DD203415A1 - CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS - Google Patents

CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS Download PDF

Info

Publication number
DD203415A1
DD203415A1 DD23489981A DD23489981A DD203415A1 DD 203415 A1 DD203415 A1 DD 203415A1 DD 23489981 A DD23489981 A DD 23489981A DD 23489981 A DD23489981 A DD 23489981A DD 203415 A1 DD203415 A1 DD 203415A1
Authority
DD
German Democratic Republic
Prior art keywords
temperature
semiconductor
voltage
junction
circuit arrangement
Prior art date
Application number
DD23489981A
Other languages
German (de)
Inventor
Klaus Barenthin
Original Assignee
Th Otto Von Guericke
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Th Otto Von Guericke filed Critical Th Otto Von Guericke
Priority to DD23489981A priority Critical patent/DD203415A1/en
Publication of DD203415A1 publication Critical patent/DD203415A1/en

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit fallender Spannungs-Temperatur-Charakteristik unter Ausnutzung der Abhaengigkeit der Fluszspannung eines in Fluszrichtung betriebenen Halbleiter-PN-Ueberganges von der Temperatur, vorzugsweise zur Anwendung in Referenzspannungsquellen und Temperaturmeszeinrichtungen. Das Ziel, mit verhaeltnismaeszig geringem Mehraufwand den Anwendungsbereich bedeutend zu vergroeszern, wird durch die Loesung folgender Aufgabe erreicht: Es ist eine Schaltungsanordnung mit einer streng linear ueber der Temperatur abfallenden Spannung zu schaffen. Dies geschieht durch die Hinzufuegung eines weiteren in Fluszrichtung betriebenen Halbleiter-PN-Ueberganges zu dem bereits bekannten, wobei die ueber den beiden Halbleiter-PN-Uebergaengen entstehenden temperaturabhaengigen Fluszspannungen von einer zwischengeschalteten Anordnung nach einer bestimmten Vorschrift zu einer streng linear ueber der Temperatur fallenden Spannung verarbeitet werden.The invention relates to a circuit arrangement with decreasing voltage-temperature characteristics taking advantage of the dependence of the Fluszspannung a operated in the flow direction semiconductor PN junction of the temperature, preferably for use in reference voltage sources and temperature measuring devices. The goal of significantly increasing the scope of use with relatively little overhead is achieved by the solution of the following problem: to provide a circuit arrangement with a voltage which is strictly linear with respect to the temperature. This is done by the addition of a further operated in the direction of flow semiconductor PN junction to the already known, the over the two semiconductor PN transitions resulting temperature-dependent Fluszspannungen of an intermediate arrangement according to a specific rule to a strictly linear over the temperature falling voltage are processed.

Description

Titel der ErfindungTitle of the invention

Schaltungsanordnung mit fallender Spannungs-Temperatur-Charakt erist ils:Circuit arrangement with decreasing voltage-temperature characteristics erist ils:

Anwendungsgebiet der ErfindungField of application of the invention

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit fallender Spannungs-T emperatur-Charakt erist ik unter Ausnutzung der Abhängigkeit der Flußspannung eines in Flußrichtung betriebenen Halbleiter-PH-Überganges von der Temperatur, vorzugsweise zur Anwendung in Referenzspannungsquellen und Temperaturmeßeinrichtungen.The invention relates to a circuit arrangement with decreasing voltage T emperatur Charakt erist ik taking advantage of the dependence of the forward voltage of a flow-operated semiconductor PH junction of the temperature, preferably for use in reference voltage sources and temperature measuring.

Charakteristik der bekannten technischen LösungenCharacteristic of the known technical solutions

Es sind Schaltungsanordnungen o. g. Art bekannt, bei denen der Halbleiter-PH-übergang mit einem Konstantstrom gespeist wird. Die entstehende Flußspannung weist in ihrer Temperaturabhängigkeit jedoch ITichtlinearitäten auf, so daß solche Schaltungsanordnungen für Fälle mit sehr hohen Genauigkeitsanforderungen nicht ausreichen, Zur Verringerung der Nichtlinearitäten im Zusammenhang zwischen Flußspannung und Temperatur werden Schaltungsanordnungen benutzt, bei denen die Konstantstromspeisung durch Speisung des Halbleiter-PH-überganges mit einem temperaturproportionalen Flußstrom I17 ersetzt wird, der der FunktionCircuit arrangements are known, in which the semiconductor PH junction is supplied with a constant current. However, the resulting forward voltage has IT-non-linearities in its temperature dependence, so that such circuits are insufficient for cases with very high accuracy requirements. Circuit arrangements are used to reduce the nonlinearities in the relationship between forward voltage and temperature, in which the constant current supply by feeding the semiconductor PH transition is replaced with a temperature-proportional flow current I 17 , the function

ip (T) = I0 . ΤΛ, (Di p (T) = I 0 . Τ Λ, (D

genügt j wobei IQ der Bezugswert dieses Stromes bei derj satisfies where I Q is the reference value of this current at the

234899 3234899 3

Temperatur T = TQ ist.Temperature T = T Q is.

Der bei derartiger Steuerung des Flußstromes entstehende Verlauf der Plußspannung in Abhängigkeit von der !Temperatur ist jedoch weiterhin durch Sichtlinearitäten gekennzeichnet. Dadurch ist auch hier die Genauigkeit von Anordnungen, die auf diese fallende Spannungs-Temperatur-Charakteristik Bezug nehmen, und damit der Anwendungsbereich der o. a. Schaltungsanordnungen begrenzt.However, the course of the positive voltage as a function of the temperature occurring during such control of the flux current is still characterized by visual linearities. As a result, here too the accuracy of arrangements which refer to this falling voltage-temperature characteristic, and thus the scope of o. A. Circuitries limited.

Zum Beispiel erreichen bekannte Band-Gap-Seferenzen im allgemeinen keinen geringeren Temperaturkoeffizienten als einige 10 ~Ό K (Low cost voltage references for analog circuits. Analog Dialogue 8 /1974/ H. 2, S. 12). Weiterhin ist die Speisung eines Halbleiter-PIT-Überganges mit einem quadratisch mit der Temperatur steigenden Flußstrom bekannt (Pat O'jfeil, Carl Derrington: Transistoren als Temperatursensoren, Elektronik 29 /1980/ H. 11,S.81 - 84)«For example, known band gap references generally do not achieve a lower temperature coefficient than some low-cost voltage references for analog circuits (Analog Dialogue 8/1974 / H.2, p.12 ). Furthermore, the supply of a semiconductor PIT junction with a square-wave with the temperature increasing flux flow is known (Pat O'jfeil, Carl Derrington: Transistors as temperature sensors, electronics 29/1980 / H. 11, p.81 - 84) «

Dadurch kann die ITichtlinearität der Spannungs-Temperatur-Charakteristik weiter verringert, aber nicht vollständig beseitigt werden. Außerdem entsteht bei dieser Speisungsvariante des Halbieiter-Pl-Überganges ein beträchtlicher Schaltungsaufwand.Thereby, the non-linearity of the voltage-temperature characteristic can be further reduced, but not completely eliminated. In addition, arises in this supply variant of the Halbieiter-Pl junction a considerable circuit complexity.

Ziel der ErfindungObject of the invention

Ziel der Erfindung ist es, eine Schaltungsanordnung mit fallender Spannungs-Temperatur-Charakteristik zu schaffen, bei der mit verhältnismäßig geringem Mehraufwand der Anwendungsbereich bedeutend vergrößert wird.The aim of the invention is to provide a circuit arrangement with decreasing voltage-temperature characteristics, in which the range of application is significantly increased with relatively little extra effort.

Darlegung des Wesens der ErfindungExplanation of the essence of the invention

Der Erfindung liegt die Aufgäbe zugrunde, eine Schaltungsanordnung mit einer streng linear über der Temperatur abfallenden Spannung zu schaffen.The invention is based on the object to provide a circuit arrangement with a strictly linear voltage dropping above the voltage.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß zusätzlich zu dem bekannten Halbleiter-PH-Übergang ein zweiterAccording to the invention the object is achieved in that in addition to the known semiconductor PH junction, a second

234899 3234899 3

Halbleiter-PN-Übergang angeordnet ist und der erste Halbleiter- P¥-Übergang mit einer Stromquelle, die einen Strom mit einer TemperaturabhängigkeitSemiconductor PN junction is arranged and the first semiconductor P ¥ junction with a current source, which is a current with a temperature dependence

liefert und der zweite Halbleiter-PU-Übergang mit einer Stromquelle, die einen Strom Ip mit einer Temperaturabhängigkeitand the second semiconductor PU junction with a current source having a current Ip with a temperature dependence

T ß I2(T) = Iq2 (jjT-) v.2)T ß I 2 (T) = Iq 2 (jjT-) v.2)

liefert, verbunden ist, wobei Iq. bzw. IQ2 die Bezugswerte der beiden Ströme bei der Temperatur T = T0 und ei , Q Exponenten mit der Bedingungis connected, where Iq. or I Q2 the reference values of the two currents at the temperature T = T 0 and ei, Q exponents with the condition

Q-CaC έ ß ' (3) Q-CaCέβ '(3)

sind» Der jeweilige Verbindungspunkt der Stromquelle mit dem zugeordneten Halbleiter-PH-Übergang ist jeweils mit einem Bingang einer Anordnung verbunden, welche so ausgelegt ist, daß sie die VorschriftThe respective connection point of the current source to the associated semiconductor PH junction is in each case connected to a Bingang of an arrangement which is designed so that it is the rule

U = U1-M + "3* (U-Jj10 - υ-,-, ) (4)U = U 1 -M + "3 * (U-Jj 10 - υ -, -,) (4)

realisiert, wobei U^ die Ausgangsspannung der Anordnung, U-T1., bzw. U-o die am.Verbindungsnunkt des ersten bzw. zweiten Halbleiter-PH-Überganges mit der jeweils zugeordneten Stromquelle anliegenden Flußspannung der Halbleiter-PIT-Übergänge sind und für den Faktor die Vorschriftrealized, where U ^ are the output voltage of the arrangement, UT 1. , or U- o the am.Verbindungsnunkt the first and second semiconductor PH junction with the respective associated current source applied to the forward voltage of the semiconductor PIT junctions and for the Factor ~ £ the prescription

> ο es)> o)

Die Wirkung der Schaltungsanordnung beruht auf nachstehend näher erläuterten Zusammenhängen:The effect of the circuit arrangement is based on the relationships explained in more detail below:

Über einem mit einem Flußstrom I™ gespeisten Halbleiter-Pnübergang . entsteht die temperaturabhängige Flußspannung U^1(T). Für diese Flußspannung gilt in einem bestimmten Bereich derOver a semiconductor flux junction fed with a flux current I ™. arises the temperature-dependent forward voltage U ^ 1 (T). For this flux voltage applies in a certain range of

23489 9 323489 9 3

Strom-Spannungs-Kennlinie des Halbleiter-Plf-Überganges die BeziehungCurrent-voltage characteristic of semiconductor PFC junction the relationship

Up = -U1 In J- , (6)U p = -U 1 In J- , (6)

wobei U2 = I T (7)where U 2 = IT (7)

die Temperaturspannung mit der Boltzmannkonstanten k, der Slementarladung q und der absoluten Temperatur T undthe temperature voltage with the Boltzmann constant k, the Slementarladung q and the absolute temperature T and

IQ = CT^ exp^ ' (8)I Q = CT ^ exp ^ '(8)

der Sättigungsstrom mit den. Bauelementeparametern C, P und dem Bandabstand W ist»the saturation current with the. Component parameters C, P and the band gap W is »

Gleichungen (7) und (8) eingesetzt in Gleichung (6) führen zuEquations (7) and (8) used in equation (6) lead to

:u w: u w

woraus das Temperaturverhalten, der Spannung Dp durch Ableiten nach der Temperatur ermittelt werden kann:from which the temperature behavior of the voltage Dp can be determined by deriving according to the temperature:

(u V f ^ (u V f ^

ar--r (ug- V -f ^-^· (10) ar - r (u g- V -f ^ - ^ · (10)

W Hierbei ist U=-^. (11)W where U = - ^. (11)

Gibt man für den Flußstrom I^ eine bestimmte Temperaturabhängigkeit vor, so daßIf we give a certain temperature dependence for the flux I ^, so that

T dl,T dl,

= const. . . ' (12) = const. , , (12)

gilt, ergibt sich als Lösung für die Differentialgleichung (10)applies, results as a solution for the differential equation (10)

U^ = U . (u _ u) |_ -ι;'ϋφ I- In I- (13)U ^ = U. (u _ u) | _ -ι; 'ϋ φ I- In I- (13)

niit; ü_,0 = U5, (2 = T0), (14)not ; ü_, 0 = U 5 , (2 = T 0 ), (14)

234899 3234899 3

υτο υ το

T dip und υ ' = χ) - ?—-4· ♦ (16)T dip and υ '= χ) -? - 4 · ♦ (16)

Bei der erfindungsgemäßen Verwendung von zwei Halbleiter-PN-ÜTdergangen, die mit Strömen nach den Gleichungen (1) und (2) gespeist werden,' gilt für die entstehenden Flußspannungen tL,In the case of the use according to the invention of two semiconductor PN junctions fed with currents according to equations (1) and (2), the resulting forward voltages t L,

- W Ij - »1 -*> uto- W Ij - »1 - *> u to

und UM = Ug2 - (Ug2 - U102) !jj - Co2 -/3) U10 f. in |_, (18)and U M = U g2 - (U g2 - U 102 )! jj - Co 2 - / 3) U 10 f. in | _, (18)

wobei die Indizierung mit 1 bzw. 2 auf die Zugehörigkeit der entsprechenden Größen zu den Halbleiter-PSF-Übergängen 1 bzw. 2 hinY/eist.where the indexing with 1 and 2, respectively, indicates the affiliation of the corresponding quantities to the semiconductor PSF transitions 1 and 2, respectively.

Die Verknüpfung der Gleichungen (17) und (18) nach der Vorschrift (4) liefertThe combination of equations (17) and (18) according to rule (4) provides

Ü3 " V+ 'W-fer0«**' KV^^J} -1"^1 -d+T (^2 -/3--O1 +^)J nT0 ψ^ in |-. (19) Ü 3 "V + 'W -fer 0 "**' KV ^^ J} -1 "^ 1 -d + T (^ 2 - / 3 - O 1 + ^) J n T0 ψ ^ in | -. (19)

Durch Festlegung des Faktors 0 nach der VorschrifiBy setting the factor 0 according to the regulations

11

Vo A T .,,Vo A T ,,

entsteht aus Gleichung (19) ein linearer Zusammenhang zwischen der Spannung U, und der 'Temperatur T:from equation (19) a linear relationship between the voltage U, and the temperature T:

Durch geeignete Wahl der Bezugsströme Iq. und sich der ZusammenhangBy suitable choice of the reference currents Iq. and the connection

234899 3234899 3

Ug2 " Ug1 " UK>2 " UP01 (22) U g2 " U g1" U K> 2 " U P01 (22)

herstellen, womit aus Gleichung (21)with which from equation (21)

3 = üg13 = ü g1

U3 = üg1 CU S2 - V " S1 " 1W 3£ (23) U 3 = ü g1 + ί CU S 2 - V " S1" 1 W 3 £ (23)

folgt.follows.

Hoch günstigere Bedingungen ergeben sich bei der Verwendung gleicher, beispielsweise integrierter, Halbleiter-PlI-Übergänge 1 und 2,Highly favorable conditions result when using identical, for example integrated, semiconductor PlI transitions 1 and 2,

wobei 'S) Λ = V0 =13 , (24)where 'S) Λ = V 0 = 13, (24)

üP01 =ü P01 =

giltapplies

Damit vereinfacht sich Gleichung (21) zu This simplifies equation (21)

Ü3 Us - (Ug - UP0^% ' U 3 U s - (U g - U P0 ^% '

wodurch ein streng linearer Zusammenhang zwischen der Spannung U, und der Temperatur T gegeben ist.whereby a strictly linear relationship between the voltage U, and the temperature T is given.

ÄusführungsbeispielÄusführungsbeispiel

Die Erfindung soll im nachstehenden Äusführungsbeispiel näher erläutert werden.The invention will be explained in more detail in the following Äusführungsbeispiel.

Gemäß Zeichnung besteht die Schaltungsanordnung mit linear fallender Spannungs-Temperatur-Gharakteristik aus Halbleiter- PU-Übergängen 1 j 2, Stromquellen 3; 4, Verbindungspunkten 5? 6; .7 und einer Anordnung 8, die einen Operationsverstärker 9 mit Widerständen 10; 11 enthält und Eingänge 12; 13 sowie einen Ausgang 14 besitzt.-According to the drawing, the circuit arrangement with linearly decreasing voltage-temperature characteristic consists of semiconductor PU junctions 1 j 2, current sources 3; 4, connection points 5? 6; .7 and an arrangement 8, the operational amplifier 9 with resistors 10; 11 contains and inputs 12; 13 as well as an outlet 14.-

Die Wirkungsweise der Schaltungsanordnung ist folgende: Die Halbleiter-PiJ-tibergänge 1 bzw, 2 werden von den Stromquellen 3 bzw. 4 gespeist, die zur Erfüllung der Gleichung (12) die StrömeThe mode of operation of the circuit arrangement is the following: The semiconductor PiJ tibergänge 1 or 2 are fed by the current sources 3 and 4, respectively, which satisfy the equation (12) the currents

I-j = I01 = const. . (28)Ij = I 01 = const. , (28)

bzw. I2 = Iq2 ψ- (29)or I 2 = Iq 2 ψ- (29)

liefern, wodurch für das vorliegende Äusführungsbeispiel die Exponenten^ und/3 aus den · Gleichungen (1) und (2) die Wertewhich, for the present embodiment, yields the exponents ^ and / 3 from the equations (1) and (2) the values

oi= 0 · (30) oi = 0 · (30)

bzw. /3= 1 . (31)or / 3 = 1. (31)

annehmen.accept.

Die Anordnung 8 enthält zur Realisierung der Vorschrift (4) eine bekannte Operationsverstärkerschaltung mit den Widerständen 10 und 11, deren Werte R10 und R11 mitThe arrangement 8 contains to implement the regulation (4) a known operational amplifier circuit with the resistors 10 and 11 whose values R10 and R11 with

R10 = {tf- 1) R11 (32)R10 = {tf- 1) R11 (32)

festgelegt sind.are fixed.

Der Wert R11 ist so gewählt, daß der über den.Widerstand 11 zum Verbindungspunkt 5 fließende Strom gegenüber dem . · Strom I1 vernachlässigbar klein ist.The value R11 is selected such that the current flowing through the resistor 11 to the connection point 5 is opposite to the current. · Current I 1 is negligibly small.

Die weitere Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung wird bei folgenden Materialkonstanten und frei gewählten Bezugsgrößen erläutert, wobei die Realisierung der Halbleiter-PlT-Übergänge 1 und 2 durch integrierte Silizium-Transistoren erfolgen soll, deren Kollektor-Basis-Übergang im Kurzschluß betrieben wird:The further mode of operation of the circuit arrangement according to the invention is explained in the following material constants and freely selected reference values, wherein the implementation of the semiconductor-PIP junctions 1 and 2 is to take place by integrated silicon transistors whose collector-base junction is operated in the short circuit:

g1 ~" g2 ~ g "~ 'g1 ~ "g2 ~ g" ~ '

T0 = 300 K.T 0 = 300 K.

Die benutzten Halbleiter-PH-Übergänge 15 2 sollen bei dieser 3ezug3temperatur TQ und einem StromThe used semiconductor PH junctions 15 2 should at this 3ezug3temperatur T Q and a current

1FOI = 1FC^ = 1FO "0^ 2^ eine Flußspannung 1 FOI = 1 FC ^ = 1 FO " 0 ^ 2 ^ a forward voltage

ÜH)1 = üF02 = UP0 = Ü H) 1 = ü F02 = U P0 =

aufweisenrespectively

234899 3234899 3

Aus Gleichung (20) und den Beziehungen (30) und (31) erhält manFrom equation (20) and relationships (30) and (31) one obtains

f = 3. (33) f = 3. (33)

Damit ergibt sich für die 'Widerstände 10 und 11 der ZusammenhangThis results in the 'resistors 10 and 11 of the context

RIO = 2 R11, (34)RIO = 2 R11, (34)

der im Ausführungsbeispiel mit den Werten R10 = 20 kO. und R11 =10 k-Ω.in the exemplary embodiment with the values R10 = 20 kO. and R11 = 10k-Ω.

realisiert wird.is realized.

Am Ausgang 14 der Schaltungsanordnung entsteht gegenüber dem Yerbindungspunkt 7 eine Spannung U-, nach Gleichung (27)., die im vorliegenden Ausführungsbeispiel durch einen Temperaturkoeffizient en Dm mitAt the output 14 of the circuit arrangement, a voltage U- is produced with respect to the connection point 7, according to equation (27), which in the present exemplary embodiment is represented by a temperature coefficient en Dm

_!k^2 =.2mYri (35) _! k ^ 2 = . 2mYr i (35)

gekennzeichnet ist.is marked.

Es ist auch denkbar, die Beziehung (4) mit einem Faktor/T nach Gleichung (20) zu erfüllen, wenn für die beiden Ströme I. und IpIt is also conceivable to satisfy the relationship (4) with a factor / T according to equation (20), if for the two currents I. and Ip

I1 = I2 (36)I 1 = I 2 (36)

mit oC = /3 (37)with oC = / 3 (37)

gilt und die Materialkonstanten VL und V~ sich voneinander unterscheiden.and the material constants VL and V ~ differ from each other.

Weiterhin ist es möglich, die Anordnung 8 auf andere Weise als im Ausführungsbeispiel beschrieben au .realisieren. Für die Stromquellen 3 und 4 können zur Erzielung des erfindungsgemäßen Effektes allgemein übliche Anordnungen verwendet werden.Furthermore, it is possible to realize the arrangement 8 in a different way than described in the exemplary embodiment. For the current sources 3 and 4 can be used to achieve the effect of the invention generally conventional arrangements.

Claims (1)

2348 9 9 32348 9 9 3 Erfindungsanspruchinvention claim Schaltungsanordnung mit fallender Spannungs-Temperatur-Charakteristik unter Ausnutzung der Abhängigkeit der J1IuB-spannirng eines in Flugrichtung betriebenen Halbleiter-PH-Überganges von der Temperatur, vorzugsweise zur Anwendungin Referenzspannungsquellen und Temperaturmeßeinrichtungen, gekennzeichnet dadurch, daß zusätzlich zu dem bekannten Halb1eiter-PH-Übergang.(1) ein zweiter Halbleiter-?H-Übergang (2) angeordnet ist und der erste Halbleiter-PH-übergang (1) mit einer Stromquelle (3), die einen Strom I-. mit einer TemperaturabhängigkeitCircuit arrangement with decreasing voltage-temperature characteristics taking advantage of the dependence of the J 1 IuB span of a semiconductor-PH junction operated in the direction of flight on the temperature, preferably for use in reference voltage sources and temperature measuring devices, characterized in that in addition to the known half-conductor PH Transition (1) a second semiconductor? H junction (2) is arranged and the first semiconductor PH junction (1) with a current source (3) having a current I-. with a temperature dependence liefert und der zweite Halbleiter-PH-Übergang (2) mit einer Stromquelle (4), die einen Strom I2 mit einer Temperaturabhängigkeit and the second semiconductor PH junction (2) with a current source (4) having a current I 2 with a temperature dependence I2 (T) = I02 (ψ-) I 2 (T) = I 02 (ψ-) liefert, verbunden ist, wobei Iq1 bzw. IQp die Bezugswerte der beiden Ströme bei der Temperatur T = TQ und^ ,/? Sxponenten mit der Bedingungwhere Iq 1 or I Q p are the reference values of the two currents at the temperature T = T Q and ^, /? Exponents with the condition 0 * o< &j3 0 * o <& j3 sind und der jeweilige Verbindungspunkt (5; 6) der Stromquelle (3; 4) mit den zugeordneten Halbleiter-PH-Übergängen (1; 2)'jeweils mit. einem Eingang (12; 13) einer Anordnung (8) verbunden ist, welche so ausgelegt ist, daß sie die Vorschrift ,and the respective connection point (5; 6) of the current source (3; 4) with the assigned semiconductor PH junctions (1; 2) 'in each case with. an input (12; 13) of an assembly (8) which is designed to comply with the requirement realisiert, wobei U^ die Ausgangsspannung der Anordnung (8), U-Tj1 bzv/. U-J9 die an dem Verbindungspunkt (5; β) des ersten bzw. zweiten Halbleiter-PlT-überganges (1; 2) mit der jeweils zugeordneten Stromquelle (3; 4) anliegende. j?luß-, spannung ist und für den Faktor T die Vorschrift Q^"^O gilt.realized, where U ^ the output voltage of the arrangement (8), U-Tj 1 bzv /. UJ 9 which at the connection point (5; β) of the first and second semiconductor-PlT transition (1; 2) with the respective associated current source (3; 4) adjacent. is residual and voltage, and for the factor T the prescription Q ^ "^ O holds. Hierzu 1 Seite ZeichnungFor this 1 page drawing
DD23489981A 1981-11-17 1981-11-17 CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS DD203415A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD23489981A DD203415A1 (en) 1981-11-17 1981-11-17 CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD23489981A DD203415A1 (en) 1981-11-17 1981-11-17 CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DD203415A1 true DD203415A1 (en) 1983-10-19

Family

ID=5534745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DD23489981A DD203415A1 (en) 1981-11-17 1981-11-17 CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS

Country Status (1)

Country Link
DD (1) DD203415A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5239256A (en) * 1990-07-24 1993-08-24 Sharp Kabushiki Kaisha Reference voltage generating circuit for a semiconductor device formed in a semiconductor substrate which generates a reference voltage with a positive temperature coefficient
DE4219776A1 (en) * 1992-01-02 1993-12-23 Etron Technology Inc Circuit for forming an accurate reference voltage

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5239256A (en) * 1990-07-24 1993-08-24 Sharp Kabushiki Kaisha Reference voltage generating circuit for a semiconductor device formed in a semiconductor substrate which generates a reference voltage with a positive temperature coefficient
DE4219776A1 (en) * 1992-01-02 1993-12-23 Etron Technology Inc Circuit for forming an accurate reference voltage

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2154904C3 (en) Temperature compensated DC reference voltage source
DE68904664T2 (en) CURRENT MEASUREMENT.
EP0160836B1 (en) Temperature sensor
DE2855303C2 (en)
DE3503489A1 (en) CIRCUIT ARRANGEMENT FOR COMPENSATING THE TEMPERATURE DEPENDENCY OF SENSITIVITY AND ZERO POINT OF A PIEZORESISTIVE PRESSURE SENSOR
DE3138078A1 (en) DIFFERENTIAL AMPLIFIER
DE102017125831A1 (en) Temperature compensated reference voltage circuit
DE2337138B2 (en) AMPLIFIER CIRCUIT
EP0101956B1 (en) Resistance thermometer
DE1487396B2 (en) Voltage divider circuit
DE69130124T2 (en) Logarithmic amplifier
DE69815289T2 (en) VOLTAGE REGULATOR CIRCUITS AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT
DE2631916C3 (en) Differential amplifier made of MOS field effect transistors built on a semiconductor chip
DE69130213T2 (en) CIRCUIT TO PREVENT SATURATION OF A TRANSISTOR
DE2356386B2 (en) Circuit arrangement for DC voltage regulation shift for transistor amplifiers
DE3006598A1 (en) VOLTAGE SOURCE
DE2548457A1 (en) Light current constant voltage source using FETS - gives a constant voltage supply in easily integrated form using two series connected FETS
DE2653484A1 (en) INTEGRATED CONSTANT RESISTOR
DE19855870B4 (en) Flow sensor of the heat sensitive type
WO1991006839A1 (en) Integratable temperature sensor circuit
DE3219811A1 (en) COIL DRIVER CIRCUIT
DD203415A1 (en) CIRCUIT ARRANGEMENT WITH FALLING VOLTAGE TEMPERATURE CHARACTERISTICS
DE69005649T2 (en) Voltage generator circuit.
DE2416533C3 (en) Electronic circuit arrangement for voltage stabilization
DE10053374C2 (en) Bipolar comparator

Legal Events

Date Code Title Description
ENJ Ceased due to non-payment of renewal fee