CS273426B1 - Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides - Google Patents

Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides Download PDF

Info

Publication number
CS273426B1
CS273426B1 CS820188A CS820188A CS273426B1 CS 273426 B1 CS273426 B1 CS 273426B1 CS 820188 A CS820188 A CS 820188A CS 820188 A CS820188 A CS 820188A CS 273426 B1 CS273426 B1 CS 273426B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
mechanically induced
determined
induced optical
double refraction
size
Prior art date
Application number
CS820188A
Other languages
English (en)
Other versions
CS820188A1 (en
Inventor
Milos Ing Csc Sova
Ladislav Ing Csc Berka
Bohumil Ing Drsc Stadnik
Juraj Ing Csc Doupovec
Original Assignee
Milos Ing Csc Sova
Ladislav Ing Csc Berka
Bohumil Ing Drsc Stadnik
Juraj Ing Csc Doupovec
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Milos Ing Csc Sova, Ladislav Ing Csc Berka, Bohumil Ing Drsc Stadnik, Juraj Ing Csc Doupovec filed Critical Milos Ing Csc Sova
Priority to CS820188A priority Critical patent/CS273426B1/cs
Publication of CS820188A1 publication Critical patent/CS820188A1/cs
Publication of CS273426B1 publication Critical patent/CS273426B1/cs

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Vynález se týká způsobu stanoveni velikosti mechanicky indukovaného optického dvojlomu v reálných světlovodech fotoelasticimetrickou metodou.
Vývoj optoelektronických vláken se v současné době orientuje na zlepšení jejich přesnosových vlastností na základě polarizace vedených světelných vln. K vyvození polarizace světelné vlny po celé délce vlákny se využívá dvojlomu světla vznikajícího v optických materiálech anorganických i organických následkem deformační anizotropie způsobené mechanickým namáháním. Tento přístup k řešení problému motivoval vznik vícevidových vláken, majících v příčném průřezu vlákna oblasti s odličnou teplotní roztažností, než je teplotní roztažnost základního materiálu vlákna. Při chladnutí vzniká v příčném průřezu vlákna napjatost, působící vznik pružné deformační .aniotropie, a tím i optického dvojlomu a polarizace vedeného světla. U těchto polarizačních světlovodů je hodnota optického dvojlomu závislá na tvaru pole mechanických napětí v průřezu vlákna. Pro objekty makroskopických rozměrů se pro stanovení velikosti tohoto mechanicky indukovahého optického dvojlomu používá fotoelasticxmetrické metody. K provádění měření slouží fotoelasticimetr, v němž je objekt umístěn mezi polarizátor a analyzátor a pozorují se optické jevy, které vznikají při průchodu světla. Fotoelasticimetrická analýza napětí je pro mechaniku materiálu a konstrukcí především metodou modelovou, a v případě transparentních materiálů ji lze užít i in šitu. Její dosavadní metodiky a experimentální zařízení jsou přizpůsobeny k měření modelů makrokonstrukcí. Přímá měření na mikroskopických objektech o rozměrech desítek mikrometrů nebyla dosud metodicky ověřena a zvládnuta. Průměry světlovodů jsou řádově milimetrové, přičemž jsou obvykle tvořeny jádrem a obalem. Rozměry jádra mohou být až lOOkrát menší. Pro tak malé objekty je užití obvyklé fotoelasticimetrické metody ke stanovení mechanického napětí příliš hrubé, bez dostatečného rozlišení. Pro experimentální analýzu pole napětí a optického dvojlomu optoelektronických vláken in šitu, tj. přímo na daném vlákně, není dosud známa žádná vhodná metoda.
Uvedené nevýhody odstraňuje způsob stanovení velikosti mechanicky indukovaného optického dvojlomu ve světlovodech s použitím fotoelasticimetrické metody podle vynálezu. Podstata způsobu spočívá v tom, že Se ze světlovodů zalitého do média, například epoxidové pryskyřice, zhotoví příčný řez tloušťky 1 až 3 mm, který se po vyleštění pozoruje ve světelném mikroskopu s optickou soustavou odpovídající fotoelasticimetru. Velikost mechanicky indukovaného optického dvojlomu B se stanoví ze vzorce
B = ·—N-·· (mm-1),
X kde N je řád izochromat, stanovený z počtu přechodů mezi červenou a zelenou izochromatou, případně zjištěním počtu tmavých pruhů v případě monochromatického světla, £ je tloušťka vrstvy změřená posuvným měřítkem s noniem.
Výhoda způsobu stanovení velikosti mechanicky indukovaného optického dvojlomu podle vynálezu spočívá zejména v tom, že ho lze použít i pro reálné vzorky světlovodů, jejichž rozměry jsou velmi malé, takže fotoelasticimetrie v běžném provedení je nepoužitelná. Fotoelasticimetrickou metodu měření na mikroobjektech, jakými jsou např. optoelektronická polarizační vlákna, lze uskutečnit v polarizačním mikroskopu. Optická soustava takového mikroskopu odpovídá optické soustavě obvyklého fotoelasticimetru. Studovaný objekt je umístěn mezi polarizátor a analyzátor a vhodně volený objektiv umožní provést fotoelasticimetrickou analýzu z libovolně malého místa, omezeného jen rozlišovací schopností mikroskopu. K vlastnímu pozorování isochromat světlovodů je třeba použít kvalitní polarizační mikroskop, který by dovoloval pozorovat a odečítat isochromaty až na hranici možností světelného mikroskopu. Zvláštní péči
CS 273426 Bl fc vyžaduje v tomto případě příprava vlákna pro mikroskopickou analýzu a měření dvojlomu.
Postup stanovení velikosti mechanicky indukovaného optického dvojlomu v reálném světlovodu podle vynálezu je blíže osvětlen na následujícím příkladu.
Příklad
Pro stanovení velikosti mechanicky indukovaného optického dvojlomu ve skleněném optickém světlovodu bylo vlákno světlovodu o délce asi 100 mm navléknuto do polyetylénové injekční stříkačky a zalito zalévací hmotou, v tomto případě epoxidovou pryskyřicí. Po vytvrzení zalévací hmoty byl takto získaný váleček rozřezán na tenké řezy tloušíky 2 mm a obě plochy řezu byly vybroušeny a dokonale vyleštěny. Na takto získaných výbrusech bylo provedeno vlastní pozorování a měření metodou mikrofotoelasticimetrie. K pozorování bylo použito světelného polarizačního mikroskopu Zeiss AMPLIVAL, jehož optickou soustavu lze uspořádat podle schématu fotoelasticimetru. Mikroskop byl opatřen fotonástavcem s kamerou, která umožňovala při vhodně voleném zvětšení získat mikrosnímky fotoelasticimetrických interferenčních pruhů ve světlovodu. Spočítáním počtu přechodů N a změřením přesné tloušťky řezu mezi červenou a zelenou isochromatou byla podle vzorce
B = : —γ- (mm-1) zjištěna velikost mechanicky indukovaného optického dvojlomu ve světlovodu.

Claims (1)

  1. Způsob stanovení velikosti mechanicky indukovaného optického dvojlomu ve světlovodech s použitím fotoelasticimetrické metody, vyznačený tím, že se ze světlovodu zalitého do média, např. epoxidové pryskyřice zhotoví příčný řez tloušťky 1 až 3 am, který se po vyleštění pozoruje ve světelném mikroskopu β optickou soustavou odpovídající fotoelasticimetru, přičemž se velikost mechanicky indukovaného optického dvojlomu B stanoví ze vzorce
    B = ............ (mm’·'') t
    kde N je řád izochromat, stanovený z počtu přechodů mezi červenou a zelenou isochromatou, případně zjištěním počtu tmavých pruhů v případě monochromatického světla, t je slouštka vrstvy změřená posuvným měřítkem s noniem.
CS820188A 1988-12-12 1988-12-12 Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides CS273426B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS820188A CS273426B1 (en) 1988-12-12 1988-12-12 Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS820188A CS273426B1 (en) 1988-12-12 1988-12-12 Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS820188A1 CS820188A1 (en) 1990-07-12
CS273426B1 true CS273426B1 (en) 1991-03-12

Family

ID=5432263

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS820188A CS273426B1 (en) 1988-12-12 1988-12-12 Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS273426B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS820188A1 (en) 1990-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Inaudi et al. Low-coherence deformation sensors for the monitoring of civil-engineering structures
Peters Polymer optical fiber sensors—a review
Meltz et al. Fiber optic temperature and strain sensors
Afromowitz Fiber optic polymer cure sensor
KR100326302B1 (ko) 광섬유의 잔여 응력 및 포토일래스틱 효과 측정을 위한측정장치 및 그 방법
Guo et al. Simultaneous measurement of strain and temperature by a sawtooth stressor-assisted highly birefringent fiber Bragg grating
Bhowmik et al. High intrinsic sensitivity etched polymer fiber Bragg grating pair for simultaneous strain and temperature measurements
Yuan et al. Sensitivity coefficient evaluation of an embedded fiber-optic strain sensor
Chen et al. Multiple cladding fiber Bragg gratings inscribed by femtosecond laser point-by-point technology
Zhu et al. D-shaped optic fiber temperature and refractive index sensor assisted by tilted fiber bragg grating and PDMS film
Zhang et al. A MMF-TSMF-MMF structure coated magnetic fluid for magnetic field measurement
Durana et al. Assessment of an LPG mPOF for strain sensing
CS273426B1 (en) Method of mechanically induced optical double refraction's magnitude determination in optical waveguides
Macioski et al. Measuring Alkali-Silica Reaction Expansion in Concrete with Optical Fiber Sensors
Maher et al. Fiber optic sensor for measurement of strain in concrete structures
Yablon Recent progress in optical fiber refractive index profiling
Olshansky et al. Measurement of differential mode attenuation in graded-index fiber optical waveguides
Pluta Variable wavelength interferometry. II. Uniform-field method for transmitted light
Witt et al. Investigation of sensing properties of microstructured polymer optical fibres
Dangui et al. Theoretical and experimental study of the fundamental mode propagation phase temperature sensitivity in air-core photonic-bandgap fibers
Biswas et al. Measurement of gradient refractive index profile using a birefringent lens
Peters Polymer optical fiber sensors
de Medeiros Measuring Alkali-Silica Reaction Expansion in Concrete with Optical Fiber Sensors
El-Diasty Interferometric determination of propagation constant difference between adjacentpropagated modes in bent GRIN optical fibres
SU1485056A1 (ru) Способ определения места нахождения локальных неоднородностей в световодных кабелях