DE10052908C1

DE10052908C1 - Method and device for recognizing the switching position of a plurality of switches connected to a common input of an electronic unit

Info

Publication number: DE10052908C1
Application number: DE10052908A
Authority: DE
Inventors: Hans-Peter Hellwig
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Continental Automotive GmbH
Priority date: 2000-10-25
Filing date: 2000-10-25
Publication date: 2002-08-29
Anticipated expiration: 2020-10-26

Abstract

Eine Erkennung der Schaltstellung einer Mehrzahl von mit einem gemeinsamen Eingang (24) einer Elektronikeinheit (26) verbundenen Schaltern (2, 4, 6, 8), die im betätigten Zustand den Eingang mit einem Schaltsignal beaufschlagen, erfolgt dadurch, dass in einem Speicher (32) der Elektronikeinheit (26) ein jedem Schalter individuell zugeordneter Mittelwert (V¶2¶, V¶4¶, V¶6¶, V¶8¶) und wenigstens ein Toleranzwert (T) gespeichert wird und der betätigte Zustand eines Schalters dadurch erkannt wird, dass das Schaltsignal innerhalb eines durch den Mittelwert und dessen Toleranzwert gegebenen Schaltsignalintervalls liegt.The switching position of a plurality of switches (2, 4, 6, 8) which are connected to a common input (24) of an electronic unit (26) and which act on the input with a switching signal in the actuated state is identified by the fact that in a memory ( 32) the electronics unit (26) stores an individually assigned mean value (V¶2¶, V¶4¶, V¶6¶, V¶8¶) and at least one tolerance value (T) and the actuated state of a switch it is recognized that the switching signal lies within a switching signal interval given by the mean value and its tolerance value.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erkennen der Schaltstellung einer Mehrzahl von mit einem ge meinsamen Eingang einer Elektronikeinheit verbundenen Schal tern.The invention relates to a method and an apparatus for Detect the switching position of a plurality of ge common input of an electronic unit connected scarf you.

Zur Auslösung oder Betätigung unterschiedlichster Vorgänge in technischen Einrichtungen, insbesondere in Kraftfahrzeugen, ist eine Mehrzahl von Schaltern notwendig. Aufgrund der be schränkten Kapazität von Eingängen von in solchen Einheiten verwendeten Elektronikeinheiten bzw. Elektronikmodulen werden Schalter codiert, so dass mehrere Schalter an einen gemeinsa men Eingang einer Elektronikeinheit gelegt werden können.For triggering or actuating various processes in technical equipment, especially in motor vehicles, a number of switches are required. Because of the be limited capacity of inputs from in such units used electronics units or electronics modules Switch coded, so that several switches to a common men input of an electronic unit can be placed.

Fig. 5 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer solchen Schal tung:
Eine Mehrzahl von Schaltern 2, 4, 6, 8 ist über Widerstände 10, 12, 14, 16 und 18 derart mit einer Spannungsquelle 20 verbun den, dass an einem Ausgang 22 der Zusammenschaltung der Schalter eine Spannung liegt, die davon abhängt, welcher der Schalter betätigt ist. Der Ausgang 22 ist mit einem Eingang 24 einer Elektronikeinheit 26 verbunden, die einen Mikropro zessor 28, zugehörige Speichereinrichtungen 30 und einen vor teilhafterweise als EEPROM ausgebildeten, programmierbaren Nur-Lese-Speicher 32 enthält. Der Eingang 24 ist über ein In terface 34 mit den Mikroprozessor 28 verbunden. Ein weiteres Interface 36 der Elektronikeinheit 26, das einen Ausgang bildet, ist beispielsweise mit einem Bussystem 38 verbunden. Aufbau und Funktion der einzelnen Bausteine sind an sich be kannt und werden daher nicht erläutert. Fig. 5 shows an embodiment of such a scarf device:
A plurality of switches 2 , 4 , 6 , 8 is connected via resistors 10 , 12 , 14 , 16 and 18 to a voltage source 20 in such a way that an output 22 of the interconnection of the switches has a voltage which depends on which one Switch is actuated. The output 22 is connected to an input 24 of an electronics unit 26 which contains a microprocessor 28 , associated memory devices 30 and a programmable read-only memory 32 which is advantageously designed as an EEPROM. The input 24 is connected via an interface 34 to the microprocessor 28 . Another interface 36 of the electronics unit 26 , which forms an output, is connected to a bus system 38 , for example. The structure and function of the individual blocks are known per se and are therefore not explained.

Im folgenden wird die Funktion der Vorrichtung bzw. des Sys tems gemäß Fig. 5 anhand der Fig. 6 und 7 erläutert:The function of the device or system according to FIG. 5 is explained below with reference to FIGS. 6 and 7:

Die Schalter 2, 4, 6 und 8 sind beispielsweise Fensterheber schalter, wobei der Schalter 2 zum Heben der Scheibe der Fah rertüre, der Schalter 4 zum Senken dieser Scheibe, der Schal ter 6 zum Heben der Scheibe der Beifahrertüre und der Schal ter 8 zum Senken dieser Scheibe dient.The switches 2 , 4 , 6 and 8 are, for example, window switches, the switch 2 for lifting the pane of the driver door, the switch 4 for lowering this pane, the scarf ter 6 for lifting the pane of the passenger door and the scarf ter 8 for Lowering this disc serves.

In Fig. 6 ist auf der Ordinate die Spannung V aufgetragen, die am Ausgang 22 liegt. Die maximal mögliche Spannung, die am Ausgang 22 liegen kann, ist mit V_M bezeichnet. Das mögli che Spannungsintervall ist in vier Intervalle, II, III, IV aufgeteilt, die aneinander anschließen. Zwischen den Inter vallen sind Übergangsbereiche Ü₁, Ü₂, Ü₃ und Ü₄ definiert, die sicherstellen, dass innerhalb der Intervalle I bis IV defi nierte Spannungsintervalle I₂, I₄, I₆ und I₈ einen Abstand von einander haben, wobei Ü₁ sicherstellt, dass das niedrigste Spannungsintervall I₂ einen ausreichenden Nullabstand hat. Die Werte der Widerstände 10, 12, 14, 16 und 18 (Fig. 4) sind in derart gewählt, das bei Betätigung des jeweiligen Schalters 2, 4, 6, 8 am Ausgang 22 eine Spannung liegt, die sicher innerhalb des jeweils zugeordneten Spannungsintervalls I₂, I₄, I₆, I₈ liegt. Die Bezugszeichen 2, 4, 6 und 8 sind in Fig. 6 eingetragen, um zu verdeutlichen, dass das jeweilige Spannungsintervall den jeweiligen Schalter als dessen Codie rung zugeordnet ist. In FIG. 6, the voltage V is plotted on the ordinate, which is located at the output 22. The maximum possible voltage that can be at the output 22 is designated V _M. The possible voltage interval is divided into four intervals, II, III, IV, which connect to each other. Between the intervals, transition areas Ü ₁ , Ü ₂ , Ü ₃ and Ü _{4 are} defined, which ensure that defined voltage intervals I ₂ , I ₄ , I ₆ and I _{8 have} a distance from each other within the intervals I to IV, whereby Ü ₁ ensures that the lowest voltage interval I _{2 has} a sufficient zero distance. The values of the resistors 10 , 12 , 14 , 16 and 18 ( FIG. 4) are selected in such a way that when the respective switch 2 , 4 , 6 , 8 is actuated, a voltage is present at the output 22 which is safely within the respectively assigned voltage interval I ₂ , I ₄ , I ₆ , I ₈ . The reference numerals 2 , 4 , 6 and 8 are entered in Fig. 6 to clarify that the respective voltage interval is assigned to the respective switch as its coding.

In dem Speicher 32 der Elektronikeinheit 26 sind die Inter valle I₂, I₄, I₆ und I₈ jeweils in Form ihrer Grenzwerte, d. h. des jeweiligen unteren und oberen Spannungswertes gespei chert, sodass für die vier Intervalle acht Werte gespeichert sein müssen. Die Übergangsbereiche Ü müssen ausreichend groß sein, damit eine eindeutige Schalterzuordnung möglich ist. Der Mikroprozessor 28 erkennt anhand der am Eingang 24 lie genden Spannung und der in dem Speicher 32 gespeicherten Spannungswerte, welcher der Schalter betätigt ist, so dass am Ausgangsinterface 36 ein geeignet codiertes Signal erzeugt werden kann, das über das Bussystem 38 den dem jeweiligen Fenster zugeordneten Motor ansteuert. Anstelle des Busses 38 kann eine Vielzahl von Ausgängen vorgesehen sein, über die die Motoren unmittelbar angesteuert werden. Die Zuordnung der Spannungsintervalle I₂, I₄, I₆ und I₈ zu den einzelnen Schaltern stellt eine analoge Kodierung der Schalter dar.The intervals I ₂ , I ₄ , I ₆ and I _{8 are} each stored in the memory 32 of the electronics unit 26 in the form of their limit values, ie the respective lower and upper voltage value, so that eight values must be stored for the four intervals. The transition areas Ü must be large enough so that a clear switch assignment is possible. The microprocessor 28 recognizes from the voltage lying at the input 24 and the voltage values stored in the memory 32 which switch is actuated, so that a suitably coded signal can be generated at the output interface 36 which can be assigned to the respective window via the bus system 38 Controls the motor. Instead of the bus 38 , a large number of outputs can be provided via which the motors are controlled directly. The assignment of the voltage intervals I ₂ , I ₄ , I ₆ and I ₈ to the individual switches represents an analog coding of the switches.

Neben den zahlreichen, in dem programmierbaren Speicher 32 zu speichernden Werten liegt ein Problem des beschriebenen Sys tems in alterungsbedingten Veränderungen der Schalter, die beispielsweise auch Halbleiterschalter sein können, und/oder Veränderungen der Widerstände. Dies führt dazu, dass sich die Spannungen am Ausgang 22, die bei Betätigung der Schalter auftreten, verändern.In addition to the numerous values to be stored in the programmable memory 32 , a problem with the system described lies in age-related changes in the switches, which can also be semiconductor switches, for example, and / or changes in the resistances. This means that the voltages at the output 22 which occur when the switches are actuated change.

Fig. 7 verdeutlicht die Verhältnisse:
Durch im Betriebsverlauf auftretende Änderungen haben sich die Spannungsintervalle I₂, I₄, I₆ und I₈, innerhalb der die Spannungen am Ausgang 22 liegen können, wenn ein Schalter be tätigt wird, verändert. Dadurch haben sich auch die Über gangsbereiche Ü₁, Ü₂, Ü₃ und Ü₄ verändert, sodass im darge stellten Beispiel die Spannungsintervalle I₆ und I₈ nicht mehr sicher auseinander gehalten werden können. Bei unverän derter Programmierung des Speichers 32 ist die Funktionssi cherheit des Systems nicht mehr gegeben, da die Betätigung der einzelnen Schalter nicht mehr sicher erkennbar ist. Fig. 7 illustrates the situation:
Due to changes in the course of operation, the voltage intervals I ₂ , I ₄ , I ₆ and I ₈ , within which the voltages at the output 22 can lie when a switch is actuated, have changed. As a result, the transition areas Ü ₁ , Ü ₂ , Ü ₃ and Ü _{4 have} changed, so that in the example shown, the voltage intervals I ₆ and I ₈ can no longer be kept apart safely. With unchanged programming of the memory 32 , the functional safety of the system is no longer provided, since the actuation of the individual switches can no longer be reliably recognized.

Um die Funktionssicherheit dennoch aufrechtzuerhalten, müssen die Schalter, die beispielsweise in einem Schaltermodul zu sammengefasst sind, komplett ausgewechselt oder regeneriert werden. Eine andere Möglichkeit besteht darin, die Verände rungen der Eigenschaften der Schalter bzw. des Schaltermoduls durch Umprogrammieren des Speichers 32 zu berücksichtigen. Sowohl das Auswechseln der Schalter als auch das Umprogram mieren ist mit erheblichem Aufwand verbunden.In order to maintain functional safety, the switches, which are grouped together in a switch module, for example, must be completely replaced or regenerated. Another possibility is to take into account the changes in the properties of the switches or the switch module by reprogramming the memory 32 . Both the replacement of the switches and the reprogramming takes considerable effort.

Aus der Offenlegungsschrift DE 33 00 964 A1 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Erkennen der Schaltstellung einer Mehrzahl Schaltern bekannt. Zu jedem Schalter ist parallel ein Widerstand geschaltet. Die Widerstände weisen binär abge stufte Widerstandswerte auf. Die Parallelkombinationen aus Schalter und Widerständen sind in Reihe zu einem A/D-Wandler mit Stromquelle geschaltet. Je nachdem welcher Schalter offen oder geschaltet ist, wird eine andere Spannung erhalten, die dann einer Schaltstellung einer der Schalter entspricht. Es besteht also eine genaue Zuordnung von Schalter und Span nungswert. Dies ist sehr aufwendig, da zu jedem Schalter pa rallel ein anderer Widerstand geschaltet werden muß.A method is known from the published patent application DE 33 00 964 A1 and a device for detecting the switching position of a Most switches are known. Each switch is parallel a resistor switched. The resistors are binary graded resistance values. The parallel combinations Switches and resistors are in series with an A / D converter switched with power source. Depending on which switch is open or switched, a different voltage is obtained, the then a switch position corresponds to one of the switches. It So there is an exact assignment of switch and span recognition value. This is very complex because pa for each switch Another resistor must be switched in parallel.

Die Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Abhilfe für die vorgenannte Problematik zu schaffen, das heißt ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, mit dem bzw. der die Schaltstellung einer Mehrzahl von mit einem gemeinsamen Ein gang einer Elektronikeinhalt verbundenen Schaltern einfach und sicher erkannt werden kann. The invention is based, to remedy the problem To create the aforementioned problem, that is, a process and to provide a device with which the Switch position of a plurality of with a common on switches connected to electronics content easily and can be recognized safely.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 oder eine Vorrichtung gemäß Anspruch 3 gelöst.This object is achieved by a method according to claim 1 or solved a device according to claim 3.

Die Unteransprüche sind auf vorteilhafte Ausführungsformen und Weiterbildungen der Erfindung gerichtet. The subclaims relate to advantageous embodiments and further developments of the invention.

Die Erfindung, mit der sowohl der Speicheraufwand als auch der Aufwand zur Berücksichtigung beispielsweise altersbeding ter Veränderungen für die sichere Erkennung der Schaltstel lung einer Mehrzahl von Schaltern vermindert ist, kann über all dort vorteilhaft eingesetzt werden, wo mit einem gemein samen Eingang verbundene Schalter anhand einer Kodierung, insbesondere einer analogen Kodierung, erkannt werden müssen.The invention with which both the amount of memory and the effort to take into account age-related factors, for example ter changes for the reliable detection of the switching point development of a plurality of switches is reduced, can all be used advantageously where common with one switches connected to the same input using coding, especially an analog coding, must be recognized.

Die Erfindung wird im folgenden anhand schematischer Zeich nungen beispielsweise und mit weiteren Einzelheiten erläu tert:The invention is based on the schematic drawing for example and with further details tert:

Es stellen dar:They represent:

Fig. 1 ein Diagramm zur Erläuterung der erfindungsgemäßen Festlegung von Spannungsintervallen zur Erkennung von Schaltern, Fig. 1 is a diagram for explaining the definition of the invention voltage intervals for detecting switches,

Fig. 2 ein Diagramm zur Erläuterung von Alterungseinflüs sen und deren Korrektur, Fig. 2 is a diagram for explaining Alterungseinflüs sen and their correction,

Fig. 3 ein weiteres Diagramm zur Erläuterung vom Alte rungseinflüssen und deren Korrektur, Fig. 3 is another diagram for explaining the old approximately influences and their correction,

Fig. 4 eine abgeänderte Darstellung der Verhältnisse der Fig. 3, Fig. 4 shows a modified representation of the proportions of Fig. 3,

Fig. 5 ein Blockschaltbild einer bekannten Schaltung zur Erkennung von Schaltstellungen, Fig. 5 is a block diagram of a prior art circuit for detecting switching positions,

Fig. 6 ein Diagramm zu Erläuterung der herkömmlichen Fest legung von Spannungsintervallen zur Erkennung von Schaltstellungen und Fig. 6 is a diagram for explaining the conventional setting of voltage intervals for the detection of switching positions and

Fig. 7 ein Diagramm zu Erläuterung vom Alterungseinflüssen bei der herkömmlichen Schaltung. Fig. 7 is a diagram for explaining the aging influences in the conventional circuit.

Die Erfindung ist in die bereits erläuterte Schaltung gemäß Fig. 5 implementiert.The invention is implemented in the circuit already explained according to FIG. 5.

Gemäß Fig. 1, die in ihrer Darstellung der Fig. 6 entspricht, ist das bis zu V_M reichende Intervall möglicher Ausgangspan nungen wiederum in vier Intervalle I, II, III, IV unterteilt. Die Beschaltung der Schalter 2, 4, 6 und 8 mit Widerständen 10, 12, 14, 16 und 18 ist derart, dass sich im Soll- bzw. Neu zustand der Schaltung nach Betätigung der Schalter die Span nungen V₂, V₄, V₆ oder V₈ am Ausgang 22 ergeben. Jeder der Sollspannungen ist ein Toleranzbereich T zugeordnet, sodass sich den Spannungsintervallen I₂ bis I₈ der Fig. 5 entspre chende Spannungsintervalle ergeben, die durch die jeweiligen Sollspannungen V₂, V₄, V₆ oder V₈ und die zugehörige Toleranz +/-T/2 kennzeichenbar sind. Diese Werte V₂, V₄, V₆ oder V₈ und T werden in dem Speicher 32 gespeichert. Im Gegensatz zu den acht notwendigen, zu speichernden Werten der Fig. 6 sind dies nur fünf Werte, wodurch der Programmieraufwand und die Anforderungen an den Speicher vermindert sind. Eine weitere Vereinfachung kann beispielsweise dadurch geschehen, dass die Sollspannungen bzw. die Mittelwerte der Toleranzbereich bzw. Spannungsintervalle (nicht schraffierte Bereiche der Fig. 1) auseinander hergeleitet werden, indem beispielsweise der Wert V₂ und die gleiche Differenz benachbarter Mittelwerte ge speichert werden. Zwischen den Spannungsintervallen befinden sich ausreichend große Abstände (schraffierte Bereiche), so dass die zulässigen Spannungsintervalle und damit die Schal terstellungen sicher auseinander gehalten werden können.According to Fig. 1, which corresponds in its representation of FIG. 6, the up to _M V interval reaching possible output voltages chip is in turn in four intervals I, II, III, IV divided. The wiring of the switches 2 , 4 , 6 and 8 with resistors 10 , 12 , 14 , 16 and 18 is such that in the target or new state of the circuit after actuation of the switch, the voltages V ₂ , V ₄ , V ₆ or V _{8 result} at output 22 . Each of the target voltages is assigned a tolerance range T, so that the voltage intervals I ₂ to I ₈ in FIG. 5 result in corresponding voltage intervals which are determined by the respective target voltages V ₂ , V ₄ , V ₆ or V ₈ and the associated tolerance +/- T / 2 are identifiable. These values V ₂ , V ₄ , V ₆ or V ₈ and T are stored in the memory 32 . In contrast to the eight necessary values to be stored in FIG. 6, these are only five values, as a result of which the programming effort and the demands on the memory are reduced. A further simplification can be achieved, for example, in that the target voltages or the mean values of the tolerance range or voltage intervals (unshaded areas in FIG. 1) are derived from one another, for example by storing the value V ₂ and the same difference between adjacent mean values. There are sufficiently large distances (hatched areas) between the voltage intervals so that the permissible voltage intervals and thus the switch positions can be kept apart.

Der Mikroprozessor 28 ermittelt die am Eingang 24 liegende Spannung und versucht, diese einem der im Speicher 32 gespei cherten Spannungsintervalle (nicht schraffierte Bereiche der Fig. 1) zuzuordnen. Gelingt dies, so ist der Schaltzustand erkannt und am Ausgang der Elektronikeinhalt 26 kann ein ent sprechendes Signal erzeugt werden.The microprocessor 28 determines the voltage at the input 24 and tries to assign it to one of the voltage intervals stored in the memory 32 (non-hatched areas in FIG. 1). If this succeeds, the switching state is recognized and a corresponding signal can be generated at the output of the electronics content 26 .

Fig. 2 stellt einen Alterungszustand dar, der etwa dem Alte rungszustand gem. Fig. 7 entspricht. Wie aus der Figur unmit telbar ersichtlich, könnten bei unveränderter Programmierung des Speichers 32 der Schaltzustand 8 (z. B. Schalter 8 ge schlossen) und der Schaltzustand 6 nicht sicher erkannt wer den. Das dem gealterten, "neuen" Mittelwert zugeordnete Span nungsintervall V_8n liegt in einem schraffierten Bereich der Fig. 1 und wird somit nicht erkannt. Das dem neuen Mittelwert V_6n zugeordnete Intervall 6 _n liegt teilweise im ursprünglich gespeicherten Intervall 8, sodass die Gefahr einer Fehlinter pretation der entsprechenden Schaltung besteht. Fig. 2 shows an aging condition, which roughly corresponds to the aging condition. Fig. 7 corresponds. As can be seen directly from the figure, with unchanged programming of the memory 32, the switching state 8 (e.g. switch 8 closed) and the switching state 6 could not be reliably recognized. The voltage interval V _8n assigned to the aged, "new" mean value lies in a hatched area in FIG. 1 and is therefore not recognized. The interval 6 _n assigned to the new mean value V _6n is partly in the originally stored interval 8 , so that there is a risk of misinterpretation of the corresponding circuit.

Durch Umprogrammieren des Speichers 32, indem gem. Fig. 3 die Spannungsmittelwerte um die jeweils zugeordneten, alte rungsbedingten Veränderungen ΔV_n verändert werden, werden die neuen Spannungsmittelwerte V_nn gespeichert, sodass jeweils aktualisierte Spannungsintervalle vorhanden sind, die den ak tuellen, sich bei einer Schaltung ergebenden Spannungen ent sprechen und eine sichere Schaltungserkennung ermöglichen.By reprogramming the memory 32 , in accordance with. Fig. 3, the voltage mean values are changed by the respectively associated, old, age-related changes .DELTA.V _n , the new voltage mean values V _nn are stored, so that updated voltage intervals are present in each case, which correspond to the current voltages resulting from a circuit and reliable circuit detection enable.

Die Umprogrammierung des Speichers 32 zur Aktualisierung bzw. zum Ausgleich alterungsbedingter Veränderungen kann in unter schiedlicher Weise erfolgen:The reprogramming of the memory 32 for updating or to compensate for changes due to aging can be carried out in different ways:

Die Programmierung kann automatisch erfolgen, indem bei spielsweise jeweils beim Einlesen eines Spannungswertes der Mittelwert das Spannungsintervalls, indem dieser Spannungs wert identifiziert wird, auf den neu eingelesenen Spannungs wert verschoben wird. Bei dieser ständig ablaufenden Aktuali sierung wird vorausgesetzt, dass sich die bei Betätigung eines Schalters ergebende Spannung zwischen zwei Betätigungen nicht derart verändert, dass der aktuelle Spannungswert in einem Intervall liegt, dem die Betätigung eines anderen Schalters zugeordnet ist. Wegen der i. a. langsamen Alterung bzw. des langsamen Verschleißes trifft diese Voraussetzung i. a. zu.Programming can be done automatically by using for example, each time a voltage value is read in Average the voltage interval by this voltage value is identified on the newly read voltage value is shifted. With this constantly running update It is assumed that when a Switch resulting voltage between two operations not changed in such a way that the current voltage value in an interval that is the actuation of another Switch is assigned. Because of the i. a. slow aging or slow wear meets this requirement i. a. to.

Eine weitere Möglichkeit besteht in einer halbautomatischen Anpassung. Dazu werden beispielsweise in einer Werksatt die Schalter betätigt. Wenn der jeweils betätigte Schalter be kannt ist, kann der sich bei seiner Betätigung ergebende Spannungswert als neuer, diesem Schalter zugeordneter Mittel wert eingelesen werden.Another option is a semi-automatic Adaptation. For this purpose, the Switch operated. If the respective operated switch be is known, the person who emerges when operating it Voltage value as a new means assigned to this switch worth reading.

Weitere Möglichkeiten sind automatisierte oder halbautomati sche Prüfroutinen, indem beispielsweise die im Betrieb auf tretenden Spannungen von Algorithmen im Hinblick auf systema tische Veränderungen ausgewertet werden, die durch Umprogram mieren des Speichers 32 ausgeglichen werden.Further possibilities are automated or semi-automatic test routines, for example by evaluating the voltages that occur during operation by algorithms with regard to systematic changes, which are compensated for by reprogramming the memory 32 .

Es versteht sich, dass die Aktualisierung in dem nicht flüch tigen Speicher 32 vorteilhafterweise derart erfolgt, dass der alte Wert überschrieben wird.It goes without saying that the update in the non-volatile memory 32 advantageously takes place in such a way that the old value is overwritten.

Die Alterungseinflüsse können, wie im Fall der Fig. 2, unter schiedlich sein. Da im allgemeinen gleichartige Schalter ver wendet werden, ist mit gleichartigen Alterungseinflüssen zu rechnen. Ein Beispiel eines solchen Falls ist in Fig. 3 dar gestellt.The aging influences can, as in the case of FIG. 2, be different. Since switches of the same type are generally used, the effects of aging are to be expected to be the same. An example of such a case is shown in FIG. 3.

Im Beispiel der Fig. 3 sind gegenüber der Fig. 1 (Neuzustand) die am Ausgang 22 auftretenden Spannungen um den Betrag ΔV abgesenkt. Die gealterten Spannungsintervallmittelwerte V_2n, V_4n, V_6n und V_8n liegen unter den entsprechenden Werten der Fig. 1. Im dargestellten Alterungszustand ist keine sichere Schalterstellungserkennung mehr möglich, da beispielsweise ein unterhalb von V_2n, jedoch innerhalb des neuen Toleranz bereiches 2n liegender Spannungswert gem. Fig. 1 in einem schraffierten Bereich liegt. d. h. nicht als Schalterzustand erkannt wird.In the example of FIG. 3, the voltages occurring at the output 22 are reduced by the amount ΔV compared to FIG. 1 (new condition). The aged voltage _{interval mean} values V _2n , V _4n , V _6n and V _8n lie below the corresponding values in FIG. 1. In the aging state shown, reliable switch position detection is no longer possible, since for example one below V _2n but within the new tolerance range 2 n lying voltage value acc. Fig. 1 lies in a hatched area. ie is not recognized as a switch state.

Die Umprogrammierung des Speichers 32 ist im Fall der Ver hältnisse der Fig. 3 sehr einfach, da bei Veränderung eines Mittel- bzw. Sollspannungswertes V_n um ΔV alle Sollspannungs werte entsprechend verändert werden. Die Fig. 4 entspricht bezüglich der Alterungsverhältnisse der Fig. 3, zeigt jedoch eine andere Möglichkeit der Umprogrammierung. Die im Speicher 32 gespeicherten Werte werden im Fall der Fig. 4 gar nicht verändert; den am Eingang 24 liegenden Spannungen wird ledig lich der Wert ΔV zuaddiert, der nach einem der oben genann ten Verfahren ermittelt und im Speicher 32 aktualisiert wird.The reprogramming of the memory 32 is very simple in the case of the conditions of FIG. 3, since when a mean or target voltage value V _{n is changed} by ΔV, all target voltage values are changed accordingly. FIG. 4 corresponds to FIG. 3 with regard to the aging relationships , but shows another possibility of reprogramming. The values stored in the memory 32 are not changed at all in the case of FIG. 4; The voltages at the input 24 are only added to the value ΔV, which is determined by one of the methods mentioned above and updated in the memory 32 .

Die beschriebene Vorrichtung kann in vielfältiger Weise abge ändert werden. Es können mehrere Schalter vorgesehen sein, wobei nicht nur die Betätigungen einzelner Schalter sondern auch die kombinierte Betätigung mehrerer Schalter berück sichtigt werden kann. Die Toleranzbereiche T müssen nicht gleichgroß sein, sondern können sich beispielsweise prozentu al an den zugehörigen Mittelwert orientieren.The device described can abge in many ways be changed. Several switches can be provided whereby not only the actuation of individual switches but also the combined actuation of several switches can be viewed. The tolerance ranges T do not have to be the same size, but can for example be percent Orient al to the associated mean.

Mit der Erfindung ist es möglich, gegenüber herkömmlichen Schaltungen bzw. Vorrichtungen ohne zusätzlichen Hardwareauf wand und damit ohne zusätzliche Materialkosten eine Schalter abfrage zu integrieren, die auch unter extremen Bedingungen über den gesamten Lebenszyklus einer Mehrzahl von Schaltern sicher funktioniert.With the invention it is possible compared to conventional Circuits or devices without additional hardware wall and thus a switch without additional material costs Integrate query even under extreme conditions over the entire life cycle of a plurality of switches sure works.

Claims

1. A method for detecting the switching position of a plurality of switches ( 2 , 4 , 6 , 8 ) connected to a common input ( 24 ) of an electronics unit ( 26 ) which act upon the input with a switching signal in the actuated state, which is within a predetermined switching signal interval individually assigned to each switch, in which method
a mean value (V ₂ , V ₄ , V ₆ , V ₈ ) individually assigned to each switch and at least one tolerance value (T) are stored in a memory ( 32 ) of the electronic unit ( 26 ) and
the actuated state of a switch is recognized in that the switching signal lies within the switching signal interval given by the mean value and its tolerance value.

2. The method according to claim 1, wherein the stored mean values (V ₂ , V ₄ , V ₆ , V ₈ ) and / or the tolerance value (s) are adapted to changes occurring in the course of operation.

3. Device for detecting the switching position of a plurality of switches ( 2 , 4 , 6 , 8 ) connected to a common input ( 24 ) of an electronics unit ( 28 ), which switches are switched in this way and connected to the input of the electronics unit, that in the actuated state of a switch, the input is acted upon by a switching signal which lies within a predetermined switching signal interval individually assigned to each switch, comprising a memory device ( 32 ) in which a mean value (V ₂ , V ₄ , V ₆ , V ₈ ) of the associated switching signal interval and at least one tolerance value (T) is stored, and an evaluation device ( 28 ) which recognizes the actuated state of a switch by the switching signal being given within the mean value and its tolerance value Switching signal interval is.

4. The device according to claim 3, comprising an update device which adapts the stored mean values (V ₂ , V ₄ , V ₆ , V ₈ ) and / or the tolerance values to changes occurring in the course of operation of the device.

5. Apparatus according to claim 3 or 4, wherein a Mikropro processor ( 28 ) is provided, which forms the evaluation device and the update device.

6. Device according to one of claims 3 to 5, wherein the memory device ( 32 ) is formed by an EEPROM.

7. Use of a device according to one of claims 3 to 6 in a motor vehicle, the switches ( 2 , 4 , 6 , 8 ) being electric window switches of the motor vehicle.