DD127816A1 - Verfahren zum messen des spezifischen widerstandes von leitenden und halbleitenden materialien - Google Patents

Verfahren zum messen des spezifischen widerstandes von leitenden und halbleitenden materialien

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DD127816A1
DD127816A1 DD7600194794A DD19479476A DD127816A1 DD 127816 A1 DD127816 A1 DD 127816A1 DD 7600194794 A DD7600194794 A DD 7600194794A DD 19479476 A DD19479476 A DD 19479476A DD 127816 A1 DD127816 A1 DD 127816A1
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Milos Jurca
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
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DD7600194794A 1975-10-01 1976-09-15 Verfahren zum messen des spezifischen widerstandes von leitenden und halbleitenden materialien DD127816A1 (de)

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