DE102006059421B4 - Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung - Google Patents

Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung Download PDF

Info

Publication number
DE102006059421B4
DE102006059421B4 DE102006059421A DE102006059421A DE102006059421B4 DE 102006059421 B4 DE102006059421 B4 DE 102006059421B4 DE 102006059421 A DE102006059421 A DE 102006059421A DE 102006059421 A DE102006059421 A DE 102006059421A DE 102006059421 B4 DE102006059421 B4 DE 102006059421B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
offset
sensor
phases
sensor signals
signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE102006059421A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102006059421A1 (de
Inventor
Michael Dipl.-Ing. Hackner
Hans-Peter Dr. Hohe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Original Assignee
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV filed Critical Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Priority to DE102006059421A priority Critical patent/DE102006059421B4/de
Priority to JP2009518715A priority patent/JP5235015B2/ja
Priority to DE502007006200T priority patent/DE502007006200D1/de
Priority to US12/305,425 priority patent/US8063629B2/en
Priority to EP07764410A priority patent/EP2041874B1/de
Priority to PCT/DE2007/001157 priority patent/WO2008006337A1/de
Publication of DE102006059421A1 publication Critical patent/DE102006059421A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102006059421B4 publication Critical patent/DE102006059421B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • G01R33/072Constructional adaptation of the sensor to specific applications
    • G01R33/075Hall devices configured for spinning current measurements
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/30Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
    • H03F3/3001Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor with field-effect transistors
    • H03F3/3022CMOS common source output SEPP amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/38DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers
    • H03F3/387DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers with semiconductor devices only
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/38DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers
    • H03F3/387DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/393DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers with semiconductor devices only with field-effect devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45479Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
    • H03F3/45632Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with FET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45744Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with FET transistors as the active amplifying circuit by offset reduction
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45479Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
    • H03F3/45928Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection using IC blocks as the active amplifying circuit
    • H03F3/45968Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection using IC blocks as the active amplifying circuit by offset reduction
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/261Amplifier which being suitable for instrumentation applications
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45212Indexing scheme relating to differential amplifiers the differential amplifier being designed to have a reduced offset
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N52/00Hall-effect devices
    • H10N52/80Constructional details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

Verfahren zur Verarbeitung von mit einem Offset behafteten Sensorsignalen eines Sensors (6), der in mehreren Messzyklen mit jeweils 2n (n = 1, 2..) aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben wird,
bei dem die Sensorsignale der einzelnen Phasen in einem Verstärker (9) verstärkt und anschließend mit einem Analog/Digital-Wandler (10) digitalisiert werden, und bei dem die verstärkten digitalisierten Signale der einzelnen Phasen jedes Messzyklus aufsummiert werden, um für jeden Messzyklus ein Offset-reduziertes Ausgangssignal zu erhalten,
wobei die Sensorsignale vor der Verstärkung in einem Modulator (1) moduliert und nach der Verstärkung in einem Demodulator (3) wieder demoduliert werden,
dadurch gekennzeichnet,
dass durch die Modulation die Sensorsignale von n Phasen jedes Messzyklus mit negativem Vorzeichen und die Sensorsignale der verbleibenden n Phasen des Messzyklus mit positivem Vorzeichen gewichtet werden und
dass vor der Verstärkung von den modulierten Sensorsignalen von jeweils zwei Phasen, die mit unterschiedlichem Vorzeichen gewichtet wurden...

Description

  • Technisches Anwendungsgebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verarbeitung von mit einem Offset behafteten Sensorsignalen eines Sensors, der in mehreren Messzyklen mit jeweils 2n (n = 1, 2...) aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben wird, bei dem die Sensorsignale der einzelnen Phasen in einem Verstärker verstärkt und anschließend mit einem Analog/Digital-Wandler digitalisiert werden, und bei dem die verstärkten digitalisierten Signale der einzelnen Phasen jedes Messzyklus aufsummiert werden, um für jeden Messzyklus ein Offset-reduziertes Ausgangssignal zu erhalten, wobei die Sensorsignale vor der Verstärkung in einem Modulator moduliert und nach der Verstärkung in einem Demodulator wieder demoduliert werden. Die Erfindung betrifft auch eine Sensoranordnung, die für die Durchführung des Verfahrens ausgebildet ist.
  • Bei nahezu allen Sensoranwendungen tritt ein Offset des Sensorsignals auf, der sowohl durch die Herstellung als auch durch andere äußere Einflüsse bedingt sein kann. Eine Reduzierung oder Kompensation dieses Offset ist zur Erhöhung der Messgenauigkeit von großer Bedeutung. Eine bekannte Technik zur Offset-Kompensation, wie sie vor allem bei Hall-Sensoren eingesetzt wird, ist die so genannte Spinning-Current-Technik. Voraussetzung für eine gute Offset-Unterdrückung mit dieser Technik ist eine zumindest 4-fache Rotationssymmetrie des Hall-Elements. Die Länge und Breite des Elements müssen hierzu gleich sein und die Kontakte für die Einprägung des Steuerstroms I0 bzw. der Steuerspannung U0 und den Abgriff der Hall-Spannung UH = UH+ – UH– müssen identisch aufgebaut sein. Bei Hall-Elementen mit vier Kontakten kann der Steuerstrom dann in vier verschiedenen Richtungen eingeprägt und senkrecht dazu die Hall-Spannung abgegriffen werden. Dies ist anhand der schematischen Darstellung der vier so genannten Spinning-Current-Phasen der 1 veranschaulicht, in denen jeweils das Ersatzschaltbild eines symmetrischen Hall-Elementes mit vier Kontakten dargestellt ist. Ein Messzyklus besteht aus den dargestellten vier Phasen, die sich durch die unterschiedliche Ansteuerung des Hall-Elementes unterscheiden. Werden die Messergebnisse dieser vier Spinning-Current-Phasen jedes Messzyklus aufsummiert, dann wird der Offset im Verhältnis zum Signal etwa um den Faktor 100 bis 1000 reduziert.
  • Neben der Nutzung von vier unterschiedlichen Phasen sind auch Spinning-Current-Techniken bekannt, bei denen Hall-Sensoren in acht Phasen angesteuert werden. Dies erfordert entsprechend ausgestaltete Hall-Elemente mit 8-facher Rotationssymmetrie und acht Kontakten, wobei dann der Steuerstrom und die Hall-Spannung von Phase zu Phase nicht jeweils um 90° wie im Falle der 4-Phasen-Betriebsweise, sondern um 45° rotiert werden. Prinzipiell sind beliebige Rotationswinkel möglich, wobei zur Reduzierung des Offset jedoch nur Rotationswinkel von 360°/(4·n) sinnvoll sind (n = 1, 2, ...).
  • Zur Durchführung des Spinning-Current-Verfahrens ist zunächst die Messung der einzelnen Hall-Anteile erforderlich, die den jeweiligen Einzelphasen-Offset und den magnetischen Signal-Hub für jede Phase enthalten. Der Einzelphasen-Offset ist jedoch in der Regel im Vergleich zum magnetischen Signal-Hub, d. h. der gewünschten Messgröße, sehr groß. Dies zeigt beispielhaft die Messung der 2, in der nach rechts das normierte Magnetfeld und nach oben die Ausgangsspannung des Hall-Elementes nach der Digitalisierung aufgetragen sind. Die gestrichelten Linien entsprechen der digitalisierten Spannung zwischen den Hall-Kontakten in der jeweiligen Spinning-Current-Phase P0–P3 in Digits des eingesetzten Analog/Digital-Wandlers (ADU). Die durchgezogene Linie stellt den Mittelwert dieser vier Spannungen mit dem Faktor 10 skaliert dar. Dies entspricht somit dem Ergebnis nach der Summation über die vier Phasen, also dem Offset-korrigierten Messergebnis bei Einsatz der Spinning-Current-Technik. Wie aus der 2 ersichtlich, ist bei dieser Messung der Einzelphasen-Offset größer als der magnetische Signal-Hub. Der ADU wird demnach hauptsächlich durch den Offset der Einzelphasen ausgesteuert. Da eine Übersteuerung vermieden werden muss, kann die Verstärkung des in der Regel zwischen dem Sensor und dem ADU eingesetzten Verstärkers nicht an das magnetisch induzierte Ausgangssignal des Sensors angepasst werden. Sie muss unter Berücksichtigung des Einzelphasen-Offset gewählt werden. Somit wird die Auflösung der Analog/Digital-Umsetzung vorwiegend durch die Einzelphasen-Offsets und nicht durch den Signal-Hub begrenzt. Dies reduziert die Auflösung und damit die Messgenauigkeit.
  • Werden zur weiteren Verarbeitung des Sensor-Signals Verstärker eingesetzt, dann kommt durch diese Verstärker häufig ein zusätzlicher Offset im Signalpfad hinzu, der sich zu den Einzelphasen-Offsets addiert. Da die Offsets der Hall-Elemente und des Verstärkers stochastisch, in der Regel Gauß'sch, über alle gefertigten Systeme verteilt sind, erhöht sich der Erwartungswert des Gesamt-Offset nicht linear. Er berechnet sich vielmehr durch die Bildung des quadratischen Mittels der beiden Effektivwerte. Dennoch tritt durch den Verstärker eine Erhöhung des Erwartungswertes des gesamten Offset ein, wodurch die Auflösung des magnetischen Signals durch den ADU weiter vermindert wird.
  • Zur Korrektur des Offset des Verstärkers sind unterschiedliche Verfahren bekannt. Die wichtigsten dieser Verfahren sind die Offset-Kalibrierung oder Trimmung, das so genannte Auto-Zero oder Correlated Double Sampling (CDS) sowie das Chopper-Verfahren.
  • Während durch die Offset-Kalibrierung eine Drift des Offset nach der Trimmung nicht verhindert werden kann, lassen sich mit dem Auto-Zero und dem Chopper-Verfahren auch derartige Offsets kompensieren oder zumindest vermindern. Beim Chopper-Verfahren wird das Eingangssignal vor dem Verstärker moduliert und nach dem Verstärker wieder demoduliert. Im einfachsten Fall bei symmetrischen Signalen wird der Modulator über Schalter realisiert, so dass das Eingangssignal einmal invertiert und einmal nicht invertiert auf den Eingang des Verstärkers geschaltet wird. Die Signalverarbeitung am Ausgang erfolgt äquivalent, so dass das Signal unverändert durchgelassen wird. Der Verstärker-Offset und das 1/f-Rauschen können jedoch stark reduziert werden, da sie auf die Chopper-Frequenz und deren Vielfache hochmoduliert werden. Das nachfolgende Tiefpassfilter (LPF) entfernt diese Anteile.
  • Bei kleinen Eingangssignalen, deren Amplitude deutlich geringer ist als der Eingangs-bezogene Offset des Verstärkers ohne Chopper, ist die maximal mögliche Verstärkung jedoch auch hier bereits durch den Eigen-Offset des Verstärkers begrenzt. Dies wird anhand der 3 bis 5 erläutert. 3 zeigt hierbei die Modulation des Eingangssignals Vin mit dem Modulator 1, dem Verstärker 2, dem Demodulator 3 zur Demodulation des verstärkten Signals sowie den nachgeschalteten Tiefpassfilter 4, mit dem die Anteile des Verstärker-Offset sowie des 1/f-Rauschens eliminiert werden. Der Offset des Verstärkers 2 ist hierbei durch die Offset-Quelle 5 angedeutet. Im vorliegenden Beispiel wird ein sinusförmiges Eingangssignal von 0,1 mV Amplitude ohne Offset angenommen. Der Offset-behaftete innen liegende Verstärker 2 wird durch einen Offset-losen Verstärker und eine Eingangs-äquivalente Offset-Spannungsquelle moduliert. Aus dem Eingangssignal Vin (ohne Offset) wird ein über rect(t) Rechteck-moduliertes Signal VinMod, das das Eingangssignal Vin als Einhüllende besitzt. Wie man in dem Diagramm der 4 erkennen kann, wird die Eingangs-Aussteuerung vom Offset dominiert. Auch am Ausgang des Verstärkers 2 überwiegt der Offset den Nutz-Signal-Anteil, wie in der 5 zu erkennen ist. Wie man leicht sieht, ist der Aussteuerbereich vor dem Tiefpassfilter 4 aufgrund des Offset 11 mal höher als er aufgrund des Nutzsignals sein müsste. Als Tiefpass wurde ein gleitendes Mittelwert-Filter verwendet, dessen Integrationsintervall exakt einer Periode des Modulationssignals rect(t) entspricht.
  • Ein Nachteil der Kompensation mit Schaltern, wie beim Chopper-Verfahren, ist ein zusätzlicher Offset-Anteil, der durch Ladungs-Injektion in den Schaltern entsteht. Zwar wird der eigentliche Offset des Verstärkers deutlich reduziert, durch parasitäre Kapazitäten der Schalter wird jedoch zusätzliche Ladung in die Signalpfade injiziert, die sich als zusätzlicher Offset äußert. Um diesem Effekt entgegen zu wirken ist es bekannt, eine zweite Chopper-Anordnung um einen Chopper-Verstärker einzusetzen, die mit geringerer Frequenz angesteuert wird, um damit den durch Ladungs-Injektion hervorgerufenen Offset auch noch zu eliminieren. Dies wird beispielsweise in A. Bakker et al., „A CMOS Nested-Chopper Instrumentation Amplifier with 100-nV Offset”, IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 35, No. 12, December 2000, Seiten 1877 bis 1883, näher erläutert.
  • Bei diesem und den anderen bekannten Verfahren zur Reduzierung des Verstärker-Offset wird nur der Offset des Verstärkers selbst reduziert bzw. eliminiert. Offset-Anteile, die in der Signalquelle vor dem Verstärker entstehen, werden durch diese Maßnahmen nicht berührt. Sie werden im Falle der Hall-Sensoren durch das Spinning-Current-Verfahren wirkungsvoll reduziert. Allerdings besteht trotz dieser bereits signifikanten Reduktion des Offset gerade bei Hall-Elementen der Wunsch nach einer weiteren Erhöhung der Messgenauigkeit.
  • Die EP 1 637 898 A1 beschreibt ein Verfahren zur Verarbeitung von mit einem Offset behafteten Sensorsignalen eines Sensors, bei dem der Sensor in verschiedenen Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben wird. Die Sensorsignale werden vor und nach der Verstärkung moduliert bzw. demoduliert. Die Modulation erfolgt hierbei mit einer anderen Frequenz als die eines gleichzeitig erzeugten Referenzmagnetfeldes.
  • Die DE 100 32 530 A1 offenbart eine Verstärkerschaltung mit Offsetkompensation, insbesondere für ein Hall-Element. Die Schaltung umfasst neben der dem Verstärker nachgeschalteten Nutzsignal-Demodulation auch einen Fehlersignal-Demodulator. Das demodulierte Fehlersignal wird an den Eingang des Verstärkers gegengekoppelt.
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht daher darin, für Sensoren, die in mehreren Messzyklen mit mehreren aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben werden, ein Verfahren zur Verarbeitung der Sensor-Signale anzugeben, das eine weitere Erhöhung der Messgenauigkeit ermöglicht. Weiterhin soll eine Sensor-Anordnung bereitgestellt werden, die die Durchführung des Verfahrens ermöglicht.
  • Darstellung der Erfindung
  • Die Aufgabe wird mit dem Verfahren und der Sensoranordnung gemäß den Patentansprüchen 1 und 5 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen des Verfahrens sowie der Sensoranordnung sind Gegenstand der Unteransprüche oder lassen sich der nachfolgenden Beschreibung sowie den Ausführungsbeispielen entnehmen.
  • Bei dem vorgeschlagenen Verfahren zur Verarbeitung von mit einem Offset behafteten Sensorsignalen eines Sensors, der in mehreren Messzyklen mit jeweils 2n (n = 1, 2, ...) aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben wird, werden die Sensorsignale der einzelnen Phasen in bekannter Weise in einem Verstärker verstärkt und anschließend mit einem Analog/Digital-Wandler digitalisiert. Die verstärkten und digitalisierten Signale der einzelnen Phasen jedes Messzyklus werden aufsummiert, um für jeden Messzyklus ein Offset-reduziertes Ausgangssignal zu erhalten. Die Sensorsignale werden bei dem vorliegenden Verfahren vor der Verstärkung in einem Modulator derart moduliert, dass die Sensorsignale von n-Phasen jedes Messzyklus mit negativem Vorzeichen und die Sensor-Signale der verbleibenden n-Phasen des Messzyklus mit positivem Vorzeichen gewichtet werden. Hierbei wird vor der Verstärkung von den modulierten Sensorsignalen von jeweils zwei der Phasen, die mit unterschiedlichem Vorzeichen gewichtet wurden und nach der Modulation einen Offset gleichen Vorzeichens aufweisen, ein aus den Sensorsignalen der zwei Phasen gemittelter Offset abgezogen. In einem Demodulator nach dem Verstärker erfolgt anschließend wieder eine Demodulation der modulierten Signale, bei der die Signale der einzelnen Phasen vorzeichenrichtig wieder zusammengesetzt werden. Durch eine vorzugsweise durchgeführte Filterung nach der Demodulation oder im Demodulator lässt sich der Offset des Verstärkers bei diesem Verfahren ebenfalls reduzieren. Bei einer derartigen Tiefpassfilterung werden in bekannter Weise die mit der Modulationsfrequenz oder einer höheren Frequenz modulierten Signalanteile blockiert.
  • Bei der Ausgestaltung des vorliegenden Verfahrens wurde erkannt, dass die Messgenauigkeit bei einem derartigen Mehrphasenbetrieb eines Sensors erhöht werden kann, wenn nicht nur der Gesamt-Offset der Signalverarbeitungskette zwischen dem Sensor und dem Ausgang der Sensor-Anordnung, sondern auch die Sensor-Signale der einzelnen Phasen getrennt voneinander im Offset reduziert werden. Mit dem Verfahren wird erreicht, dass bereits die am Verstärker ankommenden Sensor-Signale im Offset reduziert sind, so dass die Verstärkung nicht mehr durch den häufig größeren Offset begrenzt ist, sondern dem Messsignal wesentlich besser angepasst werden kann. Durch die somit bessere Ausnutzbarkeit des Aussteuerbereiches des Verstärkers lassen sich auch kleine Messsignale optimal weiterverarbeiten. Hierzu muss der Offset der Sensor-Signale noch nicht einmal ideal kompensiert werden. Der verbleibende Eigen-Offset muss nur deutlich geringer sein als die maximale Nutzsignal-Amplitude, die verarbeitet werden soll. Somit wird beim vorliegenden Verfahren nicht nur der Offset jeder Komponente für sich, d. h. des Sensors beispielsweise mit dem Spinning-Current-Verfahren und des Verstärkers mit dem Chopper-Verfahren, vermindert. Vielmehr wird der Gesamt-Offset der Signal-Verarbeitungskette aus Sensor und Verstärker so weit reduziert, dass sein Anteil am Aussteuerbereich der folgenden Signal-Verarbeitungskette, insbesondere dem Analog/Digital-Wandler oder einem Verstärker, im Vergleich zum eigentlichen Messsignal, beispielsweise dem magnetisch induzierten Signal-Hub bei einem Hall-Sensor, deutlich reduziert wird. Dies führt zu einer besseren Nutzung des Aussteuerbereiches durch das eigentliche Messsignal und somit zu einer höheren Auflösung bei der anschließenden Analog-Digital-Umsetzung, die in der höheren Genauigkeit resultiert.
  • In der vorliegenden Patentanmeldung wird nicht zwischen Verstärkern und Vorverstärkern unterschieden. Es kann sich somit bei dem Verstärker auch um einen oder mehrere Vorverstärker handeln.
  • Die Grundidee des vorliegenden Verfahrens besteht darin, im oder vor dem Verstärker künstlich einen zusätzlichen Offset zu erzeugen, der den Offset des Sensor-Signals der jeweiligen Phase des Messzyklus annähernd kompensiert.
  • Im Idealfall wäre hierdurch auch bereits die Kompensation des Offset des Sensors erreicht, so dass ein Mehrphasenbetrieb zu diesem Zweck dann nicht mehr erforderlich wäre. Allerdings ist eine derartige Offset-Kompensation in der Praxis nur bei exakt einer Temperatur und einer Betriebsspannung möglich, da der Offset der Einzelphasen nicht stabil ist. In der Realität schwanken die Einzelphasen-Offsets sehr stark über der Temperatur und der Betriebsspannung des Sensors. Weiterhin bleibt auch offen, ob ein derartig künstlich erzeugter Offset so lange stabil gehalten werden kann, wie es für die Kompensation des Sensor-Offset während des Betriebs des Sensors erforderlich wäre. Zusätzlich können sich die Einzelphasen-Offsets, beispielsweise aufgrund von mechanischen Spannungen im Sensor-Gehäuse, mit der Zeit ändern. Der künstlich eingebrachte Offset weist in der Regel einen anderen Temperatur-Gang auf als der des Sensors. Somit driften je nach Betriebsbedingungen die Offsets wieder auseinander, wobei die Korrelation der Einzelphasen-Offsets beim Mehrphasenbetrieb, die für eine Verbesserung des Offset durch die spätere Aufsummierung ursächlich ist, nicht durch den künstlichen Offset eines Verstärkers nachgebildet werden kann. Das am Ausgang der Sensor-Anordnung erhaltene Ausgangssignal hätte dann mit hoher Wahrscheinlichkeit einen größeren Offset als er ohne die zusätzliche Offset-Korrektur nur durch Anwendung des Mehrphasenbetriebs mit späterer Summation erreicht werden würde.
  • Auch diese Problematik wurde bei der Gestaltung des vorliegenden Verfahrens erkannt und durch eine geschickte Wahl der zusätzlichen Offset-Kompensation der Messsignale der einzelnen Phasen berücksichtigt. Hierbei werden die Einzelphasen-Offsets deutlich reduziert, ohne ihre Korrelation zueinander zu verlieren bzw. nicht korrelierte Offset-Anteile einzubringen. Zum einen wird der von den Messsignalen der einzelnen Phasen abgezogene künstliche Offset bei dem vorgeschlagenen Verfahren in einer besonderen Weise bestimmt. Zum anderen werden jeweils die um den gleichen künstlichen Offset reduzierten Messsignale in einer besonderen Weise moduliert. Dies wird im Folgenden anhand des Beispiels eines Hall-Sensors erläutert, der im Spinning-Current-Betrieb mit vier Phasen betrieben wird. Selbstverständlich lässt sich das Verfahren jedoch auch auf Hall-Sensoren anwenden, die mehr als vier Anschlüsse aufweisen und auch mit mehr als vier Phasen betrieben werden können. Weiterhin ist das vorliegende Verfahren wie auch die zugehörige Sensor-Anordnung nicht auf Hall-Sensoren beschränkt. So lässt sich mit dem Verfahren die Messgenauigkeit aller Sensoren verbessern, die in einem vergleichbaren Mehrphasenbetrieb eingesetzt werden und bei denen die Einzelphasen-Offsets eine gewisse Korrelation aufweisen. Beispiele sind Brückenschaltungen aus einzelnen Sensor-Elementen entsprechend dem Ersatzschaltbild für das Hall-Sensor-Element der 1.
  • Aus Messungen an Hall-Sensoren ist bekannt, dass immer zwei Spinning-Current-Phasen einen Einzelphasen-Offset mit gleichem Vorzeichen haben. Beim vorliegenden Verfahren werden nun zum einen jeweils zwei Phasen durch die Modulation mit unterschiedlichen Vorzeichen gewichtet, zum anderen wird der mittlere Offset der beiden Phasen, die nach der Modulation einen Offset gleichen Vorzeichens aufweisen, ermittelt und auf die (modulierten) Messsignale der beiden Phasen angewendet, d. h. von den Messsignalen abgezogen. Die gleiche Vorgehensweise wird für die beiden anderen Phasen gewählt, deren Offset ebenfalls das gleiche Vorzeichen hat. Durch diesen Schritt wird die Signalhöhe der am Verstärker anliegenden Messsignale gerade bei größeren Offsets deutlich reduziert, wie sie bei Hall-Elementen häufig auftreten. Dies ermöglicht eine höhere Verstärkung des eigentlichen Nutzsignals im Verstärker. Weiterhin erfolgt mit dieser Vorgehensweise eine Symmetrierung der verbleibenden Offsets der jeweils zwei Phasen um den Nullpunkt. Der Aussteuerbereich des Analog/Digital-Umsetzers wird damit zum einen symmetrisch ausgenutzt und kann zum anderen die Messsignale aufgrund der möglichen höheren Verstärkung mit höherer Genauigkeit wandeln.
  • Der Korrekturwert des Offset für die jeweils zwei Phasen muss nicht langzeitstabil sein und darf auch eine gewisse Variation über der Temperatur und anderen Betriebsparametern aufweisen. Dies ist beim vorliegenden Verfahren unschädlich, da er aufgrund der besonderen Modulation der Messsignale einmal positiv und einmal negativ gewichtet nach der Demodulation erhalten wird und somit bei der Aufsummierung der Messsignale jedes Messzyklus wieder systematisch aus dem Gesamtmesswert eliminiert wird. Der künstlich erzeugte Offset spielt somit nur im Bereich zwischen dem Sensor und dem Demodulator eine Rolle und geht nicht in das Ergebnis des Spinning-Current-Verfahrens ein. Das bereits gute Ergebnis der Offset-Kompensation mit diesem Verfahren wird daher nicht verschlechtert. Auf der anderen Seite werden jedoch die zur Verfügung stehenden Aussteuerbereiche des Verstärkers und Analog/Digital-Umsetzers besser ausgenutzt, so dass eine höhere Auflösung bei der Analog/Digital-Umsetzung erzielt werden kann. Dies erhöht die Messgenauigkeit der Sensor-Anordnung.
  • Vorzugsweise erfolgt beim vorliegenden Verfahren die Demodulation der modulierten Messsignale erst nach der Analog/Digital-Umsetzung. Dies bietet den Vorteil, dass die Demodulation digital, beispielsweise mit einem Dezimationsfilter, erfolgen kann.
  • In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung wird die Sensor-Anordnung im so genannten Nested-Chopper-Verfahren betrieben, bei dem unmittelbar vor und hinter dem Verstärker ein zusätzlicher Modulator und Demodulator vorgesehen sind. Die Modulation erfolgt hierbei mit einer höheren Frequenz als die Modulation mit dem ersten Modulator, um eine bessere Unterdrückung des Verstärker-Offsets sowie des 1/f-Rauschens des Verstärkers zu erzielen.
  • Die vorgeschlagene Sensor-Anordnung zur Durchführung des Verfahrens weist den Sensor mit einer Ansteuereinheit auf, durch die der Sensor in dem beschriebenen Mehrphasenbetrieb betrieben werden kann. Zwischen dem Sensor und einem Verstärker zur Verstärkung der modulierten Sensorsignale ist ein Modulator vorgesehen, der die Sensorsignale gemäß dem vorgeschlagenen Verfahren moduliert. Eine Offset-Quelle zwischen dem Modulator und dem Verstärker dient der Reduktion der Sensor-Signale um den gemäß dem Verfahren bestimmten künstlichen Offset, der für die jeweils zwei Phasen genutzt wird. Ein Analog/Digital-Wandler sowie ein Demodulator hinter dem Verstärker dienen der Digitalisierung der Sensor-Signale bzw. der Demodulation der modulierten und verstärkten Signale. Vorzugsweise ist hierbei der Analog/Digital-Wandler zwischen dem Verstärker und dem Demodulator, vorzugsweise einem Dezimationsfilter, angeordnet. Weiterhin lassen sich selbstverständlich auch bei dieser Sensor-Anordnung zusätzliche Komponenten zur Offset-Reduzierung einsetzen, beispielsweise ein zusätzlicher Modulator und Demodulator zum Betrieb der Sensor-Anordnung mit einem Nested-Chopper-Verfahren, wie es aus dem Stand der Technik bekannt ist.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Das vorgeschlagene Verfahren sowie die zugehörige Sensor-Anordnung werden im Folgenden anhand von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den Zeichnungen nochmals näher erläutert. Hierbei zeigen:
  • 1 eine Darstellung zur Veranschaulichung der vier Phasen beim Spinning-Current-Betrieb eines Hall-Sensors;
  • 2 ein Beispiel für gemessene Sensor-Signale eines Hall-Elements in den vier Phasen;
  • 3 ein Beispiel für ein Chopper-Verfahren;
  • 4 eine Veranschaulichung der bei dem Chopper-Verfahren erhaltenen Signale;
  • 5 eine beispielhafte Darstellung der Ausgangssignale eines Chopper-Verfahrens;
  • 6 ein Beispiel für die vorgeschlagene Sensor-Anordnung und das zugehörige Verfahren;
  • 7 ein Beispiel für die Bestimmung der künstlichen Offsets bei dem vorliegenden Verfahren;
  • 8 ein Beispiel für die um den künstlichen Offset reduzierten Sensor-Signale;
  • 9 das Beispiel der 8 nach der Demodulation;
  • 10 den sich bei dem Beispiel ergebenden Spinning-Current(SC)-Ausgangswert;
  • 11 ein erstes Beispiel für die Einstellung des künstlichen Offsets, der von den Sensor-Signalen abgezogen wird;
  • 12 ein zweites Beispiel für die Einstellung des künstlichen Offsets, der von den Sensor-Signalen abgezogen wird; und
  • 13 ein weiteres Beispiel für die Ausgestaltung der vorgeschlagenen Sensor-Anordnung.
  • Wege zur Ausführung der Erfindung
  • Das vorliegende Verfahren und die zugehörige Sensor-Anordnung werden im Folgenden anhand von Beispielen näher erläutert, bei denen ein Hall-Sensor mit vier Kontakten bzw. Anschlüssen mit der Spinning-Current-Technik mit vier Phasen pro Messzyklus betrieben wird. Ein derartiger Betrieb sowie beispielhafte Sensorsignale der unterschiedlichen Phasen wurden bereits in der Beschreibungseinleitung in Zusammenhang mit den 1 und 2 beschrieben. Auf diese Figuren wird daher an dieser Stelle nicht mehr eingegangen.
  • Das Gleiche gilt für die 3 bis 5, die das Chopper-Verfahren zur Offset-Reduzierung der Sensor-Signale eines Sensors sowie die dabei auftretende schlechte Ausnutzung des Aussteuerbereiches des Verstärkers veranschaulichen.
  • Alle bisher bekannten Verfahren zur Reduzierung des Verstärker-Offset haben gemeinsam, dass nur der Offset des Verstärkers selbst reduziert bzw. eliminiert wird. Offset-Anteile, die in der Signalquelle vor dem Verstärker entstehen, werden durch diese Maßnahme nicht berührt. Der Offset von Hall-Elementen lässt sich zwar durch Anwendung des Spinning-Current-Verfahrens deutlich vermindern. Allerdings müssen auch dazu zunächst die Sensorsignale aller Spinning-Current-Phasen inklusive des Offset der Einzelphasen verstärkt und digitalisiert werden. Hierzu reduziert der Offset der jeweiligen Einzelphase zusammen mit dem Offset des Verstärkers den maximal möglichen Verstärkungsfaktor des Verstärkers. Dessen Ausgangsbereich bzw. der Eingangsbereich des nachfolgenden Signal-Verarbeitungsblocks, beispielsweise weitere Verstärkungsstufen oder ein Analog/Digital-Umsetzer, erlaubt nur eine begrenzte Signal-Amplitude, die bei Hall-Sensor-Systemen aufgrund der relativ geringen Empfindlichkeit der Sensoren zum größten Teil bereits durch Offsets beansprucht wird.
  • Bei dem vorliegenden Verfahren wird demgegenüber der Gesamt-Offset der Signal-Verarbeitungskette aus Hall-Sensor und Verstärker so weit reduziert, dass sein Anteil am Aussteuerbereich der folgenden Signal-Verarbeitungskette (Verstärker bzw. ADU) im Vergleich zum magnetisch induzierten Signal-Hub (Nutzsignal) deutlich reduziert wird. Derzeit liegt dieser Anteil in der Regel etwa zwischen 60% und 80%. Das bedeutet, dass der Signal-Anteil nur bei 20 bis 40% liegt. Wünschenswert wäre ein Anteil des Offsets von maximal 50% des Aussteuerbereiches, so dass der Signal-Anteil auf über 50% ansteigt. Dann würde der magnetische Signal-Hub selbst die bestimmende Größe für die Dimensionierung der Verstärkung darstellen und nicht mehr der Offset. Dies darf jedoch auf der anderen Seite nicht dazu führen, dass der Offset des Ausgangssignals nach Anwendung der Spinning-Current-Summation verschlechtert wird.
  • Dies wird bei dem nachfolgenden Beispiel dadurch erreicht, dass die Signal-Verarbeitungskette um eine Offset-Spannungsquelle 8 ergänzt wird, wie dies in der 6 schematisch dargestellt ist. Die Sensor-Signale der unterschiedlichen Phasen eines Messzyklus des Hall-Sensors 6 werden hierbei in einem Modulator 7 in einer bestimmten Weise moduliert. Von den modulierten Signalen wird anschließend über die Offset-Quelle 8 ein vorbestimmter künstlicher Offset O1, O2 abgezogen. Die auf diese Weise korrigierten Sensor-Signale werden im Verstärker 9 verstärkt und anschließend im Analog/Digital-Umsetzer 10 (ADU) digitalisiert.
  • Bei der Modulation werden zwei der vier Phasen positiv und zwei Phasen negativ durch den Modulator 7 gewichtet. Dieser Vorzeichenwechsel des Verstärker-Eingangssignals wird bei der Dezimation im Dezimationsfilter 11 nach dem Verstärker als Vorzeichen berücksichtigt, so dass am Ende aller vier Phasen wieder das korrekte Signal im Dezimationsfilter 11 vorliegt. Aufgrund der wechselnden Vorzeichen, mit denen das Sensor-Signal in die Signal-Verarbeitungskette eingespeist wird, wird der zusätzliche künstliche Offset – genauso wie der Eigen-Offset des Verstärkers und des ADU's – durch das Chopper-Verfahren im Endergebnis der Summe über alle Spinning-Current-Phasen wieder eliminiert. Dies funktioniert unabhängig von Temperatur und anderen Betriebsbedingungen.
  • Aus Messungen an Hall-Sensoren ist bekannt, dass immer zwei Spinning-Current-Phasen einen Einzelphasen-Offset mit gleichem Vorzeichen haben, wie dies auch aus dem Diagramm der 2 ersichtlich ist. Der Offset der Spinning-Current-Phasen P0 und P2 hat hierbei das gleiche Vorzeichen. Das Gleiche gilt für den Offset der Spinning-Current-Phasen P1 und P3. Der gesamte Signal-Bereich aller vier Einzelphasen deckt den Wertebereich von ca. –4000 bis +5000 ab. Da jedoch der Offset eine stochastische Größe ist, die von Sensor zu Sensor streut, wird man das System so auslegen, dass der Signal-Bereich des ADUs (Analog/Digital-Umsetzer) in beide Richtungen an den maximalen Offset der Sensoren angepasst ist und somit etwa von –5000 bis +5000 reicht. Das sind etwa 10.000 Quantisierungsstufen des Analog/Digital-Umsetzers. Bei dem vorliegenden Verfahren wird nun der mittlere Offset der jeweils beiden Phasen, die nach der Modulation einen Offset gleichen Vorzeichens aufweisen, bestimmt und vor dem Eingang des Verstärkers auf diese beiden Phasen angewendet, d. h. von den Messsignalen dieser beiden Phasen abgezogen. 7 zeigt hierzu die Messsignale der vier Spinning-Current-Phasen nach der Modulation in Abhängigkeit vom Magnetfeld sowie den jeweils gebildeten mittleren Offset O1 bzw. O2. Werden die Sensor-Signale der Einzelphasen jeweils um die gemeinsamen Offsets O1, O2 für die jeweils zwei Spinning-Current-Phasen korrigiert, wie dies in 8 veranschaulicht ist, dann wird der Wertebereich für die Messungen aller vier Spinning-Current-Phasen auf den Bereich von etwa –1800 bis +1800 reduziert. Dies sind etwa 3600 Quantisierungsstufen. Der Aussteuerungsbereich des Analog/Digital-Umsetzers wird dadurch zum einen symmetrisch ausgenutzt. Der Offset der Spinning-Current-Phasen liegt nun symmetrisch zur Rechtswert-Achse, weshalb die vorliegende Technik auch als Offset-Symmetrierung bezeichnet werden kann. Zum anderen kann die Verstärkung in diesem Beispiel nun um den Faktor 10000/3600 = 2,8 erhöht werden, was die Auflösung des Signals ebenfalls um den Faktor 2,8 verbessert. Das führt immerhin zu einer Erhöhung der Auflösung des Signals um 1,5 Bit.
  • Die Korrektur des Offset erfolgte in diesem Beispiel mit einem gemeinsamen Korrektur-Offset für die Phasen P0 und P1 und einem gemeinsamen Korrektur-Offset für die Phasen P2 und P3. Bei einem anderen Hall-Sensor können es selbstverständlich auch andere Kombinationen der Phasen sein. Auch die Modulation kann anders ausgeführt werden, so dass nicht wie im vorliegenden Beispiel die erste Phase positiv, die zweite Phase negativ, die dritte Phase positiv und die vierte Phase negativ gewichtet werden (oder umgekehrt), sondern beispielsweise die erste und vierte Phase positiv und die zweite und dritte Phase negativ.
  • Ein wesentlicher Vorteil der vorgeschlagenen Vorgehensweise liegt – wie bereits erläutert – darin, dass der Korrekturwert nicht langzeitstabil sein muss und auch eine gewisse Variation über der Temperatur und anderen Betriebsparametern haben kann. Aus dem Gesamtmesswert wird er wieder systematisch eliminiert, da er einmal positiv und einmal negativ gewichtet bei der Summation, die auch im Dezimationsfilter erfolgen kann, am Ende der Kette ankommt. Voraussetzung dafür ist, dass immer zwei Phasen gemeinsam im Offset korrigiert werden, die mit unterschiedlichen Vorzeichen durch die Chopper-Anordnung verarbeitet werden. Dann wird das Endergebnis des Spinning-Current-Verfahrens durch die Offset-Symmetrierung nicht beeinträchtigt. Das Messergebnis ist dasselbe, nur mit dem Unterschied, dass der Aussteuerbereich des beteiligten Verstärkers und des Analog/Digital-Umsetzers besser ausgenutzt wird und dadurch die Auflösung des Messergebnisses höher ist.
  • 9 zeigt die vier Spinning-Current-Phasen nach der Offsetkorrektur und der anschließenden Demodulation. In 10 ist das nach der vollständigen Durchführung des Spinning-Current-Verfahrens, d. h. nach der Mittelung über alle vier Phasen, erhaltene Ausgangssignal dargestellt. Wie man am Spinning-Current-Ergebnis sieht, ist der Aussteuerbereich immer noch stark von Einzelphasen-Offsets geprägt. Das Sensor-Signal ohne Offset besitzt einen Wertebereich von etwa –700 bis +700, was einer Spanne von 1400 Quantisierungsstufen entspricht. Der verbleibende Einzelphasen-Offset durch die Offset-Symmetrierung beträgt immer noch etwa +1150, also 2300 Quantisierungsstufen. Dennoch ist die Auflösung und somit die Messgenauigkeit gegenüber den bisher bekannten Verfahren um mindestens 1 Bit erhöht.
  • 11 zeigt ein Beispiel einer Umsetzung der vorgeschlagenen Offset-Zentrierung bei Einsatz einer linearen Differenz-Eingangsstufe als Verstärker.
  • Bei einer differentiellen Eingangsstufe eines linearen Verstärkers lässt sich der Offset über programmierbare Stromquellen steuern. Diese programmierbaren Stromquellen sind in der Figur mit dem Bezugszeichen 12 angedeutet. Über diese gemäß dem gewünschten künstlichen Offset einstellbaren Stromquellen lässt sich dieser von den Eingangssignalen des linearen Verstärkers 9 subtrahieren.
  • Bei SC-Schaltungen (SC: Switched Capacitor) kann der Offset auch über eine geschaltete Kapazität zusammen mit einer gesteuerten Spannungsquelle (VRef) eingestellt werden, wie dies in der 12 dargestellt ist.
  • 13 zeigt schließlich nochmals eine beispielhafte Ausgestaltung der vorliegenden Sensor-Anordnung mit einem Hall-Sensor 6, einem Modulator 7, der Offset-Quelle 8, dem Verstärker 9 und dem Demodulator 11. Der ADU ist in dieser Figur nicht eingezeichnet. Anhand der 13 kann die Arbeitsweise des vorliegenden Verfahrens und die Auswirkung auf die Signale nochmals nachvollzogen werden. Vor dem Modulator haben die Sensor-Signale der einzelnen Phasen die Werte +VSig + VOff0 (Phase P0), +VSig + VOff1 (Phase P1), +VSig + VOff2 (Phase P2) und +VSig + VOff3 (Phase P3). VSig entspricht dabei dem eigentlichen Nutzsignal, d. h. dem durch den magnetischen Hub idealerweise gemessenen Signal. VOff entspricht dem Offset des Hall-Sensors in der jeweiligen Phase. Die Signale der einzelnen Phasen werden dann im Modulator in der in der nachfolgenden Tabelle angeordneten Weise mit positivem oder negativem Vorzeichen gewichtet. Nach dem Modulator wird durch die Offset-Quelle 8 der jeweilige über zwei Phasen gemittelte Offset VOc1 bzw. VOc2 abgezogen. Das entsprechend kleinere Signal vor dem Verstärker wird dann verstärkt und im Demodulator mit dem korrekten Vorzeichen wieder demoduliert. Der Tabelle können die Signale vor dem Verstärker, das Vorzeichen im Demodulator sowie das Ausgangssignal aus dem Demodulator Vout entnommen werden. Nach Anwendung der Summierung des Spinning-Current-Verfahrens ergibt sich dann zumindest annähernd das vierfache Messsignal 4 × VSig. Aufgrund der Eigenschaften (Betrag und Vorzeichen) der Offset-Anteile VOff0, VOff1, VOff2 und VOff3 heben sich diese gegenseitig auf, wenn die Signale der vier Spinning-Current-Phasen aufsummiert werden. Darauf beruht das Spinning-Current-Verfahren zur Reduktion des Offsets von Hall-Elementen. Tabelle 1: Modulation und Demodulation aller 4 Phasen
    Chopper- bzw. Spinning-Current-Phase 0 1 2 3
    Signal vor Modulator +VSig + VOff0 +VSig + VOff1 +VSig + VOff2 +VSig + VOff3
    Vorzeichen im Modulator + +
    Signal nach Modulator +VSig + VOff0 –VSig – VOff1 +VSig + VOff2 –VSig – VOff3
    VOffset-centre VOc1 VOc1 VOc2 VOc2
    Signal vor Verstärker VOc1 + VSig + VOff0 VOc1 – VSig – VOff1 VOc2 + VSig + VOff2 VOc2 – VSig – VOff3
    Vorzeichen im Demodulator + +
    VOut VOc1 + VSig + VOff0 –VOc1 + VSig + VOff1 VOc2 + VSig + VOff2 –VOc2 + VSig + VOff3
    alle vier Phasen aufsummiert 4·VSig + VOff0 + VOff1 + VOff2 + VOff3 ≈ 4·VSig
  • Mit dem vorgeschlagenen Verfahren wird der Aussteuerbereich der Signal-Kette (Verstärker und ADU) symmetrisch ausgesteuert. Das Verfahren ermöglicht, den Verstärkungsfaktor des Verstärkers zu erhöhen, so dass das Signal/Rausch-Verhältnis verbessert wird. Außerdem wird dadurch der Aussteuerbereich der ADU's besser ausgenutzt und damit die Auflösung des Messwertes erhöht. Der Messwert wird nicht verfälscht, da der beim vorliegenden Verfahren künstlich hinzugefügte Offset aufgrund des Chopper-Verfahrens wieder systematisch entfernt wird.
  • Die Offsets der einzelnen Phasen müssen beim vorliegenden Verfahren vorab für jeden Sensor gemessen werden, damit der jeweils mittlere Offset für zwei Phasen mit gleichem Vorzeichen des Offsets ermittelt werden kann. Allerdings ist bei Messungen mit hoher Genauigkeit von vorneherein eine Kalibrierung des Systems erforderlich, so dass sich der zusätzliche Aufwand in Grenzen hält. BEZUGSZEICHENLISTE
    1 Modulator
    2 Verstärker
    3 Demodulator
    4 Tiefpassfilter
    5 Offset-Quelle
    6 Hall-Sensor
    7 Modulator
    8 Offset-Spannungsquelle
    9 Verstärker
    10 Analog/Digital-Wandler
    11 Dezimationsfilter
    12 Gesteuerte Stromquellen

Claims (8)

  1. Verfahren zur Verarbeitung von mit einem Offset behafteten Sensorsignalen eines Sensors (6), der in mehreren Messzyklen mit jeweils 2n (n = 1, 2..) aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben wird, bei dem die Sensorsignale der einzelnen Phasen in einem Verstärker (9) verstärkt und anschließend mit einem Analog/Digital-Wandler (10) digitalisiert werden, und bei dem die verstärkten digitalisierten Signale der einzelnen Phasen jedes Messzyklus aufsummiert werden, um für jeden Messzyklus ein Offset-reduziertes Ausgangssignal zu erhalten, wobei die Sensorsignale vor der Verstärkung in einem Modulator (1) moduliert und nach der Verstärkung in einem Demodulator (3) wieder demoduliert werden, dadurch gekennzeichnet, dass durch die Modulation die Sensorsignale von n Phasen jedes Messzyklus mit negativem Vorzeichen und die Sensorsignale der verbleibenden n Phasen des Messzyklus mit positivem Vorzeichen gewichtet werden und dass vor der Verstärkung von den modulierten Sensorsignalen von jeweils zwei Phasen, die mit unterschiedlichem Vorzeichen gewichtet wurden und nach der Modulation einen Offset gleichen Vorzeichens aufweisen, ein aus den Sensorsignalen der zwei Phasen gemittelter Offset abgezogen wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Demodulation nach der Digitalisierung erfolgt.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2 zur Verarbeitung von Sensorsignalen eines Hallsensors, der im Spinning-Current Betrieb mit zumindest 4 Phasen betrieben wird.
  4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorsignale in der Weise eines Nested Chopper Verfahrens nach der Subtraktion des mittleren Offsets in einem zweiten Modulator vor der Verstärkung zusätzlich mit einer zweiten, höheren Frequenz moduliert werden, die eine Reduzierung eines 1/f-Rauschens des Verstärkers ermöglicht, nach der Verstärkung gefiltert werden und nach der Filterung mit einem zweiten Demodulator bezüglich der zweiten Frequenz wieder demoduliert werden.
  5. Sensoranordnung mit – einem Sensor (6) – einer Ansteuereinheit, durch die der Sensor in mehreren Messzyklen mit jeweils 2n (n = 1, 2..) aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betreibbar ist, – einem Modulator (1) zur Modulation der Sensorsignale des Sensors (6), – einem Verstärker (9) zur Verstärkung der modulierten Sensorsignale, – einem Analog/Digital-Wandler (10) zur Digitalisierung der verstärkten Sensorsignale, – und einem Demodulator (3) zur Demodulation der verstärkten und/oder digitalisierten Sensorsignale, dadurch gekennzeichnet, dass der Modulator (1) derart ausgebildet ist, dass er die Sensorsignale von n Phasen jedes Messzyklus mit negativem Vorzeichen und die Sensorsignale der verbleibenden n Phasen des Messzyklus mit positivem Vorzeichen gewichtet, und dass eine Offset-Reduktionseinheit (8) vorgesehen ist, die vor der Verstärkung von den modulierten Sensorsignalen von jeweils zwei der Phasen, die mit unterschiedlichem Vorzeichen gewichtet wurden und nach der Modulation einen Offset gleichen Vorzeichens aufweisen, einen aus dem Offset der zwei Phasen gemittelten Offset abzieht.
  6. Sensoranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor (6) ein Hall-Sensor ist.
  7. Sensoranordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Hall-Sensor ein durch die Ansteuereinheit im Spinning-Current Betrieb mit zumindest 4 Phasen betreibbarer Hall-Sensor ist.
  8. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 5 bis Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Demodulator (3) ein Dezimationsfilter (11) ist, der dem Analog/Digital-Wandler (10) nachgeschaltet ist.
DE102006059421A 2006-07-14 2006-12-15 Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung Expired - Fee Related DE102006059421B4 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006059421A DE102006059421B4 (de) 2006-07-14 2006-12-15 Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung
JP2009518715A JP5235015B2 (ja) 2006-07-14 2007-06-29 オフセットを受けるセンサ信号を処理するための方法及びその方法を実行するために設計されるセンサ装置
DE502007006200T DE502007006200D1 (de) 2006-07-14 2007-06-29 Verfahren zur verarbeitung von offset-behafteten sensorsignalen sowie für die durchführung des verfahrens ausgebildete sensoranordnung
US12/305,425 US8063629B2 (en) 2006-07-14 2007-06-29 Method for processing sensor signals subject to an offset and sensor arrangement designed to carry out the method
EP07764410A EP2041874B1 (de) 2006-07-14 2007-06-29 Verfahren zur verarbeitung von offset-behafteten sensorsignalen sowie für die durchführung des verfahrens ausgebildete sensoranordnung
PCT/DE2007/001157 WO2008006337A1 (de) 2006-07-14 2007-06-29 Verfahren zur verarbeitung von offset-behafteten sensorsignalen sowie für die durchführung des verfahrens ausgebildete sensoranordnung

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006032760.8 2006-07-14
DE102006032760 2006-07-14
DE102006059421A DE102006059421B4 (de) 2006-07-14 2006-12-15 Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102006059421A1 DE102006059421A1 (de) 2008-01-17
DE102006059421B4 true DE102006059421B4 (de) 2011-06-01

Family

ID=38566913

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102006059421A Expired - Fee Related DE102006059421B4 (de) 2006-07-14 2006-12-15 Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung
DE502007006200T Active DE502007006200D1 (de) 2006-07-14 2007-06-29 Verfahren zur verarbeitung von offset-behafteten sensorsignalen sowie für die durchführung des verfahrens ausgebildete sensoranordnung

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE502007006200T Active DE502007006200D1 (de) 2006-07-14 2007-06-29 Verfahren zur verarbeitung von offset-behafteten sensorsignalen sowie für die durchführung des verfahrens ausgebildete sensoranordnung

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8063629B2 (de)
EP (1) EP2041874B1 (de)
JP (1) JP5235015B2 (de)
DE (2) DE102006059421B4 (de)
WO (1) WO2008006337A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012003978A1 (de) 2012-02-28 2013-08-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Strömen oder Magnetfeldern mit Hall-Sensoren

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8154281B2 (en) 2008-04-17 2012-04-10 Infineon Technologies Ag Sensor system wherein spinning phases of the spinning current hall sensor are lengthened in residual offset adjustment
DE102008025409A1 (de) * 2008-05-27 2009-12-03 Ooo "Innovacionniy Dom "Radiofizika" Magnetometer mit einem Vierkontakt-Hall-Geber
DE102009006546B4 (de) 2009-01-29 2017-03-23 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung und Verfahren zum Bereitstellen eines aufbereiteten Messsignals
JP5411818B2 (ja) * 2010-08-26 2014-02-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 半導体装置
US8633687B2 (en) 2010-12-21 2014-01-21 Robert Bosch Gmbh Hall Effect sensor with reduced offset
US9094015B2 (en) 2011-01-14 2015-07-28 Infineon Technologies Ag Low-power activation circuit with magnetic motion sensor
US8666701B2 (en) * 2011-03-17 2014-03-04 Infineon Technologies Ag Accurate and cost efficient linear hall sensor with digital output
DE102011017096A1 (de) * 2011-04-14 2012-10-18 Austriamicrosystems Ag Hall-Sensor-Halbleiterbauelement und Verfahren zum Betrieb des Hall-Sensor-Halbleiterbauelementes
US8860410B2 (en) * 2011-05-23 2014-10-14 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for processing a signal generated by a plurality of measuring devices
WO2013168353A1 (ja) * 2012-05-11 2013-11-14 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気検出装置及び磁気検出方法
EP2682762A1 (de) * 2012-07-06 2014-01-08 Senis AG Stromwandler zum Messen von Strom, magnetischer Wandler und Stromleckagenerkennungssystem und -verfahren
DE102013214794B3 (de) * 2013-07-29 2014-11-13 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Sensorsystem und verfahren zur kalibrierung eines sensorsystems
JP6313036B2 (ja) * 2013-12-24 2018-04-18 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気検出装置
DE102015102853A1 (de) 2015-02-27 2016-09-01 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensor
KR102169800B1 (ko) * 2015-06-16 2020-10-26 주식회사 해치텍 홀 소자 제어 방법 및 이를 이용한 자기 검출 장치
US10481220B2 (en) * 2016-02-01 2019-11-19 Allegro Microsystems, Llc Circular vertical hall (CVH) sensing element with signal processing and arctangent function
US10627458B2 (en) * 2017-09-25 2020-04-21 Allegro Microsystems, Llc Omnipolar schmitt trigger
US10615887B1 (en) * 2018-09-24 2020-04-07 Seagate Technology Llc Mitigation of noise generated by random excitation of asymmetric oscillation modes
KR102439909B1 (ko) * 2020-10-23 2022-09-05 삼성전기주식회사 홀 센서 공통 모드 전압 조정 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치
KR102473418B1 (ko) * 2020-10-27 2022-12-02 삼성전기주식회사 홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치
DE102022129671B3 (de) * 2022-11-09 2024-03-07 Senis Ag Magnetfeldsensorsystem mit einem temperaturgangskompensierten Ausgangssignal sowie Verfahren für die Temperaturgangskompensation eines Ausgangssignals eines Magnetfeldsensorsystems

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10032530A1 (de) * 2000-07-05 2002-01-24 Infineon Technologies Ag Verstärkerschaltung mit Offsetkompensation
EP1637898A1 (de) * 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Dauerhaft kalibrierter Magnetfeldsensor

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5494378A (en) * 1978-01-10 1979-07-26 Toshiba Corp Measuring method of unbalanced voltage of hall element
ATE345510T1 (de) * 1996-09-09 2006-12-15 Ams Internat Ag Verfahren zum reduzieren der offsetpannung einer hallanordnung
JP4514104B2 (ja) * 2004-03-30 2010-07-28 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10032530A1 (de) * 2000-07-05 2002-01-24 Infineon Technologies Ag Verstärkerschaltung mit Offsetkompensation
EP1637898A1 (de) * 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Dauerhaft kalibrierter Magnetfeldsensor

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Bakker, A. et al.: A CMOS Nested-Chopper Instrumentation Amplifier with 100-nVOffset, IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 35, No. 12, Dezember 2000, Seiten 1877-1883 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012003978A1 (de) 2012-02-28 2013-08-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Strömen oder Magnetfeldern mit Hall-Sensoren
WO2013127522A1 (de) 2012-02-28 2013-09-06 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und vorrichtung zur messung von strömen oder magnetfeldern mit hall-sensoren

Also Published As

Publication number Publication date
US20090315549A1 (en) 2009-12-24
WO2008006337A1 (de) 2008-01-17
EP2041874B1 (de) 2011-01-05
US8063629B2 (en) 2011-11-22
JP2009544004A (ja) 2009-12-10
DE502007006200D1 (de) 2011-02-17
JP5235015B2 (ja) 2013-07-10
EP2041874A1 (de) 2009-04-01
DE102006059421A1 (de) 2008-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006059421B4 (de) Verfahren zur Verarbeitung von Offset-behafteten Sensorsignalen sowie für die Durchführung des Verfahrens ausgebildete Sensoranordnung
DE10223767B4 (de) Schaltungsanordnung zum Verarbeiten eines Signals eines Sensors
DE10204427B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation dynamischer Fehlersignale eines Chopped-Hall-Sensors
DE69325523T2 (de) Analog-Digital-Wandler
DE102016109878A1 (de) Hall-Sensor und Messverfahren sowie entsprechende Vorrichtung
DE102004022572B4 (de) Integratorschaltung
DE102004010362A1 (de) Sensor, insbesondere Magnetfeldsensor, mit Störsignal-Kompensation und Verfahren zur Störsignal-Kompensation eines Sensors
DE102014113213A1 (de) Magnetfeldsensoren und systeme mit sensorschaltungsabschnitten mit unterschiedlichen vorspannungen und frequenzbereichen
DE19945763A1 (de) Computertomograph
DE69635043T2 (de) Elektromagnetischer Durchflussmesser mit Unterdrückung des Einflusses von Schwankungen der Offset-Spannung
DE112020001113T5 (de) Schwachstromerkennung
DE102010019484B9 (de) Sensoranordnung und Verfahren zum Betreiben einer Sensoranordnung
DE102004064185B4 (de) Sensor, insbesondere Magnetfeldsensor, mit Störsignal-Kompensation und Verfahren zur Störsignal-Kompensation eines Sensors
EP2820438B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von strömen oder magnetfeldern mit hall-sensoren
DE102021127122B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung eines elektrischen Leitungsstromes mit optimierter Abtastrate
DE102021127129B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung eines elektrischen Leitungsstromes mit optimierter Abtastrate
EP0615669B1 (de) Verfahren und schaltung zur messung von teilchenströmen
EP0942564A2 (de) Verfahren zur Detektion eines gepulsten Nutzsignals
DE102009006546B4 (de) Schaltungsanordnung und Verfahren zum Bereitstellen eines aufbereiteten Messsignals
DE102021127119B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung eines elektrischen Leitungsstromes mit optimierter Abtastrate
DE10119519B4 (de) Demodulator und Sensorvorrichtung
WO2023066423A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur erfassung eines elektrischen leitungsstromes mit optimierter abtastrate
DE102021127125A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung eines elektrischen Leitungsstromes mit optimierter Abtastrate
DE102021127131A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung eines elektrischen Leitungsstromes mit optimierter Abtastrate
DE102021127121A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung eines elektrischen Leitungsstromes mit optimierter Abtastrate

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R020 Patent grant now final

Effective date: 20110902

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20120703