DE102006005448A1 - Raster microscopy method involves adjusting transducer according to reflected acoustic signals to obtain maximum amount of reflected acoustic signals - Google Patents
Raster microscopy method involves adjusting transducer according to reflected acoustic signals to obtain maximum amount of reflected acoustic signals Download PDFInfo
- Publication number
- DE102006005448A1 DE102006005448A1 DE102006005448A DE102006005448A DE102006005448A1 DE 102006005448 A1 DE102006005448 A1 DE 102006005448A1 DE 102006005448 A DE102006005448 A DE 102006005448A DE 102006005448 A DE102006005448 A DE 102006005448A DE 102006005448 A1 DE102006005448 A1 DE 102006005448A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transducers
- sample
- transducer
- acoustic signals
- acoustic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/10—Number of transducers
- G01N2291/104—Number of transducers two or more emitters, one receiver
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur akustischen Rastermikroskopie. Im Besonderen betrifft die Erfindung ein Verfahren zur simultanen Erfassung von akustischen Bildern. Mit dem erfindungsgemäßen Scanner ist es möglich, simultan verschiedene Bereiche einer Probe zur erfassen, Bilder darzustellen und zu analysieren.The The invention relates to a method for acoustic scanning microscopy. In particular, the invention relates to a method for simultaneous Capture of acoustic images. With the scanner according to the invention Is it possible, simultaneously capture different areas of a sample, images represent and analyze.
Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur akustischen Rastermikroskopie.Further The invention relates to a device for acoustic scanning microscopy.
Ultraschall-Mikroskope, bei denen eine Probe 2-dimensional mittels Ultraschall abgerastert wird und die hindurch gelassenen oder reflektierten Schallwellen verarbeitet werden, um daraus ein Bild zu erzeugen, sind aus dem Stand der Technik, wie z. B. JP-PS No. 59-44 582 und JP-OS No. 58-1 06 453, bekannt.Ultrasonic microscopes, in which a sample is scanned 2-dimensionally by means of ultrasound and the transmitted or reflected sound waves be processed to produce a picture of it are from the Prior art, such. B. JP-PS No. 59-44 582 and JP-OS no. 58-1 06 453, known.
Die internationale Patentanmeldung WO 01/86281 A1 offenbart ein Ultraschall-Mikroskop, welches 3-dimensionale Bilder einer Probe liefert. Dabei ist die Bilderzeugung zerstörungsfrei und man erhält dadurch Informationen über den inneren Aufbau einer Probe. Die Bilder dienen zur Analyse oder Überwachung von Materialien, Elektronikkomponenten, Mechaniken und leisten Dienste bei der medizinischen Anwendung.The International Patent Application WO 01/86281 A1 discloses an ultrasonic microscope, which Provides 3-dimensional images of a sample. Here is the imaging destructively and you get this information about the internal structure of a sample. The images are for analysis or monitoring of materials, electronic components, mechanisms and render services in medical use.
Der oben beschriebene Stand der Technik ist jedoch nicht für eine schelle Datenaufnahme der zu untersuchenden Proben ausgelegt. Hinzu kommt, dass ebenfalls der Durchsatz der mit den Vorrichtungen des Standes der Technik begrenzt ist.Of the However, the above-described prior art is not for a loop Data recording of the samples to be examined designed. In addition, that also the throughput of the devices of the prior Technology is limited.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur akustischen Rastermikroskopie zu schaffen, das die Messzeit pro Probe reduziert und dabei eine sichere Detektion ermöglicht.Of the Invention is based on the object, a method for acoustic Scanning microscopy, which reduces the measurement time per sample while allowing a safe detection.
Die Aufgabe wird durch ein Verfahren gelöst, das die Merkmale des Anspruchs 1 umfasst.The Task is solved by a method which has the features of the claim 1 includes.
Der Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zur akustischen Rastermikroskopie zu schaffen, die die Messzeit pro Probe reduziert und dabei eine sichere Detektion ermöglicht.Of the Invention is also the object of a device for acoustic scanning microscopy to create the measuring time per Reduced sample while allowing a safe detection.
Die objektive Aufgabe wird durch eine Vorrichtung zur akustischen Rastermikroskopie gelöst, die die Merkmale des Anspruchs 8 umfasst.The objective task is achieved by a device for acoustic scanning microscopy solved that the features of claim 8 comprises.
Das Verfahren zur akustischen Rastermikroskopie ist von Vorteil, wenn mindestens zeitlich parallel eine doppelte Abrasterung von unterschiedlichen Probenstellen einer Probe erfolgt, wobei die unterschiedlichen Probenstellen von jeweils einem Transducer oder akustischen Objektiv mit akustischen Signalen bestrahlt werden. Die von einem Element in der Probe an den unterschiedlichen Probenstellen hindurch gelassenen und/oder reflektierten akustischen Signale werden durch eine piezoelektrische Wandlerschicht des jeweiligen Transducers detektiert. Durch einen AD-Wandler werden die akustischen Signale demoduliert. Die jeweiligen Transducer werden derart verstellt, dass die Transducer ein Signalmaximum der von dem Element reflektierten akustischen Signale registrieren. Die so erhaltenen Daten werden bezüglich des zu detektierenden Elements simultan aufgezeichnet.The Acoustic scanning microscopy method is advantageous when at least parallel in time a double scanning of different sample sites a sample is carried out with the different sample sites of each a transducer or acoustic lens with acoustic Signals are irradiated. The from an item in the sample let pass the different sample points and / or reflected acoustic signals are transmitted through a piezoelectric Transducer layer of the respective transducer detected. Through a AD converters demodulate the acoustic signals. The respective ones Transducers are adjusted so that the transducers have a signal maximum of register acoustic signals reflected from the element. The data thus obtained will be relative to the one to be detected Elements recorded simultaneously.
Mit mindestens zwei Transducern wird die Probe in X-Y-Richtung abgescannt. Die Probe wird dabei Pixel für Pixel und Zeile für Zeile abgescannt, so dass die gesamte Fläche der Probe erfasst wird.With At least two transducers are scanned in the X-Y direction. The sample becomes pixels for Pixel and line for Scanned line so that the entire surface of the sample is detected.
Zum Einstellen des Signalmaximums der vom Element hindurch gelassenen und/oder reflektierten akustischen Signale werden die mindestens zwei Transducer in Z-Richtung verstellt. Die Verstellung der mindestens zwei Transducer erfolgt unabhängig voneinander über einen motorischen Antrieb in Z-Richtung.To the Set the maximum signal of the element passed through and / or reflected acoustic signals become the at least two Adjusted transducer in Z-direction. The adjustment of at least Two transducers are independent over each other a motor drive in the Z direction.
Die Vorrichtung zur akustischen Rastermikroskopie ist von Vorteil, da mindestens zwei Transducer auf einer Verfahreinheit in Wirkstellung zu einer Probe angeordnet sind. Die Verfahreinheit verfährt die mindestens zwei Transducer in einer Ebene. Ferner sind Mittel vorgesehen, die die mindestens zwei Transducer unabhängig voneinander in einer Richtung senkrecht zu der Ebene verstellen.The Apparatus for acoustic scanning microscopy is advantageous in that at least two transducers on one moving part in operative position are arranged to a sample. The track moves the at least two transducers in one plane. In addition, funds are provided for the at least two transducers are independent in one direction Adjust vertically to the plane.
Die Verfahreinheit verfährt die mindestens zwei Transducer in X-Y-Richtung. Das Mittel zum Verstellen verstellt die mindestens zwei Transducer unabhängig voneinander in Z-Richtung. Das Mittel zum Verstellen der mindestens zwei Transducer umfasst unabhängig voneinander einen motorischen Antrieb.The Track moves the at least two transducers in the X-Y direction. The means for adjusting adjusts the at least two transducers independently in the Z direction. The means for adjusting the at least two transducers comprises independently from each other a motor drive.
Ein Transducer ist ein Master-Transducer und die anderen Transducer sind Slave-Transducer.One Transducer is a master transducer and the other transducers are slave transducers.
Das akustische Rastermikroskop enthält erfindungsgemäß zwei oder mehrere Transducer, die so angeordnet sind, dass sie gleichzeitig verschiedene Stellen oder Punkte einer Probe abrastern können. Die von den verschiedenen Probenstellen der Probe detektierten Signale werden simultan aufgenommen und daraus werden für die Bilddarstellung simultan Daten erzeugt. Es ist möglich, solche Arrays mit mehreren Transducern aufzubauen. Die Vorrichtung enthält weiterhin eine X-Y-Abtastvorrichtung, die gleichzeitig die zwei oder mehreren Transducer im Fokus behalten kann, um diese unabhängig voneinander in die erforderliche Fokuslage zu steuern und zu regeln.The acoustic scanning microscope according to the invention contains two or more transducers, which are arranged so that they can simultaneously scan different points or points of a sample. The signals detected by the various sample sites of the sample are recorded simultaneously and from this data are simultaneously generated for the image display. It is possible to build such arrays with multiple transducers. The apparatus further includes an XY scanner, which simultaneously be able to keep focus on the two or more transducers in order to independently control and regulate them in the required focus position.
Das akustische Rastermikroskop enthält erfindungsgemäß des Weiteren ein spezielles Dual-Autofokus-System, welches für zwei oder mehrere Transducer die Signalamplitude der reflektierten akustischen Signale aus dem Probeninneren ermittelt, wobei zunächst mit einem Transducer, dem so genannten Master-Transducer fokussiert wird und dann die Daten auf die Slave-Transducer übertragen werden, wobei diese nach einem speziellen Algorithmus den Vorgang unabhängig voneinander durchführen.The contains acoustic scanning microscope According to the invention further a special dual autofocus system, suitable for two or more transducers the signal amplitude of the reflected acoustic signals from the Sample inside, starting with a transducer, the so-called master transducer is focused and then the Data is transferred to the slave transducers, these being independent of each other according to a special algorithm carry out.
Die Master-Slave-Konfiguration für die simultane Datenaufnahme besteht aus einem Master Ultraschallmikroskop mit dem n Untermikroskope verbunden werden können. Die erfindungsgemäße X-Y-Z-Scan-Mechanik bewegt das Transducer-Array Zeile für Zeile, Pixel für Pixel über die Probenoberfläche und zeichnet dabei Daten simultan auf.The Master-slave configuration for the simultaneous data acquisition consists of a master ultrasonic microscope can be connected to the n sub-microscopes. The inventive X-Y-Z-scan mechanism moves the transducer array line by line, pixel by pixel sample surface and records data simultaneously.
Mit Hilfe des Verfahrens und der Vorrichtung können beispielsweise Wafer bis zu 300 mm Durchmesser und Proben bis 320 mm Breite, 200 mm Länge und 45 mm Höhe untersucht werden. Die Ultraschallfrequenz liegt im Bereich von bis zu 500 MHz mit Transducern von 3 MHz bis 400 MHz.With For example, wafers can be used to aid the process and the device to 300 mm diameter and samples up to 320 mm wide, 200 mm long and 45 mm height to be examined. The ultrasonic frequency is in the range of up to 500 MHz with transducers from 3 MHz to 400 MHz.
In besonderer Ausführung kommen 2 × 500 MHz rf-Interfaces für Transducer bis 400 MHz zum Einsatz.In special design come 2 × 500 MHz rf interfaces for Transducers up to 400 MHz are used.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung können den Unteransprüchen entnommen werden.Further advantageous embodiments of the invention can be taken from the subclaims.
In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Weitere Einzelheiten, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen. Dabei zeigt:In the drawing of the subject invention is shown schematically and will be described below with reference to the figures. More details, Aspects and advantages of the present invention will be apparent the following description with reference to the drawings. Showing:
Ein
Transducer
Bei
starren Proben, wie z.B. den meisten Metallen, Halbleitern und Keramiken,
können
für den Kontrast
die Rayleigh-Wellen an der Oberfläche eine dominante Rolle spielen.
Sind die zu untersuchenden Proben anisotropisch, dann wird es von
der Oberflächenorientierung
und der Richtung der Ausbreitung darin abhängig sein. Die in oder auf
der Probe vorhandenen Elemente können
z.B. Risse
Zur Bestimmung der Materialeigenschaften ist die Evaluierung der Amplitude (Grauwert) aus dem Echosignal erforderlich. Ein Impedanzwert ist jedem Grauwert zugeordnet. Ein Reflexionskoeffizient wird aus dem zugeordneten Impedanzwert und dem Impedanzwert des gekoppelten Mediums kalkuliert. Die korrespondierende akustische Impedanz kann kalkuliert werden.to Determination of material properties is the evaluation of the amplitude (Gray value) from the echo signal required. An impedance value is assigned to each gray value. A reflection coefficient is calculated from the associated impedance value and the impedance value of the coupled medium calculated. The corresponding acoustic impedance can be calculated become.
Eine
Ausführungsform
des akustischen Scanningmikroskops umfasst einen hochauflösenden Linear-Servo-Scanner,
der in X-Richtung X und in Y-Richtung
Y eine Reichweite (travel range) von bis zu 400 mm bei der Verwendung
von Luftlagern besitzt. Die Geschwindigkeit des Scanvorgangs ist
1 m/sec. Die Beschleunigung der Verfahreinheit
Bei
dem erfindungsgemäßen Scan-System mit
den zwei Transducern (siehe
Der Computer ist eine PC-Workstation mit Windows 2000 Professional oder XP. Die erreichte Bildauflösung beträgt 4096 × 4096 Pixel.Of the Computer is a PC workstation with Windows 2000 Professional or XP. The achieved image resolution is 4096 × 4096 Pixel.
Claims (14)
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202006020870U DE202006020870U1 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope |
DE202006020868U DE202006020868U1 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope |
DE102006005448A DE102006005448B4 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope and autofocus method |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005017106.0 | 2005-04-11 | ||
DE102005017106 | 2005-04-11 | ||
DE102006005448A DE102006005448B4 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope and autofocus method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102006005448A1 true DE102006005448A1 (en) | 2006-10-12 |
DE102006005448B4 DE102006005448B4 (en) | 2011-02-10 |
Family
ID=37026463
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102006005448A Active DE102006005448B4 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope and autofocus method |
DE202006020870U Expired - Lifetime DE202006020870U1 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope |
DE202006020868U Expired - Lifetime DE202006020868U1 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE202006020870U Expired - Lifetime DE202006020870U1 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope |
DE202006020868U Expired - Lifetime DE202006020868U1 (en) | 2005-04-11 | 2006-02-07 | Acoustic scanning microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (3) | DE102006005448B4 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006032431A1 (en) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Siltronic Ag | Detection of mechanical defects in a boule composed of mono-crystalline semiconductor material, comprises scanning an even surface of the boule by an ultrasound head and determining the positions of the mechanical defects in the boule |
WO2009130230A1 (en) * | 2008-04-24 | 2009-10-29 | Institut für Akustomikroskopie Dr. Krämer GmbH | Method and device for the destruction-free ultrasound detection of defects on the inside of a semiconductor material |
US8038895B2 (en) | 2006-06-22 | 2011-10-18 | Siltronic Ag | Method and appartus for detection of mechanical defects in an ingot piece composed of semiconductor material |
US9625572B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-18 | Sonix, Inc. | Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope |
DE102022125493A1 (en) | 2022-10-04 | 2024-04-04 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Transducer unit for an acoustic scanning microscope, method for operating an acoustic scanning microscope and acoustic scanning microscope |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2504988C2 (en) | 1974-02-15 | 1984-08-23 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University, Stanford, Calif. | Acoustic microscope |
JPS58106453A (en) | 1981-12-18 | 1983-06-24 | Sanee Denki Kk | Detector for metallic piece |
US5533401A (en) * | 1994-05-12 | 1996-07-09 | General Electric Company | Multizone ultrasonic inspection method and apparatus |
US6116090A (en) * | 1999-04-30 | 2000-09-12 | Daimlerchrysler Corporation | Multieyed acoustical microscopic lens system |
GB2363306B (en) | 2000-05-05 | 2002-11-13 | Acoustical Tech Sg Pte Ltd | Acoustic microscope |
-
2006
- 2006-02-07 DE DE102006005448A patent/DE102006005448B4/en active Active
- 2006-02-07 DE DE202006020870U patent/DE202006020870U1/en not_active Expired - Lifetime
- 2006-02-07 DE DE202006020868U patent/DE202006020868U1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006032431A1 (en) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Siltronic Ag | Detection of mechanical defects in a boule composed of mono-crystalline semiconductor material, comprises scanning an even surface of the boule by an ultrasound head and determining the positions of the mechanical defects in the boule |
US8038895B2 (en) | 2006-06-22 | 2011-10-18 | Siltronic Ag | Method and appartus for detection of mechanical defects in an ingot piece composed of semiconductor material |
DE102006032431B4 (en) * | 2006-06-22 | 2011-12-01 | Siltronic Ag | Method and device for detecting mechanical defects in a rod made of semiconductor material |
WO2009130230A1 (en) * | 2008-04-24 | 2009-10-29 | Institut für Akustomikroskopie Dr. Krämer GmbH | Method and device for the destruction-free ultrasound detection of defects on the inside of a semiconductor material |
US9625572B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-18 | Sonix, Inc. | Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope |
DE102022125493A1 (en) | 2022-10-04 | 2024-04-04 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Transducer unit for an acoustic scanning microscope, method for operating an acoustic scanning microscope and acoustic scanning microscope |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102006005448B4 (en) | 2011-02-10 |
DE202006020868U1 (en) | 2010-07-29 |
DE202006020870U1 (en) | 2010-07-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19544299C2 (en) | Method and device for measuring structures | |
DE69212576T2 (en) | Scanning microscope with a force sensor | |
DE4209394C2 (en) | Ultrasound imaging device | |
DE102006032431B4 (en) | Method and device for detecting mechanical defects in a rod made of semiconductor material | |
DE102006005448B4 (en) | Acoustic scanning microscope and autofocus method | |
DE102008042709A1 (en) | Scanning acoustic microscope with profilometer function | |
DE10255856A1 (en) | Digital imaging method, system and apparatus | |
CN101101277A (en) | High-resolution welding seam supersonic image-forming damage-free detection method and detection system | |
DE60215406T2 (en) | Method and apparatus for ultrasound imaging | |
EP2199734A1 (en) | Method and System for Optical Coherence Tomography | |
DE102011014957A1 (en) | Ultrasonic defect detection device and ultrasonic defect detection method | |
DE69118824T2 (en) | Ultrasonic microspectrometer | |
EP1431740B1 (en) | Measuring device for non-contact recording of object vibrations | |
DE102008002860A1 (en) | Method for non-destructive testing of objects by means of ultrasound | |
DE102006005449B4 (en) | Acoustic scanning microscope and autofocus method | |
EP0995085B1 (en) | Ultrasonic microscope | |
DE3616283C2 (en) | ||
DE112020003466T5 (en) | ULTRASONIC INSPECTION SYSTEM AND ULTRASONIC INSPECTION PROCEDURE | |
EP1390737B1 (en) | Non-destructive ultrasound test method for detection of damage | |
DE3110739A1 (en) | ULTRASONIC IMAGE WITH CONICAL TRANSDUCTOR | |
WO2024074381A1 (en) | Method for operating a scanning-acoustic microscope, and scanning-acoustic microscope | |
DE102016125016B4 (en) | Method for ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasonic microscope | |
DE2318621A1 (en) | ULTRASONIC EXAMINATION SYSTEM WITH QUASI ISOMETRIC DISPLAY | |
DE3308022C2 (en) | Reflection ultrasonic microscope | |
DE102009050160A1 (en) | Method for ultrasonic inspection of test object e.g. steel product, involves determining entropy value for phase value, and obtaining weighting of amplitude value, where weighting represents amplitude values determined at spatial points |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: PVA TEPLA ANALYTICAL SYSTEMS GMBH, 73430 AALEN, DE |
|
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20110619 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: SEEMANN & PARTNER PATENTANWAELTE MBB, DE |