DD214462A1 - CIRCUIT ARRANGEMENT FOR DIGITAL CONTACTING TEST - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine digitale Kontaktierungstestschaltung fuer die Verbindungskontakte zwischen einer zu pruefenden elektrischen/elektronischen Schaltung und einer rechnergestuetzten Auswerteeinrichtung. Ziel und Aufgabe der Erfindung besteht darin, mit geringen technischen Mitteln eine Kontaktierungsgeschwindigkeit mit hoher Zuverlaessigkeit und Verarbeitungsgeschwindigkeit zu schaffen, die neben der Testfunktion noch die digitale Bewertung des Kontaktierungszustandes realisiert. Erfindungsgemaess wird das mit einer digitalen Testschaltung erreicht, deren steuerbare Vergleichsspannungsquelle U teif v mit dem einen Eingang ihres digitalen Bewerters B und deren steuerbare Hilfspannungsquelle U teif h ueber den ohmschen Widerstand R 1 mit dem anderen Eingang des Bewerters B und deren Eingang E verbunden sind. Anwendungsgebiete ist die Pruef- und Messelektronik.The invention relates to a digital contacting test circuit for the connection contacts between an electrical / electronic circuit to be tested and a computer-aided evaluation device. The aim and object of the invention is to provide a low contacting speed with high reliability and processing speed, which realizes the digital evaluation of the contacting state in addition to the test function. According to the invention this is achieved with a digital test circuit whose controllable reference voltage source U teif v with one input of their digital evaluator B and their controllable auxiliary voltage U teif h over the ohmic resistance R 1 to the other input of the evaluator B and the input E are connected. Areas of application is the test and measurement electronics.
Description
Titel der Erfindung, Title of the invention ,
Schaltungsanordnung zum digitalen KontaktierungstestCircuit arrangement for the digital contacting test
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zum digitalen Kontaktierungstest der Verbindungskontakte zwischen einer zu prüfenden elektrischen/elektronischen Schaltung und einer Auswerteeinrichtung. Sie ist in der Meß- und Prüftechnik der Elektrotechnik/Elektronik einsetzbar.The invention relates to a circuit arrangement for the digital contacting test of the connection contacts between an electrical / electronic circuit to be tested and an evaluation device. It can be used in the measuring and testing technology of electrical engineering / electronics.
Durch DE-OS 3111852 ist ein Testverfahren bekannt, mit dessen Hilfe eine Oberprüfung der Kontaktierung zwischen einer zu prüfenden Schaltungsanordnung und einer Bewerterschaltung erfolgt. Der Kontaktierungstest besteht darin, daß vor dem eigentlichen Schaltungstest Impulse auf dem Prüfling aufgeprägt und von einer Empfangslogik erkannt werden. Der Impulsgeber und die Empfangsschaltungen werden über eine zusätzliche Schaltungsanordnung an die zum eigentlichen Test notwendige Bewerterschaltung angeschlossen. Die Impulse, die der Impulsgeber dem Prüfling aufprägt, pflanzen sich innerhalb der Schaltungsanordnung fort und werden durch eine Schaltung, bestehend aus zwei Triggern, einem Verzögerungsglied und einem Flip-Flop, erkannt. Sind die Kontaktierungen fehlerhaft, so erfolgt keine Impulserkennung. Nachteile dieser Kontaktierungstestschaltung sind der hohe, zur eigentlichen Bewerterschaltung zusätzlich notwendige schaltungstechnische Aufwand für dieBy DE-OS 3111852 a test method is known, with the aid of an upper test of the contact between a circuit to be tested and an evaluation circuit takes place. The Kontaktierungstest is that imprinted before the actual circuit test pulses on the device under test and detected by a reception logic. The pulse generator and the receiving circuits are connected via an additional circuit arrangement to the evaluation circuit necessary for the actual test. The pulses imparted to the device under test by the pulse generator propagate within the circuit arrangement and are detected by a circuit consisting of two triggers, a delay element and a flip-flop. If the contacts are faulty, no pulse detection takes place. Disadvantages of this Kontaktierungstestschaltung are the high, the actual evaluation circuit additionally necessary circuit complexity for the
Realisierung des Impulsgebers, der Impulserkennungslogik und der Verbindungseinrichtung sowie der erhebliche erschwerte Kontaktierungstest bei Schaltungsdefekten, wie zum Beispiel Leitungsunterbrechungen· Weiterhin kann bei Schaltungen mit Verzögerungen auch nur unter bestimmten Bedingungen die Kontaktierung überprüft werden, da die Impulslänge nicht beliebig gewählt werden kann. Die Wahl der Einspeisepunkte kann ebenfalls nicht beliebig erfolgenImplementation of the pulse generator, the pulse detection logic and the connection device and the considerable difficult Kontaktierungstest circuit defects, such as line interruptions · Furthermore, in circuits with delays, the contact can be checked only under certain conditions, since the pulse length can not be chosen arbitrarily. The choice of entry points can not be made arbitrarily
Mit der DE-OS 31 10074 wurde ein weiteres Verfahren bekannt, das mit Hilfe eines Stromdiskriminators einen Kontaktierungstest zwischen einem Logikanalysator und einem Prüfling durchführt. With the DE-OS 31 10074 another method was known, which performs a Kontaktierungstest between a logic analyzer and a DUT with the help of a current discriminator.
Dieses Verfahren sieht vor, daß ein PrüfSignalgenerator über einen Diskriminator und einem analogen Multiplexer mit der Testschaltungsanordnung verbunden wird. Bei offenem Kontakt oder bei einer ungenügenden Kontaktierung fließt kein oder nur ein geringer Strom vom Prüfsignalgenerator zum Prüfling oder in umgekehrter RichtungThis method provides that a test signal generator is connected to the test circuitry via a discriminator and an analog multiplexer. With open contact or with insufficient contact, no or only a small current flows from the test signal generator to the test object or in the opposite direction
Nur bei sicherem Kontakt fließt ein Strom in erforderlicher Größe. Die betragsmäßige Auswertung der Größe des Stromes erfolgt durch den Diskriminator. Neben dem großen schaltungstechnischen Aufwand für den Prüfsignalgenerator und den Diskriminator besitzt diese Testschaltung noch den entscheidenden Nachteil, daß sie sich nur bedingt für die Kontaktierung von Schaltungseingängen eignet. Only with safe contact a current flows in the required size. The magnitude evaluation of the magnitude of the current is carried out by the discriminator. In addition to the great circuit complexity for the test signal generator and the discriminator, this test circuit still has the decisive disadvantage that it is only partially suitable for the contacting of circuit inputs.
Das durch DD-WP 152 659 geschützte Verfahren, das speziell für den Kontaktierungstest von Halbleiter-Bauelementen konzipiert ist, beruht auf der Verstimmung einer Wechselstrombrückenschaltung.The method protected by DD-WP 152 659, which is specially designed for the contacting test of semiconductor devices, is based on the detuning of an AC bridge circuit.
Das Signal wird verstärkt, gleichgerichtet und einem Schwellwertschalter zugeführt. Oberschreitet der Widerstandswert eine gewisse Größe, spricht der Schwellwertschalter an und signalisiert den FehlerThe signal is amplified, rectified and fed to a threshold. If the resistance value exceeds a certain value, the threshold value switch responds and signals the error
Nachteil dieser Schaltung ist der erforderliche hohe schaltungstechnische Aufwand durch Wechselstromgenerator, Verstärker, Gleichrichter und Schwellwertschalter. Disadvantage of this circuit is the required high circuit complexity through alternator, amplifier, rectifier and threshold.
Bei komplexen digitalen Schaltungen ist das Verfahren der Wechselstromeinspeisung wegen der Polung der Halbleiterstrecken nur bedingt einsetzbar·In the case of complex digital circuits, the AC feed method can only be used to a limited extent because of the polarity of the semiconductor paths.
Ziel der Erfindung Aim of the invention
Das Ziel der Erfindung ist- es, eine Schaltungsanordnung zum Testen von Nadel- bzw. Steckerkontaktierungen zwischen einem Prüfling, vorzugsweise Leiterplatten der Digitaltechnik, und einem Bewerter zu schaffen, die sich gegenüber herkömmlichen Schaltungsanordnungen durch geringen schaltungstechnischen Aufwand, einem weiten Anwendungsbereich, hohe Zuverlässigkeit und Integrationsfähigkeit auszeichnet.The object of the invention is to provide a circuit arrangement for testing pin and plug contacts between a device under test, preferably digital technology circuit boards, and an evaluator which, compared to conventional circuit arrangements, has little circuit complexity, a wide range of applications, high reliability and Ability to integrate.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung zum Kontaktierungstest zu schaffen, die mit einem Minimum an schaltungstechnischen Mitteln und hoher Verarbeitungsgeschwindigkeit ein digitales Testverfahren ermöglicht und eine exakte Aussage sowie einfache Auswertung über den Kontaktierungszustand von Ein- und Ausgängen zwischen einer Bewerterschaltung und einem Prüfling zuläßt, wobei die Kontaktierungstesteinrichtung gleichzeitig noch die Funktion der digitalen Bewerterschaltung mit übernimmt, ein Antasten von im Betrieb befindlichen Schaltungen erlaubt und insbesondere für den Vielfachaufbau mikroelektronischer Steuerungen in rechnergestützten Prüfautomaten geeignet ist.The invention has for its object to provide a circuit arrangement for Kontaktierungstest that allows a minimum of circuitry resources and high processing speed, a digital test method and an exact statement and simple evaluation on the Kontaktierungszustand of inputs and outputs between a rating circuit and a DUT permits , Wherein the Kontaktierungstesteinrichtung at the same time still the function of the digital evaluation circuit takes over, a probing of circuits in operation allowed and in particular for the multiple structure of microelectronic controls in computer-based testing machine is suitable.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß eine steuerbare Vergleichsspannungsquelle mit dem einen Eingang eines digitalen Bewerters, vorzugsweise eines Komparators, und eine steuerbare Hilfsspannungsquelle über einen ohmschen Widerstand mit dem anderen Eingang des Bewerters und den Eingang der Kontaktierungstestschaltung verbunden sind. Die Bewerterschaltung wird so zwischen einem Prüfling und einer mikroelektronischen Einrichtung geschaltet, daß der Bewerter-This object is achieved in that a controllable reference voltage source to one input of a digital evaluator, preferably a comparator, and a controllable auxiliary voltage source via a resistor to the other input of the evaluator and the input of Kontaktierungstestschaltung are connected. The evaluator circuit is switched between a device under test and a microelectronic device so that the evaluator
eingang an den Eingängen oder Ausgängen der zu prüfenden Schaltung liegt und der Bewerterausgang und die Steuereingänge der Spannungsquellen mit der Auswerteelektronik vorzugsweise eines Rechnersysteme verbunden ist.input to the inputs or outputs of the circuit to be tested is located and the evaluator output and the control inputs of the voltage sources to the evaluation preferably a computer system is connected.
Beim Kontaktierungstest erzeugt die Hilfsspannungsquelle bei positiver Logik eine negativere Spannung als die negativste zulässige Logikspannung des Prüflings. Die Vergleichsspannungsquelle liefert eine Spannung« die positiver als die Hilfsspannung des Prüflings ist. Liegt kein Prüfling am Eingang oder ist die Kontaktierung ungenügend, so liefert der Komparator kein Signal. Bei ausreichender Kontaktierung wird das Signal am Schaltungseingang durch den Innenwiderstand des Prüflings beeinflußt. Wird die Eingangsspannung positiver, erkennt der Komparator die Kontaktierung und liefert ein Signal.During the contacting test, the auxiliary voltage source generates a more negative voltage in the case of positive logic than the negativeest permissible logic voltage of the device under test. The reference voltage source supplies a voltage which is more positive than the auxiliary voltage of the test object. If there is no DUT at the input or the contact is insufficient, the comparator will not deliver a signal. With sufficient contact, the signal at the circuit input is influenced by the internal resistance of the DUT. When the input voltage becomes more positive, the comparator detects the contact and provides a signal.
Bei sicherer Kontaktierung der zu prüfenden Schaltungsanordnung mit der Bewerterschaltung kann sich die Auswertung des Logikpegels anschließen. Die für den Komparator notwendigen Vergleichsspannungen liefert die steuerbare Vergleichsspannungsquelle.With safe contacting of the circuit to be tested with the evaluation circuit, the evaluation of the logic level can follow. The comparison voltages necessary for the comparator supplies the controllable reference voltage source.
Die Hilfsspannungsquelle wird umgeschaltet. Um ein Antasten von in Betrieb befindlichen Prüflingen zu ermöglichen, sollte der Pegel der Hilfsspannung in die verbotene Zone der Prüflingslogik gelegt werdenThe auxiliary power source is switched. In order to enable probing of operating DUTs, the level of the auxiliary voltage should be placed in the forbidden zone of the DUT logic
Die Erfindung gestattet neben der Oberprüfung der Kontaktiersicherheit auch die Bewertung von positiven und negativen Logikpegeln, wobei die programmierbare Vergleichsspannungsquelle die Schaltschwellen festlegt. So können die Ein- und Ausgänge der bekannten Logikfamilien kontrolliert werden. Der hochohmige Eingang der Bewerterschaltung belastet die zu prüfende Schaltung nur geringfügig. The invention, in addition to the upper test of Kontaktiersicherheit also allows the evaluation of positive and negative logic levels, the programmable reference voltage source sets the switching thresholds. Thus, the inputs and outputs of the known logic families can be controlled. The high-impedance input of the evaluation circuit loads the test circuit only slightly.
Nachstehend soll die Erfindung an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Dabei zeigt die Zeichnung gemäß Fig.The invention will be explained in more detail with reference to an exemplary embodiment. The drawing in FIG.
die Kontaktierungstestschaltung mit digitalem Bewerter für positive Logik.the contacting test circuit with digital evaluator for positive logic.
Die Schaltungsanordnung zum digitalen Kontaktierungstest gemäß Fig. l besteht erfindungsgemäß aus der Hilfsspannungsquelle IL, der Vergleichsspannungsquelle U,, den ohmschen Widerstand R 1 und dem Komparator B, Die steuerbare Hilfsspannungsquelle LL· setzt sich aus der Reihenschaltung, der ohmschen Widerstände R 2, R 3 und R 4 zwischen der positiven Betriebsspannung U. und negatiyen Betriebsspannung U2 zusammen. Der Steuereingang K der Hilfsspannungsquelle U., ist zwischen den Widerständen R 2 und R 3 angeschlossen.According to the invention, the circuit arrangement for the digital contacting test according to FIG. 1 consists of the auxiliary voltage source IL, the reference voltage source U 1, the ohmic resistor R 1 and the comparator B. The controllable auxiliary voltage source LL is composed of the series connection, the ohmic resistors R 2, R 3 and R 4 between the positive operating voltage U. and negatiyen operating voltage U 2 together. The control input K of the auxiliary voltage source U., is connected between the resistors R 2 and R 3.
Die Spannung wird zwischen den Widerständen R 3 und R 4 der Hilfsspannungsquelle Ιλ, abgegriffen und über den ohmschen Widerstand R 1 an den nichtinvertierenden Eingang des Komparators B1 der mit dem Eingang E der digitalen Kontaktierungstestschaltung verbunden ist, gelegt.The voltage is tapped between the resistors R 3 and R 4 of the auxiliary voltage source Ιλ, and applied via the ohmic resistor R 1 to the non-inverting input of the comparator B 1 which is connected to the input E of the digital contacting test circuit.
Die steuerbare Vergleichsspannungsquelle IL wird von der Sternschaltung der ohmschen Widerstände R 5, R 6 und R 7 gebildet. Dabei liegt der Widerstand R 7 am Steuereingang H/L der Vergleichspannungsquelle Uy, der Widerstand R 5 ist mit der positiven Betriebsspannung U. verbunden und der Widerstand R 6 an Masse geschaltet. Die Vergleichsspannung wird im Sternpunkt der Widerstandsverknüpfung von R 5, R 6 und R 7 abgegriffen und an den invertierenden Eingang des Komparators B angelegt.The controllable reference voltage source IL is formed by the star connection of the ohmic resistors R 5, R 6 and R 7. In this case, the resistor R 7 is at the control input H / L of the comparison voltage source Uy, the resistor R 5 is connected to the positive operating voltage U. and the resistor R 6 connected to ground. The comparison voltage is tapped in the neutral point of the resistor connection of R 5, R 6 and R 7 and applied to the inverting input of the comparator B.
Zwischen der Hilfsspannungsquelle Uj, und der Vergleichsspannungsquelle Uy ist die Diode D 1 mit ihrer Katode zur Hilfsspannungsquelle Uj, angeschlossen.Between the auxiliary voltage source Uj, and the reference voltage source Uy, the diode D 1 is connected with its cathode to the auxiliary voltage source Uj.
Den Ausgang A der digitalen Kontaktierungstestschaltung bildet der Ausgang des Komparators K.The output A of the digital contacting test circuit forms the output of the comparator K.
Beim Kontaktierungstest liegt der Steuereingang K der Hilfsspannungsquelle υ,, auf Massepotential. Durch den Spannungsteiler der Widerstände R 3 und R 4 stellt sich dann ein ,negatives Potential ein. Unabhängig vom Zustand des Steuereinganges H/L der Vergleichsspannungsquelle Uv liegt dadurch am nichtinvertierenden Eingang des Komparators B über dem hochohmigen Wider-When Kontaktierungstest the control input K of the auxiliary voltage source υ ,, is at ground potential. By the voltage divider of the resistors R 3 and R 4 then turns on, a negative potential. Regardless of the state of the control input H / L of the reference voltage source U v is thereby at the non-inverting input of the comparator B above the high-impedance resistance
stand R 1 die Spannung der Hilfsspannungsquelle Ιλ, und am invertierenden Eingang des Komparators B eine um die Flußspannung der Diode D l positivere Spannung. Am Ausgang A des Komparators B liegt ein Low-Potential.R 1 was the voltage of the auxiliary voltage source Ιλ, and at the inverting input of the comparator B by the forward voltage of the diode D l more positive voltage. At the output A of the comparator B is a low potential.
Erfolgt eine Kontaktierung am Eingang E der Kontaktierungstestschaltung, so wird die Eingangsspannung in positiver Richtung angehoben. Bei sicherer Kontaktierung ist die Spannungsänderung am Eingang E größer als die Flußspannung der Diode. Der Komparator wechselt seine Ausgangsinformation und gibt High-Potential aus.If a contact is made at input E of the contacting test circuit, the input voltage is raised in the positive direction. With safe contacting, the voltage change at the input E is greater than the forward voltage of the diode. The comparator changes its output information and outputs high potential.
Zum Einschalten der Bewertung von Logik-Signalen wird der Steuereingang K der Hilfsspannungsquelle IL· nicht belegt. Die Hilfsspannungsquelle U.. liefert dann eine Spannung, die im verbotenen Bereich der Prüflingslogik liegt. Ober den Steuereingang H/L der Vergleichsspannungsquelle Uy wird die Vergleichsspannung für Low-Potential, d. h. die positivste Spannung für diesen Bereich, oder die Vergleichsspannung für High-Potential, d. h. die negativste Spannung für diesen Bereich an den invertierenden Eingang des Komparators B angelegt.For switching on the evaluation of logic signals, the control input K of the auxiliary voltage source IL · is not assigned. The auxiliary voltage source U .. then supplies a voltage that lies in the forbidden area of the DUT logic. Above the control input H / L of the reference voltage source U y , the comparison voltage for low potential, ie the most positive voltage for this range, or the comparison voltage for high potential, ie the most negative voltage for this range is applied to the inverting input of the comparator B.
Ist der Steuereingang H/L offen, so liefert der Spannungsteiler mit den Widerständen R 5 und R 6 eine Vergleichsspannung für High-Potential.If the control input H / L is open, the voltage divider with the resistors R 5 and R 6 supplies a comparison voltage for high potential.
Wird der Steuereingang H/L der Vergleichsspannungsquelle Uv auf Massepotential gelegt, so erzeugt die Schaltungsanordnung aus der Parallelschaltung der Widerstände R 6 und R 7 in Reihe mit dem Widerstand R 5 die Vergleichsspannung für Low. Die Bewertung erfolgt für Low durch Anlegen der Vergleichsspannung für*Low. Zeigt der Koraparatorausgang A Low-Potential, so liegt der Pegel in den vorgeschriebenen Grenzen. Bei High-Potential am Ausgang A des Komparators B überschreitet das Prüflingspotential die Grenzen für das Low-Potential. Bei der Bewertung von High-Potential am Prüfling wird die Vergleichsspannung für High an den invertierenden Eingang dss Komparators B gelegt.If the control input H / L of the reference voltage source U v is set to ground potential, then the circuit arrangement of the parallel connection of the resistors R 6 and R 7 in series with the resistor R 5 generates the reference voltage for Low. The evaluation is made for Low by applying the comparison voltage for * Low. If the koraparator output A low potential, the level is within the prescribed limits. At high potential at the output A of the comparator B, the DUT potential exceeds the limits for the low potential. In the evaluation of high potential on the test specimen, the comparison voltage for high is applied to the inverting input dss comparator B.
Ist das Potential richtig, so erscheint am Komparatorausgang A ein High-Potential. Durch abwechselndes Anlegen von Low und High wird die verbotene Zone der Prüflingslogik ausgetestet. Der Ausgang A des Komparators B ist vorzugsweise mit einer rechnergestützten Auswerteelektronik und die Steuereingänge K und H/L der Spannungsquellen sind vorzugsweise mit einer programmierbaren Ausgabeeinrichtung verbunden.If the potential is correct, a high potential appears at the comparator output A. By alternately applying Low and High, the forbidden zone of the DUT logic is tested. The output A of the comparator B is preferably provided with a computer-aided evaluation electronics and the control inputs K and H / L of the voltage sources are preferably connected to a programmable output device.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD24970183A DD214462A1 (en) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | CIRCUIT ARRANGEMENT FOR DIGITAL CONTACTING TEST |
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| DD24970183A DD214462A1 (en) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | CIRCUIT ARRANGEMENT FOR DIGITAL CONTACTING TEST |
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| DD214462A1 true DD214462A1 (en) | 1984-10-10 |
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| DD24970183A DD214462A1 (en) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | CIRCUIT ARRANGEMENT FOR DIGITAL CONTACTING TEST |
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| DD (1) | DD214462A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005004608B3 (en) * | 2005-02-01 | 2006-04-20 | Siemens Ag | Method of checking electrical contacts between output pins of power circuits of power circuit device and external node between device and load |
-
1983
- 1983-04-11 DD DD24970183A patent/DD214462A1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005004608B3 (en) * | 2005-02-01 | 2006-04-20 | Siemens Ag | Method of checking electrical contacts between output pins of power circuits of power circuit device and external node between device and load |
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