DD157835A1

DD157835A1 - TEST POINT FOR MEASURING PURPOSES

Info

Publication number: DD157835A1
Application number: DD22869981A
Authority: DD
Inventors: Siegfried Schade; Bernhard Fleischer
Original assignee: Siegfried Schade; Bernhard Fleischer
Priority date: 1981-03-30
Filing date: 1981-03-30
Publication date: 1982-12-08

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Pruefspitze fuer Messzwecke zum Kontaktieren von elektrischen Leiterplatten und integrierten Schaltkreisen. Ziel und Aufgabe der Erfindung ist die Erstellung einer vereinfachten Pruefspitze, welche bei geringstem Materialaufwand sowohl einen konstanten niedrigen Uebergangswiderstand an der Kontaktstelle als auch eine geringe Eigeninduktion und Eigenkapazitaet sowie ein Rastermass kleiner als 2,5 mm gewaehrleistet. Diese Aufgabe wird dadurch geloest, dass die Pruefspitze von einem einzigen elektrisch wirksamen Teil gebildet wird und aus Federstahldraht besteht, an dessen der Kontaktstelle zugewandtes und in einer Geradfuehrung (4) gelagertes Ende (3) sich ein kreisbogenfoermiges Mittelstueck (6) anschliesst, welches in einem die Kontaktkraft bestimmenden geraden (7) und zu einer Oese (8) gebogenen Teil auslaeuft.The invention relates to a test probe for measuring purposes for contacting electrical circuit boards and integrated circuits. The aim and object of the invention is to produce a simplified test tip, which ensures both a constant low contact resistance at the contact point as well as a low self-induction and self-capacitance and a grid size smaller than 2.5 mm with the least expenditure of material. This object is achieved in that the test tip is formed by a single electrically effective part and consists of spring steel wire, at the contact point facing and in a Geradfuehrung (4) mounted end (3) adjoins a kreisbogenfoermiges center piece (6), which in a straight contact (7) determining the contact force and a part bent to an eyelet (8).

Description

Titel der Erfindung Prüfspitze für Meßzwecke Anwendungsgebiet der Erfindung Title of the Invention Test Probe for Measurement Scope of the Invention

Die Erfindung betrifft eine Prüfspitze für Meßzwecke zum Kontaktieren von elektrischen Leiterplatten und integrierten Schaltkreisen.The invention relates to a test probe for measuring purposes for contacting electrical circuit boards and integrated circuits.

Characteristic of the known technical solutions

Zum Stand der Technik zählen Prüfspitzen, deren Kontakteil aus gehärtetem Beryllium-Kupfer mit vergoldeter Oberfläche besteht und in einer Messinghülse geführt und unter der Wirkung einer in diese Messinghülse eingelassenen Spiralfeder unter Zwischenschaltung einer Stahlkugel stets in eine definierte Ausgangslage gebracht wird.(US-Pat, 3,435.168)The prior art includes probes whose Kontakteil made of hardened beryllium copper with gold-plated surface and is guided in a brass sleeve and under the action of an inset into this brass sleeve coil spring with the interposition of a steel ball is always brought into a defined starting position. (US Pat, 3,435.168)

15· Prüfspitzen dieser Art sind in ihrem Aufbau kompliziert und vom Materialeinsatz her aufwendig. 15 · Test probes of this type are complicated in their structure and consuming the material used ago.

Aim of the invention;

Mit der Erfindung soll die Gestaltung von-Prüfspitzen vereinfacht werden.With the invention, the design of test probes to be simplified.

Wesen der Erfindung ' Essence of the invention

Aufgabe der Erfindung ist es, eine Prüfspitze zu schaffen, welche bei geringstem Material- und Gestaltung aufwand sowohl einen konstanten niedrigen Übergangswiderstand an der Kontaktstelle, als auch geringe Eigeninduktion und Eigenkapazität sowie ein Rastermaß kleiner als 2,5 mm gewähr- . leistet.The object of the invention is to provide a probe, which with the least material and design cost both a constant low contact resistance at the contact point, as well as low self-induction and self-capacitance and a pitch smaller than 2.5 mm guaranteed. guaranteed.

Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die Prüfspitze von einem einzigen elektrisch wirksamen Teil gebildet wird und aus Federstahldraht besteht, an dessen der Kontaktstelle zugewandtes und in einer Geradführung gelagertes Ende sich ein kreisförmiges Mittelstück anschließt, welches in einem die Kontaktkraft bestimmenden und zu einer öse gebogenen Teil ausläuft.'According to the invention, this object is achieved in that the probe is formed by a single electrically effective part and consists of spring steel wire, at the contact point facing and stored in a straight guide end is followed by a circular center piece, which determines the contact force in a and the one eyelet curved part expires. '

Ausführungsbeispiel Execution example

Die Erfindung wird anhand eines in der Zeichnung darge- stellten Ausführungsbeispieles erläutert.The invention will be explained with reference to an embodiment shown in the drawing.

Die Prüfspitze besteht aus Federstahldraht von vorzugsweise • 0,5 mm .Durchmesser, dessen einer Kontaktstelle 1 einer Leiterplatte 2 zugewandtes Ende 3 in einer Geradführung 4 gelagert ist, welche in einen Prüfspitzenträger 5 eingelassen ist. Oberhalb des letzteren weist die Prüfspitze ein kreisbogenförmiges Mittelstück 6 auf,welches in einem die Kontaktkraft und die ungehemmte Axialverschiebung der Prüfspitze in der Geradführung 4 bestimmenden geraden Teil 7The test probe consists of spring steel wire of preferably 0.5 mm diameter, of which one contact point 1 of a printed circuit board 2 facing end 3 is mounted in a straight guide 4, which is embedded in a probe holder 5. Above the latter, the test point on a circular arc-shaped center piece 6, which in a contact force and unrestrained axial displacement of the probe in the linear guide 4 defining straight part. 7

entsprechender Länge und einer öse 8 ausläuft. Die Öse 8 . steht mit einem elektrischen Anschlußelement 9 für ein nicht dargestelltes .Meßkabel über eine Schraube 10, welches in den Prüfspitzenträger 5 geschraubt ist, in fester Verbindung.corresponding length and a eyelet 8 expires. The eyelet 8. is connected to an electrical connection element 9 for a .Meßkabel not shown via a screw 10 which is screwed into the Prüfspitzenträger 5, in a fixed connection.

Das zugespitzte Ende 3 der Prüfspitze kann erforderlichenfalls etwas abgeflacht sein. Ebenso ist es möglich, die Geradführung 4 mit einem elektrisch isolierenden-Überzug zu versehen. .The pointed end 3 of the probe may be slightly flattened if necessary. It is also possible to provide the linear guide 4 with an electrically insulating coating. ,

3 228633 22863

Mit 12 ist eine mit dem Prüfspitzenträger federnd verbundene ITiederhalteplatte und mit 13 eine Auflagefläche bezeichnet·12 denotes an IT restraining plate resiliently connected to the test probe carrier and 13 a bearing surface.

Die Wirkungsweise ist folgende:The mode of action is the following:

Um alle Meßpunkte elektrischer Leiterplatten gleichzeitig kontaktieren zu können, ist der Prufspitzenträger 5 mit einer entsprechenden Anzahl von Prüfspitzen versehen, nur eine davon ist in der Zeichnung dargestellt. Zur Durchführung der Messungen wird der Prüfspitsentrager 5 um eine bestimmte Wegstrecke auf die Leiterplatte'2 abgesenkt. Dadurch k'ommen alle Kontaktstellen 1 mit den jeweiligen Enden 3 cLer Prüfspitzen in federnden Kontakt. Letzterer ist dadurch gegeben, daß das Ende 3 i& <ler Geradführung 4-entgegen der Federwirkung der mit der.Schraube 10 auf dem Prüfspitzenträger 5 fixierten Prüfspitze zurückgleiten kann, ohne zu verkanten. Die eigentliche Prüfspitze erfüllt somit eine Doppelfunktion; sie sorgt für einen konstanten Kontaktdruck und damit sowie infolge ihrer einstückigen Ausführung für einen niedrigen-und nichtstreuenden übergangswiderstand, ohne daß oberflächenveredelte, z.B. vergoldete, Bauelemente Anwendung finden. Das gerade Ende 3 <3-<3^r Prüfspitze und die Geradführung 4- kann so lang gewählt werden, daß noch die federnde Hiederhaltplatte 12 unter dem Prüfspitzenträger 5 angebracht werden kann. Biese liiederhaltplatte drückt vor dem Kontaktieren den Prüfling gegen die Auflagefläche 13 und schützt Prüfspitzen und Pührungsteile vor mechanischen Beschädigungen* Außerdem sichert diese Niederhalteplatte die Planlage des Prüflings, was beim . Prüfen flexibler Leiterplatten wichtig ist. Auf Grund der Tatsache, daß die gesamte Prüfspitze bis zu dem Anschlußelement 9 keinen in Windungen verlegten elektrischen Leiter aufweist, besitzt' sie nur eine sehr geringe Eigeninduktion, so daß sie auch für dynamische Messungen geeignet ist. Die Ausbildung der Prüfspitze gewährleistet die Einhaltung einesIn order to be able to contact all measuring points of electrical circuit boards at the same time, the test point carrier 5 is provided with a corresponding number of test probes, only one of which is shown in the drawing. To carry out the measurements, the Prüfspitsentrager 5 is lowered by a certain distance on the Leiterplatte'2. As a result, all the contact points 1 with the respective ends 3 cLer probes come into spring contact. The latter is given by the fact that the end 3 i < Linear guide 4 can slide back against the spring action of the probe 10 fixed to the Prüfspitzenträger 5 with the.Schraube 10 without tilting. The actual probe thus fulfills a dual function; it ensures a constant contact pressure and thus, and as a result of its one-piece design, a low and non-scattering transfer resistance, without the use of surface-finished, eg gold-plated, components. The straight end 3 <3- <3 ^r probe and the straight guide 4- can be chosen so long that even the resilient Hiederhaltplatte 12 can be mounted under the Prüfspitzenträger 5 . Before pressing, the mounting plate presses the test object against the support surface 13 and protects the test tips and the contact parts from mechanical damage * In addition, this hold-down plate secures the flatness of the test object, which is a great advantage. Testing flexible circuit boards is important. Due to the fact that the entire probe up to the connecting element 9 does not have a winding electrical conductor, it has only a very low self-induction, so that it is also suitable for dynamic measurements. The design of the probe ensures compliance with a

Rastermaßes der Prüfspitzeh-Matrix von 1,5 nun. Die einzelnen Prüfspitzen können einander soweit genähert v/erden, daß sich die isolierenden" Überzüge 11 berühren. Da~ durch ist es möglich, zwecks Kontrolle der exakten Kontaktierung auf engstem Raum eine'Doppelkontaktierang durchzuführen.Pitch of Prüfspitzeh matrix of 1.5 now. The individual test probes can be brought close to each other so far that the insulating coatings 11 touch, thus making it possible to carry out a double contact operation in the narrowest space in order to check the exact contacting.

Claims

Claim of invention. '

1. test probe for measuring purposes for contacting electrical circuit boards, circuits and the like, characterized in that the test ττοη a single electrically effective part is formed and made of spring steel wire ", at the contact point facing and in a straight guide (4) mounted end (3 ) is a circular arc-shaped center piece (6) connects, which determine the contact force in a

the straight (7) and bent to an eyelet (8) part expires ..

2. Probe according to item 1, characterized in that the contact point facing the pointed part of the probe is flattened. - '.

3 · Test tip according to item 1, characterized in that the straight guide is arranged on an electrically insulating test tip carrier (.5) _; which at the same time the Prüfspitzenöse together with an electrical connection element (9). is firmly mounted. '. ·

4. Probe according to item 1, characterized in that the linear guide with an electrically insulating coating (11), which determines the smallest RastermaS two probes to be arranged next to each other, is provided.

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