DE102008016973B4 - Interferometer and method for operating an interferometer - Google Patents
Interferometer and method for operating an interferometer Download PDFInfo
- Publication number
- DE102008016973B4 DE102008016973B4 DE200810016973 DE102008016973A DE102008016973B4 DE 102008016973 B4 DE102008016973 B4 DE 102008016973B4 DE 200810016973 DE200810016973 DE 200810016973 DE 102008016973 A DE102008016973 A DE 102008016973A DE 102008016973 B4 DE102008016973 B4 DE 102008016973B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- polarization
- fiber
- depolarizer
- interferometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02041—Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
- G01B9/02044—Imaging in the frequency domain, e.g. by using a spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02012—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using temporal intensity variation
- G01B9/02014—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using temporal intensity variation by using pulsed light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/0207—Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer
- G01B9/02072—Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer by calibration or testing of interferometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/70—Using polarization in the interferometer
Abstract
Spektrales Interferometer zur Schichtdickenmessung mit einer Lichtquelle (12) zur Bereitstellung von Messlicht, von dem an wenigstens zwei optischen Grenzflächen eines Messobjekts wenigstens zwei Detektionslicht bildende Anteile teilweise zurückreflektiert werden, die wellenlängenabhängig miteinander interferieren, sowie mit einem Spektrometer (14), das zur Ermittlung einer spektralen Lichtintensitätsverteilung, die durch die Interferenz der beiden Anteile festgelegt wird, mit einer Detektoranordnung (44) ausgerüstet ist, die über einen optischen Pfad mit der Lichtquelle (12) gekoppelt ist, wobei der optische Pfad eine Faseranordnung (18, 20, 24; 18, 20, 124; 18, 20, 224) zur Lichtübertragung, einen mit der Faseranordnung (18, 20, 24; 18, 20, 124; 18, 20, 224) verbundenen Messkopf (32; 132) mit einem optischen System (34; 134) zur Auskopplung des Messlichts aus der Faseranordnung (18, 20, 24; 18, 20, 124; 18, 20, 224) und zur Einkopplung des Detektionslichts in die Faseranordnung (18, 20, 24; 18, 20, 124; 18, 20, 224) und eine der Faseranordnung (18, 20,...Spectral interferometer for measuring layer thickness with a light source (12) for providing measurement light from which at least two optical boundary surfaces of a measurement object at least two detection light forming portions are partially reflected back, which interfere with one another wavelength dependent, as well as with a spectrometer (14) for determining a spectral light intensity distribution determined by the interference of the two components is equipped with a detector arrangement (44) which is coupled via an optical path to the light source (12), the optical path comprising a fiber arrangement (18, 20, 24, 18 , 20, 124, 18, 20, 224) for transmitting light, a measuring head (32, 132) connected to the fiber arrangement (18, 20, 24, 18, 20, 124, 18, 20, 224) having an optical system (34 134) for coupling the measuring light out of the fiber arrangement (18, 20, 24, 18, 20, 124, 18, 20, 224) and for coupling the detection light into the fiber arrangement ng (18, 20, 24; 18, 20, 124; 18, 20, 224) and one of the fiber arrangement (18, 20, ...
Description
Die Erfindung betrifft ein spektrales Interferometer zur Schichtdickenmessung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Interferometers.The The invention relates to a spectral interferometer for measuring layer thickness according to the preamble of claim 1 and a method of operation such an interferometer.
Ein solches, vom Markt her bekanntes Interferometer, das auch als spektrales Interferometer bezeichnet wird, weist eine spektral breitbandige Lichtquelle, insbesondere eine Superlumineszenzdiode, auf. Das von der Lichtquelle bereitgestellte Messlicht wird beispielsweise zur Schichtdickenvermessung an einem Körper eingesetzt, der mit wenigstens einer optisch transparenten Beschichtung versehen ist. Das an den wenigstens zwei optischen Grenzflächen der Beschichtung reflektierte Detektionslicht wird in einem dem Interferometer zugehörigen Spektrometer spektral zerlegt. Dadurch kann eine im Wesentlichen von der Schichtdicke und dem Brechungsindex der Beschichtung abhängige Intensitätsverteilung für die unterschiedlichen Wellenlängen des am Körper reflektierten Messlichts ermittelt werden. Aus der ermittelten Intensitätsverteilung kann die Dicke der Beschichtung berechnet werden.One such, known from the market interferometer, which also as a spectral Interferometer, has a spectrally broadband Light source, in particular a superluminescent diode, on. That from The light source provided measuring light is, for example, the Layer thickness measurement on a body used with at least an optically transparent coating is provided. That to the reflected at least two optical interfaces of the coating Detection light is in a spectrometer associated with the interferometer spectrally decomposed. This allows a substantially of the layer thickness and the refractive index of the coating dependent intensity distribution for the different wavelengths of the body reflected Measuring light can be determined. From the determined intensity distribution The thickness of the coating can be calculated.
Die im Spektrometer ermittelte spektrale Intensitätsverteilung wird im Wesentlichen von der wellenlängenabhängigen, durch die Schichtdicke und den Brechungsindex der Beschichtung bedingten konstruktiven bzw. destruktiven Interferenz des an den wenigstens zwei optischen Grenzflächen reflektierten Lichts bestimmt.The The spectral intensity distribution determined in the spectrometer becomes essentially from the wavelength dependent, by the layer thickness and the refractive index of the coating-related constructive or destructive interference of the at least two optical interfaces reflected light determined.
Um eine günstige Handhabbarkeit des bekannten Interferometers zu gewährleisten, ist der optische Pfad zwischen der Lichtquelle und dem Messkopf zumindest bereichsweise als flexibler optischer Faserabschnitt ausgebildet. In Abhängigkeit von der räumlichen Lage des flexiblen Faserabschnitts weist der optische Pfad wellenlängen- und/oder polarisationsabhängige Polarisationsänderungseigenschaften auf. Bei dem bekannten Interferometer können Polarisationsänderungen des Messlichts/Detektionslichts, insbesondere durch den flexiblen Faserabschnitt, durch eine Kalibrierung ausgeglichen werden. Die Kalibrierung hat jedoch nur für eine vorgegebene räumliche Lage des optischen Pfads, insbesondere des flexiblen Faserabschnitts, Gültigkeit. Wird die räumliche Lage des optischen Pfads, insbesondere des flexiblen Faserabschnitts, nach durchgeführter Kalibrierung verändert, so ergeben sich aufgrund der veränderten Polarisationsänderungseigenschaften des optischen Pfads unerwünschte Messfehler für die Schichtdickenmessung.Around a cheap one To ensure manageability of the known interferometer is the optical path between the light source and the probe at least partially formed as a flexible optical fiber section. Dependent on from the spatial Location of the flexible fiber portion, the optical path wavelength and / or polarization dependent Polarization change characteristics. In the known interferometer polarization changes the measuring light / detection light, in particular by the flexible Fiber section, to be compensated by a calibration. The However, calibration is only for a given spatial Position of the optical path, in particular of the flexible fiber section, Validity. Will the spatial Position of the optical path, in particular of the flexible fiber section, after carried out Calibration changed, so arise due to the changed Polarization change properties the optical path undesirable Measurement error for the layer thickness measurement.
Die
Druckschriften
Bei
dem Interferometer, das aus der vorstehend erwähnten
Weitere
Interferometer sind aus den Druckschriften
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein spektrales Interferometer der eingangs genannten Art sowie ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Interferometers bereitzustellen, bei denen die Messgenauigkeit zumindest im Wesentlichen unabhängig von Einflüssen des optischen Pfads ist.The The object of the invention is a spectral interferometer of the type mentioned above and a method for operating a Such interferometer, where the measurement accuracy at least essentially independent of influences of the optical path.
Diese Aufgabe wird für das spektrale Interferometer durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.These Task is for the spectral interferometer by the features of claim 1 solved.
Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass im optischen Pfad wenigstens eine Komponente angeordnet ist, die für eine zumindest nahezu vollständige Eliminierung von wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationseinflüssen auf ein vom Spektrometer ermittelbares Messergebnis eingerichtet ist.According to the invention, it is provided in that at least one component is arranged in the optical path, the for an almost complete elimination from wavelength and / or polarization-dependent polarization effects set up for a measurable by the spectrometer measurement result is.
Die üblicherweise als Superlumineszenzdiode ausgebildete Lichtquelle des Interferometers stellt zumindest im Wesentlichen in einer Vorzugsrichtung linear polarisiertes Licht bereit. Die Polarisationsrichtung des Messlichts wird längs des optischen Pfads durch optische Grenzflächen und gegebenenfalls durch wellenlängen- und/oder polarisationsabhängige Polarisationsänderungen optischer Komponenten beeinflusst. Die wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungen einiger optischer Komponenten, insbesondere der optischen Grenzflächen an Fasersteckverbindern, können als konstant angesehen werden. Diese Polarisationsänderungen können durch Kalibrierung eliminiert werden. Üblicherweise ist ein Teil der Faseranordnung fest im Interferometer angeordnet, so dass auch die wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungen dieses Teils der Faseranordnung durch Kalibrierung aus dem Messergebnis eliminiert werden können.The light source of the interferometer, which is usually designed as a superluminescent diode, provides linearly polarized light at least substantially in a preferred direction. The polarization direction of the measurement light is along the optical path through optical interfaces and optionally by wavelength and / or polarization dependent ge polarization changes of optical components influenced. The wavelength and / or polarization dependent polarization changes of some optical components, especially the optical interfaces on fiber connectors, can be considered constant. These polarization changes can be eliminated by calibration. Usually, a part of the fiber arrangement is fixedly arranged in the interferometer, so that the wavelength- and / or polarization-dependent polarization changes of this part of the fiber arrangement can be eliminated by calibration from the measurement result.
Ein anderer Teil der Faseranordnung wird üblicherweise flexibel belassen, um eine einfache Ausrichtung des Messkopfs gegenüber dem Messobjekt zu ermöglichen. Dieser flexible Teil der Faseranordnung ist somit häufigen Änderungen der räumlichen Lage und damit den Einflüssen wellenlängen- und/oder polarisationsabhängiger Polarisationsänderungen unterworfen. Die Polarisationsänderungen werden insbesondere durch die Veränderung des Krümmungsradius und/oder der Krümmungsrichtung bei Ausübung von Druck-, Zug- und/oder Torsionskräften auf den flexiblen Faserabschnitt hervorgerufen. Sie führen zu einer Veränderung der spektralen Intensitätsverteilung an der Detektoranordnung, da die wellenlängenabhängige Aufspaltung des Detektionslichts an dem vorzugsweise reflektierend oder transmittierend ausgeführten Beugungsgitter üblicherweise polarisationsabhängig ist. Diese Polarisationsänderungen könnten zwar prinzipiell ebenfalls durch Kalibrierung eliminiert werden, dies ist jedoch nicht praktikabel, da ansonsten nach jeder Veränderung der räumlichen Lage des flexiblen Faserabschnitts eine Kalibrierung erfolgen müsste. Daher muss bislang der dadurch hervorgerufene Messfehler akzeptiert werden.One other part of the fiber assembly is usually left flexible, to allow a simple alignment of the measuring head with respect to the measured object. This flexible part of the fiber assembly is thus frequent changes the spatial Location and thus the influences wavelength and / or polarization-dependent polarization changes subjected. The polarization changes are especially through the change the radius of curvature and / or the direction of curvature exercise of compressive, tensile and / or torsional forces on the flexible fiber section caused. They lead to a change the spectral intensity distribution at the detector array, since the wavelength-dependent splitting of the detection light on the preferably reflective or transmissive designed diffraction grating usually polarization-dependent is. These polarization changes could Although in principle also be eliminated by calibration, However, this is not practical, otherwise after every change the spatial Location of the flexible fiber section would have to be calibrated. Therefore, must so far the measurement error caused thereby can be accepted.
Durch wenigstens eine im optischen Pfad angeordnete, erfindungsgemäße Komponente wird der Einfluss der wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungen des flexiblen Faserabschnitts zumindest nahezu eliminiert. Dadurch tritt nach erfolgter Kalibrierung des Interferometers trotz Veränderung der räumlichen Lage des flexiblen Faserabschnitts keine wesentliche Beeinträchtigung der Messgenauigkeit auf.By at least one arranged in the optical path, inventive component becomes the influence of the wavelength and / or polarization dependent polarization changes the flexible fiber portion at least almost eliminated. This occurs after calibration of the interferometer despite change the spatial Position of the flexible fiber section no significant impairment of Measurement accuracy on.
Vorteilhaft ist es, wenn das Beugungsgitter für eine zumindest im Wesentlichen polarisationsunabhängige Beugung des Detekti onslichts eingerichtet ist. Dadurch wird der Einfluss wellenlängen- und/oder polarisationsabhängiger Polarisationsänderungen, die im Wesentlichen durch die Änderung der räumlichen Lage des flexiblen Faserabschnitts beeinflusst werden, im Hinblick auf die spektrale Intensitätsverteilung im Spektrometer zumindest nahezu vollständig ausgeschaltet. Ein polarisationsunabhängiges Beugungsgitter beugt das Licht unabhängig von dessen Polarisierung. Vorzugsweise ist das Beugungsgitter als Echellegitter ausgebildet. Besonders bevorzugt weist das Beugungsgitter ein Verhältnis von minimaler zu maximaler Beugungseffizienz für unterschiedlich linear polarisierte Strahlenbündel auf, das für den relevanten Spektralbereich größer 80 Prozent, insbesondere größer 95 Prozent, ist.Advantageous it is when the diffraction grating for one at least substantially polarization independent Diffraction of Detekti onslichts is set up. This will be the Influence wavelength and / or polarization-dependent Polarization changes, essentially by changing the spatial Position of the flexible fiber section to be influenced, in terms on the spectral intensity distribution at least almost completely switched off in the spectrometer. A polarization-independent diffraction grating bows the light independently from its polarization. Preferably, the diffraction grating is as Echelle grid formed. Particularly preferably, the diffraction grating a relationship from minimum to maximum diffraction efficiency for different linearly polarized Radiation beam on, that for the relevant spectral range greater than 80 percent, in particular greater than 95 percent, is.
In weiterer Ausgestaltung weist die Faseranordnung wenigstens einen Faserabschnitt auf, der als polarisationserhaltende Faser ausgebildet ist. Vorzugsweise ist der flexible Faserabschnitt aus der polarisationserhaltenden Faser hergestellt, so dass eine Änderung der räumlichen Lage dieses Faserabschnitts keine Veränderung der wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungseigenschaften bewirkt. Somit behält eine für den optischen Pfad vorgenommene Kalibrierung auch nach Lageveränderung des flexiblen Faserabschnitts ihre Gültigkeit und gewährleistet ein vorteilhaftes Messergebnis.In In another embodiment, the fiber arrangement has at least one Fiber section, which is formed as a polarization-maintaining fiber is. Preferably, the flexible fiber portion is made of the polarization-maintaining Made of fiber, making a change the spatial Location of this fiber section no change in the wavelength and / or polarization-dependent Polarization change properties causes. Thus reserves one for the optical path calibration also after change of position the flexible fiber section is valid and guaranteed a favorable measurement result.
Vorzugsweise ist im optischen Pfad wenigstens ein spektraler Depolarisator angeordnet. Die Aufgabe eines Depolarisators besteht darin, polarisiertes, also eine Polarisationsrichtung aufweisendes, Licht derart zu modifizieren, dass anschließend zumindest nahezu keine Vorzugsrichtung mehr vorliegt. Der Einfluss der Polarisationsrichtung auf die spektrale Intensitäts verteilung an der Detektoranordnung beruht maßgeblich auf der Wechselwirkung des linear polarisierten Lichts, wie es von der Lichtquelle bereitgestellt wird, mit dem optischen Pfad, dessen Komponenten wellenlängen- und/oder polarisationsabhängige Polarisationsänderungen hervorrufen, sowie auf der polarisationsabhängigen Beugung des Beugungsgitters. Veränderungen in der Polarisationsrichtung des am Beugungsgitter eintreffenden Lichts führen zu unerwünschten Intensitätsabweichungen an der Detektoranordnung. Findet hingegen an einer beliebigen Stelle im optischen Pfad vor dem Beugungsgitter eine Depolarisierung des Lichts statt, so können hierdurch die, insbesondere bei Form- und/oder Lageänderungen im optischen Pfad auftretenden, wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungen auf das Mess- und Detektionslicht zumindest so weit reduziert werden, dass sie für das Messergebnis vernachlässigbar sind.Preferably At least one spectral depolarizer is arranged in the optical path. The task of a depolarizer is polarized, ie having a polarization direction to modify light in such a way that subsequently at least almost no preferred direction is present. The influence of the polarization direction on the spectral intensity distribution at the detector assembly is based largely on the interaction of the linearly polarized light as provided by the light source is, with the optical path whose components wavelength and / or polarization dependent polarization changes and on the polarization-dependent diffraction of the diffraction grating. changes in the polarization direction of the incident light at the diffraction grating to lead too unwanted intensity variations at the detector arrangement. On the other hand, it can be found anywhere in the optical path in front of the diffraction grating, a depolarization of the Light instead, so can as a result, in particular in the case of changes in shape and / or position occurring in the optical path, wavelength and / or polarization-dependent polarization changes be reduced to the measurement and detection light at least so far that she for the measurement result is negligible.
Vorteilhaft ist der Depolarisator als Lyot-Depolarisator ausgebildet. Ein Lyot-Depolarisator kann durch Anordnung eines doppelbrechenden Kristalls zwischen zwei Lichtfaserabschnitte verwirklicht werden. Durch die Doppelbrechung des Kristalls findet eine zumindest nahezu vollständige Depolarisation des eintreffenden polarisierten Lichts statt.Advantageous the depolarizer is designed as a Lyot depolarizer. A Lyot depolarizer can by arranging a birefringent crystal between two Lichtfaserabschnitte be realized. Due to the birefringence of the crystal finds an at least nearly complete depolarization of the incoming polarized light.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist der Lyot-Depolarisator als Anordnung von zwei polarisationserhaltenden Faserabschnitten realisiert, die im Hinblick auf ihre Polarisationsachsen um 45 Grad zueinander verdreht angeordnet sind. Dadurch kann eine Depolarisation des Messlichts oder des Detektionslichts mit einer minimalen Anzahl von optischen Grenzflächen erreicht werden.In a preferred embodiment the Lyot depolarizer realized as an array of two polarization-maintaining fiber sections, which are arranged rotated by 45 degrees with respect to their polarization axes to each other. Thereby, a depolarization of the measuring light or the detection light can be achieved with a minimum number of optical interfaces.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass der Depolarisator als Hanle-Depolarisator ausgebildet ist. Ein Hanle-Depolarisator besteht aus zwei mit optischem Kontakt verbundenen Keilen aus optisch transparentem Material, von denen einer doppelbrechend ist und dadurch die Polarisationszustände des eintretenden Lichts an unterschiedlichen Stellen unterschiedlich beeinflusst, wodurch die gewünschte Depolarisation eintritt. Der zweite Keil dient zur Kompensation der prismatischen Ablenkung.In Another embodiment of the invention is provided that the depolarizer is designed as a Hanle depolarizer. A Hanle depolarizer consists of two optical wedges connected by optical contact transparent material, one of which is birefringent and thereby the polarization states the incoming light at different locations different influenced, thereby achieving the desired Depolarization occurs. The second wedge is used for compensation the prismatic distraction.
Vorzugsweise umfasst der Depolarisator eine optisch aktive und dispersive Substanz. Linear polarisiertes Messlicht, das die optisch aktive und dispersive Substanz durchläuft, wird im Hinblick auf seine Polarisationsrichtung verdreht. Benachbarte Wellenlängen des von der Lichtquelle bereitgestellten Messlichts werden in der optischen Substanz aufgrund deren ausgeprägter wellenlängen- und/oder polarisationsabhängiger Polarisationsänderungseigenschaften mit unterschiedlichem Betrag hinsichtlich ihrer Polarisationsrichtung verdreht. Dadurch kommt es bei geeigneter Auslegung der optischen Weglänge in der optisch aktiven Substanz zu einer stark unterschiedlichen Beeinflussung der Polarisationsrichtungen für Lichtbündel benachbarter Wellenlängen. Dadurch wird über einen gewissen Wellenlängenbereich eine ursprünglich bestehende Polarisationsrichtung des eintretenden Lichts in eine im Wesentlichen gleichverteilte Ausrichtung der Lichtwellen in sämtliche Vorzugsrichtungen gewandelt, was einer zumindest nahezu vollständigen Depolarisierung des Lichts entspricht.Preferably The depolarizer comprises an optically active and dispersive substance. Linear polarized measuring light, which is the optically active and dispersive Substance goes through, is rotated with respect to its polarization direction. Neighboring wavelengths of the Measuring light provided by the light source are in the optical Substance due to its more pronounced wavelength- and / or polarization-dependent Polarization change properties with different amount in terms of their polarization direction twisted. This results in a suitable design of the optical path length in the optically active substance to a very different influence the polarization directions for light beam neighboring wavelengths. This will over a certain wavelength range an original one existing polarization direction of the incoming light in a substantially equally distributed alignment of the light waves in all Preferred directions converted what an at least almost complete depolarization corresponds to the light.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist der Depolarisator als elektrooptischer, nichtlinearer Wellenleiter, insbesondere als Pockels-Zelle, ausgebildet. Bei dem elektrooptischen, nichtlinearen Wellenleiter handelt es sich um einen doppelbrechenden Kristall, an den mittels Elektroden ein elektrisches Feld angelegt werden kann. Dadurch ist eine Beeinflussung der Doppelbrechungseigenschaften des Kristalls und somit der Polarisationsrichtung des hindurchtretenden Lichts möglich. Durch Veränderung des angelegten elektrischen Feldes kann somit die Polarisationsrichtung des durch den Kristall geleiteten Lichts verändert werden. Bei Anlegen eines elektrischen Feldes mit entsprechender Anregungsfrequenz ist es somit möglich, das mit einer linearen Polarisierung von der Lichtquelle abgegebene Licht zeitlich derart zu modulieren, dass am Ausgang des elektrooptischen, nichtlinearen Wellenleiters zumindest nahezu keine Polarisationsrichtung mehr vorliegt. Besonders bevorzugt wird ein derartiger Depolarisator als Pockels-Zelle ausgeführt, bei der an ein Kristallgitter ohne Inversionssymmetrie, insbesondere an Lithiumniobat, ein schnell wechselndes elektrisches Feld angelegt wird.In Another embodiment of the invention is the depolarizer as electro-optical, Non-linear waveguide, in particular as a Pockels cell formed. The electro-optical, nonlinear waveguide is around a birefringent crystal, by means of electrodes an electric field can be applied. This is an influence the birefringence properties of the crystal and thus the polarization direction the passing light possible. By changing the applied electric field can thus the polarization direction of the light passed through the crystal. When creating a electric field with corresponding excitation frequency is thus possible that emitted from the light source with a linear polarization To modulate light in time such that at the output of the electro-optical, nonlinear waveguide at least almost no polarization direction more present. Particularly preferred is such a depolarizer executed as a Pockels cell, in the case of a crystal lattice without inversion symmetry, in particular to lithium niobate, a rapidly changing electric field applied becomes.
Bei einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist der Depolarisator als elektrisch zwischen unterschiedlichen Polarisationszuständen umschaltbare Flüssigkristallzelle ausgebildet. In der Flüssigkristallzelle ist eine nematische Flüssigkeit als Dielektrikum zwischen zwei mit Elektroden versehenen Glasplatten angeordnet. Die Moleküle der Flüssigkeit weisen eine vorgebbare Ausrichtung auf, die unter Einfluss eines elektrischen Feldes veränderbar ist. Somit können doppelbrechende Eigenschaften der Flüssigkristallzelle durch Anlegen eines elektrischen Signals beeinflusst werden. Hierdurch ist es möglich, in sehr rascher Abfolge die Polarisationsrichtung der durch die Flüssigkristallzelle hindurchtretenden Lichtbündel zu verändern, wodurch am Ausgang der Flüssigkristallzelle Licht zur Verfügung gestellt werden können, das im zeitlichen Mittel keine erkennbare Polarisationsrichtung mehr aufweist.at An advantageous development of the invention is the depolarizer as electrically switchable between different polarization states liquid crystal cell educated. In the liquid crystal cell is a nematic liquid as a dielectric between two glass plates provided with electrodes arranged. The molecules point the liquid a predeterminable orientation, under the influence of an electric Field changeable is. Thus, you can birefringent properties of the liquid crystal cell by application be influenced by an electrical signal. This is it possible, in very fast sequence the polarization direction of the liquid crystal cell passing light beam to change, causing the output of the liquid crystal cell Light available can be provided that on average over time no discernible polarization direction has more.
In weiterer Ausgestaltung ist vorgesehen, dass der Depolarisator als schnell rotierendes Polarisationselement ausgebildet ist. Die mit linearer Polarisierung auf das schnell rotierende Polarisationselement auftreffenden Lichtbündel werden durch die Rotation des Polarisationselements zu unterschiedliche Zeitpunkten unterschiedlich stark verdreht, so dass am Ausgang des Depolarisators Licht ohne Polarisierung austritt.In Another embodiment provides that the depolarizer as fast rotating polarization element is formed. With linear polarization on the fast rotating polarization element incident light beam become different times due to the rotation of the polarization element twisted differently strong, so that at the output of the depolarizer Light exits without polarization.
Vorteilhaft ist es, wenn im optischen Pfad, insbesondere am Messkopf, ein Faradayrotator, insbesondere für eine Polarisationsrotation um 45 Grad, angeordnet ist. Der Messkopf ist am Ende des flexiblen Faserabschnitts angebracht. Der flexible Faserabschnitt beeinflusst aufgrund seiner wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungseigenschaften bei Änderungen der räumlichen Lage die Polarisationsrichtung des Messlichts und/oder des Detektionslichts. Da am Messkopf sowohl eine Weiterleitung und Auskopplung des Messlichts in einer ersten Richtung als auch eine Einkopplung und Weiterleitung des vom Messgegenstand reflektierten Detektionslichts in einer der ersten Richtung entgegengesetzten zweiten Richtung stattfindet, passiert das von der Lichtquelle bereitgestellte Licht den am Messkopf angebrachten Faradayrotator zweifach. Dabei findet im Faradayrotator jeweils eine Rotation der Polarisationsrichtung der hindurchtretenden Lichtbündel um 45 Grad statt. Somit wird gewährleistet, dass eine beispiels weise für das Messlicht vorliegende Polarisationsrichtung, die im flexiblen Faserabschnitt des Fasersystems auf Grund dessen räumlicher Lage nur gering verändert wird, auf dem Rückweg in Richtung des Spektrometers als Detektionslicht entsprechend stärker verändert wird. Dadurch wird gewährleistet, dass im Mittel unabhängig von der räumlichen Lage des flexiblen Faserabschnitts aufgrund der diametral gegensätzlichen wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungseigenschaften des flexiblen Faserabschnitts für das zu übertragende Licht am Spektrometer bei gleichem Messgegenstand stets die gleiche spektrale Intensitätsverteilung vorliegt.It is advantageous if in the optical path, in particular on the measuring head, a Faraday rotator, in particular for a polarization rotation by 45 degrees, is arranged. The measuring head is attached to the end of the flexible fiber section. Due to its wavelength-dependent and / or polarization-dependent polarization change properties, the flexible fiber section influences the polarization direction of the measuring light and / or the detection light when the spatial position changes. Since the measuring head both a forwarding and coupling of the measuring light in a first direction and a coupling and forwarding of the reflected detection light from the measurement object takes place in a second direction opposite the first direction, the light provided by the light source passes the mounted on the measuring head Faradayrotator two times. In each case, a rotation of the polarization direction of the light beams passing through takes place in the Faraday rotator by 45 degrees. Thus, it is ensured that an example, for the measuring light present polarization direction in the flexible fiber portion of the fiber system due to the sen spatial position is only slightly changed on the way back in the direction of the spectrometer as a detection light is changed accordingly stronger. This ensures that on average regardless of the spatial position of the flexible fiber section due to the diametrically opposed wavelength and / or polarization-dependent polarization change properties of the flexible fiber portion for the light to be transmitted to the spectrometer for the same subject of measurement is always the same spectral intensity distribution.
Für ein Verfahren wird die zu Grunde liegende Aufgabe mit den Merkmalen des Anspruchs 17 gelöst. Dabei ist vorgesehen, dass die Lichtquelle zyklisch aktiviert und deaktiviert wird, wobei ein Verhältnis von Aktivierungsdauer und Deaktivierungsdauer derart eingestellt wird, dass eine Beleuchtungsintensität auf der Detektoreinrichtung in einem vorgebbaren Intervall liegt. Durch diese Helligkeitsregelung für die Lichtquelle kann eine Über- oder Unterbelichtung der Detektoranordnung bei Lageänderung des Messkopfs und gegebenenfalls dabei auftretenden wellenlängen- und/oder polarisationsabhängigen Polarisationsänderungen ausgeglichen werden. Somit ist gewährleistet, dass die Detektoranordnung immer in vorteilhafter Weise beleuchtet wird.For a procedure becomes the underlying task with the features of the claim 17 solved. It is provided that the light source is activated cyclically and is deactivated, with a ratio set by activation duration and deactivation duration is that an illumination intensity on the detector device lies within a predefinable interval. Through this brightness control for the Light source can be an over- or underexposure of the detector assembly upon change of position of the measuring head and, where appropriate, occurring wavelength and / or polarization-dependent polarization changes be compensated. This ensures that the detector arrangement always illuminated in an advantageous manner.
In Ausgestaltung des Verfahrens ist vorgesehen, dass die zyklische Ansteuerung der Lichtquelle mit Pulsweitenmodulation vorgenommen wird. Dabei wird die Lichtquelle vorzugsweise mit einem Rechtecksignal beaufschlagt, dessen Einschaltdauer bzw. Ausschaltdauer zur Durchführung der Leistungsanpassung der Lichtquelle variiert werden kann.In Embodiment of the method is provided that the cyclic Control of the light source with pulse width modulation made becomes. In this case, the light source is preferably with a square wave signal acted upon, the duty cycle or off duration for performing the Power adjustment of the light source can be varied.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt. Dabei zeigt:embodiments The invention are illustrated in the drawing. Showing:
Ein
in der
Die
erste Lichtleitfaser
Das
Lichtleitkabel
Der
Messkopf
Ein
vom Messkopf
Im
Spektrometer
Die
Lichtquelle
Da
die erste und zweite Lichtleitfaser
Demgegenüber ist
das Lichtkabel
Durch
die Verwendung einer polarisationserhaltenden Faser für das Lichtkabel
Bei
einer nicht dargestellten Ausführungsform
der Erfindung sind sämtliche
Lichtleitfasern des optischen Pfads zwischen Lichtquelle
Dem
in
Auf
den Glasstab
Im
Gegensatz zur Ausführungsform
gemäß der
Bei
der Ausführungsform
gemäß der
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200810016973 DE102008016973B4 (en) | 2008-04-03 | 2008-04-03 | Interferometer and method for operating an interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200810016973 DE102008016973B4 (en) | 2008-04-03 | 2008-04-03 | Interferometer and method for operating an interferometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102008016973A1 DE102008016973A1 (en) | 2009-10-29 |
DE102008016973B4 true DE102008016973B4 (en) | 2009-12-31 |
Family
ID=41111487
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200810016973 Active DE102008016973B4 (en) | 2008-04-03 | 2008-04-03 | Interferometer and method for operating an interferometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102008016973B4 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102021118555A1 (en) | 2021-07-19 | 2023-01-19 | Heidelberg Engineering Gmbh | Interferometer for performing optical coherence tomography |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109490222A (en) * | 2018-12-27 | 2019-03-19 | 核工业北京地质研究院 | A kind of polarization spectrum device and its measurement method |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999019693A1 (en) * | 1997-10-09 | 1999-04-22 | Geosensor Corporation | Interferometric sensing apparatus |
DE10246798B3 (en) * | 2002-10-08 | 2004-06-09 | Robert Bosch Gmbh | Interferometric measuring device for surface examination with setting device for determining optical path difference between 2 partial beams in modulation interferometer |
WO2006028926A1 (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Carl Zeiss Meditec Inc. | Patterned spinning disk based optical phase shifter for spectral domain optical |
DE69926749T2 (en) * | 1998-04-03 | 2006-06-08 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University, Stanford | FOLDED SAGNAC SENSOR ARRANGEMENT |
US20070133002A1 (en) * | 2005-10-11 | 2007-06-14 | Duke University | Systems and methods for endoscopic angle-resolved low coherence interferometry |
-
2008
- 2008-04-03 DE DE200810016973 patent/DE102008016973B4/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999019693A1 (en) * | 1997-10-09 | 1999-04-22 | Geosensor Corporation | Interferometric sensing apparatus |
DE69926749T2 (en) * | 1998-04-03 | 2006-06-08 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University, Stanford | FOLDED SAGNAC SENSOR ARRANGEMENT |
DE10246798B3 (en) * | 2002-10-08 | 2004-06-09 | Robert Bosch Gmbh | Interferometric measuring device for surface examination with setting device for determining optical path difference between 2 partial beams in modulation interferometer |
WO2006028926A1 (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Carl Zeiss Meditec Inc. | Patterned spinning disk based optical phase shifter for spectral domain optical |
US20070133002A1 (en) * | 2005-10-11 | 2007-06-14 | Duke University | Systems and methods for endoscopic angle-resolved low coherence interferometry |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102021118555A1 (en) | 2021-07-19 | 2023-01-19 | Heidelberg Engineering Gmbh | Interferometer for performing optical coherence tomography |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102008016973A1 (en) | 2009-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69636019T2 (en) | Integrated optical interferometric sensor | |
DE60225023T2 (en) | Determination of an optical property using superimposed and delayed signals | |
DE60219763T2 (en) | OPTICAL DELAYING LINE | |
DE60216752T2 (en) | FIBER OPTIC RETROFIT POLARIMETRY | |
WO2003073041A1 (en) | Low-coherence inferometric device for light-optical scanning of an object | |
DE4037077A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR FIBER OPTICAL FORCE MEASUREMENT | |
EP2856096B1 (en) | Optical mesuring system with polarisation compensation as well as corresponding method | |
DE102008023777B4 (en) | Device for spatially resolved temperature measurement | |
DE102019205527A1 (en) | Diffractive biosensor | |
EP1262752A2 (en) | Fiber polarimeter, its use, and polarimetric method | |
DE102008016973B4 (en) | Interferometer and method for operating an interferometer | |
DE102010052614B4 (en) | Sensor, system and method for Kaft- and / or torque measurement | |
DE69630186T2 (en) | Fiber optic magnetic field sensor | |
DE2854064C2 (en) | Method and device for measuring magneto-optic anisotropy | |
DE202018006722U1 (en) | Distance measuring arrangement for determining a distance to an object | |
DE112014003851B4 (en) | Sensor assembly | |
EP1368667B1 (en) | Method and device for current measurement by means of fibre-optic in-line sagnac interferometer and phase modulator suitable for the above | |
DE102015205699B4 (en) | Spectrometer with single mode waveguide | |
EP2618190B1 (en) | Method for characterising mode runtime differences in optical multimode fibres | |
DE4317551C2 (en) | Arrangement for measuring the concentration of optically active substances dissolved in a solution | |
DE19955978C2 (en) | Electro-optical probe for an oscilloscope that measures a signal waveform | |
DE4133128A1 (en) | Determining optical activity esp. of liq. medium - using optical fibres for stokes parameter determination which are optically contacted with the medium | |
CH701504A2 (en) | Integrated optical sensor with external liquid crystal modulator. | |
DE4419525A1 (en) | Modulator in integrated spectral analyser for e.g. material stress analysis | |
DE102012104884A1 (en) | Fiber-optic force measurement device has optical evaluation unit for evaluating the change of Bragg wavelength for fiber Bragg lattice based on to-be-measured force, and determining unit for determining to-be-measured force |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition |