DE102004036908A1 - Arrangement for improving the reliability of semiconductor modules - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Halbleitermodulen mit BGA- oder BGA-ähnlichen Komponenten, mit einem Substrat, auf dem Chips mit einem Die-Attach-Material befestigt sind, insbesondere von substratbasierten IC-Packages, wobei auf der dem Chip gegenüberliegenden Seite des Substrates Kontaktpads zur Aufnahme von Lötkugeln zur elektrischen Verbindung mit Leiterplatten vorgesehen sind und wobei der Chip und das Substrat auf der Chipseite mit einer Moldkappe versehen sind. Durch die Erfindung soll eine Anordnung zur Verbesserung der Modulzuverlässigkeit von Halbleiterprodukten geschaffen werden, bei der insbesondere die thermisch induzierte Ausdehnung der Chips nur noch geringe Auswirkungen auf die Modulzuverlässigkeit hat und die mit möglichst geringem Aufwand realisiert werden kann. Erreicht wird das dadurch, dass mindestens zwischen der Rückseite des Chips (3) und der Moldkappe (7) eine Zwischenschicht (8) angeordnet ist, welche die Adhäsionskräfte zwischen der Rückseite des Chips (3) und der Moldkappe (7) beseitigt oder verringert, und dass die (4) aus einem weichen oder geschäumten Material besteht, wobei die Zwischenschicht (8) bevorzugt aus einem Material mit elastischen Eigenschaften oder aus einem dünnen Film einer geeigneten Flüssigkeit oder einem Schaum besteht.The invention relates to an arrangement for improving the reliability of semiconductor modules with BGA or BGA-like components, with a substrate, are mounted on the chips with a die-attach material, in particular substrate-based IC packages, wherein on the chip opposite Side of the substrate contact pads for receiving solder balls for electrical connection with printed circuit boards are provided and wherein the chip and the substrate are provided on the chip side with a mold cap. The invention is intended to provide an arrangement for improving the module reliability of semiconductor products, in which, in particular, the thermally induced expansion of the chips has only minor effects on the module reliability and can be realized with the least possible outlay. This is achieved by the fact that at least between the back of the chip (3) and the mold cap (7) an intermediate layer (8) is arranged, which eliminates or reduces the adhesion forces between the back of the chip (3) and the mold cap (7), and that (4) is made of a soft or foamed material, wherein the intermediate layer (8) is preferably made of a material having elastic properties or of a thin film of a suitable liquid or foam.
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Halbleitermodulen mit BGA- oder BGA-ähnlichen Komponenten, mit einem Substrat, auf dem Chips mit einem Die-Attach-Material befestigt sind, insbesondere von substratbasierten IC-Packages, wobei auf der dem Chip gegenüber liegenden Seite des Substrates Kontaktpads zur Aufnahme von Lötkugeln zur elektrischen Verbindung mit Leiterplatten vorgesehen sind und wobei das Chip und das Substrat auf der Chipseite mit einer Moldkappe versehen sind.The The invention relates to an arrangement for improving the reliability of semiconductor modules with BGA or BGA-like Components, with a substrate, on the chips with a die-attach material are fixed, in particular of substrate-based IC packages, being on the chip opposite lying side of the substrate contact pads for receiving solder balls are provided for electrical connection with printed circuit boards and wherein the chip and the substrate on the chip side with a mold cap are provided.
Derartige substratbasierte IC-Packages werden auch als BGA-Package bezeichnet, wobei BGA für Ball Grid Array steht. Aus der US006048755A geht beispielsweise ein derartiges BGA-Package mit einem Chip hervor. Selbstverständlich können auch mehrere Chips bzw. Packages auf einem gemeinsamen Substratstreifen (Matrixstreifen) nebeneinander angeordnet werden. Das Substrat selbst besteht aus organischen Folien oder Glasfaserlaminaten mit auflaminierten und ätztechnisch strukturierten Cu-Schichten. Diese weisen Kontaktinseln auf, die über Drahtbrücken mit Bondinseln auf dem Chip elektrisch verbunden sind. Die Drahtbrücken erstrecken sich dabei durch einen Bondkanal im Substrat, auf dem das Chip mit seiner aktiven Seite nach unten montiert ist.such Substrate-based IC packages are also referred to as BGA packages, with BGA for Ball Grid Array stands. From US006048755A, for example, such BGA package with one Chip out. Of course can also several chips or packages on a common substrate strip (Matrix strips) are arranged side by side. The substrate itself consists of organic foils or glass fiber laminates with laminated and etch-technically structured Cu layers. These have contact islands, which via wire bridges with Bonding islands are electrically connected on the chip. The wire bridges extend thereby by a bonding channel in the substrate, on which the chip with its active side is mounted down.
Dieses Substrat enthält, wie bereits beschrieben, eine laminierte Kupferfolie, die mittels der üblichen Verfahren (z.B. durch Fotolithographie oder Siebdrucktechnik) strukturiert worden ist, wodurch neben den Kontaktinseln auch Leitbahnen und sogenannte Landing Pads (Kontaktflächen) für die Lötkugeln erzeugt werden und wobei die Landing Pads jeweils mit mindestens einer Leitbahn verbunden sind.This Contains substrate, As already described, a laminated copper foil by means of the usual Process (e.g., by photolithography or screen printing technique) which, in addition to the contact islands and interconnects and so-called landing pads (contact surfaces) are produced for the solder balls and wherein the landing pads are each connected to at least one interconnect are.
Bei solchen substratbasierten Packages dient die aus einem Kunststoffmaterial (Moldcompound) bestehende Moldkappe dem Schutz des Chips und auch der Chipkanten. Die Moldkappe umhüllt dabei die Chiprückseite und angrenzende Bereiche des Substrates, so dass ein hinreichender Schutz der empfindlichen Chipkanten erreicht wird. Bei dem sogenannten One-Step-Molding wird die Moldkappe, welche das Chip umhüllt und gleichzeitig den Bondkanal verschließt, in einem Arbeitsgang hergestellt. Dabei entsteht eine feste Verbindung zwischen der Rückseite des Chips und dessen seitlichen Kanten mit dem Moldcompound.at Such substrate-based packages is made of a plastic material (Mold compound) existing Mold cap the protection of the chip and also the chip edges. The mold cap envelops the back of the chip and adjacent areas of the substrate, allowing adequate protection the sensitive chip edges is reached. In the so-called One-step molding is the mold cap, which envelops the chip and simultaneously closes the bond channel, manufactured in one operation. This creates a firm connection between the back of the chip and its lateral edges with the mold compound.
Bei derartigen Packages kann das Chip auf unterschiedliche Art und Weise auf dem Substrat fixiert werden. So werden die Chips üblicher Weise mittels eines Tapes oder eines gedruckten oder dispensten Klebers unter Ausübung einer ausreichenden Andruckkraft auf dem Substrat befestigt. Besonders effektiv ist es, den Kleber unter Zwischenlage einer Druckschablone auf das Substrat zu drucken und anschließend das Chip auf das Substrat zu kleben.at Such packages can be the chip in different ways be fixed on the substrate. This is how the chips become more common Way by means of a tapes or a printed or dispensten Glue under exercise attached a sufficient pressure force on the substrate. Especially it is effective to glue with the interposition of a printing template to print on the substrate and then the chip on the substrate to stick.
Nach dem Die Attach erfolgt die elektrische Verbindung der Bondpads auf dem Chip mit den Kontaktinseln auf dem Substrat mit Hilfe von Drahtbrücken, die durch den Bondkanal im Substrat gezogen werden. Der Bondkanal wird anschließend zum Schutz der Drahtbrücken mit einem Moldcompound oder einem anderen Kunststoffmaterial verschlossen, wobei in der Regel gleichzeitig die das Chip umhüllende Moldkappe ausgebildet wird.To The Attach attaches the electrical connection of the bond pads the chip with the contact pads on the substrate by means of wire bridges, the be pulled through the bonding channel in the substrate. The bond channel is subsequently to protect the wire bridges closed with a molding compound or other plastic material, as a rule, at the same time the mold cap surrounding the chip is formed becomes.
Bei diesen Substrat basierten Packages für integrierte Schaltkreise, insbesondere bei Ball Grid Arrays mit Rückseitenschutz, bestehen nach wie vor Schwierigkeiten in Bezug auf de ren Zuverlässigkeit nach deren Montage auf einer Leiterplatte. Das bezieht sich insbesondere auf die Temperaturwechselbelastungen auf Modulebene und dem daraus resultierenden Stresszustand. Die dadurch verursachten Ausfälle entstehen insbesondere durch An- und Abrisse der Lötkugeln beim Thermozyklen, also beim Zuverlässigkeitstest der Packages und auch bei deren normalem Gebrauch. Diese An- und Abrisse der Lötkugeln werden durch die unterschiedlichen Ausdehnungskoeffizienten der einzelnen Montagematerialien (Chip, Substrat, Leiterplatte) induziert. Diese An- und Abrisse der Lötkugeln führen dann zum Ausfall des Chips und zu Fehlfunktionen des Moduls.at these substrate-based integrated circuit packages, Especially in ball grid arrays with back protection, insist after as before difficulties regarding their reliability after their mounting on a circuit board. This applies in particular on the temperature cycling at the module level and the resulting resulting stress condition. The resulting failures arise in particular by tearing and tearing of the solder balls during thermal cycling, So the reliability test of the packages and also in their normal use. These arrival and Tear off the solder balls are determined by the different expansion coefficients of individual mounting materials (chip, substrate, printed circuit board) induced. These cracks and breaks of the solder balls to lead then the failure of the chip and malfunction of the module.
In den meisten Fällen weist das Halbleitermaterial (Chip) einen geringeren Ausdehnungskoeffizienten (CTE) auf, als das Material des Substrates. Die Unterschiede der thermischen Ausdehnung zwischen diesen Materialien wirken sich bei jeder Temperaturänderung aus, die unvermeidlich während des Herstellungs- und Montageprozesses und während der Anwendung der Module auftreten, da sie hierbei teils gleichmäßig teils ungleichmäßig erwärmt oder abgekühlt werden, bzw. sich dabei ggf. selbst erwärmen.In most cases the semiconductor material (chip) has a lower coefficient of expansion (CTE), as the material of the substrate. The differences of thermal expansion between these materials affect every temperature change out, which is inevitable during the Manufacturing and assembly process and during the application of the modules occur, since this sometimes partly uniformly heated unevenly or chilled be, or possibly heat yourself.
Die Modulleiterplatte und das Package mit dem Chip auf der der Leiterplatte abgewandten Seite besitzen jeweils eine größere Steifigkeit, als die zwischen beiden vorhandenen Lötverbindungen. Damit muss der Unterschied der thermischen Ausdehnung durch Deformation der Lötverbindungen ausgeglichen werden. Diese Deformationen erfolgen hauptsächlich nicht- durch plastisches Fließen und Kriechen. Das Ergebnis sind Risse oder Abrisse der Lötverbindungen, so dass Wackelkontakte oder Unterbrechungen entstehen können. Das Ergebnis ist letztendlich ein Totalausfall des gesamten Moduls.The Module board and the package with the chip on the board opposite side each have a greater rigidity, as the between both existing solder joints. This must be the difference of the thermal expansion by deformation the solder joints be compensated. These deformations are mainly non- by plastic flow and creeping. The result is cracks or breaks in the solder joints, so that loose contacts or interruptions can occur. The The result is ultimately a total failure of the entire module.
Als eines der wesentlichen Ursachen für die beschriebenen Probleme hat sich die harte Ankopplung des Moldcompounds an die Chiprückseite (blankes Silizium) erwiesen.As one of the main causes of the described problems, the hard coupling of the molding compound to the back of the chip (bare silicon) has been found.
Dieses Problem wirkt sich insbesondere bei großen Chips aus, da hier thermisch bedingte Kräfte auf die Lotkugeln in kritischen Positionen besonders groß sind.This Problem affects especially with big chips, because here thermally conditional forces the solder balls are particularly large in critical positions.
Zur Reduzierung dieser Probleme wurde versucht, geeignete Designänderungen in der Verbindungszone zwischen Leiterplatte und Package (z.B. spezielle Lötstoppmasken, bzw. Gestaltung der Lötpads) vorzusehen und alternativ bzw. zusätzlich optimierte Montagematerialien zu verwenden. Es ist allerdings schon aus Zeitgründen nicht möglich, eine ständige Anpassung der Montagematerialien an die Chipgröße vorzunehmen, da die Anpassung von Materialien immer eine sehr große Vorlaufzeit erfordert.to Reducing these issues was trying to design appropriate changes in the connection zone between the printed circuit board and the package (e.g. solder masks, or design of the solder pads) provide and alternatively or additionally optimized mounting materials to use. However, it is not possible for reasons of time, a constant adjustment the mounting materials to the chip size, since the adjustment of materials always requires a very long lead time.
Ein
andere Möglichkeit
zur Überwindung
der aufgezeigten Probleme wird in der
Wegen des erheblichen technischen Aufwandes ist eine derartige Sandwichstruktur auf besondere Anwendungsfälle beschränkt.Because of the considerable technical effort is such a sandwich structure for special applications limited.
Der Erfindung liegt nunmehr die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zur Verbesserung der Modulzuverlässigkeit von Halbleiterprodukten zu schaffen, bei der insbesondere die thermisch induzierte Ausdehnung der Chips nur noch geringe Auswirkungen auf die Modulzuverlässigkeit hat und die mit möglichst geringem Aufwand realisiert werden kann.Of the Invention is now the object of an arrangement for Improvement of module reliability of semiconductor products, in particular the thermal induced expansion of the chips only minor impact the module reliability has and with as possible little effort can be realized.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe wird bei einer Anordnung zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Halbleitermodulen mit BGA- oder BGA-ähnlichen Komponenten mit einem Substrat, auf dem Chips mit einem Die-Attach-Material befestigt sind, insbesondere von substratbasierten IC-Packages, wobei auf der dem Chip gegenüber liegenden Seite des Substrates Kontaktpads zur Aufnahme von Lötkugeln zur elektrischen Verbindung mit Leiterplatten vorgesehen sind und wobei das Chip und das Substrat auf der Chipseite mit einer Moldkappe versehen sind, dadurch gelöst, dass mindestens zwischen der Rückseite des Chips und der Moldkappe eine Zwischenschicht angeordnet ist, welche die Adhäsionskräfte zwischen der Rückseite des Chips und der Moldkappe beseitigt oder verringert und dass die Verbindung zwischen Chip und Substrat aus einem weichen oder geschäumten Material besteht.The The object underlying the invention is in an arrangement to improve reliability of semiconductor modules with BGA or BGA-like components with one Substrate, mounted on the chip with a die-attach material are, in particular of substrate-based IC packages, where on the opposite of the chip lying side of the substrate contact pads for receiving solder balls are provided for electrical connection with printed circuit boards and the chip and the substrate on the chip side with a mold cap are provided, thereby solved, that at least between the back the chip and the mold cap an intermediate layer is arranged, which the adhesion forces between the back the chip and the mold cap eliminates or reduces and that the connection between chip and substrate made of a soft or foamed material consists.
Durch die Erfindung wird die Krafteinkopplung vom Chip auf die Moldkappe deutlich verringert bzw. unterbrochen und damit das Wölbungsverhalten (Warpage) des Moduls vorteilhaft beeinflusst.By The invention is the force input from the chip on the mold cap significantly reduced or interrupted and thus the buckling behavior (Warpage) of the module influenced advantageous.
In einer ersten Ausgestaltung der Erfindung besteht die Zwischenschicht aus einem weichen und stark dehnbaren Material mit geringem Elastizitätsmodul.In A first embodiment of the invention, the intermediate layer made of a soft and highly elastic material with a low modulus of elasticity.
In einer Fortführung der Erfindung ist die Zwischenschicht zusätzlich zwischen den Seitenflächen des Chips und der Moldkappe angeordnet, so dass das Chip größtenteils von der Zwischenschicht umgeben ist. Dadurch wird eine durch thermische Ausdehnung bedingte Krafteinkopplung auf die Moldkappe wesentlich verringert und dadurch die durch die verschiedenen Ausdeh nungskoeffizienten der verwendeten Materialien bedingte Durchbiegung des Gehäuses stark verringert.In a continuation the invention, the intermediate layer is additionally between the side surfaces of the Chips and the mold cap arranged so that the chip mostly surrounded by the intermediate layer. This becomes one by thermal Expansion conditional force coupling on the mold cap essential reduced and thus by the different expansion coefficients the materials used, greatly bending the housing reduced.
Als Zwischenschicht kommen Kunststoffe, wie Klebstoffe, Lacke oder Folien, z.B. auch Resists, aber auch Trennmittel in Betracht, wobei auch ein Tape, welches an sich für die Chipmontage verwendet wird, geeignet ist, und wobei auch andere Folien verwendbar sind.When Interlayer come plastics, such as adhesives, paints or films, e.g. Resists, but also release agent into consideration, including a tape which in itself for The chip assembly is used, is suitable, and where others Foils are usable.
In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weist die Zwischenschicht eine vorgegebene Flexibilität und/oder Elastizität auf.In a further embodiment of the invention, the intermediate layer a given flexibility and / or elasticity on.
Werden Kunststoffe oder Resists als Trennmittel verwendet, so können diese Materialien auf einfache Weise durch Drucken, Dispensen, Sprühen oder Benetzen aufgebracht werden.Become Plastics or resists used as release agents, so they can Materials in a simple way by printing, dispensing, spraying or Wetting be applied.
Um bestimmte thermische Eigenschaften zu erreichen, können die Trennmittel auch mit Zusatzstoffen, wie Silizium-, Keramik- oder Metallpulver, versehen werden. Derartige Maßnahmen sind allerdings nur dann angebracht, wenn das Chip im Betrieb höhere Temperaturen erreicht.Around To achieve certain thermal properties, the Release agent also with additives such as silicon, ceramic or metal powder provided become. Such measures However, they are only appropriate if the chip is operating at higher temperatures reached.
Werden Folien oder Tapes als Trennmittel verwendet, so können diese einfach auf die Rückseite des Chips auflaminiert werden.Become Sheets or tapes used as release agents, so they can just on the back of the chip are laminated.
Eine besondere Ausgestaltung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass die Zwischenschicht zwischen dem Chip und der Moldkappe aus einem dünnen Film einer geeigneten Flüssigkeit oder einem Schaum besteht. Diese Flüssigkeit sollte etwa die Konsistenz von Wasser oder Wachs aufweisen.A particular embodiment of the invention is characterized in that the intermediate layer between the chip and the mold cap from a thin Film of a suitable liquid or a foam. This liquid should be about the consistency of water or wax.
Als Zwischenschicht sind Silikon oder Wachs besonders geeignet, da diese Materialien gute Benetzungseigenschaften aufweisen.As an intermediate layer are silicone or wax particularly suitable because these materials have good wetting properties.
Schließlich kommen auch übliche Trennmittel in Betracht, welche die Entstehung von Adhäsionskräften zwischen benachbarten Oberflächen, also der Rückseite des Chips und der Moldkappe verhindern.Finally come also usual Release agent into consideration, which the emergence of adhesion forces between adjacent surfaces, so the back prevent the chip and the mold cap.
Der Kern der Erfindung besteht darin, die bisher übliche starre Verbindung zwischen dem Chip und dem dieses umgebenden Material zu vermeiden oder zumindest deutlich zu verringern. Damit kann sich das Chip innerhalb des Packages in gewissen Grenzen bewegen. Auf diese Weise kann der Unterschied der thermischen Ausdehnung zwischen dem Chip auf der einen Seite und dem Rest des Packages, welches die Moldkappe und das Substrat des Packages umfasst, sowie der Modulleiterplatte auf der anderen Seite ausreichend ausgeglichen werden. Damit wird die Belastung der Lötverbindungen deutlich verringert.Of the Core of the invention is the previously common rigid connection between to avoid the chip and the surrounding material or at least significantly reduce. This allows the chip within the package to move within certain limits. That way, the difference can be the thermal expansion between the chip on one side and the rest of the package, which is the mold cap and the substrate of the Packages, as well as the module board on the other side be sufficiently balanced. This will be the burden of the solder joints significantly reduced.
Die Erfindung wird nachfolgend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert. In den zum Ausführungsbeispiel gehörenden Zeichnungen zeigen:The Invention will be explained in more detail below using an exemplary embodiment. In the exemplary embodiment belonging Drawings show:
Die
erfindungsgemäße Anordnung
besteht nach
Auf
der dem Chip
Das
Chip
Um
die Krafteinkopplung vom Chip
Besteht
die Zwischenschicht
In
Wie
bereits dargelegt, können
die mechanischen Bedingungen zwischen „keinem Kontakt" und einem „weichen
Kontakt" zwischen
dem Chip
Wenn
beispielsweise ein Die-Attach-Material zum Befestigen des Chips
Damit
wird verhindert, dass sich das Moldcompound (und auch das Substrat
Als
Zwischenschicht
Gegebenenfalls
kann die Haftung durch Formschluss unterstützt werden, indem in das Substratbeispielsweise
Löcher
Wird
als Zwischenschicht ein sehr weiches Tape
Als
Zwischenschicht
Mit
der Erfindung wird eine durch thermische Ausdehnung bedingte Krafteinkopplung
vom Chip
- 11
- Substratsubstratum
- 22
- Lötstopplacksolder resist
- 33
- Chipchip
- 44
- Die-Attach-MaterialDie attach material
- 55
- Lotkugelsolder ball
- 66
- IC-PackageIC package
- 77
- Moldkappemold cap
- 88th
- Zwischenschichtinterlayer
- 99
- Chipkantechip edge
- 1010
- ChipkantenschutzChip edge protection
- 1111
- Loch im Substrathole in the substrate
Claims (16)
Priority Applications (2)
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE |
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8131 | Rejection |