DD148385B1 - OPTICAL ARRANGEMENT FOR ATOMIC ABSORPTION SPECTROMETERS - Google Patents
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Description
Optische Anordnung für AtomabsorptionsspektrometerOptical arrangement for atomic absorption spectrometer
Die Erfindung betrifft eine optische Anordnung für Atomabsorptionsspelctrometer, die nach dem Zweistrahlprinzip arbeiten, mit einem linienemittierenden Strahler und einem ein Kontinuum emittierenden Strahler, deren Strahlungen über einen Unterbrecher abwechselnd über beide Strahlengänge zu einem Vereinigungselement mit einem Reflexionsbelag für einen der beiden Strahlengänge gesendet werden, wobei der Unterbrecher aus einer rotierenden Sektorenscheibe mit abwechselnd lichtdurchlässigen und reflektierenden Sektoren und mindestens einer Abdeckblende besteht.The invention relates to an optical arrangement for Atomabsorptionsspelctrometer, which operate on the two-beam principle, with a line-emitting radiator and a continuum emitting emitter whose radiation is transmitted via a breaker alternately via both beam paths to a unifying element with a reflection coating for one of the two beam paths, wherein the breaker consists of a rotating sector disc with alternately translucent and reflective sectors and at least one Abdeckblende.
Bei der Atomabsorptionsspektrometrie wird die Probensubstanz in einen atomaren Zustand gebracht und in ein Probenlichtbündel geleitet. Dieses Probenlichtbündel geht von einer linienemittierenden ersten Lichtquelle aus und enthält die Resonanzlinie des aus der Probe zu bestimmenden * Elementes. Die Atome des zu bestimmenden Elementes absorbieren die Strahlung der Resonanzlinie in Abhängigkeit von ihrer Konzentration. Nach dem Passieren des Absorptionsvolumens durchläuft die Strahlung einen Monochromator, in dem die Resonanzlinie spektral von den Nebenlinien getrennt wird, und fällt auf einen Strahlungsdetektor, mit dem zeit-In atomic absorption spectrometry, the sample substance is brought into an atomic state and passed into a sample light bundle. This sample light beam starts from a line-emitting first light source and contains the resonance line of the * element to be determined from the sample. The atoms of the element to be detected absorb the radiation of the resonance line as a function of their concentration. After passing through the absorption volume, the radiation passes through a monochromator, in which the resonance line is spectrally separated from the secondary lines, and falls onto a radiation detector, with which
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lieh nacheinander die ungeschwächte und die durch Absorption durch die zu bestimmenden Atome geschwächte Strahlung gemessen wirdsuccessively the unattenuated and the radiation weakened by absorption by the atoms to be determined is measured
Um Änderungen der Helligkeit der linienemittierenden Lichtquelle sowie Empfindlichkeitsänderungen des Detektors au kompensieren, wird auch in der Atomabsorptionsspektrometrie häufig ein Zweistrahlverfahren benutzt· Im möglichst schnellen zeitlichen Wechsel wird durch Verwendung z.B. rotierender Sektorspiegel die Strahlung der linienemittierenden ersten Lichtquelle abwechselnd durch das Absorptionsvoluraen hindurch und am Absorptionsvolumen vorbei geleitet und vor dem Eintritt in den Monochromator durch ein in der Regel ortsfestes Element wieder vereinigt. Die Detektorsignale werden demoduliert, und es wird ein Ausgangssignal erzeugt, welches eine Funktion des Verhältnisses der von Proben- und Vergleichslichtbündel herrührenden Signalanteile ist. Zusätzlich zur spezifischen Absorption der Resonanzlinie durch die Atome des gesuchten Elementes tritt in der Praxis sehr häufig eine sogenannte Untergrundabsorption auf, welche durch Molekularabsorption, Lösungsmittelabsorption, Streuung an festen Partikeln und weitere Effekte hervorgerufen wird, die unabhängig von der Konzentration der Atome des gesuchten Elementes sind. In order to compensate for changes in the brightness of the line-emitting light source as well as changes in the sensitivity of the detector, a dual-beam method is frequently used in atomic absorption spectrometry as well. rotating sector mirror, the radiation of the line-emitting first light source alternately passed through the Absorptionsvoluraen and past the absorption volume and reunited before entering the monochromator by a generally stationary element. The detector signals are demodulated and an output signal is generated which is a function of the ratio of the signal components derived from sample and comparison light beams. In addition to the specific absorption of the resonance line by the atoms of the sought-after element, so-called background absorption very frequently occurs in practice, which is caused by molecular absorption, solvent absorption, scattering on solid particles and other effects which are independent of the concentration of the atoms of the sought-after element ,
Zur Kompensation dieser Untergrundkompensation benutzt man nach einem bekannten Verfahren (DT-OS 1 911 048) eine zweite, ein Kontinuum emittierende Lichtquelle. Während die Resonanzlinie der ersten Lichtquelle sowohl durch spezifische als auch durch Untergrundabsorption geschwächt wird, wird die kontinuierliche Strahlung der zweiten Lichtquelle in erster Näherung nur durch die Untergrundkompensation, und zwar in gleichem Maße wie die Resonanzlinie der ersten Lichtquelle geschwächt. Das gilt unter den beiden in der Praxis fast immer zutreffenden Voraussetzungen, daß die spektrale Bandbreite des Monochromator sehr großTo compensate for this background compensation, a second light source emitting a continuum is used according to a known method (DT-OS 1 911 048). While the resonance line of the first light source is weakened by both specific and background absorption, the continuous radiation of the second light source is weakened to a first approximation only by the background compensation, to the same extent as the resonance line of the first light source. This is true under the two conditions that are almost always true in practice, that the spectral bandwidth of the monochromator is very large
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ist gegenüber der Bandbreite der schmalen Resonanzabsorption und daß innerhalb der spektralen Bandbreite des Monochromators die Untergrundabsorption praktisch konstant ist. Bei einer bekannten Anordnung mit einem rotierenden Sektorspiegel (DT-OS 2 207 298) wird der Zweistrahlbetrieb auji bei der Kompensation der Untergrundabsorption aufrechterhalten, indem der rotierende Sektorspiegel zwar die Strahlung der beiden Lichtquellen vereinigt, die räumliche Aufspaltung in einen Proben- und einen Vergleichsstrahlengang aber einen zusätzlichen Strahlteiler erfordert. Diese Lösung hat ca. 50% Energieverlust am Strahlteiler und erfordert darüber hinaus eine weitere Vorrichtung, die abwechselnd den Proben- und Vergleichsstrahlengang abdeckt bzw. freigibt.is opposite to the bandwidth of narrow resonance absorption and that within the spectral bandwidth of the monochromator the background absorption is practically constant. In a known arrangement with a rotating sector mirror (DT-OS 2,207,298), the two-beam operation auji is maintained in the compensation of the background absorption, while the rotating sector mirror combines the radiation of the two light sources, but the spatial splitting into a sample and a comparison beam path requires an additional beam splitter. This solution has about 50% energy loss at the beam splitter and also requires a further device that alternately covers the sample and reference beam path and releases.
Bei einer weiteren bekannten Anordnung (DT-OS 2 303 533) vereinigt der rotierende Sektorspiegel die Strahlung der linienemittierenden ersten Lichtquelle und der ein Kontinuum emittierenden zweiten Lichtquelle und bewirkt außerdem die räumliche Aufspaltung in einen Proben- und einen Vergleichsstrahlengang. Durch eine zur Rotation des Drehspiegels synchrone elektrische Modulation der Lichtquellen werden am Empfänger pro Zyklus vier getrennte Signale erzeugt. Durch die Verwendung einer gleichachsig mit dem Sektorspiegel umlaufenden Abdeckblende werden die vier getrennten Signale auch dann erzeugt, wenn eine elektrische Modulation der zweiten, ein Kontinuum emittierenden Lichtquelle, z.B« bei Verwendung einer Halogenlampe zur Kompensation der Untergrundkompensation im sichtbaren Spektralbereich, nicht möglich ist.In another known arrangement (DT-OS 2 303 533), the rotating sector mirror combines the radiation of the line-emitting first light source and the second light source emitting a continuum and also causes the spatial splitting into a sample and a comparison beam path. By synchronous to the rotation of the rotating mirror electrical modulation of the light sources four separate signals are generated at the receiver per cycle. Through the use of a coaxial with the sector mirror circumferential Abdeckblende the four separate signals are generated even if an electrical modulation of the second, a continuum emitting light source, for example, when using a halogen lamp to compensate for the background compensation in the visible spectral range, is not possible.
Der Nachteil der Anordnung besteht darin, daß bei Verwendung eines Sektorspiegels mit zwei auf verschiedenen Seiten desselben angeordneten Reflexionssektoren infolge der endlichen Dicke des Sektorspiegels keine vollständige Äquivalenz der Lichtbündel beider Lichtquellen sowohl im Proben- als auch im Vergleichsstrahlengang erreicht werden kann.The disadvantage of the arrangement is that when using a sector mirror with two arranged on different sides of the same reflection sectors due to the finite thickness of the sector mirror complete equivalence of the light beams of both light sources in both the sample and the comparison beam can be achieved.
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Ein weiterer Nachteil dieser Anordnung besteht darin, daß bei Verwendung einer nicht synchron zur Eotation des Sektorspiegels elektrisch modulierten ersten Lichtquelle störende Signalüberlagerungen mit der zweiten Lichtquelle zustande kommen.Another disadvantage of this arrangement is that disturbing signal overlays with the second light source come about when using a first light source that is not electrically synchronized with the eotation of the sector mirror.
Durch die Erfindung sollen die aufgezeigten Nachteile beseitigt und ein Zweistrahl-Atomabsorptionsspektrometer geschaffen werden, bei dem die Untergrundstrahlung auf die Messung keinen Einfluß ausübt.The invention seeks to eliminate the disadvantages and to provide a two-beam atomic absorption spectrometer in which the background radiation exerts no influence on the measurement.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Zweistrahl-Atomabsorptionsspektrometer so auszubilden, daß jederzeit die geometrische Äquivalenz von Proben- und Vergleichsstrahlengang gewährleistet ist und unabhängig von der elektrischen Modulation der beiden Strahler am Empfänger je Meßzyklus eine bestimmte Anzahl von exakt getrennten und zuordenbaren Signalen erzeugt wird. Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe dadurch, gelöst, daß die Sektorenscheibe und das Vereinigungselement aus dem gleichen transparenten Material bestehen, dieselbe Dicke aufweisen und unter dem gleichen Winkel zur optischen Achse geneigt sind, und daß die Sektorenscheibe auf derselben Seite mit Reflexionsbelegen für beide Strahlengänge versehen ist. Der Reflexionsbelag der Sektorscheibe ist dem einen der beiden Strahlengänge und der Heflexionsbelag des Vereinigungselementes dem anderen der beiden Strahlengänge zugewandt. Gleichachsig mit der Sektorenscheibe sind zwei Abdeckblenden angeordnet, von denen jede das Negativ der anderen ist, sich auf einer Seite der Sektorenscheibe befindet und mit in verschiedenen Abständen von der Drehachse liegenden kreisbogenförmigen Schlitzen versehen ist, von denen die in einem gemeinsamen Abstand von der Drehachse liegenden Schlitze alternierend die emittierten Strahlungen und die in einem anderen geraeinsamen Abstand von derThe invention is therefore based on the object, a two-beam atomic absorption spectrometer in such a way that at any time the geometric equivalence of sample and reference beam path is guaranteed and regardless of the electrical modulation of the two emitters at the receiver per measurement cycle generates a certain number of exactly separate and assignable signals becomes. According to the invention, this object is achieved in that the sector disc and the unifying element consist of the same transparent material, have the same thickness and are inclined at the same angle to the optical axis, and that the sector disc provided on the same side with reflective documents for both beam paths is. The reflection coating of the sector disk faces one of the two beam paths and the yeast reflection coating of the combination element faces the other of the two beam paths. Coaxially with the sector disc two cover panels are arranged, each of which is the negative of the other, located on one side of the sector disc and provided with at different distances from the axis of rotation arcuate slots, of which lying at a common distance from the axis of rotation Slots alternately emit the emitted radiation and at a different distance from the
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Drehachse liegenden Schlitze alternierend jeweils einen der beiden Strahlengänge ausblenden.Rotary axis lying slots alternately hide one of the two beam paths.
Vorteilhafterweise sind die im größeren Abstand von der Drehachse angeordneten Schlitze um definierte Beträge verkürzt. Die Sektorenscheibe weist vier gleichgroße und gleichgestaltete Sektoren auf, wobei abwechselnd ein reflektierender und ein durchlässiger Sektor aufeinanderfolgen. Die Abdeckblenden sind identisch und um die Drehachse um 180° gegeneinander verdreht,Advantageously, the slits arranged at a greater distance from the axis of rotation are shortened by defined amounts. The sector disk has four sectors of equal size and shape, alternating one reflective and one transmissive sector. The cover panels are identical and rotated around the axis of rotation by 180 ° to each other,
Damit ist durch die Erfindung eine völlige Gleichheit von Proben- und Vergleichsstrahlengang für die von beiden Strahlern ausgehenden Strahlungen und die Erzeugung gleicher Signalfolgen hinter dem Vereinigungaelement unabhängig von der elektrischen Modulation der verwendeten Strahler gewährleistet«Thus, the invention ensures a complete equality of sample and reference beam path for emanating from both emitters radiations and the generation of the same signal sequences behind the Vereinigungaelement regardless of the electrical modulation of the emitters used «
Die Erfindung wird nachstehend anhand der schematischen Zeichnungen näher erläutert. Es aeigen: Fig. 1 eine erfindungsgemäße optische Anordnung, Fig. 2 die gleiche Anordnung mit vergrößerten Darstellungen für die Sektorscheibe und das VereinigungselementThe invention will be explained in more detail below with reference to the schematic drawings. 1 shows an optical arrangement according to the invention, FIG. 2 shows the same arrangement with enlarged representations for the sector disk and the joining element
Fig. 3 Die Umgebung des Punktes Рд in Fig. 1 unter Berücksichtigung endlicher Querschnitte für die Strahlungsbündel,FIG. 3 shows the environment of point Р д in FIG. 1 taking into account finite cross-sections for the radiation beams , FIG.
Fig. 4 einen aus einer Sektorenscheibe und zwei Abdeckblenden bestehenden Unterbrecher undFig. 4 is a consisting of a sector disc and two covers breaker and
Fig. 5 a bis f die Zustände des Unterbrechers hinsichtlich Reflexion und Transmission und die daraus abgeleitete Signalfolge.Fig. 5 a to f the states of the interrupter with respect to reflection and transmission and the signal sequence derived therefrom.
In Fig. 1 sind ein linienemittierender Strahler 1 und ein Kontinuum emittierender Strahler 2, deren Strahlengänge 3, 4 in einem Punkt Рд auf eine Sektorenscheibe 5 treffen, mit der zwei Abdeckblenden 6, 7 starr verbunden um eine Achse 8 drehbar angeordnet sind. Die Sektorenscheibe 5 hat 2 n, vorzugsweise 4 gleichgeformteIn Fig. 1, a line emitting emitter 1 and a continuum emitting emitter 2, the beam paths 3, 4 meet at a point Рд on a sector disc 5, with the two cover plates 6, 7 are rigidly connected about an axis 8 rotatably arranged. The sector disk 5 has 2 n, preferably 4 gleichgeformte
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Sektoren, von denen zwei reflektierend sind, zwischen denen zwei durchlässige Sektoren liegen«, Die reflektierenden Sektoren befinden sich auf der am Strahler 1 und dem Probenstrahlengang 9 augewendeten Fläche der Scheibe 5. Von Punkt P. geht in Verlängerung des Strahlenganges 4 ein Proben- oder Meßstrahlengang 9 aus, der an einem Spiegel 10 durch eine Probe 11 zu einem fest angeordneten Vereinigungselement 12 reflektiert wird. In Verlängerung des Strahlenganges 3 geht vom Punkt P^ ein Vergleichsstrahlengang 13 aus, der nach Reflexion an einem Spiegel 14 zum Vereinigungselement 12 gelangt und im Punkt PD mit dem Probenstrah-Sectors, of which two are reflective, between which two transparent sectors lie, The reflecting sectors are located on the surface of the disc 5 which faces the radiator 1 and the specimen beam 9. From point P., an extension of the optical path 4 is used Measuring beam 9, which is reflected at a mirror 10 through a sample 11 to a fixedly arranged unifying element 12. In extension of the beam path 3, a comparison beam path 13 originates from the point P 1, which after reflection at a mirror 14 reaches the unifying element 12 and at the point P D with the sample beam path.
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lengang 9 zusammentrifft. Vom Punkt Pa führt ein gemeinsamer Strahlengang 15 zu einem Monochromator 16 und einer Empfangs- und Auswerteeinrichtung 17« In Abhängigkeit von der jeweiligen Stellung der Sektorenscheibe 5 und der Abdeckblenden 6, 7 gelangt Strahlung des Strahlers 1 in den Probenstrahlengang 9 oder vom Strahler in den Probenstrahlengang 9 oder vom Strahler 2 in den Vergleichsstrahlengang 13 oder vom Strahler 1 in den Vergleichsstrahlengang 13. Danach wiederholt sich die Einsteuerung der Strahlung in der gleichen Weise nach dem gleichen Zeitregime. Im Monochromator 16 erfolgt eine spektrale Trennung einer Resonanzlinie von den Nebenlinien und in der Empfangs- und Auswerteeinrichtung die Signalumformung und Meßwertverarbeitunglengang 9 meets. From the point P a , a common beam path 15 leads to a monochromator 16 and a receiving and evaluating device 17 "Depending on the respective position of the sector disc 5 and the cover plates 6, 7 radiation of the radiator 1 passes into the sample beam path 9 or from the radiator in the Sample beam path 9 or from the radiator 2 in the comparison beam path 13 or from the radiator 1 in the comparison beam path 13. Thereafter, the injection of the radiation in the same manner repeated after the same time regime. In the monochromator 16, a spectral separation of a resonance line from the secondary lines and in the receiving and evaluating the signal conversion and Meßwertverarbeitung
In Fig. 2 ist zur weiteren Erläuterung die Umgebung der In Fig. 2 is for further explanation, the environment of
Punkte PA und PQ vergrößert dargestellt· Die Sektoren-A аPoints P A and P Q shown enlarged · The sectors-A а
scheibe 5 ist nur an der den Strahlengängen 3 und 9 zugewendeten Fläche 18 verspiegelt und besitzt keine Durchbrüche. Das Vereinigungselement 12 besteht aus demselben Material und hat dieselbe Dicke wie die Sektorenscheibe 5, ist zu ihr und den Reflektoren 10 und 14 parallel und ist nur an ihrer den Strahlengängen 13 und 15 zugewendeten Fläche 19 verspiegelt. Auf diese Weisedisc 5 is mirrored only on the beam paths 3 and 9 facing surface 18 and has no openings. The joining element 12 is made of the same material and has the same thickness as the sector disk 5, is parallel to it and the reflectors 10 and 14 and is only mirrored on its surface 19 facing the beam paths 13 and 15. In this way
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ist der optische Weg des Vergleichsstrahlenganges 13 zwischen den Flächen 18 und 19 genau so lang wie der optische Weg des Meßstrahlenganges 9» ohne Probe 11, zwischen denselben Flächen.is the optical path of the comparison beam path 13 between the surfaces 18 and 19 as long as the optical path of Meßstrahlenganges 9 »without sample 11, between the same areas.
In Fig. 3 sind die Sektorenscheibe 5 und die Abdeciublenden 6, 7 auf einer gemeinsamen Welle 20 befestigt und mit dieser um die Achse 8 drehbar gelagert. Mit Pg; Ppj PD; P-g sind die Auf tr eff punkte der Achsstrahlen 3; 9; 4; 13 auf den Abdeckblenden 6 und 7 bezeichnet.In Fig. 3, the sector disc 5 and the Abdeciublenden 6, 7 are mounted on a common shaft 20 and rotatably mounted with this about the axis 8. With Pg; Ppj P D ; Pg are the driving points of the axle jets 3; 9; 4; 13 denoted on the cover plates 6 and 7.
In Fig. 4 sind die Sektorenscheibe 5 und die Abdeckblenden 6, 7 zur Erläuterung ihrer Funktion nebenein_ ander dargestellt. Die Sektorenscheibe 5 hat aufeinanderfolgend gleichgeformte und gleichgroße Sektoren zur Reflexion 29, 30 und Transmission 31, 32. Die Sektorenscheibe 6 weist zwei ineinander übergehende Schlitze 21, 22 auf, die beide im gleichen Abstand von der Drehachse 8 liegen. Außerdem befinden sich zwei kreisringförmige Schlitze 23, 24 untereinander in einem gleichen jedoch größeren Abstand von der Achse 8 als die Schlitze 21,In Fig. 4, the sector disc 5 and the cover plates 6, 7 are shown nebenein_ other to explain their function. The sector disk 5 has successively identically shaped and equally sized sectors for reflection 29, 30 and transmission 31, 32. The sector disk 6 has two slots 21, 22 which merge into one another and are both at the same distance from the axis of rotation 8. In addition, two annular slots 23, 24 are at an equal but greater distance from the axis 8 than the slots 21,
22. Damit in der Empfangseinrichtung 17 getrennte Signale empfangen werden können, erstrecken sich die Schlitze 23, 24 jeweils nur über einen Winkelbereich 90° - 2·* wobei α sich aus dem sagittalen Strahlenbündelquerschnitt an den Punkten Pg und PD, dem größeren Abstand dieser Schlitze 23, 24 von der Drehachse 8 und dem gewünschten Dunkelzeitraum zwischen den einzelnen Signalen ergibt. Die Sektorenscheibe 7 ist ebenso ausgebildet wie die Sektorenscheibe 6, jedoch gegenüber dieser um die Achse 8 um 180° verdreht angeordnet. In der Sektorenscheibe 7 sind dementsprechend kreisbogenförmige innere Schlitze 25, 26 und kreisbogenförmige äußere Schlitze 27, 28 vorgesehen.22. In order to be able to receive separate signals in the receiving device 17, the slots 23, 24 extend only over an angular range of 90 ° - 2 * * where α is the sagittal beam cross section at the points Pg and P D , the greater distance of these Slots 23, 24 results from the axis of rotation 8 and the desired dark period between the individual signals. The sector disc 7 is formed as well as the sector disc 6, but arranged opposite to this about the axis 8 rotated by 180 °. In the sector disc 7 accordingly arcuate inner slots 25, 26 and circular arc-shaped outer slots 27, 28 are provided.
Bei Montierung der Sektorenscheibe 5 und der Abdeckblenden 6, 7 in der in Fig. 4 angegebenen Anordnung ergeben sich für die Reflexion und Transmission folgendeWhen mounting the sector disk 5 and the cover panels 6, 7 in the arrangement indicated in FIG. 4, the following result for the reflection and transmission
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Zustände (siehe auch Fig. 5) in Abhängigkeit топ der Zeit (Periode T).States (see also Fig. 5) as a function of time (period T).
In der Fig. 5 entsprechen a) dem Punkt P„, b) dem Punkt Pc, c) dem Punkt P^, d) dem Punkt Pp, e) dem Punkt Рд und f) der Signalfolge in der Empfangseinrichtung 17· In der ersten Viertelperiode trifft der Strahlengang 3 durch den Schlitz 24 auf den Sektor 29 und wird von diesem in den Probenstrahlengang 9 reflektiert. Die Abdeckblende 6 läßt kein Licht durch. In der zweiten Viertelperiode gelangt der Strahlengang 4 durch die Schlitze 27 und 21 und den Sektor 31 in den Probenstrahlengang 9. In der 3. Viertelperiode trifft der Strahlengang 4 durch den Schlitz 28 auf den Sektor 30 und wird von diesem durch den Schlitz 26 der Abdeckblende 7 in den Vergleichsstrahlengang 13 reflektiert. In der vierten Viertelperiode gelangt der Strahlengang 3 durch den Schlitz 23, den unverspiegelten Sektor 32 und den Schlitz 25 in den Vergleichsstrahlengang. Hat die Sektorenscheibe 5 mehr als vier Sektoren, so läßt sich ganz allgemein sagen, daß die eine Abdeckblende 6 immer das Negativ der Abdeckblende 7 ist«In FIG. 5, a) correspond to the point P ", b) the point P c , c) the point P ^, d) the point Pp, e) the point Р д and f) the signal sequence in the receiving device 17 · In the first quarter period of the beam path 3 hits through the slot 24 to the sector 29 and is reflected by this in the sample beam path 9. The cover 6 does not let light through. In the second quarter period, the beam path 4 passes through the slots 27 and 21 and the sector 31 in the sample beam path 9. In the 3rd quarter period of the beam path 4 hits through the slot 28 on the sector 30 and from the latter through the slot 26 of the Abdeckblende 7 reflected in the comparison beam 13. In the fourth quarter period of the beam path 3 passes through the slot 23, the non-mirrored sector 32 and the slot 25 in the comparison beam path. If the sector disk 5 has more than four sectors, it can generally be said that the one cover panel 6 is always the negative of the cover panel 7 «
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