DE102004028907B3 - High accuracy voltage standard for voltmeter calibration has two J-DACs with multiplexer switched between them to give varying output signal - Google Patents
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Abstract
Description
Anwendungsbereichscope of application
Die Erfindung betrifft ein hochgenaues Spannungsnormal mit Josephson-Digital/Analog-Convertern, das bei der Kalibrierung von Spannungsmessmitteln, wie Voltmetern oder Thermokonvertern, verwendet werden kann.The The invention relates to a high-precision voltage standard with Josephson digital / analog converters, the calibration of voltage measuring devices, such as voltmeters or thermo converters, can be used.
Kalibrierungen in diesem Anwendungsbereich erfolgen in der Regel durch Vergleich der Ausgangsinformationen der Spannungsmessmittel mit den Ausgangsinformationen anderer Spannungsmessmittel geringerer Unsicherheit oder durch Messen bekannter Spannungen mit den zu kalibrierenden Spannungsmessmitteln. Bei der zweiten Alternative besteht das Ziel, die Spannungen mit möglichst geringer Unsicherheit zu erzeugen. Als die genaueste Möglichkeit, Spannungen zu erzeugen, gilt heute die Verwendung von Josephson-Elementen. Da diese ausschließlich Gleichspannungen liefern, ist es zur Erzielung von auch oft benötigten, zeitlich sich ändernden Spannungen an den zu kalibrierenden Spannungsmessmitteln allerdings erforderlich, Josephson-Elemente mit verschiedener Spannungshöhe getaktet in bestimmter Reihenfolge an den Eingang der Spannungsmessmittel anzulegen, so dass dort eine zeitlich sich ändernde Spannung anliegt. Dazu lassen sich vorteilhaft monolithisch integrierte Josephson-Schaltungen, sogenannte programmierbare Joseph son-Elemente, einsetzen. Diese können auch als Josephson-Digital/Analog-Converter (J-DAC) bezeichnet werden.calibrations in this area of application usually done by comparison the output information of the voltage measuring means with the output information other voltage measuring means of lower uncertainty or by measuring known voltages with the voltage measuring means to be calibrated. In the second alternative, the goal is to use the voltages as low as possible Create uncertainty. As the most accurate way to generate stress, Today, the use of Josephson elements applies. Since these are exclusively DC voltages it is also necessary to achieve often needed, temporally changing ones However, voltages at the voltage measuring instruments to be calibrated required, Josephson elements clocked with different voltage level in a specific order to the input of the voltage measuring means create so that there is a time-varying voltage. To do so advantageously monolithically integrated Josephson circuits, so-called programmable Josephson elements, use. These can also as Josephson digital / analog converter (J-DAC).
Dabei weisen die zur Zeit verfügbaren J-DAC noch die Unzulänglichkeit auf, dass bei der Umschaltung zwischen den verschiedenen Josephson-Spannungsstufen transiente Vorgänge auftreten, die analytisch nur schwer bestimmbar sind.there show the currently available J-DAC still the inadequacy on that when switching between the different Josephson voltage levels transient processes occur that are difficult to determine analytically.
Dadurch lässt sich der Vorteil, mit Josephson-Elementen theoretisch zeitlich sich ändernde Spannungen mit Fundamentalkonstanten-Genauigkeit erzeugen zu können, nicht vollständig ausnutzen.Thereby let yourself the advantage, with Josephson elements theoretically time-varying voltages with fundamental constant accuracy, not Completely exploit.
Realisierungsmöglichkeiten für J-DACs sind bekannt z. B. aus dem US-Patent 5,565,866. Die dort beschriebenen J-DACs bestehen aus einer Reihenschaltung einer Vielzahl von Josephson-Elementen. Sie werden durch eine digitale Logikschaltung so angesteuert, dass am Ausgang der dort vorgeschlagenen Schaltungsanordnung zeitlich veränderliche Spannungen entstehen. Die Scheitelwerte dieser Spannungen können im Voltbereich liegen. Ihre Quantisierungsstufen sind durch ganze Vielfache der Josephson-Spannung und damit mit Fundamental-Konstanten-Genauigkeit definiert. Der Nachteil dieser Anordnung besteht darin, dass zwar die Höhe der Quantisierungsstufen der erzeugten Spannungssignale rechnerisch bekannt ist, der Effektivwert der erzeugten Signale, der zur Kalibrierung von Spannungsmessmitteln benötigt wird, jedoch nur mit größerer Unsicherheit angegeben werden kann. Ursache hierfür ist, dass es beim Umschalten zwischen den einzelnen Quantisierungsstufen transiente Spannungs-Übergangszustände gibt. Diese analytisch nicht exakt zu berechnenden Spannungs-Übergangszustände beeinflussen jedoch den Effektivwert der erzeugten Spannungssignale und verursachen so die Erhöhung der Messunsicherheit gegenüber Josephson-Gleichspannungen um mehrere Zehnerpotenzen.implementation options for J-DACs are known z. From US Patent 5,565,866. The ones described there J-DACs consist of a series circuit of a plurality of Josephson elements. she are controlled by a digital logic circuit so that the Output of the proposed circuit arrangement time-varying voltages arise. The peak values of these voltages can be in the volt range. Their quantization levels are by integer multiples of the Josephson voltage and thus defined with fundamental constant accuracy. Of the Disadvantage of this arrangement is that although the height of the quantization levels the generated voltage signals is computationally known, the rms value the signals generated, which are used to calibrate voltage measuring means needed but only with greater uncertainty can be specified. The reason for this is that it is when switching Transient voltage transition states exist between the individual quantization stages. These analytically not exactly calculated stress transition states influence however, the rms value of the generated voltage signals and cause so the increase the measurement uncertainty compared to Josephson DC voltages by several orders of magnitude.
Ein Lösungsvorschlag, der vorgenanntes Problem mit den transienten Stufenübergängen verringert, ist in dem US- Patent 6,236,344 beschrieben. Bei der dort angegebenen Anordnung wird das Signal der zeitlich sich ändernden Spannung nicht durch Amplituden-Codierung, wie im Fall des US-Patents 5,565,866 erzeugt, sondern durch Impulsbreiten-Codierung. Die Nachteile dieser Lösung liegen insbesondere darin, dass das Prinzip der Impulsbreiten-Codierung die Erzeugung von digitalen Signalen mit sehr viel höherer Frequenz als bei der Amplituden-Codierung erfordert, dass die erreichbaren Ausgangsspannungen niedriger sind als im Fall der Amplituden-Codierung und dass zwischen zu kalibrierendem Spannungsmessmittel und Josephson-Elementen ein analoges Filter geschaltet werden muss, dessen Auslegung die Berechenbarkeit der Ausgangsspannung beeinflusst.One Solution, reduces the aforementioned problem with the transient step transitions, is in the US patent 6,236,344. In the arrangement given there is the Signal of temporally changing Stress not by amplitude coding, as in the case of US Patent 5,565,866 but by pulse width coding. The disadvantages of this solution are especially in that the principle of pulse width coding the generation of digital signals at a much higher frequency as in the amplitude coding requires that the achievable Output voltages are lower than in the case of amplitude coding and that between voltage measuring means to be calibrated and Josephson elements an analog filter must be switched whose interpretation the Predictability of the output voltage influenced.
Einen
Lösungsvorschlag
für eine
Kalibriervorrichtung von Spannungsmessmitteln, bei dem oben genanntes
Problem mit den transienten Stufenübergängen vermieden wird, beschreibt
die Offenlegungsschrift
Aus dem Stand der Technik ergibt sich die Erfindungs-Aufgabe: Sie besteht darin, eine Schaltung zu entwickeln, die den Vorteil der amplituden-codierten J-DACs gegenüber den pulsbreiten-codierten J-DACs ausnutzt, den Nachteil der transienten Stufenübergänge überwindet und eine Kalibrierung auch solcher Spannungsmessmittel ermöglicht, die sich nicht mit der Takt-Frequenz des J-DACs synchronisieren lassen. Die Erfindung ist vor Allem für Anbieter von Kalibrier-Dienstleistungen auf höchstem Genauigkeits-Niveau bedeutsam.Out The prior art results in the invention task: It consists of a circuit to develop the advantage of the amplitude-encoded J-DACs over the exploits pulse width coded J-DACs, the disadvantage of transient Stair transitions overcomes and allows calibration of such voltage measuring means, which do not synchronize with the clock frequency of the J-DAC to let. The invention is primarily for providers of calibration services at the highest Accuracy Level Significant.
Lösungsolution
Die
Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein
hochgenaues Spannungsnormal unter Verwendung von amplituden-codierten
Josephson-Digital/Analog-Convertern (J-DAC) gelöst, das dadurch gekennzeichnet
ist, dass das Spannungsnormal mindestens zwei J-DACs (
Erläuterung einer Ausführungsformexplanation an embodiment
Im
Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel für die Erfindung
mit Hilfe von
Das
erfindungsgemäße Spannungsnormal des
Beispiels verfügt über zwei
J-DACs (
Der
Mikrorechner erzeugt für
den J-DAC
Des
Weiteren erzeugt der Mikrorechner für den J-DAC
Schließlich erzeugt
der Mikrorechner ein Steuersignal für den Multiplexschalter, das
in
Da die Spannungs-Plateaus der Stufen bei J-DACs mit sehr geringer Unsicherheit bekannt und für verschiedene J-DAC-Exemplare identisch sind, kann bei Verwendung eines hochwertigen, schnellen Multiplex-Schalters am Ausgang des erfindungsgemäßen Spannungsnormals eine zeitlich sich ändernde Spannung erzeugt werden, deren Spektral-Komponenten sich rechnerisch mit sehr geringer Unsicherheit bestimmen lassen. Dies gestattet den Einsatz des erfindungsgemäßen Spannungsnormals als hochgenaue Kalibrierquelle, insbesondere auch für Wechselspannungsmessmittel.There the voltage plateaus of the stages in J-DACs with very little uncertainty known and for various J-DAC copies can be identical when using a high quality, fast multiplex switch at the output of the voltage standard according to the invention a temporally changing one Voltage are generated whose spectral components are calculated with very little uncertainty. This allows the use of the voltage standard according to the invention as a high-precision calibration source, in particular for AC voltage measurement.
Claims (1)
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DE200410028907 DE102004028907B3 (en) | 2004-06-15 | 2004-06-15 | High accuracy voltage standard for voltmeter calibration has two J-DACs with multiplexer switched between them to give varying output signal |
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Family
ID=35613025
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5565866A (en) * | 1994-10-04 | 1996-10-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Digital-to-analog converter with voltage defined by Josephson frequency voltage relation |
US5812078A (en) * | 1997-05-22 | 1998-09-22 | Northrop Grumman Corporation | Josephson junction digital to analog converter for accurate AC waveform synthesis |
US6236344B1 (en) * | 1998-07-02 | 2001-05-22 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce | AC and DC bipolar voltage source using quantized pulses |
DE10218695A1 (en) * | 2002-04-26 | 2003-12-24 | Inst Physikalische Hochtech Ev | Defined alternating voltage generator for metrology, has Josephson circuits driven by synthesizer comprising single-flux-quantum shift registers for generating independent sequences of voltage pulses |
DE10226412A1 (en) * | 2002-06-13 | 2004-01-08 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Calibrating voltage measurement arrangement involves controlling Josephson voltage standard, so voltage change transient occurs outside measurement arrangement measurement phases after voltage change |
-
2004
- 2004-06-15 DE DE200410028907 patent/DE102004028907B3/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5565866A (en) * | 1994-10-04 | 1996-10-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Digital-to-analog converter with voltage defined by Josephson frequency voltage relation |
US5812078A (en) * | 1997-05-22 | 1998-09-22 | Northrop Grumman Corporation | Josephson junction digital to analog converter for accurate AC waveform synthesis |
US6236344B1 (en) * | 1998-07-02 | 2001-05-22 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce | AC and DC bipolar voltage source using quantized pulses |
DE10218695A1 (en) * | 2002-04-26 | 2003-12-24 | Inst Physikalische Hochtech Ev | Defined alternating voltage generator for metrology, has Josephson circuits driven by synthesizer comprising single-flux-quantum shift registers for generating independent sequences of voltage pulses |
DE10226412A1 (en) * | 2002-06-13 | 2004-01-08 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Calibrating voltage measurement arrangement involves controlling Josephson voltage standard, so voltage change transient occurs outside measurement arrangement measurement phases after voltage change |
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