DE102006046224A1 - Mikro-elektro-mechanischer System (MEMS) Sensor für extreme Umgebungsbedingungen - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein elektronisches Bauelement, insbesondere einen Mikro-elektro-mechanisches-System-Drucksensor (7) oder allgemein MEMS-Sensoren, die für hohe Drücke und hohe Temperaturen und extreme Umgebungsbedingungen verwendbar sind. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass als Substrat eine besonders temperaturbeständige Halbleiterverbindung, und zwar Siliziumkarbid (SiC) verwendet wird. Auf diese Weise können hohe Drücke und Temperaturen, insbesondere in Turbinen und Kompressoren (10), erfasst werden. Zusätzlich wird zur Datenübertragung ein Ultraschallmesswertumformer (9) vorgeschlagen.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein elektronisches Bauelement, insbesondere einen Mikro-elektro-mechanischer-System (MEMS) Sensor nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs oder des Nebenanspruchs und ein entsprechendes Verfahren zur Herstellung eines derartigen elektronischen Bauelements sowie eine bestimmte Verwendung.
- Es existieren herkömmliche Mikro-elektro-mechanischer-System (MEMS) Drucksensoren, die Drücke bis zu einer Größe von ca. 10 Bar erfassen können. Diese Drucksensoren weisen epitaktische Schichten auf. Herkömmliche Sensoren, die Metallmembranen aufweisen, eignen sich zur Druckerfassung bis zu einer Höhe von mehreren hundert Bar. Diese Sensoren benötigen eine externe Stromversorgung.
- Insbesondere im Inneren von Kompressoren und Turbinen liegen extreme Umgebungsbedingungen vor. Diese sind beispielsweise hohe Drücke bis mehrere hundert oder tausend Bar, hohe Temperaturen bis mehrere hundert Grad Celsius und/oder aggressive, korrosive Gase. Alle elektronischen Komponenten und Sensoren, die in diese Vorrichtungen integriert werden, müssen Materialien aufweisen, die diesen extremen Umgebungsbedingungen angepasst sind. Zusätzlich sollen diese ein kleines Volumen aufweisen und wenig Energie erfordern, so dass diese sich ggf. energieautonom selbst versorgen und Daten übertragen können.
- Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein elektronisches beziehungsweise elektromechanisches Bauelement, insbesondere einen Mikro-elektro-mechanischer-System (MEMS) Drucksensor, derart bereitzustellen, dass dieses ebenso bei extremen Umgebungsbedingungen, wie beispielsweise bei hohen Drücken und/oder Temperaturen und/oder aggressiven und/oder korrosi ven Gasen, sicher und zuverlässig physikalische Größen, insbesondere Drücke oder Temperaturen, erfasst. Des Weiteren soll das elektronische beziehungsweise elektromechanische Bauelement lediglich ein kleines Volumen aufweisen und wenig Energie zum Betrieb benötigen. Das elektronische beziehungsweise elektromechanische Bauelement soll auf einfache Weise herstellbar und vorteilhaft bei Messungen in Kompressoren und Turbinen verwendbar sein.
- Die Aufgabe wird durch ein elektronisches beziehungsweise elektromechanisches Bauelement gemäß dem Hauptanspruch und dem Nebenanspruch gelöst. Das elektronische beziehungsweise elektromechanische Bauelement kann gemäß den Verfahrensansprüchen auf einfache Weise erzeugt werden. Gemäß dem Verwendungsanspruch eignet sich das elektronische beziehungsweise elektro-mechanische Bauelement besonders vorteilhaft zur Verwendung beim Messen im Inneren von Kompressoren und Turbinen.
- Beansprucht wird ein elektronisches beziehungsweise elektromechanisches Bauelement, insbesondere ein mikro-elektromechanischer System-Sensor, mit einem Substrat, auf den Oberflächen des Substrats aufgebrachten elektrischen Kontaktschichten, wobei das Substrat mindestens eine Halbleiterverbindung, insbesondere Siliziumverbindung, beispielsweise SiC aufweist.
- Ein erfindungsgemäßer Drucksensor weist auf einer Membranschicht eine mäanderförmige Leiterbahn, insbesondere Nickelleiterbahn auf, deren Enden elektrisch kontaktiert sind. Die Druckerfassung erfolgt piezo-resistiv. Piezoresistivität bedeutet, dass aufgrund einer mechanischen Verformung eine Widerstandsänderung der Leiterbahn erzeugt wird.
- Ein alternativer Drucksensor misst kapazitiv.
- Die Herstellung besonders kleiner elektronischer Bauelemente lässt sich besonders vorteilhaft auf der Grundlage der so genannten MEMS-(Mikro-elektro-mechanisches-System) Technologie verwirklichen. Auf herkömmliche Wiese dient Silizium (Si) als Standard-MEMS-Material. Dieses ist jedoch für extreme Umgebungsbedingungen ungeeignet, da es bei hohen Temperaturen seine halbleitenden Eigenschaften verliert, und es in aggressiven Gasen korrodiert. Gemäß der vorliegenden Erfindung werden Halbleiterverbindungen, insbesondere Siliziumverbindungen verwendet.
- Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung ist es besonders vorteilhaft, wenn ein Substrat und/oder eine Membranschicht mindestens eine Halbleiterverbindung, insbesondere eine Siliziumverbindung, insbesondere Siliziumkarbid (SiC), wie beispielsweise 4H-SiC aufweist. Auf diese Weise wird die herkömmliche MEMS-Technologie mit dem Siliziumkarbid (SiC) kombiniert. Auf diese Weise können elektronische Bauelemente, insbesondere Temperatursensoren und Drucksensoren, für sehr extreme Umgebungsbedingungen bereitgestellt werden. Auf diese Weise können im Unterschied zum Stand der Technik, MEMS-Sensoren für hohe Temperaturen und hohe Drücke bereitgestellt werden.
- Durch Verwendung der vorgeschlagenen Materialien ist eine Verwendung von elektronischen Bauelementen bei Drücken bis über 2000 Bar, bei Temperaturen über 400° Celsius, bei Einsatz in aggressiven und/oder korrosiven Gasen, bei kleinem Volumen und geringem Energieverbrauch geeignet.
- Auf diese Weise können Hochtemperatur-MEMS-Sensoren, insbesondere Siliziumkarbid-Sensoren und/oder Sensoren für extreme Umgebungen bereitgestellt werden.
- Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen finden sich in den Unteransprüchen.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist die Passivierungs- und Verbindungsschicht Siliziumdioxid und/oder Siliziumnitrid auf. Auf diese Weise kann besonders vorteil haft eine Passivierung des elektronischen Bauelements bereitgestellt werden.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weisen die elektrischen Kontaktschichten Nickel und/oder Titan auf. Dabei stellt Titan eine besonders gute Haftung der erzeugten Kontaktschichten bereit. Mittels der elektrischen Kontaktschichten wird das elektronische Bauelement elektrisch kontaktiert.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wurde die Passivierungs- und Verbindungsschicht direkt auf dem Substrat und in der Ausnehmung aufgebracht. Auf diese Weise ist die Passivierungs- und Verbindungsschicht besonders stabil und unabhängig von Membranschwingungen erzeugt.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wurde die Passivierungs- und Verbindungsschicht direkt auf der Membranschicht aufgebracht. Die Passivierungs- und Verbindungsschicht wurde auf diese Weise besonders einfach erzeugt. Ein Ausfüllen von Ausnehmungen ist nicht notwendig.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist ein Temperatursensor auf dem Substrat aufgebracht. Aufgrund einer Temperaturänderung erfolgt eine Änderung der Leitfähigkeit einer Leiterbahn beziehungsweise Widerstandsbahn. Die Temperaturmessung erfolgt durch Widerstandsmessung, beispielsweise einer Nickelleiterbahn, deren elektrischer Widerstand temperaturabhängig ist. Besonders vorteilhaft gleicht die Widerstandsbahn des Temperatursensors der piezo-resistiven Widerstandsbahn, so dass der Temperatureinfluss auf den piezoresistiven Drucksensor kompensiert werden kann.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung erfolgt ein Verringern der Schichtdicke der Membranschicht vor dem Aufbringen der elektrischen Kontaktschichten. Auf diese Weise wird das elektronische Bauelement an seinen Messbereich ange passt. Der Messbereich wird insbesondere ebenso durch die Dimensionierung der Ausnehmung bestimmt.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung kann die Passivierungs- und Verbindungsschicht als eine erste auf der vorderen Oberfläche des Substrats und in der Ausnehmung und/oder als eine zweite auf der Membranschicht auf der Seite zum Substrat aufgebrachte Schicht erzeugt sein. Auf diese Weise kann eine mechanisch stabile und einfache Passivierung bereitgestellt werden.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist das Substrat ein Wafer, insbesondere ein 3'' SiC-Wafer, wobei eine Vielzahl von Drucksensoren auf dem Wafer auf einfache Weise erzeugt wird.
- Gemäß weiteren vorteilhaften Ausgestaltungen können zur Herstellung der MEMS-Bauteile herkömmliche Verfahren wie beispielsweise Lithografie, Trockenätzen, Waferbonden und dergleichen verwendet werden.
- Besonders vorteilhaft werden Ausnehmungen lithografisch und mittels Trockenätzen auf einfache Weise exakt erzeugt.
- Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung erfolgt das Erzeugen der elektrischen Kontaktierungen mittels Sputtern. Beispielsweise kann zuerst eine eine gute Haftung erzeugende Titanschicht und darauf eine Nickelschicht aufgebracht werden.
- Erfindungsgemäß hergestellte Bauelemente eignen sich insbesondere für eine Verwendung zur Messung von physikalischen Größen in Kompressoren und/oder Turbinen.
- Die vorliegende Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den Figuren näher beschrieben. Es zeigen:
-
1 ein erstes Ausführungsbeispiel eines elektronischen Bauelements gemäß der vorliegenden Erfindung; -
2 ein zweites Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen elektronischen Bauelements; -
3 ein drittes Ausführungsbeispiel eines elektronischen Bauelements gemäß der vorliegenden Erfindung; -
4 ein Ausführungsbeispiel eines Verfahrens zur Herstellung eines elektronischen Bauelements gemäß der vorliegenden Erfindung; -
5 ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Wafers, und zwar nach Erzeugen der Ausnehmungen bzw. nach Aufbringung der Membranschicht; -
6 ein Ausführungsbeispiel einer Verwendung des erfindungsgemäßen Bauteils in einem Kompressor; -
7 ein Ausführungsbeispiel eines Sensorkonzepts; und -
8 ein weiteres Ausführungsbeispiel der Verwendung eines elektronischen Bauteils gemäß dem Sensorkonzept der vorliegenden Erfindung. -
1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel eines mikroelektro-mechanischen-System Drucksensors7 . Das Messprinzip des Drucksensors kann auf einer Veränderung der Kapazität aufgrund des einwirkenden Druckes p beruhen. Dieser verändert den Abstand d und damit die durch den kapazitiven Drucksensor erzeugte Kapazität. Die Kapazität ist mit der Formel C = εε0· A / d bestimmt.1 zeigt zudem den Querschnitt eines MEMS-Drucksensors7 mit einem Substrat1 , mit einer in einer vorderen Oberfläche des Substrats1 erzeugten Ausnehmung2 . Eine Membranschicht3 erstreckt sich über der Ausnehmung2 auf der vorderen Oberfläche des Substrats1 . Substrat1 und Membranschicht3 weisen Siliziumkarbid SiC auf. Vergleichbare Halbleiter, insbesondere Siliziumverbindungen, sind ebenso verwendbar. Zwischen dem Substrat1 mit der Ausnehmung2 und der Membranschicht3 erstreckt sich eine Passivierungs- und Verbindungsschicht4 . Diese Passivierungs- und Verbindungsschicht4 ist auf der die Ausnehmung2 umlaufenden Schicht des Substrats1 aufgebracht. Die Passivierungs- und Verbindungsschicht4 weist bevorzugt Siliziumdioxid SiO2 auf. Alternativ kann der Drucksensor7 nach dem piezo-resistiven Prinzip arbeiten, bei dem Druckänderungen in Widerstandsänderungen umgewandelt werden. -
2 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen elektronischen Bauelements. Dabei sind ein MEMS-Drucksensor7 und ein Temperatur-Sensor8 kombiniert.2 zeigt eine Draufsicht auf beide Sensoren. Auf der rechten Seite ist ein Drucksensor7 angeordnet, wie er in1 dargestellt worden ist. Benachbart zu diesem Drucksensor7 ist ein Temperatursensor8 bereitgestellt. Dieser weist eine auf einem Substrat1 integrierte Leiterbahn11 , bevorzugt bestehend aus Nickel, auf, die sich mäanderförmig auf der Substratoberfläche erstreckt. Der Temperatursensor8 ist als temperaturabhängiger elektrischer Widerstand bereitgestellt. Damit der Temperatursensor8 ebenso wie der Drucksensor7 bei großen Temperaturen verwendbar sind, weist dass gemeinsame Substrat1 eine Halbleiterverbindung, insbesondere Siliziumverbindung, insbesondere Siliziumkarbid SiC auf. Mit dem kombinierten Sensor können Temperatur und Druck gleichzeitig erfasst werden. Ist der Drucksensor7 eine piezo-resistiver, so kann der Temperatureinfluss auf diesen durch die Temperaturmessung des Temperatursensors8 kompensiert werden. -
3 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen elektronischen Bauelements, insbesondere eines MEMS-Drucksensors7 . Es ist ein Substrat1 mit einer Ausnehmung2 bereitgestellt. Auf einer vorderen Oberfläche des Substrats1 mit der Ausnehmung2 ist eine Membranschicht3 aufgebracht. Zwischen dem Substrat1 mit der Ausnehmung2 und der Membranschicht3 erstreckt sich eine Passivierungs- und Verbindungsschicht4 . Dabei ist die Passivierungs- und Verbindungsschicht4 direkt auf dem Substrat1 und in der Ausnehmung2 aufgebracht. Alternativ oder kumulativ kann die Passivierungs- und Verbindungsschicht4 direkt auf der Membranschicht3 aufgebracht werden. Auf den der Ausnehmung2 abgewandten Oberflächen des Substrats1 und/oder der Membranschicht3 sind elektrische Kontaktschichten5 aufgebracht. Das Substrat1 weist bevorzugt 4H-SiC Siliziumkarbid auf. Die Passivierungs- und Verbindungsschicht4 weist bevorzugt Siliziumdioxid SiO2 auf. Ebenso kann die Passivierungs- und Verbindungsschicht4 Siliziumnitrid aufweisen. Die elektrischen Kontaktschichten5 sind auf Titan aufgebrachte Nickelschichten. Andere Metalle sind ebenso verwendbar. Als Wafer kann insbesondere ein N-Typ Wafer mit 0,015 Ω/cm verwendet werden. 6H-SiC ist ebenso verwendbar. „xH" bezeichnet insbesondere einen Anteil von Wasserstoff zur Leitfähigkeitsdotierung. Die Ausnehmung2 kann beispielsweise mittels RIE-Ätzen erzeugt werden. Die Isolationsschicht4 kann als 0,25 μm dicke SiO2-Schicht aufgebracht werden. Das Verbinden von der Membranschicht3 mit dem Substrat1 erfolgt, beispielsweise unter Vakuum, und mittels Tempern. Abschließend wird die Membranschicht3 verdünnt. Kontaktschichten5 werden durch Sputtern von Nickel auf Titan (500 Nanometer/10 Nanometer) erzeugt. Gemäß dem Ausführungsbeispiel gemäß3 wird eine Dicke d von 100 μm, eine Fläche A von 1 mm und eine Lücke g von 4 μm erzeugt. Aufgrund von Berechnungen ist die Kapazität C0 = 2,214 pF mit einer maximalen Biegung von 3,47 μm (bei 600 Bar) und die Empfindlichkeit e ~ 3,0 fF/Bar. -
4 zeigt ein Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements, und zwar eines MEMS-Drucksensors7 , gemäß der vorliegenden Erfindung. Gemäß einem Schritt51 wird ein Substrat1 bereitgestellt, das bevorzugt Siliziumkarbid SiC aufweist. Bezugszeichen1 bezeichnet beispielsweise einen 3'' SiC Siliziumkarbid-Wafer. Gemäß einem Schritt S2 wird eine Ausnehmung2 in eine vordere Oberfläche des Substrats1 erzeugt. Die Ausnehmungen2 können mit herkömmlichen MEMS- Verfahren erzeugt werden. Die Ausnehmungen2 können mittels Lithografie und anschließendem Trockenätzen erzeugt werden. Mit einem Schritt S4 erfolgt das Aufbringen einer sich über der Ausnehmung2 und auf der vorderen Oberfläche des Substrats1 erstreckenden Membranschicht3 mittels einer sich zwischen dem Substrat1 mit der Ausnehmung2 in der Membranschicht3 erstreckenden Passivierungs- und Verbindungsschicht4 . Das Aufbringen erfolgt beispielsweise mittels Chemical Vapor Deposition (CVD), und zwar mittels Abscheidung aus der Gasphase. Das Verbinden erfolgt mittels Bonding. Vor dem Schritt S4, und zwar bei Schritt S3, wird die Passivierungs- und Verbindungsschicht4 als eine erste auf der vorderen Oberfläche des Substrats1 und in der Ausnehmung2 und/oder als eine zweite auf der Membranschicht3 auf der Seite zum Substrat1 aufgebrachte Schicht erzeugt. Mittels eines Schrittes S5 wird die Schichtdicke der Membranschicht3 verringert. Bei einem nicht dargestellten Abschlussschritt erfolgt ein Aufbringen von elektrischen Kontaktschichten5 auf den der Ausnehmung2 abgewandten Oberflächen des Substrat1 und/oder der Membranschicht3 . -
5 zeigt einen Wafer als Substrat1 . Auf diesem Wafer ist eine Vielzahl von Drucksensoren7 erzeugbar. Die obere Darstellung gemäß5 zeigt den Wafer1 nach dem Erzeugen der Ausnehmungen2 . Die untere Darstellung gemäß5 zeigt den Wafer1 nach dem Aufbringen der Membranschicht3 . -
6 zeigt einen Kompressor10 . In diesen Kompressor10 sind ein energieautonomer Drucksensor7 und Temperatursensor8 integriert. Die Messdaten werden an eine externe Datenverarbeitungseinrichtung12 zur Bedienung übertragen. Da der Kompressor10 im Betrieb hermetisch abgeschlossen ist, eignen sich anstelle eines elektromagnetischen Übertragungssystems, Ultraschall-Transducer9 bzw. Ultraschall-Messwertumformer9 zur Daten- und Informationsübertragung. Auf der Grundlage der Messergebnisse ist eine einfache Lebensdauervorhersage möglich. Auf diese Weise kann ebenso die verfügbare Betriebszeit des Kompressors10 erhöht werden. Das vorstehend Gesagte gilt ebenso für Turbinen.6 zeigt im Kompressor10 die Sensoren und die externe Datenverarbeitungseinrichtung12 . -
7 zeigt ein bevorzugtes Sensorkonzept. Es wird eine Energiequelle in Form eines Mikrogenerators bereitgestellt. Dieser ist bevorzugt ein induktiver Wandler6 . Dieser ist in dem Kompressor10 positioniert und arbeitet als Magnetgenerator. Der induktive Wandler6 kann eine Spule aufweisen und mittels ferro-/paramagnetischer Kompressorschaufeln oder kleinen Magneten auf Kompressorschaufeln eine induzierte Spannung erzeugen. Damit wird auf einfache Weise eine Energieversorgung bereitgestellt. Die zur Verfügung gestellte Energie ist sehr viel größer als die durch den Drucksensor7 und den Temperatursensor8 und den Ultraschallmesswertumformer9 notwendige Energie. Damit ist eine Energieversorgung ohne Batterie geschaffen. Ebenso können Niedrigleistungs-MEMS-Sensoren verwendet werden. Der Mikrogenerator6 versorgt den erfindungsgemäßen kapazitiven Drucksensor7 und den Temperatursensor8 mit Energie. Die mittels der Sensoren erfassten Messwerte werden mittels eines Ultraschallwandlers oder Ultraschallmesswertumformers9 an eine externe Datenverarbeitungseinrichtung12 übertragen. Auf diese Weise ist eine drahtlose Datenübertragung möglich. Elektromagnetische Wellen werden durch das Kompressor- oder Turbinengehäuse abgeschirmt. Zusätzlich kann ein Energiespeicher bereitgestellt werden. Weitere Application Specified Integrated Circuits ASICs können ebenso bereitgestellt sein. -
8 zeigt die hardwaremäßige Umsetzung des Sensorkonzepts gemäß7 . Demnach ist ein induktiver Wandler bzw. ein Mikrogenerator mit dem Bezugszeichen6 bezeichnet. Der induktive Wandler6 versorgt den Drucksensor7 und den Temperatursensor8 derart, dass Druck- und Temperaturwerte erfasst und mittels eines Ultraschallmesswertumformers9 an eine externe Datenverarbeitungseinrichtung12 übertragen werden. Auf der linken Seite der8 ist ein Kompressor10 dargestellt. Induktiver Wandler6 , Drucksensor7 und Temperatursensor8 bilden mit dem als Sender vorgesehenen Ultraschallmessumfor mer9 eine Einheit, die auf einfache Weise in eine Turbine10 oder einen Kompressor integriert werden kann.
Claims (16)
- Elektro-mechanisches Bauelement, insbesondere ein piezoresistiver Mikro-elektro-mechanischer-System (MEMS) Drucksensor (
7 ), mit – einem Substrat (1 ) mit einer Ausnehmung (2 ) in einer vorderen Oberfläche des Substrats (1 ), – einer sich über der Ausnehmung (2 ) und auf der vorderen Oberfläche des Substrats (1 ) erstreckenden Membranschicht (3 ), – einer sich zwischen dem Substrat (1 ) mit der Ausnehmung (2 ) und der Membranschicht (3 ) erstreckenden Passivierungs- und/oder Verbindungsschicht (4' ), – mindestens einer auf einer, insbesondere der Ausnehmung (2 ) abgewandten, Oberfläche der Membranschicht (3 ) aufgebrachten piezo-resistiven Widerstandsbahn, die mittels elektrischen Kontaktschichten (5 ) elektrisch kontaktiert ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (1 ) und/oder die Membranschicht (3 ) mindestens eine Halbleiterverbindung, insbesondere Siliziumverbindung aufweisen. - Elektro-mechanisches Bauelement, insbesondere ein kapazitiver Mikro-elektro-mechanischer-System (MEMS) Drucksensor (
7 ), mit – einem Substrat (1 ) mit einer Ausnehmung (2 ) in einer vorderen Oberfläche des Substrats (1 ), – einer sich über der Ausnehmung (2 ) und auf der vorderen Oberfläche des Substrats (1 ) erstreckenden Membranschicht (3 ), – einer sich zwischen dem Substrat (1 ) mit der Ausnehmung (2 ) und der Membranschicht (3 ) erstreckenden Passivierungs- und Verbindungsschicht (4 ), – auf den der Ausnehmung (2 ) abgewandten Oberflächen des Substrats (1 ) und/oder der Membranschicht (3 ) aufgebrachten elektrischen Kontaktschichten (5 ), dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (1 ) und/oder die Membranschicht (3 ) mindestens eine Halbleiterverbindung, insbesondere Siliziumverbindung aufweisen. - Elektro-mechanisches Bauelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Siliziumverbindung SiC, insbesondere 4H-SiC, ist.
- Elektro-mechanisches Bauelement nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Passivierungs- und/oder Verbindungsschicht (
4 ,4' ) Siliziumdioxid und/oder Siliziumnitrid aufweist. - Elektro-mechanisches Bauelement nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrischen Kontaktschichten (
5 ) Nickel und/oder Titan aufweisen. - Elektro-mechanisches Bauelement nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Passivierungs- und/oder Verbindungsschicht (
4 ,4' ) direkt auf dem Substrat (1 ) und in der Ausnehmung (2 ) aufgebracht wurde. - Elektro-mechanisches Bauelement nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Passivierungs- und/oder Verbindungsschicht (
4 ,4' ) direkt auf der Membranschicht (3 ) aufgebracht wurde. - Elektro-mechanisches Bauelement nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass ein Temperatursensor (
8 ) auf dem Substrat (1 ) aufgebracht ist, wobei insbesondere dessen Widerstandsbahn der piezoresistiven Widerstandsbahn entspricht, so dass der Tempera tureinfluss auf den piezo-resistiven Drucksensor (7 ) kompensiert werden kann. - Verfahren zur Herstellung eines elektro-mechanischen Bauelements, insbesondere eines piezo-resistiven Mikro-elektromechanischer-System (MEMS) Drucksensors (
7 ), nach einem oder mehreren der Ansprüche 1, 3 bis 8, mit den Schritten – Bereitstellen eines Substrats (1 ), – Ausbilden einer Ausnehmung (2 ) in eine vordere Oberfläche des Substrats (1 ), – Aufbringen einer sich über der Ausnehmung (2 ) und auf der vorderen Oberfläche des Substrats (1 ) erstreckenden Membranschicht (3 ), mittels einer sich zwischen dem Substrat (1 ) mit der Ausnehmung (2 ) und der Membranschicht (3 ) erstreckenden Passivierungs- und/oder Verbindungsschicht (4 ,4' ), – Aufbringen mindestens einer auf einer, insbesondere der Ausnehmung (2 ) abgewandten, Oberfläche der Membranschicht (3 ) aufgebrachten piezoresistiven Widerstandsbahn, die mittels elektrischen Kontaktschichten (5 ) elektrisch kontaktiert ist. - Verfahren zur Herstellung eines elektro-mechanischen Bauelements, insbesondere eines kapazitiven Mikro-elektromechanischer-System (MEMS) Drucksensors (
7 ) nach einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 8, mit den Schritten – Bereitstellen eines Substrats (1 ), – Ausbilden einer Ausnehmung (2 ) in eine vordere Oberfläche des Substrats (1 ), – Aufbringen einer sich über der Ausnehmung (2 ) und auf der vorderen Oberfläche des Substrats (1 ) erstreckenden Membranschicht (3 ), mittels einer sich zwischen dem Substrat (1 ) mit der Ausnehmung (2 ) und der Membranschicht (3 ) erstreckenden Passivierungs- und Verbindungsschicht (4 ), – Aufbringen von elektrischen Kontaktschichten (5 ) auf den der Ausnehmung (2 ) abgewandten Oberflächen des Substrats (1 ) und/oder der Membranschicht (3 ). - Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, gekennzeichnet durch vor dem Aufbringen der elektrischen Kontaktschichten (
5 ) beziehungsweise piezoresistiven Widerstandsbahn erfolgendes Verringern der Schichtdicke der Membranschicht (3 ). - Verfahren nach Anspruch 9, 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Passivierungs- und/oder Verbindungsschicht (
4 ,4' ) als eine erste auf der vorderen Oberfläche des Substrats (1 ) und in der Ausnehmung (2 ) und/oder als eine zweite auf der Membranschicht (3 ) auf der Seite zum Substrat (1 ) aufgebrachte Schicht erzeugt wurde. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (
1 ) ein Wafer, insbesondere ein 3'' SiC-Wafer, ist, und eine Vielzahl von Sensoren (7 ,8 ) auf dem Wafer erzeugt wird. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorangehenden Anspruch 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausnehmungen (
2 ) lithographisch und mittels Trockenätzen erzeugt werden. - Verfahren nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche 9 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrischen Kontaktschichten (
5 ) mittels Sputtern erzeugt werden. - Verwendung mindestens eines elektro-mechanischen Bauelements, insbesondere eines Mikro-elektro-mechanischer-System (MEMS) Drucksensors (
7 ) nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche 1 bis 8, zusammen mit einem Temperatursensor (8 ,) zur Erfassung von Messdaten in einem Kompressor (10 ) und/oder einer Turbine, zusammen mit einem als Energiequelle funktionierenden induktiven Wandler (6 ) und einen Ultraschall-Messwertumformer (9 ) zur Übertragung der erfassten Messdaten an eine externe Datenverarbeitungseinrichtung (12 ).
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