DE10111296A1 - Verfahren und System zur Oberflächenprüfung der Herstellung und/oder bei der Bearbeitung von Flachprodukten - Google Patents

Abstract

Um ein Verfahren zur Oberflächenprüfung bei der Herstellung und/oder bei der Bearbeitung von an einer Prüfungseinrichtung vorbeilaufenden Flachprodukten (15) aus Metall, insbesondere aus Stahl und insbesondere Bandstahl, zu automatisieren, sollen Bilder (24), die Linien und/oder Flächen (25, 26) mit unterschiedlichen Leuchtdioden aufweisen, von der Oberfläche des Flachprodukts (15) optisch aufgenommen werden, diese Bildinformationen einer rechnergestützten Bildverarbeitungseinrichtung (18) zugeführt werden, in dieser Bildverarbeitungseinrichtung (18) aus den Bildinformationen Linien oder Flächen (28) ermittelt werden, deren Leuchtdioden innerhalb eines definierten Leuchtdichtebereichs liegen, sowie vorzugsweise die derart ausgewerteten Bildinformationen mit abgespeicherten Bildinformationen (20) idealer Oberflächenzustände, die ebenfalls einer entsprechenden Leuchtdichteauswertung unterzogen wurden, verglichen und entsprechende Vergleichswerte ermittelt werden und diese Vergleichswerte zur Einstellung der die Flachproduktherstellung und/oder -bearbeitung beeinflussenden Parameter herangezogen werden. Gleichzeitig wird ein entsprechendes System zur Oberflächenprüfung vorgeschlagen.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie ein System zur Oberflächenprüfung bei der Herstellung und/oder bei der Bearbeitung von Flachprodukten, insbesondere von Stahlband als auch von Nichteisenmetallen, wie Aluminium. Zudem richtet sie sich auf Vorrichtungen zur Herstellung von Flachprodukten sowie zur Beschich­ tung von Oberflächen von Flachprodukten mit einem entsprechenden System.

Die Spannungsoptik bzw. die optische Aufnahme von Spannungsbildern ist be­ kannt. Im einfachsten Fall wird ein Bauteil beleuchtet, und die Spannungsbilder werden auf einem Schirm sichtbar gemacht. Die Spannungsbilder ergeben sich einerseits aus den auf das Bauteil von außenwirkenden Spannungen (beispiels­ weise Zug, Druckspannungen) oder dem Bauteil immanenten Eigenspannungen, die beispielsweise bei ungleichmäßiger Abkühlung des Bauteils entstanden sind.

Wenn nun das Bauteil einem bestimmten Strahlengang ausgesetzt wird, werden auf dem Schirm Linien oder Flächen (Gebiete) gleicher Helligkeit (Isochromaten) bzw. Farbe sichtbar. Diese entsprechen Linien oder Gebieten gleicher Spannung.

Die Spannungsoptik wird zur Oberflächenprüfung von Bauteilen herangezogen. Einem geübten Auge offenbart sich hierbei der gesamte Spannungszustand an der Oberfläche des untersuchten Bauteils. Durch Auswertung der Spannungsbil­ der können sowohl der Ort der auftretenden Spannungsspitzen ermittelt als auch anschließend die Spannungen rechnerisch bestimmt werden. Hierbei ergibt sich aber das Problem, daß die manuell stattfindenden Auswertungen dieser visuali­ sierten Spannungsbilder naturgemäß sehr personengebunden sind und letztend­ lich von der Erfahrung des einzelnen Beobachters abhängen. Zudem sind - selbst bei hohem Erfahrungswert - der Auswertung mit dem menschlichen Auge Grenzen gesetzt, was den Vergleich oder die Bestimmung feiner Unterschiede angeht, auch beeinflußt durch Ermüdung und Konzentrationsschwäche. Außerdem kann das Auge feine Grauwertunterschiede nicht erkennen.

Der Erfindung liegt demnach die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren sowie ein ent­ sprechendes System zur Automatisierung der Oberflächenprüfung von Flachpro­ dukten, insbesondere von Bandstahl, zu schaffen.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruch 1 sowie durch ein System mit den Merkmalen des Anspruch 11 gelöst. Vorteilhafte Weiter­ entwicklungen sind in den Unteransprüchen beschrieben.

Verfahrensgemäß wird vorgeschlagen, daß Bilder, die Linien und/oder -flächen mit unterschiedlichen Leuchtdichten aufweisen, von der Oberfläche des Flachpro­ dukts - optisch - aufgenommen werden, daß diese Bildinformationen einer rech­ nergestützten Bildverarbeitungseinrichtung zugeführt werden und daß in dieser Bildverarbeitungseinrichtung aus den Bildinformationen Linien oder Flächen er­ mittelt werden, deren Leuchtdichten innerhalb eines definierten Leuchtdichtebe­ reichs liegen.

Grundgedanke der Erfindung ist es, Linien bzw. Flächen mit unterschiedlichen Leuchtdichten, d. h. bei Schwarz-Weiß-Bildern mit Graustufen, auf Bereiche glei­ cher Leuchtdichten zu reduzieren. Die Leuchtdichte ist ein definiertes Maß für ei­ nen bestimmten Helligkeits- oder Schwärzungsgrad. Diese Reduktion auf Berei­ che gleicher Leuchtdichten wird dadurch erreicht, daß die Leuchtdichte von Punkten (Pixel), Linien oder Flächen bestimmt wird - was letztendlich von der Empfindlichkeit der aufzunehmenden Kamera abhängt - und daß jeweils Punkte, Linien oder Flächen gleicher oder ähnlicher Leuchtdichte zu einem Leuchtdichte­ bereich zusammengefaßt werden. Durch Definition der Grenzen des Leuchtdich­ tebereichs wird das Maß der Punkte, Linien bzw. Flächen, die einem Bereich zu­ zuordnen sind, bestimmt. Ein solcher Leuchtdichtebereich läßt sich durch Vorgabe von Leuchtdichtegrenzwerten bestimmen, indem ein Minimalwert sowie ein Maxi­ malwert vorgegeben wird. Alle Punkte, Linien oder Flächen, deren Leuchtdichte innerhalb dieses definierten Bereiches liegen, werden dann zu einer Gruppe zu­ sammengefaßt.

Für dieses Verfahren werden Bilder mit unterschiedlichen Linien und Flächen von der Oberfläche des Flachprodukts aufgenommen. Diese unterschiedlichen Linien und Flächen oder Grauwertstufen können sich durch die Spannungsverteilung oder Fehler auf der Oberfläche oder durch Unplanheiten ergeben.

Im Falle von Spannungsbildern bzw. in der Spannungsoptik werden Linien oder Flächen gleicher Schwärzung oder gleicher Leuchtdichte Äquidensiten genannt. Erfindungsgemäß findet eine Zuordnung von Leuchtdichtewerten zu vorgegeben Gruppen, d. h. Äquidensiten, statt, die sich durch gleiche Schwärzung bzw. Hellig­ keit von gleicher Leuchtdichte in einem gleichen Leuchtdichtebereich auszeich­ nen.

Damit ist die sich jeweils ergebende Breite einer Äquidensite ein Maß für die Grö­ ße des Leuchtdichtebereichs. Durch diese Reduktion der Spannungsbilder bzw. der diesen zugrundeliegenden Bildinformationen auf Äquidensitenbilder bzw. die­ sen zugrundeliegenden Bildinformationen kann die Datenmenge insgesamt redu­ ziert werden und das Datenhandling insgesamt beim Vergleich mit den Informatio­ nen der Ideal-Bilder vereinfacht werden.

Bei Spannungsbildern mit Bereichen von höchstem Schwärzungsgrad sowie höchstem Helligkeitsgrad können somit die dazwischenliegenden Graubereiche definierten Äquidensiten zugeordnet werden. Damit werden gerade die Grauberei­ che, die für das menschliche Auge nicht zu unterscheiden sind, vergleichbar und ebenfalls einer rechnerischen Auswertung zugänglich.

Auf diese Weise können unterschiedliche Spannungen auf der Bandoberfläche, auch Eigenspannungen, zum einen erkannt und zum anderen Spannungen unter­ schiedlicher Art, wie Zug- und Druckspannungen, sicher voneinander differenziert werden.

Neben der Analyse von Spannungsbildern ist die Analyse von Graustufenbildern zum Erkennen von Fehlern auf der Oberfläche, insbesondere nach einer Be­ schichtung, sowie zum. Erkennen des Planheitszustandes des Flachprodukts mög­ lich.

Die so ermittelten Bilder werden mittels eines Monitors visualisiert, wobei der Mo­ nitor an einem entfernten Beobachtungspunkt zur Anlage angeordnet wird, um die Unfallgefahr zu minimieren. Das Personal kann eine Fehlerquelle auf der Oberflä­ che des Flachgutes sicher erkennen.

Vorzugsweise erfolgt auf Grundlage der Fehlererkennung eine Selbstregelung der Anlage. Hierzu werden die ausgewerteten Bildinformationen mit abgespeicherten Bildinformationen idealer Oberflächenzustände, die ebenfalls einer entsprechen­ den Leuchtdichteauswertung unterzogen wurden, verglichen und entsprechende Vergleichswerte ermittelt. Die Vergleichswerte werden zur Einstellung der die Flachproduktherstellung und/oder -bearbeitung beeinflussenden Parameter her­ angezogen.

Diese frühzeitige und bei kontinuierlicher Bildaufnahme durchgängige Span­ nungsanalyse bzw. Fehlererkennung schafft eine automatisch, ggf. halbautomati­ sche, Maschinensteuerung bzw. Einstellung der Anlagenparameter, um insgesamt eine Qualitätsverbesserung und eine Ausschußminimierung zu erreichen. Auf­ grund des hohen Automatisierungsgrades muß der Operateur grundsätzlich nicht mehr in den Prozeß der Fehlererkennung und Gegenlenkung durch Maschinen­ steuerung eingreifen.

Vorzugsweise wird vorgeschlagen, daß die Linien oder Flächen in einem gleichen Leuchtdichtebereich als Äquidensite einer X. Ordnung mit X als natürlichen Zahl und größer 1 ermittelt werden. Ausgehend von einem Spannungsbild ergibt sich ein Äquidensiten-Spannungsbild mit einer Äquidensite 1. Ordnung. Wird nun ein Äquidensitenbild 2. Ordnung ermittelt, teilt sich eine Äquidensite in zwei Äquiden­ siten auf, die einzelne Äquidensite wird schmaler.

Der vorgeschlagenen Leuchtdichteauswertung sind sowohl Schwarz-Weiß- Spannungsbilder als auch farbliche Spannungsbilder zugänglich. Bei den Schwarz-Weiß-Bildern umfaßt die Leuchtdichteauswertung eine Graustufenaus­ wertung.

Verfahrensgemäß wird zumindest ein Teil des an einer Inspektionseinheit, umfas­ send eine Kamera und eine Beleuchtungseinheit, vorbeilaufenden Flachproduktes, vorzugsweise Metallband, jeweils rasterartig Stück für Stück gefilmt und die Bild­ daten der Berechnung zugeführt. Hierbei kann das Band quer über eine Kamera oder mittels mehrerer Kameras, die jeweils nur bereichsweise, zum Beispiel be­ reichsweise, die Oberfläche abfilmen, aufgenommen werden.

Insgesamt wird zur Durchführung des Verfahrens ein System vorgeschlagen mit einer Inspektionseinheit, die Mittel zur Beleuchtung zumindest eines Teils der Oberfläche des Flachproduktes umfaßt sowie Mittel zur Aufnahme von Bildern, die (heile und dunkle) Linien und/oder - flächen mit unterschiedlichen Leuchtdichten aufweisen, von der beleuchteten Oberfläche des Flachprodukts. Neben der In­ spektionseinheit weist sie eine Rechnereinheit auf, die als wesentliche Einheiten eine Bildverarbeitungseinrichtung umfaßt, die aus den Bildinformationen Linien oder Flächen ermittelt, deren Leuchtdichten innerhalb eines definierten Leucht­ dichtebereichs liegen.

In diesem Zusammenhang umfaßt der Begriff ein Teil der Oberfläche beispiels­ weise die Ober- und/oder die Unterseite des Flachprodukts sowie immer nur ein­ zelne Bereiche der Ober- und/oder Unterseite, die rasterartig ausgeleuchtet und gefilmt werden.

Vorzugsweise umfaßt das System eine Vergleichseinheit, die die derart ausge­ werteten Bildinformationen mit abgespeicherten Bildinformationen idealer Oberflä­ chenzustände, die ebenfalls einer entsprechenden Leuchtdichteauswertung unter­ zogen wurden, vergleicht und entsprechende Vergleichswerte zur Einstellung der die Flachproduktherstellung oder -bearbeitung beeinflussenden Parameter ermit­ telt und an die Maschinensteuerung übermittelt.

Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus den Unteran­ sprüchen und aus der nachfolgenden Beschreibung, in der die in den Figuren dar­ gestellten Ausführungsformen der Erfindung näher erläutert werden. Dabei sind neben den oben aufgeführten Kombinationen von Merkmalen auch Merkmale al­ leine oder in anderen Kombinationen erfindungswesentlich. Es zeigen:

Fig. 1 schematisch eine Fertigwalzlinie zum Walzen eines Stahlbandes mit Rech­ nerverknüpfung zur automatischen Oberflächenprüfung der Bandoberfläche sowie Regelung der Walzparameter, schematisch als Blockschaltbild dar­ gestellt;

Fig. 2 schematisch eine Anlage zum Beschichten eines Stahlbandes sowie Re­ gelung der Beschichtungsanlagenparameter, schematisch in das Block­ schaltbild der Fig. 1 integriert;

Fig. 3 ein optisch aufgenommenes Spannungsbild einer Bandoberfläche;

Fig. 4 der dem Spannungszustand der Fig. 3 entsprechende mittels Äquidensiten 1. Ordnung dargestellte Spannungszustand der Bandoberfläche.

Fig. 5 schematisch eine Detaildarstellung einer das Flachprodukt überspannen­ den Traverse mit Inspektionseinheit.

Fig. 1 zeigt sehr schematisch den letzten Teil einer Fertigwalzstraße 1 mit - hier exemplarisch - zwei Walzgerüsten 2, 3, die durch jeweils zwei Arbeitswalzen 4a, 4b, 5a, 5b und zwei Stützwalzen 6a, 6b, 7a, 7b dargestellt werden, einer sich an die Fertigwalzstraße 1 anschließenden Kühlstrecke 8 mit Spritzdüsen 9 sowie einer Haspeleinrichtung 10. Bei der gezeigten Ausführungsform befindet sich jeweils hinter (in Walzrichtung gesehen; ebenso können sie vorgeordnet sein) einem Walzgerüst 2, 3 sowie hinter der Kühlstrecke 9 eine das Band in Querrichtung überspannende Traverse 11a, 11b, 11c, an der hier jeweils eine Inspektionseinheit 12a, 12b, 12c angeordnet ist. Diese Inspektionseinheiten 12a, b, c bestehen aus mindestens einer Kamera 13a und einer Beleuchtungseinheit 14a (vgl. Fig. 6). Falls erforderlich, können ebenfalls mehrere Kameras pro Inspektionseinheit in­ stalliert sein; zudem ist beispielhaft die Installation einer Inspektionseinheit 12d mit der Kamera 13d unterhalb des Bandes 15 zur parallelen oder wahlweisen Prüfung der Bandunterseite dargestellt. Die Inspektionseinheiten 12a bis d sind vorteilhaf­ terweise jeweils thermisch gekapselt und/oder gekühlt, um nicht durch die von dem Band 15 abgestrahlte Hitze oder die aggressive Atmosphäre angegriffen zu werden. Mittels der Kameras 13a bis d wird die Oberfläche des kontinuierlich durch die Walzgerüste 2, 3 laufenden Bandes 15 aufgenommen, und zwar bei dieser Ausführungsform das Spannungsbild. Bei diesen Kameras handelt es sich beispielsweise um eine CCD-Kamera (charge-coupled-device). Diese Zeilen- oder Matrix-Kamera speist die von ihren Pixeln aufgenommenen Bilddaten in Form elektrischer Signale über entsprechende Einspeiseleitungen 16a bis d in eine je­ weils separate oder wie hier gemeinsame Rechnereinheit 17. Diese Rechnerein­ heit 17 umfaßt im wesentlichen eine Bildverarbeitungseinheit 18 sowie eine Ver­ gleichseinheit 19. Die elektrischen Signale werden zur Darstellung eines Span­ nungsbildes verwendet. Fig. 3 stellt beispielhaft ein derartiges Spannungsbild 24 einer Bandoberfläche dar. Die hellen und die dunklen Linien bzw. Flächen 25, 26 stellen jeweils unterschiedliche Spannungen dar. Obwohl das menschliche Auge die Spannungsverläufe grob ausmachen kann, ist es schwierig, die einzelnen Spannungen hinsichtlich ihrer jeweiligen Leuchtdichte zu analysieren, d. h. den Graustufenbereich zwischen einer dunklen und einer hellen Fläche zu analysieren. Es werden deshalb rechnerisch von der Bildverarbeitungseinrichtung 18 aus den Bildinformationen des Spannungsbildes 24 Linien oder Flächen mit Leuchtdichten in einem bestimmten Leuchtdichtebereich ermittelt. Das Ergebnis der Darstellung von Linien bzw. Flächen gleicher oder ähnlicher Leuchtdichte auf Grundlage eines Spannungsbildes zeigt Fig. 4 mit dem Bild 27. Es ist deutlich erkennbar, welche Spannungen in dem Spannungsbild nach Fig. 3 wesentlich sind, weil die ehemals flächigen Spannungsverläufe in einem Graubereich jetzt nur noch als reduzierte Linien bzw. Flächen 28 dargestellt sind.

Durch weitere Berechnung ist es möglich, den Spannungszustand mit Äquidensi­ ten 2. Ordnung darzustellen. Bei dieser Darstellung spaltet sich eine Äquidensite in zwei Äquidensiten auf, deren jeweilige Breite entsprechend reduziert wird. Eine Reduzierung auf Äquidensiten X. Ordnung ist möglich und kann halbautomatisch oder automatisch vorgegeben werden, um eine geeignete Spannungsaussage zu erhalten.

Aus den Spannungsbildern wird klar, daß sich das vorgeschlagene Verfahren nicht nur zur Analyse des Spannungszustandes eignet, sondern auch zur Prüfung der Oberfläche auf Fehler wie Einkerbungen oder Überwalzungen oder des Plan­ heitszustandes herangezogen werden kann.

Die so ermittelten Äquidensiten-Spannungsbilder (27) bzw. die diesen zugrunde­ liegenden Bildinformationen werden dem Operateur über einen Monitor 29 sicht­ bar gemacht - was eine gleichzeitige manuelle Analyse der Bilder für einen Notfall möglich macht - und zur Weiterverarbeitung der Vergleichseinheit 19 zugeführt. In dieser sind die Bildinformationen idealer Oberflächenzustände in dem Modus der Äquidensitendarstellung bzw. einer definierten Leuchtdichtebereichdarstellung als entsprechende Dateien bzw. Bildinformationen 20 abgespeichert. Die Vergleichs­ einheit 19 nimmt nun einen Vergleich zwischen dem Ist-Bild (27) und dem Soll- Bild vor und berechnet entsprechende Differenz- bzw. Vergleichswerte. Dies ist vom Datenhandling gesehen wesentlich einfacher zu gestalten als der alleinige Vergleich von Spannungsbildern, da die Daten auf Linien bzw. Flächen gleicher oder ähnlicher Schwärzung reduziert sind. Die ermittelten Vergleichswerte stehen nun - wies es bei diesem Ausführungsbeispiel gezeigt ist - zur Einstellung der Walzgerüstparameter zur Verfügung. Hierzu steht die Rechnereinheit 17 bzw. die Vergleichseinheit 19 über Kommandoleitungen 21 mit der Maschinensteuerung 22 der Walzgerüste 2, 3 in Verbindung, beispielsweise zur Änderung des Walzspaltes oder einer Angleichung der Spannungen auf der Antriebs- und Bedienseite des jeweiligen Walzgerüstes. Ebenfalls können die Vergleichsdaten zur Steuerung der Kühlstrecke 8 zur Verfügung stehen.

Die Inspektionseinheiten 12a bis d können an jedem Verfahrensabschnitt bei der Herstellung und bei der Bearbeitung des Bandes installiert sein. Die Installation ist dabei nicht auf die Fertigwalzstraße oder die Kühlstrecke beschränkt. Eine Ver­ wendung des erfindungsgemäßen Verfahren sowie des erfindungsgemäß vorge­ schlagenen Systems kommt insbesondere beim Durchlaufglühen oder bei Nach­ behandlungsverfahren wie dem Streckrichten oder dem Dressieren von Kaltband in Frage, vorteilhafter immer dort, wo Spannungen, insbesondere Eigenspannun­ gen auf der Bandoberfläche auftreten. Ebenfalls empfiehlt sich die Ausrüstung einer Beizanlage oder einer Beschichtungsanlage mit dem vorgeschlagenen Sy­ stem zur Oberflächenanalyse und Regelung eines oder mehrerer Anlagenpara­ meter. Eine derartige Beschichtungsanlage 23 ist schematisch in Fig. 2 darge­ stellt. Hier wird das - ggf. kaltgewalzte Band 31 - durch einen mit der Beschich­ tungsflüssigkeit gefüllten Behälter 32 kontinuierlich befördert, wobei die Be­ schichtungsanlage nicht auf diese Art beschränkt sein soll. Mit 16' sind die Ein­ speiseleitungen, mit 21' die Kommandoleitungen der Beschichtungsanlage 23 analog zum Blockschaltbild gemäß Fig. 1 bezeichnet. Die Verarbeitung der Span­ nungsbilder erfolgt entsprechend der in Fig. 1 beschriebenen rechnerischen Ver­ arbeitung, die erhaltenen Vergleichswerte stehen dann zur Einstellung der Anla­ geneinstellung zur Verfügung.

Claims (17)

1. Verfahren zur Oberflächenprüfung bei der Herstellung und/oder bei der Be­ arbeitung von an einer Prüfungseinrichtung vorbeilaufenden Flachproduk­ ten (15),
dadurch gekennzeichnet,
daß Bilder (24) mit Flächen und/oder Linien (25, 26) unterschiedlicher Leuchtdichten von der Oberfläche des Flachprodukts (15) aufgenommen werden,
daß diese Bildinformationen einer rechnergestützten Bildverarbeitungsein­ richtung (18) zugeführt werden und
daß in dieser Bildverarbeitungseinrichtung (18) aus den Bildinformationen Linien oder Flächen (28) ermittelt werden, deren Leuchtdichten innerhalb eines definierten Leuchtdichtebereichs liegen.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine minimale und eine maximale Leuchtdichte zur Begrenzung eines Leuchtdichtebereichs vorgegeben wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die derart ausgewerteten Bildinformationen mit abgespeicherten Bild­ informationen (20) idealer Oberflächenzustände, die ebenfalls einer ent­ sprechenden Leuchtdichteauswertung unterzogen wurden, verglichen und entsprechende Vergleichswerte ermittelt werden und
daß diese Vergleichswerte zur Einstellung der die Flachprodukther­ stellung und/oder -bearbeitung beeinflussenden Parameter herangezogen werden.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei den Bildern (24) mit Flächen und/oder Linien (25, 26) unter­ schiedlicher Leuchtdichten um Spannungsbilder' handelt oder um Graustu­ fenbilder handelt, die durch Oberflächenfehler oder Unplanheiten entste­ hen.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Linien oder Flächen (28) in einem gleichen Leuchtdichtebereich ei­ nes Spannungsbildes als Äquidensite einer X. Ordnung mit X als natürli­ chen Zahl und größer 1 ermittelt werden.

6. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß Schwarz-Weiß-Spannungsbilder (24) aufgenommen werden und
daß die Leuchtdichteauswertung eine Graustufenauswertung umfaßt.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß spannungsoptische Farbbilder mit Farbunterschieden aufgenommen werden.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Bilder (24) kontinuierlich zumindest von einem definierten Teil des Flachprodukts (15) rasterartig aufgenommen werden.

9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die einer Dichtebereichsauswertung unterzogenen Bilder dem Benutzer visualisiert werden.

10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die nach oben weisende Oberfläche des Flachprodukts, insbesondere eines Metallbands, und/oder die nach unten weisende Oberfläche des Flachproduktes aufgenommen wird.

11. System zur Oberflächenprüfung bei der Herstellung und/oder bei der Bear­ beitung von Flachprodukten (15)
mit einer Inspektionseinheit (12a, b, c, d), die Mittel zur Beleuchtung (14a, b, c, d) zumindest eines Teils der Oberfläche des Flachproduktes (15) sowie Mittel zur Aufnahme von Bildern (24), die Linien und/oder -flächen (25, 26) mit unterschiedlichen Leuchtdichten aufweisen, von der beleuch­ teten Oberfläche des Flachprodukts, umfaßt
und mit einer Rechnereinheit (17), umfassend eine Bildverarbeitungsein­ richtung (18), die aus den Bildinformationen Linien oder Flächen (28) er­ mittelt, deren Leuchtdichten innerhalb eines definierten Leuchtdichtebe­ reichs liegen.

12. System nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß es umfaßt einen Monitor (29) zur Visualisierung der der Leuchtdichteauswertung un­ terzogenen Bilder (27).

13. System nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß dies weiterhin umfaßt eine Vergleichseinheit (19), die die derart ausgewerteten Bildinformationen mit abgespeicherten Bildinformationen (20) idealer Oberflächenzustände, die ebenfalls einer entsprechenden Leuchtdichteauswertung unterzogen wurden, vergleicht und entsprechende Vergleichswerte zur Einstellung der die Flachproduktherstellung und/oder -bearbeitung beeinflussenden Para­ meter ermittelt.

14. System nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufnahmemittel mindestens eine hochauflösende Kamera (12a, b, c, d) umfassen.

15. System nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zur Beleuchtung (14a, b, c, d) Polarisationsfilter zur Erzeugung von linear polarisiert auftreffendem Licht umfassen.

16. Vorrichtung zur Herstellung von Flachprodukten aus Metall, insbesondere aus Stahl, mit mindestens einem Walzgerüst (2, 3) zum Walzen, insbeson­ dere von Bandstahl, mit einem System zur Oberflächenprüfung nach einem der Ansprüche 11 bis 16, dessen Rechnereinheit (17) mit der die Walzpa­ rameter einstellenden Maschinensteuerung (22) verbunden ist.

17. Vorrichtung zur Oberflächenbeschichtung von Flachprodukten aus Metall, insbesondere von Bandstahl, mit einem System zur Oberflächenprüfung nach einem der Ansprüche 11 bis 16, dessen Rechnereinheit mit der die Beschichtungsparameter einstellenden Maschinensteuerung verbunden ist.