionsmusters während des Abbildungszeitraums. Ein typisches Phosphorelement basiert auf der Verwendung von P43-Phosphor, bestehend aus Gadoliniumoxysulfid und Terbium. Bei Verwendung von P43-Phosphor tritt ein Nachleuchten von einigen Millisekunden auf.It is preferred in the present Verfah used an imaging element comprising a phosphor element. Here, phosphorus element refers to a component which is excited when hitting fast electrons to emit a light signal. Such phosphor elements are known from the prior art and usually have a two-dimensional surface structure. They typically exhibit afterglow after electron excitation during a decay time, which persists during the imaging periods characteristic of the process. In this way, such an element ensures storage of the detection pattern during the imaging period. A typical phosphor element is based on the use of P43 phosphor, consisting of gadolinium oxysulfide and terbium. When using P43 phosphor occurs afterglow of a few milliseconds.
Wenn mehrere Detektionsmuster nacheinander ausgelesen werden, ist es vorteilhaft, wenn keinerlei Reste eines vorhergehenden Musters aufgrund eines Nachleuchten des Phosphorelements mehr vorhanden sind, wenn ein neuer Abbildungsvorgang gestartet wird. Um eine besonders schnelle Abfolge der einzelnen Abbildungsvorgänge zu erreichen ist es daher bevorzugt, dass das verwendete Phosphorelement eine Abklingzeit von weniger als 20 μs aufweist. Ein Phosphorelement, das dieser Bedingung genügt, kann unter Verwendung von P46-Phosphor, bestehend aus Yttriumaluminat und Cer, hergestellt werden.If It is it to read out several detection patterns one after the other advantageous if no remains of a previous pattern due afterglow of the phosphor element are more present, if a new imaging process is started. For a particularly fast sequence the individual imaging processes Therefore, it is preferable that the phosphor element used has a cooldown of less than 20 μs. A phosphor element, that satisfies this condition, can be prepared using P46 phosphorus consisting of yttrium aluminate and cerium.
Um die Lichtstärke des Detektionsmusters für eine noch effizientere Auswertung zu erhöhen, ist in einer Weiterentwicklung des Verfahrens vorgesehen, dass der verwendete Photomultiplier eine Doppelschicht-Mikrokanalplatte umfasst. Mikrokanalplatten sind aus dem Stand der Technik bekannt. Diese umfassen eine Platte aus Halbleitermaterial, zwischen deren Stirnflächen im Betriebszustand eine Spannung anliegt. Die Platte ist durchsetzt von einer Vielzahl von Kanälen mit einem Durchmesser in der Größenordnung einiger um und einem Abstand zueinander in der gleichen Größenordnung. Jeder der Kanäle, die gegenüber der Senkrechten zu den Stirnflächen geneigt angeordnet sind, funktioniert als Sekundärelektronenvervielfacher. Eine derartige Mikrokanalplatte ermöglicht bei einer räumlichen Auflösung im μm-Bereich eine Elektronenvervielfachung um drei Zehnerpoten zen. Diese Vervielfachung kann auf sechs Zehnerpotenzen gesteigert werden, indem zwei Mikrokanalplatten hintereinander angeordnet werden, wodurch man eine Doppelschicht-Mikrokanalplatte erhält.Around the light intensity of the detection pattern for To increase an even more efficient evaluation is in a further development the method provided that the photomultiplier used a Double-layer microchannel plate includes. Microchannel plates are out known in the art. These include a plate of semiconductor material, between their faces in the operating state a voltage is applied. The plate is interspersed from a variety of channels with a diameter of the order of magnitude a few um and a distance from each other in the same order of magnitude. Each of the channels, the opposite the perpendicular to the faces are arranged inclined, works as a secondary electron multiplier. A allows such micro-channel plate at a spatial resolution in the μm range an electron multiplication by three tens of zenith. This multiplication can be increased to six orders of magnitude by adding two microchannel plates be arranged one behind the other, thereby forming a double-layer microchannel plate receives.
In vielen Fällen ist es erwünscht, selektiv Photonen einer bestimmten Frequenz zu detektieren. Daher wird in einer Weiterbildung des Verfahrens ein Interferenzfilter eingesetzt, den die Photonen vor der Detektion durchlaufen. Derartige Filter, die aufgrund von Interferenzeffekten nur Strahlung eines schmalen Frequenz- bzw. Wellenlängenbereichs durchlassen, sind aus dem Stand der Technik bekannt. Hiermit können zum einen Hintergrundemissionen herausgefiltert werden. Es ist hierdurch aber auch möglich, gezielt einen bestimmten Frequenzanteil der Emissionen eines Mediums zu untersuchen, z. B. die Emission, die zu einer bestimmten Art von Elektron-Loch-Rekombination gehört.In many cases is it desirable to selectively detect photons of a given frequency. Therefore In an embodiment of the method, an interference filter is used The photons pass through before detection. such Filters that due to interference effects only radiation of a narrow frequency or wavelength range let through, are known from the prior art. Hereby can to a background emissions are filtered out. It is hereby but also possible specifically a certain frequency component of the emissions of a medium to investigate, for. For example, the issue of a particular type owned by electron-hole recombination.
Um die Auswertung des auf dem Phosphorelement kurzzeitig gespeicherten Detektionsmusters noch effizienter zu gestalten, ist es in einer Weiterentwicklung des Verfahrens vorgesehen, dass anschließend an das Durchführen der Linearabbildungen ein Auslesen des Phosphorelements erfolgt. Ein solches Auslesen wird bevorzugt mittels einer CCD-Kamera durchgeführt, die an dem Phosphorelement angeordnet ist. Eine solche CCD-Kamera stellt das aufgenommene Muster bereits in digitaler Form zur Verfügung und eignet sich daher gut für die Einbindung in einen schnellen, digitalen Verarbeitungsprozess. Prinzipiell könnte das Auslesen auch mit einer konventionellen Kamera mit einer Photoplatte o. ä. erfolgen, ein solches Vorgehen ist jedoch nicht bevorzugt, da es insbesondere eine Weiterverarbeitung der aufgenommenen Daten erschwert.Around the evaluation of the temporarily stored on the phosphor element To make detection patterns even more efficient, it is in one Further development of the procedure provided that subsequent to the performing the linear images a readout of the phosphor element takes place. Such readout is preferably carried out by means of a CCD camera which is arranged on the phosphor element. Such a CCD camera provides the recorded pattern is already available in digital form and is therefore good for the integration into a fast, digital processing process. in principle could the reading also with a conventional camera with a photo plate o. However, such a procedure is not preferred, since it is particularly further processing of the recorded data difficult.
Im Weiteren können die ausgelesenen Daten auf einem Datenträger gespeichert werden. Hierbei bezeichnet Datenträger neben flüchtigen Speichern (wie z. B. dem Hauptspeicher eines PCs) auch sämtliche Typen von nicht-flüchtigen Speichern, wie Disketten, CDs, Magnetbänder, Festplatten, Flash-Speicher. Hierbei sind allerdings solche Speicher mit kurzen Schreib-Zugriffszeiten bevorzugt, da diese gewährleisten, dass die CCD-Kamera besonders schnell für eine weitere Aufnahme bereit ist. Die Speicherung der Daten ist für eine weitere Auswertung vorteilhaft und ermöglicht eine rechnergestützte Auswertung.in the Further can the read-out data is stored on a data medium. Hereby designated disk in addition to volatile Save (such as the main memory of a PC) all Types of non-volatile Save, such as floppy disks, CDs, magnetic tapes, hard drives, flash memory. However, these are memories with short write access times preferred as these ensure that the CCD camera is particularly fast for another shot is. The storage of the data is advantageous for a further evaluation and allows a computerized Evaluation.
Um einen noch effizienteren Ablauf zu gewährleisten, erfolgt in einer Weiterbildung des Verfahrens das Auslesen des Phosphorelements synchronisiert mit dem Durchführen der Linearabbildungen. Dies bedeutet, dass das Auslesen des Phosphorelements automatisch eingeleitet wird, und zwar um ein bestimmtes Zeitintervall nach dem Ende der letzten Linearabbildung. Im Sinne einer schnellen Verarbeitung sollte man das genannte Zeitintervall möglichst kurz einstellen, wobei die Genauigkeit der Einstellung gewährleisten muss, dass die letzte Linearaufnahme tatsächlich beendet ist. Diese Synchronisation ist zum einen wichtig, um sicherzustellen, dass die Abklingzeit des Phosphorelements nicht verstreicht, bevor ein Auslesen erfolgt ist. Zum anderen trägt dies bei mehreren zeitlich aufeinander folgenden Aufnahmen von Detektionsmustern dazu bei, unnötige Verzögerungen zu vermeiden.In order to ensure an even more efficient process, in a development of the method, the readout of the phosphor element is synchronized with the execution of the linear images. This means that the read-out of the phosphor element is automatically initiated by a certain time interval after the end of the last linear image. For a fast processing, the mentioned time interval should be set as short as possible, whereby the accuracy of the setting must ensure that the last linear recording is actually completed. This synchronization is important to ensure that the decay time of the phosphor element does not elapse before reading. On the other hand, this contributes to several temporally successive recordings of detection patterns, to avoid unnecessary delays.
Das beschriebene Verfahren lässt sich in besonderer Weise zur statistischen Untersuchung eines elektromagnetischen Feldes einsetzen. Hierbei wird wenigstens ein Verfahrensablauf zur zeitaufgelösten Detektion von Photonen durchgeführt. Bevorzugt ist jedoch, dass eine Mehrzahl von derartigen Verfahrensabläufen durchgeführt werden, jeweils unter Erstellen einer Mehrzahl von Linearabbildungen, von denen jede ein Detektionsmuster liefert. Die auf diese Weise erhaltene Mehrzahl von Detektionsmustern liefert eine breite Basis für eine statistische Auswertung. Zur Bestimmung der Korrelationsfunktion werden die ausgelesenen Signale rechnergestützt ausgewertet. Geeignet ist hier z. B. ein handelsüblicher PC. Das gesamte Verfahren muss hierbei innerhalb eines Zeitraums erfolgen, in dem erfahrungsgemäß die äußeren Parameter stabil bleiben. Zur Sammlung möglichst vieler Daten ist es daher bevorzugt, die einzelnen Detektionsmuster möglichst schnell hintereinander aufzunehmen.The described method leaves in a special way to the statistical investigation of an electromagnetic Insert field. Here, at least one procedure for time-resolved detection performed by photons. However, it is preferred that a plurality of such process sequences are carried out, each creating a plurality of linear images, of which each one provides a detection pattern. The obtained in this way Multiple detection patterns provide a broad basis for statistical Evaluation. To determine the correlation function, the read out Signals computer-aided evaluated. Suitable here is z. B. a commercial PC. The whole procedure This must be done within a period of time in which experience has shown that the external parameters to stay stable. To the collection as possible Often, it is therefore preferable to use the individual detection patterns preferably to record quickly in quick succession.
Mittels des beschriebenen Verfahrens kann insbesondere durch die rechnergestützte Auswertung eine Korrelationsfunktion des elektromagnetischen Feldes ermittelt werden. Die Ermittlung der Korrelationsfunktion aus den gegebenen Daten ist eine Aufgabe, die mit geeigneter Software von einem Rechner, z. B. einem PC, durchgeführt werden kann. In diesem Bereich ist das vorliegende Verfahren dem Stand der Technik, z. B. der HBT-Methode, weit überlegen, da Zeitauflösungen im einstelligen Pikosekunden-Bereich mit herkömmlichen Verfahren nicht zu erreichen sind.through of the described method can in particular by the computer-aided evaluation determines a correlation function of the electromagnetic field become. The determination of the correlation function from the given Data is a task that can be performed with suitable software from a computer, z. As a PC performed can be. In this area, the present method is the state the technique, for. B. the HBT method, far superior because time resolution in single-digit picosecond range can not be achieved with conventional methods are.
Das Verfahren zur Ermittlung der Korrelationsfunktion, ebenso wie die anderen erfin dungsgemäßen Verfahren, wird vorzugsweise mit einer Zeitauflösung von unter 10 ps, weiter bevorzugt unter 5 ps, besonders bevorzugt unter 3 ps durchgeführt.The Method for determining the correlation function, as well as the other methods according to the invention, is preferably with a time resolution of less than 10 ps, on preferably less than 5 ps, more preferably less than 3 ps.
Für die erfindungsgemäßen Verfahren kann eine modifizierte Streck-Kamera eingesetzt werden. Wie aus dem Stand der Technik bekannt, umfasst eine derartige Kamera einen Photomultiplier, Mittel zum Beschleunigen von aus dem Photomultiplier ausgelösten Elektronen in einer ersten Richtung (x-Richtung) sowie Mittel zum Beschleunigen der Elektronen in einer zweiten Richtung (y-Richtung) mit einer zeitlich veränderbaren Beschleunigung. Diese Elemente wurden bereits oben beschrieben. Weiterhin umfasst die Streak-Kamera ein Phosphorelement zur Detektion der Elektronen, das in x-Richtung vom Photomultiplier beabstandet ist und das sich in y-Richtung sowie in einer dritten Richtung (z-Richtung) erstreckt.For the inventive method A modified stretching camera can be used. How out known in the art, such a camera comprises a Photomultiplier, means for accelerating electrons released from the photomultiplier in a first direction (x-direction) and means for accelerating of the electrons in a second direction (y-direction) with a temporally changeable Acceleration. These elements have already been described above. Furthermore, the streak camera includes a phosphor element for the detection of electrons in the x-direction is spaced from the photomultiplier and that in the y-direction as well in a third direction (z-direction) extends.
Wie bereits erläutert, dürfen die genannten Richtungen nicht näherungsweise zusammenfallen und eine im Wesentlichen orthogonale Ausrichtung vereinfacht die Auswertung der Detektionsmuster. Daher schließen bei der beschriebenen Kamera die x-, y- und z-Richtung untereinander jeweils einen Winkel zwischen 10° und 170°, bevorzugt zwischen 80° und 100°, besonders bevorzugt zwischen 89° und 91° ein.As already explained, allowed to the directions do not approximate coincide and simplifies a substantially orthogonal alignment the evaluation of the detection patterns. Hence include the camera described the x-, y- and z-direction with each other each an angle between 10 ° and 170 °, preferably between 80 ° and 100 °, especially preferably between 89 ° and 91 °.
Die erfindungsgemäße Kamera ist jedoch in soweit modifiziert, als sie zusätzlich Mittel zum Beschleunigen der Elektronen in z-Richtung umfasst, die so ausgebildet sind, dass sie auf die Elektronen eine zeitlich veränderbare Beschleunigung ausüben können.The inventive camera however, is modified in so far as it additionally has means for accelerating of electrons in the z-direction, which are designed so that they can exert on the electrons a temporally variable acceleration.
In weiteren Ausgestaltungen umfasst die Streck-Kamera eine Doppelschicht-Mikrokanalplatte bzw. ein Phosphorelement mit einer Abklingzeit unter 20 μs, das bevorzugt P46-Phosphor umfasst.In In other embodiments, the stretching camera comprises a double-layer microchannel plate or a phosphorous element with a decay time below 20 μs, which is preferred Includes P46 phosphorus.
Die erfindungsgemäße Streck-Kamera kann in eine Messanordnung zur zeitaufgelösten Untersuchung eines elektromagnetischen Feldes integriert werden. Eine solche Messanordnung umfasst weiterhin eine CCD-Kamera zum Auslesen des Phosphorelementes. Es versteht sich, dass hierbei Bauformen mit eingeschlossen sind, bei denen die CCD-Kamera in die Streck-Kamera integriert ist. Um im Betriebszustand eine verzögerungsfreie Auswertung von Detektionsmustern besonders sicher zu gewährleisten, ist synchronisiert mit einer Veränderung der Beschleunigung der Elektronen in z-Richtung ein Auslesen des Phosphorelementes automatisch auslösbar. Dies bedeutet im Normalfall, dass eine automatisierte Steuerung gewährleistet, dass nach dem Durchfahren der Beschleunigung in z-Richtung bis zu einem Endwert, was dem Beginn der letzten Linearabbildung entspricht, sowie dem Verstreichen eines zusätzlichen Zeitraums für das Erstellen der letzten Linearabbildung, ein entsprechendes Auslesen erfolgt. Eine solche Steuerung kann in die Streck-Kamera integriert sein. Alternativ ist eine externe Steuerung denkbar, die sowohl die Beschleunigung der Elektronen in der Streck-Kamera, als auch den Auslesevorgang durch die CCD-Kamera steuert.The Inventive stretching camera can in a measuring arrangement for the time-resolved examination of an electromagnetic Field are integrated. Such a measuring arrangement further comprises a CCD camera for reading the phosphor element. It understands itself that in this case forms are included, in which the CCD camera is integrated into the stretching camera. To be in operating condition a delay-free To ensure particularly reliable evaluation of detection patterns is synchronized with a change the acceleration of the electrons in the z-direction a readout of the phosphor element automatically triggered. This usually means that an automated controller guaranteed that after passing through the acceleration in z-direction up to an end value, which corresponds to the beginning of the last linear representation, and the lapse of an additional period for the Create the last linear image, a corresponding readout he follows. Such a controller may be integrated into the drafting camera. Alternatively, an external control is conceivable that both the acceleration the electrons in the stretching camera, as well as the read-out process controlled by the CCD camera.
Wie bereits erläutert wurde, ist oft eine selektive Detektion von Photonen bestimmter Wellenlänge erwünscht. Zu diesem Zweck kann die Messanordnung durch einen Interferenzfilter ergänzt werden, der so zu dem Photomultiplier angeordnet ist, dass er diesen von Photonen anderer Frequenzbereiche abschirmt. Auch hierbei ist es wiederum denkbar, dass ein Interferenzfilter in die Streck-Kamera integriert ist.As already explained is often a selective detection of photons more specific Wavelength desired. To For this purpose, the measuring arrangement by an interference filter added which is arranged to the photomultiplier so that he shields from photons of other frequency ranges. Again, this is In turn, it is conceivable that an interference filter in the stretching camera is integrated.
Bevorzugt umfasst die Messanordnung auch einen Rechner zum Abspeichern und Auswerten von Daten, die von der CCD-Kamera übertragbar sind. Wie bereits erläutert wurde, wird die Auswertung der von der CCD-Kamera ausgelesenen Daten hierdurch wesentlich effizienter gestaltet.Preferably, the measuring arrangement also includes a computer for storing and evaluating data that can be transmitted by the CCD camera. As already explained, the evaluation of the data read by the CCD camera is thereby performed made much more efficient.
Im Folgenden werden Details der Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels mit Bezug auf die Figuren erläutert. Hierbei zeigtin the The following details of the invention with reference to an embodiment explained with reference to the figures. This shows
Bei
der in
Trifft
ein Photon
Zu
Anfang einer ersten Linearabbildung sind sowohl die y-Beschleunigung
als auch die z-Beschleunigung
auf einen Minimalwert eingestellt, wodurch der Auftreffpunkt in
einer ersten Position
Die
Streck-Kamera
Die
in
Zunächst wird
ein vertikaler Trigger über
eine erste Übertragungsverbindung
Das
Signal des vertikalen Triggers wird auch über eine zweite Übertragungsverbindung
Im
vorliegenden Fall werden 50 Linearabbildungen erstellt (in
Die
Daten der CCD-Kamera
Die Übertragungsverbindungen
Der
Aufnahme- und Lesevorgang dauert insgesamt unter 80 μs, wodurch
innerhalb von einer Sekunde über
600.000 Linearabbildungen erstellt werden können. Innerhalb einer Versuchsdauer,
innerhalb derer äußere Parameter
stabil bleiben und die typischerweise in der Größenordnung weniger Minuten
liegt, können
daher vom PC
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---|---|---|---|
DE200810022680 DE102008022680A1 (en) | 2008-05-07 | 2008-05-07 | Method for time-resolved detection of photons for analyzing processes of semiconductor structures, involves continuously or discontinuously changing acceleration of electrons in z-direction between beginnings of consecutive linear images |
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DE200810022680 Withdrawn DE102008022680A1 (en) | 2008-05-07 | 2008-05-07 | Method for time-resolved detection of photons for analyzing processes of semiconductor structures, involves continuously or discontinuously changing acceleration of electrons in z-direction between beginnings of consecutive linear images |
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DE (1) | DE102008022680A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112914505A (en) * | 2020-03-09 | 2021-06-08 | 南京理工大学 | Osteoporosis detection device and method based on optical method |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8181 | Inventor (new situation) |
Inventor name: STOLZ, HEINRICH, PROF. DR., 18059 ROSTOCK, DE Inventor name: BAYER, MANFRED, PROF. DR., 44227 DORTMUND, DE Inventor name: ASSMANN, MARC ALEXANDER, 44388 DORTMUND, DE Inventor name: BERSTERMANN, THORSTEN, 44137 DORTMUND, DE |
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R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: WENZEL & KALKOFF, DE Representative=s name: WENZEL & KALKOFF, 44227 DORTMUND, DE |
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R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: BERSTERMANN, THORSTEN, DE Free format text: FORMER OWNERS: ASSMANN, MARC ALEXANDER, 44388 DORTMUND, DE; BAYER, MANFRED, PROF. DR., 44227 DORTMUND, DE; BERSTERMANN, THORSTEN, 44137 DORTMUND, DE Effective date: 20120127 Owner name: BAYER, MANFRED, PROF. DR., DE Free format text: FORMER OWNERS: ASSMANN, MARC ALEXANDER, 44388 DORTMUND, DE; BAYER, MANFRED, PROF. DR., 44227 DORTMUND, DE; BERSTERMANN, THORSTEN, 44137 DORTMUND, DE Effective date: 20120127 Owner name: ASSMANN, MARC ALEXANDER, DE Free format text: FORMER OWNERS: ASSMANN, MARC ALEXANDER, 44388 DORTMUND, DE; BAYER, MANFRED, PROF. DR., 44227 DORTMUND, DE; BERSTERMANN, THORSTEN, 44137 DORTMUND, DE Effective date: 20120127 Owner name: BAYER, MANFRED, PROF. DR., DE Free format text: FORMER OWNER: MARC ALEXANDER ASSMANN,MANFRED BAYER,THORSTEN BERSTERMANN, , DE Effective date: 20120127 Owner name: BERSTERMANN, THORSTEN, DE Free format text: FORMER OWNER: MARC ALEXANDER ASSMANN,MANFRED BAYER,THORSTEN BERSTERMANN, , DE Effective date: 20120127 Owner name: ASSMANN, MARC ALEXANDER, DE Free format text: FORMER OWNER: MARC ALEXANDER ASSMANN,MANFRED BAYER,THORSTEN BERSTERMANN, , DE Effective date: 20120127 Owner name: MANFRED BAYER, DE Free format text: FORMER OWNER: MARC ALEXANDER ASSMANN,MANFRED BAYER,THORSTEN BERSTERMANN, , DE Effective date: 20120127 Owner name: THORSTEN BERSTERMANN, DE Free format text: FORMER OWNER: MARC ALEXANDER ASSMANN,MANFRED BAYER,THORSTEN BERSTERMANN, , DE Effective date: 20120127 Owner name: MARC ALEXANDER ASSMANN, DE Free format text: FORMER OWNER: MARC ALEXANDER ASSMANN,MANFRED BAYER,THORSTEN BERSTERMANN, , DE Effective date: 20120127 |
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R082 | Change of representative |
Representative=s name: KALKOFF & PARTNER PATENTANWAELTE, DE |
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Effective date: 20131203 |