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Die
Erfindung betrifft Testfälle
zum automatischen Testen eines durch Variablen gekennzeichneten technischen
Systems nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
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Testfälle, welche
die Merkmale des Oberbegriffs von Anspruch 1 aufweist, ist aus J.
Grabowski & M. Schmitt: „TTCN-3 – Eine Sprache
für die
Spezifikation und Implementierung von Testfällen", Automatisierungstechnik 50 (2003)
Heft 3, S. A5 – A8
bekannt. TTCN bedeutet „Testing
and Test Control Notation".
Die Testfälle werden
in Form von ausführbaren
Programmen beschrieben. Vorgesehen ist, daß bei der Ausführung eines Testfalls
das Programm, das den Testfall beschreibt, mindestens ein anderes
Programm aufruft und das Ergebnis des Programmaufrufs in einer Programm-Variablen
abspeichert. Vorgesehen sein kann weiterhin eine logische Abbruchbedingung
sowie eine Festlegung des Ergebnisses, das der Testfall bei Erfülltsein
der Abbruchbedingung liefert und das vom Ergebnis vom Aufrufen anderer
Testfälle
abhängen
kann. Zwei mögliche Ergebnisse
sind „Testfall
erfolgreich" und „Testfall
fehlgeschlagen".
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Die
Syntax von TTCN-3 ist relativ kompliziert. Beim Formulieren von
Testfällen
sind Wechselwirkungen zwischen verschiedenen Testfällen zu
berücksichtigen.
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Aus
DE 10055679 A1 sind
Testfälle
für Testszenarien
bekannt. Ein Testszenario beschreibt ein bestimmtes Verhalten der
Umgebung des zu testenden Systems und ist aus einzelnen Testschritten
aufgebaut. Jeder Testschritt definiert einen Eingabevektor für einen
bestimmten Zeitpunkt, der die Umgebung in einen bestimmten Zustand
versetzt. Die Testschritte werden systematisch in einem Klassifikationsbaum
strukturiert und dargestellt. Sie beschreiben Stimuli, die mit beliebigen
Zuständen
und in beliebiger Reihenfolge aktiviert werden können.
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Der
Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Testfälle nach dem Oberbegriff des
Anspruchs 1 zu schaffen, die einfach und übersichtlich strukturiert sind
und flexibel an viele Testsituationen anpaßbar sind.
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Die
Aufgabe wird durch Testfälle
nach Anspruch 1 gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
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Jeder
der Testfälle
umfaßt
mindestens eine Anweisung. Die mindestens eine Anweisung verändert eine
Variable des technischen Systems. Die Anweisung legt entweder fest,
auf welchen Wert die betreffende Variable bei Ausführung des
Testfalls gesetzt wird. Oder sie enthält eine logische Auswahlbedingung,
einen ersten und einen zweiten Wert. Die logische Auswahlbedingung
hängt von
einer Variablen des technischen Systems ab. Bei Ausführung des
Testfalls wird geprüft,
ob die logische Auswahlbedingung erfüllt ist. Die betreffende Variable
wird dann auf den ersten Wert gesetzt, wenn die logische Auswahlbedingung
erfüllt
ist, ansonsten auf den zweiten Wert.
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Weiterhin
umfaßt
jeder Testfall eine logische Abbruchbedingung, die von mindestens
einer Variablen des technischen Systems abhängt, und eine Festlegung, welches
Ergebnis der Testfall liefert, wenn die Abbruchbedingung erfüllt ist.
Für jeden
Testfall ist eine Maximal-Zeitspanne für dessen Ausführung festgelegt. Weiterhin
ist ein Ergebnis festgelegt, das der Testfall liefert, wenn die
Maximal-Zeitspanne ohne Erfülltsein
der Abbruchbedingung verstreicht.
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Die
Testfälle
sind einfach und übersichtlich
strukturiert. Sie lassen sich von einem Gerät, das die Testfälle ausführt, schnell
ausführen.
Die einfache Strukturierung reduziert die Gefahr, daß beim Erzeugen
oder Verändern
von Testfällen
Fehler gemacht werden, z. B. weil Seiteneffekte und Nebenwirkungen
nicht beachtet werden. Andererseits sind die Testfälle so flexibel
strukturiert, daß sich
Testfälle
für viele
verschiedene Testsituationen erzeugen lassen.
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Die
Anweisung eines Testfalls kann einen konstanten Wert festlegen,
welcher der betreffenden Variablen bei Ausführung des Testfalls zugewiesen
wird. Vorzugsweise (Anspruch 2) umfaßt wenigstens eine Anweisung
statt dessen eine Berechnungsvorschrift. Diese Vorschrift hängt von
einer Variablen des technischen Systems ab. Sie wird bei Ausführung des
Testfalls ausgeführt
und liefert den Wert, auf den die Variable des Testfalls eingestellt
wird.
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Im
Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel
der Erfindung anhand der beiliegenden Zeichnung näher beschrieben.
Dabei zeigt.
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1.
die Architektur einer Vorrichtung zum Testen mit den erfindungsgemäßen Testfällen.
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Im
Ausführungsbeispiel
ist das zu testende technische System ein Teilsystem 3 eines
Kraftfahrzeuges, z. B. ein elektronisches Steuergerät. Zum Testen
wird ein Testausführer 1 verwendet,
das ist ein Gerät,
das eine Hardware-Schnittstelle 2 besitzt, die über einen
Datenbus 19 mit dem zu testenden Steuergerät 3 über dessen
Hardware-Schnittstellen 4 verbunden ist. Beispiele für die Datenformate
derartiger Hardware-Schnittstellen
sind Datenbus-Formate, z. B. CAN, MOST, LIN, sowie digitale und
analoge Datenformate. Die Schnittstelle kann Analog-/Digital-Wandler
und/oder Digital-/Analog-Wandler umfassen. Damit wird ein Testen
nach dem Prinzip „hardware
in the loop" (HIL)
realisiert.
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Der
Testausführer 1 ist
weiterhin über
einen Datenbus 10, vorzugsweise einem Ethernet-Datenbus, mit
einer Testumgebung 7 verbunden. Diese Testumgebung 7 umfaßt eine
Datenverarbeitungseinrichtung und einen auf dieser Datenverarbeitungseinrichtung
ablaufenden Simulator. Die Testumgebung 7 simuliert die
Umgebung des zu testenden Steuergeräts 3, z. B. die vom
Steuergerät 3 überwachten
und geregelten weiteren Teilsysteme des Kraftfahrzeugs oder die
Umgebung des Kraftfahrzeugs oder einen Fahrer, der Stelleingriffe am
Kraftfahrzeug vornimmt. Die Testumgebung 7 fungiert als
Widerpart des zu testenden Steuergeräts 3 und löst z. B.
Ereignisse aus, die das zu testende Steuergerät 3 erkennen und darauf
adäquat
reagieren soll. Beim Test wird geprüft, ob das Steuergerät 3 tatsächlich so
reagiert wie spezifiziert oder nicht.
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Die
Testfälle,
mit denen das Steuergerät 3 des
Kraftfahrzeugs getestet wird, sind in einem Datenspeicher 8 abgespeichert.
Dieser Datenspeicher 8 für Testfälle umfaßt mindestens einer Datei,
eine Datenbank oder eine andere Form eines Datenspeichers eines
Arbeitsplatzrechners 11. Im Beispiel der 1 sind
die Testfälle
in Form einer Tabelle in einer Datei abgespeichert. Auf dem Arbeitsplatzrechner 11 ist
weiterhin ein Softwaresystem abgespeichert. Dieses Softwaresystem,
der Testplaner 9, hat Lesezugriff auf die Testfall-Datei 8 und
ist mit dem Testausführer 1 über einen
Datenbus 12 verbunden. Dieser Datenbus 12 ist
vorzugsweise als Ethernet-Datenbus mit 100 MBit/sec realisiert.
Der Testplaner 9 wählt
automatisch einmal oder wiederholt Testfälle in der Testfall-Datei 8 aus, bringt
die ausgewählten
Testfälle
in eine Reihenfolge, löst
die Ausführung der
Testfälle
in dieser Reihenfolge aus und wertet die Ergebnisse aus. Als Testplaner 9 läßt sich
z. B. „TestStand" verwenden, das unter
http://www.ni.com/products beschrieben ist.
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In
einem Datenspeicher 17 sind Beschreibungen von Variable
des Steuergeräts 3 abgespeichert.
Welche Variablen im Datenspeicher 17 abgespeichert werden,
wird durch die Hardware-Schnittstelle 2 des
Testausführers 1 festgelegt.
Die Testfälle,
die der Testplaner 9 im Datenspeicher 8 ausgewählt hat,
werden durch ein Umwandlungsprogramm 16 in die Form gebracht,
in die der Testausführer 1 sie
benötigt.
Hierbei erzeugt das Umwandlungsprogramm 16 eine Ablaufbeschreibung
des jeweils ausgewählten
Test. Das Umwandlungsprogramm 16 liefert seine Ergebnisse
an einen Steller 6. Dieser Steller 6 entscheidet,
welche Variablen und sonstigen Größen beim Transfer zwischen
der Testumgebung 7 und dem Multiplexer 5 verändert werden,
und führt
die Veränderung
durch. Der Multiplexer 5 fungiert als Nachrichtenübermittlungskanal
zwischen Testausführer 1 und
Steuergerät 3 sowie
zwischen Testausführer 1 und
Testumgebung 7. Im Datenspeicher 17 für Variablenbeschreibungen
ist festgelegt, wie diese Veränderung
vorgenommen wird, z. B. durch Vorgabe von Ausgangs- und Ziel-Datenformat.
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Welche
Werte von im Datenspeicher 17 beschriebenen Variablen während der
Testausführung
gemessen oder berechnet werden, wird in einem Datenspeicher 18 für Variablenwerte
abgespeichert. Dieser Datenspeicher 18 enthält den jeweils
zuletzt gesetzten oder gemessenen Wert einer Variable. Der Testplaner 9 hat
Lesezugriff auf diesen Datenspeicher 18 und wählt vorzugsweise
Testfälle
in Abhängigkeit
von Variablenwerten, die im Datenspeicher 18 abgespeichert
sind, aus. Umgekehrt wird im Datenspeicher 18 abgespeichert, welche
Variablen bei der Testausführung
auf welche Werte gesetzt worden sind. Um eine Variable auf einen Wert
zu setzen, wird der Variablenwert durch das Umwandlungsprogramm 16 umgeformt
und über
den Multiplexer 5 an den Testausführer 1 gesandt. Dieser
spricht über
seine eigene Hardware-Schnittstelle 2 die Hardware-Schnittstelle 4 des
zu testenden Steuergeräts 3 an,
um die Variable zu setzen. Das Umwandlungsprogramm 16 wandelt
die gemessenen Variablenwerte in die Form um, in der sie im Datenspeicher 18 abgespeichert
werden.
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Welche
Werte von Variablen zu welchen Abtastzeitpunkten gemessen wurden,
wird protokolliert und vom Testplaner 9 in einem Datenspeicher 15 für Betriebsprotokolle
abgespeichert.
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Wenigstens
einige der Testfälle
werden vorzugsweise automatisch erzeugt, vorzugsweise durch Analyse
und Auswertung einer Spezifikation des Steuergeräts
3, z. B. durch
das in
DE 10055679
A1 offenbarte Verfahren. Die Vorrichtung umfaßt weiterhin
eine Eingabeeinrichtung
14, um die automatisch erzeugten
Testfälle
zu überprüfen und
bei Bedarf zu ändern
sowie um manuell Testfälle
zu ergänzen.
Diese Eingabeeinrichtung
14 umfaßt eine Tastatur, eine DV-Maus
sowie einen Bildschirm und eine Recheneinheit. Sie hat Schreibzugriff
auf den Datenspeicher
8 für Testfälle. Falls dieser Datenspeicher
8 die
Form einer Tabelle hat, umfaßt die
Eingabeeinrichtung
14 vorzugsweise ein Tabellenkalkulationsprogramm.
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Wie
oben beschrieben, werden die Testfälle mit Hilfe einer Testumgebung 7 ausgeführt. Diese
Testumgebung 7 umfaßt
einen Simulator für
die Umgebung des zu testenden Steuergeräts 3. Die Testfälle werden durch
die folgende Abfolge ausgeführt:
- – Die
Testumgebung 7 mit dem Simulator wird gestartet und mit
dem Testausführer 1 und
dem zu testenden Steuergerät 3 synchronisiert.
- – Nach
Abschluß der
Synchronisation wird eine Systemuhr 13 vorzugsweise auf
dem Testausführer 1 gestartet.
Diese Systemuhr 13 mißt
das Verstreichen einer vorgegebenen Start- Zeitspanne. Danach wird die Ausführung von
Testfällen
begonnen.
- – Der
Testplaner 9 wählt
Testfälle
in der Datei 8 aus und löst deren Ausführung aus.
- – Die
Ausführung
eines Testfalls wird beendet, wenn eine ihm zugeordnete logische
Abbruchbedingung erfüllt
ist oder wenn eine für
den Testfall vorgegebene maximale Ausführungs-Zeitspanne verstrichen
ist.
- – Protokolliert
wird jeweils das Ergebnis, das die Ausführung des Testfalls erbringt.
Der Testplaner 9 schreibt die protokollierten Ergebnisse
in den Protokoll-Datenspeicher 15.
- – Vorzugsweise
wird zusätzlich
der zeitliche Verlauf der Variablen, die dem Testfall zugeordnet
sind, abgetastet, protokolliert und ebenfalls im Datenspeicher 15 abgespeichert.
Der protokollierte und im Datenspeicher 15 abgespeicherte
Verlauf wird vorzugsweise z. B. in Form einer Tabelle oder Graph
ausgegeben. In der Tabelle oder dem Graphen wird zwischen Eingangs-
und Ausgangs-Variablen des Steuergeräts 3 unterschieden.
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Die
Testfälle
zum Testen des Steuergeräts 3 sind
gemäß einer
Datenstruktur strukturiert. Eine Datenstruktur legt fest, wie Datenobjekte
für eine
bestimmte Anwendung strukturiert werden. Insbesondere legt die Datenstruktur
fest, welche Attribute die gemäß der Datenstruktur
strukturierten Datenobjekte haben. Zusätzlich kann die Datenstruktur
festlegen, welche Typen von Datenobjekten es gibt und/oder welche
Relationen zwischen Datenobjekten erzeugbar sind. Datenstrukturen
werden z. B. zur Strukturierung und Organisation von Datenbanken
und anderen Datenspeicherungssystemen verwendet. Vorzugsweise ist
diese Datenstruktur gemeinsam mit den Testfällen in einem Datenspeicher
oder in einer weiteren Datei abgespeichert. Dadurch wird es ermöglicht,
automatisch zu testen, ob jeder Testfall tatsächlich gemäß der Datenstruktur strukturiert ist.
Dies ist insbesondere dann vorteilhaft, wenn die Datenstruktur nachträglich geändert oder
ergänzt
wird und zu überprüfen ist,
ob Testfälle
auch noch mit der neuen Datenstruktur kompatibel sind.
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Ein
Beispiel für
Testfälle
bezieht sich auf den Fall, daß ein
Steuergerät 3 eines
Abstandsregelsystems getestet werden soll. Dieses Abstandsregelsystem
soll sicherstellen, daß der
Abstand zwischen zwei nacheinander in einer Kolonne fahrenden Fahrzeuge
nie geringer als 10 m wird. In diesem Beispiel ist ein unerwünschtes
Ereignis demnach "Abstand
kleiner als 10 m". „Abstand" ist eine Variable
des zu untersuchenden technischen Systems. Die logische Abbruchbedingung
ist „Abstand < 10 m". Wird nämlich während der
Ausführung
der Testfälle
festgestellt, daß der
Abstand kleiner als 10 m ist und daher die Abbruchbedingung erfüllt ist,
so hat das Abstandsregelsystem seine Aufgabe nicht korrekt erfüllt, und
die weitere Ausführung
des Testfalls wird abgebrochen. Der Abbruchbedingung „Abstand < 10 m" ist daher das Ergebnis „fehlgeschlagen" zugeordnet.
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Wenn
der Abstand größer als
10 m ist und ein Steuergerät
im nachfolgenden Fahrzeug eine Notbremsung auslöst, so kann der Abstand nicht
unter 10 m fallen. Im Falle einer Notbremsung wird daher die weitere Ausführung des
Testfalls abgebrochen. Um dies zu bewirken, wird eine weitere logische
Abbruchbedingung formuliert, nämlich „Notbremsung
gleich 1". „Notbremsung" ist eine Variable
des Steuergeräts 3,
welche die Werte 0 und 1 annehmen kann. „Notbremsung gleich 1" bedeutet, daß die Notbremsung
ausgelöst
wurde. Dieser logischen Abbruchbedingung wird als Testergebnis „erfolgreich" zugeordnet. Denn
das Steuergerät 3 hat sich
so wie spezifiziert verhalten.
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Die
Start-Zeitspanne, die zwischen dem Abschluß des Synchronisierens und
dem Zeitpunkt, an die Ausführung
eines Testfalls beginnt, kann von Testfall zu Testfall variieren.
Daher ist jedem Testfall eine Start-Zeitspanne zugeordnet, z. B.
10 sec oder 50 sec. Auch die maximale Ausführungs-Zeitspanne kann von Testfall
zu Testfall variieren. Daher ist jedem Testfall eine maximale Ausführungs-Zeitspanne
zugeordnet, z. B. 30 sec oder 40 sec oder 60 sec. Weiterhin ist
festgelegt, welches Ergebnis der Testfall liefern soll, wenn die Ausführung nach
dem Verstreichen dieser Ausführungs-Zeitspanne
noch nicht beendet ist und daher abgebrochen wird. Vorzugsweise
wird eines der möglichen
Ergebnisse „erfolgreich" oder „fehlgeschlagen" zugeordnet. „Erfolgreich" bedeutet, daß das zu
testende System sich so wie spezifiziert verhalten hat, „fehlgeschlagen" bedeutet, daß es sich
anders als spezifiziert verhalten hat.
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Jedem
Testfall ist mindestens eine Anweisung zum Einstellen jeweils einer
Variable zugeordnet. „Einstellen" einer Variable bedeutet,
daß sie
auf einen Wert gesetzt wird oder ihr ein neuer Wert zugewiesen wird, die
Wertzuweisung also geändert
wird. In einer Ausführungsform
besteht eine solche Anweisung daraus, der Variablen eine Zahl zuzuweisen,
z. B. der Variablen A die Zahl 10. Diese Zuweisung wird formalisiert
als „A
= 10". In einer
anderen Ausführungsform
besteht die Anweisung daraus, der Variablen das Ergebnis einer Berechnung
zuzuweisen. In dieser Ausführungsform
ist der Anweisung eine Berechnungs-Vorschrift zugeordnet, z. B.
10·sin(2·PI/T+t).
Möglich
sind auch bedingte Anweisungen der Form „WENN Auswahlbedingung DANN Wert-1
SONST Wert-2. Für
Wert-1 und Wert-2 können
Berechnungs-Vorschriften festgelegt sein. Zwei Beispiele für derartige
bedingte Anweisungen sind: WENN A < (5·B + 2)
DANN A = 10 SONST A = 10·B WEN B < C
DANN A = 10 SONST A = 5
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In
den Berechnungs-Vorschriften können
also andere Variablen auftreten.
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Vorzugsweise
lassen sich die Berechnungs-Vorschriften und logischen Auswahlbedingungen
und Abbruchbedingungen mit Hilfe folgender Operatoren formulieren:
- – Addition,
- – Subtraktion,
- – Multiplikation,
- – Division,
- – Rest
modulo einer vorgegebenen Zahl,
- – Inkrement-Bildung,
- – Dekrement-Bildung,
- – Exponential-Funktion,
- – Logarithmus-Funktion,
- – Trigonometrische
Funktionen.
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In
logischen Auswahlbedingungen, logischen Abbruchbedingungen sowie
in Berechnungs-Vorschriften können
darüber
hinaus die folgenden Vergleichs-Operationen auftreten:
gleich,
ungleich,
größer als,
kleiner
als,
größer gleich
als,
kleiner gleich als,
logisches UND,
logisches
ODER.
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Mit
Hilfe dieser Operationen lassen sich Anweisungen zum Einstellen
einer Variablen auf einen Wert formulieren, die z. B. folgendes
bewirken:
- – Wertzuweisung,
z. B. zur Simulation eines Kurzschlusses oder einer Schalterstellung,
- – wiederholte
Zuweisung von Werten, die linear mit der Zeit ansteigen (Rampenfunktion),
- – allgemeiner:
wiederholte Zuweisung von zeitlich veränderlichen Werten (z. B. Parameter-Drift),
- – zufälliges Zuweisen
mit einem Zufallsgenerator, um ein verrauschtes Signal zu erzeugen,
- – zeitlich
kurzer Fehler-Impuls, z. B. Dirac-Impuls,
- – wellenförmige Signale,
z. B. Rechteck- oder Sinus-Signale oder Überlagerungen mehrerer elementarer Signale.
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Mit
einem Signal, das aus einer Überlagerung
eines Rechteck- und
eines Sinus-Signals resultiert, läßt sich z. B. die elektromagnetische
Verträglichkeit
eines Teilsystems eines Kraftfahrzeugs testen.
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Zusätzlich kann
eine Anweisung vorgesehen sein, die festlegt, daß eine tabellarische oder graphische Darstellung
des zeitlichen Verlaufs von Variablen erzeugt werden soll. Die Anweisung
legt fest, auf welche Variablen sich die Darstellung beziehen soll,
sowie eine Zeitspanne relativ zum Zeitpunkt, an dem die Synchronisation
abgeschlossen ist.
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Mehrere
Testfälle
lassen sich zu einer Testfall-Abfolge zusammenfassen. Die Testfälle einer
Abfolge werden stets gemeinsam und in der durch die Abfolge vorgegebenen
Reihenfolge ausgeführt.
Möglich
ist, daß alle
Testfälle
einer Abfolge gleichzeitig begonnen werden. Möglich ist auch, daß Testfälle zeitlich
versetzt begonnen werden.
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Im
folgenden werden zwei Testfälle
durch eine formale, rechnerauswertbare Syntax beschrieben.
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Der
erste dieser beispielhaften Testfälle:
- – FAIL:
dist < 10
- – T_Start:
50
- – T_End:
60
- – Result_t_End:
PASS
- – Anweisung_1:
C = 10
- – Anweisung_2:
IF D < C THEN D
= 10 ELSE D = C
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Die
logische Abbruchbedingung ist „dist < 10". In diesem Fall
liefert der Testfall das Ergebnis „fehlgeschlagen" (FAIL). Der Testfall
umfaßt
zwei Anweisungen. Die zweiten Anweisung enthält eine logische Auswahlbedingung.
Ist die Variable D kleiner als die Variable C, so wird der Variablen
D der Wert 10 zugewiesen, ansonsten der aktuelle Wert von C. Die
Ausführung
dieses Testfalls wird 50 Sekunden nach Ende der Synchronisierung
begonnen. Falls 60 Sekunden, nachdem die Ausführung des Testfalls begonnen
wurde, also 110 Sekunden nach Ende der Synchronisierung, die Abbruchbedingung
noch nicht erfüllt
ist, so liefert der Testfall das Ergebnis „erfolgreich" (PASS).
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Der
zweite dieser Testfälle:
- – FAIL:
B >= 10·SIN (2·PI/D)
- – PASS:
Notbremsung == 1
- – T_Start:
10
- – T_End:
30
- – Result_t_End:
FAIL
- – Anweisung_1:
A = 5·t
+ B
- – Anweisung_2:
PLOT_Graph (A, B, D)
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Die
logische Abbruchbedingung ist erfüllt, wenn eine Notbremsung
ausgelöst
wurde. Dann ist das Testergebnis „erfolgreich". Die zweite Anweisung
erzeugt eine graphische Darstellung des Verlaufs von A, B und D.
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Vorzugsweise
werden die Testfälle
in einer Tabelle dargestellt. Jeder Testfall wird in einer Zeile
angeordnet. Die Attribute (Start-Zeitspanne, maximale Ausführungs-Zeitspanne,
Abbruchbedingungen und Ergebnisse bei Eintritt eines der Abbruchbedingungen,
Anweisungen) stehen in den Spalten dieser Tabelle. Vorzugsweise
steht jede Anweisung in einer Spalte, und je eine Spalte ist für die Zeitspannen,
die Abbruchbedingungen, die Ergebnisse vorgesehen.
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Beispielsweise
lassen sich die Testfälle
nach Start-Zeitspannen
sortieren, was die Reihenfolge liefert, in der die Ausführung der
Testfälle
begonnen wird. Oder sie werden nach der maximalen Ausführungs-Zeitspanne
sortiert, was zeigt, welcher Testfall spätestens zu welchem Zeitpunkt – relativ
zur Synchronisierung – beendet
ist. Möglich
ist, in den Anweisungen nach dem Namen einer bestimmten Variablen
A zu suchen, um zu ermitteln, durch welche Testfälle und Anweisungen A einen
bestimmten Wert zugewiesen erhält
oder der Wert von A verändert
wird und welche anderen Testfälle
und Variablen von A abhängen.
Andere Testfälle
hängen
z. B. dadurch von A ab, daß in
einer Berechnungsvorschrift, logischen Auswahlbedingung oder Abbruchbedingung
A auftritt.
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