DD118727A1 - - Google Patents
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- DD118727A1 DD118727A1 DD18505375A DD18505375A DD118727A1 DD 118727 A1 DD118727 A1 DD 118727A1 DD 18505375 A DD18505375 A DD 18505375A DD 18505375 A DD18505375 A DD 18505375A DD 118727 A1 DD118727 A1 DD 118727A1
- Authority
- DD
- German Democratic Republic
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD18505375A DD118727A1 (cs) | 1975-03-27 | 1975-03-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD18505375A DD118727A1 (cs) | 1975-03-27 | 1975-03-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DD118727A1 true DD118727A1 (cs) | 1976-03-12 |
Family
ID=5499700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DD18505375A DD118727A1 (cs) | 1975-03-27 | 1975-03-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DD (1) | DD118727A1 (cs) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0017901A3 (en) * | 1979-04-14 | 1981-03-25 | Deutsche Forschungs- Und Versuchsanstalt Fur Luft- Und Raumfahrt E.V. | Test circuit for electrically measuring mechanical quantities |
| DE4220394A1 (de) * | 1992-06-22 | 1994-01-05 | Inst Halbleiterphysik Gmbh | Meßverfahren und Meßschaltung zur quasistatischen Strommessung an Test- und Bauelementestrukturen mit kapazitiver Komponente |
-
1975
- 1975-03-27 DD DD18505375A patent/DD118727A1/xx unknown
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0017901A3 (en) * | 1979-04-14 | 1981-03-25 | Deutsche Forschungs- Und Versuchsanstalt Fur Luft- Und Raumfahrt E.V. | Test circuit for electrically measuring mechanical quantities |
| DE4220394A1 (de) * | 1992-06-22 | 1994-01-05 | Inst Halbleiterphysik Gmbh | Meßverfahren und Meßschaltung zur quasistatischen Strommessung an Test- und Bauelementestrukturen mit kapazitiver Komponente |
| DE4220394C2 (de) * | 1992-06-22 | 1998-08-13 | Inst Halbleiterphysik Gmbh | Meßverfahren und Schaltungsanordnung zur quasistatischen Strommessung an Test- und Bauelementestrukturen mit kapazitiver Komponente |