CZ301389B6 - Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements - Google Patents
Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements Download PDFInfo
- Publication number
- CZ301389B6 CZ301389B6 CZ20070709A CZ2007709A CZ301389B6 CZ 301389 B6 CZ301389 B6 CZ 301389B6 CZ 20070709 A CZ20070709 A CZ 20070709A CZ 2007709 A CZ2007709 A CZ 2007709A CZ 301389 B6 CZ301389 B6 CZ 301389B6
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- impedance
- circuit
- measured
- output
- analyzer
- Prior art date
Links
Abstract
Description
Zapojení pro měření extrémních impedanci mikrovlnných obvodových prvkůWiring for measuring extreme impedance of microwave circuit elements
Oblast technikyTechnical field
Předkládané řešení se týká nového zapojení, které je určeno k měření impedancí mikrovlnných obvodových prvků, jejichž impedance se značně liší od obvyklých hodnot referenční impedance 50 nebo 75 Ω.The present invention relates to a new circuit designed to measure the impedance of microwave circuit elements whose impedance differs considerably from the usual reference impedance values of 50 or 75 Ω.
ioio
Dosavadní stav technikyBACKGROUND OF THE INVENTION
K měření impedancí obvodových prvků v mikrovlnné oblasti frekvenčního spektra se používají vektorové analyzátory obvodů, které měří koeficient odrazu měřeného prvku vzhledem k refe15 renční impedanci vektorového analyzátoru, která bývá zpravidla 50 nebo 75 Ω. Koeficient odrazu je dán poměrem dopadající a odražené napěťové vlny a je dán vztahemVector circuit analyzers are used to measure the impedance of circuit elements in the microwave region of the spectrum, which measure the reflection coefficient of the measured element relative to the reference impedance of the vector analyzer, which is typically 50 or 75 Ω. The reflection coefficient is given by the ratio of the incident and reflected voltage waves and is given by the relation
Zx — Zo r\ = -, (1),Z x - Zo r \ = - (1),
Zx + Zfl kde Zx je hodnota měřené impedance a Zo je hodnota referenční impedance vektorového analyzátoru obvodů. Při měření se naopak ze změřeného koeficientu odrazu Γχ výpočtem podle vztahuZ x + Zfl where Z x is the measured impedance value and Zo is the reference impedance value of the vector circuit analyzer. When measuring, on the other hand, the measured reflection coefficient Γ χ is calculated by the relation
Ι+Γ, , (2)Ι + Γ,, (1)
1-r, jo získá hodnota měřené impedance Z*. Pro hodnoty impedancí, které jsou blízké hodnotě referenční impedance, poskytuje tato metoda dobré rozlišení hodnot impedance, nicméně pro impedance, které jsou značně menší nebo značně větší než je hodnota referenční impedance se velikost koeficientu odrazu Γχ blíží jedné a vzhledem ke vztahu (2) se i velmi malá změna hodnoty koeficientu odrazu, způsobená například vlivem neurčitosti měření, projeví velikou relativní změ35 nou vypočtené hodnoty impedance. To také znamená, že í relativně velká změna impedance vyvolá jen těžko rozlišitelnou změnu v měřeném koeficientu odrazu.1-r, yo obtains the measured impedance value Z *. For impedance values close to the reference impedance value, this method provides a good resolution of the impedance values, but for impedances that are considerably smaller or considerably greater than the reference impedance, the magnitude of the reflection coefficient Γ χ is close to one and relative to (2) even a very small change in the reflection coefficient value, caused for example by the measurement uncertainty, will result in a large relative change in the calculated impedance value. This also means that a relatively large impedance change causes only a hardly distinguishable change in the measured reflection coefficient.
Z uvedeného vyplývá, že pomocí dosud známých vektorových analyzátorů obvodů s referenční impedancí 50 nebo 75 Ω lze relativně přesně měřit pouze impedance v rozmezí zhruba od 0,1 doThis implies that only impedances ranging from about 0.1 to about 100 can be measured relatively accurately using the known vector circuit analyzers with a reference impedance of 50 or 75 Ω.
10 kΩ. S ohledem na rychle se rozvíjející technologie výroby mikrovlnných komponent založených na uhlíkových nanotrubicích, jejichž impedance se pohybují zhruba od desítek do stovek kΩ, jsou současné vektorové analyzátory k měření hodnot takovýchto impedancí nepoužitelné.10 kΩ. In view of the rapidly evolving technology of producing carbon nanotubes based microwave components whose impedances range from tens to hundreds of kΩ, current vector analyzers are unusable to measure the values of such impedances.
Podstata vynálezuSUMMARY OF THE INVENTION
Tuto nežádoucí vlastnost umožňuje odstranit vyvinuté zapojení pro měření extrémních impedancí mikrovlnných obvodových prvků, které modifikuje stávající vektorový analyzátor obvodů. Zapojení obsahuje svorky pro připojení měřené impedance a referenční impedance. Podstatou nového řešení je, že obsahuje 3dB 180-stupňový hybridní člen, který má první až čtvrtou bránu, z nichž kterákoli je vstupní bránou a je propojena s budicí bránou vektorového analyzátoru obvodů. Kterékoli zbývající jsou první až třetí výstupní bránou. Dvě z těchto výstupních bran jsou interně neizolované od vstupní brány a jedna z těchto výstupních bran je připojena na měřenou impedanci a druhá z těchto výstupních bran je připojena na referenční impedanci. Třetí z těchto výstup- i CZ 301389 B6 nich bran je interně izolovaná od vstupní brány a je propojena přes zesilovač s přijímací bránou vektorového analyzátoru obvodů. Vektorový analyzátor je nastaven pro měření koeficientu přenosu.This undesirable feature allows to eliminate the developed circuitry for measuring the extreme impedances of microwave circuit elements that are modified by an existing vector circuit analyzer. The wiring includes terminals for connecting the measured impedance and reference impedance. The essence of the new solution is that it comprises a 3dB 180-degree hybrid member having a first to fourth gate, any of which is an input gate and is connected to the drive gate of the vector circuit analyzer. Any remaining are the first through third exit gate. Two of these output gates are internally not isolated from the input gate and one of these output gates is connected to the measured impedance and the other of these output gates is connected to the reference impedance. The third of these gateways outputs is internally isolated from the gateway and is connected via an amplifier to the receiving gateway of the vector circuit analyzer. The vector analyzer is set to measure the transmission coefficient.
Za pomoci 180-stupňovčho hybridního členu se od koeficientu odrazu příslušejícího měřené impedanci odečte hodnota referenčního koeficientu odrazu, který je zvolen přibližně stejný jako je měřený koeficient odrazu. Takto se získá velmi malý rozdílový signál, který je možné výrazně zesílit pomocí zesilovače. Zesílený rozdílový signál je potom změřen pomocí vektorového analyzátoru obvodů jako koeficient přenosu.Using a 180-degree hybrid element, a reflection coefficient value that is selected approximately equal to the measured reflection coefficient is subtracted from the reflection coefficient corresponding to the measured impedance. In this way, a very small differential signal is obtained, which can be significantly amplified by means of an amplifier. The amplified difference signal is then measured using a vector circuit analyzer as a transmission coefficient.
Vektorový obvodový analyzátor pak zobrazuje zvětšený výřez oblasti kolem referenční impedance ve Smithově impedančním diagramu. Tento výřez je zvětšen G/2-krát, kde G je zisk zesilovače, což umožňuje lépe využít rozsah A/D převodníků použitých ve vektorovém obvodovém analyzátoru a zvýšit tak citlivost měřené hodnoty koeficientu přenosu na změnu měřené impedance.The vector circuit analyzer then shows an enlarged section of the area around the reference impedance in the Smith impedance diagram. This cutout is magnified G / 2 times, where G is the gain of the amplifier, making it possible to better utilize the range of A / D converters used in the vector circuit analyzer to increase the sensitivity of the measured transmission coefficient value to change the measured impedance.
Přehled obrázků na výkresechBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
Na obr. 1 je uvedeno principielní schéma měřicího zapojení realizujícího vyvinutou metodu.Fig. 1 shows a schematic diagram of the measurement circuitry implementing the developed method.
Na obr. 2 je znázorněna rovnice (3) jako zobrazení Smithova diagramu příslušejícího hodnotám měřené impedance Ζχ a Smithova diagramu příslušejícího hodnotám referenční impedance Zref do komplexní roviny hodnot měřeného koeficientu přenosu S2i. Na obr. 3 je uvedeno uspořádání experimentálního zapojení pro ověření principu vyvinuté metody. Výsledky provedeného experimentálního měření jsou zobrazeny na obr. 4.Fig. 2 shows equation (3) as a representation of the Smith plot of the measured impedance values Ζχ and the Smith plot of the reference impedance values Z ref to the complex plane of the measured transmission coefficient values S 2 i. principle of the developed method. The results of the experimental measurement are shown in Fig. 4.
Příklady provedení vynálezuDETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Příklad schématu vyvinutého měřicího zapojení pro měření extrémních impedancí mikrovlnnýchExample of a schematic of a developed measuring circuit for measuring extreme microwave impedances
3o obvodových prvků je uvedeno na obr. 1. Zapojení je tvořené měřenou impedancí 3 vyznačenou pro lepší orientaci na výkrese též jako Zx, referenční impedancí 4 vyznačenou na výkrese též jako Zref, vektorovým analyzátorem obvodů T zesilovačem 5 a 3dB 180-stupňovým hybridním Členem 2. Kterákoliv ze čtyř bran 180-stupňového hybridního členu 2 může být pokládána za vstupní bránu 8 a tato je pak propojena s budicí bránou 6 vektorového analyzátoru i a zbývající tři brány 9,10,11 mohou být pokládány při buzení do vstupní brány 8 za brány výstupní. Dvě z těchto výstupních bran, například první výstupní brána 10 a druhá výstupní brána li jsou interně neizolované od vstupní brány 8. Jedna z těchto dvou výstupních bran JQ nebo JJ. je propojena s měřenou impedancí 3 a druhá z těchto dvou výstupních bran je pak JJ. nebo 10 propojena s referenční impedancí 4. Třetí výstupní brána 9 interně izolovaná od vstupní brány 8 je propo40 jena přes zesilovač 5 s přijímací bránou 7 vektorového analyzátoru obvodů 1. Vlastnosti 180stupňového hybridního členu zajišťují při kterémkoliv z výše uvedených zapojení, že signál na jeho třetí výstupní bráně 9 odpovídá rozdílu koeficientů odrazu referenční impedance 4 a měřené impedance 3. Tento signál je pak měřen vektorovým analyzátorem obvodů 1 jako koeficient přenosu.The circuit is formed by the measured impedance 3 indicated for better orientation in the drawing also as Z x , the reference impedance 4 also indicated on the drawing also for Z re f, the vector circuit analyzer T by amplifier 5 and 3dB by 180-degree Any of the four gates of the 180-degree hybrid member 2 can be considered as the gateway 8 and is then connected to the vector analyzer driver gate 6, and the remaining three gateways 9, 10, 11 can be laid while driving to the gateway 8 behind the output gate. Two of these exit gates, for example the first exit gate 10 and the second exit gate 11, are not internally insulated from the entrance gate 8. One of the two exit gate 10 or 11. is connected to the measured impedance 3 and the other of the two output gates is JJ. or 10 coupled to a reference impedance 4. The third output gate 9 internally isolated from the input gate 8 is coupled through an amplifier 5 to the receiving gate 7 of the vector circuit analyzer 1. At any of the above connections, the 180-degree hybrid member ensures that the signal to its third the output gate 9 corresponds to the difference between the reflection coefficients of the reference impedance 4 and the measured impedance 3. This signal is then measured by the vector circuit analyzer 1 as a transmission coefficient.
Na obr. 1 je znázorněno jedno zmožných zapojení 180-stupňového hybridního členu 2, při kterém jsou výstupní signály na první výstupní bráně IQ a na druhé výstupní bráně JJ při buzení do vstupní brány 8 ve fázi a fáze signálu vystupujícího ze třetí výstupní brány 9 při buzení do druhé výstupní brány JJ. je zpožděna o 180 stupňů vzhledem k signálu vystupujícímu z třetí výstupní brány 9 při buzení do první výstupní brány IQ.Fig. 1 shows one possible circuit of a 180-degree hybrid member 2, in which the output signals at the first output gate 10 and the second output gate 11 when excited to the input gate 8 are in phase and phase of the signal output from the third output gate 9 at excitation to the second output gate 11. it is delayed by 180 degrees relative to the signal output from the third output gate 9 when excited to the first output gate 10.
Metoda je založena na tom, že od koeficientu odrazu Γ, měřené impedance 3 je díky vlastnostem 180-stupňového hybridního Členu 2 odečtena hodnota referenčního koeficientu odrazu Tref, který přísluší referenční impedanci Zref, které přísluší vztahové číslo 4. Hodnota referenční impedanceThe method is based on deducting from the reflection coefficient Γ, the measured impedance 3, the value of the reference reflection coefficient T ref , which corresponds to the reference impedance Z re f, which corresponds to the reference number 4, due to the properties of the 180-degree hybrid Member 2.
4 nemusí být známa přesně, protože bude určena při procesu kalibrace. Odečtení se provede4 may not be known precisely as it will be determined during the calibration process. Subtraction is performed
-2CZ 301389 B6 pomocí 3dB 180-stupňového hybridního členu 2 zapojeného například podle obr. 1. Rozdílový signál se zesílí pomocí zesilovače 5 a je přiveden na přijímací bránu 7 vektorového analyzátoru obvodů I a ten ho změří jako koeficient přenosu S21- Změřená hodnota koeficientu přenosu je v ideálním případě dána vztahem b2 G s2l = _= _(rx-rref), (3), a, 2 kde ai a b2 je dopadající a vystupující napěťová vlna, G je hodnota napěťového zisku zesilovače 5. Pokud jsou hodnoty měřeného a referenčního koeficientu odrazu přibližně stejné, je výsledný rozdílový signál velmi malý a lze ho tedy výrazně zesílit.The difference signal is amplified by the amplifier 5 and is applied to the receiving gate 7 of the vector circuit analyzer I and measured it as the transmission coefficient S21. The measured value of the transmission coefficient is measured. ideally given by b 2 G with 2l = _ = _ (r x -r ref ), (3), a, 2 where ai and b 2 are incident and output voltage wave, G is the value of amplifier voltage gain 5. If the measured and reference reflection coefficients are approximately the same, the resulting difference signal is very small and can therefore be significantly amplified.
Rovnice (3) je graficky znázorněna na obr. 2 pro případ jednotkového zisku G - 1 zesilovače 5.Equation (3) is shown graphically in Fig. 2 in the case of the unit gain G - 1 of the amplifier 5.
Komplexní rovina 12 představuje rovinu, do které se vynáší změřená hodnota koeficientu přenosu S21. Do této roviny J_2 je zobrazen základní Smithův diagram 13 příslušející referenční impedanci 4 a také základní Smithův diagram 14 příslušející měřené impedanci 3. Zobrazený bod 15 odpovídá referenční impedanci 4 zobrazené do Smithova diagramu J_3 a zobrazený bod 16 je umístěn středově symetricky a představuje bod, do kterého je umístěn střed Smithova diagramuThe complex plane 12 represents the plane to which the measured value of the transmission coefficient S21 is plotted. To this plane 12 is shown the basic Smith diagram 13 associated with the reference impedance 4 and also the basic Smith diagram 14 associated with the measured impedance 3. The point 15 corresponds to the reference impedance 4 shown in the Smith diagram 13 and the point 16 is centrally symmetrical and represents which is located in the middle of the Smith diagram
14, Bod 12 představuje hodnotu měřené impedance 3 zobrazené do Smithova diagramu 14. Bod je zároveň bodem, který je změřen vektorovým analyzátorem obvodů 1 v komplexní rovině 12.14, Point 12 represents the value of the measured impedance 3 shown in the Smith diagram 14. The point is also the point that is measured by the vector circuit analyzer 1 in the complex plane 12.
Zobrazení podle rovnice (3) tak v komplexní rovině 12 poskytuje zvětšený výřez oblasti kolem referenční impedance Zref 4 ze Smithova impedančního diagramu. Tento výřez je zvětšen G/2krát, což umožňuje lépe využít dynamický rozsah analogově digitálních převodníků použitých ve vektorovém obvodovém analyzátoru i a zvýšit tak citlivost hodnoty měřeného koeficientu přenosu S2i na změnu měřené impedance 3.Thus, the representation according to equation (3) in the complex plane 12 provides an enlarged section of the area around the reference impedance Z ref 4 from the Smith impedance diagram. This cutout is magnified G / 2 times, making it possible to better utilize the dynamic range of the A / D converters used in the vector circuit analyzer i to increase the sensitivity of the measured transmission coefficient S 2 i to change the measured impedance 3.
Princip odečítání referenčního koeficientu odrazu od koeficientu odrazu příslušejícího měřené impedanci 3 byl experimentálně ověřen na měřicím uspořádání podle obr. 3. Jako 180-stupňový 3 dB hybridní člen 2 byl použit mikropáskový kruhový hybridní člen (rat-race) J_8 s fázovým invertorem 2L Na místě referenční impedance 4 i měřené impedance 3 bylo použito zakončení otevřeným koncem SMA konektoru 20.19. Pří experimentálním ověření tohoto principu nebylo na rozdílový signál aplikováno zesílení. Měření bylo provedeno ve frekvenčním pásmu 1,5 až 3,0 GHz s vektorovým analyzátorem obvodů 1 s referenční impedancí 50 Ω. Frekvenční závislost změřených hodnot koeficientu přenosu je uvedena na obr. 4, kde Swp Min odpovídá počáteční frekvenci rozmítání, Swp Max odpovídá koncové frekvenci rozmítání, Mag Max je maximální hodnota amplitudy koeficientu přenosu znázorněná na rastru kružnicí s největším poloměrem a Per Div odpovídá změně amplitudy koeficientu přenosu mezi sousedními kružnicemi rastru. Je zde vidět, že pokud mají referenční impedance 4 i měřená impedance 3 přibližně stejné hodnoty, výsledný rozdílový signál je velmi malý a lze ho případně výrazně zesílit a využít plné dynamiky analogově digitálních převodníků ve vektorovém analyzátoru obvodů LThe principle of subtracting the reflection coefficient from the reflection coefficient associated with the measured impedance 3 was experimentally verified on the measurement arrangement of Figure 3. A 180-degree 3 dB hybrid member 2 was a microstrip circular hybrid member 18 with a phase inverter 2L in place the reference impedance 4 and the measured impedance 3 were used with the open end of the SMA connector 20.19. In the experimental verification of this principle, no amplification was applied to the difference signal. The measurement was performed in the 1.5 to 3.0 GHz frequency band with a vector circuit analyzer 1 with a reference impedance of 50 Ω. The frequency dependence of the measured values of the transmission coefficient is shown in Figure 4, where Swp Min corresponds to the initial sweep frequency, Swp Max corresponds to the end sweep frequency, Mag Max is the maximum amplitude value of the transmission coefficient shown on the grid with the largest radius circle transmission between adjacent raster circles. It can be seen that if both the reference impedance 4 and the measured impedance 3 have approximately the same values, the resulting difference signal is very small and can possibly be significantly amplified and utilize the full dynamics of the A / D converters in the vector circuit analyzer L
Průmyslová využitelnostIndustrial applicability
Zapojení pro měření extrémních impedancí mikrovlnných obvodových prvků a s ním související nová metoda měření impedancí obvodových prvků v mikrovlnné oblasti frekvenčního spektra jsou využitelné zejména pri přesném měření velmi malých a velmi velkých impedancí, jako například v případě impedancí mikrovlnných prvků vyrobených na bázi uhlíkových nanotrubic, jejichž impedance se pohybují v řádech desítek až stovek kQ.Extreme microwave impedance circuitry and associated new method of measuring circuit impedances in the microwave region of the frequency spectrum are particularly useful for very accurate measurement of very small and very large impedances, such as impedances of carbon nanotube-based microwave elements whose impedance range from tens to hundreds of kQ.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CZ20070709A CZ301389B6 (en) | 2007-10-11 | 2007-10-11 | Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CZ20070709A CZ301389B6 (en) | 2007-10-11 | 2007-10-11 | Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CZ2007709A3 CZ2007709A3 (en) | 2009-04-22 |
CZ301389B6 true CZ301389B6 (en) | 2010-02-10 |
Family
ID=40560144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CZ20070709A CZ301389B6 (en) | 2007-10-11 | 2007-10-11 | Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CZ (1) | CZ301389B6 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ302217B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302219B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302218B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302220B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302565B6 (en) * | 2010-05-20 | 2011-07-13 | Ceské vysoké ucení technické v Praze Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave network elements |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB889899A (en) * | 1960-12-09 | 1962-02-21 | Mullard Ltd | Microwave impedance-discriminating devices |
US4680538A (en) * | 1985-01-15 | 1987-07-14 | Cornell Research Foundation, Inc. | Millimeter wave vector network analyzer |
DE19928452A1 (en) * | 1999-06-23 | 2000-12-28 | Siemens Ag | Reception antenna system for magnetic resonance signal |
-
2007
- 2007-10-11 CZ CZ20070709A patent/CZ301389B6/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB889899A (en) * | 1960-12-09 | 1962-02-21 | Mullard Ltd | Microwave impedance-discriminating devices |
US4680538A (en) * | 1985-01-15 | 1987-07-14 | Cornell Research Foundation, Inc. | Millimeter wave vector network analyzer |
DE19928452A1 (en) * | 1999-06-23 | 2000-12-28 | Siemens Ag | Reception antenna system for magnetic resonance signal |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ302217B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302219B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302218B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302220B6 (en) * | 2009-11-19 | 2010-12-29 | Ceské vysoké ucení technické v Praze, Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements |
CZ302565B6 (en) * | 2010-05-20 | 2011-07-13 | Ceské vysoké ucení technické v Praze Fakulta elektrotechnická | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave network elements |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CZ2007709A3 (en) | 2009-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9391719B2 (en) | Method and a system for determining the place of origin of passive intermodulation products | |
US8405405B2 (en) | Wideband I-V probe and method | |
CZ301389B6 (en) | Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
CA2364189A1 (en) | High frequency circuit analyzer | |
US10444266B1 (en) | Hybrid split signal load pull system with wave-probe | |
US10001521B1 (en) | Transistor test fixture with integrated couplers and method | |
Hashmi et al. | Introduction to load-pull systems and their applications | |
Mubarak et al. | Noise behavior and implementation of interferometer-based broadband VNA | |
CN109891252B (en) | Quantum power sensor | |
Ferrero et al. | Uncertainty in multiport S-parameters measurements | |
CZ18059U1 (en) | Circuit arrangement for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
CZ20404U1 (en) | Measuring system for measuring extremal impedances of microwave circuit elements | |
CZ20405U1 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
US11029351B1 (en) | Transforming load pull test fixture for wave measurements | |
CZ2009772A3 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
CZ20402U1 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
CZ2009773A3 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
Simpson | Hybrid active tuning load pull | |
CZ2009771A3 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
CZ302217B6 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
CZ20403U1 (en) | Measuring system for measuring extreme impedances of microwave circuit elements | |
Roberts et al. | A compact, tethered E-band VNA reflectometer | |
Votsi et al. | Active Interferometry-Based Vector Network Analyzer Reference Impedance Renormalization | |
Simpson | A beginner’s guide to all things load pull | |
Sakian et al. | Noise figure and S-parameter measurement setups for on-wafer differential 60GHz circuits |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Patent lapsed due to non-payment of fee |
Effective date: 20161011 |