DE102007001281A1 - Electronic measuring instrument for representation of signal processing, has trigger system and variable functions for connection of low frequencies and high frequencies - Google Patents
Electronic measuring instrument for representation of signal processing, has trigger system and variable functions for connection of low frequencies and high frequencies Download PDFInfo
- Publication number
- DE102007001281A1 DE102007001281A1 DE102007001281A DE102007001281A DE102007001281A1 DE 102007001281 A1 DE102007001281 A1 DE 102007001281A1 DE 102007001281 A DE102007001281 A DE 102007001281A DE 102007001281 A DE102007001281 A DE 102007001281A DE 102007001281 A1 DE102007001281 A1 DE 102007001281A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- reject
- electronic measuring
- low
- input signal
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/0218—Circuits therefor
- G01R13/0254—Circuits therefor for triggering, synchronisation
Abstract
Description
Die vorliegende Erfindungen betrifft ein elektronisches Messgerät zur Darstellung des zeitlichen Verlaufs von Signalen, das ein Triggersystem beinhaltet. Das Messgerät weist eine einstellbare Funktion zum Ausschluss von niedrigen Frequenzen (LF-Reject) sowie eine einstellbare Funktion zum Ausschluss von hohen Frequenzen (HF-Reject) bei der Triggerung auf. Sie betrifft insbesondere ein Oszilloskop mit diesen Funktionen.The The present invention relates to an electronic measuring device for representing the time course of signals, which is a trigger system includes. The meter has an adjustable function for the exclusion of low frequencies (LF reject) as well as an adjustable Function for the exclusion of high frequencies (HF-Reject) at the Triggering on. It particularly relates to an oscilloscope with these Functions.
In
Oszilloskopen werden typischerweise Triggerfunktionen angeboten,
bei denen die Bandbreite des Eingangssignals des Triggersystems
begrenzt werden kann. Dabei werden je nach Anwendung hohe oder niedrige
Frequenzen von der Triggerung ausgeschlossen. Bezeichnet werden
diese Triggerarten mit LF-Reject beziehungsweise HF-Reject. Dabei
werden folgende Funktionen realisiert:
Bei der Triggerungsfunktion „LF-Reject"
(Niedrigfrequenz-Abweisung) werden die niedrigen Frequenzen ausgeschlossen.
D. h. vor dem Triggersystem ist ein Hochpass-Filter angeordnet.
Bei der Triggerungsfunktion „HF-Reject" (Hochfrequenz-Abweisung)
werden die hohen Frequenzen ausgeschlossen. D. h. vor dem Triggersystem
ist ein Tiefpass-Filter angeordnet. Folglich werden vor dem Triggersystem
sowohl ein einstellbarer Hochpass als auch ein einstellbarer Tiefpass
benötigt.Oscilloscopes typically provide triggering functions that limit the bandwidth of the trigger system input signal. Depending on the application, high or low frequencies are excluded from triggering. These trigger types are designated with LF-Reject or HF-Reject. The following functions are realized:
The low-frequency rejection trigger function excludes the low frequencies, ie a high-pass filter is placed in front of the trigger system, and the high frequency rejects the high-frequency rejection function locked out. Ie. In front of the trigger system, a low-pass filter is arranged. Consequently, both an adjustable high pass and an adjustable low pass are required before the trigger system.
Bei
digitalen Triggersystem ist die direkte Realisierung dieser Filter
mit sehr großem Aufwand verbunden, so dass hier meist auf
sehr einfache Filter (IIR-Filter) zurückgegriffen wird.
Diesbezüglich ist aus der Patentschrift
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein verbessertes Messgerät, insbesondere Oszilloskop, bereitzustellen, welches eine Hochpass- bzw. Tiefpass-Filterung für die Triggerung in besonders einfacher Weise realisiert, ohne dabei die Filterfunktion selbst wesentlich einzuschränken.The Object of the present invention is therefore an improved Measuring device, in particular oscilloscope to provide, which high-pass or low-pass filtering for triggering realized in a particularly simple manner, without the filter function to significantly limit itself.
Diese Aufgabe wird durch ein elektronisches Messgerät gemäß dem unabhängigen Anspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen definiert.These Task is performed by an electronic measuring device according to the independent claim 1 solved. Advantageous developments are defined in the subclaims.
In einer ersten Ausführungsform der Erfindung ist ein elektronisches Messgerät zur Darstellung des zeitlichen Verlaufs von Signalen, das ein Triggersystem beinhaltet, wobei das Messgerät eine einstellbare Funktion zum Ausschluss von niedrigen Frequenzen (LF-Reject) sowie eine einstellbare Funktion zum Ausschluss von hohen Frequenzen (HF-Reject) bei der Triggerung aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass beide Funktionen (LF-Reject, HF-Reject) unter Verwendung eines einzelnen bzw. einzigen umschaltbaren digitalen Filters realisiert werden.In A first embodiment of the invention is an electronic one Measuring device for displaying the time course of signals, which includes a trigger system, wherein the meter a adjustable function for the exclusion of low frequencies (LF reject) and an adjustable function to exclude high frequencies (RF reject) during triggering, characterized in that that both functions (LF Reject, HF Reject) using a realized single or single switchable digital filter become.
In einer weiteren Ausführungsform kann das umschaltbare digitale Filter ferner unter Verwendung eines einzelnen bzw. einigen einstellbaren digitalen Tiefpass-Filters realisiert werden.In In another embodiment, the switchable digital Filter further using a single or a few adjustable digital low-pass filters are realized.
Die Funktion zum Ausschluss von niedrigen Frequenzen (LF-Reject) kann dadurch erzeugt werden, dass ein Eingangssignal zunächst einer zyklischen spektralen Verschiebung um fa/2 unterworfen, dann mit dem einzelnen einstellbaren digitalen Tiefpass-Filter gefiltert und dann abermals einer zyklischen spektralen Verschiebung um fa/2 unterworfen wird, wobei fa/2 die halbe Abtastrate bzw. nach dem Nyquist-Theorem die maximale Frequenz des Eingangssignals ist. Die zyklische spektrale Verschiebung des Eingangssignals kann durch Multiplizieren von Abtastwerten ak des Eingangssignals mit dem Faktor (–1)k verwirklicht werden, wobei ak der k-te Abtastwert ist. Somit entsteht aus dem eigentlichen Tiefpass ein Hochpass.The low frequency rejection (LF reject) function can be created by first subjecting an input signal to cyclic spectral shift by f a / 2, then filtering with the single tunable digital low pass filter, and then again by cyclic spectral shift f a / 2, where f a / 2 is half the sampling rate or, according to the Nyquist theorem, the maximum frequency of the input signal. The cyclic spectral shift of the input signal can be realized by multiplying samples a k of the input signal by the factor (-1) k , where a k is the k th sample. This creates a high pass from the actual low pass.
In einer weiteren Ausführungsform kann die Funktion zum Ausschluss von hohen Frequenzen (HF-Reject) dadurch erzeugt werden, dass das Eingangssignal unverändert an das Tiefpass-Filter weitergeleitet wird. Sie kann in einer anderen Ausführungsform dadurch erzeugt werden, dass die Abtastwerte ak des Eingangssignals mit +1 multipliziert werden. Somit wird die Funktion des Tiefpasses nicht verändert.In a further embodiment, the high-frequency rejection function (RF reject) may be generated by passing the input signal unchanged to the low-pass filter. In another embodiment, it can be generated by multiplying the sampled values a k of the input signal by +1. Thus, the function of the low pass is not changed.
Durch das erfindungsgemäß eingerichtete Messgerät wird der Aufwand zur Implementierung der Filterfunktion erheblich reduziert, ohne wesentliche Einschränkung dieser Funktion selbst.By the inventively established measuring device the effort to implement the filter function becomes significant reduced, without significant restriction of this feature even.
Dieser und weitere Aspekte der vorliegenden Erfindung werden in der folgenden detaillierten Beschreibung unter Bezugnahme auf die anliegende Zeichnung näher geschildert, in welcherThis and further aspects of the present invention will be described in the following detailed description with reference to the attached drawing described in detail in which
Mit
anderen Worten kann, basierend auf einem numerischen Oszillator
(NCO, Numeric Controlled Oscillator), eine Mischung des abgetasteten
Eingangssignals in das komplexe Basisband durchgeführt
werden. Hierfür können die folgenden Grundfunktionen
Somit ergeben sich für die Ausgangssignale des Mischers die folgenden Ausdrücke: wobei k eine ganze Zahl ist. Folglich entfällt bei dieser besonderen Form der Mischung der Imaginärteil des Signals im äquivalenten Tiefpassbereich. Der Hochpass entsteht durch die Multiplikation mit der Folge [+1, –1, +1, –1, +1, ...], was einfach zu realisieren ist.Thus, the following expressions result for the output signals of the mixer: where k is an integer. Consequently, in this particular form of mixing, the imaginary part of the signal in the equivalent low-pass range is eliminated. The high pass results from multiplication by the sequence [+1, -1, +1, -1, +1, ...], which is easy to realize.
Es wird ersichtlich, dass der eigentlich gewünschte Hochpass mit einem Tiefpass im äquivalenten Tiefpassbereich realisiert werden kann. Nach erfolgter Filterung muss das Signal nach dem gleichen Prinzip wieder in die Hochfrequenz-Lage verschoben werden.It it becomes apparent that the actually desired high pass realized with a low pass in the equivalent low-pass range can be. After filtering, the signal must be the same Principle to be moved back into the high-frequency position.
Mittels
des Auswahlsignals
Im zweiten Fall wird das Eingangssignal durch Multiplizieren der Abtastwerte ak zyklisch um fa/2 verschoben und damit aus dem Hochfrequenz-Bereich in das äquivalente Basisband (Tiefpassbereich) überführt. Da (–1)k = 1 für gerade k (2, 4, 6, ...) ist, kann die Verschiebung dadurch realisiert werden, dass jeder Abtastwert mit ungeradem Index mit (–1) multipliziert wird. In einer Ausführungsform der Erfindung können die Abtastwerte und die Multiplikationsergebnisse im Einer- oder Zweierkomplementsystem dargestellt werden, so dass sich die Multiplikation mit (–1) auf das bitweise Invertieren des Abtastwertes (und ggf. Addition von 1) beschränkt. Hierdurch wird eine besonders zeitsparende Implementierung der Funktion LF-Reject erzielt.In the second case, the input signal is cyclically shifted by f a / 2 by multiplying the sampling values a k and thus transferred from the high-frequency range to the equivalent baseband (low-pass range). Since (-1) k = 1 for even k (2, 4, 6, ...), the shift can be realized by multiplying each odd-index sample by (-1). In one embodiment of the invention, the samples and the multiplication results may be represented in a one or two complement system such that multiplication by (-1) is limited to bitwise inverting the sample (and optionally adding 1). This achieves a particularly time-saving implementation of the function LF-Reject.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann die Funktion eines Tiefpass erzeugt werden, indem in beide Multiplizierer jeweils der Faktor +1 eingespeist wird. Hierdurch wird das abgetastete Eingangssignal nicht verändert. Somit kann die Triggerfunktion HF-Reject durch Auswahl der Faktoren +1 und Einstellung der Bandbreite des Tiefpasses erzeugt werden.In In another embodiment of the invention, the function a lowpass can be generated by adding in both multipliers respectively the factor +1 is fed. This will cause the sampled input signal not changed. Thus, the trigger function HF Reject by selecting the factors +1 and setting the bandwidth of the Lowpasses are generated.
Die Erfindung ist nicht auf die beschriebenen Ausführungsformen beschränkt. Alle beschriebenen und/oder gezeichneten Merkmale sind im Rahmen der Erfindung beliebig miteinander kombinierbar.The Invention is not limited to the described embodiments limited. All described and / or drawn features are combined with each other in the invention as desired.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list The documents listed by the applicant have been automated generated and is solely for better information recorded by the reader. The list is not part of the German Patent or utility model application. The DPMA takes over no liability for any errors or omissions.
Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- - US 7072804 B2 [0003] - US 7072804 B2 [0003]
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007001281.2A DE102007001281B4 (en) | 2007-01-08 | 2007-01-08 | Electronic measuring device with switchable trigger filter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007001281.2A DE102007001281B4 (en) | 2007-01-08 | 2007-01-08 | Electronic measuring device with switchable trigger filter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007001281A1 true DE102007001281A1 (en) | 2008-07-10 |
DE102007001281B4 DE102007001281B4 (en) | 2018-10-18 |
Family
ID=39477706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102007001281.2A Active DE102007001281B4 (en) | 2007-01-08 | 2007-01-08 | Electronic measuring device with switchable trigger filter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102007001281B4 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5414635A (en) * | 1991-11-08 | 1995-05-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Oscilloscope with dynamic triggering determination |
US7072804B2 (en) | 2004-09-28 | 2006-07-04 | Agilent Technologies, Inc. | Digital trigger filter for a real time digital oscilloscope |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4426935A1 (en) | 1994-07-29 | 1996-02-01 | Rohde & Schwarz | Digital residual sideband modulator for video signals |
EP1160978A1 (en) | 2000-05-29 | 2001-12-05 | Sony International (Europe) GmbH | Digital filter |
-
2007
- 2007-01-08 DE DE102007001281.2A patent/DE102007001281B4/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5414635A (en) * | 1991-11-08 | 1995-05-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Oscilloscope with dynamic triggering determination |
US7072804B2 (en) | 2004-09-28 | 2006-07-04 | Agilent Technologies, Inc. | Digital trigger filter for a real time digital oscilloscope |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
FLIEGE,Norbert: Multiraten-Signalverarbeitung. B.G.Teubner-Verlag,Stuttgart, 1993.ISBN 3-519-06155-4; * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102007001281B4 (en) | 2018-10-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102011077390B4 (en) | Measuring device and method for measuring a signal with several partial signals | |
EP2016428B1 (en) | Method and apparatus for digitally triggering a measurement signal having a superimposed noise signal | |
DE60310535T2 (en) | System for adapting digitizers in toothed systems | |
DE102011075893B4 (en) | Device and method for the adaptive suppression of in-band interference signals in radio receivers | |
EP2707733A1 (en) | Signal analysis in time and frequency | |
DE60315960T2 (en) | METHOD AND DEVICE FOR ANALOG / DIGITAL IMPLEMENTATION | |
DE102015212242A1 (en) | A method of sampling a plasma mixture related plasma process | |
DE2356712C3 (en) | Process for the formation of a magnetic resonance spectrum and spectrometer for its implementation | |
DE102006052842A1 (en) | Jitter measuring device, jitter measuring method and testing device | |
DE102006052843A1 (en) | Jitter measuring device, jitter measuring method and testing device | |
DE19757296C2 (en) | Method for determining the transfer function of a measuring device | |
EP0520193B1 (en) | Method for measuring partial discharges | |
DE102007001281A1 (en) | Electronic measuring instrument for representation of signal processing, has trigger system and variable functions for connection of low frequencies and high frequencies | |
DE3112243C2 (en) | Distortion meter | |
DE10105258B4 (en) | Resolution filter for a spectrum analyzer | |
EP2721422B1 (en) | Method and measuring device for suppressing interfering signals | |
DE102004020278A1 (en) | Spectrum analyzer with high speed and high resolution | |
DE60217649T2 (en) | Dither measurement in digital communication signals | |
EP1537750B1 (en) | Method for determining the envelope of a modulated signal | |
DE19523343B4 (en) | Leakage measuring device | |
DE19944054B4 (en) | Arrangement for analyzing the non-linear properties of a communication channel | |
DE102018208465A1 (en) | METHOD AND SYSTEM FOR PREVENTING INTERFERENCE CAUSED BY MIRROR FREQUENCIES | |
DE102020113558B4 (en) | Lock-in amplifier with optimal noise reduction | |
AT396194B (en) | METHOD AND DEVICE FOR RECEIVING AND FILTERING AN AUDIO FREQUENCY INPUT SIGNAL WITH AT LEAST ONE CONTROL FREQUENCY | |
DE10311840B4 (en) | Method and device for electrical impedance measurement of a body |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: MITSCHERLICH, PATENT- UND RECHTSANWAELTE PARTM, DE |
|
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |