CS259980B1 - Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech - Google Patents

Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech Download PDF

Info

Publication number
CS259980B1
CS259980B1 CS149987A CS149987A CS259980B1 CS 259980 B1 CS259980 B1 CS 259980B1 CS 149987 A CS149987 A CS 149987A CS 149987 A CS149987 A CS 149987A CS 259980 B1 CS259980 B1 CS 259980B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
deflection
coils
compensation
pole piece
width
Prior art date
Application number
CS149987A
Other languages
English (en)
Inventor
Armin Delong
Vladimir Kolarik
Michal Lenc
Bohumila Lencova
Original Assignee
Armin Delong
Vladimir Kolarik
Michal Lenc
Bohumila Lencova
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Armin Delong, Vladimir Kolarik, Michal Lenc, Bohumila Lencova filed Critical Armin Delong
Priority to CS149987A priority Critical patent/CS259980B1/cs
Publication of CS259980B1 publication Critical patent/CS259980B1/cs

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

Podstatou dvoupatrového systému je, že spodní kompenzační qívky přečnívají ve sme$u ke spodnímu pelovému nástavci alespoň o 10 až 15 % délky spodních vyohylovacích cívek a Jejich šířka v radiálním směru je alespoň o 10 až 20 # menší než šířka horních kompenzačních cívek.

Description

Vynález se týká dvojitého systému vinutí vychylovacích a kompenzačních cívek; uspořádaný ve dvou patrech a umístěný uvnitř elektronové čočky ve směru ke spodnímu pólovému nástavci objektivu.
Pro ovládání elektronového svazku pro rychlé vychylovací systémy s vysokými frekvencemi vychylování elektronového svazku, zejména pro elektronové litografy určené pro přímou expozici elektronovým svazkem, se používají vychylovací systémy s kompenzovaným rozptylovým polem v obvodu čočky. Tyto požadavky výhodně řeší dvojitý systém vinutí vychylovacích cívek ve dvou patrech pro ovládání svazku v osách x, y u elektronově optických zařízení podle AO č. 235.795, které zamezuje vzniku vířivých proudů v magnetickém obvodu čočky. V tomto systému se každá z toroidálních vychylovacích cívek nahradí dvojicí toroidálních cívek zapojených tak, že vnitřní vychylovací cívky jsou zapojeny stejně jako původní jednoduché toroidální cívky a vnější kompenzační cívky jsou zapojeny opačně, vnější rozměry celého dvojitého systému vinutí jsou stejné jako u původních jednoduchých vychylovacích cívek a zbývající radiální rozměry cívek se volí tak, aby v místě magnetického obvodu na jeho vnitřním poloměru se vyruSila pole vytvářená zde oběma vinutími. Toto uspořádání řeší tedy vznik vířivých proudů zejména v magnetickém materiálu horního pólového nástavce válcového tvaru ve vychylovacím objektivu, tj. v objektivu s přesným a rychlým vychylovacím systémem. Druhé spodní patro vychylovacího systému se ale nachází zpravidla v blízkosti spodního pólového nástavce objektivu, který má tvar desky s kruhovým otvorem na ose systému a v blízkosti mezery mezi pólovými nástavci. Vířivé proudy, která vznikají ve spodním pólovém nástavci v původním identickém uspořádání kompenzovány nejsou, a naopak v mezeře mezi pólovými nástavci, kde se nenachází magnetické materiály, je vnější pole překompenzováno. Zůstávají tedy stále ještě magnetická protipóle, která při vychylování vysokými frekvencemi zhoršují frekvenční charakteristiku systému.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje dvojitý systém vinutí vychylovacích a kompenzačních cívek uspořádaný ve dvou patrech a umístěný uvnitř elektronové čočky ve směru ke spodnímu pólovému nástavci, jehož podstatou je, že spodní kompenzační cívky přečnívají ve směru ke spodnímu pólovému nástavci alespoň o 10 až 15 % délky spodních vychylovacích cívek a jejich Šířka v radiálním směru je alespoň o 10 až 20 % menší než šířka horních kompenzačních cívek.
Hlavní výhodou tohoto uspořádání je, že se jen velmi jednoduchou konstrukční změnou jediné cívky dosáhne výrazného zlepšení kompenzace vířivých proudů u rychlých vychylovacích systémů pro přímou expozici elektronovým svazkem. Přitom se vychylovací pole spodního vychylovacího patra změní jen velmi málo proti předchozí situaci,, to znamená, že se citlivost vychylovacího systému prakticky nezmění, a zůstane v platnosti i postup výroby, nastavení a buzení, vychylovacího systému.
Vynález blíže objasní přiložený výkres, kde je v řezu schematicky naznačen dvojitý systém vinutí vychylovacích a kompenzačních cívek.
Systém je umístěn uvnitř elektronové čočky £ s horním pólovým nástavcem £, odděleným nemagnetickou mezerou 8 od spodního pólového nástavce £. Horní patro A vychylovacího systému sestává z dvojitého systému vinutí, tvořeného horními vychylovacími cívkami £ a horními kompenzačními cívkami 2 buzenými opačně vůči horním vychylovacím cívkám £. Spodní patro B vychylovacího systému sestává rovněž z dvojitého systému vinutí tvořeného spodními vychylovacími cívkami £ s spodními kompenzačními cívkami 6, které ve směru ke spodnímu pólovému nástavci £ přečnívají aiesioň^o 0 až 15'%r3éXký'spodních vychylo259980 vacích cívek Šířka spodních kompenzačních cívek 6 v radiálním směru je alespoň o 10 až 20 % menší než šířka horních kompenzačních cívek 2.
Dvojitý systém vinutí podle vynálezu pracuje za provozu takto: Horní vychylovací cívky 2 v horním patře A vyvolávají v horním pólovém nástavci J rozptylové pole, které se kompenzuje horními kompenzačními cívkami 2. Spodní vychylovací cívky £ ye spodním patře B vyvolávají rozptylová pole jak v horním pólovém nástavci J, tak i ve spodním pólovém nástavci v jehož blízkosti jsou umístěny. Vzhledem k tomu, že spodní kompenzační cívky 6 jsou blíže spodnímu pólovému nástavci 2 a přitom její radiální šířka je menší než horních kompenzačních cívek 2, kompenzují spodní kompenzační cívky 6 rozptylová pole v horním pólovém nástavci 2 a současně ve spodním polovám nástavci 7. Průběh vychylovacího pole na ose elektronové Čočky 4 se prakticky nezmění.
Toto uspořádání dvojitých vychylovacích cívek je určeno pro rastrovací elektronově optické přístroje, zejména pro elektronový litograf.

Claims (1)

  1. Dvojitý systém vinutí vychylovacích a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech a umístěný uvnitř elektronové čočky ve směru ke spodnímu pólovému nástavci, vyznačený tím, že spodní kompenzační cívky (6) přečnívají ve směru ke spodnímu pólovému nástavci (7) alespoň o 10 až 15 % délky spodních vychylovacích cívek (5) a jejich šířko, v radiálním směru je alespoň o 10 až 20 % menší než šířka horních kompenzačních cívek (2).
CS149987A 1987-03-06 1987-03-06 Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech CS259980B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS149987A CS259980B1 (cs) 1987-03-06 1987-03-06 Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS149987A CS259980B1 (cs) 1987-03-06 1987-03-06 Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS259980B1 true CS259980B1 (cs) 1988-11-15

Family

ID=5349547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS149987A CS259980B1 (cs) 1987-03-06 1987-03-06 Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS259980B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3984687A (en) Shielded magnetic lens and deflection yoke structure for electron beam column
US6002135A (en) Magnetic lens and deflector with inner and outer pole pieces with conical inner pole piece
US3237059A (en) Permanent magnet system for producing a magnetic field for the focused passage of a beam of electrons
US2918593A (en) Traveling wave tubes
GB1604898A (en) Electron microscope
CA1100564A (en) Quick-acting electron-optical lenses
US4469948A (en) Composite concentric-gap magnetic lens
US4431915A (en) Electron beam apparatus
US3851172A (en) Compound electron lens for electron microscope and the like
US2586559A (en) Multiple element electron lens arrangement
CS259980B1 (cs) Dvojitý systém vinutí vyohylovaoíoh a kompenzačních cívek, uspořádaný ve dvou patrech
US6420713B1 (en) Image position and lens field control in electron beam systems
US4400622A (en) Electron lens equipment
US5530251A (en) Inductively coupled dual-stage magnetic deflection yoke
US3162791A (en) Width controlling means for cathode ray tube displays
US4384208A (en) Electron lens equipped with three magnetic pole pieces
GB1584005A (en) Electro-magnetic lens assemblies for use in corpascular beam devices
GB1596462A (en) Electro-magnetic lens assemblies for corpuscular-beam appaatus
US2725496A (en) Magnetic deflecting means for cathode ray tubes
GB1210210A (en) Electron beam apparatus
US4450357A (en) Electron lens equipped with three magnetic pole pieces
GB2067348A (en) A deflecting objective for corpuscular radiation apparatus
US3643191A (en) Electron lens for electron microscope and the like
US3324433A (en) Electron lens system excited by at least one permanent magnet
TW548664B (en) Split magnetic lens for controlling a charged particle beam