DD53890A1 - Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten - Google Patents

Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten

Info

Publication number
DD53890A1
DD53890A1 DD10587164A DD10587164A DD53890A1 DD 53890 A1 DD53890 A1 DD 53890A1 DD 10587164 A DD10587164 A DD 10587164A DD 10587164 A DD10587164 A DD 10587164A DD 53890 A1 DD53890 A1 DD 53890A1
Authority
DD
German Democratic Republic
Prior art keywords
phase measurements
microscopic objects
microscopic
objects
measurements
Prior art date
Application number
DD10587164A
Other languages
English (en)
Inventor
Hermann Beyer
Guenter Schoeppe
Original Assignee
Hermann Beyer
Guenter Schoeppe
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hermann Beyer, Guenter Schoeppe filed Critical Hermann Beyer
Priority to DD10587164A priority Critical patent/DD53890A1/de
Publication of DD53890A1 publication Critical patent/DD53890A1/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
DD10587164A 1964-08-04 1964-08-04 Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten DD53890A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD10587164A DD53890A1 (de) 1964-08-04 1964-08-04 Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD10587164A DD53890A1 (de) 1964-08-04 1964-08-04 Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DD53890A1 true DD53890A1 (de) 1967-02-05

Family

ID=38523380

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DD10587164A DD53890A1 (de) 1964-08-04 1964-08-04 Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten

Country Status (1)

Country Link
DD (1) DD53890A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008019729A1 (de) * 2006-08-17 2008-02-21 Rheinisch-Westfälisch Technische Hochschule Aachen Mikroskop mit interferometeranordnung zur durchlichtuntersuchung transparenter objekte mittels interferenzkontrast und polarisationskontrast
DE102013111595B4 (de) 2013-04-03 2023-04-27 Jörg Piper Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung einer variablen und simultanen lnterferenzkontrast-Abbildung in Kombination mit einer der Abbildungen Phasenkontrast- oder Dunkelfeld- oder Hellfeld-Abbildung

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008019729A1 (de) * 2006-08-17 2008-02-21 Rheinisch-Westfälisch Technische Hochschule Aachen Mikroskop mit interferometeranordnung zur durchlichtuntersuchung transparenter objekte mittels interferenzkontrast und polarisationskontrast
DE102013111595B4 (de) 2013-04-03 2023-04-27 Jörg Piper Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung einer variablen und simultanen lnterferenzkontrast-Abbildung in Kombination mit einer der Abbildungen Phasenkontrast- oder Dunkelfeld- oder Hellfeld-Abbildung
DE102013110497B4 (de) 2013-04-03 2023-04-27 Jörg Piper Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung einer variablen und simultanen Phasenkontrastabbildung in Kombination mit einer der Abbildungen Dunkelfeldabbildung oder Hellfeldabbildung oder Polarisationsabbildung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH465721A (de) Halbleitende Vorrichtung
ES308998A3 (es) Un dispositivo refrigerador de evaporaciën
CH455716A (de) Einrichtung zum Dispergieren
CH454384A (de) Tragvorrichtung
CH456199A (de) Testvorrichtung
CH458770A (de) Wägevorrichtung
CH426906A (de) Kühleinrichtung
AT252114B (de) Tragvorrichtung für Gegenstände
CH432244A (de) Werkzeugtragvorrichtung
AT244610B (de) Meßgerät
AT256405B (de) Haltemittel für Bauteile
AT257198B (de) Vorrichtung für Kraftmessungen
DD53890A1 (de) Einrichtung fur phasenmessungen an mikroskopischen objekten
FI42249C (fi) Laite mekaanisten voimien mittaamiseksi
BR6678252D0 (pt) Aparelho de posicionamento
AT245886B (de) Nockenscheibeneinrichtung
AT265704B (de) Induktive Meßvorrichtung
FR1363173A (fr) Dispositif de positionnement
AT252687B (de) Teilvorrichtung
CH407565A (de) Messtischgerät
FR1383466A (fr) Circuits mesureurs de phase
ES98291Y (es) Dispositivo de sujeción para iconoscopios
ES105314Y (es) Dispositivo comparador de magnitudes
ES101827Y (es) Dispositivo de retenida
ES106871Y (es) Dispositivo de soporte magnético para elementos inscriptores