CS262094B1 - Sonda pro bodové měření lesku - Google Patents
Sonda pro bodové měření lesku Download PDFInfo
- Publication number
- CS262094B1 CS262094B1 CS873674A CS367487A CS262094B1 CS 262094 B1 CS262094 B1 CS 262094B1 CS 873674 A CS873674 A CS 873674A CS 367487 A CS367487 A CS 367487A CS 262094 B1 CS262094 B1 CS 262094B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- light
- channel
- gloss
- measurement
- probe
- Prior art date
Links
- VQLYBLABXAHUDN-UHFFFAOYSA-N bis(4-fluorophenyl)-methyl-(1,2,4-triazol-1-ylmethyl)silane;methyl n-(1h-benzimidazol-2-yl)carbamate Chemical compound C1=CC=C2NC(NC(=O)OC)=NC2=C1.C=1C=C(F)C=CC=1[Si](C=1C=CC(F)=CC=1)(C)CN1C=NC=N1 VQLYBLABXAHUDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 32
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 8
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Vynález se týká sondy pro bodové měření lesku, především pro statická i kontinuální měření lesku plošných materiálů.
Lesk není jednoznačně fyzikálně definovaná vlastnost povrchu materiálů; představuje komplex materiálových a geometrických podmínek, ovlivňujících odraz světla příslušným vzorkem. Základem prakticky všech metod měření lesku je měření množství vzorkem odraženého světla při stejném úhlu dopadu i odrazu. Jednotlivé doposud používané přístroje pro měření lesku se liší hlavně použitým zdrojem světla a systémem přenosu světelných paprsků.
První skupinu tvoří přístroje, u nichž se pro měření lesku využívá klasických zdrojů světla —· tzn. různých druhů žárovek a lamp a přenos světelných paprsků je u nich realizován soustavami optických prvků — především pak systémy čoček, clon a zrcadel. U těchto1 typů zařízení se obvykle optickou soustavou čoček za zdrojem světla vytváří svazek rovnoběžných paprsků, který se pak zrcadlem usměrňuje na povrch měřeného vzorku. Vzorkem odražený svazek paprsků se pak přes další čočky a zrcadlo přivádí do vstupního členu vyhodnocovacího obvodu, v němž se na základě intenzity odráženého světla vyhodnotí lesk povrchu měřeného vzorku. Vzhledem k tomu, že se k měření používá svazek paprsků, je výsledkem měření vždy určitá průměrná hodnota lesku ve svazkem vymezené ploše, ktérá je elementární částí povrchu měřeného vzorku.
Nevýhodou doposud používaných přístrojů pro měření lesku je především již samotná složitost jejich optických systémů a z ní vyplývající náročnost na přesnost výroby a zejména pak náročnost na přesnost nastavení optických prvků při vlastním měření. Dalším nedostatkem je pak skutečnost, že tyto přístroje umožňují prakticky výhradně pouze statické měření lesku — nelze je použít pro měření kontinuální — např. pro průběžně měření lesku kontinuálně vyráběného pásového polotovaru. Za určitou nevýhodu lze považovat i samotný princip měření průměrných hodnot lesku v elementárních ploškách povrchu vzorku. Při tomto principu může totiž např. dojít ke kompenzaci extrémů hodnot lesku, daných povrchovými defekty. Tím se pak komplikuje jejich identifikace a lokalizace.
Tyto nevýhody první skupiny přístrojů pro měření lesku odstraňuje druhá skupina přístrojů, které jsou vybaveny různě konstrukčně řešenými sondami pro bodové měření lesku. V principu je každé taková sonda tvořena tělesem, v němž je ve stejném úhilu, vzhledem ke kolmici k rovině měře262094
4 ného materiálu vytvořen kanál pro přívod světelného paprsku ze zdroje světelných paprsků a kanál pro· odvádění odraženého paprsku ke vstupnímu prvku vyhodnocovacího bloku. Zdrojem světelných paprsků může být s výhodou světelná dioda, vstupním prvkem vyhodnocovacího bloku pak fototranzistor.
'Hlavní přínos sondy pro bodové měření lesku spočívá v její velmi jednoduché konstrukci. V porovnání s přístroji první skupiny pro měření lesku je tato sonda méně náročná z hlediska výroby i z hlediska požadavků na přesnost seřízení při vlastním měření. Navíc dává možnost provádět vedle běžných statických měření také měření kontinuální — například průběžná měření lesku kontinuálně vyráběného pásového polotovaru. Za přínos lze považovat rovněž i samotný princip bodového měření lesku, který umožňuje vedle velmi přesných srovnávacích měření také identifikovat a místně vymezit i velmi malé oblasti povrchu vzorku, které mají v důsledku lokálních vad materiálu odlišný lesk.
Vedle těchto nesporných předností má ovšem stávající konstrukční řešení sondy pro bodové měření lesku také své nedostatky. Za jeden z nejzávažnějších lze považovat skutečnost, že funkci fotoelektrických prvků v sondě ovlivňuje teplota, resp. elektromagnetické záření v oblasti měřeného místa. Tak může — například u měření lesku polotovarů, resp. výrobků, jejichž povrchová teplota je v důsledku požadavků předchozího^ nebo následného zpracování vyšší než běžná pokojová teplota, dojít i k poměrně značnému zkreslení. Tato skutečnost je markantní např. u. měření lesku předehřátých plošných polotovarů jako pásů nebo desek- z polymerních materiálů před. jejich dalším zpracováním.K Odstranění výše uvedeného nedostatku přispívá do značné míry konstrukční řešení sondy podle vynálezu. Jedná se o sondu pro bodově měření lesku, tvořenou tělesem, v němž je obdobně jako u doposud známých sond ve stejném úhlu, vzhledem ke kolmici k rovině měřeného materiálu vytvořen kanál pro přívod světelného paprsku ze zdroje světelných paprsků a kanál pro odvádění odraženého paprsku ke vstupnímu prvku vyhodnocovacího bloku. Podstata vynálezu spočívá v tom, že zdrojem světelných paprsků je světelná dioda, která je umístěna vně kanálu pro přívod světelného paprsku a je s kanálem spojena vstupním světlovodem a že vstupním prvkem vyhodnocovacího bloku je fototranzistor, který je umístěn vně kanálu pro odvádění odraženého paprsku a je s kanálem spojen výstupním světlovodem.
Hlavním přínosem řešení podle vynálezu je skutečnost, že dané řešení sondy pro hodové měření lesku vylučuje negativní vlivy změn teploty měřeného povrchu, negativní vlivy elektromagnetického' záření, působícího v okolí měření i další možné negativní vlivy okolního prostředí na výsledky měření. Při toím jsOu zachovány všechny pozitivní vlastnosti, stávajících sond pro bodové měření lesku.
K bližšímu objasnění podstaty vynálezu slouží následující příklad konkrétního řešení sondy podle vynálezu, znázorněného n.a přiloženém výkresu v osovém řezu.
V příkladném konstrukčním uspořádání podle obr. jsou v tělese 1 sondy vytvořeny dva kanály, které svírají s kolmicí k rovině měřeného materiálu 7 úhel a = 45°. Zdrojem* světelného paprsku 10 je světelná dioda 4. Konkrétně se jedná o světelnou diodu, vyzařující v infračervené oblasti — při vlnových délkách kolem 950 nm.Další část sondy pak tvoří vstupní prvek vyhodnocovacího bloku, kupř. fototranzistor 5. V konkrétním uspořádání je použit křemíkový fototranzistor 5 s maximální spektrání citlivostí v okolí vlnové délky 950 nm.
Světelná dioda 4 i fototranzistor 5 jsou umístěny vně kanálu pro přívod světelného paprsku 2, resp. kanálu pro odvádění odraženého' paprsku 3. Světelný paprsek 10 je k povrchu měřeného materiálu 7 přiváděn vstupním světlovodem 8, odražený paprsek 11 je do fototranzistoru 5 odváděn výstupním světlovodem 9.
Konstrukční řešení sondy je vhodné jak pro statické, tak 1 pro kontinuální měření lesku. Při statických měřeních je potřebná vzdálenost mezi spodní plochou sondy a měřeným vzorkem zajištěna distanční podložkou 6, při kontinuálních měřeních se tato podložka odmontuje a sonda se umístí v konstantní vzdálenosti od povrchu procházejícího měřeného materiálu 7.
Claims (1)
- PREDMETSonda pro bodové měření lesku, tvořená tělesem, v němž je ve stejném úhlu vzhledem ke kolmici k rovině měřeného materiálu vytvořen kanál pro* přívod světelného paprsku ze zdroje světelných paprsků a kanál pro odvádění odraženého paprsku ke vstupnímu prvku vyhodnocovacího bloku, vyznačená tím, že zdrojem světelných paprsků je vynalezu světelná dioda (4), která je umístěna vně kanálu pro přívod světelného' paprsku (2) a je s kanálem spojena vstupním světlovodem (8) a vstupním prvkem vyhodnocovacího bloku je fototranzistor (5), který je umístěn vně kanálu pro odvádění odraženého paprsku (3) a je s kanálem spojen výstupním světlovodem (9),
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS873674A CS262094B1 (cs) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | Sonda pro bodové měření lesku |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS873674A CS262094B1 (cs) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | Sonda pro bodové měření lesku |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS367487A1 CS367487A1 (en) | 1988-07-15 |
| CS262094B1 true CS262094B1 (cs) | 1989-02-10 |
Family
ID=5377497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS873674A CS262094B1 (cs) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | Sonda pro bodové měření lesku |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS262094B1 (cs) |
-
1987
- 1987-05-21 CS CS873674A patent/CS262094B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS367487A1 (en) | 1988-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2716445B2 (ja) | 無接触測定のための拡散反射率測定装置 | |
| US5072128A (en) | Defect inspecting apparatus using multiple color light to detect defects | |
| KR100242670B1 (ko) | 스펙트럼식 반사측정 및 투과측정을 위한 방법 및 장치 | |
| US5943134A (en) | Method of measuring thickness and refractive indices of component layers of laminated structure and measuring apparatus for carrying out the same | |
| US4277177A (en) | Apparatus to measure select properties of a moving sheet | |
| US5303037A (en) | Color sensor illumination source employing a lightpipe and multiple LEDs | |
| US20130020506A1 (en) | Fluorescence Meter | |
| US7486394B2 (en) | Optical measuring head | |
| JPS6316247A (ja) | 無接触反射率測定装置 | |
| US5483347A (en) | Non-contact measurement apparatus using bifurcated optical fiber bundle with intermixed fibers | |
| US4061427A (en) | Laser extensometer | |
| CN107894208B (zh) | 光谱共焦距离传感器 | |
| US4711578A (en) | Optical displacement sensors | |
| US6542251B2 (en) | Illumination and imaging device for multiple spectral regions, and coordinate measuring machine having an illumination and imaging device for multiple spectral regions | |
| US20020024669A1 (en) | Spectral ellipsometer having a refractive illuminating optical system | |
| KR20020046147A (ko) | 분광 반사율 측정 장치 및 분광 반사율 측정 방법 | |
| GB2269667A (en) | Refractometer | |
| US5636027A (en) | Apparatus for making contactless measurements of the thickness of an object made of transparent material | |
| CN101151506A (zh) | 用于光学检测产品的边沿的传感器装置和宽度测量方法 | |
| GB2183418A (en) | Determining distance to a surface | |
| EP0223485B1 (en) | Absorption gauge for determining the thickness, moisture content or other parameter of a film or coating | |
| US3322962A (en) | Method and apparatus for continuously measuring applied coatings employing photoelectric means | |
| SE503513C2 (sv) | Förfarande och anordning för bestämning av tjocklek och koncentricitet hos ett skikt pålagt på en cylindrisk kropp | |
| CS262094B1 (cs) | Sonda pro bodové měření lesku | |
| ITTO20010319A1 (it) | Procedimento e apparecchiatura per la rivelazione o il riconoscimentodi un oggetto. |