DE102006053639A1 - Image projecting method, involves determining actual deviations of projection of two beams on projection surface and temporally varying intensity of beams after deviations for production of actual-impression - Google Patents

Image projecting method, involves determining actual deviations of projection of two beams on projection surface and temporally varying intensity of beams after deviations for production of actual-impression Download PDF

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Abstract

The method involves producing a reference-impression of an image by overlapping of the projection of two beams (110, 210) on a projection surface (10). An actual-impression of the image that is different from the reference-impression is produced on the projection surface by actual deviations of the projection of the beams. The actual deviations of the projection of the beams on the projection surface are determined. The intensity of the beams is temporally varied after the deviations for the production of the actual-impression.

Description

Die Erfindung betrifft eine Projektions-Vorrichtung und ein Verfahren zur Projektion mit verbesserter Projektionseigenschaft.The The invention relates to a projection apparatus and a method for projection with improved projection property.

In Geräten zur Projektion von Bildern werden für jeden Bildpunkt mehrere Strahlen überlagert und auf eine Projektionsfläche projiziert. Im Idealfall entsteht dabei auf der Projektionsfläche ein einzelner Spot, der sich aus den Farben der Strahlen zusammensetzt. In einem so genannten „Flying-Spot-Verfahren" werden die Strahlen vor der Projektionsfläche über einen beweglichen Spiegel gelenkt, mit dem man durch geeignete Bewegung ein Bild auf der Projektionsfläche erzeugen kann. Fertigungsbedingte, minimale Winkelabweichungen der überlagerten Strahlen führen auf der Projektionsfläche zu einer Deckungsungleichheit der einzelnen Spots, die Farbstörungen des Projektionsbildes verursacht. Durch thermischen Stress kann sich die Abweichung der einzelnen Spots voneinander auch während des Betriebs ändern.In devices For the projection of images, several beams are superimposed for each pixel and on a projection screen projected. Ideally, this creates a projection on the screen single spot composed of the colors of the rays. In a so-called "flying spot process" the rays become in front of the projection surface over a guided by a movable mirror, with which you move through suitable a picture on the projection screen can generate. Production-related, minimum angular deviations of the superimposed beams to lead on the projection screen to a unequal coverage of the individual spots, the color disturbances of the Caused projection image. Due to thermal stress can be the deviation of the individual spots also during the Change operation.

Aufgabe der Erfindung ist es, eine Methode zur Projektion einer Abbildung bereitzustellen, die sich durch eine verbesserte Projektionseigenschaft auszeichnet und somit die oben genannten Nachteile vermindert. Diese Aufgabe wird durch eine Methode zur Projektion einer Abbildung gemäß dem Anspruch 1 gelöst. Besonders vorteilhafte Ausgestaltungen und weitere strahlungsemittierende Vorrichtungen sind Gegenstand weiterer Ansprüche.task The invention is a method of projecting an image to provide, which is characterized by an improved projection property and thus reduces the above-mentioned disadvantages. This task is achieved by a method for the projection of an image according to claim 1 solved. Particularly advantageous embodiments and further radiation-emitting Devices are the subject of further claims.

Bei der Methode gemäß eines Ausführungsbeispiels der Erfindung wird eine Abbildung mittels der Projektion zumindest eines ersten und zweiten Strahls auf eine Projektionsfläche erzeugt, wobei durch die Überlagerung der Projektion des ersten und zweiten Strahls auf die Projektionsfläche ein Soll-Eindruck der Abbildung erzeugt werden soll. Eine tatsächliche Abweichung der Projektion des zumindest ersten und zweiten Strahls auf die Projektionsfläche erzeugt jedoch ein von dem Soll-Eindruck abweichender Ist-Eindruck. Die Methode gemäß des Ausführungsbeispiels der Erfindung hat die Verfahrensschritte A) Ermittlung der tatsächlichen Abweichung der Projektion des ersten von dem zweiten Strahl auf der Projektionsfläche, und B) zeitliche Intensitätsvariation des ersten und/oder zweiten Strahls nach dem in Verfahrensschritt A) ermittelten Abweichungen zur Erzeugung des Soll-Eindrucks. Diese Ausführungsform hat zum Vorteil, dass die Bildqualität des Projektors verbessert wird. Zudem können die Produktionskosten gesenkt werden, da im Vergleich zu bisher bestehenden Systemen die Fertigungstoleranzen geringer gehalten werden können. Des Weiteren wird durch die Selbstkalibrierung der Position der Projektion auf die Projektionsfläche die Langzeitstabilität des Projektors erheblich gesteigert. Die Methode zur Projektion einer Abbildung gemäß des Ausführungsbeispiels führt zu einer exakteren Überlagerung der Strahlen und somit zu einer verbesserten Farb- und Bildqualität.at the method according to a embodiment The invention will be an image by projection at least generates a first and second beam onto a projection surface, being due to the overlay the projection of the first and second beam onto the projection surface a desired impression the image should be generated. An actual deviation of the projection of the at least first and second beams is generated on the projection surface However, a deviating from the target impression actual impression. The Method according to the embodiment the invention has the method steps A) determination of the actual Deviation of the projection of the first of the second beam the projection surface, and B) temporal intensity variation of the first and / or second beam after in process step A) determined deviations to produce the desired impression. These embodiment has the advantage of improving the picture quality of the projector becomes. In addition, you can The production costs are lowered, compared to previously existing systems, the manufacturing tolerances kept lower can be. In addition, the self-calibration of the position of the Projection on the projection screen the Long-term stability of the projector significantly increased. The method of projection an illustration according to the embodiment leads to a more precise overlay the rays and thus to an improved color and image quality.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal einer weiteren Ausführungsform der Methode ist ein erster Spiegel, der den zumindest ersten und zweiten Strahl zur Projektion der Bildpunkte auf die Projektionsfläche lenkt. Vorteilhafterweise ist dieser erste Spiegel beweglich. Dies hat zum Vorteil, dass durch geeignete Bewegung des ersten Spiegels ein Bild auf der Projektionsebene erzeugt wird.One Another advantageous feature of another embodiment The method is a first mirror, the at least the first and directs the second beam to project the pixels onto the projection surface. Advantageously, this first mirror is movable. This has to the advantage that by suitable movement of the first mirror a Image is generated on the projection plane.

Vorteilhafterweise wird dieser erste Spiegel elektronisch angesteuert. Der Vorteil dabei ist, dass durch die elektronische Ansteuerung die Bewegung des Spiegels gegebenenfalls moduliert werden kann.advantageously, This first mirror is controlled electronically. The advantage It is that by the electronic control, the movement of the Mirror can optionally be modulated.

Weiterhin kann die Methode das vorteilhafte Merkmal haben, dass als erster und zweiter Strahl Laserstrahlen verwendet werden. Der Wellenlängenbereich der Laserstrahlen umfasst dabei vorteilhafterweise einen roten, grünen oder blauen Spektralbereich. Die Verwendung von Laserstrahlen ist vorteilhaft, weil mit ihnen ein besonders exaktes Bild mit definierten Farbmischungen erzeugt werden kann. Die Wahl der Spektralbereiche rot, grün und blau hat den Vorteil, dass das gesamte Farbspektrum dargestellt werden kann.Farther The method may have the advantageous feature that as the first and second beam laser beams are used. The wavelength range the laser beam advantageously comprises a red, green or blue spectral range. The use of laser beams is advantageous, because with them a very precise picture with defined Color mixtures can be produced. The choice of spectral ranges Red Green and blue has the advantage of displaying the entire color spectrum can.

Weiterhin kann der zumindest erste und zweite Strahl jeweils eine erste und zweite Intensität aufweisen, die durch ein zumindest erstes und zweites elektronisches Signal erzeugt wird. Der Vorteil dabei ist, dass durch eine geeignete Mischung der Intensitäten eine Vielzahl an Farben erzeugt werden kann. Je schwächer die Intensität einer Farbe ist, desto stärker kommt der Farbton der anderen Strahlen hervor. Dadurch kann jeder Projektionspunkt auf der Projektionsfläche individuell gestaltet werden.Farther For example, the at least first and second beams may each comprise a first and a second beam have second intensity, by at least first and second electronic signal is produced. The advantage with this is that by a suitable mixture the intensities a variety of colors can be produced. The weaker the intensity a color is the stronger the color of the other rays comes out. This allows everyone Projection point can be customized on the projection screen.

Vorteilhafterweise weist die Methode zur Projektion einer Abbildung verschiedene Ausführungsformen auf, die sich darin unterscheiden, ob die Verfahrensschritte A) und B) vor oder während des Projektionsbetriebs durchgeführt werden. Weiterhin gibt es für beide Varianten die Möglichkeit, den Verfahrensschritt A) durchzuführen, indem der erste Spiegel eine variable Orientierung aufweist oder indem der erste Spiegel eine feststehende Orientierung aufweist.advantageously, The method of projecting an image has various embodiments which differ in whether the method steps A) and B) before or during of the projection operation become. Furthermore there is for both variants the possibility perform the method step A) by the first mirror has a variable orientation or by the first mirror has a fixed orientation.

In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist zur Durchführung des Verfahrensschrittes A) zwischen dem ersten Spiegel und der Projektionsfläche ein zweiter Spiegel positioniert. Dabei ist jeweils nur ein einzelner Strahl in Betrieb. Dieser zweite Spiegel hat zum Vorteil, dass er den Strahl, der gerade in Betrieb ist, von der Projektionsfläche wegleiten kann. Diese Ableitung von der Projektionsfläche kann mit jedem der Strahlen durchgeführt werden. Vorteilhafterweise wird als zweiter Spiegel ein semi-transparenter Spiegel oder ein Umlenkspiegel verwendet. Ein semi-transparenter Spiegel hat zum Vorteil, dass er den Strahl, der gerade in Betrieb ist, nur teilweise von der Projektionsfläche weglenkt, einen anderen Teil des Strahls jedoch weiterhin auf die Projektionsfläche aufkommen lässt. Es ist jedoch auch möglich, einen nicht-transparenten zweiten Spiegel einzusetzen, da in dieser Ausführungsform der Erfindung der Verfahrensschritt A) vor dem eigentlichen Projektions-Betrieb durchgeführt wird. Mit anderen Worten, ist eine zumindest teilweise Projektion des Strahls auf die Projektionsfläche während des Verfahrensschrittes A) in dieser Ausführungsform der Erfindung nicht notwendig.In an advantageous embodiment of the invention, a second mirror is positioned between the first mirror and the projection surface for performing method step A). In each case only a single beam is in operation. This second mirror has the advantage that it is the beam that is currently in operation, of the projection surface can lead away. This derivation from the projection surface can be performed with each of the beams. Advantageously, a semi-transparent mirror or a deflection mirror is used as the second mirror. A semi-transparent mirror has the advantage that it only partially deflects the beam that is currently in operation away from the projection surface, but allows another part of the beam to continue to project onto the projection surface. However, it is also possible to use a non-transparent second mirror, since in this embodiment of the invention the method step A) is carried out before the actual projection operation. In other words, at least partial projection of the beam onto the projection surface during method step A) is not necessary in this embodiment of the invention.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Methode wird der zweite Spiegel so positioniert, dass er den jeweiligen Strahl, der gerade in Betrieb ist, zumindest teilweise auf einen Detektor mit feststehender Position lenkt. Das hat zum Vorteil, dass die Position der Projektion des Strahls, der gerade in Betrieb ist, auf dem Detektor gemessen werden kann. Ein Teil des Strahles kann jedoch weiterhin auf der Projektionsfläche beobachtet werden. Vorteilhafterweise erzeugt der Strahl, der gerade in Betrieb ist, auf dem Detektor, auf den er gelenkt wird, eine Projektion.In an advantageous embodiment of the method is the second mirror positioned so that it has the particular beam that is currently in operation is, at least partially on a detector with a fixed position directs. This has the advantage that the position of the projection of the Beam that is currently in operation can be measured on the detector can. However, part of the beam can still be observed on the projection surface become. Advantageously, the jet that is currently operating is a projection on the detector to which it is directed.

Günstigerweise wird der jeweilige Strahl, der in Betrieb ist, mittels einer vor dem Detektor vorhandenen Linse fokussiert. Das hat zum Vorteil, dass die Breite des Strahles, die aus technischen Gründen gegeben ist, auf einen kleinen Punkt fokussiert werden kann. Der Vorteil dabei ist, dass die Detektion der Position der Projektion des Strahls genauer durchgeführt werden kann.conveniently, is the respective beam, which is in operation by means of a before Focusing the lens present to the detector. This has the advantage that the width of the beam given for technical reasons is, can be focused on a small point. The advantage in this case, that is the detection of the position of the projection of the beam performed more accurately can be.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung wird der erste Spiegel für den ersten Strahl in eine erste Orientierung gebracht, bei der am Detektor eine maximale Intensität des ersten Strahls gemessen wird. Vorteilhafterweise wird der erste Spiegel auch für den zweiten Strahl in eine zweite Orientierung gebracht, bei der am Detektor eine maximale Intensität des zweiten Strahls gemessen wird. Der Vorteil dabei ist, dass man für jeden Strahl eine definierte Orientierung des ersten Spiegels erhält, die mit der Position der Projektion des Strahls auf dem Detektor in Verbindung gebracht werden kann. Um noch genauere Ergebnisse zu erhalten, ist es weiterhin vorteilhaft, für den ersten Spiegel für den ersten Strahl eine dritte Orientierung des ersten Spiegels zu messen, bei der der erste Strahl auf einem zweiten Detektor maximale Intensität aufweist. Ebenso kann für den zweiten Strahl eine vierte Orientierung des ersten Spiegels gemessen werden, bei der der zweite Strahl auf einem zweiten Detektor eine maximale Intensität aufweist. Das hat zum Vorteil, dass man sowohl für den ersten als auch für den zweiten Strahl weitere Orientierungen des Spiegels erhält die mit der Position der Projektion der Strahlen auf einem zweiten Detektor in Verbindung gebracht werden können.In a further advantageous embodiment of the invention the first mirror for brought the first beam in a first orientation, at the Detector a maximum intensity of the first beam is measured. Advantageously, the first Mirror also for brought the second beam in a second orientation, in the measured at the detector a maximum intensity of the second beam becomes. The advantage of this is that you have a defined one for each ray Orientation of the first mirror receives, which coincides with the position of Projection of the beam on the detector to be associated can. To get even more accurate results, it is still advantageous for the first mirror for the first beam to a third orientation of the first mirror measure at which the first beam on a second detector maximum intensity having. Likewise, for the second beam a fourth orientation of the first mirror be measured, in which the second beam on a second detector a maximum intensity having. This has the advantage of being both for the first and for the second Beam further orientations of the mirror receives the with the position of the projection the rays on a second detector to be associated can.

Nach der Ermittlung der Spiegelorientierungen für jeden Strahl, ist es vorteilhaft, die Abweichung der Strahlen voneinander mittels der Differenz der Spiegelorientierungen zu bestimmen. Dazu ist es günstig, mit einem geeigneten Verfahren die Spiegelorientierungen zu messen.To determining the mirror orientations for each beam, it is advantageous the deviation of the beams from each other by means of the difference of Determine mirror orientations. It is convenient, with a suitable method to measure the mirror orientations.

Vorteilhafterweise werden die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels berührungslos über die Kapazität zwischen dem Spiegel und einem Gegenstück gemessen. Aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels kann die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls ermittelt werden. Die Ermittlung von zwei Differenzen, die erste und zweite Orientierung und die dritte und vierte Orientierung, hat zum Vorteil, dass man genauere Ergebnisse erhält. Aus den beiden Differenzen kann ein Mittelwert gebildet werden. Die Messung der Orientierungen über die Kapazität hat zum Vorteil, dass durch die berührungslose Messmethode keine Störungen an der Orientierung des Spiegels verursacht werden können.advantageously, become the first and second and / or the third and fourth orientation the first mirror contactless over the Capacity between the mirror and a counterpart measured. From the difference between the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror may be the actual Deviation of the first and second beam can be determined. The Determination of two differences, the first and second orientation and the third and fourth orientation, has the advantage that one gets more accurate results. From the two differences an average value can be formed. The measurement of the orientations over the capacity has the advantage that due to the non-contact measuring method no disorders can be caused at the orientation of the mirror.

Weiterhin kann die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels mit einem mechanischen Fühler gemessen werden. Aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels kann die tatsächliche Abweichung zwischen dem ersten und zweiten Strahl ermittelt werden. Der mechanische Fühler hat zum Vorteil, dass er besonders genaue Messergebnisse zur Orientierung des Spiegels liefert.Farther may be the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror can be measured with a mechanical probe. From the Difference between the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror may be the actual Deviation between the first and second beam can be determined. The mechanical sensor has the advantage that it provides very accurate measurement results for orientation of the mirror supplies.

Weiterhin kann die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels jeweils dadurch bestimmt werden, dass der erste Spiegel mit einem zusätzlichen Strahl bestrahlt wird, und dessen Ablenkung mittels eines zweiten Detektors ermittelt wird. Dabei wird die Orientierung des ersten Spiegels durch die Ablenkung des zusätzlichen Strahls ermittelt. Vorteilhafterweise ist der zusätzliche Strahl unter einem geneigten Winkel zu dem zumindest ersten und zweiten Strahl angeordnet. Diese Messmethode zur Orientierung des Spiegels hat zum Vorteil, dass sie für den übrigen Projektionsbetrieb störungsfrei verläuft.Farther may be the first and second and / or the third and fourth orientation each of the first mirror may be determined by the first mirror with an additional Beam is irradiated, and its deflection by means of a second Detector is determined. The orientation of the first Mirror determined by the deflection of the additional beam. Advantageously, the additional Beam at an inclined angle to the at least first and arranged second beam. This measuring method for orientation of the Mirror has the advantage that it is trouble-free for the rest of the projection mode runs.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wird aus der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels eine Winkelabweichung zwischen dem ersten und zweiten Strahl ermittelt. Die ermittelte Winkelabweichung dient zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichung zwischen dem ersten und zweiten Strahl auf der Projektionsfläche. Das hat zum Vorteil, dass über die Messung der Orientierungen des Spiegels für den jeweiligen Strahl die Winkelabweichung berechnet werden kann und damit die Abweichung der Strahlen voneinander auf der Projektionsfläche ermittelt werden können, ohne sie direkt zu messen.In a further embodiment of the invention, the first and second and / or third and fourth orientations of the first mirror are used determines an angular deviation between the first and second beam. The determined angle deviation serves to determine the actual deviation between the first and second beam on the projection surface. This has the advantage that the angle deviation can be calculated by measuring the orientations of the mirror for the respective beam and thus the deviation of the beams from one another on the projection surface can be determined without directly measuring them.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung ist die Projektion einer Abbildung, wobei während des Verfahrensschrittes A) der erste Spiegel für jeden Strahl in zumindest einer feststehenden Orientierung gehalten wird. Vorteilhafterweise wird ein Detektor für den ersten Strahl in eine erste Position und für den zweiten Strahl in eine zweite Position gebracht, bei der am Detektor jeweils eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen wird. Das hat zum Vorteil, dass der erste Spiegel nicht mehr extra bewegt werden muss, um bestimmte Positionen der Strahlen zu definieren.One Another advantageous feature of another embodiment the invention is the projection of an image, wherein during the Process step A) the first mirror for each beam in at least a fixed orientation is maintained. advantageously, becomes a detector for the first beam in a first position and for the second beam in a second position brought at the detector in each case a maximum intensity the respective beam is measured. This has the advantage that the first mirror does not have to be extra moved to certain Defining positions of the rays.

Nach der Ermittlung der Detektorpositionen für jeden Strahl, ist es vorteilhaft, die Abweichung der Strahlen voneinander mittels der Differenz der Detektorpositionen zu bestimmen. Dazu ist es günstig, mit einem geeigneten Verfahren die Detektorpositionen zu messen.To determining the detector positions for each beam, it is advantageous the deviation of the beams from each other by means of the difference of Determine detector positions. It is cheap, with a suitable Procedure to measure the detector positions.

Es ist weiterhin vorteilhaft, die erste und zweite Position des Detektors berührungslos über die Kapazität zwischen dem Detektor und einem Gegenstück zu messen. Aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors kann die tatsächliche Abweichung zwischen dem ersten und zweiten Strahl ermittelt werden.It is also advantageous, the first and second position of the detector contactless about the capacity between the detector and a counterpart to eat. From the difference between the first and second position of the detector can be the actual Deviation between the first and second beam can be determined.

Weiterhin ist es vorteilhaft, die erste und zweite Position des Detektors mit einem mechanischen Fühler zu messen, und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls zu ermitteln. Die berührungslose Messmethode der Position des Detektors mittels der Messung der Kapazität hat zum Vorteil, dass eine Messung durchgeführt wird, die keine Störungen der Position des Detektors hervorruft. Die Messung der Position des Detektors mit einem mechanischen Fühler hat zum Vorteil, dass besonders genaue Ergebnisse über die Position des Detektors erhalten werden können.Farther it is advantageous to the first and second position of the detector with a mechanical probe to measure, and from the difference between the first and second Position of the detector the actual Deviation of the first and second beam to determine. The non-contact Measuring method of the position of the detector by means of the measurement of the capacity has to Advantage that a measurement is performed that does not disturb the Position of the detector causes. The measurement of the position of the Detector with a mechanical probe has the advantage that very accurate results about the position of the detector can be obtained.

In einer weiteren Ausführungsform ist es vorteilhaft, zur Ermittlung der Position der Projektion der Strahlen auf dem Detektor eine Vielzahl von Detektoren, einen sog. Detektorarray einzusetzen. Vorteilhafterweise handelt es sich dabei um eine im wesentlichen zweidimensionale Matrix aus Detektoren, beispielsweise eine CCD (Charge Coupled Device) Array. Dabei ist es vorteilhaft, wenn die Vielzahl von Detektoren so positioniert wird, dass alle Positionen der Projektionen der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren gemessen werden können. Das hat zum Vorteil, dass eine Bewegung des Detektors zur Erfassung alle Projektionen der Strahlen auf dem Detektor nicht mehr nötig ist.In a further embodiment it is advantageous to determine the position of the projection of the rays on the detector a large number of detectors, a so-called detector array use. Advantageously, this is an im essential two-dimensional matrix of detectors, for example a CCD (Charge Coupled Device) array. It is advantageous when the plurality of detectors is positioned so that all Positions of the projections of the beams on the plurality of detectors can be measured. This has the advantage that a movement of the detector for detection all projections of the rays on the detector is no longer necessary.

Vorteilhafterweise wird der jeweilige Strahl, der in Betrieb ist, mittels einer vor der Vielzahl von Detektoren vorhandenen Linse fokussiert. Das hat zum Vorteil, dass die Breite des Strahls, die aus technischen Gründen entsteht, minimiert wird, und so die Detektion der Position der Projektion des Strahls genauer wird.advantageously, is the respective beam, which is in operation by means of a before Focusing on the variety of detectors existing lens. That has to Advantage that the width of the beam, which arises for technical reasons, is minimized, and so the detection of the position of the projection the beam becomes more accurate.

Günstigerweise wird aus den Positionen der Projektion der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren eine Winkelabweichung zwischen ersten und zweiten Strahl ermittelt. Die ermittelte Winkelabweichung wird dazu verwendet, die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche zu ermitteln. Das hat zum Vorteil, dass die Position der Projektionen der Strahlen auf der Projektionsfläche ermittelt werden können, ohne sie direkt auf der Projektionsfläche zu messen. Die Messung erfolgt über die Messung der Position der Projektion der Strahlen auf dem Detektor.conveniently, becomes from the positions of the projection of the rays on the multitude of detectors an angular deviation between the first and second Beam determined. The calculated angle deviation is used the actual Determine deviation of the first and second beam on the projection surface. This has the advantage that the position of the projections of the rays on the projection screen can be determined without measuring them directly on the projection screen. The measurement is done via the Measurement of the position of the projection of the rays on the detector.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist ein vorteilhaftes Merkmal, dass ein dritter Stahl vorhanden ist, dessen Abweichung vom ersten und/oder zweiten Strahl nach der oben beschriebenen Methode und den verschiedenen Ausgestaltungen ermittelt wird. Die Verwendung eines dritten Strahls hat zum Vorteil, dass das Spektrum der Farben, die durch die Strahlen dargestellt werden können, erheblich erweitert wird. Werden drei Strahlen verwendet und umfassen diese die drei Primärfarben rot, blau und grün, kann vorteilhafterweise eine vollfarbige Projektion der Abbildung erreicht werden.In a further embodiment The invention is an advantageous feature that a third steel is present, whose deviation from the first and / or second beam according to the method described above and the various embodiments is determined. The use of a third jet has the advantage that the spectrum of colors represented by the rays can be is greatly expanded. Three rays are used and include these the three primary colors red, blue and green, can advantageously a full color projection of the picture be achieved.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist das vorteilhafte Merkmal vorhanden, dass zur Durchführung des Verfahrensschrittes A) zwischen dem ersten Spiegel und der Projektionsfläche ein zweiter semi-transparenter Spiegel positioniert wird. Dabei sind vorteilhafterweise alle Strahlen gleichzeitig in Betrieb, wobei sie auf der Projektionsfläche den Ist-Eindruck erzeugen. Dabei ist es günstig, wenn die Strahlen mittels des zweiten Spiegels teilweise auf einen Detektor gelenkt werden. Der Vorteil dabei ist, dass die Strahlen gleichzeitig ein Bild auf der Projektionsfläche erzeugen und auf einen Detektor gelenkt werden können. Somit ist eine Detektion der Strahlen möglich, während gleichzeitig die Projektion eines Bildes auf der Projektionsfläche stattfindet. Mit anderen Worten kann somit der Verfahrensschritt A) durchgeführt werden, während die Projektions-Vorrichtung in Betrieb ist.In a further advantageous embodiment of the invention, the advantageous feature is present that a second semi-transparent mirror is positioned between the first mirror and the projection surface for performing method step A). In this case, advantageously, all the beams are simultaneously in operation, wherein they produce the actual impression on the projection surface. It is advantageous if the beams are partially directed by the second mirror to a detector. The advantage of this is that the beams can simultaneously generate an image on the projection surface and can be directed to a detector. Thus, detection of the rays is possible while at the same time the projection of an image on the projection surface takes place. In other words Thus, the method step A) can be carried out while the projection device is in operation.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn zur Trennung der Strahlen zwischen dem zweiten Spiegel und dem Detektor ein Filter vorhanden ist. Der Filter hat den Vorteil, dass er jeweils durchlässig für einen Strahl zum Detektor ist. Die übrigen Strahlen können somit die Detektion des einen Strahls nicht stören.Farther it is advantageous if to separate the rays between the second mirror and the detector, a filter is present. The filter has the advantage that it is each permeable to a beam to the detector is. The remaining Rays can thus Do not disturb the detection of the one beam.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn zur Trennung der Strahlen ein diffraktives Element nach dem zweiten Spiegel vorhanden ist. Der Vorteil bei einem diffraktiven Element ist, dass es die Strahlen auftrennen und in verschiedene Richtungen lenken kann. Dazu ist es vorteilhaft, wenn als Detektor eine Vielzahl von Detektoren, beispielsweise ein Detektor-Array, verwendet wird. Der jeweilige Strahl, der auf die Vielzahl von Detektoren gelenkt wird, erzeugt eine Projektion auf der Vielzahl von Detektoren. Der Vorteil dabei ist, dass eine Vielzahl von Detektoren alle Strahlen, die durch ein diffraktives Element aufgetrennt wurden, detektieren kann.Farther It is advantageous if, for the separation of the beams, a diffractive Element is present after the second mirror. The advantage with A diffractive element is that it breaks the rays and steer in different directions. For this it is advantageous if as a detector a plurality of detectors, for example a Detector array, is used. The respective beam, on the variety is directed by detectors, generates a projection on the multiplicity of detectors. The advantage of this is that a variety of detectors all rays that have been separated by a diffractive element, can detect.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die Vielzahl von Detektoren eine feststehende Position hat. Günstigerweise wird dabei der Spiegel in eine erste Orientierung gebracht, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des ersten Strahls misst. Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn der erste Spiegel in eine zweite Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des zweiten Strahls misst. Der Vorteil dabei ist, dass eine Orientierung des ersten Spiegels in Verbindung gebracht werden kann mit der Intensität des Strahls auf der Vielzahl von Detektoren.Farther it is advantageous if the plurality of detectors a fixed Position has. conveniently, while the mirror is brought into a first orientation, in the the plurality of detectors measure an intensity maximum of the first beam. Furthermore, it is advantageous if the first mirror in a second Orientation is brought in the variety of detectors intensity maximum of the second beam. The advantage of this is that an orientation of the first mirror can be associated with the intensity of the beam on the variety of detectors.

Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn der erste Spiegel in eine dritte Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des ersten Strahls misst. Weiterhin ist es günstig, wenn der erste Spiegel in eine vierte Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des zweiten Strahls misst. Eine Messung einer dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels ist vorteilhaft, da somit die Genauigkeit der Messung der Spiegelorientierung erhöht wird.It is also advantageous if the first mirror in a third Orientation is brought in the variety of detectors intensity maximum of the first beam. Furthermore, it is favorable if the first mirror is brought into a fourth orientation in which the plurality of Detectors an intensity maximum of the second beam. A measurement of a third and fourth Orientation of the first mirror is advantageous because thus the accuracy the measurement of the mirror orientation is increased.

Nach der Ermittlung der Spiegelorientierungen für jeden Strahl, ist es vorteilhaft, die Abweichung der Strahlen voneinander mittels der Differenz der Spiegelorientierungen zu bestimmen. Dazu ist es günstig, mit einem geeigneten Verfahren die Spiegelorientierungen zu messen.To determining the mirror orientations for each beam, it is advantageous the deviation of the beams from each other by means of the difference of Determine mirror orientations. It is convenient, with a suitable method to measure the mirror orientations.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels jeweils berührungslos über die Kapazität zwischen dem Spiegel und einem Gegenstück gemessen wird. Aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels kann dabei die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls ermittelt werden. Der Vorteil dabei ist, dass über die Orientierungen des Spiegels die Abweichung der Strahlen voneinander auf der Projektionsfläche ermittelt werden können, ohne sie dort direkt zu messen. Die berührungslose Messmethode über die Kapazität hat den Vorteil, dass keine Störung der Orientierung des Spiegels stattfinden kann.Farther it is advantageous if the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror respectively contactlessly across the capacitance between the mirror and a counterpart is measured. From the difference between the first and second and / or the third and fourth orientations of the first mirror can do the actual Deviation of the first and second beam can be determined. Of the Advantage is that over the orientations of the mirror the deviation of the beams from each other on the projection screen can be determined without directly measuring them there. The non-contact measurement method over the capacity has the advantage that no disturbance the orientation of the mirror can take place.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels jeweils mit einem mechanischen Fühler gemessen wird. Dabei kann aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls ermittelt werden. Der Vorteil dabei ist, dass eine Messung der Orientierung des ersten Spiegels mit dem mechanischen Fühler sehr genaue Ergebnisse über die Orientierung des Spiegels liefert.Farther it is advantageous if the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror each measured with a mechanical probe becomes. It can be the difference between the first and second and / or the third and fourth orientations of the first mirror the actual Deviation of the first and second beam can be determined. Of the The advantage here is that a measurement of the orientation of the first Mirror with the mechanical probe very accurate results over the orientation of the mirror provides.

Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels jeweils dadurch bestimmt wird, dass der erste Spiegel mit einem zusätzlichen Strahl bestrahlt wird. Die Ablenkung des zusätzlichen Strahls durch den ersten Spiegel wird dabei mittels eines zweiten Detektors ermittelt. Die Orientierung des ersten Spiegels kann dabei durch die Ablenkung des zusätzlichen Strahls ermittelt werden. Das ist eine besonders vorteilhafte Messmethode der Orientierung des ersten Spiegels, weil der Betrieb des Projektors dabei nicht gestört wird. Es ist dabei vorteilhaft, wenn der zusätzliche Strahl unter einem geneigten Winkel zu dem zumindest ersten und zweiten Strahl angeordnet ist. Das hat zum Vorteil, dass es keine Interferenzen zwischen den Strahlen geben kann.It is also advantageous if the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror respectively thereby it is determined that the first mirror with an additional Beam is irradiated. The deflection of the additional beam through the first mirror is determined by means of a second detector. The orientation of the first mirror can thereby by the deflection of the additional Beam can be determined. This is a particularly advantageous method of measurement the orientation of the first mirror because of the operation of the projector not disturbed becomes. It is advantageous if the additional beam under a inclined angle to the at least first and second beam is. This has the advantage that there is no interference between the Can give rays.

Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform ist die Ermittlung der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels aus denen eine Winkelabweichung zwischen ersten und zweiten Strahl ermittelt wird. Die Ermittlung der tatsächlichen Abweichung des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche kann mit der ermittelten Winkelabweichung erhalten werden. Das hat zum Vorteil, dass die tatsächliche Abweichung der Strahlen voneinander auf der Projektionsfläche über die Ermittlung der Spiegel Orientierungen stattfinden kann.A further advantageous embodiment is the determination of the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror from which an angular deviation between the first and second beam is determined. The investigation the actual Deviation of the first and second beam on the screen can are obtained with the determined angular deviation. That has to Advantage that the actual Deviation of the beams from each other on the screen over the Determining the mirror orientations can take place.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal einer weiteren Ausführungsform ist ein Verfahrensschritt A), wobei der erste Spiegel für jeden Strahl zumindest eine definierte Orientierung aufweist. Das hat zum Vorteil, dass der Spiegel nicht zusätzlich bewegt werden muss.A further advantageous feature of a further embodiment is a method step A), wherein the first mirror has at least one defined orientation for each beam. That has to Advantage that the mirror does not have to be moved additionally.

Dabei ist es vorteilhaft, wenn ein Detektor für den ersten Strahl in eine erste Position und für den zweiten Strahl in eine zweite Position gebracht wird. Dabei wird am Detektor jeweils eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen.there It is advantageous if a detector for the first beam in a first position and for the second beam is brought to a second position. there In each case a maximum intensity of the respective beam is measured at the detector.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die erste und zweite Position des Detektors berührungslos über die Kapazität zwischen dem Detektor und einem Gegenstück gemessen wird. Aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors kann dabei die tatsächliche Abweichung zwischen dem ersten und zweiten Strahl ermittelt werden. Das hat zum Vorteil, dass über die berührungslose Messmethode der Position des Detektors die Position nicht gestört werden kann. Weiterhin wird die Position des Detektors mit der Orientierung des Spiegels und damit der Position der Strahlen in Verbindung gebracht.Farther it is advantageous if the first and second positions of the detector contactless over the capacity measured between the detector and a counterpart. From the difference between the first and second position of the detector can thereby the actual Deviation between the first and second beam can be determined. This has the advantage that over the non-contact Measuring method of the position of the detector does not disturb the position can. Furthermore, the position of the detector with the orientation the mirror and thus the position of the rays associated.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die erste und zweite Position des Detektors mit einem mechanischen Fühler gemessen wird. Aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors kann dabei die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls ermittelt werden. Die Messmethode mit einem mechanischen Fühler hat den Vorteil, dass sie besonders genaue Messergebnisse der Position des Detektors liefert.Farther it is advantageous if the first and second positions of the detector with a mechanical probe is measured. From the difference between the first and second Position of the detector can be the actual deviation of the first and second beam. The measuring method with a mechanical probe has the advantage of giving you very accurate measurement results of the position of the detector supplies.

Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn zur Ermittlung der Position der Projektion der Strahlen auf dem Detektor eine Vielzahl von Detektoren verwendet wird. Dabei ist es besonders vorteilhaft, wenn die Vielzahl von Detektoren so positioniert wird, dass alle Projektionen der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren gemessen werden können. Das hat zum Vorteil, dass die Vielzahl von Detektoren nicht für jeden Strahl jeweils in eine neue Position bewegt werden müssen. Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn der jeweilige Strahl mittels einer vor der Vielzahl von Detektoren vorhandenen Linse fokussiert wird. Das hat zum Vorteil, dass die Breite eines Strahls, die aus technischen Gründen entsteht, minimiert wird und somit die Messgenauigkeit der Position des Strahls auf dem Detektor erhöht wird.It is further advantageous when determining the position of the Projection of the rays on the detector a variety of detectors is used. It is particularly advantageous if the plurality of detectors is positioned so that all projections of the Rays on the variety of detectors can be measured. The has the advantage that the large number of detectors not for each beam each have to be moved to a new position. Furthermore, it is advantageous when the respective beam by means of one of the plurality of detectors focused on existing lens. This has the advantage that the Beam width, which arises for technical reasons, is minimized and thus the measurement accuracy of the position of the beam on the detector elevated becomes.

Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform ist, dass aus den Positionen der Projektion der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren eine Winkelabweichung zwischen dem ersten und zweiten Strahl ermittelt wird. Die Ermittlung der tatsächlichen Abweichung des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche kann durch die Verwendung der Winkelabweichung zwischen erstem und zweitem Strahl ermittelt werden. Der Vorteil dabei ist, dass eine indirekte Messung der Position der Strahlen auf der Projektionsfläche stattfindet, wobei die Position der Projektion der Strahlen auf den Detektoren gemessen wird.A further advantageous embodiment, that from the positions of the projection of the rays on the multitude of detectors an angular deviation between the first and second Beam is determined. Determining the actual deviation of the first and second beam on the screen can be through the use of the angular deviation between the first and second beam determined become. The advantage with this is that an indirect measurement of the position the rays take place on the projection surface, the Position of the projection of the rays on the detectors is measured.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform ist ein dritter Strahl vorhanden, dessen Abweichung von ersten und/oder zweiten Strahl nach der Methode gemäß den oben beschriebenen Ausführungen ermittelt wird. Das hat zum Vorteil, dass die Verwendung von drei Strahlen ein breiteres Farbspektrum liefert und somit ein farblich vielfältigeres Bild erzeugt werden kann.In A further advantageous embodiment is a third Ray exists whose deviation from the first and / or second Beam according to the method according to the above described embodiments is determined. This has the advantage that the use of three Radiation provides a wider color spectrum and thus a color more diverse picture can be generated.

In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform wird aus den in Verfahrensschritt A) ermittelten Winkelabweichungen eine Phasenverschiebung des zumindest ersten elektronischen Signals relativ zum zweiten elektronischen Signal ermittelt.In A further advantageous embodiment of the in Process step A) determined angular deviations a phase shift the at least first electronic signal relative to the second determined electronic signal.

Das hat zum Vorteil, dass die Orientierung der Spiegel beziehungsweise die Position der Detektoren Werte für Winkelabweichungen liefert, mit denen die Ansteuerung der Strahlen in Beziehung gebracht werden können.The has the advantage that the orientation of the mirror respectively the position of the detectors provides values for angular deviations, with which the control of the rays are related can.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn in Verfahrensschritt B) der Soll-Eindruck durch zeitliche Intensitätsvariation des ersten und/oder zweiten elektronischen Signals mittels der ermittelten Phasenverschiebung aus dem Ist-Eindruck wieder hergestellt wird. Der Vorteil dabei ist, dass die Wiederherstellung des Soll-Eindrucks auf der Projektionsfläche nicht durch eine mechanische Veränderung des Projektors geschieht, sondern durch die Berechnung einer Phasenverschiebung und die somit mögliche zeitliche Intensitätsvariation der elektronischen Signale, die für die Steuerung der Strahlen verantwortlich sind. Die zeitliche Intensitätsvariation umfasst dabei vorteilhafterweise eine zeitliche Verzögerung zumindest eines elektronischen Signals zur Ansteuerung eines Strahls. Damit kann günstigerweise der Soll-Eindruck der Abbildung auf der Projektionsfläche erzeugt werden, wenn beispielsweise zeilenweise die Bildpunkte durch den zumindest ersten und zweiten Strahl erzeugt werden (Flying-Spot-Verfahren).Farther it is advantageous if in step B) the desired impression by temporal intensity variation of the first and / or second electronic signal by means of the determined Phase shift is restored from the actual impression. The advantage here is that restoring the desired impression on the projection screen not by a mechanical change of the projector, but by calculating a phase shift and the possible ones temporal intensity variation the electronic signals necessary for the control of the beams are responsible. The temporal intensity variation advantageously comprises a time delay at least one electronic signal for driving a beam. This can conveniently the desired impression of the image generated on the projection screen if, for example, the pixels line by line through the at least first and second beam are generated (flying spot method).

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung eines weiteren Ausführungsbeispiels kann von einer zeilenweisen Erzeugung der Bildpunkte auf der Projektionsfläche (Zeilenrasterung) abgesehen werden. Das erfindungsgemäße Verfahren ist auch für beliebige Trajektorien der Strahlen auf der Projektionsfläche anwendbar. So kann die Trajektorie entlang einer von einer Geraden abweichenden Linie verlaufen. In einer Ausführungsform beschreibt die Trajektorie Lissajous-ähnliche Figuren auf der Projektionsfläche.In a further advantageous embodiment of another embodiment can be generated line by line on the screen (line rasterization) be disregarded. The inventive method is also for any Trajectories of the rays on the projection screen applicable. So can the Trajectory along a line deviating from a straight line. In one embodiment describes the trajectory Lissajous-like figures on the projection screen.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung eines weiteren Ausführungsbeispiels weist eine Projektions-Vorrichtung eine erste und zweite Strahlungsquelle zur Erzeugung eines ersten und zweiten Strahls auf, sowie eine Projektionseinrichtung zur Projektion des ersten und zweiten Strahls auf eine Projektionsfläche. Dabei ist es vorteilhaft, wenn eine Abbildung auf die Projektionsfläche projiziert wird. Die Projektions-Vorrichtung kann weiterhin eine elektronische Steuerung für die erste und zweite Strahlungsquelle aufweisen, sowie eine Detektionsvorrichtung zur Detektion einer Abweichung zwischen der Projektion des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche. Dabei ist es vorteilhaft, wenn die Projektions-Vorrichtung so eingerichtet ist, dass in Abhängigkeit von der durch die Detektionsvorrichtung detektierten Abweichung zwischen der Projektion des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche, die elektronische Steuerung für die erste und/oder zweite Strahlungsquelle zeitlich so verzögert werden kann, dass die Abweichung vermindert beziehungsweise korrigiert wird. Das heißt, jeder Bildpunkt auf der Projektionsfläche, der durch die Strahlen dargestellt wird, kann durch die zeitliche Verzögerung der Strahlen klarer dargestellt werden, da die zeitliche Verzögerung der örtlichen Abweichung der Strahlen voneinander aufgrund der Trägheit der Wahrnehmungsempfindung eines außen stehenden Beobachters entgegenwirkt. Das hat zum Vorteil, dass die Projektions-Vorrichtung nicht mechanisch verändert werden muss, um die Bildqualität auf der Projektionsfläche zu verbessern. Es ist lediglich eine messtechnische Maßnahme notwendig, um mit den daraus erhaltenen Werten und Berechnungen die elektronische Ansteuerung der Strahlen dahingehend zu verändern, dass die Bildqualität verbessert wird.In a further advantageous embodiment of a further embodiment, a projection device has a first and second radiation source for generating a first and second Beam on, as well as a projection device for the projection of the first and second beam onto a projection surface. It is advantageous if an image is projected onto the projection surface. The projection apparatus may further comprise an electronic controller for the first and second radiation source, and a detection device for detecting a deviation between the projection of the first and second beam on the projection surface. In this case, it is advantageous if the projection device is set up such that, as a function of the deviation between the projection of the first and second beam on the projection surface detected by the detection device, the electronic control for the first and / or second radiation source is delayed in time can be that the deviation is reduced or corrected. That is, each pixel on the projection surface represented by the rays can be more clearly represented by the time delay of the rays, because the time delay of the local deviation of the rays from each other due to the inertia of the perceptual perception of an outside observer counteracts. This has the advantage that the projection device does not have to be changed mechanically in order to improve the image quality on the projection surface. Only a metrological measure is necessary in order to use the values and calculations obtained therefrom to change the electronic control of the beams in such a way that the image quality is improved.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal ist, dass die zumindest erste und zweite Strahlungsquelle der Projektions-Vorrichtung Laser umfasst. Dabei ist es vorteilhaft, wenn die emittierten Wellenlängen der Laser einen roten, grünen oder blauen Spektralbereich umfassen. Der Vorteil dabei ist, dass mit dieser Farbwahl an Lasern ein breites Spektrum an Farben dargestellt werden kann.One Another advantageous feature is that the at least first and second radiation source of the projection device comprises laser. It is advantageous if the emitted wavelengths of Laser a red, green or blue spectral range. The advantage of this is that With this choice of colors on lasers a wide range of colors is shown can be.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die elektronische Steuerung für die erste und zweite Strahlungsquelle separate elektronische Signale erzeugt. Das hat zum Vorteil, dass jede einzelne Strahlungsquelle separat und damit jeder einzelne Strahl separat angesteuert werden kann. Eine eventuelle zeitliche Intensitätsvariation des Signals für einen einzelnen Strahl wird somit erleichtert. Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn ein elektronisches Signal zur Erzeugung eines Bildes vorhanden ist, das eine Videoelektronik umfasst. Das hat den Vorteil, dass durch die Projektions-Vorrichtung ein bewegtes Bild erzeugt werden kann.Farther It is advantageous if the electronic control for the first and second radiation source generates separate electronic signals. The has the advantage that each individual radiation source separately and so that each individual beam can be controlled separately. A possible temporal intensity variation the signal for a single beam is thus facilitated. It is still advantageous when an electronic signal for generating a Image is present, which includes video electronics. That has the advantage that a moving through the projection device Image can be generated.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal ist, wenn die elektronische Steuerung für die Strahlungsquelle einen Treiber zur Steuerung des Signals umfasst. Das hat zum Vorteil, dass die elektronischen Signale für die Strahlungsquellen genauer und eventuell schneller übertragen werden können.One Another advantageous feature is when the electronic control for the Radiation source includes a driver for controlling the signal. The has the advantage that the electronic signals for the radiation sources more accurate and possibly faster transfer can be.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal einer weiteren Ausführungsform ist ein erster Spiegel, der zur Lenkung des zumindest ersten und zweiten Strahls auf die Projektionsfläche vorhanden ist. Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn der erste Spiegel von einem elektronischen Treiber angesteuert wird. Das hat zum Vorteil, dass die Strahlen durch den elektronisch angesteuerten ersten Spiegel auf die Projektionsfläche gelenkt werden können und dabei die Bewegung des ersten Spiegels von den Strahlen unabhängig angesteuert werden kann.One Another advantageous feature of another embodiment is a first mirror for steering the at least first and second beam is present on the projection surface. It is still advantageous if the first mirror of an electronic driver is controlled. This has the advantage that the rays through the electronically controlled first mirror directed to the projection screen can be while controlling the movement of the first mirror independently of the rays can be.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn ein zweiter Spiegel zur Lenkung des zumindest ersten und zweiten Strahls auf die Detektionsvorrichtung vorhanden ist. Dabei ist es vorteilhaft, dass eine Detektion der Strahlen auf einen Detektor möglich wird.Farther It is advantageous if a second mirror for steering the at least first and second beam is present on the detection device. It is advantageous that a detection of the rays on a Detector possible becomes.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal ist ein Filter, der zwischen dem zweiten Spiegel und der Detektionsvorrichtung vorhanden ist. Dieser Filter hat zum Vorteil, dass er einen gewünschten Strahl zur Detektionsvorrichtung durchkommen lässt, während er die anderen Strahlen herausfiltert.One Another advantageous feature is a filter between the second mirror and the detection device is present. This Filter has the advantage that it has a desired beam to the detection device get through while he the other rays are filtered out.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn zwischen dem zweiten Spiegel und der Detektionsvorrichtung diffraktive Elemente vorhanden sind. Das hat zum Vorteil, dass die Strahlen aufgetrennt und nach dem diffraktiven Element in verschiedene Richtungen gelenkt werden können.Farther it is advantageous if diffractive between the second mirror and the detection device Elements are present. This has the advantage that the rays separated and after the diffractive element in different directions can be steered.

Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn zwischen dem zweiten Spiegel und der Detektionsvorrichtung eine Linse zur Fokussierung der Strahlung vorhanden ist. Das hat zum Vorteil, dass die Breite der Strahlen, die technisch bedingt entstehen, minimiert wird, und somit die Detektion der Position der Projektionen der Strahlen auf der Detektionsvorrichtung verbessert wird.It is further advantageous when between the second mirror and the detection device, a lens for focusing the radiation is available. This has the advantage that the width of the rays, which arise for technical reasons, is minimized, and thus the detection the position of the projections of the beams on the detection device improved becomes.

Ein weiteres vorteilhaftes Merkmal ist eine Steuereinheit, beispielsweise ein Chip, der mit dem ersten Spiegel und der Detektionsvorrichtung über lesende Daten-Leitungen verbunden ist. Das hat zum Vorteil, dass das elektronische Steuerelement Daten von der Orientierung des ersten Spiegels und der Position der Detektionsvorrichtung geliefert werden.One Another advantageous feature is a control unit, for example a chip with the first mirror and the detection device via reading Data lines is connected. This has the advantage that the electronic Control data from the orientation of the first mirror and the position of the detection device are supplied.

Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn die Steuereinheit über schreibende Daten-Leitungen mit dem Treiber des ersten Spiegels und der elektronischen Steuerung für die erste und zweite Strahlungsquelle verbunden ist. Das hat zum Vorteil, dass das elektronische Steuerelement die Daten, die es über die lesenden Daten-Leitungen erhalten hat, verarbeiten kann, und neue Daten zu dem Treiber des ersten Spiegels und der elektronischen Steuerung für die erste und zweite Strahlungsquelle weiterleiten kann.It is also advantageous if the control unit is connected via writing data lines to the driver of the first mirror and the electronic controller for the first and second radiation source. This has the advantage that the electronic control process the data that it has received over the reading data lines can and can forward new data to the driver of the first mirror and the electronic controller for the first and second radiation source.

Anhand der Figuren und der Ausführungsbeispiele soll die Erfindung näher erläutert werden:Based the figures and the embodiments the invention should be closer explained become:

1 zeigt einen schematischen Aufbau einer Projektions-Vorrichtung mit drei Strahlungsquellen, z. B. Laser, und Projektionsfläche. 1 shows a schematic structure of a projection device with three radiation sources, eg. As laser, and projection screen.

2 zeigt den schematischen Aufbau einer Projektions-Vorrichtung mit drei Strahlungsquellen, z. B. Laser, und Projektionsfläche und einer Abweichung der Strahlen voneinander. 2 shows the schematic structure of a projection device with three radiation sources, eg. As laser, and projection surface and a deviation of the beams from each other.

3 zeigt den schematischen Aufbau einer Ausführungsform der Methode zur Messung der Position der Strahlen. 3 shows the schematic structure of an embodiment of the method for measuring the position of the rays.

4 zeigt den schematischen Aufbau zur Fokussierung der Strahlen in dem Messaufbau mittels einer Linse. 4 shows the schematic structure for focusing the rays in the measurement setup by means of a lens.

5 zeigt die Projektionen der Strahlen auf der Projektionsfläche und die Ermittlung der Abweichung voneinander. 5 shows the projections of the rays on the projection surface and the determination of the deviation from each other.

6 zeigt einen schematischen Aufbau einer ProjektionsVorrichtung zur Umsetzung der Methode zur Verbesserung der Bildqualität. 6 shows a schematic structure of a projection device for implementing the method for improving the image quality.

1 zeigt den schematischen Aufbau einer Projektions-Vorrichtung mit drei Strahlungsquellen 100, 200 und 300. Diese Strahlungsquellen senden die Strahlen 110, 210, und 310 aus. Da die drei Strahlungsquellen nicht alle an einem Ort platziert werden können, werden die Strahlen der Strahlungsquelle 200 und 300 über die Umlenkspiegel 220 und 320 umgelenkt und mit dem Strahl 110 in Deckung gebracht. Die drei Strahlen treffen auf den ersten Spiegel 400, der beweglich ist. Über die Bewegung des ersten Spiegels 400 können die drei Strahlen 110, 210 und 310 auf die Projektionsfläche 10 gelenkt werden. Durch geeignete Bewegung des Spiegels 400 wird dadurch Punkt für Punkt auf der Projektionsfläche 10 ein Bild erzeugt. Dieses Verfahren zur Projektion eines Bildes wird auch „Flying-Spot-Verfahren" genannt. Die drei Strahlungsquellen 100, 200 und 300 sind in einer bevorzugten Ausführungsform Laser, womit die Strahlen 110, 210 und 310 Laserstrahlen sind. Es ist günstig, die Farben der Laser rot, blau und grün zu wählen. Dadurch können beliebig viele Farben im Farbspektrum erzeugt werden. Ein sehr vielfältiges Bild kann damit auf der Projektionsfläche 10 erzeugt werden. Im Idealfall überlagern sich die drei Strahlen 110, 210 und 310 durch den in 1 dargestellten Aufbau exakt, so dass der gewünschte Soll-Eindruck entsteht. Fertigungsbedingte minimale Winkelabweichungen führen jedoch zu einer Abweichung der Strahlen voneinander, was zu der Entstehung eines vom Soll-Eindruck abweichenden Ist-Eindrucks führt. 1 shows the schematic structure of a projection device with three radiation sources 100 . 200 and 300 , These radiation sources send the rays 110 . 210 , and 310 out. Since the three radiation sources can not all be placed in one place, the rays become the radiation source 200 and 300 over the deflection mirror 220 and 320 deflected and with the beam 110 brought into cover. The three rays hit the first mirror 400 that is mobile. About the movement of the first mirror 400 can the three rays 110 . 210 and 310 on the projection screen 10 be steered. By suitable movement of the mirror 400 becomes point by point on the screen 10 creates an image. This method of projecting an image is also called a "flying spot process." The three radiation sources 100 . 200 and 300 are in a preferred embodiment laser, which the beams 110 . 210 and 310 Are laser beams. It is convenient to choose the colors of the lasers red, blue and green. As a result, any number of colors in the color spectrum can be generated. A very diverse picture can thus on the projection screen 10 be generated. Ideally, the three rays are superimposed 110 . 210 and 310 through the in 1 shown construction exactly, so that the desired target impression is created. However, production-related minimum angular deviations lead to a deviation of the beams from each other, which leads to the emergence of a deviating from the target impression actual impression.

Eine solche Winkel-Abweichung d ist in 2 zu sehen. Hier sieht man, dass die drei Strahlen 110, 210 und 310 eine Abweichung voneinander zeigen, die sich auch auf der Projektionsfläche 10 widerspiegelt. Oft ist es nicht möglich bzw. sehr schwer, Projektions-Vorrichtungen mechanisch soweit zu verbessern, um eine solche Winkelabweichung zu vermeiden. Oft können sich die Winkel durch thermischen Stress auch während des Betriebs ändern.Such an angular deviation d is in 2 to see. Here you can see that the three rays 110 . 210 and 310 show a deviation from each other, which is also on the screen 10 reflects. Often it is not possible or very difficult to mechanically improve projection devices as far as possible in order to avoid such an angular deviation. Often the angles can change due to thermal stress during operation.

Daher wird in vorliegender Erfindung, wie in 3 gezeigt, eine Messmethode zur Positionierung der Strahlen eingeführt. In 3 ist beispielsweise die Messung der Position des Strahls 110 zu sehen. Dieser wird über den beweglichen ersten Spiegel 400 abgelenkt und auf die Projektionsfläche 10 projiziert. Zwischen dem ersten Spiegel 400 und der Projektionsfläche 10 befindet sich ein weiterer zweiter Spiegel 600. Dieser kann semi-transparent sein, wodurch ein Teil des Strahls 110 weiterhin auf die Projektionsfläche 10 projiziert werden kann, ein anderer Teil des Strahles jedoch von dem Spiegel 600 abgelenkt wird. Der abgelenkte Strahl 110 wird auf einen Detektor 500 projiziert. In den verschiedenen Ausführungsformen der Erfindung ist es möglich, die Position des Strahls 110 während des Betriebs der Projektions-Vorrichtung oder vor dem Betrieb der Projektions-Vorrichtung zu ermitteln. In einem so genannten Offline-Betrieb wird zwar zum Zeitpunkt der Messung der Position der Strahlen Strahlung in Richtung der Projektionsfläche durchgeführt, es wird jedoch keine Bildinformation übertragen. Der so genannte Online-Betrieb bedeutet, dass die Durchführung der Messung der Position der Strahlen während des Projektions-Betriebs erfolgt. Anhand der 3 kann sowohl der Offline-Betrieb als auch der Online-Betrieb erläutert werden.Therefore, in the present invention, as in 3 shown a measuring method for positioning the rays introduced. In 3 is, for example, the measurement of the position of the beam 110 to see. This one is about the moving first mirror 400 distracted and onto the projection screen 10 projected. Between the first mirror 400 and the projection screen 10 there is another second mirror 600 , This can be semi-transparent, which makes part of the beam 110 continue on the projection screen 10 however, another part of the beam can be projected from the mirror 600 is distracted. The deflected beam 110 is on a detector 500 projected. In the various embodiments of the invention, it is possible to determine the position of the beam 110 during operation of the projection device or prior to operation of the projection device. In a so-called off-line operation, although at the time of measuring the position of the beams, radiation is conducted in the direction of the projection surface, however, no image information is transmitted. The so-called online operation means that the measurement of the position of the beams is performed during the projection operation. Based on 3 Both offline operation and online operation can be explained.

Sowohl im Offline-Betrieb als auch im Online-Betrieb können zwei unterschiedliche Verfahren durchgeführt werden. Ein Verfahren weist eine variable Spiegelstellung und einen ortsfesten Detektor auf, das andere Verfahren eine variable Detektorposition bei definierter Spiegelstellung.Either in offline mode as well as in online mode can be two different Procedure performed become. One method has a variable mirror position and a stationary detector, the other method a variable detector position with defined mirror position.

Als erstes Ausführungsbeispiel soll die Variante Offline-Betrieb mit ortsfestem Detektor erläutert werden. Hierbei ist zur Durchführung der Messung der Position der Strahlen jeweils nur ein einzelner Strahl in Betrieb. Der zweite Spiegel 600 kann semi-transparent sein oder nicht-transparent, da es nicht notwendig ist, das der Strahl auf die Projektionsfläche projiziert werden muss. Der zweite Spiegel 600 sollte jedoch so positioniert werden dass er den jeweiligen Strahl, der gerade in Betrieb ist, zumindest teilweise auf einen Detektor 500 mit feststehender Position lenkt. Der jeweilige Strahl, der auf den Detektor 500 gelenkt wird, erzeugt dabei eine Projektion auf dem Detektor. Der erste, bewegliche Spiegel 400 wird nun solange bewegt, bis er sich in einer Orientierung befindet, bei der am Detektor 500 eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen wird. Dies wird für jeden Strahl, beispielsweise den Strahl 110, 210 und 310 einzeln durchgeführt. Besonders vorteilhaft ist es, wenn für jeden der Strahlen eine weitere Orientierung des ersten Spiegels 400 ermittelt wird bei der am ersten Detektor 500 die maximale Intensität des Strahls gemessen wird. Dies trägt zur Erhöhung der Messgenauigkeit bei. Die jeweiligen Orientierungen des ersten Spiegels 400 können jeweils berührungslos über die Kapazität zwischen dem ersten Spiegel 400 und einem Gegenstück gemessen werden. Es ist auch möglich, die Orientierungen des ersten Spiegels 400 mit einem mechanischen Fühler zu messen. Weiterhin kann die Orientierung des Spiegels jeweils dadurch bestimmt werden, dass der erste Spiegel 400 mit einem zusätzlichen Strahl bestrahlt wird, und dessen Ablenkung mittels eines zweiten Detektors ermittelt wird. Dabei ist es vorteilhaft wenn der zusätzliche Strahl jeweils unter einem geneigten Winkel zu dem Strahl, der gerade in Betrieb ist, angeordnet wird. Aus den gemessenen Orientierungen des ersten Spiegels 400 können dann Differenzen gebildet werden aus den Orientierungen des Spiegels für den ersten Strahl, einen zweiten und einen dritten Strahl. Die Ermittlung der Orientierung des Spiegels und der Differenz der Orientierungen des Spiegels für die jeweiligen Strahlen dient dazu, die tatsächliche Abweichung der Strahlen voneinander zu ermitteln. Die Messung der Position der Strahlen kann somit bauteilintern erfolgen oder -extern. Aus der Differenz der Orientierungen der Spiegel für die jeweiligen Strahlen kann eine Winkelabweichung zwischen den Strahlen ermittelt werden.As a first embodiment, the variant offline operation will be explained with fixed detector. In this case, only a single beam is in operation for carrying out the measurement of the position of the beams. The second mirror 600 can be semi-transparent or non-transparent, since it is not necessary that the beam must be projected onto the projection surface. The second mirror 600 however, should be positioned so that it at least partially targets the particular beam that is currently operating on a detector 500 with fixed Steering position. The respective beam pointing to the detector 500 is directed, thereby producing a projection on the detector. The first, movable mirror 400 is now moved until it is in an orientation at the detector 500 a maximum intensity of the respective beam is measured. This will be for every ray, for example the ray 110 . 210 and 310 individually performed. It is particularly advantageous if, for each of the beams, a further orientation of the first mirror 400 is determined at the first detector 500 the maximum intensity of the beam is measured. This contributes to increasing the measurement accuracy. The respective orientations of the first mirror 400 each can be contactless about the capacity between the first mirror 400 and a counterpart. It is also possible the orientations of the first mirror 400 to measure with a mechanical probe. Furthermore, the orientation of the mirror can each be determined by the fact that the first mirror 400 is irradiated with an additional beam, and whose deflection is determined by means of a second detector. It is advantageous if the additional beam is in each case arranged at an inclined angle to the beam which is currently in operation. From the measured orientations of the first mirror 400 then differences can be formed from the orientations of the mirror for the first beam, a second and a third beam. The determination of the orientation of the mirror and the difference of the orientations of the mirror for the respective beams serves to determine the actual deviation of the beams from each other. The measurement of the position of the beams can thus take place component-internally or -extern. From the difference in the orientations of the mirrors for the respective beams, an angular deviation between the beams can be determined.

Eine weitere Ausführungsform der Erfindung ist die Messmethode der Strahlposition im Offline-Betrieb bei variabler Detektorposition. Hierbei wird der erste Spiegel 400 für jeden Strahl in zumindest einer feststehenden Orientierung gehalten. Der Detektor 500 wird für jeden Strahl, beispielsweise den Strahlen 110, 210 und 310, in jeweils eine Position gebracht, bei der am Detektor eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen wird. Die Messung der Position des Detektors kann bauteilintern erfolgen. Die bauteilinterne Messung erfolgt berührungslos über die Kapazität zwischen dem Detektor und einem Gegenstück oder mittels eines mechanischen Fühlers. Möchte man die Messung der Detektorposition vermeiden, so kann man weiterhin statt eines einzelnen Detektors eine Vielzahl an Detektoren (Detektor-Array) zur Ermittlung der Positionen der Projektionen der Strahlen verwenden. Dabei wird die Vielzahl von Detektoren so positioniert, dass alle Positionen der Projektionen der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren gemessen werden können, ohne die Vielzahl der Detektoren bewegen zu müssen. Durch die aufeinander folgende Messung der Positionen der Projektion der Stahlen auf der Vielzahl von Detektoren wird eine Winkelabweichung zwischen den Strahlen ermittelt, die zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichung der Strahlen auf der Projektionsfläche voneinander verwendet wird.Another embodiment of the invention is the measurement method of the beam position in offline mode with variable detector position. This is the first mirror 400 for each beam held in at least one fixed orientation. The detector 500 becomes for every ray, for example the rays 110 . 210 and 310 , In each case brought in a position at which a maximum intensity of the respective beam is measured at the detector. The measurement of the position of the detector can be done within the component. The component-internal measurement takes place without contact via the capacitance between the detector and a counterpart or by means of a mechanical sensor. If one wishes to avoid the measurement of the detector position, one can continue to use instead of a single detector, a plurality of detectors (detector array) for determining the positions of the projections of the beams. Thereby, the plurality of detectors are positioned so that all positions of the projections of the beams on the plurality of detectors can be measured without having to move the plurality of detectors. By sequentially measuring the positions of the projections of the steels on the plurality of detectors, an angular deviation between the beams is used, which is used to determine the actual deviation of the beams on the projection surface from each other.

Im Online-Betrieb ist der zweite Spiegel 600 semi-transparent und dauerhaft installiert um besonders vorteilhaft einen Teil der Strahlen auf die Projektionsfläche zur Erzeugung der Abbildung zu lenken und gleichzeitig einen anderen Teil der Strahlen auf die Detektoren zur Bestimmung der Abweichung der Strahlen voneinander zu lenken. Mit anderen Worten, sind alle Farben gleichzeitig in Betrieb, was bedeutet, dass auf der Projektionsfläche 10 ein Bild erzeugt wird, während gleichzeitig die Position der Strahlen auf einem Detektor 500 gemessen wird. Die Ablenkung der Strahlen, beispielsweise die Strahlen 110, 210 und 310, auf dem Detektor 500 geschieht mittels des zweiten Spiegels 600. Da alle Strahlen gleichzeitig in Betrieb sind, ist es nötig, zur Trennung der Strahlen vor dem Detektor 500 im Strahlengang bestimmte Elemente einzuführen. Dazu eignet sich beispielsweise ein wellenlängenselektiver Filter, der zwischen dem zweiten Spiegel 600 und dem Detektor 500 vorhanden ist. Dieser Filter ermöglicht es jeweils nur einem Strahl, zu dem Detektor 500 vorzudringen, während die anderen Strahlen abgeblockt werden. Dadurch kann jeweils die Position der Projektion eines Strahls gemessen werden. Eine weitere Möglichkeit zur Trennung der Strahlen ist ein diffraktives Element, das nach dem zweiten Spiegel 600 vorhanden ist. Ein diffraktives Element sorgt dafür, dass die Strahlen in verschiedene Richtungen gelenkt werden und somit ebenfalls aufgetrennt werden.In online operation is the second mirror 600 Semi-transparent and permanently installed to particularly advantageous to direct a portion of the rays on the projection surface to generate the image and at the same time to direct a different part of the rays on the detectors for determining the deviation of the beams from each other. In other words, all colors are in operation at the same time, which means that on the screen 10 an image is generated while simultaneously the position of the rays on a detector 500 is measured. The deflection of the rays, for example the rays 110 . 210 and 310 , on the detector 500 happens by means of the second mirror 600 , Since all beams are in operation at the same time, it is necessary to separate the beams in front of the detector 500 to introduce certain elements in the beam path. For this purpose, for example, a wavelength-selective filter, which is between the second mirror 600 and the detector 500 is available. This filter allows only one beam at a time to the detector 500 penetrate while the other rays are blocked. As a result, the position of the projection of a beam can be measured in each case. Another way of separating the rays is a diffractive element following the second mirror 600 is available. A diffractive element ensures that the beams are directed in different directions and thus also be separated.

Im Online-Betrieb mit ortsfestem Detektor wird als Detektor eine Vielzahl von Detektoren verwendet. Der jeweilige Strahl, der auf die Vielzahl von Detektoren gelenkt wird, erzeugt eine Projektion auf dieser Vielzahl von Detektoren. Der erste Spiegel 400 wird wiederum in verschiedene Orientierungen gebracht, bei der die jeweiligen Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren mit einem Intensitätsmaximum gemessen werden können. Das kann vorteilhafterweise wieder für jeden Strahl mehrmals durchgeführt werden und jeweils eine neue Orientierung des Spiegels ermittelt werden. Die Orientierungen des Spiegels 400 können jeweils bauteilintern oder -extern gemessen werden. Das sind beispielsweise die berührungslose Messung über die Kapazität zwischen dem Spiegel 400 und einem Gegenstück oder die Messung mit einem mechanischen Fühler. Als externe Variante kann die Bestrahlung mit einem zusätzlichen Strahl verwendet werden, dessen Ablenkung mittels eines weiteren Detektors ermittelt wird. Dieser zusätzliche Strahl ist vorteilhafterweise unter einem geneigten Winkel zu den übrigen Strahlen angeordnet. Die so ermittelten Orientierungen des ersten Spiegels 400 werden herangezogen, um Differenzen von Spiegelorientierungen für die jeweiligen Strahlen zu ermitteln. Aus diesen Differenzen werden wiederum Winkelabweichungen zwischen den jeweiligen Strahlen ermittelt und daraus die tatsächliche Abweichung der Strahlen auf der Projektionsfläche berechnet.In online operation with stationary detector, a plurality of detectors is used as the detector. The particular beam being directed at the plurality of detectors produces a projection on that plurality of detectors. The first mirror 400 is again brought into different orientations, in which the respective beams can be measured on the plurality of detectors with an intensity maximum. This can advantageously be carried out several times again for each beam and in each case a new orientation of the mirror can be determined. The orientations of the mirror 400 can each be measured within the component or externally. These are, for example, the non-contact measurement of the capacitance between the mirror 400 and a counterpart or the measurement with a mechanical probe. As an external variant, the irradiation can be used with an additional beam whose deflection is determined by means of another detector. This additional beam is advantageously angeord at an inclined angle to the other rays net. The thus determined orientations of the first mirror 400 are used to determine differences of mirror orientations for the respective beams. From these differences, angle deviations between the respective beams are again determined and from this the actual deviation of the beams on the projection surface is calculated.

Eine weitere Möglichkeit beim Online-Betrieb ist es, den ersten Spiegel 400 in definierte Orientierungen für jeden Strahl zu bringen. Ein Detektor 500 kann für jeden Strahl in eine Position gebracht werden, bei der am Detektor eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen wird. Die Messung der Position des Detektors kann bauteilintern erfolgen. Die interne Messung ist die berührungslose Messung über die Kapazität zwischen dem Detektor und einem Gegenstück oder die Messung mit einem mechanischen Fühler.Another option in online operation is the first mirror 400 to bring in defined orientations for each ray. A detector 500 can be brought into a position for each beam, in which the detector a maximum intensity of the respective beam is measured. The measurement of the position of the detector can be done within the component. The internal measurement is the non-contact measurement via the capacitance between the detector and a counterpart or the measurement with a mechanical probe.

Es kann weiterhin eine Vielzahl von Detektoren verwendet werden, die so positioniert wird, dass alle Projektionen der Strahlen gleichzeitig gemessen werden können. Dabei ist eine Bewegung der Vielzahl von Detektoren nicht notwendig. Aus den Positionen der Projektionen der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren kann eine Winkelabweichung zwischen den jeweiligen Strahlen ermittelt werden. Mit der Winkelabweichung wiederum kann die tatsächliche Abweichung der Strahlen voneinander auf der Projektionsfläche 10 ermittelt werden. Der Unterschied der beiden Methoden im Online-Betrieb einmal mit ortsfestem Detektor und einmal mit ortsfestem Spiegel ist, dass beim ortsfesten Detektor ein Signal ausgesendet wird wenn der Detektor ein maximales Intensitätsmaximum anzeigt. Ist der Spiegel in einer definierten Orientierung wird ein Signal ausgesendet, wenn der Spiegel sich in jener definierten Orientierung befindet. Beide Signale sorgen dafür, dass die zeitliche Intensitätsvariation der Steuerung der Strahlungsquellen erfolgt.In addition, a variety of detectors can be used which are positioned so that all projections of the beams can be measured simultaneously. In this case, a movement of the plurality of detectors is not necessary. From the positions of the projections of the beams on the plurality of detectors, an angular deviation between the respective beams can be determined. With the angular deviation, in turn, the actual deviation of the rays from each other on the projection surface 10 be determined. The difference between the two methods in online operation, once with a fixed detector and once with a fixed mirror, is that a signal is emitted at the fixed detector when the detector indicates a maximum intensity maximum. If the mirror is in a defined orientation, a signal is emitted if the mirror is in that defined orientation. Both signals ensure that the temporal intensity variation of the control of the radiation sources takes place.

In 4 ist schematisch die Fokussierung der Strahlen vor dem Detektor zu sehen. Die Einführung einer Linse 700 zwischen dem zweiten Spiegel 600 und dem Detektor 500 ist besonders vorteilhaft, um eine Verbesserung der Messgenauigkeit herbeizuführen. Jeder Stahl, beispielsweise der Strahl 110, hat eine technisch bedingte Breite a. Diese Breite kann durch die Einführung einer Linse minimiert werden. Durch die weitere Einführung einer Blende 750 zwischen der Linse 700 und dem Detektor 500 kann weiterhin die richtige Position des Strahls definiert werden. Durch Bewegung des Spiegels 600 wird die Position der Projektion des Strahls 110 bewegt und kann in eine Orientierung gebracht werden, bei der der Strahl genau durch die Blendenöffnung auf den Detektor 500 trifft. Ein fokussierter Strahl liefert ein genaueres Ergebnis über die Position seiner Projektion auf dem Detektor. Die Verwendung von einer Blende und Linse kann den Strahldurchmesser auf etwa 20 bis 30 μm oder noch geringer reduzieren.In 4 schematically shows the focusing of the beams in front of the detector. The introduction of a lens 700 between the second mirror 600 and the detector 500 is particularly advantageous in order to bring about an improvement in the measuring accuracy. Every steel, for example the beam 110 , has a technical width a. This width can be minimized by the introduction of a lens. By the further introduction of a screen 750 between the lens 700 and the detector 500 the correct position of the beam can still be defined. By movement of the mirror 600 becomes the position of the projection of the beam 110 moved and can be brought into an orientation in which the beam is precisely through the aperture on the detector 500 meets. A focused beam gives a more accurate result on the position of its projection on the detector. The use of a diaphragm and lens can reduce the beam diameter to about 20 to 30 μm or even less.

In 5 ist ein Beispiel zur Ermittlung der Abweichung der Projektionen der Strahlen auf der Projektionsfläche 10 zu sehen. Die Projektionen der Strahlen 110, 210 und 310 sind auf der Projektionsfläche 10 als Punkte 110a, 210a und 310a zu sehen. Die drei Punkte haben bei beispielsweise einer Wahl als Referenzpunkt 110a jeweils zwei Abweichungen. Der Punkt 210a weicht von dem Punkt 110a in x und y-Richtung ab. Die Differenzen sind als 210a_y und 210a_x bezeichnet. Ebenso weist die Projektion des Strahls 310, 310a eine Abweichung in y-Richtung und x-Richtung von dem Punkt der Projektion 110a auf. Diese Abweichungen werden als 310a_y und 310a_x bezeichnet. Man erhält also relative Abweichungen der Projektionen von einem gewählten Referenzprojektionspunkt. Aus diesen Abweichungen können Winkelabweichungen ermittelt werden. Beispielsweise führt die Annahme, dass ein Pixelversatz um eine Zeile und eine Spalte bei einer Auflösung von 1024 × 768, einer Projektionsentfernung von 1,5 m und einer Bildgröße von 42 cm × 29,7 cm zu einer Winkelabweichung von 0,015° in der Zeile und 0,016° in der Spalte. Die Winkelabweichungen wiederum führen zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichungen der Projektionen auf der Projektionsfläche.In 5 is an example for determining the deviation of the projections of the rays on the projection surface 10 to see. The projections of the rays 110 . 210 and 310 are on the screen 10 as points 110a . 210a and 310a to see. The three points have, for example, a choice as a reference point 110a two deviations each. The point 210a deviates from the point 110a in x and y direction. The differences are as 210a_y and 210a_x designated. Similarly, the projection of the beam 310 . 310a a deviation in the y-direction and x-direction from the point of projection 110a on. These deviations are called 310a_y and 310a_x designated. Thus one obtains relative deviations of the projections from a selected reference projection point. From these deviations angle deviations can be determined. For example, the assumption that a pixel offset by one row and one column at a resolution of 1024 × 768, a projection distance of 1.5 m, and an image size of 42 cm × 29.7 cm results in an angular deviation of 0.015 ° in the row and 0.016 ° in the column. The angular deviations in turn lead to the determination of the actual deviations of the projections on the projection surface.

Aus den Winkelabweichungen kann eine Phasenverschiebung der Strahlen voneinander ermittelt werden. Die Phasenverschiebung bezieht sich auf die elektronischen Signale zur Ansteuerung der jeweiligen Strahlen. Werden die elektronischen Signale der jeweiligen Strahlen um die Phasenverschiebung, die ermittelt wurde, moduliert, was eine zeitliche Verzögerung der einzelnen Strahlen bedeutet, kann der gewünschte Farbeindruck auf der Projektionsfläche 10 wiederhergestellt werden.From the angular deviations, a phase shift of the beams can be determined from each other. The phase shift refers to the electronic signals for driving the respective beams. If the electronic signals of the respective beams are modulated by the phase shift which has been determined, which means a time delay of the individual beams, the desired color impression on the projection surface can be modulated 10 be restored.

6 zeigt schematisch die Umsetzung der oben erläuterten Ausführungsbeispiele der Erfindung in einer Ausführungsform einer Projektions-Vorrichtung. Es ist dort eine Projektions-Vorrichtung zu sehen, die eine Videoelektronik 800 umfasst, die zur Projektion bewegter oder stehender Bilder führt. Weiterhin ist eine zentrale Steuereinheit 900 vorhanden, vorzugsweise ein Chip. Die Videoelektronik 800 leitet Daten zur elektronischen Steuerung 30 für die Strahlungsquellen. Die elektronische Steuerung 30 für die Strahlungsquellen kann sich zusammensetzen aus Verzögerungsgliedern 130a, 230a und 330a für jede Strahlungsquelle 100, 200 und 300 sowie Treibern für jede Strahlungsquelle 130b, 230b und 330b. Die Strahlungsquellen, die vorteilhafterweise Laser sind, senden Strahlen 110, 210 und 310 zu einem beweglichen ersten Spiegel 400. Dieser erste Spiegel 400 wird von einem ersten elektronischen Treiber 450 angesteuert. Der erste Spiegel 400 leitet die Strahlen auf eine Projektionsfläche. Zwischen dem Spiegel 400 und einer Detektionsvorrichtung 550 zur Durchführung der Messungen der Strahlungspositionen ist ein zweiter Spiegel 600 angebracht, der die Strahlen in die gewünschte Richtung lenkt. Die Detektionsvorrichtung 550 ist nach den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen ausgestattet und kann insbesondere einen ersten Detektor oder eine Vielzahl von Detektoren umfassen. Die Steuereinheit 900 ist über lesende Daten Leitungen mit dem ersten Spiegel 400, der Detektionsvorrichtung 550 und dem elektronischen Signal 800 zur Erzeugung eines Bildes verbunden. Das heißt, die Steuereinheit 900 erhält Daten über die Orientierung des Spiegels 400, über den Fortschritt der elektronischen Signale zur Erzeugung eines Bildes und über die Ergebnisse der Messungen der Detektionsvorrichtung 550. Weiterhin ist die Steuereinheit 900 über schreibende Daten-Leitungen mit dem Treiber des ersten Spiegels 450, der elektronischen Steuerung 30 für die Strahlungsquellen und dem elektronischen Signal 800 zur Erzeugung eines Bildes verbunden. Das heißt, die Steuereinheit 900 kann über die ermittelten Daten, die es von den lesenden Leitungen erhalten hat, überarbeitete Daten an den Treiber des ersten Spiegels 450 senden zur neuen Orientierung dieses Spiegels, an die elektronische Steuerung für die Strahlungsquellen zur Regulierung der Strahlen 110, 210 und 310 und an das elektronische Signal 800 zur Erzeugung eines Bildes zur zeitlichen Intensitätsvariation der Signale, die unter den neuen Bedingungen notwendig sind. Beispielsweise können so die Verzögerungsglieder 130a, 230a und 330a dafür sorgen, dass die Strahlungsquellen 100, 200 und 300 zu modulierten Zeiten Strahlen in modulierter Intensität aussenden, um die Bildqualität auf der Projektionsfläche 10 zu verbessern. Aus den ermittelten Spiegelorientierungen für jeden Strahl werden Phasenverschiebungen ermittelt aus denen Steuerungssignale an die Verzögerungsglieder gesendet werden. 6 schematically shows the implementation of the above-described embodiments of the invention in an embodiment of a projection device. There is a projection device to see there, the video electronics 800 which leads to the projection of moving or still images. Furthermore, a central control unit 900 present, preferably a chip. The video electronics 800 forwards data to the electronic control 30 for the radiation sources. The electronic control 30 for the radiation sources can be composed of delay elements 130a . 230a and 330a for every radiation source 100 . 200 and 300 as well as drivers for each radiation source 130b . 230b and 330b , The radiation sources, which are advantageously lasers, emit rays 110 . 210 and 310 to a movable first mirror 400 , This first mirror 400 is from a first electronic driver 450 driven. The first mirror 400 directs the rays on a projection screen. Between the mirror 400 and a detection device 550 to perform the measurements of the radiation positions is a second mirror 600 attached, which directs the rays in the desired direction. The detection device 550 is equipped according to the embodiments described above and may in particular comprise a first detector or a plurality of detectors. The control unit 900 is via reading data lines with the first mirror 400 , the detection device 550 and the electronic signal 800 connected to create an image. That is, the control unit 900 receives data about the orientation of the mirror 400 on the progress of the electronic signals to produce an image and the results of the measurements of the detection device 550 , Furthermore, the control unit 900 over writing data lines with the driver of the first mirror 450 , the electronic control 30 for the radiation sources and the electronic signal 800 connected to create an image. That is, the control unit 900 can use the data obtained, which it has received from the reading lines, revised data to the driver of the first mirror 450 send to the new orientation of this mirror, to the electronic control for the radiation sources to regulate the beams 110 . 210 and 310 and to the electronic signal 800 for generating an image for temporal intensity variation of the signals necessary under the new conditions. For example, so the delay elements 130a . 230a and 330a make sure that the radiation sources 100 . 200 and 300 At modulated times emit rays of modulated intensity to improve the image quality on the screen 10 to improve. From the determined mirror orientations for each beam phase shifts are determined from which control signals are sent to the delay elements.

Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neuen Merkmals sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.The The invention is not by the description based on the embodiments limited. Much more includes the invention of each new feature as well as each combination of features, in particular any combination of features in the claims includes, even if this feature or this combination itself not explicitly in the patent claims or embodiments is specified.

Claims (70)

Methode zur Projektion einer Abbildung mittels zumindest eines ersten (110) und zweiten (210) Strahls auf eine Projektionsfläche (10), – wobei durch die Überlagerung der Projektion des ersten und zweiten Strahls auf die Projektionsfläche ein Soll-Eindruck der Abbildung erzeugt werden soll, – wobei durch eine tatsächliche Abweichung (d) der Projektion des ersten und des zweiten Strahls auf die Projektionsfläche ein von dem Soll-Eindruck abweichender Ist-Eindruck der Abbildung erzeugt wird, mit den Verfahrensschritten A) Ermittlung der tatsächlichen Abweichung der Projektion des ersten von dem zweiten Strahl auf der Projektionsfläche, B) zeitliche Variation der Intensität des ersten und/oder zweiten Strahls nach den im Verfahrenschritt A) ermittelten Abweichungen zur Erzeugung des Soll-Eindrucks.Method for projecting an image using at least a first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam onto a projection surface ( 10 ), - by the superimposition of the projection of the first and second beam onto the projection surface a desired impression of the image is to be generated, - by an actual deviation (d) of the projection of the first and the second beam on the projection surface of the Target impression deviating actual impression of the image is generated, with the method steps A) determination of the actual deviation of the projection of the first of the second beam on the projection surface, B) temporal variation of the intensity of the first and / or second beam after that in the process step A) determined deviations to produce the desired impression. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der zumindest erste (110) und zweite (210) Strahl zur Projektion der Bildpunkte mittels eines ersten Spiegels (400) auf die Projektionsfläche (10) gelenkt wird.Method according to the preceding claim, wherein the at least first ( 110 ) and second ( 210 ) Ray for projection of the pixels by means of a first mirror ( 400 ) on the projection surface ( 10 ) is directed. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der erste Spiegel (400) beweglich ist.Method according to the preceding claim, wherein the first mirror ( 400 ) is movable. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche 2 und 3, wobei der erste Spiegel (400) elektronisch angesteuert wird.Method according to one of the preceding claims 2 and 3, wherein the first mirror ( 400 ) is controlled electronically. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei als erster (110) und zweiter (210) Strahl Laserstrahlen verwendet werden.Method according to one of the preceding claims, wherein the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam laser beams are used. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der Wellenlängenbereich der Laserstrahlen einen roten, grünen oder blauen Spektralbereich umfasst.Method according to the preceding claim, wherein the Wavelength range the laser beams a red, green or blue spectral range includes. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der zumindest erste (110) und zweite (210) Strahl jeweils eine erste und zweite zeitliche Intensitätsvariation aufweist, die durch ein zumindest erstes und zweites elektronisches Signal erzeugt wird.Method according to one of the preceding claims, wherein the at least first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam each having first and second temporal intensity variations generated by at least first and second electronic signals. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei zur Durchführung des Verfahrensschritts A) zwischen dem ersten Spiegel (400) und der Projektionsfläche (10) ein zweiter Spiegel (600) orientiert wird und jeweils nur ein einzelner Strahl in Betrieb ist.Method according to one of the preceding claims, wherein for carrying out the method step A) between the first mirror ( 400 ) and the projection surface ( 10 ) a second mirror ( 600 ) and only a single beam is in operation at a time. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei als zweiter Spiegel (600) ein semi-transparenter Spiegel oder ein Umlenkspiegel verwendet wird.Method according to the preceding claim, wherein as second mirror ( 600 ) a semi-transparent mirror or a deflection mirror is used. Methode nach einem der Ansprüche 8 oder 9, wobei der zweite Spiegel (600) so orientiert wird, dass er den jeweiligen Strahl, der in Betrieb ist, zumindest teilweise auf einen Detektor (500) mit feststehender Position lenkt.Method according to one of claims 8 or 9, wherein the second mirror ( 600 ) is oriented so as to at least partially direct the respective beam which is in operation to a detector ( 500 ) with a fixed position. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der jeweilige Strahl, der auf den Detektor (500) gelenkt wird, eine Projektion auf dem Detektor erzeugt.Method after the previous one claim, wherein the respective beam which is incident on the detector ( 500 ), generates a projection on the detector. Methode nach einem der Ansprüche 10 und 11, wobei der jeweilige Strahl, der in Betrieb ist, mittels einer vor dem Detektor (500) vorhandenen Linse (700) fokussiert wird.Method according to one of claims 10 and 11, wherein the respective beam which is in operation, by means of a front of the detector ( 500 ) existing lens ( 700 ) is focused. Methode nach Anspruch 10, wobei der erste Spiegel (400) für den ersten Strahl (110) in eine erste Orientierung gebracht wird, bei der am Detektor (500) eine maximale Intensität des ersten Strahls gemessen wird.Method according to claim 10, wherein the first mirror ( 400 ) for the first beam ( 110 ) is brought into a first orientation, in which at the detector ( 500 ) a maximum intensity of the first beam is measured. Methode nach Anspruch 10 oder 13, wobei der erste Spiegel (400) für den zweiten Strahl (210) in eine zweite Orientierung gebracht wird, bei der am Detektor (500) eine maximale Intensität des zweiten Strahls gemessen wird.Method according to claim 10 or 13, wherein the first mirror ( 400 ) for the second beam ( 210 ) is brought into a second orientation, in which at the detector ( 500 ) a maximum intensity of the second beam is measured. Methode nach Anspruch 10, wobei für den ersten Strahl (110) eine dritte Orientierung des ersten Spiegels (400) gemessen wird, bei der der erste Strahl auf einem zweiten Detektor eine maximale Intensität aufweist.Method according to claim 10, wherein for the first beam ( 110 ) a third orientation of the first mirror ( 400 ) at which the first beam has a maximum intensity on a second detector. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei für den zweiten Strahl (210) eine vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) gemessen wird, bei der der zweite Strahl auf einem zweiten Detektor eine maximale Intensität aufweist.Method according to the preceding claim, wherein for the second beam ( 210 ) a fourth orientation of the first mirror ( 400 ) at which the second beam has a maximum intensity on a second detector. Methode nach einem der Ansprüche 13 bis 16, wobei die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) berührungslos über die Kapazität zwischen dem Spiegel und einem Gegenstück gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to one of claims 13 to 16, wherein the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) is measured contactlessly via the capacitance between the mirror and a counterpart, and from the difference between the first and second and / or the third and fourth orientations of the first mirror the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach einem der Ansprüche 13 bis 16, wobei die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) mit einem mechanischen Fühler gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to one of claims 13 to 16, wherein the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) is measured with a mechanical probe and from the difference between the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror, the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach einem der Ansprüche 13 bis 16, wobei die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) jeweils dadurch bestimmt wird, dass der erste Spiegel mit einem zusätzlichen Strahl bestrahlt wird und dessen Ablenkung mittels eines zweiten Detektors ermittelt wird, wobei die Orientierung des ersten Spiegels durch die Ablenkung des zusätzlichen Strahls ermittelt wird.Method according to one of claims 13 to 16, wherein the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) is determined in each case by the fact that the first mirror is irradiated with an additional beam and whose deflection is determined by means of a second detector, wherein the orientation of the first mirror is determined by the deflection of the additional beam. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der zusätzliche Strahl unter einem geneigten Winkel zu dem zumindest ersten und zweiten Strahl angeordnet wird.Method according to the preceding claim, wherein the additional one Beam at an inclined angle to the at least first and second beam is arranged. Methode nach einem der Ansprüche 13 bis 20, wobei aus der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels (400) eine Winkelabweichung zwischen erstem (110) und zweitem (210) Strahl ermittelt wird, die zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichung (d) des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche (10) verwendet wird.Method according to one of claims 13 to 20, wherein from the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) an angular deviation between the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected, which is used to determine the actual deviation (d) of the first and second beam on the projection surface ( 10 ) is used. Methode nach einem der Ansprüche 8 oder 9, wobei während des Verfahrensschrittes A) der erste Spiegel (400) für jeden Strahl in zumindest einer feststehenden Orientierung gehalten wird.Method according to one of claims 8 or 9, wherein during method step A) the first mirror ( 400 ) is maintained in at least one fixed orientation for each beam. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei ein Detektor (500) für den ersten Strahl (110) in eine erste Position und für den zweiten Strahl (210) in eine zweite Position gebracht wird, bei der am Detektor eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen wird.Method according to the preceding claim, wherein a detector ( 500 ) for the first beam ( 110 ) in a first position and for the second beam ( 210 ) is brought into a second position, in which a maximum intensity of the respective beam is measured at the detector. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die erste und zweite Position des Detektors (500) berührungslos über die Kapazität zwischen dem Detektor und einem Gegenstück gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors die tatsächliche Abweichung des ersten und zweiten Strahls ermittelt wird.Method according to the preceding claim, wherein the first and second positions of the detector ( 500 ) is measured without contact via the capacitance between the detector and a counterpart, and the difference between the first and second position of the detector is used to determine the actual deviation of the first and second beam. Methode nach Anspruch 23, wobei die erste und zweite Position des Detektors (500) mit einem mechanischen Fühler gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to claim 23, wherein the first and second positions of the detector ( 500 ) is measured with a mechanical probe and from the difference between the first and second position of the detector, the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach Anspruch 22, wobei zur Ermittlung der Position der Projektion der Strahlen auf dem Detektor (500) eine Vielzahl von Detektoren vorhanden ist.Method according to claim 22, wherein for determining the position of the projection of the beams on the detector ( 500 ) a plurality of detectors is present. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die Vielzahl von Detektoren so positioniert wird, dass alle Positionen der Projektionen der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren gemessen werden können.Method according to the preceding claim, wherein the variety of detectors is positioned so that all positions the projections of the beams are measured on the plurality of detectors can. Methode nach einem der Ansprüche 26 oder 27, wobei der jeweilige Strahl, der in Betrieb ist, mittels einer vor der Vielzahl von Detektoren vorhandenen Linse (700) fokussiert wird.Method according to one of claims 26 or 27, wherein the respective beam which is in operation, by means of a present in front of the plurality of detectors lens ( 700 ) is focused. Methode nach einem der Ansprüche 26 bis 28, wobei aus den Positionen der Projektion der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren eine Winkelabweichung zwischen ersten (110) und zweiten (210) Strahl ermittelt wird, die zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichung (d) des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche (10) verwendet wird.A method according to any one of claims 26 to 28, wherein from the positions of the projection of the beams on the plurality of detectors, an angular deviation between the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected, which is used to determine the actual deviation (d) of the first and second beam on the projection surface ( 10 ) is used. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein dritter Strahl (310) vorhanden ist, dessen Abweichung vom ersten (110) und/oder zweiten (210) Strahl nach der Methode gemäß einer der vorhergehenden Ansprüche wird.Method according to one of the preceding claims, wherein a third beam ( 310 ) whose deviation from the first ( 110 ) and / or second ( 210 ) Beam according to the method according to one of the preceding claims. Methode nach den Ansprüchen 1 bis 7, wobei zur Durchführung des Verfahrensschritts A) zwischen dem ersten Spiegel (400) und der Projektionsfläche (10) ein zweiter semi-transparenter Spiegel (600) positioniert wird und alle Strahlen gleichzeitig in Betrieb sind, wobei sie auf der Projektionsfläche den Ist-Eindruck erzeugen.Method according to claims 1 to 7, wherein for carrying out the method step A) between the first mirror ( 400 ) and the projection surface ( 10 ) a second semi-transparent mirror ( 600 ) is positioned and all beams are simultaneously in operation, where they produce the actual impression on the projection surface. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die Strahlen mittels des zweiten Spiegels (600) teilweise auf einen Detektor (500) gelenkt werden.Method according to the preceding claim, wherein the beams are separated by means of the second mirror ( 600 ) partially to a detector ( 500 ) are steered. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei zur Trennung der Strahlen ein Filter zwischen dem zweiten Spiegel (600) und dem Detektor (500) vorhanden ist.Method according to the preceding claim, wherein a filter is arranged between the second mirror for separating the beams ( 600 ) and the detector ( 500 ) is available. Methode nach dem Anspruch 32, wobei zur Trennung der Strahlen ein diffraktives Element nach dem zweiten Spiegel (600) vorhanden ist.A method according to claim 32, wherein for the separation of the beams a diffractive element after the second mirror ( 600 ) is available. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei als Detektor (500) eine Vielzahl von Detektoren verwendet wird und der jeweilige Strahl, der auf die Vielzahl von Detektoren gelenkt wird, eine Projektion auf der Vielzahl von Detektoren erzeugt.Method according to the preceding claim, wherein as detector ( 500 a plurality of detectors is used and the respective beam directed to the plurality of detectors generates a projection on the plurality of detectors. Methode nach einem der Ansprüche 33 bis 35, wobei die Vielzahl von Detektoren eine feststehende Position hat.A method according to any one of claims 33 to 35, wherein said plurality of detectors has a fixed position. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der erste Spiegel (400) in eine erste Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des ersten Strahls (110) misst.Method according to the preceding claim, wherein the first mirror ( 400 ) is brought into a first orientation, in which the plurality of detectors an intensity maximum of the first beam ( 110 ) measures. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der ersten Spiegel (400) in eine zweite Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des zweiten Strahls (210) misst.Method according to the preceding claim, wherein the first mirror ( 400 ) is brought into a second orientation, in which the plurality of detectors an intensity maximum of the second beam ( 210 ) measures. Methode nach Anspruch 36, wobei der erste Spiegel (400) in eine dritte Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des ersten Strahls (110) misst.Method according to claim 36, wherein the first mirror ( 400 ) is brought into a third orientation, in which the plurality of detectors an intensity maximum of the first beam ( 110 ) measures. Methode nach Anspruch 36, wobei der erste Spiegel (400) in eine vierte Orientierung gebracht wird, in der die Vielzahl von Detektoren ein Intensitätsmaximum des zweiten Strahls (210) misst.Method according to claim 36, wherein the first mirror ( 400 ) is brought into a fourth orientation, in which the plurality of detectors an intensity maximum of the second beam ( 210 ) measures. Methode nach einem der Ansprüche 37 bis 40, wobei die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) jeweils berührungslos über die Kapazität zwischen dem Spiegel und einem Gegenstück gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to one of claims 37 to 40, wherein the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) is measured in each case without contact via the capacitance between the mirror and a counterpart, and from the difference between the first and second and / or the third and fourth orientations of the first mirror the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach einem der Ansprüche 37 bis 40, wobei die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) jeweils mit einem mechanischen Fühler gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to one of claims 37 to 40, wherein the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) is measured in each case with a mechanical probe, and from the difference between the first and second and / or the third and fourth orientations of the first mirror, the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach einem der Ansprüche 37 bis 40, wobei die erste und zweite und/oder die dritte und vierte Orientierung des ersten Spiegels (400) jeweils dadurch bestimmt wird, dass der erste Spiegel mit einem zusätzlichen Strahl bestrahlt wird und dessen Ablenkung mittels eines zweiten Detektors ermittelt wird, wobei die Orientierung des ersten Spiegels durch die Ablenkung des zusätzlichen Strahls ermittelt wird.Method according to one of claims 37 to 40, wherein the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) is determined in each case by the fact that the first mirror is irradiated with an additional beam and whose deflection is determined by means of a second detector, wherein the orientation of the first mirror is determined by the deflection of the additional beam. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der zusätzliche Strahl unter einem geneigten Winkel zu dem zumindest ersten und zweiten Strahl angeordnet ist.Method according to the preceding claim, wherein the additional one Beam at an inclined angle to the at least first and second beam is arranged. Methode nach einem der Ansprüche 37 bis 44, wobei aus der ersten und zweiten und/oder der dritten und vierten Orientierung des ersten Spiegels (400) eine Winkelabweichung zwischen erstem und zweitem Strahl ermittelt wird, die zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls auf der Projektionsfläche (10) verwendet wird.Method according to one of claims 37 to 44, wherein from the first and second and / or the third and fourth orientation of the first mirror ( 400 ) an angular deviation between the first and second beam is determined, which is used to determine the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam on the projection surface ( 10 ) is used. Methode nach einem der Ansprüche 31 bis 45, wobei im Verfahrensschritt a) der erste Spiegel (400) für jeden Strahl zumindest eine definierte Orientierung aufweist.Method according to one of claims 31 to 45, wherein in step a) the first mirror ( 400 ) has at least one defined orientation for each beam. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei ein Detektor (500) für den ersten Strahl (110) in eine erste Position und für den zweiten Strahl (210) in eine zweite Position gebracht wird, bei der am Detektor eine maximale Intensität des jeweiligen Strahls gemessen wird.Method according to the preceding claim, wherein a detector ( 500 ) for the first beam ( 110 ) in a first position and for the second beam ( 210 ) is brought to a second position, in the at the detector a maximum intensity of the respective beam is measured. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die erste und zweite Position des Detektors (500) berührungslos über die Kapazität zwischen dem Detektor und einem Gegenstück gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to the preceding claim, wherein the first and second positions of the detector ( 500 ) is measured contactlessly via the capacitance between the detector and a counterpart, and from the difference between the first and second position of the detector the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach Anspruch 47, wobei die erste und zweite und Position des Detektors (500) mit einem mechanischen Fühler gemessen wird und aus der Differenz zwischen der ersten und zweiten Position des Detektors die tatsächliche Abweichung (d) des ersten (110) und zweiten (210) Strahls ermittelt wird.Method according to claim 47, wherein the first and second positions of the detector ( 500 ) is measured with a mechanical probe and from the difference between the first and second position of the detector, the actual deviation (d) of the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected. Methode nach Anspruch 46, wobei zur Ermittlung der Position der Projektion der Strahlen auf dem Detektor (500) eine Vielzahl von Detektoren verwendet wird.Method according to claim 46, wherein for determining the position of the projection of the beams on the detector ( 500 ) a variety of detectors is used. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die Vielzahl von Detektoren so positioniert wird, dass alle Projektionen der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren gemessen werden können.Method according to the preceding claim, wherein the variety of detectors is positioned so that all projections the beams on the plurality of detectors can be measured. Methode nach einem der Ansprüche 50 bis 51, wobei der jeweilige Strahl mittels einer vor der Vielzahl von Detektoren vorhandenen Linse (700) fokussiert wird.A method according to any one of claims 50 to 51, wherein the respective beam is detected by means of a lens (15) present in front of the plurality of detectors. 700 ) is focused. Methode nach einem der Ansprüche 50 bis 52, wobei aus den Positionen der Projektion der Strahlen auf der Vielzahl von Detektoren eine Winkelabweichung zwischen erstem (110) und zweitem (210) Strahl ermittelt wird, die zur Ermittlung der tatsächlichen Abweichung (d) des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche (10) verwendet wird.Method according to one of claims 50 to 52, wherein from the positions of the projection of the beams on the plurality of detectors, an angular deviation between the first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam is detected, which is used to determine the actual deviation (d) of the first and second beam on the projection surface ( 10 ) is used. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein dritter Strahl (310) vorhanden ist, dessen Abweichung vom ersten (110) und/oder zweiten (210) Strahl nach der Methode gemäß den Ansprüchen 31 bis 53 ermittelt wird.Method according to one of the preceding claims, wherein a third beam ( 310 ) whose deviation from the first ( 110 ) and / or second ( 210 ) Beam is determined by the method according to claims 31 to 53. Methode nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei aus den im Verfahrensschritt A) ermittelten Winkelabweichungen eine Phasenverschiebung eines zumindest ersten elektronischen Signals relativ zu einem zweiten elektronischen Signal ermittelt wird, wobei die elektronischen Signale die Intensität der jeweiligen Strahlen steuern.Method according to one of the preceding claims, wherein from the angular deviations determined in method step A) Phase shift of an at least first electronic signal relative is determined to a second electronic signal, wherein the electronic signals control the intensity of the respective beams. Methode nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei im Verfahrensschritt B) der Soll-Eindruck durch zeitliche Intensitätsvariation des ersten und/oder zweiten elektronischen Signals mittels der ermittelten Phasenverschiebung aus dem Ist-Eindruck wiederhergestellt wird.Method according to the preceding claim, wherein in process step B) the desired impression by temporal intensity variation of the first and / or second electronic signal by means of the determined Phase shift is restored from the actual impression. Projektions-Vorrichtung, aufweisend – zumindest eine erste (100) und zweite (200) Strahlungsquelle zur Erzeugung eines ersten (110) und zweiten (210) Strahls, – eine Projektionseinrichtung zur Projektion des ersten und zweiten Strahls auf eine Projektionsfläche (10), wobei eine Abbildung auf die Projektionsfläche projiziert wird, – eine elektronische Steuerung (30) für die erste und zweite Strahlungsquelle, – eine Detektionsvorrichtung (550) zur Detektion einer Abweichung (d) zwischen der Projektion des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche, wobei die Projektions-Vorrichtung so eingerichtet ist, dass in Abhängigkeit von der durch die Detektionsvorrichtung detektierten Abweichung (d) zwischen der Projektion des ersten und zweiten Strahls auf der Projektionsfläche (10) die elektronische Steuerung für die erste und/oder zweite Strahlungsquelle so verzögert werden kann, dass die Abweichung vermindert bzw. korrigiert wird.Projection device, comprising - at least a first ( 100 ) and second ( 200 ) Radiation source for generating a first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam, - a projection device for projecting the first and second beam onto a projection surface ( 10 ), whereby an image is projected on the projection surface, - an electronic control ( 30 ) for the first and second radiation source, - a detection device ( 550 ) for detecting a deviation (d) between the projection of the first and second beam on the projection surface, wherein the projection device is arranged such that, depending on the detected by the detection device deviation (d) between the projection of the first and second beam on the projection screen ( 10 ) the electronic control for the first and / or second radiation source can be delayed so that the deviation is reduced or corrected. Projektions-Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die zumindest erste (100) und zweite (200) Strahlungsquelle Laser umfasst.Projection device according to the preceding claim, wherein the at least first ( 100 ) and second ( 200 ) Radiation source comprises laser. Projektions-Vorrichtung nach einem der Ansprüche 57 und 52, wobei die emittierten Wellenlängen der Laser einen roten, grünen oder blauen Spektralbereich umfassen.Projection device according to one of claims 57 and 52, wherein the emitted wavelengths of the lasers have a red, green or blue spectral range. Projektions-Vorrichtung nach Anspruch 57, wobei die elektronische Steuerung (30) für die erste (100) und zweite (200) Strahlungsquelle separate elektronische Signale erzeugt.Projection apparatus according to claim 57, wherein said electronic control ( 30 ) for the first ( 100 ) and second ( 200 ) Radiation source generates separate electronic signals. Projektions-Vorrichtung nach Anspruch 57, wobei eine Steuereinheit vorhanden ist, die die elektronischen Steuerungen für die Strahlungsquellen in Abhängigkeit von der detektierten Abweichung (d) steuert.Projection apparatus according to claim 57, wherein A control unit is present that controls the electronic controls for the Radiation sources in dependence from the detected deviation (d) controls. Projektions-Vorrichtung nach Anspruch 57, wobei die elektronische Steuerung (30) für die Strahlungsquelle einen Treiber zur Steuerung des Signals umfasst.Projection apparatus according to claim 57, wherein said electronic control ( 30 ) for the radiation source comprises a driver for controlling the signal. Projektions-Vorrichtung nach einem der Ansprüche 57 bis 62, wobei die Projektionseinrichtung einen ersten Spiegel (400) zur Lenkung des zumindest ersten (110) und zweiten (210) Strahls auf die Projektionsfläche (10) umfasst.Projection device according to one of claims 57 to 62, wherein the projection device comprises a first mirror ( 400 ) for steering the at least first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam onto the projection surface ( 10 ). Projektions-Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei der erste Spiegel (400) von einem elektronischen Treiber (450) angesteuert wird.Projection device according to the preceding claim, wherein the first mirror ( 400 ) from an electronic driver ( 450 ) is driven. Projektions-Vorrichtung nach einem der Ansprüche 57 bis 64, wobei die Projektionseinrichtung einen zweiten Spiegel (600) zur Lenkung des zumindest ersten (110) und zweiten (210) Strahls auf die Detektionsvorrichtung (550) umfasst.Projection device according to one of claims 57 to 64, wherein the projection device comprises a second mirror ( 600 ) for steering the at least first ( 110 ) and second ( 210 ) Beam onto the detection device ( 550 ). Projektions-Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei zwischen dem zweiten Spiegel (600) und der Detektionsvorrichtung (550) ein Filter vorhanden ist.Projection device according to the preceding claim, wherein between the second mirror ( 600 ) and the detection device ( 550 ) a filter is present. Projektions-Vorrichtung nach Anspruch 66, wobei zwischen dem zweiten Spiegel (600) und der Detektionsvorrichtung (550) diffraktive Elemente vorhanden sind.Projection device according to claim 66, wherein between the second mirror ( 600 ) and the detection device ( 550 ) diffractive elements are present. Projektions-Vorrichtung nach dem Anspruch 66, wobei zwischen dem zweiten Spiegel (600) und der Detektionsvorrichtung (550) eine Linse (700) zur Fokussierung der Strahlen vorhanden ist.Projection device according to claim 66, wherein between the second mirror ( 600 ) and the detection device ( 550 ) a lens ( 700 ) is present for focusing the rays. Projektions-Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 57 bis 68, wobei eine Steuereinheit (900) vorhanden ist, die mit dem ersten Spiegel (400), der Detektionsvorrichtung (550) zur Erzeugung eines Bildes über lesende Daten-Leitungen verbunden ist.Projection device according to one of the preceding claims 57 to 68, wherein a control unit ( 900 ) present with the first mirror ( 400 ), the detection device ( 550 ) is connected to generate an image via read data lines. Projektions-Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, wobei die Steuereinheit (900) über schreibende Daten-Leitungen mit dem Treiber des ersten Spiegels (450), der elektronischen Steuerung (30) für die erste und zweite Strahlungsquelle verbunden ist.Projection device according to the preceding claim, wherein the control unit ( 900 ) over writing data lines with the driver of the first mirror ( 450 ), the electronic control ( 30 ) is connected to the first and second radiation sources.
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